JP2002118086A - 洗浄処理方法及び洗浄処理装置 - Google Patents

洗浄処理方法及び洗浄処理装置

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 洗浄能率の向上を図ることのできる洗浄処理
方法及び洗浄処理装置を提供すること。 【解決手段】 被処理体(ウエハ)Wを処理する複数種
類の薬液A〜Cのうち、1種類以上の薬液を備えた処理
ユニット11a〜11dを複数設置しておくと共に、同
一種類の薬液を少なくとも二つの処理ユニットに配置す
るようにしておき、個々の処理シーケンスの被処理体W
を順次処理するに当たって、各被処理体Wを、処理シー
ケンスに合った薬液を有する処理ユニットに順次搬送す
るように構成している。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、例えば半導体ウ
エハやLCD用ガラス基板等の被処理体を薬液や洗浄液
で処理する洗浄処理方法及び洗浄処理装置に関するもの
である。
【0002】
【従来の技術】この種の洗浄処理方法及び洗浄処理装置
においては、被処理体としての例えばLCDガラス基板
や半導体ウエハ等(以下「ウエハ」という)に付着した
汚染物を種々の薬液やリンス液(洗浄液)等の処理液に
よって取り除く処理を行うようになっている。
【0003】ウエハ表面の汚染物としては、例えばパー
ティクル、金属、有機物、酸化膜等がある。薬液は、汚
染物の種類に応じて各種のものが使い分けられるように
なっており、純水で希釈したアンモニアと過酸化水素と
の混合液(NH4OH/H2O2/H2O)、純水で希釈した
希塩酸と過酸化水素の混合液(HCl/H2O2/H2
O)、純水で希釈したフッ化水素酸液(HF/H2O)
等がある。また、リンス液は、主としてウエハに付着し
た薬液を洗い流すことに使われるようになっており、純
水やオゾン水等がある。
【0004】そして、ウエハは、薬液等が貯留された処
理槽に順次浸漬されることにより、汚染物の除去処理、
薬液の洗浄処理が行われることになる。ただし、ウエハ
は、汚染物の異なる各種のものが順次、洗浄処理装置に
搬送されてくることになる。このため、異なる薬液を蓄
える処理槽を複数設置しておき、各ウエハを所定の処理
槽に浸漬することになる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところが、従来の洗浄
処理方法及び洗浄処理装置においては、先に処理される
先行のウエハがある処理槽で薬液処理されているときに
は、同じ薬液処理を行う予定の後続のウエハは先行のウ
エハの洗浄が終るまで待たなければならないという欠点
がある。このため、洗浄能率が落ちるという問題があっ
た。
【0006】この発明は上記事情に鑑みてなされたもの
であり、洗浄能率の向上を図ることのできる洗浄処理方
法及び洗浄処理装置を提供することを目的としている。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1記載の発明は、複数種類の処理液にて被処
理体を処理する処理ユニットを複数用意しておくと共
に、複数の処理ユニットのうちの少なくとも二つの処理
ユニットに同一種類の処理液を供給可能にし、個々に処
理シーケンスが決められた被処理体を連続して複数の処
理ユニットに投入して処理するに当たって、 後に処理
される被処理体の処理シーケンスを確認した後、先に処
理される被処理体の処理シーケンスに基づいて被処理体
が搬送される複数の処理ユニットが選択されるようにし
たことを特徴とする方法を提供するものである。
【0008】請求項2記載の発明は、請求項1記載の洗
浄処理方法において、 後に処理される被処理体の処理
シーケンスを確認して、この処理シーケンスに基づいて
被処理体が搬送される複数の処理ユニットを選択した
後、この選択された複数の処理ユニット以外の処理ユニ
ットから先に処理される被処理体の処理シーケンスに基
づいた複数の処理ユニットが選択されるようになってい
ることを特徴とする方法を提供するものである。
【0009】請求項3記載の発明は、請求項1記載の洗
浄処理方法において、 後に処理される被処理体の処理
シーケンスを確認して、この処理シーケンスに基づいて
被処理体全体の処理時間が短くなるように、後に処理さ
れる被処理体が搬送される処理ユニットを選択した後、
選択された処理ユニット以外の処理ユニットから先に処
理される被処理体が搬送される処理ユニットが選択され
るようになっていることを特徴とする、方法を提供する
ものである。
【0010】請求項4記載の発明は、請求項1記載の洗
浄処理方法において、 先に処理される被処理体の処理
シーケンスと後に処理される被処理体の処理シーケンス
とを比較し、処理ステップ数が多い方の被処理体が搬送
される処理ユニットを選択した後に、処理ステップ数が
少ない方の被処理体が搬送される処理ユニットが選択さ
れるようになっていることを特徴とする、方法を提供す
るものである。
【0011】請求項5記載の発明は、請求項1記載の洗
浄処理方法において、 先に処理される被処理体の処理
シーケンスと後に処理される被処理体の処理シーケンス
とを比較し、使用する処理液種類の数が多い方の被処理
体が搬送される処理ユニットを選択した後に、使用する
処理液種類の数が少ない方の被処理体が搬送される処理
ユニットが選択されるようになっていることを特徴とす
る、方法を提供するものである。
【0012】請求項6記載の発明は、請求項1ないし5
のいずれかに記載の発明において、各処理ユニットで処
理した後の被処理体に付着した薬液を順次洗浄液で洗浄
した後、乾燥するようになっていることを特徴とする方
法を提供するものである。
【0013】請求項7記載の発明は、複数種類の処理液
にて被処理体を処理する処理ユニットを複数設置し、複
数の処理ユニットのうち少なくとも二つの処理ユニット
に同一種類の処理液を供給可能に構成してなり、 個々
の処理シーケンスが決められた被処理体を順次処理する
に当たって、各被処理体を、目的とする処理液を有する
処理ユニットに順次搬送する制御手段を備えていること
を特徴とする装置を提供するものである。
【0014】請求項8記載の発明は、請求項7記載の発
明において、 制御手段は、先に処理される被処理体の
