JP2715608B2 - 狭帯域化レーザ装置 - Google Patents

狭帯域化レーザ装置

Info

Publication number
JP2715608B2
JP2715608B2 JP498490A JP498490A JP2715608B2 JP 2715608 B2 JP2715608 B2 JP 2715608B2 JP 498490 A JP498490 A JP 498490A JP 498490 A JP498490 A JP 498490A JP 2715608 B2 JP2715608 B2 JP 2715608B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
polarization
narrow
laser device
optical path
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP498490A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH03209887A (ja
Inventor
伸昭 古谷
拓弘 小野
直也 堀内
圭一郎 山中
威男 宮田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP498490A priority Critical patent/JP2715608B2/ja
Priority to DE69031884T priority patent/DE69031884T2/de
Priority to US07/487,080 priority patent/US4985898A/en
Priority to EP90103985A priority patent/EP0402570B1/en
Priority to CA002011361A priority patent/CA2011361C/en
Priority to KR1019900003141A priority patent/KR930002821B1/ko
Priority to US07/626,145 priority patent/US5150370A/en
Publication of JPH03209887A publication Critical patent/JPH03209887A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2715608B2 publication Critical patent/JP2715608B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70008Production of exposure light, i.e. light sources
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70058Mask illumination systems
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/05Construction or shape of optical resonators; Accommodation of active medium therein; Shape of active medium
    • H01S3/08Construction or shape of optical resonators or components thereof
    • H01S3/08004Construction or shape of optical resonators or components thereof incorporating a dispersive element, e.g. a prism for wavelength selection
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/05Construction or shape of optical resonators; Accommodation of active medium therein; Shape of active medium
    • H01S3/08Construction or shape of optical resonators or components thereof
    • H01S3/081Construction or shape of optical resonators or components thereof comprising three or more reflectors
    • H01S3/0811Construction or shape of optical resonators or components thereof comprising three or more reflectors incorporating a dispersive element, e.g. a prism for wavelength selection

