JP2002014600A - 相関関数測定方法及び装置 - Google Patents
相関関数測定方法及び装置Info
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Abstract
る相関関数測定方法及び装置を提供する。 【解決手段】 第1の観測信号を処理して第1のスペク
トルを求める第1の信号処理手段18a〜22aと、第
2の観測信号を処理して第2のスペクトルを求める第2
の信号処理手段18b〜22bと、第1の信号処理手段
及び第2の信号処理手段に校正信号を入力し、第1の信
号処理手段により求められたスペクトルと、第2の信号
処理手段により求められたスペクトルとから、各周波数
に応じた校正値を求める校正値演算手段26と、校正値
演算手段により求められた校正値を用いつつ、第1のス
ペクトルと第2のスペクトルとの相関関数を求める相関
関数演算手段30とを有している。
Description
及び装置に係り、特に、複数の入力信号の相関ベクトル
を測定する相関関数測定方法及び装置に関する。
源像を可視化する技術が実用化され、例えば、携帯電話
の基地局からの電波を観測するために用いられている。
電波ホログラムを解析することにより、基地局からの電
波を視覚的に観測することができ、新たに基地局を設置
すべきか否かを判断する有効な材料を得ることができ
る。
化方法及び装置については、本願出願人が、例えば特願
平7−289848号明細書で提案している。
び装置を図8を用いて説明する。図8は、提案されてい
る波源像可視化装置を示すブロック図である。
ず)により受信された観測信号aは、前変換部218
a、データメモリ220a、フーリエ変換部222aに
より所定の信号処理が為されて、相関ベクトル演算部2
30に入力されるようになっており、走査アンテナ(図
示せず)により受信された観測信号bは、前変換部21
8b、データメモリ220b、フーリエ変換部222b
により所定の信号処理が為されて、相関ベクトル演算部
230に入力されるようになっている。前置換部218
a、218bは、観測信号a、bを中心周波数f0、帯
域幅bwで帯域制限し、IF信号に変換して出力するも
のであり、データメモリ220a、220bは、IF信
号をA/D変換して記憶するものであり、フーリエ変換
部222a、222bは、フーリエ変換を行ってスペク
トルSA(f)、SB(f)を出力するものである。
以下の式
なお、*は、複素共役を示している。
部218a、218bにおいて帯域制限や周波数変換等
の測定条件を変更すると、前変換部218a、218b
の周波数特性が変化する。しかも、この周波数特性の変
化は、前変換部218aと前置換部218bとの相互間
でもばらつく。
て、その校正データで相関ベクトルを校正することが必
要である。そこで、図8に示す波源像可視化装置では、
以下のようにして校正データρ(c)を求める。
は、スイッチ216a、216b、224を校正側cに
設定し、信号発生器212から校正信号を出力して、相
関ベクトル演算部230で相関ベクトルを求める。そし
て、求められた相関ベクトルの値を、校正データρ
(c)として、校正データメモリ228に記憶する。
216a、216b、224を測定側mに設定し、相関
ベクトル演算部230で相関ベクトルを求める。求めら
れた相関ベクトルは、校正部229において校正データ
ρ(c)を用いて校正され、波源像再生処理部(図示せ
ず)に出力される。
い、処理された画像は、表示部(図示せず)のディスプ
レイに表示される。
れている波源像可視化装置では、校正信号を入力した際
の帯域周波数平均の相関ベクトルを校正データρ(c)
として用いていた。このため、前変換部218a、21
8bの特性が周波数によって変化する場合には、周波数
によって校正精度がばらついてしまっていた。
は、測定条件の変更、周囲温度の変化、経時変化等によ
りばらつくものである。提案されている波源像可視化装
置では、これらの要因により校正精度が低下してしまっ
ていた。
校正することができる相関関数測定方法及び装置を提供
することにある。
信号を第1の信号処理手段により処理して第1のスペク
トルを求め、第2の観測信号を第2の信号処理手段によ
り処理して第2のスペクトルを求め、前記第1のスペク
トルと前記第2のスペクトルとの相関関数を測定する相
関関数測定方法であって、相関関数の測定に先立って、
前記第1の信号処理手段及び前記第2の信号処理手段に
校正信号を入力し、前記第1の信号処理手段により求め
られたスペクトルと、前記第2の信号処理手段により求
められたスペクトルとから、前記校正信号の周波数に応
じた校正値を求め、相関関数の測定の際には、周波数に
応じた前記校正値を用いつつ、前記第1のスペクトルと
前記第2のスペクトルとの相関関数を求めることを特徴
とする相関関数測定方法により達成される。これによ
り、相関関数の測定に先立って、各周波数毎に校正デー
タを取得しておき、周波数に応じた校正データを用いて
相関関数を求めるので、相関関数を高い精度で求めるこ
とができる。従って、高精度に相関関数を測定すること
ができる相関関数測定方法を提供することができる。
前記校正値を求める際には、前記校正信号の周波数を掃
引することにより、各周波数に応じた前記校正値を求め
ることが望ましい。
前記校正値から回帰式を求め、前記校正値を更新する際
には、少なくとも前記回帰式を決定するのに必要な校正
値を再度求めることにより前記回帰式を更新し、更新さ
れた前記回帰式に基づいて前記校正値を更新することが
望ましい。
前記校正値を求める際には、前記第1の信号処理手段及
び前記第2の信号処理手段に変調波を入力することによ
り、各周波数に応じた校正値を求めることが望ましい。
前記校正値を求める際には、前記第1の信号処理手段及
び前記第2の信号処理手段に、第1の校正信号を周波数
を掃引しつつ入力し、前記第1の信号処理手段により求
められたスペクトルと、前記第2の信号処理手段により
求められたスペクトルとから、各周波数に応じた振幅校
正データを求め、前記第1の信号処理手段及び前記第2
の信号処理手段に第2の校正信号を入力し、前記第1の
信号処理手段により求められたスペクトルと、前記第2
の信号処理手段により求められたスペクトルとから、各
周波数に応じた位相校正データを求め、前記振幅校正デ
ータと前記位相校正データとから各周波数に応じた前記
校正値を求めることが望ましい。これにより、頻繁に取
得する必要のない振幅校正データを第1の校正信号を用
いて取得し、頻繁に取得する必要のある位相校正データ
を第2の校正信号を用いて取得し、これらのデータを用
いて各周波数に応じた校正値を求めるので、校正精度を
劣化することなく、迅速に校正を行うことができる。
前記第2の校正信号は、変調波より成ることが望まし
い。