処理シーケンスと、後に処理される各被処理体の処理シ
ーケンスとを比較して、後に処理される被処理体の処理
も連続的に可能になるように、先に処理される被処理体
を処理する処理ユニットを決定するようになっているこ
とを特徴とする装置を提供するものである。
【0015】請求項9記載の発明は、請求項7又は8記
載の発明において、 各処理ユニットで処理した後の被
処理体に付着した処理液を順次洗浄液で洗浄してから乾
燥する洗浄・乾燥処理ユニットを備えていることを特徴
とする装置を提供するものである。
【0016】請求項10記載の発明は、請求項9記載の
発明において、 洗浄・乾燥処理ユニットは、所定の数
の処理ユニットに対して一つ設けられていることを特徴
とする装置を提供するものである。
【0017】請求項11記載の発明は、請求項7ないし
10のいずれかに記載の発明において、 各処理ユニッ
トは、被処理体を処理する一つの槽に対して、処理液が
交換可能になっていることを特徴とする装置を提供する
ものである。
【0018】請求項12記載の発明は、請求項11記載
の発明において、 各処理ユニットは、被処理体に付着
した処理液を洗浄するための洗浄液が一つの槽に対して
交換可能になっていることを特徴とする装置を提供する
ものである。
【0019】そして、上記のように構成された請求項1
又は7記載の発明においては、各処理ユニットには複数
の処理液が備えられており、かつ少なくとも二つの処理
ユニットには同一種類の処理液を備えるようになってい
るので、例えば処理液Aを備えた第1の処理ユニット
と、処理液A及び処理液Bを備えた第3の処理ユニット
とを有するようなものを構成することができる。このた
め、処理液Aで処理する処理シーケンスの被処理体が二
つ続けて搬入されてきた場合には、先に処理される被処
理体を第1の処理ユニットで処理し、後に処理される被
処理体を第3の処理ユニットで連続的に処理することが
できる。すなわち、同一の処理シーケンスの被処理体が
二つ連続して処理に供される場合でも、待ち時間が生じ
ることがない。
【0020】同様にして、同一の処理液を三つ以上の処
理ユニットに配置すれば、同一処理シーケンスの被処理
体が三つ以上続けて搬入されてきた場合でも、これらの
被処理体を連続的に処理することができる。ただし、同
一の処理液を二つの処理ユニットに配置した場合でも、
第3番目の被処理体を処理する段階では、第1番目の被
処理体の処理が相当量進んでいるので、第3番目の被処
理体の待ち時間を十分短縮することができる。したがっ
て、被処理体の洗浄能率の向上を図ることができる。
【0021】請求項2、3又は8記載の発明において
は、先に処理される被処理体を処理する処理ユニットが
後に処理される被処理体の処理も連続的に可能になるよ
うに、複数の処理ユニットの中から選択されるようにな
っているので、例えば処理液Aを備えた第1の処理ユニ
ットと、処理液A及び処理液Bを備えた第3の処理ユニ
ットが空いている場合に、処理液Aのみで処理する先に
処理される被処理体は後に処理される被処理体の処理シ
ーケンスを考慮して、第1及び第3のいずれかの処理ユ
ニットを選択することになる。すなわち、後に処理され
る被処理体が処理液Bのみで処理する処理シーケンスの
ものや、処理液A、Bで処理する処理シーケンスのもの
であれば、先に処理される被処理体は第1の処理ユニッ
トを選択することによって、後に処理される被処理体が
第3の処理ユニットで処理できるようになる。したがっ
て、先に処理される被処理体の処理によって、後に処理
される被処理体の処理が妨げられることが少なくなるの
で、被処理体の洗浄能率を更に向上させることができ
る。
【0022】請求項4又は5記載の発明においては、先
に処理される被処理体の処理シーケンスと後に処理され
る被処理体の処理シーケンスとを比較し、処理ステップ
数が多い方又は使用する処理液種類の数が多い方の処理
ユニットを選択した後に、処理ステップ数が少ない方又
は使用する処理液種類の数が少ない方の処理ユニットが
選択されるようになっているので、全体の処理時間の短
縮を図ることができると共に、制御の単純化を図ること
ができる。
【0023】請求項6又は9記載の発明においては、各
処理ユニットで処理した後の被処理体に付着した処理液
を順次洗浄液で洗浄した後、乾燥するようになっている
ので、続けて他の処理液で処理する場合でも、先の処理
に供される処理液による弊害が生じることがない。
【0024】請求項10記載の発明においては、洗浄・
乾燥処理ユニットを所定の数の処理ユニットに対して一
つ設けたのみであるが、洗浄・乾燥処理の時間が処理液
による処理時間に比べて短くて済むので、洗浄・乾燥処
理のために待ち時間が生じることがない。しかも、洗浄
・乾燥処理ユニットを複数の処理ユニットに対して一つ
設けているので、洗浄・乾燥処理ユニットのための設置
スペースを低減することができると共に、装置の小型化
を図ることができる。
【0025】請求項11記載の発明においては、各処理
ユニットの槽が処理液の交換可能な一つのもので構成さ
れているので、例えば処理液A及び処理液Bを用意して
おくだけで、2種類の処理液による処理を一つの槽で順
次行うことができる。したがって、各処理ユニットの設
置スペースの低減を図ることができる。
【0026】請求項12記載の発明においては、洗浄液
が一つの槽に対して交換可能になっているので、処理液
を排出した後に洗浄液を供給することによって、処理液
による処理と、洗浄液による洗浄を一つの槽で連続的に
行うことができる。したがって、被処理体の洗浄能率の
向上を図ることができる。また、一つの槽に対して洗浄
液を供給可能に構成しておくだけでよいので、洗浄ユニ
ットを別途設ける場合に比べて設置スペースの低減及び
コストの低減を図ることができる。
【0027】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態を図
面に基づいて詳細に説明する。この実施形態では半導体
ウエハの洗浄処理システムに適用した場合について説明
する。
【0028】◎第1実施形態 まず、この発明の第1実施形態を図1及び図2を参照し
て説明する。この第1実施形態で示す洗浄処理装置3
は、図1及び図2に示すように、被処理体として複数枚
(例えば2キャリア分の50枚)の半導体ウエハW(以
