JP2002151776A - 真空紫外レーザ装置 - Google Patents

真空紫外レーザ装置

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JP2002151776A
JP2002151776A JP2000344668A JP2000344668A JP2002151776A JP 2002151776 A JP2002151776 A JP 2002151776A JP 2000344668 A JP2000344668 A JP 2000344668A JP 2000344668 A JP2000344668 A JP 2000344668A JP 2002151776 A JP2002151776 A JP 2002151776A
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etalon
laser generating
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JP2000344668A
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Tatsuya Ariga
達也 有我
Osamu Wakabayashi
理 若林
Takahito Kumazaki
貴仁 熊崎
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Gigaphoton Inc
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 エタロンに入射させる光の量とその光の発散
角とを共に抑えることができる真空紫外レーザ装置を提
供する。 【解決手段】 レーザチャンバ11と、入射する光の一
部を下方向へ反射する複数の微小な面積の反射部21、
及び、残りの光を出力用のレーザ光として右方向へ透過
する透過部22を含むビームスプリッタ17と、反射部
21から反射された光のスペクトル幅を狭帯域化するエ
タロン34等を具備する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、真空紫外域の光を
増幅しながらそのスペクトル幅を狭帯域化することによ
り、出力用のレーザ光を生成する真空紫外レーザ装置に
関する。尚、本願においては、200nm以下の波長域
を真空紫外域と称している。
【0002】
【従来の技術】現在、半導体装置の製造工程において、
KrF(krypton fluoride)エキシマレーザ装置を搭載
したステッパ(露光装置)が導入されている。KrFエ
キシマレーザ装置の発振波長(248nm)以下の短い
波長域の光に対しては、その色収差を様々な材料のレン
ズの組み合わせによって補正することが難しい。そこ
で、従来より、色収差の補正が不要な狭帯域レーザ光を
出力できるKrFエキシマレーザ装置が実現されてい
る。
【0003】狭帯域化の一例として、Jouni P. Partane
nの「Multipass grating interferometer applied to l
ine narrowing in excimer lasers」(APPLIED OPTICS
Vol.25, No.21, 1986年11月1日)には、レーザチャンバ
内に発生した光の中から所定の波長成分をグレーティン
グによって選択し、さらに、その波長成分を2枚の平面
鏡の間で往復させながらそのスペクトル幅をエタロンに
よって狭帯域化することにより、出力用のレーザ光を生
成するKrFエキシマレーザ装置が開示されている。
【0004】また、別の一例として、日本国特許出願公
開(特開)平3−209888号公報には、レーザ媒質
を貫く共振器光路を作る第1及び第2の反射鏡から成る
光共振器と、共振器光路中に設けられた波長位相器及び
偏光分離プリズムと、レーザ媒質から偏光分離プリズム
を通り、出力光が出力される出力光路以外の共振器光路
中に設けられ、波長を選択するグレーティングと、出力
光路以外の共振器光路中に設けられたエタロンを備えた
狭帯域化レーザ装置が開示されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、近年におけ
る半導体装置の高集積化に伴い、ステッパの光源として
KrFエキシマレーザ装置の発振波長より更に短い真空
紫外域において発振する真空紫外レーザ装置が注目され
ている。特に、その中でも、フッ素とヘリウムの混合ガ
スをレーザ媒質とするフッ素分子レーザ装置が最有力候
補に挙げられる。ここで、真空紫外レーザ装置が出力す
るレーザ光のスペクトル幅としては、従来よりも更に狭
帯域化された値(例えば、0.2pm〜0.6pm)が
求められている。
【0006】しかしながら、Jouni P. Partanenによっ
て開示された構成に従って真空紫外レーザ装置を構成す
ると、2枚の平面鏡の間を往復する光が全てエタロンを
通過してしまう。このような大光量の光をエタロンに通
過させると、その部分反射膜の劣化や変形を招いてしま
う。このため、部分反射膜が無い、即ち、フィネスが低
いエタロンしか用いることができない。また、エタロン
を通過させる光の発散角(divergence)を低減させる措
置が採られていない。このため、エタロンによっても狭
帯域化できないような光のスペクトル幅の広がりを招い
てしまう。従って、この構成では、真空紫外レーザ装置
が出力するレーザ光のスペクトル幅として求められてい
る値を達成することができない。
【0007】また、特開平3−209888号公報に開
示された構成に従って真空紫外レーザ装置を構成する
と、エタロンを通過する光の量と、その発散角とを共に
低減できる可能性があるものの、光をP偏光とS偏光に
分けるための偏光分離膜の材料として、真空紫外域(特
に、157nm付近の波長域)の光に対して有効な物質
が存在しない。従って、この構成では、真空紫外レーザ
装置が出力するレーザ光のスペクトル幅として求められ
ている値を達成することができない。
【0008】そこで、この解決策の一例として、特開平
9−199775号公報には、レーザ管の一端側に配置
された第1の反射鏡と、レーザ管の他端側において、第
1の反射鏡から反射された光の一部を別の方向へ分割す
るプリズムと、プリズムによって分割された一部の光の
スペクトル幅を狭帯域化するエタロンと、エタロンに入
射する光の発散角を0.5ミリラジアン未満にする光学
素子と、第1の反射鏡との間において、エタロンを通過
した光を共振させながら増幅する光共振器を形成する第
2の反射鏡等を備えた狭帯域レーザ装置が開示されてい
る。
【0009】また、別の一例として、国際公開WO96
/31929号には、レーザ発生部の一端側に配置さ
れ、発生したレーザビームのスペクトル幅をエタロンに
よって狭帯域化した後、そのレーザビームをレーザ発生
部に向けて折り返させる狭帯域化手段と、レーザ発生部
の他端側に配置され、入射されたレーザビームをレーザ
発生部に向けて折り返させるビーム折返手段と、レーザ
発生部と狭帯域化手段の間に配置され、レーザ発生部か
ら入射されたレーザビームの一部を透過して狭帯域化手
段に入射させる一方、残りのレーザビームを偏向して出
力光として取り出すレーザ分岐光学ユニット等を備え、
レーザ分岐光学ユニットがスリット状の開口を有する反
射鏡、又は、一部を反射部とし残りの部分を透過部とす
る光透過性の基板を含む狭帯域レーザ装置が開示されて
いる。
【0010】しかしながら、これらの狭帯域レーザ装置
においては、エタロンに入射させる光の量とその発散角
