JP2002148131A - 物理量検出装置 - Google Patents
物理量検出装置Info
- Publication number
- JP2002148131A JP2002148131A JP2000343670A JP2000343670A JP2002148131A JP 2002148131 A JP2002148131 A JP 2002148131A JP 2000343670 A JP2000343670 A JP 2000343670A JP 2000343670 A JP2000343670 A JP 2000343670A JP 2002148131 A JP2002148131 A JP 2002148131A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- operational amplifier
- resistor
- resistors
- temperature
- physical quantity
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L1/00—Measuring force or stress, in general
- G01L1/20—Measuring force or stress, in general by measuring variations in ohmic resistance of solid materials or of electrically-conductive fluids; by making use of electrokinetic cells, i.e. liquid-containing cells wherein an electrical potential is produced or varied upon the application of stress
- G01L1/22—Measuring force or stress, in general by measuring variations in ohmic resistance of solid materials or of electrically-conductive fluids; by making use of electrokinetic cells, i.e. liquid-containing cells wherein an electrical potential is produced or varied upon the application of stress using resistance strain gauges
- G01L1/2268—Arrangements for correcting or for compensating unwanted effects
- G01L1/2281—Arrangements for correcting or for compensating unwanted effects for temperature variations
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D3/00—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups
- G01D3/028—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups mitigating undesired influences, e.g. temperature, pressure
- G01D3/036—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups mitigating undesired influences, e.g. temperature, pressure on measuring arrangements themselves
- G01D3/0365—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups mitigating undesired influences, e.g. temperature, pressure on measuring arrangements themselves the undesired influence being measured using a separate sensor, which produces an influence related signal
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L9/00—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
- G01L9/02—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means by making use of variations in ohmic resistance, e.g. of potentiometers, electric circuits therefor, e.g. bridges, amplifiers or signal conditioning
- G01L9/06—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means by making use of variations in ohmic resistance, e.g. of potentiometers, electric circuits therefor, e.g. bridges, amplifiers or signal conditioning of piezo-resistive devices
- G01L9/065—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means by making use of variations in ohmic resistance, e.g. of potentiometers, electric circuits therefor, e.g. bridges, amplifiers or signal conditioning of piezo-resistive devices with temperature compensating means
Abstract
オペアンプ数で構成する。 【解決手段】 直列接続されたセンシング素子である抵
抗Ra、Rbの中間電圧V1をオペアンプOP1の反転
入力端子に接続し、非反転入力端子に抵抗R1、R2に
よって形成される参照電圧Vrefが入力されるように
する。そして、オペアンプOP1の反転入力端子と出力
端子との間にフィードバック抵抗Rtsを配置する。抵
抗Ra、Rbの抵抗温度係数TCRと感度温度係数TC
Sとの差と、フィードバック抵抗の抵抗温度係数TCR
tsとがほぼ同等となるようにすると共に、参照電圧V
refがセンシングされた物理量変化や温度変化に対し
て変化しないようにする。
Description
力を発生させる物理量検出装置に関するもので、特に、
車両搭載用のピエゾ抵抗式の半導体圧力センサや半導体
加速度センサ等に用いて好適である。
許第2976487号公報に示すものがある。この公報
に示される圧力センサの回路構成を図5に示す。この図
に示される圧力センサは、4個のオペアンプOP11〜
OP14を有した構成となっている。
のホイートストン・ブリッジに定電流を供給することに
よって、感度の温度特性を補償する働きがある。この公
報においては、感度の温度特性補償のために歪ゲージ用
の拡散抵抗Ra’〜Rd’の濃度を最適化している。オ
ペアンプOP12および出力が抵抗R16につながるオ
ペアンプOP13の2個のオペアンプはボルテージ・フ
ォロワとして使われており、ゲージ出力から直接電流が
流れ出ることによる誤差を防ぐ働きを担っている。オペ
アンプOP14は圧力信号の増幅および零点シフトの働
きがある。このような回路においては、広い温度範囲で
も高精度を実現できるという特徴をもつ。
際の回路規模をより小さくしたいという要求がある。こ
のような要求を考慮すると、ICチップ上で大きな面積
を占めるオペアンプをより少なくする回路構成が有利と
いえる。
て、特公平3−67211号公報に示されるものがあ
る。この公報に示される圧力センサの回路構成を図6に
示す。
ペアンプOP21、OP22を用いた構成により、図5
に示した4個のオペアンプOP11〜OP14を用いた
構成と同一の機能を得ようとしている。
ンサにおいては、5V単一電源で駆動され、0.5〜
4.5Vを出力範囲として、圧力上昇と共に出力電圧が
