JP2002112964A - 眼光学特性測定装置 - Google Patents

眼光学特性測定装置

Info

Publication number
JP2002112964A
JP2002112964A JP2000309530A JP2000309530A JP2002112964A JP 2002112964 A JP2002112964 A JP 2002112964A JP 2000309530 A JP2000309530 A JP 2000309530A JP 2000309530 A JP2000309530 A JP 2000309530A JP 2002112964 A JP2002112964 A JP 2002112964A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
eye
fundus
photoelectric detector
light
examined
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2000309530A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4606560B2 (ja
Inventor
Katsuhiko Kobayashi
克彦 小林
Raku Takeuchi
楽 竹内
Masahiro Shibuya
雅博 渋谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Topcon Corp
Original Assignee
Topcon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Topcon Corp filed Critical Topcon Corp
Priority to JP2000309530A priority Critical patent/JP4606560B2/ja
Priority to US09/972,304 priority patent/US6789899B2/en
Publication of JP2002112964A publication Critical patent/JP2002112964A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4606560B2 publication Critical patent/JP4606560B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B3/00—Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
    • A61B3/10—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions
    • A61B3/12—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions for looking at the eye fundus, e.g. ophthalmoscopes

Landscapes

  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Ophthalmology & Optometry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Heart & Thoracic Surgery (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Surgery (AREA)
  • Animal Behavior & Ethology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Veterinary Medicine (AREA)
  • Eye Examination Apparatus (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】被検眼の眼底での散乱反射により生じる劣化状
態を定量的に測定できる眼光学特性測定装置を提供す