とを共に抑えることができるものの、エタロンに入射さ
せる光に波面収差を発生させるという新たな不具合を招
いてしまう。そこで、本発明は、エタロンに入射させる
光の量とその発散角とを共に抑えることができる真空紫
外レーザ装置を提供することを第1の目的とする。ま
た、本発明は、エタロンに入射させる光の波面収差を解
消することができる真空紫外レーザ装置を提供すること
を第2の目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明の第1の観点に係る真空紫外レーザ装置は、
真空紫外域のレーザ光を発生させるためのエネルギーを
供給するレーザ発生手段と、レーザ発生手段の一端側に
配置され、レーザ発生手段から入射した光をレーザ発生
手段に向けて反射する第1の反射鏡と、レーザ発生手段
の他端側に配置され、レーザ発生手段から入射した光の
一部を第1の方向へ反射する複数の反射部、及び、残り
の光を出力用のレーザ光として第2の方向へ透過する透
過部を含むビームスプリッタと、ビームスプリッタによ
って第1の方向へ反射された光のスペクトル幅を狭帯域
化するエタロンと、第1の反射鏡との間において、エタ
ロンを通過した光を共振させながら増幅するために用い
る第2の反射鏡とを具備する。
【0012】本発明の第1の観点によれば、ビームスプ
リッタに達した光の一部だけをエタロンに入射させるた
め、エタロンに入射する光の量を抑えることができる。
従って、エタロンの部分反射膜の劣化や変形を未然に防
ぐことができ、フィネスの高いエタロンを用いることが
できる。また、ビームスプリッタの反射部の面積を小さ
く設定することによって、反射光を点光源化させてい
る。点光源から出力される光の発散角は非常に小さい。
従って、エタロンに入射させる光の発散角を小さくする
ことができ、出力するレーザ光のスペクトル幅を所定の
値(例えば、0.2pm〜0.6pm)まで狭帯域化す
ることができる。
【0013】また、本発明の第2の観点に係る真空紫外
レーザ装置は、真空紫外域のレーザ光を発生させるため
のエネルギーを供給するレーザ発生手段と、レーザ発生
手段の一端側に配置され、レーザ発生手段から入射した
光をレーザ発生手段に向けて反射する第1の反射鏡と、
レーザ発生手段の他端側に配置され、レーザ発生手段か
ら入射した光の一部を第1の方向へ透過する複数の透過
部、及び、残りの光を出力用のレーザ光として第2の方
向へ反射する反射部を含むビームスプリッタと、ビーム
スプリッタによって第1の方向へ透過された光のスペク
トル幅を狭帯域化するエタロンと、第1の反射鏡との間
において、エタロンを通過した光を共振させながら増幅
するために用いる第2の反射鏡とを具備する。
【0014】本発明の第2の観点によれば、ビームスプ
リッタに達した光の一部だけをエタロンに入射させるた
め、エタロンに入射する光の量を抑えることができる。
従って、エタロンの部分反射膜の劣化や変形を未然に防
ぐことができ、フィネスの高いエタロンを用いることが
できる。また、ビームスプリッタの透過部の面積を小さ
く設定することによって、透過光を点光源化させてい
る。点光源から出力される光の発散角は非常に小さい。
従って、エタロンに入射させる光の発散角を小さくする
ことができ、出力するレーザ光のスペクトル幅を所定の
値(例えば、0.2pm〜0.6pm)まで狭帯域化す
ることができる。
【0015】また、本発明の第3の観点に係る真空紫外
レーザ装置は、真空紫外域のレーザ光を発生させるため
のエネルギーを供給するレーザ発生手段と、レーザ発生
手段の一端側に配置され、レーザ発生手段から入射した
光をレーザ発生手段に向けて反射する第1の反射鏡と、
レーザ発生手段の他端側に配置され、レーザ発生手段か
ら入射した光の一部を中央部において第1の方向へ反射
し、残りの光を中央部の周囲において出力用のレーザ光
として第2の方向へ透過するビームスプリッタと、ビー
ムスプリッタによって第1の方向へ反射された光のスペ
クトル幅を狭帯域化するエタロンと、第1の反射鏡との
間において、エタロンを通過した光を共振させながら増
幅するために用いる第2の反射鏡とを具備し、第1及び
第2の反射鏡の内の少なくとも一方の曲率が可変であ
る。
【0016】本発明の第3の観点によれば、ビームスプ
リッタに達した光の一部だけをエタロンに入射させるた
め、エタロンに入射する光の量を抑えることができる。
従って、エタロンの部分反射膜の劣化や変形を未然に防
ぐことができ、フィネスの高いエタロンを用いることが
できる。また、ビームスプリッタから反射される光の発
散角が抑えられ、さらに、その光の波面収差が解消され
るように第1及び第2の反射鏡の内の少なくとも一方の
曲率を変えることにより、これらの不具合を解決するこ
とができる。従って、出力するレーザ光のスペクトル幅
を所定の値(例えば、0.2pm〜0.6pm)まで狭
帯域化することができる。
【0017】また、本発明の第4の観点に係る真空紫外
レーザ装置は、真空紫外域のレーザ光を発生させるため
のエネルギーを供給するレーザ発生手段と、レーザ発生
手段の一端側に配置され、レーザ発生手段から入射した
光をレーザ発生手段に向けて反射する第1の反射鏡と、
レーザ発生手段の他端側に配置され、レーザ発生手段か
ら入射した光の一部を中央部において第1の方向へ透過
し、残りの光を中央部の周囲において出力用のレーザ光
として第2の方向へ反射するビームスプリッタと、ビー
ムスプリッタによって第1の方向へ透過された光のスペ
クトル幅を狭帯域化するエタロンと、第1の反射鏡との
間において、エタロンを通過した光を共振させながら増
幅するために用いる第2の反射鏡とを具備し、第1及び
第2の反射鏡の内の少なくとも一方の曲率が可変であ
る。
【0018】本発明の第4の観点によれば、ビームスプ
リッタに達した光の一部だけをエタロンに入射させるた
め、エタロンに入射する光の量を抑えることができる。
従って、エタロンの部分反射膜の劣化や変形を未然に防
ぐことができ、フィネスの高いエタロンを用いることが
できる。また、ビームスプリッタを透過する光の発散角
が抑えられ、さらに、その光の波面収差が解消されるよ
うに第1及び第2の反射鏡の内の少なくとも一方の曲率
を変えることにより、これらの不具合を解決することが
できる。従って、出力するレーザ光のスペクトル幅を所
定の値(例えば、0.2pm〜0.6pm)まで狭帯域
化することができる。
【0019】また、本発明の第5の観点に係る真空紫外
レーザ装置は、真空紫外域のレーザ光を発生させるため
のエネルギーを供給するレーザ発生手段と、レーザ発生
手段の一端側に配置され、レーザ発生手段から入射した
光をレーザ発生手段に向けて反射する第1の反射鏡と、
レーザ発生手段の他端側に配置され、レーザ発生手段か
ら入射した光の一部を第1の方向へ回折し、残りの光の
一部を出力用のレーザ光として第2の方向へ回折するグ
レーティングと、グレーティングによって第1の方向へ
回折された光のスペクトル幅を狭帯域化するエタロン
と、第1の反射鏡との間において、エタロンを通過した
光を共振させながら増幅するために用いる第2の反射鏡
とを具備する。
【0020】本発明の第5の観点によれば、グレーティ
ングに達した光の一部だけをエタロンに入射させるた
め、エタロンに入射する光の量を抑えることができる。
従って、エタロンの部分反射膜の劣化や変形を未然に防
ぐことができ、フィネスの高いエタロンを用いることが
できる。また、レーザ発生手段から入射した光の一部が
グレーティングによって第1の方向へ回折されるとき、
そのビーム断面がエキスパンドされる。従って、エタロ
ンに入射する光の発散角を小さくすることができ、出力
するレーザ光のスペクトル幅を所定の値(例えば、0.
