JP2002084421A

JP2002084421A - 信号処理方法、信号処理装置及び画像読取装置

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Publication number: JP2002084421A
Application number: JP2001074738A
Authority: JP
Inventors: Kengo Kinumura; 謙悟絹村; Tsutomu Takayama; 勉高山; Atsuko Kashiwazaki; 敦子柏▲崎▼; Mitsugi Hanabusa; 貢英
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 2000-06-19
Filing date: 2001-03-15
Publication date: 2002-03-22
Anticipated expiration: 2021-03-15
Also published as: US20020048411A1; US7724951B2; JP4401590B2; US20070189636A1

Abstract

(57)【要約】【課題】赤外光ランプの特性やカラーフィルム種類、
光電変換素子の感度特性に関わらず、適切なゴミキズ検
出を安定して行うこと。【解決手段】可視光を照射する可視光照射手段と、赤
外光を照射する赤外光照射手段とによりそれぞれ透過原
稿を照射し、透過原稿の光学像を光電変換して得られる
可視光画像信号および赤外線画像信号を処理する信号処
理方法であって、前記赤外線画像信号に基づいてヒスト
グラムを生成する生成工程（Ｓ２１，Ｓ２１１）と、生
成したヒストグラムに基づいて、閾値を算出する算出工
程（Ｓ２１，Ｓ２１３）と、前記閾値と前記赤外線画像
信号とを比較し、前記閾値以下の赤外線画像信号を抽出
する抽出工程（Ｓ３０）と、抽出された赤外線画像信号
に対応する可視光画像信号を、その周辺の可視光画像信
号を用いて補間する補間工程（Ｓ４０）とを有する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、信号処理方法、信
号処理装置及び画像読取装置に関し、更に詳しくは透過
原稿上のゴミやキズ等による欠陥部分を補正する信号処
理方法、信号処理装置及び画像読取装置に関するもので
ある。

【０００２】

【従来の技術】従来の透過原稿の画像読取装置における
概略構成を図２８に示す。図２８において、原稿台ガラ
ス１４１上に載置されたポジ、ネガ等の透過原稿１４２
を、さらにその上部に設置された拡散板１４３を介して
透過原稿照明用ランプ１４４で照明し、透過原稿１４２
からの透過光を、ミラー１４７、ハノ字ミラー１４８、
結像レンズ１４９を介してＣＣＤ１５０に送り、多数の
単位個体撮像素子がライン状に配置されたＣＣＤ１５０
にて電気信号に変換することにより主走査方向の画像を
形成する。

【０００３】この場合の副走査方向の画像形成は、透過
原稿１４２に対して透過原稿照明用ランプ１４４、ミラ
ー１４７を同一速度、同一位相を保ったまま、副走査方
向に機械的に移動させ、ハノ字ミラー１４８を同方向に
走査速度２分の１で追従させ、透過原稿１４２からＣＣ
Ｄ１５０までの光路長（共役関係）を一定に保ちながら
行い、主走査と合わせてトータルで２次元の画像を形成
する。

【０００４】また、上記のような透過原稿の画像読取装
置において、不透明の用紙に記載された原稿に光を照射
して該用紙から反射する光が処理されるタイプの所謂、
反射原稿を読み取ることも可能である。その場合は、透
過原稿１４２の代わりに反射原稿を載置し、透過原稿照
明用ランプ１４４を消灯し、反射原稿照明用ランプ１４
５を点灯させて反射原稿照明用ランプ１４５による直接
光束と反射笠１４６による反射光束とにより照明し、反
射原稿からの反射光をＣＣＤ１５０にて読み取れば、透
過原稿の場合と同様に、主走査方向の画像を形成するこ
とができる。

【０００５】特にカラー読み取り方式では、反射原稿照
明用ランプ１４５に白色の分光特性を持つランプを用
い、且つＣＣＤ１５０に、ＲＧＢそれぞれの色のフィル
タを有する３ラインタイプＣＣＤを用いて、１回の走査
にてＲＧＢの各色の画像情報を同時に読み、画像処理回
路上にて、同一ライン上のＲＧＢの各色の信号を重ね合
わせることによってカラー画像を形成する３ラインカラ
ー画像読み取り方式が一般に知られている。

【０００６】ところで、上記のような透過原稿の画像読
取装置において、透過原稿上のゴミ・キズなどによる画
像上の欠陥部分を補正するためには、画像読取後に画像
編集ソフトによりレタッチ修正する以外に有効な方法が
なかった。そのために、欠陥部分の補正には非常に時間
を要していた。

【０００７】近年、このような透過原稿用の画像読取装
置において、透過原稿上に存在する埃などのゴミや、フ
ィルム面の損傷（キズ）を検知し（以下、この検知を
「ゴミキズ検知」という）、読み取られた画像から、こ
れらのゴミやキズの影響を画像処理にて取り除く、いわ
ゆるゴミキズ除去のための機能を備えた画像読取装置が
開発されてきている。

【０００８】図２９は、従来のゴミキズ検知用の機能を
有する画像読取装置１を示す図であり、図２８に示した
画像処理装置と同一の構成部分には同一の参照符号を付
して、その説明を省略する。

【０００９】図２９において、１５１は波長約８８０ｎ
ｍに発光強度のピークを有するＬＥＤから成る赤外光ラ
ンプである。

【００１０】また、図３０は、画像読取装置１により得
られる画像データを用いて、ゴミキズ除去を行うゴミキ
ズ除去部２の機能構成を示すブロック図である。図３０
において、２１は画像読み取り装置１により読み込んだ
画像データを入力するためのインターフェース（Ｉ／
Ｆ）、２２は透過原稿照明用ランプ１４４または反射原
稿照明用ランプ１４５を用いて読み込んだ画像（以下、
「普通画像」と呼ぶ。）を記憶するための画像メモリ、
２３は赤外線ランプ１５１を用いて読み込んだ画像（以
下、「赤外線画像」と呼ぶ。）を記憶するための赤外線
画像メモリ、２４は予め決められた閾値を保持する閾値
保持部、２５はゴミキズ検知部、２６はゴミキズ補正部
である。

【００１１】図３１は、透過原稿照明用ランプ１４４及
び赤外光ランプ１５１の分光強度分布を示す図であり、
各ランプの特性を実線、一点鎖線によってそれぞれ示
す。また、図３２は一般的なネガ、ポジカラーフィルム
のシアン色、イエロー色、マゼンタ色の各色素の分光透
過率特性と、赤外光ランプ１５１の分光強度分布のピー
ク波長（約８８０ｍｍ）を示したものである。図３２に
て明らかなように、一般的なカラーフィルムの場合に
は、どの色素であっても約８８０ｎｍにおける透過率は
非常に高いため、フィルム上の画像によらず赤外光ラン
プの光束はほとんど通過することになる。

【００１２】以下、ゴミキズ除去動作を行う場合の透過
原稿読取動作について、図３３に示すフローチャートに
従って詳細に説明する。

【００１３】先ず、ステップＳ１０において、図２９の
反射原稿照明用ランプ１４５及び赤外光ランプ１５１を
消灯し、透過原稿照明用ランプ１４４を点灯させる。こ
のとき透過原稿照明用ランプ１４４の照明光束は拡散板
１４３によって斑なく拡散され、その拡散光束が透過原
稿１４２を透過する。この透過光束がミラー１４７、ハ
ノ字ミラー１４８を通過し、さらに結像レンズ１４９を
通過し、ＣＣＤ１５０に投影される。ＣＣＤ１５０上に
投影された画像は電気信号に変換され、図３０のＩ／Ｆ
２１を介して画像メモリ２２に一時記憶される。

【００１４】次に、ステップＳ２０において、図２９の
反射原稿照明用ランプ１４５と透過原稿照明用ランプ１
４４とを消灯し、赤外光ランプ１５１を点灯させる。図
３１に示すような特性を備えた赤外光ランプ１５１の照
明光束は拡散板１４３によって斑なく拡散され、その拡
散光束が透過原稿１４２を透過し、更にミラー１４７、
ハノ字ミラー１４８、結像レンズ１４９を通過した光は
ＣＣＤ１５０に投影される。従って、透過原稿１４２を
透過した赤外光ランプ１５１の照明光束は、図３２に示
すようにネガ、ポジ等の透過原稿１４２の画像（感光
像）によらず透過し、物理的に光路を遮る埃、ゴミ、キ
ズ等の像がＣＣＤ１５０上に蔭として投影される。ＣＣ
Ｄ１５０上に投影された赤外線画像は電気信号に変換さ
れ、図３０のＩ／Ｆ２１を介して赤外線画像メモリ２３
に一時記憶される。

【００１５】次にステップＳ３０以降の工程でゴミキズ
の検出及び補正を行うが、ゴミキズ検知の原理について
ここで詳しく説明する。

【００１６】図３４は、透過原稿照明用ランプ１４４及
び赤外光ランプ１５１による読取画像の階調レベルを主
走査方向にプロットしたものと、ゴミなどの関係をわか
りやすく図示したものである。図３４（ａ）において、
１８１はポジフィルム、１８２はポジフィルム１８１上
のゴミである。図３４（ｂ）は図３４（ａ）の部分を透
過原稿照明用ランプ１４４で読み取った場合の階調レベ
ルであり、暗い部分ほど階調レベルは低い値を示してお
り、ゴミ１８２の部分の階調レベルは、ポジフィルム上
の画像によらずに当然低くなっている。図３４（ｃ）は
同じく図３４（ａ）の部分を赤外光ランプ１５１で読み
取った場合の階調レベルであり、ゴミ１８２の部分の階
調レベルは赤外光も通過しないために低くなり、ゴミ１
８２以外の部分は赤外光が通過してしまうためにほぼ一
定のレベル１８３となる。そこでレベル１８３よりも低
い階調レベルに閾値１８４を設定し、閾値１８４以下の
部分を抽出することでゴミによる欠陥領域１８５の検出
が可能となる。

【００１７】この閾値１８４は閾値保持部２４に予め保
持されており、従って、ステップＳ３０において、ゴミ
キズ検知部２５は閾値保持部２４からこの閾値１８４を
読み出し、赤外線画像メモリ２３から赤外線画像データ
を読み出して、順次赤外線画像データと閾値１８４とを
比較することで、欠陥領域１８５を検出する。

【００１８】赤外線画像データが閾値１８４よりも小さ
い場合は（ステップＳ３０でＮＯ）、ステップＳ４０で
この欠陥領域１８５を欠陥領域１８５の周囲の正常な領
域から補間処理などを行うことにより、ゴミ１８２によ
る影響を軽減する。上記比較動作を全ての赤外線画像デ
ータについて行い、欠陥領域が検出されると、対応する
普通画像のデータに対して補間処理を行う（ステップＳ
５０）。

【００１９】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような従来技術ではその検出精度が不充分なために、欠
陥部分を正しく検出できない、または正常部分まで誤検
出してしまう、といった問題があった。つまり、赤外線
が通過するほぼ一定のレベル１８３は赤外光ランプ１５
１の光量誤差や、赤外光ランプ１５１の発光波長８８０
ｎｍにおけるカラーフィルムの種類による透過率誤差
や、発光波長８８０ｎｍにおけるＣＣＤ１５０の感度誤
差などによって大きく変動するために、閾値１８４を固
定値で設定すると、レベル１８３が閾値１８４よりも低
い値となって正常画像部分まで検出してしまったり、逆
に、閾値１８４がレベル１８３に比べて低い階調レベル
になり過ぎて欠陥領域を正確に検出できなかったりして
しまうことがあった。

【００２０】本発明は上記問題点を鑑みてなされたもの
であり、透過原稿を読み取ってゴミキズを補正する場合
に、赤外光ランプの特性やカラーフィルム種類、光電変
換素子の感度特性に関わらず、適切なゴミキズ検出を安
定して行うことを目的とする。

