JP2002158191A - 微細空間への金属充填装置および金属充填方法 - Google Patents
微細空間への金属充填装置および金属充填方法Info
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Abstract
細孔への金属充填を可能にする。 【解決手段】 微細孔2を持つ例えばシリコン基板1
を、真空圧に減圧した真空チャンバー11内で溶融金属
槽23に挿入し、シリコン基板1が溶融金属3とほぼ同
じ温度に達した後、真空チャンバー11内を例えば大気
圧以上に加圧して、溶融金属3を微細孔2に充填する。
高アスペクト比の微細孔に対しても金属充填が可能とな
り、鬆(す)などの空隙の生じない金属充填を行なうこ
とができる。貫通電極のための貫通した微細孔に金属充
填を行なう場合は、空隙のない良好な貫通電極を作成す
ることが出来る。
Description
ばワークに形成された微細孔や微細隙間などへの金属充
填方法と金属充填装置に関し、特にシリコン基板等にあ
けた高アスペクト比の微細孔に金属を充填する微細孔へ
の金属充填装置と金属充填方法に関する。
に形成された微細空間へ金属充填する場合として、例え
ばシリコンICチップ等の製造工程でシリコン基板に貫
通電極(ビアホール電極)を形成する場合、シリコン基
板に貫通電極用の貫通孔をあけ、このシリコン基板を、
導体用の金属を溶融させた溶融金属(メッキ液)に挿入
して、貫通孔内に溶融金属を充填するメッキ法が一般的
である。
アスペクト比(孔深さ/開口部直径)の微細孔である場
合、溶融金属が微細孔の奥深くまで進入できないため
に、例えば、図7に示すようにシリコン基板1の微細孔
2の入口付近に溶融金属3が集中して成長して内部に空
隙が生じたり、図8に示すように微細孔2内の溶融金属
3に鬆(す)4が出来たりする等、空隙のない均一な金
属充填を行なうことが出来ないため、良好な貫通電極を
作成することは困難であった。
積層する高密度3次元実装を行なおうとすると、一枚の
シリコン基板の表裏に形成された配線パターンを繋ぐた
めの貫通電極を形成する必要が生じる場合があるが、こ
の貫通電極を上記従来の方法で形成しようとすると、シ
リコン基板にあける貫通孔が深く高アスペクト比の微細
孔となるので、上述の通り、この微細孔にメッキ法で金
属を充填して貫通電極を形成することは困難である。
で、シリコン基板等のワーク中に形成された微細空間、
例えば微細孔に金属を空隙なしに充填することを可能に
する金属充填装置および方法を提供することを目的とす
る。
項1の微細空間への金属充填装置の発明は、真空チャン
バーと、前記真空チャンバー内を真空圧に減圧するため
の減圧手段と、前記真空チャンバー内に配置された溶融
金属槽と、前記溶融金属槽内の金属を加熱溶融するため
のヒータと、金属を充填しようとする微細空間を持つワ
ークをクランプして前記真空チャンバー内の溶融金属槽
内に挿入するためのワーク固定用アームと、ワークを溶
融金属槽内に挿入した後に真空チャンバー内を大気圧以
上に加圧するための加圧手段とを備えたことを特徴とす
る。
充填装置において、真空チャンバーの上面部にヒンジ式
の開閉蓋を設け、ワーク固定用アームの軸部を前記開閉
蓋を貫通する態様でスライド可能に支持するアーム支持
部を、前記開閉蓋に設けたことを特徴とする。
に金属を充填する方法であって、まず、金属を充填しよ
うとするワークの雰囲気圧を減圧し、次いで減圧状態を
保ったまま、前記ワークを溶融金属に挿入し、次いで前
記溶融金属の雰囲気圧を加圧して、ワークの金属挿入前
後における雰囲気圧差により前記微細空間に溶融金属を
充填し、次いでワークを溶融金属槽から引き上げて冷や
すことを特徴とする。
形成された前記微細空間が、微細孔若しくは空隙であ
り、前記ワークを真空チャンバー内に収容し、次いで真
空チャンバー内を真空圧に減圧し、次いで前記ワークを
真空チャンバー内の溶融金属槽に挿入し、ワークが溶融
金属と同じ温度に達した後真空チャンバー内を大気圧以
上に加圧し、次いでワークを溶融金属槽から引き上げ、
空冷することを特徴とする。
〜図6を参照して説明する。図1は本発明の一実施形態
の金属充填装置10の要部の一部切り欠き正面図であ
る。同図において、11は真空チャンバーである。真空
チャンバー11は、底部の開口11aに接続され途中に
真空開閉用バルブ12を持つ吸引管13を介して真空ポ
ンプ装置14に接続されている。真空チャンバー11の
上部には、シャッター15で開閉可能な開口部16で連
通するバッファ用真空チャンバー17が設けられてい
る。このバッファ用真空チャンバー17も前記真空ポン
