JP6613103B2 - 眼科装置 - Google Patents
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Description
実施形態に係る眼科装置は、干渉光学系と、視標投影系と、制御部と、眼内距離算出部と、屈折力測定部とを含む。干渉光学系は、第1光源からの光を参照光と測定光とに分割し、測定光を被検眼に照射し、その戻り光と参照光との干渉光を生成し、生成された干渉光を検出する。視標投影系は、第1固視標及び第1固視標より視角が狭い第2固視標を被検眼に選択的に投影する。制御部は、第1固視標及び第2固視標の切り替えを行う。眼内距離算出部は、被検眼の遠点に相当する位置に第2固視標が呈示された状態において干渉光学系による干渉光の検出データに基づいて被検眼における眼内距離を求める。屈折力測定部は、第2光源からの光を被検眼に照射し、その戻り光を検出することにより被検眼の屈折力を測定する。制御部は、被検眼に第1固視標を投影した状態で屈折力測定部により得られた測定結果に基づいて上記の位置を求める。
図1及び図2に、実施形態に係る眼科装置の構成例を示す。眼科装置1000は、被検眼Eの検査を行うための光学系として、Zアライメント系1、XYアライメント系2、ケラト測定系3、視標投影系4、観察系5、レフ測定投影系6、レフ測定受光系7、及び眼内距離測定系8を含む。また、眼科装置1000は処理部9を含む。
処理部9は、眼科装置1000の各部を制御する。また、処理部9は、各種演算処理を実行可能である。処理部9はプロセッサを含む。プロセッサの機能は、例えば、CPU(Central Processing Unit)、GPU(Graphics Processing Unit)、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)、プログラマブル論理デバイス(例えば、SPLD(Simple Programmable Logic Device)、CPLD(Complex Programmable Logic Device)、FPGA(Field Programmable Gate Array))等の回路により実現される。処理部9は、例えば、記憶回路や記憶装置に格納されているプログラムを読み出し実行することで、実施形態に係る機能を実現する。
観察系5は、被検眼Eの前眼部を動画撮影する。被検眼Eの前眼部からの光(赤外光)は、対物レンズ51を通過し、ダイクロイックミラー52及び53を透過し、絞り54の開口を通過する。絞り54の開口を通過した光は、ハーフミラー55を透過し、リレーレンズ56及び57を通過し、結像レンズ58により撮像素子59(エリアセンサ)の撮像面に結像される。撮像素子59は、所定のレートで撮像及び信号出力を行う。撮像素子59の出力(映像信号)は処理部9に入力される。処理部9は、この映像信号に基づく前眼部像E’を表示部10の表示画面10aに表示させる。前眼部像E’は、例えば赤外動画像である。観察系5は、前眼部を照明するための照明光源を含んでいてもよい。
Zアライメント系1は、観察系5の光軸方向(前後方向、Z方向)におけるアライメントを行うための光(赤外光)を被検眼Eに照射する。Zアライメント光源11から出力された光は、被検眼Eの角膜Kに照射され、角膜Kにより反射され、結像レンズ12によりラインセンサ13に結像される。角膜頂点の位置が前後方向に変化すると、ラインセンサ13に対する光の投影位置が変化する。処理部9は、ラインセンサ13に対する光の投影位置に基づいて被検眼Eの角膜頂点の位置を求め、これに基づきZアライメントを実行する。
XYアライメント系2は、観察系5の光軸に直交する方向(左右方向(X方向)、上下方向(Y方向))のアライメントを行うための光(赤外光)を被検眼Eに照射する。XYアライメント系2は、ハーフミラー55により観察系5から分岐された光路に設けられたXYアライメント光源21を含む。XYアライメント光源21から出力された光は、ハーフミラー55により反射され、観察系5を通じて被検眼Eに照射される。その角膜Kによる反射光は、観察系5を通じて撮像素子59に導かれる。
