JP2002042426A - ディスクの記録及び／または再生装置のための余裕空間割当方法と欠陥管理方法 - Google Patents
ディスクの記録及び／または再生装置のための余裕空間割当方法と欠陥管理方法Info
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Information Retrieval, Db Structures And Fs Structures Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 欠陥管理のための余裕空間とその管理情報を
有する記録媒体、余裕空間割当方法及び欠陥管理方法を
提供する。 【解決手段】 初期化時スリップ置換と線形置換のため
に割当てる一つの初期余裕空間と初期化が済んだ後線形
置換のための余裕空間が足りない場合追加余裕空間を割
当てて、この初期余裕空間と追加余裕空間の量を初期化
時発生する欠陥の数に基づいて決定し、余裕空間の大き
さ情報と余裕空間の使われた程度を示す残量情報を記録
して効率よく余裕空間を管理しうる。また、既に線形置
換された空間を追加余裕空間としてさらに割当てる場合
の欠陥管理方法はさらに割当てられる追加余裕空間内の
欠陥ブロックを再び線形置換のために使用せず、欠陥ブ
ロックに対するＳＤＬ項目も変えない。
有する記録媒体、余裕空間割当方法及び欠陥管理方法を
提供する。 【解決手段】 初期化時スリップ置換と線形置換のため
に割当てる一つの初期余裕空間と初期化が済んだ後線形
置換のための余裕空間が足りない場合追加余裕空間を割
当てて、この初期余裕空間と追加余裕空間の量を初期化
時発生する欠陥の数に基づいて決定し、余裕空間の大き
さ情報と余裕空間の使われた程度を示す残量情報を記録
して効率よく余裕空間を管理しうる。また、既に線形置
換された空間を追加余裕空間としてさらに割当てる場合
の欠陥管理方法はさらに割当てられる追加余裕空間内の
欠陥ブロックを再び線形置換のために使用せず、欠陥ブ
ロックに対するＳＤＬ項目も変えない。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は光記録媒体分野に係
り、特に初期化時適正な余裕空間を割当てて初期化が済
んだ後、使用中余裕空間が足りない場合さらに余裕空間
を割当てて、割当てられた余裕空間の大きさと残量情報
を有するディスク、余裕空間割当方法とさらに割当てら
れた余裕空間に対する欠陥管理方法に関する。
り、特に初期化時適正な余裕空間を割当てて初期化が済
んだ後、使用中余裕空間が足りない場合さらに余裕空間
を割当てて、割当てられた余裕空間の大きさと残量情報
を有するディスク、余裕空間割当方法とさらに割当てら
れた余裕空間に対する欠陥管理方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、ディスクのような記録媒体の場
合、余裕空間を初期化時一回のみ配置し、使用中には配
置しないが、ディスクの使用効率を高めるために初期化
時ディスクの状態に応じて適正量の余裕空間を割当て
て、使用中初期化時に割当てた余裕空間が足りない場合
にさらに余裕空間を割当てる必要がある。
合、余裕空間を初期化時一回のみ配置し、使用中には配
置しないが、ディスクの使用効率を高めるために初期化
時ディスクの状態に応じて適正量の余裕空間を割当て
て、使用中初期化時に割当てた余裕空間が足りない場合
にさらに余裕空間を割当てる必要がある。
【０００３】ＤＶＤ−ＲＡＭ規格書（DVD Specificatio
ns for Rewritable Disc, Part 1 PHYSICAL SPECIFICAT
IONS）改訂版１．０によれば各地域（zone）毎に一つの
余裕空間を有しており、２４箇所で構成されて初期化時
２４箇所の余裕空間が割当てられている。
ns for Rewritable Disc, Part 1 PHYSICAL SPECIFICAT
IONS）改訂版１．０によれば各地域（zone）毎に一つの
余裕空間を有しており、２４箇所で構成されて初期化時
２４箇所の余裕空間が割当てられている。
【０００４】従来には、図１に示されたように、欠陥管
理領域（Defect Management Area：ＤＭＡ）内には各地
域に割当てられた各余裕空間の状態を示すフラグが、該
当余裕空間が満ちて使用できないか否かを示す単一ビッ
トで構成されている。従って、余裕空間フルフラグは２
４個の余裕空間が満ちたかを示す２４ビットの情報で構
成されている。また、この余裕空間フルフラグはＤＭＡ
のＳＤＬ（SecondaryDefect List）の相対的なバイト位
置（ＲＢＰ）８から１５まで（ＲＢＰ ８ｔｏ１５）貯
蔵されており、該当グループを示すビットが“１”なら
ば該当グループ内に余裕空間が残っていないことを、
“０”ならば該当グループ内に余裕空間が残っているこ
とを示す。
理領域（Defect Management Area：ＤＭＡ）内には各地
域に割当てられた各余裕空間の状態を示すフラグが、該
当余裕空間が満ちて使用できないか否かを示す単一ビッ
トで構成されている。従って、余裕空間フルフラグは２
４個の余裕空間が満ちたかを示す２４ビットの情報で構
成されている。また、この余裕空間フルフラグはＤＭＡ
のＳＤＬ（SecondaryDefect List）の相対的なバイト位
置（ＲＢＰ）８から１５まで（ＲＢＰ ８ｔｏ１５）貯
蔵されており、該当グループを示すビットが“１”なら
ば該当グループ内に余裕空間が残っていないことを、
“０”ならば該当グループ内に余裕空間が残っているこ
とを示す。
【０００５】このような単一ビットからなる余裕空間に
対する情報はただ余裕空間が満ちているか否かのみを示
す。しかし、初期化後余裕空間をさらに割当てられるデ
ィスクにおいては追加余裕空間割当作業がディスク上に
余裕空間が満ちた時点より、ほぼ満ちた状態で若干の余
裕を有する時に行われることが望ましい。しかし、一つ
のビットとしては余裕空間がほぼ満ちた状態を表示でき
ないという短所があった。
対する情報はただ余裕空間が満ちているか否かのみを示
す。しかし、初期化後余裕空間をさらに割当てられるデ
ィスクにおいては追加余裕空間割当作業がディスク上に
余裕空間が満ちた時点より、ほぼ満ちた状態で若干の余
裕を有する時に行われることが望ましい。しかし、一つ
のビットとしては余裕空間がほぼ満ちた状態を表示でき
ないという短所があった。
【０００６】また、既存のＤＶＤ−ＲＡＭ規格書改訂版
１．０による余裕空間の割当は初期化時一定に決まった
余裕空間を各地域に割当てて、割当てられた余裕空間は
該当ディスクに適用する欠陥管理方法で処理可能な欠陥
を全て処理しうる充分量が予め決定されていた。
１．０による余裕空間の割当は初期化時一定に決まった
余裕空間を各地域に割当てて、割当てられた余裕空間は
該当ディスクに適用する欠陥管理方法で処理可能な欠陥
を全て処理しうる充分量が予め決定されていた。
【０００７】ここで、一般の記録／再起録可能なディス
クの欠陥管理方法でディスクを初期化する時に発生した
欠陥（“１次欠陥”）に対しては論理的セクタ番号を付
さずにスリップするスリップ置換（Slipping replaceme
nt）を使用し、スリップ置換により置換えられた欠陥セ
クタ位置はディスクの欠陥管理領域のＰＤＬ（Primary
Defect List）に記録されるように規定されており、デ
ィスクの使用中発生する欠陥（“２次欠陥”）に対して
はエラー発生地域のエラー訂正コード（“ＥＣＣ”）ブ
ロック単位で余裕空間にある正常なブロックに置換える
線形置換（Linear replacement）を使用し、線形置換に
より置換えられた欠陥ブロック位置はディスクの欠陥管
理領域のＳＤＬ（Secondary Defect List）に記録され
るように規定されている。
クの欠陥管理方法でディスクを初期化する時に発生した
欠陥（“１次欠陥”）に対しては論理的セクタ番号を付
さずにスリップするスリップ置換（Slipping replaceme
nt）を使用し、スリップ置換により置換えられた欠陥セ
クタ位置はディスクの欠陥管理領域のＰＤＬ（Primary
Defect List）に記録されるように規定されており、デ
ィスクの使用中発生する欠陥（“２次欠陥”）に対して
はエラー発生地域のエラー訂正コード（“ＥＣＣ”）ブ
ロック単位で余裕空間にある正常なブロックに置換える
線形置換（Linear replacement）を使用し、線形置換に
より置換えられた欠陥ブロック位置はディスクの欠陥管
理領域のＳＤＬ（Secondary Defect List）に記録され
るように規定されている。
【０００８】しかし、ディスクの状態に応じて適正量を
初期化時に割当ててディスクを使用することによって状
態が悪くなって追加余裕空間を割当てる場合に、さらに
効率よく余裕空間を割当てる方法が必要である。既存の
規格書ではディスクの記録及び／または再生装置におい
てディスク上の欠陥管理情報を臨時貯蔵する記憶装置の
大きさを３２Ｋバイトとしているため、ディスク上の欠
陥管理領域に記録しうる欠陥量よりも実際に管理しうる
欠陥数が少なくなる制約があった。
初期化時に割当ててディスクを使用することによって状
態が悪くなって追加余裕空間を割当てる場合に、さらに
効率よく余裕空間を割当てる方法が必要である。既存の
規格書ではディスクの記録及び／または再生装置におい
てディスク上の欠陥管理情報を臨時貯蔵する記憶装置の
大きさを３２Ｋバイトとしているため、ディスク上の欠
陥管理領域に記録しうる欠陥量よりも実際に管理しうる
欠陥数が少なくなる制約があった。
【０００９】この際、欠陥管理情報はＰＤＬとＳＤＬに
なっており、ＰＤＬとＳＤＬの大きさを合せると約６０
Ｋバイトに該当する。従って、ＤＶＤ−ＲＡＭ規格書
１．０ではＰＤＬは１セクタ乃至１５セクタの大きさを
有し、残りはＳＤＬ項目処理に使用させ、処理可能なＰ
ＤＬとＳＤＬの項目数をバッファの大きさ（３２Ｋバイ
ト）に合うように制限している。
なっており、ＰＤＬとＳＤＬの大きさを合せると約６０
Ｋバイトに該当する。従って、ＤＶＤ−ＲＡＭ規格書
１．０ではＰＤＬは１セクタ乃至１５セクタの大きさを
有し、残りはＳＤＬ項目処理に使用させ、処理可能なＰ
ＤＬとＳＤＬの項目数をバッファの大きさ（３２Ｋバイ
