JP2002042484A5 - - Google Patents
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【請求項5】 請求項1ないし請求項4のうち、いずれか1項に記載の半導体集積回路であって、
前記フリップフロップ群と前記冗長出力選択回路との間に介挿され、切り替え情報を記憶する切り替え情報記憶手段をさらに備える、
半導体集積回路。
前記フリップフロップ群と前記冗長出力選択回路との間に介挿され、切り替え情報を記憶する切り替え情報記憶手段をさらに備える、
半導体集積回路。
【請求項11】 請求項3記載の半導体集積回路であって、
前記第1の数のフリップフロップからの第1の数ビットの出力データを2個以上で前記第1の数より小さい第4の数の第1グループに分類し、前記第4の数の前記第1グループそれぞれにおいて、外部より得られる第1の選択信号に基づき、前記第1グループ内の前記フリップフロップの出力データうち一のデータを第1の選択出力データとして出力させることにより、前記第4の数ビットの前記第1の選択出力データを出力する第1のマルチプレクサ部をさらに備える、
半導体集積回路。
前記第1の数のフリップフロップからの第1の数ビットの出力データを2個以上で前記第1の数より小さい第4の数の第1グループに分類し、前記第4の数の前記第1グループそれぞれにおいて、外部より得られる第1の選択信号に基づき、前記第1グループ内の前記フリップフロップの出力データうち一のデータを第1の選択出力データとして出力させることにより、前記第4の数ビットの前記第1の選択出力データを出力する第1のマルチプレクサ部をさらに備える、
半導体集積回路。
セレクタ206は“0”入力に入力データDを受け、“1”入力がセレクタ205の出力部Yに接続され、制御入力にシフトモード信号SMを受ける。そして、セレクタ206はシフトモード信号SMの“1”/“0”に基づき“1”入力/“0”入力より得られる信号を出力部Yより出力する。このセレクタ206の出力部Yより得られる信号が出力データPとなる。
SFFC<i>〜SFFC<i+4>はシフトモード信号SM、テストモード信号TM、比較制御信号CMP及びタイミング制御信号CKDOを共通に受け(タイミング制御信号CKDOはタイミング信号Tとして入力される)、SFFC<i>〜SFFC<i+4>それぞれの入力データDとして、RAM211のデータ出力DO<i>〜DO<i+4>を受ける。SFFC<i>〜SFFC<i+3>それぞれのデータ出力Pがデータ出力P<i>〜P<i+3>となる。
一方、ORゲート215は一方入力に冗長データ入力XDI<i>を受け、他方入力に出力データF<i+1>を受ける。セレクタ234〜236はそれぞれの“0”入力に冗長データ入力XDI<i+1>〜XDI<i+3>を受け、それぞれの“1”入力に冗長データ入力XDI<i>〜XDI<i+2>を受け、制御入力に出力データF<i+2>〜F<i+4>を受ける。なお、セレクタ230〜236は制御入力に受ける信号の“0”/“1”に基づき、“0”/“1”入力に受ける信号を出力する。またORゲート215は必須ではなく、なくても良い。
SFFDI<i>〜SFFDI<i+4>のシフトモード信号SMとしてシフトモード入力データSMDIが共通に入力され、タイミング信号TとしてクロックデータCKDIが共通に入力される。そして、SFFDI<i>〜SFFDI<i+4>の入力データDとして冗長データ入力XI<i>〜XI<i+4>が入力される。なお、シリアル入力データSIDI<i+4>、シフトモード入力データSMDI、及びクロックデータCKDIが図72の制御信号CTRLに相当する。
また、請求項5の発明は、請求項1ないし請求項4のうち、いずれか1項に記載の半導体集積回路であって、前記フリップフロップ群と前記冗長出力選択回路との間に介挿され、切り替え情報を記憶する切り替え情報記憶手段をさらに備える。
また、請求項11の発明は、請求項3記載の半導体集積回路であって、前記第1の数のフリップフロップからの第1の数ビットの出力データを2個以上で前記第1の数より小さい第4の数の第1グループに分類し、前記第4の数の前記第1グループそれぞれにおいて、外部より得られる第1の選択信号に基づき、前記第1グループ内の前記フリップフロップの出力データうち一のデータを第1の選択出力データとして出力させることにより、前記第4の数ビットの前記第1の選択出力データを出力する第1のマルチプレクサ部をさらに備える。
実施の形態1の構成に比べてANDゲートANDCMPEが追加されている。ANDゲートANDCMPEは一方入力に比較制御信号CMPを受け、他方入力に比較制御信号CMPEを受け、その出力がSFFC<i+4>の比較制御信号CMPの入力部に入力される。なお、他の構成は実施の形態1の構成と同様である。
図26及び図27に示すように、実施の形態5のスキャンパス回路部変形であり、実施の形態4の回路構成において、ANDCMPEの機能をSFFD<i+4>にもたせるべくANDゲート65を追加している。
また、SFFE<i>,<i+2>,<i+4>が期待値用の信号CMP1L及び信号CMP0Lとして信号CMP1LA及びCMP0LAを受け、SFFE<i+1>,<i+3>が信号CMP1L及び信号CMP0Lとして信号CMP1LB及びCMP0LBを受ける。すなわち、比較動作の期待値は偶数ビット目と奇数ビット目で異なる値を設定することができる。なお、これらの信号と動作モードとの関係は図17で示した通りである。
また、セレクタ230〜233の冗長制御信号である出力データF<i+1>〜F<i+4>として、SFFE<i+1>〜SFFE<i+4>のシリアル出力SO<i+1>〜SO<i+4>が与えられる。SFFE<i>〜SFFE<i+3>それぞれのデータ出力Pがデータ出力P<i>〜P<i+3>となる。
最終的に、SO<i+4>=1,SO<i+3>=1,SO<i+2>=0,SO<i+1>=0,SO<i>=0の状態になる。これらSO<i+1>〜SO<i+4>をそのままF<i+1>〜F<i+4>として、セレクタ230〜233の選択設定内容を制御するように用いれば、所望の冗長切替を実現することができる。
図39で示す書き込みデータ制御回路DICONT2の構成は、図4の構成からSFFDI<i+4>の代わりに、通常のD−FFであるフリップフロップFFDI<i+4>を用いている。このFFDI<i+4>は、D入力に信号SIDI<i+4>を受け、T入力に信号CKDIを受け、Q出力がDI2<i+4>として出力されるとともに、SFFDI<i+3>のシリアル入力SIとなる。他の構成は、図4の構成と同様であるため、説明を省略する。また、SFFDI<>の構成は図5で示した構成である。
図40の構成は図39の構成から入力データDI2<i>〜DI2<i+3>の出力をSFFDI<i>〜SFFDI<i+3>のQ出力からP出力に置き換え、入力データDI2<i+4>の出力をFFDI<i+4>の出力からSIDI<i+4>自体に置き換えた点のみ異なる。
次に、データ入力部分の冗長入力選択回路を構成するセレクタ11〜14のテスト方法を説明する。
(1)データ制御回路DICONT2をDI2<i+4>=“0”,DI2<i+3>=“1”,DI2<i+2>=“0”,DI2<i+1>=“1”,DI2<i>=“0”に設定する。
(2)セレクタテスト信号PFIN=“0”の状態でRAM211の特定番地にデータを書き込む。
(3)その特定番地に対してRAM211の読み出し動作を行う。その結果、出力データDO<i+4>=“0”,DO<i+3>=“1”,DO<i+2>=“0”,DO<i+1>=“1”,DO<i>=“0”になる。
(4)セレクタテスト信号PFIN=“0”、期待値データEXPA=“0”,EXPB=“1”の状態で比較テストを行う。
(5)データ制御回路DICONT2をDI<i+4>=“0”,DI<i+3>=“1”,DI<i+2>=“0”,DI<i+1>=“1”,DI<i>=“0”に設定する。
(6)セレクタテスト信号PFIN=“1”,「SO<i+4>=1,SO<i+3>=1,SO<i+2>=1,SO<i+1>=1」の状態でRAMの特定番地にデータを書き込む。
(7)その特定番地に対してRAMの読み出し動作を行う。その結果、出力データDO<i+4>=“1”,DO<i+3>=“0”,DO<i+2>=“1”,DO<i+1>=“0”,DO<i>=“1”になる。
(8)セレクタテスト信号PFIN=“0”、期待値データEXPA=“1”,EXPB=“0”の状態で比較テストを行う。
(1)データ制御回路DICONT2をDI2<i+4>=“0”,DI2<i+3>=“1”,DI2<i+2>=“0”,DI2<i+1>=“1”,DI2<i>=“0”に設定する。
(2)セレクタテスト信号PFIN=“0”の状態でRAM211の特定番地にデータを書き込む。
(3)その特定番地に対してRAM211の読み出し動作を行う。その結果、出力データDO<i+4>=“0”,DO<i+3>=“1”,DO<i+2>=“0”,DO<i+1>=“1”,DO<i>=“0”になる。
(4)セレクタテスト信号PFIN=“0”、期待値データEXPA=“0”,EXPB=“1”の状態で比較テストを行う。
(5)データ制御回路DICONT2をDI<i+4>=“0”,DI<i+3>=“1”,DI<i+2>=“0”,DI<i+1>=“1”,DI<i>=“0”に設定する。
(6)セレクタテスト信号PFIN=“1”,「SO<i+4>=1,SO<i+3>=1,SO<i+2>=1,SO<i+1>=1」の状態でRAMの特定番地にデータを書き込む。
(7)その特定番地に対してRAMの読み出し動作を行う。その結果、出力データDO<i+4>=“1”,DO<i+3>=“0”,DO<i+2>=“1”,DO<i+1>=“0”,DO<i>=“1”になる。
(8)セレクタテスト信号PFIN=“0”、期待値データEXPA=“1”,EXPB=“0”の状態で比較テストを行う。
さらに、ANDゲート53は一方入力にANDゲート23の出力の反転信号を受け、他方入力に信号TMFBを受け、その出力がSFFE<i>〜<i+4>のTMFB入力に共通に付与される。ORゲート54は一方入力にANDゲート23の出力を受け、他方入力に信号TMSIを受け、その出力がSFFE<i>〜<i+4>のTMSI入力に共通に付与される。
なお、実施の形態15では、k=4に関しては、MDO2<k>は以下のように決定する。
「N0=0,N1=1,N2=1,N3=1」の時は、MDO2<4>=MDO1<9>、「N0=1,N1=0,N2=1,N3=1」の時は、MDO2<4>=MDO1<14>、「N0=1,N1=1,N2=0,N3=1」の時は、MDO2<4>=“1”、「N0=1,N1=1,N2=1,N3=0」の時は、MDO2<4>=MDO1<4>になる。
なお、「N0=1,N1=1,N2=1,N3=1」の時は、全てのMDO2<>は“1”になる。また、「N0=0,N1=0,N2=0,N3=0」の時は、k=0〜4に対してMDO2<k>はMDO1<k>,MDO1<k+5>,MDO1<k+10>,MDO1<k+15>(但し、k=3,4のときは、MDO1<k+15>は存在しない)のAND演算結果になる。
ANDゲート78はORゲート76,77の出力を受け、その出力がセレクタ14の“0”入力に付与される。なお、他の構成は図51〜図53で示した実施の形態12と同様であるため、説明を省略する。
<その他>
冗長救済されたRAMの出力としては冗長データ出力XDO<>を直接用いても良いが、代わりにSFFC(SFFD,SFFE)<>のP出力を用いてもよい。
冗長救済されたRAMの出力としては冗長データ出力XDO<>を直接用いても良いが、代わりにSFFC(SFFD,SFFE)<>のP出力を用いてもよい。
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