JP2002093187A - オン抵抗自動調整回路およびサンプルホールド回路 - Google Patents

オン抵抗自動調整回路およびサンプルホールド回路

Info

Publication number
JP2002093187A
JP2002093187A JP2000275128A JP2000275128A JP2002093187A JP 2002093187 A JP2002093187 A JP 2002093187A JP 2000275128 A JP2000275128 A JP 2000275128A JP 2000275128 A JP2000275128 A JP 2000275128A JP 2002093187 A JP2002093187 A JP 2002093187A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mos transistor
resistor
resistance
transistor
reference voltage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000275128A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroaki Hayashi
博明 林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP2000275128A priority Critical patent/JP2002093187A/ja
Publication of JP2002093187A publication Critical patent/JP2002093187A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Electronic Switches (AREA)
  • Manipulation Of Pulses (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 サンプルホールド用のMOSトランジスタの
オン抵抗を一定にし、寄生ローパスフィルタの影響を少
なくし、サンプルホールドの高速化を図る。 【解決手段】 第1の電圧分割回路21は、サンプルホ
ールド用の第1のMOSトランジスタ4と同一特性(ゲ
ート幅、ゲート長が同一)の第2のMOSトランジスタ
3を分圧素子として含み第2のMOSトランジスタ3の
抵抗値の変化に応じた電圧を発生する。第2の電圧分割
回路22は、一定の参照電圧を発生する。オペアンプ5
は、第1および第2の電圧分割回路21,22の出力電
圧が一対の入力端子にそれぞれ加えられ、出力電圧が第
2のMOSトランジスタ3のゲートに負帰還入力される
とともにCMOSインバータ6を介してMOSトランジ
スタ4にゲート電圧として入力される。これによって、
MOSトランジスタ3,4のオン抵抗が一定に制御され
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体集積回路等に
使用されるMOSトランジスタのオン抵抗自動調整回
路、およびそれを用いて構成されるサンプルホールド回
路に関するものである。上記のサンプルホールド回路
は、例えば、レーザーパワーのコントロールに用いられ
る。
【0002】
【従来の技術】従来のサンプルホールド回路は、図7に
示すような回路構成で用いられる。すなわち、このサン
プルホールド回路は、サンプルホールド対象となる信号
がサンプルホールド用のNチャネル型の第1のMOSト
ランジスタ4の一端に入力される。この場合、MOSト
ランジスタはアナログスイッチとして用いているので、
非飽和領域での使用となり、入出力のいずれが高い電圧
であるかによって、一端がドレインになるかソースにな
るか異なる。第1のMOSトランジスタ4の他端には、
サンプルホールド用の容量16の一端が接続され、容量
16の他端は、グラウンドに接続されている。
【0003】CMOSインバータ6は、直列接続された
Pチャネル型のMOSトランジスタ6AとNチャネル型
のMOSトランジスタ6Bとからなり、一端(MOSト
ランジスタ6Aのソース)は第1基準電圧源1に接続さ
れ、他端(MOSトランジスタ6Bのソース)はグラウ
ンドに接続されている。また、このCMOSインバータ
6は、入力端子(MOSトランジスタ6A,6Bのゲー
ト)が制御端子15に接続され、出力端子(MOSトラ
ンジスタ6A,6Bのドレイン)が第1のMOSトラン
ジスタ4のゲートに接続されている。
【0004】そして、制御信号入力端子15より入力さ
れる制御信号に応じて第1のMOSトランジスタ4の導
通・遮断を切り替えることにより、サンプル期間とホー
ルド期間とを切り替える。具体的には、上記の制御信号
がローレベルのときは、CMOSインバータ6の出力信
号がハイレベルとなって、第1のMOSトランジスタ4
が導通する。この期間がサンプル期間である。
【0005】一方、上記の制御信号がハイレベルのとき
は、CMOSインバータ6の出力信号がローレベルとな
って、第1のMOSトランジスタ4が遮断する。この期
間がホールド期間である。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の技術では、
半導体拡散工程時の拡散ばらつき、および、温度変動に
よる特性変動により、MOSトランジスタ4のオン抵抗
のばらつきが大きい。そのため、容量16とMOSトラ
ンジスタ4のオン抵抗とにより構成される寄生LPFの
カットオフ周波数の変動が大きい。特にオン抵抗が高く
なり寄生ローパスフィルタの時定数が大きくなってカッ
トオフ周波数が低くなる方向に変動した場合に、サンプ
ル波形が鈍ることになる。鈍ったサンプル波形でも正確
にサンプリングを行うには、サンプル期間を長くする必
要がある。つまり、寄生ローパスフィルタの影響を受け
ることによって、サンプルホールド回路の高速化が困難
であった。
【0007】したがって、本発明の第1の目的は、上記
従来の課題を解決するものであり、拡散ばらつき、特性
の温度変動によらず、常にMOSトランジスタのオン抵
抗を一定に保つことができるオン抵抗自動調整回路を提
供することである。
【0008】また、本発明の他の目的は、MOSトラン
ジスタのオン抵抗を低い値で一定に保つことができて寄
生ローパスフィルタの時定数を小さくでき、寄生ローパ
スフィルタによる影響を受けずサンプルホールドの高速
化を実現できるサンプルホールド回路を提供することで
ある。
【0009】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明の回路においては、オン抵抗の調整対象の第
1のMOSトランジスタと同一特性(例えばゲート長、
ゲート幅がそれぞれ同じ、あるいはゲート長とゲート幅
の比が同じ)の第2のMOSトランジスタを設け、この
第2のMOSトランジスタのオン抵抗の変動に伴う電圧
変動を電圧分割回路とオペアンプとで検出し、それを第
2のMOSトランジスタのゲートに負帰還入力するとと
もに、第1のMOSトランジスタのゲートに入力するこ
とで、第2のMOSトランジスタのオン抵抗が一定とな
るように自動調整し、これに伴って第1のMOSトラン
ジスタのオン抵抗も一定にするという構成を採用してい
る。なお、電圧分割回路には、MOSトランジスタと比
較して、拡散ばらつき、および温度変動による特性変動
の少ない抵抗を電圧分圧素子として用いることにより、
MOSトランジスタのオン抵抗を精度よく一定に調整す
ることができる。
【0010】また、オン抵抗自動調整回路を利用したサ
ンプルホールド回路も、サンプルホールド用の第1のM
OSトランジスタのオン抵抗が一定に調整され、オン抵
抗を小さい状態に維持できるので、寄生ローパスフィル
タの時定数を小さくでき、したがって寄生ローパスフィ
ルタの影響を受けず、サンプルホールドの高速化を実現
できる。
【0011】以下、請求項毎に説明する。
【0012】本発明の請求項1記載のオン抵抗自動調整
回路は、オン抵抗の調整対象の第1のMOSトランジス
タと、第1および第2の電圧分割回路と、オペアンプと
を備えている。第1の電圧分割回路は、第1のMOSト
ランジスタと同一特性の第2のMOSトランジスタを分
圧素子として含み第2のMOSトランジスタのオン抵抗
の変化に応じた電圧を発生する。第2の電圧分割回路