プ装置14に、真空粗引き用バルブ18aを持つ真空粗
引き用吸引管18を介して接続されている。なお、シャ
ッター15を外部からの操作で開閉するためのシャッタ
ー開閉機構は図示を省略した。また、真空チャンバー1
1およびバッファ用真空チャンバー17はそれぞれ、内
部を大気圧以上に加圧する加圧手段としての図示せぬ窒
素ボンベに、窒素導入用バルブ19a、20aを持つ窒
素導入管19、20を介して接続されている。真空チャ
ンバー11は、この金属充填装置10を作動させる電源
や制御・操作部を設けた筐体21の上に設けられてい
る。
3が配置され、その外面部に溶融金属槽23内の金属を
加熱溶融させるためのヒータ24が設けられている。溶
融金属を3で示す。金属を充填しようとする微細孔を持
つワーク1を把持するワーク固定用アーム27、長い軸
部28の先端にワーククランプ29を設けた構造であ
り、ワーク固定用アーム27の軸部28は、バッファ用
真空チャンバー17の上面部に設けたヒンジ式の開閉蓋
30に設けたアーム支持部31に、開閉蓋30を貫通す
る態様でスライド可能に支持されている。また、開閉蓋
30に大気導入バルブ32およびリリーフポート33が
設けられている。
基板等にあけた微細孔に金属を充填する手順を、図2
(イ)、(ロ)、(ハ)も参照して説明する。真空チャ
ンバー11が直接大気と連通しないように、シャッター
15を閉ざした状態で開閉蓋30を開く。図1の2点鎖
線のように開閉蓋30を開いた状態で、微細孔2を持つ
例えばシリコン基板(ワーク)1をワーク固定用アーム
27のワーククランプ28で把持する。この段階ではワ
ーク固定用アーム27の軸部28を開閉蓋30の表面か
ら大きく突出させて、ワーククランプ29を開閉蓋30
の内面に近接させておく。次いで、開閉蓋30を矢印の
ように回転させて閉ざし、ボルト34で締め付けて密閉
する。次いで、バッファ用真空チャンバー17内部を真
空ポンプ装置14により真空粗引き用吸引管18を介し
て真空粗引きする。次いで、シャッター15を開く。次
いで、真空開閉用バルブ12を開き、真空ポンプ装置1
4を作動させて、真空チャンバー11およびバッファ用
真空チャンバー17の内部を吸引管13を介して真空吸
引し、真空圧10−2〜10−3Pa(パスカル)程度ま
で減圧する(この段階を図2(イ)に示される)。な
お、真空圧は真空圧力センサ36で検出する。
23内の金属を溶融させ、溶融金属3内にシリコン基板
1を挿入する。充填する金属としては、インジウム、
錫、あるいは金−錫の共晶半田など比較的蒸気圧の低い
金属を用いるとよいが、特にそれらに限定されない。挿
入後、シリコン基板1が溶融金属3と同じ温度に達する
まで十分待つ。その後、窒素導入用バルブ19a、20
aを開き、真空チャンバー11およびバッファ用真空チ
ャンバー17内に窒素ボンベからの窒素を導入して、内
部を2〜5×105Pa(2〜5kgf/cm2)程度まで加圧す
る。この加圧により、図3に模式的に示すように、溶融
金属3が微細孔2内に充填される(この段階が図2
(ロ)に示される)。
から引き上げ(この段階を図2(ハ)に示す)、真空チ
ャンバー11の外に取り出して、室温にて空冷する。こ
れにより、シリコン基板1の微細孔2への金属充填作業
が終了する。
ワークの微細孔に金属を充填した実施例を図4〜図6に
示す。図4〜図6は金属を充填した微細孔部分の断面の
顕微鏡写真をスケッチしたものである。図4に示した実
施例は、シリコン基板1に形成した直径15μm、深さ
360μm(アスペクト比24)の微細孔2への錫3の
充填である。微細孔2は、光電解研磨法によりシリコン
基板上に形成した。図示の通り、錫3が微細孔2に空隙
なく充填されている。なお、特に図示していないが、貫
通孔の内面にはシリコン酸化膜が形成されている。
形成した直径40μm、深さ100μm(アスペクト比
2.5)の微細孔2への錫3の充填である。微細孔2は
ICP−RIE(Inductively Coupled Plasma-Ractive
Ion Etching)によりシリコン基板上に形成した。図示
の通り、錫3が微細孔2に空隙なく充填されている。
した直径0.1mm、深さ35mm(アスペクト比35
0)の微細孔2への錫3の充填である。図示の通り、錫
3が微細孔2に空隙なく充填されている。
高アスペクト比の微細孔に対しても金属充填が可能であ
り、鬆(す)などの空隙の生じない金属充填が可能であ
る。なお、各実施例では、貫通していない微細孔に金属
を充填する例を示したが、貫通孔であれば、さらに金属
充填は容易である。したがって、シリコン基板等に貫通