ト）に合うように制限している。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】前記問題点を解決する
ための本発明の目的は、初期化時割当てた余裕空間と初
期化が済んでから割当てた余裕空間に関連した大きさ情
報と残量情報を有する記録媒体を提供することにある。
ための本発明の目的は、初期化時割当てた余裕空間と初
期化が済んでから割当てた余裕空間に関連した大きさ情
報と残量情報を有する記録媒体を提供することにある。
【００１１】本発明の他の目的は、ディスクの初期化時
スリップ置換と一部の線形置換のための余裕空間を先に
割当てて、使用中足りない線形置換のための余裕空間を
後で割当てるが、この時必要な余裕空間を簡単に計算し
て割当てる方法を提供することにある。
スリップ置換と一部の線形置換のための余裕空間を先に
割当てて、使用中足りない線形置換のための余裕空間を
後で割当てるが、この時必要な余裕空間を簡単に計算し
て割当てる方法を提供することにある。
【００１２】本発明のさらに他の目的は、ディスクの使
用中線形置換のためにさらに割当てられる追加余裕空間
に対する欠陥管理方法を提供することにある。
用中線形置換のためにさらに割当てられる追加余裕空間
に対する欠陥管理方法を提供することにある。
【００１３】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
の本発明に係る記録媒体は、初期化時に割当てる初期余
裕空間と初期化後に割当てる追加余裕空間を有し、前記
各余裕空間の大きさを初期化時発生する欠陥数に応じて
決定することを特徴とする。
の本発明に係る記録媒体は、初期化時に割当てる初期余
裕空間と初期化後に割当てる追加余裕空間を有し、前記
各余裕空間の大きさを初期化時発生する欠陥数に応じて
決定することを特徴とする。
【００１４】本発明に係る余裕空間割当方法は、欠陥の
管理のために余裕空間を割当てるディスク記録及び／ま
たは再生装置のための余裕空間割当方法において、初期
化時発生された初期欠陥数に応じて最小余裕空間の大き
さを決定する段階と、前記記録及び／または再生装置の
欠陥管理のための記憶装置の大きさに応じて最大に割当
てるべき余裕空間の大きさを決定する段階と、前記最小
及び最大余裕空間を用いてスリップ置換と線形置換のた
めの初期余裕空間を割当てる段階とを含む。
管理のために余裕空間を割当てるディスク記録及び／ま
たは再生装置のための余裕空間割当方法において、初期
化時発生された初期欠陥数に応じて最小余裕空間の大き
さを決定する段階と、前記記録及び／または再生装置の
欠陥管理のための記憶装置の大きさに応じて最大に割当
てるべき余裕空間の大きさを決定する段階と、前記最小
及び最大余裕空間を用いてスリップ置換と線形置換のた
めの初期余裕空間を割当てる段階とを含む。
【００１５】本発明に係る欠陥管理方法は、初期化時発
生された初期欠陥をスリップ置換を用いて置換えるため
に割当てられる初期余裕空間と初期化後に発生された２
次欠陥を線形置換を用いて置換えるためにさらに割当て
られる追加余裕空間を有するディスクの記録及び／また
は再生装置のための欠陥管理方法において、前記追加余
裕空間を既に線形置換された空間を用いて割当て、既に
線形置換された追加余裕空間内の欠陥ブロックは線形置
換に使用せず、この欠陥ブロックに対する欠陥管理領域
内の２次欠陥リスト項目は変えないことを特徴とする。
生された初期欠陥をスリップ置換を用いて置換えるため
に割当てられる初期余裕空間と初期化後に発生された２
次欠陥を線形置換を用いて置換えるためにさらに割当て
られる追加余裕空間を有するディスクの記録及び／また
は再生装置のための欠陥管理方法において、前記追加余
裕空間を既に線形置換された空間を用いて割当て、既に
線形置換された追加余裕空間内の欠陥ブロックは線形置
換に使用せず、この欠陥ブロックに対する欠陥管理領域
内の２次欠陥リスト項目は変えないことを特徴とする。
【００１６】
【発明の実施の形態】以下、添付した図面に基づき本発
明に係る欠陥管理のための余裕空間とその管理情報を有
する記録媒体、余裕空間割当方法と欠陥管理方法の望ま
しい実施形態を説明する。
明に係る欠陥管理のための余裕空間とその管理情報を有
する記録媒体、余裕空間割当方法と欠陥管理方法の望ま
しい実施形態を説明する。
【００１７】本発明に係る欠陥管理のためのディスク上
の余裕空間の割当は初期余裕空間（Primary Spare Are
a）及び追加余裕空間（Supplementary Spare Area）に
区分して下記のように定義する。
の余裕空間の割当は初期余裕空間（Primary Spare Are
a）及び追加余裕空間（Supplementary Spare Area）に
区分して下記のように定義する。
【００１８】初期余裕空間はディスクの初期化時欠陥の
置換のために最初に割当てる余裕空間であってスリップ
置換に先に使用し、残り余裕空間は線形置換にも使用さ
れうる。追加余裕空間はディスクの使用中に発生する欠
陥を線形置換するための余裕空間であって初期化が済ん
でから使用中にさらに割当てる余裕空間を意味する。
置換のために最初に割当てる余裕空間であってスリップ
置換に先に使用し、残り余裕空間は線形置換にも使用さ
れうる。追加余裕空間はディスクの使用中に発生する欠
陥を線形置換するための余裕空間であって初期化が済ん
でから使用中にさらに割当てる余裕空間を意味する。
【００１９】即ち、図２に示されたように本発明では初
期化時ディスク上にスリップ置換と線形置換のための初
期余裕空間を割当てる。スリップ置換はデータセクタ単
位で置換えるために余裕空間の活用効率を高めることは
できるが、欠陥が発生した空間は単純に使用せず、後続
の正常なデータセクタから引続き記録する方式なのでデ
ィスクの初期化が済むと使用できない。
期化時ディスク上にスリップ置換と線形置換のための初
期余裕空間を割当てる。スリップ置換はデータセクタ単
位で置換えるために余裕空間の活用効率を高めることは
できるが、欠陥が発生した空間は単純に使用せず、後続
の正常なデータセクタから引続き記録する方式なのでデ
ィスクの初期化が済むと使用できない。
【００２０】初期余裕空間はこのスリップ置換に必要な
最小限の余裕空間とディスク上における使用中発生可能
な欠陥を線形置換するための適切な余裕空間を有するべ
きである。この際、スリップ置換のための余裕空間は少
なくとも欠陥管理情報のうちＰＤＬに登録されている項
目数だけのセクタを必要とすることになる。
最小限の余裕空間とディスク上における使用中発生可能
な欠陥を線形置換するための適切な余裕空間を有するべ
きである。この際、スリップ置換のための余裕空間は少
なくとも欠陥管理情報のうちＰＤＬに登録されている項
目数だけのセクタを必要とすることになる。
【００２１】また、追加余裕空間は初期化後の使用中に
発生された２次欠陥を処理するために初期余裕空間が足
りない場合、線形置換のために論理的ファイル空間の後
方から所定の大きさ単位に前方に増加させながら割当て
られる。
発生された２次欠陥を処理するために初期余裕空間が足
りない場合、線形置換のために論理的ファイル空間の後
方から所定の大きさ単位に前方に増加させながら割当て
られる。
【００２２】本発明でもＤＶＤ−ＲＡＭ規格書１．０に
おいて提案した余裕空間に対する欠陥管理方法としてダ
イレクトポインティング（direct pointing）規則が適
用される。即ち、全ての欠陥は一回のみの置換を通じて
処理すべきである。
おいて提案した余裕空間に対する欠陥管理方法としてダ
イレクトポインティング（direct pointing）規則が適
用される。即ち、全ての欠陥は一回のみの置換を通じて
処理すべきである。
【００２３】一方、初期化後線形置換のために割当てら
れる拡張可能な追加余裕空間は既に使用者データ領域と
して使用された可能性がある。即ち、使用者データ領域
として使われ、追加余裕空間に割当てられる前に発生し
た欠陥ブロックは、図３（Ａ）に示されたように、既に
割当てられている初期余裕空間または追加余裕空間によ
り線形置換された可能性がある。このように既に線形置
換されている空間を追加余裕空間として使用しようとす
る時、この追加余裕空間内の既に線形置換されている欠
陥ブロックで他の使用者領域の欠陥を二重で置換えると
ダイレクトポインティング規則を違背するだけだけな
く、読出専用ディスクではそのプロセスが複雑になる問
題が発生する。
れる拡張可能な追加余裕空間は既に使用者データ領域と
して使用された可能性がある。即ち、使用者データ領域
として使われ、追加余裕空間に割当てられる前に発生し
た欠陥ブロックは、図３（Ａ）に示されたように、既に
割当てられている初期余裕空間または追加余裕空間によ
り線形置換された可能性がある。このように既に線形置
換されている空間を追加余裕空間として使用しようとす
る時、この追加余裕空間内の既に線形置換されている欠
陥ブロックで他の使用者領域の欠陥を二重で置換えると
ダイレクトポインティング規則を違背するだけだけな
く、読出専用ディスクではそのプロセスが複雑になる問
題が発生する。
【００２４】これに備えて、図３（Ｂ）に示されたよう
に、初期余裕空間または予め割当てられた追加余裕空間
により既に線形置換されてしまった追加余裕空間内の欠
陥ブロックは線形置換に使用すべきではなく、また欠陥
管理領域に貯蔵されている該当欠陥ブロックに対するＳ
ＤＬ項目はそのまま保つべきである。ここで、ＳＤＬ項
目がそのまま保つべきである理由は、余裕空間を順に使
用する時、中間にスキップして使用しない余裕空間は欠
陥がある空間と判断するために、追加余裕空間内の欠陥
を処理するために使われたＳＤＬ項目を消すと、線形置
換に使われた正常なブロックが欠陥と判断される問題が
発生されて後続フォーマットの時欠陥でない部分が欠陥
と登録される問題が発生する。従って、さらに割当てら
れる追加余裕空間内で線形置換された欠陥ブロックに対
するＳＤＬ項目情報はそのまま保ち、該当欠陥ブロック
は他の使用者領域の欠陥を線形置換えるのに使用しては
いけない。
に、初期余裕空間または予め割当てられた追加余裕空間
により既に線形置換されてしまった追加余裕空間内の欠
陥ブロックは線形置換に使用すべきではなく、また欠陥
管理領域に貯蔵されている該当欠陥ブロックに対するＳ