る。 【解決手段】被検眼眼底に第１次指標像を投影する為の
投影系２と、第１次指標像の反射光束から光電検出器２
１上に第２次指標像を形成する為の受光系３と、前記光
電検出器からの信号に基づき第２次指標像の光量強度分
布特性を測定する為の検出系２６，２７，２８と、前記
受光系と前記検出系の共通光路内に配置され被検眼の眼
屈折特性に対応して矯正された状態で被検眼眼底に第１
次指標像を合焦させる為の矯正光学系１２と、被検眼眼
底からの散乱反射光束を含む反射光束を光電検出器上に
導く為の第１の状態と被検眼眼底からの全反射光束のみ
を光電検出器上に導く為の第２の状態とに切換える為の
光束切換手段１３とを具備し、前記矯正光学系により矯
正された状態での前記光電検出器からの信号に基づき、
前記光束切換手段で選択した２つの光束で形成されるそ
れぞれの第２次指標像の光量強度分布特性を測定し得る
様に構成した。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は被検眼の眼底上に投
影された指標像の光量強度分布を測定して眼球光学系の
光学特性を測定する為の眼光学特性測定装置に関するも
のである。
【０００２】
【従来の技術】従来、被検眼眼底にピンホール像等の指
標像を投影し、その反射光束から光電検出器上に指標像
を形成し、その指標像の光量強度分布特性を基に、被検
眼の眼球光学系の眼光学特性を測定する眼光学特性測定
装置が知られている。
【０００３】斯かる眼光学特性測定装置に於いては、眼
底上には角膜から眼底に至る眼球光学系を透過した光束
により第１次指標像が形成され、この第１次指標像から
の反射光束は再度眼球光学系を透過して光電検出器上に
第２次指標像が形成されるもので、光電検出器からの信
号に基づき第２次指標像の２次元的な光量強度分布特性
を測定するものである。そして、この測定結果から被検
眼の眼球光学系の光学特性（ＰＳＦ）（例えば点像強度
分布関数）を演算するもので、この光学特性に基づき被
検眼眼底上で形成される指標像をシミュレーション画像
として演算・表示することができる利点がある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】前記被検眼の眼底に投
影された光束は眼底で全て反射されるわけではなく、一
部は眼底表面から表層内部に侵入し、散乱反射される現
象、所謂にじみ反射が発生する。
【０００５】前記眼底でのにじみ反射（散乱反射）によ
り生じる像の劣化の程度は、眼底の光学特性としてあら
わされるが、この眼底の光学特性を定量的に測定する装
置は提案されていない。
【０００６】従って、従来の眼光学特性測定装置では光
電検出器上の第２次指標像には眼底での散乱反射により
生じる像の劣化の影響が含まれ、前記散乱反射が、反射
光束と共に前記光電検出器２１に受光されると、第２次
指標像の光量強度分布のノイズとなり、正しい眼球光学
系の眼光学特性を求めることができない。
【０００７】本発明は、これらの従来技術の問題点を解
決するものであり、本発明の第１の目的は、被検眼の眼
底での散乱反射により生じる劣化状態を示す量、即ち、
眼底の光学特性を定量的に測定できる眼光学特性測定装
置を提供するものであり、又、得られた眼底の光学特
性、任意のピント位置での光電検出器上での第２次指標
像の光量強度分布とから、任意のピント位置で被検者が
認識するシミュレーション画像を実時間で演算・表示が
可能な装置を提供することを第２の目的とするものであ
る。
【０００８】
【課題を解決する為の手段】本発明は、被検眼眼底に第
１次指標像を投影する為の投影系と、第１次指標像の反
射光束から光電検出器上に第２次指標像を形成する為の
受光系と、前記光電検出器からの信号に基づき第２次指
標像の光量強度分布特性を測定する為の検出系と、前記
受光系と前記検出系の共通光路内に配置され被検眼の眼
屈折特性に対応して矯正された状態で被検眼眼底に第１
次指標像を合焦させる為の矯正光学系と、被検眼眼底か
らの散乱反射光束を含む反射光束を光電検出器上に導く
為の第１の状態と被検眼眼底からの全反射光束のみを光
電検出器上に導く為の第２の状態とに切換える為の光束
切換手段とを具備し、前記矯正光学系により矯正された
状態での前記光電検出器からの信号に基づき、前記光束
切換手段で選択した２つの光束で形成されるそれぞれの
