JP2002006002A - バウンダリスキャンによるハードウェアコントロールステータスレジスタの操作 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】複数の装置における所望のスキャンチェーンをテストする
ための手段を提供する。 【解決手段】本発明のシステムは、スキャンチェーンの1つ以上のステー
タスレシ゛スタに対応するフィールト゛を生成するためのフィールト゛オフ゛シ゛
ェクトモテ゛ルを有するテ゛ータヘ゛ース130を備える。スキャンチェーンは、複
数の装置の各々からの1つのリンク゛を備えており、各リンク゛2
5はスキャンチェーンをテストするための1つ以上の介在するステータスレシ
゛スタを有する。ユーティリティエンシ゛ン120は、フィールト゛からユーティリティハ
゛ッファ160を構成するためにテ゛ータヘ゛ース130に動作可能に接続
されており、ハ゛ッファは、所望のスキャンチェーン用に構成され、ス
キャンチェーンからのステータスレシ゛スタに対応するフィールト゛を有してい
る。システムは、ユーティリティハ゛ッファからの単一のスキャンテ゛ータをスキャン
チェーンに注入するために、スキャンチェーンに動作可能に接続され
る。スキャンテ゛ータを、複数の装置の各々から１つの同様のま
たは異なるリンク゛に介在する1つ以上のステータスレシ゛スタに対応
する1つ以上のフィールト゛に注入するための方法が提供され
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、デジタル装置を含
むシステムにおけるコントロールステータスレジスタロ
ケーションに対するデータのスキャンインおよびスキャ
ンアウトに関する。

【０００２】

【従来の技術】バウンダリスキャンは、デジタル装置
（または、デジタルデバイス。本明細書では、装置には
電子デバイスも含まれる）を含むシステムにおけるコン
トロールステータスレジスタロケーションからデータを
読み出したり、そこにデータを書き込んだりする方法で
ある。図１は、装置のチェーンを示す。チェーンは、入
力ポートおよび出力ポートを含む。入力ポートは、デー
タを装置のチェーンにスキャンインできるようにする。
出力ポートは、データをチェーンから読み出せるように
する。各装置は、１つまたは複数のリングを備える。各
リングは、１つまたは複数の記憶レジスタからなる。各
リングは、データが装置から入出するパスを提供する。
データがリングの一端に入ると、データがリングの他端
から出る。装置における１つのリングのみを一度に開く
ことができる。一群の装置における開リングの組み合わ
せが、スキャンパスを構成する。

【０００３】リングは、異なる長さを有することができ
る。開リングの長さの和は、スキャンパスの長さであ
る。例えば、図１において、装置２０Ａ上のリング２５
は１６ビット長を有し、装置２０Ｂにおけるリング２５
は３２ビット長を有し、装置２０Ｃ上のリング２５は６
４ビット長を有しうる。そうすると、スキャンパスの長
さは１１２ビットとなる。これらのリングをテストする
ために、１１２ビット幅のビットチェーンが入力ポート
においてスキャンインされて、スキャンチェーンが、出
力ポートにおいて１１２ビット幅のデータチェーンを出
力する。この場合、スキャンを達成するために、連続し
た読み出し／書き込み動作が通常は必要である。これ
は、多くの場合、１つのリングへのデータの書き込み
が、データを読み出すことができるようになる前に別の
リングにおけるデータに影響を与え、スキャン前のリン
グ状態の確認を不可能にするため、多くの診断目的に関
して効果的ではない。従来技術の方法によれば、各装置
の同一のリングが開いている場合、単一のスキャン動作
における同一スキャンチェーンにおいて、複数の同様な
装置それぞれのリングに対してデータを読み書きするこ
とができる。しかし、これは、厳しく制約されたテスト
動作であり、システム動作を適正に診断することができ
ない。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】したがって、従来技術
では克服されない、これらおよび他の欠点を克服するた
めのシステムおよび方法が必要とされている。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本発明は、従来技術の方
法およびシステムにより克服されない欠点を克服するシ
ステムおよび方法を提供する。本発明は、ユーザが、単
一スキャン動作で複数の装置における異なるリングにデ
ータを注入できるようにする。本発明は、ユーザが、複
数の装置の各々に各１つの、複数のリングのそれぞれに
注入するテストデータを書き込めるようにするユーティ
リティバッファを提供する。該バッファは、リングに注
入するテストデータを入力するための複数のフィールド
からなり、それぞれのフィールドは、複数のリングにお
ける１つまたは複数のレジスタに対応する。テストデー
タは、単一のスキャン動作でレジスタに注入される。ま
た、テストデータも、一度のスキャン動作でレジスタか
らフィールドのセット（フィールドの集合または１組の
フィールドのこと。以下、フィールドセットと記載）に
読み出されるが、各フィールドは、１つのレジスタに対
応する。これにより、ユーザが、スキャン前に存在した
データとして、すべてのリングからデータを読み出すこ
とが可能になる。本発明は、ユーザが、スキャン動作前
に、スキャン動作においてスキャンする各装置および各
装置内のリングを指定できるようにする。したがって、
本発明によれば、ユーティリティバッファは、フィール
ドのメモリ構造からなり、各フィールドは、テストされ
る１つまたは複数のシステムのうちの１つのシステムに
おける各装置の各リングにおける異なるレジスタに対応
する。スキャン動作をセットアップするために、ユーザ
は、テストされる（１つ又は複数の）システム、各シス
テム内の各装置、テストされる各装置内のリングを指定
する。そして、データベースシステムが、対応するフィ
ールドを関連付けて、フィールドチェーンを構築し、こ
れに対して、フィールドが対応する各レジスタの各ビッ
ト毎に、テストデータを入力することができる。