増加するように出力させることが標準になっている現状
から、以下の、に示すような不都合がある。
のオペアンプOP21が基本的に差動増幅器の構成とな
っている。このため、オペアンプOP21の出力は歪ゲ
ージRa’〜Rd’にかかる圧力が零(つまり歪ゲージ
Ra’〜Rd’の抵抗値変化ΔRが零)のときには0V
となり、圧力上昇とともに増加する構成となっている。
電位(Vcc)付近および低電位(グランド)付近はオ
ペアンプ内の出力トランジスタの|Vce(sat)|
≒0.2V等で制限され、0V付近は出力できない。ま
た、2つの圧力の差圧を検出するような場合、マイナス
の電圧を出力できないため、負圧に対する出力を発生さ
せられない。
から零点をシフトさせる必要がある。このため、最終段
のオペアンプOP22は必然的に、反転増幅器を基本と
する加算回路として使わざるを得ないが、このような構
成では圧力上昇に伴って前段のオペアンプOP21の出
力が増加すると、最終段のオペアンプOP22の出力が
反転した形で現われ、圧力上昇に伴って減少するような
出力になってしまう。
性が図7(a)に示されるものであるとしても、上記公
報に示される圧力センサにおいては、図7(b)に示さ
れる特性しか実現できない。
て、特開平3−51733号公報に示されるものもあ
る。この公報に示される圧力センサの回路構成を図8に
示す。
2個のオペアンプOP31、OP32を用いた構成によ
り、図5に示した4個のオペアンプを用いた構成と同一
の機能を得ようとしている。
ドバック抵抗Rhに温度依存性を持たせており、さらに
オフセット(零点ともいう。)およびオフセット温度特
性の調整も行える。しかし、単純にオフセットのみを調
整する場合でも、フィードバック抵抗Rhに温度依存性
があるので、これを相殺するために、抵抗Ri、R2
7、R29の合成抵抗および抵抗Rj、R28、R30
の合成抵抗は抵抗Rh、R26の合成抵抗と抵抗温度係
数(TCR)を等しく調整する必要がある。
温度特性調整ではR27、R29、R28、R30を適
切に調整することになるが、それらのどの抵抗をトリム
しても、フィードバック抵抗Rhに温度依存性があるた
めにオフセット温度特性が変化してしまう。すなわち、
この回路ではオフセットとオフセット温度特性は完全な
独立調整ができないため、精度のよい調整が難しい。
ある。2段目のオペアンプOP32の非反転入力端子に
ブリッジの出力を接続しているため、この増幅されてい
ない圧力信号を含む電位を基準に動作する。そのため、
2段目の回路でオフセットおよびオフセット温度特性の
調整を行おうとして抵抗R27、R29、R28、R3
0のいずれかを調整すると、わずかながら圧力信号成分
に影響を与えてしまう。すなわち、感度の調整値に影響
を与える。感度調整後にオフセットおよびオフセット温
度特性の調整を行えば、感度の調整値がわずかながらず
れて感度精度が劣化する。逆にブリッジのオフセットも
含めて、先にオフセットおよびオフセット温度特性の調
整をする場合、感度調整によってオフセットおよびオフ
セット温度特性の調整値がずれるという現象が起こる。
て、単一電源動作時でも圧力の零付近および負圧に対し
ても所望の正確な出力電圧を出力することを可能とし、
かつ精度のよい調整が容易でありながら、少ないオペア
ンプ数で構成できる物理量検出装置の温度補償回路を得
ることを目的とする。
め、請求項1乃至12に記載の発明では、第1のオペア
ンプと、第1のオペアンプの反転入力端子と第1の基準
電位点(Vcc)に接続される第1の抵抗(Ra)と、
第1のオペアンプの反転入力端子と第2の基準電位点
(グランド)に接続される第2の抵抗(Rb)と、第1
のオペアンプの反転入力端子と出力端子との間に配置さ
れたフィードバック抵抗(Rts)と、第1のオペアン
プの非反転入力端子に入力される参照電圧(Vref)
を発生させる参照電圧発生部(R1、R2)とを備え、
第1、第2の抵抗(Ra、Rb)の少なくとも一方はセ
ンシング素子として、第1、第2の抵抗の抵抗温度係数
(TCR)とセンシング素子としての感度温度係数(T
CS)との差と前記フィードバック抵抗の抵抗温度係数
(TCRts)とがほぼ同等としたことを特徴としてい
る。
を基準とした電圧を出力することができるため、オペア
ンプが出力できない電圧レベル(例えば単一電源時では
電源電圧およびグランド付近の電圧)を避けることが可
能となる。
(TCR)とセンシング素子としての感度温度係数(T
CS)との差とフィードバック抵抗の抵抗温度係数(T
CRts)とがほぼ同等となるようにすることで、第1
のオペアンプのみでセンサの感度温度補償を完結するこ
とができる。すなわち、第1のオペアンプ出力を入力と
する次段の回路ではオフセットおよびオフセット温度特
性の調整のみを行えばよく、それらの調整と感度温度補
償を独立させられるので、高精度の調整が容易となる。
2の抵抗の不純物濃度が約1×10 19cm-3、フィード
バック抵抗の不純物濃度が約4×1017cm-3とすれ
ば、第1、第2の抵抗の抵抗温度係数(TCR)とピエ
ゾ抵抗効果によるゲージ抵抗の感度温度係数(TCS)
との差と、フィードバック抵抗の抵抗温度係数(TCR
ts)とがほぼ同等となる。
素子として構成されていても良いが、請求項4に示すよ
うに、第1、第2の抵抗のうちのいずれか一方が、物理
量に応じて抵抗値を変化させるセンシング素子として構
成され、他方が物理量に応じて抵抗値を変化させない抵
抗として構成されていてもよい。
圧発生部は、第1の基準電位点と第2の基準電位点との
間において直列接続された第3、第4の抵抗(R1、R
2)で構成され、該第3、第4の抵抗によって抵抗分割
された電圧を参照電圧としており、第3、第4の抵抗の
抵抗温度係数がほぼ同等に構成されていることを特徴と
している。
ほぼ同等に構成されていれば、参照電圧が温度変化に対
して変化しないようにすることができる。
第4の抵抗のいずれか一方をトリミング調整することに
より、第1のオペアンプの出力におけるオフセットの調
整が行える。
ドバック抵抗と並列に調整抵抗(Rts’)が接続され
ていることを特徴としている。このような調整抵抗を設
けることにより、ダイヤフラム厚が大幅に違うチップを
製造する際等に発生する感度温度特性を調整抵抗のトリ
ミング調整によって調整できる。
オペアンプの出力端子に接続された第5の抵抗(R3)
と、第5の抵抗を介して、第1のオペアンプの出力が反
転入力端子に入力されると共に、参照電圧が非反転入力
端子に入力されるように構成された第2のオペアンプ
(OP2)と、第2のオペアンプの出力端子と反転入力
端子との間に配置された第6の抵抗(R6)と、を備え
ていることを特徴としている。
の出力は参照電圧を基準として物理量変化と共に減少さ
せておき、第2のオペアンプによってさらに増幅すると
共に反転させ、物理量変化に伴って出力電圧が上昇する
ような出力を発生させることができる。
基準電位点と第2のオペアンプの反転入力端子との間に
オフセット調整用抵抗(R5)を備えることで、第1の
オペアンプの出力に対してオフセット調整を行うことが
できる。
整によって、第2のオペアンプの出力電圧の零点シフト
を行えるため、負圧に対する出力を得たい場合には、負
圧を見込んだシフト量とすればよい。例えば、想定され
る負圧の最小値と第2のオペアンプの出力電圧の通常使
用範囲の最小値(例えば0.5V)とが一致するように
オフセット調整用抵抗の抵抗値を設定すればよい。
の基準電位点と第2のオペアンプの反転入力端子との間
に第7、第8の抵抗(R41、Rto1)が備えられて
いると共に、第2のオペアンプの反転入力端子と第2の
基準電位点との間に第9、第10の抵抗(Rto2、R
42)が備えられており、第8、第9の抵抗が抵抗温度
特性を有した構成となっていることを特徴としている。
温度特性に基づいて、第2のオペアンプの出力に対して
オフセット温度特性の補償を行うことができる。
0の抵抗のいずれか一方をトリミング調整することで、
第7、第8の抵抗と第9、第10の抵抗とのバランスを
崩すなどの調整を行うことができるため、これによって
第2のオペアンプの出力のオフセット温度特性の調整を
行うことができる。すなわち、以上のようにオペアンプ
が2個でも、所望のセンサ用温度補償回路を実現でき
る。
の抵抗に流れる電流のほとんどが第2の抵抗に流れ込む
ように参照電圧を設定したことを特徴としている。この
ように設定すれば、第2のオペアンプに入力される参照
電圧が第1のオペアンプに入力される参照電圧と共通化
されていることから、第1のオペアンプの出力を第2の
オペアンプで処理する際に好ましい。
する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すも
のである。
形態を適用した物理量センサとしての圧力センサの回路
構成を図1に示す。以下、図1に基づいて圧力センサの
構成について説明する。
抗効果を有する第1、第2の抵抗としての拡散抵抗R