第２次指標像の光量強度分布特性を測定し得る様に構成
した眼光学特性測定装置に係り、又前記２つの第２次指
標像の光量強度分布特性から眼底の光学特性を算出する
為の演算部を有する眼光学特性測定装置に係り、又予め
算出された前記眼底の光学特性と、第１の受光状態を選
択した際の第２次指標像の光量強度分布特性とから、被
検者が認識する眼底上の第１次指標像を演算により算出
する為のシミュレーション画像算出手段を有する眼光学
特性測定装置に係るものである。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ本発明の
実施の形態を説明する。
【００１０】図１に於いて、本発明の実施の形態の光学
系について説明する。
【００１１】図中、１は被検眼、２は投影光学系、３は
受光光学系を示す。
【００１２】前記投影光学系２は光源５、該光源５から
発せられた投影光束を集光する投影レンズ６、該投影レ
ンズ６の光軸上に配設されたハーフミラー７、該ハーフ
ミラー７を透過した投影光束を前記被検眼１に向け第１
の偏光方向の直線偏光成分（Ｓ直線偏光）を反射して投
影すると共にＳ直線偏光とは偏光方向が９０°異なるＰ
直線偏光を透過する偏光ビームスプリッタ８、該偏光ビ
ームスプリッタ８の投影光軸に前記偏光ビームスプリッ
タ８側から配設されたリレーレンズ９、対物レンズ１
１、該対物レンズ１１と前記被検眼１との間に配設され
球面レンズで構成される矯正光学系１２、光軸に対して
挿脱可能に設けられた１／４波長板１３、前記被検眼１
の瞳１８と略共役な位置（共役な位置を含む）に配設さ
れた開口絞り１４を有する。更に、前記ハーフミラー７
に対向して固視標１５、集光レンズ１６を有する固視標
系１７が配設されている。前記光源５、固視標１５は前
記被検眼１の眼底と共役な位置にあり、後述する様に、
前記光源５、固視標１５は眼底に結像する。尚、光源５
と投影レンズ６は一体で、後述の合焦レンズ１９と連動
して光軸方向に沿って移動可能となっている。
【００１３】前記受光光学系３は、前記偏光ビームスプ
リッタ８、該偏光ビームスプリッタ８の投影光軸に配設
された前記リレーレンズ９、対物レンズ１１、矯正光学
系１２、１／４波長板１３を前記投影光学系２と共用し
ている。
【００１４】前記偏光ビームスプリッタ８を透過する反
射光軸上には反射光軸に沿って移動可能な合焦レンズ１
９、結像レンズ２０が配設され、該結像レンズ２０は前
記被検眼１の眼底と共役な位置にある光電検出器２１上
に反射光束を結像させる。
【００１５】該光電検出器２１からの受光信号は信号処
理部２６を介して記憶部２７に記憶される。前記信号処
理部２６から前記記憶部２７へのデータの書込みは制御
部２８によって制御され、該制御部２８は前記記憶部２
７に記憶されたデータを基に所要の演算をし、又演算結
果を表示部２９に表示する。
【００１６】前記開口絞り１４について、図２（Ａ）、
図２（Ｂ）、図２（Ｃ）により説明する。
【００１７】該開口絞り１４は円形状の３枚の開口板２
３，２４，２５から構成され、前記開口板２３は中央部
に円形の遮光部２３ａを有し、周囲のリング形状部分が
透過部２３ｂとなっており、前記開口板２４は前記遮光
部２３ａと同形の透過部２４ａと前記透過部２３ｂと同
形のリング形状の遮光部２４ｂを有している。前記開口
板２５は８等分した中心角が４５°で対称位置にある２
つの小扇形状部分が透過部２５ａ，２５ａであり、残り
の２つの大扇形状部分が遮光部２５ｂ，２５ｂとなって
いる。
【００１８】前記開口板２３，２４，２５を組合わせる
ことで、図３で示されるＡ1 ，Ａ2，Ｂ1 ，Ｂ2 ，Ｃ1
，Ｃ2 ，Ｄ1 ，Ｄ2 及びＡ′1 ，Ａ′2 ，Ｂ′1 ，
Ｂ′2 ，Ｃ′1 ，Ｃ′2 ，Ｄ′1 ，Ｄ′2 の開口部が得
られる。
【００１９】例えば、前記開口板２５を図２（Ｃ）図示
の状態とし、該開口板２５に前記開口板２３を組合わせ
ることで、開口部Ａ2 ，Ａ′2 が得られ、前記開口板２
５に前記開口板２４を組合わせることで、開口部Ａ1 ，
Ａ′1 が得られる。
【００２０】更に、前記開口板２５を４５°ステップで
回転させ、各ステップで開口板２３、開口板２４を組合
わせることで、前記開口部Ａ1 ，Ａ2 ，Ｂ1 ，Ｂ2 ，Ｃ
1 ，Ｃ2 ，Ｄ1 ，Ｄ2 及びＡ′1 ，Ａ′2 ，Ｂ′1 ，
Ｂ′2 ，Ｃ′1 ，Ｃ′2 ，Ｄ′1 ，Ｄ′2 が得られる。
【００２１】以下、上記光学系の作用について説明す
る。
【００２２】前記合焦レンズ１９を基準位置とし、前記
被検眼１に前記固視標１５を注視させ、前記矯正光学系
１２により前記被検眼１の視力を矯正する。前記開口絞
り１４は光軸から外した状態とする。
【００２３】眼屈折力の矯正後、前記被検眼１に前記固
視標１５を注視させた状態で、前記投影光学系２により
投影光束が被検眼眼底に投影される。尚、前記固視標１
５に関しては、可視光が用いられ、前記投影光束につい
ては赤外光が用いられる。
【００２４】先ず、前記１／４波長板１３が光路に挿入
されている状態を説明する。
【００２５】前記光源５からの投影光束（赤外光）が前
記投影レンズ６、ハーフミラー７を透過して前記偏光ビ
ームスプリッタ８に至り、該偏光ビームスプリッタ８で
Ｓ直線偏光分が反射され、前記リレーレンズ９を経て前
記対物レンズ１１、矯正光学系１２により前記１／４波
長板１３を経て前記被検眼１の眼底に投影され、該眼底
上に第１指標像が結像される。
【００２６】Ｓ直線偏光が該１／４波長板１３を透過す
ることで、右円偏光となる。前記被検眼１の眼底で投影
光束が全反射され、全反射光束は眼底で反射されること
で左円偏光となる。更に、全反射光束が前記１／４波長
板１３を透過することで、前記Ｓ直線偏光とは偏光方向
が９０°異なるＰ直線偏光となる。
【００２７】Ｐ直線偏光は前記矯正光学系１２、対物レ
ンズ１１、リレーレンズ９により前記偏光ビームスプリ
ッタ８に導かれる。該偏光ビームスプリッタ８はＳ直線
偏光を反射し、Ｐ直線偏光を透過するので、前記全反射
光束は該偏光ビームスプリッタ８を透過し、前記合焦レ
ンズ１９、結像レンズ２０により前記光電検出器２１上
に第２次指標像として結像される。
【００２８】次に、前記被検眼１の眼底に投影された投
影光束は眼底で全て反射されるわけではなく、一部は眼
底表面から表層内部に侵入し、散乱反射される現象、所
謂にじみ反射が発生する。この散乱反射光束が、全反射
光束と共に前記光電検出器２１に受光されると、第２次
指標像の光量強度分布のノイズとなり、正確な眼球光学
系の眼光学特性が測定できない。
【００２９】斯かる散乱反射による光束の偏光状態はラ
ンダム状態である。この為、前記１／４波長板１３を透
過し、直線偏光となった場合にＰ直線偏光と合致するも
のは限られた部分に限定され、前記偏光ビームスプリッ
タ８により散乱反射光束でＰ直線偏光と合致するもの以
外は反射される。従って、被検眼１の眼底で全反射され
たＰ直線偏光分に対して散乱反射光束によるＰ直線偏光
分の比率は無視できる程度に小さくなる。
【００３０】従って、前記光電検出器２１が受光するの
は実質上散乱反射光束分が除去された全反射光束とな
る。而して、前記１／４波長板１３を投影光学系２、受
光光学系３の構成要素とすることで、正確な眼球光学系
の眼光学特性測定を可能とする。
【００３１】該光電検出器２１が受光した第２次指標像
の光量強度分布は前記被検眼１そのものの眼光学特性を
反映しており、光電検出器２１の受光状態を検出するこ
とで、眼光学特性を測定することができる。
【００３２】次に、前記１／４波長板１３が光路から退
避している状態を説明する。
【００３３】前記１／４波長板１３が除去されているの
で、眼底からの全反射光の偏光状態はＳ直線偏光のまま
であり、前記偏光ビームスプリッタ８により全て反射さ
れる。従って、前記偏光ビームスプリッタ８を透過する
のは、眼底で散乱反射された散乱光束のＰ直線偏光成分
だけである。前記光電検出器２１上には散乱光束による
第２次指標像が結像される。該光電検出器２１が受光し
た第２次指標像の光量強度分布は前記被検眼眼底と被検
眼１の眼底光学特性、眼光学特性を反映している。
【００３４】前記１／４波長板１３を挿入した状態での
光電検出器２１の受光状態と、前記１／４波長板１３を
退避させた状態の前記光電検出器２１の受光状態とに基
づき以下の手順により、眼底光学特性を測定することが
できる。
【００３５】又、前記１／４波長板１３の挿脱により、
光電検出器２１に投影される反射光束は、眼底で全反射
された全反射光束か、眼底で散乱反射した散乱反射光束
かのいずれかを選択でき、前記１／４波長板１３は光束
切替え手段として機能する。
【００３６】先ず図４（Ａ）に示す様に、前記１／４波
