JP2002134467A - 基板処理装置 - Google Patents
基板処理装置Info
- Publication number
- JP2002134467A JP2002134467A JP2000327480A JP2000327480A JP2002134467A JP 2002134467 A JP2002134467 A JP 2002134467A JP 2000327480 A JP2000327480 A JP 2000327480A JP 2000327480 A JP2000327480 A JP 2000327480A JP 2002134467 A JP2002134467 A JP 2002134467A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- processing liquid
- processing
- liquid supply
- substrate
- supply pipe
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
- Cleaning By Liquid Or Steam (AREA)
- Weting (AREA)
Abstract
理所要時間を短縮する。 【解決手段】 矩形の板に、第1処理液供給管2、第2
処理液供給管3と直交する方向に延びるようにスリット
4aを形成するとともに、スリットピッチを所定ピッチ
(好ましくは、処理対象基板ピッチと等しいピッチ)に
設定した整流板4を採用する。
Description
し、さらに詳細にいえば、処理液を整流して複数枚の基
板の表面に供給することにより基板を処理する基板処理
装置に関する。
ー処理槽内に収容し、この状態において処理液を供給
し、オーバーフローさせながら基板の処理を行う基板処
理装置が提案されている。
オーバーフロー処理槽の底部に処理液供給管を設け、こ
の処理液供給管の上方に複数の円形透孔を形成してなる
整流板を設け、この整流板の上方に複数枚の基板を支持
する構成のものが提案されている(特開平6−2041
99号公報、特開平8−17782号公報参照)。
載のものは、整流板として、円形透孔を複数列に形成す
るとともに、隣り合う列における円形透孔の位置を半ピ
ッチ分だけずらせている。また、特開平8−17782
号公報に記載のものは、整流板として、円形透孔を複数
列、複数行に形成している。
処理液供給管から吐出される処理液を整流板により整流
して基板収容空間に供給することができ、複数枚の基板
の表面を均一に、かつ短時間で処理することができると
思われている。
装置を採用した場合には、整流板として円形透孔を形成
してなるものを採用しているので、整流板の上面および
下面に存在する平坦面の割合が大きく、この部分および
円形透孔の内部に気泡が付着し易いという不都合があ
る。
が全くないのであるから、整流板の上方における流速分
布が所期の流速分布からずれてしまい、基板の処理品質
を十分に高めることができないという不都合が生じる。
また、整流板の上方において定常流を確保できる流量を
十分には高めることができず、ひいては基板の処理所要
時間が長くなってしまう。
て基板を互いに異なる処理液によって処理するようにし
たワンバス方式の基板処理装置においては、最初の処理
液を次の処理液で置換する場合(例えば、薬液を純水で
置換する場合)には、整流板に付着して気泡に付いた最
初の処理液を次の処理液で完全に置換するまでの所要時
間が長くなり、ひいては処理所要時間が長くなってスル
ープットが低くなり、しかも基板の処理品質を十分に高
めることができないという不都合が生じる。
たものであり、処理品質を十分に高めることができると
ともに、処理所要時間を短縮することができる基板処理
装置を提供することを目的としている。
は、オーバーフロー処理槽の底部所定位置に処理液供給
部材を設け、この処理液供給部材よりも上方に、処理液
の流れを整流する整流板部材を設け、整流板部材よりも
上方に空間に複数枚の基板を起立状態で、かつ互いに平
行に支持して、処理液供給部材から供給される処理液を
オーバーフローさせながら基板を処理するものであっ
て、前記整流板部材として、下方から上方に向かって処
理液を流通させる複数の互いに平行なスリットを有する
ものを採用するものである。
材として、少なくとも上端部および下端部が、それぞれ
上方漸拡状、下方漸拡状に形成されたスリットを有する
ものを採用するものである。
材として、塩化ビニル、石英、もしくはポリエーテルエ
ーテルケトンからなるものを採用するものである。
材として、スリットピッチが5mm、スリット幅が3m
m以下に設定されたものを採用するものである。
ロー処理槽の底部所定位置に処理液供給部材を設け、こ
の処理液供給部材よりも上方に、処理液の流れを整流す
る整流板部材を設け、整流板部材よりも上方に空間に複
数枚の基板を起立状態で、かつ互いに平行に支持して、
処理液供給部材から供給される処理液をオーバーフロー
させながら基板を処理するに当たって、前記整流板部材
として、下方から上方に向かって処理液を流通させる複
数の互いに平行なスリットを有するものを採用するので
あるから、整流板部材の上面、下面、およびスリット内
面に対する気泡の付着量を少なくすることができ、ひい
ては基板の処理品質を十分に高めることができるととも
に、処理所要時間を短縮することができる。
流板部材として、少なくとも上端部および下端部が、そ
れぞれ上方漸拡状、下方漸拡状に形成されたスリットを