下にウエハWという)を処理する複数種類(本実施形態
ではA〜Cの3種類)の薬液(処理液)のうち、複数種
類(本実施形態では2種類)の薬液を備えた処理ユニッ
ト11a〜11dを4つ(複数)設置し、同一種類の薬
液を少なくとも二つの処理ユニットに供給可能に構成し
ている。なお、薬液A〜Cとしは、従来例で示したよう
なものが使われる。そして、種々の処理レシピ(処理シ
ーケンス)のウエハWを順次処理するに当たって、各ウ
エハWを、目的とする薬液及びリンス液を有する処理ユ
ニット11a〜11dに順次搬送すべく制御する制御手
段としてのCPU40を備えている。
【0029】なお、CPU40は、後述するウエハ搬送
チャック15等を制御することによって、各処理ユニッ
ト11a〜11dに対して、ウエハWの搬入、搬出等を
制御するようになっている。更に、CPU40は、先に
処理される先行するウエハWの処理レシピと、後に処理
される後続する各ウエハWの処理レシピとを比較して、
全体の処理時間が可能な限り短くなるように、先行する
ウエハWを処理する処理ユニットを決定するようになっ
ている。
【0030】つまり、先行するウエハWの処理シーケン
スに従って選択される処理ユニット(処理槽)のグルー
プAと、後続するウエハWの処理シーケンスに従って選
択される処理ユニットのグループBとが重複しないよう
に後続するウエハWのグループBを先に選択し、続いて
先行するウエハWのグループAが選択される。このよう
に選択されたグループAの第1番目の処理槽に先行する
ウエハWが搬送され、次にグループBの第1番目の処理
槽に後続するウエハWが搬送され、各々の処理シーケン
スに従い処理を行う。
【0031】但し、処理シーケンスだけでなく、処理時
間も考慮すれば、同一のタイミングで同一の処理ユニッ
トを使用しなければ、処理シーケンスの一部で同一の処
理ユニットが選択されてもよい。換言すると、選択され
たグループBの中にある処理ユニットに後続のウエハW
が存在する時間に、先行するウエハWが搬送されてこな
いならば、この処理ユニットを含むようにグループAを
選択することができる。このように、時間までも考慮す
ると、処理ユニットの選択の幅が更に増すことになる。
【0032】上記処理ユニットの選択は、先に処理され
るウエハWの搬送が開始される前に、すなわち、洗浄処
理装置3内における先に処理されるウエハWの搬送が開
始される前に行われる。
【0033】また、各処理ユニット11a〜11dで薬
液処理した後のウエハWに付着した薬液を洗浄(リン
ス)するリンス槽を備えている。また、各処理ユニット
11a〜11dは、ウエハWを処理する一つの処理槽
(槽)30に対して、薬液のが交換可能、すなわち、処
理ユニット11a,11bにおいては、薬液AとC、処
理ユニット11cにおいては、薬液AとB、処理ユニッ
ト11dにおいては、薬液BとCが交換可能になってい
る。
【0034】以下、上記構成について、洗浄処理システ
ムの全体を説明しながら更に詳細に説明する。
【0035】洗浄処理システムは、ウエハWを水平状態
に収納する容器例えばキャリア1を搬入、搬出するため
の搬入・搬出部2と、ウエハWを薬液、洗浄液等によっ
て液処理すると共に乾燥処理する洗浄処理装置3と、搬
入・搬出部2と洗浄処理装置3との間に位置してウエハ
Wの受渡し、位置調整及び姿勢変換等を行うインターフ
ェース部4とで主に構成されている。
【0036】上記搬入・搬出部2は、洗浄処理システム
の一側端部にはキャリア搬入部5aとキャリア搬出部5
bが併設されると共に、ウエハの受渡し部6が設けられ
ている。この場合、キャリア搬入部5aとウエハ受渡し
部6との間には図示しない搬送機構が配設されており、
この搬送機構によってキャリア1がキャリア搬入部5a
からウエハ受渡し部6へ搬送されるように構成されてい
る。
【0037】また、キャリア搬出部5bとウエハ受渡し
部6には、それぞれキャリアリフタ(図示せず)が配設
され、このキャリアリフタによって空のキャリア1を搬
入・搬出部2上方に設けられたキャリア待機部(図示せ
ず)への受け渡し及びキャリア待機部からの受け取りを
行うことができるように構成されている。この場合、キ
ャリア待機部には、水平方向(X,Y方向)及び垂直方
向(Z方向)に移動可能なキャリア搬送ロボット(図示
せず)が配設されており、このキャリア搬送ロボットに
よってウエハ受渡し部6から搬送された空のキャリア1
を整列すると共に、キャリア搬出部5bへ搬出し得るよ
うになっている。また、キャリア待機部には、空キャリ
アだけでなく、処理シーケンスが設定されたウエハWが
収納された状態のキャリア1が待機されている。
【0038】上記ウエハ受渡し部6は、上記インターフ
ェース部4に開口しており、その開口部には蓋開閉装置
7が配設されている。この蓋開閉装置7によってキャリ
ア1の蓋体(図示せず)が開放あるいは閉塞されるよう
になっている。したがって、ウエハ受渡し部6に搬送さ
れた未処理のウエハWを収納するキャリア1の蓋体を蓋
開閉装置7によって取り外してキャリア1内のウエハW
を搬出可能にし、全てのウエハWが搬出された後、再び
蓋開閉装置7によって蓋体を閉塞することができる。ま
た、キャリア待機部からウエハ受渡し部6に搬送された
空のキャリア1の蓋体を蓋開閉装置7によって取り外し
てキャリア1内へのウエハWを搬入可能にし、全てのウ
エハWが搬入された後、再び蓋開閉装置7によって蓋体
を閉塞することができる。なお、ウエハ受渡し部6の開
口部近傍には、キャリア1内に収納されたウエハWの枚
数を検出するマッピングセンサ8が配設されている。
【0039】上記インターフエース部4には、複数枚例
えば25枚のウエハWを水平状態に保持すると共に、ウ
エハ受渡し部6のキャリア1との間でウエハWを受け渡
す水平搬送手段例えばウエハ搬送アーム9と、複数枚例
えば50枚のウエハWを所定間隔をおいて垂直状態に保
持する図示しないピッチチエンジャと、ウエハ搬送アー
ム9とピッチチェンジャとの間に位置して、複数枚例え
ば25枚のウエハWを水平状態と垂直状態とに変換する
姿勢変換手段例えば姿勢変換装置10と、垂直状態に姿
勢変換されたウエハWに設けられたノッチ(図示せず)
を検出する位置検出手段例えばノッチアライナ(図示せ
ず)が配設されている。また、インターフェース部4に