a、Rb、感度の温度特性補償用回路1、オフセット及
びオフセット温度特性補償用回路2が備えられている。
拡散抵抗Ra、Rbは直列接続されており、電源電圧V
cc(例えば5V電源からの電圧)が印加される第1の
基準電位点と、この第1の基準電位点よりも低電位とさ
れる第2の基準電位点(本実施形態ではグランド電位)
との間に配置されている。これら拡散抵抗Ra、Rbの
圧力変化に伴う抵抗値変化は、感度の温度特性補償用回
路1やオフセット及びオフセット温度特性補償用回路2
によって感度の温度特性やオフセット及びオフセット温
度特性が補償されたのち、センサ出力として出力端子V
outから出力される。
プ(第1のオペアンプ)OP1と、オペアンプOP1の
反転入力端子と出力端子との間に備えられたフィードバ
ック抵抗Rtsとを有した構成となっている。オペアン
プOP1の反転入力端子には、拡散抵抗Ra、Rbの中
間電圧V1が入力され、非反転入力端子には、電源電圧
Vccを第3、第4の抵抗としての抵抗R1、R2によ
って抵抗分割した参照電圧Vrefが入力されるように
なっている。参照電圧Vrefは電源電圧Vccの半分
(Vcc/2)を想定しており、この参照電圧Vref
に対して中間電圧V1が変動しないようにオペアンプO
P1が制御している。このため、圧力変化に伴う電圧変
化はオペアンプOP1の出力においてはじめて発生し、
通常のブリッジ回路の2つの出力に相当するのは、オペ
アンプOP1の出力V2と参照電圧Vrefである。な
お、本発明は歪ゲージを成すブリッジが第1、第2の抵
抗(拡散抵抗Ra、Rb)からなるハーフブリッジ構造
を用いることで成り立つものである。
抵抗R1、R2の役割について説明する。
ジを構成すると、4個の拡散抵抗の微妙なばらつきによ
ってブリッジの零点がずれ、オフセットが生じる。この
ため、圧力感度調整の前にオフセット調整が必要だが、
通常は図2に示すいずれかの回路構成によって行われ
る。
抗Ra’〜Rd’に直列に抵抗50、51を設けるか、
図2(b)に示すように拡散抵抗Ra’〜Rd’に並列
に抵抗52、53を設け、これらの抵抗をトリミング調
整することによってブリッジにおけるオフセット調整を
行う。
ザトリミングが行えるCrSi等、抵抗温度係数TCR
がほぼ零の薄膜抵抗が用いられるので、歪ゲージとの抵
抗温度係数TCRの差によって温度が変わるとブリッジ
の零点がずれるという現象が生じる。よって、オフセッ
トの温度特性も別途調整する必要が生じる。
抗同士を直接接続することによって生じている。これに
対し、本実施形態では、ゲージ抵抗部分における零点
(すなわち歪ゲージに圧力が印加されていない時におけ
るオペアンプOP1の出力電圧V2と参照電圧Vref
との差)の調整を抵抗R2あるいはR1で行っており、
さらに抵抗R1と抵抗R2とを同じ種類の抵抗としてい
る。このため、抵抗温度係数TCRが違う抵抗同士が直
接接続されず、ゲージ抵抗部分における零点がずれない
ようにできると共に、参照電圧Vrefが温度変化に対
して変化しないようにできる。従って、オペアンプのオ
フセット電圧が十分小さく、その温度特性の影響が問題
とならない場合には、室温等のある1点の温度において
抵抗R2あるいはR1により上記オフセットの調整を行
えば、オフセット温度特性補償も兼ねることが可能とな
る。
温度特性は拡散抵抗の線幅ばらつき以外が原因となって
生じる場合がある。例えば、図9に示すチップ構造の圧
力センサがある。なお、図9(a)は圧力センサの斜視
図、図9(b)は圧力センサの断面図を表している。こ
の図に示されるようなチップ構造の場合、歪ゲージR
a、Rbが形成されているダイアフラム10上での熱応
力分布に起因する場合が多く、台座11の線膨張係数や
形状、さらにダイアフラム形状や歪ゲージRa、Rbの
配置、パッシベーション等のチップ構造で決定されやす
い。このため、本実施形態では、これらに起因するオフ
セット温度特性およびオペアンプのオフセット電圧によ
るオフセット温度特性の補償のために、後述する抵抗R
to1、Rto2、R41、R42が設けてある。
力が印加されて拡散抵抗Ra、Rbの抵抗値が変化する
と、オペアンプOP1の反転入力端子に入力される抵抗
Raと抵抗Rbの中間電圧V1が参照電圧Vrefと同
等になるようにオペアンプOP1が制御することから、
抵抗Ra、Rbの抵抗値変化に伴ってオペアンプOP1
の反転入力端子側に流れ込む電流量が変化する。この電
流はそのままフィードバック抵抗Rtsを介してオペア
ンプOP1の出力端子側に流れ込むため、歪ゲージへの
印加圧力に応じてオペアンプOP1の出力電圧V2が変
化するという作動を行う。例えば、電源として5V電源
を用いている場合、Ra=Rb≒Rtsとして、参照電
圧Vrefを2.5Vとすると、オペアンプOP1の出
力が2.5V−数十mVとなる。
ク抵抗Rtsを感温素子で構成している。そして、この
フィードバック抵抗Rtsの抵抗温度係数TCRtsを
以下のように設定している。
c/2である場合、オペアンプOP1の出力電圧V2
は、数1のように示される。
の抵抗値を、それぞれRa=R−ΔR、Rb=R+ΔR
であるとすると、出力電圧V2は数2のように示され
る。
っており、第2項が圧力信号を含む項となっている。こ
のため、V2−Vrefが圧力信号と見なせる。数2の
第2項をもとに、温度上昇と共にゲージ率ΔR/Rが低
下することに基づき、出力電圧V2に関して温度補償す
るための条件を出力電圧V2の温度に対する偏微分を零
とおくことによって求めると、フィードバック抵抗Rt
sの抵抗温度係数TCRtsについて数3が成り立つ。
抗温度係数、TCSは拡散抵抗Ra、Rbの感度温度係
数を示している。なお、フィードバック抵抗Rtsの抵
抗温度係数TCRts、拡散抵抗Ra、Rbの抵抗温度
係数TCR及び感度温度係数TCSとは、次の各数式を
満たすものをいう。
0.002〜0.02程度であることから、(ΔR/
R)2≪1として、(ΔR/R)2を無視している。上述
したことを換言すれば、フィードバック抵抗Rtsの抵
抗温度係数TCRtsが数3を満たせば、感度の温度特
性を補償できることになる。
補償用回路2には、オペアンプOP2と、オペアンプO
P2の反転入力端子と上記したオペアンプOP1の出力
端子との間に配置された第5の抵抗としての抵抗R3
と、オペアンプOP2の反転入力端子と出力端子との間
に備えられた第6の抵抗としてのフィードバック抵抗R
6とが備えられており、非反転入力端子には参照電圧V
refが入力されている。
P1の出力がOP2の反転入力端子に入力され、オペア
ンプOP2によって反転増幅されたのち、センサ出力と
して出力端子Voutから出力される。すなわち、上記
数2から出力電圧V2と参照電圧Vrefとの差電圧が
Vcc・Rts・ΔR/R2で示されるとすると、この
差電圧を(R6/R3)倍に増幅して、出力端子Vou
tから出力するようになっている。後述するR41、R
42、Rto1、Rto2、R5、R5’がない場合で
は、例えば、オペアンプOP1の出力が2.5V−数十
mVであったとすると、出力端子Voutの電圧(以
下、出力電圧という)は、2.5V+A×(数十mV)
となる。なお、AはオペアンプOP2のゲインを示して
いる。従って、圧力上昇に伴って出力電圧が上昇する出
力を得ることができる。
2.5Vを基準に使用しており、0V付近を使用してい
ないため、オペアンプOP1に備えられている出力トラ
ンジスタの|Vce(sat)|≒0.2Vによる制限
を受けることなく、圧力が零の場合にも正確に出力電圧
を発生させることができる。
が例えば0.5〜4.5Vである場合には、出力電圧が
0.5Vから出力されるようにする必要がある。このよ
うな場合、電源とオペアンプOP2の反転入力端子との
間に抵抗R5を備え、抵抗R5を介してオペアンプOP
2のフィードバック抵抗であるR6に電流が流れ込むよ
うにすることで、オペアンプOP2の出力をシフトさせ
て最終的なオフセット調整も行える。
性補償用回路2には、第1の基準電位点(Vcc)とオ
ペアンプOP2の反転入力端子との間に配置された第
7、第8の抵抗としての抵抗R41と抵抗Rto1、及
びオペアンプOP2の反転入力端子と第2の基準電位点
(グランド)との間に配置された第9、第10の抵抗と
しての抵抗Rto2とR42が備えられている。これら
のうち、抵抗Rto1、Rto2は抵抗温度特性を有す
るものとして構成されている。
Rto2はオフセット温度特性補償に用いられ、例えば
抵抗R42をトリミング調整することで抵抗R41との
バランスを崩させ、オフセット温度特性を調整する。つ
まり、参照電圧VrefがVcc/2となっているの
で、各抵抗がバランスしている際には抵抗R41及び抵
抗Rto1に流れる電流は、抵抗R42及び抵抗Rto
2にそのまま流れ込むため、これらの抵抗値のバランス
を崩すことによって、その差分に相当する電流がオペア
ンプOP2のフィードバック抵抗R6に流れ込むことに