ＤＬ項目はそのまま保つべきである。ここで、ＳＤＬ項
目がそのまま保つべきである理由は、余裕空間を順に使
用する時、中間にスキップして使用しない余裕空間は欠
陥がある空間と判断するために、追加余裕空間内の欠陥
を処理するために使われたＳＤＬ項目を消すと、線形置
換に使われた正常なブロックが欠陥と判断される問題が
発生されて後続フォーマットの時欠陥でない部分が欠陥
と登録される問題が発生する。従って、さらに割当てら
れる追加余裕空間内で線形置換された欠陥ブロックに対
するＳＤＬ項目情報はそのまま保ち、該当欠陥ブロック
は他の使用者領域の欠陥を線形置換えるのに使用しては
いけない。
【００２５】一方、ディスク記録及び／または再生装置
において欠陥管理情報を直ちに使用するためにディスク
上の情報を半導体メモリのような臨時貯蔵空間、即ちバ
ッファに初期化時に読取っておいて使用することにな
る。ＤＶＤ−ＲＡＭ規格書１．０では３２Ｋバイトのバ
ッファを使用することを規定している。これは１６セク
タ分の情報に該当し、欠陥管理情報のためのＰＤＬとＳ
ＤＬは各々セクタ単位にバッファに貯蔵される。従っ
て、バッファ上に貯蔵される最小限のＰＤＬ項目は１セ
クタ分に該当し、バッファ上に貯蔵される最大限のＰＤ
Ｌ項目はＰＤＬに記録可能な最大の項目数（７６７９個
の項目：１５セクタ分）に該当する。一方、ＳＤＬの項
目は３２Ｋバイトのバッファの貯蔵空間においてＰＤＬ
が占めてから残った空間を使用することになって最小１
セクタ分から最大１５セクタ分までの欠陥項目を管理可
能になる。
において欠陥管理情報を直ちに使用するためにディスク
上の情報を半導体メモリのような臨時貯蔵空間、即ちバ
ッファに初期化時に読取っておいて使用することにな
る。ＤＶＤ−ＲＡＭ規格書１．０では３２Ｋバイトのバ
ッファを使用することを規定している。これは１６セク
タ分の情報に該当し、欠陥管理情報のためのＰＤＬとＳ
ＤＬは各々セクタ単位にバッファに貯蔵される。従っ
て、バッファ上に貯蔵される最小限のＰＤＬ項目は１セ
クタ分に該当し、バッファ上に貯蔵される最大限のＰＤ
Ｌ項目はＰＤＬに記録可能な最大の項目数（７６７９個
の項目：１５セクタ分）に該当する。一方、ＳＤＬの項
目は３２Ｋバイトのバッファの貯蔵空間においてＰＤＬ
が占めてから残った空間を使用することになって最小１
セクタ分から最大１５セクタ分までの欠陥項目を管理可
能になる。
【００２６】従って、バッファの大きさと最初ディスク
の初期化時発生するＰＤＬ項目の数が分かると最大限割
当てられる余裕空間（初期余裕空間＋追加余裕空間）の
大きさを決定しうる。この際、余裕空間にも欠陥が発生
する可能性があるので、これに対する余分の余裕空間を
考慮すべきである。
の初期化時発生するＰＤＬ項目の数が分かると最大限割
当てられる余裕空間（初期余裕空間＋追加余裕空間）の
大きさを決定しうる。この際、余裕空間にも欠陥が発生
する可能性があるので、これに対する余分の余裕空間を
考慮すべきである。
【００２７】本発明ではＰＤＬに記録可能な最大の項目
数（７６７９個の項目：１５セクタ分）とＳＤＬに記録
可能な最大の項目数（３８３７個の項目：１５セクタ
分）の欠陥を全て処理しようとすれば、３０セクタ分の
欠陥に関する欠陥情報が貯蔵可能な６０Ｋバイトのバッ
ファを使用しうる。
数（７６７９個の項目：１５セクタ分）とＳＤＬに記録
可能な最大の項目数（３８３７個の項目：１５セクタ
分）の欠陥を全て処理しようとすれば、３０セクタ分の
欠陥に関する欠陥情報が貯蔵可能な６０Ｋバイトのバッ
ファを使用しうる。
【００２８】また、バッファを６４Ｋバイトに設定すれ
ば規格書によった欠陥管理情報領域に記録しうる最大限
の全ての欠陥を処理可能になる。本発明の実施形態では
欠陥管理のためのバッファの大きさが３２Ｋバイトの場
合及び６４Ｋバイトの場合の２つの場合に対して各々初
期化時及び使用中割当可能な好適な余裕空間の大きさを
提示している。
ば規格書によった欠陥管理情報領域に記録しうる最大限
の全ての欠陥を処理可能になる。本発明の実施形態では
欠陥管理のためのバッファの大きさが３２Ｋバイトの場
合及び６４Ｋバイトの場合の２つの場合に対して各々初
期化時及び使用中割当可能な好適な余裕空間の大きさを
提示している。
【００２９】割当可能な余裕空間の大きさの場合、一定
の大きさの増分を有するように制限すれば、後述するよ
うに、必要な余裕空間を計算する計算式を簡単に構成し
うる長所がある。このような点を考慮して初期欠陥を管
理するスリップ置換のための余裕空間はＰＤＬ項目をセ
クタ単位に区分して計算する。１セクタ分のＰＤＬ項目
は５１２ＰＤＬ項目に対応し、これを処理するための余
裕空間の量は３２ＥＣＣブロックに該当する。一つのＥ
ＣＣブロックは１６データセクタで構成されている。
の大きさの増分を有するように制限すれば、後述するよ
うに、必要な余裕空間を計算する計算式を簡単に構成し
うる長所がある。このような点を考慮して初期欠陥を管
理するスリップ置換のための余裕空間はＰＤＬ項目をセ
クタ単位に区分して計算する。１セクタ分のＰＤＬ項目
は５１２ＰＤＬ項目に対応し、これを処理するための余
裕空間の量は３２ＥＣＣブロックに該当する。一つのＥ
ＣＣブロックは１６データセクタで構成されている。
【００３０】図４及び図５はバッファの大きさが３２Ｋ
バイトと６４Ｋバイトのそれぞれの場合に対して余裕空
間の量を計算したテーブルである。図４及び図５に示さ
れた第１カラムはＰＤＬ項目の数を示し、第２カラムは
該当ＰＤＬ項目の数に対して最大限処理可能なＳＤＬ項
目の数を示している。第３カラムの数字は１セクタ分の
線形置換のための欠陥管理項目のための余裕空間を割当
てると仮定する場合、必要な最小余裕空間の大きさをＥ
ＣＣブロック単位で表示したことである。即ち、割当可
能な最小余裕空間はＰＤＬ項目を処理するのに必要な全
ての余裕空間と１セクタ分のＳＤＬ項目を処理するのに
必要な余裕空間の和となる。
バイトと６４Ｋバイトのそれぞれの場合に対して余裕空
間の量を計算したテーブルである。図４及び図５に示さ
れた第１カラムはＰＤＬ項目の数を示し、第２カラムは
該当ＰＤＬ項目の数に対して最大限処理可能なＳＤＬ項
目の数を示している。第３カラムの数字は１セクタ分の
線形置換のための欠陥管理項目のための余裕空間を割当
てると仮定する場合、必要な最小余裕空間の大きさをＥ
ＣＣブロック単位で表示したことである。即ち、割当可
能な最小余裕空間はＰＤＬ項目を処理するのに必要な全
ての余裕空間と１セクタ分のＳＤＬ項目を処理するのに
必要な余裕空間の和となる。
【００３１】次のカラムは最小要求余裕空間であって該
当欠陥条件で全ての欠陥を処理するために必要な最小限
の余裕空間の大きさを表示しており、第４カラムの第１
サブカラムはブロックの数で示した量であり、第２サブ
カラムはメガバイト（ＭＢ）単位で示したものであり、
第３サブカラムは全体容量に対する比率をパーセントで
示したものである。その次のカラムは処理可能な総欠陥
項目の数を表示している。最後のカラムは本発明で提案
する最大余裕空間の量であって、余裕空間の量を計算し
やすくし、また余裕空間から発生する欠陥を置換えるた
めに適切な量の追加の余裕空間を考慮して単純化した余
裕空間の量であり、即ち第１と第２サブカラムは各必要
な余裕空間の間の増分を３２ブロックとした時の提案す
る最大余裕空間とこれを全体ディスクの記録容量に対す
る比率を示しており、第３と第４サブカラムは増分を４
８ブロックにした場合に対して各々提案する最大の余裕
空間の量をブロックで示したものと全体ディスクの記録
容量に対する比率を示したものである。
当欠陥条件で全ての欠陥を処理するために必要な最小限
の余裕空間の大きさを表示しており、第４カラムの第１
サブカラムはブロックの数で示した量であり、第２サブ
カラムはメガバイト（ＭＢ）単位で示したものであり、
第３サブカラムは全体容量に対する比率をパーセントで
示したものである。その次のカラムは処理可能な総欠陥
項目の数を表示している。最後のカラムは本発明で提案
する最大余裕空間の量であって、余裕空間の量を計算し
やすくし、また余裕空間から発生する欠陥を置換えるた
めに適切な量の追加の余裕空間を考慮して単純化した余
裕空間の量であり、即ち第１と第２サブカラムは各必要
な余裕空間の間の増分を３２ブロックとした時の提案す
る最大余裕空間とこれを全体ディスクの記録容量に対す
る比率を示しており、第３と第４サブカラムは増分を４
８ブロックにした場合に対して各々提案する最大の余裕
空間の量をブロックで示したものと全体ディスクの記録
容量に対する比率を示したものである。
【００３２】図４に示されたように３２Ｋバイトのバッ
ファを使用した場合には全ての欠陥管理領域に記録可能
な欠陥を全て処理できないだけでなく、初期欠陥（ＰＤ
Ｌ項目）が増えるほど実際に処理可能な２次欠陥の量が
減り、全体余裕空間の比率も減る現象を示している。こ
れは初期欠陥が多いほどディスクの状態が劣ることを意
味し、管理可能な２次欠陥の数が減る問題を発生させて
いる。
ファを使用した場合には全ての欠陥管理領域に記録可能
な欠陥を全て処理できないだけでなく、初期欠陥（ＰＤ
Ｌ項目）が増えるほど実際に処理可能な２次欠陥の量が
減り、全体余裕空間の比率も減る現象を示している。こ
れは初期欠陥が多いほどディスクの状態が劣ることを意
味し、管理可能な２次欠陥の数が減る問題を発生させて
いる。
【００３３】これを解決するために本発明では、図５に
示したように、６４Ｋバイトのバッファを提示してい
る。この場合には初期欠陥の量に関係なく２次欠陥も欠
陥管理領域に示しうる最大量を全て処理しうるだけでな
く、余裕空間の量も約２．７％から３％まで比較的一定
の量を保てる。
示したように、６４Ｋバイトのバッファを提示してい
る。この場合には初期欠陥の量に関係なく２次欠陥も欠
陥管理領域に示しうる最大量を全て処理しうるだけでな
く、余裕空間の量も約２．７％から３％まで比較的一定
の量を保てる。
【００３４】一方、本発明では欠陥管理のための余裕空
間を、初期化時に使用目的またはディスクの状態に応じ
て一部割当てて、初期化が済んだ後、割当てられた余裕
空間が足りない場合さらに割当てるディスクに対して記
述している。従って、さらに余裕空間を割当てる場合に
は、どのくらいの余裕空間をさらに割当てられるのかを