は、一定の参照電圧を発生する。オペアンプは、第1お
よび第2の電圧分割回路の出力電圧が一対の入力端子に
それぞれ加えられ出力電圧が第2のMOSトランジスタ
のゲートに負帰還入力されるとともに第1のMOSトラ
ンジスタのゲートヘ入力される。
【0013】この構成によれば、第2のMOSトランジ
スタのオン抵抗の変動に伴う電圧変動を第1および第2
の電圧分割回路とオペアンプとで検出し、それを第2の
MOSトランジスタのゲートに負帰還入力するととも
に、第1のMOSトランジスタのゲートに入力すること
で、第2のMOSトランジスタのオン抵抗が一定となる
ように自動調整される。これに伴って第1のMOSトラ
ンジスタのオン抵抗も一定になる。その結果、拡散ばら
つき、特性の温度変動によらず、常に第1のMOSトラ
ンジスタのオン抵抗を一定に保つことができる。
【0014】本発明の請求項2記載のオン抵抗自動調整
回路は、オン抵抗の調整対象の第1のMOSトランジス
タと、第1基準電圧源および第2基準電圧源と、第1基
準電圧源に一端がそれぞれ接続された第1および第2の
抵抗と、第1のMOSトランジスタと同一特性で第1の
抵抗の他端に一端が接続された第2のMOSトランジス
タと、第2のMOSトランジスタの他端に一端が接続さ
れ第2基準電圧源に他端が接続された第3の抵抗と、第
2の抵抗の他端に一端が接続され第2基準電圧源に他端
が接続された第4の抵抗と、第1の抵抗と第2のMOS
トランジスタとの接続点に反転入力端子が接続されると
ともに第2の抵抗と第4の抵抗との接続点に非反転入力
端子が接続され出力端子が第2のMOSトランジスタの
ゲートに負帰還接続されるとともに第1のMOSトラン
ジスタのゲートに接続されたオペアンプとを備えてい
る。
【0015】この構成によれば、第1の抵抗と第2のM
OSトランジスタとの接続点の電圧と第2の抵抗と第4
の抵抗との接続点の電圧との差に応じた電圧がオペアン
プから出力され、それが第2のMOSトランジスタのゲ
ートに負帰還入力されるので、両接続点の電圧が同一に
なるように制御されることになる。その結果、第2のM
OSトランジスタのオン抵抗が一定に自動調整され、し
たがって第1のMOSトランジスタのオン抵抗も一定に
自動調整されることになる。その結果、拡散ばらつき、
特性の温度変動によらず、常に第1のMOSトランジス
タのオン抵抗を一定に保つことができる。
【0016】本発明の請求項3記載のオン抵抗自動調整
回路は、オン抵抗の調整対象の第1のMOSトランジス
タと、第1基準電圧源および第2基準電圧源と、第1基
準電圧源に一端がそれぞれ接続された第1および第2の
定電流源と、第1のMOSトランジスタと同一特性で第
1の定電流源の他端に一端が接続された第2のMOSト
ランジスタと、第2のMOSトランジスタの他端に一端
が接続され第2基準電圧源に他端が接続された第1の抵
抗と、第2の定電流源の他端に一端が接続され第2基準
電圧源に他端が接続された第2の抵抗と、第1の定電流
源と第2のMOSトランジスタとの接続点に反転入力端
子が接続されるとともに第2の定電流源と第2の抵抗と
の接続点に非反転入力端子が接続され出力端子が第2の
MOSトランジスタのゲートに負帰還接続されるととも
に第1のMOSトランジスタのゲートに接続されたオペ
アンプとを備えている。
【0017】この構成によれば、第1の定電流源と第2
のMOSトランジスタとの接続点の電圧と第2の定電流
源と第2の抵抗との接続点の電圧との差に応じた電圧が
オペアンプから出力され、それが第2のMOSトランジ
スタのゲートに負帰還入力されるので、両接続点の電圧
が同一になるように制御されることになる。その結果、
第2のMOSトランジスタのオン抵抗が一定に自動調整
され、したがって第1のMOSトランジスタのオン抵抗
も一定に自動調整されることになる。その結果、拡散ば
らつき、特性の温度変動によらず、常に第1のMOSト
ランジスタのオン抵抗を一定に保つことができる。
【0018】また、第1および第2の定電流源によっ
て、第2のMOSトランジスタおよび第1の抵抗の直列
回路および第2の抵抗に流れる電流が一定に保たれるの
で、第1基準電圧源および第2基準電圧源の電圧が変動
しても、消費電流を一定に保つことが可能となる。
【0019】本発明の請求項4記載のオン抵抗自動調整
回路は、オン抵抗の調整対象の第1のMOSトランジス
タと、第1基準電圧源および第2基準電圧源と、第1基
準電圧源に一端がそれぞれ接続されてカレントミラー回
路を構成する第1および第2のトランジスタと、第1の
MOSトランジスタと同一特性で第1のトランジスタの
他端に一端が接続された第2のMOSトランジスタと、
第2のMOSトランジスタの他端に一端が接続され第2
基準電圧源に他端が接続された第1の抵抗と、第2のト
ランジスタの他端に一端が接続され第2基準電圧源に他
端が接続された第2の抵抗と、第1のトランジスタと第
2のMOSトランジスタとの接続点に反転入力端子が接
続されるとともに第2のトランジスタと第2の抵抗との
接続点に非反転入力端子が接続され出力端子が第2のM
OSトランジスタのゲートに負帰還接続されるとともに
第1のMOSトランジスタのゲートに接続されたオペア
ンプとを備えている。
【0020】この構成によれば、第1のトランジスタと
第2のMOSトランジスタとの接続点の電圧と第2のト
ランジスタと第2の抵抗との接続点の電圧との差に応じ
た電圧がオペアンプから出力され、それが第2のMOS
トランジスタのゲートに負帰還入力されるので、両接続
点の電圧が同一になるように制御されることになる。そ
の結果、第2のMOSトランジスタのオン抵抗が一定に
自動調整され、したがって第1のMOSトランジスタの
オン抵抗も一定に自動調整されることになる。その結
果、拡散ばらつき、特性の温度変動によらず、常に第1
のMOSトランジスタのオン抵抗を一定に保つことがで
きる。
【0021】また、カレントミラー回路を構成する第1
および第2のトランジスタは、抵抗に比べてマスク設計
時の占有面積が小さいので、チップ面積の削減の効果が
得られる。
【0022】本発明の請求項5記載のオン抵抗自動調整
回路は、請求項1、請求項2、請求項3または請求項4
記載のオン抵抗自動調整回路において、第1のMOSト
ランジスタと第2のMOSトランジスタとは、ゲート長
とゲート幅の比が等しいことを特徴とする。
【0023】この構成によれば、請求項1、請求項2、
請求項3または請求項4記載のオン抵抗自動調整回路と
同様の作用効果を奏する。
【0024】本発明の請求項6記載のオン抵抗自動調整
回路は、請求項1、請求項2、請求項3または請求項4
記載のオン抵抗自動調整回路において、第1のMOSト
ランジスタと第2のMOSトランジスタとは、ゲート長
とゲート幅とがそれぞれ等しいことを特徴とする。
【0025】この構成によれば、請求項1、請求項2、
請求項3または請求項4記載のオン抵抗自動調整回路と
同様の作用効果を奏する。
【0026】本発明の請求項7記載のオン抵抗自動調整
回路は、請求項2記載のオン抵抗自動調整回路におい
て、第1および第2の抵抗の抵抗値が等しく、かつ第3
の抵抗の抵抗値および第2のMOSトランジスタの目標
抵抗値の和と第4の抵抗の抵抗値とが等しいことを特徴
とする。
【0027】この構成によれば、第2のMOSトランジ
スタのオン抵抗が第4の抵抗の抵抗値と第3の抵抗の抵
抗値の差に等しくなるように制御されることになる。そ
の他、請求項2記載のオン抵抗自動調整回路と同様の作
用効果を奏する。
【0028】本発明の請求項8記載のオン抵抗自動調整
回路は、請求項3記載のオン抵抗自動調整回路におい
て、第1および第2の定電流源の電流値が等しく、かつ
第1の抵抗の抵抗値および第2のMOSトランジスタの
目標抵抗値の和と第2の抵抗の抵抗値とが等しいことを
特徴とする。
【0029】この構成によれば、第2のMOSトランジ
スタのオン抵抗が第2の抵抗の抵抗値と第1の抵抗の抵
抗値の差に等しくなるように制御されることになる。そ
の他、請求項3記載のオン抵抗自動調整回路と同様の作
用効果を奏する。
【0030】本発明の請求項9記載のオン抵抗自動調整
回路は、請求項4記載のオン抵抗自動調整回路におい
て、第1の抵抗の抵抗値および第2のMOSトランジス
タの目標抵抗値の和と第2の抵抗の抵抗値とが等しいこ
とを特徴とする。
【0031】この構成によれば、第2のMOSトランジ
スタのオン抵抗が第2の抵抗の抵抗値と第1の抵抗の抵
抗値の差に等しくなるように制御されることになる。そ
