JP2002090119A - 塗布幅計測方法 - Google Patents
塗布幅計測方法Info
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- JP2002090119A JP2002090119A JP2000276945A JP2000276945A JP2002090119A JP 2002090119 A JP2002090119 A JP 2002090119A JP 2000276945 A JP2000276945 A JP 2000276945A JP 2000276945 A JP2000276945 A JP 2000276945A JP 2002090119 A JP2002090119 A JP 2002090119A
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 高速で、しかも、全体的に塗布幅を計測する
ことができる塗布幅計測方法を提供する。 【解決手段】 ２値化した画像の塗布物に対して収縮処
理を行ない、塗布物の一部および／または全体が消える
までの収縮処理の回数によって塗布物の最小および／ま
たは最大塗布幅を計測する。また、２値化した画像を折
れ線近似化して塗布物の各折れ点を抽出し、その各折れ
点間を結ぶ直線に対する垂線のみを抽出した画像と塗布
物の２値化画像について論理積をとって垂線と塗布物が
重なる部分のみを幅計測線として残し、その幅計測線を
主軸長計測して塗布幅を計測する。
ことができる塗布幅計測方法を提供する。 【解決手段】 ２値化した画像の塗布物に対して収縮処
理を行ない、塗布物の一部および／または全体が消える
までの収縮処理の回数によって塗布物の最小および／ま
たは最大塗布幅を計測する。また、２値化した画像を折
れ線近似化して塗布物の各折れ点を抽出し、その各折れ
点間を結ぶ直線に対する垂線のみを抽出した画像と塗布
物の２値化画像について論理積をとって垂線と塗布物が
重なる部分のみを幅計測線として残し、その幅計測線を
主軸長計測して塗布幅を計測する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば自動車エン
ジンに用いられるオイルパンに塗布されたＦＩＰＧの塗
布幅を計測するための塗布幅計測方法に関するものであ
る。
ジンに用いられるオイルパンに塗布されたＦＩＰＧの塗
布幅を計測するための塗布幅計測方法に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】通常、自動車エンジンのシリンダブロッ
クの下部には、潤滑油を貯溜するためのオイルパンが取
付けられている。
クの下部には、潤滑油を貯溜するためのオイルパンが取
付けられている。
【０００３】オイルパンをシリンダブロックに取付ける
に際しては、オイルパンとシリンダブロックとの間にシ
ール材を介装して潤滑油等のシールを行なっている。
に際しては、オイルパンとシリンダブロックとの間にシ
ール材を介装して潤滑油等のシールを行なっている。
【０００４】最近、上記シール材として、ゴム等の形の
ある成形ガスケットに代り、ペースト状で形のないＦＩ
ＰＧ（Ｆｏｒｍｅｄ Ｉｎ Ｐｌａｃｅ Ｇａｓｋｅ
ｔ）が普及している。ＦＩＰＧは、成形ガスケットに比
べシール効果が大きく、成形ガスケットでは適用できな
いような形状にも利用できるというメリットを有する。
図４は、オイルパンをＦＩＰＧによりシールしてシリン
ダブロックに取付ける態様を示している。即ち、オイル
パン１の取付フランジ１ａにＦＩＰＧ２を流動性を保有
する状態で塗布し、その状態で該取付フランジ１ａをシ
リンダブロック３の下面３ａに衝合して図示していない
取付ボルトにより締結する。ＦＩＰＧ２は、取付ボルト
の締結によりオイルパン１がシリンダブロック３に取付
けられた後、硬化してオイルパン１とシリンダブロック
３との間をシールする。
ある成形ガスケットに代り、ペースト状で形のないＦＩ
ＰＧ（Ｆｏｒｍｅｄ Ｉｎ Ｐｌａｃｅ Ｇａｓｋｅ