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Lasers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、半導体集積回路の超微細加工等の露光用光
源として用いられる狭帯域化レーザ装置に関するもので
ある。
従来の技術 従来より、半導体集積回路の微細パターンの露光用光
源としてエキシマレーザが注目されている。エキシマレ
ーザはレーザ媒質としてクリプトン、キセノン等の希ガ
スとふっ素、塩素等のハロゲンガスを組み合わせること
により353nmから193nmの間のいくつかの波長でパターン
露光に十分な出力を有する発振線を得ることができる。
これらエキシマレーザの利得バンド幅は、約1nmと広
く、光共振線と組み合わせて発振させた場合、発振線が
0.5nm程度の帯域幅(半値全幅)を持つ。このように比
較的広い帯域幅を持つレーザ光を露光用光源として用い
た場合、露光光学系に色収差を補正した結像光学系を採
用する必要がある。ところが、波長が350nm以下の紫外
域では、結像光学系に用いるレンズの光学材料の選択の
幅が得られ、色収差の補正が困難となる。エキシマレー
ザを露光装置に用いる場合、レーザ発振線の帯域幅を0.
005nm程度にまで単色化できれば色収差補正をしない結
像光学系を利用することが可能となり、露光装置の光学
系の簡略化、更には、露光装置全体の小型化、価格の低
減を実現することができる。
広い帯域幅をもつレーザ光を単色化するには、狭い透
過帯域を持つ波長選択フィルターを通せば良い。しか
し、この方法では、レーザ出力が著しく減衰し、露光用
光源として実用に供することができない。そこで、波長
選択素子を共振器内に設置し、出力を減衰させることな
く単色化する方法が一般に採用されている。この一例と
して、例えば、特開昭63−160287号公報記載の構成が知
られている。
以下、簡単にその構成を説明すると、第8図にその構
成を示すように、全反射鏡102および半透過鏡103からな
る光共振器内に放電管101が設置されている。放電管101
には希ガスとハロゲンガスを含む媒質ガスが封入されて
おり、放電励起によってレーザ発振する。光共振器中に
は波長選択素子であるファブリペローエタン104が設置
されている。
このような構成のエキシマレーザ装置は、ファブリペ
ローエタン104で選択された特定の波長の光106、107、1
08、109だけが増幅、発振するので、非常に狭い帯域幅
で、かつ高い出力光105を得ることができる。
発明が解決しようとする課題 しかし、上記従来の狭帯域化レーザ装置では、光共振
器内に定在する高いエネルギーの光が波長選択素子を通
過するため、波長選択素子の変形や劣化を招き、選択波
長の変動や、出力の低下が発生し、その結果、露光装置
の光源として用いた場合、製品には不良を生じるなどの
課題があった。
本発明は、このような従来技術の課題を解決するもの
で、波長選択素子の変形、劣化による波長変動や出力の
低下がない狭帯域化レーザ装置を提供することを目的と
する。
課題を解決するための手段 上記目的を達成するための本発明の技術的解決手段
は、少なくともレーザ媒質と、このレーザ媒質を貫く共
振器光路を作る第1および第2の反射鏡からなる光共振
器と、上記共振器光路中に設けられた部分偏光分離器お
よび偏光分離器と、上記レーザ媒質から上記偏光分離器
を通り、出力光が出力される出力光路以外の上記共振器
光路中に設けられた波長選択素子と、上記部分偏光分離
器から分かれる共振器光路以外の光路中に設けられた波
長位相器および第3の反射鏡を備えたものである。
そして、上記反射鏡、波長位相器、部分偏光分離器、
偏光分離器および波長選択素子は、これらの素子の機能
の少なくとも一部が複合化することができる。また、上
記波長位相器はファーストオーダ、マルチプルオーダの
波長板、フェーズリターダミラー、フェーズリターダー
プリズムから選ぶことができ、また、上記偏光分離器に
誘電体多層膜の偏光分離鏡を用い、また、上記部分偏光
分離悪に誘電体多層膜の偏光分離鏡を用いることができ
る。また、上記レーザ媒質が希ガスとハロゲンガスを組
み合わせたエキシマを用いることができる。また、上記
部分偏光分離器は偏光分離器と半透過鏡の組み合わせに
より構成し、または、透明基板の両面に偏光分離膜と半
透過膜を形成して構成することができる。
作用 本発明によれば、レーザ媒質を貫き波長選択素子を通
る光共振器で作られた特定の波長面の光が一部分だけ部
分偏光分離器より取り出され、波長位相器で偏光面を変
換され、再度、レーザ媒質で増幅された後、偏光分離器
により出力光として出力される。したがって、波長選択
素子を通過する光エネルギーは、レーザ媒質の増幅率で
出力光を割算した程度に低下し、波長選択素子の変形、
劣化は著しく低減する。
実施例 以下、図面を参照しながら本発明の実施例について説
明する。
まず、本発明の第1の実施例について説明する。
第1図は本発明の第1の実施例における狭帯域化レー
ザ装置を示す構成図である。第1図に示すように、希ガ
スとハロゲンガスの混合気体をレーザ媒質とする放電管
1と、レーザ媒質を貫く共振器光路を作る第1および第
2の全反射鏡2および3からなる光共振器により、紫外
域でレーザ発振する。光共振器の作る共振器光路中には
放電管1と第1の全反射鏡2の間で部分偏光分離器4が
設置されると共に、放電管1と第2の反射鏡3の間で偏
光分離器5が設置されている。部分偏光分離器4は偏光
の異なる光の伝播方向を分離するが、完全に分離せず、