2pm〜0.6pm)まで狭帯域化することができる。
【0021】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照しながら、
本発明の実施形態について説明する。尚、以下の各実施
形態においては、フッ素分子レーザ装置を例に挙げて説
明する。先ず、本発明の第1の実施形態について説明す
る。図1は、本発明の第1の実施形態に係るフッ素分子
レーザ装置の構成を示す図である。図1に示すように、
フッ素分子レーザ装置10は、フッ素とヘリウムの混合
ガスを収容するレーザチャンバ11を含んでいる。レー
ザチャンバ11の内部には、電極12及び13が上下に
対面するように配置されている。本実施形態において
は、電極12及び13の間で放電を行うことにより、こ
れらの間に、例えば、図2に示すようにあらゆる方向へ
発散した蛍光を発生させる。この蛍光には、大きく分類
すると第1の波長成分群(波長:157.523nmを
中心とする)と、第2の波長成分群(波長157.62
9nmを中心とする)等とが含まれている。従って、フ
ッ素分子レーザ装置10においては、光路内でのレーザ
光の吸収を低減させるために少なくとも光路が真空に引
かれているか、あるいは、窒素パージされている。以下
の各実施形態についても同様である。
【0022】再び図1を参照すると、レーザチャンバ1
1の左側の壁には、窓14がレーザチャンバ11を貫く
光軸と所定のブリュスタ角を為すように取り付けられて
いる。同様にして、レーザチャンバ11の右側の壁に
は、窓15が取り付けられている。このブリュスタ角に
より、窓14及び15の各表面における光の反射損失を
抑えることができる。尚、このようなブリュスタ配置を
採用する替わりに、窓14及び15の各表面に無反射膜
をコーティングすることによっても、これらの表面にお
ける光の反射損失を抑えることができる。しかしなが
ら、無反射膜は一般的に大光量の光に弱いことから、大
光量の光に強いブリュスタ配置を採用する方が好まし
い。
【0023】レーザチャンバ11の左側には、高い反射
率を有する平面鏡16が配置されている。平面鏡16
は、レーザチャンバ11から入射した光をレーザチャン
バ11に向けて反射する。尚、平面鏡16の替わりに、
所定の曲率を有する凹面鏡や凸面鏡を用いても良い。レ
ーザチャンバ11の右側には、入射した光を下方向と右
方向とに分けるビームスプリッタ17が配置されてい
る。
【0024】図3は、ビームスプリッタ17の構成の一
例を示す図である。図3に示すように、ビームスプリッ
タ17は、フッ素がドープされた合成石英、CaF2
MgF2の内のいずれかを材料とする円柱状の基板18
を含んでいる。尚、基板18は他の形状(例えば、角柱
状)であっても良い。基板18の一方の面19は、レー
ザチャンバ11から伝播した光の一部を下方向へ反射す
る複数の微小な面積の反射部21と、残りの光を出力用
のレーザ光として右方向へ透過する透過部22とに分か
れている。従って、反射部21の密度を変えることによ
り、ビームスプリッタ17の反射率が調整される。本実
施形態においては、例えば、ビームスプリッタ17の反
射率が30%〜70%に設定されている。
【0025】反射部21は、基板18の面19に微小面
積の高反射膜(例えば、アルミ膜や誘電体多層膜)をコ
ーティングすることによって形成される。尚、反射部2
1を形成する高反射膜に、MgF2等を含んだ保護膜を
コーティングしても良い。この場合には、反射部21
に、レーザチャンバ11からの入射光に対する耐久性を
持たせることができる。一方、基板18の面19におい
て、反射部21を除いた部分が透過部22を形成する。
尚、透過部22に無反射膜をコーティングしても良い。
この場合には、透過部22における光の反射損失を減ら
すことができる。また、基板18の他方の面20に無反
射膜をコーティングしても良い。この場合には、基板1
8の面20における光の反射損失を減らすことができ
る。以上において、反射部21をライン状に設けても良
い。
【0026】再び図1を参照すると、ビームスプリッタ
17の下側には、例えば窒素が封入された圧力チャンバ
23が配置されており、その内部にエタロン24が収納
されている。エタロン24は、2枚のエタロン板25及
び26と、これらの間に挟持された2個のスペーサ27
及び28とを含んでいる。エタロン板25におけるエタ
ロン板26との対面には、部分反射膜29がコーティン
グされている。また、エタロン板26におけるエタロン
板25との対面には、部分反射膜30がコーティングさ
れている。さらに、エタロン板25における部分反射膜
29と反対側の面に無反射コーティングを施し、エタロ
ン板26における部分反射膜30と反対側の面に無反射
コーティングを施しても良い。エタロン板25及び26
の材料としては、フッ素がドープされた合成石英や、C
aF2、MgF2等が用いられる。一方、スペーサ27及
び28の材料としては、合成石英や、熱膨張係数の小さ
いセラミックスガラス等が用いられる。
【0027】エタロン24は、窓31を介して圧力チャ
ンバ23内に入射した光(第1の波長成分(波長:15
7.523nm)と、第2の波長成分(波長:157.
