JP2002165140A

JP2002165140A - 撮像装置

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Publication number: JP2002165140A
Application number: JP2000358148A
Authority: JP
Inventors: Hideaki Yoshida; 英明吉田
Original assignee: Olympus Optical Co Ltd
Current assignee: Olympus Corp
Priority date: 2000-11-24
Filing date: 2000-11-24
Publication date: 2002-06-07
Anticipated expiration: 2020-11-24
Also published as: JP4653296B2

Abstract

(57)【要約】【課題】ＯＢ領域に欠陥画素が存在してもそれによる影
響無しに適切なクランプ処理を行なえるようにし、ＯＢ
画素欠陥に起因する画質劣化の発生を防止する。【解決手段】ＯＢ領域に関する画素欠陥情報がＥＥＰＲ
ＯＭ１１８に記憶されている。画素欠陥情報は、ＯＢク
ランプを行なうに際し、ＣＣＤ１０５からの画素信号か
ら暗電流成分を除去するための基準レベルを正確に求め
るために用いられる。ＯＢクランプ回路１０７は、シス
テムコントローラ１１２の制御の下、画素欠陥情報に基
づいて、ＨＯＢ領域の出力から当該ＯＢ領域に関する欠
陥画素の出力を除去した状態で基準レベルを算出し、そ
の基準レベルを用いてＯＢクランプ行なう。したがっ
て、ＯＢ領域に欠陥画素が存在してもそれによる影響無
しに適切なクランプ処理を行なうことができるので、Ｏ
Ｂ画素欠陥に起因する画質劣化の発生を防止することが
可能となる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明はＣＣＤ等の固体撮像
素子用いて被写体像の撮像を行なう撮像装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】ＣＣＤ等の固体撮像素子を用いた撮像装
置においては、温度などの条件変動に伴って大きく変動
する暗電流のＤＣ分を取り除くためのオプティカルブラ
ック（光学的黒：ＯＢ）クランプ回路が用いられてい
る。このＯＢクランプ回路は旧くは全アナログ回路であ
ったが、近年の回路ディジタル化に伴いディジタル回路
が採用され、特に特開平９−０８３８３６号公報にはＡ
／Ｄコンバータ前段のアナログ部にＡ／Ｄのディジタル
出力からフィードバックしたＤＣバイアスを重畳すると
いうディジタル検出アナログフィードバック型のＯＢク
ランプの技術が記載されている。この方式を用いればＡ
／Ｄレンジを充分に取ることができ、またＡ／Ｄコンバ
ータの分解能以下の小数点精度での処理が可能となる。

【０００３】このようなディジタル化されたＯＢクラン
プのクランプ基準としては原理的には垂直（Ｖ）ＯＢを
用いても、水平（Ｈ）ＯＢを用いても良いが、スミアの
混入による悪影響を避けるという意味から、回路設計上
の要請が大きかったアナログ回路時代と同様にＨＯＢを
用いることが望ましい。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ＯＢクランプ回路の方
式を問わず、ＯＢ領域からは正常な画素出力が出力され
ていることが前提であり、ＯＢ領域にいわゆる画素欠陥
が存在した場合はクランプ情報の中に本来のＯＢ画素情
報以外の情報が混入してしまうため、クランプが誤動作
してしまい画質不良を生じてしまう。特にＨＯＢクラン
プを採用している場合には、当該ラインだけがその上下
のラインとは異なった誤クランプ（クランプずれ）を生
じるため、信号レベル差が筋状のノイズ（横筋ノイズ、
即ちライン段差）となって極めて目立ち易く、僅かな欠
陥の存在が画質不良の原因となるものである。

【０００５】そしてこれは特に温度や露光時間などの使
用条件を様々に設定した場合により大きな問題になるも
のである。何故なら、一般的な使用状況では少なくとも
ＯＢ部には問題となるような画素欠陥を有しない撮像素
子であったとしても、温度の上昇に伴いその暗電流レベ
ルは増大し、またそれによる暗出力レベルは露光時間
（厳密には蓄積時間）にほぼ比例して増大するため、高
温下での使用や長時間露光を行なう場合には、潜在して
いた画素欠陥が顕在化し、上記筋状のノイズを生じてし
まう畏れがあるからである。そしてこれは通常の有効画
像領域の暗電荷による点状の孤立ノイズよりも目立ち易
いものであった。