【００２１】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の好適な一様態によれば、主に可視光を照射
する可視光照射手段と、主に赤外光を照射する赤外光照
射手段とによりそれぞれ透過原稿を照射し、透過原稿の
光学像を光電変換して得られる可視光画像信号および赤
外線画像信号を処理する信号処理方法であって、前記赤
外線画像信号に基づいてヒストグラムを生成する生成工
程と、前記生成工程で生成したヒストグラムに基づい
て、閾値を算出する算出工程と、前記算出工程で算出し
た閾値と、前記赤外線画像信号とを比較し、前記閾値以
下の赤外線画像信号を抽出する抽出工程と、前記抽出工
程において抽出された赤外線画像信号に対応する可視光
画像信号を、その周辺の可視光画像信号を用いて補間す
る補間工程とを有する。

【００２２】また、主に可視光を照射する可視光照射手
段と、主に赤外光を照射する赤外光照射手段とによりそ
れぞれ透過原稿を照射し、透過原稿の光学像を光電変換
して得られる可視光画像信号および赤外線画像信号を処
理する本発明の信号処理装置は、前記赤外線画像信号に
基づいてヒストグラムを生成する生成手段と、前記生成
手段により生成したヒストグラムに基づいて、閾値を算
出する算出手段と、前記算出手段により算出した閾値
と、前記赤外線画像信号とを比較し、前記閾値以下の赤
外線画像信号を抽出する抽出手段と、前記抽出手段によ
り抽出された赤外線画像信号に対応する可視光画像信号
を、その周辺の可視光画像信号を用いて補間する補間手
段とを有する。

【００２３】更に、本発明の透過原稿を読み取り可能な
画像読取装置は、主に可視光を照射する可視光照射手段
と、主に赤外光を照射する赤外光照射手段と、光学像を
電気信号に変換する光電変換手段と、前記赤外光照射手
段により透過原稿を照射して前記光電変換手段から得ら
れる赤外光画像信号に基づいて、ヒストグラムを生成す
る生成手段と、前記生成手段により生成したヒストグラ
ムに基づいて、閾値を算出する算出手段と、前記算出手
段により算出した閾値と前記赤外光画像信号とを比較
し、閾値以下の画像信号を抽出する抽出手段と、前記抽
出手段により抽出した赤外光画像信号に対応する、前記
可視光照射手段により透過原稿を照射して前記光電変換
手段から得られる可視光画像信号をその周辺の可視光画
像信号を用いて補間する補間手段とを有する。

【００２４】また、上記目的を達成するために、本発明
の好適な別の一様態によれば、主に可視光を照射する可
視光照射手段と、主に赤外光を照射する赤外光照射手段
とによりそれぞれ透過原稿を照射し、透過原稿の光学像
を光電変換して得られる可視光画像信号および赤外線画
像信号を処理する信号処理方法であって、前記赤外線画
像信号に基づいてヒストグラムを生成する生成工程と、
前記生成工程で生成したヒストグラムに基づいて、閾値
を算出する算出工程と、前記算出工程で算出した閾値
と、前記赤外線画像信号とを比較し、前記閾値以下の赤
外線画像信号を抽出する抽出工程と、前記抽出工程で抽
出された赤外線画像信号に対応する画像領域とその周辺
へ所定サイズ拡大した領域とに対応する可視光画像信号
を、その周辺の可視光画像信号を用いて補間する補間工
程とを有する。

【００２５】また、主に可視光を照射する可視光照射手
段と、主に赤外光を照射する赤外光照射手段とによりそ
れぞれ透過原稿を照射し、透過原稿の光学像を光電変換
して得られる可視光画像信号および赤外線画像信号を処
理する本発明の信号処理装置は、前記赤外線画像信号に
基づいてヒストグラムを生成する生成手段と、前記生成
手段により生成したヒストグラムに基づいて、閾値を算
出する算出手段と、前記算出手段により算出した閾値
と、前記赤外線画像信号とを比較し、前記閾値以下の赤
外線画像信号を抽出する抽出手段と、前記抽出手段で抽
出された赤外線画像信号に対応する画像領域とその周辺
へ所定サイズ拡大した領域とに対応する可視光画像信号
を、その周辺の可視光画像信号を用いて補間する補間手
段とを有する。

【００２６】更に、本発明の透過原稿を読み取り可能な
画像読取装置は、主に可視光を照射する可視光照射手段
と、主に赤外光を照射する赤外光照射手段と、光学像を
電気信号に変換する光電変換手段と、前記赤外光照射手
段により透過原稿を照射して前記光電変換手段から得ら
れる赤外光画像信号に基づいて、ヒストグラムを生成す
る生成手段と、前記生成手段により生成したヒストグラ
ムに基づいて、閾値を算出する算出手段と、前記算出手
段により算出した閾値と前記赤外光画像信号とを比較
し、閾値以下の画像信号を抽出する抽出手段と、前記抽
出手段により抽出した赤外線画像信号に対応する画像領
域とその周辺へ所定サイズ拡大した領域とに対応する、
前記可視光照射手段により透過原稿を照射して前記光電
変換手段から得られる可視光画像信号を、その周辺の可
視光画像信号を用いて補間する補間手段とを有する。

【００２７】また、上記目的を達成するために、本発明
の好適な別の一様態によれば、主に可視光を照射する可
視光照射手段と、主に赤外光を照射する赤外光照射手段
とによりそれぞれ透過原稿を照射し、透過原稿の光学像
を光電変換して得られる可視光画像信号および赤外線画
像信号を処理する信号処理方法であって、前記赤外線画
像信号に基づいてヒストグラムを生成する生成工程と、
前記生成工程で生成したヒストグラムに基づいて、閾値
を算出する算出工程と、前記算出工程で算出した閾値
と、前記赤外線画像信号とを比較し、前記閾値以下の赤
外線画像信号を抽出する抽出工程と、前記抽出工程で抽
出された赤外線画像信号に対応する領域から所定サイズ
の領域を縮小した領域に対応する可視光画像信号を、そ
の周辺の可視光画像信号を用いて補間する補間工程とを
有する。

【００２８】また、主に可視光を照射する可視光照射手
段と、主に赤外光を照射する赤外光照射手段とによりそ
れぞれ透過原稿を照射し、透過原稿の光学像を光電変換
して得られる可視光画像信号および赤外線画像信号を処
理する本発明の信号処理装置は、前記赤外線画像信号に
基づいてヒストグラムを生成する生成手段と、前記生成
手段により生成したヒストグラムに基づいて、閾値を算
出する算出手段と、前記算出手段により算出した閾値
と、前記赤外線画像信号とを比較し、前記閾値以下の赤
外線画像信号を抽出する抽出手段と、前記抽出手段で抽
出された赤外線画像信号に対応する領域から所定サイズ
の領域を縮小した領域に対応する可視光画像信号を、そ
の周辺の可視光画像信号を用いて補間する補間手段とを
有する。

【００２９】更に、本発明の透過原稿を読み取り可能な
画像読取装置は、主に可視光を照射する可視光照射手段
と、主に赤外光を照射する赤外光照射手段と、光学像を
電気信号に変換する光電変換手段と、前記赤外光照射手
段により透過原稿を照射して前記光電変換手段から得ら
れる赤外光画像信号に基づいて、ヒストグラムを生成す
る生成手段と、前記生成手段により生成したヒストグラ
ムに基づいて、閾値を算出する算出手段と、前記算出手
段により算出した閾値と前記赤外光画像信号とを比較
し、閾値以下の画像信号を抽出する抽出手段と、前記抽
出手段により抽出した赤外線画像信号に対応する領域か
ら所定サイズの領域を縮小した領域に対応する、前記可
視光照射手段により透過原稿を照射して前記光電変換手
段から得られる可視光画像信号を、その周辺の可視光画
像信号を用いて補間する補間手段とを有する。

【００３０】また、上記目的を達成するために、本発明
の好適な別の一様態によれば、主に可視光を照射する可
視光照射手段と、主に赤外光を照射する赤外光照射手段
とによりそれぞれ透過原稿を照射し、透過原稿の光学像
を光電変換して得られる可視光画像信号および赤外線画
像信号を処理する信号処理方法であって、前記赤外線画
像信号の輪郭補正を行う輪郭補正工程と、前記輪郭補正
された赤外線画像信号に基づいてヒストグラムを生成す
る生成工程と、前記生成工程で生成したヒストグラムに
基づいて、閾値を算出する算出工程と、前記算出工程で
算出した閾値と、前記輪郭補正された赤外線画像信号と
を比較し、前記閾値以下の赤外線画像信号を抽出する抽
出工程と、前記抽出工程において抽出された赤外線画像
信号に対応する可視光画像信号を、その周辺の可視光画
像信号を用いて補間する補間工程とを有する。

【００３１】また、主に可視光を照射する可視光照射手
段と、主に赤外光を照射する赤外光照射手段とによりそ
れぞれ透過原稿を照射し、透過原稿の光学像を光電変換
して得られる可視光画像信号および赤外線画像信号を処
理する本発明の信号処理装置は、前記赤外線画像信号の
輪郭補正を行う輪郭補正手段と、前記輪郭補正された赤
外線画像信号に基づいてヒストグラムを生成する生成手
段と、前記生成手段により生成したヒストグラムに基づ
いて、閾値を算出する算出手段と、前記算出手段により
算出した閾値と、前記輪郭補正された赤外線画像信号と
を比較し、前記閾値以下の赤外線画像信号を抽出する抽
出手段と、前記抽出手段により抽出された赤外線画像信
号に対応する可視光画像信号を、その周辺の可視光画像
信号を用いて補間する補間手段とを有する。

【００３２】更に、本発明の透過原稿を読み取り可能な
画像読取装置は、主に可視光を照射する可視光照射手段
と、主に赤外光を照射する赤外光照射手段と、光学像を
電気信号に変換する光電変換手段と、前記赤外光照射手
段により透過原稿を照射して前記光電変換手段から得ら
れる赤外光画像信号の輪郭補正を行う輪郭補正手段と、
前記輪郭補正された赤外光画像信号に基づいて、ヒスト
グラムを生成する生成手段と、前記生成手段により生成
したヒストグラムに基づいて、閾値を算出する算出手段
と、前記算出手段により算出した閾値と前記輪郭補正さ
れた赤外光画像信号とを比較し、閾値以下の画像信号を
抽出する抽出手段と、前記抽出手段により抽出された赤
外線画像信号に対応する可視光画像信号を、その周辺の
可視光画像信号を用いて補間する補間手段とを有する。

【００３３】好ましくは、前記輪郭補正工程における輪
郭補正量及び前記輪郭補正手段の輪郭補正量は、前記可
視光照射手段と前記赤外光照射手段との色収差に伴うＭ
ＴＦ劣化分に関連づけた量とする。

【００３４】本発明の好適な一様態によれば、前記生成
工程では、前記赤外線画像信号の各階調レベルにおける
頻度数のヒストグラムを作成し、前記生成手段は、前記
赤外線画像信号の各階調レベルにおける頻度数のヒスト
グラムを作成する。

【００３５】また、本発明の好適な一様態によれば、前
記算出工程では、前記赤外線画像信号を代表する階調レ
ベルから、所定の関係式により求められる値を差し引い
て前記閾値を算出し、前記算出手段は、前記赤外線画像
信号を代表する階調レベルから、所定の関係式により求
められる値を差し引いて前記閾値を算出する。

【００３６】また、本発明の好適な一様態によれば、前
記算出工程は、前記ヒストグラムの頻度数の中間値を求
める工程と、前記中間値に対応する階調レベルから、所
定値を差し引いて前記閾値を求める工程とを有し、前記
算出手段は、前記ヒストグラムの頻度数の中間値を求め
る手段と、前記中間値に対応する階調レベルから、所定
値を差し引いて前記閾値を求める手段とを有する。

【００３７】また、本発明の好適な別の一様態によれ
ば、前記算出工程は、前記ヒストグラムの最大頻度数を
求める工程と、前記最大頻度数に対応する階調レベルか
ら、所定値を差し引いて前記閾値を求める工程とを有
し、前記算出手段は、前記ヒストグラムの最大頻度数を
求める手段と、前記最大頻度数に対応する階調レベルか
ら、所定値を差し引いて前記閾値を求める手段とを有す
る。