なる。このとき、抵抗Rto1、Rto2が抵抗温度特
性を有しているため、オフセット温度特性の補償が可能
となる。なお、抵抗R42のトリム量は電圧V5をモニ
ターすることで知ることができる。
用回路1に備えられたオペアンプOP1に関して、参照
電圧Vrefとして零V付近を用いず、例えば電源電圧
Vccの中間電圧を用いているため、印加圧力が零の場
合にも正確に出力電圧を発生させることができる。
性補償用回路2においても、オペアンプOP2の非反転
入力にはオペアンプOP1と同じ参照電圧Vref=V
cc/2を入力する構成としている。
て等しい傾きのものを用い、中間電圧V1がVcc/2
となっており、参照電圧VrefもVcc/2となって
いるため、圧力が印加されないときには第1の抵抗Ra
に流れる電流は第2の抵抗Rbにすべて流れることとな
る。そして、オペアンプOP1としての参照電圧が共通
であるため、圧力が印加されていないときに抵抗Raに
流れる電流がすべて抵抗Rbにようにすることで、オペ
アンプOP1の出力信号を処理するオペアンプOP2に
とっては好ましい構成となる。すなわち、圧力が印加さ
れていないときに抵抗Raに流れる電流Iaと抵抗Rb
に全て流れる電流Ibとの差が大きい場合、オペアンプ
OP2の出力が飽和することがあり、回路上好ましくな
い。
整用抵抗R3、オフセット調整用抵抗R5、オフセット
温度特性調整用抵抗R41、R42があるが、フィード
バック抵抗R6はトリミング用抵抗と同種の抵抗(例え
ば、CrSi等のTCRがゼロに近い薄膜抵抗)とする
ことを想定している。
R6の組み合わせで考えると、抵抗温度係数TCRが等
しいことでその比率において温度特性は相殺されるた
め、感度調整値に温度特性が発生しないというメリット
がある。
efが圧力信号を含まず、温度依存性もないため、オフ
セット調整用抵抗R5による調整は純粋にオフセットの
みが調整可能である。オフセット温度特性調整では抵抗
R41およびR42をトリミングすることになるが、こ
の調整では、オフセット温度特性のみでなく、オフセッ
トも変化する。このため、実際の調整ではオフセット温
度特性調整後にオフセット調整を行うことにより、前の
調整結果に影響を与えないという、いわゆる独立調整が
オフセットとオフセット温度特性においても実現でき
る。
フセット温度特性、オフセットのそれぞれが独立調整可
能であるため、調整しやすく精度の良い調整が実現でき
る。
関係式を示しておく。
ref=−Vcc・Rts・△R/R2を代入して、下
式を得る。
みであるため、第2項のみが圧力信号に関係しており、
第1項はオフセットおよびオフセット温度特性に関係し
ていることがわかる。このことからも独立調整ができる
ようになっていることがわかる。
合においては、想定される負圧の最小値とオペアンプO
P2の出力電圧の通常使用範囲の最小値(例えば0.5
V)とが一致するように抵抗R5の抵抗値を設定し、オ
ペアンプOP2の出力をシフトさせるようにすればよ
い。このようにすれば、負圧に対する出力も発生させる
ことができる。なお、オペアンプOP2から、正圧に対
しては2.5Vから増加する出力、負圧に対しては2.
5Vから減少する出力を発生させるなど、参照電圧Vr
ef付近以上を中心に出力させる場合には、抵抗R5’
を追加することで対応でき、場合によってはR5は削除
できる。
ついて説明する。本実施形態では、第1実施形態に対し
てさらに感度温度特性の非直線性の改善を考慮した場合
について説明する。なお、本実施形態における圧力セン
サの回路構成は、図1と同様であるため、図1を参照す
る。
と高温で感度の補正を行うと氷点下などの低温で感度誤
差が増大するという現象をいう。ボロン(ホウ素;B)
によって構成したP型の拡散抵抗(ピエゾ抵抗素子)に
おける非直線性を含む抵抗温度特性、及びピエゾ抵抗効
果の温度特性について、以下のように表現できることが
発表されている(『第5回「センサの基礎と応用」シン
ポジウム 講演予稿集』(開催地:日本、主催:電気学
会、1985年5月30〜31日)の「シリコン圧力セ
ンサの温度特性の非直線性」参照)。
2)
T2) ここで、R(T)は拡散抵抗の抵抗値を示し、S(T)
はピエゾ抵抗効果の感度を示している。また、Tは基準
温度(図3においては室温25℃)との温度差を示して
おり、R0およびS0はそれぞれ基準温度における抵抗
値及び感度を示している。α1、α2、β1、β2は温
度係数である。また、S(T)、S0は前出のΔR/R
に置き換えて考えることができる。
は、拡散抵抗の不純物濃度に依存し、実測値をグラフ化
すると、図3のように示されることが分かっている。
それぞれy=C0+C1・(logx)+C2・(log
x)2+C3・(logx)3(ここでCiは係数)、の
ように数式化した上で、図1に示す回路構成で感度温度
特性における非直線性を最小にする条件をシミュレーシ
ョンで求めたところ、図4に示される結果が得られた。
このシミュレーション結果では、拡散抵抗Ra、Rbの
濃度が約1.2×1019cm-3、フィードバック抵抗R
tsの濃度が約3.6×1017cm-3となるときに、非
直線性が最小となった。
Rbとフィードバック抵抗Rtsの不純物濃度が異なる
ようにし、拡散抵抗Ra、Rbやフィードバック抵抗R
tsの不純物濃度が上記最適値となるようにしている。
このようにした場合、−30℃〜120℃の広い温度範
囲においても、感度の誤差が±0.1%以下と計算され
る。
度温度特性補償回路1の出力V2を数2、数7、数8を
もとに表すと下式のようになる。
として、Ra、Rbの係数α1、α2と区別した。上式
をさらに基準温度との温度差Tで偏微分し、小さい桁の
項を無視すると、最終的に次式を得る。
のときであるから、下式を得る。
係数、右辺はRa、Rbの温度係数で表されている。図
10、図11にそれぞれの関係を表すグラフを示す。図
10は数9の左辺A1のグラフと右辺の条件のグラフを
示し、図11は数10の左辺A2のグラフと右辺の条件
のグラフを示している。それぞれのグラフは図3の各グ
ラフの近似曲線をもとに求めている。
不純物濃度を探すことができる。あくまで数9、数10
が同時に成り立つ必要があるので、結果として不純物濃
度の組合せは1つに限られ、拡散抵抗Ra、Rbの濃度
は約1.5×1019cm-3、フィードバック抵抗Rts
の濃度は約3.6×1017cm-3で成り立つことがわか
る。すなわち、1016cm-3から1020cm-3の範囲で
は、この組合せのみが最適条件となる。ただし、感度の
温度特性は不純物濃度のみでなく、チップのパッシベー
ションや台座からの熱応力による影響を受けてズレてし
まうことがあるため、実際に上記条件を適用するに当た
っては上記濃度の前後の条件も実験して、製品構造ごと
に微調整して最適化することが望ましい。
ョン結果ともほぼ一致している。なお、数13はほぼ先
の数3に相当している。
例では、拡散抵抗Ra〜Rdの濃度が1.5×1019c
m-3、フィードバック抵抗の濃度は1.5×1018cm
-3であり、−30〜110℃で0.05%/℃(すなわ
ち、感度の誤差は7%(上記従来公報値より換算))と
なっている。しかし、車載用圧力センサに要求される使
用温度範囲は近年広がってきており、かつ精度もその他
の誤差を含めて±1〜2%程度以下となることが求めら
れることから、高精度化の観点からみて好ましくない。
4個のオペアンプで構成した例では、拡散抵抗の不純物
濃度を約1020cm-3にしている。これを図3のグラフ
で確かめると1次係数の和が零(α1+β1=1.8×
10-3+(−1.8×10-3)=0)となる条件を満た
していることが分かる。これは、感度は温度上昇で低下
する(β1<0)が、抵抗値が上昇する(α1>0)の
で定電流を流せば実質的には印加電圧が上昇し、α1=
−β1ならば温度補償できるということを示していると
いえる。
零とならないため(α2+β2≠0)、この方式では原
理的に感度温度特性に非直線性が存在することになる。
この場合、−30℃〜120℃で、感度の誤差が約0.
5%程度になる。
1)に関しては拡散抵抗の濃度が1018cm-3付近でも
ほぼ零となるが、2次係数の和(α2+β2)に関して
は拡散抵抗の濃度が1020cm-3の場合よりも大きくな
ることが分かる。
の非直線性までは合せ込みが不可能であったが、本実施
形態のように、2種類の不純物濃度の抵抗(フィードバ
ック抵抗Rts及び拡散抵抗Ra、Rb)を用いること
で、非直線性も含めて感度温度特性をほぼ零にすること
が可能である。
ードバック抵抗として抵抗Rtsについてしか述べてい
ないが、図1の破線で示したように、抵抗Rtsに対し
て調整抵抗Rts’を並列接続し、それらの合成抵抗を
変化させて感度温度特性を調整することも可能である。
すなわち、熱応力等の影響で実際の製造においてダイア
フラム厚が大幅に違うチップを製造すると感度温度特性
が微妙にずれる場合があるため、フィードバック抵抗R