先に計算する必要がある。さらに割当てられる余裕空間
の量を初期化時欠陥管理領域（ＤＭＡ）のＤＤＳ（Disc
Definition Structure）に記録しておけば追加余裕空
間の割当時容易に割当てられる。
間を、初期化時に使用目的またはディスクの状態に応じ
て一部割当てて、初期化が済んだ後、割当てられた余裕
空間が足りない場合さらに割当てるディスクに対して記
述している。従って、さらに余裕空間を割当てる場合に
は、どのくらいの余裕空間をさらに割当てられるのかを
先に計算する必要がある。さらに割当てられる余裕空間
の量を初期化時欠陥管理領域（ＤＭＡ）のＤＤＳ（Disc
Definition Structure）に記録しておけば追加余裕空
間の割当時容易に割当てられる。
【００３５】欠陥管理のための余裕空間の量を計算する
ための公式は次のように簡単に求められる。６４Ｋバイ
トバッファを使用する場合、最大余裕空間の大きさは下
記の数１により求められる。 （数１) 最大余裕空間 ＝ ［ＥPDL／５１２］×３２＋４０９６
ブロック
ための公式は次のように簡単に求められる。６４Ｋバイ
トバッファを使用する場合、最大余裕空間の大きさは下
記の数１により求められる。 （数１) 最大余裕空間 ＝ ［ＥPDL／５１２］×３２＋４０９６
ブロック
【００３６】３２Ｋバイトバッファを使用する場合、最
大余裕空間の大きさは下記の数２により求められる。 （数２） 最大余裕空間 ＝ ４０９６−［ＥPDL／５１２］×（２
５６−３２）ブロック
大余裕空間の大きさは下記の数２により求められる。 （数２） 最大余裕空間 ＝ ４０９６−［ＥPDL／５１２］×（２
５６−３２）ブロック
【００３７】前記数１及び数２において、［ＥPDL／５
１２］はＥPDL／５１２を越えない最大の整数で、ＥPDL
はＰＤＬの項目の数で、３２（＝ＩＮＣ）は増分値で、
４０９６（＝ＳMAX）は初期欠陥数（ＰＤＬ項目の数）
が５１２個より小さな場合、最大量の欠陥を処理するの
に必要な余裕空間を計算の簡略化のために２の倍数に近
似させた整数で、その単位はＥＣＣブロックであり、２
５６（＝ＳSDL）は１セクタ分のＳＤＬ項目を処理する
のに必要な余裕空間を示す。
１２］はＥPDL／５１２を越えない最大の整数で、ＥPDL
はＰＤＬの項目の数で、３２（＝ＩＮＣ）は増分値で、
４０９６（＝ＳMAX）は初期欠陥数（ＰＤＬ項目の数）
が５１２個より小さな場合、最大量の欠陥を処理するの
に必要な余裕空間を計算の簡略化のために２の倍数に近
似させた整数で、その単位はＥＣＣブロックであり、２
５６（＝ＳSDL）は１セクタ分のＳＤＬ項目を処理する
のに必要な余裕空間を示す。
【００３８】図４及び図５において提示された提案する
最大余裕空間は実際に必要とする余裕空間より約４％多
い量を提示している。これは余裕空間で発生する欠陥を
考慮したことであり、合わせて余裕空間の大きさを２の
倍数に制限することによって計算を簡単にする長所を有
している。
最大余裕空間は実際に必要とする余裕空間より約４％多
い量を提示している。これは余裕空間で発生する欠陥を
考慮したことであり、合わせて余裕空間の大きさを２の
倍数に制限することによって計算を簡単にする長所を有
している。
【００３９】一方、さらに割当てられる余裕空間は提案
する最大余裕空間から初期化時割当てられた余裕空間を
引いた残りをＤＤＳに記録して置くことによって使用中
追加余裕空間を容易に割当てられる。
する最大余裕空間から初期化時割当てられた余裕空間を
引いた残りをＤＤＳに記録して置くことによって使用中
追加余裕空間を容易に割当てられる。
【００４０】追加余裕空間を割当てたりさらに割当てら
れた追加余裕空間の大きさを拡張すべき場合、その基準
は初期化時割当てた初期余裕空間を全て使用してこれ以
上の余裕空間がなくなったり、またはさらに割当てた余
裕空間を全て使用したのかである。実際にディスクを使
用する場合、欠陥は連続的に発生する可能性が大きいた
めに、割当てられた余裕空間を完全に使用した後、追加
余裕空間を割当てることより余裕空間が少し残っている
時、例えば一定数のブロックが残っていたり、９０％の
余裕空間を使用した時などの所定の基準を定めてその時
点を基準として追加余裕空間を割当てたり、追加余裕空
間を拡張することが望ましい。
れた追加余裕空間の大きさを拡張すべき場合、その基準
は初期化時割当てた初期余裕空間を全て使用してこれ以
上の余裕空間がなくなったり、またはさらに割当てた余
裕空間を全て使用したのかである。実際にディスクを使
用する場合、欠陥は連続的に発生する可能性が大きいた
めに、割当てられた余裕空間を完全に使用した後、追加
余裕空間を割当てることより余裕空間が少し残っている
時、例えば一定数のブロックが残っていたり、９０％の
余裕空間を使用した時などの所定の基準を定めてその時
点を基準として追加余裕空間を割当てたり、追加余裕空
間を拡張することが望ましい。
【００４１】このような場合余裕空間の使用程度を示す
残量状態フラグを既存の余裕空間フルフラグのようにた
だ余裕空間が残っていない、またはまだ余裕空間が残っ
ているなどの２つの状態のみを表示することよりは一定
水準以上使用したことを知らせる状態が必要となる。ま
た、初期余裕空間に対しては一定水準以上使用した場合
に対して追加余裕空間が割当てられたか否かを知らせる
フラグが必要である。この場合、該当初期余裕空間の状
態を示すフラグ（初期余裕空間のための残量状態情報と
称される）は次の表１のような状態を有し、図６（Ａ）
に示されたような構造を有する。
残量状態フラグを既存の余裕空間フルフラグのようにた
だ余裕空間が残っていない、またはまだ余裕空間が残っ
ているなどの２つの状態のみを表示することよりは一定
水準以上使用したことを知らせる状態が必要となる。ま
た、初期余裕空間に対しては一定水準以上使用した場合
に対して追加余裕空間が割当てられたか否かを知らせる
フラグが必要である。この場合、該当初期余裕空間の状
態を示すフラグ（初期余裕空間のための残量状態情報と
称される）は次の表１のような状態を有し、図６（Ａ）
に示されたような構造を有する。
【００４２】
【表１】
【００４３】追加余裕空間の状態を示すフラグ（追加余
裕空間のための残量状態情報と称される）は次の表２の
ような状態を有し、図６（Ｂ）に示されたような構造を
有する。
裕空間のための残量状態情報と称される）は次の表２の
ような状態を有し、図６（Ｂ）に示されたような構造を
有する。
【００４４】
【表２】
【００４５】ここで、追加余裕空間に対しては一定量以
上使用したことのみ示すことによって追加余裕空間を拡
張すべきことを知らせる役割のみすれば充分である。一
定量以上追加余裕空間を使用して追加余裕空間を拡張し
た場合には、再びフラグの値を“００”に変えれば良
い。従って、初期余裕空間のための残量状態フラグとは
異なって追加余裕空間のための残量状態フラグは３つの
値のみを有すればよい。
上使用したことのみ示すことによって追加余裕空間を拡
張すべきことを知らせる役割のみすれば充分である。一
定量以上追加余裕空間を使用して追加余裕空間を拡張し
た場合には、再びフラグの値を“００”に変えれば良
い。従って、初期余裕空間のための残量状態フラグとは
異なって追加余裕空間のための残量状態フラグは３つの
値のみを有すればよい。
【００４６】図７は本発明の初期化時における余裕空間
割当方法の一実施形態に係る流れ図であって、ディスク
の初期化時ディスクの欠陥を検査する検証（Certificat
ion）過程で見出された欠陥のあるセクタは論理的セク
タ番号を付さずにスリップして欠陥セクタの次のセクタ
に欠陥セクタに与えられる論理的セクタ番号を付し、ス
リップ置換により置換えられた欠陥セクタ位置をＰＤＬ
に貯蔵する（Ｓ１０１段階）。
割当方法の一実施形態に係る流れ図であって、ディスク
の初期化時ディスクの欠陥を検査する検証（Certificat
ion）過程で見出された欠陥のあるセクタは論理的セク
タ番号を付さずにスリップして欠陥セクタの次のセクタ
に欠陥セクタに与えられる論理的セクタ番号を付し、ス
リップ置換により置換えられた欠陥セクタ位置をＰＤＬ
に貯蔵する（Ｓ１０１段階）。
【００４７】Ｓ１０１段階を行ってから必要な余裕空間
を計算し（Ｓ１０２段階）、例えばＰＤＬ項目の数が３
０７２乃至３５８３にある場合、最小余裕空間はＰＤＬ
項目を処理するのに必要な全ての余裕空間と１セクタ分
のＳＤＬ項目を処理するのに必要な余裕空間の和となる
ので４８０ＥＣＣブロックとなり、３２Ｋバイトのバッ
ファと３２ブロックの増分を有するとすれば最大余裕空
間は数学式２により計算すれば２７５２ＥＣＣブロック
の大きさに割当てられる。
を計算し（Ｓ１０２段階）、例えばＰＤＬ項目の数が３
０７２乃至３５８３にある場合、最小余裕空間はＰＤＬ
項目を処理するのに必要な全ての余裕空間と１セクタ分
のＳＤＬ項目を処理するのに必要な余裕空間の和となる
ので４８０ＥＣＣブロックとなり、３２Ｋバイトのバッ
ファと３２ブロックの増分を有するとすれば最大余裕空
間は数学式２により計算すれば２７５２ＥＣＣブロック
の大きさに割当てられる。
【００４８】必要な余裕空間が計算されると初期余裕空
間を割当てるが（Ｓ１０３段階）、例えば５１２ＥＣＣ
ブロックとすればＰＤＬ項目を処理するのに最大２２４
ＥＣＣブロックを使用し、残りはＳＤＬ項目を処理する
のに使用する。初期余裕空間が割当てられると初期余裕
空間のための残量状態フラグを初期状態“００”に設定
する（Ｓ１０４段階）。初期余裕空間のための残量状態
フラグを設定した後、追加余裕空間の最大の大きさを計
算するが、追加余裕空間の最大の大きさはＳ１０２段階
で計算された最大余裕空間からＳ１０３段階で割当てら
れた初期余裕空間を減算すれば得られる（Ｓ１０５段
階）。例えば、Ｓ１０２段階で計算された最大余裕空間
の２７５２ＥＣＣブロックからＳ１０３段階で割当てら
れた初期余裕空間５１２ＥＣＣブロックを減算すれば追
加余裕空間の最大の大きさの２２４０ＥＣＣブロックを
計算しうる。計算された追加余裕空間の大きさ情報（例
えば、２２４０ＥＣＣブロック）と追加余裕空間のため
の残量状態情報をＤＤＳまたはＤＭＡ領域の決まった位
置に記録して初期化を終了する（Ｓ１０６段階）。
間を割当てるが（Ｓ１０３段階）、例えば５１２ＥＣＣ
ブロックとすればＰＤＬ項目を処理するのに最大２２４
ＥＣＣブロックを使用し、残りはＳＤＬ項目を処理する
のに使用する。初期余裕空間が割当てられると初期余裕
空間のための残量状態フラグを初期状態“００”に設定
する（Ｓ１０４段階）。初期余裕空間のための残量状態
フラグを設定した後、追加余裕空間の最大の大きさを計
算するが、追加余裕空間の最大の大きさはＳ１０２段階
で計算された最大余裕空間からＳ１０３段階で割当てら
れた初期余裕空間を減算すれば得られる（Ｓ１０５段
階）。例えば、Ｓ１０２段階で計算された最大余裕空間
の２７５２ＥＣＣブロックからＳ１０３段階で割当てら
れた初期余裕空間５１２ＥＣＣブロックを減算すれば追
加余裕空間の最大の大きさの２２４０ＥＣＣブロックを
計算しうる。計算された追加余裕空間の大きさ情報（例
えば、２２４０ＥＣＣブロック）と追加余裕空間のため
の残量状態情報をＤＤＳまたはＤＭＡ領域の決まった位
置に記録して初期化を終了する（Ｓ１０６段階）。
【００４９】図８は本発明の初期余裕空間のための残量
状態情報を用いた追加余裕空間割当方法の一実施形態に
係る流れ図であって、初期化時設定された初期余裕空間
のための残量状態フラグをチェックして初期余裕空間が
ほぼ満ちて追加余裕空間が割当てられている状態“０
１”なのかを判断し（Ｓ２０１段階）、初期余裕空間が
ほぼ満ちるのに追加余裕空間が割当てられていないと追
加余裕空間を割当てるか否かを判断する（Ｓ２０２段
階）。Ｓ２０２段階で追加余裕空間の割当が必要である
と判断されれば追加余裕空間の大きさをチェックする
（Ｓ２０３段階）。即ち、割当可能な最大の追加余裕空
間の大きさと割当てるべき大きさとをチェックするが、
この割当てるべき大きさは使用者が指定しても、または
既に指定された増分値としてもよい。
状態情報を用いた追加余裕空間割当方法の一実施形態に
係る流れ図であって、初期化時設定された初期余裕空間
のための残量状態フラグをチェックして初期余裕空間が
ほぼ満ちて追加余裕空間が割当てられている状態“０
１”なのかを判断し（Ｓ２０１段階）、初期余裕空間が
ほぼ満ちるのに追加余裕空間が割当てられていないと追
加余裕空間を割当てるか否かを判断する（Ｓ２０２段
階）。Ｓ２０２段階で追加余裕空間の割当が必要である
と判断されれば追加余裕空間の大きさをチェックする
（Ｓ２０３段階）。即ち、割当可能な最大の追加余裕空
間の大きさと割当てるべき大きさとをチェックするが、
この割当てるべき大きさは使用者が指定しても、または
既に指定された増分値としてもよい。
【００５０】論理的ファイル空間の後方に十分な連続し
た空間が存否をチェックし（Ｓ２０４段階）、空間が存
在するかを判断する（Ｓ２０５段階）。論理的ファイル
空間の後方に十分な空間が存在すれば線形置換のための
追加余裕空間を論理的ファイル空間の最後方から一定の
大きさに追加余裕空間を割当てて（Ｓ２０６段階）、追
加余裕空間のための管理情報、即ち追加余裕空間のため
の残量状態フラグを“００”に初期化し、追加余裕空間
の大きさ情報を更新した後終了する（Ｓ２０７段階）。
Ｓ２０６段階で既に線形置換された空間を線形置換のた
めの余裕空間としてさらに割当てる時、図３で説明した
ように、さらに割当てられる追加余裕空間内の欠陥ブロ
ックは線形置換のために使用せず、ＳＤＬ項目もそのま
ま保たせる。
た空間が存否をチェックし（Ｓ２０４段階）、空間が存
在するかを判断する（Ｓ２０５段階）。論理的ファイル
空間の後方に十分な空間が存在すれば線形置換のための
追加余裕空間を論理的ファイル空間の最後方から一定の
大きさに追加余裕空間を割当てて（Ｓ２０６段階）、追
加余裕空間のための管理情報、即ち追加余裕空間のため
の残量状態フラグを“００”に初期化し、追加余裕空間
の大きさ情報を更新した後終了する（Ｓ２０７段階）。
Ｓ２０６段階で既に線形置換された空間を線形置換のた
めの余裕空間としてさらに割当てる時、図３で説明した
ように、さらに割当てられる追加余裕空間内の欠陥ブロ
ックは線形置換のために使用せず、ＳＤＬ項目もそのま
ま保たせる。
【００５１】Ｓ２０５段階で論理的ファイル空間の後方
に十分な連続した空間が存在しなければ空間を再整理し
た後（Ｓ２０８段階）、再び空間の存否を判断し（Ｓ２
０９段階）、連続した空間が存在すれば追加余裕空間を
割当てるＳ２０６段階に進行し、そうでなければ追加余
裕空間が割当できないことを示すメッセージを使用者に
知らせた後終了する（Ｓ２１０段階）。
に十分な連続した空間が存在しなければ空間を再整理し
た後（Ｓ２０８段階）、再び空間の存否を判断し（Ｓ２
０９段階）、連続した空間が存在すれば追加余裕空間を
割当てるＳ２０６段階に進行し、そうでなければ追加余
裕空間が割当できないことを示すメッセージを使用者に
知らせた後終了する（Ｓ２１０段階）。
【００５２】図９は本発明の追加余裕空間のための残量
状態フラグを用いて追加余裕空間割当方法の一実施形態
に係る流れ図であって、ディスクの使用中発生する２次
欠陥を置換えるための追加余裕空間のための残量状態フ
ラグがほぼ満ちている状態“０１”なのかを判断し（Ｓ
３０１段階）、追加余裕空間がほぼ満ちている状態なら
ば追加余裕空間をさらに割当てるか否かを判断する（Ｓ
３０２段階）。追加余裕空間を割当てろうとすれば追加
余裕空間の大きさをチェックする（Ｓ３０３段階）。即
ち、割当可能な最大の追加余裕空間と割当てるべき大き
さとをチェックするが、この割当てるべき大きさは使用
者が指定しても、またはシステムで指定した増分値とし
てもよい。
状態フラグを用いて追加余裕空間割当方法の一実施形態
に係る流れ図であって、ディスクの使用中発生する２次
欠陥を置換えるための追加余裕空間のための残量状態フ
ラグがほぼ満ちている状態“０１”なのかを判断し（Ｓ
３０１段階）、追加余裕空間がほぼ満ちている状態なら
ば追加余裕空間をさらに割当てるか否かを判断する（Ｓ
３０２段階）。追加余裕空間を割当てろうとすれば追加
余裕空間の大きさをチェックする（Ｓ３０３段階）。即
ち、割当可能な最大の追加余裕空間と割当てるべき大き
さとをチェックするが、この割当てるべき大きさは使用
者が指定しても、またはシステムで指定した増分値とし
てもよい。
【００５３】論理的ファイル空間の後方に十分な連続し
た空間の存否をチェックし（Ｓ３０４段階）、空間が存
在するかを判断し（Ｓ３０５段階）、論理的ファイル空
間の後方に十分な空間が存在すれば線形置換のための追
加余裕空間を論理的ファイル空間の最後方から一定の大
きさに追加余裕空間を割当てる（Ｓ３０６段階）。Ｓ３
０６段階で既に線形置換された空間を線形置換のための
余裕空間としてさらに割当てる時は、図３で説明したよ
うに、さらに割当てられる追加余裕空間内の欠陥ブロッ
クは線形置換のために使用せず、ＳＤＬ項目もそのまま
保たせる。
た空間の存否をチェックし（Ｓ３０４段階）、空間が存
在するかを判断し（Ｓ３０５段階）、論理的ファイル空
間の後方に十分な空間が存在すれば線形置換のための追
加余裕空間を論理的ファイル空間の最後方から一定の大
きさに追加余裕空間を割当てる（Ｓ３０６段階）。Ｓ３
０６段階で既に線形置換された空間を線形置換のための
余裕空間としてさらに割当てる時は、図３で説明したよ
うに、さらに割当てられる追加余裕空間内の欠陥ブロッ
クは線形置換のために使用せず、ＳＤＬ項目もそのまま
保たせる。
【００５４】Ｓ３０６段階で追加余裕空間を割当てた
後、追加余裕空間のための管理情報、即ち追加余裕空間
のための残量状態フラグを再び“００”に初期化し、割
当てられた追加余裕空間の大きさを更新した後終了する
（Ｓ３０７段階）。
後、追加余裕空間のための管理情報、即ち追加余裕空間
のための残量状態フラグを再び“００”に初期化し、割
当てられた追加余裕空間の大きさを更新した後終了する
（Ｓ３０７段階）。
【００５５】Ｓ３０５段階で論理的ファイル空間の後方
に十分な連続した空間が存在しなければ空間を再整理し
た後（Ｓ３０８段階）、再び空間の存否を判断し（Ｓ３
０９段階）、空間が存在すれば追加余裕空間を割当てる
Ｓ３０６段階に進行し、そうでなければ追加余裕空間が
割当られないことを示すメッセージを使用者に知らせた
後終了する（Ｓ３１０段階）。
に十分な連続した空間が存在しなければ空間を再整理し
た後（Ｓ３０８段階）、再び空間の存否を判断し（Ｓ３
０９段階）、空間が存在すれば追加余裕空間を割当てる
Ｓ３０６段階に進行し、そうでなければ追加余裕空間が
割当られないことを示すメッセージを使用者に知らせた
後終了する（Ｓ３１０段階）。
【００５６】
【発明の効果】前述したように、本発明は初期余裕空間
と追加余裕空間に対する大きさ情報を簡単な数式により
求められ、各余裕空間の残量状態情報を貯蔵、管理する
ことによって、余裕空間をさらに柔軟に効率よく割当
て、管理しうる。また、本発明はさらに割当てられる追
加余裕空間内の欠陥ブロックを線形置換のために使用せ
ず、ＳＤＬ項目はそのまま保たせることで誤動作を防止
しうる。
と追加余裕空間に対する大きさ情報を簡単な数式により
求められ、各余裕空間の残量状態情報を貯蔵、管理する
ことによって、余裕空間をさらに柔軟に効率よく割当
て、管理しうる。また、本発明はさらに割当てられる追
加余裕空間内の欠陥ブロックを線形置換のために使用せ
ず、ＳＤＬ項目はそのまま保たせることで誤動作を防止
しうる。
【図１】 従来のＳＤＬ内容の余裕空間フルフラグの構
造を示す図である。
造を示す図である。
【図２】 本発明に係る使用者領域、初期余裕空間、追
加余裕空間を有するディスクの構造を示す図である。
加余裕空間を有するディスクの構造を示す図である。
【図３】 （Ａ）及び（Ｂ）共に、図２に示されたディ
スクの構造において追加余裕空間上に発生した欠陥を管
理する方法を説明するための図である。
スクの構造において追加余裕空間上に発生した欠陥を管
理する方法を説明するための図である。
【図４】 ディスク記録及び／または再生装置の欠陥管
理のためのバッファの大きさが３２Ｋバイトの場合、本
発明に係る初期余裕空間と追加余裕空間の割当を示すテ
ーブルである。
理のためのバッファの大きさが３２Ｋバイトの場合、本
発明に係る初期余裕空間と追加余裕空間の割当を示すテ
ーブルである。
【図５】 ディスク記録及び／または再生装置の欠陥管
理のためのバッファの大きさが６４Ｋバイトの場合、本
発明に係る初期余裕空間と追加余裕空間の割当を示すテ
ーブルである。
理のためのバッファの大きさが６４Ｋバイトの場合、本
発明に係る初期余裕空間と追加余裕空間の割当を示すテ
ーブルである。
【図６】 本発明に係る余裕空間を管理するための余裕
空間の使用程度を示す残量状態情報のフラグの構造を示
す図である。
空間の使用程度を示す残量状態情報のフラグの構造を示
す図である。
【図７】 本発明の初期化時における余裕空間割当方法
の一実施形態に係る流れ図である。
の一実施形態に係る流れ図である。
【図８】 本発明の初期余裕空間の残量状態情報を用い
た追加余裕空間割当方法の一実施形態に係る流れ図であ
る。
た追加余裕空間割当方法の一実施形態に係る流れ図であ
る。
【図９】 本発明の追加余裕空間の残量状態情報を用い
た追加余裕空間割当方法の一実施形態に係る流れ図であ
る。
た追加余裕空間割当方法の一実施形態に係る流れ図であ
る。
Claims (29)
- 【請求項１】 欠陥の管理のために余裕空間を割当てる
ディスク記録及び／または再生装置のための余裕空間割
当方法において、 （ａ）最小余裕空間の大きさを決定する段階と、 （ｂ）前記記録及び／または再生装置の欠陥管理のため
の記憶装置の大きさに応じて最大に割当てるべき余裕空
間の大きさを決定する段階と、 （ｃ）前記最小及び最大余裕空間を用いてスリップ置換
と線形置換のための初期余裕空間を割当てる段階と、 （ｄ）初期余裕空間の使用状態を示す残量状態情報を貯
蔵する段階と、 （ｅ）前記初期余裕空間のための残量状態情報が、初期
余裕空間がほぼ満ちたのに追加余裕空間が割当てられて
いないことを示すと追加余裕空間を所定の大きさに論理
的ファイル空間の後部から増加しながら割当てる段階
と、を含み、 前記（ｅ）段階では、既に線形置換された空間を前記追
加余裕空間にさらに割当てる場合には、既に線形置換さ
れた追加余裕空間内の欠陥ブロックは線形置換に使用せ
ず、この欠陥ブロックに対する欠陥管理領域内の２次欠
陥リスト項目は変えないことを特徴とする余裕空間割当
方法。 - 【請求項２】 前記最小余裕空間の大きさは初期欠陥リ
スト（ＰＤＬ）の項目を全て処理しうる余裕空間と１セ
クタ分の２次欠陥リスト（ＳＤＬ）項目を処理するのに
必要な余裕空間により決定されることを特徴とする請求
項１に記載の余裕空間割当方法。 - 【請求項３】 前記記録及び／または再生装置の欠陥管
理のための記憶装置として６４Ｋバイトバッファを使用
し、前記最大余裕空間の大きさは下記式により得られる
ことを特徴とする請求項１に記載の余裕空間割当方法。 最大余裕空間 ＝ ［ＥPDL／５１２］×ＩＮＣ＋ＳMAX ここで、［ＥPDL／５１２］はＥPDL／５１２を越えない
最大の整数で、ＥPDLはＰＤＬの項目の数で、ＩＮＣは
増分値で、ＳMAXは初期欠陥数（ＰＤＬ項目の数）が５
１２個より小さな場合、最大量の欠陥を処理するのに必
要な余裕空間を計算の簡略化のために２の倍数に近似さ
せた整数であり、その単位はエラー訂正コード（ＥＣ
Ｃ）ブロックである。 - 【請求項４】 前記記録及び／または再生装置の欠陥管
理のための記憶装置として３２Ｋバイトバッファを使用
し、前記最大余裕空間の大きさは下記式により得られる
ことを特徴とする請求項１に記載の余裕空間割当方法。 最大余裕空間 ＝ ＳMAX−［ＥPDL／５１２］×（ＳSDL
−ＩＮＣ）ブロック ここで、［ＥPDL／５１２］はＥPDL／５１２を越えない
最大の整数で、ＥPDLはＰＤＬの項目の数で、ＩＮＣは
増分値で、ＳMAXは初期欠陥数（ＰＤＬ項目の数）が５
１２個より小さな場合、最大量の欠陥を処理するのに必
要な余裕空間を計算の簡略化のために２の倍数に近似さ
せた整数で、その単位はＥＣＣブロックであり、ＳSDL
は１セクタ分のＳＤＬ項目を処理するのに必要な余裕空
間を示す。 - 【請求項５】 前記記録及び／または再生装置の欠陥管
理のための記憶装置として６０Ｋバイトバッファを使用
し、ＰＤＬ及びＳＤＬに記録しうる最大限の欠陥項目数
を全て処理することを特徴とする請求項１に記載の余裕
空間割当方法。 - 【請求項６】 前記最大と最小余裕空間との間で初期余
裕空間を決定することを特徴とする請求項１に記載の余
裕空間割当方法。 - 【請求項７】 前記初期余裕空間のための残量状態情報
をディスク欠陥領域またはディスク定義構造領域のうち
何れか一方に貯蔵することを特徴とする請求項１に記載
の余裕空間割当方法。 - 【請求項８】 前記初期余裕空間のための残量状態情報
は、２ビットフラグを用いて初期余裕空間が十分に残っ
ていることを、初期余裕空間を一定量以上使用し、追加
余裕空間が割当てられなかったことを、初期余裕空間を
一定量以上使用し、追加余裕空間が割当てられたこと
を、初期余裕空間を完全に使用したことを、各々示すこ
とを特徴とする請求項１に記載の余裕空間割当方法。 - 【請求項９】 （ｆ）前記追加余裕空間の大きさ情報を
更新する段階をさらに含む請求項１に記載の余裕空間割
当方法。 - 【請求項１０】 前記（ｆ）段階は、 （ｆ１） 前記追加余裕空間の使用程度を示す残量状態
情報を更新する段階をさらに含むことを特徴とする請求
項９に記載の余裕空間割当方法。 - 【請求項１１】 欠陥の管理のために余裕空間を割当て
るディスク記録及び／または再生装置のための余裕空間
割当方法において、 （ａ）最小余裕空間の大きさを決定する段階と、 （ｂ）前記記録及び／または再生装置の欠陥管理のため
の記憶装置の大きさに応じて最大に割当てるべき余裕空
間の大きさを決定する段階と、 （ｃ）前記最小及び最大余裕空間を用いてスリップ置換
と線形置換のための初期余裕空間を割当てる段階と、 （ｄ）さらに割当てられる追加余裕空間の最大の大きさ
を計算する段階と、 （ｅ）計算された追加余裕空間の大きさ情報を貯蔵する
段階と、 （ｆ）前記追加余裕空間の使用程度を示す残量状態情報
を貯蔵する段階と、 （ｇ）前記追加余裕空間のための残量状態情報が追加余
裕空間がほぼ満ちたことを示すと追加余裕空間を所定の
大きさに論理的ファイル空間の後部から増加しながら割
当てる段階と、を含み、 前記（ｇ）段階では既に線形置換された空間を前記追加
余裕空間にさらに割当てる場合には既に線形置換された
追加余裕空間内の欠陥ブロックは線形置換に使用せず、
この欠陥ブロックに対する欠陥管理領域内の２次欠陥リ
スト項目は変えないことを特徴とすることを特徴とする
余裕空間割当方法。 - 【請求項１２】 前記追加余裕空間の最大の大きさは余
裕空間の最大の大きさから初期余裕空間を引いた値で決
定されることを特徴とする請求項１１に記載の余裕空間
割当方法。 - 【請求項１３】 前記追加余裕空間の大きさ情報を欠陥
管理領域またはディスク定義構造領域のうち一方に貯蔵
することを特徴とする請求項１１に記載の余裕空間割当
方法。 - 【請求項１４】 前記追加余裕空間のための残量状態情
報を欠陥管理領域またはディスク定義構造領域のうち何
れか一方に貯蔵することを特徴とする請求項１１に記載
の余裕空間割当方法。 - 【請求項１５】 前記追加余裕空間のための残量状態情
報は、２ビットフラグを用いて追加余裕空間が十分に残
っていることを、追加余裕空間を一定量以上使用したこ
とを、追加余裕空間を完全に使用したことを、各々示す
ことを特徴とする請求項１１に記載の余裕空間割当方
法。 - 【請求項１６】 （ｈ）前記追加余裕空間の大きさ情報
を更新する段階をさらに含む請求項１１に記載の余裕空
間割当方法。 - 【請求項１７】 前記（ｈ）段階は、 （ｈ１）前記追加余裕空間の使用程度を示す残量状態情
報も更新する段階をさらに含むことを特徴とする請求項
１６に記載の余裕空間割当方法。 - 【請求項１８】 初期化時発生された初期欠陥をスリッ
プ置換を用いて置換えるために割当てられる初期余裕空
間と初期化後に発生された２次欠陥を線形置換を用いて
置換えるためにさらに割当てられる追加余裕空間を有す
るディスクの記録及び／または再生装置のための欠陥管
理方法において、 前記追加余裕空間を既に線形置換された空間を用いて割
当て、既に線形置換された追加余裕空間内の欠陥ブロッ
クは線形置換に使用せず、この欠陥ブロックに対する欠
陥管理領域内の２次欠陥リスト項目は変えないことを特
徴とする欠陥管理方法。 - 【請求項１９】 前記追加余裕空間は所定の大きさに論
理的ファイル空間の後部から増加しながら割当てられ、
初期余裕空間または既に割当てられた追加余裕空間によ
り線形置換されていることを特徴とする請求項１８に記
載の欠陥管理方法。 - 【請求項２０】 ディスクの初期化中に割当てられた初
期余裕空間と、ディスクの使用中に割当てられた追加余
裕空間と、前記初期余裕空間のための残量状態情報と、
前記追加余裕空間のための残量状態情報とを有するディ
スクの欠陥管理方法であって、 追加余裕空間が完全に使用される前に、前記初期余裕空
間のための残量状態情報が、初期余裕空間の一定量が使
用されていることを示す場合には、追加余裕空間を割当
てる段階と、 前記追加余裕空間の割当て後及び使用後に残っている前
記追加余裕空間の未使用部分の量を決定する段階と、 追加余裕空間の十分な量が使用されずに残っているか、
追加余裕空間の一定量以上が使用されたか、追加余裕空
間が完全に使用されたかを選択的に示すように、前記追
加余裕空間のための残量状態情報を設定する段階と、を
備えることを特徴とする欠陥管理方法。 - 【請求項２１】 前記追加余裕空間の一定量が割当てら
れることを特徴とする請求項２０に記載の欠陥管理方
法。 - 【請求項２２】 前記追加余裕空間が、論理的ファイル
空間の後方部から始まって前方に割当てられることを特
徴とする請求項２０に記載の欠陥管理方法。 - 【請求項２３】 前記追加余裕空間のための残量状態情
報が、十分な量の追加余裕空間が使用されずに残ってい
ることを示さない場合に、追加余裕空間がさらに割当て
られることを特徴とする請求項２０に記載の欠陥管理方
法。 - 【請求項２４】 前記初期余裕空間のための残量状態情
報が、前記初期余裕空間の十分な量が欠陥を管理するた
めに使用されずに残されたか、前記初期余裕空間の少な
くとも一定量が使用されかつ追加余裕空間が割当てられ
ていないか、前記初期余裕空間の少なくとも一定量が使
用されかつ追加余裕空間が割当てられたか、前記初期余
裕空間が完全に使用されたか、を選択的に示すことを特
徴とする請求項２０に記載の欠陥管理方法。 - 【請求項２５】 前記追加余裕空間のための残量状態情
報が、２ビットフラグにより示されることを特徴とする
請求項２０に記載の欠陥管理方法。 - 【請求項２６】 前記初期余裕空間のための残量状態情
報が、２ビットフラグにより示されることを特徴とする
請求項２４に記載の欠陥管理方法。 - 【請求項２７】 前記追加余裕空間を割当てる前に、論
理的ファイル空間の最後に追加余裕空間のための十分に
連続した空間が存在するか否かを決定する段階と、 十分に連続した余裕空間が存在しないと決定した場合
に、論理的ファイル空間の最後に、新たに連続した余裕
空間を作るようにディスクの空間を再整理する段階と、 新たに連続した空間が前記追加余裕空間のための十分な
量の空間を有している場合に、前記新たに連続した空間
に前記追加余裕空間を割当てる段階と、をさらに備える
ことを特徴とする請求項２０に記載の欠陥管理方法。 - 【請求項２８】 新たに連続した空間が、前記追加余裕
空間のための十分な量の空間を有していない場合に、追
加余裕空間を割当てることができないことを使用者に知
らせる段階をさらに備えることを特徴とする請求項２７
に記載の欠陥管理方法。 - 【請求項２９】 初期化中に、ディスクの欠陥管理空間
又はディスク定義構造領域に追加余裕空間の最大の大き
さを貯蔵する段階をさらに備えることを特徴とする請求
項２０に記載の欠陥管理方法。
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| CN101046991A (zh) * | 2003-07-23 | 2007-10-03 | 日本先锋公司 | 一次写入型记录介质,记录和重放装置及方法,计算机程序 |
| CN100590727C (zh) * | 2003-08-12 | 2010-02-17 | 日本先锋公司 | 信息记录介质、记录装置及方法、重放装置 |
| KR101057998B1 (ko) * | 2003-12-05 | 2011-08-19 | 삼성전자주식회사 | 기록 장치, 기록 방법 및 그 기록 방법을 수행하는프로그램이 기록된 컴퓨터 판독가능한 기록매체 |
| ZA200500433B (en) * | 2004-01-31 | 2006-04-26 | Samsung Electronics Co Ltd | Optical recording medium, recording/reproducing apparatus, and recording/reproducing method |
| KR100584600B1 (ko) * | 2004-01-31 | 2006-05-30 | 삼성전자주식회사 | 광 기록 정보 저장 매체, 결함 관리 장치/방법 및 그방법을 수행하는 프로그램이 기록된 컴퓨터 판독가능한기록매체 |
| JP4262611B2 (ja) * | 2004-02-05 | 2009-05-13 | 株式会社日立製作所 | データ記録方法、及びデータ記録装置 |
| KR100724230B1 (ko) * | 2004-05-11 | 2007-05-31 | 마쯔시다덴기산교 가부시키가이샤 | 정보 기록 장치 |
| KR100619023B1 (ko) * | 2004-05-25 | 2006-08-31 | 삼성전자주식회사 | 광 기록 정보 저장 매체, 기록/재생 방법, 기록/재생 장치 |
| US7940613B2 (en) * | 2004-06-15 | 2011-05-10 | Panasonic Corporation | Drive device |
| JP2006079771A (ja) * | 2004-09-13 | 2006-03-23 | Hitachi Ltd | ディスク装置 |
| KR20060040525A (ko) * | 2004-11-06 | 2006-05-10 | 삼성전자주식회사 | 정보 저장 매체, 기록/재생 장치 및 기록/재생 방법 |
| KR100667780B1 (ko) * | 2004-11-22 | 2007-01-11 | 삼성전자주식회사 | 검정 방법, 기록/재생 장치 및 정보 저장 매체 |
| KR100667784B1 (ko) * | 2004-12-15 | 2007-01-11 | 삼성전자주식회사 | Ｌｏｗ에 의한 ｒｍｗ를 수행하는 기록/재생 장치, 그기록/재생 방법 및 그 정보 저장 매체 |
| KR100674944B1 (ko) * | 2005-01-18 | 2007-01-26 | 삼성전자주식회사 | 데이터 저장 수단에서 데이터 전송 버퍼 영역과 스크래치버퍼 영역의 크기를 동적으로 조절하는 방법 및 그 장치 |
| US7814395B2 (en) * | 2005-12-02 | 2010-10-12 | Opternity Storage, Inc. | Rewrite strategy and methods and systems for error correction in high-density recording |
| JP4671196B2 (ja) * | 2006-10-31 | 2011-04-13 | 株式会社スクウェア・エニックス | ネットワークゲームシステム、ネットワークゲーム用端末装置、ゲーム画面の表示方法、並びにプログラム及び記録媒体 |
| GB0805833D0 (en) * | 2008-03-26 | 2008-04-30 | Symbian Software Ltd | Swap parition |
| US20100074071A1 (en) * | 2008-09-22 | 2010-03-25 | Mediatek Inc. | Method for reading disk management data of an optical disk |
| JP2019139828A (ja) * | 2018-02-15 | 2019-08-22 | 株式会社東芝 | 欠陥登録方法 |
| JP2019164869A (ja) * | 2018-03-20 | 2019-09-26 | 株式会社東芝 | 磁気ディスク装置及びリード処理方法 |
Family Cites Families (47)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0223417A (ja) * | 1988-07-13 | 1990-01-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 情報記録方式と情報記録媒体 |
| US5271018A (en) * | 1990-04-27 | 1993-12-14 | Next, Inc. | Method and apparatus for media defect management and media addressing |
| JPH0428061A (ja) * | 1990-05-24 | 1992-01-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 情報記録媒体と情報記録再生装置 |
| US5319626A (en) * | 1990-08-27 | 1994-06-07 | Mitsubishi Electric Corporation | Method for rewriting defect management areas on optical disk according to ECMA standard |
| JPH0528646A (ja) * | 1991-07-25 | 1993-02-05 | Fujitsu Ltd | 交代セクタ設定方法 |
| JPH0554547A (ja) | 1991-08-28 | 1993-03-05 | Ricoh Co Ltd | 光デイスク及びそのデータ書き込み方法 |
| US5303219A (en) * | 1991-09-09 | 1994-04-12 | International Business Machines Corporation | Reclamation of dust contaminated sectors in optical disk apparatus |
| US5235585A (en) * | 1991-09-11 | 1993-08-10 | International Business Machines | Reassigning defective sectors on a disk |
| US5319627A (en) * | 1991-11-04 | 1994-06-07 | Matsushita Graphic Communication System, Inc. | Method for managing a defect in an optical disk by assigning logical addresses based upon cumulative number of defects in the disk |
| KR0121800B1 (ko) * | 1992-05-08 | 1997-11-22 | 사또오 후미오 | 메모리 카드장치 |
| JPH065002A (ja) | 1992-06-19 | 1994-01-14 | Ricoh Co Ltd | ディスク装置 |
| US5406534A (en) * | 1993-02-03 | 1995-04-11 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Double-sided recordable optical disk suitable for a substituting process and a method for performing defect management |
| JPH06338139A (ja) | 1993-05-31 | 1994-12-06 | Olympus Optical Co Ltd | 追記型情報記録媒体の情報記録における交代処理方法 |
| JP3453843B2 (ja) * | 1993-06-08 | 2003-10-06 | ソニー株式会社 | ディスク装置 |
| US5418767A (en) * | 1993-10-28 | 1995-05-23 | International Business Machines Corporation | Detection of overusage of spare sectors in an optical disk |
| JPH07182792A (ja) | 1993-12-22 | 1995-07-21 | Ricoh Co Ltd | 情報セクタの欠陥処理方法 |
| WO1996027882A1 (en) * | 1995-03-03 | 1996-09-12 | Cirrus Logic, Inc. | Defect management for automatic track processing without id field |
| US5548572A (en) * | 1995-03-31 | 1996-08-20 | International Business Machines Corporation | Spare and calibration sector management for optical WORM media |
| MY112041A (en) * | 1995-04-21 | 2001-03-31 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | A method for managing defects in an information recording medium, and a device and information recording medium using said method |
| JPH0935423A (ja) | 1995-07-17 | 1997-02-07 | Sony Corp | ディスク状記録媒体の再生方法及びその装置 |
| JP3102340B2 (ja) | 1996-02-23 | 2000-10-23 | 三菱電機株式会社 | 光ディスクの欠陥処理方法、及び光ディスク装置 |
| JP3562110B2 (ja) * | 1996-03-13 | 2004-09-08 | 三菱電機株式会社 | 光ディスク媒体および光ディスク装置 |
| WO1997035309A1 (fr) | 1996-03-18 | 1997-09-25 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Procede pour remplacer un enregistrement defectueux sur un support d'enregistrement en forme de disque, et dispositif d'enregistrement et de reproduction comportant un support d'enregistrement en forme de disque |
| JPH09259537A (ja) * | 1996-03-25 | 1997-10-03 | Toshiba Corp | 交替領域を持つ情報記録ディスク |
| JP2848809B2 (ja) * | 1996-03-25 | 1999-01-20 | 株式会社東芝 | 交替処理方法 |
| JP3029399B2 (ja) * | 1996-03-25 | 2000-04-04 | 株式会社東芝 | 交替処理方法 |
| JP3029400B2 (ja) * | 1996-03-25 | 2000-04-04 | 株式会社東芝 | 交替処理方法 |
| JPH10125008A (ja) | 1996-10-16 | 1998-05-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 同期クロック生成装置 |
| JPH09190679A (ja) * | 1996-12-02 | 1997-07-22 | Toshiba Corp | 情報記録媒体 |
| US5855745A (en) | 1997-04-23 | 1999-01-05 | Sierra Applied Sciences, Inc. | Plasma processing system utilizing combined anode/ ion source |
| JP3338351B2 (ja) * | 1997-10-24 | 2002-10-28 | 三洋電機株式会社 | 記録再生方法、記録再生装置 |
| JPH11134809A (ja) * | 1997-10-24 | 1999-05-21 | Sanyo Electric Co Ltd | 記録再生方法、記録再生装置及び情報記録装置 |
| JP3707222B2 (ja) * | 1997-12-18 | 2005-10-19 | 三菱電機株式会社 | 光ディスク、光ディスク処理装置および光ディスク処理方法 |
| KR100274400B1 (ko) * | 1998-05-09 | 2000-12-15 | 구자홍 | 차등구획된 여유영역을 갖는 광기록매체의 제조방법,기록/재생방법 및 그 장치 |
| KR100442236B1 (ko) * | 1998-09-07 | 2004-10-14 | 엘지전자 주식회사 | 광기록매체및그의사용가능한대체블럭서치방법 |
| WO2000016329A1 (fr) * | 1998-09-14 | 2000-03-23 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Support, dispositif et procede d'enregistrement d'informations, dispositif et procede de reproduction d'informations |
| US6697307B1 (en) * | 1998-10-10 | 2004-02-24 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Apparatus for assigning spare areas for defect management and apparatus for handling fragmented ECC blocks |
| KR100677066B1 (ko) * | 1998-10-10 | 2007-02-01 | 삼성전자주식회사 | 결함 관리를 위한 여유 공간을 갖는 디스크와 여유 공간 할당 방법 |
| MY128496A (en) * | 1998-10-22 | 2007-02-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Information recording medium, and method and apparatus for managing defect thereof |
| US6466532B1 (en) | 1998-11-10 | 2002-10-15 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Recording medium having spare area for defect management and information on defect management, and method and apparatus of allocating spare area and managing defects |
| US6408408B1 (en) * | 1998-11-10 | 2002-06-18 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Recording medium having spare area for defect management and information on defect management, and method of allocating spare area and method of managing defects |
| KR100667729B1 (ko) * | 1998-11-10 | 2007-01-11 | 삼성전자주식회사 | 결함 관리를 위한 여유 공간과 그 관리 정보를 갖는 디스크, 여유 공간 할당 방법과 결함 관리 방법 |
| US6160778A (en) * | 1999-03-08 | 2000-12-12 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Information recording medium, information recording method, information recording apparatus and information reproducing apparatus |
| US6189188B1 (en) | 1999-03-15 | 2001-02-20 | O'hare Christopher F. | Memorialization of human cremain in artificial reef |
| CH694730A5 (de) * | 2000-02-09 | 2005-06-30 | Sumitomo Chemical Co | Verfahren zum Herstellen optisch aktiver Hemiester. |
| US7487387B2 (en) * | 2002-09-19 | 2009-02-03 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Recording medium defect management |
| KR100979938B1 (ko) * | 2003-07-21 | 2010-09-03 | 주식회사 히타치엘지 데이터 스토리지 코리아 | 기록 가능한 광디스크의 디펙트 영역 관리방법 |
-
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