一方の偏光成分については部分的に透過や反射を行な
う。例えば、S偏光の光については100%反射するが、
P偏光の光については比率Tだけ透過させ、比率(1−
T)だけ反射する機能を有する。この比率Tについては
後に詳細に説明するが、0.05〜0.8程度の数値である。
偏光分離器5は偏光の異なる光の伝播方向を分離するも
ので、例えば、P偏光の光については100%透過させ、
S偏光の光については100%反射する機能を有する。放
電管1で放電励起により発振した光が偏光分離器5を通
り、出力光19として出力される出力光路以外の共振器光
路中、すなわち、部分偏光分離器4と第1の全反射鏡2
との間に波長選択素子であるファブリペローエタロン6
が設置されている。部分偏光分離器4から分かれる共振
器光路以外の光路中に偏光を変換する1/4波長位相器7
と第3の全反射鏡8が設置されている。
以上のような構成において、以下、その動作について
説明する。
放電管1で発振した光は、部分偏光分離器4でP偏光
した光の一部分が透過する。この光9は波長選択素子で
あるファブリペローエタン6により特定の波長の光だけ
が選択され、第1の全反射鏡2で反射されて光10となっ
て帰る。光10は上記のようにP偏光であるので、部分偏
光分離器4を一部分が通過して光11となり、放電管1で
増幅されて光12となる。光12はP偏光であるので、偏光
分離器5を通過し、第2の全反射鏡3で反射されて再び
偏光分離器5を通過し、光13となる。光13は放電管1で
増幅され、光14となり、その一部分が部分偏光分離器4
を通り、光9となって上記と同様に発振を継続する。光
14の他の一部分は部分偏光分離器4で反射されて光15と
なり、1/4波長位相器を通り、第3の全反射鏡8で反射
されて再び1/4波長位相器7を通り、P偏光がS偏光に
変換されて光16となる。一般に光を1/4波長位相器7に
2度通過させると、この1/4波長位相器7は1/2波長位相
器と同等の機能となり、位相器7の光軸方向を入射光の
偏波面と45°傾けて設定すると、P偏光の入射光は全部
S偏光の光に変換されることが知られている。S偏光の
光16は部分偏光分離器4で100%反射されてS偏光の光1
7となり、放電管1で増幅され、S偏光の光18となり、
偏光分離器5で100%反射されてS偏光の出力光19とな
って出力される。
このような構成により、ファブリペローエタロン6に
入射する光9の強度に比較して、出力光19は放電管1に
より増幅された後で取り出されるので、レーザ媒質の増
幅率程度が大きく、相対的に波長選択素子であるファブ
リペローエタロン6の変形、劣化が著しく低減すること
となる。
以上の説明から本実施例の構成によれば、波長選択素
子であるファブリペローエタロン6の光負荷を大幅に低
減させることが可能であることについては明確である
が、更に、定量的に数式を用いて説明する。
第1図において、光10〜18の強度をI10〜I18とする。
光9は特にファブリペローエタロン6の負荷光となるの
で、強度をIEとし、光19は出力光であるので、強度をI
outとした。ただし、光9〜15はP偏光の光であり、光1
6〜19はS偏光の光である。前述のように部分偏光分離
器4はP偏光の光を比率Tだけ透過させ、比率(1−
T)だけ反射させ、S偏光の光を100%反射させる。第
1、第2、第3の全反射鏡2、3、8は100%反射率と
し、ファブリペローエタロン6は損失をAEとして、(1
−AE)を透過率とする。また、放電管1より光が出る部
分は、通常、窓があるため、この部分でも光損失を生じ
るので、その損失をAとする。すなわち、(1−A)が
窓の透過率とする。1/4波長位相器7はP偏光の光を100
%S偏光に変換すると想定し、偏光分離器5はS偏光を
100%反射させ、P偏光を100%透過させる。レーザ媒質
の微小光での単位当りの増幅率をgoとし、放電管1の長
さをLとする。
ここで、エキシマレーザのような高い増幅率のレーザ
を解析する時によく適合するとされる解析方法として、
リグロッドによるサチュレーション・エフェクトイン・
ハイケイン・レーザ、ジャーナル・オブ・アプライド・
フィジッスク、第36巻,No8,2487〜2490頁、1965年、
(W.W.RIGROD,“Saturation Effects in High−Gain La
sers",Journal of Applied Physics,Vol.36,No8,P2487
〜P2490,Asgust 1965)に記載された方法がある。
次に、上記文献中の式を引用して解析を説明する。
上記文献のレーザ解析式を本実施例に適合すると、次
式が得られる(文献中の(7)、(11)式使用)。
ここで、β4、γ1、γ2は文献中に表わされた値
で、本実施例の構成では次の式で与えられる。
β4=Iout/{(1−A)(1−R)IS} ……(2) γ1=β1/β4=(1-A)2R ……(3) γ2=β3/β2=(1-A)2T2(1-AE)2/R ……(4) ここで、定数Rは放電管1を左方向に伝播する光の総
強度に対するP偏光成分強度の比率であり、次式で与え
られる。また、Isは飽和光強度である。
上記(1)〜(5)式から出力光強度I outは次式で
求められる。
エタロン負荷光IEは次式により与えられる。
IE=TI14=T(1−A)β2IS ……(7) 上記(7)式に上記(1)、(2)、(3)、
(4)、(5)式を使用すると、エタロン負荷光IEが次
式で求められる。
第2図に上記(6)、(8)式の計最結果を具体的に
示す。部分偏光分離器4のP偏光の透過率Tに対する飽