【０００６】本発明のこれらおよび他の特徴および態様
は、以下の図面および例示の態様について説明を参照す
ることによりより明瞭に理解されよう。

【０００７】上記において、以下の本発明の詳細な説明
をより良好に理解しうるように、むしろ大まかに本発明
の特徴および技術的利点を概説した。本発明の特許請求
の範囲の主題をなす本発明のさらなる特徴および利点に
ついて、以下に説明する。開示される概念および特定の
実施形態は、本発明と同じ目的を実行するために、変更
または他の構造設計の基礎として容易に利用可能である
ことが、当業者には理解されよう。また、当業者は、か
かる同等構造が、特許請求の範囲に記載の本発明の思想
および範囲から逸脱しないことも理解されよう。

【０００８】本発明およびその利点をより完全に理解す
るため、以下の説明では添付図面を参照する。

【０００９】

【発明の実施の形態】図２は、ユーティリティシステム
１００として示す本発明の一実施形態を示す図である。
システム１００には、スキャンチェーンにおける複数の
装置４０Ａ、４０Ｂ、４０Ｃが接続される。各装置は、
複数のリング２５を備える。各リングは、１つまたは複
数のステータスレジスタ４５を備える。システム１００
は、データをスキャンチェーンに注入するための注入イ
ンタフェース１５０と、データをスキャンチェーンから
受け取るための受信インタフェース１４０と、を備え
る。データベース１３０は、アクセスされる１つまたは
複数の装置のセットにおける各装置の各リングの各レジ
スタ毎に１フィールドずつの、フィールドセットを提供
する。ユーティリティエンジン１２０は、ユーザが、１
つまたは複数の装置セットにおけるどの装置のどのリン
グのどのレジスタをアクセスすべきかを指定できるよう
にすることによって、ユーザが、スキャンチェーンを通
るスキャンパスを選択できるようにする。アクセスする
各フィールドについて、ユーティリティエンジン１２０
はまた、ユーザが、指定したフィールドそれぞれにおけ
る各ビットの値を指定できるようにもする。こうして、
これらのフィールドは、フィールドがスキャンパスを占
める順に関連付けられる。

【００１０】ユーザが、データスキャン動作について、
装置および各装置内のリングを選択すると、ユーティリ
ティエンジン１２０は、ユーザによって選択されたスキ
ャンパスにおける各装置毎に１つずつの命令リングのチ
ェーンを通して伝送されるフィールドの順序付きシーケ
ンスを組み立てることにより、命令スキャン動作を構築
する。命令スキャン動作は、指定されたリングを開くよ
う装置に指示する命令を各装置の命令リングに提供す
る。そして、スキャン動作が開始され、フィールドの順
序付きシーケンスにおけるデータを開リングに送信する
と共に、開リングからデータを受信する。こうして、ユ
ーザは、テストデータを注入するステータスレジスタの
セット（以下、ステータスレジスタセットと記載）に対
応するフィールドのセット（以下、フィールドセットと
記載）を選択することができる。次に、ユーザは、各フ
ィールドにおける各ビットの値を指定することができ
る。選択されたスキャンパスにおけるステータスレジス
タに対応するフィールドが組み合わされ、スキャンデー
タセットを形成する。次に、選択されたスキャンパスに
介在するステータスレジスタに対応するスキャンデータ
セットは、ユーティリティエンジン１２０により、注入
インタフェース１５０に送信される。ユーティリティエ
ンジン１２０により、ユーザは、フィールドセットが、
各装置の開リングを通してスキャンパスに注入されると
共に、フィールドセットが対応するステータスレジスタ
セットに書き込まれるという、スキャン動作を開始でき
る。

【００１１】同様に、スキャンパスからデータを受信
し、該データを送信したスキャンパスに介在するレジス
タセットに対応するフィールドセットにデータを格納す
るため、スキャン動作を開始することができる。データ
を受信すると、ユーザは、データを見て、フィールドセ
ットにおけるすべてのビットまたはビットの任意のサブ
セットを選択的に変更することができる。次に、ユーザ
は、スキャン動作を開始して、変更したデータをスキャ
ンパスにおけるステータスレジスタに書き込むことがで
きる。