長板１３を光路中に挿入した場合、即ち散乱反射光束を
除去した場合に於いて、被検眼１の眼球光学系の光学特
性をＰ、眼底で全反射された全反射光束を受光した場合
の光電検出器２１上での２次元光量強度分布をＩr とす
ると、光電検出器２１で受光する全反射光束は前記被検
眼１を２度通過していることから、前記ＰとＩr との間
には
【００３７】Ｐ※Ｐ＝Ｉr ここで、※は、コンボルーション積分を意味する。又、
Ｐ、Ｉr をフーリエ変換すると、 ＦＴ（Ｐ）＝ｐ、ＦＴ（Ｉr ）＝ｉr となるので、 ｐ2 ＝ｉr （１） と表される。
【００３８】次に図４（Ｂ）に示す様に、前記１／４波
長板１３を退避させた場合、即ち反射光束が散乱反射の
みである場合に於いて、被検眼１の眼球光学系の光学特
性をＰ、眼底での散乱反射により生じる眼底の光学特性
をＲ、眼底で散乱反射された散乱反射光束を受光した場
合の光電検出器２１上での２次元光量強度分布をＩdと
すると、光電検出器２１で受光する散乱反射光束は前記
被検眼１を２度通過し、更に眼底の光学特性の影響を受
けていることから、前記ＰとＩd との間には
【００３９】Ｐ※Ｒ※Ｐ＝Ｉd ここで、Ｐ、Ｒ、Ｉd をフーリエ変換すると、 ＦＴ（Ｒ）＝ｐ、ＦＴ（Ｒ）＝ｒ、ＦＴ（Ｉd ）＝ｉd とすると、 ｐ×ｒ×ｐ＝ｐ2 ×ｒ＝ｉd （２） と表される。（１）式、（２）式から ｒ＝ｉd ／ｉr となり、更に逆フーリエ変換すると Ｒ＝ＩＦＴ（ｉd ／ｉr ） （３） となる。
【００４０】即ち、ＦＴ（Ｉr ）＝ｉr 、ＦＴ（Ｉd ）
＝ｉd （４） であるから、前記光電検出器２１上に於ける、眼底での
全反射光束による光量強度分布Ｉr 、眼底での散乱光束
よる光量強度分布Ｉd をそれぞれ測定し、前記（３）式
に基づいて眼底での散乱反射により生じる像の劣化を定
量的に示す眼底の光学特性を算出することができる。
【００４１】上記した手順で眼底の光学特性を測定する
ことができ、眼底の光学特性を考慮して眼底でのシミュ
レーション画像を演算することができる。
【００４２】前記矯正光学系１２、或は合焦レンズ１９
の調整により、任意の状態で被検眼眼底に指標像を投影
した場合の眼底上での指標像を以下の手順により、シミ
ュレーションする。
【００４３】この場合、前記光電検出器２１上に結像さ
れる指標像の光量強度を測定する場合は、前記１／４波
長板１３を退避させ散乱光束を受光する状態で行う。
尚、上記手順で求めた眼底の光学特性については変化は
ない。
【００４４】その時の眼球光学系の光学的光伝達関数を
Ｐa 、眼底での散乱反射により生じる眼底の光学的光伝
達関数をＲ、散乱反射光束で受光した場合の光電検出器
上での光量強度分布をＩa とすると、
【００４５】 Ｐa ※Ｒ※Ｐa ＝Ｉa （５） となる。ここで、前述と同様に、フーリエ変換をする。 ＦＴ（Ｐa ）＝ｐa 、ＦＴ（Ｒ）＝ｒ、ＦＴ（Ｉa ）＝
ｉa となり、更に、 ｐa2×ｒ＝ｉa となり、 ｐa ＝√（ｉa ／ｒ） （６） となる。従って、逆フーリエ変換をすると、 Ｐa ＝ＩＦＴ（√（ｉa ／ｒ）） （７） となる。
【００４６】光電検出器２１上での光量強度分布Ｉa を
測定し、前述の演算により算出したＲに基づき、その任
意の状態での光伝達関数を算出することができ、この算
出されたＰa と、実際に使用する指標の光量強度分布関
数Ｏとをコンボルーション積分をすることにより、被検
眼の眼底に投影されるイメージＩのシミュレーション画
像を下記式により演算することができる。
【００４７】 Ｉ＝Ｐa ※Ｏ （８）
【００４８】従って、シミュレーション画像を表示装置
に表示することで、任意の屈折力矯正状態、任意の合焦
状態での被検者が実際に認識している像をリアルタイム
で観察することができる。
【００４９】被検眼の眼光学特性の測定について図５を
参照して説明する。
【００５０】ＳＴＥＰ０１：前記被検眼１に前記固視標
１５を注視させた状態で、前記矯正光学系１２により、
被検眼の球面度数、乱視度数、乱視軸に対応して被検眼
の視力を矯正する。この矯正は、事前に測定した他覚式
レフラクトメータの測定結果に基づき矯正を行う方法、
或は、被検者が前記光電検出器２１からの信号に基づき
モニタに表示された指標像を観察し指標像が点像として
観察される様に矯正を行う方法等が利用できる。
【００５１】ＳＴＥＰ０２：前記開口絞り１４を外す