ケラト測定系3は、角膜Kの形状を測定するためのリング状光束(赤外光)を角膜Kに投影する。ケラト板31は、対物レンズ51と被検眼Eとの間に配置されている。ケラト板31の背面側(対物レンズ51側)にはケラトリング光源32が設けられている。ケラトリング光源32からの光でケラト板31を照明することにより、角膜Kにリング状光束が投影される。その反射光(ケラトリング像)は撮像素子59により前眼部像とともに検出される。処理部9は、このケラトリング像を基に公知の演算を行うことで角膜形状パラメータを算出する。
視標投影系4は、固視標や自覚検査用視標等の各種視標を被検眼Eに呈示する。視標投影系4は、視角が異なる2以上の固視標を切り替えつつそれぞれの固視標を被検眼Eに投影する。視角が異なる2以上の固視標には、例えば、輝点と、輝点より視角が広い風景チャートとが含まれる。風景チャートは、遠景が描出されたチャートであり、後述のように他覚屈折測定(レフ測定)だけではなく眼内距離測定にも用いられる。光源41から出力された光(可視光)は視標チャート42に照射される。視標チャート42は、例えば透過型の液晶パネルを含み、視標を表すパターンを表示する。視標チャート42を透過した光は、結像レンズ43及びVCCレンズ44を通過し、反射ミラー45により反射され、ダイクロイックミラー53により反射され、ダイクロイックミラー52を透過し、対物レンズ51を通過して眼底Efに投影される。光源41及び視標チャート42は、一体となって光軸方向に移動可能である。
レフ測定投影系6及びレフ測定受光系7は他覚屈折測定(レフ測定)に用いられる。レフ測定投影系6は、他覚測定用のリング状光束(赤外光)を眼底Efに投影する。レフ測定受光系7は、このリング状光束の被検眼Eからの戻り光を受光する。
眼内距離測定系8は、眼球情報としての眼内距離を取得するための光干渉計測を行う。光干渉計測が行われるとき、クイックリターンミラー67が上記分岐光路から退避される。また、光干渉計測よりも前にレフ測定が実施され、光ファイバ80aの端面が眼底Efと共役となるように合焦レンズ85の位置が調整される。
眼科装置1000の情報処理系について説明する。眼科装置1000の情報処理系の機能的構成の例を図7及び図8に示す。図7は、眼科装置1000の情報処理系の機能ブロック図の一例を表したものである。図8は、図7の演算処理部120の機能ブロック図の一例を表したものである。処理部9は、制御部110と演算処理部120とを含む。また、眼科装置1000は、表示部170と、操作部180と、通信部190とを含む。
制御部110は、プロセッサを含み、眼科装置1000の各部を制御する。制御部110は、主制御部111と、記憶部112とを含む。
演算処理部120は、例えば、眼屈折力の算出、眼内距離(眼軸長、前房深度、水晶体厚、角膜厚等)の算出、IOL度数の算出、光干渉計測画像(OCT画像)の生成、光干渉計測画像の解析など、各種の演算を実行する。演算処理部120は、眼屈折力算出部121と、眼内距離算出部122と、IOL度数算出部123とを含む。眼内距離算出部122は、眼軸長算出部122Aと、前房深度算出部122Bと、水晶体厚算出部122Cと、角膜厚算出部122Dとを含む。
表示部170は、制御部110による制御を受けて情報を表示する。表示部170は表示部10を含む。操作部180は、眼科装置1000の操作や情報入力に使用される。操作部180は、各種のハードウェアキー(ジョイスティック、ボタン、スイッチなど)、及び/又は、表示部170に提示される各種のソフトウェアキー(ボタン、アイコン、メニューなど)を含む。
通信部190は、外部装置と通信する機能を持つ。通信部190は、外部装置との接続形態に応じた通信インターフェイスを備える。外部装置の例として、レンズの光学特性を測定するための眼鏡レンズ測定装置がある。眼鏡レンズ測定装置は、被検者が装用する眼鏡レンズの度数などを測定し、この測定データを眼科装置1000に入力する。また、外部装置は、任意の眼科装置、記録媒体から情報を読み取る装置(リーダ)や、記録媒体に情報を書き込む装置(ライタ)などでもよい。更に、外部装置は、病院情報システム(HIS)サーバ、DICOM(Digital Imaging and COmmunication in Medicine)サーバ、医師端末、モバイル端末、個人端末、クラウドサーバなどでもよい。