【００１２】ユーティリティバッファ１６０は、選択さ
れたスキャンパスに介在するステータスレジスタセット
に対応するフィールドセットからなる。例えば、フィー
ルド１６２Ａおよび１６４Ａは、スキャンチェーンの最
初の装置において選択されたリングにおける２つのステ
ータスレジスタに対応する。フィールド１６２Ｂおよび
１６４Ｂは、スキャンチェーンの２番目の装置において
選択されたリングにおける２つのステータスレジスタに
対応する。フィールド１６２Ｃおよび１６４Ｃは、スキ
ャンチェーンの３番目の装置において選択されたリング
における２つのレジスタに対応する。これらのステータ
スレジスタはそれぞれ、異なる長さであってもよく、ま
た、これらのいくつかまたはすべてが同じ長さであって
もよい。ここで、長さは、フィールドにおけるビットの
数を指す。どの装置のどのリングをアクセスするかを指
定することで、ユーザは、ユーティリティエンジン１２
０に、データベース１３０から得た情報に基づき、各フ
ィールド対応するステータスレジスタにおけるビット数
に等しい長さを各フィールドが有するところのフィール
ドセットを含むユーティリティバッファ１６０を構築さ
せる。一実施形態において、ユーティリティバッファ１
６０は、ユーティリティシステム１００におけるアドレ
ス指定可能なメモリを用いて構成される。フィールド
は、インタリーブ可能である。例えば、これらフィール
ドは、分散しても、または互いに重複してもよい。ユー
ザは、スキャンパスに注入したいと望むテストデータシ
ーケンスを構築するために、任意のフィールドの任意の
ビットに書き込むことが可能である。例えば、長さ１６
（Ｒ０〜Ｒ１５ビット）の典型的なリングは、フィール
ドＡ、フィールドＢ、およびフィールドＣからなる。３
つのフィールドの長さは異なる。フィールドＡの長さは
８（ＦＡ０〜ＦＡ７ビット）である。同様に、フィール
ドＢの長さは７（ＦＢ０〜ＦＢ６ビット）であり、フィ
ールドＣの長さは１（ＦＣ０ビット）である。典型的な
リングにおいて、３つのフィールドのビットはリングビ
ットに以下のようにそれぞれ配置することができる。す
なわち、フィールドＡビットＦＡ０〜ＦＡ７は、リング
ビットＲ０〜Ｒ３、Ｒ９、Ｒ１１、Ｒ１４、Ｒ１５に、
フィールドＢビットＦＢ０〜ＦＢ６は、リングビットＲ
４〜Ｒ７、Ｒ１０、Ｒ１２、およびＲ１３に、最後に、
フィールドＣビットＦＣ０は、リングビットＲ８に配置
することができる。

【００１３】図３は、本発明によるデータベースの階層
構造２００の一実施形態を示す図である。一実施形態に
おいて、データベース階層構造は、オブジェクトを含む
オブジェクト指向モデルである。テストするシステム
は、例えば、プロセッサおよびコントローラチップ等数
百のデバイスを備えた複数のボードを有するスーパーコ
ンピュータである場合もある。かかるシステムのいくつ
かを結合して、ノードと呼ばれるより大きなシステムを
形成することができ、また、ノードを組み合わせてノー
ドの複合体にすることもできる。オブジェクト２１０は
複合体（complex）を表しており、それは、ノードのセ
ット（以下、ノードセットと記載）を指定する。オブジ
ェクト２１２はノード（node）を表し、パスのセット
（以下、パスセットと記載）を指定する。オブジェクト
２１４はパス（path）を表し、装置およびパスタイプの
セットを指定する。オブジェクト２１６は、バッファパ
ス（buffer path）を指定する。オブジェクト２１８
は、スキャンパス（scan path）を指定する。オブジェ
クト２２２は装置（device）を表し、装置情報およびリ
ングを指定する。オブジェクト２２４は、リング（rin
g）およびリングタイプを指定する。オブジェクト２２
６は、命令リングを指定する。オブジェクト２３２は、
データリングを指定する。オブジェクト２２８は、フィ
ールド（field）を指定する。

【００１４】図４Ａは、スキャンリング上のステータス
レジスタをユーザアクセス可能フィールドにマッピング
するために使用されるフィールドマップファイル３００
の一実施形態の一部を示す。図４Ｂは、図４Ａのフィー
ルドマップファイル３００の一実施形態の残りの部分を
示す。図４Ａおよび図４Ｂの組み合わせは、スキャンリ
ング上のステータスレジスタをユーザアクセス可能フィ
ールドにマッピングするために使用されるフィールドマ
ップファイル３００の１つの完全な実施形態を示す。フ
ィールドマップファイル３００は、各装置についてデー
タベース１３０に格納される。フィールドマップファイ
ル３００における最初のエントリ３１０は、装置を識別
する。２番目のエントリ３１２は、装置の命令リング
と、命令リングのビットでの長さとを識別する。命令リ
ングにおける各フィールドに、フィールド名エントリ３
１６と、レジスタビットリストエントリ３１８とが設け
られる。装置における各リングに対して、リング名エン
トリ３２０と、リング長およびリング命令値３２２が設
けられる。また、装置のスキャンリングにおける各フィ
ールドにも、フィールド名エントリ３２２と、レジスタ
ビットリストエントリ３２４が設けられる。

【００１５】ユーザは、ターゲットストリングを指定す
ることで、フィールドのビットをアクセスすることがで
きる。ターゲットストリングは、複合体、ノード、パ
ス、装置、リング、およびフィールドを識別する。ター
ゲットストリングの一例は、次のようなものである。

【００１６】 complex1:node1:path0:device3:ring2:field1 これは、複合体１のノード１のパス０の装置３のリング
２のフィールド１を指定する。ターゲットストリングを
指定することで、ユーザは、ターゲットフィールドのビ
ットの読み出し及び書き込みが可能になる。ターゲット
ストリングにおいてワイルドカードを用いると、単一タ
ーゲットストリングで複数のフィールドにアクセスする
ことが可能になる。例えば、システムが、アルファ１、
アルファ２、アルファ３等と呼ばれる複数の同様なコン
トローラを含む場合、ユーザは、１つのターゲットスト
リング： >>bput alpha*.ring1:field0 Oxf を用いて、各装置におけるレジスタに対応するバッファ
における各フィールドに、すべて「１」を書き込むこと
ができる。ここで、bputは、指定したデータをバッファ
１６０内の指定されたフィールドに書き込む書き込みコ
マンドである。この場合、４つの１が、全ての装置アル
ファ１、アルファ２、アルファ３等のリング１のフィー
ルド０に書き込まれる。

