JP6795360B2 - 眼科レンズ測定装置 - Google Patents
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Description
実施形態に係る眼科レンズ測定装置は、眼科レンズの光学特性を高精度に測定する。以下、実施形態に係る眼科レンズ測定装置の機能を有する眼科装置を例に説明する。眼科レンズには、IOL、コンタクトレンズ、角膜に載せる(onlay)レンズ、角膜に嵌め込む(inlay)レンズ、眼鏡レンズなどがある。以下では、眼科レンズがIOLである場合について説明する。
図1A及び図1Bに、実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す。図1Aは、実施形態に係る通常測定モードにおける眼科装置1000の光学系の構成例を表す。図1Bは、実施形態におけるIOL測定モードにおける眼科装置1000の光学系の構成例を表す。図1Bにおいて図1Aと同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。眼科装置1000は、被検レンズ(眼科レンズ)としてのIOLを保持するIOL測定ユニット92を、対物レンズ51を通過する光の光路に配置可能である。通常測定モードではIOL測定ユニット92が対物レンズ51を通過する光の光路から退避され(図1A)、IOL測定モードではIOL測定ユニット92が対物レンズ51を通過する光の光路に配置される(図1B)。
観察系5は、対物レンズ51と、ダイクロイックミラー52と、絞り53と、ハーフミラー54と、リレーレンズ55、56と、結像レンズ57と、撮像素子(CCD)58とを含む。撮像素子58の出力は、処理部9に入力される。処理部9は、撮像素子58から入力された信号に基づいて、表示部10に前眼部像E’を表示させる。
ケラト板31の周辺にはZアライメント系1が設けられている。前述したように、Zアライメント系1は、観察系5の光軸前後方向のアライメントに用いられる。Zアライメント系1は、Zアライメント光源11を有する。Zアライメント光源11からの光は、角膜Cに投射される。角膜Cに投射された光は、角膜Cで反射し、結像レンズ12を経由してラインセンサー13上に投射される。角膜頂点の位置が観察系5の光軸上に対し前後方向に移動するとラインセンサー13上に投射された光束の位置が変化する。この位置の変化を解析することにより、対物レンズ51に対する被検眼Eの角膜頂点の位置を計測し、その計測値に基づいてアライメントすることができる。
固視・自覚検査系4は、自発光式の液晶パネル41と、リレーレンズ42と、反射ミラー43と、ハーフミラー44と、合焦レンズ45と、リレーレンズ46と、バリアブルクロスシリンダ(以下、VCC)レンズ47と、反射ミラー48と、ダイクロイックミラー49及び52と、対物レンズ51とを含む。
レフ測定投射系6とレフ測定受光系7とによりレフ測定系が構成される。レフ測定投射系6は、干渉光学系14の光源141から出射した光に基づく測定光を被検眼Eの眼底Efに投射する機能を有する。図3に示すように光源141から出射した光は、ファイバカプラ142を経由し、コリメータレンズ61により平行光束となる。図1A(図1B)に示すように、平行光束とされた光は、合焦レンズ62、リレーレンズ63、反射ミラー64、瞳レンズ65、穴開きプリズム66の中心部を通り、当該光路に対して挿脱可能な回転機構付光束偏心プリズム67(偏心部材)により偏心され、ダイクロイックミラー49及び52で反射し、対物レンズ51を通過して被検眼Eの眼底Efに投射される。被検眼Eの瞳孔と共役な位置近傍に配置された瞳レンズ65の表面には、中心部のみ光が通るようにエッチングが施されている。偏心プリズム67の効果は、スペックルの低減や眼底Efに投射された光束に血管や疾患が掛かった場合に、反射光の光量や光量分布が変化することによる測定精度への影響を低減することにある。偏心プリズム67を回転させると、スペックルノイズが低減し、血管や疾患の測定光束への掛かり具合を平均化することができ、測定精度への影響を低減させることが可能となる。