電極を形成する際に、空隙のない貫通電極を製作するこ
とが出来る。
23を配置する真空チャンバー11だけでなく、シャッ
ター15で開閉可能な開口部16を介して真空チャンバ
ー11に連通するバッファ用真空チャンバー17を設け
ているので、真空チャンバー11を直接外気に曝さず
に、上述の金属充填作業に行なうことができ、したがっ
て、溶融金属槽23内の溶融金属3が外気に触れて酸化
することを確実に防止できる。
ガラスにあけた微細孔に金属充填をしているが、その他
のワーク材料としてセラミックや、テフロン(登録商
標)(フッ素樹脂)、ポリイミド等の比較的耐熱性に優
れ金属溶融温度では溶けない樹脂等が採用できる。因み
に、錫の溶融温度は約230℃、インジウムの溶融温度
は約157℃、金―錫の溶融温度は金属の比率に比率に
より異なるが、このように金属の溶融温度で容易に溶け
ることのない材質であれば、本発明の適用が可能とな
る。さらに、本発明は金属挿入前後の雰囲気圧差により
微細空間に金属充填をするものであるから、圧力差の存
在が重要であり、前後雰囲気圧の絶対値は実施例に限定
されることはない。また、本発明における、ワークに形
成された微細空間とは、図示されているような、断面で
見て一方向へ真っ直ぐに延びるシリコン中の微細孔には
限定されない。例えば、孔が途中で屈曲している場合に
も適用できる。例えば、板状ワークとしてシリコン基板
を2枚以上積層した多層基板において、孔がワークの内
部表面に沿って途中で屈曲(断面から見て)するパター
ンもあるが、このような場合でも本発明によれば屈曲孔
への金属充填が可能となる。またさらに、孔の断面輪郭
が樹枝状に枝分かれしている場合にも、樹枝状先端部へ
の金属充填が可能である。なおまたさらに、本発明によ
れば、隙間への金属充填も可能となる。例えば、複合材
あるいは単一部材の組み合わせよる構造体よりなるワー
クにおいて、これらワーク中に形成された微細な隙間
(ギャップ)に金属充填をする場合に適用可能である。
断面の微細空間に金属を充填することができる。特に、
微細孔を持つシリコン基板やガラス材等を、真空圧に減
圧した真空チャンバー内で溶融金属槽に挿入し、これら
が溶融金属とほぼ同じ温度に達した後真空チャンバー内
を大気圧以上に加圧して、溶融金属を微細孔に充填する
ので、高アスペクト比の微細孔に対しても、かつ、貫通
している微細孔は勿論、貫通していない微細孔へも金属
充填が可能であり、鬆(す)などの空隙の生じない金属
充填を行なうことができる。貫通した微細孔に金属を充
填して貫通電極を形成する場合には、空隙のない良好な
貫通電極を作成することが出来る。
置の要部の一部切り欠き正面図である。
の金属充填を行なう工程を説明する図であり、(イ)、
(ロ)、(ハ)の順で行なわれる。
が充填される状況を説明する模式図であり、(イ)は真
空チャンバー内を加圧する前、(ロ)は加圧した後を示
す。
充填した実験結果を説明するもので、錫を充填した微細
孔部分の断面図である。
充填した他の実験結果を説明するもので、錫を充填した
微細孔部分の断面図である。
した実験結果を説明するもので、錫を充填した微細孔部
分の断面図である。
時の充填不良状態を説明する図であり、シリコン基板の
金属を充填した微細孔部分の模式的な断面図である。
時の、鬆が生じた充填不良状態を説明する図であり、シ
リコン基板の金属を充填した微細孔部分の模式的な断面
図である。
Claims (4)
- 【請求項1】 真空チャンバーと、前記真空チャンバー
内を真空圧に減圧するための減圧手段と、前記真空チャ
ンバー内に配置された溶融金属槽と、前記溶融金属槽内
の金属を加熱溶融するためのヒータと、金属を充填しよ
うとする微細空間を持つワークをクランプして前記真空
チャンバー内の溶融金属槽内に挿入するためのワーク固
定用アームと、ワークを溶融金属槽内に挿入した後に真
空チャンバー内を大気圧以上に加圧するための加圧手段
とを備えたことを特徴とする微細空間への金属充填装
置。 - 【請求項2】 真空チャンバーの上面部にヒンジ式の開
閉蓋を設け、前記ワーク固定用アームの軸部を前記開閉
蓋を貫通する態様でスライド可能に支持するアーム支持
部を、前記開閉蓋に設けたことを特徴とする請求項1記
載の微細空間への金属充填装置。 - 【請求項3】 ワークに形成された微細空間に金属を充
填する方法であって、まず、金属を充填しようとするワ
ークの雰囲気圧を減圧し、次いで減圧状態を保ったま
ま、前記ワークを溶融金属に挿入し、次いで前記溶融金
属の雰囲気圧を加圧して、金属挿入前後における雰囲気
圧差により前記微細空間に溶融金属を充填し、次いでワ