629nm)とを含んでいる)の中から第2の波長成分
だけを選択する機能(波長選択機能)を有している。本
実施形態においては、コントローラ46が圧力チャンバ
23の内部圧力を制御することにより、エタロン24の
波長選択機能が調整される。あるいは、エタロン24が
圧力チャンバ23を貫く光軸と為す角度や、エタロン板
25及び26の間隔を制御することによって、エタロン
24の波長選択機能を調整しても良い。エタロン24を
下方向へ通過した光は、窓32を介して圧力チャンバ2
3外へ出射される。
【0028】圧力チャンバ23の下側には別の圧力チャ
ンバ33が配置されており、その内部にエタロン34が
収納されている。エタロン34は、2枚のエタロン板3
5及び36と、これらの間に挟持された2個のスペーサ
37及び38とを含んでいる。エタロン板35における
エタロン板36との対面には、部分反射膜39がコーテ
ィングされている。また、エタロン板36におけるエタ
ロン板35との対面には、部分反射膜40がコーティン
グされている。さらに、エタロン板35における部分反
射膜39と反対側の面に無反射コーティングを施し、エ
タロン板36における部分反射膜40と反対側の面に無
反射コーティングを施しても良い。エタロン板35及び
36の材料としては、フッ素がドープされた合成石英
や、CaF 2、MgF2等が用いられる。一方、スペーサ
37及び38の材料としては、合成石英や、熱膨張係数
の小さいセラミックスガラス等が用いられる。
【0029】エタロン34は、窓41を介して圧力チャ
ンバ33内に入射した光(波長:157.629nm)
のスペクトル幅を所定の値(例えば、0.2pm〜0.
6pm)まで狭帯域化する機能(狭帯域化機能)を有し
ている。本実施形態においては、コントローラ46が圧
力チャンバ33の内部圧力を制御することにより、エタ
ロン34の狭帯域化機能が調整される。あるいは、エタ
ロン34が圧力チャンバ33を貫く光軸と為す角度や、
エタロン板35及び36の間隔を制御することによっ
て、エタロン34の狭帯域化機能を調整しても良い。エ
タロン34を下方向へ通過した光は、窓42を介して圧
力チャンバ43外へ出射される。
【0030】圧力チャンバ33の下側には、高い反射率
を有する平面鏡43が配置されている。平面鏡43は、
圧力チャンバ33から伝播した光を圧力チャンバ33に
向けて反射する。平面鏡43は、平面鏡16との間にお
いて、エタロン24と34を通過した光を共振させなが
ら増幅する。尚、平面鏡43の代わりに、所定の曲率を
有する凹面鏡や凸面鏡を用いても良い。
【0031】ビームスプリッタ17の右側には、入射し
た光を下方向と右方向とに分ける別のビームスプリッタ
44が配置されており、さらに、ビームスプリッタ44
の下側にはモニタモジュール45が配置されている。モ
ニタモジュール45は、ビームスプリッタ44から入射
した光の強度、スペクトル幅、中心波長等をモニタする
機能を有しており、これらのモニタ結果をコントローラ
46に向けて出力する。コントローラ46は、モニタモ
ジュール45のモニタ結果に基づいて、圧力チャンバ2
3及び33の各内部圧力を制御する。
【0032】図4(a)〜(e)は、フッ素分子レーザ
装置10において、出力用のレーザ光を生成するプロセ
スを示す図である。図4(a)に示すように、レーザチ
ャンバ11内に発生する蛍光は、第1の波長成分(波
長:157.523nm)と、第2の波長成分(波長:
157.629nm)とを含んでいる。
【0033】図4(b)は、エタロン24を通過する光
の波長と、その透過強度との関係を示す図である。図4
(b)に示すように、エタロン24は、157.523
nmにおいて光の透過強度を極小とし、また、157.
629nmにおいて光の透過強度を極大とする。このた
め、図4(c)に示すように、エタロン24に達した光
の中から第2の波長成分(波長:157.629nm)
だけが選択され、エタロン24を通過する。尚、エタロ
ン24を通過した光は、1pm程度のスペクトル幅を有
している。
【0034】ところで、エタロン24と同様の構成のエ
タロンにおいて、2枚のエタロン板の間隔dは、以下の
式(1)によって求められる。 d=λ2/(2n・FSR)…(1) ここで、 λ:エタロンを通過させる光の波長 n:2枚のエタロン板の間における屈折率 FSR:エタロンのフリースぺクトラルレンジ を表している。
【0035】図4(a)に示すように、第1の波長成分
(波長:157.523nm)と第2の波長成分(波
長:157.629nm)との間には、100pm程度
の間隔がある。このため、エタロン24に達した光の中
から第2の波長成分だけを選択するには、エタロン24
のFSRが200pm程度であれば良い。また、エタロ
ン24のフィネスは、例えば、5〜8程度であれば良
い。従って、エタロン板25及び26の間における屈折
率を1と仮定すると、式(1)によって、これらの間の
間隔dは、約0.06mmと求められる。
【0036】図4(d)は、エタロン34を通過する光
の波長と、その透過強度との関係を示す図である。図4
(d)に示すように、エタロン34の透過光は、15
7.629nmにおいて、所定の値(例えば、0.2p
m〜0.6pm)の半値幅(full width half maximu
m)を有する。このため、図4(e)に示すように、エ
タロン34に達した光(波長:157.629nm)の
スペクトル幅が、所定の値(例えば、0.2pm〜0.
6pm)まで狭帯域化される。
【0037】図4(c)に示すように、第2の波長成分
(波長:157.629nm)のスペクトル幅は1.0
pm程度である。このため、エタロン34に達した光の
スペクトル幅を狭帯域化するには、エタロン34のFS
Rが1pm程度であれば良い。また、エタロン34を2
回通過した際のフィネスが5程度であれば良いことか
ら、エタロン34のフィネスを高く設定する必要がな
い。このため、部分反射膜39及び40の各反射率は、
これらの膜の吸収による影響を少なくするために、60
%以下に設定すれば十分である。従って、エタロン板3
5及び36の間における屈折率を1と仮定すると、式
(1)によって、これらの間の間隔dは、約12.3m
mと求められる。
【0038】以上説明したように、本実施形態によれ
ば、レーザチャンバ11からビームスプリッタ17に伝
播した光の一部を反射部21によって下方向へ反射し、
エタロン24に入射させる。一方、残りの光は、ビーム
スプリッタ17の透過部22を右方向へ透過させる。こ
のため、エタロン24に入射させる光の量を抑えること
ができる。従って、エタロン24の部分反射膜29や部
分反射膜30の劣化や変形を防ぐことができ、エタロン
24としてフィネスが高いものを用いることができる。
また、エタロン24を通過した光をエタロン34に入射
させることから、同様に、エタロン34としてフィネス
が高いものを用いることができる。
【0039】また、本実施形態によれば、ビームスプリ
ッタ17の反射部21の面積を小さく設定することによ
って、反射光を点光源化させている。点光源から出力さ
れる光の発散角は非常に小さい。従って、エタロン34
に入射させる光の発散角を小さくすることができ、出力
するレーザ光のスペクトル幅を所定の値(例えば、0.