は、洗浄処理装置3と連なる搬送路16が設けられてお
り、この搬送路16にウエハ搬送手段例えばウエハ搬送
チャック15が移動自在に配設されている。
【0040】一方、上記洗浄処理装置3には、ウエハW
に付着するパーティクルや有機物等の汚染物を除去する
処理ユニット11a〜11dと、ウエハWに付着する薬
液を除去すると共に乾燥処理する洗浄・乾燥処理ユニッ
ト13と、チャック洗浄ユニット14が四角形状に区画
された状態で隣接するようにして直線状に配列されてい
る。なお、各ユニット11a〜11d、13、14の正
面側の部分には、これらのユニットを連続的につなぐよ
うに上記搬送路16が設けられており、この搬送路16
には、X,Y方向(水平方向)、Z方向(垂直方向)及
びθ方向(回転方向)に移動可能な上記ウエハ搬送チャ
ック15が配設されている。また、各ユニット11a〜
11d、13、14には、その搬送路16と反対側の位
置に、薬液A〜Cを貯留する複数の薬液タンクA1、B
1、C1、やリンス液Rである純水の供給源R1や配管
機器類を収容する収容部17及びウエハWを保持し、Z
方向(垂直方向)に昇降可能なウエハボート21(図1
では洗浄・乾燥処理ユニット13に設けた場合について
説明する。)が設けられている。
【0041】第1及び第2の処理ユニット11a、11
bは、主として処理槽30と、この処理槽30に薬液A
又は薬液Cをそれぞれ供給するために貯留する薬液タン
クA1、C1を備えている。同様にして、第3の処理ユ
ニット11cは、処理槽30と、この処理槽30に薬液
B又は薬液Aをそれぞれ供給するために貯留する薬液タ
ンクB1、A1を備え、第4の処理ユニット11dは、
処理槽30と、この処理槽30に薬液C又は薬液Bをそ
れぞれ供給するために貯留する薬液タンクC1、B1を
備えている。また、洗浄・乾燥処理ユニット13は、処
理槽30と、この処理槽30にリンス液Rを供給する純
水供給源R1と、ウエハWに付着したリンス液を乾燥さ
せる乾燥手段(図示せず)を備えている。
【0042】また、チャック洗浄ユニット14は、Y方
向に往復移動する純水及び乾燥ガス(例えば、N2ガ
ス)を噴射するノズル14aを具備しており、このノズ
ル14aによりウエハ搬送チャック15を洗浄し、乾燥
するように構成されている。
【0043】図2は、洗浄処理装置3における第1及び
第2の処理ユニット11a、11bについての詳細を示
したものである。この第1及び第2の処理ユニット11
a、11bは、薬液A又は薬液Cを貯留すると共に、薬
液A又は薬液CにウエハWを浸漬してその表面のパーテ
ィクル等の汚染物を取り除く処理槽30と、この処理槽
30内に配設されて処理槽30内に薬液A又は薬液Cを
供給する洗浄液供給手段例えば洗浄液供給ノズル32
と、流量調整可能な開閉弁36(以下に流量調整弁36
という)を介して洗浄液供給ノズル32と純水供給源R
1とを接続する主供給管33と、この主供給管33に介
設されて開閉及び切り換えを行う第1の切換開閉弁34
aと薬液タンクA1とを連結する第1の分岐管33a
と、主供給管33に介設されて開閉及び切り換えを行う
第2の切換開閉弁34bと薬液タンクC1とを連結する
第2の分岐管33bと、第1の分岐管33aに設けられ
た第1のポンプ35aと、第2の分岐管33bに設けら
れた第2のポンプ35bを備えている。
【0044】第1のポンプ35aは、薬液タンクA1内
の薬液Aを、第1の切換開閉弁34a、主供給管33、
洗浄液供給ノズル32を介して、処理槽30の後述する
内槽30a内へ強制的に供給するようになっている。第
1のポンプ35aの代わりにタンクA1内に例えば窒素
(N2)ガスを供給してN2ガスの圧力で薬液Cを押し出
して処理槽30に供給してもよい。同様にして、第2の
ポンプ35bは、第2の切換開閉弁34bを介して薬液
Cを内槽30a内へ強制的に供給するようになってい
る。また、切換開閉弁34a,34bは、主供給管3
3、第1の分岐管33a及び第2の分岐管33bのそれ
ぞれの接続を完全に絶つと共に、主供給管33と第1の
分岐管33aとを接続したり、主供給管33と第2の分
岐管33bとを接続したりする切り換えが可能になって
いる。また、この切換開閉弁34a,34bと流量調整
弁36は、CPU40によって制御されるようになって
いる。
【0045】更に、処理槽30には、内槽30a内に貯
留される薬液A又は薬液Cの温度を検出する温度検出手
段としての温度センサ39が配設されている。この温度
センサ39からの検出信号は、CPU40に伝達される
ようになっている。
【0046】なお、内層30aの底部に設けられた排出
口41に接続する排液管42には開閉手段例えば開閉バ
ルブ43が介設されている。
【0047】また、上記処理槽30は、薬液を貯留する
内槽30aと、この内槽30aの開口部の外方縁部を覆
う外槽30bとで構成されており、外槽30bの底部に
設けられた排出口44に開閉バルブ45を介設したドレ
ン管46が接続されている。なお、内槽30a内には昇
降可能なウエハボート21が配設されている。このウエ
ハボート21は、上記ウエハ搬送チャック15から受け
取った複数枚例えば50枚のウエハWを処理槽30内に
搬送し、処理後のウエハWを上方へ搬送して再びウエハ
搬送チャック15に受け渡すように構成されている。
【0048】また、図2は、上述のように、第1及び第
2の処理ユニット11a、11bについて示したもので
あるが、第3の処理ユニット11cの場合には、薬液A
が薬液Bに、薬液Cが薬液Aに、薬液タンクA1が薬液
タンクB1に、薬液タンクC1が薬液タンクA1に代わ
ることになる。また、第4の処理ユニット11dの場合
には、薬液Aが薬液Cに、薬液Cが薬液Bに、薬液タン
クA1が薬液タンクC1に、薬液タンクC1が薬液タン
クB1に代わることになる。更に、洗浄・乾燥処理ユニ
ット13の場合には、薬液Aがリンス液Rに、薬液Cが
無くなり、薬液タンクA1が純水供給源R1に、薬液タ
ンクC1が無くなることになる。
【0049】上記のように構成される洗浄処理装置3に
おいては、ウエハ搬送チャック15によって、ウエハW
が各処理ユニット11a〜11dのうち、処理シーケン
スに基づいて選択された処理ユニット11a〜11dに
選択された順番で順次搬入されると共に、処理後のウエ
ハWが各処理ユニット11a〜11dから洗浄・乾燥処