ｔ）が普及している。ＦＩＰＧは、成形ガスケットに比
べシール効果が大きく、成形ガスケットでは適用できな
いような形状にも利用できるというメリットを有する。
図４は、オイルパンをＦＩＰＧによりシールしてシリン
ダブロックに取付ける態様を示している。即ち、オイル
パン１の取付フランジ１ａにＦＩＰＧ２を流動性を保有
する状態で塗布し、その状態で該取付フランジ１ａをシ
リンダブロック３の下面３ａに衝合して図示していない
取付ボルトにより締結する。ＦＩＰＧ２は、取付ボルト
の締結によりオイルパン１がシリンダブロック３に取付
けられた後、硬化してオイルパン１とシリンダブロック
３との間をシールする。
【０００５】ところで、オイルパン１にＦＩＰＧ２を塗
布する場合、塗布装置の異常やＦＩＰＧ２の粘度変化等
によってＦＩＰＧ２の塗布幅が細くなり過ぎたり、太く
なり過ぎることがある。そして、ＦＩＰＧ２の塗布幅が
細くなり過ぎたり、太くなり過ぎると、シール不良やシ
ール食み出し等の弊害を招く。そこで、オイルパン１に
ＦＩＰＧ２を塗布した後、ＦＩＰＧ２の塗布幅の計測が
行なわれている。
布する場合、塗布装置の異常やＦＩＰＧ２の粘度変化等
によってＦＩＰＧ２の塗布幅が細くなり過ぎたり、太く
なり過ぎることがある。そして、ＦＩＰＧ２の塗布幅が
細くなり過ぎたり、太くなり過ぎると、シール不良やシ
ール食み出し等の弊害を招く。そこで、オイルパン１に
ＦＩＰＧ２を塗布した後、ＦＩＰＧ２の塗布幅の計測が
行なわれている。
【０００６】従来、オイルパンに塗布されたＦＩＰＧの
塗布幅を計測する場合、オイルパンおよびオイルパンに
塗布されたＦＩＰＧをＣＣＤカメラ等の撮像手段で撮像
し、撮像手段で撮像した画像を２値化してＦＩＰＧを抽
出した２値化画像（例えば、ＦＩＰＧを白画素、他を黒
画素）を得る。そして、２値化画像のＦＩＰＧとして抽
出した白塊部の幅を次のように直接計測してＦＩＰＧの
塗布幅を計測する。即ち、ＦＩＰＧの塗布方向に対して
垂直に計測する必要があるために白塊部によりＦＩＰＧ
の塗布方向を認識し、白塊部に対して垂線を引くことに
よりＦＩＰＧの塗布方向に対する垂直な幅計測線を設定
し、その幅計測線上の白画素から黒画素に変わる点間の
画素数をカウントすることによりＦＩＰＧの塗布幅を計
測する。
塗布幅を計測する場合、オイルパンおよびオイルパンに
塗布されたＦＩＰＧをＣＣＤカメラ等の撮像手段で撮像
し、撮像手段で撮像した画像を２値化してＦＩＰＧを抽
出した２値化画像（例えば、ＦＩＰＧを白画素、他を黒
画素）を得る。そして、２値化画像のＦＩＰＧとして抽
出した白塊部の幅を次のように直接計測してＦＩＰＧの
塗布幅を計測する。即ち、ＦＩＰＧの塗布方向に対して
垂直に計測する必要があるために白塊部によりＦＩＰＧ
の塗布方向を認識し、白塊部に対して垂線を引くことに
よりＦＩＰＧの塗布方向に対する垂直な幅計測線を設定
し、その幅計測線上の白画素から黒画素に変わる点間の
画素数をカウントすることによりＦＩＰＧの塗布幅を計
測する。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の塗布幅
計測方法は、ＦＩＰＧの塗布方向を認識し、そのＦＩＰ
Ｇの塗布方向に対する垂直な幅計測線を設定してから幅
計測を行なうから、幅計測までの前処理が複雑で時間が
かかり、計測時間が長くなるという欠点がある。特に、
ＦＩＰＧが蛇行している場合、ＦＩＰＧの塗布方向を認
識するためにＦＩＰＧとして抽出した白塊部を直線近似
できる長さに切り出す必要があり、その分計測時間が更
に長くなる。
計測方法は、ＦＩＰＧの塗布方向を認識し、そのＦＩＰ
Ｇの塗布方向に対する垂直な幅計測線を設定してから幅
計測を行なうから、幅計測までの前処理が複雑で時間が
かかり、計測時間が長くなるという欠点がある。特に、
ＦＩＰＧが蛇行している場合、ＦＩＰＧの塗布方向を認
識するためにＦＩＰＧとして抽出した白塊部を直線近似
できる長さに切り出す必要があり、その分計測時間が更
に長くなる。
【０００８】また、従来の塗布幅計測方法は、２値化画