tsの不純物濃度はそのままの状態にしておき、CrS
i薄膜抵抗等で構成した抵抗を調整することで感度温度
特性を微調整することができる。
で形成する場合、数9及び図3(a)、(b)が適用で
きることは言うまでもない。
抵抗Ra、Rbが共に歪ゲージで構成される例を示した
が、拡散抵抗Raのみが歪ゲージで構成され、拡散抵抗
Rbが拡散抵抗Raと同様の抵抗温度係数TCRを有す
る歪ゲージではない抵抗で構成されるようにするように
してもよい。すなわち、例えば拡散抵抗Raのみがダイ
ヤフラム部に形成され、拡散抵抗Rbがダイヤフラム部
以外に形成されるようにしてもよい。
1、第2実施形態の考え方及び数9と図3(a)、
(b)のデータは、ピエゾ抵抗効果を利用した力学量検
出装置のみでなく、その他の抵抗変化による物理量検出
装置にも適用可能である。
について述べておく。本発明は温度補償回路についての
発明であることから、温度の均一性について留意する必
要がある。
の感度温度補償をフィードバック抵抗で行っており、同
一温度であることを前提としているため、この2種類の
抵抗の温度をできるだけ近づけることが必要であり、具
体的には半導体センサならば同一チップ内に近接して形
成することが望ましい。また、ピエゾ抵抗効果を利用し
たセンサではフィードバック抵抗は応力の影響を受けな
いことを想定しているので、圧力など検出対象となる物
理量による応力がほとんどない領域に置くか、さらに抵
抗の長手方向(電流方向)をピエゾ抵抗効果の発生しな
い(100)方向に向けて形成することが望ましい。
o1、Rto2の温度特性を利用するが、オフセット温
度特性の誤差原因は拡散抵抗Ra、Rbのバラツキ、お
よびオペアンプOP1、OP2のオフセット電圧によっ
ているため、Rto1、Rto2およびRa、Rb、O
P1、OP2は同一チップ内にあることが望ましい。
ことが最も望ましい。こうすることで温度の均一性が得
られ、特に過渡的な温度変化に対する精度が向上でき
る。
性補償回路1のフィードバック抵抗Rtsとセンシング
素子の抵抗Rとの比率Rts/Rに比例して大きな信号
が得られる。こうすることで、2段目のオフセットおよ
びオフセット温度特性補償回路2での増幅度を抑えるこ
とができ、出力Voutにおけるオペアンプのオフセッ
ト電圧の影響を低減できるメリットがある。しかし、第
2実施形態において前記フィードバック抵抗を約3.6
×10-17cm-3程度の低濃度にした場合、電圧V2に
おいて大きな信号を得るとアイソレーション用の逆バイ
アスによるフィードバック抵抗内の空乏層幅が大きく変
化して、信号に対する非直線性を生じる可能性があるの
で注意を要する。
路構成を示す図である。
示す図である。
との関係を示す図である。
する温度と感度誤差の関係を示す図であり、(b)はフ
ィードバック抵抗Rtsの不純物濃度に対する温度と感
度誤差の関係を示す図である。
す図である。
す図である。
示す図であり、(b)は図6に示す圧力センサの圧力と
出力電圧との関係を示す図である。
す図である。
抵抗、R1、R2、R3、R5、R6、R41、R42
…抵抗、Ra、Rb…拡散抵抗、Rto1、Rto2…
温度特性を有する抵抗。
Claims (13)
- 【請求項1】 第1のオペアンプと、 前記第1のオペアンプの反転入力端子と第1の基準電位
点(Vcc)に接続される第1の抵抗(Ra)と、 前記第1のオペアンプの反転入力端子と第2の基準電位
点(グランド)に接続される第2の抵抗(Rb)と、 前記第1のオペアンプの反転入力端子と出力端子との間
に配置されたフィードバック抵抗(Rts)と、 前記第1のオペアンプの非反転入力端子に入力される参
照電圧(Vref)を発生させる参照電圧発生部(R
1、R2)とを備え、 前記第1、第2の抵抗(Ra、Rb)の少なくとも一方
はセンシング素子である物理量検出センサにおいて、 前記第1、第2の抵抗の抵抗温度係数(TCR)とセン
シング素子としての感度温度係数(TCS)との差と前
記フィードバック抵抗の抵抗温度係数(TCRts)と
がほぼ同等としたことを特徴とする物理量検出装置。 - 【請求項2】 前記第1、第2の抵抗と前記フィードバ
ック抵抗は、共に拡散抵抗で構成されており、これら第
1、第2の抵抗と前記フィードバック抵抗とが異なる不
純物濃度で構成されていることを特徴とする請求項1に
記載の物理量検出装置。 - 【請求項3】 前記第1、第2の抵抗の不純物濃度が約
1×1019cm-3であり、前記フィードバック抵抗の不
純物濃度が約4×1017cm-3であることを特徴とする
請求項2に記載の物理量検出装置。 - 【請求項4】 前記第1、第2の抵抗のうちのいずれか
一方が、物理量に応じて抵抗値を変化させるセンシング
素子として構成され、他方が物理量に応じて抵抗値を変
化させない抵抗として構成されていることを特徴とする
請求項1乃至3のいずれか1つに記載の物理量検出装
置。 - 【請求項5】 前記参照電圧発生部は、前記第1の基準
電位点と前記第2の基準電位点との間において直列接続
された第3、第4の抵抗(R1、R2)で構成され、該
第3、第4の抵抗によって抵抗分割された電圧を前記参
照電圧としており、前記第3、第4の抵抗の抵抗温度係
数がほぼ同等に構成されていることを特徴とする請求項
1乃至4のいずれか1つに記載の物理量検出装置。 - 【請求項6】 前記第3、第4の抵抗のいずれか一方が
トリミング調整され、前記中間電圧の零点調整が成され
ていることを特徴とする請求項5に記載の物理量検出装
置。 - 【請求項7】 前記フィードバック抵抗と並列に調整抵
抗(Rts’)が接続されていることを特徴とする請求
項1乃至6のいずれか1つに記載の物理量検出装置。 - 【請求項8】 前記第1のオペアンプの出力端子に接続
された第5の抵抗(R3)と、 前記第5の抵抗を介して、前記第1のオペアンプの出力
が反転入力端子に接続されると共に、前記参照電圧が非
反転入力端子に入力されるように構成された第2のオペ
アンプ(OP2)と、 前記第2のオペアンプの出力端子と反転入力端子との間
に配置された第6の抵抗(R6)と、を備えていること
を特徴とする請求項1乃至7のいずれか1つに記載の物
理量検出装置。 - 【請求項9】 前記第1の基準電位点と前記第2のオペ
アンプの反転入力端子との間に接続されるオフセット調
整用抵抗(R5)か、前記第2の基準電位点と前記第2
のオペアンプの反転入力端子との間に接続されるオフセ
ット調整用抵抗(R5’)の少なくともいずれか一方が
備えられていることを特徴とする請求項8に記載の物理
量検出装置。 - 【請求項10】 前記第1の基準電位点と前記第2のオ
ペアンプの反転入力端子との間に第7、第8の抵抗(R
41、Rto1)が備えられていると共に、 前記第2のオペアンプの反転入力端子と前記第2の基準
電位点との間に第9、第10の抵抗(Rto2、R4
2)が備えられており、 前記第8、第9の抵抗が抵抗温度依存性を有した構成と
なっていることを特徴とする請求項8又は9に記載の物
理量検出装置。 - 【請求項11】 前記第8、10の抵抗の少なくともい
ずれか一方がトリミング調整され、前記第2のオペアン
プの出力のオフセット温度特性補償が成されていること
を特徴とする請求項10に記載の物理量検出装置。 - 【請求項12】 基準温度における前記センシング素子
の感度をS0、前記基準温度における前記センシング素
子の抵抗値をR0、前記基準温度における前記フィード
バック抵抗の抵抗値をRts0とすると、 前記基準温度からの温度差がTである温度において、前
記センシング素子の感度S(T)がS(T)=S0・
(1+β1・T+β2・T2)、前記センシング素子の
抵抗値R(T)がR(T)=R0・(1+α1・T+α
2・T2)、さらに、前記フィードバック抵抗の抵抗値
Rts(T)がRts(T)=Rts0・(1+A1・
T+A2・T2)で表せるとき、 それぞれの温度係数α1、α2、β1、β2、A1、A
2をA1=α1−β1、A2=α2−β2−β1・(α
1−β1)の両式がほぼ成り立つように構成したことを
特徴とする請求項1乃至11のいずれか1つに記載の物
理量検出装置。 - 【請求項13】 前記第1の抵抗に流れる電流のほとん
どが第2の抵抗に流れ込むように前記参照電圧を設定し
たことを特徴とする請求項1乃至12のいずれか1つに
記載の物理量検出装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000343670A JP2002148131A (ja) | 2000-11-10 | 2000-11-10 | 物理量検出装置 |
US09/986,313 US6724202B2 (en) | 2000-11-10 | 2001-11-08 | Physical quantity detection device with temperature compensation |