2pm〜0.6pm)まで狭帯域化することができる。
【0040】さらに、本実施形態によれば、平面鏡16
と平面鏡43の間において、エタロン34を通過した光
を共振させながら増幅する自己増幅共振器を形成してい
る。従って、従来より用いられることが多い共振器、即
ち、2枚の反射鏡の間において光を共振させ増幅しなが
ら、その光のスペクトル幅をエタロンによって狭帯域化
する共振器に比べて、狭帯域化効率を向上させることが
できる。
【0041】本実施形態においては、ビームスプリッタ
17の替わりに、例えば、図5(a)〜(c)に示すよ
うなビームスプリッタを用いることもできる。図5
(a)及び(b)に示すように、ビームスプリッタ50
は、フッ素がドープされた合成石英、CaF2、MgF2
の内のいずれかを材料とする円柱状の基板51を含んで
いる。尚、基板51は他の形状(例えば、角柱状)であ
っても良い。基板51の一方の面52には、複数の溝部
54が形成されており、溝部54は、反射部55と反射
部56とに分かれている。従って、図5(c)に示すよ
うに、反射部55の幅aや透過部56の幅bを変えて溝
部54の密度を変えることにより、ビームスプリッタ5
0の反射率が調整される。
【0042】ビームスプリッタ50は、レーザチャンバ
11の右側において、溝部54が図1の紙面に垂直な方
向に延びるように配置される。このとき、反射部55が
光軸と為す角度が所定の値(例えば、45゜)に設定さ
れる。尚、反射部55に高反射膜をコーティングしても
良い。この場合には、反射部55の反射効率を向上させ
ることができる。また、透過部56に無反射膜をコーテ
ィングしても良い。この場合には、透過部56における
光の反射損失を減らすことができる。また、基板51の
面53に無反射膜をコーティングしても良い。この場合
には、基板51の面53における光の反射損失を減らす
ことができる。
【0043】レーザチャンバ11の右側において、基板
51の面52がレーザチャンバ11に対面するようにビ
ームスプリッタ50を配置した場合には、レーザチャン
バ11から伝播した光の一部が反射部55によって下方
向へ反射され、エタロン24に入射する。そして、残り
の光が透過部56を右方向へ透過する。一方、基板51
の他方の面53がレーザチャンバ11に対面するように
ビームスプリッタ50を配置した場合には、レーザチャ
ンバ11から伝播し、基板51の面52を透過した光の
一部が反射部55によって下方向へ反射され、エタロン
24に入射する。そして、残りの光が透過部56を右方
向へ透過する。反射部55の幅aを狭くすると、溝部5
4の長手方向に垂直な方向に対して、反射部55を点
(線)光源化することができる。従って、図2に示すよ
うな蛍光を用いる場合に、エタロン24やエタロン34
に入射させる光の光量とその発散角とを共に抑えること
ができる。
【0044】次に、本発明の第2の実施形態について説
明する。図6は、本発明の第2の実施形態に係るフッ素
分子レーザ装置の構成を示す図である。以下、図1と共
通する要素に同じ参照符号を付して、これらの説明を省
略する。図6に示すように、フッ素分子レーザ装置60
においては、レーザチャンバ11の右側に、そこから入
射した光を下方向と右方向とに分けるビームスプリッタ
61が配置されている。ビームスプリッタ61の右側に
は、圧力チャンバ23及び33、平面鏡43が順に配置
されている。また、ビームスプリッタ61の下側にはビ
ームスプリッタ44が配置されており、さらに、ビーム
スプリッタ44の左側にはモニタモジュール45が配置
されている。
【0045】図7は、ビームスプリッタ61の構成の一
例を示す図である。図7に示すように、ビームスプリッ
タ61は、フッ素がドープされた合成石英、CaF2
MgF2の内のいずれかを材料とする円柱状の基板62
を含んでいる。尚、基板62は他の形状(例えば、角柱
状)であっても良い。基板62の一方の面63は、レー
ザチャンバ11から伝播した光の一部を右方向へ透過す
る複数の微小な面積の透過部65と、残りの光を出力用
のレーザ光として下方向へ反射する反射部66とに分か
れている。従って、透過部65の密度を変えることによ
り、ビームスプリッタ61の透過率が調整される。本実
施形態においては、例えば、ビームスプリッタ61の透
過率が30%〜70%に設定されている。
【0046】反射部66は、基板62の面63に、複数
の微小な開口が形成された高反射膜(例えば、アルミ膜
や誘電体多層膜)をコーティングすることによって形成
される。尚、反射部66を形成する高反射膜に、MgF
2等を含んだ保護膜をコーティングしても良い。この場
合には、反射部66に、レーザチャンバ11からの入射
光に対する耐久性を持たせることができる。一方、反射
部66を形成する高反射膜の開口に該当する部分が透過
部65を形成する。尚、透過部65に無反射膜をコーテ
ィングしても良い。この場合には、透過部65における
光の反射損失を減らすことができる。また、基板62の
他方の面64に無反射膜をコーティングしても良い。こ
の場合には、基板62の面64における光の反射損失を
減らすことができる。以上において、透過部65をライ
ン状に設けても良い。
【0047】本実施形態によれば、レーザチャンバ11
からビームスプリッタ17に伝播した光の一部を透過部
65によって右方向へ透過し、エタロン24に入射す
る。一方、残りの光は、ビームスプリッタ61の反射部
66によって下方向へ反射する。また、ビームスプリッ
タ61の透過部65の面積を小さく設定することによっ
て、透過光を点光源化させている。従って、本実施形態
によっても第1の実施形態と同様の効果を達成すること
ができる。
【0048】次に、本発明の第3の実施形態について説
明する。図8は、本発明の第3の実施形態に係るフッ素
分子レーザ装置の構成を示す図である。図8に示すよう
に、フッ素分子レーザ装置70においては、レーザチャ
ンバ11の右側に、そこから入射した光を下方向と右方
向とに分けるビームスプリッタ71が配置されている。
ビームスプリッタ71の右側にはビームスプリッタ44
が配置されている。
【0049】図9(a)及び(b)は、ビームスプリッ
タ71の構成の一例を示す図である。図9(a)及び
(b)に示すように、ビームスプリッタ71は、フッ素
がドープされた合成石英、CaF2、MgF2の内のいず
れかを材料とする円柱状の基板72を含んでいる。尚、
基板72は他の形状(例えば、角柱状)であっても良
い。基板72の一方の面73は、レーザチャンバ11か
ら伝播した光の一部を下方向へ反射する反射部75と、
残りの光を出力用のレーザ光として右方向へ透過する透
過部76とに分かれている。従って、反射部75の面積
を変えることにより、ビームスプリッタ71の反射率が
調整される。本実施形態においては、例えば、ビームス
プリッタ71の反射率が30%〜70%に設定されてい
る。
【0050】反射部75は、基板72の面73の中央部
に円状の高反射膜(例えば、アルミ膜、誘電体多層膜)
をコーティングすることによって形成される。尚、反射
部75を形成する高反射膜に、MgF2等を含んだ保護
膜をコーティングしても良い。この場合には、反射部7
5に、レーザチャンバ11からの入射光に対する耐久性
を持たせることができる。一方、反射部75の周囲が透