実施形態に係る眼科装置1000の動作について説明する。眼科装置1000の動作の一例を図9及び図10に示す。図9は、眼科装置1000の動作例のフロー図を表したものである。図10は、図9のS4〜S6のそれぞれの動作例のフロー図を表したものである。
図示しない顔受け部に被検者の顔が固定された状態で、検者が操作部180に対して所定の操作を行うことで、眼科装置1000は、光源41及び視標チャート42により固視標として輝点(図12参照)を被検眼Eに投影し、アライメントを実行する。具体的には、主制御部111は、Zアライメント光源11やXYアライメント光源21や光源41を点灯させる。図12に示す固視標としての輝点は、光源41及び視標チャート42により図11に示す風景チャートC1の所定位置に重ねて呈示されてもよい。処理部9は、撮像素子59の撮像面上に結像された前眼部像の撮像信号を取得し、表示部170(表示部10の表示画面10a)に前眼部像E’を表示させる。その後、図1に示す光学系が被検眼Eの検査位置に移動される。検査位置とは、被検眼Eの検査を行うことが可能な位置である。前述のアライメント(Zアライメント系1及びXYアライメント系2と観察系5とによるアライメント)を介して被検眼Eが検査位置に配置される。光学系の移動は、ユーザによる操作若しくは指示又は制御部110による指示にしたがって、制御部110によって実行される。すなわち、被検眼Eの検査位置への光学系の移動と、他覚測定を行うための準備とが行われる。
主制御部111は、光源41及び視標チャート42により固視標として輝点を被検眼Eに投影させ、ケラト測定を実行させる。すなわち、主制御部111は、ケラトリング光源32を点灯させる。ケラトリング光源32から光が出力されると、角膜Kに角膜形状測定用のリング状光束が投影される。眼屈折力算出部121は、撮像素子59によって取得された像に対して演算処理を施すことにより、角膜曲率半径を算出し、算出された角膜曲率半径から角膜屈折力、角膜乱視度及び角膜乱視軸角度を算出する。制御部110では、算出された角膜屈折力などが記憶部112に記憶される。主制御部111からの指示、又は操作部180に対するユーザの操作若しくは指示により、眼科装置1000の動作はS3に移行する。
主制御部111は、ダイクロイックミラー52により観察系5の光路から分岐された光路にクイックリターンミラー67の反射面を配置させる。主制御部111は、光源41及び視標チャート42により固視標として風景チャート(図11参照)を被検眼Eに投影させ、レフ測定を実行させる。すなわち、主制御部111は、前述のようにレフ測定のためのリング状の測定パターン光束を被検眼Eに投影させる。被検眼Eからの測定パターン光束の戻り光に基づくリング像が撮像素子74の結像面に結像される。主制御部111は、撮像素子74により検出された眼底Efからの戻り光に基づくリング像を取得できたか否かを判定する。例えば、主制御部111は、撮像素子74により検出された戻り光に基づく像のエッジの位置(画素)を検出し、像の幅(外径と内径との差)が所定値以上であるか否かを判定する、或いは強度が所定の高さ以上の点(像)に基づいてリングを形成できるか否かを判定することにより、リング像を取得できたか否かを判定する。
主制御部111は、ダイクロイックミラー52により観察系5の光路から分岐された光路からクイックリターンミラー67の反射面を退避させて、眼軸長測定を実行させる。眼軸長測定では、水晶体レンズ89が測定光LSの光路から退避されている。眼軸長測定は、図10に示すフローにしたがって行われる。制御部110では、算出された眼軸長が記憶部112に記憶される。眼科装置1000の動作はS5に移行する。
主制御部111は、前房深度測定を実行させる。前房深度測定では、水晶体レンズ89が測定光LSの光路に挿入されている。前房深度測定は、図10に示すフローにしたがって行われる。制御部110では、算出された前房深度が記憶部112に記憶される。眼科装置1000の動作はS6に移行する。
主制御部111は、水晶体厚測定を実行させる。水晶体厚測定では、水晶体レンズ89が測定光LSの光路に挿入されている。水晶体厚測定は、図10に示すフローにしたがって行われる。制御部110では、算出された水晶体厚が記憶部112に記憶される。眼科装置1000の動作はS7に移行する。
