JP2002093949A - 集積回路パッケージの製造方法および集積回路パッケージ - Google Patents
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Abstract
Aパッケージのような集積回路パッケージを提供するこ
と。 【解決手段】 集積回路パッケージは、パッケージ内の
低い導電性レベルを露出している空洞を含む基板を持
ち、そのため、基板内に形成された貫通孔の数を減らす
ために、集積回路チップと下の導電性レベルとの間に接
続を形成することができる。その結果、追加の信号ライ
ン相互接続部を基板回路パッケージに内蔵することがで
き、および/または集積回路チップを小さくすることが
できる。このようにすれば、電気的性能を向上させるこ
とができる。基板内に複数のボンディング階層が存在す
る場合には、ワイヤ間の距離が長くなり、そのため、ワ
イヤ・ボンディング・プロセス、およびその後の封入プ
ロセスを容易に行うことができる。
Description
に関し、特に集積回路用パッケージおよびこれらのパッ
ケージの製造方法に関する。
積回路パッケージ(以後、BGAパッケージと呼ぶ)
は、集積回路チップを装着するために広く使用されてい
る。何故なら、上記BGAパッケージは、他のパッケー
ジ技術と比較した場合、いくつかの利点を持っているか
らである。BGAパッケージを使用すれば、狭い表面積
内に複数のピン構造体を装着することができる。さら
に、BGAパッケージは、衝撃による損傷を受けにく
い。何故なら、BGAパッケージの外側のターミナル
は、短くずんぐりしているからである。さらに、BGA
パッケージは、電気的性能を優れたものにするボール・
トレースを半田付けするための比較的短いボンド・パッ
ドを持つ。
る。BGAパッケージは、二重側面構造または多重層構
造にすることができる基板1と、接着剤2により基板1
の上面上に装着されている集積回路チップ3とを含む。
金属ワイヤ4が、集積回路の上面上に形成されている複
数のボンド・パッド3aと、基板1上に形成されている
ボンド・パッド7とを電気的に相互に接続している。同
様に、集積回路チップ3および金属ワイヤ4を封入する
ために、基板1の上面上に形成されている成形部分5も
設置されている。半田ボール6は、基板1の下面に取り
付けられる。ボンド・パッド7は、基板1内に形成され
ているメッキ貫通孔8により半田ボール6に接続してい
る。
回路チップ3は、ダイ・ボンディング・プロセスにより
接着剤2で基板1の上面の中央部に取り付けられる。そ
の後のワイヤ・ボンディング・プロセス中に、集積回路
3の上面上に形成されたボンド・パッド3a、および基
板1上に形成されたボンド・パッド7が、金属ワイヤ4
により相互接続される。成形プロセスを使用することに
より、集積回路3、金属ワイヤ4および基板1の上面の
一部がエポキシにより封入され、成形部分5を形成す
る。半田ボール取付けプロセス中に、半田ボール6は、
基板1の下面に取り付けられる。
は利点も持っているが欠点もある。例えば、電力リング
とアース・リングとの間に複数の層の金属化構造体と、
各内部面からなる基板1内に多数の貫通孔が形成され
る。その結果、電気的性能が低下する。何故なら、内部
電力面とアース面を通る電流用の導電路が少なくなるか
らである。従って、この問題を軽減するBGAパッケー
ジの開発が望まれている。
板は、基板内の低い導電性レベルを露出している空洞を
持ち、そのため、集積回路と下の導電性レベルとの間に
接続部を形成することができる。そのため、導電性層間
のメッキ貫通孔はそれほど重要でなくなる。その結果、
内部電力面とアース面内の導電路を必ずしもメッキ貫通
孔により形成する必要がなくなり、従来技術の場合に発
生した電気的性能低下を避けたり、幾分緩和したりする
ことができる。さらに、本発明を使用すれば、もっと多
く信号を追加することもできるし、および/または電気
的性能を向上させるために、集積回路の大きさを小さく
することもできる。複数のボンディング階層の集積回路
パッケージの場合には、ワイヤ間の距離が長くなり、そ
のため、ワイヤ・ボンディング・プロセス、およびその
後の封入プロセスを容易に行うことができる。
板は、第一の誘電層の上に形成された導電層、および上
記第一の導電層の上に形成された第二の誘電層を含む。
第二の誘電層は、第一の導電層の一部を露出している空
洞を含む。また、第一の導電層の露出部分に接続してい
る第二の誘電層の上に位置する集積回路が設置されてい
る。
は、両方とも例示としてのものであって、本発明を制限
するものではないことを理解されたい。
の詳細な説明を読めば、本発明を最もよく理解すること
ができるだろう。半導体業界の慣例により、図面の種々
の部材は正確に縮尺されていないことを強調しておきた
い。それどころか、図面を見やすくするために、種々の
部材の寸法は、任意に拡大または縮小してある。
て、類似の素子には、類似の参照番号がつけてある。図
1は、本発明の例示としての実施形態による集積回路パ
ッケージを製造するためのプロセスを示すフローチャー
トである。図2−図6を参照しながら、図1のプロセス
について説明する。
(図2)が供給される。多重層基板10の製造プロセス
は周知である。基板は、絶縁層20、22、24および
導電層30、32、34、36を含む。導電層30、3
2、34、36は、標準的な技術によりパターン形成す
ることができる。これらの層は、多重層基板10の頂部
12と底部14とを相互接続するためにパターン形成さ
れる。導電層30、32、34、36は、銅のような金
属、または他の適当な導電性材料で作ることができる。
(図3)のような貫通孔が、標準的プロセスにより多重
層基板10内に形成される。例えば、貫通孔は、多重層
基板10を機械的又は、レーザにより穴開けすることに
より形成することができる。図には二つの貫通孔40お
よび42しか示していないが、多重層基板10には多数
の貫通孔を形成することができる。
0および42および外側の導電層にメッキが行われる。
外側の導電層は、導電層32および36を含む。メッキ
・プロセスは、貫通孔を含む露出した表面上でのシード
層の形成と、その後での無電解メッキ・フラッシュおよ
び電解メッキを含む。メッキ材料としては、例えば、銅
を使用することができる。ステップ114において、導
電層32および36が、周知のプロセスによりパターン
形成される。その後で、ステップ116においては、半
田マスク46および48が導電層32および36の上に
置かれ、導電層32および36および絶縁層22の一部
を露出するためにパターン形成が行われる。
0を露出するために、絶縁層22内に空洞50(図5)
が形成される。空洞50は、ルーティング、レーザ・ミ
リング、プラズマ・エッチング、または他の空洞形成技
術により形成することができる。導電層30を露出する
ことにより、集積回路から多重層基板10の少なくとも
二つの異なるボンディング階層へのワイヤ・ボンドを直
接形成することができる。
分は、電力面、電力リングまたは電力領域を形成するこ
とができる。この場合、集積回路の複数のボンド・パッ
ドを、露出面、露出リングまたは露出領域と相互に接続
することができる。電力面の代わりに、導電層30の露
出部分はアース面を形成することができる。このように
して、電力またはアースに接続するための複数の貫通孔
の数を少なくすることもできるし、または全面的に使用
しないですますこともできる。露出した導電層30の一
部は、また、アース面、電力面または信号ライン用の接
続部のうちの一つまたはそれ以上を含む領域の組合せを
含むことができる。
ボンドすることができる材料を、導電層30、32およ
び36の露出した導電領域上に形成することができる。
導電性材料は、ニッケル上に形成された金を含むことが
できる。この場合、ニッケルは、導電層30、32およ
び36の露出部分上にメッキされ、金はニッケル上にメ
ッキされる。
する(図6)。このステップは、接着剤70による多重
層基板10への集積回路チップ75の接続を含む。ワイ
ヤ・ボンド80は、集積回路上のボンド・パッド(図示
せず)と、多重層基板10上の接続領域、および/また
はボンド・パッド30a、30b,32a、32bとの
間に形成される。接続領域は、ワイヤを直接導電層30
および32に接続することができる、ボンド・パッドの
ような領域である。さらに、集積回路チップおよびワイ
ヤ・ボンドの上にエポキシを上から成形し、半田ボール
65が、従来技術により(導電層36から形成された)
接続パッド60に接続される。
プ75は、マスク70のセグメント上に形成される(図
6および図7)。図では、アース面に接続しているワイ
ヤ・ボンドは一つであるが、集積回路75とアース面3
2aとを相互接続するために、複数のワイヤ・ボンドを
使用することができる。その結果、集積回路75をアー
スするために、多重層基板10内に複数の貫通孔を形成
する必要はなくなる。
は、電力面を形成し、集積回路チップ75に電気的に接
続することができる。図には、電力リング30aに接続
しているワイヤ・ボンドは一つしかないが、集積回路チ
ップ75と電力面30aとを相互接続するために、複数
のワイヤ・ボンドを使用することができる。その結果、
集積回路チップ75を電力面30aに相互接続するため
に、多重層基板10内に複数の貫通孔を形成する必要が
なくなる。別の方法としては、セグメント30bは電力
面を形成することができる。電力面、アース面、または
導電層の他のセグメントを、集積回路の一つ、二つ、三
つまたはそれ以上の側面に沿って連続領域として形成す
ることができるし、電力面、アース面または導電層のそ
の他のセグメントを集積回路を囲むように配置すること
もできる。
明を説明してきた。上記の例示としての実施形態は、四
つの導電層を含むが、本発明は、三つまたはそれ以上の
導電層、およびこれらの導電層を分離するための関連絶
縁層を含む基板に適用することができる。さらに、空洞
を、基板内に一つまたはそれ以上の導電層を露出してい
る基板の二つ以上の誘電層内に形成することができる。
さらに、信号ライン用の接続部、電力またはアース、ま
たはその組合せを基板の空洞内に設けることができる。
従って、添付の特許請求の範囲は、当業者であれば、本
発明の真の精神および範囲から逸脱することなしに実行
することができる他の変更および実施形態を含むものと
解釈されたい。
に使用するためのBGAパッケージのような集積回路パ
ッケージが提供される。
するための、本発明の例示としてのプロセスのフローチ
ャートである。
・グリッド・アレイ基板の略図である。
・グリッド・アレイ基板の略図である。
・グリッド・アレイ基板の略図である。
・グリッド・アレイ基板の略図である。
・グリッド・アレイ基板の略図である。
である。
の略図である。
Claims (13)
- 【請求項1】 集積回路パッケージであって、 第一の誘電層と、 前記第一の誘電層上に形成された第一の導電層と、 前記第一導電層の上に形成されていて、前記第一の導電
層の一部を露出している空洞を有する第二の誘電層と、 前記第二の誘電層の上に位置していて、前記第一導電層
の露出部分に接続している集積回路チップとを含む基板
を備える集積回路パッケージ。 - 【請求項2】 請求項1記載の集積回路パッケージにお
いて、前記第一の導電層が連続領域を含み、前記集積回
路チップがボンド・パッドを含み、前記連続領域が前記
ボンド・パッドの一つより多くと接続している集積回路
パッケージ。 - 【請求項3】 請求項2記載の集積回路パッケージにお
いて、前記連続領域が、アース面および電力面のうちの
一方である集積回路パッケージ。 - 【請求項4】 請求項2記載の集積回路パッケージにお
いて、前記連続領域が、前記集積回路チップの少なくと
も一つの側面に沿って境界を形成する集積回路パッケー
ジ。 - 【請求項5】 請求項4記載の集積回路パッケージにお
いて、前記連続領域が、前記集積回路を囲んでいる集積
回路パッケージ。 - 【請求項6】 請求項4記載の集積回路パッケージにお
いて、前記連続領域が、前記集積回路の少なくとも二つ
の側面に沿って境界を形成する集積回路パッケージ。 - 【請求項7】 請求項1記載の集積回路パッケージにお
いて、前記第一の導電層の前記露出部分が、アース面と
電力面の一方を含む集積回路パッケージ。 - 【請求項8】 請求項7記載の集積回路パッケージにお
いて、前記第一の導電層の前記露出部分が、信号ライン
用の少なくとも一つの接続部を含む集積回路パッケー
ジ。 - 【請求項9】 請求項1記載の集積回路パッケージにお
いて、前記第一の導電層の前記露出部分が、信号ライン
用の少なくとも一つの接続部を含む集積回路パッケー
ジ。 - 【請求項10】 請求項1記載の集積回路パッケージに
おいて、さらに、前記第二の誘電層の上に形成された第
二の導電層を備える集積回路パッケージ。 - 【請求項11】 集積回路パッケージであって、 第一の誘電層と、 前記第一の誘電層上に形成された第一の導電層と、 前記第一導電層の上に形成されていて、集積回路に接続
される前記第一の導電層の一部を露出している空洞を有
する第二の誘電層と、 前記第二の誘電層の上に位置していて、前記集積回路を
位置決めするための領域を有する第二の導電層とを含む
基板を備える集積回路パッケージ。 - 【請求項12】 請求項11記載の集積回路パッケージ
において、前記第一の導電層の前記露出部分が、アース
面および電力面のうちの一方を形成する集積回路パッケ
ージ。 - 【請求項13】 請求項11記載の集積回路パッケージ
において、前記第一の導電層の前記露出部分が、さら
に、信号ライン用の接続部を形成する集積回路パッケー
ジ。
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