【００３８】また、本発明の好適な別の一様態によれ
ば、前記算出工程は、前記ヒストグラムの最大階調レベ
ルを求める工程と、前記最大階調レベルから、所定値を
差し引いて前記閾値を求める工程とを有し、前記算出手
段は、前記ヒストグラムの最大階調レベルを求める手段
と、前記最大階調レベルから、所定値を差し引いて前記
閾値を求める手段とを有する。

【００３９】また、本発明の好適な別の一様態によれ
ば、前記算出工程は、前記ヒストグラムの平均階調レベ
ルを求める工程と、前記平均階調レベルから、所定値を
差し引いて前記閾値を求める工程とを有し、前記算出手
段は、前記ヒストグラムの平均階調レベルを求める手段
と、前記平均階調レベルから、所定値を差し引いて前記
閾値を求める手段とを有する。

【００４０】また、本発明の好適な別の一様態によれ
ば、前記算出工程は、前記ヒストグラムの最大階調レベ
ルを求める工程と、前記最大階調レベルに、所定値を掛
けて前記閾値を求める工程とを有し、前記算出手段は、
前記ヒストグラムの最大階調レベルを求める手段と、前
記最大階調レベルに、所定値を掛けて前記閾値を求める
手段とを有する。

【００４１】また、本発明の好適な別の一様態によれ
ば、前記算出工程は、前記ヒストグラムの最大階調レベ
ルを求める工程と、前記ヒストグラムの平均階調レベル
を求める工程と、前記平均階調レベルから、前記最大階
調レベルと前記平均階調レベルの差に所定値を掛けて得
た積を差し引いて、前記閾値を求める工程とを有し、前
記算出手段は、前記ヒストグラムの最大階調レベルを求
める手段と、前記ヒストグラムの平均階調レベルを求め
る手段と、前記平均階調レベルから、前記最大階調レベ
ルと前記平均階調レベルの差に所定値を掛けて得た積を
差し引いて、前記閾値を求める手段とを有する。

【００４２】本発明の好適な一様態によれば、前記所定
値は予め保持されている。

【００４３】また、本発明の好適な別の一様態によれ
ば、前記所定値は外部より入力される。

【００４４】また、本発明の好適な一様態によれば、前
記算出工程は標準偏差を求める工程と、前記標準偏差に
基づいて前記所定値を決定する工程とを更に有し、前記
算出手段は標準偏差を求める手段と、前記標準偏差に基
づいて前記所定値を決定する手段とを更に有する。

【００４５】また、本発明の好適な一様態によれば、前
記赤外線画像信号を複数のブロックに分割する分割工程
または前記赤外線画像信号を複数のブロックに分割する
分割手段を更に有し、前記ブロック毎に前記可視光画像
信号および前記赤外線画像信号を処理する。

【００４６】また、本発明の好適な一様態によれば、上
記信号処理方法は、前記赤外線画像信号の内、前記透過
原稿を保持する保持手段に対応する信号を検出する検出
工程と、前記検出工程において前記保持手段に対応する
信号を検出した場合に、当該信号を所定信号値に置き換
える置き換え工程とを更に有し、また、上記信号処理装
置及び画像読取装置は、前記赤外線画像信号の内、前記
透過原稿を保持する保持手段に対応する信号を検出する
検出手段と、前記検出手段が前記保持手段に対応する信
号を検出した場合に、当該信号を所定信号値に置き換え
る置き換え手段とを更に有する。

【００４７】また、本発明の好適な一様態によれば、上
記信号処理方法は、前記赤外線画像信号の平均値を算出
する工程を更に有し、前記置き換え工程で置き換える所
定信号値は、前記平均値である。また、上記信号処理装
置及び画像読取装置は前記赤外線画像信号の平均値を算
出する手段を更に有し、前記置き換え手段で置き換える
所定信号値は、前記平均値である。

【００４８】また、本発明の好適な一様態によれば、上
記信号処理方法は、前記赤外線画像信号の内、前記透過
原稿を保持する保持手段に対応する信号を検出する検出
工程と、前記検出工程において前記保持手段に対応する
信号を検出した場合に、当該信号を除去する工程とを更
に有し、上記信号処理装置及び画像読取装置は、前記赤
外線画像信号の内、前記透過原稿を保持する保持手段に
対応する信号を検出する検出手段と、前記検出手段が前
記保持手段に対応する信号を検出した場合に、当該信号
を除去する手段とを更に有する。

【００４９】

【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して本発明
の好適な実施の形態を詳細に説明する。

【００５０】＜第１の実施形態＞以下、第１の実施形態
について説明する。なお、本第１の実施形態で用いられ
る画像読み取り装置の構成は図２９に示すものと同様で
あるので、説明を省略する。

【００５１】また図１は、本第１の実施形態の画像読取
装置１から出力される画像信号に対してゴミキズ除去を
行うゴミキズ除去部３の機能構成を示すブロック図であ
る。なお、図１では、ゴミキズ除去部３は画像読み取り
装置１とは別の装置として示されているが、画像読み取
り装置１内部に構成しても構わない。

【００５２】図１において、２１は画像読み取り装置１
により読み込んだ画像データを入力するためのインター
フェース（Ｉ／Ｆ）、２２は透過原稿照明用ランプ１４
４または反射原稿照明用ランプ１４５を用いて読み込ん
だ画像（以下、「普通画像」と呼ぶ。）を記憶するため
の画像メモリ、２３は赤外線ランプ１５１を用いて読み
込んだ画像（以下、「赤外線画像」と呼ぶ。）を記憶す
るための赤外線画像メモリ、２５はゴミキズ検知部、２
６はゴミキズ補正部である。更に、本第１の実施形態に
おいては、ヒストグラム生成部３１と、閾値決定・保存
部３２とを有する。

【００５３】次に、図２のフローチャートを参照しなが
ら、本第１の実施形態におけるゴミキズ除去動作を行う
場合の透過原稿読取動作について詳細に説明する。

【００５４】先ず、ステップＳ１０において、図２９の
反射原稿照明用ランプ１４５及び赤外光ランプ１５１を
消灯し、透過原稿照明用ランプ１４４を点灯させる。こ
のとき透過原稿照明用ランプ１４４の照明光束は拡散板
１４３によって斑なく拡散され、その拡散光束が透過原
稿１４２を透過する。この透過光束がミラー１４７、ハ
ノ字ミラー１４８を通過し、さらに結像レンズ１４９を
通過し、ＣＣＤ１５０に投影される。ＣＣＤ１５０上に
投影された画像は電気信号に変換され、図１のＩ／Ｆ２
１を介して画像メモリ２２に一時記憶される。

【００５５】次に、ステップＳ２０において、図２９の
反射原稿照明用ランプ１４５と透過原稿照明用ランプ１
４４とを消灯し、赤外光ランプ１５１を点灯させる。図
３１に示すような特性を備えた赤外光ランプ１５１の照
明光束は拡散板１４３によって斑なく拡散され、その拡
散光束が透過原稿１４２を透過し、更にミラー１４７、
ハノ字ミラー１４８、結像レンズ１４９を通過した光は
ＣＣＤ１５０に投影される。従って、透過原稿１４２を
透過した赤外光ランプ１５１の照明光束は、図３２に示
すようにネガ、ポジ等の透過原稿１４２の画像（感光
像）によらず透過し、物理的に光路を遮る埃、ゴミ、キ
ズ等の像がＣＣＤ１５０上に蔭として投影される。ＣＣ
Ｄ１５０上に投影された赤外線画像は電気信号に変換さ
れ、図１のＩ／Ｆ２１を介して赤外線画像メモリ２３に
一時記憶される。

【００５６】ここで本第１の実施形態においては、赤外
線画像メモリ２３に一時記憶された赤外線画データを用
いて、ステップＳ３０で用いる閾値Ｌ２を算出する（ス
テップＳ２１）。この算出方法について図３乃至図５を
参照して以下詳しく説明する。

【００５７】図３は、ステップＳ２１で行われる閾値Ｌ
２の算出方法を示すフローチャトであり、図４（ａ）
は、ポジフィルム１０１上にゴミ１０２がある状態、図
４（ｂ）は図４（ａ）の部分を図２９に示す透過原稿照
明用ランプ１４４で読み取った場合の階調レベル、図４
（ｃ）は同じく図４（ａ）の部分を図２９の赤外光ラン
プ１５１で読み取った場合の階調レベルを示す。

【００５８】まず、ステップＳ２１０において、図１の
ヒストグラム生成部３１は、赤外線画像メモリ２３から
赤外線画像データを読み出し、ステップＳ２１１で階調
レベルに対するその出現回数のヒストグラムを生成す
る。

【００５９】図５は、赤外線画像メモリ２３から読み出
した赤外線画像の階調レベルを基にして生成したヒスト
グラムの一例であり、縦軸は画素数単位の頻度数を表
し、横軸は階調レベルを示し、高い数値ほど明るい画像
データであることを示す。

【００６０】次のステップＳ２１２において、閾値決定
・保存部３２は、作成されたヒストグラムから頻度数の
中間値を算出し、対応する階調レベルＬ１を得る。な
お、頻度数の中間値とは頻度数の合計を２分した値であ
り、階調レベルの低い方または高い方から、高い方また
は低い方へ順に頻度数を加算して行った時に、和が頻度
数の中間値を越えた時の階調レベルをＬ１とする。一般
的に全体画像の中でゴミ１０２の占める割合は少ないの
で、頻度数の中間値に対応する階調レベルＬ１はゴミ１
０２部分以外の画像の階調レベルの中間値にほぼ等しく
なる。また、ゴミ１０２部分の階調レベルは図５の２０
１に示すように分布しており、頻度数の中間値に対応す
る階調レベルＬ１よりも低い値である。

【００６１】従って、本第１の実施形態では、このヒス
トグラムデータの頻度数の中間値に対応する階調レベル
Ｌ１に注目し、ゴミ１０２を検出するための閾値を、ゴ
ミ１０２の分布する階調レベル２０１の最大値近辺とな
るように、この階調レベルＬ１より所定レベルΔＬ１だ
け低い階調レベルＬ２に設定する（ステップＳ２１
３）。なお、この所定レベルΔＬ１は、予め設定してあ
るものを閾値決定・保存部３２に格納しておいても良い
し、作成したヒストグラム及び階調レベルＬ１を表示部
に表示し、ユーザーがΔＬ１をマニュアルで入力設定で
きるように構成しても良い。

【００６２】閾値決定・保存部３２は、このようにして
決定した閾値Ｌ２を保存し、処理は図２のステップＳ３
０に進む。ステップＳ３０において、ゴミキズ検知部２
５は閾値決定・保持部３２から閾値Ｌ２を読み出し、赤
外線画像メモリ２３から赤外線画像データを読み出し
て、順次赤外線画像データと閾値Ｌ２とを比較すること
で、欠陥領域１０５を検出する。

【００６３】赤外線画像データが閾値Ｌ２よりも小さい
場合は（ステップＳ３０でＹＥＳ）、その画像データが
ゴミ１０２によりデータの欠損が生じた欠陥領域１０５
内にあると判断し、ステップＳ４０でこの欠陥領域１０
５を欠陥領域１０５の周囲の正常な領域から補間処理な
どを行うことにより（ステップＳ４０）、ゴミ１０２に
よる影響を軽減する。逆に、赤外線画像データが閾値Ｌ
２以上であれば（ステップＳ３０でＮＯ）ゴミなどによ
る影響を受けていない無い領域のデータであると判断す
る。上記比較動作を全ての赤外線画像データについて行
い（ステップＳ５０）、欠陥領域１０５が検出された場
合には、補間処理を行う。

【００６４】このように第１の実施形態によれば、閾値
レベル１０４、すなわち閾値Ｌ２によって検出される欠
陥領域１０５として、ゴミ１０２部分をほぼ正確に検出
することが可能となる。

【００６５】＜第２の実施形態＞次に、第２の実施形態
について説明する。

【００６６】上記第１の実施形態においては、閾値Ｌ２
を決定する際に階調レベルの頻度数のヒストグラムを生
成し、頻度数の中間値に対応する階調レベルＬ１から予
め決めておいたΔＬ１を差し引くことにより閾値Ｌ２を
求めたが、本第２の実施形態においては、頻度数が最大
となる階調レベルを用いて、閾値を決定する。閾値の決
定方法以外の動作は第１の実施形態と同様であるため、
説明を省略する。以下、閾値決定動作について図６及び
図７を参照して説明するが、図６及び図７において、図
４及び図５と共通するものについては、同一の符号を付
して説明を省略する。