DE10155082A DE10155082A1 (de) | 2000-11-10 | 2001-11-09 | Erfassungsvorrichtung für eine physikalische Größe mit Temperaturkompensation |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000343670A JP2002148131A (ja) | 2000-11-10 | 2000-11-10 | 物理量検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002148131A true JP2002148131A (ja) | 2002-05-22 |
Family
ID=18818002
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000343670A Pending JP2002148131A (ja) | 2000-11-10 | 2000-11-10 | 物理量検出装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6724202B2 (ja) |
JP (1) | JP2002148131A (ja) |
DE (1) | DE10155082A1 (ja) |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006242610A (ja) * | 2005-03-01 | 2006-09-14 | Fuji Electric Device Technology Co Ltd | 単電源電圧計測回路 |
JP2009536741A (ja) * | 2006-05-08 | 2009-10-15 | テクトロニクス・インコーポレイテッド | 電流測定プローブに用いる電流検知回路 |
JP2011099678A (ja) * | 2009-11-03 | 2011-05-19 | Ngk Spark Plug Co Ltd | 圧力検出装置 |
DE102011083403A1 (de) | 2010-09-28 | 2012-03-29 | Denso Corporation | A/D-Wandlerschaltung |
JP2012124833A (ja) * | 2010-12-10 | 2012-06-28 | Denso Corp | A/d変換回路 |
JP2012154829A (ja) * | 2011-01-27 | 2012-08-16 | Denso Corp | 感度温特補正回路 |
CN103575210A (zh) * | 2012-08-06 | 2014-02-12 | 株式会社电装 | 位置检测器 |
CN107702837A (zh) * | 2016-08-08 | 2018-02-16 | 霍尼韦尔国际公司 | 压力传感器偏移温度系数调整 |
US10063195B2 (en) | 2013-06-19 | 2018-08-28 | Asahi Kasei Microdevices Corporation | Amplifier circuit and amplifier circuit IC chip |
JP2020085490A (ja) * | 2018-11-16 | 2020-06-04 | Tdk株式会社 | 歪検出素子および力学量センサ |
WO2022239621A1 (ja) * | 2021-05-14 | 2022-11-17 | 株式会社村田製作所 | センサ装置 |
Families Citing this family (37)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3915586B2 (ja) * | 2002-04-24 | 2007-05-16 | 株式会社デンソー | 力学量検出装置の製造方法 |
DE10330253A1 (de) * | 2003-07-04 | 2005-01-20 | Robert Bosch Gmbh | Sensorelement |
US7126355B2 (en) * | 2004-05-31 | 2006-10-24 | Yamaha Hatsudoki Kabushiki Kaisha | Physical quantity sensing device with bridge circuit and temperature compensating method |
US7414804B1 (en) * | 2004-08-30 | 2008-08-19 | Marvell International Ltd. | TMR/GMR amplifier with input current compensation |
US7142058B2 (en) * | 2004-11-09 | 2006-11-28 | Freescale Semiconductor, Inc. | On-chip temperature compensation circuit for an electronic device |
US7204638B2 (en) * | 2005-05-23 | 2007-04-17 | Etron Technology, Inc. | Precise temperature sensor with smart programmable calibration |
US20060284627A1 (en) * | 2005-06-17 | 2006-12-21 | Ford Greg E | Apparatus for correcting electrical signals |
JP2007248288A (ja) * | 2006-03-16 | 2007-09-27 | Fujitsu Ltd | 温度特性補正方法及びセンサ用増幅回路 |
JP5168927B2 (ja) * | 2007-02-14 | 2013-03-27 | 株式会社リコー | 半導体装置およびそのトリミング方法 |
KR101460158B1 (ko) * | 2008-11-20 | 2014-11-10 | 삼성전자주식회사 | 온도 변화에 강인한 휘스톤 브리지 최적화 장치 및 방법 |
US7950286B2 (en) * | 2008-12-19 | 2011-05-31 | Honeywell International Inc. | Multi-range pressure sensor apparatus and method utilizing a single sense die and multiple signal paths |
US7918137B2 (en) * | 2009-02-06 | 2011-04-05 | Kulite Semiconductor Products, Inc. | Method for temperature compensation of a piezoresistive gaged metal diaphragm |
US10330513B2 (en) * | 2009-05-27 | 2019-06-25 | Honeywell International Inc. | Multi-dynamic-range sensor |
JP4821900B2 (ja) | 2009-09-11 | 2011-11-24 | セイコーエプソン株式会社 | 検出装置、物理量測定装置及び電子機器 |
JP5083287B2 (ja) * | 2009-09-11 | 2012-11-28 | セイコーエプソン株式会社 | 検出装置、物理量測定装置及び電子機器 |
JP4602468B1 (ja) * | 2010-03-05 | 2010-12-22 | 好高 青山 | 部品検出装置及び部品検出方法 |
US8656772B2 (en) | 2010-03-22 | 2014-02-25 | Honeywell International Inc. | Flow sensor with pressure output signal |
US8695417B2 (en) | 2011-01-31 | 2014-04-15 | Honeywell International Inc. | Flow sensor with enhanced flow range capability |
US8446220B2 (en) | 2011-05-09 | 2013-05-21 | Honeywell International Inc. | Method and apparatus for increasing the effective resolution of a sensor |
US8770034B2 (en) | 2011-09-06 | 2014-07-08 | Honeywell International Inc. | Packaged sensor with multiple sensors elements |