ークを溶融金属槽から引き上げて冷やすことを特徴とす
る微細空間への金属充填方法。 - 【請求項4】 前記ワークに形成された前記微細空間
が、微細孔若しくは空隙であり、前記ワークを真空チャ
ンバー内に収容し、次いで真空チャンバー内を真空圧に
減圧し、次いで前記ワークを真空チャンバー内の溶融金
属槽に挿入し、ワークが溶融金属と同じ温度に達した後
真空チャンバー内を大気圧以上に加圧し、次いでワーク
を溶融金属槽から引き上げ、空冷することを特徴とする
請求項3記載の微細空間への金属充填方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000355725A JP3627856B2 (ja) | 2000-11-22 | 2000-11-22 | 微細空間への金属充填装置及び金属充填方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000355725A JP3627856B2 (ja) | 2000-11-22 | 2000-11-22 | 微細空間への金属充填装置及び金属充填方法 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004325898A Division JP2005109515A (ja) | 2004-11-10 | 2004-11-10 | 微細孔金属充填基板 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002158191A true JP2002158191A (ja) | 2002-05-31 |
JP3627856B2 JP3627856B2 (ja) | 2005-03-09 |
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ID=18828093
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000355725A Expired - Fee Related JP3627856B2 (ja) | 2000-11-22 | 2000-11-22 | 微細空間への金属充填装置及び金属充填方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3627856B2 (ja) |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP3627856B2 (ja) | 2005-03-09 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20041110 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20041201 |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20041201 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071217 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081217 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081217 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091217 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101217 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101217 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111217 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111217 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121217 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121217 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
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