前記振幅校正データを求める際には、前記第1の校正信
号の周波数を所定のステップで掃引し、補間を行うこと
により前記振幅校正データを求めることが望ましい。
前記位相校正データを、前記振幅校正データより高い頻
度で更新することが望ましい。
前記振幅校正データを更新した際の前記位相校正データ
に対して、更新された前記位相校正データが所定値以上
変化している場合に、前記振幅校正データを更新するこ
とが望ましい。
して第1のスペクトルを求める第1の信号処理手段と、
第2の観測信号を処理して第2のスペクトルを求める第
2の信号処理手段と、前記第1の信号処理手段及び前記
第2の信号処理手段に校正信号を入力し、前記第1の信
号処理手段により求められたスペクトルと、前記第2の
信号処理手段により求められたスペクトルとから、各周
波数に応じた校正値を求める校正値演算手段と、前記校
正値演算手段により求められた前記校正値を用いつつ、
前記第1のスペクトルと前記第2のスペクトルとの相関
関数を求める相関関数演算手段とを有することを特徴と
する相関関数測定装置により達成される。これにより、
相関関数の測定に先立って、各周波数毎に校正データを
取得しておき、周波数に応じた校正データを用いて相関
関数を求めるので、相関関数を高い精度で求めることが
できる。従って、高精度に相関関数を測定することがで
きる相関関数測定装置を提供することができる。
前記校正値演算手段は、前記校正信号の周波数を掃引す
ることにより、各周波数に応じた前記校正値を求めるこ
とが望ましい。
前記校正値演算手段は、前記校正値から回帰式を求め、
少なくとも前記回帰式を決定するのに必要な校正値を再
度求めることにより前記回帰式を更新し、更新された前
記回帰式に基づいて前記校正値を更新することが望まし
い。
前記校正値演算手段は、前記第1の信号処理手段及び前
記第2の信号処理手段に変調波を入力することにより、
各周波数に応じた前記校正値を求めることが望ましい。
前記校正値演算手段は、前記第1の信号処理手段及び前
記第2の信号処理手段に、第1の校正信号を周波数を掃
引しつつ入力し、前記第1の信号処理手段により求めら
れたスペクトルと、前記第2の信号処理手段により求め
られたスペクトルとから、各周波数に応じた振幅校正デ
ータを求め、前記第1の信号処理手段及び前記第2の信
号処理手段に第2の校正信号を入力し、前記第1の信号
処理手段により求められたスペクトルと、前記第2の信
号処理手段により求められたスペクトルとから、各周波
数に応じた位相校正データを求め、前記振幅校正データ
と前記位相校正データとから各周波数に応じた前記校正
値を求めることが望ましい。これにより、頻繁に取得す
る必要のない振幅校正データを第1の校正信号を用いて
取得し、頻繁に取得する必要のある位相校正データを第
2の校正信号を用いて取得し、これらのデータを用いて
各周波数に応じた校正値を求めるので、校正精度を劣化
することなく、迅速に校正を行うことができる。
前記第2の校正信号は、変調波より成ることが望まし
い。
校正値演算手段は、前記第1の校正信号の周波数を所定
のステップで掃引し、補間を行うことにより前記振幅校
正データを求めることが望ましい。
前記校正値演算手段は、前記位相校正データを、前記振
幅校正データより高い頻度で更新することが望ましい。
前記校正値演算手段は、前記振幅校正データを更新した
際の前記位相校正データに対して、更新された前記位相
校正データが所定値以上変化している場合に、前記振幅
校正データを更新することが望ましい。
施形態による相関関数測定方法及び装置を図1を用いて
説明する。図1は、本実施形態による相関関数測定装置
を示すブロック図である。
に固定アンテナ及び走査アンテナから入力される観測信
号の相関関数を測定する場合を例に説明するが、本発明
の原理は、電波監視を行う場合のみならず、複数の観測
信号の相関関数を測定する際に広く適用することが可能
である。
本実施形態による相関関数測定装置は、校正信号の周波
数を制御する校正周波数制御部10と、一定の振幅で校
正信号を発生する信号発生器12と、校正信号を分配す
るパワースプリッタ14と、校正時と測定時とで回路を
切り換えるスイッチ16a、16bと、所定の周波数成
分のみを帯域制限し、中間周波数IF(Intermediate-F
requency)に変換して出力する前変換部18a、18b
と、前変換部18a、18bから出力されるIF信号を
サンプリングして記憶するデータメモリ20a、20b
と、データメモリ20a、20bに記憶されたデータを
フーリエ変換してスペクトルSA(f)、SB(f)を求
めるフーリエ変換部22a、22bと、校正時と測定時
とで回路を切り換えるスイッチ24a、24bと、各校
正周波数に応じたスペクトルから校正データY(fC)
を求める校正データ演算部26と、各校正周波数毎の校
正データを記憶する校正データメモリ28と、校正デー
タを参照しつつ観測信号のスペクトルの相関ベクトルを
求める相関ベクトル演算部30とを有している。
ッタ14に接続されており、スイッチ16aの測定側m
は固定アンテナに接続されている。また、スイッチ16
bの校正側cはパワースプリッタ14に接続されてお
り、スイッチ16bの測定側mは走査アンテナに接続さ
れている。また、スイッチ24a、24bの校正側cは
校正データ演算部26に接続されており、スイッチ24
a、24bの測定側mは相関ベクトル演算部30に接続
されている。このため、スイッチ16a、16b、24
a、24bを校正側cに設定すると、校正データを取得
する回路が構成され、スイッチ16a、16b、24
a、24bを測定側mに設定すると、相関関数を測定す
る回路が構成される。
関関数の測定に先立って、各周波数毎の校正データを取
得しておき、相関関数の測定を行う際に、各周波数毎に
校正データを参照しつつ相関ベクトルを求めることに主
な特徴がある。
置では、一定の周波数帯域に対して、帯域内周波数平均
の校正データρ(c)を1つだけ求め、この校正データ
ρ(c)を用いて校正を行っていたため、当該周波数帯
域において不均一なスペクトル分布が存在する場合に
は、正確な相関ベクトルを求めることができなかった。
測定に先立って、各周波数毎に予め校正データを求めて
おき、各周波数毎の校正データを参照しつつ相関ベクト
ルを求めるので、高精度に相関ベクトルを求めることが
できる。
関関数の測定を行うことができる相関関数測定装置を提
供することができる。
の各構成部分について個々に詳述する。
る校正信号の周波数を、所定のステップで掃引するよう
に制御するものである。
において、fS/Mのステップで校正周波数fCを掃引す
る。ここで、f0は中心周波数であり、bwは帯域幅で
あり、fSは発振器21からデータメモリ20a、20
bに供給されるサンプリング周波数であり、Mは任意の
整数である。
らず、校正データ演算部26にも入力されるようになっ
ている。
る校正周波数fCに応じて、校正信号を発生するもので
ある。
なく、一定の振幅の校正信号を発生する。
る校正信号を2つの経路に分配するものである。
16a、16bの校正側cに接続されている。
号を切り換えるものである。スイッチ16a、16bに
入力される信号は高周波であるため、高周波用のスイッ
チが用いられる。
プリッタ14が接続されており、スイッチ16aの測定
側mには、例えば固定アンテナ(図示せず)が接続され
るようになっている。
信号発生器12からの校正信号がスイッチ16aを介し
て前変換部18aに入力されるようになり、スイッチ1
6aを測定側mに設定すると、固定アンテナからの観測
信号aがスイッチ16aを介して前変換部18aに入力
されるようになる。
ワースプリッタ14が接続されており、スイッチ16b
の測定側mには、例えば走査アンテナ(図示せず)が接
続されるようになっている。スイッチ16bを校正側c
に設定すると、信号発生器12からの校正信号がスイッ
チ16bを介して前変換部18bに入力されるようにな
り、スイッチ16bを測定側mに設定すると、走査アン
テナからの観測信号bがスイッチ16bを介して前変換
部18bに入力されるようになる。
に設定すると、校正データを取得する回路が構成され、
スイッチ16a、16bを測定側mに設定すると、相関
関数の測定を行う回路が構成される。
部18a、18bが設けられている。
帯域の成分のみを通過させ、中間周波数IFに変換して
出力するものである。
スペクトラムアナライザを用いて構成することができ
る。RFスペクトラムアナライザを用いて前置換部18
a、18bを構成する場合には、ゼロスパンモードに設
定し、基準周波数fREF(図示せず)で位相をロックす
る。
0a、20bが設けられており、データメモリ20a、
20bには、それぞれサンプリング周波数fSが供給さ
れるようになっている。
18a、18bから出力されるIF信号をサンプリング
周波数fSに基づいてサンプリングし、A/D変換した
後、メモリに記憶する。データメモリ20a、20bに
は、M個のデータが記憶される。なお、サンプリング周
波数fSは、bw=fS/2となるように設定されてい
る。
換部22a、22bが設けられている。
メモリ20a、20bから出力されるデータをフーリエ
変換して、スペクトルSA(f)、SB(f)を出力する
ものである。
24a、24bが設けられている。
a、16bと同様、校正時と測定時とで回路を切り換え
るものである。
演算部26に接続されており、スイッチ24aの測定側
mは、相関ベクトル演算部30に接続されている。ま
た、スイッチ24bの校正側cは、校正データ演算部2
6に接続されており、スイッチ24bの測定側mは、相
関ベクトル演算部30に接続されている。
すると、フーリエ変換部22a、22bから出力される
スペクトルSA(fC)、SB(fC)が校正データ演算部
26に入力されるようになり、スイッチ24a、24b
を測定側mに設定すると、フーリエ変換部22a、22
bから出力されるスペクトルSA(f)、SB(f)が相
関ベクトル演算部30に入力されるようになる。
算するものである。
御部10から校正周波数fCが入力されるようになって
おり、スイッチ24a、24bの校正側cからスペクト
ルS A(fC)、SB(fC)が入力されるようになってい
る。
校正周波数fC毎に校正データY(fC)を求め、校正デ
ータメモリ28に出力する。なお、*は、複素共役を示
している。
求められた各周波数毎の校正データY(fC)を記憶す
るものである。
て、fS/Mのステップで校正データY(fC)が求めら
れ、これら校正データY(fC)が校正データメモリ2
8に記憶される。
のである。
換部22a、22bから出力されたスペクトルS
A(f)、SB(f)が、スイッチ24a、24bを介し
て入力されるようになっており、相関ベクトル演算部3
0は観測信号の周波数fに応じて校正データメモリ28
から校正データY(fC)を適宜参照し、以下の式に基
づいて相関ベクトルを演算する。
相関ベクトルは、波形像再生制御部(図示せず)等に出
力され、表示部(図示せず)に表示される。
は、本願出願人による特願平7−289848号明細書
に記載された波源像可視化装置等に適用可能である。波
源像可視化装置に適用する場合の構成等については、当
該明細書を参照されたい。
よる相関関数測定方法を図1を用いて説明する。
ータY(fC)を取得する。校正データY(fC)を取得
する際には、各スイッチ16a、16b、24a、24
bをそれぞれ校正側cに設定する。これにより、信号発
生器12から出力された校正信号が前変換部18a、1
8bに入力されるようになり、また、フーリエ変換され
たスペクトルSA(fC)、SB(fC)が校正データ演算
部26に入力されるようになる。
周波数fC毎に校正データY(fC)を求める。具体的に
は、校正周波数制御部10から信号発生器12に供給す
る校正周波数fCを、fS/Mのステップ、f0±bw/
2の周波数帯域で順次掃引していき、各校正周波数fC
毎に校正データY(fC)を求めていく。こうして求め
られた校正データY(fC)は、校正データメモリ28
に順次記憶される。こうして、校正データの取得が完了
する。
16a、16b、24a、24bを測定側mに設定す
る。これにより、固定アンテナから観測信号aが入力さ
れるようになり、走査アンテナから観測信号bが入力さ
れるようになる。また、フーリエ変換部22a、22b
から出力されるスペクトルSA(f)、SB(f)が、相
関ベクトル演算部30に入力されるようになる。
タメモリ28に記憶された校正データY(fC)を、観
測信号の周波数に応じて適宜参照し、相関ベクトルを演
算する。こうして、観測信号a、bの周波数成分に応じ
て各周波数毎に校正が行われ、高い精度で相関ベクトル
が求められる。なお、相関関数測定方法の詳細は、本願
出願人による特願平7−289848号明細書を参照さ
れたい。
した場合、経時変化が生じた場合など、校正データの信
憑性が低くなった場合には、再度上記と同様にして校正
データY(fC)を取得し、校正データを更新する。
照しつつ、相関ベクトルを演算すればよい。
の測定に先立って、各周波数毎に校正データを取得して
おき、周波数に応じた校正データを用いて相関ベクトル
を求めるので、相関ベクトルを高い精度で求めることが
できる。また、校正データの信憑性が低くなった場合に
は、適宜校正データの更新を行うので、相関ベクトルの
校正精度を維持することができる。従って、本実施形態
によれば、高精度に相関関数の測定を行うことができる
相関関数測定方法及び装置を提供することができる。
よる相関関数測定方法及び装置の変形例(その1)を図
2及び図3を用いて説明する。図2は、本変形例による
相関関数測定装置を示すブロック図である。図3は、周
波数変調と位相変調とを示すタイムチャートである。
ることに主な特徴がある。変調波としては、例えば上記
の帯域幅bwより広い周波数帯域で変調されたFM波等
を用いることができる。
ータを取得する際に校正信号の周波数を掃引していたた
め、校正データの取得に長時間を要していたが、本変形
例では、多様な周波数成分を含む変調波を校正信号に用
いるので、短時間で校正データを取得することができ
る。従って、本変形例によれば、校正データの取得をよ
り迅速化することができる。
一でないため、以下のように、理論振幅分布で補正する
必要がある。
により周波数変調されたFM変調波を用いる場合を例に
説明する。図3(a)は周波数変調のタイムチャートで
あり、図3(b)は位相変調のタイムチャートである。
化させる場合には、次のような式が成立する。
中心として、ωSごとに変調波のスペクトルが存在する
ことがわかる。
いて計算するのは困難であるため、ω0=nωS、ωm=
mωS(n≫1、n≫m)として、スペクトル分布を計
算すると、νmodは容易にフーリエ展開することがで
き、1/nを1に対して無視すると、
の場合には、このような理論振幅分布で補正を行えばよ
い。
いて校正データを取得するので、短時間で校正データを
取得することができる。
よる相関関数測定方法及び装置の変形例(その2)を図
4を用いて説明する。図4は、本変形例による相関関数
測定装置を示すブロック図である。
の周波数特性は、周囲温度の変化や経時変化によって変
動する。しかし、変動量の主たるものは、ベクトルのオ
フセットである。従って、周囲温度が変化したり、経時
変化が生じたとしても、必ずしもすべての校正データを
更新する必要はない。そこで、本変形例では、校正デー
タメモリ28に記憶された校正データの一部のみを更新
することにより、データ更新の迅速化を図っている。
リ28には、回帰式メモリ32が接続されており、回帰
式メモリ32には校正データ演算部26により求められ
た校正データが入力されるようになっている。
8に記憶された校正データに基づいて回帰式を作成し、
回帰式を決定するのに必要な校正データのみを取得して
回帰式を更新する。そして、更新された回帰式に基づい
て、校正データメモリ28の校正データを更新する。
定装置では、fS/Mのステップですべての校正データ
を更新するようにしていたため、データ更新に長時間を
要していたが、本変形例では、一部の校正データのみを
更新するため、データ更新の迅速化を図ることができ
る。
図4を用いて説明する。
関数測定方法と同様にして、信号発生器12から校正信
号を発生し、校正データを取得する。具体的には、f0
±bw/2の周波数帯域において、fS/Mのステップ
で校正周波数fCを掃引し、M個の校正データY(fC)
を取得する。取得された校正データY(fC)は、校正
データメモリ28に記憶される。
(fC)を、最小二乗法により、一定の曲線に回帰させ
る。例えば、取得したM個の校正データから、n次の多
項式
は、回帰式メモリ32に記憶される。
関関数測定方法と同様にして、電波の監視を行う。
を決定するのに必要なポイントについてのみ校正データ
を取得し、回帰式メモリ32に記憶された回帰式を更新
する。例えば、変極点をn+1個以上測定することによ
り回帰曲線を決定しうる場合には、当該変極点のデータ
のみを取得し、回帰式を更新する。そして、更新された
回帰式から導き出される校正データを、校正データメモ
リ28に入力することにより、校正データの更新を完了
する。
算し、その標準偏差の値が一定値以上の場合に、M個の
校正データのすべてを更新するようにしてもよい。
トについてのみ校正データを取得すればよいので、より
迅速に校正データを更新することができる。
よる相関関数測定方法及び装置を図5を用いて説明す
る。図5は、本実施形態による相関関数測定装置を示す
ブロック図である。図1乃至図4に示す第1実施形態に
よる相関関数測定方法及び装置と同一の構成要素には、
同一の符号を付して説明を省略または簡潔にする。
1)による相関関数測定方法及び装置では、校正データ
の取得の迅速化を図るべく、校正信号としてFM波等の
変調波を用い、理論振幅分布で補正することにより、校
正データY(fC)を取得している。
W波を用いた場合のように校正周波数を掃引する必要は
なく、短時間で校正データY(fC)を取得することが
できる。
変調波は、単純な関数で変調されているわけではないた
め、理論振幅分布を求めることは非常に困難である。こ
のため、変調波を校正信号として用いた場合には、正確
な理論振幅分布で補正することができず、校正精度の劣
化を招いてしまう。
方法及び装置は、校正精度を劣化することなく、迅速に
校正を行うことに主な特徴がある。
よる相関関数測定装置について説明する。
関数測定装置は、校正信号の周波数を制御する校正信号
制御部110と、校正信号を発生する信号発生器112
と、校正信号を分配するパワースプリッタ114と、校
正時と測定時とで回路を切り換えるスイッチ116a、
116bと、所定の周波数成分のみを帯域制限し、中間
周波数IF(Intermediate-Frequency)に変換して出力
する前変換部118a、118bと、前変換部118
a、118bから出力されるIF信号をサンプリングし
て記憶するデータメモリ120a、120bと、データ
メモリ120a、120bに記憶されたデータをフーリ
エ変換してスペクトルSA(f)、SB(f)を求めるフ
ーリエ変換部122a、122bと、校正時と測定時と
で回路を切り換えるスイッチ124a、124bと、各
校正周波数に応じたスペクトルから校正データY(f)
を求める演算部126と、各校正周波数毎の校正データ
Y(f)を記憶するメモリ128と、振幅校正データM
ag(f)と位相校正データPhase(f)とをそれ
ぞれ求める演算部130と、振幅校正データMag
(f)と位相校正データPhase(f)とを記憶する
メモリ132と、振幅校正データMag(f)と位相校
正データPhase(f)とから校正データY′(f)
を求める演算部134と、校正データY′(f)を記憶
するメモリ136と、校正データY′(f)を参照しつ
つ観測信号のスペクトルの相関ベクトルを求める相関ベ
クトル演算部138とを有している。
リッタ114に接続されており、スイッチ116aの測
定側mは固定アンテナに接続されている。また、スイッ
チ116bの校正側cはパワースプリッタ114に接続
されており、スイッチ116bの測定側mは走査アンテ
ナに接続されている。また、スイッチ124a、124
bの校正側cは演算部126に接続されており、スイッ
チ124a、124bの測定側mは相関ベクトル演算部
138に接続されている。スイッチ116a、116
b、124a、124bを校正側cに設定すると、校正
データを取得する回路が構成され、スイッチ116a、
116b、124a、124bを測定側mに設定する
と、相関関数の測定を行う回路が構成されるようになっ
ている。
調波を用いて位相校正データPhase(f)を取得
し、CW波(Continuous wave、連続波)を用いて振幅
校正データMag(f)を取得し、これらのデータを用
いて所定の演算を行うことにより校正データY′(f)
を求めることに主な特徴がある。
のドリフトは、位相については変動幅が比較的大きい
が、振幅については変動幅が小さいという特徴を有して
いる。このため、位相については頻繁に校正する必要が
あるが、振幅については必ずしも頻繁に校正する必要は
ない。
る場合には、振幅については正確に測定できないもの
の、位相については正確に測定できる。しかも、変調波
は多様な周波数成分を含んでいるため、極めて短時間で
校正データを取得することが可能である。
必要のある位相校正データPhase(f)を変調波を
用いて高速に取得し、振幅校正データMag(f)をC
W波を用いて正確に取得し、これらのデータを用いて演
算することにより校正データY′(f)を求めている。
従って、本実施形態によれば、校正精度を劣化すること
なく、全体として迅速に校正を行うことができる。
正信号を所定のステップで掃引し、補間を行うことによ
り振幅校正データMag(f)を求める。従って、本実
施形態によれば、更に校正の迅速化を図ることができ
る。
の各構成部分について個々に詳述する。
る校正信号の種類や周波数を適宜制御するものである。
には、信号発生器112からCW波が出力されるよう
に、信号発生器112を制御する。そして、信号発生器
112に校正周波数fCを入力し、信号発生器112か
ら出力される校正信号の周波数を掃引する。具体的に
は、f0±bw/2の周波数帯域において、fS/Mのス
テップで校正周波数fCを掃引する。
帯域幅であり、fSは発振器121からデータメモリ1
20a、120bに供給されるサンプリング周波数であ
り、Mは任意の整数である。
2のみならず、演算部126にも入力されるようになっ
ている。
る際には、信号発生器112から変調波が出力されるよ
うに、信号発生器112を制御する。変調波には多様な
周波数成分が含まれているので、短時間で位相校正デー
タPhase(f)を取得することが可能となる。
に応じて、CW波や変調波を適宜出力する。
ら供給される校正周波数fCに応じた周波数の校正信号
を発生する。信号発生器112は、周波数に依存するこ
となく、一定の振幅の校正信号を発生する。
域幅bwより広い周波数帯域で変調されたFM波等を出
力する。
される校正信号を2つの経路に分配するものである。
チ116a、116bの校正側cに接続されている。
力信号を切り換えるものである。スイッチ116a、1
16bに入力される信号は高周波であるため、高周波用
のスイッチが用いられる。
スプリッタ114が接続されており、スイッチ116a
の測定側mには、例えば固定アンテナ(図示せず)が接
続されるようになっている。
と、信号発生器112からの校正信号がスイッチ116
aを介して前変換部118aに入力されるようになり、
スイッチ116aを測定側mに設定すると、固定アンテ
ナからの観測信号aがスイッチ116aを介して前変換
部118aに入力されるようになる。
パワースプリッタ114が接続されており、スイッチ1
16bの測定側mには、例えば走査アンテナ(図示せ
ず)が接続されるようになっている。スイッチ116b
を校正側cに設定すると、信号発生器112からの校正
信号がスイッチ116bを介して前変換部118bに入
力されるようになり、スイッチ116bを測定側mに設
定すると、走査アンテナからの観測信号bがスイッチ1
16bを介して前変換部118bに入力されるようにな
る。
側cに設定すると、校正データを取得する回路が構成さ
れ、スイッチ116a、116bを測定側mに設定する
と、相関関数の測定を行う回路が構成される。
変換部118a、118bが設けられている。
波数帯域の成分のみを通過させ、中間周波数IFに変換
して出力するものである。
RFスペクトラムアナライザを用いて構成することがで
きる。RFスペクトラムアナライザを用いて前変換部1
18a、118bを構成する場合には、ゼロスパンモー
ドに設定し、基準周波数fRE F(図示せず)で位相をロ
ックする。
応答のドリフトが生ずるが、このドリフトは、振幅の変
動幅は小さく、位相の変動幅は比較的大きい。これは、
高周波において熱的外因が回路に影響した場合、位相、
即ち遅延時間に対して影響が大きいためと考えられる。
リ120a、120bが設けられており、データメモリ
120a、120bには、それぞれサンプリング周波数
fSが供給されるようになっている。
換部118a、118bから出力されるIF信号をサン
プリング周波数fSに基づいてサンプリングし、A/D
変換した後、メモリに記憶する。データメモリ120
a、120bには、M個のデータが記憶される。なお、
サンプリング周波数fSは、bw=fS/2となるように
設定されている。
b データメモリ120a、120bの出力側には、フーリ
エ変換部122a、122bが設けられている。
ータメモリ120a、120bから出力されるデータを
フーリエ変換して、スペクトルSA(f)、SB(f)を
出力するものである。
ッチ124a、124bが設けられている。
116a、116bと同様、校正時と測定時とで回路を
切り換えるものである。
26に接続されており、スイッチ124aの測定側m
は、相関ベクトル演算部138に接続されている。ま
た、スイッチ124bの校正側cは、演算部126に接
続されており、スイッチ124bの測定側mは、相関ベ
クトル演算部138に接続されている。
設定すると、フーリエ変換部122a、122bから出
力されるスペクトルSA(fC)、SB(fC)が演算部1
26に入力されるようになり、スイッチ124a、12
4bを測定側mに設定すると、フーリエ変換部122
a、122bから出力されるスペクトルSA(f)、SB
(f)が相関ベクトル演算部138に入力されるように
なる。
演算するものである。
から校正周波数fCが入力されるようになっており、ス
イッチ124a、124bの校正側cからスペクトルS
A(fC)、SB(fC)が入力されるようになっている。
数fC毎に校正データY(fC)を求め、校正データメモ
リ128に出力する。なお、*は、複素共役を示してい
る。
いる。
られた各周波数毎の校正データY(f)を記憶するもの
である。
w/2の周波数帯域において、fS/Mのステップで校
正データY(f)が求められ、これら校正データY
(f)がメモリ128に記憶される。
毎の校正データY(f)が記憶される。
いる。
(f)及び位相校正データPhase(f)を演算する
ものである。
は、CW波より成る校正信号をfS/Mのステップで掃
引しつつ、以下の式により、データS(f)を求める。
なお、必ずしもfS/Mのステップで校正信号を掃引す
る必要はなく、fS/Mより小さいステップで校正信号
を掃引するようにしてもよい。
い、これにより振幅校正データMag(f)を求める。
なお、補間の際には、例えばスプライン補間を用いるこ
とができる。
g(f)を求めるので、CW波を用いているにもかかわ
らず、振幅校正データMag(f)を迅速に求めること
ができる。
際には、以下の式により、位相校正データPhase
(f)を求める。
いる。
られた振幅校正用データMag(f)と位相校正用デー
タPhase(f)とを、それぞれ記憶しておくもので
ある。
いる。
(f)と位相校正用データPhase(f)を用いて、
校正データY′(f)を演算するものである。
求められる。
いる。
た校正データY′(f)を記憶しておくものである。
ものである。
変換部122a、122bから出力されたスペクトルS
A(f)、SB(f)が、スイッチ124a、124bを
介して入力されるようになっている。
周波数に応じて校正データメモリ136から校正データ
Y′(f)を適宜参照し、以下の式に基づいて相関ベク
トルを演算する。
た相関ベクトルは、波形像再生制御部(図示せず)等に
出力され、表示部(図示せず)に表示される。
は、本願出願人による特願平7−289848号明細書
に記載された波源像可視化装置等に適用可能である。波
源像可視化装置に適用する場合の構成等については、当
該明細書を参照されたい。
される振幅校正データMag(f)の精度について図6
を用いて説明する。
データと振幅校正データとを示すグラフであり、いずれ
も7.5MHz〜12.5MHzの範囲で測定したもの
である。
を用いて取得した位相校正データを示しており、実施例
2は、スプライン補間を用いて取得した振幅校正データ
を示している。測定点は9点であり、測定の所要時間は
約5秒であった。なお、図中の丸は測定点を示してい
る。
なく取得した位相校正データを示しており、比較例2
は、補間を行うことなく取得した振幅校正データを示し
ている。測定点は129点であり、測定の所要時間は約
1分であった。
うに、両者の振幅の差は約0.1dB以下に抑えられて
いる。このことから分かるように、スプライン補間を用
いる場合であっても、振幅校正データMag(f)を高
精度に求めることが可能である。
ータPhase(f)の精度について図7を用いて説明
する。
相校正データと振幅校正データとを示すグラフである。
図7(a)の実施例3は、変調波を用いて取得された位
相校正データを示しており、実施例4は、変調波を用い
て取得された振幅校正データを示している。
取得する際に用いた変調波のスペクトル示すグラフであ
り、中心周波数2GHz、スパン50MHzで表したも
のである。なお、図7(b)に示す変調波の2GHz±
2.5MHzを校正信号として用いて、図7(a)に示
すデータが得られている。
に示す比較例1と比較して分かるように、両者の位相差
は約0.2度以下に抑えられている。このことから分か
るように、変調波を用いた場合であっても、位相校正デ
ータPhase(f)を高精度に求めることが可能であ
る。
よる相関関数測定方法を図5を用いて説明する。
ータY′(f)を取得する。校正データY′(f)を取
得する際には、各スイッチ116a、116b、124
a、124bをそれぞれ校正側cに設定する。これによ
り、信号発生器112から出力された校正信号が前変換
部118a、118bに入力されるようになり、また、
フーリエ変換されたスペクトルSA(fC)、SB(fC)
が演算部126に入力されるようになる。
すべく、CW波を出力するように信号発生器112を制
御する。
正周波数fC毎に校正データY(fC)を求める。具体的
には、校正信号制御部110から信号発生器112に供
給する校正周波数fCを、fS/Mのステップ、f0±b
w/2の周波数帯域で順次掃引していき、演算部126
において、各校正周波数fC毎に校正データY(fC)を
求めていく。こうして求められた校正データY(fC)
は、メモリ128に順次記憶される。
うな演算を行ない、これにより、振幅校正データMag
(f)を求める。こうして求められた振幅校正データM
ag(f)は、メモリ132に記憶される。例えば、帯
域幅bwが10MHz、測定点が9点の場合には、振幅
校正データMag(f)は、約6秒で取得することが可
能である。
取得すべく、変調波を出力するように信号発生器112
を制御する。
波数fC毎の校正データY(fC)を求める。例えば、帯
域幅bwが10MHzの場合には、位相校正データPh
ase(f)は、約0.5秒で取得することが可能であ
る。
うな演算を行い、これにより、位相校正データPhas
e(f)を求める。こうして求められた位相校正データ
Phase(f)は、メモリ132に記憶される。
ータMag(f)と位相校正データPhase(f)と
を用いて上述したような演算を行うことにより、校正デ
ータY′(f)を求める。こうして求められたY′
(f)は、メモリ136に記憶される。
完了する。
116a、116b、124a、124bを測定側mに
設定する。これにより、固定アンテナから観測信号aが
入力されるようになり、走査アンテナから観測信号bが
入力されるようになる。また、フーリエ変換部122
a、122bから出力されるスペクトルSA(f)、SB
(f)が、相関ベクトル演算部138に入力されるよう
になる。
36に記憶された校正データY′(f)を、観測信号の
周波数に応じて適宜参照し、相関ベクトルを演算する。
こうして、観測信号a、bの周波数成分に応じて各周波
数毎に校正が行われ、高い精度で相関ベクトルが求めら
れる。なお、相関関数測定方法の詳細は、本願出願人に
よる特願平7−289848号明細書を参照されたい。
た場合など、校正データY′(f)の信憑性が低くなっ
た場合には、上記と同様にして位相校正データPhas
e(f)のみを取得し、所定の演算を行うことにより校
正データY′(f)を更新する。
照しつつ、相関ベクトルを演算すればよい。
性も低くなったと考えられる場合には、位相校正データ
Phase(f)のみならず、振幅校正データMag
(f)をも取得し、これらのデータを用いて演算するこ
とにより校正データY′(f)を求めればよい。例え
ば、振幅校正データMag(f)を取得した際における
位相校正用データPhase(f)を記憶しておき、こ
の位相校正データPhase(f)に対して所定値以上
位相校正データPhase(f)の値が変化した場合に
は、振幅校正用データMag(f)の信憑性も低くなっ
ている蓋然性が高いため、振幅校正用データMag
(f)を更新するようにしてもよい。位相校正用データ
Phase(f)の値が所定以上変化したということ
は、例えば標準偏差等により求めることが可能である。
得する必要のある位相校正データPhase(f)を変
調波を用いて取得し、頻繁に取得する必要のない振幅校
正データMag(f)はCW波を用いて取得し、これら
のデータを用いて各周波数に応じた校正データY′
(f)を求めるので、校正精度を劣化することなく、迅
速に校正を行うことができる。
正信号を所定のステップで掃引し、補間を行うことによ
り振幅校正データMag(f)を求めるので、更に校正
を迅速に行うことができる。
限らず種々の変形が可能である。
監視を行う際に固定アンテナ及び走査アンテナから入力
される観測信号の相関関数を測定する場合を例に説明し
たが、電波監視を行う場合のみならず、複数の観測信号
の相関関数を測定する際に広く適用することができる。
観測信号の相関ベクトルを演算する場合に適用したが、
3つ以上の相関ベクトルを演算する場合にも応用するこ
とができる。
位相校正データを取得したが、必ずしも変調波を用いて
位相校正データを取得しなくてもよい。例えば、迅速な
校正が要求されない場合には、連続波を用いて位相校正
データを取得してもよい。
の測定に先立って、各周波数毎に校正データを取得して
おき、周波数に応じた校正データを用いて相関ベクトル
を求めるので、相関ベクトルを高い精度で求めることが
できる。また、校正データの信憑性が低くなった場合に
は、適宜校正データの更新を行うので、相関ベクトルの
校正精度を維持することができる。従って、本発明によ
れば、高精度に相関関数の測定を行うことができる相関
関数測定方法及び装置を提供することができる。
要のある位相校正データPhase(f)を変調波を用
いて取得し、頻繁に取得する必要のない振幅校正データ
Mag(f)はCW波を用いて取得し、これらのデータ
を用いて各周波数に応じた校正データY′(f)を求め
るので、校正精度を劣化することなく、迅速に校正を行
うことができる。
正信号を所定のステップで掃引し、補間を行うことによ
り振幅校正データMag(f)を求めるので、更に校正
を迅速に行うことができる。
を示すブロック図である。
る相関関数測定装置を示すブロック図である。
である。
る相関関数測定装置を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
校正データとを示すグラフである。
校正データとを示すグラフである。
ク図である。
Claims (18)
- 【請求項1】 第1の観測信号を第1の信号処理手段に
より処理して第1のスペクトルを求め、第2の観測信号
を第2の信号処理手段により処理して第2のスペクトル
を求め、前記第1のスペクトルと前記第2のスペクトル
との相関関数を測定する相関関数測定方法であって、 相関関数の測定に先立って、前記第1の信号処理手段及
び前記第2の信号処理手段に校正信号を入力し、前記第
1の信号処理手段により求められたスペクトルと、前記
第2の信号処理手段により求められたスペクトルとか
ら、前記校正信号の周波数に応じた校正値を求め、 相関関数の測定の際には、周波数に応じた前記校正値を
用いつつ、前記第1のスペクトルと前記第2のスペクト
ルとの相関関数を求めることを特徴とする相関関数測定
方法。 - 【請求項2】 請求項1記載の相関関数測定方法におい
て、 前記校正値を求める際には、前記校正信号の周波数を掃
引することにより、各周波数に応じた前記校正値を求め
ることを特徴とする相関関数測定方法。 - 【請求項3】 請求項1又は2記載の相関関数測定方法
において、 前記校正値から回帰式を求め、 前記校正値を更新する際には、少なくとも前記回帰式を
決定するのに必要な校正値を再度求めることにより前記
回帰式を更新し、更新された前記回帰式に基づいて前記
校正値を更新することを特徴とする相関関数測定方法。 - 【請求項4】 請求項1記載の相関関数測定方法におい
て、 前記校正値を求める際には、前記第1の信号処理手段及
び前記第2の信号処理手段に変調波を入力することによ
り、各周波数に応じた校正値を求めることを特徴とする
相関関数測定方法。 - 【請求項5】 請求項1記載の相関関数測定方法におい
て、 前記校正値を求める際には、前記第1の信号処理手段及
び前記第2の信号処理手段に、第1の校正信号を周波数
を掃引しつつ入力し、前記第1の信号処理手段により求
められたスペクトルと、前記第2の信号処理手段により
求められたスペクトルとから、各周波数に応じた振幅校
正データを求め、前記第1の信号処理手段及び前記第2
の信号処理手段に第2の校正信号を入力し、前記第1の
信号処理手段により求められたスペクトルと、前記第2
の信号処理手段により求められたスペクトルとから、各
周波数に応じた位相校正データを求め、前記振幅校正デ
ータと前記位相校正データとから各周波数に応じた前記
校正値を求めることを特徴とする相関関数測定方法。 - 【請求項6】 請求項5記載の相関関数測定方法におい
て、 前記第2の校正信号は、変調波より成ることを特徴とす
る相関関数測定方法。 - 【請求項7】 請求項5又は6記載の相関関数測定方法
において、 前記振幅校正データを求める際には、前記第1の校正信
号の周波数を所定のステップで掃引し、補間を行うこと
により前記振幅校正データを求めることを特徴とする相
関関数測定方法。 - 【請求項8】 請求項5乃至7のいずれか1項記載の相
関関数測定方法において、 前記位相校正データを、前記振幅校正データより高い頻
度で更新することを特徴とする相関関数測定方法。 - 【請求項9】 請求項8記載の相関関数測定方法におい
て、 前記振幅校正データを更新した際の前記位相校正データ
に対して、更新された前記位相校正データが所定値以上
変化している場合に、前記振幅校正データを更新するこ
とを特徴とする相関関数測定方法。 - 【請求項10】 第1の観測信号を処理して第1のスペ
クトルを求める第1の信号処理手段と、 第2の観測信号を処理して第2のスペクトルを求める第
2の信号処理手段と、 前記第1の信号処理手段及び前記第2の信号処理手段に
校正信号を入力し、前記第1の信号処理手段により求め
られたスペクトルと、前記第2の信号処理手段により求
められたスペクトルとから、各周波数に応じた校正値を
求める校正値演算手段と、 前記校正値演算手段により求められた前記校正値を用い
つつ、前記第1のスペクトルと前記第2のスペクトルと
の相関関数を求める相関関数演算手段とを有することを
特徴とする相関関数測定装置。 - 【請求項11】 請求項10記載の相関関数測定装置に
おいて、 前記校正値演算手段は、前記校正信号の周波数を掃引す
ることにより、各周波数に応じた前記校正値を求めるこ
とを特徴とする相関関数測定装置。 - 【請求項12】 請求項10又は11記載の相関関数測
定装置において、 前記校正値演算手段は、前記校正値から回帰式を求め、
少なくとも前記回帰式を決定するのに必要な校正値を再
度求めることにより前記回帰式を更新し、更新された前
記回帰式に基づいて前記校正値を更新することを特徴と
する相関関数測定装置。 - 【請求項13】 請求項10記載の相関関数測定装置に
おいて、 前記校正値演算手段は、前記第1の信号処理手段及び前
記第2の信号処理手段に変調波を入力することにより、
各周波数に応じた前記校正値を求めることを特徴とする
相関関数測定装置。 - 【請求項14】 請求項10記載の相関関数測定装置に
おいて、 前記校正値演算手段は、前記第1の信号処理手段及び前
記第2の信号処理手段に、第1の校正信号を周波数を掃
引しつつ入力し、前記第1の信号処理手段により求めら
れたスペクトルと、前記第2の信号処理手段により求め
られたスペクトルとから、各周波数に応じた振幅校正デ
ータを求め、前記第1の信号処理手段及び前記第2の信
号処理手段に第2の校正信号を入力し、前記第1の信号
処理手段により求められたスペクトルと、前記第2の信
号処理手段により求められたスペクトルとから、各周波
数に応じた位相校正データを求め、前記振幅校正データ
と前記位相校正データとから各周波数に応じた前記校正
値を求めることを特徴とする相関関数測定装置。 - 【請求項15】 請求項14記載の相関関数測定装置に
おいて、 前記第2の校正信号は、変調波より成ることを特徴とす
る相関関数測定装置。 - 【請求項16】 請求項14又は15記載の相関関数測
定装置において、 校正値演算手段は、前記第1の校正信号の周波数を所定
のステップで掃引し、補間を行うことにより前記振幅校
正データを求めることを特徴とする相関関数測定装置。 - 【請求項17】 請求項14乃至16のいずれか1項記
載の相関関数測定装置において、 前記校正値演算手段は、前記位相校正データを、前記振
幅校正データより高い頻度で更新することを特徴とする
相関関数測定装置。 - 【請求項18】 請求項17記載の相関関数測定装置に
おいて、 前記校正値演算手段は、前記振幅校正データを更新した
際の前記位相校正データに対して、更新された前記位相
校正データが所定値以上変化している場合に、前記振幅
校正データを更新することを特徴とする相関関数測定装
置。
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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---|---|---|---|---|
US6979993B2 (en) * | 2001-03-14 | 2005-12-27 | Advantest Corporation | Frequency analyzing method, frequency analyzing apparatus, and spectrum analyzer |
GB0113627D0 (en) | 2001-06-05 | 2001-07-25 | Univ Stirling | Controller and method of controlling an apparatus |
US8214682B2 (en) * | 2008-04-11 | 2012-07-03 | Oracle America, Inc. | Synchronizing signals related to the operation of a computer system |
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Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4169245A (en) * | 1972-07-26 | 1979-09-25 | E-Systems, Inc. | Spectral correlation |
JPS59157575A (ja) * | 1983-02-27 | 1984-09-06 | Anritsu Corp | スペクトラムアナライザ |
US4947176A (en) * | 1988-06-10 | 1990-08-07 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Multiple-beam antenna system |
US5146471A (en) * | 1989-03-23 | 1992-09-08 | Echelon Systems Corporation | Correlator for spread spectrum communications systems |
JP3642844B2 (ja) | 1995-11-08 | 2005-04-27 | 株式会社アドバンテスト | 波源像可視化方法及び装置 |
US5748314A (en) * | 1995-11-08 | 1998-05-05 | Advantest Corporation | Correlation function measurement method and apparatus, and wave source image visualization method and apparatus based on correlation function measurement |
US6917644B2 (en) * | 1996-04-25 | 2005-07-12 | Sirf Technology, Inc. | Spread spectrum receiver with multi-path correction |
US5901183A (en) * | 1996-09-25 | 1999-05-04 | Magellan Corporation | Signal correlation technique for a receiver of a spread spectrum signal including a pseudo-random noise code that reduces errors when a multipath signal is present |
US6295442B1 (en) * | 1998-12-07 | 2001-09-25 | Ericsson Inc. | Amplitude modulation to phase modulation cancellation method in an RF amplifier |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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