有するものを採用するのであるから、整流板部材の上
面、下面、およびスリット内面に対する気泡の付着量を
より少なくすることができ、ひいては基板の処理品質を
より高めることができるとともに、処理所要時間をより
短縮することができる。
流板部材として、塩化ビニル、石英、もしくはポリエー
テルエーテルケトンからなるものを採用するのであるか
ら、整流板部材の下面に対する気泡の付着量をさらに少
なくすることができ、ひいては基板の処理品質をさらに
高めることができるとともに、処理所要時間をさらに短
縮することができる。
流板部材として、スリットピッチが5mm、スリット幅
が3mm以下に設定されたものを採用するのであるか
ら、整流板部材の上方において処理液の定常流を確保す
ることができる処理液流量を高めることができ、ひいて
は基板の処理品質をさらに高めることができるととも
に、処理所要時間をさらに短縮することができ、しかも
請求項1から請求項3の何れかと同様の作用を達成する
ことができる。
発明の基板処理装置の実施の態様を詳細に説明する。
様を概略的に示す縦断面図である。
槽1と、オーバーフロー処理槽1の底部中央部に設けた
丸パイプ状の第1処理液供給管2と、第1処理液供給管
2を基準として互いに対称になるようにオーバーフロー
処理槽1の底部に設けた丸パイプ状の第2処理液供給管
3と、これらの第1処理液供給管2、第2処理液供給管
3のやや上方に設けた整流板4と、整流板4の上方に並
列に立設させられた状態で支承された複数枚の処理対象
基板5(例えば、半導体ウエハー)と、オーバーフロー
処理槽1から処理液を抜き取るためのドレン管6と、第
1処理液供給管2の吐出口を包囲するとともに、第1処
理液供給管2から吐出される処理用流体を中央に導きな
がら上方に導き、第2処理液供給管3から吐出される処
理用流体を中央に導きながら上方に導く1対の流速調整
板7とを有している。そして、複数枚の基板5の配列方
向と第1処理液供給管2、第2処理液供給管3とを互い
に平行に設定している。
び第2処理液供給管3を有するものとして説明を行った
が、第1処理液供給管2を省略して第2処理液供給管3
のみを有する構成を採用すること、または第2処理液供
給管3を省略して第1処理液供給管2のみを有する構成
を採用することが可能である。
液供給管2、第2処理液供給管3との関係を示す平面図
である。
供給管2、第2処理液供給管3と直交する方向に延びる
ようにスリット4aを形成しているとともに、スリット
ピッチを所定ピッチ(好ましくは、処理対象基板ピッチ
と等しいピッチ)に設定している。換言すれば、スリッ
ト4aを処理対象基板5と平行に設定している。
には、円形透孔を形成する従来の整流板と比較して、整
流板4の上面、下面の平坦部の面積を小さくすることが
できるので、整流板4の上面、下面への気泡の付着量を
少なくすることができる。そして、整流板4を通過した
処理液を基板に沿って、乱れることなく上方に流すこと
ができる。この結果、基板の処理品質を十分に高めるこ
とができるとともに、処理所要時間を短縮することがで
きる。
液(例えば、フッ酸)を供給して処理対象基板5の処理
を行った後に、第2処理液供給管3から第2の処理液
(例えば、純水)を供給して処理対象基板5の処理を行
う場合には、気泡の付着量が少ないことに起因して、気
泡に付いた第1の処理液を第2の処理液で置換するため
の所要時間を短縮することができ、ひいてはスループッ
トを高めることができるとともに、基板処理の高品質化
を達成することができる。
た処理液を図示しないポンプを用いて循環させることが
好ましく、処理液の必要量の増加を抑制することができ
る。ただし、この場合には、処理液がポンプから吐出さ
れることに起因して、処理液供給管から吐出される処理
液中に含まれる気泡の量が増加する。
理液供給管2、第2処理液供給管3との関係を示す平面
図である。
供給管2、第2処理液供給管3と平行な方向に延びるよ
うにスリット4aを形成しているとともに、スリットピ
ッチを所定ピッチ(好ましくは、処理対象基板ピッチと
等しいピッチ)に設定している。換言すれば、スリット
4aを処理対象基板5と垂直に設定している。
各スリット4aによる処理液の流れが処理対象基板5と
垂直になるが、図2の構成の整流板4を採用した場合と
同様の作用を達成することができる。
平面図である。
は、各スリット4aを2分割した点のみである。
面、下面の平坦部の面積がやや大きくなるので、整流板
4の上面、下面への気泡の付着量がやや増加するが、従
来の整流板と比較して気泡の付着量を十分に減少させる
ことができる。
図である。
も上端部および下端部が、それぞれ上方漸拡状、下方漸
拡状に形成されている。具体的には、図5中(a)に示
すように、スリットどうしの間における上面、下面に平
坦部が存在しないように、スリット間の残存部4bの上
端部、下端部にテーパ面を形成してスリット4aを形成
すること、図5中(b)に示すように、スリットどうし
の間における上面、下面に平坦部が存在しないように、
スリット間の残存部4bの上端部、下端部に凸曲面を形
成してスリット4aを形成すること、図5中(c)に示
すように、スリットどうしの間における上面、下面に平
坦部が存在しないように、スリット間の残存部4bを菱
形に形成してスリット4aを形成すること、図5中
(d)に示すように、スリットどうしの間における上
面、下面における平坦部を減少させるべく、スリット間
の残存部4bの上端部、下端部の角部に面取りを形成し
てスリット4aを形成することなどが可能である。