か、或は開口板２４を選択する。
【００５２】ＳＴＥＰ０３：１／４波長板１３を挿入し
て、眼底での全反射光束を選択する。
【００５３】ＳＴＥＰ０４：前記光電検出器２１には全
反射光束により第２次指標像が結像され、該第２次指標
像に基づく受光信号から第１の光量強度分布Ｉr が測定
される。該第１の光量強度分布Ｉr を前記記憶部２７に
記憶させる。
【００５４】ＳＴＥＰ０５：１／４波長板１３を外し
て、受光光束を反射散乱光束とする。
【００５５】ＳＴＥＰ０６：前記光電検出器２１上に形
成される第２次指標像は反射散乱光束のみにより形成さ
れる。該第２次指標像に基づく受光信号から第２の光量
強度分布Ｉd が測定され、前記記憶部２７に記憶され
る。
【００５６】ＳＴＥＰ０７：前記制御部２８に於いて、
ＳＴＥＰ０４、ＳＴＥＰ０６の測定結果より被検眼１眼
底の光学特性Ｒを算出する。該眼底光学特性Ｒが前記記
憶部２７に記憶される。
【００５７】ＳＴＥＰ０８：前記１／４波長板１３を退
避とし、散乱反射光束が選択される。
【００５８】ＳＴＥＰ０９：前記開口絞り１４で任意の
開口、合焦レンズ１９の移動による任意のピント位置、
或は、矯正光学系１２による任意の矯正状態が選択され
る。
【００５９】ＳＴＥＰ１０：前記光電検出器２１に形成
された指標像に基づく受光信号から光量強度分布Ｉa が
測定される。該光量強度分布Ｉa が前記記憶部２７に記
憶される。
【００６０】ＳＴＥＰ１１：眼底光学特性Ｒは既に求め
られているので、上記（５）式、（７）式より任意の開
口、更に任意の合焦状態での眼光学特性Ｐa が求めら
れ、更に（８）式によりシミュレーション画像を演算
し、前記表示部２９に表示し、又は前記記憶部２７に記
憶する。
【００６１】ＳＴＥＰ１１に於いて説明した様に、前記
開口絞り１４の任意の開口でリアルタイムのシミュレー
ション画像が得られる。従って、例えば前記開口板２４
を挿入した状態と、外した状態でのシミュレーション画
像を得ることで、虹彩が拡大した状態、縮小した状態で
の被検眼眼底での像を見ることができる。その他、図３
中、Ｂ2 領域、或はＤ1 領域等に限った状態でのシミュ
レーション画像についても同様に得られ、更に眼屈折力
を矯正している過程でも被検者が認識する像をリアルタ
イムで見ることができる。
【００６２】
【発明の効果】以上述べた如く本発明によれば、被検眼
眼底に第１次指標像を投影する為の投影系と、第１次指
標像の反射光束から光電検出器上に第２次指標像を形成
する為の受光系と、前記光電検出器からの信号に基づき
第２次指標像の光量強度分布特性を測定する為の検出系
と、前記受光系と前記検出系の共通光路内に配置され被
検眼の眼屈折特性に対応して矯正された状態で被検眼眼
底に第１次指標像を合焦させる為の矯正光学系と、被検
眼眼底からの散乱反射光束を含む反射光束を光電検出器
上に導く為の第１の状態と被検眼眼底からの全反射光束
のみを光電検出器上に導く為の第２の状態とに切換える
為の光束切換手段とを具備し、前記矯正光学系により矯
正された状態での前記光電検出器からの信号に基づき、
前記光束切換手段で選択した２つの光束で形成されるそ
れぞれの第２次指標像の光量強度分布特性を測定し得る
様に構成したので、被検眼の眼底での散乱反射により生
じる劣化状態を定量的に測定でき、更に散乱反射により
生じる劣化状態を定量的に測定するので、被検者が認識
する眼底上の指標像をシミュレーションでき、リアルタ
イムで観察することができるという優れた効果を発揮す
る。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態を示す光学系の概略構成図
である。
【図２】同前実施の形態に使用される開口絞りの説明図
である。
【図３】前記開口絞りにより分割される領域の状態を示
す説明図である。
【図４】（Ａ）は被検眼眼底での全反射状態を示す説明
図、（Ｂ）は被検眼眼底での散乱反射状態を示す説明図
である。
【図５】本発明の実施の形態に於ける測定についてのフ
ローチャートである。
【符号の説明】
１ 被検眼 ２ 投影光学系 ３ 受光光学系 ５ 光源 ８ 偏光ビームスプリッタ ９ リレーレンズ １１ 対物レンズ １２ 矯正光学系 １３ １／４波長板 １４ 開口絞り １７ 固視標系 １９ 合焦レンズ ２１ 光電検出器 ２７ 記憶部 ２８ 制御部 ２９ 表示部