像のＦＩＰＧとして抽出した白塊部の１個所の幅のみ計
測するため、ＦＩＰＧの１個所の幅のみしか計測するこ
とができない。従って、ＦＩＰＧの最も細い部分と最も
太い部分の幅を同時に計測できないし、しかも、ＦＩＰ
Ｇの最も細い部分、最も太い部分の幅を計測できる保障
がない。
像のＦＩＰＧとして抽出した白塊部の１個所の幅のみ計
測するため、ＦＩＰＧの１個所の幅のみしか計測するこ
とができない。従って、ＦＩＰＧの最も細い部分と最も
太い部分の幅を同時に計測できないし、しかも、ＦＩＰ
Ｇの最も細い部分、最も太い部分の幅を計測できる保障
がない。
【０００９】本発明は、従来の上記問題点に鑑みてなさ
れたもので、高速で、しかも、全体的に塗布幅を計測す
ることができる塗布幅計測方法を提供することを目的と
する。
れたもので、高速で、しかも、全体的に塗布幅を計測す
ることができる塗布幅計測方法を提供することを目的と
する。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するため、撮像手段で撮像したワークおよびワークに
塗布された塗布物の画像を２値化し、この２値化した画
像の塗布物に対して収縮処理を行ない、塗布物の一部お
よび／または全体が消えるまでの収縮処理の回数によっ
て最小および／または最大塗布物の塗布幅を計測するこ
とを特徴とする塗布幅計測方法を提供する。
成するため、撮像手段で撮像したワークおよびワークに
塗布された塗布物の画像を２値化し、この２値化した画
像の塗布物に対して収縮処理を行ない、塗布物の一部お
よび／または全体が消えるまでの収縮処理の回数によっ
て最小および／または最大塗布物の塗布幅を計測するこ
とを特徴とする塗布幅計測方法を提供する。
【００１１】また、本発明は、撮像手段で撮像したワー
クおよびワークに塗布された塗布物の画像を２値化し、
この２値化した画像を折れ線近似化して塗布物の各折れ
点を抽出し、その各折れ点間を結ぶ直線に対する垂線の
みを抽出した画像と塗布物の２値化画像について論理積
をとって垂線と塗布物が重なる部分のみを幅計測線とし
て残し、その幅計測線を主軸長計測して塗布幅を計測す
ることを特徴とする塗布幅計測方法を提供する。
クおよびワークに塗布された塗布物の画像を２値化し、
この２値化した画像を折れ線近似化して塗布物の各折れ
点を抽出し、その各折れ点間を結ぶ直線に対する垂線の
みを抽出した画像と塗布物の２値化画像について論理積
をとって垂線と塗布物が重なる部分のみを幅計測線とし
て残し、その幅計測線を主軸長計測して塗布幅を計測す
ることを特徴とする塗布幅計測方法を提供する。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る塗布幅計測方
法の実施形態を図面に基づいて説明する。
法の実施形態を図面に基づいて説明する。
【００１３】図１は本発明の第１の実施形態における塗
布幅計測方法の手順模式図である。尚、この第１の実施
形態は、オイルパンに塗布されたＦＩＰＧの塗布幅を計
測する場合について説明する。
布幅計測方法の手順模式図である。尚、この第１の実施
形態は、オイルパンに塗布されたＦＩＰＧの塗布幅を計
測する場合について説明する。
【００１４】先ず、従来技術と同様、オイルパンおよび
オイルパンに塗布されたＦＩＰＧをＣＣＤカメラ等の撮
像手段で撮像し、撮像手段で撮像した画像を所定のしき
い値で２値化し、図１（ａ）に示されるＦＩＰＧを白画
素、ＦＩＰＧ以外を黒画素とした２値化画像を得る。こ
の２値化画像により、ＦＩＰＧが白塊部として抽出され
る。
オイルパンに塗布されたＦＩＰＧをＣＣＤカメラ等の撮
像手段で撮像し、撮像手段で撮像した画像を所定のしき
い値で２値化し、図１（ａ）に示されるＦＩＰＧを白画
素、ＦＩＰＧ以外を黒画素とした２値化画像を得る。こ
の２値化画像により、ＦＩＰＧが白塊部として抽出され
る。
【００１５】次に、図１（ａ）に示される２値化画像内
のＦＩＰＧとして抽出した白塊部に対して収縮処理を行
なう。この収縮処理は、２値化画像内の白画素に対して