ト幅を2mm、スリット間の残存部4bの上端部、下端
部の角部における面取りを水平方向に1mm、垂直方向
に1mm(以下、「上下C1づつ」と略称する)に設定
した場合(CASE1と称する)、スリットピッチを5
mm、スリット幅を3mm、スリット間の残存部4bの
上端部、下端部の角部における面取りを水平方向に0.
5mm、垂直方向に0.5mm(以下、「上下C0.5
づつ」と略称する)に設定した場合(CASE2と称す
る)、スリットピッチを5mm、スリット幅を3mm、
スリット間の残存部4bの上端部、下端部の角部におけ
る面取りを上下C1づつに設定した場合(CASE3と
称する)、スリットピッチを5mm、スリット幅を3m
m、スリット間の残存部4bの上端部、下端部の角部に
おける面取りを水平方向に1mm、垂直方向に1:3に
設定した場合(CASE4と称する)、スリットピッチ
を5mm、スリット幅を4mm、スリット間の残存部4
bの上端部、下端部の角部における面取りを水平方向、
垂直方向ともに「なし」に設定した場合(CASE5と
称する)、スリットピッチを7.5mm、スリット幅を
4mm、スリット間の残存部4bの上端部、下端部の角
部における面取りを水平方向に1.75mm、垂直方向
に1:2に設定した場合(CASE6と称する)、スリ
ットピッチを7.5mm、スリット幅を4mm、スリッ
ト間の残存部4bの上端部、下端部の角部における面取
りを水平方向に1.75mm、垂直方向に1:2に設定
し、スリットと処理対象基板とを互いに垂直にした場合
(CASE7と称する)、のそれぞれについて、第1処
理液供給管2による第1の処理液の流量(l/min)
を変化させて第1の処理液の流れが定常状態か非定常状
態かを判定した結果、および第2処理液供給管3による
第2の処理液の流量(l/min)を変化させて第2の
処理液の流れが定常状態か非定常状態かを判定した結
果、図6、図7に示す判定結果が得られた。なお、第1
の処理液をポンプによって循環させているのに対して、
第2の処理液は全く循環させていない。
〜CASE4の場合には、第1処理液供給管2による第
1の処理液の流量および第2処理液供給管3による第2
の処理液の流量が30l/minまでの範囲において処
理液の流れを定常状態にすることができた。
供給管2による第1の処理液の流量および第2処理液供
給管3による第2の処理液の流量が30l/minにな
った状態において、処理液の流れが非定常状態になっ
た。また、CASE6、CASE7の場合には、第2処
理液供給管3による第2の処理液の流量が30l/mi
nまでの範囲において処理液の流れを定常状態にするこ
とができたが、第1処理液供給管2による第1の処理液
の流量が30l/minになった状態において、処理液
の流れが非定常状態になった。
定し、スリット幅を3mm以下に設定することにより、
処理液の流量が30l/minまでの範囲において処理
液の流れを定常状態にすることができることが分かる。
れぞれにおける気泡の付着状態は次のとおりであった。
示すように、整流板4の上面に何カ所か気泡8が付着
し、整流板4の下面には上面よりも多くの気泡が付着し
た。ここで、気泡の付着箇所は、殆どが第2処理液供給
管3の真上のところ(第2処理液供給管3の死水域)お
よび整流板4の周縁部であるとともに、付着した気泡サ
イズは小さかった。
に、残存部4bの上面の隅部に気泡8が付着したととも
に、残存部4bの下面にも気泡8が付着した。ただし、
気泡8の付着量はCASE1の場合よりも少なかった。
に、残存部4bの上面に気泡8が殆ど付着しなかったた
とともに、残存部4bの下面に気泡8が付着した。ただ
し、気泡8の付着量はCASE2の場合よりも少なかっ
た。
CASE3の場合よりも少なくすることができた。
1に示すように、残存部4bの上面に気泡8が付着しな
かったたとともに、残存部4bの下面よりもむしろ側面
に小さい気泡が付着した。
への気泡付着量が少なかった。
を採用することが好ましい。
を採用するとともに、スリットピッチを5mm、スリッ
ト幅を2.5mmに設定し、しかも、整流板4の材質を
塩化ビニル(CASE8)、ポリエーテルエーテルケト
ン(PEEK)(CASE9)、テトラフルオロエチレ
ンパーフルオロアルキルビニルエーテルコポリマー(P
FA)(CASE10)、石英(CASE11)に設定
した。
に気泡8が付着しなかったたとともに、残存部4bの下
面に小さい気泡が少し付着した。
に気泡8が付着しなかったたとともに、残存部4bの下
面に小さい気泡が少し付着した。ただし、残存部4bの
下面に付着する気泡量がCASE8の場合よりも少な
い。
面に多量の気泡が付着した。
合とほぼ同様の結果が得られた。
も、第1処理液供給管2による第1の処理液の流量およ
び第2処理液供給管3による第2の処理液の流量が共に
40l/minまでの範囲において処理液の流れを定常
状態にすることができた。
ニル、石英、またはPEEKを採用することが好まし
い。
下面、およびスリット内面に対する気泡の付着量を少な
くすることができ、ひいては基板の処理品質を十分に高
めることができるとともに、処理所要時間を短縮するこ
とができるという特有の効果を奏する。
面、およびスリット内面に対する気泡の付着量をより少
なくすることができ、ひいては基板の処理品質をより高
めることができるとともに、処理所要時間をより短縮す
ることができるという特有の効果を奏する。
する気泡の付着量をさらに少なくすることができ、ひい
ては基板の処理品質をさらに高めることができるととも
に、処理所要時間をさらに短縮することができるという
特有の効果を奏する。
理液の定常流を確保することができる処理液流量を高め
ることができ、ひいては基板の処理品質をさらに高める
ことができるとともに、処理所要時間をさらに短縮する
ことができ、しかも請求項1から請求項3の何れかと同
様の効果を奏する。
に示す縦断面図である。
2、第2処理液供給管3との関係を示す平面図である。
2、第2処理液供給管3との関係を示す平面図である。
る。
(l/min)を変化させて第1の処理液の流れが定常
状態か非定常状態かを判定した結果を示す図である。
(l/min)を変化させて第2の処理液の流れが定常
状態か非定常状態かを判定した結果を示す図である。
平面図である。
縦断面図である。
付着状態を示す縦断面図である。
付着状態を示す縦断面図である。
Claims (4)
- 【請求項1】 オーバーフロー処理槽(1)の底部所定
位置に処理液供給部材(2)(3)を設け、この処理液
供給部材(2)(3)よりも上方に、処理液の流れを整
流する整流板部材(4)を設け、整流板部材(4)より
も上方の空間に複数枚の基板(5)を起立状態で、かつ
互いに平行に支持して、処理液供給部材(2)(3)か
ら供給される処理液をオーバーフローさせながら基板
(5)を処理する基板処理装置において、 前記整流板部材(4)として、下方から上方に向かって
処理液を流通させる複数の互いに平行なスリット(4
a)を有するものを採用していることを特徴とする基板
処理装置。 - 【請求項2】 前記整流板部材(4)は、少なくとも上
端部および下端部が、それぞれ上方漸拡状、下方漸拡状
に形成されたスリット(4a)を有している請求項1に
記載の基板処理装置。 - 【請求項3】 前記整流板部材(4)は、塩化ビニル、
石英、もしくはポリエーテルエーテルケトンからなるも
のである請求項1または請求項2に記載の基板処理装
置。 - 【請求項4】 前記整流板部材(4)は、スリットピッ
チが5mm、スリット幅が3mm以下に設定されたもの
である請求項1から請求項3の何れかに記載の基板処理
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000327480A JP2002134467A (ja) | 2000-10-26 | 2000-10-26 | 基板処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000327480A JP2002134467A (ja) | 2000-10-26 | 2000-10-26 | 基板処理装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002134467A true JP2002134467A (ja) | 2002-05-10 |
Family
ID=18804487
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000327480A Pending JP2002134467A (ja) | 2000-10-26 | 2000-10-26 | 基板処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2002134467A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010040758A (ja) * | 2008-08-05 | 2010-02-18 | Toshiba Mobile Display Co Ltd | 基板処理装置 |
WO2016204106A1 (ja) * | 2015-06-15 | 2016-12-22 | 株式会社ジェイ・イー・ティ | 基板処理装置 |
JP2019165067A (ja) * | 2018-03-19 | 2019-09-26 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理装置 |
JP2020136537A (ja) * | 2019-02-21 | 2020-08-31 | キオクシア株式会社 | 基板処理装置 |
-
2000
- 2000-10-26 JP JP2000327480A patent/JP2002134467A/ja active Pending
Cited By (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010040758A (ja) * | 2008-08-05 | 2010-02-18 | Toshiba Mobile Display Co Ltd | 基板処理装置 |
US10615059B2 (en) | 2015-06-15 | 2020-04-07 | J.E.T. Co., Ltd. | Substrate processing device |
TWI685893B (zh) * | 2015-06-15 | 2020-02-21 | 日商Jet股份有限公司 | 基板處理裝置 |
JPWO2016204106A1 (ja) * | 2015-06-15 | 2017-11-30 | 株式会社ジェイ・イー・ティ | 基板処理装置 |
CN107710388A (zh) * | 2015-06-15 | 2018-02-16 | 株式会社Jet | 基板处理装置 |
CN107710388B (zh) * | 2015-06-15 | 2021-08-24 | 株式会社Jet | 基板处理装置 |