【００１７】本発明は、スキャン動作に関連する異なる
機能を実行するための各種コマンドを提供する。例え
ば、ユーザが、２つの「アルファ」装置と２つの「ベー
タ」装置とからなるスキャンチェーン上の２つの同様な
アルファ装置にデータを注入したいものと想定する。ま
ず、ユーザは、スキャンパスをロックするコマンドを入
力し、スキャンパスにおけるレジスタ内のデータが、ス
キャン動作中に変わらないようにする。次に、ユーザ
は、データをアルファ装置の所望のバッファフィールド
に書き込むコマンドを入力する。ユーザは次に、ロック
されたレジスタを解放するアンロック（ロック解除）コ
マンドを入力する。コマンドシーケンスは、以下のよう
なものである。

【００１８】 >>block complex1:node1:path1:alpha*.ring1 このコマンドは、パス１上のキーワード「アルファ」か
ら始まる、全ての装置のリング１をロックする。このコ
マンドの後には、 >>bput alpha*.ring1:field0 Oxf が続く。このコマンドは、両方のアルファ装置のバッフ
ァ内のリング１のフィールド０の４つのビットにすべて
１を書き込む。このコマンドの後には、 >>bput beta*:ring1:field1 Oxff が続く。このコマンドは、両方のベータ装置のバッファ
内のリング１のフィールド１の８つのビットにすべて１
を書き込む。このコマンドの後には、 >>bunlock が続く。このコマンドは、バッファをアンロックし、バ
ッファ（の内容）をハードウェアに書き出す。

【００１９】「block」コマンドが発行されると、指定
されたスキャンパスオブジェクトに、そのスキャンパス
上の装置に現在あるデータを正確に記述するデータバッ
ファが割り当てられる。ユーザは次に、bputコマンドを
用いて、このバッファにデータを書き込むことができる
（ユーザは、bgetコマンドを用いてバッファからデータ
を読み出すこともできる）。ユーザは、データの操作を
終えると、bscanコマンドを発行して、データをスキャ
ンアウトし、将来使用するため、バッファをロックした
ままにするか、またはbunlockコマンドを発行して、バ
ッファをアンロックし、データをスキャンアウトする。
ユーザはいつでも、bcancelコマンドを発行して、デー
タをスキャンアウトせずに、データバッファをアンロッ
クすることができる。

【００２０】バッファ１６０およびバッファ１６０にお
けるデータを制御するための各種コマンドのシンタック
スについて、次に説明する。

【００２１】block<-data_read on|off-errors on|off
-h><target_string> 操作のため、テストステーションメモリにおいて指定さ
れたバッファをロックする。ここで、 target_string＝complex:node:path:device:ring、 -errors on|off：エラーを画面に表示する（または送
る）か否かを指定する。デフォルトでは、このオプショ
ンはオンである。 -h：このコマンドについてのヘルプ情報を表示又は印刷
する。 注記：このコマンドは、指定されたスキャンパスを読み
出し、バッファに格納する。また、このリングがアンロ
ックされるまで他のスキャン動作が更新できないように
このリングをロックする。ユーザがバッファを読み出す
ことを望まない場合には、単にそれを表すメモリを割り
当てる。すなわち、-data_read offがセットされる。

【００２２】 bput<errors on|off: -h><target_string><value> ロックされたバッファ内のフィールドに値を書き込む。
このコマンドは、「bunlock」または「bscan」が発行さ
れるまで、実際のデータをハードウェアに書き込まな
い。ここで、 target_string＝complex:node:path:device:ring value＝フィールドに配置する１６進値のデータ（例え
ば、0xf1b） -errors on|off：エラーを画面に表示する（または送
る）か否かを指定する。デフォルトでは、このオプショ
ンはオンである。 -h：このコマンドについてのヘルプ情報を表示又は印刷
する。 注記：bputコマンドは、bscanまたはbunlockが実行され
るまで、データをスキャンパスに書き出さない。このコ
マンドは、blockコマンドにより生成されたロックバッ
ファにフィールドを配置する。

【００２３】 bget<-errors on|off: -h><target_string> ロックされたバッファ内のフィールドから値を読み出
す。このコマンドは、ハードウェアから実際のデータを
読み出さない。このコマンドは、ロックされたバッファ
に格納された値を読み出す。ここで、 target_string＝complex:node:path:device:ring -errors on|off：エラーを画面に表示する（または送
る）か否かを指定する。デフォルトでは、このオプショ
ンはオンである。 -h：このコマンドについてのヘルプ情報を表示又は印刷
する。 注記：このコマンドは、blockコマンドにより生成され
たロックバッファからフィールドを読み出して表示す
る。