過部76となる。尚、透過部76に、中空円状の無反射
膜をコーティングしても良い。また、基板72の他方の
面74に無反射膜をコーティングしても良い。この場合
には、基板72の面74における光の反射損失を減らす
ことができる。
【0051】再び図8を参照すると、レーザチャンバ1
1の左側には、高い反射率を有すると共に、紙面に平行
な方向の曲率が可変である反射鏡77が配置されてい
る。反射鏡77は、レーザチャンバ11から伝播した光
をレーザチャンバ11に向けて反射する。反射鏡77の
曲率は曲率変更機構78によって調整される。曲率変更
機構78は、コントローラ46の制御の下、ビームスプ
リッタ71の反射部75から反射された光の発散角が抑
えられ、また、その光の波面収差が解消されるように反
射鏡77の曲率を変える。
【0052】本実施形態によれば、レーザチャンバ11
からビームスプリッタ71に伝播した光の一部を反射部
75によって下方向へ反射し、エタロン24に入射させ
る。一方、残りの光は、ビームスプリッタ71の透過部
76を右方向へ透過させる。また、反射部75から反射
された光の発散角が抑えられ、また、その光の波面収差
が解消されるように反射鏡77の曲率を変える。従っ
て、第1の実施形態と同様の効果を達成することができ
ると共に、エタロン24及び34に入射させる光の波面
収差を解消することができる。尚、本実施形態において
は、平面鏡43の替わりに、反射鏡77のような鏡を用
いても良い。
【0053】次に、本発明の第4の実施形態について説
明する。図10は、本発明の第4の実施形態に係るフッ
素分子レーザ装置の構成を示す図である。図10に示す
ように、フッ素分子レーザ装置80においては、レーザ
チャンバ11の右側に、そこから入射した光を下方向と
右方向とに分けるビームスプリッタ81が配置されてい
る。ビームスプリッタ81の右側には、圧力チャンバ2
3及び33、平面鏡43が順に配置されている。また、
ビームスプリッタ81の下側にはビームスプリッタ44
が配置されており、さらに、ビームスプリッタ44の左
側にはモニタモジュール45が配置されている。
【0054】図11(a)及び(c)は、ビームスプリ
ッタ81の構成の一例を示す図である。図11(a)及
び(b)に示すように、ビームスプリッタ81は、フッ
素がドープされた合成石英、CaF2、MgF2の内のい
ずれかを材料とする円柱状の基板82を含んでいる。
尚、基板82は他の形状(例えば、角柱状)であっても
良い。基板82の一方の面83は、レーザチャンバ11
から伝播した光の一部を右方向へ透過する透過部85
と、残りの光を出力用のレーザ光として下方向へ反射す
る反射部86とに分かれている。従って、透過部85の
面積を変えることにより、ビームスプリッタ81の透過
率が調整される。本実施形態においては、例えば、ビー
ムスプリッタ81の透過率が30%〜70%に設定され
ている。
【0055】基板82の面83における透過部85の周
囲に中空円状の高反射膜(例えば、アルミ膜、誘電体多
層膜)をコーティングすることにより、反射部86が形
成される。尚、反射部86を形成する高反射膜に、Mg
2等を含んだ保護膜をコーティングしても良い。この
場合には、反射部86に、レーザチャンバ11からの入
射光に対する耐久性を持たせることができる。一方、高
反射膜がコーティングされていない中央部が透過部85
となる。尚、透過部85に、円状の無反射膜をコーティ
ングしても良い。また、基板82の他方の面84に無反
射膜89をコーティングしても良い。この場合には、基
板82の面84における光の反射損失を減らすことがで
きる。
【0056】再び図10を参照すると、レーザチャンバ
11の左側には、高い反射率を有すると共に、紙面に平
行な方向の曲率が可変である反射鏡87が配置されてい
る。反射鏡87は、レーザチャンバ11から伝播した光
をレーザチャンバ11に向けて反射する。反射鏡87の
曲率は曲率変更機構88によって調整される。曲率変更
機構88は、コントローラ46の制御の下、ビームスプ
リッタ81の透過部85を透過した光の発散角が抑えら
れ、また、その光の波面収差が解消されるように反射鏡
87の曲率を変える。
【0057】本実施形態によれば、レーザチャンバ11
からビームスプリッタ81に伝播した光の一部を透過部
85によって右方向へ透過し、エタロン24に入射させ
る。一方、残りの光は、ビームスプリッタ81の反射部
86によって下方向へ反射させる。また、透過部85を
透過した光の発散角が抑えられ、また、その光の波面収
差が解消されるように反射鏡87の曲率を変える。従っ
て、本実施形態によっても第4の実施形態と同様の効果
を達成することができる。尚、平面鏡43の替わりに、
反射鏡87のような鏡を用いても良い。
【0058】本実施形態においては、ビームスプリッタ
81の替わりに、例えば、図12(a)及び(b)に示
すようなビームスプリッタを用いることもできる。図1
2(a)及び(b)に示すように、ビームスプリッタ9
0は、フッ素がドープされた合成石英、CaF2、Mg
2の内のいずれかを材料とする中空円柱状の基板91
を含んでいる。尚、基板91は他の形状(例えば、中空
角柱状)であっても良い。ビームスプリッタ90におい
ては、基板91の開口92を、レーザチャンバ11から
伝播した光の一部を右方向へ透過する透過部94として
いる。また、基板91の一方の面93に中空円状の高反
射膜(例えば、アルミ膜、誘電体多層膜)をコーティン
グすることにより、反射部95が形成されている。尚、
反射部95を形成する高反射膜に、MgF2等を含んだ
保護膜をコーティングしても良い。この場合には、反射
部95に、レーザチャンバ11から伝播した光に対する
耐久性を持たせることができる。従って、開口92の直
径を変えることにより、ビームスプリッタ90の透過率
が調整される。本実施形態においては、例えば、ビーム
スプリッタ90の透過率が30%〜70%に設定されて
いる。
【0059】レーザチャンバ11の右側にビームスプリ
ッタ90を配置することにより、レーザチャンバ11か
ら伝播した光の一部が透過部94を右方向へ透過し、エ
タロン24に入射する。そして、残りの光が反射部95
によって下方向へ反射される。従って、この場合にも、
ビームスプリッタ81を用いる場合と同様の効果を達成
することができる。
【0060】次に、本発明の第5の実施形態について説
明する。図13は、本発明の第5の実施形態に係るフッ
素分子レーザ装置の構成を示す図である。図13に示す
ように、フッ素分子レーザ装置100においては、レー
ザチャンバ11の右側に、そこから入射した光を複数の
方向へ回折するグレーティング101が配置されてい
る。詳細には、グレーティング101は、レーザチャン
バ11から入射した光の中から第2の波長成分(波長:
157.629nm)を下方向へ回折し、また、残りの
光の一部を出力用のレーザ光として右下の方向へ回折す
るように配置されている。
【0061】図14は、グレーティング101の構成の
一例を示す図である。図14に示すように、グレーティ
ング101は、ゼロデュア(Zerodur:Schott社の商
標)やULE(Corning社の商標)等の低膨張ガラスを
材料とする基板102を含んでいる。基板102の面1
03には、所定の本数(例えば、1800本/mm〜3