【０００６】本発明は上述の事情を考慮してなされたも
のであり、その目的とするところは、上記ＯＢ画素欠陥
によってＯＢクランプに際して発生する画質劣化を生じ
ないようにした撮像装置を提供することにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上述の課題を解決するた
め、本発明は、固体撮像素子を用いて被写体像の撮像を
行う撮像装置であって、前記固体撮像素子の光学的黒
（ＯＢ）領域の出力に基づいて前記固体撮像素子の有効
信号期間の信号の基準レベルを得るＯＢクランプ回路
と、前記撮像素子のＯＢ領域に関する画素欠陥情報を記
憶する記憶手段とを具備し、前記ＯＢクランプ回路は、
前記画素欠陥情報に基づき、前記ＯＢ領域の出力から当
該ＯＢ領域に関する欠陥画素の出力を除去した状態で前
記基準レベルを算出するように構成されたものであるこ
とを特徴とする。

【０００８】この撮像装置においては、ＯＢ領域に関す
る画素欠陥情報が記憶手段に記憶されており、その画素
欠陥情報に基づき、ＯＢ領域の出力から当該ＯＢ領域に
関する欠陥画素の出力を除去した状態で有効信号期間の
基準レベル（零レベル）が算出される。したがって、Ｏ
Ｂ領域に欠陥画素が存在してもそれによる影響無しに適
切なクランプ処理を行なうことができるので、ＯＢ画素
欠陥に起因する画質劣化の発生を防止することが可能と
なる。

【０００９】また、上述のようにスミアの混入による悪
影響を避けるためにＯＢ領域は固体撮像素子の各画素ラ
イン毎に設けられたＨＯＢを用いることが好ましいが、
この場合は、ＯＢクランプ回路は、読み出し対象の各画
素ライン毎にそれに対応するＯＢ領域の出力から当該Ｏ
Ｂ領域に関する欠陥画素の出力を除去した状態で基準レ
ベルを算出することが望ましい。これにより、ＨＯＢを
用いた場合でもライン段差等の筋条ノイズの発生を効率
よく抑えることが可能となる。

【００１０】また、読み出し対象の画素ラインに対応す
るＯＢ領域に含まれる所定数以上の画素が欠陥画素であ
る場合には、当該画素ラインに関する基準レベルとし
て、当該画素ラインとは異なる他の画素ラインに関して
算出された基準レベルの値を代用することが好ましい。
例えばＯＢ領域のほとんど全ての画素が欠陥画素で有効
画素数が僅かにしか存在しないような場合には有効画素
のみから基準レベルを算出すると画素毎のバラツキの影
響が大きくなり却って適切な基準レベルを算出できなく
なる場合があるので、他の画素ラインに関して算出され
た基準レベルの値を代用する構成を採用することによ
り、基準レベルの適格性を担保する事が可能となる。

【００１１】また、温度や露光時間によって画素欠陥と
して顕在化するＯＢ領域の画素数は変動するので、記憶
手段にはＯＢ領域に関する画素欠陥情報を使用する露光
時間別や温度別に複数種記憶しておき、撮像装置で使用
する露光時間や温度に対応する画素欠陥情報を選択して
使用するという構成を採用することにより、現在の撮像
条件に合ったより適切な基準レベルを求めることができ
る。

【００１２】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施形態を説明する。図１には、本発明の一実施形態に係
わる撮像装置の構成が示されている。ここでは、デジタ
ルカメラとして実現した場合を例示して説明することに
する。