TW201413430A (zh) * | 2012-09-21 | 2014-04-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | 電腦設備 |
US9052217B2 (en) | 2012-11-09 | 2015-06-09 | Honeywell International Inc. | Variable scale sensor |
EP2784521B1 (en) | 2013-03-28 | 2019-04-17 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Sensor apparatus and method |
EP2878927B1 (en) | 2013-11-29 | 2016-10-26 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Sensor circuit for measuring a physical quantity |
US9541456B2 (en) * | 2014-02-07 | 2017-01-10 | Sandisk Technologies Llc | Reference voltage generator for temperature sensor with trimming capability at two temperatures |
JP6341119B2 (ja) * | 2015-03-03 | 2018-06-13 | 株式会社デンソー | センサ駆動装置 |
JP6511336B2 (ja) * | 2015-06-02 | 2019-05-15 | エイブリック株式会社 | 温度補償回路およびセンサ装置 |
CN111094925B (zh) * | 2018-03-14 | 2023-02-17 | 富士电机株式会社 | 传感器装置 |
US11099093B2 (en) | 2019-08-09 | 2021-08-24 | Rosemount Aerospace Inc. | Thermally-matched piezoresistive elements in bridges |
JP7232156B2 (ja) * | 2019-09-04 | 2023-03-02 | 株式会社東芝 | 発振装置 |
US11671064B2 (en) * | 2020-01-07 | 2023-06-06 | Qorvo Us, Inc. | Equalizer for envelope power supply circuitry |
US11677365B2 (en) | 2020-01-08 | 2023-06-13 | Qorvo Us, Inc. | Envelope tracking power management apparatus incorporating multiple power amplifiers |
US11545945B2 (en) | 2020-03-04 | 2023-01-03 | Qorvo Us, Inc. | Apparatus and method for calibrating an envelope tracking lookup table |
US11626844B2 (en) | 2020-03-09 | 2023-04-11 | Qorvo Us, Inc. | Envelope tracking radio frequency front-end circuit |
FR3109638B1 (fr) * | 2020-04-23 | 2022-04-01 | Nexter Systems | Procede de compensation de temperature dans un dispositif de mesure de courant et dispositif de mesure de courant associe |
CN112763128B (zh) * | 2020-12-09 | 2022-08-23 | 武汉船用电力推进装置研究所(中国船舶重工集团公司第七一二研究所) | 一种硅压力传感器的温度补偿电路 |
US20220291055A1 (en) * | 2021-03-12 | 2022-09-15 | Allegro Microsystems, Llc | Sensor interface with temperature signal processing |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56157640U (ja) * | 1980-04-25 | 1981-11-25 | ||
JPS5923643U (ja) * | 1982-08-02 | 1984-02-14 | 日産自動車株式会社 | 内燃機関用トルク検出装置 |
JPS61259134A (ja) * | 1985-05-14 | 1986-11-17 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 半導体圧力センサ |
JPS63173933A (ja) * | 1987-01-13 | 1988-07-18 | Nec Corp | 半導体圧力センサ |
JPH0351733A (ja) * | 1989-07-19 | 1991-03-06 | Fuji Electric Co Ltd | 半導体圧力センサの増巾補償回路 |
JPH03243445A (ja) * | 1990-02-20 | 1991-10-30 | Zexel Corp | 車両安全装置のための制御システム |
JPH0430478A (ja) * | 1990-05-25 | 1992-02-03 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体圧力センサのスパン電圧温度補償方法 |
JPH08327470A (ja) * | 1995-05-29 | 1996-12-13 | Tokin Corp | 力検出装置 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4233848A (en) * | 1978-01-06 | 1980-11-18 | Hitachi, Ltd. | Strain gauge pressure transducer apparatus having an improved impedance bridge |
MX149941A (es) | 1978-01-27 | 1984-02-13 | Johnson & Johnson | Mejoras a panal desechable conformable que tiene porciones reforzadas |
JPS5758791A (en) | 1980-09-26 | 1982-04-08 | Sankyo Kogyo Kk | Excavation of deep well or vertical shaft |
JPS59217375A (ja) * | 1983-05-26 | 1984-12-07 | Toyota Central Res & Dev Lab Inc | 半導体機械−電気変換装置 |
JPS60120903A (ja) | 1983-12-01 | 1985-06-28 | 株式会社クボタ | 自動走行作業車 |
JPS60144632A (ja) | 1984-01-09 | 1985-07-31 | Fuji Electric Corp Res & Dev Ltd | 温度補償回路 |
US4890497A (en) * | 1988-08-25 | 1990-01-02 | Dwyer Instruments, Inc. | Differential pressure gauge transmitter |
JPH0368830A (ja) | 1989-08-09 | 1991-03-25 | Fuji Electric Co Ltd | 半導体圧力センサの温度補償回路 |
JPH042170A (ja) | 1990-04-18 | 1992-01-07 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体拡散抵抗形圧力センサにおけるスパン電圧温度補償方法 |
JP2976487B2 (ja) | 1990-05-21 | 1999-11-10 | 株式会社デンソー | 半導体装置の温度特性補正装置 |
JPH0489541A (ja) | 1990-08-02 | 1992-03-23 | Fuji Electric Co Ltd | 半導体圧力センサ |