理ユニット13を介して搬出されることになる。
【0050】そして、薬液Aで処理することが処理レシ
ピで決まっているウエハWが三つ続けて搬入されてきた
場合でも、第1番目のウエハWを第1の処理ユニット1
1aで処理し、第2番目のウエハWを第2の処理ユニッ
ト11bで処理し、第3番目のウエハWを第3の処理ユ
ニット11cで処理することにより、待ち時間の無い状
態で連続的に処理することができる。同様にして、薬液
Cで処理すべきウエハWが三つ続けて搬入されてきた場
合も連続的に処理することができる。また、薬液Bで処
理すべきウエハWについては、二つ続けて搬入されてき
た場合に、待ち時間を生じさせることなく連続的に処理
することができる。
【0051】ただし、薬液Bが三つ続けて搬入されてき
た場合には、第3番目のウエハWを処理するに当たっ
て、待ち時間が生じることになる。しかし、第3番目の
ウエハWが待機状態に入った時には、第1番目のウエハ
Wの処理が相当量進んだ状態になっている。このため、
第3番目のウエハWについては待ち時間があっても、そ
の時間を十分に短縮することができる。また、薬液Aや
薬液Cで処理するウエハWについては、四つ連続して搬
入された時に、第4番目のウエハWについて待ち時間が
生じるが、その待ち時間は更に短縮することができる。
したがって、ウエハWの洗浄能率の向上を図ることがで
きる。すなわち、単位時間内に処理できるウエハWの数
量の増加を図ることができる。いわゆるスループットの
向上を図ることができる。
【0052】以上は、1種類の薬液を使う処理レシピの
場合である。ただし、多数の薬液を使う処理レシピの場
合でも、薬液A、Cを組み合わせたものであれば、ウエ
ハWが二つ続けて搬入されてきても、これらのウエハW
を第1及び第2の各処理ユニット11a、11bで連続
して処理することができる。
【0053】また、先行するウエハWを処理する処理ユ
ニットが、後続するウエハWの処理も連続的に可能にな
るように、空いてる処理ユニットの中から選択されるよ
うになっているので、例えば第1の処理ユニット11a
と、第3の処理ユニット11cが空いていれば、薬液A
のみで処理する先行のウエハWは後続のウエハWの処理
レシピを考慮して、第1及び第3の処理ユニット11
a、11cのいずれかを選択することになる。すなわ
ち、後続のウエハWが薬液Bのみで処理するレシピのも
のや、薬液A、Bで処理するレシピのものであれば、先
行のウエハWは第1の処理ユニット11aを選択するこ
とによって、後続のウエハWが第3の処理ユニットで処
理できるようにする。したがって、二つ以上の薬液を組
み合わせた処理レシピのウエハWが搬入されてくる場合
も、ウエハWの洗浄能率の向上を図ることができる。
【0054】そして、薬液A〜Cで処理した後のウエハ
Wは、洗浄・乾燥処理ユニット13で最終リンスと乾燥
されることになる。このため、ウエハWを更に他の薬液
A〜C、その他で処理する場合でも、先行の薬液により
弊害が生じることがない。また、洗浄・乾燥処理ユニッ
ト13が四つの処理ユニット11a〜11dに対して1
つ設けられているだけであるが、洗浄・乾燥処理時間は
薬液による処理時間に比べて短いことから、洗浄・乾燥
処理のために待ち時間が生じるのを防止できる。しか
も、四つの処理ユニット11a〜11dに対して洗浄・
乾燥処理ユニット13を一つ設けるだけであるので、洗
浄処理装置3の小型化を図ることができる。
【0055】また、各処理ユニット11a〜11dの処
理槽30が薬液の交換可能な一つのもので構成されてい
るので、例えば薬液A及び薬液Bを用意しておくだけ
で、2種類の薬液による処理を一つの処理槽30で行う
ことができる。したがって、各処理ユニット11a〜1
1dの設置スペースの低減を図ることができる。
【0056】上述した処理ユニット11a〜11dの選
択は使用する薬液に着目した処理ユニットの選択であっ
たが、処理ユニット11a〜11dの選択方法はこれに
限られることはない。例えば、先に処理されるウエハW
の処理シーケンスと後に処理されるウエハWの処理シー
ケンスとを比較し、処理ステップ数の多い方のウエハW
の処理ユニットを先に選択し、後に処理ステップ数の少
ない方のウエハWの処理ユニットを選択することもでき
る。一般に処理ステップ数の多いウエハWを滞りなく処
理できれば、全体の処理時間が短くなる。このような選
択方法を採用することによりCPU40での判断が単純
化される利点を有する。
【0057】また、先に処理されるウエハWの処理シー
ケンスと後に処理されるウエハWの処理シーケンスとを
比較し、使用する薬液種類の数の多い方のウエハWの処
理ユニットを先に選択し、後に使用する薬液種類の数の
少ない方のウエハWの処理ユニットを選択することもで
きる。一般に使用薬液の種類の数が多いウエハWを滞り
なく処理できれば、全体の処理時間が短くなる。このよ
うな選択方法を採用することによりCPU40での判断
が単純化される利点を有する。
【0058】◎第2実施形態 次に、この発明の第2実施形態を図3及び図4を参照し
て説明する。なお、第1実施形態で示した構成要素と共
通する要素には同一の符号を付し、その説明を簡略化す
る。この第2実施形態が第1実施形態と異なる主な点
は、各処理ユニット11a〜11dに3種類の薬液A,
B,Cを交換可能にすると共に、各処理ユニット11a
〜11dの処理槽30にリンス液Rである純水を積極的
に供給する純水供給源R0を備えている点である。
【0059】すなわち、各処理ユニット11a〜11d
には、図3及び図4に示すように、純水供給源R0が接
続されている。この場合、純水供給源R0は、図4に示
すように、第2の切換開閉弁34bと流量調整弁36を
介設する主供給管33を介して洗浄液供給ノズル32に
接続されている。この場合、流量調整弁36は、流量調
整機能を有する開閉弁であり、CPU40からの指令に
より、切換開閉弁34a,34bへの流量を完全に止め
ることも可能であるし、所定の流量のリンス液R(純
水)を切換開閉弁34a,34bへ流すことも可能にな
っている。すなわち、図4で例示した第1及び第2の処
理ユニット11a、11bで説明すると、流量調整弁3
6でリンス液R(純水)の流量を調整することにより、
薬液タンクA1から供給される薬液Aや、薬液タンクC