和光強度ISで規格化した出力光強度I out/ISと、エタロ
ン負荷光強度IE/ISを計算した結果である。
次に、比較のため第8図で示した上記従来例の構成に
ついて同様の式を作って検討する。半透過鏡103の反射
率をRとし、他は第1図の本発明実施例と同一条件とす
ると、上記の方法により、以下の式が求められる。ただ
し、第8図で示した従来の構成では偏光していないの
で、各部の光強度は光105、106、107、108、109に対し
てI105、I106、I107、I108とし、エタロンの光損失をAE
とし、窓の損失をAとすることは実施例と同様である。
β2=I106/{(1−A)IS} ……(9) γ1=(1-A)2I109/I108 ……(10) γ2=(1-A)2I107/I106 ……(11) I107=RI106 ……(12) I109=(1−AE)2I108 ……(13) Iout=I105=(1−R)I106 ……(14) これらの(1)′および(9)〜(14)式より出力I
outを求めると、次式が得られる。
次に、エタロンの負荷光強度は、上記文献より次式の
ように求めることができる。
次に、エタロンの負荷光強度IEとβ4の関係は次式と
なる。
IE=I108=(1−A)β4IS ……(16) 上記(1)′、(9)〜(16)式より、IEが次式と求
まる。
第9図に上記(15)、(17)式の計算結果を具体的に
示す。P偏光の透過率Tに対する飽和光強度ISで規格化
した出力光強度I out/ISとエタロン負荷光強度IE/IS
計算した結果である。
ここで、第2図に示す本発明の実施例と第9図に示す
従来例を比較すると、同一I outでのIEについて本発明
の実施例の方が小さな値が得られることが明白である。
すなわち、第2図においてI out/IS=0.3のとき、IE/I
S=0.004であるのに対し、第8図においては、IE/IS
0.41と100倍以上の差があり、大幅なファブリペローエ
タロン6の入射光強度の低減が行なわれている。また、
注目すべき特徴として、従来例の第9図では、Rの値が
0.15で、出力の最大値I out/IS=0.31となり、低い出力
しか得られないが、本発明の実施例ではT=0.58で、最
大値I out/IS=0.83が得られ、出力においても2.7倍の
高出力となり、レーザ装置としての効果も優れているこ
とを示している。
以上述べたように本実施例においては、波長選択素子
であるファブリペローエタン6を通過する光エネルギー
を大幅に低減すると共に、効率でも優れた特性を示す狭
帯域化レーザ装置が得られる。
上記実施例では、波長選択素子としてファブリペロー
エタロン6を用いて説明を行なったが、他の波長選択素
子を用いても本発明を適用することができる。以下、こ
れらの構成について説明する。
まず、第3図に示す構成図を参照しながら本発明の第
2の実施例について説明する。第3図において、20はグ
レーティングであり、他の部分は上記第1の実施例と同
様である。波長選択素子として光反射によって波長選択
されるグレーティング20を第1、第2の全反射鏡2、3
の作る共振器光路中に設置し、グレーティング20の回折
光によって共振器光路を形成する。他の部分の機能は上
記第1の実施例と同様であるので、その説明を省略す
る。
次に、第4図に示す構成図を参照しながら本発明の第
3の実施例について説明する。第4図において、30はプ
リズムであり、他の部分は上記第1の実施例と同様であ
る。波長選択素子として光屈折によって波長選択される
プリズム30を第1、第2の全反射鏡2、3の作る共振器
光路中に設置し、プリズム30の屈折光によって共振器光
路を形成する。他の部分の機能は上記第1の実施例と同
様であるので、その説明を省略する。
次に、他の波長位相器と第3の反射鏡を用いた、本発
明の第4の実施例について説明する。
第5図および第6図は本発明の第4の実施例を示し、
第5図(a)は構成図、第5図(b)はフェーズリター
ダープリズムの底面図、第6図はフェーズリーターダー
プリズムの詳細な構成図である。第5図(a)、(b)
において、40はフェーズリターダープリズムであり、他
の部分は上記第1の実施例と同様である。フェーズリタ
ーダープリズム40は第6図に示すように、入射するP偏
光の光15をS偏光に変換して逆方向の光16として返す機
能、すなわち、上記第1の実施例における1/4浜長板7
と第3の全反射鏡8の機能を一体化した機能を有する。
このフェーズリターダープリズム40は第5図(a)、
(b)に示すように、45°傾けて設置され、P偏光の入
射光15を100%S偏光に変換して逆方向の光16として出
射させる。一般には0〜45°まで傾け角を変化すること
でS偏光に変換する割合を0〜100%まで自由に設定す
ることができる。フェーズリターダープリズム40は合成
石英CaF2などの高透過率材料で作られ、第6図に示すよ
うに、光15、光16が入射、出射する面43は無反射コート
(ARコート)され、入射光(光15)の表面直反射が出射
光(光16)と混合しないように、表面を2度程度傾けて
いる。このため、通常の45°プリズムと異なり、45°、
47°、88°が使用されている。光15がプリズム内部に入
って反射する面が90°位相反射面42で形成されている。
この面42は誘電体多層膜で誘電体の構成と厚みを設計す
ることにより、P偏光波とS偏光波の反射に90°位相差
を持たせたもので、1/4波長板と光学的には同等の機能
を有する。90°位相反射面42で反射した光は全反射面41
により正反射され、逆コースで出射光(光16)となる。