600本/mm)の凸部104が等間隔に形成されてい
る。尚、図13及び図14においては、凸部104の本
数が省略されている。グレーティング101を製作する
方法には、例えば、以下の2つの方法が挙げられる。 (1)ゼロデュア(Schott社の商標)若しくはULE
(Corning社の商標)等の低膨張率の材料から成る基板
の上にエポキシ等の材料をコーティングして溝を形成し
た後、アルミニウムをコーティングする。また、耐久性
を上げるためにそのアルミニウムコーティングの上にM
gF2を材料とする膜を蒸着させる。 (2)ゼロデュア(Schott社の商標)若しくはULE
(Corning社の商標)等の低膨張ガラスを材料とする基
板の一面にホログラム層を形成した後、その面にレジス
トを感光させてからエッチングを施し、ホログラム層に
溝を形成する。
【0062】再び図13を参照すると、グレーティング
101の下側には、圧力チャンバ33、平面鏡43が順
に配置されている。また、グレーティング101から右
下の方向には、そこから伝播してきた光を右方向へ反射
する平面鏡105が配置されている。平面鏡105の右
側にはビームスプリッタ44が配置されており、その下
側にはモニタモジュール45が配置されている。
【0063】本実施形態によれば、グレーティング10
1に達した光の一部だけをエタロン34に入射させるた
め、エタロン34に入射させる光の量を抑えることがで
きる。また、レーザチャンバ11から伝播した光の内の
第2の波長成分(波長:157.629nm)がグレー
ティング101によって下方向へ回折されるとき、その
ビーム断面がエキスパンドされる。従って、本実施形態
によっても第1の実施形態と同様の効果を達成すること
ができる。尚、本実施形態においては、透過型のグレー
ティングを用いても良い。
【0064】尚、第1の実施形態から第4の実施形態に
おいて、レーザチャンバ11内に発生した蛍光の中から
第2の波長成分だけを選択する手段として、プリズムや
グレーティングを収容する波長選択モジュールを用いて
も良い。この場合にも、これらの実施形態の効果を達成
することができる。
【0065】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
真空紫外レーザ装置において、エタロンに入射させる光
の量とその発散角とを共に抑えることができる。また、
本発明によれば、真空紫外レーザ装置において、エタロ
ンに入射させる光の波面収差を解消することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態に係るフッ素分子レー
ザ装置の構成を示す図である。
【図2】図1に示すレーザチャンバ内において発生する
蛍光の一例を示す図である。
【図3】図1に示すレーザチャンバに隣接するように配
置させたビームスプリッタの構成の一例を示す図であ
る。
【図4】図1に示すフッ素分子レーザ装置において、出
力用のレーザ光を生成するプロセスを示す図である。
【図5】図1に示すレーザチャンバに隣接するように配
置させたビームスプリッタの構成の別の一例を示す図で
ある。
【図6】本発明の第2の実施形態に係るレーザ装置の構
成を示す図である。
【図7】図6に示すレーザチャンバに隣接するように配
置させたビームスプリッタの構成の一例を示す図であ
る。
【図8】本発明の第3の実施形態に係るレーザ装置の構
成を示す図である。
【図9】図8に示すレーザチャンバに隣接するように配
置させたビームスプリッタの構成の一例を示す図であ
る。
【図10】本発明の第4の実施形態に係るレーザ装置の
構成を示す図である。
【図11】図10に示すレーザチャンバに隣接するよう
に配置させたビームスプリッタの構成の一例を示す図で
ある。
【図12】図10に示すレーザチャンバに隣接するよう
に配置させたビームスプリッタの構成の別の一例を示す
図である。
【図13】本発明の第5の実施形態に係るレーザ装置の
構成を示す図である。
【図14】図13に示すグレーティングの構成の一例を
示す図である。
【符号の説明】
10、60、70、80、100 フッ素分子レーザ装
置 16 平面鏡 17、50、61、71、81、90 ビームスプリッ
タ 21、55、66、 75、86、95 反射部 22、56、65、76、85、94 透過部 24、34 エタロン 29、30、39、40 部分反射膜 45 モニタモジュール 46 コントローラ 77、87 反射鏡 78、88 曲率変更機構 101 グレーティング
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 熊崎 貴仁 神奈川県平塚市万田1200 技術研究組合 超先端電子技術開発機構内 Fターム(参考) 5F071 AA04 HH02 HH09 JJ05 5F072 AA04 JJ05 JJ20 KK07 KK08 KK15 MM16 MM20

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 真空紫外域のレーザ光を発生させるため
    のエネルギーを供給するレーザ発生手段と、 前記レーザ発生手段の一端側に配置され、前記レーザ発
    生手段から入射した光を前記レーザ発生手段に向けて反
    射する第1の反射鏡と、 前記レーザ発生手段の他端側に配置され、前記レーザ発
    生手段から入射した光の一部を第1の方向へ反射する複
    数の反射部、及び、残りの光を出力用のレーザ光として
    第2の方向へ透過する透過部を含むビームスプリッタ
    と、 前記ビームスプリッタによって第1の方向へ反射された
    光のスペクトル幅を狭帯域化するエタロンと、 前記第1の反射鏡との間において、前記エタロンを通過
    した光を共振させながら増幅するために用いる第2の反
    射鏡と、を具備する真空紫外レーザ装置。
  2. 【請求項2】 真空紫外域のレーザ光を発生させるため
    のエネルギーを供給するレーザ発生手段と、 前記レーザ発生手段の一端側に配置され、前記レーザ発
    生手段から入射した光を前記レーザ発生手段に向けて反
    射する第1の反射鏡と、 前記レーザ発生手段の他端側に配置され、前記レーザ発
    生手段から入射した光の一部を第1の方向へ透過する複
    数の透過部、及び、残りの光を出力用のレーザ光として
    第2の方向へ反射する反射部を含むビームスプリッタ
    と、 前記ビームスプリッタによって第1の方向へ透過された
    光のスペクトル幅を狭帯域化するエタロンと、 前記第1の反射鏡との間において、前記エタロンを通過
    した光を共振させながら増幅するために用いる第2の反
    射鏡と、を具備する真空紫外レーザ装置。
  3. 【請求項3】 真空紫外域のレーザ光を発生させるた
    めのエネルギーを供給するレーザ発生手段と、 前記レーザ発生手段の一端側に配置され、前記レーザ発
    生手段から入射した光を前記レーザ発生手段に向けて反
    射する第1の反射鏡と、 前記レーザ発生手段の他端側に配置され、前記レーザ発
    生手段から入射した光の一部を中央部において第1の方
    向へ反射し、残りの光を前記中央部の周囲において出力
    用のレーザ光として第2の方向へ透過するビームスプリ