の他、請求項4記載のオン抵抗自動調整回路と同様の作
用効果を奏する。
【0032】本発明の請求項10記載のサンプルホール
ド回路は、サンプルホールド用の第1のMOSトランジ
スタと、サンプルホールド用の容量と、CMOSインバ
ータと、第1および第2の電圧分割回路と、オペアンプ
とを備えている。
【0033】第1のMOSトランジスタは、サンプルホ
ールド対象となる信号が一端に入力されオン抵抗の調整
対象となる。容量は、第1のMOSトランジスタの他端
に一端が接続されている。CMOSインバータは、第1
のMOSトランジスタのゲートに出力端子が接続され制
御信号に応じて第1のMOSトランジスタの導通遮断を
切り替える。第1の電圧分割回路は、第1のMOSトラ
ンジスタと同一特性の第2のMOSトランジスタを分圧
素子として含み第2のMOSトランジスタのオン抵抗の
変化に応じた電圧を発生する。第2の電圧分割回路は、
一定の参照電圧を発生する。オペアンプは、第1および
第2の電圧分割回路の出力電圧が一対の入力端子にそれ
ぞれ加えられ出力電圧が第2のMOSトランジスタのゲ
ートに負帰還入力されるとともにCMOSインバータに
電源電圧として印加される。
【0034】この構成によれば、第2のMOSトランジ
スタのオン抵抗の変動に伴う電圧変動を第1および第2
の電圧分割回路とオペアンプとで検出し、それを第2の
MOSトランジスタのゲートに負帰還入力するととも
に、第1のMOSトランジスタのゲートに入力すること
で、第2のMOSトランジスタのオン抵抗が一定となる
ように自動調整される。これに伴って第1のMOSトラ
ンジスタのオン抵抗も一定になる。その結果、拡散ばら
つき、特性の温度変動によらず、常に第1のMOSトラ
ンジスタのオン抵抗を低い値で一定に保つことができ
る。したがって、第1のMOSトランジスタのオン抵抗
と容量とで形成される寄生ローパスフィルタの時定数が
小さいので、寄生ローパスフィルタによる影響を受けず
サンプルホールドの高速化を実現できる。
【0035】本発明の請求項11記載のサンプルホール
ド回路は、サンプルホールド対象となる信号が一端に入
力されオン抵抗の調整対象となるサンプルホールド用の
第1のMOSトランジスタと、第1のMOSトランジス
タの他端に一端が接続されたサンプルホールド用の容量
と、第1のMOSトランジスタのゲートに出力端子が接
続され制御信号に応じて第1のMOSトランジスタの導
通遮断を切り替えるCMOSインバータと、第1基準電
圧源および第2基準電圧源と、第1基準電圧源に一端が
それぞれ接続された第1および第2の抵抗と、第1のM
OSトランジスタと同一特性で第1の抵抗の他端に一端
が接続された第2のMOSトランジスタと、第2のMO
Sトランジスタの他端に一端が接続され第2基準電圧源
に他端が接続された第3の抵抗と、第2の抵抗の他端に
一端が接続され第2基準電圧源に他端が接続された第4
の抵抗と、第1の抵抗と第2のMOSトランジスタとの
接続点に反転入力端子が接続されるとともに第2の抵抗
と第4の抵抗との接続点に非反転入力端子が接続され出
力端子が第2のMOSトランジスタのゲートに負帰還接
続されるとともにCMOSインバータの電源端子に接続
されたオペアンプとを備えている。
【0036】この構成によれば、第1の抵抗と第2のM
OSトランジスタとの接続点の電圧と第2の抵抗と第4
の抵抗との接続点の電圧との差に応じた電圧がオペアン
プから出力され、それが第2のMOSトランジスタのゲ
ートに負帰還入力されるので、両接続点の電圧が同一に
なるように制御されることになる。その結果、第2のM
OSトランジスタのオン抵抗が一定に自動調整され、し
たがって第1のMOSトランジスタのオン抵抗も一定に
自動調整されることになる。その結果、拡散ばらつき、
特性の温度変動によらず、常に第1のMOSトランジス
タのオン抵抗を低い値で一定に保つことができる。した
がって、第1のMOSトランジスタのオン抵抗と容量と
で形成される寄生ローパスフィルタの時定数が小さいの
で、寄生ローパスフィルタによる影響を受けずサンプル
ホールドの高速化を実現できる。
【0037】本発明の請求項12記載のサンプルホール
ド回路は、サンプルホールド対象となる信号が一端に入
力されオン抵抗の調整対象となるサンプルホールド用の
第1のMOSトランジスタと、第1のMOSトランジス
タの他端に一端が接続されたサンプルホールド用の容量
と、第1のMOSトランジスタのゲートに出力端子が接
続され制御信号に応じて第1のMOSトランジスタの導
通遮断を切り替えるCMOSインバータと、第1基準電
圧源および第2基準電圧源と、第1基準電圧源に一端が
それぞれ接続された第1および第2の定電流源と、第1
のMOSトランジスタと同一特性で第1の定電流源の他
端に一端が接続された第2のMOSトランジスタと、第
2のMOSトランジスタの他端に一端が接続され第2基
準電圧源に他端が接続された第1の抵抗と、第2の定電
流源の他端に一端が接続され第2基準電圧源に他端が接
続された第2の抵抗と、第1の定電流源と第2のMOS
トランジスタとの接続点に反転入力端子が接続されると
ともに第2の定電流源と第2の抵抗との接続点に非反転
入力端子が接続され出力端子が第2のMOSトランジス
タのゲートに負帰還接続されるとともにCMOSインバ
ータの電源端子に接続されたオペアンプとを備えてい
る。
【0038】この構成によれば、第1の定電流源と第2
のMOSトランジスタとの接続点の電圧と第2の定電流
源と第2の抵抗との接続点の電圧との差に応じた電圧が
オペアンプから出力され、それが第2のMOSトランジ
スタのゲートに負帰還入力されるので、両接続点の電圧
が同一になるように制御されることになる。その結果、
拡散ばらつき、特性の温度変動によらず、常に第1のM
OSトランジスタのオン抵抗を低い値で一定に保つこと
ができる。したがって、第1のMOSトランジスタのオ
ン抵抗と容量とで形成される寄生ローパスフィルタの時
定数が小さいので、寄生ローパスフィルタによる影響を
受けずサンプルホールドの高速化を実現できる。
【0039】本発明の請求項13記載のサンプルホール
ド回路は、サンプルホールド対象となる信号が一端に入
力されオン抵抗の調整対象となるサンプルホールド用の
第1のMOSトランジスタと、第1のMOSトランジス
タの他端に一端が接続されたサンプルホールド用の容量
と、第1のMOSトランジスタのゲートに出力端子が接
続され制御信号に応じて第1のMOSトランジスタの導
通遮断を切り替えるCMOSインバータと、第1基準電
圧源および第2基準電圧源と、第1基準電圧源に一端が
それぞれ接続されてカレントミラー回路を構成する第1
および第2のトランジスタと、第1のMOSトランジス
タと同一特性で第1のトランジスタの他端に一端が接続
された第2のMOSトランジスタと、第2のMOSトラ
ンジスタの他端に一端が接続され第2基準電圧源に他端
が接続された第1の抵抗と、第2のトランジスタの他端
に一端が接続され第2基準電圧源に他端が接続された第
2の抵抗と、第1のトランジスタと第2のMOSトラン
ジスタとの接続点に反転入力端子が接続されるとともに
第2のトランジスタと第2の抵抗との接続点に非反転入
力端子が接続され出力端子が第2のMOSトランジスタ
のゲートに負帰還接続されるとともにCMOSインバー
タの電源端子に接続されたオペアンプとを備えている。
【0040】この構成によれば、第1のトランジスタと
第2のMOSトランジスタとの接続点の電圧と第2のト
ランジスタと第2の抵抗との接続点の電圧との差に応じ
た電圧がオペアンプから出力され、それが第2のMOS
トランジスタのゲートに負帰還入力されるので、両接続
点の電圧が同一になるように制御されることになる。そ
の結果、拡散ばらつき、特性の温度変動によらず、常に
第1のMOSトランジスタのオン抵抗を低い値で一定に
保つことができる。したがって、第1のMOSトランジ
スタのオン抵抗と容量とで形成される寄生ローパスフィ
ルタの時定数が小さいので、寄生ローパスフィルタによ
る影響を受けずサンプルホールドの高速化を実現でき
る。
【0041】本発明の請求項14記載のサンプルホール
ド回路は、請求項10、請求項11、請求項12または
請求項13記載のサンプルホールド回路において、第1
のMOSトランジスタと第2のMOSトランジスタと
は、ゲート長とゲート幅の比が等しいことを特徴とす
る。
【0042】この構成によれば、請求項10、請求項1
1、請求項12または請求項13記載のオン抵抗自動調
整回路と同様の作用効果を奏する。