WO2016204106A1 (ja) * | 2015-06-15 | 2016-12-22 | 株式会社ジェイ・イー・ティ | 基板処理装置 |
JP6231249B2 (ja) * | 2015-06-15 | 2017-11-15 | 株式会社ジェイ・イー・ティ | 基板処理装置 |
TWI710048B (zh) * | 2018-03-19 | 2020-11-11 | 日商斯庫林集團股份有限公司 | 基板處理裝置 |
CN111886675A (zh) * | 2018-03-19 | 2020-11-03 | 株式会社斯库林集团 | 基板处理装置 |
WO2019181067A1 (ja) * | 2018-03-19 | 2019-09-26 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理装置 |
JP2019165067A (ja) * | 2018-03-19 | 2019-09-26 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理装置 |
JP7002969B2 (ja) | 2018-03-19 | 2022-01-20 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理装置 |
CN111886675B (zh) * | 2018-03-19 | 2024-03-26 | 株式会社斯库林集团 | 基板处理装置 |
JP2020136537A (ja) * | 2019-02-21 | 2020-08-31 | キオクシア株式会社 | 基板処理装置 |
JP7116694B2 (ja) | 2019-02-21 | 2022-08-10 | キオクシア株式会社 | 基板処理装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8585030B2 (en) | Substrate processing apparatus | |
KR100274128B1 (ko) | 기판처리장치 | |
KR100921521B1 (ko) | 기판 지지 유닛 및 이를 이용한 기판 처리 장치 | |
KR102563118B1 (ko) | 혼합된 피처 전기도금을 위한 대류 최적화 | |
US5715851A (en) | Wafer cassette and cleaning system adopting the same | |
JP2002134467A (ja) | 基板処理装置 | |
JP7212767B2 (ja) | 基板処理装置 | |
WO2017126178A1 (ja) | 基板処理装置 | |
KR100861876B1 (ko) | Lcd 대면적 글라스 식각장치 및 식각방법 | |
US20230274956A1 (en) | Substrate processing apparatus | |
JPH1012591A (ja) | 側面ホールを持つケミカルバス | |
JP3223020B2 (ja) | 洗浄/エッチング装置およびその方法 | |
JP6231249B2 (ja) | 基板処理装置 | |
CN111886675B (zh) | 基板处理装置 | |
JP2007105626A (ja) | 基板処理装置 | |
KR100334058B1 (ko) | 반도체 웨이퍼 제조용 세정조의 세척수안정화 장치 | |
JP2000012496A (ja) | 基板処理装置 | |
JP2017168612A (ja) | 処理基板保持治具 | |
JP7086317B1 (ja) | めっき処理方法 | |
KR20180027911A (ko) | 기판 세정 장치 | |
JP2006179758A (ja) | 基板処理装置 | |
JP2000070886A (ja) | 基板処理装置 | |
KR100496855B1 (ko) | 반도체장치 제조용 습식식각설비 | |
KR970000384Y1 (ko) | 웨이퍼 세척용 캐리어 플레이트 | |
JP2000012497A (ja) | 被処理体処理装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20071024 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080104 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20090605 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090901 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20090902 |
|
RD05 | Notification of revocation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7425 Effective date: 20090918 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20090902 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20091222 |