また、近傍な位置とすることで、偏心プリズム67を回転させると、被検眼Eの瞳中心に対して、光束中心は偏心するため、瞳孔内に部分的な混濁などがある場合においても平均化した結果を得ることができる。但し、瞳孔と共役位置に配置しても、上記測定精度の向上効果は得ることができるので装置の仕様に合わせて選択することができる。穴開きプリズム66と偏心プリズム67を通過した光束は偏心され、被検眼Eの眼底上の偏心した位置に投射されることになるが、後述するように眼底Efから反射した光束は、同光路の偏心プリズム67を再度透過することにより、あたかも偏心プリズム67が無い状態となり、レフ測定受光系7により撮像素子77に投射される。
干渉光学系14は、レフ測定投射系6として機能する。光源141から出射した光に基づく測定光は、同光路を通り、被検眼Eの眼底Efに投射される。眼球情報を計測する場合には、偏心プリズム67は光路から退避され、測定光束は被検眼Eの瞳中心(又は角膜頂点)を通り眼底Efに投射される。
ケラト測定を行う場合、処理部9は、ケラトリング光源32を点灯させる。角膜Cに投射された角膜形状測定用リング状光束(ケラト板31)の角膜による反射光束は、観察系5により撮像素子58に前眼部像とともに投影される。処理部9は、撮像素子58によって取得された像に対して所定の演算処理を施すことにより、角膜収差情報を算出する。角膜収差情報には、角膜形状、角膜曲率半径、角膜屈折力などがある。
レフ測定を行う場合、処理部9は、光源141を点灯させる。光源141からの光は、前述のようにファイバカプラ142を通りコリメータレンズ61にて平行光となり、レフ測定投射系6により眼底に投射される。被検眼Eが正視(=0D)の場合には、ファイバー端面(コリメータレンズ61の焦点位置)と被検眼Eの眼底Efが共役となる位置とが合焦レンズ62の基準位置となっている。この状態で眼底Efに投射された光束は、眼底Efで反射され、レフ測定受光系7を通り、途中に配置された6穴開口板74の開口部及び6角錐プリズム75にて6本の分離された光束に偏角され、撮像素子77に投影される。被検眼Eが正視であるため、撮像素子77に投影された各光束は、基準の位置(中心から全て等間隔)に投影される。
ここでは、干渉計測の例として被検眼Eの眼軸長(角膜頂点から網膜までの距離)を求める場合について図3〜図6を用いて説明する。干渉計測を行う場合、処理部9は光源141を点灯させる。光源141の点灯に同期して、角膜用シャッター157が、ビームスプリッター153と角膜用参照ミラーユニット161との間の光路に挿入され、網膜・前房深度用シャッター154が、ビームスプリッター153と網膜・前房深度用参照ミラーユニット160との間の光路から退避される。光源141からの光L0は、ファイバカプラ142により測定光LSと参照光LRとに分割される。測定光LSは、レフ測定投射系6と同光路を通り被検眼Eの眼底Efに投射される。このとき、偏心プリズム67は、光路外に退避されている。また、前述の被検眼Eの屈折力測定結果より、ファイバー端面は被検眼Eの眼底Efと共役となるように合焦レンズ62が移動されている。眼底Efで反射された光は同光路を戻りファイバー端面に投射され、ファイバカプラ142に到達する。
自覚検査を行う場合、処理部9は自発光式の液晶パネル41を駆動し、所望の視標を表示させる。また、処理部9は、他覚測定の結果に応じた位置に合焦レンズ45を移動させる。同様に、処理部9は、他覚測定で得られた被検眼Eの乱視状態(乱視度数、乱視軸角度)に基づいて、この乱視状態が矯正されるようにVCCレンズ47を制御することが可能である。乱視度数は、VCCレンズ47を構成する2つのシリンダレンズを独立に互いに逆方向に回転させることにより変更可能である。乱視軸角度は、VCCレンズ47を構成する2つのシリンダレンズを同方向に同じ角度だけ回転させることにより変更可能である。
IOL測定モードでは、IOL測定ユニット92が、対物レンズ51を通過する光の光路に配置される(図1B)。
眼科装置1000の情報処理系について説明する。眼科装置1000の情報処理系の機能的構成の例を図9及び図10に示す。情報処理系は、制御部110と、演算処理部120と、表示部170と、操作部180と、通信部190とを含む。制御部110は、演算処理部120、Zアライメント系1(Zアライメント光源11)、XYアライメント系2(XYアライメント光源21)、ケラト測定系3(ケラトリング光源32)、固視・自覚検査系4、観察系5、レフ測定投射系6(偏心プリズム67)、レフ測定受光系7、グレア光投射系8(グレア光源81)、干渉光学系14、移動機構91A、表示部170及び通信部190を制御する。処理部9は、例えば、制御部110と、演算処理部120とを含んで構成される。
制御部110は、主制御部111と、記憶部112とを有する。制御部110は、例えば、マイクロプロセッサ、RAM(Random Access Memory)、ROM(Read Only Memory)、ハードディスクドライブ等を含んで構成される。
主制御部111は、眼科装置1000の各種制御を行う。特に、主制御部111は、Zアライメント光源11、XYアライメント光源21、ケラトリング光源32、液晶パネル41、合焦レンズ45、VCCレンズ47を制御する。また、主制御部111は、合焦レンズ62、偏心プリズム67、測定ユニット73A、グレア光源81、光源141、網膜・前房深度用シャッター154、角膜用シャッター157、網膜・前房深度用参照ミラーユニット160、角膜用参照ミラーユニット161などを制御する。特に、主制御部111は、偏心プリズム67の回転、挿脱を制御する。また、主制御部111は、測定ユニット73A及び合焦レンズ62を連係して光軸方向に移動させる。それにより、レフ測定受光系7の合焦位置が変更される。また、主制御部111は、撮像素子58、77や分光器143を制御することにより、これらにより取得された信号を取り込み、演算処理部120により画像の形成等を行わせる。
記憶部112は、各種のデータを記憶する。記憶部112に記憶されるデータとしては、例えば、各種の測定結果、OCT情報の画像データ、眼底像の画像データ、被検眼情報などがある。被検眼情報は、患者IDや氏名などの被検者に関する情報や、左眼/右眼の識別情報などの被検眼に関する情報を含む。また、記憶部112には、眼科装置1000を動作させるための各種プログラムやデータが記憶されている。
表示部170は、制御部110による制御を受けて情報を表示する。表示部170は、図1Aや図1Bなどに示す表示部10を含む。
通信部190は、図示しない外部装置と通信するための機能を有する。通信部190は、例えば処理部9に設けられていてもよい。通信部190は、外部装置との通信の形態に応じた構成を有する。外部装置は、他の任意の眼科装置であってよい。また、外部装置は、記録媒体から情報を読み取る機能を有する装置(リーダ)や、記録媒体に情報を書き込む機能を有する装置(ライタ)であってよい。外部装置の他の例として、当該医療機関内にて使用されるコンピュータがある。このような院内コンピュータは、例えば、病院情報システム(Hospital Information System:HIS)サーバ、DICOM(Digital Imaging and Communications in Medicine)サーバ、医師端末などを含む。外部装置は、当該医療機関の外部にて使用されるコンピュータを含んでよい。このような院外コンピュータは、例えば、モバイル端末、個人端末、眼科装置1000のメーカ側のサーバや端末、クラウドサーバなどがある。
演算処理部120は、図10に示すように、眼屈折力算出部121と、眼内距離算出部122と、IOL算出部123と、距離特定部124と、レンズ屈折力算出部125とを含む。
実施形態に係る眼科装置1000の動作例について説明する。
まず、被検者の顔を眼科装置1000に設けられた顔受け部で固定した後、測定ヘッドが被検眼Eの検査位置に移動される。検査位置とは、アライメントズレが測定精度に影響せず被検眼Eの検査を行うことが可能な位置である。前述のアライメント(Zアライメント系1及びXYアライメント系2と観察系5とにより)を介して被検眼Eが検査位置に配置される。測定ヘッドの移動は、ユーザによる操作若しくは指示又は制御部110による指示にしたがって、制御部110によって実行される。
S1のアライメント状態が適正になったとき、眼科装置1000は、レフ測定モードに移行する。レフ測定モードへの移行は、制御部110からの指示、又は操作部180に対するユーザの操作若しくは指示により行われる。S2では、前述のようにレフ測定が行われ、眼屈折力算出部121は、屈折力値を算出する。制御部110では、算出された屈折力値などが記憶部112に記憶される。
次に、眼科装置1000は、ケラト測定モードに移行する。ケラト測定モードへの移行は、制御部110からの指示、又は操作部180に対するユーザの操作若しくは指示により行われる。ケラト測定モードに移行すると、制御部110は、ケラトリング光源32を点灯させる。ケラトリング光源32から光が出力されると、角膜Cに角膜形状測定用リング状光束光が投射される。眼屈折力算出部121は、撮像素子58によって取得された像に対して演算処理を施すことにより、角膜曲率半径を算出し、算出された角膜曲率半径から角膜屈折力、角膜乱視度及び角膜乱視軸角度を算出する。制御部110では、算出された角膜屈折力などが記憶部112に記憶される。
次に、眼科装置1000は、干渉計測モードに移行する。干渉計測モードへの移行は、制御部110からの指示、又は操作部180に対するユーザの操作若しくは指示により行われる。S4では、前述のように水晶体前面に相当する干渉信号を検出できるように網膜・前房深度用参照ミラーユニット160を移動させ、眼内距離算出部122は、角膜頂点と水晶体前面との距離を算出することにより前房深度を求める。制御部110では、算出された前房深度が記憶部112に記憶される。
次に、網膜に相当する干渉信号を検出できるように網膜・前房深度用参照ミラーユニット160を移動させ、眼内距離算出部122は、角膜頂点と網膜との距離を算出することにより眼軸長を求める。制御部110では、算出された眼軸長が記憶部112に記憶される。
IOL算出部123は、S3で求められた角膜曲率、S4で求められた前房深度、S5で求められた眼軸長などを用いた公知の計算式により屈折力を含む最適なIOLを求める。制御部110では、算出されたIOL度数が記憶部112に記憶される。以上で、眼科装置1000の動作は終了である(エンド)。
制御部110は、IOL測定ユニット92の屈折力の測定条件を受け付ける。測定条件は、操作部180に対するユーザの操作若しくは指示により設定される。例えば、制御部110は、図13に示すような設定画面を表示部10の表示画面10aに表示させ、操作部180に対するユーザの操作若しくは指示により設定された内容を測定条件として受け付ける。測定条件には、IOL測定ユニット92におけるIOL90の設置状態、IOL90の素材などがある。設置状態には、IOL90単体(すなわち、空気中)、ケース90Aに収容された状態、ケース90Aに水などの所定の液体中に浸漬保存された状態などがある。素材には、PMMA、シリコン、ユーザにより指定可能な屈折率などがある。後述のS19では、S11において指定された測定条件に対応した屈折率を用いてIOL90の屈折力値が算出される。測定条件は検者が直接指定してもよいし、検者がIOL90の製品名を選択したりケース90Aに付されたバーコードなどを読み取らせたりすることでデータベースから読み出せるようになっていてもよい。
測定条件の設定が完了すると、測定ヘッドがIOL測定ユニット92の検査位置に移動される。例えば、観察系5の撮像素子58の出力に基づいて、制御部110は、表示部10にIOL90の画像を表示させる。手動でアライメントを行う場合、ユーザは、表示画面10aに表示されたIOL90の画像とアライメントマークとの上下左右方向のずれ量が小さくなるように操作部180を操作して測定ヘッドの上下左右方向の位置調整を行う。また、ユーザは、表示画面10aに表示されたIOL90の画像のうち周縁部などのピントが合うように操作部180を操作して測定ヘッドの前後方向の位置調整を行う。自動でアライメントを行う場合、制御部110は、IOL90の画像(例えば、IOL90のレンズ部の周縁部より特定された中心位置)が撮像素子58の規定位置に合致するよう測定ヘッドを上下左右方向に移動させる。同様に、制御部110は、IOL90の画像のうち周縁部などのピントが合うように測定ヘッドを前後方向に移動させる。
S12のアライメント状態が適正になったとき、眼科装置1000は、レフ測定モードに移行する。レフ測定モードへの移行は、制御部110からの指示、又は操作部180に対するユーザの操作若しくは指示により行われる。S13では、前述のようにIOL測定ユニット92に対してレフ測定が行われる。
眼屈折力算出部121は、S13におけるレフ測定により得られた測定結果を用いてIOL測定ユニット92の屈折力値を算出する。制御部110では、算出されたIOL測定ユニット92の屈折力値が記憶部112に記憶される。
制御部110は、S13において算出された屈折力値(等価球面度)が0ディオプタを中心に±0.25ディオプタの範囲に含まれるか否かを判定する。算出された屈折力値が当該範囲に含まれると判定されたとき(S15:Y)、眼科装置1000の動作はS17に移行する。算出された屈折力値が当該範囲に含まれないと判定されたとき(S15:N)、眼科装置1000の動作はS16に移行する。
S15において、算出された屈折力値が上記の所定の範囲に含まれないと判定されたとき(S15:N)、制御部110は、移動機構91Aを制御することにより拡散反射部材91を光軸Oの方向に所定の移動量だけ移動させる。制御部110は、S13において算出された屈折力値の正負符号に対応した方向に拡散反射部材91を移動する。眼科装置1000の動作はS13に移行する。
S15において、算出された屈折力値が上記の所定の範囲に含まれると判定されたとき(S15:Y)、制御部110は、干渉光学系14によりIOL測定ユニット92に対して測定光LSを照射させ、その戻り光と参照光LRとの干渉光LCを検出させる。距離特定部124は、拡散反射部材91に相当する干渉信号の位置とIOL90に相当する干渉信号の位置とを特定し、IOLの位置(対物レンズからの距離)を特定する。
距離特定部124は、S17において特定された拡散反射部材91に相当する干渉信号の位置とIOL90の前後面に相当する干渉信号の位置との間隔を求めることにより、IOL90の位置及びIOL90と拡散反射部材91との間の距離を求める。
制御部110は、レンズ屈折力算出部125にIOL90の屈折力値を算出させる。レンズ屈折力算出部125は、S11において設定された測定条件であるケースの有無、液中への浸漬の有無、IOLの位置に応じて補正を行う。以上で、眼科装置1000の動作は終了である(エンド)。
実施形態では、レフ測定においてレフ測定受光系7により取得された測定光の戻り光の像に基づいて測定を行う場合について説明したが、実施形態に係る眼科装置の構成は、これに限定されるものではない。実施形態に係る変形例では、レフ測定においてハルトマン板及びエリアセンサーを用いて測定を行い、被検眼E又はIOL測定ユニット92の収差が測定される。以下では、実施形態の変形例に係る眼科装置について、実施形態との相違点を中心に説明する。
実施形態に係る眼科レンズ測定装置の作用及び効果について説明する。
以上に示された実施形態又はその変形例は、この発明を実施するための一例に過ぎない。この発明を実施しようとする者は、この発明の要旨の範囲内において任意の変形、省略、追加等を施すことが可能である。
6 レフ測定投射系
7 レフ測定受光系
7a 波面測定光学系
9 処理部
10、170 表示部
14 干渉光学系
51 対物レンズ
90 IOL
91 拡散反射部材
92 IOL測定ユニット
110 制御部
111 主制御部
112 記憶部
120、120a 演算処理部
121 眼屈折力算出部
121a 収差算出部
122 眼内距離算出部
123 IOL算出部
124 距離特定部
125 レンズ屈折力算出部
1000、1000a 眼科装置
Claims (11)
- 被検レンズに光を投射し、前記被検レンズを透過した光が投射された拡散反射部材からの戻り光を受光することにより光学特性測定を行う第1測定光学系と、
前記第1測定光学系の光軸方向における前記被検レンズと前記拡散反射部材との間の距離を特定する距離特定部と、
前記第1測定光学系により得られた光学特性値と前記距離特定部により特定された前記距離とに基づいて前記被検レンズの光学特性値を求める光学特性値算出部と、
前記拡散反射部材を前記光軸方向に移動する移動機構と、
を含む眼科レンズ測定装置。 - 前記第1測定光学系は、被検眼に光を投射し、前記被検眼の眼底からの戻り光を受光することにより前記被検眼の2次以上の収差の少なくとも1つの測定を行う
ことを特徴とする請求項1に記載の眼科レンズ測定装置。 - 被検眼の眼軸長、前房深度、及び角膜収差情報の少なくとも1つの測定を行う第2測定光学系を含む
ことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の眼科レンズ測定装置。 - 前記第2測定光学系は、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記測定光を前記被検レンズに投射し、前記拡散反射部材からの戻り光と前記参照光との干渉光を検出し、
前記干渉光の検出結果に基づいて前記眼軸長及び前記前房深度の少なくとも一方を求める眼内距離算出部を含む
ことを特徴とする請求項3に記載の眼科レンズ測定装置。 - 光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記測定光を前記被検レンズに投射し、前記拡散反射部材からの戻り光と前記参照光との干渉光を検出する第3測定光学系を含み、
前記距離特定部は、前記第3測定光学系による前記干渉光の検出結果に基づいて前記被検レンズの位置と前記拡散反射部材の位置とを特定することにより前記距離を求める
ことを特徴とする請求項1〜請求項4のいずれか一項に記載の眼科レンズ測定装置。 - 前記第1測定光学系により得られた光学特性値が0ディオプタを含む所定の範囲に含まれるように前記移動機構を制御する制御部を含み、
前記光学特性値算出部は、前記光学特性値が前記所定の範囲に含まれるとき、前記被検レンズの光学特性値を求める
ことを特徴とする請求項1〜請求項5のいずれか一項に記載の眼科レンズ測定装置。 - 前記光学特性値算出部は、前記被検レンズの素材の屈折率に基づいて前記被検レンズの光学特性値を求める
ことを特徴とする請求項1〜請求項6のいずれか一項に記載の眼科レンズ測定装置。 - 前記光学特性値算出部は、前記被検レンズの媒質の屈折率に基づいて前記被検レンズの光学特性値を求める
ことを特徴とする請求項1〜請求項7のいずれか一項に記載の眼科レンズ測定装置。 - 前記被検レンズは、ケースに収容され、
前記ケースは、
前記第1測定光学系により投射された光を透過する第1透過部と、
前記第1透過部及び前記被検レンズを透過した光を透過する第2透過部と、
を含み、
前記光学特性値算出部は、前記第1透過部の素材の屈折率及び前記第2透過部の素材の屈折率に基づいて前記被検レンズの光学特性値を求める
ことを特徴とする請求項1〜請求項8のいずれか一項に記載の眼科レンズ測定装置。 - 前記被検レンズは、流体とともに前記ケースに収容され、
前記光学特性値算出部は、前記流体の屈折率に基づいて前記被検レンズの光学特性値を求める
ことを特徴とする請求項9に記載の眼科レンズ測定装置。 - 前記被検レンズが装着される装着部を含み、前記拡散反射部材を保持する保持部を含み、
前記保持部は、前記被検レンズが前記第1測定光学系により投射される光の光路に配置されるように、前記光路又はその近傍に配置可能である
ことを特徴とする請求項1〜請求項10のいずれか一項に記載の眼科レンズ測定装置。
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