全反射面41も誘電体多層膜で容易に形成することができ
る。
このように本実施例によれば、上記第1の実施例の1/
4波長位相器7と第3の全反射鏡8を一体化した機能を
有するフェーズリターダープリズム40を用いるので、構
成を簡略化すると共に、調整を容易に行なうことができ
る。なお、波長選択素子には、ファブリペローエタロン
6を用いても良く、また、上記第2、若しくは第3の実
施例で用いたグレーティング20、若しくはプリズム30を
用いても良い。
以上の各実施例では、P偏光の光で発振させ、S偏光
の光に変換して増幅し、出力する構成について説明した
が、これとは逆に、S偏光の光で発振させ、P偏光の光
に変換して増幅し、出力するように構成しても良く、こ
のときには、部分偏光分離器4や偏光分離器5の反射率
透過率の割合をS偏光とP偏光で上述の実施例と逆転さ
せれば良く、実施が容易な偏光を選ぶことが可能であ
る。
以上、本発明について実施例を用いながら説明したが
上記実施例の1/4波長位相器7はこの他にフレネルの菱
形プリズム、3回全反射超色消1/4波長板等、種々ある
が、露光用の大口径ビームを得るには、水晶板またはMg
F2を使用したファーストオーダー、またはマルチプルオ
ーダーの1/4波長板が良く、1/4波長位相器7は正確に1/
4波長の位相器でなくとも、偏光の成分比率を変えるこ
とが可能であるものであれば良い。
また、上記実施例の部分偏光分離器4は第7図(a)
に示すように、完全な偏光分離器50と反透過鏡51を組み
合わせて同じ機能に構成し、または、第7図(b)に示
すように、一板の石英やCaF2などの透明基板の一面を誘
電体多層膜の偏光分離膜52で形成し、他面を半透過膜53
で形成して実効的に部分偏光分離器を構成するようにし
ても良い。
また、上記実施例の偏光分離器5は多層膜キューブ偏
光器や、ブリュースター角度の透明板、ウォラストンプ
リズム等、種々あるが、露光用の大口径ビームを得るに
は誘電体多層膜蒸着の偏光分離鏡が良好である。
また、上記実施例では波長選択素子を部分偏光分離器
4と第1の全反射鏡2の間に設けたが、この場所以外で
も最も強い光である出力光が通るレーザ媒体から偏光分
離器5に到る出力光路以外の共振器光路中であれば光強
度は弱いので、波長選択素子を設けることができる。
また、波長選択素子は上記実施例で用いたファブリプ
ローエタロン6、グレーティング20、プリズム30等を複
数個使用しても良いし、また、組み合わせても良い。ま
た、波長選択素子と全反射鏡を一体化した素子、例え
ば、グレーティングでエシャレ格子やエシャロン格子よ
り直接グレーティングの反射光の波長選択性を使用した
り、プリズムの片面を全反射鏡化して用いても良いし、
1/4波長位相器と全反射鏡を一体化し、MgF2や水晶位相
板の片面を全反射鏡化、すなわち、上記波長選択素子、
全反射鏡、1/4波長位相器、偏光分離器等はこれらの機
能を複合化した素子を使用して素子数を減らしても良
い。
また、上記実施例で用いたフェーズリターダープリズ
ム40は類似の反射面がフェーズリタード機能を有するフ
ェーズリターダーミラーであっても良い。
また、上記実施例で用いた全反射鏡2、3は100%の
反射率である必要はなく、共振器を構成する反射率であ
れば良い。
発明の効果 以上のべたように、本発明によれば、レーザ媒質を貫
き波長選択素子を通る光共振器で作られた特定の波長面
の光が一部分だけ部分偏光分離器より取り出され、波長
位相器で偏光面を変換され、再度、レーザ媒質で増幅さ
れた後、偏光分離器により出力光として出力される。し
たがって、波長選択素子を通過する光エネルギーは、レ
ーザ媒質の増幅率で出力光を割算した程度に低下し、波
長選択素子の変形、劣化は著しく低減するので、選択波
長の変動や、出力の低下がなく、露光用光源に最適な狭
帯域化レーザ装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例における狭帯域化レーザ
装置を示す構成図、第2図は上記実施例の部分偏光分離
器の透過率に対する出力光強度およびファブリペローエ
タロン入射光強度の計算結果を示す特性図、第3図は本
発明の第2の実施例における狭帯域化レーザ装置を示す
構成図、第4図は本発明の第3の実施例における狭帯域
化レーザ装置を示す構成図、第5図は本発明の第4の実
施例における狭帯域化レーザ装置を示す構成図、第6図
はフェーズリターダープリズムの詳細な構成図、第7図
(a)、(b)はそれぞれ本発明に用いる部分偏光分離
器の他の例を示す構成図、第8図は従来の狭帯域化レー
ザ装置を示す構成図、第9図は上記従来の狭帯域化レー
ザ装置における半透過鏡反射率に対する出力光強度およ
びエタロン入射強度の計算結果を示す特性図である。 1…放電管、2,3…全反射鏡、4…部分偏光分離器、5
……偏光分離器、6…ファブリペローエタロン(波長選
択素子)、7…1/4波長位相器、8…全反射鏡、19…出
力光、20…グレーティング(波長選択素子)、30…プリ
ズム(波長選択素子)。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山中 圭一郎 神奈川県川崎市多摩区東三田3丁目10番 1号 松下技研株式会社内 (72)発明者 宮田 威男 神奈川県川崎市多摩区東三田3丁目10番 1号 松下技研株式会社内 (56)参考文献 特開 昭62−119112(JP,A) 特開 昭64−57773(JP,A) 特開 平3−200385(JP,A) 特開 平3−87084(JP,A)