処理を行なうとすると、白画素の周囲の８画素のうち、
黒画素が１つでもあれば、図２に示されるように、その
白画素（図２の収縮処理後の画像において斜線を記入し
た画素）を黒画素に変える処理で、これにより、図１
（ｂ）に示されるように、ＦＩＰＧとして抽出した白塊
部が１画素ずつ両側から細くなる。従って、この収縮処
理を繰り返し行なうことにより、ＦＩＰＧとして抽出し
た白塊部が徐々に細くなる。そして、その収縮処理を、
図１（ｃ）に示されるように、ＦＩＰＧとして抽出した
白塊部の一部および／または全体が消えるまで繰り返
し、その収縮処理の回数によってＦＩＰＧの最小および
／または最大塗布幅を計測する。即ち、ＦＩＰＧとして
抽出した白塊部に対して収縮処理を繰り返していき、白
塊部の一部が最初に消えたときの収縮処理の回数によっ
てＦＩＰＧの最も細い部分の幅を最小塗布幅として計測
し、白塊部がすべて消えたときの収縮処理の回数によっ
てＦＩＰＧの最も太い部分の幅を最大塗布幅として計測
する。従って、ＦＩＰＧとして抽出した白塊部に対して
収縮処理を行なうと、ＦＩＰＧとして抽出した白塊部が
１画素ずつ両側から消えていくから、ＦＩＰＧの最小塗
布幅および最大塗布幅は下式により求めることができ
る。
のＦＩＰＧとして抽出した白塊部に対して収縮処理を行
なう。この収縮処理は、２値化画像内の白画素に対して
処理を行なうとすると、白画素の周囲の８画素のうち、
黒画素が１つでもあれば、図２に示されるように、その
白画素（図２の収縮処理後の画像において斜線を記入し
た画素）を黒画素に変える処理で、これにより、図１
（ｂ）に示されるように、ＦＩＰＧとして抽出した白塊
部が１画素ずつ両側から細くなる。従って、この収縮処
理を繰り返し行なうことにより、ＦＩＰＧとして抽出し
た白塊部が徐々に細くなる。そして、その収縮処理を、
図１（ｃ）に示されるように、ＦＩＰＧとして抽出した
白塊部の一部および／または全体が消えるまで繰り返
し、その収縮処理の回数によってＦＩＰＧの最小および
／または最大塗布幅を計測する。即ち、ＦＩＰＧとして
抽出した白塊部に対して収縮処理を繰り返していき、白
塊部の一部が最初に消えたときの収縮処理の回数によっ
てＦＩＰＧの最も細い部分の幅を最小塗布幅として計測
し、白塊部がすべて消えたときの収縮処理の回数によっ
てＦＩＰＧの最も太い部分の幅を最大塗布幅として計測
する。従って、ＦＩＰＧとして抽出した白塊部に対して
収縮処理を行なうと、ＦＩＰＧとして抽出した白塊部が
１画素ずつ両側から消えていくから、ＦＩＰＧの最小塗
布幅および最大塗布幅は下式により求めることができ
る。
【００１６】最小塗布幅＝｛２×（１画素の分解能）｝
×白塊部の一部が最初に消えたときの収縮処理回数
×白塊部の一部が最初に消えたときの収縮処理回数
【００１７】最大塗布幅＝｛２×（１画素の分解能）｝
×白塊部がすべて消えたときの収縮処理回数
×白塊部がすべて消えたときの収縮処理回数
【００１８】上述したように、第１の実施形態は、２値
化画像内のＦＩＰＧとして抽出した白塊部に対して収縮
処理を行ない、ＦＩＰＧとして抽出した白塊部が消える
までの収縮処理の回数によってＦＩＰＧの塗布幅を計測
するから、従来方法のような幅計測までの前処理を省略
できるとともに、ＦＩＰＧが蛇行していてもＦＩＰＧと
して抽出した白塊部を直線近似する必要がなく、ＦＩＰ
Ｇの塗布幅を高速で計測することができて計測時間を短
縮できる。しかも、２値化画像内のＦＩＰＧとして抽出
した白塊部に対して収縮処理を行なってＦＩＰＧの塗布
幅を計測するから、ＦＩＰＧの塗布幅を全体的に計測す
ることができ、ＦＩＰＧの最も細い部分および／または
最も太い部分の塗布幅を計測でき、しかも、ＦＩＰＧの
最も細い部分および／または最も太い部分の塗布幅を確
実に計測できる。
化画像内のＦＩＰＧとして抽出した白塊部に対して収縮
処理を行ない、ＦＩＰＧとして抽出した白塊部が消える
までの収縮処理の回数によってＦＩＰＧの塗布幅を計測
するから、従来方法のような幅計測までの前処理を省略