主制御部111は、角膜厚測定を実行させる。角膜厚測定では、水晶体レンズ89が測定光LSの光路から退避されている。制御部110では、算出された角膜厚が記憶部112に記憶される。角膜厚測定の詳細について後述する。眼科装置1000の動作はS8に移行する。
IOL度数算出部123は、S1〜S7で求められた角膜屈折力(ケラト値)、眼軸長測定、前房深度、水晶体厚及び角膜厚の少なくとも1つを用いてIOLの度数を求める。制御部110では、求められたIOL度数が記憶部112に記憶される。
制御部110は、例えば、操作部180に対するユーザの指示に基づき、視標チャート42を制御することにより所望の視標を表示させる。また、制御部110は、他覚測定の結果に応じた位置に光源41及び視標チャート42を移動する。被検者は、眼底Efに投影された視標に対する応答を行う。例えば、視力測定用の視標の場合には、被検者の応答により被検眼の視力値が決定される。視標の選択とそれに対する被検者の応答が、検者又は制御部110の判断により繰り返し行われる。
次に、図10に示す図9のS4における眼軸長測定のフローについて説明する。
主制御部111は、まず、眼内距離測定系8の光学系の設定を行う。具体的には、主制御部111は、干渉計光源81を点灯させ、光源41及び視標チャート42により固視標として輝点を被検眼Eに投影させる。次に、主制御部111は、角膜用参照光路に対し角膜用シャッター95を挿入させ、網膜・前房深度用参照光路から網膜・前房深度用シャッター93を退避させる。その後、主制御部111は、ダイクロイックミラー52により観察系5の光路から分岐された光路からクイックリターンミラー67の反射面を退避させる。それにより、干渉計ユニット80と被検眼Eとの間に測定光LSの光路が形成され、光干渉計測経路が開放される。
主制御部111は、事前に設定された動作モードの設定情報を参照して眼軸長測定時に風景チャートを使用するか否かを判定する。風景チャートを使用すると判定されたとき(S12:Y)、眼科装置1000の動作はS13に移行する。風景チャートを使用しないと判定されたとき(S12:N)、眼科装置1000の動作はS16に移行する。
風景チャートを使用すると判定されたとき(S12:Y)、眼科装置1000は、第1動作モードで動作する。第1動作モードでは、主制御部111は、視標チャート42を制御することにより図12に示すような輝点C2から図11に示すような風景チャートC1に切り替える。風景チャートC1は、前述の輝点より視角が広い固視標であればよく、例えば、視角が9度以上の固視標であることが望ましい。
次に、主制御部111は、所定時間が経過するまで待機する(S14:N)。それにより、輝点より調節刺激の強い風景チャートC1を用いて被検眼Eを遠点に調節させることができる。所定時間が経過したとき(S14:Y)、眼科装置1000の動作はS15に移行する。
所定時間が経過したとき(S14:Y)、主制御部111は、視標チャート42を制御することにより図12に示すような輝点C2に切り替える。輝点C2は、被検眼の中心窩が存在する領域に相当する視角を有する視標であればよく、例えば、視角が全角で3度以下の視標である。それにより、風景チャートC1より視角が狭い輝点C2を注視させることで、遠点に調節させた状態で被検眼Eの視軸を安定させることができる。なお、S15において切り替えられる輝点C2は、S13における風景チャートC1への切り替え前の輝点と異なる固視標であってもよい。
風景チャートを使用しないと判定されたとき(S12:N)、眼科装置1000は、第2動作モードで動作する。第1動作モード及び第2動作モードは、S16以降は共通である。風景チャートを使用しないと判定されたとき(S12:N)、又はS15に続いて、主制御部111は、S3のレフ測定の結果に基づいて被検眼Eの視度に応じて光源41及び視標チャート42を光軸に沿って移動させる。それにより、よりピントの合った固視標を被検眼Eに呈示することが可能になる。
続いて、主制御部111は、S11において網膜・前房深度用参照光路から退避させた網膜・前房深度用シャッター93と同様に、角膜用参照光路から角膜用シャッター95を退避させる。それにより、網膜・前房深度用シャッター93及び角膜用シャッター95の双方がそれぞれの光路から退避され、角膜頂点に相当する干渉信号と網膜に相当する干渉信号とを同時に検出することが可能になる(図6参照)。