【００６７】図６（ａ）は、ポジフィルム１０１上にゴ
ミ１０２がある状態を示し、図６（ｂ）は図６（ａ）の
部分を図２９に示す透過原稿照明用ランプ１４４で読み
取った場合の階調レベルを示す。また、図６（ｃ）は同
じく図６（ａ）の部分を図２９に示す赤外光ランプ１５
１で読み取った場合の階調レベルを示す。

【００６８】図７は、第１の実施形態と同様に、赤外線
画像メモリ２３から読み出した赤外線画像の階調レベル
を基にして生成したヒストグラムの一例であり、縦軸は
画素数単位の頻度数を表し、横軸は階調レベルを示す。

【００６９】閾値決定・保存部３２は、このようにして
生成したヒストグラムから頻度数が最大となる階調レベ
ルＬ３を得る。図７に示す例では、頻度数が最大となる
階調レベルは図６の３０３にも示すようにＬ３である。
一般的に全体画像の中でゴミ１０２の占める割合は少な
いので、頻度数の最大値に対応する階調レベルＬ３はゴ
ミ１０２部分以外の画像の階調レベルの平均値にほぼ等
しくなる。また、ゴミ１０２部分の階調レベルは図７の
２０１に示すように分布しており、頻度数の最大値に対
応する階調レベルＬ３よりも低い値である。

【００７０】従って、本第２の実施形態では、このヒス
トグラムデータの頻度数の最大値に対応する階調レベル
Ｌ３を求め、ゴミ１０２を検出するための閾値を、ゴミ
１０２の分布する階調レベル２０１の最大値近辺となる
ように、この階調レベルＬ３より所定レベルΔＬ３だけ
低い階調レベルＬ４に設定する。なお、この所定レベル
ΔＬ３は、予め設定してあるものを閾値決定・保存部３
２に格納しておいても良いし、作成したヒストグラム及
び階調レベルＬ３を表示部に表示し、ユーザーがΔＬ３
をマニュアルで入力設定できるように構成しても良い。

【００７１】本第２の実施形態では、このようにして得
た閾値Ｌ４を図２のステップＳ３０で閾値Ｌ２の代わり
に用いる。

【００７２】このように第２の実施形態によれば、閾値
レベル３０４、すなわち閾値Ｌ４によって検出される欠
陥領域３０５として、ゴミ１０２部分をほぼ正確に検出
することが可能となる。

【００７３】＜第３の実施形態＞次に、第３の実施形態
について説明する。

【００７４】本第３の実施形態は、最大階調レベルを用
いて閾値を決定する点が、上記第１及び第２の実施形態
とは異なる。閾値の決定方法以外の動作は第１または第
２の実施形態と同様であるため、説明を省略する。以
下、閾値決定動作について図８及び図９を参照して説明
するが、図８及び図９において、図４及び図５と共通す
るものについては、同一の符号を付して説明を省略す
る。

【００７５】図８（ａ）は、ポジフィルム１０１上のゴ
ミ１０２がある状態を示す。図８（ｂ）は図８（ａ）の
部分を図２９に示す透過原稿照明用ランプ１４４で読み
取った場合の階調レベルを示す。また、図８（ｃ）は同
じく図８（ａ）の部分を図２９に示す赤外光ランプ１５
１で読み取った場合の階調レベルを示す。

【００７６】図９は、第１の実施形態と同様に、赤外線
画像メモリ２３から読み出した赤外線画像の階調レベル
を基にして生成したヒストグラムの一例であり、縦軸は
画素数単位の頻度数を表し、横軸は階調レベルを示す。

【００７７】閾値決定・保存部３２は、このようにして
生成したヒストグラムから最大の階調レベルＬ５を得
る。図９に示す例では、画像全体のデータの中で最大階
調レベルは図８の５０３にも示すようにＬ５である。全
体画像の中で階調レベルが最大となるのはゴミ１０２が
ない部分となるので、最大階調レベルＬ５はゴミ１０２
部分以外の画像の階調レベルの最大値に等しくなる。ま
た、ゴミ１０２部分の階調レベルは図９の２０１に示す
ように分布しており、最大階調レベルＬ５よりも低い値
となっている。

【００７８】従って、本第３の実施形態では、この最大
階調レベルＬ５を求め、ゴミ１０２を検出するための閾
値を、ゴミ１０２の分布する階調レベル２０１の最大値
近辺となるように、この階調レベルＬ５より所定レベル
ΔＬ５だけ低い階調レベルＬ６に設定する。なお、この
所定レベルΔＬ５は、予め設定してあるものを閾値決定
・保存部３２に格納しておいても良いし、作成したヒス
トグラム及び階調レベルＬ３を表示部に表示し、ユーザ
ーがΔＬ５をマニュアルで入力設定できるように構成し
ても良い。

【００７９】本第３の実施形態では、このようにして得
た閾値Ｌ６を図２のステップＳ３０で閾値Ｌ２の代わり
に用いる。

【００８０】このように第３の実施形態によれば、閾値
レベル５０４、すなわち閾値Ｌ６によって検出される欠
陥領域５０５として、ゴミ１０２部分をほぼ正確に検出
することが可能となる。

【００８１】＜第４の実施形態＞次に第４の実施形態に
ついて説明する。

【００８２】本第４の実施形態は、平均階調レベルを用
いて閾値を決定する点が、上記第１乃至第３の実施形態
とは異なる。閾値の決定方法以外の動作は第１乃至第３
の実施形態と同様であるため、説明を省略する。以下、
閾値決定動作について説明する。

【００８３】まず、第１の実施形態と同様に、赤外線画
像メモリ２３から読み出した赤外線画像の階調レベルを
基にしてヒストグラムを生成する。閾値決定・保存部３
２は、このようにして生成したヒストグラムの平均階調
レベルＬaveを得る。その後予め決めておいたΔＬaveを
差し引くことにより閾値Ｌth1を求める。これを式で表
すと、Ｌth1＝Ｌave−ΔＬave

【００８４】となる。なお、この所定レベルΔＬave
は、予め設定してあるものを閾値決定・保存部３２に格
納しておいても良いし、作成したヒストグラム及び平均
階調レベルＬaveを表示部に表示し、ユーザーがΔＬave
をマニュアルで入力設定できるように構成しても良い。

【００８５】本第４の実施形態では、このようにして得
た閾値Ｌth1を図２のステップＳ３０で閾値Ｌ２の代わ
りに用いる。

【００８６】このように第４の実施形態によれば、閾値
Ｌth1によって検出される欠陥領域として、ゴミ部分を
ほぼ正確に検出することが可能となる。

【００８７】＜第５の実施形態＞次に、第５の実施形態
について説明する。

【００８８】本第５の実施形態では、第１〜第４の実施
形態で用いた値ΔＬ１、ΔＬ３、ΔＬ５、ΔＬaveを、
図２９における赤外光ランプ１５１で読み取った画像の
ヒストグラムデータより算出した標準偏差値を用いて設
定する。ここでは、頻度数の中間値に対応する階調レベ
ルを基にして閾値を決定する第１の実施形態で説明した
方法を例に取って、図１０及び図１１を参照して説明す
る。なお、図１０及び図１１において、図４及び図５と
共通するものについては、同一の符号を付して説明を省
略する。

【００８９】図１１に示すように、赤外線画像メモリ２
３から読み出した赤外線画像の階調レベルを基にして生
成したヒストグラムの標準偏差値σを算出する。一般的
に全体画像の中でゴミ１０２の占める割合は少ないの
で、標準偏差値σはゴミ１０２部分以外の画像の階調レ
ベルの標準偏差値にほぼ等しくなる。

【００９０】そして、ゴミ１０２を検出するための閾値
を、ゴミ１０２の分布する階調レベル２０１の最大値近
辺となるように、頻度数の中間値に対応する階調レベル
Ｌ１より標準偏差値σのｋ倍（ｋは任意の正の数）だけ
低い階調レベルＬ７に設定する。なお、ｋの値は、上記
第１〜第４の実施形態のどの方法を用いるかにより適宜
決定すればよい。

【００９１】本第５の実施形態では、このようにして得
た閾値Ｌ７を図２のステップＳ３０で閾値Ｌ２の代わり
に用いる。

【００９２】このように第５の実施形態によれば、閾値
レベル７０４、すなわち閾値Ｌ７によって検出される欠
陥領域７０５として、ゴミ１０２部分をほぼ正確に検出
することが可能となる。

【００９３】＜第６の実施形態＞次に第６の実施形態に
ついて説明する。

【００９４】本第６の実施形態では、最大階調レベルを
用いて閾値を決定するが、第３の実施形態において最大
階調レベルＬ５を用いて決定した方法とは異なる方法で
閾値を決定する。なお、以下に示す最大階調レベルＬma
xは、第３の実施形態における最大階調レベルＬ５と同
様である。閾値の決定方法以外の動作は第１乃至第５の
実施形態と同様であるため、説明を省略する。以下、閾
値決定動作について説明する。

【００９５】まず、第１の実施形態と同様に、赤外線画
像メモリ２３から読み出した赤外線画像の階調レベルを
基にしてヒストグラムを生成する。閾値決定・保存部３
２は、このようにして生成したヒストグラムの最大階調
レベルＬmaxを得る。その後予め決めておいた係数ｎ
（＜１）を最大階調レベルＬaveに掛けることにより、
閾値Ｌth2を求める。これを式で表すと、Ｌth2＝Ｌmax×ｎ

【００９６】となる。なお、この係数ｎは、予め設定し
てあるものを閾値決定・保存部３２に格納しておいても
良いし、作成したヒストグラム及び最大階調レベルＬma
xを表示部に表示し、ユーザーが係数ｎをマニュアルで
入力設定できるように構成しても良い。

【００９７】本第６の実施形態では、このようにして得
た閾値Ｌth2を図２のステップＳ３０で閾値Ｌ２の代わ
りに用いる。

【００９８】このように第６の実施形態によれば、閾値
Ｌth2によって検出される欠陥領域として、ゴミ部分を
ほぼ正確に検出することが可能となる。

【００９９】＜第７の実施形態＞次に第７の実施形態に
ついて説明する。

【０１００】本第７の実施形態では、平均階調レベル及
び最大階調レベルを用いて閾値を決定する点が、上記第
１乃至第６の実施形態とは異なる。なお、以下に示す平
均階調レベルＬaveは、第４の実施形態における平均階
調レベルＬaveと、最大階調レベルＬmaxは、第３の実施
形態における最大階調レベルＬ５と同様である。閾値の
決定方法以外の動作は第１乃至第６の実施形態と同様で
あるため、説明を省略する。以下、閾値決定動作につい
て説明する。

【０１０１】まず、第１の実施形態と同様に、赤外線画
像メモリ２３から読み出した赤外線画像の階調レベルを
基にしてヒストグラムを生成する。閾値決定・保存部３
２は、このようにして生成したヒストグラムの平均階調
レベルＬave及び最大階調レベルＬmaxを得る。その後、
最大階調レベルＬmaxと平均階調レベルＬaveとの差に予
め決めておいた係数ｎを掛け、得られた積を平均階調レ
ベルＬaveから引くことにより、閾値Ｌth3を求める。こ
れを式で表すと、Ｌth3＝Ｌave−（Ｌmax−Ｌave）×ｎ

【０１０２】となる。なお、この係数ｎは、予め設定し
てあるものを閾値決定・保存部３２に格納しておいても
良いし、作成したヒストグラム及び最大階調レベルＬma
xを表示部に表示し、ユーザーが係数ｎをマニュアルで
入力設定できるように構成しても良い。