できるとともに、ＦＩＰＧが蛇行していてもＦＩＰＧと
して抽出した白塊部を直線近似する必要がなく、ＦＩＰ
Ｇの塗布幅を高速で計測することができて計測時間を短
縮できる。しかも、２値化画像内のＦＩＰＧとして抽出
した白塊部に対して収縮処理を行なってＦＩＰＧの塗布
幅を計測するから、ＦＩＰＧの塗布幅を全体的に計測す
ることができ、ＦＩＰＧの最も細い部分および／または
最も太い部分の塗布幅を計測でき、しかも、ＦＩＰＧの
最も細い部分および／または最も太い部分の塗布幅を確
実に計測できる。
【００１９】ところで、第１の実施形態は、収縮処理に
よる収縮画素の数によりＦＩＰＧの塗布幅を計測してい
るため、ＦＩＰＧが蛇行している場合、ＦＩＰＧの斜め
部や円弧部においては誤差が生じ易く、高精度な塗布幅
計測には適さない。そこで、ＦＩＰＧが蛇行している場
合でもＦＩＰＧの斜め部や円弧部を正確に計測できる塗
布幅計測方法を本発明の第２の実施形態として次に説明
する。
よる収縮画素の数によりＦＩＰＧの塗布幅を計測してい
るため、ＦＩＰＧが蛇行している場合、ＦＩＰＧの斜め
部や円弧部においては誤差が生じ易く、高精度な塗布幅
計測には適さない。そこで、ＦＩＰＧが蛇行している場
合でもＦＩＰＧの斜め部や円弧部を正確に計測できる塗
布幅計測方法を本発明の第２の実施形態として次に説明
する。
【００２０】図３は本発明の第２の実施形態における塗
布幅計測方法の手順模式図である。
布幅計測方法の手順模式図である。
【００２１】先ず、従来技術と同様、オイルパンおよび
オイルパンに塗布されたＦＩＰＧをＣＣＤカメラ等の撮
像手段で撮像し、撮像手段で撮像した画像を所定のしき
い値で２値化し、図２（ａ）に示されるＦＩＰＧを白画
素、ＦＩＰＧ以外を黒画素とした２値化画像を得る。こ
の２値化画像により、ＦＩＰＧが白塊部として抽出され
る。
オイルパンに塗布されたＦＩＰＧをＣＣＤカメラ等の撮
像手段で撮像し、撮像手段で撮像した画像を所定のしき
い値で２値化し、図２（ａ）に示されるＦＩＰＧを白画
素、ＦＩＰＧ以外を黒画素とした２値化画像を得る。こ
の２値化画像により、ＦＩＰＧが白塊部として抽出され
る。
【００２２】次に、２値化画像内のＦＩＰＧとして抽出
した白塊部を複数個の直線の集合として折れ線近似化
し、図２（ｂ）に示されるように、折れ線近似した白塊
部の各折れ点ｘを抽出する。
した白塊部を複数個の直線の集合として折れ線近似化
し、図２（ｂ）に示されるように、折れ線近似した白塊
部の各折れ点ｘを抽出する。
【００２３】次に、抽出した白塊部の各折れ点ｘ間を結
ぶ直線の中点座標を設定し、その各折れ点ｘ間を結ぶ直
線の中点座標の角度を計測し、その角度から各折れ点ｘ
間を結ぶ直線の中点座標に、図２（ｃ）に示されるよう
に、各折れ点ｘ間を結ぶ直線に対する垂線ｙを描画す
る。尚、垂線ｙの長さは、ＦＩＰＧとして抽出した白塊
部を十分に横断可能な長さとする。
ぶ直線の中点座標を設定し、その各折れ点ｘ間を結ぶ直
線の中点座標の角度を計測し、その角度から各折れ点ｘ
間を結ぶ直線の中点座標に、図２（ｃ）に示されるよう
に、各折れ点ｘ間を結ぶ直線に対する垂線ｙを描画す
る。尚、垂線ｙの長さは、ＦＩＰＧとして抽出した白塊
部を十分に横断可能な長さとする。
【００２４】次に、図２（ｃ）に示される画像について
垂線ｙのみを抽出し、図２（ｄ）に示される画像上に垂
線ｙのみを白線として描画した垂線描画画像を得る。
垂線ｙのみを抽出し、図２（ｄ）に示される画像上に垂
線ｙのみを白線として描画した垂線描画画像を得る。
【００２５】次に、図２（ｄ）に示される画像上に垂線
ｙのみを白線として描画した垂線描画画像と、図２
（ａ）に示されるＦＩＰＧを白塊部として抽出した２値
化画像について論理積をとり、図２（ｅ）に示されるそ
れぞれの画像の白線と白塊部が重なる部分のみを白い線
として残す論理積画像を得る。この論理積画像により、
ＦＩＰＧの塗布幅に対応する幅計測線ｚが白い線として
抽出される。そして、抽出した幅計測線ｚの主軸長を計
測し、その値をＦＩＰＧの塗布幅とする。
ｙのみを白線として描画した垂線描画画像と、図２
（ａ）に示されるＦＩＰＧを白塊部として抽出した２値
化画像について論理積をとり、図２（ｅ）に示されるそ
れぞれの画像の白線と白塊部が重なる部分のみを白い線
として残す論理積画像を得る。この論理積画像により、
ＦＩＰＧの塗布幅に対応する幅計測線ｚが白い線として
抽出される。そして、抽出した幅計測線ｚの主軸長を計
測し、その値をＦＩＰＧの塗布幅とする。
【００２６】上述したように、第２の実施形態は、２値
化したＦＩＰＧの画像を折れ線近似化してＦＩＰＧの各
折れ点ｘを抽出し、その各折れ点ｘ間を結ぶ直線に対す
る垂線ｙのみを抽出した垂線描画画像とＦＩＰＧの２値
化画像について論理積をとって垂線ｙとＦＩＰＧが重な
る部分のみを幅計測線ｚとして残し、その幅計測線ｚを
主軸長計測することによりＦＩＰＧの塗布幅を計測する
から、ＦＩＰＧが蛇行していてもＦＩＰＧの斜め部や円
弧部の塗布幅を正確に計測することができ、高精度な塗
布幅計測が行なえる。しかも、論理積や主軸長計測を用
いてＦＩＰＧの塗布幅を計測するから、高速にＦＩＰＧ
の塗布幅を計測することができ、計測時間を短縮でき
る。
化したＦＩＰＧの画像を折れ線近似化してＦＩＰＧの各
折れ点ｘを抽出し、その各折れ点ｘ間を結ぶ直線に対す
る垂線ｙのみを抽出した垂線描画画像とＦＩＰＧの２値
化画像について論理積をとって垂線ｙとＦＩＰＧが重な
る部分のみを幅計測線ｚとして残し、その幅計測線ｚを
主軸長計測することによりＦＩＰＧの塗布幅を計測する
から、ＦＩＰＧが蛇行していてもＦＩＰＧの斜め部や円
弧部の塗布幅を正確に計測することができ、高精度な塗
布幅計測が行なえる。しかも、論理積や主軸長計測を用
いてＦＩＰＧの塗布幅を計測するから、高速にＦＩＰＧ
の塗布幅を計測することができ、計測時間を短縮でき
る。
【００２７】以上、本発明の各実施形態について説明し
たが、本発明はこのような実施形態に限定されるべきも
のではない。例えば、上記実施形態では、ＦＩＰＧの塗
布幅を計測する場合について述べているが、ＦＩＰＧ以
外の塗布物の塗布幅を計測することも可能である。
たが、本発明はこのような実施形態に限定されるべきも
のではない。例えば、上記実施形態では、ＦＩＰＧの塗
布幅を計測する場合について述べているが、ＦＩＰＧ以
外の塗布物の塗布幅を計測することも可能である。
【００２８】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、２値化
した画像の塗布物に対して収縮処理を行なうことにより
塗布物の塗布幅を計測するから、塗布物の塗布幅を高速
に計測できて計測時間を短縮することが可能であり、し
かも、塗布物の塗布幅を全体的に計測できて塗布物の最
小および／または最大塗布幅を確実に計測することが可
能である。
した画像の塗布物に対して収縮処理を行なうことにより
塗布物の塗布幅を計測するから、塗布物の塗布幅を高速
に計測できて計測時間を短縮することが可能であり、し
かも、塗布物の塗布幅を全体的に計測できて塗布物の最
小および／または最大塗布幅を確実に計測することが可
能である。
【００２９】また、本発明は、２値化した画像を折れ線
近似化して塗布物の各折れ点を抽出し、その各折れ点間
を結ぶ直線に対する垂線のみを抽出した画像と塗布物の
２値化画像について論理積をとって垂線と塗布物が重な
る部分のみを幅計測線として残し、その幅計測線を主軸
長計測して塗布幅を計測するから、塗布物が蛇行してい
ても塗布物の斜め部や円弧部の塗布幅を正確に計測でき
て高精度な塗布幅計測を行なうことが可能であるととも
に、論理積や主軸長計測により高速に塗布幅を計測でき
て計測時間を短縮することが可能である。
近似化して塗布物の各折れ点を抽出し、その各折れ点間
を結ぶ直線に対する垂線のみを抽出した画像と塗布物の
２値化画像について論理積をとって垂線と塗布物が重な
る部分のみを幅計測線として残し、その幅計測線を主軸
長計測して塗布幅を計測するから、塗布物が蛇行してい
ても塗布物の斜め部や円弧部の塗布幅を正確に計測でき
て高精度な塗布幅計測を行なうことが可能であるととも
に、論理積や主軸長計測により高速に塗布幅を計測でき
て計測時間を短縮することが可能である。
【図１】本発明の第１の実施形態における塗布幅計測方
法の手順模式図。
法の手順模式図。
【図２】本発明の第１の実施形態における塗布幅計測方
法の収縮処理を説明するための塗布物（ＦＩＰＧ）の一
部の収縮処理前と収縮処理後の画像。
法の収縮処理を説明するための塗布物（ＦＩＰＧ）の一
部の収縮処理前と収縮処理後の画像。
【図３】本発明の第２の実施形態における塗布幅計測方
法の手順模式図。
法の手順模式図。
【図４】（ａ）はＦＩＰＧを塗布したオイルパンの斜視
図、（ｂ）はオイルパンをシリンダブロックに取付けた
状態の要部拡大図。
図、（ｂ）はオイルパンをシリンダブロックに取付けた
状態の要部拡大図。
１ ワーク（オイルパン） ２ 塗布物（ＦＩＰＧ） ３ シリンダブロック
Claims (2)
- 【請求項１】 撮像手段で撮像したワークおよびワーク
に塗布された塗布物の画像を２値化し、この２値化した
画像の塗布物に対して収縮処理を行ない、塗布物の一部
および／または全体が消えるまでの収縮処理の回数によ
って塗布物の最小および／または最大塗布幅を計測する
ことを特徴とする塗布幅計測方法。 - 【請求項２】 撮像手段で撮像したワークおよびワーク
に塗布された塗布物の画像を２値化し、この２値化した
画像を折れ線近似化して塗布物の各折れ点を抽出し、そ
の各折れ点間を結ぶ直線に対する垂線のみを抽出した画
像と塗布物の２値化画像について論理積をとって垂線と
塗布物が重なる部分のみを幅計測線として残し、その幅
計測線を主軸長計測して塗布幅を計測することを特徴と
する塗布幅計測方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000276945A JP2002090119A (ja) | 2000-09-12 | 2000-09-12 | 塗布幅計測方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000276945A JP2002090119A (ja) | 2000-09-12 | 2000-09-12 | 塗布幅計測方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002090119A true JP2002090119A (ja) | 2002-03-27 |
Family
ID=18762337
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000276945A Pending JP2002090119A (ja) | 2000-09-12 | 2000-09-12 | 塗布幅計測方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002090119A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009198311A (ja) * | 2008-02-21 | 2009-09-03 | Toyota Motor Corp | Ｆｉｐｇ塗布ラインの検査方法 |
Citations (6)
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| JPH07140091A (ja) * | 1993-11-17 | 1995-06-02 | Nippon Avionics Co Ltd | パタ−ンの検査方法 |
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-
2000
- 2000-09-12 JP JP2000276945A patent/JP2002090119A/ja active Pending
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