Claims (8)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】少なくともレーザ媒質と、このレーザ媒質
    を貫く共振器光路を作る第1および第2の反射鏡からな
    る光共振器と、上記共振器光路中に設けられた部分偏光
    分離器および偏光分離器と、上記レーザ媒質から上記偏
    光分離器を通り、出力光が出力される出力光路以外の上
    記共振器光路中に設けられた波長選択素子と、上記部分
    偏光分離器から分かれる共振器光路以外の光路中に設け
    られた波長位相器および第3の反射鏡を備えた狭帯域化
    レーザ装置。
  2. 【請求項2】反射鏡、波長位相器、部分偏光分離器、偏
    光分離器および波長選択素子は、これらの素子の機能の
    少なくとも一部が複合化されている請求項1記載の狭帯
    域化レーザ装置。
  3. 【請求項3】波長位相器はファーストオーダ、マルチプ
    ルオーダの波長板、フェーズリターダミラー、フェーズ
    リターダープリズムから選ばれる請求項1または2記載
    の狭帯域化レーザ装置。
  4. 【請求項4】偏光分離器が誘電体多層膜の偏光分離鏡か
    らなる請求項1または2記載の狭帯域化レーザ装置。
  5. 【請求項5】部分偏光分離器が誘電体多層膜の偏光分離
    鏡からなる請求項1または2記載の狭帯域化レーザ装
    置。
  6. 【請求項6】レーザ媒質が希ガスとハロゲンガスを組み
    合わせたエキシマを用いた請求項1記載の狭帯域化レー
    ザ装置。
  7. 【請求項7】部分偏光分離器が偏光分離器と半透過鏡の
    組み合わせにより構成された請求項1または2記載の狭
    帯域化レーザ装置。
  8. 【請求項8】部分偏光分離器が透明基板と、その両面に
    形成された偏光分離膜および半透過膜からなる請求項1
    または2記載の狭帯域化レーザ装置。
JP498490A 1989-06-14 1990-01-12 狭帯域化レーザ装置 Expired - Lifetime JP2715608B2 (ja)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP498490A JP2715608B2 (ja) 1990-01-12 1990-01-12 狭帯域化レーザ装置
US07/487,080 US4985898A (en) 1989-06-14 1990-03-01 Narrow-band laser apparatus
EP90103985A EP0402570B1 (en) 1989-06-14 1990-03-01 Narrow-band laser apparatus
DE69031884T DE69031884T2 (de) 1989-06-14 1990-03-01 Schmalband-Laservorrichtung
CA002011361A CA2011361C (en) 1989-06-14 1990-03-02 Narrow-band laser apparatus
KR1019900003141A KR930002821B1 (ko) 1989-06-14 1990-03-09 협대역 레이저장치
US07/626,145 US5150370A (en) 1989-06-14 1990-12-12 Narrow-band laser apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP498490A JP2715608B2 (ja) 1990-01-12 1990-01-12 狭帯域化レーザ装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH03209887A JPH03209887A (ja) 1991-09-12
JP2715608B2 true JP2715608B2 (ja) 1998-02-18