眼軸長算出部122Aは、S17において同時に検出可能になった角膜頂点に相当する干渉信号の位置と網膜に相当する干渉信号の位置との間隔に基づいて眼軸長を算出する。以上で、眼軸長測定のフローが終了となる(エンド)。
図9のS5における前房深度測定も、S4における眼軸長測定と同様に図10に示すフローにしたがって行われる。以下では、S5における前房深度測定について、S4における眼軸長測定との相違点を中心に説明する。
図9のS6における水晶体厚測定も、S4における眼軸長測定と同様に図10に示すフローにしたがって行われる。以下では、S6における水晶体厚測定について、S4における眼軸長測定との相違点を中心に説明する。
図9のS7における角膜厚測定では、主制御部111は、干渉計光源81を点灯させ、光源41及び視標チャート42により固視標として輝点を被検眼Eに投影させる。次に、主制御部111は、角膜用参照光路から角膜用シャッター95を退避させ、網膜・前房深度用参照光路に対し網膜・前房深度用シャッター93を挿入させる。その後、主制御部111は、ダイクロイックミラー52により観察系5の光路から分岐された光路からクイックリターンミラー67の反射面を退避させる。それにより、光干渉計測経路が開放される。
実施形態に係る眼科装置1000の作用及び効果について説明する。
以上に示された実施形態は、この発明を実施するための一例に過ぎない。この発明を実施しようとする者は、この発明の要旨の範囲内において任意の変形、省略、追加等を施すことが可能である。
2 XYアライメント系
3 ケラト測定系
4 視標投影系
5 観察系
6 レフ測定投影系
7 レフ測定受光系
8 眼内距離測定系
9 処理部
80 干渉計ユニット
110 制御部
111 主制御部
122 眼内距離算出部
1000 眼科装置
Claims (6)
- 第1光源からの光を参照光と測定光とに分割し、前記測定光を被検眼に照射し、その戻り光と前記参照光との干渉光を生成し、生成された前記干渉光を検出する干渉光学系と、
第1固視標及び前記第1固視標より視角が狭い第2固視標を前記被検眼に選択的に投影する視標投影系と、
前記第1固視標及び前記第2固視標の切り替えを行う制御部と、
前記被検眼の遠点に相当する位置に前記第2固視標が呈示された状態において前記干渉光学系による前記干渉光の検出データに基づいて前記被検眼における眼内距離を求める眼内距離算出部と、
を含み、
前記制御部は、前記第1固視標を雲霧視させた後に前記第2固視標を前記位置に呈示する、眼科装置。 - 前記制御部は、前記位置に前記第1固視標を呈示した後に前記位置に前記第2固視標を呈示する
ことを特徴とする請求項1に記載の眼科装置。 - 第1光源からの光を参照光と測定光とに分割し、前記測定光を被検眼に照射し、その戻り光と前記参照光との干渉光を生成し、生成された前記干渉光を検出する干渉光学系と、
第1固視標及び前記第1固視標より視角が狭い第2固視標を前記被検眼に選択的に投影する視標投影系と、
前記第1固視標及び前記第2固視標の切り替えを行う制御部と、
前記被検眼の遠点に相当する位置に前記第2固視標が呈示された状態において前記干渉光学系による前記干渉光の検出データに基づいて前記被検眼における眼内距離を求める眼内距離算出部と、
第2光源からの光を前記被検眼に照射し、その戻り光を検出することにより前記被検眼の屈折力を測定する屈折力測定部と、
を含み、
前記制御部は、前記被検眼に前記第1固視標を投影した状態で前記屈折力測定部により得られた測定結果に基づいて前記位置を求める、眼科装置。 - 前記第2固視標は、視角が3度以下の視標である
ことを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載の眼科装置。 - 前記第2固視標は、輝点である
ことを特徴とする請求項4に記載の眼科装置。 - 前記眼内距離算出部は、水晶体厚、前房深度及び眼軸長のうち少なくとも1つを求める
ことを特徴とする請求項1〜請求項5のいずれか一項に記載の眼科装置。
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