【０１０３】本第７の実施形態では、このようにして得
た閾値Ｌth3を図２のステップＳ３０で閾値Ｌ２の代わ
りに用いる。

【０１０４】このように第６の実施形態によれば、閾値
Ｌth3によって検出される欠陥領域として、ゴミ部分を
ほぼ正確に検出することが可能となる。

【０１０５】＜第８の実施形態＞次に、第８の実施形態
について説明する。

【０１０６】第１〜第７の実施形態においては、図２９
における赤外光ランプ１５１で読み取った画像全体のヒ
ストグラムデータに基づいて、ゴミを検出するための閾
値を設定したが、本第８の実施形態においては、図１２
に示すように、画像全体を所定のＭ画素×Ｎ画素サイズ
毎にブロック化し、各ブロック毎にヒストグラムを生成
して、それをもとにゴミを検出するための閾値をそれぞ
れ設定する。このようにブロック毎に閾値を設定する方
法は、赤外光ランプ１５１の発光波長域において、カラ
ーフィルムのシアン色の色素の透過率が充分でないよう
なフィルムを読み込む場合に効果的である。

【０１０７】図１３は、ある種類のカラーフィルムにお
ける３色（イエロー、マゼンタ、シアン）の色素の分光
透過率特性と、赤外光ランプ１５１の分光強度分布のピ
ーク波長（約８８０ｎｍ）を示したものである。フィル
ム上の画像にシアン色の色素があった場合に、約８８０
ｎｍにおけるシアン色の透過率がイエロー色やマゼンタ
色に比べて低いために、その部分の読取画像の階調レベ
ルが下がり、赤外線画像にフィルム画像の階調データが
混入してしまうことになる。こういった場合に、ブロッ
ク毎に閾値を決定することで、欠陥領域の誤判断を削減
することが可能になる。

【０１０８】以下、第８の実施形態における処理につい
て、図１２〜図１３を参照して説明する。なお、図１４
において、図４と共通するものについては、同一の符号
を付して説明を省略する。

【０１０９】図１４（ａ）は、ポジフィルム１０１上の
ゴミ１０２がある状態を示す。図１４（ｂ）は図１４
（ａ）の部分を図２９に示す透過原稿照明用ランプ１４
４で読み取った場合の階調レベルを示す。また、図１４
（ｃ）は同じく図１４（ａ）の部分を図２９に示す赤外
光ランプ１５１で読み取った場合の階調レベルを示す。
本第８の実施形態における図１４（ｃ）に示す例では、
ポジフィルム１０１上のゴミ１０２以外に、ポジ画像の
階調データ成分１００１が多少混入している。

【０１１０】このような場合の赤外線画像を前述したよ
うに所定サイズ毎にブロック化し、それぞれのブロック
毎にヒストグラムを算出する。ヒストグラムを作成する
対象領域を小さくすることにより、図１４（ｃ）に示す
ように、ポジ画像の階調データ成分１００１の頻度の影
響がより大きくなるため、ヒストグラムの頻度数の中央
値に対応する階調レベル１００２が、第１の実施形態の
場合のＬ１よりもΔＬ６だけ低いＬ８となる。

【０１１１】従って、第１の実施形態と同様の方法でゴ
ミ検出のための閾値を設定すれば、閾値レベル１００３
（Ｌ９）はＬ８よりもΔＬ１だけ低くなり、検出される
欠陥領域１００４は、ポジ画像の階調データの混入の影
響を受けずにゴミ１０２部分をほぼ正確に検出すること
が可能となり、更に、シアン色領域の誤判断を軽減する
ことができる。

【０１１２】本第８の実施形態では、このようにして得
た閾値Ｌ９を図２のステップＳ３０で閾値Ｌ２の代わり
に用いる。

【０１１３】このように第８の実施形態によれば、各ブ
ロック毎にゴミによる欠陥領域を算出することで、赤外
光ランプ１５１で読み取った画像のゴミ以外の部分に、
フィルム画像の階調データが混入した場合でも、ゴミ部
分のみをほぼ正確に検出することが可能となる。

【０１１４】また、本第８の実施形態の場合における各
ブロック毎に検出された欠陥領域と、前述した第１〜第
７の実施形態にて検出された欠陥領域とを総合的に判断
してゴミやキズを補正するための領域を決定すれば、よ
り精度の高い補正が可能となる。

【０１１５】＜第９の実施形態＞次に、第９の実施形態
について図１５を参照して説明する。なお、図１５にお
いて、図４と共通するものについては、同一の符号を付
して説明を省略する。

【０１１６】上記第１〜第８の実施形態で説明してきた
ように、赤外光ランプ１５１で読み取った赤外線画像の
ヒストグラムデータを用いてゴミ検出のための閾値を設
定することで、ほぼ正確にゴミ部分のみを検出すること
が可能となるが、この閾値は必ずゴミのない部分の平均
レベルよりも低く設定される。従って、検出される領域
は、実際にゴミによる影響を受ける領域よりも僅かに狭
い領域となることが多い。

【０１１７】従って、例えば第１の実施形態に示す方法
で欠陥領域１０５を検出した場合、本第９の実施形態で
は図１５（ｃ）に示すように検出された欠陥領域１０５
よりも所定サイズだけ広い範囲１２０１を欠陥領域とし
て判断させる。

【０１１８】また、透過原稿照明用ランプによる読取画
像上のゴミの位置と、赤外光ランプによる読取画像上の
ゴミの位置とに僅かなズレが発生した場合にも、本第９
の実施形態を適用することで、その影響を大幅に緩和す
ることが可能である。

【０１１９】＜第１０の実施形態＞次に、第１０の実施
形態について図１６を参照して説明する。なお、図１６
において、図４と共通するものについては、同一の符号
を付して説明を省略する。

【０１２０】図１６は本発明の第１０の実施形態を説明
したものである。図４にて説明した内容と共通するもの
については、同一の符号を付して説明を省略する。

【０１２１】本第１０の実施形態では、透過原稿照明用
ランプによる読取画像のゴミの鮮明さに比べて、赤外光
ランプによる読取画像上のゴミの鮮明さが悪いような場
合に効果的な方法について説明する。このような現象
は、赤外光ランプの発光主波長が透過原稿照明用ランプ
による読取画像に用いられる可視波長域（４００ｎｍ〜
７００ｎｍ）に比べて長波長であるが故に、いわゆるレ
ンズの色収差と称するピントズレにより発生する場合が
ある。

【０１２２】このような場合には、図１６（ｃ）に示す
ように、赤外光ランプで読み取った画像のゴミ１０２の
部分の階調データは実際のゴミ１０２の飯域よりも広が
ってしまう。このとき、欠陥領域検出のための閾値Ｌ１
１を、ヒストグラムデータの頻度数の中間値に対応する
階調レベル１３０１、即ちＬ１０に対し、ΔＬ７だけ低
いレベル１３０２に設定すると、検出された欠陥領域１
３０３は実際のゴミの領域よりも広い範囲となってしま
う。従って本第１０の実施形態では、図１６（ｃ）に示
すように、検出された欠陥領域１３０３を所定サイズだ
け狭い範囲１３０４を欠陥領域として判断させることに
より、適切に補正することが可能となる。

【０１２３】＜第１１の実施形態＞次に、本発明の第１
１の実施形態を図１６を参照して説明する。

【０１２４】本第１１の実施形態では、第１０の実施形
態と同様に透過原稿照明用ランプによる読取画像のゴミ
の鮮明さに比べて、赤外光ランプによる読取画像上のゴ
ミの鮮明さが悪いような場合に効果的な方法について説
明する。

【０１２５】本第１１の実施形態では、先ず図１６
（ｃ）のように赤外光ランプで読み取った画像のゴミ１
０２の部分の階調データは実際のゴミ１０２の領域より
も広がってしまったときに、図１６（ｄ）に示すように
赤外光ランプで読み取った画像を一旦輪郭補正し、鮮明
度を透過原稿照明用ランプによる読取画像のゴミとほぼ
同等にする。その上で、欠陥領域検出のための閾値をヒ
ストグラムデータの平均頻度数に対応する階調レベル１
３０５、即ちＬ１２に対し、ΔＬ８だけ低いレベル１３
０６、即ちＬ１３に設定することで、閾値レベル１３０
６によって検出される欠陥領域１３０７はゴミ１０２部
分をほぼ正確に検出することが可能となる。

【０１２６】本第１１の実施形態において、前述した輪
郭補正の方式や輪郭補正量は特に規定しないが、赤外光
ランプによる読取画像上のゴミの鮮明さが悪くなる原因
が前述したようにレンズの色収差に起因する場合には、
その色収差によるＭＴＦ、劣化分を補正するように輪郭
補正の方式や輪郭補正量を設定すると、より効果的であ
る。

【０１２７】＜第１２の実施形態＞次に、本発明の第１
２の実施形態を説明する。本第１２の実施形態では、透
過原稿を読み込む際に、フィルムホルダを用いる場合に
ついて説明する。

【０１２８】図１７は透過原稿読み取り時に、ポジフィ
ルムやネガフィルムをセットするためのフィルムホルダ
を画像読取装置１の原稿台ガラス１４上に設置した場合
の上面図である。同図において、４０１はフィルムホル
ダ全体を示し、原稿台ガラス１４上の所定の位置に設置
する。４０２は透過原稿照明用ランプ１４４及び赤外光
ランプ１５１からの光の有無や光量をＣＣＤ１５０でチ
ェックするための穴である。また、エリア４０３はスリ
ーブタイプのフィルム４０６を設置するための領域であ
り、エリア４０４はマウントタイプのフィルム４０５を
設置するための領域である。

【０１２９】実際にフィルムを読み取る時は、画像読取
装置１に接続されるＰＣのディスプレイ上でプレビュー
した画像を確認しながら、フィルムがある領域をユーザ
ーが選択し、選択した領域について読み取りを行う。

【０１３０】図１７に示すようなフィルムホルダ４０１
を用いた場合、読み取り範囲はプレビュー画像上で自由
に選択することができるため、選択範囲の中にフィルム
ホルダが含まれてしまうことがある。そのような場合に
上記の第１，２，４，５，７乃至第１１の実施形態で説
明した方法によりゴミキズの検出及び補正を行うと、閾
値の計算をする時にフィルムホルダ４０１のデータが計
算に入れられてしまうため、望ましい閾値が得られなく
なり、その結果、除去するべきゴミ・キズが残ってしま
うという問題がある。

【０１３１】赤外線ランプ１５１を用いて、フィルム及
びその周辺のフィルムホルダ４０１部分を読み込んだ場
合、フィルムホルダ４０１部分（以下、「ホルダシャド
ウ」と呼ぶ。）は赤外光を透過しないので、ＣＣＤ１５
０から出力される階調レベルは、低いレベル（２５５階
調の場合、通常０〜５０）を示す。

【０１３２】図１８（ａ）は、フィルムホルダ４０１を
含まない場合の読み取り領域を示し、図１８（ｂ）は、
図１８（ａ）に示す領域を読み取って得られる赤外線画
像のヒストグラムの一例を示す。また、図１９（ａ）
は、読み取り領域がフィルムホルダ４０１を含む場合を
示し、図１９（ｂ）は、図１９（ａ）に示す領域を読み
取って得られる赤外線画像のヒストグラムの一例を示
す。図１９（ｂ）ではフィルムホルダ４０１が読み取り
領域に存在するために、低いレベルの頻度が図１８
（ａ）に比べて高いことが分かる。

【０１３３】図１９に示す例の場合に、例えば上記第４
の実施形態に示す係数ｎを、第５の実施形態で説明した
ように標準偏差σを用いて閾値を算出する方法を適用し
た場合、フィルムホルダ４０１を含まない場合の閾値を
Ｔａとすると、フィルムホルダ４０１を含む場合は標準
偏差σが大きくなるので、閾値ＴｂはＴａよりも低くな
る。つまり、フィルムホルダ４０１を含む場合は、Ｔａ
とＴｂの間の階調レベルを有するゴミキズの補正ができ
ずに残ってしまう。

【０１３４】本第１２の実施形態では、このようにフィ
ルムホルダ４０１が読み取り領域に入ることによるゴミ
キズ判定の閾値が低下し、ゴミキズが補正されずに残っ
てしまうことの無いようにする方法について説明する。

【０１３５】図２０は、本第１２の実施形態におけるゴ
ミキズ除去動作を示すフローチャートである。図２０と
図２との差は、ステップＳ２０とＳ２１の間に、ホルダ
シャドウ補正処理（ステップＳ１２０）が追加されてい
ることである。その他の動作には同じであるために参照
番号を付し、説明を省略する。以下、ステップＳ１２０
におけるホルダシャドウ補正処理について、図１９乃至
図２７を参照して詳細に説明する。

【０１３６】まず、取得した赤外線画像にホルダシャド
ウが存在するかどうかを判断しなければならない。図２
２はフィルムホルダ４０１が写りこんでいる場合のスキ
ャン画像の一部を表した模式図である。同図において、
Ｄはホルダシャドウに対応する画素、Ａは通常の原稿が
写っている画素、Ｂはホルダシャドウ画素Ｄと原稿画素
Ａとの境界を表す。フィルムシャドウは、画像に対して
必ず画像の上下左右の４辺のいずれか、若しくは、図２
２に示すように複数辺に表れる。また、前述の通りホル
ダシャドウは必ずある階調レベルより低い値を示すの
で、その性質を利用してホルダシャドウを判別すること
が可能である。従って、ステップＳ１２１において、ホ
ルダシャドウを識別するための閾値をＴｓｂに設定す
る。

【０１３７】次に、ステップＳ１２２において、赤外線
画像中のホルダシャドウを判別するために、図２３に示
すようにまず右辺の画素から階調レベルと閾値Ｔｓｂを
比較する。この比較を右辺から行い、ホルダシャドウ画
素Ｄの存在が確認されたら、ホルダシャドウ画素Ｄが終
わる部分、すなわち、図２２で境界画素Ｂが現れるまで
比較を続け、境界画素Ｂが現れたらそこをホルダシャド
ウの境界部として、一定の画素分を２５５階調の場合、
図２３に示すように２５５（Ｂ’）に置き換える。置き
換える画素数は高い解像度ほど多くなる。一例として、
図２２においては、１画素を置き換えている。

【０１３８】次にステップＳ１２３においては、同様の
処理を下方向からも行う（図２４）。さらにステップＳ
１２４及びＳ１２５において、同様に左及び上方向から
も行う。

【０１３９】ステップＳ１２６において、ホルダシャド
ウが存在するかどうか判断する。これは、Ｂ’の値に置
き換えた画素があったかどうかをステップＳ１２２乃至
Ｓ１２５で記憶しておくことにより簡単に行うことがで
きる。存在しなければ、ホルダシャドウの補正を行う必
要がないために、そのまま図２０のステップＳ２１へ進
む。

【０１４０】一方、ホルダシャドウが存在する場合（ス
テップＳ１２６でＹＥＳ）、ステップＳ１２７へ進み、
図２５に示すように、右辺から順に、２５５に置き換え
た領域Ｂ’とホルダシャドウの領域Ｄを、読み取り領域
全体の階調レベルの平均値Ｖに置き換える。この置き換
え処理においては、ホルダシャドウ画素Ｄであるか、あ
るいは置き換えられた画素Ｂ’（レベル２５５）である
ときは平均値に置き換えて、次の画素を調べに行く。そ
して、画素Ｂ’（レベル２５５）でもなく、ホルダシャ
ドウ画素Ｄでも無い画素があった時点で、平均値への置
き換え処理を終了する（図２６）。右辺からの処理を終
了すると、ステップＳ１２８（図２７）及びＳ１３０に
おいて、同様の処理を下、左、上からも行う。

【０１４１】ホルダシャドウ画素Ｄと原稿画像画素Ａと
の境界部分もホルダシャドウＤと同様に平均値に置き換
えているのは、ホルダシャドウと原稿との境界は不連続
的に階調レベルが変化しているのではなく、連続的に変
化するので、ホルダシャドウ画素Ｄのみを置き換えるだ
けでは、境界部がゴミキズ処理後に残ってしまい、処理
後の画像が枠を縁どったようになり、不具合が生じるた
めである。

【０１４２】また、前述の通り、置き換える境界部分の
画素数は解像度が高くなるにつれて、多くなるように設
定する。これは解像度が高くなると画像に残る境界部の
画素数も同様に多くなるためである。

【０１４３】平均値への置き換え処理が終了すると、図
２０のステップＳ２１へ進む。

【０１４４】上記のように、ホルダシャドウ画素Ｄ及び
境界画素Ｂの部分を平均値に置き換えることにより、標
準偏差σを用いて閾値を計算する場合に、置き換えない
場合に比べて画像の標準偏差σが小さくなるため、ゴミ
キズ判定の閾値が低下したりという問題が発生せず、よ
り適切な閾値を求めることができ、より適正なゴミキズ
除去が可能となる。また、平均値に置き換えることで、
ホルダシャドウ画素Ｄの部分を完全に除去した場合に比
べて、ホルダシャドウが存在することの影響を最小限に
抑えることが可能となり、適切なゴミキズ除去につなが
る。

【０１４５】なお、上記第１２の実施形態においては、
標準偏差σを用いて閾値を算出する方法に適した方法に
ついて説明したが、図２１のステップＳ１２７〜Ｓ１３
０において、ホルダシャドウ画素Ｄ及び境界画素Ｂ’の
値の置き換えをせずに、除去するようにすれば、第１，
２，４，７の実施形態の閾値算出方法においても適切な
閾値を求めることが可能である。

【０１４６】上記の通り本第１２の実施形態によれば、
読み取り範囲にフィルムホルダが含まれる場合であって
も、適切にゴミキズ補正を行うことができる。

【０１４７】

【他の実施形態】なお、本発明は、複数の機器から構成
されるシステムに適用しても、一つの機器からなる装置
に適用してもよい。

【０１４８】また、本発明の目的は、前述した実施形態
の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記
録した記憶媒体（または記録媒体）を、システムあるい
は装置に供給し、そのシステムあるいは装置のコンピュ
ータ（またはＣＰＵやＭＰＵ）が記憶媒体に格納された
プログラムコードを読み出し実行することによっても、
達成されることは言うまでもない。この場合、記憶媒体
から読み出されたプログラムコード自体が前述した実施
形態の機能を実現することになり、そのプログラムコー
ドを記憶した記憶媒体は本発明を構成することになる。
また、コンピュータが読み出したプログラムコードを実
行することにより、前述した実施形態の機能が実現され
るだけでなく、そのプログラムコードの指示に基づき、
コンピュータ上で稼働しているオペレーティングシステ
ム（ＯＳ）などが実際の処理の一部または全部を行い、
その処理によって前述した実施形態の機能が実現される
場合も含まれることは言うまでもない。

【０１４９】さらに、記憶媒体から読み出されたプログ
ラムコードが、コンピュータに挿入された機能拡張カー
ドやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わ
るメモリに書込まれた後、そのプログラムコードの指示
に基づき、その機能拡張カードや機能拡張ユニットに備
わるＣＰＵなどが実際の処理の一部または全部を行い、
その処理によって前述した実施形態の機能が実現される
場合も含まれることは言うまでもない。

【０１５０】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば透
過原稿の画像読取装置において、赤外光ランプによる読
取画像のヒストグラムを生成し、生成したヒストグラム
に基づいて透過原稿上のゴミやキズによる欠陥領域を検
出するための閾値を設定することで、精度の高いゴミや
キズの補正が可能となる。

【０１５１】また、ヒストグラム生成の際に、赤外光ラ
ンプによる読取画像を所定サイズ毎にブロック化し、各
ブロック毎にヒストグラムを作成することで、赤外光ラ
ンプによる読取画像に透過原稿用ランプの読取画像が混
入した場合でも、ゴミ部分のみをほぼ正確に検出するこ
とが可能となる。

【０１５２】また、検出されたゴミやキズによる欠陥領
域を所定サイズだけ拡大することで、実際のゴミの領域
と正確に一致させることが可能となる。

【０１５３】また、検出されたゴミやキズによる欠陥領
域を所定サイズだけ縮小したり、赤外光ランプによる読
取画像を輪郭補正した上で欠陥領域の検出をすること
で、赤外光ランプによる読取画像上のゴミの鮮明度が悪
い場合であっても精度の高いゴミやキズの補正が可能と
なる。

【０１５４】また、読み取り範囲にフィルムホルダが含
まれる場合であっても、適切にゴミキズ補正を行うこと
ができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態における画像読み取りシス
テムの構成を示すブロック図である。

【図２】本発明の実施の形態におけるゴミキズ除去部で
の処理を示すフローチャートである。

【図３】本発明の第１の実施形態における閾値算出処理
を示すフローチャートである。

【図４】本発明の第１の実施形態における、フィルム上
のゴミと、透過原稿照明用ランプ及び赤外光ランプによ
りフィルムを読み込んで得た階調レベルとの関係を示す
図である。

【図５】本発明の第１の実施形態における、赤外光ラン
プで読み取った画像のヒストグラムを示す図である。

【図６】本発明の第２の実施形態における、フィルム上
のゴミと、透過原稿照明用ランプ及び赤外光ランプによ
りフィルムを読み込んで得た階調レベルとの関係を示す
図である。

【図７】本発明の第２の実施形態における、赤外光ラン
プで読み取った画像のヒストグラムを示す図である。

【図８】本発明の第３の実施形態における、フィルム上
のゴミと、透過原稿照明用ランプ及び赤外光ランプによ
りフィルムを読み込んで得た階調レベルとの関係を示す
図である。

【図９】本発明の第３の実施形態における、赤外光ラン
プで読み取った画像のヒストグラムを示す図である。

【図１０】本発明の第５の実施形態における、フィルム
上のゴミと、透過原稿照明用ランプ及び赤外光ランプに
よりフィルムを読み込んで得た階調レベルとの関係を示
す図である。

【図１１】本発明の第５の実施形態における、赤外光ラ
ンプで読み取った画像のヒストグラムを示す図である。

【図１２】本発明の第８の実施形態における、画像の分
割を示す図である。

【図１３】ある種類のカラーフィルムにおける３色の色
素の分光透過率特性と、赤外光ランプの分光強度分布の
ピーク波長を示す図である。

【図１４】本発明の第８の実施形態における、フィルム
上のゴミと、透過原稿照明用ランプ及び赤外光ランプに
よりフィルムを読み込んで得た階調レベルとの関係を示
す図である。

【図１５】本発明の第９の実施形態における、フィルム
上のゴミと、透過原稿照明用ランプ及び赤外光ランプに
よりフィルムを読み込んで得た階調レベルとの関係を示
す図である。

【図１６】本発明の第７、及び第１１の実施形態におけ
る、フィルム上のゴミと、透過原稿照明用ランプ及び赤
外光ランプによりフィルムを読み込んで得た階調レベル
との関係を示す図である。

【図１７】本発明の第１２の実施形態におけるフィルム
ホルダを画像読取装置の原稿台ガラス上に設置した場合
の上面図である。

【図１８】フィルムホルダを含まない読み込み領域及び
当該領域を赤外光ランプで読み取った画像のヒストグラ
ムを示す図である。

【図１９】フィルムホルダを含む読み込み領域及び当該
領域を赤外光ランプで読み取った画像のヒストグラムを
示す図である。

【図２０】本発明の第１２の実施形態におけるゴミキズ
除去部での処理を示すフローチャートである。

【図２１】本発明の第１２の実施形態におけるホルダシ
ャドウ補正処理を示すフローチャートである。

【図２２】本発明の第１２の実施形態におけるホルダシ
ャドウ補正処理動作を説明するための図である。

【図２３】本発明の第１２の実施形態におけるホルダシ
ャドウ補正処理動作を説明するための図である。

【図２４】本発明の第１２の実施形態におけるホルダシ
ャドウ補正処理動作を説明するための図である。

【図２５】本発明の第１２の実施形態におけるホルダシ
ャドウ補正処理動作を説明するための図である。

【図２６】本発明の第１２の実施形態におけるホルダシ
ャドウ補正処理動作を説明するための図である。

【図２７】本発明の第１２の実施形態におけるホルダシ
ャドウ補正処理動作を説明するための図である。

【図２８】従来の画像読取装置の構成図である。

【図２９】透過原稿上のゴミキズによる欠陥領域を検出
する従来の画像読取装置の構成図である。

【図３０】従来の画像読み取りシステムの構成を示すブ
ロック図である。

【図３１】透過原稿照明用ランプと、赤外光ランプの分
光強度分布を示す図である。

【図３２】一般のカラーフィルムにおける３色の色素の
分光透過率特性と、赤外光ランプの分光強度分布のピー
ク波長を示す図である。

【図３３】ゴミキズ除去部での従来の処理を示すフロー
チャートである。

【図３４】従来例における、フィルム上のゴミと、透過
原稿照明用ランプ及び赤外光ランプによりフィルムを読
み込んで得た階調レベルとの関係を示す図である。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁷ 識別記号ＦＩテーマコート゛(参考）Ｈ０４Ｎ 1/40 １０１Ｚ (72)発明者柏▲崎▼ 敦子東京都大田区下丸子３丁目30番２号キヤノン株式会社内 (72)発明者英貢東京都大田区下丸子３丁目30番２号キヤノン株式会社内Ｆターム(参考） 5B047 AA05 AB02 DA06 DB05 DC04 5B057 AA11 BA11 BA30 CA01 CA08 CB01 CB08 CD06 CE02 CE12 CH11 DB06 DC16 DC23 5C062 AA05 AB03 AB42 AC07 AC61 AC67 BA00 5C072 AA01 BA13 RA06 UA11 VA03 5C077 LL02 LL19 MP08 PP03 PP43 PP46 PP47 PP71 PQ12 PQ19 PQ22 RR15 RR19

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】主に可視光を照射する可視光照射手段
と、主に赤外光を照射する赤外光照射手段とによりそれ
ぞれ透過原稿を照射し、透過原稿の光学像を光電変換し
て得られる可視光画像信号および赤外線画像信号を処理
する信号処理方法であって、前記赤外線画像信号に基づいてヒストグラムを生成する
生成工程と、前記生成工程で生成したヒストグラムに基づいて、閾値
を算出する算出工程と、前記算出工程で算出した閾値と、前記赤外線画像信号と
を比較し、前記閾値以下の赤外線画像信号を抽出する抽
出工程と、前記抽出工程において抽出された赤外線画像信号に対応
する可視光画像信号を、その周辺の可視光画像信号を用
いて補間する補間工程とを有することを特徴とする信号
処理方法。
【請求項２】主に可視光を照射する可視光照射手段
と、主に赤外光を照射する赤外光照射手段とによりそれ
ぞれ透過原稿を照射し、透過原稿の光学像を光電変換し
て得られる可視光画像信号および赤外線画像信号を処理
する信号処理方法であって、前記赤外線画像信号に基づいてヒストグラムを生成する
生成工程と、前記生成工程で生成したヒストグラムに基づいて、閾値
を算出する算出工程と、前記算出工程で算出した閾値と、前記赤外線画像信号と
を比較し、前記閾値以下の赤外線画像信号を抽出する抽
出工程と、前記抽出工程で抽出された赤外線画像信号に対応する画
像領域とその周辺へ所定サイズ拡大した領域とに対応す
る可視光画像信号を、その周辺の可視光画像信号を用い
て補間する補間工程とを有することを特徴とする信号処
理方法。
【請求項３】主に可視光を照射する可視光照射手段
と、主に赤外光を照射する赤外光照射手段とによりそれ
ぞれ透過原稿を照射し、透過原稿の光学像を光電変換し
て得られる可視光画像信号および赤外線画像信号を処理
する信号処理方法であって、前記赤外線画像信号に基づいてヒストグラムを生成する
生成工程と、前記生成工程で生成したヒストグラムに基づいて、閾値
を算出する算出工程と、前記算出工程で算出した閾値と、前記赤外線画像信号と
を比較し、前記閾値以下の赤外線画像信号を抽出する抽
出工程と、前記抽出工程で抽出された赤外線画像信号に対応する領
域から所定サイズの領域を縮小した領域に対応する可視
光画像信号を、その周辺の可視光画像信号を用いて補間
する補間工程とを有することを特徴とする信号処理方
法。
【請求項４】主に可視光を照射する可視光照射手段
と、主に赤外光を照射する赤外光照射手段とによりそれ
ぞれ透過原稿を照射し、透過原稿の光学像を光電変換し
て得られる可視光画像信号および赤外線画像信号を処理
する信号処理方法であって、前記赤外線画像信号の輪郭補正を行う輪郭補正工程と、前記輪郭補正された赤外線画像信号に基づいてヒストグ
ラムを生成する生成工程と、前記生成工程で生成したヒストグラムに基づいて、閾値
を算出する算出工程と、前記算出工程で算出した閾値と、前記輪郭補正された赤
外線画像信号とを比較し、前記閾値以下の赤外線画像信
号を抽出する抽出工程と、前記抽出工程において抽出された赤外線画像信号に対応
する可視光画像信号を、その周辺の可視光画像信号を用
いて補間する補間工程とを有することを特徴とする信号
処理方法。
【請求項５】前記輪郭補正工程における輪郭補正量
は、前記可視光照射手段と前記赤外光照射手段との色収
差に伴うＭＴＦ劣化分に関連づけた量とすることを特徴
とする請求項４に記載の信号処理方法。
【請求項６】前記生成工程では、前記赤外線画像信号
の各階調レベルにおける頻度数のヒストグラムを作成す
ることを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の
信号処理方法。
【請求項７】前記算出工程では、前記赤外線画像信号
を代表する階調レベルから、所定の関係式により求めら
れる値を差し引いて前記閾値を算出することを特徴とす
る請求項６に記載の信号処理方法。
【請求項８】前記算出工程は、前記ヒストグラムの頻度数の中間値を求める工程と、前記中間値に対応する階調レベルから、所定値を差し引
いて前記閾値を求める工程とを有することを特徴とする
請求項６に記載の信号処理方法。
【請求項９】前記算出工程は、前記ヒストグラムの最大頻度数を求める工程と、前記最大頻度数に対応する階調レベルから、所定値を差
し引いて前記閾値を求める工程とを有することを特徴と
する請求項６に記載の信号処理方法。
【請求項１０】前記算出工程は、前記ヒストグラムの最大階調レベルを求める工程と、前記最大階調レベルから、所定値を差し引いて前記閾値
を求める工程とを有することを特徴とする請求項６に記
載の信号処理方法。
【請求項１１】前記算出工程は、前記ヒストグラムの平均階調レベルを求める工程と、前記平均階調レベルから、所定値を差し引いて前記閾値
を求める工程とを有することを特徴とする請求項６に記
載の信号処理方法。
【請求項１２】前記算出工程は、前記ヒストグラムの最大階調レベルを求める工程と、前記最大階調レベルに、所定値を掛けて前記閾値を求め
る工程とを有することを特徴とする請求項６に記載の信
号処理方法。
【請求項１３】前記算出工程は、前記ヒストグラムの最大階調レベルを求める工程と、前記ヒストグラムの平均階調レベルを求める工程と、前記平均階調レベルから、前記最大階調レベルと前記平
均階調レベルの差に所定値を掛けて得た積を差し引い
て、前記閾値を求める工程とを有することを特徴とする
請求項６に記載の信号処理方法。
【請求項１４】前記所定値は、予め保持されているこ
とを特徴とする請求項８乃至１３のいずれかに記載の信
号処理方法。
【請求項１５】前記所定値は、外部より入力されるこ
とを特徴とする請求項８乃至１３のいずれかに記載の信
号処理方法。
【請求項１６】前記算出工程は、標準偏差を求める工程と、前記標準偏差に基づいて前記所定値を決定する工程とを更に有することを特徴とする請求項７乃至１１のいず
れかに記載の信号処理方法。
【請求項１７】前記赤外線画像信号を複数のブロック
に分割する分割工程を更に有し、前記ブロック毎に前記可視光画像信号および前記赤外線
画像信号を処理することを特徴とする請求項１乃至１６
のいずれかに記載の信号処理方法。
【請求項１８】前記赤外線画像信号の内、前記透過原
稿を保持する保持手段に対応する信号を検出する検出工
程と、前記検出工程において前記保持手段に対応する信号を検
出した場合に、当該信号を所定信号値に置き換える置き
換え工程とを更に有することを特徴とする請求項１乃至
１７のいずれかに記載の信号処理方法。
【請求項１９】前記赤外線画像信号の平均値を算出す
る工程を更に有し、前記置き換え工程で置き換える所定信号値は、前記平均
値であることを特徴とする請求項１８に記載の信号処理
方法。
【請求項２０】前記赤外線画像信号の内、前記透過原
稿を保持する保持手段に対応する信号を検出する検出工
程と、前記検出工程において前記保持手段に対応する信号を検
出した場合に、当該信号を除去する工程とを更に有する
ことを特徴とする請求項１乃至１７のいずれかに記載の
信号処理方法。
【請求項２１】主に可視光を照射する可視光照射手段
と、主に赤外光を照射する赤外光照射手段とによりそれ
ぞれ透過原稿を照射し、透過原稿の光学像を光電変換し
て得られる可視光画像信号および赤外線画像信号を処理
する信号処理装置であって、前記赤外線画像信号に基づいてヒストグラムを生成する
生成手段と、前記生成手段により生成したヒストグラムに基づいて、
閾値を算出する算出手段と、前記算出手段により算出した閾値と、前記赤外線画像信
号とを比較し、前記閾値以下の赤外線画像信号を抽出す
る抽出手段と、前記抽出手段により抽出された赤外線画像信号に対応す
る可視光画像信号を、その周辺の可視光画像信号を用い
て補間する補間手段とを有することを特徴とする信号処
理装置。
【請求項２２】主に可視光を照射する可視光照射手段
と、主に赤外光を照射する赤外光照射手段とによりそれ
ぞれ透過原稿を照射し、透過原稿の光学像を光電変換し
て得られる可視光画像信号および赤外線画像信号を処理
する信号処理装置であって、前記赤外線画像信号に基づいてヒストグラムを生成する
生成手段と、前記生成手段により生成したヒストグラムに基づいて、
閾値を算出する算出手段と、前記算出手段により算出した閾値と、前記赤外線画像信
号とを比較し、前記閾値以下の赤外線画像信号を抽出す
る抽出手段と、前記抽出手段で抽出された赤外線画像信号に対応する画
像領域とその周辺へ所定サイズ拡大した領域とに対応す
る可視光画像信号を、その周辺の可視光画像信号を用い
て補間する補間手段とを有することを特徴とする信号処
理装置。
【請求項２３】主に可視光を照射する可視光照射手段
と、主に赤外光を照射する赤外光照射手段とによりそれ
ぞれ透過原稿を照射し、透過原稿の光学像を光電変換し
て得られる可視光画像信号および赤外線画像信号を処理
する信号処理装置であって、前記赤外線画像信号に基づいてヒストグラムを生成する
生成手段と、前記生成手段により生成したヒストグラムに基づいて、
閾値を算出する算出手段と、前記算出手段により算出した閾値と、前記赤外線画像信
号とを比較し、前記閾値以下の赤外線画像信号を抽出す
る抽出手段と、前記抽出手段で抽出された赤外線画像信号に対応する領
域から所定サイズの領域を縮小した領域に対応する可視
光画像信号を、その周辺の可視光画像信号を用いて補間
する補間手段とを有することを特徴とする信号処理装
置。
【請求項２４】主に可視光を照射する可視光照射手段
と、主に赤外光を照射する赤外光照射手段とによりそれ
ぞれ透過原稿を照射し、透過原稿の光学像を光電変換し
て得られる可視光画像信号および赤外線画像信号を処理
する信号処理装置であって、前記赤外線画像信号の輪郭補正を行う輪郭補正手段と、前記輪郭補正された赤外線画像信号に基づいてヒストグ
ラムを生成する生成手段と、前記生成手段により生成したヒストグラムに基づいて、
閾値を算出する算出手段と、前記算出手段により算出した閾値と、前記輪郭補正され
た赤外線画像信号とを比較し、前記閾値以下の赤外線画
像信号を抽出する抽出手段と、前記抽出手段により抽出された赤外線画像信号に対応す
る可視光画像信号を、その周辺の可視光画像信号を用い
て補間する補間手段とを有することを特徴とする信号処
理装置。
【請求項２５】前記輪郭補正手段の輪郭補正量は、前
記可視光照射手段と前記赤外光照射手段との色収差に伴
うＭＴＦ劣化分に関連づけた量とすることを特徴とする
請求項２４に記載の信号処理装置。
【請求項２６】前記生成手段は、前記赤外線画像信号
の各階調レベルにおける頻度数のヒストグラムを作成す
ることを特徴とする請求項２１乃至２４のいずれかに記
載の信号処理装置。
【請求項２７】前記算出手段は、前記赤外線画像信号
を代表する階調レベルから、所定の関係式により求めら
れる値を差し引いて前記閾値を算出することを特徴とす
る請求項２６に記載の信号処理装置。
【請求項２８】前記算出手段は、前記ヒストグラムの頻度数の中間値を求める手段と、前記中間値に対応する階調レベルから、所定値を差し引
いて前記閾値を求める手段とを有することを特徴とする
請求項２６に記載の信号処理装置。
【請求項２９】前記算出手段は、前記ヒストグラムの最大頻度数を求める手段と、前記最大頻度数に対応する階調レベルから、所定値を差
し引いて前記閾値を求める手段とを有することを特徴と
する請求項２６に記載の信号処理装置。
【請求項３０】前記算出手段は、前記ヒストグラムの最大階調レベルを求める手段と、前記最大階調レベルから、所定値を差し引いて前記閾値
を求める手段とを有することを特徴とする請求項２６に
記載の信号処理装置。
【請求項３１】前記算出手段は、前記ヒストグラムの平均階調レベルを求める手段と、前記平均階調レベルから、所定値を差し引いて前記閾値
を求める手段とを有することを特徴とする請求項２６に
記載の信号処理装置。
【請求項３２】前記算出手段は、前記ヒストグラムの最大階調レベルを求める手段と、前記最大階調レベルに、所定値を掛けて前記閾値を求め
る手段とを有することを特徴とする請求項２６に記載の
信号処理装置。
【請求項３３】前記算出手段は、前記ヒストグラムの最大階調レベルを求める手段と、前記ヒストグラムの平均階調レベルを求める手段と、前記平均階調レベルから、前記最大階調レベルと前記平
均階調レベルの差に所定値を掛けて得た積を差し引い
て、前記閾値を求める手段とを有することを特徴とする
請求項２６に記載の信号処理装置。
【請求項３４】前記所定値は、予め保持されているこ
とを特徴とする請求項２８乃至３３のいずれかに記載の
信号処理装置。
【請求項３５】前記所定値は、外部より入力されるこ
とを特徴とする請求項２８乃至３３のいずれかに記載の
信号処理装置。
【請求項３６】前記算出手段は標準偏差を求める手段
と、前記標準偏差に基づいて前記所定値を決定する手段とを
更に有することを特徴とする請求項２７乃至３１のいず
れかに記載の信号処理装置。
【請求項３７】前記赤外線画像信号を複数のブロック
に分割する分割手段を更に有し、前記ブロック毎に前記可視光画像信号および前記赤外線
画像信号を処理することを特徴とする請求項２１乃至３
６のいずれかに記載の信号処理装置。
【請求項３８】前記赤外線画像信号の内、前記透過原
稿を保持する保持手段に対応する信号を検出する検出手
段と、前記検出手段が前記保持手段に対応する信号を検出した
場合に、当該信号を所定信号値に置き換える置き換え手
段とを更に有することを特徴とする請求項２１乃至３７
のいずれかに記載の信号処理装置。
【請求項３９】前記赤外線画像信号の平均値を算出す
る手段を更に有し、前記置き換え手段で置き換える所定信号値は、前記平均
値であることを特徴とする請求項３８に記載の信号処理
装置。
【請求項４０】前記赤外線画像信号の内、前記透過原
稿を保持する保持手段に対応する信号を検出する検出手
段と、前記検出手段が前記保持手段に対応する信号を検出した
場合に、当該信号を除去する手段とを更に有することを
特徴とする請求項２１乃至３７のいずれかに記載の信号
処理装置。
【請求項４１】透過原稿を読み取り可能な画像読取装
置であって、主に可視光を照射する可視光照射手段と、主に赤外光を照射する赤外光照射手段と、光学像を電気信号に変換する光電変換手段と、前記赤外光照射手段により透過原稿を照射して前記光電
変換手段から得られる赤外光画像信号に基づいて、ヒス
トグラムを生成する生成手段と、前記生成手段により生成したヒストグラムに基づいて、
閾値を算出する算出手段と、前記算出手段により算出した閾値と前記赤外光画像信号
とを比較し、閾値以下の画像信号を抽出する抽出手段
と、前記抽出手段により抽出した赤外光画像信号に対応す
る、前記可視光照射手段により透過原稿を照射して前記
光電変換手段から得られる可視光画像信号をその周辺の
可視光画像信号を用いて補間する補間手段とを有するこ
とを特徴とする画像読取装置。
【請求項４２】透過原稿を読み取り可能な画像読取装
置であって、主に可視光を照射する可視光照射手段と、主に赤外光を照射する赤外光照射手段と、光学像を電気信号に変換する光電変換手段と、前記赤外光照射手段により透過原稿を照射して前記光電
変換手段から得られる赤外光画像信号に基づいて、ヒス
トグラムを生成する生成手段と、前記生成手段により生成したヒストグラムに基づいて、
閾値を算出する算出手段と、前記算出手段により算出した閾値と前記赤外光画像信号
とを比較し、閾値以下の画像信号を抽出する抽出手段
と、前記抽出手段により抽出した赤外線画像信号に対応する
画像領域とその周辺へ所定サイズ拡大した領域とに対応
する、前記可視光照射手段により透過原稿を照射して前
記光電変換手段から得られる可視光画像信号を、その周
辺の可視光画像信号を用いて補間する補間手段とを有す
ることを特徴とする画像読取装置。
【請求項４３】透過原稿を読み取り可能な画像読取装
置であって、主に可視光を照射する可視光照射手段と、主に赤外光を照射する赤外光照射手段と、光学像を電気信号に変換する光電変換手段と、前記赤外光照射手段により透過原稿を照射して前記光電
変換手段から得られる赤外光画像信号に基づいて、ヒス
トグラムを生成する生成手段と、前記生成手段により生成したヒストグラムに基づいて、
閾値を算出する算出手段と、前記算出手段により算出した閾値と前記赤外光画像信号
とを比較し、閾値以下の画像信号を抽出する抽出手段
と、前記抽出手段により抽出した赤外線画像信号に対応する
領域から所定サイズの領域を縮小した領域に対応する、
前記可視光照射手段により透過原稿を照射して前記光電
変換手段から得られる可視光画像信号を、その周辺の可
視光画像信号を用いて補間する補間手段とを有すること
を特徴とする画像読取装置。
【請求項４４】透過原稿を読み取り可能な画像読取装
置であって、主に可視光を照射する可視光照射手段と、主に赤外光を照射する赤外光照射手段と、光学像を電気信号に変換する光電変換手段と、前記赤外光照射手段により透過原稿を照射して前記光電
変換手段から得られる赤外光画像信号の輪郭補正を行う
輪郭補正手段と、前記輪郭補正された赤外光画像信号に基づいて、ヒスト
グラムを生成する生成手段と、前記生成手段により生成したヒストグラムに基づいて、
閾値を算出する算出手段と、前記算出手段により算出した閾値と前記輪郭補正された
赤外光画像信号とを比較し、閾値以下の画像信号を抽出
する抽出手段と、前記抽出手段により抽出された赤外線画像信号に対応す
る可視光画像信号を、その周辺の可視光画像信号を用い
て補間する補間手段とを有することを特徴とする画像読
取装置。
【請求項４５】前記輪郭補正手段の輪郭補正量は、前
記可視光照射手段と前記赤外光照射手段との色収差に伴
うＭＴＦ劣化分に関連づけた量とすることを特徴とする
請求項４４に記載の画像読取装置。
【請求項４６】前記生成手段は、前記赤外線画像信号
の各階調レベルにおける頻度数のヒストグラムを作成す
ることを特徴とする請求項４１乃至４４のいずれかに記
載の画像読取装置。
【請求項４７】前記算出手段は、前記赤外線画像信号
を代表する階調レベルから、所定の関係式により求めら
れる値を差し引いて前記閾値を算出することを特徴とす
る請求項４６に記載の画像読取装置。
【請求項４８】前記算出手段は、前記ヒストグラムの頻度数の中間値を求める手段と、前記中間値に対応する階調レベルから、所定値を差し引
いて前記閾値を求める手段とを有することを特徴とする
請求項４６に記載の画像読取装置。
【請求項４９】前記算出手段は、前記ヒストグラムの最大頻度数を求める手段と、前記最大頻度数に対応する階調レベルから、所定値を差
し引いて前記閾値を求める手段とを有することを特徴と
する請求項４６に記載の画像読取装置。
【請求項５０】前記算出手段は、前記ヒストグラムの最大階調レベルを求める手段と、前記最大階調レベルから、所定値を差し引いて前記閾値
を求める手段とを有することを特徴とする請求項４６に
記載の画像読取装置。
【請求項５１】前記算出手段は、前記ヒストグラムの平均階調レベルを求める手段と、前記平均階調レベルから、所定値を差し引いて前記閾値
を求める手段とを有することを特徴とする請求項４６に
記載の画像読取装置。
【請求項５２】前記算出手段は、前記ヒストグラムの最大階調レベルを求める手段と、前記最大階調レベルに、所定値を掛けて前記閾値を求め
る手段とを有することを特徴とする請求項４６に記載の
画像読取装置。
【請求項５３】前記算出手段は、前記ヒストグラムの最大階調レベルを求める手段と、前記ヒストグラムの平均階調レベルを求める手段と、前記平均階調レベルから、前記最大階調レベルと前記平
均階調レベルの差に所定値を掛けて得た積を差し引い
て、前記閾値を求める手段とを有することを特徴とする
請求項４６に記載の画像読取装置。
【請求項５４】前記所定値は、予め保持されているこ
とを特徴とする請求項４８乃至５３のいずれかに記載の
画像読取装置。
【請求項５５】前記所定値は、外部より入力されるこ
とを特徴とする請求項４８乃至５３のいずれかに記載の
画像読取装置。
【請求項５６】前記算出手段は標準偏差を求める手段
と、前記標準偏差に基づいて前記所定値を決定する手段とを
更に有することを特徴とする請求項４７乃至５１のいず
れかに記載の画像読取装置。
【請求項５７】前記赤外線画像信号を複数のブロック
に分割する分割手段を更に有し、前記ブロック毎に前記可視光画像信号および前記赤外線
画像信号を処理することを特徴とする請求項４１乃至５
６のいずれかに記載の画像読取装置。
【請求項５８】前記赤外線画像信号の内、前記透過原
稿を保持する保持手段に対応する信号を検出する検出手
段と、前記検出手段が前記保持手段に対応する信号を検出した
場合に、当該信号を所定信号値に置き換える置き換え手
段とを更に有することを特徴とする請求項４１乃至５７
のいずれかに記載の画像読取装置。
【請求項５９】前記赤外線画像信号の平均値を算出す
る手段を更に有し、前記置き換え手段で置き換える所定
信号値は、前記平均値であることを特徴とする請求項５
８に記載の画像読取装置。
【請求項６０】前記赤外線画像信号の内、前記透過原
稿を保持する保持手段に対応する信号を検出する検出手
段と、前記検出手段が前記保持手段に対応する信号を検
出した場合に、当該信号を除去する手段とを更に有する
ことを特徴とする請求項４１乃至５７のいずれかに記載
の画像読取装置。
【請求項６１】請求項１乃至２０のいずれかに記載の
信号処理方法を実現するためのプログラムコードを有す
る情報処理装置が実行可能なプログラム。
【請求項６２】情報処理装置が実行可能なプログラム
であって、前記プログラムを実行した情報処理装置を、
請求項２１乃至４０のいずれかに記載の信号処理装置と
して機能させることを特徴とするプログラム。
【請求項６３】請求項６１又は６２に記載のプログラ
ムを記憶した記憶媒体。