【0043】本発明の請求項15記載のサンプルホール
ド回路は、請求項10、請求項11、請求項12または
請求項13記載のサンプルホールド回路において、第1
のMOSトランジスタと第2のMOSトランジスタと
は、ゲート長とゲート幅とがそれぞれ等しいことを特徴
とする。
【0044】この構成によれば、請求項10、請求項1
1、請求項12または請求項13記載のオン抵抗自動調
整回路と同様の作用効果を奏する。
【0045】本発明の請求項16記載のサンプルホール
ド回路は、請求項11記載のサンプルホールド回路にお
いて、第1および第2の抵抗の抵抗値が等しく、かつ第
3の抵抗の抵抗値および第2のMOSトランジスタの目
標抵抗値の和と第4の抵抗の抵抗値とが等しいことを特
徴とする。
【0046】この構成によれば、第2のMOSトランジ
スタのオン抵抗が第4の抵抗の抵抗値と第3の抵抗の抵
抗値の差に等しくなるように制御されることになる。そ
の他、請求項11記載のオン抵抗自動調整回路と同様の
作用効果を奏する。
【0047】本発明の請求項17記載のサンプルホール
ド回路は、請求項12記載のサンプルホールド回路にお
いて、第1および第2の定電流源の電流値が等しく、か
つ第1の抵抗の抵抗値および第2のMOSトランジスタ
の目標抵抗値の和と第2の抵抗の抵抗値とが等しいこと
を特徴とする。
【0048】この構成によれば、第2のMOSトランジ
スタのオン抵抗が第2の抵抗の抵抗値と第1の抵抗の抵
抗値の差に等しくなるように制御されることになる。そ
の他、請求項12記載のオン抵抗自動調整回路と同様の
作用効果を奏する。
【0049】本発明の請求項18記載のサンプルホール
ド回路は、請求項13記載のサンプルホールド回路にお
いて、第1の抵抗の抵抗値および第2のMOSトランジ
スタの目標抵抗値の和と第2の抵抗の抵抗値とが等しい
ことを特徴とする。
【0050】この構成によれば、第2のMOSトランジ
スタのオン抵抗が第2の抵抗の抵抗値と第1の抵抗の抵
抗値の差に等しくなるように制御されることになる。そ
の他、請求項13記載のオン抵抗自動調整回路と同様の
作用効果を奏する。
【0051】
【発明の実施の形態】〔第1の実施の形態〕図1は、本
発明の第1の実施の形態のオン抵抗自動調整回路の構成
を示す回路図である。このオン抵抗自動調整回路は、オ
ン抵抗の調整対象の第1のMOSトランジスタ4と、第
1および第2の電圧分割回路21,22と、オペアンプ
5と、例えば電源電圧VDDを有する第1基準電圧源1
と、例えば0V(グラウンド電位)を有する第2基準電
圧源2とを備えている。
【0052】第1の電圧分割回路21は、第1のMOS
トランジスタ4と同一特性の第2のMOSトランジスタ
3を分圧素子として含み、第1基準電圧源1および第2
基準電圧源2の間に接続されることで、第2のMOSト
ランジスタ3の抵抗値の変化に応じた電圧を発生する。
【0053】第2の電圧分割回路22は、第1基準電圧
源1および第2基準電圧源2の間に接続されることで、
一定の参照電圧を発生する。
【0054】オペアンプ5は、第1および第2の電圧分
割回路21,22の出力電圧が一対の入力端子(反転入
力端子(−)および非反転入力端子(+))にそれぞれ
加えられ出力電圧が第2のMOSトランジスタ3のゲー
トに負帰還入力されるとともに第1のMOSトランジス
タ4のゲートヘ入力される。
【0055】この構成によると、第2のMOSトランジ
スタ3のオン抵抗の変動に伴う電圧変動を第1および第
2の電圧分割回路21,22とオペアンプ5とで検出
し、それを第2のMOSトランジスタ3のゲートに負帰
還入力するとともに、第1のMOSトランジスタ4のゲ
ートに入力することで、第2のMOSトランジスタ3の
オン抵抗が一定となるように自動調整される。これに伴
って第1のMOSトランジスタ4のオン抵抗も一定にな
る。その結果、拡散ばらつき、特性の温度変動によら
ず、常に第1のMOSトランジスタのオン抵抗を一定に
保つことができる。
【0056】以下、このオン抵抗自動調整回路につい
て、具体的に説明する。このオン抵抗自動調整回路は、
第1基準電圧源1に第1および第2の抵抗7,8の一端
がそれぞれ接続されている。第1の抵抗7の他端には、
オン抵抗の調整対象のNチャネル型の第1のMOSトラ
ンジスタ4と同一特性のNチャネル型の第2のMOSト
ランジスタ3の一端(ドレイン)が接続されている。第
2のMOSトランジスタ3の他端(ソース)には、第3
の抵抗9の一端が接続され、この第3の抵抗9の他端は
第2基準電圧源2に接続されている。第2の抵抗8の他
端には、第4の抵抗10の一端が接続され、この第4の
抵抗10の他端は第2基準電圧源2に接続されている。
【0057】そして、オペアンプ5は、第1の抵抗7と
第2のMOSトランジスタ3との接続点に反転入力端子
(−)が接続されるとともに第2の抵抗8と第4の抵抗
10との接続点に非反転入力端子(+)が接続され、出
力端子が第2のMOSトランジスタ3のゲートに負帰還
接続されるとともに、第1のMOSトランジスタ4のゲ
ートに接続されている。上記の抵抗7,9およびMOS
トランジスタ3が第1の電圧分割回路21を構成し、抵
抗8,10が第2の電圧分割回路22を構成している。
【0058】上記の第2のMOSトランジスタ3と第1
のMOSトランジスタ4は、同一回路基板上に同一サイ
ズで形成されており、同一の特性を有している。同一サ
イズというのは、第2のMOSトランジスタ3と第1の
MOSトランジスタ4とで、ゲート幅Wおよびゲート長
Lがそれぞれ同一であるということである。なお、ゲー
ト長とゲート幅の比が同一である場合でも同一の特性を
得ることができる。
【0059】なお、第2のMOSトランジスタ3と第1
のMOSトランジスタ4のゲート長とゲート幅の比が同
じではなく、例えば1:2のように異なる場合にも本発
明では効果が得られる。ただし、両MOSトランジスタ
は同じ種類(導電型)であることが必要である。
【0060】また、第1および第2の電圧分割回路2
1,22においては、第1および第2の抵抗7,8の抵
抗値が等しく設定され、かつ第3の抵抗9の抵抗値およ
び第2のMOSトランジスタ3の目標抵抗値の和と第4
の抵抗10の抵抗値とが等しく設定される。なお、第1
および第2の電圧分割回路21,22については、分圧
比が等しければ、特に抵抗値が同一でなくてもよい。
【0061】第1および第2のMOSトランジスタ3,
4と第1から第4までの抵抗7〜10の抵抗値を上記の
ような条件で形成すると、第1の抵抗7と第2のMOS
トランジスタ3との接続点の電圧と第2の抵抗8と第4
の抵抗10との接続点の電圧との差に応じた電圧がオペ
アンプ5から出力され、それが第2のMOSトランジス
タ3のゲートに負帰還入力されるので、両接続点の電圧
が同一になるように制御されることになる。その結果、
第2のMOSトランジスタ3のオン抵抗が一定に自動調
整され、したがって第1のMOSトランジスタ4のオン
抵抗も一定に自動調整されることになる。この場合、オ
ペアンプ5の非反転入力(+)側電圧が下がった場合、
MOSトランジスタ3のゲート電圧を上げてオン抵抗を
下げ、オペアンプ5の反転入力(−)側電圧をさげるよ
うにループが働き、負帰還がかかることになる。
【0062】すなわち、第1および第2のMOSトラン
ジスタ3,4のオン抵抗が、(抵抗10の絶対値−抵抗
9の絶対値)になるように、第1および第2のMOSト
ランジスタ3,4のゲート電圧が自動調整される。
【0063】よって、拡散ばらつき、温度変動により、
MOSトランジスタのスレッシュ電圧、キャリア移動度
等が変動したとしても、オン抵抗が(抵抗10の絶対値
−抵抗9の絶対値)で一定に保たれる。従来回路では、
MOSトランジスタ4の設計抵抗値の1/2から2倍の
範囲でばらついていたので、格段に改善されることにな
る。
【0064】なお、このオン抵抗自動調整回路は、たと
えば、スイッチトキャパシタフィルタ等のフィルタ回路
に使用される。
【0065】第1および第2の抵抗7,8は、MOSト
ランジスタによるミラー回路、もしくはバイポーラトラ
ンジスタによるミラー回路でおきかえても同様の効果が
得られる。
【0066】〔第2の実施の形態〕図2は、本発明の第
2の実施の形態のオン抵抗自動調整回路の構成を示す回
路図である。このオン抵抗自動調整回路は、図1の第1
および第2の抵抗7,8を第1および第2の定電流源1
1,12に置き換えた電圧分割回路23,24を用いた
もので、その他の構成は図1のものと同じである。上記
の第1および第2の定電流源11,12は、電流値が等
しく設定されている。抵抗9,10は、この実施の形態
では、第1および第2の抵抗となる。
【0067】このように構成すると、第2のMOSトラ
ンジスタ3のオン抵抗の変動に伴う電圧変動を第1およ
び第2の電圧分割回路23,24とオペアンプ5とで検
出し、それを第2のMOSトランジスタ3のゲートに負
帰還入力するとともに、第1のMOSトランジスタ4の
ゲートに入力することで、第2のMOSトランジスタ3
のオン抵抗が一定となるように自動調整される。
【0068】すなわち、第1および第2の定電流源1
1,12を上記のような条件に設定すると、第1の定電
流源11と第2のMOSトランジスタ3との接続点の電
圧と第2の定電流源12と第4の抵抗10との接続点の
電圧との差に応じた電圧がオペアンプ5から出力され、
それが第2のMOSトランジスタ3のゲートに負帰還入
力されるので、両接続点の電圧が同一になるように、す
なわち第2のMOSトランジスタ3のオン抵抗が第2の
抵抗10の抵抗値と第1の抵抗9の抵抗値の差に等しく
なるように制御されることになる。
【0069】これに伴って第1のMOSトランジスタ4
のオン抵抗も一定になる。その結果、拡散ばらつき、特
性の温度変動によらず、常に第1のMOSトランジスタ
のオン抵抗を一定に保つことができる。
【0070】また、第1および第2の定電流源11,1
2によって、第2のMOSトランジスタ3および第1の
抵抗9の直列回路および第2の抵抗10に流れる電流が
一定に保たれるので、第1基準電圧源1および第2基準
電圧源2の電圧が変動しても、消費電流を一定に保つこ
とが可能となる。なお、第1の実施の形態では、第1基
準電圧源1および第2基準電圧源2の電圧が変動する
と、消費電流が変化した。
【0071】〔第3の実施の形態〕図3は、本発明の第
3の実施の形態のオン抵抗自動調整回路の構成を示す回
路図である。このオン抵抗自動調整回路は、図1の第1
および第2の抵抗7,8を、カレントミラー回路を構成
するNチャネル型のMOSトランジスタ13,14に置
き換えた電圧分割回路25,26を用いたもので、その
他の構成は図1のものと同じである。抵抗9,10は、
この実施の形態では、第1および第2の抵抗となる。
【0072】このように構成すると、第2のMOSトラ
ンジスタ3のオン抵抗の変動に伴う電圧変動を第1およ
び第2の電圧分割回路25,26とオペアンプ5とで検
出し、それを第2のMOSトランジスタ3のゲートに負
帰還入力するとともに、第1のMOSトランジスタ4の
ゲートに入力することで、第2のMOSトランジスタ3
のオン抵抗が一定となるように自動調整される。
【0073】すなわち、抵抗7,8に代えてカレントミ
ラー回路を構成するMOSトランジスタ13,14を用
いると、MOSトランジスタ13と第2のMOSトラン
ジスタ3との接続点の電圧とMOSトランジスタ14と
第4の抵抗10との接続点の電圧との差に応じた電圧が
オペアンプ5から出力され、それが第2のMOSトラン
ジスタ3のゲートに負帰還入力されるので、両接続点の
電圧が同一になるように、すなわち第2のMOSトラン
ジスタ3のオン抵抗が第2の抵抗10の抵抗値と第1の
抵抗9の抵抗値の差に等しくなるように制御されること
になる。
【0074】これに伴って第1のMOSトランジスタ4
のオン抵抗も一定になる。その結果、拡散ばらつき、特
性の温度変動によらず、常に第1のMOSトランジスタ
のオン抵抗を一定に保つことができる。
【0075】また、カレントミラー回路を構成するMO
Sトランジスタ13,14は、抵抗に比べてマスク設計
時の占有面積が小さいので、チップ面積の削減の効果が
得られる。
【0076】〔第4の実施の形態〕図4は、本発明の第
4の実施の形態のサンプルホールド回路の構成を示す回
路図である。このサンプルホールド回路は、図7の従来
例のサンプルホールド回路において第1基準電圧源1の
電圧をCMOSインバータ6に電源電圧として加えるの
に代えて、図1に示したオン抵抗自動調整回路における
オペアンプ5の出力電圧をCMOSインバータ6に電源
電圧として加えるようにしたものであり、第1のMOS
トランジスタ4がオン抵抗の調整対象となる。
【0077】言い換えると、図1のオン抵抗自動調整回
路において、第1のMOSトランジスタ4をサンプルホ
ールド用として用い、この第1のMOSトランジスタ4
にサンプルホールド用の容量16を接続し、オペアンプ
5と第1のMOSトランジスタ4のゲートとの間に第1
のMOSトランジスタ4のオンオフを切り替えるための
CMOSインバータ6を設けたということである。
【0078】このサンプルホールド回路は、従来例同様
に、制御信号入力端子15に加える制御信号に応じて、
第1のMOSトランジスタ4の導通・遮断を切り替え、
サンプル期間とホールド期間とを切り替えることができ
る。また、第1のMOSトランジスタ4が導通している
サンプル期間におけるオン抵抗を、オペアンプ5の出力
によって一定に制御することができる。この制御の手法
は第1の実施の形態で説明したのと同じように、第1の
MOSトランジスタ4のゲート電圧の制御によって実現
している。
【0079】この実施の形態によれば、第1の実施の形
態で説明したように、第1のMOSトランジスタ4のオ
ン抵抗を一定にできるので、拡散ばらつき、特性の温度
変動によらず、常に第1のMOSトランジスタのオン抵
抗を低い値で一定に保つことができる。したがって、第
1のMOSトランジスタ4のオン抵抗と容量とで形成さ
れる寄生ローパスフィルタの時定数を小さくでき、寄生
ローパスフィルタによる影響を受けずサンプルホールド
の高速化を実現できる。
【0080】〔第5の実施の形態〕図5は、本発明の第
5の実施の形態のサンプルホールド回路の構成を示す回
路図である。このサンプルホールド回路は、図7の従来
例のサンプルホールド回路において第1基準電圧源1の
電圧をCMOSインバータ6に電源電圧として加えるの
に代えて、図2に示したオン抵抗自動調整回路における
オペアンプ5の出力電圧をCMOSインバータ6に電源
電圧として加えるようにしたものであり、第1のMOS
トランジスタ4がオン抵抗の調整対象となる。
【0081】言い換えると、図2のオン抵抗自動調整回
路において、第1のMOSトランジスタ4をサンプルホ
ールド用として用い、この第1のMOSトランジスタ4
にサンプルホールド用の容量16を接続し、オペアンプ
5と第1のMOSトランジスタ4のゲートとの間に第1
のMOSトランジスタ4のオンオフを切り替えるための
CMOSインバータ6を設けたということである。
【0082】この実施の形態によれば、第2の実施の形
態の効果と第4の実施の形態の効果を組み合わせたもの
となる。
【0083】〔第6の実施の形態〕図6は、本発明の第
6の実施の形態のサンプルホールド回路の構成を示す回
路図である。このサンプルホールド回路は、図7の従来
例のサンプルホールド回路において第1基準電圧源1の
電圧をCMOSインバータ6に電源電圧として加えるの
に代えて、図3に示したオン抵抗自動調整回路における
オペアンプ5の出力電圧をCMOSインバータ6に電源
電圧として加えるようにしたものであり、第1のMOS
トランジスタ4がオン抵抗の調整対象となる。
【0084】言い換えると、図3のオン抵抗自動調整回
路において、第1のMOSトランジスタ4をサンプルホ
ールド用として用い、この第1のMOSトランジスタ4
にサンプルホールド用の容量16を接続し、オペアンプ
5と第1のMOSトランジスタ4のゲートとの間に第1
のMOSトランジスタ4のオンオフを切り替えるための
CMOSインバータ6を設けたということになる。
【0085】この実施の形態によれば、第3の実施の形
態の効果と第4の実施の形態の効果を組み合わせたもの
となる。
【0086】
【発明の効果】本発明の請求項1記載のオン抵抗自動調
整回路によれば、第2のMOSトランジスタのオン抵抗
の変動に伴う電圧変動を第1および第2の電圧分割回路
とオペアンプとで検出し、それを第2のMOSトランジ
スタのゲートに負帰還入力するとともに、第1のMOS
トランジスタのゲートに入力するので、拡散ばらつき、
特性の温度変動によらず、常に第1のMOSトランジス
タのオン抵抗を一定に保つことができる。
【0087】請求項2記載のオン抵抗自動調整回路によ
れば、第1の抵抗と第2のMOSトランジスタとの接続
点の電圧と第2の抵抗と第4の抵抗との接続点の電圧と
の差に応じた電圧がオペアンプから出力され、それが第
2のMOSトランジスタのゲートに負帰還入力されるの
で、両接続点の電圧が同一になるように制御され、拡散
ばらつき、特性の温度変動によらず、常に第1のMOS
トランジスタのオン抵抗を一定に保つことができる。
【0088】請求項3記載のオン抵抗自動調整回路によ
れば、第1の定電流源と第2のMOSトランジスタとの
接続点の電圧と第2の定電流源と第2の抵抗との接続点
の電圧との差に応じた電圧がオペアンプから出力され、
それが第2のMOSトランジスタのゲートに負帰還入力
されるので、両接続点の電圧が同一になるように制御さ
れ、拡散ばらつき、特性の温度変動によらず、常に第1
のMOSトランジスタのオン抵抗を一定に保つことがで
きる。
【0089】また、第1および第2の定電流源によっ
て、第2のMOSトランジスタおよび第1の抵抗の直列
回路および第2の抵抗に流れる電流が一定に保たれるの
で、第1基準電圧源および第2基準電圧源の電圧が変動
しても、消費電流を一定に保つことが可能となる。
【0090】請求項4記載のオン抵抗自動調整回路によ
れば、第1のトランジスタと第2のMOSトランジスタ
との接続点の電圧と第2のトランジスタと第2の抵抗と
の接続点の電圧との差に応じた電圧がオペアンプから出
力され、それが第2のMOSトランジスタのゲートに負
帰還入力されるので、両接続点の電圧が同一になるよう
に制御され、拡散ばらつき、特性の温度変動によらず、
常に第1のMOSトランジスタのオン抵抗を一定に保つ
ことができる。
【0091】また、カレントミラー回路を構成する第1
および第2のトランジスタは、抵抗に比べてマスク設計
時の占有面積が小さいので、チップ面積の削減の効果が
得られる。
【0092】請求項5記載のオン抵抗自動調整回路によ
れば、請求項1、請求項2、請求項3または請求項4記
載のオン抵抗自動調整回路と同様の効果を奏する。
【0093】請求項6記載のオン抵抗自動調整回路によ
れば、請求項1、請求項2、請求項3または請求項4記
載のオン抵抗自動調整回路と同様の効果を奏する。
【0094】請求項7記載のオン抵抗自動調整回路によ
れば、請求項2記載のオン抵抗自動調整回路と同様の効
果を奏する。
【0095】請求項8記載のオン抵抗自動調整回路によ
れば、請求項3記載のオン抵抗自動調整回路と同様の効
果を奏する。
【0096】請求項9記載のオン抵抗自動調整回路によ
れば、請求項4記載のオン抵抗自動調整回路と同様の効
果を奏する。
【0097】請求項10記載のサンプルホールド回路に
よれば、第2のMOSトランジスタのオン抵抗の変動に
伴う電圧変動を第1および第2の電圧分割回路とオペア
ンプとで検出し、それを第2のMOSトランジスタのゲ
ートに負帰還入力するとともに、第1のMOSトランジ
スタのゲートに入力するので、拡散ばらつき、特性の温
度変動によらず、常に第1のMOSトランジスタのオン
抵抗を低い値で一定に保つことができる。したがって、
第1のMOSトランジスタのオン抵抗と容量とで形成さ
れる寄生ローパスフィルタの時定数が小さいので、寄生
ローパスフィルタによる影響を受けずサンプルホールド
の高速化を実現できる。
【0098】請求項11記載のサンプルホールド回路に
よれば、第1の抵抗と第2のMOSトランジスタとの接
続点の電圧と第2の抵抗と第4の抵抗との接続点の電圧
との差に応じた電圧がオペアンプから出力され、それが
第2のMOSトランジスタのゲートに負帰還入力される
ので、両接続点の電圧が同一になるように制御され、拡
散ばらつき、特性の温度変動によらず、常に第1のMO
Sトランジスタのオン抵抗を低い値で一定に保つことが
できる。したがって、第1のMOSトランジスタのオン
抵抗と容量とで形成される寄生ローパスフィルタの時定
数が小さいので、寄生ローパスフィルタによる影響を受
けずサンプルホールドの高速化を実現できる。
【0099】請求項12記載のサンプルホールド回路に
よれば、第1の定電流源と第2のMOSトランジスタと
の接続点の電圧と第2の定電流源と第2の抵抗との接続
点の電圧との差に応じた電圧がオペアンプから出力さ
れ、それが第2のMOSトランジスタのゲートに負帰還
入力されるので、両接続点の電圧が同一になるように制
御され、拡散ばらつき、特性の温度変動によらず、常に
第1のMOSトランジスタのオン抵抗を低い値で一定に
保つことができる。したがって、第1のMOSトランジ
スタのオン抵抗と容量とで形成される寄生ローパスフィ
ルタの時定数が小さいので、寄生ローパスフィルタによ
る影響を受けずサンプルホールドの高速化を実現でき
る。
【0100】請求項13記載のサンプルホールド回路に
よれば、第1のトランジスタと第2のMOSトランジス
タとの接続点の電圧と第2のトランジスタと第2の抵抗
との接続点の電圧との差に応じた電圧がオペアンプから
出力され、それが第2のMOSトランジスタのゲートに
負帰還入力されるので、両接続点の電圧が同一になるよ
うに制御され、拡散ばらつき、特性の温度変動によら
ず、常に第1のMOSトランジスタのオン抵抗を低い値
で一定に保つことができる。したがって、第1のMOS
トランジスタのオン抵抗と容量とで形成される寄生ロー
パスフィルタの時定数が小さいので、寄生ローパスフィ
ルタによる影響を受けずサンプルホールドの高速化を実
現できる。
【0101】請求項14記載のサンプルホールド回路に
よれば、請求項10、請求項11、請求項12または請
求項13記載のオン抵抗自動調整回路と同様の効果を奏
する。
【0102】請求項15記載のサンプルホールド回路に
よれば、請求項10、請求項11、請求項12または請
求項13記載のオン抵抗自動調整回路と同様の効果を奏
する。
【0103】請求項16記載のサンプルホールド回路に
よれば、請求項11記載のオン抵抗自動調整回路と同様
の効果を奏する。
【0104】請求項17記載のサンプルホールド回路に
よれば、請求項12記載のオン抵抗自動調整回路と同様
の効果を奏する。
【0105】請求項18記載のサンプルホールド回路に
よれば、請求項13記載のオン抵抗自動調整回路と同様
の効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態におけるオン抵抗自
動調整回路の構成を示す回路図である。
【図2】本発明の第2の実施の形態におけるオン抵抗自
動調整回路の構成を示す回路図である。
【図3】本発明の第3の実施の形態におけるオン抵抗自
動調整回路の構成を示す回路図である。
【図4】本発明の第4の実施の形態におけるサンプルホ
ールド回路の構成を示す回路図である。
【図5】本発明の第5の実施の形態におけるサンプルホ
ールド回路の構成を示す回路図である。
【図6】本発明の第6の実施の形態におけるサンプルホ
ールド回路の構成を示す回路図である。
【図7】従来のサンプルホールド回路の構成を示す回路
図である。
【符号の説明】
1 第1基準電圧源 2 第2基準電圧源 3 第2のMOSトランジスタ 4 第1のMOSトランジスタ 5 オペアンプ 6 CMOSインバータ 7 第1の抵抗 8 第2の抵抗 9 第3(第1)の抵抗 10 第4(第2)の抵抗 11 第1の電流源 12 第2の電流源 13,14 MOSトランジスタ 15 制御信号入力端子 16 容量 21,23,25 第1の電圧分割回路 22,24,26 第2の電圧分割回路

Claims (18)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 オン抵抗の調整対象の第1のMOSトラ
    ンジスタと、 前記第1のMOSトランジスタと同一特性の第2のMO
    Sトランジスタを分圧素子として含み前記第2のMOS
    トランジスタのオン抵抗の変化に応じた電圧を発生する
    第1の電圧分割回路と、 一定の参照電圧を発生する第2の電圧分割回路と、 前記第1および第2の電圧分割回路の出力電圧が一対の
    入力端子にそれぞれ加えられ出力電圧が前記第2のMO
    Sトランジスタのゲートに負帰還入力されるとともに前
    記第1のMOSトランジスタのゲートヘ入力されるオペ
    アンプとを備えたオン抵抗自動調整回路。
  2. 【請求項2】 オン抵抗の調整対象の第1のMOSトラ
    ンジスタと、 第1基準電圧源および第2基準電圧源と、 前記第1基準電圧源に一端がそれぞれ接続された第1お
    よび第2の抵抗と、 前記第1のMOSトランジスタと同一特性で前記第1の
    抵抗の他端に一端が接続された第2のMOSトランジス
    タと、 前記第2のMOSトランジスタの他端に一端が接続され
    前記第2基準電圧源に他端が接続された第3の抵抗と、 前記第2の抵抗の他端に一端が接続され前記第2基準電
    圧源に他端が接続された第4の抵抗と、 前記第1の抵抗と前記第2のMOSトランジスタとの接
    続点に反転入力端子が接続されるとともに前記第2の抵
    抗と前記第4の抵抗との接続点に非反転入力端子が接続
    され出力端子が前記第2のMOSトランジスタのゲート
    に負帰還接続されるとともに前記第1のMOSトランジ
    スタのゲートに接続されたオペアンプとを備えたオン抵
    抗自動調整回路。
  3. 【請求項3】 オン抵抗の調整対象の第1のMOSトラ
    ンジスタと、 第1基準電圧源および第2基準電圧源と、 前記第1基準電圧源に一端がそれぞれ接続された第1お
    よび第2の定電流源と、 前記第1のMOSトランジスタと同一特性で前記第1の
    定電流源の他端に一端が接続された第2のMOSトラン
    ジスタと、 前記第2のMOSトランジスタの他端に一端が接続され
    前記第2基準電圧源に他端が接続された第1の抵抗と、 前記第2の定電流源の他端に一端が接続され前記第2基
    準電圧源に他端が接続された第2の抵抗と、 前記第1の定電流源と前記第2のMOSトランジスタと
    の接続点に反転入力端子が接続されるとともに前記第2
    の定電流源と前記第2の抵抗との接続点に非反転入力端
    子が接続され出力端子が前記第2のMOSトランジスタ
    のゲートに負帰還接続されるとともに前記第1のMOS
    トランジスタのゲートに接続されたオペアンプとを備え
    たオン抵抗自動調整回路。
  4. 【請求項4】 オン抵抗の調整対象の第1のMOSトラ
    ンジスタと、 第1基準電圧源および第2基準電圧源と、 前記第1基準電圧源に一端がそれぞれ接続されてカレン
    トミラー回路を構成する第1および第2のトランジスタ
    と、 前記第1のMOSトランジスタと同一特性で前記第1の
    トランジスタの他端に一端が接続された第2のMOSト
    ランジスタと、 前記第2のMOSトランジスタの他端に一端が接続され
    前記第2基準電圧源に他端が接続された第1の抵抗と、 前記第2のトランジスタの他端に一端が接続され前記第
    2基準電圧源に他端が接続された第2の抵抗と、 前記第1のトランジスタと前記第2のMOSトランジス
    タとの接続点に反転入力端子が接続されるとともに前記
    第2のトランジスタと前記第2の抵抗との接続点に非反
    転入力端子が接続され出力端子が前記第2のMOSトラ
    ンジスタのゲートに負帰還接続されるとともに前記第1
    のMOSトランジスタのゲートに接続されたオペアンプ
    とを備えたオン抵抗自動調整回路。
  5. 【請求項5】 第1のMOSトランジスタと第2のMO
    Sトランジスタとは、ゲート長とゲート幅の比が等しい
    ことを特徴とする請求項1、請求項2、請求項3または
    請求項4記載のオン抵抗自動調整回路。
  6. 【請求項6】 第1のMOSトランジスタと第2のMO
    Sトランジスタとは、ゲート長とゲート幅とがそれぞれ
    等しいことを特徴とする請求項1、請求項2、請求項3
    または請求項4記載のオン抵抗自動調整回路。
  7. 【請求項7】 第1および第2の抵抗の抵抗値が等し
    く、かつ第3の抵抗の抵抗値および第2のMOSトラン
    ジスタの目標抵抗値の和と第4の抵抗の抵抗値とが等し
    いことを特徴とする請求項2記載のオン抵抗自動調整回
    路。
  8. 【請求項8】 第1および第2の定電流源の電流値が等
    しく、かつ第1の抵抗の抵抗値および第2のMOSトラ
    ンジスタの目標抵抗値の和と第2の抵抗の抵抗値とが等
    しいことを特徴とする請求項3記載のオン抵抗自動調整
    回路。
  9. 【請求項9】 第1の抵抗の抵抗値および第2のMOS
    トランジスタの目標抵抗値の和と第2の抵抗の抵抗値と
    が等しいことを特徴とする請求項4記載のオン抵抗自動
    調整回路。
  10. 【請求項10】 サンプルホールド対象となる信号が一
    端に入力されオン抵抗の調整対象となるサンプルホール
    ド用の第1のMOSトランジスタと、 前記第1のMOSトランジスタの他端に一端が接続され
    たサンプルホールド用の容量と、 前記第1のMOSトランジスタのゲートに出力端子が接
    続され制御信号に応じて前記第1のMOSトランジスタ
    の導通遮断を切り替えるCMOSインバータと、 前記第1のMOSトランジスタと同一特性の第2のMO
    Sトランジスタを分圧素子として含み前記第2のMOS
    トランジスタのオン抵抗の変化に応じた電圧を発生する
    第1の電圧分割回路と、 一定の参照電圧を発生する第2の電圧分割回路と、 前記第1および第2の電圧分割回路の出力電圧が一対の
    入力端子にそれぞれ加えられ出力電圧が前記第2のMO
    Sトランジスタのゲートに負帰還入力されるとともに前
    記CMOSインバータに電源電圧として印加されるオペ
    アンプとを備えたサンプルホールド回路。
  11. 【請求項11】 サンプルホールド対象となる信号が一
    端に入力されオン抵抗の調整対象となるサンプルホール
    ド用の第1のMOSトランジスタと、 前記第1のMOSトランジスタの他端に一端が接続され
    たサンプルホールド用の容量と、 前記第1のMOSトランジスタのゲートに出力端子が接
    続され制御信号に応じて前記第1のMOSトランジスタ
    の導通遮断を切り替えるCMOSインバータと、 第1基準電圧源および第2基準電圧源と、 前記第1基準電圧源に一端がそれぞれ接続された第1お
    よび第2の抵抗と、 前記第1のMOSトランジスタと同一特性で前記第1の
    抵抗の他端に一端が接続された第2のMOSトランジス
    タと、 前記第2のMOSトランジスタの他端に一端が接続され
    前記第2基準電圧源に他端が接続された第3の抵抗と、 前記第2の抵抗の他端に一端が接続され前記第2基準電
    圧源に他端が接続された第4の抵抗と、 前記第1の抵抗と前記第2のMOSトランジスタとの接
    続点に反転入力端子が接続されるとともに前記第2の抵
    抗と前記第4の抵抗との接続点に非反転入力端子が接続
    され出力端子が前記第2のMOSトランジスタのゲート
    に負帰還接続されるとともに前記CMOSインバータの
    電源端子に接続されたオペアンプとを備えたサンプルホ
    ールド回路。
  12. 【請求項12】 サンプルホールド対象となる信号が一
    端に入力されオン抵抗の調整対象となるサンプルホール
    ド用の第1のMOSトランジスタと、 前記第1のMOSトランジスタの他端に一端が接続され
    たサンプルホールド用の容量と、 前記第1のMOSトランジスタのゲートに出力端子が接
    続され制御信号に応じて前記第1のMOSトランジスタ
    の導通遮断を切り替えるCMOSインバータと、 第1基準電圧源および第2基準電圧源と、 前記第1基準電圧源に一端がそれぞれ接続された第1お
    よび第2の定電流源と、 前記第1のMOSトランジスタと同一特性で前記第1の
    定電流源の他端に一端が接続された第2のMOSトラン
    ジスタと、 前記第2のMOSトランジスタの他端に一端が接続され
    前記第2基準電圧源に他端が接続された第1の抵抗と、 前記第2の定電流源の他端に一端が接続され前記第2基
    準電圧源に他端が接続された第2の抵抗と、 前記第1の定電流源と前記第2のMOSトランジスタと
    の接続点に反転入力端子が接続されるとともに前記第2
    の定電流源と前記第2の抵抗との接続点に非反転入力端
    子が接続され出力端子が前記第2のMOSトランジスタ
    のゲートに負帰還接続されるとともに前記CMOSイン
    バータの電源端子に接続されたオペアンプとを備えたサ
    ンプルホールド回路。
  13. 【請求項13】 サンプルホールド対象となる信号が一
    端に入力されオン抵抗の調整対象となるサンプルホール
    ド用の第1のMOSトランジスタと、 前記第1のMOSトランジスタの他端に一端が接続され
    たサンプルホールド用の容量と、 前記第1のMOSトランジスタのゲートに出力端子が接
    続され制御信号に応じて前記第1のMOSトランジスタ
    の導通遮断を切り替えるCMOSインバータと、 第1基準電圧源および第2基準電圧源と、 前記第1基準電圧源に一端がそれぞれ接続されてカレン
    トミラー回路を構成する第1および第2のトランジスタ
    と、 前記第1のMOSトランジスタと同一特性で前記第1の
    トランジスタの他端に一端が接続された第2のMOSト
    ランジスタと、 前記第2のMOSトランジスタの他端に一端が接続され
    前記第2基準電圧源に他端が接続された第1の抵抗と、 前記第2のトランジスタの他端に一端が接続され前記第
    2基準電圧源に他端が接続された第2の抵抗と、 前記第1のトランジスタと前記第2のMOSトランジス
    タとの接続点に反転入力端子が接続されるとともに前記
    第2のトランジスタと前記第2の抵抗との接続点に非反
    転入力端子が接続され出力端子が前記第2のMOSトラ
    ンジスタのゲートに負帰還接続されるとともに前記CM
    OSインバータの電源端子に接続されたオペアンプとを
    備えたサンプルホールド回路。
  14. 【請求項14】 第1のMOSトランジスタと第2のM
    OSトランジスタとは、ゲート長とゲート幅の比が等し
    いことを特徴とする請求項10、請求項11、請求項1
    2または請求項13記載のサンプルホールド回路。
  15. 【請求項15】 第1のMOSトランジスタと第2のM
    OSトランジスタとは、ゲート長とゲート幅とがそれぞ
    れ等しいことを特徴とする請求項10、請求項11、請
    求項12または請求項13記載のサンプルホールド回
    路。
  16. 【請求項16】 第1および第2の抵抗の抵抗値が等し
    く、かつ第3の抵抗の抵抗値および第2のMOSトラン
    ジスタの目標抵抗値の和と第4の抵抗の抵抗値とが等し
    いことを特徴とする請求項11記載のサンプルホールド
    回路。
  17. 【請求項17】 第1および第2の定電流源の電流値が
    等しく、かつ第1の抵抗の抵抗値および第2のMOSト
    ランジスタの目標抵抗値の和と第2の抵抗の抵抗値とが
    等しいことを特徴とする請求項12記載のサンプルホー
    ルド回路。
  18. 【請求項18】 第1の抵抗の抵抗値および第2のMO
    Sトランジスタの目標抵抗値の和と第2の抵抗の抵抗値
    とが等しいことを特徴とする請求項13記載のサンプル
    ホールド回路。
JP2000275128A 2000-09-11 2000-09-11 オン抵抗自動調整回路およびサンプルホールド回路 Pending JP2002093187A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000275128A JP2002093187A (ja) 2000-09-11 2000-09-11 オン抵抗自動調整回路およびサンプルホールド回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000275128A JP2002093187A (ja) 2000-09-11 2000-09-11 オン抵抗自動調整回路およびサンプルホールド回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002093187A true JP2002093187A (ja) 2002-03-29

Family

ID=18760793

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000275128A Pending JP2002093187A (ja) 2000-09-11 2000-09-11 オン抵抗自動調整回路およびサンプルホールド回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2002093187A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009044504A1 (ja) * 2007-10-05 2009-04-09 Advantest Corporation スイッチ装置
JP2013172463A (ja) * 2012-02-17 2013-09-02 Yokogawa Electric Corp 圧電トランス駆動装置
JP2013178500A (ja) * 2012-02-02 2013-09-09 Semiconductor Energy Lab Co Ltd シリアルパラレル変換回路、表示装置、シリアルパラレル変換回路の駆動方法
CN116505933A (zh) * 2023-06-21 2023-07-28 艾创微(上海)电子科技有限公司 一种mos管导通电阻匹配电路

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009044504A1 (ja) * 2007-10-05 2009-04-09 Advantest Corporation スイッチ装置
JP2013178500A (ja) * 2012-02-02 2013-09-09 Semiconductor Energy Lab Co Ltd シリアルパラレル変換回路、表示装置、シリアルパラレル変換回路の駆動方法
JP2017187781A (ja) * 2012-02-02 2017-10-12 株式会社半導体エネルギー研究所 シリアルパラレル変換回路及び表示装置
JP2013172463A (ja) * 2012-02-17 2013-09-02 Yokogawa Electric Corp 圧電トランス駆動装置
CN116505933A (zh) * 2023-06-21 2023-07-28 艾创微(上海)电子科技有限公司 一种mos管导通电阻匹配电路

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4103190A (en) Complementary power saving comparator/inverter circuits
JP3575453B2 (ja) 基準電圧発生回路
JP2000049585A (ja) 出力バッファ回路
CA1167116A (en) High speed cmos comparator circuit
KR930017307A (ko) 고속 집적 회로용 기준 회로
US7330056B1 (en) Low power CMOS LVDS driver
JP3085803B2 (ja) 差動電流源回路
US7218169B2 (en) Reference compensation circuit
KR20160071410A (ko) 플로팅 전류 소스를 위한 방법 및 장치
JP2002093187A (ja) オン抵抗自動調整回路およびサンプルホールド回路
KR100219037B1 (ko) 선형화된 저항성을 이용한 모스펫 아날로그 곱셈기
JPH10126223A (ja) モノリシックmos−sc回路
CN112242823B (zh) 一种差分输入电路及其控制方法以及差分放大器
JPH09321555A (ja) 半導体集積回路の差動増幅器
JP4238106B2 (ja) 論理回路
KR101939147B1 (ko) 가변 기준전압 발생회로 및 이를 포함한 아날로그 디지털 변환기
JP3855810B2 (ja) 差動増幅回路
JP3799775B2 (ja) 出力バッファ回路
JP2788746B2 (ja) デューティ可変回路
JPH04213211A (ja) 電圧に制御される抵抗をもった回路
JP2565528B2 (ja) ヒステリシスコンパレータ回路
US11994887B2 (en) Low dropout linear regulator with high power supply rejection ratio
JP2008235974A (ja) 定電流制御回路および該回路を備えた半導体集積回路
US20220382306A1 (en) Low dropout linear regulator with high power supply rejection ratio
JPH08139531A (ja) 差動アンプ