【００１３】図中１０１は各種レンズからなる撮像レン
ズ系、１０２はレンズ系１０１を駆動するためのレンズ
駆動機構、１０３はレンズ系１０１の絞りを制御するた
めの露出制御機構、１０４はローパスおよび赤外カット
用の光学フィルタ、１０５は色フィルタを内蔵したＣＣ
Ｄカラー撮像素子、１０６は撮像素子１０５を駆動する
ためのＣＣＤドライバ、１０７はＯＢクランプ処理およ
びＡ／Ｄ変換処理等を行なうプリプロセス回路、１０８
は色信号生成処理，マトリックス変換処理，その他各種
のデジタル処理を行なうためのデジタルプロセス回路、
１０９はカードインターフェース、１１０は撮影画像を
記録するためのメモリカード、１１１はＬＣＤ画像表示
系を示している。

【００１４】また、図中の１１２は各部を統括的に制御
するためのシステムコントローラ（ＣＰＵ）、１１３は
各種ＳＷからなる操作スイッチ系、１１４は操作状態及
びモード状態等を表示するための操作表示系、１１５は
レンズ駆動機構１０２を制御するためのレンズドライ
バ、１１６は発光手段としてのストロボ、１１７は露出
制御機構１０３およびストロボ１１６を制御するための
露出制御ドライバ、１１８は各種設定情報等を記憶する
ための不揮発性メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）、１１９は温度
センサを示している。

【００１５】本実施形態のデジタルカメラにおいては、
システムコントローラ１１２が全ての制御を統括的に行
っており、ＣＣＤドライバ１０６によりＣＣＤ撮像素子
１０５の駆動を制御して露光（電荷蓄積）及び信号の読
み出しを行い、それをプリプロセス回路１０７を介して
ディジタルプロセス回路１０８に取込んで記録用の画像
信号を生成した後にカードインターフェース１０９を介
してメモリカード１１０に記録するようになっている。

【００１６】ＣＣＤ撮像素子１０５としては、縦型オー
バーフロードレイン（ＶＯＦＤ）構造のインターライン
型ＣＣＤなどが用いられる。このＣＣＤ撮像素子１０５
は、図２に示すように、光電変換領域（電荷蓄積部）を
含む複数の画素ＰＸＬ（ＰＤ）を２次元に配列した２次
元画素配列を有している。２次元画素配列の一端部側に
は水平転送路（ＨＣＣＤ）が設けられ、また各垂直方向
の画素配列毎に垂直転送路（ＶＣＣＤ）が設けられてい
る。各画素（ＰＸＬ）の電荷蓄積部と対応する垂直電荷
転送路（ＶＣＣＤ）との間に設けられた転送ゲートに電
荷移送パルスＴＧを与えることにより、各電荷蓄積部か
ら対応する垂直電荷転送路（ＶＣＣＤ）に電荷が移送さ
れる。そして、垂直電荷転送路（ＶＣＣＤ）および水平
転送路（ＨＣＣＤ）の転送駆動により、２次元画素配列
に蓄積された電荷が出力アンプ（ＦＤＡ：Floating Dif
fusion Amplifier）を通して読み出される。

【００１７】２次元画素配列において、水平転送路（Ｈ
ＣＣＤ）に対して反対側の十数ラインは画素（ＰＸＬ）
も含めて完全に遮光されており、垂直オプティカルブラ
ックＶＯＢ（光学的黒）領域を形成している。また、出
力アンプ側の十数列も画素（ＰＸＬ）も含めて完全に遮
光されており、水平オプティカルブラックＨＯＢ（光学
的黒）領域を形成している。

【００１８】ＥＥＰＲＯＭ１１８には、ＨＯＢ領域に関
する画素欠陥情報が予め記憶されている。この画素欠陥
情報は欠陥画素（ＯＢ欠陥画素）それぞれの位置を示す
アドレス情報である。画素欠陥情報は例えば本デジタル
カメラの工場出荷前に、１）ＨＯＢ領域に含まれる各画素からの出力信号レベル
を解析する２）ＨＯＢ領域の全画素平均値に対する、レベル差を各
ＨＯＢ画素毎に求める３）レベル差が所定レベル（例示値±０．５ｍＶ）を超
えるものをＯＢ欠陥画素とし、そのアドレス情報をＥＥ
ＰＲＯＭ１１８に記憶するという解析処理を行なうこと
によって得られたものである。