Family

ID=11598871

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP498490A Expired - Lifetime JP2715608B2 (ja) 1989-06-14 1990-01-12 狭帯域化レーザ装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2715608B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DK2937954T3 (da) * 2012-12-20 2020-10-19 Rainbow Source Laser Excimer-laser-kombinationsresonator
CN109031853A (zh) * 2018-09-04 2018-12-18 中国电子科技集团公司第三十四研究所 一种相位敏感光学参量放大器及其运行方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPH03209887A (ja) 1991-09-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5150370A (en) Narrow-band laser apparatus
US4985898A (en) Narrow-band laser apparatus
US5917849A (en) Line narrowing device with double duty grating
US5559816A (en) Narrow-band laser apparatus
US8625645B2 (en) Solid-state laser apparatus and laser system
US5978409A (en) Line narrowing apparatus with high transparency prism beam expander
WO1996031929A1 (fr) Laser a bande etroite
JP2002198588A (ja) フッ素分子レーザ
JP4907865B2 (ja) 多段増幅型レーザシステム
JP2715608B2 (ja) 狭帯域化レーザ装置
JPH08228038A (ja) 狭域帯レーザー発生装置
JP5393725B2 (ja) 多段増幅型レーザシステム
JPH0797680B2 (ja) 狭帯域化レーザ装置
US20170149199A1 (en) Laser device
JP2715610B2 (ja) 狭帯域化レーザ装置
US20100027579A1 (en) Linewidth-narrowed excimer laser cavity
JPH0216782A (ja) 狭帯域レーザ装置
JP2715609B2 (ja) 狭帯域化レーザ装置
CA2032054C (en) Narrow-band laser apparatus
KR940011104B1 (ko) 협대역 레이저 장치
US11870209B2 (en) Laser system and electronic device manufacturing method
JP2688991B2 (ja) 狭帯域発振エキシマレーザ
JPH0472782A (ja) 狭帯域発振レーザ装置
JP2001291921A (ja) 超狭帯域化レーザ装置
JP2987644B2 (ja) 狭帯域レーザ装置

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 10

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071107

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 11

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081107

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 12

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091107

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091107

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 13

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101107

EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101107

Year of fee payment: 13