    ッタと、 前記ビームスプリッタによって第1の方向へ反射された
    光のスペクトル幅を狭帯域化するエタロンと、 前記第1の反射鏡との間において、前記エタロンを通過
    した光を共振させながら増幅するために用いる第2の反
    射鏡とを具備し、 前記第1及び第2の反射鏡の内の少なくとも一方の曲率
    が可変である真空紫外レーザ装置。
  4. 【請求項4】 真空紫外域のレーザ光を発生させるため
    のエネルギーを供給するレーザ発生手段と、 前記レーザ発生手段の一端側に配置され、前記レーザ発
    生手段から入射した光を前記レーザ発生手段に向けて反
    射する第1の反射鏡と、 前記レーザ発生手段の他端側に配置され、前記レーザ発
    生手段から入射した光の一部を中央部において第1の方
    向へ透過し、残りの光を前記中央部の周囲において出力
    用のレーザ光として第2の方向へ反射するビームスプリ
    ッタと、 前記ビームスプリッタによって第1の方向へ透過された
    光のスペクトル幅を狭帯域化するエタロンと、 前記第1の反射鏡との間において、前記エタロンを通過
    した光を共振させながら増幅するために用いる第2の反
    射鏡とを具備し、 前記第1及び第2の反射鏡の内の少なくとも一方の曲率
    が可変である真空紫外レーザ装置。
  5. 【請求項5】 真空紫外域のレーザ光を発生させるため
    のエネルギーを供給するレーザ発生手段と、 前記レーザ発生手段の一端側に配置され、前記レーザ発
    生手段から入射した光を前記レーザ発生手段に向けて反
    射する第1の反射鏡と、 前記レーザ発生手段の他端側に配置され、前記レーザ発
    生手段から入射した光の一部を第1の方向へ回折し、残
    りの光の一部を出力用のレーザ光として第2の方向へ回
    折するグレーティングと、 前記グレーティングによって第1の方向へ回折された光
    のスペクトル幅を狭帯域化するエタロンと、 前記第1の反射鏡との間において、前記エタロンを通過
    した光を共振させながら増幅するために用いる第2の反
    射鏡と、を具備する真空紫外レーザ装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013065903A (ja) * 2013-01-15 2013-04-11 Gigaphoton Inc ガスレーザ装置

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6178183A (ja) * 1984-09-26 1986-04-21 Mitsubishi Electric Corp レ−ザ発振器
JPS63226089A (ja) * 1986-10-23 1988-09-20 Mitsubishi Electric Corp レーザ出力制御装置
JPH03142979A (ja) * 1989-10-30 1991-06-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd 狭帯域化レーザ装置
JPH03209889A (ja) * 1990-01-12 1991-09-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd 狭帯域化レーザ装置
JPH0472782A (ja) * 1990-07-13 1992-03-06 Komatsu Ltd 狭帯域発振レーザ装置
JPH0666542A (ja) * 1992-08-22 1994-03-08 Kawasaki Heavy Ind Ltd レーザの共振器アライメント保持装置
JPH08148743A (ja) * 1994-11-15 1996-06-07 Korea Atom Energ Res Inst 回折格子を利用した二重共振器形波長可変レーザーにおいての自己インジェクション−シーディング方法及び装置
JPH08195520A (ja) * 1995-01-17 1996-07-30 Seitai Hikari Joho Kenkyusho:Kk 固体レーザ発振器
WO1996031929A1 (fr) * 1995-04-03 1996-10-10 Komatsu Ltd. Laser a bande etroite
JPH10284778A (ja) * 1997-04-04 1998-10-23 Toshiba Corp レーザ発振装置
JPH11261139A (ja) * 1998-03-12 1999-09-24 Sumitomo Electric Ind Ltd レーザ用曲率可変鏡

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6178183A (ja) * 1984-09-26 1986-04-21 Mitsubishi Electric Corp レ−ザ発振器
JPS63226089A (ja) * 1986-10-23 1988-09-20 Mitsubishi Electric Corp レーザ出力制御装置
JPH03142979A (ja) * 1989-10-30 1991-06-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd 狭帯域化レーザ装置
JPH03209889A (ja) * 1990-01-12 1991-09-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd 狭帯域化レーザ装置
JPH0472782A (ja) * 1990-07-13 1992-03-06 Komatsu Ltd 狭帯域発振レーザ装置
JPH0666542A (ja) * 1992-08-22 1994-03-08 Kawasaki Heavy Ind Ltd レーザの共振器アライメント保持装置
JPH08148743A (ja) * 1994-11-15 1996-06-07 Korea Atom Energ Res Inst 回折格子を利用した二重共振器形波長可変レーザーにおいての自己インジェクション−シーディング方法及び装置
JPH08195520A (ja) * 1995-01-17 1996-07-30 Seitai Hikari Joho Kenkyusho:Kk 固体レーザ発振器
WO1996031929A1 (fr) * 1995-04-03 1996-10-10 Komatsu Ltd. Laser a bande etroite
JPH10284778A (ja) * 1997-04-04 1998-10-23 Toshiba Corp レーザ発振装置
JPH11261139A (ja) * 1998-03-12 1999-09-24 Sumitomo Electric Ind Ltd レーザ用曲率可変鏡

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013065903A (ja) * 2013-01-15 2013-04-11 Gigaphoton Inc ガスレーザ装置

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