【００１９】ＥＥＰＲＯＭ１１８の画素欠陥情報は、Ｈ
ＯＢクランプを行うに際し、ＣＣＤ撮像素子１０５の有
効信号期間の信号の基準レベル（アナログ撮像出力の零
レベル＝黒レベル）を正確に求めるために用いられるも
のである。以下、本実施形態で行われるＨＯＢクランプ
処理について説明する。

【００２０】プリプロセス回路１０７には図１に示すよ
うにＯＢクランプ回路１０７が設けられている。このＯ
Ｂクランプ回路１０７は、各画素ラインに対応するＨＯ
Ｂ領域からの出力に基づいて撮像信号の黒レベルとして
使用すべき基準レベルの値を算出し、その基準レベルで
撮像信号をクランプする。この場合、ＯＢクランプ回路
１０７は、システムコントローラ１１２の制御の下、画
素欠陥情報に基づいて、ＨＯＢ領域の出力から当該ＯＢ
領域に関する欠陥画素の出力を除去した状態で基準レベ
ルを算出するように構成されている。これは、ＯＢ領域
に含まれる画素群の中から欠陥画素を除く他の有効画素
のみを用いて基準レベルを算出できるようにするためで
ある。基準レベルは、有効画素それぞれの出力信号の加
算平均によって求められる。ＯＢクランプ回路１０７に
よるＨＯＢクランプ処理の原理を図３に示す。

【００２１】ＣＣＤ撮像素子１０５からの信号読み出し
時には、読み出し対象の画像ラインに対応するＨＯＢ領
域の画素が最初に読み出され、次いで有効画素領域（画
素部）からの画素の読み出しが行われる。ＯＢクランプ
回路１０７では、読み出し対象の画像ラインに関する画
素欠陥情報（ＯＢ欠陥情報）に基づき、該当するＨＯＢ
領域に含まれる十数個の全画素の中から欠陥画素を除い
た残りの有効画素の出力信号のみを対象とした加算平均
演算が行われる。この加算平均演算により、当該ライン
に対応する基準レベルが求められる。そして、この基準
レベルを用いたクランプ処理により、ＣＣＤ撮像素子１
０５の有効画素領域の各画素の信号から基準レベル分の
信号が減算されてノイズ成分の除去が行われる。

【００２２】このように、本実施形態ではＨＯＢクラン
プに際してＯＢ欠陥画素による影響が取り除かれるの
で、ＨＯＢ領域に欠陥画素が存在していてもそれによる
悪影響無しに適切なクランプ処理を行なうことが可能と
なる。さらに、このことは、ＨＯＢ領域に関する黒欠陥
等の欠陥画素の存在をも許容することにもなる。

【００２３】つまり、温度や露光時間に依存しない黒欠
陥がＯＢ領域に存在する場合には従来では素子製造工程
で不良品として選別・除去されるが、本実施形態では、
このようなＯＢ領域の黒欠陥についてもその他のＯＢ欠
陥や有効画素領域の欠陥と同様に扱われ、ＯＢ領域の黒
欠陥はその他のＯＢ欠陥と共に前述の欠陥画素情報とし
てＥＥＰＲＯＭ１１８に登録される。よって、ＯＢ領域
に黒欠陥があってもそれ自体が直ちに素子不良に結びつ
くことはないので、結果的に黒欠陥画素の存在を許容す
ることが可能となるのである。

【００２４】次に、図４を参照して、ＯＢクランプ回路
２０１の具体的な回路構成の一例を説明する。

【００２５】このＯＢクランプ回路２０１は、図示のよ
うに、メインＡ／Ｄコンバータ（ＭＡＤ）２０１ａ、ク
ランプ用Ａ／Ｄコンバータ（ＣＬ＿ＡＤ）２０１ｂ、お
よびクランプ用サンプル・ホールド回路（ＣＬ＿ＳＨ）
２０１ｃから構成されている。メインＡ／Ｄコンバータ
（ＭＡＤ）２０１ａは、ＣＣＤ撮像素子１０５から読み
出される撮像信号をアナログ信号からデジタル信号に変
換するためのものであり、有効画素領域の１画素毎に例
えば十数ビット程度のデジタル出力を得る。このメイン
Ａ／Ｄコンバータ（ＭＡＤ）２０１ａでＡ／Ｄ変換可能
な入力アナログ信号のレンジ（Ａ／Ｄレンジ）はリファ
レンス・トップ電圧ＶＲＴとリファレンス・ボトム電圧
ＶＲＢによって規定される。

【００２６】クランプ用Ａ／Ｄコンバータ（ＣＬ＿Ａ
Ｄ）２０１ｂは、ＨＯＢ出力をアナログ信号からデジタ
ル信号に変換するためのものであり、そのＡ／Ｄレンジ
は黒レベル近傍の低電圧出力付近に設定されており、ま
た黒レベル近傍の信号の微小変動を高精度にデジタル信
号に変換できるようにするために１量子化ステップ当た
りの電圧値の刻みはメインＡ／Ｄコンバータ（ＭＡＤ）
２０１ａよりも細かく設定されている。ＨＯＢ領域に含
まれる各画素からの信号はクランプ用Ａ／Ｄコンバータ
（ＣＬ＿ＡＤ）２０１ｂによって数ビットのデジタル値
に変換された後にクランプ用サンプル・ホールド回路
（ＣＬ＿ＳＨ）２０１ｃに送られる。

【００２７】クランプ用サンプル・ホールド回路（ＣＬ
＿ＳＨ）２０１ｃは、各画素ライン毎にＨＯＢ領域に含
まれる画素それぞれに対応する出力信号の加算平均をデ
ジタル演算により求めてそれをホールドし、その加算平
均値をアナログ信号に変換した後にリファレンス・ボト
ム電圧ＶＲＢとしてメインＡ／Ｄコンバータ（ＭＡＤ）
２０１ａに供給する。リファレンス・ボトム電圧ＶＲＢ
として予め所定のオフセット電圧が印加されている場合
には、加算平均値のアナログ信号はオフセット電圧に重
畳されることになる。クランプ用サンプル・ホールド回
路（ＣＬ＿ＳＨ）２０１ｃによる加算平均演算は、該当
する画素ラインに関するＯＢ欠陥情報に基づくシステム
コントローラ１１２からの制御信号によって制御され
る。これによりＯＢ欠陥画素については加算対象から除
外され、また求めた加算値を当該画素ラインに対応する
ＨＯＢ領域に含まれている有効画素数で除算する処理が
行われる。よって、画素ライン毎にＯＢ欠陥画素を除い
た状態でＨＯＢ出力の加算平均値が算出され、それがリ
ファレンス・ボトム電圧ＶＲＢとしてメインＡ／Ｄコン
バータ（ＭＡＤ）２０１ａに供給されることになる。こ
れによってメインＡ／Ｄコンバータ（ＭＡＤ）２０１ａ
のＡ／Ｄ変換処理において上記加算平均値がアナログ入
力信号の零レベルとされることになるから、適切なクラ
ンプ処理が実行される。

【００２８】なお、読み出し対象の画素ラインに対応す
るＨＯＢ領域の全画素が欠陥画素である場合には、クラ
ンプ用サンプル・ホールド回路（ＣＬ＿ＳＨ）２０１ｃ
の出力をそのまま保持しておくことによって、直前の画
素ラインで得た加算平均値が代用される。この場合の処
理動作を図５に示す。

【００２９】まず、ＥＥＰＲＯＭ１１８からのＯＢ欠陥
情報の読み込みが行われ（ステップＳ１０１）、読み出
し対象の現在の画素ラインに対応するＨＯＢ領域の全画
素が欠陥画素であるか否かがシステムコントローラ１１
２によって判別される（ステップＳ１０２）。全画素が
欠陥画素ではない場合には、図４で説明したように、欠
陥画素を除いてＨＯＢ出力の加算平均を算出し、それを
ＶＲＢとして供給する処理がシステムコントローラ１１
２の制御の下にＯＢクランプ回路２０１にて実行される
（ステップＳ１０３，Ｓ１０４）。

【００３０】一方、読み出し対象の現在の画素ラインに
対応するＨＯＢ領域の全画素が欠陥画素である場合に
は、システムコントローラ１１２の制御の下に、直前の
画素ラインのＶＲＢがそのまま出力される（ステップＳ
１０５）。

【００３１】なお、ＶＯＢに隣接する画素ラインに対応
するＨＯＢ領域の全画素が欠陥画素であった場合には、
ＶＯＢ内のＨＯＢ領域の出力から欠陥画素を除いて算出
した加算平均値を当該ラインに対応するＶＲＢとして用
いても良い。また、１ラインのＯＢ全てが欠陥画素であ
る場合のみならず、有効画素が２〜３画素を下回った場
合（１ライン当たりのＨＯＢ領域の全画素数の１／３程
度の画素数を基準とする）にも上述のように直前のライ
ンで得たＶＲＢで代用するという処理を行うことが好ま
しい。有効画素数が減ると、加算平均を算出しても十分
な積分効果が得られなくなり却って誤った黒レベルが算
出されてしまう場合があるためである。

【００３２】図６には、使用温度環境や露光時間によっ
ては潜在していたＨＯＢの画素欠陥が顕在化することを
考慮して、本デジタルカメラで使用対象となる長時間露
光の露光時間別およびカメラ内温度別に予め解析するこ
とによって得られた複数種のＯＢ欠陥情報がＥＥＰＲＯ
Ｍ１１８に記憶されている場合の例が示されている。こ
のように露光時間別およびカメラ内温度別に複数種のＯ
Ｂ欠陥情報が記憶されている場合には、現在の使用環境
に合わせてＯＢ欠陥情報を選択的に使用することによ
り、適切なＯＢクランプ処理を実現できる。そのための
手順の一例を図７に示す。

【００３３】図７のフローチャートに示されているよう
に、まず、ＣＣＤ撮像素子１０５からの出力信号を用い
た公知の測光、あるいはユーザによるマニュアル操作で
指定された値から露光時間が求められ（ステップＳ１１
１，Ｓ１１２）、その露光時間に対応するＯＢ欠陥情報
がＥＥＰＲＯＭ１１８に記憶されている複数種のＯＢ欠
陥情報の中から選択される（ステップＳ１１３）。次い
で、温度センサ１１９を用いて現在のカメラ温度が検出
され（ステップＳ１１４）、その検出温度に対応するＯ
Ｂ欠陥情報がＥＥＰＲＯＭ１１８に記憶されている複数
種のＯＢ欠陥情報の中から選択される（ステップＳ１１
５）。この後、ステップＳ１１３で選択されたＯＢ欠陥
情報で示される欠陥画素とステップＳ１１５で選択され
たＯＢ欠陥情報で示される欠陥画素とを併せ込むための
マージ処理（少なくとも一方のＯＢ欠陥情報で欠陥画素
として指定されている画素については欠陥画素とする処
理）が行われ（ステップＳ１１６）、そして図４および
図５で説明したＯＢクランプ処理がステップＳ１１６の
マージ処理で得られたＯＢ欠陥情報に基づいて実行され
る（ステップＳ１１７）。

【００３４】なお、ここでは露光時間と温度とに分けて
ＯＢ欠陥情報を複数種用意した場合を説明したが、露光
時間と温度の双方をパラメータとするＯＢ欠陥情報を用
意しておき、そのＯＢ欠陥情報に基づいて、撮影に使用
する露光時間と現在温度に対応するＯＢ欠陥画素の位置
情報を取得するように構成することも可能である。

【００３５】以上のように、本実施形態によれば、撮像
信号からノイズ成分を除去するための基準レベルをＨＯ
Ｂ出力から欠陥画素を除いた状態で算出し、その基準レ
ベルに基づいて撮像信号に含まれるノイズ成分を除去す
るというクランプ処理を行なうことにより、ＯＢ画素欠
陥に起因する画質劣化を防止することが可能となる。な
お、上述のクランプ処理は、デジタルムービーにも適用
することができることはもちろんである。

【００３６】また、本発明は、上記実施形態に限定され
るものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範
囲で種々に変形することが可能である。更に、上記実施
形態には種々の段階の発明が含まれており、開示される
複数の構成要件における適宜な組み合わせにより種々の
発明が抽出され得る。例えば、実施形態に示される全構
成要件から幾つかの構成要件が削除されても、発明が解
決しようとする課題の欄で述べた課題が解決でき、発明
の効果の欄で述べられている効果が得られる場合には、
この構成要件が削除された構成が発明として抽出され得
る。

【００３７】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ＯＢ領域に欠陥画素が存在してもそれによる影響無しに
適切なクランプ処理を行なうことができるので、ＯＢ画
素欠陥に起因する画質劣化の発生を防止することが可能
となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態に係る撮像装置の構成を示
すブロック図。

【図２】同実施形態で使用される固体撮像素子の構造を
模式的に示す図。

【図３】同実施形態で使用されるＯＢクランプ処理の原
理を説明するための図。

【図４】同実施形態の撮像装置に設けられたＯＢクラン
プ回路の構成を示すブロック図。

【図５】同実施形態におけるＯＢクランプ処理の動作を
説明するフローチャート。

【図６】同実施形態の撮像装置に設けられたＥＥＰＲＯ
Ｍに予め記憶されているＯＢ欠陥情報を説明するための
図。

【図７】同実施形態におけるＯＢ欠陥情報選択動作を説
明するフローチャート。

【符号の説明】

１０１…レンズ系１０２…レンズ駆動機構１０３…露出制御機構１０４…フィルタ１０５…ＣＣＤカラー撮像素子１０６…ＣＣＤドライバ１０７…プリプロセス部１０８…デジタルプロセス部１０９…カードインターフェース１１０…メモリカード１１１…ＬＣＤ画像表示系１１２…システムコントローラ（ＣＰＵ）１１８…ＥＥＰＲＯＭ２０１…ＯＢクランプ回路２０１ａ…メインＡ／Ｄコンバータ２０１ｂ…クランプ用Ａ／Ｄコンバータ２０１ｃ…クランプ用サンプル・ホールド回路

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】固体撮像素子を用いて被写体像の撮像を行
なう撮像装置であって、前記固体撮像素子の光学的黒（ＯＢ）領域の出力に基づ
いて前記固体撮像素子の有効信号期間の信号の基準レベ
ルを得るＯＢクランプ手段と、前記撮像素子のＯＢ領域
に関する画素欠陥情報を記憶する記憶手段とを具備し、前記ＯＢクランプ手段は、前記画素欠陥情報に基づき、
前記ＯＢ領域の出力から当該ＯＢ領域に関する欠陥画素
の出力を除去した状態で前記基準レベルを算出するよう
に構成されたものであることを特徴とする撮像装置。
【請求項２】前記ＯＢ領域は前記固体撮像素子の各画素
ライン毎に設けられており、前記ＯＢクランプ手段は、読み出し対象の各画素ライン
毎にそれに対応するＯＢ領域の出力を用いて前記基準レ
ベルを算出するものであることを特徴とする請求項１記
載の撮像装置。
【請求項３】読み出し対象の画素ラインに対応するＯＢ
領域に含まれる所定数以上の画素が欠陥画素である場
合、当該画素ラインに関する基準レベルとして、当該画
素ラインとは異なる他の画素ラインに関して算出された
基準レベルの値を代用する手段をさらに具備することを
特徴とする請求項２記載の撮像装置。
【請求項４】前記記憶手段には、前記撮像素子のＯＢ領
域に関する画素欠陥情報が露光時間別に複数種記憶され
ており、前記撮像装置で使用する露光時間に基づいて、前記複数
種の画素欠陥情報の中から前記ＯＢクランプ手段による
基準レベルの算出に使用する画素欠陥情報を選択する手
段をさらに具備することを特徴とする請求項１乃至３の
いずれか１項記載の撮像装置。
【請求項５】前記記憶手段には、前記撮像素子のＯＢ領
域に関する画素欠陥情報が温度別に複数種記憶されてお
り、前記撮像装置の温度に基づいて、前記複数種の画素欠陥
情報の中から前記ＯＢクランプ手段による基準レベルの
算出に使用する画素欠陥情報を選択する手段をさらに具
備することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項
記載の撮像装置。