JPH05215504A (ja) * | 1992-02-05 | 1993-08-24 | Mitsubishi Electric Corp | 位置検出装置 |
-
2000
- 2000-11-10 JP JP2000343670A patent/JP2002148131A/ja active Pending
-
2001
- 2001-11-08 US US09/986,313 patent/US6724202B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2001-11-09 DE DE10155082A patent/DE10155082A1/de not_active Ceased
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56157640U (ja) * | 1980-04-25 | 1981-11-25 | ||
JPS5923643U (ja) * | 1982-08-02 | 1984-02-14 | 日産自動車株式会社 | 内燃機関用トルク検出装置 |
JPS61259134A (ja) * | 1985-05-14 | 1986-11-17 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 半導体圧力センサ |
JPS63173933A (ja) * | 1987-01-13 | 1988-07-18 | Nec Corp | 半導体圧力センサ |
JPH0351733A (ja) * | 1989-07-19 | 1991-03-06 | Fuji Electric Co Ltd | 半導体圧力センサの増巾補償回路 |
JPH03243445A (ja) * | 1990-02-20 | 1991-10-30 | Zexel Corp | 車両安全装置のための制御システム |
JPH0430478A (ja) * | 1990-05-25 | 1992-02-03 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体圧力センサのスパン電圧温度補償方法 |
JPH08327470A (ja) * | 1995-05-29 | 1996-12-13 | Tokin Corp | 力検出装置 |
Cited By (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006242610A (ja) * | 2005-03-01 | 2006-09-14 | Fuji Electric Device Technology Co Ltd | 単電源電圧計測回路 |
JP4507918B2 (ja) * | 2005-03-01 | 2010-07-21 | 富士電機システムズ株式会社 | 単電源電圧計測回路 |
JP2009536741A (ja) * | 2006-05-08 | 2009-10-15 | テクトロニクス・インコーポレイテッド | 電流測定プローブに用いる電流検知回路 |
JP2011099678A (ja) * | 2009-11-03 | 2011-05-19 | Ngk Spark Plug Co Ltd | 圧力検出装置 |
DE102011083403A1 (de) | 2010-09-28 | 2012-03-29 | Denso Corporation | A/D-Wandlerschaltung |
JP2012124833A (ja) * | 2010-12-10 | 2012-06-28 | Denso Corp | A/d変換回路 |
JP2012154829A (ja) * | 2011-01-27 | 2012-08-16 | Denso Corp | 感度温特補正回路 |
JP2014032154A (ja) * | 2012-08-06 | 2014-02-20 | Denso Corp | 位置検出装置 |
CN103575210A (zh) * | 2012-08-06 | 2014-02-12 | 株式会社电装 | 位置检测器 |
CN103575210B (zh) * | 2012-08-06 | 2017-03-29 | 株式会社电装 | 位置检测器 |
US10063195B2 (en) | 2013-06-19 | 2018-08-28 | Asahi Kasei Microdevices Corporation | Amplifier circuit and amplifier circuit IC chip |
CN107702837A (zh) * | 2016-08-08 | 2018-02-16 | 霍尼韦尔国际公司 | 压力传感器偏移温度系数调整 |
CN107702837B (zh) * | 2016-08-08 | 2022-01-04 | 霍尼韦尔国际公司 | 压力传感器偏移温度系数调整 |
JP2020085490A (ja) * | 2018-11-16 | 2020-06-04 | Tdk株式会社 | 歪検出素子および力学量センサ |
JP7268333B2 (ja) | 2018-11-16 | 2023-05-08 | Tdk株式会社 | 歪検出素子および力学量センサ |
WO2022239621A1 (ja) * | 2021-05-14 | 2022-11-17 | 株式会社村田製作所 | センサ装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6724202B2 (en) | 2004-04-20 |
DE10155082A1 (de) | 2002-08-29 |
US20020083776A1 (en) | 2002-07-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2002148131A (ja) | 物理量検出装置 | |
JP3399953B2 (ja) | 圧力センサ | |
US6518880B2 (en) | Physical-quantity detection sensor | |
US5187985A (en) | Amplified pressure transducer | |
US5507171A (en) | Electronic circuit for a transducer | |
JP4608843B2 (ja) | 流量測定装置 | |
JP4568982B2 (ja) | 物理量検出装置 | |
JP4438222B2 (ja) | 物理量検出装置 | |
JP2001272293A (ja) | 圧力センサ | |
US7168312B2 (en) | Heating resistor type air flow meter | |
WO2003029759A1 (fr) | Instrument de mesure de debit | |
JPH0972805A (ja) | 半導体センサ | |
JP3609148B2 (ja) | 発熱抵抗式空気流量計 | |
US6810745B2 (en) | Temperature dependent sensitivity compensation structure of sensor | |
JP2002174541A (ja) | 熱式流量測定装置 | |
KR100238390B1 (ko) | 압력센서의 온도 보상 회로 | |
JP2019066253A (ja) | 流量計測装置 | |
US11747379B2 (en) | Active measurement correction of resistive sensors | |
JP2610736B2 (ja) | 半導体圧力センサの増幅補償回路 | |
JP2979742B2 (ja) | 熱線式流量計 | |
JP2001272203A (ja) | 歪み測定装置 | |
JPH1096675A (ja) | 温度補償回路及び温度補償方法 | |
JP2000046668A (ja) | 圧力検出装置 | |
RU2165602C2 (ru) | Полупроводниковый датчик давления | |
JPH07139985A (ja) | 熱式空気流量測定装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20061227 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20091106 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20091117 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100113 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20100817 |