1から供給される薬液Cを所定の値に希釈することが可
能になっている。
【0060】なお、第1の切換開閉弁34aは、上記第
1実施形態と同様に、第1のポンプ35aを介設する第
1の分岐管33aを介して薬液タンクA1に接続されて
いる。また、第2の切換開閉弁34bは、第2のポンプ
35bを介設する第2の分岐管33bを介して薬液タン
クC1に接続されている。
【0061】また、処理槽30の上部外側には、処理槽
30の内槽30a内の純水の比抵抗を測定する比抵抗計
22が、バルブ22aを分設した導出管22bを介して
内槽30aに接続されている。なお、この比抵抗計22
は、処理槽30内に薬液A〜Cが供給されている場合に
は、バルブ22aが閉じられるようになっている。
【0062】上記のように構成された洗浄処理装置3に
おいては、例えば図3に示すように、No.1のウエハ
W、No.2のウエハW、No.3のウエハWが順次洗
浄処理装置3に搬入されるとすると、先行するウエハW
は後続のウエハWの処理レシピを考慮して、その後続の
ウエハWがなるべく待ち時間が生じないような処理ユニ
ット11a〜11dを選定することになる。ここで、N
o.1のウエハWの処理レシピは、薬液Aで処理した
後、リンス液Rで洗浄してから乾燥させるようになって
いる。No.2のウエハWの処理レシピは、薬液Aで処
理した後、リンス液Rで洗浄し、更に薬液Bで処理した
後、リンス液Rで洗浄してから乾燥させるようになって
いる。No.3のウエハWの処理レシピは、薬液Aで処
理した後、リンス液Rで洗浄し、更に薬液Bで処理した
後、リンス液Rで洗浄し、更に薬液Cで処理した後、リ
ンス液Rで洗浄してから乾燥させるようになっている。
【0063】まず、No.1のウエハWを薬液Aで処理
するに当たって、第3の処理ユニット11cを選択する
と、後続のNo.2のウエハWに待ち時間が生じること
になる。このため、No.1のウエハWは、第1又は第
2の処理ユニット11a、11bで処理することにな
る。この実施形態では、ウエハ搬送チャック15による
搬送距離が最も短い第1の処理ユニット11aで処理す
る例を示している。したがって、No.1のウエハWを
第1の処理ユニット11aに搬入した後、待ち時間を生
じさせることなく、No.2のウエハWを第3の処理ユ
ニット11cに搬入することができる。更に、No.3
のウエハWも、待ち時間を生じさせることなく、第2の
処理ユニット11bに搬入して処理を開始できる。な
お、No.3のウエハWにあっては、薬液B、Cの処理
のため、第4の処理ユニット11dに移ることになる
が、この場合も待ち時間を生じることがない。したがっ
て、ウエハWの洗浄能率の向上を図ることができる。
【0064】また、リンス液Rが処理槽30に対して交
換可能になっているので、薬液A〜Cを排出した後にリ
ンス液Rを供給することによって、薬液A〜Cによる処
理と、リンス液Rによる洗浄を連続的に行うことができ
る。したがって、ウエハWの洗浄能率の向上を図ること
ができる。また、一つの処理槽30に対してリンス液R
を供給可能に構成しておくだけでよいから、リンス液R
で洗浄するためのリンス槽を別途設ける必要がなく、そ
の分、設置スペースの低減及びコストの低減を図ること
ができる。
【0065】なお、上記第1、第2の実施形態において
は、第1の処理ユニット11aと、第2の処理ユニット
11bとを同一のもので構成したが、これらの処理ユニ
ット11a、11bのいずれか一方を削除したもので構
成してもよい。また、いずれか一方、例えば第1の処理
ユニット11aについては、例えば薬液C側の薬液タン
クC1を削除し、薬液タンクA1側のみを残すようにし
てもよい。
【0066】また、上記第1、第2の実施形態において
は、各処理ユニット11a〜11dのうち、いずれかの
処理ユニットを使用しない期間が長く続く時に、その使
用しない処理ユニットについて、制御対象から外すこと
が可能なように構成することが好ましい。すなわち、使
用しない特定の処理ユニットにおいて、その処理槽30
に対する薬液A〜Cやリンス液Rの交換、補充について
の制御や、アラームの制御を人為的に外すことが可能な
ように構成することが好ましい。
【0067】具体的には、マニュアルモードで初期的な
設定や試験を行った後、オートモードへ移行する前に、
使用しない処理ユニットについてDisableの設定
を行う。この設定は、例えば図5に示すように、モニタ
画面上に示された所定の処理槽30に対応する例えばs
c1(2)に対して、DisableをYesと設定す
ることにより行う。このようにして、特定の処理ユニッ
トにおける処理槽30についてDisableの設定を
行うことにより、(イ)当該処理槽30(図5において
sc1(2))で処理するような処理レシピのあるウエ
ハWのロットは、洗浄処理システムへの搬入時点、ある
いはその前に受け付けなくなり、処理対象から排除され
る、(ロ)当該処理槽30に対する薬液A〜Cやリンス
液Rの交換、補充条件が設定されていても、交換等の実
行が行われなくなる、(ハ)当該処理槽30を有する処
理ユニットにおいて、アラームが発生しても、新規ウエ
ハWについて、Disableになっている処理ユニッ
ト以外の処理ユニットに対してロットごとの投入を禁止
することなく続行する。ただし、Disableの設定
していない処理ユニットでのアラームによる安全性を高
めるため、インターロックの設定は通常通り行う。
【0068】以上のように構成することにより、不必要
な薬液A〜Cやリンス液Rの交換や補充がなくなると共
に、薬液A〜C等の交換、補充の条件を変更する必要が
なくなるので、コストの低減を図ることができる。ま
た、Disable設定の処理ユニットでアラームが発
生しても、他の処理ユニットにおける処理が停止するこ
とがないので、スループットの向上を図ることができ
る。
【0069】なお、上記実施形態では、この発明に係る
洗浄処理方法及び洗浄処理装置を半導体ウエハの洗浄処
理システムに適用した場合について説明したが、ウエハ
以外の例えばLCD基板等の洗浄処理にも適用できるこ
とは勿論である。
【0070】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、上記のように構成されているので、以下のような優
れた効果が得られる。
【0071】(1)請求項1又は7記載の発明によれ
ば、各処理ユニットには複数の処理液が備えられてお
り、かつ少なくとも二つの処理ユニットには同一種類の
処理液を備えるようになっているので、例えば処理液A
を備えた第1の処理ユニットと、処理液A及び処理液B
を備えた第3の処理ユニットとを有するようなものを構
成することができる。このため、処理液Aで処理する処
理シーケンスの被処理体が二つ続けて搬入されてきた場
合には、先に処理される被処理体を第1の処理ユニット
で処理し、後に処理される被処理体を第3の処理ユニッ
トで連続的に処理することができる。すなわち、同一の
処理シーケンスの被処理体が二つ連続して処理に供され
る場合でも、待ち時間が生じることがない。
【0072】同様にして、同一の処理液を三つ以上の処
理ユニットに配置すれば、同一処理シーケンスの被処理
体が三つ以上続けて搬入されてきた場合でも、これらの
被処理体を連続的に処理することができる。ただし、同
一の処理液を二つの処理ユニットに配置した場合でも、
第3番目の被処理体を処理する段階では、第1番目の被
処理体の処理が相当量進んでいるので、第3番目の被処
理体の待ち時間を十分短縮することができる。したがっ
て、被処理体の洗浄能率の向上を図ることができる。
【0073】(2)請求項2、3又は8記載の発明によ
れば、先に処理される被処理体を処理する処理ユニット
が後に処理される被処理体の処理も連続的に可能になる
ように、複数の処理ユニットの中から選択されるように
なっているので、例えば処理液Aを備えた第1の処理ユ
ニットと、処理液A及び処理液Bを備えた第3の処理ユ
ニットが空いている場合に、処理液Aのみで処理する先
に処理される被処理体は後に処理される被処理体の処理
シーケンスを考慮して、第1及び第3のいずれかの処理
ユニットを選択することになる。すなわち、後に処理さ
れる被処理体が処理液Bのみで処理する処理シーケンス
のものや、処理液A、Bで処理する処理シーケンスのも
のであれば、先に処理される被処理体は第1の処理ユニ
ットを選択することによって、後に処理される被処理体
が第3の処理ユニットで処理できるようになる。したが
って、先に処理される被処理体の処理によって、後に処
理される被処理体の処理が妨げられることが少なくなる
ので、被処理体の洗浄能率を更に向上させることができ
る。
【0074】(3)請求項4又は5記載の発明によれ
ば、先に処理される被処理体の処理シーケンスと後に処
理される被処理体の処理シーケンスとを比較し、処理ス
テップ数が多い方又は使用する処理液種類の数が多い方
の処理ユニットを選択した後に、処理ステップ数が少な
い方又は使用する処理液種類の数が少ない方の処理ユニ
ットが選択されるようになっているので、全体の処理時
間の短縮を図ることができると共に、制御の単純化を図
ることができる。
【0075】(4)請求項6又は9記載の発明によれ
ば、各処理ユニットで処理した後の被処理体に付着した
処理液を順次洗浄液で洗浄した後、乾燥するようになっ
ているので、続けて他の処理液で処理する場合でも、先
の処理に供される処理液による弊害が生じることがな
い。
【0076】(5)請求項10記載の発明によれば、洗
浄・乾燥処理ユニットを所定の数の処理ユニットに対し
て一つ設けたのみであるが、洗浄・乾燥処理の時間が処
理液による処理時間に比べて短くて済むので、洗浄・乾
燥処理のために待ち時間が生じることがない。しかも、
洗浄・乾燥処理ユニットを複数の処理ユニットに対して
一つ設けているので、洗浄・乾燥処理ユニットのための
設置スペースを低減することができると共に、装置の小
型化を図ることができる。
【0077】(6)請求項11記載の発明によれば、各
処理ユニットの槽が処理液の交換可能な一つのもので構
成されているので、例えば処理液A及び処理液Bを用意
しておくだけで、2種類の処理液による処理を一つの槽
で順次行うことができる。したがって、各処理ユニット
の設置スペースの低減を図ることができる。
【0078】(7)請求項12記載の発明によれば、洗
浄液が一つの槽に対して交換可能になっているので、処
理液を排出した後に洗浄液を供給することによって、処
理液による処理と、洗浄液による洗浄を一つの槽で連続
的に行うことができる。したがって、被処理体の洗浄能
率の向上を図ることができる。また、一つの槽に対して
洗浄液を供給可能に構成しておくだけでよいので、洗浄
ユニットを別途設ける場合に比べて設置スペースの低減
及びコストの低減を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の第1実施形態として示した洗浄処理
装置を適用した洗浄処理システムの概略平面図である。
【図2】同洗浄処理装置の概略断面図である。
【図3】この発明の第2実施形態として示した洗浄処理
装置の概略平面図である。
【図4】同洗浄処理装置の概略断面図である。
【図5】同洗浄処理装置の他の例を示す説明図である。
【符号の説明】
11a、11b、11c、11d 処理ユニット 13 洗浄・乾燥処理ユニット 30 処理槽(槽) 40 CPU(制御手段) A、B、C 薬液 R リンス液(洗浄液) W ウエハ(被処理体)

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数種類の処理液にて被処理体を処理す
    る処理ユニットを複数用意しておくと共に、複数の処理
    ユニットのうちの少なくとも二つの処理ユニットに同一
    種類の処理液を供給可能にし、 個々に処理シーケンスが決められた被処理体を連続して
    複数の処理ユニットに投入して処理するに当たって、 後に処理される被処理体の処理シーケンスを確認した
    後、先に処理される被処理体の処理シーケンスに基づい
    て被処理体が搬送される複数の処理ユニットが選択され
    るようにしたことを特徴とする洗浄処理方法。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の洗浄処理方法において、 後に処理される被処理体の処理シーケンスを確認して、
    この処理シーケンスに基づいて被処理体が搬送される複
    数の処理ユニットを選択した後、この選択された複数の
    処理ユニット以外の処理ユニットから先に処理される被
    処理体の処理シーケンスに基づいた複数の処理ユニット
    が選択されるようになっていることを特徴とする洗浄処
    理方法。
  3. 【請求項3】 請求項1記載の洗浄処理方法において、 後に処理される被処理体の処理シーケンスを確認して、
    この処理シーケンスに基づいて被処理体全体の処理時間
    が短くなるように、後に処理される被処理体が搬送され
    る処理ユニットを選択した後、選択された処理ユニット
    以外の処理ユニットから先に処理される被処理体が搬送
    される処理ユニットが選択されるようになっていること
    を特徴とする洗浄処理方法。
  4. 【請求項4】 請求項1記載の洗浄処理方法において、 先に処理される被処理体の処理シーケンスと後に処理さ
    れる被処理体の処理シーケンスとを比較し、処理ステッ
    プ数が多い方の被処理体が搬送される処理ユニットを選
    択した後に、処理ステップ数が少ない方の被処理体が搬
    送される処理ユニットが選択されるようになっているこ
    とを特徴とする洗浄処理方法。
  5. 【請求項5】 請求項1記載の洗浄処理方法において、 先に処理される被処理体の処理シーケンスと後に処理さ
    れる被処理体の処理シーケンスとを比較し、使用する処
    理液種類の数が多い方の被処理体が搬送される処理ユニ
    ットを選択した後に、使用する処理液種類の数が少ない
    方の被処理体が搬送される処理ユニットが選択されるよ
    うになっていることを特徴とする洗浄処理方法。
  6. 【請求項6】 請求項1ないし5のいずかに記載の洗浄
    処理方法において、 処理した後の被処理体に付着した薬液を順次洗浄液で洗
    浄した後、乾燥するようになっていることを特徴とする
    洗浄処理方法。
  7. 【請求項7】 複数種類の薬液を備えた処理液にて被処
    理体を処理する処理ユニットを複数設置し、複数の処理
    ユニットのうちの少なくとも二つの処理ユニットに同一
    種類の処理液を供給可能に構成してなり、 個々の処理シーケンスが決められた被処理体を順次処理
    するに当たって、各被処理体を、目的とする処理液を有
    する処理ユニットに順次搬送する制御手段を備えている
    ことを特徴とする洗浄処理装置。
  8. 【請求項8】 請求項7記載の洗浄処理装置において、 制御手段は、先に処理される被処理体の処理シーケンス
    と、後に処理される各被処理体の処理シーケンスとを比
    較して、後に処理される被処理体の処理も連続的に可能
    になるように、先に処理される被処理体を処理する処理
    ユニットを決定するようになっていることを特徴とする
    洗浄処理装置。
  9. 【請求項9】 請求項7又は8記載の洗浄処理装置にお
    いて、 各処理ユニットで処理した後の被処理体に付着した処理
    液を順次洗浄液で洗浄してから乾燥する洗浄・乾燥処理
    ユニットを備えていることを特徴とする洗浄処理装置。
  10. 【請求項10】 請求項9記載の洗浄処理装置におい
    て、 洗浄・乾燥処理ユニットは、所定の数の処理ユニットに
    対して一つ設けられていることを特徴とする洗浄処理装
    置。
  11. 【請求項11】 請求項7ないし10のいずれかに記載
    の洗浄処理装置において、 各処理ユニットは、被処理体を処理する一つの槽に対し
    て、処理液が交換可能になっていることを特徴とする洗
    浄処理装置。
  12. 【請求項12】 請求項11記載の洗浄処理装置におい
    て、 各処理ユニットは、被処理体に付着した処理液を洗浄す
    るための洗浄液が一つの槽に対して交換可能になってい
    ることを特徴とする洗浄処理装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007077992A1 (ja) * 2006-01-06 2007-07-12 Tokyo Electron Limited 被処理体搬送器の洗浄・乾燥処理方法、及び洗浄・乾燥処理装置、並びに記憶媒体
JP2011165694A (ja) * 2010-02-04 2011-08-25 Sumco Corp ウェーハの超音波洗浄方法および超音波洗浄装置
US8790469B2 (en) 2008-12-26 2014-07-29 Tokyo Electron Limited Treating apparatus, treating method and recording medium
CN113198784A (zh) * 2021-05-12 2021-08-03 东软威特曼生物科技(沈阳)有限公司 探针清洗装置及医疗仪器
WO2022244745A1 (ja) * 2021-05-20 2022-11-24 株式会社Screenホールディングス 基板処理方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007077992A1 (ja) * 2006-01-06 2007-07-12 Tokyo Electron Limited 被処理体搬送器の洗浄・乾燥処理方法、及び洗浄・乾燥処理装置、並びに記憶媒体
US8790469B2 (en) 2008-12-26 2014-07-29 Tokyo Electron Limited Treating apparatus, treating method and recording medium
JP2011165694A (ja) * 2010-02-04 2011-08-25 Sumco Corp ウェーハの超音波洗浄方法および超音波洗浄装置
CN113198784A (zh) * 2021-05-12 2021-08-03 东软威特曼生物科技(沈阳)有限公司 探针清洗装置及医疗仪器
WO2022244745A1 (ja) * 2021-05-20 2022-11-24 株式会社Screenホールディングス 基板処理方法
TWI827036B (zh) * 2021-05-20 2023-12-21 日商斯庫林集團股份有限公司 基板處理方法

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