【００２４】 bunlock<-errors on|off: -h><target_string> ロックされたデータバッファをアンロックし、ロックさ
れたバッファを指定されたスキャンパスに書き出す。こ
こで、 target_string＝complex:node:path:device:ring -errors on|off：エラーを画面に表示する（または送
る）か否かを指定する。デフォルトでは、このオプショ
ンはオンである。 -h：このコマンドについてのヘルプ情報を表示又は印刷
する。 注記：bunlockは、データをスキャンパスに書き出して
スキャンパスをアンロックする。このコマンドは、ロッ
クバッファイメージをそれが読み出された装置に書き戻
す。このコマンドは、次に、リングをアンロックして、
他のスキャン動作がそのリングをアクセスできるように
する。

【００２５】以下のコマンドは、装置レジスタに対して
データを読み書きできるようにする。 ・get complex:note:path:part:ring:field このコマンドは、指定されたフィールドにデータを返
す。 ・put complex:note:path:part:ring:field:value このコマンドは、指定されたスキャンリングを読み出
し、適正なフィールドを更新し、スキャンリングを装置
に書き戻す。 ・ir_put[-w]complex:node:path:part:tap_instruction このコマンドは、指定された命令を指定された部分（pa
rt）の命令リングに書き込む。

【００２６】以下のコマンドは、デフォルト命令および
システムの装置についてのリング値をセット、表示、更
新する。 ・seti part:instruction このコマンドは、所与の部分または装置に使用するため
に、デフォルト命令として命令を格納する。 ・showi part このコマンドは、指定された部分についての現在のデフ
ォルト命令値を表示する。 ・defaulti part このコマンドは、所与の部分についてのデフォルト命令
値をリセットする。デフォルト値は、フィールド入力フ
ァイルの一部として与えられる。 ・setr part:ring このコマンドは、指定された部分にデフォルトリングを
セットする。このデフォルトは、将来のスキャン動作の
ために、情報データベースに格納される。 ・showr part このコマンドは、指定された部分についての現在のデフ
ォルトリング選択を表示する。 ・defaultr part このコマンドは、指定された部分についてのデフォルト
リング選択をリセットする。このデフォルト値は、フィ
ールド入力ファイルの一部として与えられる。

【００２７】次に、提供される機能およびその機能を実
施するための命令のシンタックスについてさらに詳しく
説明する。 get<-i on|off -errors on|off -fieldpath[0-2]-h><ta
rget_string> これは、指定されたフィールドに格納された１６進値を
返す。ここで、 target_string＝complex:node:path:device:ring:field -i on|off：データを読み出す前に、命令書き込みを行
うか否かを指定する。これは、同じ部分について複数の
スキャンが必要となる場合に有用である。デフォルトで
は、このオプションはオンである。 -fieldpath[0-2]：画面上にどれくらいのターゲットス
トリングを表示するかを指定する。

【００２８】 ０：すべての項目および返し値を表示（デフォルト） １：フィールド名および返し値のみを表示 ２：返し値のみを表示 -errors on|off：エラーを画面に表示する（または送
る）か否かを指定する。デフォルトでは、このオプショ
ンはオンである。 -h：このコマンドについてのヘルプ情報を表示又は印刷
する。

【００２９】put<-i on|off -data_read on|off -e[END
_STATE] -errors on|off -h><target_string><value> これは、１６進値をフィールドに書き込む。ここで、 target_string＝complex:node:path:device:ring:field -i on|off：データを読み出す前に、命令書き込みを行
うか否かを指定する。これは、同じ部分に対して複数の
スキャンが必要な場合に有用である。デフォルトでは、
このオプションはオンである。 -data read on|off：データ書き込みを行う前に、デー
タ読み出しを行うか否かを指定する。オフの場合、配置
された値により明示的にセットされていないビットが０
にセットされる。デフォルトでは、このオプションはオ
ンである。このオプションは主に、パスからすでに出た
データの完全性を保護するための、バウンダリリングの
配置に用いられる。 -e[END_STATE]：ユーザが、jtagコントローラ状態マシ
ンを特定の状態に維持できるようにする。デフォルト
は、RUN-TEST-IDLE状態である。他のオプションは、PAU
SE-IRまたはPAUSE_DRである。-eオプションがJTAG_RESE
Tを指定している場合、コマンド実行後、コントローラ
はリセットされる。 -errors on|off：エラーを画面に表示する（または送
る）か否かを指定する。デフォルトでは、このオプショ
ンはオンである。 -fieldpath[0-2]：画面にどれくらいのターゲットスト
リングを表示するかを指定する。

【００３０】 ０：すべての項目および返し値を表示（デフォルト） １：フィールド名および返し値のみを表示 ２：返し値のみを表示 -h：このコマンドについてのヘルプ情報を表示又は印刷
する。

【００３１】 ir_put<-errors on|off -h><target_string><value> これは、１６進値を装置の命令リングに書き込む。ここ
で、 target_string＝complex:node:path:device value＝フィールドに配置する１６進値のデータ（例え
ば、0xf1b） -errors on|off：エラーを画面に表示する（または送
る）か否かを指定する。デフォルトでは、このオプショ
ンはオンである。 -h：このコマンドについてのヘルプ情報を表示又は印刷
する。

【００３２】 ir_get<-errors on|off -h><target_string><value> これは、指定された装置の命令リングを読み出す（監視
ビットを戻すことができる）。ここで、 target_string＝complex:node:path:device -errors on|off：エラーを画面に表示する（または送
る）か否かを指定する。デフォルトでは、このオプショ
ンはオンである。 -h：このコマンドについてのヘルプ情報を表示又は印刷
する。

【００３３】block<-data_read on|off -errors on|off
-h><target_string> これは、操作のため、テストステーションメモリにおい
て指定されたバッファをロックする。ここで、 target_string＝complex:node:path:device:ring -errors on|off：エラーを画面に表示する（または送
る）か否かを指定する。デフォルトでは、このオプショ
ンはオンである。 -h：このコマンドについてのヘルプ情報を表示又は印刷
する。 <-data_read on|off -errors on|off:データ書き込みを
行う前に、データ読み出しを行うか否かを指定する。オ
フの場合、配置された値により明示的にセットされてい
ないビットが０にセットされる。デフォルトでは、この
オプションはオンである。このオプションは主に、パス
からすでに出たデータの完全性を保護するための、バウ
ンダリリングの配置に用いられる。 -errors on|off：エラーを画面に表示する（または送
る）か否かを指定する。デフォルトでは、このオプショ
ンはオンである。 -h：このコマンドについてのヘルプ情報を表示又は印刷
する。 注記：１つのみのリングを指定することができる。bloc
kは、スキャンパス上の各装置からの１つのリングにお
いて読み出すため、リングトークンにおいて、ワイルド
カードはサポートされない。パス上の２つ以上のリング
を指定する必要がある場合には、setiまたはsetrを用い
て実施しなければならない。

【００３４】 bscan<-errors on|off: -h><target_string> これは、ロックされたバッファを指定されたスキャンパ
スに書き込むが、バッファをアンロックしない。ここ
で、 target_string＝complex:node:path:device:ring -errors on|off：エラーを画面に表示する（または送
る）か否かを指定する。デフォルトでは、このオプショ
ンはオンである。 -h：このコマンドについてのヘルプ情報を表示又は印刷
する。 注記：bscanは、データをスキャンパスに書き出すが、
スキャンパスをアンロックしない。

【００３５】 bcancel<-errors on|off -h><target_string> これは、ロックされたバッファをアンロックし、データ
を指定されたスキャンパスに書き出さない。ここで、 target_string＝complex:node:path:device:ring -errors on|off：エラーを画面に表示する（または送
る）か否かを指定する。デフォルトでは、このオプショ
ンはオンである。 -h：このコマンドについてのヘルプ情報を表示又は印刷
する。 注記：bcancelは、データをスキャンパスに書き出すこ
となく、パス上で先に行われたバッファ動作をすべてキ
ャンセルする。

【００３６】 binfo<-errors on|off: -h><target_string> これは、ロックされたバッファについての情報を報告す
る。ここで、 target_string＝complex:node:path:device:ring -errors on|off：エラーを画面に表示する（または送
る）か否かを指定する。デフォルトでは、このオプショ
ンはオンである。 -h:このコマンドについてのヘルプ情報を表示又は印刷
する。 注記：binfoは、装置および指定されたスキャンパスに
おいてロックされたリングについての情報を示す。

【００３７】 seti<-errors on|off: -h><target_string><value> これは、装置のデフォルト命令値を特定の１６進値にセ
ットする。ここで、 target_string＝complex:node:path:device:ring value＝この装置に使用されることになる命令モード
（例えば、0x02） -errors on|off：エラーを画面に表示する（または送
る）か否かを指定する。デフォルトでは、このオプショ
ンはオンである。 -h：このコマンドについてのヘルプ情報を表示又は印刷
する。

【００３８】 showi<-errors on|off -h><target_string> これは、装置のデフォルト命令値を示す。ここで、 target_string＝complex:node:path:device -errors on|off：エラーを画面に表示する（または送
る）か否かを指定する。デフォルトでは、このオプショ
ンはオンである。 -h：このコマンドについてのヘルプ情報を表示又は印刷
する。

【００３９】 defaulti<-errors on|off: -h><target_string> これは、装置をデフォルト命令値（BYPASS）にリセット
する。ここで、 target_string＝complex:node:path:device -errors on|off：エラーを画面に表示する（または送
る）か否かを指定する。デフォルトでは、このオプショ
ンはオンである。 -h：このコマンドについてのヘルプ情報を表示又は印刷
する。 注記：装置の命令モードをデフォルト値（通常、BYPAS
S）にリセットする。

【００４０】 setr<-errors on|off： -h><target_string> これは、指定された装置のデフォルト命令リングをセッ
トする。ここで、 target_string＝complex:node:path:device:ring -errors on|off：エラーを画面に表示する（または送
る）か否かを指定する。デフォルトでは、このオプショ
ンはオンである。 -h：このコマンドについてのヘルプ情報を表示又は印刷
する。 注記：これは、装置の命令ノードをリングによって指定
されるものにセットする。

【００４１】 showr<-errors on|off: -h><target_string> これは、指定された装置のデフォルト命令リングをセッ
トする。ここで、 target_string＝complex:node:path:device:ring -errors on|off：エラーを画面に表示する（または送
る）か否かを指定する。デフォルトでは、このオプショ
ンはオンである。 -h：このコマンドについてのヘルプ情報を表示又は印刷
する。

【００４２】 defaultr<-errors on|off: -h><target_string> これは、装置をデフォルト命令リング（BYPASS）にリセ
ットする。ここで、 target_string＝complex:node:path:device -errors on|off：エラーを画面に表示する（または送
る）か否かを指定する。デフォルトでは、このオプショ
ンはオンである。 -h：このコマンドについてのヘルプ情報を表示又は印刷
する。 注記：これは、装置の命令モードをデフォルト値（通
常、BYPASS）にリセットする。

【００４３】 list<-fieldpath[0|1] -h <target_string> これは、指定されたリングにおけるフィールドを列挙す
る。ここで、 target_string＝complex:node:path:device -fieldpath[0|1]：どれくらいのターゲットストリング
を画面に表示するかを指定する。

【００４４】 ０：すべての項目を表示（デフォルト） １：フィールド名のみ表示 -h：このコマンドについてのヘルプ情報を表示又は印刷
する。 注記：listは、指定されたリングにおけるすべてのフィ
ールドを表示又は印刷する。

【００４５】本発明およびその利点について詳細に説明
したが、特許請求の範囲により画定される本発明の思想
および範囲から逸脱せずに、各種変更、置換、および代
替を行いうることは明らかである。さらに、本発明の範
囲は、本明細書に記載のプロセス、マシン、製作、物質
の組成、手段、方法、およびステップの特定の実施形態
に限定されるものではない。当業者であれば本発明の開
示から容易に理解することであるが、本明細書に記載の
対応する実施形態と実質的に同じ機能を実現するか、ま
たは実質的に同じ結果を達成する、既存のまたは後に開
発されるプロセス、マシン、製造、物質の組成、手段、
方法、およびステップを、本発明に従って利用すること
ができる。したがって、特許請求の範囲には、かかるプ
ロセス、マシン、製造、物質の組成、手段、方法、また
はステップが含まれる。

【００４６】以下においては、本発明の種々の構成要件
の組み合わせからなる例示的な実施態様を示す。 １．スキャンしたデータを複数のリング（２５）に注入
するための方法であって、該リング（２５）はそれぞ
れ、異なるシステム装置（４０Ａ、４０Ｂ、４０Ｃ）に
配置され、かつ、１つまたは複数のステータスレジスタ
（４５）を備え、該ステータスレジスタ（４５）はそれ
ぞれ、１つまたは複数のデータベース（１３０）フィー
ルドに対応し、前記複数の装置（４０Ａ、４０Ｂ、４０
Ｃ）はスキャンパスを含み、前記リング（２５）はそれ
ぞれ、複数の可能なリングから選択されるようになって
おり、１つまたは複数のフィールドを有する前記データ
ベース（１３０）からの１つまたは複数のフィールドを
組み合わせることにより、指定されたスキャンパスから
ユーティリティバッファ（１６０）を構成するステップ
と、所望のスキャンパスにおいて指定された前記複数の
同様な装置（４０Ａ、４０Ｂ、４０Ｃ）の各々について
指定された１つのリング（２５）をロックするステップ
と、前記複数の同様な装置（４０Ａ、４０Ｂ、４０Ｃ）
のそれぞれに対応する１つまたは複数の同一フィールド
に、所望の値を同時に書き込めるようにするステップ
と、前記ユーティリティバッファ（１６０）を、前記複
数の同様な装置（４０Ａ、４０Ｂ、４０Ｃ）のそれぞれ
における１つのリングの１つまたは複数の介在するステ
ータスレジスタ（４５）に書き戻して、前記ユーティリ
ティバッファ（１６０）のフィールドに読み込むため
に、前記ステータスレジスタ（４５）内のデータをスキ
ャンアウトできるようにするステップを含む、方法。 ２．前記読み込まれたスキャンデータを評価して、前記
複数の同様な装置（４０Ａ、４０Ｂ、４０Ｃ）のそれぞ
れから１つのリング（２５）を評価するステップをさら
に含む、上項１の方法。 ３．前記１つのリング（２５）は、前記複数の同様な装
置（４０Ａ、４０Ｂ、４０Ｃ）それぞれについて異なる
リングである、上項１の方法。 ４．前記構成するステップは、ターゲットのストリング
（ターゲットストリング）を用いて、前記１つまたは複
数のフィールドにおける１つまたは複数のビットにアク
セスするステップを含む、上項１の方法。 ５．前記ステップは、単一のスキャン動作により達成さ
れる、上項１の方法。 ６．前記指定されたリング（２５）は、複合体、ノー
ド、パス、装置、リング、およびフィールドを識別す
る、上項４の方法。 ７．前記スキャンパスは、バッファ指向コマンドセット
によって指定される、上項５の方法。 ８．複数の装置における所望のスキャンパスをテストす
るための方法であって、前記スキャンパスは、前記複数
の装置（４０Ａ、４０Ｂ、４０Ｃ）それぞれからの１つ
のリング（２５）を有し、各リングは、介在するステー
タスレジスタを有しており、前記ステータスレジスタに
注入するテストデータを、前記ステータスレジスタに対
応する１つまたは複数のフィールドを有するユーティリ
ティバッファ（１６０）に書き込むステップと、前記テ
ストデータを前記ステータスレジスタに注入するステッ
プであって、前記テストデータは、前記１つまたは複数
のフィールドから前記ステータスレジスタ内にスキャン
される、ステップと、前記テストデータを前記ステータ
スレジスタから読み出すステップであって、前記テスト
データは、前記ステータスレジスタから前記１つまたは
複数のフィールド内にスキャンされる、ステップを含
む、方法。 ９．前記読み出されたテストデータを評価して、リング
（２５）を評価するステップをさらに含む、上項８の方
法。 １０．前記注入するステップは、単一のスキャンにより
達成される、上項８の方法。

【００４７】本発明の概要を以下に述べる。複数の装置
40A,40B,40Cにおける所望のスキャンチェーンをテストするためのユー
ティリティシステム100及び方法を提供する。システムは、スキャンチェーンの
1つ以上のステータスレシ゛スタに対応するフィールト゛を生成するため
のフィールト゛オフ゛シ゛ェクトモテ゛ルを有するテ゛ータヘ゛ース130を備える。ス
キャンチェーンは、複数の装置の各々からの1つのリンク゛を備えて
おり、各リンク゛25はスキャンチェーンをテストするための1つ以上の介
在するステータスレシ゛スタを有する。ユーティリティエンシ゛ン120は、フィールト
゛からユーティリティハ゛ッファ160を構成するためにテ゛ータヘ゛ース130に
動作可能に接続されており、ハ゛ッファは、所望のスキャンチェーン
用に構成され、スキャンチェーンからのステータスレシ゛スタに対応するフィ
ールト゛を有している。システムは、ユーティリティハ゛ッファからの単一の
スキャンテ゛ータをスキャンチェーンに注入するために、スキャンチェーンに動作
可能に接続される。スキャンテ゛ータを、複数の装置の各々から
１つの同様のまたは異なるリンク゛に介在する1つ以上のステー
タスレシ゛スタに対応する1つ以上のフィールト゛に注入するための方
法が提供される。スキャンテ゛ータを注入する動作には、1つ以
上のフィールト゛を有するテ゛ータヘ゛ースからの1つ以上のフィールト゛を
組み合わせることによって指定されたスキャンハ゜スからユーティリ
ティハ゛ッファを構成することが含まれる。スキャンテ゛ータを注入す
るために、リンク゛は、所望のスキャンハ゜スについて指定された
複数の装置の各々においてロックされる。この注入方法に
よれば、複数の装置の各々に対応する1つ以上の同じフィー
ルト゛に所望の値を同時に書き込むことができる。また、
複数の装置の各々における1つのリンク゛の1つ以上の介在す
るステータスレシ゛スタにユーティリティハ゛ッファを書き戻して、ユーティリティハ゛ッ
ファのフィールト゛に読み出すために、ステータスレシ゛スタ内のテ゛ータをスキ
ャンアウトすることが可能となる。最後に、読み出されたスキャ
ンテ゛ータを評価して1つのリンク゛を評価することができる。

【００４８】

【発明の効果】本発明によれば、バウンダリスキャンに
おいて、単一スキャン動作で複数の装置における異なる
リングにデータを書き込むことができるので、システム
動作の診断を容易かつ適正に実施することができるよう
になる。

【図面の簡単な説明】

【図１】それぞれが複数のリングを有する、スキャンチ
ェーンにおける装置の図である。

【図２】本発明の一実施形態を示す図である。

【図３】本発明によるデータベース階層構造の一実施形
態を示す図である。

【図４Ａ】スキャンリングにおけるステータスレジスタ
をユーザアクセス可能フィールドにマッピングするため
に使用される、フィールドマップファイルの一実施形態
の一部を示す図である。

【図４Ｂ】図４Ａのフィールドマップファイルの一実施
形態の残りの部分を示す図である。

【符号の説明】 ２５ リング ４０Ａ、４０Ｂ、４０Ｃ 装置 ４５ ステータスレジスタ １２０ ユーティリティエンジン １３０ データベース １６０ ユーティリティバッファ

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】スキャンしたデータを複数のリング（２
   ５）に注入するための方法であって、該リング（２５）
   はそれぞれ、異なるシステム装置（４０Ａ、４０Ｂ、４
   ０Ｃ）に配置され、かつ、１つまたは複数のステータス
   レジスタ（４５）を備え、該ステータスレジスタ（４
   ５）はそれぞれ、１つまたは複数のデータベース（１３
   ０）フィールドに対応し、前記複数の装置（４０Ａ、４
   ０Ｂ、４０Ｃ）はスキャンパスを含み、前記リング（２
   ５）はそれぞれ、複数の可能なリングから選択されるよ
   うになっており、 １つまたは複数のフィールドを有する前記データベース
   （１３０）からの１つまたは複数のフィールドを組み合
   わせることにより、指定されたスキャンパスからユーテ
   ィリティバッファ（１６０）を構成するステップと、 所望のスキャンパスにおいて指定された前記複数の同様
   な装置（４０Ａ、４０Ｂ、４０Ｃ）の各々について指定
   された１つのリング（２５）をロックするステップと、 前記複数の同様な装置（４０Ａ、４０Ｂ、４０Ｃ）のそ
   れぞれに対応する１つまたは複数の同一フィールドに、
   所望の値を同時に書き込めるようにするステップと、 前記ユーティリティバッファ（１６０）を、前記複数の
   同様な装置（４０Ａ、４０Ｂ、４０Ｃ）のそれぞれにお
   ける１つのリングの１つまたは複数の介在するステータ
   スレジスタ（４５）に書き戻して、前記ユーティリティ
   バッファ（１６０）のフィールドに読み込むために、前
   記ステータスレジスタ（４５）内のデータをスキャンア
   ウトできるようにするステップを含む、方法。