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 被検眼眼底に第１次指標像を投影する為
    の投影系と、第１次指標像の反射光束から光電検出器上
    に第２次指標像を形成する為の受光系と、前記光電検出
    器からの信号に基づき第２次指標像の光量強度分布特性
    を測定する為の検出系と、前記受光系と前記検出系の共
    通光路内に配置され被検眼の眼屈折特性に対応して矯正
    された状態で被検眼眼底に第１次指標像を合焦させる為
    の矯正光学系と、被検眼眼底からの散乱反射光束を含む
    反射光束を光電検出器上に導く為の第１の状態と被検眼
    眼底からの全反射光束のみを光電検出器上に導く為の第
    ２の状態とに切換える為の光束切換手段とを具備し、前
    記矯正光学系により矯正された状態での前記光電検出器
    からの信号に基づき、前記光束切換手段で選択した２つ
    の光束で形成されるそれぞれの第２次指標像の光量強度
    分布特性を測定し得る様に構成したことを特徴とする眼
    光学特性測定装置。
  2. 【請求項２】 前記２つの第２次指標像の光量強度分布
    特性から眼底の光学特性を算出する為の演算部を有する
    請求項１記載の眼光学特性測定装置。
  3. 【請求項３】 予め算出された前記眼底の光学特性と、
    第１の受光状態を選択した際の第２次指標像の光量強度
    分布特性とから、被検者が認識する眼底上の第１次指標
    像を演算により算出する為のシミュレーション画像算出
    手段を有する請求項２記載の眼光学特性測定装置。
JP2000309530A 2000-10-10 2000-10-10 眼光学特性測定装置 Expired - Fee Related JP4606560B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000309530A JP4606560B2 (ja) 2000-10-10 2000-10-10 眼光学特性測定装置
US09/972,304 US6789899B2 (en) 2000-10-10 2001-10-05 Eye's optical characteristic measuring system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000309530A JP4606560B2 (ja) 2000-10-10 2000-10-10 眼光学特性測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002112964A true JP2002112964A (ja) 2002-04-16
JP4606560B2 JP4606560B2 (ja) 2011-01-05

Family

ID=18789681

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000309530A Expired - Fee Related JP4606560B2 (ja) 2000-10-10 2000-10-10 眼光学特性測定装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6789899B2 (ja)
JP (1) JP4606560B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006247234A (ja) * 2005-03-14 2006-09-21 Topcon Corp 眼光学特性測定装置
JP2009258192A (ja) * 2008-04-14 2009-11-05 Olympus Corp 走査型レーザ顕微鏡
JP2011118108A (ja) * 2009-12-02 2011-06-16 Olympus Corp レーザ共焦点顕微鏡、及び、試料表面検出方法

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013039148A (ja) * 2011-08-11 2013-02-28 Topcon Corp 眼科手術用顕微鏡
US20160227998A1 (en) * 2015-02-06 2016-08-11 Carl Zeiss Meditec, Inc. Rotating slit-scan fundus imager

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07100107A (ja) * 1993-10-04 1995-04-18 Topcon Corp 検眼方法及び装置
JPH08215149A (ja) * 1995-02-15 1996-08-27 Hoya Corp 眼光学系のシミュレーション装置
JPH08508903A (ja) * 1991-12-16 1996-09-24 ヴェー． ドレーヤー，アンドレーアス 網膜眼病診断システム
JPH08322799A (ja) * 1995-06-01 1996-12-10 Topcon Corp 眼底カメラ
JPH11304715A (ja) * 1998-04-16 1999-11-05 Lasertec Corp パターン欠陥検査装置及びレーザ顕微鏡
WO1999062397A1 (en) * 1998-06-04 1999-12-09 Laser Diagnostic Technologies, Inc. Eye examination apparatus employing polarized light probe

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06142044A (ja) * 1992-11-10 1994-05-24 Canon Inc 眼科測定装置
EP1104663A3 (en) * 1999-11-15 2005-01-19 Kabushiki Kaisha Topcon Eye aberration characteristic measuring apparatus

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08508903A (ja) * 1991-12-16 1996-09-24 ヴェー． ドレーヤー，アンドレーアス 網膜眼病診断システム
JPH07100107A (ja) * 1993-10-04 1995-04-18 Topcon Corp 検眼方法及び装置
JPH08215149A (ja) * 1995-02-15 1996-08-27 Hoya Corp 眼光学系のシミュレーション装置
JPH08322799A (ja) * 1995-06-01 1996-12-10 Topcon Corp 眼底カメラ
JPH11304715A (ja) * 1998-04-16 1999-11-05 Lasertec Corp パターン欠陥検査装置及びレーザ顕微鏡
WO1999062397A1 (en) * 1998-06-04 1999-12-09 Laser Diagnostic Technologies, Inc. Eye examination apparatus employing polarized light probe

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006247234A (ja) * 2005-03-14 2006-09-21 Topcon Corp 眼光学特性測定装置
JP4598570B2 (ja) * 2005-03-14 2010-12-15 株式会社トプコン 眼光学特性測定装置
JP2009258192A (ja) * 2008-04-14 2009-11-05 Olympus Corp 走査型レーザ顕微鏡
JP2011118108A (ja) * 2009-12-02 2011-06-16 Olympus Corp レーザ共焦点顕微鏡、及び、試料表面検出方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20020049387A1 (en) 2002-04-25
JP4606560B2 (ja) 2011-01-05
US6789899B2 (en) 2004-09-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4598261B2 (ja) 眼光学特性測定装置
CA2748282C (en) Systems and methods for measuring the shape and location of an object
US8851672B2 (en) Fundus photographing apparatus
JP2004500195A (ja) 眼科測定での使用を含む波面センサのためのダイナミックレンジ拡大技術
JP2007518505A (ja) 照準装置を備えた、トモグラフィによる眼の検査装置
JP4630126B2 (ja) 眼光学特性測定装置
JP2017213125A (ja) 眼科装置
JP7098880B2 (ja) 自覚式検眼装置及び自覚式検眼プログラム
JP4606559B2 (ja) 眼光学特性測定装置
JP4252288B2 (ja) 眼特性測定装置
JP4606560B2 (ja) 眼光学特性測定装置
JP2018038481A (ja) 自覚式検眼装置及び自覚式検眼プログラム
JP6898712B2 (ja) 眼科装置
JP3821720B2 (ja) 眼光学特性測定装置
JP2003235802A (ja) 眼光学特性測定装置
JP2004159779A (ja) 眼特性測定装置
JP3805227B2 (ja) 眼光学特性測定装置
JP7078187B2 (ja) 自覚式検眼装置及び自覚式検眼プログラム
JP2003070741A (ja) 眼光学特性測定装置
JP2001269314A (ja) 眼特性測定装置
JPH0439332B2 (ja)
JP6823409B2 (ja) 眼科装置
JP6600198B2 (ja) 光干渉計測装置
JP2019058470A (ja) 眼屈折特性測定装置及び方法
JPH0554325B2 (ja)

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070921

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100914

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100928

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20101006

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4606560

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131015

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees