JP4923276B2 - 周波数変換装置の周波数応答の特徴付け方法 - Google Patents

周波数変換装置の周波数応答の特徴付け方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4923276B2
JP4923276B2 JP2007267141A JP2007267141A JP4923276B2 JP 4923276 B2 JP4923276 B2 JP 4923276B2 JP 2007267141 A JP2007267141 A JP 2007267141A JP 2007267141 A JP2007267141 A JP 2007267141A JP 4923276 B2 JP4923276 B2 JP 4923276B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
frequency
signal
frequency response
bandwidth
response
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2007267141A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2008104178A (ja
Inventor
イー・ヒー
マーカス・ケー・ダシルバ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tektronix Inc
Original Assignee
Tektronix Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tektronix Inc filed Critical Tektronix Inc
Publication of JP2008104178A publication Critical patent/JP2008104178A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4923276B2 publication Critical patent/JP4923276B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B3/00Line transmission systems
    • H04B3/02Details
    • H04B3/46Monitoring; Testing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836Fault-finding or characterising
    • G01R31/2839Fault-finding or characterising using signal generators, power supplies or circuit analysers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/28Measuring attenuation, gain, phase shift or derived characteristics of electric four pole networks, i.e. two-port networks; Measuring transient response
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G01R31/2822Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere of microwave or radiofrequency circuits

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
  • Digital Transmission Methods That Use Modulated Carrier Waves (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Description

本発明は、一般に、装置の周波数応答の特徴付けに関し、特に、広いシステム帯域幅をカバーする複数の中心周波数にて特定の広帯域幅をカバーする周波数変換装置の周波数応答を特徴付ける方法に関する。
入力信号を局部発振器からの周波数と組合せて入力信号を異なる周波数に変換するミキサの如き周波数変換装置は、無線周波数(RF)システムにおいて重要なコンポーネントである。ミキサにより、ある周波数RFパワーを別の周波数のパワーに変換することによって、受信器における信号処理又は送信機における信号発生を一層容易にできると共に効率的にできる。最新のRFシステムにとって、周波数変換装置の影響がある信号経路に沿った線形歪を最小にすることは、通信システムにおけるエラー・ベクトル・マグニチュード(EVM: Error Vector Magnitude)の如き信号品質の必要条件に合わせるために重要である。
RF受信器において、ミキサは、どの信号経路においても単なる一つの基礎的要素である。ミキサは、信号経路内の前段及び後段の回路と共に、局部発振器(LO)駆動回路にも相互に作用し合うので、他の協働する回路を考慮する必要がある。総てのミキサは、完全には分離しておらず、複数のミキサ・ポートの間で漏れやフィードスルーが生じる。また、ミキサは、非線形装置であり、必然的に相互変調歪を生じる。1〜10MHz中間周波数(IF)の帯域幅であるシステムのように、従来の狭帯域幅のシステムにおいては、ミキサの周波数応答がほぼ理想的である、即ち、システム性能を大幅に劣化させることがなく、ミキサの帯域幅にわたって利得が平坦で位相がほぼ線形である。従来のスペクトラム・アナライザに含まれているようなRF受信器は、この仮定に基づき、各中心周波数でのチャネル校正及びアライメントを単に実行する。
複数の中心周波数の間のIF帯域幅にわたる周波数応答の違いは、無視される。このアライメント技術は、狭帯域幅システムでは、ほどよく良好に動作する。しかし、IF帯域幅が100MHz以上である信号経路を有するRF装置の如き広帯域システムにとっては、ミキサ及び協働回路の間での相互作用が益々複雑且つ悪くなっている。関心のある帯域幅にわたるミキサの周波数応答が総ての中心周波数に対して同じであると仮定できる場合、エラーが生じることを考慮しなければならない。この結果、送信器が歪んだ信号を放射するか、及び/又は、受信器内にエラーが生じる。テスト機器においては、かかる歪やエラーにより、被試験RF装置が必要な規格を満足しているかを確実に判断することができないかもしれない。
特開2005−217732号公報
そこで、周波数変換装置を用いるRF装置を一層高精度とするために、広システム帯域幅用の協働回路と共に、特定の広帯域幅にわたる周波数変換装置の周波数応答を特徴付ける方法が望まれている。
本発明は、複数のチャネル帯域幅から成る特定の帯域幅の周波数変換装置の周波数応答を特徴付ける方法であって;中心周波数を有し、チャネル帯域幅を横切るように中心周波数オフセットされる刺激信号を周波数変換装置の入力端に供給するステップと;刺激信号に応答して、刺激信号及び周波数変換装置の出力を測定して、中心周波数における周波数変換装置用の校正データとして、蓄積用の周波数応答を発生するステップと;刺激信号の中心周波数をRF間隔分だけ変化させて、上述の供給及び測定のステップを繰り返して、特定の帯域幅をカバーするまで、各々が各中心周波数用である複数の周波数応答を発生するステップと;校正データとして蓄積する前に、基準中心周波数に対する各周波数応答を調整するステップとを具え;調整するステップは、各周波数応答をスケーリングし、基準中心周波数に対して正規化し、刺激信号は、複数のオフセット周波数をカバーし;これら複数のオフセット周波数は、中心周波数をまたぐ特定の帯域幅を定め;蓄積用の周波数応答は、特定の帯域幅にわたるマグニチュード及び位相の複素関数である。
本発明は、一連の周波数応答を生じる広システム帯域幅にわたって周波数変換装置を特徴付ける技術を提供する。周波数変換装置は、中心周波数及び周波数オフセットの2次元(2D)関数としてモデル化される。刺激発生器は、中心周波数を含み、且つこの中心周波数に対する特定の帯域幅をカバーするRF信号を発生する。これには、中心周波数に関する周波数増分をステップ状とするか、帯域幅が上述の特定帯域幅以上の第2信号により中心周波数を変調する。周波数の広い範囲は、複数のチャネルを含んでおり、各チャネルが独自の中心周波数を有する。各チャネルに対して、一連のマグニチュード及び位相の測定値は、チャネルの特定帯域幅における中心周波数を中心とした複数の周波数オフセットの各々において、刺激と周波数変換装置の出力との両方を捉えたものである。
マグニチュード及び位相の測定値の対を比較し、これらの間の比が周波数変換装置の周波数応答を表す。RFシステムの広帯域幅内の各チャネルに対して、これら処理を繰り返す。基準周波数の周波数応答に対してスケーリング(拡大/縮小)し、正規化することにより、各チャネルの周波数応答を校正データとしてコンパクトに蓄積できる。校正データを用いて、ミキサ能力の性能指数を求めるか、又は、送信器又は受信器のランタイム正規化期間中に校正データを用いて、所望中心周波数にて適切な逆フィルタを構成し、送信信号から歪を除去するか、受信器が処理した新内のエラーを低減する。
本発明の目的、利点及び新規な特徴は、添付図を参照した以下の詳細な説明から明らかになろう。
本願において、「校正」とは、外部のテスト機器を用いて装置を工場で校正することを言い、「正規化」又は「アライメント」とは、内部のテスト信号を用いて装置を自己校正することを言う。
図1は、各チャネルが特定の広帯域幅を有し、周波数の広いシステム帯域幅にわたり複数のチャネル・キャリアを有するコミュニケーション・システムを説明するグラフである。ここで、典型的なRFシフトは、数十ギガヘルツの広いシフト帯域幅にわたる多数のチャネルを有する。各チャネルは、独自の中心周波数ωcと、最高の広帯域幅システムでは100MHz以上のオーダである特定のチャネル帯域幅ωbとを有する。この広シフト帯域幅は、開始中心周波数ω1から停止中心周波数ω2までの周波数範囲をカバーする。装置のチャネル周波数応答H(ω, ωc)は、次のようにモデル化される。
H(ω, ωc) = HR(ω + ωc) HM(ω, ωc) HIF(ω)
なお、Hは、全体のチャネル周波数応答である。HRは、ミキサに先立つRF周波数応答である。HMは、RFミキサの周波数応答である。HIFは、ミキサに続く回路の組合せ周波数応答である。ωは、チャネル中心周波数ωcからの周波数オフセットである。周波数応答は、マグニチュード(大きさ)及び位相の両方の情報を含む複素関数として表すことができる。その結果、周波数応答のマグニチュードは、複素周波数応答の絶対値として表すことができる。ミキサ及びそれに相互作用する回路が本質的に分離可能ではないことを認識して、組合せ周波数応答を特徴付け、これを送信器又は受信器の補正係数、若しくはミキサの性能指数として用いてもよい。
図2は、本発明により、ステップ状の連続波信号を用いて、周波数変換装置を含む被試験装置の周波数応答を特徴付けるシステムのブロック図である。初期校正期間中、ステップ状連続波(CW)信号発生器、掃引CW信号発生器、変調済みCW信号(マルチトーン)発生器などの信号源12は、被測定装置(DUT)14の各チャネルにわたって変化するRF信号を発生する。このためには、中心周波数に対するチャネル帯域幅を横切るようにRF信号の周波数をステップさせるか、中心周波数に対するチャネル帯域幅を横切るようにRF信号の周波数を掃引させるか、チャネル帯域幅以上の周波数の第2信号により中心周波数を変調させるなどの処理を行う。説明を理解しやすくするために、以下の説明においては、信号源12は、ステップ状CW信号発生器と仮定する。信号源(信号発生器)12からのRF信号をパワー分離器16に入力する。このパワー分離器16は、RF信号からのパワーの一部をDUT14の入力ポートに供給すると共に、このパワーの一部と等しいパワー部分を第1パワー・メータ(PM1)18にも供給する。第2パワー・メータ(PM2)20は、DUT14の出力ポートに結合されている。パワー・メータ18及び20は、マグニチュードを測定するシステムである。比較器(CMP)22は、第1パワー・メータ16が測定する各周波数ステップにおけるRF信号のマグニチュードと、第2パワー・メータ20が測定するDUT14からのRF信号出力のマグニチュードとを比較する。パワー・メータ18及び20の各々が測定したマグニチュードをdB単位で比較した結果であるこれらの差は、特定チャネルにおけるDUT14の周波数応答を表す。この校正処理を広システム帯域幅内の各チャネルについて行い、各チャネル又は中心周波数に対して分れた周波数応答を提供する。なお、DUT14は、前段のミキサ(プリ・ミキサ)HRと、ミキサHMと、後段のミキサ(ポスト・ミキサ)HIFとを具えている。
図3は、本発明により、周波数変換装置の周波数応答を特徴付ける処理の流れ図である。特徴付け段階の間、信号発生器12からのRF信号を刺激信号として用いる。この信号は、パワー・メータ18用とDUT14用とに分離される。開始中心周波数ω1でパワー測定を開始し(ステップ24)、この信号の所定部分をDUT14の入力端に供給する(ステップ26)。各チャネルに対して、「IF周波数」ステップと呼ばれる所定周波数ステップを用いて、信号発生器12がステップ状にこのチャネル帯域幅を横切る周波数を発生する。例えば、ωb=100MHzで、IF周波数ステップが10MHzならば、中心周波数ωcに対して次の周波数に同調される。ω=−50MHz、−40MHz・・・40MHz、50MHz。なお、ωcにて、ω=0である。各オフセット周波数に対して、刺激信号と装置(DUT)出力とのマグニチュードを測定する(ステップ28及び30)。チャネル帯域幅にわたる各周波数ステップにて、パワー・メータ18及び20の測定値の差をdBで蓄積して、周波数応答を求める(ステップ32)。ステップ34にて、中心周波数fc=ω2になったかを判断し、ステップ36にて中心周波数fcを所定のRF周波数ステップ(RF間隔)分だけ増分して、上述の処理を繰り返す。
IF及びRF周波数ステップ、即ち、IF及びRF間隔を選択したので、任意の中心周波数にて補間エラーが生じるが、周波数オフセットは、考慮中の規格よりも非常に小さくなる。細かなステップにより良好な結果が得られるが、校正に長時間がかかり、校正データを保持するのに大きなデータ蓄積容量が必要となる。必要ならば、システムが最小位相システムであると仮定することにより、マグニチュード・データから位相データを求めることができる。この点は、例えば、2005年11月9日に出願された米国特許出願第11/272285号(米国特許公開第2007/0104261号)「マグニチュード測定データを用いるフィルタ等化」に記載されている。図4は、本発明により、変調済み信号を用いて、周波数変換装置を含む被試験装置の周波数応答を特徴付けるシステムのブロック図である。信号源40は、変調済み信号を供給するので、DUT14に結合された測定機器42を用いて、特定のチャネル帯域幅をカバーするIF周波数にて、振幅(マグニチュード)及び位相を同時に直接的に測定できる。ステップ状CW信号に関して上述した手順と同様に、中心周波数をRF周波数ステップだけ増分することにより、全体の広システム帯域幅をカバーできる。
校正結果をデータ蓄積手段に蓄積する前に、次の調整(図3のステップ38)を行うことが好ましい。これらステップにより、校正データの量を減らし、任意所望の中心周波数におけるDUT14の周波数応答を決定するための補間の精度を改善するのに役立つ。各チャネルの周波数応答を基準周波数に対してスケーリングし、便宜上、これは上述のアライメントの周波数でもよい。装置のチャネル周波数応答H(ω, ωc)に関しては、次のようになる。
|H(ω, ωc)|
= |HR(ω + ωc) HM(ω, ωc) HIF(ω)| - |HR(ω + ωr) HM(ω, ωr) HIF(ω)|
= |HR(ω + ωc) HM(ω, ωc)| - |HR(ω + ωr) HM(ω, ωr) |
なお、ωrは、基準周波数又はアライメント周波数であり、マグニチュードの項目はdBで表される。各中心周波数における周波数応答に対しては、中心(ω=0)の周波数応答から各周波数応答を次のように減算する。
|H2(ω, ωc)| = |H1(ω, ωc)| - |H1(0, ωr)|
なお、H1は、特定チャネルに対するスケーリング調整したチャネル周波数応答であり、H2は、そのチャネル用に蓄積した周波数応答である。
校正データから、校正に使用された全IF周波数に対するRF周波数に沿って周波数応答を補間することにより、任意の中心周波数での周波数応答を決定できる。細かなIF周波数分解能が望ましいならば、校正IF周波数ステップを用い、且つIF周波数に沿った周波数応答を補間してもよい。いずれの場合も、3次スプラインの如き一般的な補間方法を使用できる。送信器の如き信号源はミキサも具えており、かかるミキサの周波数応答は、上述のように特徴付けができる。また、信号出力に先行歪を与えるように送信器に周波数応答を用いて、送信器内のミキサを補償できる。これは、RF装置をテストするために既知の特性のRF信号を発生する必要がある高精度任意信号発生器に特に有用である。
上述の如く、それ自体の周波数応答が補正された受信器を用いることにより、既知の特性を有する信号の任意の変動は、信号源の周波数応答における変動とみなせる。かかる変動は、各信号源に対して明瞭にできるので、種々の変動をシグネチャとして用いて、どの信号源からの信号を受信したかを識別できる。
よって、本発明は、基準周波数に対して得た校正データを正規化して蓄積する校正データの量を減らし、校正データから任意の中心周波数における周波数応答を補間することにより、周波数応答をモデル化するために中心周波数及びオフセット周波数の2次元関数として周波数変換装置を特徴付けることができる。
各チャネルが特定の広帯域幅を有し、周波数の広いシステム帯域幅にわたり複数のチャネル・キャリアを有するコミュニケーション・システムを説明するグラフである。 本発明により、ステップ状の連続波信号を用いて、周波数変換装置を含む被試験装置の周波数応答を特徴付けるシステムのブロック図である。 本発明により、周波数変換装置の周波数応答を特徴付ける処理の流れ図である。 本発明により、変調済み信号を用いて、周波数変換装置を含む被試験装置の周波数応答を特徴付けるシステムのブロック図である。
符号の説明
12 信号源
14 被測定装置
16 パワー分離器
18、20 パワー・メータ
22 比較器
40 信号源
42 測定機器

Claims (1)

  1. 複数のチャネル帯域幅から成る特定の帯域幅の周波数変換装置の周波数応答を特徴付ける方法であって、
    中心周波数を有し、上記チャネル帯域幅を横切るように上記中心周波数オフセットされる刺激信号を上記周波数変換装置の入力端に供給するステップと、
    上記刺激信号に応答して、上記刺激信号及び上記周波数変換装置の出力を測定して、上記中心周波数における上記周波数変換装置用の校正データとして、蓄積用の周波数応答を発生するステップと、
    上記刺激信号の中心周波数をRF間隔分だけ変化させて、上記供給のステップ及び上記測定のステップを繰り返して、上記特定の帯域幅をカバーするまで、各々が各中心周波数用である複数の周波数応答を発生するステップと、
    上記校正データとして蓄積する前に、基準中心周波数に対する各周波数応答を調整するステップとを具え、
    該調整するステップは、各周波数応答をスケーリングし、上記基準中心周波数に対して正規化し、
    上記蓄積用の周波数応答は、上記特定の帯域幅にわたるマグニチュード及び位相の複素関数である周波数変換装置の周波数応答の特徴付け方法。
JP2007267141A 2006-10-18 2007-10-12 周波数変換装置の周波数応答の特徴付け方法 Expired - Fee Related JP4923276B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11/583,188 US7720137B2 (en) 2006-10-18 2006-10-18 Characterization of a frequency response for a frequency translation device
US11/583,188 2006-10-18

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008104178A JP2008104178A (ja) 2008-05-01
JP4923276B2 true JP4923276B2 (ja) 2012-04-25

Family

ID=39167025

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007267141A Expired - Fee Related JP4923276B2 (ja) 2006-10-18 2007-10-12 周波数変換装置の周波数応答の特徴付け方法

Country Status (6)

Country Link
US (1) US7720137B2 (ja)
EP (1) EP1916533A1 (ja)
JP (1) JP4923276B2 (ja)
KR (1) KR101325658B1 (ja)
CN (1) CN101227240B (ja)
TW (1) TWI415386B (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7746052B2 (en) * 2007-10-16 2010-06-29 Anritsu Company Apparatus for extending the bandwidth of a spectrum analyzer
US9413404B2 (en) * 2012-03-01 2016-08-09 National Instruments Ireland Resources Limited Method and system for characterising a frequency translating device
US10422846B2 (en) 2017-01-30 2019-09-24 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Method for calibrating a radio frequency test instrument and radio frequency test instrument

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5937006A (en) * 1997-05-28 1999-08-10 The Aerospace Corporation Frequency translating device transmission response method
JP3374154B2 (ja) * 1999-03-17 2003-02-04 アンリツ株式会社 スペクトラムアナライザ
JP3518430B2 (ja) * 1999-07-12 2004-04-12 三菱電機株式会社 デジタルfm復調器
US6405147B1 (en) * 1999-09-10 2002-06-11 Condor Systems, Inc. Signal transfer device measurement system and method
JP2001268149A (ja) * 2000-03-17 2001-09-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd アダプティブプリディストーション歪補償装置及びアダプティブプリディストーション歪補償方法
US6842608B2 (en) * 2001-10-10 2005-01-11 Agilent Technologies, Inc. Response calibration scheme using frequency-shifted stimulus signals
JP4206249B2 (ja) * 2002-09-30 2009-01-07 アイコム株式会社 イメージリジェクションミキサ
TWI256815B (en) * 2004-07-27 2006-06-11 Mediatek Inc Frequency synchronization device and the method thereof
TWI248734B (en) * 2004-09-29 2006-02-01 Realtek Semiconductor Corp Band averaging circuit and related method for carrier offset estimation in a multi-band multi-carrier communication system
US7088088B1 (en) * 2005-01-19 2006-08-08 Agilent Technologies, Inc. Triggered narrow-band method for making pulsed-RF networking measurements

Also Published As

Publication number Publication date
EP1916533A1 (en) 2008-04-30
US20080095271A1 (en) 2008-04-24
JP2008104178A (ja) 2008-05-01
US7720137B2 (en) 2010-05-18
KR101325658B1 (ko) 2013-11-05
KR20080035460A (ko) 2008-04-23
TWI415386B (zh) 2013-11-11
CN101227240B (zh) 2013-02-06
CN101227240A (zh) 2008-07-23
TW200822530A (en) 2008-05-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5336717B2 (ja) Rf受信器
US7304597B1 (en) Adaptive interpolation for use in reducing signal spurs
US20100007355A1 (en) Method for testing radio frequency (rf) receiver to provide power correction data
TWI423626B (zh) 使用大小測量資料之濾波器等化
US20160028498A1 (en) System and method of measuring full spectrum of modulated output signal from device under test
JP4923276B2 (ja) 周波数変換装置の周波数応答の特徴付け方法
JP6862103B2 (ja) 試験測定装置及び補償値決定方法
US8355884B2 (en) Signal quality measurement device, spectrum measurement circuit, and program
KR20180002532A (ko) 신호 검출기 장치 및 방법
US7317999B2 (en) Method of mapping linearly spaced spectrum points to logarithmically spaced frequency and a measuring apparatus using the method
Verspecht et al. The vector component analyzer: A new way to characterize distortions of modulated signals in high-frequency active devices
US20090128123A1 (en) Vector/signal analyzer equalization apparatus and method
JP2005164295A (ja) 周波数変換回路の特性測定及び校正方法
Zhang et al. Repeatable phase spectrum measurements of 75–110-GHz modulated signals using a VNA-based LO phase cancellation technique
Zhang et al. Characterization of millimeter-wave wideband FMCW signals based on a precisely synchronized NVNA for automotive radar applications
Gunst et al. Application of digital wide band mismatch calibration to an I/Q receiver
JP2005128014A (ja) トラッキング発生器及び試験信号発生方法
Sarson et al. Group delay measurement of frequency down-converter devices using chirped RF modulated signal
He New Amplitude Correction and Phase Linearization Technique for Channel Response on Wideband Microwave Spectrum Analysers
Dvorak et al. Extension of an absolute vector error correction technique to wideband, high-frequency measurements
JP2012198115A (ja) スペクトルアナライザおよびその周波数特性補正方法

Legal Events

Date Code Title Description
A625 Written request for application examination (by other person)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A625

Effective date: 20090717

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110412

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110629

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20110906

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20110906

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110927

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20111206

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120110

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120116

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150217

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4923276

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees