EP3570054B1 - Jtag-schnittstellen zur steuerung der ansteuervorrichtung von leuchtmitteln einer leuchtkette - Google Patents

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EP3570054B1
EP3570054B1 EP19179302.5A EP19179302A EP3570054B1 EP 3570054 B1 EP3570054 B1 EP 3570054B1 EP 19179302 A EP19179302 A EP 19179302A EP 3570054 B1 EP3570054 B1 EP 3570054B1
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EP
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bus
bus node
register
data
wire data
Prior art date
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EP3570054A1 (de
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Christian Schmitz
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Elmos Semiconductor SE
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Elmos Semiconductor SE
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Publication date
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Priority claimed from DE102016100842.7A external-priority patent/DE102016100842B3/de
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Priority claimed from DE102016101181.9A external-priority patent/DE102016101181B3/de
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/3181—Functional testing
    • G01R31/3185—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
    • G01R31/318533—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
    • G01R31/318555—Control logic
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B47/00—Circuit arrangements for operating light sources in general, i.e. where the type of light source is not relevant
    • H05B47/10—Controlling the light source
    • H05B47/175—Controlling the light source by remote control
    • H05B47/18—Controlling the light source by remote control via data-bus transmission

Definitions

  • the invention relates to a method for data transmission on a data bus.
  • LEDs light-emitting diodes
  • PWM pulse width modulation
  • PCM pulse code modulation
  • PCM pulse count modulation
  • POM phase offset modulation
  • PDM pulse Density modulation
  • PFM pulse frequency modulation
  • the LED can be adjusted in terms of brightness and possibly also to a certain extent in terms of color temperature.
  • the duty cycle and the level determine the brightness appearance and the perceived color temperature.
  • the LEDs of the light strip are usually evenly distributed over the length of the light strip.
  • bus nodes In the prior art, it is usual to use a plurality of integrated circuits, which are located more or less evenly distributed on the light strip as bus nodes, for driving the LEDs.
  • Each bus node is typically assigned a number of light sources, preferably LEDs, which are then each controlled by a bus node.
  • This activation takes place for the individual integrated circuit for an individual LED or for a plurality of LEDs typically arranged one behind the other on the light strip, ie for a light strip section which is associated with this integrated circuit.
  • each of these integrated circuits with a shift register having an input and an output.
  • the input of a subsequent shift register of an integrated circuit that follows on the light strip is connected to the output of the shift register of the integrated circuit that precedes it on the light strip.
  • the first integrated circuit of the light strip is connected to a bus master (BM) instead of to a preceding integrated circuit, which generates the data and the shift clock.
  • the bus master (BM) is typically a microcontroller.
  • the bus master uses a clock line to supply all shift register segments of all integrated circuits along a correspondingly composed shift register chain with the necessary shift clock and a transfer signal with which the current values in the segments of the shift register chain are loaded into shadow registers of the integrated circuits, which control PWM generation.
  • the bus master In order to transmit the required information, the bus master (BM) generates a serial data stream that contains the information about brightness and/or color temperature, shifts this into the shift register chain in the correct bit order and signals the integrated circuits with the correct clock the takeover, whereupon they load their shadow registers accordingly and set the PWM modulation of the LED drivers with regard to amplitude and duty cycle or fill factor according to the loaded brightness and color temperature values.
  • the procedure known from the prior art and the arrangement known from the prior art for controlling such a light strip requires a supply voltage line, a ground line, a clock line, a signaling line and a data line, ie a total of five lines.
  • the body of the car can be used as a ground wire if it is not made of non-conductive plastic or another insulator. There then still remains the need for four lines. This leads to expense and weight gain.
  • a solution is therefore required that enables the programming and reading of the integrated circuits via a single data line.
  • the JTAG protocol is known from the prior art.
  • the JTAG protocol has become one of the leading tools for programming, testing, debugging and emulating integrated circuits.
  • a host processor can monitor the state of an integrated circuit.
  • the host processor as the bus master, is able via a special interface, the JTAG interface according to the IEEE 1149 standard, to program the integrated circuit as a bus node in a suitable manner and, if necessary, to initialize it.
  • the host processor as a bus master is able to read the state of the integrated circuit after a predetermined number of system clock periods of the JTAG interface according to the IEEE 1149 standard or upon detection of a predetermined event or during operation of the integrated circuit, ie of the bus node. This also includes stopping the integrated circuit or forcing it to change to other states or changing memory contents.
  • the JTAG protocol is a point-to-point connection and therefore unsuitable for controlling automotive light strips.
  • EP-B-0 503 117 chaining of JTAG test interfaces has been known for a long time. However, this document discloses the chaining of four-wire JTAG interfaces. The known interface therefore does not meet the requirement for driving automotive LED-based light strips by a single-wire data bus.
  • the JTAG protocol according to the IEEE 1149 standard includes five signal groups in the basic standard, which are exchanged between the emulation unit, which contains the host processor and thus acts as the bus master, and the integrated circuit as a slave, im
  • each referred to as a bus node can be exchanged.
  • the TCK signal represents the system clock and time synchronizes the internal state machine of the test controller (TAPC) of the JTAG test interface according to the IEEE 1149 standard of the integrated circuit.
  • the TMS signal controls the state of this test controller (TAPC) of the bus node's JTAG interface.
  • TAPC test controller
  • the JTAG test interface of the bus node carries out different operations.
  • the TDI input represents a serial data input.
  • the TDo output represents a serial data output.
  • Both the TMS and TDI inputs are typically (but not necessarily) sampled on the TCK rising edge.
  • the data output (TDo) typically also changes its date with the falling edge of the TCK signal.
  • the TCK, TMS and TDI individual signals form the test data input signals. In the context of the invention, they form the data input signals.
  • the TDo signal represents the output signal.
  • the data is serially transferred via the serial data input TDI into various shift register chains, so-called scan -Paths shifted into the integrated circuit as bus nodes.
  • the original content of the relevant scan chain is output at the serial data output (TDo).
  • state vectors of finite state machines within the bus node can be part of the scan chain. It is thus easily possible to change the contents and states or to check these contents and states of the memory cells of the scan chains via this interface in the prior art. Reference is again made here to the specialist literature.
  • TLR reset test logic
  • test controller If the test mode signal (TMS) shows a 1 again the next time, the test controller (TAPC) then switches to the "Start instruction register shifting" (SIRS) state. If there is also a 1 on the test mode signal (TMS) with the next clock pulse, the test controller (TAPC) changes back to the "Reset test logic” (TLR) state and resets the data interface logic.
  • SIRS Start instruction register shifting
  • the test controller changes to the "Instruction register data load” (CIR) in which the data available in an instruction shadow register is loaded into the instruction register (IR).
  • the instruction register (IR) is a two-stage register, in which the foreground is formed by a shift register and the actual data are in a shadow register that is only read in this state.
  • the shift register of the instruction register (IR) is used to move the data in and out, while the shadow register of the instruction register (IR) contains the actual, valid data.
  • This two-stage arrangement applies to all Registers, in particular also for the data registers (DR) of the JTAG interface and also for the registers of the interface according to the invention described below.
  • the shadow register of the instruction register (IR) can still be completely or partially divided into one for read and one for write operations Further changes in visibility and accessibility depending on internal states are possible. If a 1 is present in the "Load instruction register data" (CIR) state at the next cycle of the test mode signal (TMS), the test controller (TAPC) changes directly to the "Instruction Register Exit 1" (EIR1) state described later.
  • the test controller changes to the "Move Instruction Register” (SIR) state, in which it remains as long as a 0 is present at the test mode signal (TMS). Only in this state is the shift register of the instruction register (IR) operated in the function of a shift register and its data content is shifted by one bit with each cycle of the system clock (TCK) in the direction of the serial data output (TDI), with which the last memory cell of the shift register of the instruction register (IR).
  • TMS test mode signal
  • the data information present at the data input (TDI) is loaded into the first cell of the shift register of the instruction register (IR) with each cycle of the system clock (TCK) and is forwarded from there during the shift with every further cycle.
  • the test controller (TAPC) exits the "Move Instruction Register” (SIR) state and changes to the previously mentioned “Instruction Register Exit 1" (EIR1) state.
  • the test controller (TAPC) changes to the "write instruction register” (UIR2) state, in which the value of the shift register part of the instruction register (IR) is written to the shadow register of the instruction register (IR ) is written.
  • the test controller (TAPC) changes to the "Pause Instruction Register” (PIR) state, where it remains for as long a 0 is present as the test mode signal (TMS). If there is a 1 on the test mode signal (TMS) in the "Pause Instruction Register” (PIR) state, the test controller (TAPC) changes to the "Instruction Register Exit 2" (EIR2) state. If a 0 is present on the test mode signal (TMS) with the next system clock (TCK), the test controller (TAPC) changes back to the "shift instruction register” state already described. (SIR) back.
  • test controller changes to the "Write Instruction Register” state (UIR2 ).
  • SDRS Start data register shift
  • the test controller changes to the "Load data register data” (CDR) state, in which the data that are available in a data shadow register are loaded into the respective data register (DR). At least some of the valid bits of the shadow register of the data register (DR) determine which data register (DR) is selected from a plurality of data registers.
  • the data register (DR) is typically a two-stage register in which the foreground is formed by a shift register and the actual data is in a shadow register that is only read in this state.
  • the shift register of the data register (DR) is also used here to supply and remove the data, while the shadow register of the data register (DR) contains the actual data.
  • this two-stage structure applies to all registers of the JTAG interface, including the registers of the interface according to the invention described below, which are designed as data registers (DR) as standard.
  • the shadow register of the data register (DR) can again be completely or partially divided into one for read and one for write operations. Further visibility and accessibility changes depending on internal states are also possible here. If a 1 is present in the "Load data register data" (CDR) state at the next cycle of the test mode signal (TMS), the test controller (TAPC) changes directly to the "Data register exit 1" (EDR1) state described later.
  • the test controller changes to the "shift data register” (SDR) state, in which it remains as long as a 0 is present at the test mode signal (TMS). Only in this state and not otherwise is the shift register of the data register (DR) operated in the function of a shift register and its data content is shifted by one bit with each cycle of the system clock (TCK) in the direction of the serial data output (TDI), with which the last Memory cell of the shift register of the data register (DR) is connected. The shadow register of the data register (DR) is not subjected to this shift.
  • SDR shift data register
  • TMS test mode signal
  • the data information present at the data input (TDI) is loaded into the first cell of the shift register of the data register (DR) with each cycle of the system clock (TCK) and is forwarded from there during the shift with every further cycle.
  • TMS test mode signal
  • the test controller (TAPC) exits the "shift data register” (SDR) state and changes to the state already mentioned “Data Register Exit 1" (EDR1).
  • EDR1 Data Register Exit 1
  • the test controller (TAPC) changes to the "Write data register” (UIR2) state, in which the value of the shift register part of the data register (DR) is written to the shadow register of the data register (DR) is written.
  • the test controller (TAPC) changes to the "Pause data register” (PDR) state, in which it remains as long as a 0 is present as the test mode signal (TMS). If a 1 is present as the test mode signal (TMS) in the "Pause data register” (PDR) state, the test controller (TAPC) changes to the "Data register exit 2" (EDR2) state. If a 0 is present as the test mode signal (TMS) with the next system clock (TCK), the test controller (TAPC) changes back to the "shift data register” (SDR) state already described.
  • test controller changes to the "Write data register” state (UDR2 ).
  • SDRS Start data register shifting
  • the TDo output driver of the bus node and the bus master output driver (typically a push-pull stage) can create a short circuit with simultaneous sending access to the test data line .
  • the TDo output driver of the bus node and the bus master output driver typically a push-pull stage
  • the object of the invention is to enable bidirectional, freely configurable transmission of lighting data with just one data line for more than one bus node (BS1, BS2, BS3) as a slave of a bus master (BM).
  • BS1, BS2, BS3 bus node
  • a single-wire test bus such as that with the associated operating method, for example in the documents DE-B-10 2015 004 434 , DE-B-10 2015 004 433 , DE-B-10 2015 004 435 and DE-B-10 2015 004 436 is described, is particularly suitable for the transmission of such data, in particular for controlling the lighting means of light strips, if each bus node has a suitable sub-device for bidirectional switching.
  • test bus designed only for a point-to-point connection. According to the invention, this test bus is now to be modified in such a way that a number of bus slaves can be controlled and operated as bus nodes.
  • the control data are in this case according to the invention written to or read from a special data register (DR) of a JTAG interface.
  • the invention includes a method for initializing a single-wire data bus as described here and arranged between a first sub-device (the bus master (BM)) and at least two other sub-devices (the bus nodes (BS1, BS2, BS3)).
  • the data bus has a reference potential line (GND) with a reference potential (V 0 ) and a single-wire data bus (b1,b2,b3) which, through the bus master (BM) and the at least two bus nodes, is divided into at least two single-wire data bus sections (b1,b2 , b3) and is terminated by at least one of the bus nodes (BS1, BS2, BS3) (the terminating bus node (BS3)).
  • the method according to the invention comprises the provision of a new bus node address by the bus master. This can be done, for example, by simply incrementing an internal value in the bus master.
  • this bus node address is stored in a bus node address register (BKADR) of a bus node (BS1, BS2, BS3) (the bus node under consideration) by the bus master (BM).
  • the bus master (BM) and the bus node under consideration are connected to one another in terms of data by one or more single-wire data bus sections (b1, b2, b3).
  • the bus node address register (BKADR) is preferably implemented as an independent data register (DR) in the bus node.
  • the JATG interface in the sense of this invention is characterized in that it includes a test controller (TAPC) with a state diagram according to the IEEE 1149 standard or one of its sub-standard as related to 1 explained, has.
  • the third step after this bus node address assignment is to connect the one or more single-wire data bus sections (b1,b2,b3) already connected to the bus node under consideration and the bus mater (BM) to one or more other single-wire data bus sections (b1,b2,b3), and namely by closing the transfer gate (TG) of the considered bus node.
  • bus node address register BKADR
  • BS1, BS2, BS3 bus node address register
  • one embodiment of the method according to the invention includes storing an instruction for opening a transfer gate (TG) in the instruction register (IR) or a transfer gate control register (TGCR) of the JTAG interface of the bus node under consideration. This allows the bus master (BM) to reinitialize the bus at any time.
  • the transfer gate control register (TGCR) is preferably used for this and addressed with an identical instruction in the instruction register (IR).
  • a further embodiment of the method according to the invention comprises, as a further step, checking the correct addressing of at least one bus node by cyclic writing and reading, in particular of a bypass register.
  • a further embodiment of the method according to the invention comprises, as a further step, the determination of the number of correctly addressable bus nodes by the bus master (BM).
  • the number of correctly addressable bus nodes is then compared with a target number and at least one signal or a measure is triggered or initiated by the bus master or a connected system as a function of the number.
  • a further embodiment of the method according to the invention comprises, as a further step, the simultaneous transmission of a transmission address to all accessible bus nodes by writing this transmission address to transmission registers (SR) of all bus nodes by the bus master (BM), the transmission register (SR) of the respective bus node being on data register or part of a data register or part of the instruction register (IR) of the JTAG interface of this bus node, and the bus node address register (BKADR) is not part of the relevant register.
  • the second step is the comparison of the transmission address in the transmission register (SR) with the bus node address in the bus node address register (BKADR) by each bus node using a predetermined comparison algorithm. It is preferably checked for equality. However, other algorithms are conceivable.
  • the third step is either the activation of the transmission capability for the respective bus node at the designated times if the comparison algorithm of the comparison previously carried out by this respective bus node is sufficiently consistent with the combination expected for the transmission permission from the bus node address stored in its bus node address register (BKADR). and the transmission address stored in its transmission register (SR), or as an alternative third step, the ability to transmit is deactivated for the respective bus node if the comparison algorithm of the comparison previously carried out by this respective bus node does not sufficiently match the combination expected for the transmission permission the bus node address stored in its bus node address register (BKADR) and the transmission address stored in its transmission register (SR).
  • BKADR bus node address register
  • SR transmission address stored in its transmission register
  • the transmission of a command or data to a previously unaddressed bus node begins as before with the simultaneous transmission of a send address to all accessible bus nodes by writing the send register (SR) of all bus nodes by the bus master (BM) with this send address.
  • the respective transmission register (SR) of the bus node under consideration is a data register or part of a data register or part of the instruction register (IR) of the JTAG interface of this bus node.
  • the bus node address register (BKADR) must not be part of the relevant register.
  • the transmission address in the transmission register (SR) is again compared with the bus node address in the bus node address register (BKADR) by each bus node using the said comparison algorithm.
  • the ability of the respective bus node to receive the content of a predetermined data register of the respective bus node is activated if the comparison algorithm of the comparison previously carried out by this respective bus node sufficiently matches the combination expected for the transmission permission from the bus node address stored in its bus node address register (BKADR). and the transmission address stored in its transmission register (SR).
  • the deactivation of the ability to receive the respective bus node for the content of a predetermined data register of the respective bus node follows the ability to send for the respective bus node if the comparison algorithm of the comparison previously carried out by this respective bus node does not sufficiently match the combination expected for the transmission permission the bus node address stored in its bus node address register (BKADR) and the transmission address stored in its transmission register (SR).
  • the corresponding procedure begins with the simultaneous transmission of a transmit address to all accessible bus nodes by writing to the transmit register (SR) of all bus nodes on the part of the bus master (BM) with this transmission address, the transmission register (SR) of a respective bus node being a data register or is part of a data register or part of the instruction register (IR) of the JTAG interface of this bus node, and the bus node address register (BKADR) is not part of the relevant register.
  • the transmission address in the transmission register (SR) is again compared with the bus node address in the bus node address register (BKADR) by each bus node using the said comparison algorithm.
  • the ability to receive the respective bus node for the content of predetermined contents of the instruction register (IR) of the respective bus node to allow predetermined commands for an instruction decoder (IRDC) of the JTAG interface of the respective bus node is activated if the comparison algorithm of the previously carried out the comparison carried out in this respective bus node yields sufficient agreement with the combination expected for the transmission permission from the bus node address stored in its bus node address register (BKADR) and the transmission address stored in its transmission register (SR).
  • the ability of the respective bus node to receive the content of predetermined contents of the instruction register (IR) of the respective bus node is deactivated to suppress predetermined commands for an instruction decoder (IRDC) of the JTAG interface of the respective bus node if the comparison algorithm of the previously used by this respective Bus node performed comparison does not result in sufficient agreement with the combination expected for the transmission permission from the bus node address stored in its bus node address register (BKADR) and the transmission address stored in its transmission register (SR).
  • a bidirectional data bus can be used, which is arranged between a first sub-device, the bus master (BM), and at least two further sub-devices, the bus nodes.
  • the bus node is identical to the previously mentioned integrated circuit for controlling lamps by means of PWM in the broadest sense, the states of which are to be checked or changed.
  • the bidirectional data bus is also suitable for controlling other consumers of electrical energy.
  • This bidirectional data bus preferably has only one ground line (GND) and a single data line in the form of a single-wire data bus (b1, b2, b3), which is divided into different single-wire data bus sections (b1, b2, b3) by the bus nodes (BS1, BS2, BS3). becomes.
  • bus nodes each require only two individual additional electrical connections.
  • bus node under consideration In order to be able to send data to one of the bus nodes, hereinafter referred to as "bus node under consideration", and to be able to read data out of the bus node under consideration, the data can be transmitted bidirectionally via the single-wire data bus (b1,b2,b3).
  • a synchronization signal must also be transmitted.
  • the system clock is additionally transmitted via the single-wire data bus (b1, b2, b3) by a clock signal, the TCK signal, in particular from the bus master to the bus node.
  • the bus nodes have a first device that levels the level on the single-wire data bus (b1, b2, b3) or on a connected single-wire data bus section (b1, b2, b3) of the single-wire data bus (b1, b2, b3) with a compares the first threshold.
  • a first device that levels the level on the single-wire data bus (b1, b2, b3) or on a connected single-wire data bus section (b1, b2, b3) of the single-wire data bus (b1, b2, b3) with a compares the first threshold.
  • An implementation of this first device in the form of a first comparator (C 2H ), which compares said level with that of a first threshold value signal (V 2H ), is preferred.
  • the bus node also has a second device that measures the signal level in the form of a signal voltage on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or on a connected single-wire data bus section (b1,b2,b3) of the single-wire data bus (b1,b2,b3). compares to a second threshold.
  • a second comparator C 2L
  • C 2L second comparator
  • V 2L the first threshold value (V 2H ) differs from the second threshold value (V 2L ) and if the threshold values are within the supply voltage range, these two threshold values (V 2H ,V 2L ) define three voltage ranges (V B1 , V B2 , V B3 ). and fixed.
  • the first and second comparators (C 2H , C 2L ) on the bus node side measure the voltage range (V B1 , V B2 , V B3 ) in which the single-wire data bus (b1,b2,b3) or the bus node in question is connected
  • One-wire data bus section (b1,b2,b3) of the one-wire data bus (b1,b2,b3) is straight.
  • the first and second threshold values thus define the said three signal voltage ranges (V B1 , V B2 , V B3 ) between the operating voltage (V IO ) and the reference potential (V 0 ) of the reference potential line (GND).
  • the middle voltage range is named as the second voltage range (V B2 ).
  • first voltage range (V B1 ) This is limited upwards or downwards by a first voltage range (V B1 ). It is deliberately left open as to whether the first voltage range (V B1 ) is a voltage range with more positive or negative voltages than the voltages in the middle, second voltage range (V B2 ), since the system also works with reversed voltage polarities. At the same time, the second voltage range (V B2 ) is correspondingly limited towards the other voltage side, ie up or down, but the other way around than in the first voltage range (V B1 ) by a third voltage range (V B3 ).
  • the bus master (BM ) In order to transmit the data from the bus master (BM), i.e. the host processor, to a bus node (BS1,BS2,BS3), the bus master (BM ) or the considered bus node (BS1,BS2,BS3) data via the single-wire data bus (b1,b2,b3) or the single-wire data bus section (b1,b2,b3) of the single-wire data bus (b1,b2 ,b3) transferred.
  • Which bus node (BS1, BS2, BS3) is authorized to transmit is determined by the time position of the respective time slot (TIN0, TIN1, TDO) and by the content of the bus node address register (BKADR) of the bus node and by the bus master (BM) previously transmitted transmission address.
  • the bus master (BM) is typically assigned two time slots (TINO, TIN 1) and the bus node under consideration (BS1, BS2, BS3) is typically assigned one time slot (TDO).
  • Which of the bus nodes (BS1, BS2, BS3) is (are) allowed to send is advantageously determined by data, namely the send address of the bus node (BS1, BS2, BS3) under consideration, which the bus master has stored in all send registers (SR) of all accessible bus nodes, their single-wire data bus sections just enable a connection to the bus master (BM), transmitted and stored at the same time.
  • All bus nodes compare this send address in their respective send registers (SR) with their own bus node address stored in their bus node address registers (BKADR) during bus initialization and only send if the transmitted send address in their send register (SR) matches their own bus node address stored in their bus node address register (BKADR) matches and then only at the predetermined times.
  • the relative time slot position within the packet of at least three time slots (TIN0, TIN1, TDO) is preferably (but not necessarily) always the same for preferably all bus nodes.
  • the first time slot (TINO) and the second time slot (TIN1) particularly preferably contain a control data item and/or a first data item that is transmitted from the bus master (BM) to the bus nodes (BS1, BS2, BS3), the control data item and the first datum should be compatible in particular and preferably with the data of the four-wire test data bus according to IEEE1149, and the bus nodes receive the control datum and the first datum.
  • bus node addresses, transmission addresses and lighting data can be transmitted.
  • the data is now transmitted in the third time slot from the bus node under consideration (BS n ) to the bus master (BM) only in the second and third voltage range (V B3 ) and not in the first voltage range (V B1 ), if the transmit address transmitted and stored in the transmit register (SR) of the JTAG interface of the bus node matches the bus node address stored in the bus node address register (BKADR) of the bus node during bus initialization.
  • SR transmit register
  • BKADR bus node address register
  • the third time slot advantageously contains a second piece of data that is transmitted from the bus node in question (BS1, BS2, BS3) to the bus master (BM), the bus master (BM) receiving this second piece of data and the second piece of data only in second voltage range (V B2 ) and in the third voltage range (V B3 ) is transmitted.
  • the clock is transmitted by the bus master (BM) in each time slot.
  • the clock signal (TCK) is signaled by a clock signal which is between the first voltage range (V B1 ) in a first half-clock period of the at least two half-clock periods (T 1H ,T 2H ) of a system clock period (T) on the one hand and the second voltage range ( V B2 ) or third voltage range (V B3 ) in the second half-clock period of the at least two half-clock periods (T 1H , T 2H ) of a system clock period (T) varies.
  • the clock signal can therefore be detected in that the voltage on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or on a connected single-wire data bus section (b1,b2,b3) of the single-wire data bus (b1,b2,b3) from the second voltage range (V B2 ) or the third voltage range (V B3 ) changes to the first voltage range (V B1 ) and vice versa.
  • the change in the corresponding threshold voltage (V 2L ) can be detected by the associated comparator (C 2L ) or the corresponding device. This makes it possible to use the system clock (TCK) on the Extract the bus node side, ie the side of the integrated circuit, safely.
  • the design of the clock impression is advantageously chosen in comparison to the design of the impression of the other signals in such a way that the clock transmitter on the part of the bus master (BM) can overwrite all other level sources that can be active in parallel on the data line.
  • BM bus master
  • This is a major difference from the prior art. In reality, it may therefore be necessary to provide larger external transistors for impressing the clock on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or on a connected single-wire data bus section (b1,b2,b3) of the single-wire data bus (b1,b2,b3), in order to be able to supply as many bus nodes as possible with one cycle.
  • the first logical state on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or a connected single-wire data bus section (b1,b2,b3) of the single-wire data bus (b1,b2,b3) is exclusively for the transmission of a first logical state (e.g. "low") system clock is used and the second and third logical state on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or a connected single-wire data bus section (b1,b2,b3) of the single-wire data bus (b1,b2,b3) for the transmission of a second logical state (e.g. "high ") of the system clock is used.
  • a first logical state e.g. "low”
  • a second logical state e.g. "high
  • the second logical state on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or a connected single-wire data bus section (b1,b2,b3) of the single-wire data bus (b1,b2,b3) is advantageously used to transmit a first logical state (e.g. "low") of a data signal used and the third logical state on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or a connected single-wire data bus section (b1,b2,b3) of the single-wire data bus (b1,b2,b3) for the transmission of a second logical state (e.g. "high") of data signal used. If the data line is in the first logical state, this is ignored for data transmission.
  • a first logical state e.g. "low”
  • a second logical state e.g. "high
  • the first logical state on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or a connected single-wire data bus section (b1,b2,b3) of the single-wire data bus (b1,b2,b3) is advantageously used to transmit a first logical state (e.g. "low") of a system clock signal used and the third or second logic state on the single wire data bus (b1,b2,b3) or a connected single-wire data bus section (b1,b2,b3) of the single-wire data bus (b1,b2,b3) for the transmission of a second logic state (e.g. "high") of the system clock signal.
  • the logical state on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or a connected single-wire data bus section (b1,b2,b3) of the single-wire data bus (b1,b2,b3) changes between the second or third logical state on the single-wire data bus (b1,b2,b3 ) or a connected single-wire data bus section (b1,b2,b3) of the single-wire data bus (b1,b2,b3), this change is ignored for the transmission of the system clock and typically continues to be interpreted as a second logical state (ie, for example "high").
  • a data bus system with a reference potential line (GND) and a single-wire data bus (b1, b2, b3) for the transmission of data between a bus master (BM) and at least two bus nodes (BS1, BS2, BS3), in particular Illuminant bus nodes are used.
  • the single-wire data bus (b1,b2,b3) is divided into at least two single-wire data bus sections (b1,b2,b3) by the bus nodes (BS1,BS2,BS3). It is terminated by one of the bus nodes, namely the terminating bus node (BS3).
  • each of the bus nodes (BS1, BS2, BS3) is connected to a preceding bus node (BS1, BS2) by a preceding single-wire data bus section (b1, b2, b3).
  • One first bus node (BS1) is connected to the bus master (BM) by a preceding single-wire data bus section (b1).
  • BM bus master
  • each bus node (BS1, BS2, BS3) is connected to a subsequent bus node (BS3, BS4) of the bus nodes (BS1, BS2, BS3) by a subsequent single-wire data bus section (b2, b3). This does not apply to the terminating bus node (B3).
  • the bus master (BM) is provided with a master single-wire data bus interface (OWM), the master single-wire data bus interface (OWM) being provided for the purpose of bidirectionally transmitting data via the single-wire data bus ( b1,b2,b3) or at least one of the single-wire data bus sections (b1,b2,b3), hereinafter referred to as "single-wire data bus section under consideration (b1,b2,b3)" and to be received by it.
  • the single-wire data bus section (b1, b2, b3) under consideration comprises only a single signal line.
  • the single-wire data bus interface (OWS1,OWS2,OWS3) of the bus node under consideration is intended to transmit data bidirectionally via the data bus protocol with more than two physical voltage and/or current levels to send and receive the considered single-wire data bus section (b1,b2,b3).
  • the single-wire data bus interface (OWS1,OWS2,OWS3) of the bus node under consideration is intended to send data via the single-wire data bus section (b1,b2,b3) under consideration using a data bus protocol with at least two physical voltage and/or current levels.
  • the transfer gate (TG1, TG2, TG3) of the bus node under consideration is intended to separate the single-wire data bus section (b1, b2) under consideration from an optional subsequent single-wire data bus section (b2, b3) and/or to connect it electrically.
  • the bus node under consideration (BS1, BS2, BS3) has a first transfer gate control register (TGCR) which is designed to control the transfer gate (TG) of the bus node under consideration.
  • the bus master can use the transfer gate control register (TGCR) of the considered bus node (BS1,BS2,BS3) via the master single-wire data bus interface (OWM) and the single-wire data bus (b1,b2,b3) or the considered Describe the single-wire data bus section (b1,b2,b3) and the single-wire data bus interface (OWS1,OWS2,OWS3) of the bus node under consideration.
  • the bus master is thus able to control the status of the transfer gate (TG1) of the bus node (BS1, BS2, BS3) under consideration.
  • the bus node under consideration (BS1,BS2,BS3) internally has at least one IEEE 1149-compliant interface, also known as a JTAG interface, which is connected to the single-wire data bus ( b1,b2,b3) or at least the considered single-wire data bus section (b1,b2,b3), so that the bus master (BM) connects this JTAG interface via the single-wire data bus (b1,b2,b3) or at least the considered single-wire data bus section ( b1,b2,b3) can operate.
  • IEEE 1149-compliant interface also known as a JTAG interface
  • a JTAG interface within the meaning of the invention is characterized in that it has a test controller (TAPC) in the form of a finite automaton - also called “finite state machine” - which has an IEEE 1149-compliant state diagram 1 and the introductory description of this application.
  • TAPC test controller
  • a data bus can be used for the method, which is characterized in that the respective transfer gate control register (TGCR) of the bus node under consideration (BS1, BS2, BS3) is checked by means of the at least one JTAG test Interface of the bus node under consideration (BS1, BS2, BS3) can be written to by the bus master (BM) via the single-wire data bus (b1, b2, b3) or at least the single-wire data bus section under consideration (b1, b2, b3).
  • TGCR transfer gate control register
  • a data bus system can be used for the method, which is characterized in that at least the considered Bus node, ie the lighting means bus node, is intended to control lighting means assigned to it, hereinafter referred to as "lighting means under consideration", depending on data which is transmitted via the single-wire data bus (b1,b2,b3) or the single-wire data bus section under consideration (b1, b2, b3) are transmitted from the bus master (BM) to the bus node (BS1, BS2, BS3) under consideration.
  • BM bus master
  • a data bus system can be used for the method, which is characterized in that the JTAG interface of the bus node under consideration comprises at least one illumination register (ILR) as a data register (DR) of the JTAG interface of the bus node under consideration, of which at least temporary content at least temporarily the control of the considered lamps, in particular in brightness and / or color temperature by the considered bus node by means of its PWM units (PWM1, PWM2, PWM3) depends.
  • ILR illumination register
  • DR data register
  • a data bus system can be used for the method, which is characterized in that the JTAG interface of the bus node under consideration has at least one lighting control register (ILCR) as data register (DR) of the JTAG interface of the bus node under consideration and one lighting register (ILR ) as a data register (DR) of the JTAG interface of the bus node under consideration.
  • ILCR lighting control register
  • ILR lighting register
  • At least parts of the content of the lighting control register depend on whether the lighting register (ILR) is sent via the JTAG interface using the combined TMS-TDI signal (TMS_TDI) of the JTAG interface of the bus node under consideration or via a separate data input (SILDI) of the bus node under consideration receives the serial lighting data for controlling the illuminants under consideration from the bus master (BM) or another bus node.
  • the at least temporary content of the lighting register (ILR) determines at least temporarily the actuation of the lighting means under consideration by the bus node under consideration.
  • a data bus system that can be used in the method according to the invention is provided with a reference potential line (GND) and a single-wire data bus (b1, b2, b3) for the transmission of data between a bus master (BM) and at least two bus nodes (BS1 ,BS2,BS3), especially illuminant bus nodes.
  • the single-wire data bus (b1,b2,b3) is divided into at least two single-wire data bus sections (b1,b2,b3) by the bus nodes (BS1,BS2,BS3). It is terminated by a bus node, the terminating bus node (BS3).
  • Each of the bus nodes (BS1, BS2, BS3) except for the first bus node (BS1) closest to the bus master (BM) is connected to a preceding bus node (BS1, BS2) by a preceding single-wire data bus section (b2, b3).
  • the first bus node (BS1) is through a preceding single-wire data bus section (b1) connected to the bus master (BM).
  • Each bus node (BS1, BS2, BS3) except for a terminating bus node (BS3) is connected to a subsequent bus node (BS3, BS4) by a subsequent single-wire data bus section (b2, b3).
  • the data bus system has the bus master (BM) with a master single-wire data bus interface (OWM).
  • the master single-wire data bus interface is intended to transmit data bidirectionally via the single-wire data bus (b1, b2, b3) or at least one of the single-wire data bus sections (b1, b2, b3), hereinafter referred to as "considered single-wire data bus section" (b1, b2, b3), to send and receive from it.
  • the single-wire data bus section (b1, b2, b3) under consideration comprises only a single signal line.
  • the single-wire data bus interface (OWS1,OWS2,OWS3) of one of the bus nodes (BS1,BS2,BS3), hereinafter referred to as the "bus node under consideration” is electrically connected to the single-wire data bus section (b1,b2,b3) under consideration.
  • the single-wire data bus interface (OWS1,OWS2,OWS3) of the bus node under consideration is intended to receive data from the single-wire data bus section (b1,b2,b3) under consideration using a data bus protocol with more than two physical voltage and/or current levels.
  • the considered bus node (BS1, BS2, BS3) includes a bus node address register (BKADR) as a data register (DR) of a JTAG interface, which can be written to by the bus master (BM) preferably only when the transfer gate (TG) is open, where its content and the content of the transmission register (SR) of the JTAG interface of the bus node determine whether the single-wire data bus interface (OWS1,OWS2,OWS3) of the bus node in question sends data at the designated times and/or after transmission of specific data, for example a transmission address for the Transmission register (SR) of the bus node, by the bus master (BM) or another of the bus nodes (BS1,BS2,BS3) on the single-wire data bus (b1,b2,b3) and/or on the single-wire data bus section under consideration (b1,b2,b3 ) may output data.
  • BKADR bus node address register
  • DR data register
  • SR transmission register
  • the single-wire data bus interface (OWS1,OWS2,OWS3) of the bus node under consideration is intended to send data via the single-wire data bus section (b1,b2,b3) under consideration using a data bus protocol with at least two physical voltage and/or current levels.
  • a data bus system can be used for the method, which is characterized in that the bus node under consideration (BS1, BS2, BS3) has at least one internal IEEE 1149-compliant interface, also known as a JTAG interface, which has the Single-wire data bus interface (OWS1,OWS2,OWS3) of the bus node (BS1,BS2,BS3) under consideration is connected to the single-wire data bus (b1,b2,b3) or at least to the single-wire data bus section (b1,b2,b3) under consideration, so that the bus master ( BM) via the single-wire data bus (b1,b2,b3) or at least the considered single-wire data bus section (b1,b2,b3) can operate this JTAG interface.
  • a JTAG interface within the meaning of the invention is characterized in that it has a test controller (TAPC) in the form of a finite automaton—also called a finite state machine—which has an IEEE1149-compliant state diagram 1 owns.
  • TAPC test controller
  • a data bus system can be used for the method, which is characterized in that a first transfer gate (TG1) of the bus node (BS1, BS2, BS3) under consideration is electrically connected to the single-wire data bus section (b1, b2, b3). connected.
  • the first transfer gate (TG1, TG2, TG3) of the bus node under consideration is intended to separate the single-wire data bus section (b1, b2) under consideration from the optional, subsequent single-wire data bus section (b2, b3) and/or to electrically connect it to it.
  • the bus node (BS1, BS2, BS3) under consideration has a first transfer gate control register (TGCR) as a data register (DR) of the JTAG interface, which is designed to control the first transfer gate (TG1). .
  • the respective transfer gate control register (TGCR) of the bus node under consideration (BS1, BS2, BS3) can be checked using the at least one JTAG test interface of the bus node under consideration (BS1, BS2, BS3) via the single-wire data bus (b1, b2, b3) or at least the considered single-wire data bus section (b1, b2, b3) are written at least by the bus master (BM).
  • a data bus system can be used for the method, which is characterized in that at least the bus node under consideration, i.e. the lighting means bus node, is provided for lighting means (LM) assigned to it, hereinafter referred to as "lighting means considered " (LM) means to be controlled depending on data that is sent via the single-wire data bus (b1,b2,b3) or the single-wire data bus section (b1,b2,b3) under consideration from the bus master (BM) to the bus node under consideration (BS1,BS2, BS3) are transferred.
  • LM lighting means to be controlled depending on data that is sent via the single-wire data bus (b1,b2,b3) or the single-wire data bus section (b1,b2,b3) under consideration from the bus master (BM) to the bus node under consideration (BS1,BS2, BS3) are transferred.
  • a data bus system can be used for the method, which is characterized in that the JTAG interface of the bus node under consideration comprises at least one illumination register (ILR) as a data register (DR) of the JTAG interface of the bus node under consideration, of which at least temporary content at least temporarily depends on the control of the considered lighting means (LM) by the considered bus node.
  • ILR illumination register
  • DR data register
  • This can affect, for example, the duty cycle, the amplitude, the frequency and other parameters of the PWM control.
  • a data bus system can be used for the method, which is characterized in that the JTAG interface of the bus node under consideration has at least one lighting control register (ILCR) as data register of the JTAG interface of the bus node under consideration and one lighting register (ILR) as data register of the JTAG interface of the bus node under consideration.
  • At least parts of the content of the lighting control register (ILCR) depend on whether the lighting register (ILR) uses the test data interface (TMS_TDI) of the JTAG interface of the bus node under consideration or a separate data input (SILDI) of the bus node under consideration, the preferably serial lighting data for controlling the control device of the lamps under consideration receives from the bus master or another bus node.
  • the control of the illuminants (LM) under consideration by the bus node under consideration depends at least temporarily on the at least temporary content of the lighting register (ILR).
  • a JTAG interface of a bus node (BS1, BS2, BS3) for controlling the control device for lamps (LM) by a bus node (BS1, BS2, BS3) of a lighting chain is advantageously characterized in that it uses at least one lighting register (ILR) as a data register (DR) of this JTAG interface, the at least temporary content of which controls the lighting means (LM) by the bus node (BS1, BS2, BS3) at least temporarily.
  • a JTAG interface is characterized in that the test controller (TAPC) uses a state diagram according to the IEEE 1149 standard (see also 1 ) and in particular one or more of its sub-standards IEEE 1149.1 to IEEE 1149.8 and their further developments. This definition of a JTAG interface applies throughout the document.
  • a method for controlling a lamp (LM) by means of an electrical control device within a bus node (BS1, BS2, BS3) of a plurality of bus nodes (BS1, BS2, BS3) of the bus node under consideration then comprises the following steps: Transmission of control data for setting lighting values for at least one light source by controlling a JTAG controller (TAPC) of a JTAG interface within the bus node (BS n ) under consideration, which has at least one light source (LM) with controllable electrical energy depending on this control data provided.
  • the JTAG interface is characterized in that the test controller (TAPC) includes a state diagram corresponding to the IEEE 1149 standard and/or in particular one or more of the sub-standards IEEE 1149.1 to IEEE 1149.8 and their further developments.
  • a JTAG interface for controlling the control device for lamps through a bus node (BS1, BS2, BS3) of a chain of lights can also be characterized in that it has at least one lighting control register (ILCR) as data register of the JTAG interface and one lighting register (ILR) as data register of the JTAG interface.
  • ILCR lighting control register
  • at least parts of the content of the lighting control register (ILCR) then depend on whether the lighting register (ILR) receives the lighting data for controlling the control device of the lamps through the bus node via the test data interface (TMS_TDI) of the JTAG interface or via a separate data input (SILDI) receives.
  • These registers can also be sub-registers of the instruction register (IR) or another data register of the JTAG interface.
  • the activation of the lamps by the bus node then depends at least temporarily on the content of the lighting register (ILR), at least temporarily.
  • the JTAG interface is characterized in that it includes a test controller (TAPC) which has a state diagram corresponding to the IEEE 1149 standard and in particular one or more of the sub-standards IEEE 1149.1 to IEEE 1149.8 and their further developments.
  • TAPC test controller
  • the single-wire data bus (b1,b2,b3) is divided into at least two single-wire data bus sections (b1,b2,b3) by the bus nodes (BS1,BS2,BS3).
  • each of these bus nodes (BS1, BS2, BS3) is connected to a preceding bus node (BS1, BS2) via a preceding single-wire data bus section (b1, b2, b3).
  • the first bus node (BS1) is connected to the bus master (BM) by a preceding single-wire data bus section (b1).
  • BM bus master
  • BS3 terminating bus node
  • each of these bus nodes (BS1, BS2, BS3) is connected to a subsequent bus node (BS2, BS3) by a subsequent single-wire data bus section (b2, b3).
  • bus node is not the last bus node (B3) in the chain of bus nodes (BS1,BS2,BS3) from the bus master (BM) in the sequence of bus nodes (BS1,BS2,BS3).
  • BM bus master
  • BS1, BS2, BS3 bus node under consideration
  • One-wire data bus section (b1,b2,b3) is a system clock with a system clock period (T), which is divided at least into a first half-clock period (T 1H ) and a second half-clock period (T 2H ), which can have a different duration, from the bus Master (M) additionally transmit to the considered bus node (BS1,BS2,BS3).
  • T system clock period
  • T 1H first half-clock period
  • T 2H second half-clock period
  • At least the bus node under consideration (BS1,BS2,BS3) has a first device, in particular a first comparator (C 2H ), which measures the signal level in the form of a signal voltage between the reference potential (V 0 ) of the reference potential line (GND) and compares the potential of the single-wire data bus section (b1, b2, b3) under consideration with a first threshold value, in particular that of a first threshold value signal (V 2H ).
  • a first comparator C 2H
  • the bus node under consideration has a second device, in particular a second comparator (C 2L ), which measures the signal level in the form of a signal voltage between the reference potential (V 0 ) of the reference potential line (GND) and the potential of the single-wire data bus section under consideration (b1, b2, b3 ) with a second threshold, in particular that of a second threshold signal (V 2L ), compares.
  • the first threshold is different from the second threshold.
  • the first threshold value and second threshold value define three signal voltage ranges (V B1 , V B2 , V B3 ) between the operating voltage (V IO , V IO1 , V IO2 ) and the reference potential (V 0 ) of the reference potential line (GND).
  • a medium voltage range as a second voltage range (V B2 ) is limited upwards—alternatively—or downwards by a first voltage range (V B1 ).
  • the second voltage range (V B2 ) is lower—alternatively—or upper bound by a third voltage range (V B3 ).
  • Data is transmitted on the single-wire data bus section (b2, b3) in time-spaced or consecutive time slot packets of at least three consecutive time slots (TIN0, TIN1, TDO) each lasting one system clock period (T).
  • a first time slot (TINO) and a second time slot (TIN1) contain at least one control data item and/or a first data item that is transmitted from the bus master (BM) to the bus node (BS1, BS2, BS3) in question, with the control data item and the first datum can be compatible in particular with the data of the IEEE 1149.1 four-wire test data bus or with another substandard of the IEEE 1149 standard, and the bus node under consideration (BS1,BS2,BS3) receives the control datum and the first datum.
  • a third time slot (TDO) contains a second piece of data that the considered bus node (BS1, BS2, BS3) transmits to the bus master (BM), the bus master (BM) receiving this second piece of data and the second piece of data only in second voltage range (V B2 ) and third voltage range (V B3 ) is transmitted.
  • the data is transmitted in a clock period of at least two (eg half) clock periods (T 1H , T2 H ) of a system clock period (T).
  • the system clock is transmitted by a clock signal in the first voltage range (V B1 ) during the other half-clock period of the at least two half-clock periods (T 1H , T 2H ) of the system clock period (T).
  • the data bus according to the invention which can be used in the method according to the invention and is arranged between a first subdevice (the bus master (BM)) and at least two further subdevices (the bus nodes (BS1, BS2, BS3)), is distinguished by this that when the data is sent bidirectionally on the single-wire data bus (b1, b2, b3) or at least the single-wire data bus section under consideration (b1, b2, b3) by the bus master (BM) and the bus nodes (BS1, BS2, BS3) at least three logical states are used.
  • the bus master the bus master
  • BS1, BS2, BS3 the bus nodes
  • the data bus according to the invention which can be used in the method according to the invention and is arranged between a first subdevice (the bus master (BM)) and at least two further subdevices (the bus nodes (BS1, BS2, BS3)), is characterized by this that a first of the at least three logical states on the single-wire data bus (b1, b2, b3) or at least the considered single-wire data bus section (b1, b2, b3) is generated by a first dominant switch (S 1L ) of the bus master (BM), which forces the potential of the single-wire data bus (b1, b2, b3) or at least of the single-wire data bus section (b1, b2, b3) under consideration into the first voltage range (V B1 ).
  • BM bus master
  • V B1 first voltage range
  • the data bus according to the invention which can be used in the method according to the invention and is arranged between a first subdevice (the bus master (BM)) and at least two further subdevices (the bus nodes (BS1, BS2, BS3)), is characterized by this that a second of the at least three logical states on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or at least the single-wire data bus section under consideration (b1,b2,b3) by switching on a first switchable current source (I 1 ,S 1H ) in the bus master ( BM) and / or by switching on a second switchable current source (I 2 , S 2H ) in the bus master (BM) is generated.
  • a first switchable current source I 1 ,S 1H
  • I 2 , S 2H the bus master
  • the data bus according to the invention which can be used in the method according to the invention and is arranged between a first subdevice (the bus master (BM)) and at least two further subdevices (the bus nodes (BS1, BS2, BS3)), is distinguished by this That switching on the first switchable current source (I 1 , S 1H ) in the bus master (BM) and / or switching on the second switchable current source (I 2 , S 2H ) in the bus master (BM) on the potential forces the single-wire data bus or at least the single-wire data bus section under consideration (b1,b2,b3) to a potential in the third voltage range (V B3 ), provided that the first dominant switch (S 1L ) of the bus master (BM) is not switched on, which has the potential of the Single-wire data bus or at least the considered single-wire data bus section (b1) forces into the first voltage range when switched on and overwrites the switchable current sources (I 1 , S 1H , I 2 , S
  • the data bus according to the invention that can be used in the method according to the invention and is arranged between a first subdevice (the bus master (BM)) and at least two further subdevices (the bus nodes (BS1, BS2, BS3)) is characterized by this that a third of the at least three logical states on the single-wire data bus (b1,b2, b3) or at least the single-wire data bus section under consideration (b1,b2,b3) is generated by a pull circuit (R 0H ,R 0L ) if none of the other logical states are present in that the pull circuit (R 0H ,R 0L ) brings the potential of the single-wire data bus or at least of the single-wire data bus section (b1,b2,b3) under consideration to a mean potential (VM) in the second voltage range (V B3 ).
  • VM mean potential
  • the data bus according to the invention which can be used in the method according to the invention and is arranged between a first subdevice (the bus master (BM)) and at least two further subdevices (the bus nodes (BS1, BS2, BS3)), is distinguished by this that changing from a second or a third logical state on the single-wire data bus (b1, b2, b3) or at least the considered single-wire data bus section (b1, b2, b3) on the one hand to a first logical state on the single-wire data bus (b1, b2, b3) or at least the considered single-wire data bus section (b1,b2,b3) on the other side and change in the opposite direction for the transmission of a clock signal.
  • the bus master the bus master
  • the bus nodes the bus nodes (BS1, BS2, BS3)
  • the data bus according to the invention which can be used in the method according to the invention and is arranged between a first subdevice (the bus master (BM)) and at least two further subdevices (the bus nodes (BS1, BS2, BS3)), is distinguished by this that changing from a first or a second logical state on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or at least the considered single-wire data bus section (b1,b2,b3) on the one hand to a third logical state on the single-wire data bus (b1,b2, b3) or at least the considered single-wire data bus section (b1,b2,b3) on the other side and change in the opposite direction for the transmission of a data signal from the bus master (BM) to the considered bus node and/or from the considered bus node to the bus master ( BM) are used.
  • BM bus master
  • BM3 bus nodes
  • the device that can be used in the method according to the invention, between a first partial device (the Bus master (BM)) and at least two other sub-devices (the bus nodes (BS1, BS2, BS3)) arranged data bus characterized in that the data in a half-clock period of the at least two half-clock periods (T 1H , T 2H ) of a time slot are transmitted and the system clock in another half clock period of the at least two half clock periods (T 1H ,T 2H ) of a time slot, the time slot having a length of a system clock period (T) of at least two half clock periods (T 1H ,T 2H ).
  • the bus master (BM) has a master single-wire data bus interface (OWM).
  • the master single-wire data bus interface also has a first switchable voltage source (S 1L ) with a first internal resistance (R 1L ), which feeds the single-wire data bus (b1,b2,b3) or at least one single-wire data bus section (b1,b2,b3) (im Called the following "considered single-wire data bus section") can connect to a first potential (V0).
  • S 1L switchable voltage source
  • R 1L first internal resistance
  • V0 first potential
  • bus node considered has a single-wire data bus interface (OWS1, OWS2, OWS3) (referred to below as “considered single-wire data bus interface”).
  • At least the considered single-wire data bus section (b1,b2,b3) of the single-wire data bus (b1,b2,b3) or the single-wire data bus (b1,b2,b3) is powered by a fourth voltage source, in particular a pull circuit (R 0H , R 0L ) between a fourth potential (V IO ), which is preferably equal to the second and the third potential (V IO1 ,V IO2 ), and the first potential (V 0 ), with a fourth internal resistance (R 0 ) is maintained at an intermediate potential (V M ).
  • a fourth voltage source in particular a pull circuit (R 0H , R 0L ) between a fourth potential (V IO ), which is preferably equal to the second and the third potential (V IO1 ,V IO2 ), and the first potential (V 0 ), with a fourth internal resistance (R 0 ) is maintained at an intermediate potential (V M ).
  • the value of the mean potential (V M ) lies between the value of the first potential (V 0 ) and the value of the second potential (V IO1 ) and/or between the value of the first potential (V 0 ) and the value of the third potential s(V IO2 ).
  • the first internal resistance (R 1L ) is smaller than the other internal resistances (R 1H , R 2H , R 0 ).
  • the fourth internal resistance (R 0 ) is greater than the other internal resistances (R 1H , R 1L , R 2H ).
  • a method for operating a data bus between a first sub-device (the bus master (BM)) and at least two further sub-devices (the bus nodes (BS1, BS2, BS3)) can be formulated accordingly.
  • the data bus has a reference potential line (GND) with a reference potential (V0) and a single-wire data bus (b1,b2,b3) which, through the at least two bus nodes (BS1,BS2,BS3), is divided into at least two single-wire data bus sections (b1,b2,b3 ) and is terminated by at least one of the bus nodes (BS1,BS2,BS3) (the terminating bus node (BS3)).
  • the method comprises the steps: As a first step, a bidirectional transmission of data via the single-wire data bus (b1, b2, b3) or at least one of the single-wire data bus sections (b1, b2, b3) (hereinafter referred to as "single-wire data bus section under consideration") between the bus master (BM) and at least one bus node (BS1, BS2, BS3) (hereinafter referred to as "bus node considered").
  • a clock signal via the single-wire data bus (b1,b2,b3) or at least said single-wire data bus section (b1,b2,b3) from the bus master (BM) to at least the bus node under consideration (BS1,BS2,BS3) with a System clock period (T) divided into at least a first half clock period (T 1H ) and a second half clock period (T 2H ).
  • the first and second threshold values define three signal voltage ranges (V B1 , V B2 , V B3 ) between an operating voltage (V IO , V IO1 , V IO2 ) and the reference potential (V 0 ) of the reference potential line (GND).
  • a middle voltage range is defined as a second voltage range (V B2 ) by a first voltage range (V B1 ) upwards (alternatively downwards), with the second voltage range (V B2 ) downwards (alternatively upwards) being limited by a third voltage range (V B3 ) is limited;
  • at least one control data item and/or a first data item is transmitted in a first time slot (TINO) and in a second time slot (TIN1) from the bus master (BM) to the bus node under
  • a variant of this method is characterized in that three logical states when sending the data bidirectionally on the single-wire data bus (b1, b2, b3) or at least the considered single-wire data bus section (b1, b2, b3) by the bus master (BM) and the considered bus nodes are used, each logical state one, typically exactly one, voltage range (V B1 , V B2 , V B3 ) of the potential of the single-wire data bus (b1,b2,b3) or at least the considered single-wire data bus section (b1,b2,b3) assigned is.
  • a further variant of this method is characterized by a temporary closing of a dominant switch (S 1L ) of the bus master (BM), which can also be a transistor or another semiconductor switch, for the temporary generation of a first of the three logical states on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or at least the single-wire data bus section under consideration (b1,b2,b3), the potential of the single-wire data bus (b1,b2,b3) or at least the single-wire data bus section under consideration (b1,b2,b3) being in the first voltage range (V B1 ) is forced.
  • S 1L dominant switch
  • BM bus master
  • Another variant of this method is characterized by temporarily switching on a first switchable current source (I 1 , S 1H ) in the bus master (BM) and/or by temporarily switching on a second switchable current source (I 2 , S 2H ) in the considered bus node for generating a second of the three logical states on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or at least the considered single-wire data bus section (b1,b2,b3).
  • a further variant of this method is characterized in that switching on the first switchable current source (I 1 , S 1H ) in the bus master (BM) and/or switching on the second switchable current source (I 2 , S 2H ) in the considered bus node forces the potential on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or at least the single-wire data bus section under consideration (b1,b2,b3) to a third potential, provided that the first dominant switch (S 1L ) of the bus master (BM) is not switched on is that forces the potential of the single-wire data bus (b1,b2,b3) or at least the single-wire data bus section under consideration (b1,b2,b3) into the first voltage range (V B1 ) and overwrites the current sources, i.e. that Potential on b1, which is caused by the voltage drop across (R 0L ) due to the current (I 2 ), forces it to ground.
  • Another variant of this method is characterized by the generation of a third of the three logical states on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or at least the single-wire data bus section under consideration (b1,b2,b3) by a pull circuit (R 0H ,R 0L ) off if none of the other logical states is present on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or at least on the single-wire data bus section under consideration (b1,b2,b3), in that the pull circuit (R 0H ,R 0L ) removes the potential of the single-wire data bus (b1 , b2, b3) or at least the single-wire data bus section under consideration (b1, b2, b3) to an average potential (V M ) in the second voltage range (V B2 ).
  • Another variant of this method is characterized by the transmission of a system clock by changing from the second or third logical state on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or at least the considered single-wire data bus section (b1,b2,b3) on one side to a first logic state on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or at least the considered single-wire data bus section (b1,b2,b3) on the other side and by changing in the opposite direction.
  • a further variant of this method is characterized by the transmission of data by changing from the first or second logical state on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or at least the single-wire data bus section under consideration (b1,b2,b3) on one side to a third logic state on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or at least the considered single-wire data bus section (b1,b2,b3) on the other side and by changing in the opposite direction.
  • a further variant of this method is characterized by the fact that a first or second data item or a control data item or other data item in a half-clock period of the at least two half-clock periods (T 1H , T 2H ) of a time slot of the at least three consecutive time slots (TIN0, TIN1, TDO ) is transmitted and a system clock is transmitted in the other half-clock period of the at least two half-clock periods (T 1H , T 2H ) of this time slot, the time slot having the length of a system clock period (T) with at least two half-clock periods (T 1H , T 2H ).
  • Another method relates to the operation of a data bus between a first sub-device (the bus master (BM)) and at least two other sub-devices (the bus nodes (BS1, BS2, BS3)), the data bus having a reference potential line (GND) with a reference potential ( V 0 ) and a single-wire data bus (b1,b2,b3) which is connected by the at least two bus nodes are divided into at least two single-wire data bus sections (b1,b2,b3) and terminated by at least one of the bus nodes (BS1,BS2,BS3) (the terminating bus node (BS3)).
  • the method includes temporarily connecting the single-wire data bus (b1, b2, b3) or at least the single-wire data bus sections (b1, b2, b3) (hereinafter referred to as the “single-wire data bus section under consideration”) to a first potential (V 0 ), specifically by means of a first switchable voltage source (S 1L ) of the bus master (BM), which has a first internal resistance (R 1L ).
  • the method includes temporarily connecting the single-wire data bus (b1, b2, b3) or at least the single-wire data bus section (b1, b2, b3) under consideration to a third potential (V IO2 ), which is preferably equal to the second potential (V IO1 ).
  • the third switchable voltage source (S 2H , I 2 ) of a bus node (BS1, BS2, BS3) (hereinafter referred to as "bus node under consideration")
  • the method includes temporarily holding the single-wire data bus (b1, b2, b3) or at least the single-wire data bus section (b1, b2, b3) under consideration by a fourth voltage source, in particular a pull circuit (R 0H , R 0L ) between a fourth Potential (V IO ) preferably equal to the second and third potentials (V IO1 ,V IO2 ) and the first potential (V 0 ), with a fourth internal resistance (R 0 ) at a middle potential (V M ).
  • a fourth voltage source in particular a pull circuit (R 0H , R 0L ) between a fourth Potential (V IO ) preferably equal to the second and third potentials (V IO1 ,V IO2 ) and the first potential (V 0 ), with a fourth internal resistance (R 0 ) at a middle potential (V M ).
  • the value of the mean potential (V M ) is between the value of the first potential (V 0 ) and the value of the second potential (V IO1 ) and/or between the value of the first potential (V 0 ) and the value of the third potential (V IO2 ).
  • the first internal resistance (R 1L ) is smaller than the other internal resistances (R 1H , R 2H , R 0 ).
  • the fourth internal resistance (R 0 ) is greater than the other internal resistances (R 1H , R 1L , R 2H ).
  • FIG. 2 shows the basic signal forms of a data protocol on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or a connected single-wire data bus section (b1,b2,b3) of the single-wire data bus (b1,b2,b3).
  • the top signal (TDA) shows the data signal.
  • the second signal (TCK) shows the associated clock. Both signals are marked as prior art and belong to the two-wire JTAG standard.
  • the digital coding is noted below as an example. It is not yet shown whether the bus node in question or the master is sending. Only the signal form is sketched here.
  • a third threshold voltage (V 1H ) is defined for the bus master (BM) and a first threshold voltage (V 2H ) for the bus nodes (BS1, BS2, BS3), each between the supply voltage (V IO ) and the mean potential (V M ) and should be about the same.
  • a first voltage range (V B1 ) is defined and limited by the second threshold voltage (V 2L ) of the bus nodes ( BS1, BS2, BS3) and by the reference potential (V 0 ).
  • a second voltage range V B2 ) is defined and limited.
  • a third voltage range (V B3 ) is defined and limited by the first threshold voltage (V 2H ) of the bus nodes (BS1,BS2,BS3) or the third threshold voltage (V 1H ) of the bus master (BM) on the one hand and the supply voltage on the other hand.
  • the signal on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or a connected single-wire data bus section (b1,b2,b3) of the single-wire data bus (b1,b2,b3) is temporally divided into time slot packets with at least three time slots (TIN0,TIN1,TDO).
  • the time slots of a time slot packet typically follow one another, with each time slot being equal to the duration of a system clock period (T).
  • the order of the time slots within a time slot packet can be chosen arbitrarily for a system, but preferably the same for all time slot packets.
  • Each system clock period (T) is divided into at least two half-clock periods (T 1H , T 2H ), the lengths of which are preferably but not necessarily the same.
  • the system clock is transmitted in one half-clock period of the at least two half-clock periods (T 1H , T 2H ).
  • the level on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or the connected single-wire data bus section (b1,b2,b3) of the single-wire data bus (b1,b2,b3) is in one half-clock period of the at least two half-clock periods (T 1H , T 2H ) im first voltage range (V B1 ).
  • V B1 first voltage range
  • a first logical value of the system clock is transmitted.
  • the level on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or the connected single-wire data bus section (b1,b2,b3) of the single-wire data bus (b1,b2,b3) is below the second threshold (V 2L ).
  • a lower limit through the reference potential (V 0 ) is used to decide whether the level on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or the connected single-wire data bus section (b1,b2,b3) of the single-wire data bus (b1,b2,b3) located in the first voltage range (V B1 ), is not relevant and is therefore not used in practice.
  • the first voltage range (V B1 ) can therefore also be viewed as being open to the bottom in many applications.
  • the level on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or the connected single-wire data bus section (b1,b2,b3) of the single-wire data bus (b1,b2,b3) is im second voltage range (V B2 ) or third voltage range (V B3 ).
  • V B2 second voltage range
  • V B3 third voltage range
  • a second logical value of the system clock is transmitted, which differs from the first logical value of the system clock.
  • the level on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or the connected single-wire data bus section (b1,b2,b3) of the single-wire data bus (b1,b2,b3) is above the second threshold (V 2L ) located.
  • An upper limit by the supply voltage (V IO ) is used to decide whether the level on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or the connected single-wire data bus section (b1,b2,b3) of the single-wire data bus (b1,b2,b3) located in the second voltage range (V B2 ) or third voltage range (V B3 ) is not relevant and is therefore not used in practice. Therefore, the third voltage range (V B3 ) can also be regarded as open to the top in many applications.
  • the upper level corresponds to an exemplary logical value of the system clock (TCK) of 1 and an exemplary logical value of the data signal (TDA) of 1.
  • the middle level corresponds to an exemplary logical value of the system clock (TCK) of 1 and an exemplary logical value of the data signal (TDA) of 0.
  • the lower level corresponds to an exemplary logical value of the system clock (TCK) of 0 and an exemplary logical value of the data signal (TDA) of 0.
  • In 3 are the most important parts of an interface for implementing the protocol described above on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or on the first single-wire data bus section (b1) of the single-wire data bus (b1,b2,b3) connected here as an example between the bus master and the considered Bus node shown.
  • the ground with the reference potential line (GND) which is on the reference potential (V 0 ).
  • the dominant switch (S 1L ) between the single-wire data bus (b1, b2 ,b3 ) is connected in the form of the connected first single-wire data bus section (b1) and the reference potential line (GND). Since the internal resistance of the dominant switch (S 1L ) is preferably smaller than the internal resistance of the voltage divider made up of the upper resistor (R 0H ) and the lower resistor (R 0L ), this means that in the relevant half-clock period of the at least two half-clock periods (T 1H ,T 2H ) of a system clock period (T) by closing the dominant switch (S 1L ) the voltage level on the single-wire data bus (b1,b2,b3) from said middle potential (V M ) in a second voltage range (V B2 ) to the potential of the Reference potential (V 0 ), which is in the first voltage range (V B1 ), pulled.
  • the dominant switch (S 1L ) is controlled by the system clock on the master side (TCKout 1 ). If this dominant switch (S 1L ) is not closed, data can be bidirectional in the another half-clock period of the at least two half-clock periods (T 1H ,T 2H ) of a system clock period (T) are transmitted.
  • a switched current source (S 1H ,I 1 ) feeds current into the single-wire data bus (b1,b2,b3) when the transmission line (TDAout 1 ) from inside the bus master (BM) is active .
  • the transmission line (TDAout 1 ) from inside the bus master (BM) closes the switch (S 1H ) of the controllable current source (S 1H , I 1 ).
  • the controllable current source (S 1H , I 1 ) supplies current to the single-wire data bus (b1, b2, b3).
  • this current is greater than the current that the pull circuit consisting of the upper resistor (R 0H ) and the lower resistor (R 0L ) can sink.
  • the potential of the single-wire data bus (b1,b2,b3) or the connected first single-wire data bus section (b1) of the single-wire data bus (b1,b2,b3) migrates from the mean potential (V M ) lying in the second voltage range (V B2 ). to a potential in the third voltage range (V B3 ) lying close to the supply voltage (V IO1 ) for the switchable current source (S 1H , I 1 ) of the bus master (BM).
  • the dominant switch (S 1L ) removes the influence of the switchable current source (S 1H ,I 1 ) of the bus master (BM) and the pull circuit consisting of the upper resistor (R 0H ) and the lower one resistance (R 0L ) (again).
  • both are not able to counteract the potential on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or at least on the first single-wire data bus section (b1) of the single-wire data bus (b1,b2,b3), which is connected by way of example to determine the extent "dominant" switch (S 1L ).
  • the second switchable current source on the bus node side works in the same way.
  • a switched current source (S 2H ,I 2 ) feeds current into the single-wire data bus (b1,b2,b3) or the connected single-wire data bus section (b1,b2,b3) of the single-wire data bus (b1,b2,b3).
  • the transmission line (TDAout 2 ) from inside the bus node is active.
  • the transmission line (TDAout 2 ) from inside the bus node closes the switch (S 2H ) of the controllable current source (S 2H ,I 2 ).
  • the current source (I 2 ) of the controllable current source (S 2H ,I 2 ) supplies current to the single-wire data bus (b1,b2,b3) or the connected first single-wire data bus section (b1) of the single-wire data bus (b1,b2,b3).
  • this current is preferably greater than the current that the pull circuit consisting of the upper resistor (R 0H ) and the lower resistor (R 0L ) can dissipate.
  • the potential of the single-wire data bus (b1,b2,b3) or the connected single-wire data bus section (b1) migrates from the middle potential (V M ) in the second voltage range (V B2 ) to one in the third voltage range (V B3 ) lying potential close to the supply voltage (V IO2 ) for the switchable current source (S 2H , I 2 ) of the bus master (BM).
  • the dominating switch (S 1L ) is closed, this again removes the influence of the switchable current source (S 2H ,I 2 ) of the bus node and the pull circuit consisting of the upper one resistance (R 0H ) and the lower resistance (R 0L ) (again).
  • both are not able to transfer the potential on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or on the connected first single-wire data bus section (b1) of the single-wire data bus (b1,b2,b3 ) against the dominant switch (S 1L ).
  • the switchable current source (S 1H , I 1 ) of the bus master (BM) is also switched on, with a suitable design of the dominant switch (S 1L ), this will reduce the potential on the single-wire data bus (b1, b2, b3) or on the connected first single-wire data bus section (b1) of the single-wire data bus (b1, b2, b3) continue to determine.
  • a first comparator compares the potential on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or the connected first single-wire data bus section (b1) of the single-wire data bus (b1,b2,b3) with a first threshold value (V 2H ) .
  • a second comparator compares the potential on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or the connected first single-wire data bus section (b1) of the single-wire data bus (b1,b2,b3) with a second threshold value (V 2L ).
  • the second threshold (V 2L ) differs from the first threshold (V 2H ) and determines the boundary between the first voltage range (V B1 ) and the second voltage range (V B2 ).
  • the first threshold (V 2H ) determines the boundary between the second voltage range (V B2 ) and the third voltage range (V B3 ).
  • the second comparator (C 2L ) recovers the system clock from the signal on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or the connected first single-wire data bus section (b1) of the single-wire data bus (b1,b2,b3). This signal is passed on inside the bus node as a clock signal (TCKin 2 ) received by the bus node.
  • the first comparator (C 2H ) obtains the data information from the signal on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or the connected first single-wire data bus section (b1) of the single-wire data bus (b1,b2,b3) as data received by the bus node (TDAin 2 ) return.
  • the data received by the bus node also contain parts of the system clock. This can easily be remedied by simple sampling, for example in a flip-flop, with the edge of a slightly delayed system clock, or alternatively by delaying the received data and sampling with a non-delayed system clock.
  • the signals may have to be processed before they can be used (D 2H , D2L).
  • the data output signal (TDAin2) could be switched by the first comparator (C 2H ) to a first logic level, for example to "1", if the potential on the single-wire data bus (b1, b2, b3) or the connected first single-wire data bus section (b1) of the single-wire data bus (b1,b2,b3) is less than the first threshold value (V 2H ) and to, for example, logic "0" when the potential is lower than this threshold.
  • the system clock signal (TCKin 2 ) could be switched to "1" by the second comparator (C 2L ) if the potential on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or the connected first single-wire data bus section (b1) of the Single-wire data bus (b1, b2, b3) is less than the second threshold (V 2L ) and vice versa when the potential is lower than this threshold.
  • the bus master (BM) scans the state of the single-wire data bus (b1,b2,b3) or the connected first single-wire data bus section (b1) of the single-wire data bus (b1,b2,b3) using a third comparator (C 1H ).
  • the third comparator (C 1H ) compares the potential on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or the connected first single-wire data bus section (b1) of the single-wire data bus (b1,b2,b3) with a third threshold value (V 1H ) and thereby obtains the data on the data line, which, however, still have components of the system clock.
  • suitable sampling helps.
  • the data (TDAin 1 ) received by the bus master (BM) is obtained.
  • the data output signal (TDAin 1 ) could be switched to 1 by the third comparator (C 1H ) if the potential on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or the connected first single-wire data bus section (b1) of the single-wire data bus ( b1,b2,b3) is lower than the third threshold (V 1H ) and vice versa if the potential is lower than this threshold.
  • the third threshold value (V 1H ) is preferably equal to the first threshold value (V 2H ) except for a small tolerance range of preferably significantly less than 25% of this value.
  • circuits from the prior art can now be used for a data bus with a separate data line and system clock line, so that the description can be omitted here.
  • An example is on the WO-A-2006 102 284 referred.
  • the first threshold value (V 2H ) and the third threshold value (V 1H ) preferably match, as a result of which the bus master and bus node recognize the same data sequence.
  • This data can then be appropriately assigned to the time slots (TIN0, TIN1, TDO) by suitably controlled time sampling.
  • the bus node typically has a transfer gate (TG) which has the function of a switch and can connect the first single-wire data bus section (b1) to a subsequent second single-wire data bus section (b2). If the transfer gate (TG) is open, a second switch (S 3L ) preferably connects the following second single-wire data bus section (b2) (permanently) to the reference potential (GND) or another suitable potential. As a result, the subsequent single-wire data bus (b2,b3) is at a defined potential without a system clock and thus data being transmitted.
  • TG transfer gate
  • S 3L a second switch
  • a time slot packet can also include more than three time slots (TIN0,TIN1,TDO).
  • TINO control data is typically transmitted which corresponds to the TMS signal of the standard boundary scan (IEEE 1149). This signal typically controls the state of the finite state machine according to the state diagram of 1 .
  • the data that corresponds to the TDI signal of the standard boundary scan (IEEE 1149) is typically transmitted in the second time slot.
  • the bus master (BM) transfers data to the bus node in these two time slots.
  • the bus node If the bus node should also send in parallel, the bus node overwrites the bus master (BM) if its switchable current source (S 1H , I 1 ) is switched off is. Conversely, the bus master (BM) can overwrite the bus node if the switchable current source (S 2H ,I 2 ) of the bus node is switched off.
  • An overwriting of the bus master (BM) by the bus node can be detected by the bus master (BM) in that the data sent (TDAout 1 ) are checked with regard to their logical content by logic in the bus master (BM). whether these match the received data (TDAin 1 ) in the relevant half-clock period in which the system clock (TCKout 1 ) does not close the dominant switch (S 1L ).
  • the bus master can by permanently maintaining the voltage level on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or the connected first single-wire data bus section (b1) of the single-wire data bus (b1,b2,b3) in the third voltage range (V B3 ).
  • appropriate design of the state machine of the test controller (TAPC) of the bus nodes re-synchronize them again.
  • the state machine of the test controller (TAPC) of the bus node must be designed in such a way that a permanent voltage in the third voltage range (V B3 ) in the control field, i.e.
  • TLR time-and-see state of the test controller
  • TAPC wait-and-see state of the test controller
  • This permanent maintenance of the voltage level on the single-wire data bus (b1,b2,b3) or on the connected first single-wire data bus section (b1) of the single-wire data bus (b1,b2,b3) in the third voltage range (V B3 ) can be achieved by permanently switching on the switchable power source (p 1H , I 1 ) of the bus master (BM) for the duration of the reset process.
  • figure 5 shows an example sequence of signals.
  • Input is the two-wire based data labeled "2 wire data”.
  • the example shows three consecutive time slot packets (n ⁇ 1,n,n+1) each with three time slots (TIN0,TIN1,TDO) by way of example.
  • n ⁇ 1,n,n+1 time slots
  • TIN0,TIN1,TDO time slots
  • the meaning of the respective time slots within a time slot packet depends only on the position in time and does not change.
  • this description refers to the first time slot (TIN0), second time slot (TIN1) and third time slot (TDO), this is purely a designation and does not refer to the position within a time slot package.
  • the temporal positioning of the individual at least three time slots (TIN0, TIN1, TDO) within the time slot packets is preferably always the same or at least can be predicted by an algorithm. Also shows the figure 5 the associated system clock (2-wire clock).
  • the bus node supplies a logical 1 in timeslot TDO n-1 and a logical 1 in timeslot packet n in timeslot TDO n and a logical 0 in timeslot packet n+1 in timeslot TDO n+1 .
  • BM BM data sent in the time slots TIN0 n-1 , TIN1 n-1 , TIN0 n , TIN1 n , TIN0 n+1 , TIN1 n+1 are not specified in their logical content and are therefore hatched.
  • the first comparator (C 2H ) generates the data received by the affected bus node (TDAin 2 ) from this potential profile on the affected single-wire data bus section (b n ).
  • the second comparator (C 2L ) for example, generates the clock signal (TCKin 2 ) received by the bus node from the potential curve on the affected single-wire data bus section (b n ), which clock signal corresponds to the reconstructed system clock.
  • TCK internal system base clock
  • the bus node scans the logical values on the line (TDAin 2 ) with the rising edge of this signal.
  • the value (TDO) to be sent in this example is changed with the falling edge at the beginning of the next time slot packet.
  • TDAout 2 only becomes active in the third time slot (TDO n+1 ) of the following time slot packet, when the bus node concerned is allowed to transmit.
  • FIG. 6 shows an exemplary single-wire data bus (b1, b2, b3) with three bus nodes (BS1, BS2, BS3) and three single-wire data bus sections (b1, b2, b3) and a bus master (BM).
  • the first single-wire data bus section (b1) connects the bus master (BM) to the first bus node (BS1).
  • the second single-wire data bus section (b2) connects the second bus node (BS2) to the first bus node (BS1).
  • the third single-wire data bus section (b3) connects the third bus node (BS2) to the second bus node (BS2).
  • the single-wire data bus is controlled by a bus master (BM) using a master single-wire data bus interface (OWM) to which the first single-wire data bus section (b1) is connected.
  • BM bus master
  • ODM master single-wire data bus interface
  • the first single-wire data bus interface (OWS1) is connected to the first single-wire data bus section (b1). It receives data from the bus master via this first single-wire data bus section (b1) and sends such data to it. Internally, it provides a first reconstructed system clock (TCK1) with which the internal JTAG interface of the first bus node is operated. It also provides the first combined TMS-TDI signal (TMS_TDI1), which in this example is the test mode signal (TMS) and the data input signal (TDI). The finite state machine of the test controller (TAPC) of the JTAG interface of the first bus node is controlled with the test mode signal (TMS).
  • the data of the TDI signal component is used to load the shift register of the JTAG interface of the first bus node.
  • the JTAG interface supplies data from the registers of the JTAG interface of the first bus node with the serial TDO output signal.
  • the first single-wire data bus section (b1) can be connected to the subsequent second single-wire data bus section (b2) by a first transfer gate (TG1).
  • the bus master writes a transfer gate control register (TGCR) (not shown here) (see e.g 13 ) over the JTAG bus and sets a flag that sets or clears the first enable line (en1).
  • TG1 of the first bus node is opened or closed.
  • the single-wire data bus (b1,b2,b3) can thus be lengthened and shortened by means of a command from the bus master (BM).
  • the second single-wire data bus interface (OWS2) is connected to the second single-wire data bus section (b2). It receives data from the bus master (BM) via this first single-wire data bus section (b2) when the first bus node (BS1) has closed its transfer gate (TG1).
  • the second single-wire data bus interface (OWS2) also sends data to the bus master (BM). Internally, it provides a second reconstructed system clock (TCK2) with which the internal JTAG interface of the second bus node (BS2) is operated. It also provides the second combined TMS-TDI signal (TMS_TDI2), which in this example includes the test mode signal (TMS) and the data input signal (TDI) in time-division multiplex.
  • the test mode signal controls the finite state machine of the test controller (TAPC) of the JTAG interface of the second bus node (BS2).
  • the data of the TDI signal component is used to load the shift register of the JTAG interface of the second bus node.
  • the JTAG interface of the second bus node supplies data from the registers of the JTAG interface of the second bus node with the serial TDO output signal.
  • the second single-wire data bus section (b2) can be connected to the third single-wire data bus section (b3) by a second transfer gate (TG2).
  • TGCR transfer gate control register
  • the bus master writes a transfer gate control register (TGCR) (not shown here) (see 13 ) over the JTAG bus and sets a flag that sets or clears the second enable line (en2).
  • the second transfer gate (TG2) of the second bus node is opened or closed.
  • the single-wire data bus (b1,b2,b3) can thus be further lengthened and shortened by means of a command from the bus master (BM).
  • the third single-wire data bus interface (OWS3) is connected to the third single-wire data bus section (b3). It receives via this third single-wire data bus section (b3) Data from the bus master (BM) when the first bus node (BS1) has closed its transfer gate (TG1) and when the second bus node (BS2) has also closed its second transfer gate (TG2).
  • the third single-wire data bus interface (OWS3) also sends data to the bus master (BM). Internally, it provides a third reconstructed system clock (TCK3) with which the internal JTAG interface of the third bus node (BS2) is operated.
  • TMS_TDI3 which in this example includes the test mode signal (TMS) and the data input signal (TDI) for the JTAG interface of the third bus node (BS3) in time-division multiplex .
  • the test mode signal (TMS) controls the finite state machine of the test controller (TAPC) of the JTAG interface of the third bus node (BS3).
  • the data of the TDI signal portion are used to load the shift register of the JTAG interface of the third bus node (BS3).
  • the JTAG interface of the third bus node (BS3) supplies data from the registers of the JTAG interface of the third bus node (BS3) with the serial TDO output signal.
  • the third single-wire data bus section (b3) can be connected to further single-wire data bus sections (b n ) by a third transfer gate (TG3).
  • TG3 third transfer gate
  • the third bus node is intended to terminate the single-wire data bus (b1,b2,b3).
  • Each of the bus nodes is connected to groups of lamps (LM1, LM2, LM3) that are controlled by the respective bus node (BS1, BS2, BS3).
  • LM1, LM2, LM3 lamps
  • BS1, BS2, BS3 bus node
  • Other consumers of electrical energy can also be used and controlled.
  • a preceding nth single-wire data bus section (b n ) is connected to an nth bus node (BS n ).
  • This n-th bus node (BS n ) can connect this preceding n-th single-wire data bus section (b n ) to the n+1-th single-wire data bus section (b (n+1) ) by means of its transfer gate (TG).
  • a third switch (S 3L ) sets the potential of the n+1th single-wire data bus section (b (n+1) ) and thus of all subsequent single-wire data bus sections (b (n+2) ) to a defined potential and thus prevents accidental data transmission.
  • the n+1-th bus node (BS (n+1) ) can use its transfer gate (TG) to connect this preceding n+1-th single-wire data bus section (b (n+1) ) to the n+2-th single-wire data bus section ( b (n+2) ) connect. If the transfer gate of the n+1th bus node (BS (n+1) ) is open, a third switch (S 3L ) again sets the potential of the n+2th single-wire data bus section (b (n+2) ) and thus all subsequent single-wire data bus sections (b (n+3) ), if present, to a defined potential and thus prevents accidental data transmission.
  • TG transfer gate
  • a voltage regulator PS
  • V ext1 an external supply voltage
  • R 0L The lower resistance
  • R 0H the upper resistance of the voltage divider pair that forms the pull circuit, for example, per bus node (BS1, BS2, BS3) are replaced by the first on the bus master (BM) side Resistor (R1) and the second resistor (R2) formed.
  • the pull circuit keeps the single-wire data bus (b1,b2,b3) in the second voltage range (V B2 ) at a medium potential (V M ) if none of the other switches (S 1L ,S 1H ,I 1 ,S 2H ,I 2 ) is active.
  • the first single-wire data bus section (b1) is connected to the output of the master single-wire data bus interface (OWM).
  • the switch (S 1H ) of the controllable current source (S 1H , I 1 ) of each bus node (BS1, BS2, BS3) (transmitter of the bus node) is formed by the first transistor (T1) on the bus master side.
  • the dominant switch (S 1L ) of each bus node (BS1, BS2, BS3) is formed by the second transistor (T2) on the side of the bus master (BM).
  • This second transistor (T2) is an N-channel transistor in this example.
  • the first transistor (T1) is a P-channel transistor in this example.
  • the first transistor (T1) is driven with the system clock (TCK) via an inverting buffer circuit (buf), for example.
  • the second transistor (T2) is driven with the combined TMS-TDI signal (TMS_TDI) via a NOR gate (NOR) when the system clock signal (TCK) is inactive.
  • the voltage divider (R3) generates a reference voltage with which the comparator (cmp) compares the voltage level on the connected first single-wire data bus section (b1) and generates the data signal (TDO) for further processing within the bus master (BM).
  • FIG. 9 shows an exemplary implementation of the nth single-wire data bus interface (OWS n ) of an nth bus node (BS n ) of the bus nodes (BS1, BS2, BS3) with, for example, the opposite voltage sign to match the master single-wire data bus interface (OWM). 8 .
  • the single-wire data bus interface (OWS n ) of the nth bus node (BS n ) is connected to the nth single-wire data bus section (b n ), for example.
  • the switch of the controllable current source (S 2H , I 2 ) for the transmitter of the bus node is formed by the third transistor (T3). Its internal resistance is determined by the seventh resistor (R7) connected in series.
  • Two reference voltages are generated from the supply voltage (V bat ) of the bus node by the voltage divider consisting of the fourth resistor (R4), the fifth resistor (R5) and the sixth resistor (R6).
  • a second comparator (cmp2) and a third comparator (cmp3) use these two reference voltages to compare the potential on the nth single-wire data bus section (b n ), which is connected by way of example.
  • FIG. 10 shows the internal structure of a JTAG interface according to the invention. This is compatible with the architecture provided in the IEEE 1149 standard, so that software available on the market can be used, which is a significant advantage.
  • the combined TMS-TDI signal (TMS_TDI n ) is broken down into the test mode signal (TMS) and the serial input data (TDI) in a test data preparation (TB) synchronous to the system clock (TCK).
  • TMS test mode signal
  • TB test data preparation
  • TMS test controller
  • TMS test controller
  • the test controller uses the control signal (sir_sdr) for the first multiplexer (MUX1) to switch between the instruction register (IR) and the data registers (DR) using the first multiplexer (MUX1).
  • the serial data input (TDI) is routed to all data registers (BR, IDCR, RX, ILR), the instruction register (IR) and possibly further data registers and possibly further data registers. All of these registers are typically implemented in two stages. This means that they have a shift register with a bit length m and, in parallel, a shadow register with the same length m.
  • the shift register is used for data transport, while the shadow register contains the valid data.
  • the data is loaded from the shift register into the shadow register or loaded or shifted from the shadow register into the shift register or the data is dormant.
  • the JTAG interface is controlled by an instruction decoder (IRDC) depending on the content of the instruction register (IR).
  • IRDC instruction decoder
  • the bus node under consideration may only transmit if the shadow register of the instruction register (IR) contains specific values at specific bit positions, ie a specific transmit address.
  • SR transmission register
  • the JTAG interface particularly preferably has a bus node address register (BKADR). This indicates the identification number of the bus node. Furthermore, the JTAG interface preferably has a transmission register (SR). This send register (SR) is set by the bus master (BM) and indicates the number of the bus node that should/may send. Only if both addresses, the address in the bus node address register (BKADR) and the address in the transmission register (SR) match, may the bus node (BS n ) in question transmit at the predetermined time. In order to set the bus node addresses in the bus node address registers (BKADR) of the bus nodes during the initialization of the single-wire data bus system, all transfer gates (TG) of all bus nodes are initially open.
  • BKADR bus node address register
  • TG transfer gates
  • the bus node address register (BKADR) of the bus node under consideration can preferably only be written to if the transfer gate (TG) of the bus node under consideration is open, ie not closed. This ensures that only the last bus node, i.e. the first bus node in the sequence of bus nodes from the bus master (BM) that has not closed its transfer gate (TG), accepts a bus node address in its bus node address register (BKADR). After such a takeover, the transfer gate (TG) is typically closed automatically or by software command from the bus master (BM). This "freezes" the bus node address stored in the bus address register. At the same time, the following bus node can now be addressed.
  • a command that is the same for all bus nodes is provided in the instruction register (IR), for example, which opens all transfer gates of all bus nodes so that addresses can be reassigned. If the bus node does not respond to this bus node address after an address assignment, the bus node is either defective or does not exist. In the latter case, the bus master then knows the position of all bus nodes and their number.
  • IR instruction register
  • the exemplary JTAG interface of the 10 includes a standard bypass register (BR) used to bypass data through the JTAG interface.
  • BR bypass register
  • IDCR identification register
  • RX data registers
  • an illumination register (ILR) can now be provided.
  • the bus master (BM) stores data for setting the energy supplies for the lamps (LM) in the lighting register (ILR).
  • the energy supplies are one or more (here three) PWM drivers (PWM1,PWM2,PWM3) that generate a PWM-modulated output voltage or a correspondingly modulated current.
  • FIG. 11 shows a diagram similar to that of 10 with the difference that the JTAG interface also has an illumination instruction register (ILIR).
  • ILIR illumination instruction register
  • MUX3 third multiplexer
  • ILRDC decoder
  • This can switch the serial input data for the illumination register (ILR) between an illumination data serial input (SILDI n ) and the test data serial input (TDI) by means of an illumination data select signal (ilds).
  • the output of the lighting register (ILR) is copied to the serial output for lighting data (SILDO n ).
  • TGCR transfer gate control register

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Description

  • Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Datenübertragung auf einen Datenbus.
  • In der Automobilindustrie sollen in Zukunft Leuchtbänder aus Leuchtdioden (LEDs) mit vorzugsweise mehreren Farben eingesetzt werden können. Diese LEDs sollen mittels der bekannten Puls-Modulations-Verfahren wie Puls-Weiten-Modulation (PWM), Puls-Code-Modulation (PCM), Puls-Count-Modulation (PCM), Phasen-Offset-Modulation (POM), Puls-Dichte-Modulation (PDM), Puls-Frequenz-Modulation (PFM) etc. angesteuert und mit Energie versorgt werden. Die entsprechenden Modulationsarten kann der Fachmann der einschlägigen Literatur entnehmen. Wenn im Folgenden von PWM die Rede ist, sind damit im Rahmen der Erfindung sämtliche Pulsmodulationsarten gemeint, die derzeit im Stand der Technik bekannt sind bzw. noch bekannt werden. Je nach dem mittleren Spannungs- oder Strompegel, dem die jeweilige LED ausgesetzt ist, kann die LED in der Helligkeit und ggf. in gewissem Umfang auch in der Farbtemperatur eingestellt werden. Somit bestimmen beispielsweise im Falle einer PWM-Modulation der Duty-Cycle und der Pegel die Helligkeitserscheinung und die wahrgenommene Farbtemperatur.
  • Die LEDs des Leuchtbandes sind üblicherweise über die Länge des Leuchtbandes gleichverteilt.
  • Im Stand der Technik ist es üblich, mehrere integrierte Schaltungen, die sich als Busknoten mehr oder weniger ebenfalls gleichverteilt auf dem Leuchtband befinden, zur Ansteuerung der LEDs zu benutzen. Typischerweise sind jedem Busknoten dabei mehrere Leuchtmittel, vorzugsweise LEDs, zugeordnet, die von einem Busknoten dann jeweils gesteuert werden.
  • Diese Ansteuerung erfolgt für die einzelne integrierte Schaltung für eine einzelne LED oder für mehrere auf dem Leuchtband typischerweise hintereinander angeordnete LEDs, also für einen Leuchtbandabschnitt, der dieser integrierten Schaltung zugeordnet ist.
  • Im Stand der Technik ist es nun üblich, diese integrierten Schaltungen jeweils mit einem Schieberegister mit einem Eingang und einem Ausgang zu versehen. Der Eingang eines nachfolgenden Schieberegisters einer auf dem Leuchtband nachfolgenden integrierten Schaltung ist dabei mit dem Ausgang des Schieberegisters der auf dem Leuchtband vorausgehenden integrierten Schaltung verbunden. Die erste integrierte Schaltung des Leuchtbandes ist statt mit einer vorausgehenden integrierten Schaltung mit einem Bus-Master (BM) verbunden, der die Daten und den Schiebetakt erzeugt. Typischerweise handelt es sich bei dem Bus-Master (BM) um einen Micro-Controller.
  • Der Bus-Master (BM) versorgt über eine Taktleitung alle Schieberegistersegmente aller integrierten Schaltungen entlang einer entsprechend zusammengesetzten Schieberegisterkette mit dem notwendigen Schiebetakt und einem Übernahmesignal, mit dem die aktuellen Werte in den Segmenten der Schieberegisterkette in Schatten-Register der integrierten Schaltungen geladen werden, welche die PWM-Erzeugung steuern.
  • Um die benötigten Informationen zu übertragen, erzeugt der Bus-Master (BM) also einen seriellen Datenstrom, der die Informationen über Helligkeit und/oder Farbtemperatur enthält, schiebt diese in der bit-richtigen Reihenfolge in die Schieberegisterkette und signalisiert im korrekten Takt den integrierten Schaltkreisen die Übernahme, woraufhin diese ihre Schattenregister entsprechend laden und die PWM-Modulation der LED-Treiber bezüglich Amplitude und Duty-Cycle bzw. Füllfaktor entsprechend den geladenen Helligkeits- und Farbtemperaturwerten einstellen.
  • Hierbei treten bei der Verwendung im Automobil mehrere Probleme auf, die zu lösen sind.
  • Zum Ersten erfordert die aus dem Stand der Technik bekannte Vorgehensweise und die aus dem Stand der Technik bekannte Anordnung zur Steuerung eines derartigen Leuchtbandes eine Versorgungsspannungsleitung, eine Masseleitung, eine Taktleitung, eine Signalisierungsleitung und eine Datenleitung, also insgesamt fünf Leitungen. Als Masseleitung kann ggf. die Karosserie des Autos genutzt werden, wenn diese nicht aus nicht leitendem Kunststoff oder einem anderen Isolator ist. Es verbleibt dann immer noch die Notwendigkeit von vier Leitungen. Dies führt zu Kosten und einer Gewichtszunahme.
  • Zum Zweiten ist kein Rückkanal vorgesehen, um beispielsweise Fehlerfälle erkennen zu können und/oder die Temperatur am Ort der LED messen zu können und/oder einen Selbsttest durchführen zu können etc.
  • Es ist also eine Lösung erforderlich, die die Programmierung und das Auslesen der integrierten Schaltungen über eine einzige Datenleitung ermöglicht.
  • Aus dem Stand der Technik ist das JTAG-Protokoll bekannt. Das JTAG-Protokoll hat sich zu einer der führenden Hilfsmittel bei der Programmierung, dem Test, dem Debugging und der Emulation von integrierten Schaltkreisen entwickelt. In einem Verfahren, das als Boundary-Scan-Verfahren bezeichnet wird, kann ein Host-Prozessor den Zustand einer integrierten Schaltung kontrollieren. Insbesondere ist der Host-Prozessor als Bus-Master über eine spezielle Schnittstelle, die JTAG-Schnittstelle nach IEEE 1149-Standard, in der Lage, die integrierte Schaltung als Busknoten geeignet zu programmieren und ggf. zu initialisieren. Des Weiteren ist der Host-Prozessor als Bus-Master in der Lage, den Zustand der integrierten Schaltung nach einer vorbestimmten Anzahl von Systemtaktperioden der JTAG-Schnittstelle nach IEEE 1149-Standard oder bei Erkennung eines vorbestimmten Ereignisses auszulesen oder während des Betriebs der integrierten Schaltung, d.h. des Busknotens, abzuändern. Dies umfasst auch das Anhalten der integrierten Schaltung oder den zwangsweisen Wechsel in andere Zustände oder das Ändern von Speicherinhalten. Das JTAG-Protokoll ist aber eine Punkt-zu-Punkt-Verbindung und damit für die Steuerung automobiler Leuchtbänder ungeeignet. Aus EP-B-0 503 117 ist zwar eine Verkettung von JTAG-Testschnittstellen seit langem bekannt. Diese Druckschrift offenbart aber die Verkettung von Vierdraht-JTAG-Schnittstellen. Damit erfüllt die bekannte Schnittstelle die Anforderung an die Ansteuerung automobiler LED basierender Lichtbänder durch einen Eindrahtdatenbus nicht.
  • Die im weiteren Verlauf beschriebene Erfindung betrifft somit ein Verfahren und eine Vorrichtung zur verketteten Steuerung und/oder zur Programmierung mehrerer integrierter Schaltungen, Mikrosysteme inkl. mikroelektromechanischer Systeme (MEMS) und integrierter mikroelektrooptischer Systeme (MEOS) mittels eines Eindrahtdatenbusses, wobei die zu steuernden integrierten Schaltungen, Mikrosysteme inkl. mikroelektromechanischer Systeme (MEMS) und integrierter mikroelektrooptischer Systeme (MEOS) jeweils die Rolle eines Busknotens einnehmen. Bei solchen Systemen ist es bereits heute üblich, diese für den Fertigungstest über einen JTAG-Test-Bus nach IEEE 1149-Standard in reiner Punkt-zu-Punkt-Konfiguration anzusteuern. Diese standardgemäße JTAG-Schnittstelle verfügt über einen Testdaten-Port mit typischerweise vier Testanschlüssen, nämlich über:
    1. 1. mindestens einen seriellen Dateneingang (Testdateneingang) TDI,
    2. 2. mindestens einen seriellen Datenausgang (Testausgang) TDo,
    3. 3. mindestens einen Mode-Eingang (Testmode-Eingang) TMS,
    4. 4. mindestens einen Takteingang (Testtakteingang) TCK,
    5. 5. einen optionalen Rücksetzeingang (Testrücksetzeingang) TRST.
  • Da das Verfahren seit mehreren Jahrzehnten bekannt ist, wird an dieser Stelle auf die entsprechende Fachliteratur und auf andere Publikationen verwiesen (z.B. IEEE 1149-Standards).
  • Hier sei nur so viel kurz beschrieben: Das JTAG-Protokoll nach IEEE 1149-Standard umfasst im Basisstandard fünf Signalgruppen, die zwischen der Emulationseinheit, die den Host-Prozessor enthält und damit als Bus-Master fungiert, und der integrierten Schaltung als Slave, im Folgenden jeweils mit Busknoten bezeichnet, ausgetauscht werden. Das TCK-Signal stellt den Systemtakt dar und synchronisiert zeitlich die interne Zustandsmaschine des Test-Controllers (TAPC) der JTAG-Testschnittstelle nach IEEE 1149-Standard der integrierten Schaltung. Das TMS-Signal steuert den Zustand dieses Test-Controllers (TAPC) der JTAG-Schnittstelle des Busknotens. Je nach Zustand des Test-Controllers (TAPC) führt die JTAG-Testschnittstelle des Busknotens unterschiedliche Operationen durch. Der TDI-Eingang stellt einen seriellen Dateneingang dar. Der TDo-Ausgang stellt einen seriellen Datenausgang dar. Die beiden Eingänge TMS und TDI werden typischerweise (aber nicht notwendigerweise) mit der steigenden TCK-Flanke abgetastet. Der Datenausgang (TDo) wechselt sein Datum typischerweise ebenfalls mit der fallenden Flanke des TCK-Signals. Die TCK-, TMS- und TDI-Einzelsignale bilden im Stand der Technik die Testdateneingangssignale. Im Zusammenhang mit der Erfindung bilden sie die Dateneingangssignale. Das TDo-Signal stellt das Ausgangssignal dar. Mit der steigenden Systemtaktflanke (TCK-Flanke) und bei geeigneter Einstellung des internen Instruktionsregisters (IR) eines Test-Controllers (TAPC) werden die Daten seriell über den seriellen Dateneingang TDI in verschiedene Schieberegisterketten, sogenannte Scan-Pfade, in die integrierte Schaltung als Busknoten hinein verschoben. Gleichzeitig wird der ursprüngliche Inhalt der betreffenden Scan-Kette am seriellen Datenausgang (TDo) ausgegeben. Hierbei können Zustandsvektoren endlicher Automaten innerhalb des Busknotens Teil der Scan-Kette sein. Somit ist eine Änderung der Inhalte und Zustände bzw. die Kontrolle dieser Inhalte und Zustände der Speicherzellen der Scan-Ketten über diese Schnittstelle im Stand der Technik leicht möglich. Hier sei nochmals auf die Fachliteratur verwiesen.
    • Fig. 1 (Stand der Technik)
  • Fig. 1 zeigt das standardisierte Zustandsdiagramm für einen JTAG-Test-Controller (TAPC) entsprechend dem Stand der Technik und der relevanten Normen. Nach dem Zurücksetzen des Systems befindet sich der Test-Controller (TAPC) in dem Zustand "Test-Logik zurücksetzen" (TLR). In diesem verbleibt er, solange das Test-Mode-Signal (TMS) 1 ist. Wird das Test-Mode-Signal (TMS) 0, so wechselt der Test-Controller (TAPC) synchron zum Systemtakt (TCK) in den "Wartezustand" (RUN). In diesem verbleibt der Test-Controller (TAPC), bis am Test-Mode-Signal (TMS) eine 1 anliegt. Dann wechselt der Test-Controller (TAPC) in den Zustand "Start des Datenregisterschiebens" (SDRS). Sofern das Test-Mode-Signal (TMS) auch beim nächsten Mal wieder eine 1 zeigt, wechselt der Test-Controller (TAPC) dann in den Zustand "Start Instruktionsregisterschieben" (SIRS). Sofern auch dann mit dem nächsten Takt wieder eine 1 auf dem Test-Mode-Signal (TMS) anliegt, wechselt der Test-Controller (TAPC) wieder in den Zustand "Testlogik zurücksetzen" (TLR) und setzt die Datenschnittstellenlogik zurück.
  • Liegt jedoch im Zustand "Start des Instruktionsregisterschiebens" (SIRS) eine 0 auf dem Test-Mode-Signal (TMS) vor, so wechselt der Test-Controller (TAPC) in den Zustand "Instruktionsregisterdaten laden" (CIR) in dem die Daten, die in einem Instruktionsschattenregister verfügbar sind, in das Instruktionsregister (IR) geladen werden. Insofern ist das Instruktionsregister (IR) ein zweistufiges Register, bei dem der Vordergrund durch ein Schieberegister gebildet wird und die eigentlichen Daten sich in einem Schattenregister befinden, das nur in diesem Zustand gelesen wird. Das Schieberegister des Instruktionsregisters (IR) dient der Zu- und Abführung der Daten, während das Schattenregister des Instruktionsregisters (IR) die eigentlichen, gültigen Daten enthält. Diese Zweistufigkeit gilt für alle Register, insbesondere auch für die Datenregister (DR) der JTAG-Schnittstelle und auch für die im Folgenden beschriebenen erfindungsgemäßen Register der erfindungsgemäßen Schnittstelle. Ggf. Kann das Schattenregister des Instruktionsregisters (IR) noch ganz oder teilweise in eines für Lese- und eines für Schreibvorgänge unterteilt sein. Weitere Sichtbarkeits- und Zugriffsmöglichkeitenänderungen in Abhängigkeit von inneren Zuständen sind möglich. Liegt im Zustand "Instruktionsregisterdaten laden" (CIR) beim nächsten Takt des Test-Mode-Signals (TMS) eine 1 an, so wechselt der Test-Controller (TAPC) direkt in den später beschriebenen Zustand "Instruktionsregister Exit 1" (EIR1). Liegt jedoch ein 0 an, so wechselt der Test-Controller (TAPC) in den Zustand "Schieben Instruktionsregister" (SIR) in dem er verbleibt, solange eine 0 am Test-Mode-Signal (TMS) anliegt. Nur in diesem Zustand wird das Schieberegister des Instruktionsregisters (IR) in der Funktion eines Schieberegisters betrieben und sein Dateninhalt mit jedem Takt des Systemtakts (TCK) um ein Bit in Richtung auf den seriellen Datenausgang (TDI) verschoben, mit dem die letzte Speicherzelle des Schieberegisters des Instruktionsregisters (IR) verbunden ist. Das Schattenregister des Instruktionsregisters (IR) wird diesem Schiebevorgang nicht unterworfen. Die am Dateneingang (TDI) anliegende Dateninformation wird mit jedem Takt des Systemtakts (TCK) in die erste Zelle des Schieberegisters des Instruktionsregisters (IR) geladen und von dort während des Schiebens mit jedem weiteren Takt weiterbefördert. Sofern aber bei einem Takt eine 1 an dem Test-Mode-Signal anliegt, verlässt der Test-Controller (TAPC) den Zustand "Instruktionsregister schieben" (SIR) und wechselt in den schon zuvor erwähnten Zustand "Instruktionsregister Exit 1" (EIR1). Sofern beim nächsten Takt des Systemtakts (TCK) wieder eine 1 anliegt, wechselt der Test-Controller (TAPC) in den Zustand "Instruktionsregister schreiben" (UIR2), indem der Wert des Schieberegisterteils des Instruktionsregisters (IR) in das Schattenregister des Instruktionsregisters (IR) geschrieben wird. Liegt jedoch im Zustand "Instruktionsregister Exit 1" (EIR1) eine 0 am Test-Mode-Signal (TMS) an, so wechselt der Test-Controller (TAPC) in den Zustand "Pause Instruktionsregister" (PIR), wo er verbleibt, solange als Test-Mode-Signal (TMS) eine 0 anliegt. Liegt im Zustand "Pause Instruktionsregister" (PIR) eine 1 auf dem Test-Mode-Signal (TMS) an, so wechselt der Test-Controller (TAPC) in den Zustand "Instruktionsregister Exit 2" (EIR2). Sofern mit dem nächsten Systemtakt (TCK) eine 0 auf dem Test-Mode-Signal (TMS) anliegt, wechselt der Test-Controller (TAPC) wieder zum bereits beschriebenen Zustand "Instruktionsregister schieben" (SIR) zurück. Sofern jedoch im Zustand "Instruktionsregister Exit 2" (EIR2) mit dem nächsten Systemtakt (TCK) eine 1 auf dem Test-Mode-Signal (TMS) anliegt, wechselt der Test-Controller (TAPC) in den Zustand "Instruktionsregister schreiben" (UIR2). Im darauf folgenden Takt wechselt der Test-Controller (TAPC) in den Zustand "Start des Datenregisterschiebens"(SDRS), wenn bei diesem Takt als Test-Mode-Signal (TMS) eine 1 anliegt, und in den Zustand "Warten" (RUN), wenn eine 0 anliegt.
  • Liegt im Zustand "Start des Datenregisterschiebens" (SDRS) als Test-Mode-Signal (TMS) eine 0 vor, so wechselt der Test-Controller (TAPC) in den Zustand "Datenregisterdaten laden" (CDR), in dem die Daten, die in einem Datenschattenregister verfügbar sind, in das jeweilige Datenregister (DR) geladen werden. Welches Datenregister (DR) von mehreren Datenregistern ausgewählt wird, bestimmen dabei standardgemäß zumindest ein Teil der gültigen Bits des Schattenregisters des Datenregisters (DR). Auch hier ist typischerweise das Datenregister (DR) ein zweistufiges Register, bei dem der Vordergrund durch ein Schieberegister gebildet wird und die eigentlichen Daten sich in einem Schattenregister befinden, das nur in diesem Zustand gelesen wird. Das Schieberegister des Datenregisters (DR) dient auch hier der Zu- und der Abführung der Daten, während das Schattenregister des Datenregisters (DR) die eigentlichen Daten enthält. Diese Zweistufigkeit gilt, wie gesagt, für alle Register der JTAG-Schnittstelle, auch die im Folgenden beschriebenen erfindungsgemäßen Register der erfindungsgemäßen Schnittstelle, die standardgemäß als Datenregister (DR) ausgeführt werden. Ggf. Kann das Schattenregister des Datenregisters (DR) wieder ganz oder teilweise in eines für Lese- und eines für Schreibvorgänge unterteilt sein. Weitere Sichtbarkeits- und Zugriffsmöglichkeitenänderungen in Abhängigkeit von inneren Zuständen sind auch hier möglich. Liegt im Zustand "Datenregisterdaten laden" (CDR) beim nächsten Takt des Test-Mode-Signals (TMS) eine 1 an, so wechselt der Test-Controller (TAPC) direkt in den später beschriebenen Zustand "Datenregister Exit 1" (EDR1). Liegt jedoch ein 0 an, so wechselt der Test-Controller (TAPC) in den Zustand "Schieben Datenregister" (SDR), in dem er verbleibt, solange eine 0 am Test-Mode-Signal (TMS) anliegt. Nur in diesem Zustand und sonst nicht wird das Schieberegister des Datenregisters (DR) in der Funktion eines Schieberegisters betrieben und sein Dateninhalt mit jedem Takt des Systemtakts (TCK) um ein Bit in Richtung auf den seriellen Datenausgang (TDI) verschoben, mit dem die letzte Speicherzelle des Schieberegisters des Datenregisters (DR) verbunden ist. Das Schattenregister des Datenregisters (DR) wird diesem Schiebevorgang nicht unterworfen. Die am Dateneingang (TDI) anliegende Dateninformation wird mit jedem Takt des Systemtakts (TCK) in die erste Zelle des Schieberegisters des Datenregisters (DR) geladen und von dort während des Schiebens mit jedem weiteren Takt weiterbefördert. Sofern aber bei einem Takt als Test-Mode-Signal (TMS) eine 1 anliegt, verlässt der Test-Controller (TAPC) den Zustand "Datenregister schieben" (SDR) und wechselt in den schon zuvor erwähnten Zustand "Datenregister Exit 1" (EDR1). Sofern beim nächsten Takt des Systemtakts (TCK) wieder eine 1 anliegt, wechselt der Test-Controller (TAPC) in den Zustand "Datenregister schreiben" (UIR2), in dem der Wert, des Schieberegisterteils des Datenregisters (DR) in das Schatten-register des Datenregisters (DR) geschrieben wird. Liegt jedoch im Zustand "Datenregister Exit 1" (EDR1) als Test-Mode-Signal (TMS) eine 0 an, so wechselt der Test-Controller (TAPC) in den Zustand "Pause Datenregister" (PDR), in dem er verbleibt, solange als Test-Mode-Signal (TMS) eine 0 anliegt. Liegt im Zustand "Pause Datenregister" (PDR) als Test-Mode-Signal (TMS) eine 1 an, so wechselt der Test-Controller (TAPC) in den Zustand "Datenregister Exit 2" (EDR2). Sofern mit dem nächsten Systemtakt (TCK) als Test-Mode-Signal (TMS) eine 0 anliegt, wechselt der Test-Controller (TAPC) wieder zum bereits beschriebenen Zustand "Datenregister schieben" (SDR) zurück. Sofern jedoch im Zustand "Datenregister Exit 2" (EDR2) mit dem nächsten Systemtakt (TCK) eine 1 auf dem Test-Mode-Signal (TMS) anliegt, wechselt der Test-Controller (TAPC) in den Zustand "Datenregister schreiben" (UDR2). Im darauf folgenden Takt wechselt der Test-Controller (TAPC) in den Zustand "Start des Datenregisterschiebens" (SDRS), wenn bei diesem Takt als Test-Mode-Signal (TMS) eine 1 anliegt, und in den Zustand "Warten" (RUN), wenn eine 0 anliegt.
  • Es ist besonders sinnvoll, dieses Zustandsschema des IEEE 1149-JTAG-Standards zu verwenden, um kompatibel zu dem bereits großflächig im Einsatz befindlichen Standard auf Software-Eben zu bleiben. Selbstverständlich sind Abweichungen von diesem JTAG-Standard denkbar. Die Beschreibung der Erfindung erfolgt anhand des Beispiels, dass dieser JTAG-Standard für das Zustandsdiagramm des Test-Controllers (TAPC) eingehalten wird.
  • Die Halbleiterindustrie hat in den vergangenen Jahren mehrfach versucht, die Anzahl der zu verwendenden Anschlüsse für solche JTAG-Schnittstellen zu reduzieren, um die Größe der benötigten Gehäuse und damit die Herstellkosten zu beschränken. In US-A-2007/0033465 ist eine Technik beschrieben, die keine konsistente Wandlung der Daten des IEEE 1149.1 4-Wire-JTAG-Protokolls in die Daten des dort beschriebenen Verfahrens und umgekehrt erlaubt. Die dort beschriebene Vorrichtungsanordnung und das dort beschriebene Verfahren erfordern synchronisierte Zeitschlitze zwischen dem Bus-Master, also dem Host-Prozessor, und dem Busknoten als Slave, also der integrierten Schaltung, die getestet, programmiert oder debugged werden soll. Im Falle einer fehlenden zeitlichen Synchronisation des Zugriffs von Bus-Master und Busknoten auf den Testdatenbus kann der TDo-Ausgangstreiber des Busknotens und der Bus-Master-Ausgangstreiber (typischerweise eine Push-Pull-Stufe) bei gleichzeitigem sendenden Zugriff auf die Testdatenleitung einen Kurzschluss erzeugen. Außerdem offenbart sie nur eine Punkt-zu-Punkt-Verbindung.
  • Aus der US-A-2007/0033465 ist eine Mehrpegel-Eindraht-Punkt-zu-Punkt-Anordnung bekannt, die bereits nur mit einer Datenleitung auskommt, aber nicht für eine Ansteuerung mehrerer Busknoten geeignet ist. Die Erweiterung durch die in der EP-B-0 503 117 ist nicht möglich, da diese keine geeignete Methode zur bidirektionalen Weiterschaltung der Zwischenpegel offenbart.
    • Aufgabe der Erfindung
  • Es ist die Aufgabe der Erfindung eine bidirektionale, frei konfigurierbare Übertragung von Beleuchtungsdaten mit nur einer Datenleitung für mehr als einen Busknoten (BS1,BS2,BS3) als Slave eines Bus-Masters (BM) zu ermöglichen.
  • Diese Aufgabe wird durch den Gegenstand des Anspruchs 1 gelöst. Einzelne Ausgestaltungen der Erfindung sind Gegenstand der Unteransprüche.
    • Beschreibung der Erfindung
  • Erfindungsgemäß wurde erkannt, dass sich ein Eindraht-Test-Bus, wie er mit dem zugehörigen Betriebsverfahren beispielsweise in den Schriften DE-B-10 2015 004 434 , DE-B-10 2015 004 433 , DE-B-10 2015 004 435 und DE-B-10 2015 004 436 beschrieben ist, ganz besonders für die Übertragung solcher Daten, insbesondere für die Steuerung der Leuchtmittel von Leuchtbändern, eignet, wenn jeder Busknoten eine geeignete Teilvorrichtung zur bidirektionalen Weiterschaltung aufweist.
  • Im Gegensatz zum Gegenstand der DE-B-10 2015 004 434 , DE-B-10 2015 004 433.8 , DE-B-10 2015 004 435 und DE-B-10 2015 004 436 werden nun jedoch keine Testdaten, sondern Nutzdaten zur Beleuchtungssteuerung übertragen. Des Weiteren ist auch der in DE-B-10 2015 004 434 , DE-B-10 2015 004 433 , DE-B-10 2015 004 435 und DE-B-10 2015 004 436 offenbarte Test-Bus nur für eine Punkt-zu-Punkt-Verbindung ausgelegt. Erfindungsgemäß ist dieser Test-Bus nun so zu modifizieren, dass mehrere Bus-Slaves als Busknoten angesteuert und betrieben werden können. Die Steuerdaten werden dabei erfindungsgemäß in ein spezielles Datenregister (DR) einer JTAG-Schnittstelle geschrieben bzw. von einem solchen gelesen.
  • Die Erfindung umfasst ein Verfahren zur Initialisierung eines Eindrahtdatenbusses, wie er hier beschrieben und zwischen einer ersten Teilvorrichtung (dem Bus-Master (BM)) und mindestens zwei weiteren Teilvorrichtungen (den Busknoten (BS1,BS2,BS3)) angeordnet ist. Dabei weist der Datenbus eine Bezugspotenzialleitung (GND) mit einem Bezugspotenzial (V0) und einen Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) auf, der durch den Bus-Master (BM) und die mindestens zwei Busknoten in mindestens zwei Eindrahtdatenbusabschnitte (b1,b2,b3) unterteilt wird und durch mindestens einen der Busknoten (BS1,BS2,BS3) (den abschließenden Busknoten (BS3)) abgeschlossen wird. Das erfindungsgemäße Verfahren umfasst als ersten Schritt das Bereitstellen einer neuen Busknotenadresse durch den Bus-Master. Dies kann beispielsweise durch einfaches Hochzählen eines internen Wertes im Bus-Master erfolgen. Es folgt als zweiter Schritt das Ablegen dieser Busknotenadresse in einem Busknotenadressregister (BKADR) eines Busknotens (BS1,BS2,BS3) (des betrachteten Busknotens) durch den Bus-Master (BM). Dabei sind der Bus-Master (BM) und der betrachtete Busknoten durch einen oder mehrere Eindrahtdatenbusabschnitte (b1,b2,b3) miteinander datenmäßig verbunden. Vorzugsweise wird das Busknotenadressregister (BKADR) als eigenständiges Datenregister (DR) im Busknoten realisiert. Es kann aber auch als Teil eines Daten- oder Instruktionsregisters (IR) der JTAG-Schnittstelle des betrachteten Busknotens realisiert werden. Die Programmierung wird dann aber ggf. aufwändiger. Wie zuvor ist die JATG-Schnittstelle im Sinne dieser Erfindung dadurch gekennzeichnet, dass sie einen Test-Controller (TAPC) mit einem Zustandsdiagram entsprechend dem IEEE 1149-Standard oder eines seiner Unterstandards, wie im Zusammenhang mit Fig. 1 erläutert, aufweist. Als dritten Schritt folgt nach dieser Busknotenadressvergabe das Verbinden der bereits mit dem betrachteten Busknoten und dem Bus-Mater (BM) verbundenen einen oder mehrere Eindrahtdatenbusabschnitte (b1,b2,b3) mit einem oder mehreren weiteren Eindrahtdatenbusabschnitten (b1,b2,b3), und zwar durch das Schließen des Transfer-Gates (TG) des betrachteten Busknotens. Um bei der nächsten Busknotenadressvergabe ein Überschreiben der zuvor vergebenen Busknotenadresse im Busknotenadressregister (BKADR) des betrachteten Busknotens zu verhindern, verhindert eine Logik innerhalb des Busknotens eine solche Ablage einer Busknotenadresse in dem Busknotenadressregister (BKADR) des betrachteten Busknotens (BS1,BS2,BS3) so lange, wie das Transfer-Gate (TG) des betrachteten Busknotens geschlossen ist. Ein Beschreiben des Busknotenadressregisters ist daher erfindungsgemäß nur mit geöffnetem Transfer-Gate des betrachteten Busknotens (b1,b2,b3) möglich.
  • Eine Ausprägung des erfindungsgemäßen Verfahrens umfasst als weiteren Schritt das Ablegen eines Befehls zum Öffnen eines Transfer-Gates (TG) in dem Instruktionsregister (IR) oder einem Transfer-Gate-Control-Register (TGCR) der JTAG-Schnittstelle des betrachteten Busknotens. Hierdurch kann der Bus-Master (BM) den Bus jederzeit neu initialisieren. Vorzugsweise wird das Transfer-Gate-Control-Register (TGCR) hierfür benutzt und mit einer identischen Instruktion im Instruktionsregister (IR) angesprochen.
  • Eine weitere Ausprägung des erfindungsgemäßen Verfahrens umfasst als weiteren Schritt das Überprüfen der korrekten Adressierung zumindest eines Busknotens durch zyklisches Schreiben und Lesen, insbesondere eines Bypass-Registers.
  • Eine weitere Ausprägung des erfindungsgemäßen Verfahrens umfasst als weiteren Schritt das Ermitteln der Anzahl korrekt adressierbarer Busknoten durch den Bus-Master (BM). Es folgt dann das Vergleichen der Anzahl korrekt adressierbarer Busknoten mit einer Sollanzahl und das durch den Bus-Master oder ein angeschlossenes System erfolgende oder initiierte Auslösen mindestens eines Signals oder einer Maßnahme in Abhängigkeit von der Anzahl.
  • Eine weitere Ausprägung des erfindungsgemäßen Verfahrens umfasst als weiteren Schritt das gleichzeitige Übermitteln einer Sendeadresse an alle erreichbaren Busknoten durch Beschreiben von Senderegistern (SR) aller Busknoten durch den Bus-Master (BM) mit dieser Sendeadresse, wobei das Senderegister (SR) des jeweiligen Busknotens ein Datenregister oder ein Teil eines Datenregisters oder ein Teil des Instruktionsregisters (IR) der JTAG-Schnittstelle dieses Busknotens ist, und wobei das Busknotenadressregister (BKADR) kein Teil des betreffenden Registers ist. Als zweiter Schritt folgt der Vergleich der Sendeadresse im Senderegister (SR) mit der Busknotenadresse im Busknotenadressregister (BKADR) durch jeden Busknoten mittels eines vorbestimmten Vergleichsalgorithmus. Vorzugsweise wird auf Gleichheit geprüft. Andere Algorithmen sind aber denkbar. Als dritter Schritt folgt entweder die Aktivierung der Sendefähigkeit für den jeweiligen Busknoten zu den dafür vorgesehenen Zeitpunkten, wenn der Vergleichsalgorithmus des zuvor durch diesen jeweiligen Busknoten ausgeführten Vergleiches eine ausreichende Übereinstimmung mit der für die Sendeerlaubnis erwarteten Kombination aus der in seinem Busknotenadressregister (BKADR) abgelegten Busknotenadresse und der in seinem Senderegister (SR) abgelegten Sendeadresse ergibt, oder es erfolgt als alternativer dritter Schritt die Deaktivierung der Sendefähigkeit für den jeweiligen Busknoten, wenn der Vergleichsalgorithmus des zuvor durch diesen jeweiligen Busknoten ausgeführten Vergleiches keine ausreichende Übereinstimmung mit der für die Sendeerlaubnis erwarteten Kombination aus der in seinem Busknotenadressregister (BKADR) abgelegten Busknotenadresse und der in seinem Senderegister (SR) abgelegten Sendeadresse ergibt.
  • Um sicherzustellen, dass nur der Busknoten die für ihn bestimmten Daten erhält, kann es sinnvoll sein, wenn nicht nur das Senden des Busknotens gesteuert wird, sondern auch das Empfangen des Busknotens. Hierzu werden bestimmte Register ganz oder teilweise für ein Beschreiben durch den Bus-Master gesperrt, bis die Sendeadresse im Senderegister (SR) mit der Busknotenadresse im Busknotenadressregister (BKADR) übereinstimmt. Diese Sperrung kann die Sperrung des Schieberegisterteils eines oder mehrerer Datenregister (DR) oder die Datenübernahme vom Schieberegisterteil eines oder mehrerer Datenregister (DR) oder des Instruktionsregisters in das Schattenregister betreffen. Dabei können ggf. auch nur einzelne oder mehrere Bits durch eine Sperrung der Datenübernahme betroffen sein. Es ist notwendig, stets die Übertragung bestimmter Befehle (zumindest das Schreiben des Senderegisters (SR)) zuzulassen. Daher beginnt die Übertragung eines Kommandos oder von Daten an einen zuvor nicht angesprochenen Busknoten wie zuvor mit dem gleichzeitigen Übermitteln einer Sendeadresse an alle erreichbaren Busknoten durch Beschreiben der Senderegister (SR) aller Busknoten durch den Bus-Master (BM) mit dieser Sendeadresse. Dabei ist das jeweilige Senderegister (SR) des betrachteten Busknotens ein Datenregister oder ein Teil eines Datenregisters oder ein Teil des Instruktionsregisters (IR) der JTAG-Schnittstelle dieses Busknotens. Wie zuvor darf das Busknotenadressregister (BKADR) kein Teil des betreffenden Registers sein. Es folgt wieder der Vergleich der Sendeadresse im Senderegister (SR) mit der Busknotenadresse im Busknotenadressregister (BKADR) durch jeden Busknoten mittels des besagten Vergleichsalgorithmus. Schließlich folgt die Aktivierung der Empfangsfähigkeit des jeweiligen Busknotens für den Inhalt eines vorbestimmten Datenregisters des jeweiligen Busknotens, wenn der Vergleichsalgorithmus des zuvor durch diesen jeweiligen Busknoten ausgeführten Vergleiches eine ausreichende Übereinstimmung mit der für die Sendeerlaubnis erwarteten Kombination aus der in seinem Busknotenadressregister (BKADR) abgelegten Busknotenadresse und der in seinem Senderegister (SR) abgelegten Sendeadresse ergibt. Im anderen Fall folgt die Deaktivierung der Empfangsfähigkeit des jeweiligen Busknotens für den Inhalt eines vorbestimmten Datenregisters des jeweiligen Busknotens auf die Sendefähigkeit für den jeweiligen Busknoten, wenn der Vergleichsalgorithmus des zuvor durch diesen jeweiligen Busknoten ausgeführten Vergleiches keine ausreichende Übereinstimmung mit der für die Sendeerlaubnis erwarteten Kombination aus der in seinem Busknotenadressregister (BKADR) abgelegten Busknotenadresse und der in seinem Senderegister (SR) abgelegten Sendeadresse ergibt.
  • Sofern das Beschreiben von Teilen des Instruktionsregisters (IR) oder von Teilen des Datenregisters gesperrt bzw. entsperrt werden soll, beginnt das entsprechende Verfahren mit dem gleichzeitigen Übermitteln einer Sendeadresse an alle erreichbaren Busknoten durch Beschreiben der Senderegister (SR) aller Busknoten seitens des Bus-Masters (BM) mit dieser Sendeadresse, wobei das Senderegister (SR) eines jeweiligen Busknotens ein Datenregister oder ein Teil eines Datenregisters oder ein Teil des Instruktionsregisters (IR) der JTAG-Schnittstelle dieses Busknotens ist, und wobei das Busknotenadressregister (BKADR) kein Teil des betreffenden Registers ist. Es folgt wieder der Vergleich der Sendeadresse im Senderegister (SR) mit der Busknotenadresse im Busknotenadressregister (BKADR) durch jeden Busknoten mittels des besagten Vergleichsalgorithmus. Je nach Ergebnis des Vergleiches folgt die Aktivierung der Empfangsfähigkeit des jeweiligen Busknotens für den Inhalt vorbestimmter Inhalte des Instruktionsregisters (IR) des jeweiligen Busknotens zur Zulassung vorbestimmter Befehle für einen Instruktionsdecoder (IRDC) der JTAG-Schnittstelle des jeweiligen Busknotens, wenn der Vergleichsalgorithmus des zuvor durch diesen jeweiligen Busknoten ausgeführten Vergleichs eine ausreichende Übereinstimmung mit der für die Sendeerlaubnis erwarteten Kombination aus der in seinem Busknotenadressregister (BKADR) abgelegten Busknotenadresse und der in seinem Senderegister (SR) abgelegten Sendeadresse ergibt. Im anderen Fall erfolgt die Deaktivierung der Empfangsfähigkeit des jeweiligen Busknotens für den Inhalt vorbestimmter Inhalte des Instruktionsregisters (IR) des jeweiligen Busknotens zur Unterdrückung vorbestimmter Befehle für einen Instruktionsdecoder (IRDC) der JTAG-Schnittstelle des jeweiligen Busknotens, wenn der Vergleichsalgorithmus des zuvor durch diesen jeweiligen Busknoten ausgeführten Vergleiches keine ausreichende Übereinstimmung mit der für die Sendeerlaubnis erwarteten Kombination aus der in seinem Busknotenadressregister (BKADR) abgelegten Busknotenadresse und der in seinem Senderegister (SR) abgelegten Sendeadresse ergibt.
  • Die vorstehenden und anderen Aufgaben können durch die Bereitstellung einer Schnittstelleneinheit mit einer JTAG-Schnittstelle für das erfindungsgemäße Verfahren gelöst werden, die eine zeitliche Abfolge zeitlich gemultiplexter Signale mittels einer Schnittstelleneinrichtung mit der integrierten Schaltung austauschen kann. Die Signale werden so formatiert, dass alle Informationen, die durch die JTAG-Schnittstelle für die Steuerung des Datenflusses und die Einstellung der Beleuchtungsparameter der angeschlossenen Leuchtmittel benötigt werden, über diese Schnittstelle seriell übertragen werden. Hierbei werden alle Datenwerte des JTAG-Boundary-Protokolls in dafür vorgesehenen Zeitschlitzen übertragen. Neben dem zeitlichen Multiplexen der JTAG-Steuersignale kann die erfindungsgemäße Schnittstellenvorrichtung drei verschiedene Spannungsbereiche (VB1,VB2,VB3) verwenden, um
    1. 1. mindestens die Daten des seriellen Testdateneingangs TDI und
    2. 2. mindestens die Daten des einen seriellen Testausgangs TDo und
    3. 3. mindestens die Steuerdaten des Testmode-Eingangs TMS zur Steuerung des Test-Controllers der integrierten Schaltung und
    4. 4. mindestens den Testtakt zur Versorgung des Test-Controllers mit seinem Test-SystemTakt TCK und
    5. 5. ein optionalen Testrücksetzsignal TRST
    zu übertragen.
  • Die Erfindung ist jeweils definiert in den unabhängigen Patentansprüchen. Einzelne Ausgestaltungen der Erfindung sind Gegenstand der Unteransprüche. Die im Folgenden in Klammern gesetzten Zeichenketten sollen das Verständnis der Erfindung erleichtern, indem auf die Figuren verwiesen wird, was jedoch die Allgemeingültigkeit der nachfolgenden Erfindungsbeschreibung nicht einschränkt.
  • Bei der Erfindung kann ein bidirektionaler Datenbus eingesetzt werden, der zwischen einer ersten Teilvorrichtung, dem Bus-Master (BM), und mindestens zwei weiteren Teilvorrichtungen, den Busknoten angeordnet wird. Dabei ist der Busknoten identisch mit der zuvor erwähnten integrierten Schaltung zur Steuerung von Leuchtmitteln mittels im weitesten Sinne PWM, deren Zustände kontrolliert bzw. geändert werden sollen. Der bidirektionale Datenbus ist auch für die Steuerung anderer Verbraucher elektrischer Energie geeignet. Dieser bidirektionale Datenbus weist vorzugsweise nur eine Masseleitung (GND) und eine einzelne Datenleitung in Form eines Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) auf, der durch die Busknoten (BS1,BS2,BS3) in verschiedene Eindrahtdatenbusabschnitte (b1,b2,b3) unterteilt wird. Hierdurch benötigen die Busknoten jeweils nur zwei einzelne zusätzliche elektrische Anschlüsse. Um nun sowohl Daten in einen der Busknoten, im Folgenden "betrachteter Busknoten" genannt, hinein senden zu können, als auch Daten aus dem betrachteten Busknoten auslesen zu können, können die Daten über den Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) bidirektional übertragen werden. Dabei entsteht das Problem, dass neben der Datenübertragung auch ein Synchronisationssignal übertragen werden muss. Hierfür wird über den Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) der Systemtakt durch ein Taktsignal, das TCK-Signal, insbesondere vom Bus-Master zu den Busknoten zusätzlich übertragen. Um diese Kommunikation zu ermöglichen, verfügen die Busknoten über eine erste Einrichtung, die den Pegel auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder auf einem angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) mit einem ersten Schwellwert vergleicht. Bevorzugt ist eine Realisierung dieser ersten Einrichtung in Form eines ersten Komparators (C2H), der den besagten Pegel mit dem eines ersten Schwellwertsignals (V2H), vergleicht. Entsprechend verfügt der Busknoten des Weiteren über eine zweite Einrichtung, die den Signalpegel in Form einer Signalspannung auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder auf einem angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) mit einem zweiten Schwellwert vergleicht.
  • Dies geschieht bevorzugt durch einen zweiten Komparator (C2L), der den Signalpegel in Form einer Signalspannung auf den Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder auf einem angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) mit dem Spannungspegel eines zweiten Schwellwertsignals (V2L) vergleicht. Ist der erste Schwellwert (V2H) vom zweiten Schwellwert (V2L) verschieden und liegen die Schwellwerte innerhalb des Versorgungsspannungsbereiches, so werden durch diese zwei Schwellwerte (V2H,V2L) drei Spannungsbereiche(VB1,VB2,VB3) definiert und festgelegt. Dabei messen der erste und zweite Komparator (C2H,C2L) auf Busknoten-Seite, in welchem Spannungsbereich (VB1,VB2,VB3) sich der Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder der jeweils an den betrachteten Busknoten angeschlossene Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) gerade befindet. Der erste und zweite Schwellwert definieren somit zwischen der Betriebsspannung (VIO) und dem Bezugspotenzial (V0) der Bezugspotenzialleitung (GND) die drei besagten Signalspannungsbereiche (VB1,VB2,VB3). Zur besseren Klarheit sei der mittlere Spannungsbereich als zweiter Spannungsbereich (VB2) benannt. Dieser wird von einem ersten Spannungsbereich (VB1) nach oben oder unten hin begrenzt. Es ist hierbei bewusst offengelassen, ob es sich beim ersten Spannungsbereich (VB1) um einen Spannungsbereich mit positiveren oder negativeren Spannungen als die Spannungen des mittleren, zweiten Spannungsbereichs (VB2) handelt, da das System auch mit umgekehrten Spannungspolaritäten funktioniert. Gleichzeitig wird korrespondierend der zweite Spannungsbereich (VB2) zur anderen Spannungsseite hin, also nach unten oder oben hin, aber andersherum als beim ersten Spannungsbereich (VB1) durch einen dritten Spannungsbereich (VB3) begrenzt.
  • Um die Daten vom Bus-Master (BM), also dem Host-Prozessor, zu einem Busknoten (BS1,BS2,BS3) zu übertragen, werden in mindestens drei aufeinanderfolgenden Zeitschlitzen (TIN0,TIN1,TDO) durch den Bus-Master (BM) oder den betrachteten Busknoten (BS1,BS2,BS3) Daten über den Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder den an den Busknoten (BS1,BS2,BS3) angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) übertragen. Welcher Busknoten (BS1,BS2,BS3) dabei eine Sendeberechtigung hat, wird durch die zeitliche Position des jeweiligen Zeitschlitzes (TIN0,TIN1,TDO) sowie durch den Inhalt der Busknotenadressregister (BKADR) der Busknoten und die durch den Bus-Master (BM) zuvor übermittelte Sendeadresse festgelegt. Hierbei werden in dem Paket der drei aufeinanderfolgenden Zeitschlitze (TIN0,TIN1,TDO) dem Bus-Master (BM) typischerweise zwei Zeitschlitze (TINO,TIN 1) und dem betrachteten Busknoten (BS1,BS2,BS3) typischerweise ein Zeitschlitz (TDO) zugewiesen. Welche(r) der Busknoten (BS1,BS2,BS3) senden darf (dürfen), wird vorteilhafterweise durch ein Datum, nämlich die Sendeadresse des betrachteten Busknotens (BS1,BS2,BS3), festgelegt, das der Bus-Master in allen Senderegistern (SR) aller erreichbaren Busknoten, deren Einzeldrahtdatenbusabschnitte gerade eine Verbindung zum Bus-Master (BM) ermöglichen, gleichzeitig übermittelt und ablegt. Alle Busknoten vergleichen diese Sendeadresse in ihren jeweiligen Senderegistern (SR) mit einer ihnen in ihren Busknotenadressregistern (BKADR) während der Businitialisierung eingespeicherten eigenen Busknotenadresse und senden nur dann, wenn die übermittelte Sendeadresse in ihrem Senderegister (SR) mit der eigenen eingespeicherten Busknotenadresse in ihrem Busknotenadressregister (BKADR) übereinstimmt und dann auch nur zu den vorbestimmten Zeiten. Die relative Zeitschlitzposition innerhalb des Paketes aus mindestens drei Zeitschlitzen (TIN0,TIN1,TDO) ist dabei vorzugsweise (aber nicht notwendigerweise) für vorzugsweise alle Busknoten immer gleich. Besonders bevorzugt enthalten der erste Zeitschlitz (TINO) und der zweite Zeitschlitz (TIN1) ein Kontrolldatum und/oder ein erstes Datum, das vom Bus-Master (BM) zu den Busknoten (BS1,BS2,BS3) übertragen wird, wobei das Kontrolldatum und das erste Datum insbesondere und vorzugsweise mit den Daten des Vierdraht-Testdatenbusses gemäß IEEE1149 kompatibel sein sollten und wobei die Busknoten das Kontrolldatum und das erste Datum empfangen. Hierdurch können beispielsweise Busknotenadressen, Sendeadressen und Beleuchtungsdaten übertragen werden.
  • Im Gegensatz zum Stand der Technik wird nun jedoch im dritten Zeitschlitz das Datum vom betrachteten Busknoten (BSn) zum Bus-Master (BM) nur im zweiten und dritten Spannungsbereich(VB3) und eben nicht im ersten Spannungsbereich (VB1) übertragen, wenn die übermittelte und im Senderegister (SR) der JTAG-Schnittstelle des Busknotens abgelegte Sendeadresse mit der im Busknotenadressregister (BKADR) des Busknotens während der Businitialisierung abgelegten eingespeicherten Busknotenadresse übereinstimmt. Somit enthält der dritte Zeitschlitz vorteilhafterweise ein zweites Datum, das vom betrachteten Busknoten (BS1,BS2,BS3) zum Bus-Master (BM) übertragen wird, wobei der Bus-Master (BM) dieses zweite Datum empfängt und wobei das zweite Datum nur im zweiten Spannungsbereich (VB2) und im dritten Spannungsbereich (VB3) übertragen wird. Gleichzeitig wird der Takt durch den Bus-Master (BM) in jedem Zeitschlitz übertragen. Das Taktsignal (TCK) wird dabei durch ein Taktsignal signalisiert, das zwischen dem ersten Spannungsbereich (VB1) in einer ersten Halbtaktperiode der mindestens zwei Halbtaktperioden (T1H,T2H) einer Systemtaktperiode (T) auf der einen Seite und dem zweiten Spannungsbereich (VB2) oder dritten Spannungsbereich (VB3) in der zweiten Halbtaktperiode der mindestens zwei Halbtaktperioden (T1H,T2H) einer Systemtaktperiode (T) schwankt. Das Taktsignal kann daher dadurch detektiert werden, dass die Spannung auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder auf einem angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) aus dem zweiten Spannungsbereich (VB2) oder dritten Spannungsbereich (VB3) in den ersten Spannungsbereich (VB1) und umgekehrt wechselt. Der Wechsel der entsprechenden Schwellspannung (V2L) kann durch den zugehörigen Komparator (C2L) oder die entsprechende Einrichtung erkannt werden. Somit wird es möglich, den Systemtakt (TCK) auf der Busknoten-Seite, also der Seite der integrierten Schaltung, sicher zu extrahieren. Hierbei ist die Konstruktion der Takteinprägung im Vergleich zur Konstruktion der Einprägung der anderen Signale mit Vorteil so gewählt, dass der Takt-Sender auf Seiten des Bus-Masters (BM) alle anderen Pegelquellen, die an der Datenleitung parallel aktiv sein können, überschreiben kann. Dies ist ein wesentlicher Unterschied zum Stand der Technik. In der Realität kann es daher erforderlich sein, externe größere Transistoren für die Einprägung des Taktes auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder auf einem angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) vorzusehen, um möglichst viele Busknoten mit einem Takt versorgen zu können.
  • Beim bidirektionalen Senden der Daten auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder auf einem angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) durch den Bus-Master (B) und die Busknoten (BS1,BS2,BS3) können drei logische Zustände verwendet werden, wobei diese logischen Zustände eine Hierarchie haben und ein Taktzustand, hier der in dem der Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder ein angeschlossener Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) sich im ersten Spannungsbereich (VB1) befindet, die höchste Priorität hat und nicht durch andere Sendeeinrichtungen überschrieben werden kann. Hierdurch ist sichergestellt, dass der Bus-Master und die Busknoten zumindest hinsichtlich des Basistaktes stets synchron arbeiten können. Um diesen ersten logischen Zustand, bei dem der Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder ein angeschlossener Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) in den ersten Spannungsbereich (VB1) gezwungen wird, herstellen zu können, weist die Master-Eindrahtdatenbusschnittstelle (OWM) des Bus-Masters (BM), vorzugsweise einen (dominanten) Schalter (S1L) auf, der den Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder einen angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) beispielsweise gegen das Bezugspotenzial (V0) der Bezugspotenzialleitung (GND) in den zugehörigen Halbtaktperioden der mindestens zwei Halbtaktperioden (T1H, T2H) der jeweiligen Systemtaktperiode (T) kurzschließt. Dieser periodische Kurzschluss kann dann durch andere Sender nicht mehr überschrieben werden, wenn deren Innenwiderstand höher ist, als der des dominanten Schalters (S1L). Beispielsweise wird der Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder ein angeschlossener Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) durch einen Spannungsteiler aus einem ersten Spannungsteilerwiderstand (R0H) gegen eine Spannung, beispielsweise die Versorgungsspannung (VIO), und einem zweiten Spannungsteilerwiderstand (R0L) gegen eine andere Spannung, beispielsweise das Bezugspotenzial (V0) im zweiten Spannungsbereich (VB2) gehalten bzw. in diesen zurückgeführt, wenn keiner der anderen Sender (S1L,S1H,I1,S2H,I2) des Bus-Masters (BM) oder der Busknoten (BS1,BS2,BS3) sendet. Um nun Daten zu übertragen, wird der Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder ein angeschlossener Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) im Gegensatz zum Stand der Technik durch die Sender des Bus-Masters (BM) und/oder der Busknoten (BS1,BS2,BS3) aus dem zweiten Spannungsbereich (VB2) in den dritten Spannungsbereich (VB3) gebracht, wenn ein dem logischen Datenwert des zweiten Spannungsbereichs (VB2) entgegengesetzter logischer Wert übertragen werden soll. Hierzu speist die jeweilige sendende Einheit, also der Bus-Master oder der betrachtete Busknoten (BS1,BS2,BS3), einen Strom in den Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder den betreffenden, angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) ein. Dieser eingespeiste Strom führt zu einem geänderten Spannungsabfall über die Spannungsteilerwiderstände (R0H, R0L). Bei einer geeigneten Polarität des eingespeisten Stroms wird der Spannungspegel auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder auf einem angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) vom zweiten Spannungsbereich(VB2) in den dritten Spannungsbereich (VB3) verschoben. Sollte es zu einem gleichzeitigen Senden mittels eines solchen Datenstromes, und dem gleichzeitigen Schließen des dominanten Schalters (S1L) kommen, so wird der dominante Schalter, sofern er vorteilhafterweise niederohmig genug ausgelegt ist, den Sendestrom des jeweiligen Senders abführen und somit diesen Spannungspegel und ggf. auch den durch den Spannungsteiler (R0H, R0L) erzeugten Spannungspegel überschreiben. Es kommt jedoch nicht, wie möglicherweise im Stand der Technik, zu einem Kurzschluss. Insbesondere kommt es nicht zu dem aus US-A-2007/0033465 bekannten Kurzschluss zwischen der Busknoten-Seite und dem Sender des Bus-Masters. Es ist somit ein besonderes Merkmal, dass ein zweiter der drei logischen Zustände auf dem Datenbus durch eine erste schaltbare Stromquelle (I1,S1H) in dem Bus-Master und/oder durch eine zweite schaltbare Stromquelle (I2,S2H), d.h. nicht durch eine Spannungsquelle erzeugt wird. Gleichzeitig wird vorteilhafterweise ein dritter der drei logischen Zustände auf dem Datenbus durch einen Pull-Schaltkreis (R0H,R0L) in Form eines Spannungsteilers erzeugt. Natürlich sind auch andere Möglichkeiten für einen solchen Pull-Schaltkreis denkbar. Im Prinzip handelt es sich bei dem Pull-Schaltkreis in Form eines Spannungsteilers um eine Spannungsquelle, die die Datenleitung auf eine zweite Spannung legt, welche innerhalb des zweiten Spannungsbereiches (VB2) liegt, wobei diese Spannungsquelle einen Innenwiderstand aufweist, der so groß ist, dass der mögliche Eingangsstrom derart begrenzt ist, dass die geschalteten Stromquellen (I1,SH1) und (I2,SH2) einen größeren Strom liefern, als dieser Pull-Schaltkreis (R0H,R0L) abführen kann. Somit ergibt sich eine klare Hierarchie:
    • Es dominiert als erstes der Schaltzustand des dominierenden Schalters (S1L) des Bus-Masters (BM), dann folgen
    • als Zweites in der Hierarchie der spannungsbestimmenden Elemente für die Spannung auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder dem betreffenden, angeschlossener Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) die beiden geschalteten Stromquellen des Bus-Masters (I1,S1H) und des betrachteten Busknotens (I2,S2H), die typischerweise untereinander gleichberechtigt sind, und
    • als Drittes und Letztes mit niedrigster Priorität der Pull-Schaltkreis, hier in Form eines Spannungsteilers (R0H,R0L), der typischerweise nur einmal pro Eindrahtdatenbussystem vorgesehen ist.
    Bevorzugt korrespondiert
    • der erste logische Zustand mit einem Spannungspegel (V0) im ersten Spannungsbereich (VB1) auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder einem angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3),
    • der zweite logische Zustand mit einem Spannungspegel (VM) im zweiten Spannungsbereich (VB2) auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder einem angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) und
    • der dritte logische Zustand mit einem Spannungspegel (VIO) im dritten Spannungsbereich (VB3) auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder einem angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3).
  • Vorteilhafterweise wird der erste logische Zustand auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder einem angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) ausschließlich zur Übertragung eines ersten logischen Zustands (beispielsweise "low") eines Systemtaktes benutzt und der zweite und dritte logische Zustand auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder einem angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) für die Übertragung eines zweiten logischen Zustands (beispielsweise "high") des Systemtaktes benutzt.
  • Vorteilhafterweise wird der zweite logische Zustand auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder einem angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) zur Übertragung eines ersten logischen Zustands (beispielsweise "low") eines Datensignals benutzt und der dritte logische Zustand auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder einem angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) für die Übertragung eines zweiten logischen Zustands (beispielsweise "high") des Datensignals benutzt. Befindet sich die Datenleitung im ersten logischen Zustand, so wird dieser für die Datenübertragung ignoriert.
  • Vorteilhafterweise wird der erste logische Zustand auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder einem angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) zur Übertragung eines ersten logischen Zustands (beispielsweise "low") eines Systemtaktsignals benutzt und der dritte oder zweite logische Zustand auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder einem angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) für die Übertragung eines zweiten logischen Zustands (beispielsweise "high") des Systemtaktsignals benutzt. Wechselt der logische Zustand auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder einem angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) zwischen dem zweiten oder dritten logischen Zustand auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder einem angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3), so wird dieser Wechsel für die Übertragung des Systemtaktes ignoriert und typischerweise weiterhin als zweiter logischer Zustand (d.h. beispielsweise "high") interpretiert.
  • In einer vorteilhaften Ausprägung der Erfindung kann ein Datenbussystem mit einer Bezugspotenzialleitung (GND) und einem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) zur Übertragung von Daten zwischen einem Bus-Master (BM) und mindestens zwei Busknoten (BS1,BS2,BS3), insbesondere Leuchtmittel-Busknoten eingesetzt werden. Dabei ist der Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) durch die Busknoten (BS1,BS2,BS3) in mindestens zwei Eindrahtdatenbusabschnitte (b1,b2,b3) unterteilt. Er wird durch einen der Busknoten, nämlich den abschließenden Busknoten (BS3), abgeschlossen. Jeder der Busknoten (BS1,BS2,BS3) ist bis auf einen Busknoten, nämlich den ersten Busknoten (BS1), durch einen vorausgehenden Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) mit einem vorausgehenden Busknoten (BS1, BS2) verbunden. Der eine erste Busknoten (BS1) ist durch einen vorausgehenden Eindrahtdatenbusabschnitt (b1) mit dem Bus-Master (BM) verbunden. Jeder Busknoten (BS1,BS2,BS3) ist bis auf einen abschließenden Busknoten (BS3) durch einen nachfolgenden Eindrahtdatenbusabschnitt (b2, b3) mit einem nachfolgenden Busknoten (BS3, BS4) der Busknoten (BS1,BS2,BS3) verbunden. Dies gilt nicht für den abschließenden Busknoten (B3). Der Bus-Master (BM) ist mit einer Master-Eindrahtdatenbusschnittstelle (OWM) versehen, wobei die Master-Eindrahtdatenbusschnittstelle (OWM) dazu vorgesehen ist, mittels eines Datenbusprotokolls mit mehr als zwei physikalischen Spannungs- und/oder Strompegeln bidirektional Daten über den Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest einen der Eindrahtdatenbusabschnitte (b1,b2,b3), im Folgenden "als betrachteter Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3)" bezeichnet, zu senden und von diesem zu empfangen. Der betrachtete Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) umfasst dabei nur eine einzige Signalleitung. An den betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) sind eine Eindrahtdatenbusschnittstelle (OWS1, OWS2, OWS3) eines Busknotens (BS1,BS2,BS3) der Busknoten (BS1,BS2,BS3), im Folgenden als "betrachteter Busknoten" bezeichnet, und ein erstes Transfer-Gate (TG1) des betrachteten Bus-Knotens (BS1,BS2,BS3) elektrisch angeschlossen. Die Eindrahtdatenbusschnittstelle (OWS1,OWS2,OWS3) des betrachteten Busknotens ist dazu vorgesehen, mittels eines Datenbusprotokolls mit mehr als zwei physikalischen Spannungs- und/oder Strompegeln bidirektional Daten über den betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) zu senden und von diesem zu empfangen. Die Eindrahtdatenbusschnittstelle (OWS1,OWS2,OWS3) des betrachteten Busknotens ist dazu vorgesehen, mittels eines Datenbusprotokolls mit mindestens zwei physikalischen Spannungs- und/oder Strompegeln Daten über den betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) zu senden. Das Transfer-Gate (TG1,TG2,TG3) des betrachteten Busknotens ist dazu vorgesehen, den betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2) von einem optionalen nachfolgenden Eindrahtdatenbusabschnitt (b2,b3) zu trennen und/oder mit diesem elektrisch zu verbinden. Der betrachtete Bus-Knoten (BS1,BS2,BS3) verfügt über ein erstes Transfer-Gate-Control-Register (TGCR), das dazu ausgelegt ist, das Transfer-Gate (TG) des betrachteten Busknotens zusteuern. Der Bus-Master (BM) kann das Transfer-Gate-Control-Register (TGCR) des betrachteten Busknotens (BS1,BS2,BS3) über die Master-Eindrahtdatenbusschnittstelle (OWM) und den Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder den betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) und die Eindrahtdatenbusschnittstelle (OWS1,OWS2,OWS3) des betrachteten Busknotens beschreiben. Somit ist der Bus-Master in der Lage, den Zustand des Transfer-Gates (TG1) des betrachteten Busknotens (BS1,BS2,BS3) zusteuern.
  • In einer weiteren Ausprägung weist der betrachtete Busknoten (BS1,BS2,BS3) intern mindestens eine IEEE 1149 konforme Schnittstelle, auch als JTAG-Schnittstelle bekannt, auf, die über die Eindrahtdatenbusschnittstelle (OWS1,OWS2,OWS3) des betrachteten Busknotens mit dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest dem betrachten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) verbunden ist, so dass der Bus-Master (BM) diese JTAG-Schnittstelle über den Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest den betrachten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) bedienen kann. Dabei ist eine JTAG-Schnittstelle im Sinne der Erfindung dadurch gekennzeichnet, dass sie einen Test-Controller (TAPC) in Form eines endlichen Automaten - auch "Finite-State-Machine" genannt - aufweist, der ein IEEE 1149 konformes Zustandsdiagramm entsprechend Fig. 1 und der einleitenden Beschreibung dieser Anmeldung besitzt.
  • In einer weiteren vorteilhaften Ausprägung kann für das Verfahren ein Datenbus eingesetzt werden, der dadurch gekennzeichnet ist, dass das jeweilige Transfer-Gate-Control-Register (TGCR) des betrachteten Busknotens (BS1,BS2,BS3) mittels der mindestens einen JTAG-Test-Schnittstelle des betrachteten Busknotens (BS1,BS2,BS3) über den Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest den betrachten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) durch den Bus-Master (BM) beschrieben werden kann.
  • In einer weiteren vorteilhaften Ausprägung kann für das Verfahren ein Datenbussystem eingesetzt werden, der dadurch gekennzeichnet ist, dass zumindest der betrachtete Busknoten, d.h. der Leuchtmittel-Bus-Knoten, dazu vorgesehen ist, ihm zugeordnete Leuchtmittel, im Folgenden als "betrachtete Leuchtmittel" bezeichnet, in Abhängigkeit von Datenanzusteuern, die über den Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder den betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) von dem Bus-Master (BM) zum betrachteten Busknoten (BS1,BS2,BS3) übertragen werden.
  • In einer weiteren vorteilhaften Ausprägung kann für das Verfahren ein Datenbussystem eingesetzt werden, der dadurch gekennzeichnet ist, dass die JTAG-Schnittstelle des betrachteten Busknotens mindestens ein Beleuchtungsregister (ILR) als Datenregister (DR) der JTAG-Schnittstelle des betrachteten Busknotens umfasst, von dessen zumindest zeitweiligem Inhalt zumindest zeitweilig die Ansteuerung der betrachteten Leuchtmittel, insbesondere in Helligkeit und/oder Farbtemperatur durch den betrachteten Busknotens mittels dessen PWM-Einheiten (PWM1,PWM2,PWM3) abhängt.
  • In einer weiteren vorteilhaften Ausprägung kann für das Verfahren ein Datenbussystem eingesetzt werden, der dadurch gekennzeichnet ist, dass die JTAG-Schnittstelle des betrachteten Busknotens mindestens ein Beleuchtungskontrollregister (ILCR) als Datenregister (DR) der JTAG-Schnittstelle des betrachteten Busknotens und ein Beleuchtungsregister (ILR) als Datenregister (DR) der JTAG-Schnittstelle des betrachteten Busknotens umfasst. Zumindest von Teilen des Inhalts des Beleuchtungskontrollregisters (ILCR) hängt ab, ob das Beleuchtungsregister (ILR) über die JTAG-Schnittstelle mittels des kombinierten TMS-TDI-Signals (TMS_TDI) der JTAG-Schnittstelle des betrachteten Busknotens oder über einen separaten Dateneingang (SILDI) des betrachteten Busknotens die seriellen Beleuchtungsdaten zur Ansteuerung der betrachteten Leuchtmittel von dem Bus-Master (BM) oder einem anderen Busknoten erhält. Vom dem zumindest zeitweiligen Inhalt des Beleuchtungsregisters (ILR) hängt in diesem Fall zumindest zeitweilig die Ansteuerung der betrachteten Leuchtmittel durch den betrachteten Bus-Knoten ab.
  • Ein bei dem Verfahren nach der Erfindung verwendbarer Datenbussystem ist in einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung versehen mit einer Bezugspotenzialleitung (GND) und einem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) zur Übertragung von Daten zwischen einen Bus-Master (BM) und mindestens zwei Busknoten (BS1,BS2,BS3), insbesondere Leuchtmittel-BusKnoten. Dabei wird der Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) durch die Busknoten (BS1,BS2,BS3) in mindestens zwei Eindrahtdatenbusabschnitte (b1,b2,b3) unterteilt. Er wird durch einen Busknoten, den abschließenden Busknoten (BS3) abgeschlossen. Jeder der Busknoten (BS1,BS2,BS3) bis auf den zum Bus-Master (BM) nächst gelegenen, ersten Busknoten (BS1) wird durch einen vorausgehenden Eindrahtdatenbusabschnitt (b2, b3) mit einem vorausgehenden Busknoten (BS1,BS2) verbunden. Der erste Busknoten (BS1) wird durch einen vorausgehenden Eindrahtdatenbusabschnitt (b1) mit dem Bus-Master (BM) verbunden. Jeder Busknoten (BS1,BS2,BS3) bis auf einen abschließenden Busknoten (BS3) ist durch einen nachfolgenden Eindrahtdatenbusabschnitt (b2, b3) mit einem nachfolgenden Busknoten (BS3, BS4) verbunden. Das Datenbussystem verfügt über den Bus-Master (BM) mit einer Master-Eindrahtdatenbusschnittstelle (OWM). Die Master-Eindrahtdatenbusschnittstelle (OWM) ist dabei wie beschrieben dazu vorgesehen, mittels eines Datenbusprotokolls mit mehr als zwei physikalischen Spannungs- und/oder Strompegeln bidirektional Daten über den Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest einen der Eindrahtdatenbusabschnitte (b1,b2,b3), im Folgenden als "betrachteter Eindrahtdatenbusabschnitt" (b1,b2,b3) bezeichnet, zu senden und von diesem zu empfangen. Der betrachtete Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) umfasst nur eine einzige Signalleitung. An den betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) ist die Eindrahtdatenbusschnittstelle (OWS1,OWS2,OWS3) eines der Busknoten (BS1,BS2,BS3), im Folgenden als "betrachteter Busknoten" bezeichnet, elektrisch angeschlossen. Die Eindrahtdatenbusschnittstelle (OWS1,OWS2,OWS3) des betrachteten Busknotens ist dazu vorgesehen, mittels eines Datenbusprotokolls mit mehr als zwei physikalischen Spannungs- und/oder Strompegeln Daten von dem betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) zu empfangen. Der betrachtete Busknoten (BS1,BS2,BS3) umfasst ein Busknotenadressregister (BKADR) als Datenregister (DR) einer JTAG-Schnittstelle, das durch den Bus-Master (BM) vorzugsweise nur bei geöffnetem Transfer-Gate (TG) beschrieben werden kann, wobei von dessen Inhalt sowie vom Inhalt des Senderegisters (SR) der JTAG-Schnittstelle des Busknotens abhängt, ob die Eindrahtdatenbusschnittstelle (OWS1,OWS2,OWS3) des betrachteten Busknotens Daten zu dafür vorgesehenen Zeitpunkten und/oder nach Übersendung spezifischer Daten, beispielsweise einer Sendeadresse für die Senderegister (SR) der Busknoten, durch den Bus-Master (BM) oder einen anderen der Busknoten (BS1,BS2,BS3) auf den Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) und/oder auf den betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) Daten ausgeben darf. Die Eindrahtdatenbusschnittstelle (OWS1,OWS2,OWS3) des betrachteten Busknotens ist dazu vorgesehen, mittels eines Datenbusprotokolls mit mindestens zwei physikalischen Spannungs- und/oder Strompegeln Daten über den betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) zu senden.
  • In einer weiteren zweckmäßigen Ausprägung kann für das Verfahren ein Datenbussystem eingesetzt werden, der dadurch gekennzeichnet ist, dass der betrachtete Busknoten (BS1,BS2,BS3) intern mindestens eine IEEE 1149 konforme Schnittstelle, auch als JTAG-Schnittstelle bekannt, aufweist, die über die Eindrahtdatenbusschnittstelle (OWS1,OWS2,OWS3) des betrachteten Busknotens (BS1,BS2,BS3) mit dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest dem betrachten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) verbunden ist, so dass der Bus-Master (BM) über den Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest den betrachten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) diese JTAG-Schnittstelle bedienen kann. Dabei ist eine JTAG-Schnittstelle im Sinne der Erfindung dadurch gekennzeichnet, dass sie einen Test-Controller (TAPC) in Form eines endlichen Automaten - auch Finite-State-Machine genannt - aufweist, der ein IEEE1149 konformes Zustandsdiagramm entsprechend Fig. 1 besitzt.
  • In einer weiteren vorteilhaften Ausprägung kann für das Verfahren ein Datenbussystem eingesetzt werden, der dadurch gekennzeichnet ist, dass an den betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) ein erstes Transfer-Gate (TG1) des betrachteten BusKnotens (BS1,BS2,BS3) elektrisch angeschlossen ist. Das erste Transfer-Gate (TG1, TG2, TG3) des betrachteten Busknotens ist dazu vorgesehen, den betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2) von dem optionalen, nachfolgenden Eindrahtdatenbusabschnitt (b2,b3) zu trennen und/oder mit diesem elektrisch zu verbinden. Der betrachtete Bus-Knoten (BS1,BS2,BS3) verfügt über ein erstes Transfer-Gate-Control-Register (TGCR) als Datenregister (DR) der JTAG-Schnittstelle, das dazu ausgelegt ist, das erste Transfer-Gate (TG1) zusteuern. Das jeweilige Transfer-Gate-Control-Register (TGCR) des betrachteten Busknotens (BS1,BS2,BS3) kann mittels der mindestens einen JTAG-TestSchnittstelle des betrachteten Busknotens (BS1,BS2,BS3) über den Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest den betrachten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) zumindest durch den Bus-Master (BM) beschrieben werden.
  • In einer weiteren vorteilhaften Ausprägung kann für das Verfahren ein Datenbussystem eingesetzt werden, der dadurch gekennzeichnet ist, dass zumindest der betrachtete Busknoten, d.h. der Leuchtmittel-Bus-Knoten, dazu vorgesehen ist, ihm zugeordnete Leuchtmittel (LM), im Folgenden als "betrachtete Leuchtmittel" (LM) bezeichnet, in Abhängigkeit von Daten anzusteuern, die über den Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder den betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) von dem Bus-Master (BM) zum betrachteten Busknoten (BS1,BS2,BS3) übertragen werden.
  • In einer weiteren zweckmäßigen Ausprägung kann für das Verfahren ein Datenbussystem eingesetzt werden, der dadurch gekennzeichnet ist, dass die JTAG-Schnittstelle des betrachteten Busknotens mindestens ein Beleuchtungsregister (ILR) als Datenregister (DR) der JTAG-Schnittstelle des betrachteten Busknotens umfasst, von dessen zumindest zeitweiligem Inhalt zumindest zeitweilig die Ansteuerung der betrachteten Leuchtmittel (LM) durch den betrachteten Busknotens abhängt. Dies kann z.B. den Duty-Cycle, die Amplitude, die Frequenz und andere Parameter der PWM-Ansteuerung betreffen.
  • In einer weiteren zweckmäßigen Ausprägung kann für das Verfahren ein Datenbussystem eingesetzt werden, der dadurch gekennzeichnet ist, dass die JTAG-Schnittstelle des betrachteten Busknotens mindestens ein Beleuchtungskontrollregister (ILCR) als Datenregister der JTAG-Schnittstelle des betrachteten Busknotens und ein Beleuchtungsregister (ILR) als Datenregister der JTAG-Schnittstelle des betrachteten Busknotens umfasst. Zumindest von Teilen des Inhalts des Beleuchtungskontrollregisters (ILCR) hängt ab, ob das Beleuchtungsregister (ILR) über die Testdatenschnittstelle (TMS_TDI) der JTAG-Schnittstelle des betrachteten Busknotens oder einen separaten Dateneingang (SILDI) des betrachteten Busknotens die vorzugsweise seriellen Beleuchtungsdaten zur Steuerung der Ansteuervorrichtung der betrachteten Leuchtmittel von dem Bus-Master oder einem anderen Busknoten erhält. Vom dem zumindest zeitweiligem Inhalt des Beleuchtungsregisters (ILR) hängt dabei zumindest zeitweilig die Ansteuerung der betrachteten Leuchtmittel (LM) durch den betrachteten Bus-Knoten ab.
  • Eine JTAG-Schnittstelle eines Busknotens (BS1,BS2,BS3) zur Steuerung der Ansteuervorrichtung für Leuchtmittel (LM) durch einen Busknoten (BS1,BS2,BS3) einer Leuchtkette ist vorteilhafterweise dadurch gekennzeichnet, dass sie mindestens ein Beleuchtungsregister (ILR) als Datenregister (DR) dieser JTAG-Schnittstelle umfasst, von dessen zumindest zeitweiligem Inhalt zumindest zeitweilig die Ansteuerung der Leuchtmittel (LM) durch den Busknoten (BS1,BS2,BS3) abhängt. Wie im Stand der Technik bekannt, ist eine JTAG-Schnittstelle dadurch gekennzeichnet, dass der Test-Controller (TAPC) ein Zustandsdiagramm entsprechend dem IEEE 1149-Standard (siehe auch Fig. 1) und insbesondere einem oder mehreren dessen Unterstandards IEEE 1149.1 bis IEEE 1149.8 und deren Weiterentwicklungen umfasst. Diese Definition einer JTAG-Schnittstelle gilt für das ganze Dokument.
  • Ein Verfahren zur Ansteuerung eines Leuchtmittels (LM) mittels einer elektrischen Regelvorrichtung innerhalb eines Busknotens (BS1,BS2,BS3) von mehreren Busknoten (BS1,BS2,BS3), des betrachteten Busknotens, umfasst danach folgende Schritte:
    Übertragung von Steuerdaten für die Einstellung von Leuchtwerten für mindestens ein Leuchtmittel durch Ansteuerung eines JTAG-Controllers (TAPC) einer JTAG-Schnittstelle innerhalb des betrachteten Busknotens (BSn), der mindestens ein Leuchtmittel (LM) mit steuerbarer elektrischer Energie in Abhängigkeit von diesen Steuerdaten versorgt. Dabei ist die JTAG-Schnittstelle dadurch gekennzeichnet, dass der Test-Controller (TAPC) ein Zustandsdiagramm entsprechend dem IEEE 1149-Standard und/oder insbesondere einem oder mehreren der Unterstandards IEEE 1149.1 bis IEEE 1149.8 und deren Weiterentwicklungen umfasst.
  • Eine JTAG-Schnittstelle zur Steuerung der Ansteuervorrichtung für Leuchtmitteln durch einen Busknoten (BS1,BS2,BS3) einer Leuchtkette kann auch dadurch gekennzeichnet sein, dass sie mindestens ein Beleuchtungskontrollregister (ILCR) als Datenregister der JTAG-Schnittstelle und ein Beleuchtungsregister (ILR) als Datenregister der JTAG-Schnittstelle umfasst. Zumindest von Teilen des Inhalts des Beleuchtungskontrollregisters (ILCR) hängt dann erfindungsgemäß ab, ob das Beleuchtungsregister (ILR) die Beleuchtungsdaten zur Steuerung der Ansteuervorrichtung der Leuchtmittel durch den Busknoten über die Testdatenschnittstelle (TMS_TDI) der JTAG-Schnittstelle oder über einen separaten Dateneingang (SILDI) erhält. Diese Register können auch Teilregister des Instruktionsregisters (IR) oder eines anderen Datenregisters der JTAG-Schnittstelle sein. Die separate Realisierung ist aber in der Regel vorzuziehen. Vom zumindest zeitweiligen Inhalt des Beleuchtungsregisters (ILR) hängt dann zumindest zeitweilig die Ansteuerung der Leuchtmittel durch den Busknoten (BS1,BS2,BS3) ab. Dabei ist die JTAG-Schnittstelle dadurch gekennzeichnet, dass sie einen Test-Controller (TAPC) umfasst, der ein Zustandsdiagramm entsprechend dem IEEE 1149-Standard und insbesondere einem oder mehreren der Unterstandards IEEE 1149.1 bis IEEE 1149.8 und deren Weiterentwicklungen aufweist.
  • Ein bei dem Verfahren nach der Erfindung einsetzbarer Datenbus zwischen einer ersten Teilvorrichtung, dem Bus-Master (BM), und mindestens zwei weiteren Teilvorrichtungen, den Busknoten (BS1,BS2,BS3) weist eine Bezugspotenzialleitung (GND) mit einem Bezugspotenzial (V0) und einen Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) zur Datenübertragung und zur Systemtaktübertragung zwischen dem Bus-Master (BM) und den Busknoten (BS1, BS2) auf. Dabei wird der Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) durch die Busknoten (BS1,BS2,BS3) in mindestens zwei Eindrahtdatenbusabschnitte (b1,b2,b3) unterteilt. Jeder dieser Busknoten (BS1,BS2,BS3) ist bis auf den zum Bus-Master nächstgelegenen ersten Busknoten (BS1) über einen vorausgehenden Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) mit einem vorausgehenden Busknoten (BS1, BS2) verbunden. Der erste Busknoten (BS1) ist durch einen vorausgehenden Eindrahtdatenbusabschnitt (b1) mit dem Bus-Master (BM) verbunden. Jeder dieser Busknoten (BS1,BS2,BS3) ist bis auf den abschließenden Busknoten (BS3) durch einen nachfolgenden Eindrahtdatenbusabschnitt (b2, b3) mit einem nachfolgenden Busknoten (BS2, BS3) verbunden. Dies gilt, wenn der Busknoten nicht der letzte Busknoten (B3) der Kette der Busknoten (BS1,BS2,BS3) vom Bus-Master (BM) aus in der Folge der Busknoten (BS1,BS2,BS3) ist. Über den Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest über einen der Eindrahtdatenbusabschnitte (b1,b2,b3) (im Folgenden "betrachteter Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3)" genannt), werden bidirektional Daten zwischen dem Bus-Master (BM) und einem Busknoten (BS1 BS2, BS3) (im Folgenden "betrachteter Busknoten (BS1,BS2,BS3)" genannt) übertragen oder können übertragen werden. Über den Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest über den betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) wird ein Systemtakt mit einer Systemtaktperiode (T), die mindestens in eine erste Halbtaktperiode (T1H) und eine zweite Halbtaktperiode (T2H) unterteilt ist, welche eine unterschiedliche zeitliche Dauer haben können, vom Bus-Master (M) zu dem betrachteten Busknoten (BS1,BS2,BS3) zusätzlich übertragen. Zumindest der betrachtete Busknoten (BS1,BS2,BS3) verfügt über eine erste Einrichtung, insbesondere über einen ersten Komparator (C2H), die bzw. der den Signalpegel in Form einer Signalspannung zwischen dem Bezugspotenzial (V0) der Bezugspotenzialleitung (GND) und dem Potenzial des betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitts (b1,b2,b3) mit einem ersten Schwellwert, insbesondere dem eines ersten Schwellwertsignals (V2H), vergleicht. Der betrachtete Busknoten verfügt über eine zweite Einrichtung, insbesondere über einen zweiten Komparator (C2L), der den Signalpegel in Form einer Signalspannung zwischen dem Bezugspotenzial (V0) der Bezugspotenzialleitung (GND) und dem Potenzial des betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitts (b1,b2,b3) mit einem zweiten Schwellwert, insbesondere dem eines zweiten Schwellwertsignals (V2L), vergleicht. Der erste Schwellwert ist dabei vom zweiten Schwellwert verschieden. Der erste Schwellwert und zweite Schwellwert definieren dabei zwischen der Betriebsspannung (VIO,VIO1,VIO2) und dem Bezugspotenzial (V0) der Bezugspotenzialleitung (GND) drei Signalspannungsbereiche (VB1,VB2,VB3). Dabei wird ein mittlerer Spannungsbereich als zweiter Spannungsbereich (VB2) von einem ersten Spannungsbereich (VB1) nach oben - alternativ -oder unten hin begrenzt. Der zweite Spannungsbereich (VB2) wird nach unten - alternativ - oder oben hin durch einen dritten Spannungsbereich (VB3) begrenzt. Dabei werden Daten auf dem betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b2,b3) in zeitlich beabstandeten oder aufeinander folgenden Zeitschlitzpaketen von zumindest drei aufeinanderfolgenden Zeitschlitzen (TIN0,TIN1,TDO) mit jeweils einer Dauer einer Systemtaktperiode (T) übertragen. Ein erster Zeitschlitz (TINO) und ein zweiter Zeitschlitz (TIN1) enthalten zumindest ein Kontrolldatum und/oder ein erstes Datum, das jeweils vom Bus-Master (BM) zum betrachteten Busknoten (BS1,BS2,BS3) übertragen wird, wobei das Kontrolldatum und das erste Datum insbesondere mit den Daten des IEEE 1149.1 Vierdraht-Testdatenbusses oder zu einem andren Unterstandard des IEEE 1149-Standards kompatibel sein können und wobei der betrachtete Busknoten (BS1,BS2,BS3) das Kontrolldatum und das erste Datum empfängt. Ein dritter Zeitschlitz (TDO) enthält ein zweites Datum, das der betrachtete Busknoten (BS1,BS2,BS3) zum Bus-Master (BM) überträgt, wobei der Bus-Master (BM) dieses zweite Datum empfängt und wobei das zweite Datum nur im zweiten Spannungsbereich (VB2) und dritten Spannungsbereich (VB3) übertragen wird. Die Übertragung der Daten erfolgt in einer Taktperiode der mindestens zwei (z.B. Halb-)Taktperioden (T1H,T2H) einer Systemtaktperiode (T). Der Systemtakt wird durch ein Taktsignal im ersten Spannungsbereich (VB1) während der jeweils anderen Halbtaktperiode der mindestens zwei Halbtaktperioden (T1H,T2H) der Systemtaktperiode (T) übertragen wird.
  • In einer anderen vorteilhaften Ausprägung der Erfindung zeichnet sich der bei dem erfindungsgemäßen Verfahren verwendbare, zwischen einer ersten Teilvorrichtung (dem Bus-Master (BM)) und mindestens zwei weiteren Teilvorrichtungen (den Busknoten (BS1,BS2,BS3)) angeordnete erfindungsgemäße Datenbus dadurch aus, dass beim bidirektionalen Senden der Daten auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest dem betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) durch den Bus-Master (BM) und die Busknoten (BS1,BS2,BS3) mindestens drei logische Zustände verwendet werden.
  • In einer weiteren zweckmäßigen Ausprägung der Erfindung zeichnet sich der bei dem erfindungsgemäßen Verfahren verwendbare, zwischen einer ersten Teilvorrichtung (dem Bus-Master (BM)) und mindestens zwei weiteren Teilvorrichtungen (den Busknoten (BS1,BS2,BS3)) angeordnete erfindungsgemäße Datenbus dadurch aus, dass ein erster der mindestens drei logischen Zustände auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest dem betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) durch einen ersten dominanten Schalter (S1L) des Bus-Masters (BM) erzeugt wird, der das Potenzial des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) oder zumindest des betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitts (b1,b2,b3) in den ersten Spannungsbereich (VB1) zwingt.
  • In einer anderen zweckmäßigen Ausprägung der Erfindung zeichnet sich der bei dem erfindungsgemäßen Verfahren verwendbare, zwischen einer ersten Teilvorrichtung (dem Bus-Master (BM)) und mindestens zwei weiteren Teilvorrichtungen (den Busknoten (BS1,BS2,BS3)) angeordnete erfindungsgemäße Datenbus dadurch aus, dass ein zweiter der mindestens drei logischen Zustände auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest dem betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) durch Einschalten einer ersten schaltbaren Stromquelle (I1,S1H) in dem Bus-Master (BM) und/oder durch Einschalten einer zweiten schaltbaren Stromquelle (I2,S2H) in dem Bus-Master (BM) erzeugt wird.
  • In einer anderen vorteilhaften Ausprägung der Erfindung zeichnet sich der bei dem erfindungsgemäßen Verfahren verwendbare, zwischen einer ersten Teilvorrichtung (dem Bus-Master (BM)) und mindestens zwei weiteren Teilvorrichtungen (den Busknoten (BS1,BS2,BS3)) angeordnete erfindungsgemäße Datenbus dadurch aus, dass das Einschalten der ersten schaltbaren Stromquelle (I1,S1H) in dem Bus-Master (BM) und/oder das Einschalten der zweiten schaltbaren Stromquelle (I2,S2H) in dem Bus-Master (BM) das Potenzial auf dem Eindrahtdatenbus oder zumindest dem betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) auf ein Potenzial im dritten Spannungsbereich (VB3) zwingt, sofern der erste dominante Schalter (S1L) des Bus-Masters (BM) nicht eingeschaltet ist, der das Potenzial des Eindrahtdatenbusses oder zumindest des betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitts (b1) beim Einschalten in den ersten Spannungsbereich zwingt und die schaltbaren Stromquellen (I1,S1H,I2,S2H) überschreibt.
  • In einer anderen vorteilhaften Ausprägung der Erfindung zeichnet sich der bei dem erfindungsgemäßen Verfahren verwendbare, zwischen einer ersten Teilvorrichtung ( dem Bus-Master (BM)) und mindestens zwei weiteren Teilvorrichtungen (den Busknoten (BS1,BS2,BS3)) angeordnete erfindungsgemäße Datenbus dadurch aus, dass ein dritter der mindestens drei logischen Zustände auf der dem Eindrahtdatenbus (b1,b2, b3) oder zumindest dem betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) durch einen Pull-Schaltkreis (R0H,R0L) erzeugt wird, wenn keiner der anderen logischen Zustände vorliegt, indem der Pull-Schaltkreis (R0H,R0L) das Potenzial des Eindrahtdatenbusses oder zumindest des betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitts (b1,b2,b3) auf ein mittleres Potenzial (VM) im zweiten Spannungsbereich (VB3) bringt.
  • In einer anderen vorteilhaften Ausprägung der Erfindung zeichnet sich der bei dem erfindungsgemäßen Verfahren verwendbare, zwischen einer ersten Teilvorrichtung (dem Bus-Master (BM)) und mindestens zwei weiteren Teilvorrichtungen (den Busknoten (BS1,BS2,BS3)) angeordnete erfindungsgemäße Datenbus dadurch aus, dass Wechsel vom einem zweiten oder einem dritten logischen Zustand auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2, b3) oder zumindest dem betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) auf der einen Seite zu einem ersten logischen Zustand auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest dem betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) auf der anderen Seite und Wechsel in die umgekehrte Richtung zur Übertragung eines Taktsignals benutzt werden.
  • In einer anderen vorteilhaften Ausprägung der Erfindung zeichnet sich der bei dem erfindungsgemäßen Verfahren verwendbare, zwischen einer ersten Teilvorrichtung (dem Bus-Master (BM)) und mindestens zwei weiteren Teilvorrichtungen (den Busknoten (BS1,BS2,BS3)) angeordnete erfindungsgemäße Datenbus dadurch aus, dass Wechsel von einem ersten oder einem zweiten logischen Zustand auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest dem betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) auf der einen Seite zu einem dritten logischen Zustand auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest dem betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) auf der anderen Seite und Wechsel in die umgekehrte Richtung zur Übertragung eines Datensignals vom Bus-Master (BM) zum betrachteten Busknoten und/oder von dem betrachteten Busknoten zum Bus-Master (BM) benutzt werden.
  • In einer anderen zweckmäßigen Ausprägung der Erfindung zeichnet sich der bei dem erfindungsgemäßen Verfahren verwendbare, zwischen einer ersten Teilvorrichtung (dem Bus-Master (BM)) und mindestens zwei weiteren Teilvorrichtungen (den Busknoten (BS1,BS2,BS3)) angeordnete erfindungsgemäße Datenbus dadurch aus, dass die Daten in einer Halbtaktperiode der mindestens zwei Halbtaktperioden (T1H,T2H) eines Zeitschlitzes übertragen werden und der Systemtakt in einer anderen Halbtaktperiode der mindestens zwei Halbtaktperioden (T1H,T2H) eines Zeitschlitzes wobei der Zeitschlitz eine Länge einer Systemtaktperiode (T) mit mindestens zwei Halbtaktperioden (T1H,T2H) aufweist.
  • Ein bei dem Verfahren nach der Erfindung verwendbarer Datenbus zwischen einer ersten Teilvorrichtung, dem Bus-Master (BM), und mindestens zwei weiteren Teilvorrichtungen, den Busknoten (BS1,BS2,BS3) (,wobei der Datenbus eine Bezugspotenzialleitung (GND) mit einem Bezugspotenzial (V0) und einen Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) mit einer einzelnen Datenleitung aufweist, der durch die Busknoten (BS1,BS2,BS3) in mehrere Eindrahtdatenbusabschnitte (b1,b2,b3) unterteilt wird und durch einen letzten Busknoten (BS3) der Busknoten (BS1,BS2,BS3) (den abschließenden Busknoten (BS3)) abgeschlossen wird,) kann auch wie folgt gekennzeichnet werden: Der Bus-Master (BM) weist eine Master-Eindrahtdatenbusschnittstelle (OWM) auf. Die Master-Eindrahtdatenbusschnittstelle (OWM) weist weiter eine erste schaltbare Spannungsquelle (S1L) mit einem ersten Innenwiderstand (R1L) auf, die den Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest einen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) (im Folgenden "betrachteter Eindrahtdatenbusabschnitt" genannt) mit einem ersten Potenzial (V0) verbinden kann. Die Master-Eindrahtdatenbusschnittstelle (OWM) weist eine zweite schaltbare Spannungsquelle (S1H,I1) mit einem zweiten Innenwiderstand (R1H) auf, die zumindest den betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) oder den Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) mit einem zweiten Potenzial (VIO1) verbinden kann, wobei die zweite schaltbare Spannungsquelle auch eine Stromquelle (S1H,I1) mit einem zweiten Innenwiderstand (R1H) und dem Stromwert (I1=VIO1/R1H) sein kann. Zumindest einer der Busknoten (BS1,BS2,BS3) (im Folgenden als "betrachteter Busknoten" bezeichnet) weist eine Eindrahtdatenbusschnittstelle (OWS1,OWS2,OWS3) (im Folgenden mit "betrachteter Eindrahtdatenbusschnittstelle" bezeichnet) auf. Zumindest diese betrachtete Eindrahtdatenbusschnittstelle (OWS1,OWS2,OWS3) des betrachteten Busknotens weist eine dritte schaltbare Spannungsquelle (S2H,I2) mit einem dritten Innenwiderstand (R2H) auf, die zumindest den betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) oder den Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) mit einem dritten Potenzial (VIO2) verbinden kann, das vorzugsweise gleich dem zweiten Potenzial (VIO1) ist und wobei die dritte schaltbare Spannungsquelle auch eine Stromquelle (S2H,I2) mit einem dritten Innenwiderstand (R2H) und dem Stromwert (I2=VIO2/R2H) sein kann. Zumindest der betrachtete Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) oder der Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) wird durch eine vierte Spannungsquelle, insbesondere einen Pull-Schaltkreis (R0H, R0L) zwischen einem vierten Potenzial (VIO), das vorzugsweise gleich dem zweiten und dem dritten Potenzial (VIO1,VIO2) ist, und dem ersten Potenzial (V0), mit einem vierten Innenwiderstand (R0) auf einem mittleren Potenzial (VM) gehalten. Der Wert des mittleren Potenzials (VM) liegt dabei zwischen dem Wert des ersten Potenzials (V0) und dem Wert des zweiten Potenzials (VIO1) und/oder zwischen dem Wert des ersten Potenzials (V0) und dem Wert des dritten Potenzial s(VIO2). Der erste Innenwiderstand (R1L) ist dabei kleiner als die anderen Innenwiderstände (R1H,R2H,R0). Der vierte Innenwiderstand (R0) ist größer als die anderen Innenwiderstände (R1H,R1L,R2H).
  • Entsprechend lässt sich ein Verfahren zum Betreiben eines Datenbusses zwischen einer ersten Teilvorrichtung (dem Bus-Master (BM)) und mindestens zwei weiteren Teilvorrichtungen (den Busknoten (BS1,BS2,BS3)) formulieren. Dabei weist der Datenbus eine Bezugspotenzialleitung (GND) mit einem Bezugspotenzial (V0) und einen Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) auf, der durch die mindestens zwei Busknoten (BS1,BS2,BS3) in mindestens zwei Eindrahtdatenbusabschnitte (b1,b2,b3) unterteilt wird und durch mindestens einen der Busknoten (BS1,BS2,BS3) (den abschließenden Busknoten (BS3)) abgeschlossen wird. Das Verfahren umfasst die Schritte: Als ersten Schritt eine bidirektionale Übertragung von Daten über den Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest einen der Eindrahtdatenbusabschnitte (b1,b2,b3) (im Folgenden "betrachteter Eindrahtdatenbusabschnitt" genannt) zwischen dem Bus-Master (BM) und mindestens einem Busknoten (BS1,BS2,BS3) (im Folgenden "betrachteter Busknoten" genannt). Als zweiten Schritt die Übertragung eines Taktsignals über den Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest dem besagten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) vom Bus-Master (BM) zu zumindest dem betrachteten Busknoten (BS1,BS2,BS3) mit einer Systemtaktperiode (T), die in mindestens eine erste Halbtaktperiode (T1H) und eine zweite Halbtaktperiode (T2H) unterteilt ist. Als dritten Schritt das Vergleichen des Signalpegels auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest dem betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) in Form einer Signalspannung zwischen dem Bezugspotenzial (V0) der Bezugspotenzialleitung (GND) und dem Potenzial des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) oder zumindest des betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitts (b1,b2,b3) mit einem ersten Schwellwert, insbesondere dem eines ersten Schwellwertsignals (V2H), durch eine erste Einrichtung des betrachteten Busknotens (BS1,BS2,BS3), insbesondere einen ersten Komparator (C2H); Als vierten Schritt das Vergleichen des Signalpegels auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest dem betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) in Form einer Signalspannung zwischen dem Bezugspotenzial (V0) auf der Bezugspotenzialleitung (GND) und dem Potenzial des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) oder zumindest des betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitts (b1,b2,b3) mit einem zweiten, vom ersten Schwellwert verschiedenen Schwellwert, insbesondere dem eines zweiten Schwellwertsignals (V2L), durch eine zweite Einrichtung des betrachteten Busknotens (BS1,BS2,BS3), insbesondere einen zweiten Komparator (C2L). Dabei definieren der erste und zweite Schwellwert drei Signalspannungsbereiche (VB1,VB2,VB3) zwischen einer Betriebsspannung (VIO,VIO1,VIO2) und dem Bezugspotenzial (V0) der Bezugspotenzialleitung (GND). Ein mittlerer Spannungsbereich wird dabei als zweiter Spannungsbereich (VB2) von einem ersten Spannungsbereich (VB1) nach oben (alternativ nach unten) hin begrenzt wird, wobei der zweite Spannungsbereich (VB2) nach unten (alternativ nach oben) hin durch einen dritten Spannungsbereich (VB3) begrenzt wird; Als fünften Schritt die Übertragung der Daten auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest dem betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) in Zeitschlitzpaketen von zumindest drei aufeinanderfolgenden Zeitschlitzen (TIN0,TIN1,TDO) mit jeweils einer Dauer einer Systemtaktperiode (T), wobei die Reihenfolge der Zeitschlitze (TIN0,TIN1,TDO) innerhalb der Folge dieser mindestens drei Zeitschlitze (TIN0,TIN1,TDO) systemspezifisch gewählt werden kann; Als sechsten Schritt das Übertragen zumindest eines Kontrolldatums und/oder eines ersten Datums in einem ersten Zeitschlitz (TINO) und in einem zweiten Zeitschlitz (TIN1) vom Bus-Master (BM) zum betrachteten Busknoten (BS1,BS2,BS3), wobei das Kontrolldatum und das erste Datum insbesondere mit den Daten des IEEE 1149-Standards kompatibel sind und wobei der betrachte Busknoten (BS1,BS2,BS3) das Kontrolldatum und das erste Datum empfängt. Als siebten Schritt das Übertragen eines zweiten Datums in einer Halbtaktperiode der mindestens zwei Halbtaktperioden (T1H,T2H) der Systemtaktperiode (T) im zweiten Spannungsbereich (VB2) und im dritten Spannungsbereich (VB3) auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest dem betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) vom betrachteten Busknoten (BS1,BS2,BS3) zum Bus-Master (BM) in einem dritten Zeitschlitz (TDO) der mindestens drei aufeinanderfolgenden Zeitschlitze (TIN0,TIN1,TDO), wobei der Bus-Master (BM) dieses zweite Datum empfängt; Als achten Schritt das Übertragen eines Kontrolldatums und/oder eines ersten Datums in einer Halbtaktperiode der mindestens zwei Halbtaktperioden (T1H, T2H) der Systemtaktperiode (T) des betreffenden Zeitschlitzes, im zweiten Spannungsbereich (VB2) und dritten Spannungsbereich (VB3) auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest dem betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) vom betrachteten Busknoten (BS1,BS2,BS3) zum Bus-Master (BM) in dem ersten und/oder zweiten Zeitschlitz (TIN0,TIN1) der mindestens drei aufeinanderfolgenden Zeitschlitze (TIN0,TIN1,TDO), wobei der betrachtete Busknoten (BS1,BS2,BS3) das Kontrolldatum und das erstes Datums empfängt, wobei die Übertragung der Daten durch Wechsel des Potenzials auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest dem betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) zwischen dem ersten Spannungsbereich (VB1) und/oder zweiten Spannungsbereich (VB2) auf der einen Seite und dem dritten Spannungsbereich (VB3) auf der anderen Seite und Wechsel in die Gegenrichtung erfolgt. Als neunten Schritt das Übertragen eines Systemtaktes in der jeweils anderen Halbtaktperiode der mindestens zwei Halbtaktperioden (T1H,T2H) der Systemtaktperiode (T) des betreffenden Zeitschlitzes, typischerweise in jedem der mindestens drei Zeitschlitze (TIN0,TIN1,TDO), wobei in dieser Halbtaktperiode keine Daten gesendet werden und wobei die Übertragung des Systemtaktes in dem betreffenden Zeitschlitz durch einen Wechsel des Potenzials auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest dem betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) zwischen dem ersten Spannungsbereich (VB1) auf der einen Seite und dem zweiten Spannungsbereich (VB2) und/oder dritten Spannungsbereich (VB3) auf der anderen Seite und durch den Wechsel in die Gegenrichtung erfolgt.
  • Eine Variante dieses Verfahren zeichnet sich dadurch aus, dass drei logische Zustände beim bidirektionalen Senden der Daten auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest dem betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) durch den Bus-Master (BM) und dem betrachteten Busknoten verwendet werden, wobei jeder logische Zustand einem, typischerweise genau einem, Spannungsbereich (VB1,VB2,VB3) des Potenzials des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) oder zumindest des betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitts (b1,b2,b3) zugeordnet ist.
  • Eine weitere Variante dieses Verfahren zeichnet sich aus durch ein zeitweises Schließen eines dominanten Schalters (S1L) des Bus-Masters (BM), der auch ein Transistor oder ein anderer Halbleiterschalter sein kann, zur zeitweisen Erzeugung eines ersten der drei logischen Zustände auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest dem betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3), wobei das Potenzial des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) oder zumindest des betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitts (b1,b2,b3) in den ersten Spannungsbereich (VB1) gezwungen wird.
  • Eine weitere Variante dieses Verfahren zeichnet sich aus durch ein zeitweises Einschalten einer ersten schaltbaren Stromquelle (I1,S1H) in dem Bus-Master (BM) und/oder durch zeitweises Einschalten einer zweiten schaltbaren Stromquelle (I2,S2H) in dem betrachteten Busknoten zur Erzeugung eines zweiten der drei logischen Zustände auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest dem betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3).
  • Eine weitere Variante dieses Verfahren zeichnet sich dadurch aus, dass das Einschalten der ersten schaltbaren Stromquelle (I1, S1H) in dem Bus-Master (BM) und/oder das Einschalten der zweiten schaltbaren Stromquelle (I2, S2H) in dem betrachteten Busknoten das Potenzial auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest dem betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) auf ein drittes Potenzial zwingt, sofern der erste dominante Schalter (S1L) des Bus-Masters (BM) nicht eingeschaltet ist, der das Potenzial des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) oder zumindest des betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitts (b1,b2,b3) in den ersten Spannungsbereich (VB1) zwingt und die Stromquellen überschreibt, d.h. das Potential auf b1, das durch den Spannungsabfall über (R0L) durch den Strom (I2) entsteht, auf Masse zwingt.
  • Eine weitere Variante dieses Verfahren zeichnet sich durch das Erzeugen eines dritten der drei logischen Zustände auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest dem betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) durch einen Pull-Schaltkreis (R0H,R0L) aus, wenn keiner der anderen logischen Zustände auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest dem betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) vorliegt, indem der Pull-Schaltkreis (R0H,R0L) das Potenzial des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) oder zumindest des betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitts (b1,b2,b3) auf ein mittleres Potenzial (VM) im zweiten Spannungsbereich (VB2) hebt.
  • Eine weitere Variante dieses Verfahren zeichnet sich durch die Übertragung eines Systemtakts durch das Wechseln vom zweiten oder dritten logischen Zustand auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest dem betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) auf der einen Seite zu einem ersten logischen Zustand auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest dem betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) auf der anderen Seite und durch den Wechsel in die umgekehrte Richtung aus.
  • Eine weitere Variante dieses Verfahren zeichnet sich durch die Übertragung von Daten durch das Wechseln vom ersten oder zweiten logischen Zustand auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest dem betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) auf der einen Seite zu einem dritten logischen Zustand auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest dem betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) auf der anderen Seite und durch den Wechsel in die umgekehrte Richtung aus.
  • Eine weitere Variante dieses Verfahren zeichnet sich durch aus, dass ein erstes oder zweites Datum oder ein Kontrolldatum oder anderes Datum in einer Halbtaktperiode der mindestens zwei Halbtaktperioden (T1H,T2H) eines Zeitschlitzes der mindestens drei aufeinander folgenden Zeitschlitze (TIN0,TIN1,TDO) übertragen wird und ein Systemtakt in der anderen Halbtaktperiode der mindestens zwei Halbtaktperioden (T1H,T2H) dieses Zeitschlitzes übertragen wird, wobei der Zeitschlitz die Länge einer Systemtaktperiode (T) mit mindestens zwei Halbtaktperioden (T1H,T2H) aufweist.
  • Ein anderes Verfahren betrifft das Betreiben eines Datenbusses zwischen einer ersten Teilvorrichtung (dem Bus-Master (BM)) und mindestens zwei weiteren Teilvorrichtungen (den Busknoten (BS1,BS2,BS3)), wobei der Datenbus eine Bezugspotenzialleitung (GND) mit einem Bezugspotenzial (V0) und einen Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) aufweist, der durch die mindestens zwei Busknoten in mindestens zwei Eindrahtdatenbusabschnitte (b1,b2,b3) unterteilt wird und durch mindestens einen der Busknoten (BS1,BS2,BS3) (den abschließenden Busknoten (BS3)) abgeschlossen wird. Das Verfahren umfasst als ersten Schritt das zeitweise Verbinden des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) oder zumindest der Eindrahtdatenbusabschnitte (b1,b2,b3) (im Folgenden als "betrachteter Eindrahtdatenbusabschnitt" bezeichnet) mit einem ersten Potenzial (V0), und zwar mittels einer ersten zuschaltbaren Spannungsquelle (S1L) des Bus-Masters (BM), die einen ersten Innenwiderstand (R1L) hat. Als zweiten Schritt umfasst es das zeitweise Verbinden des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) oder zumindest des betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitts (b1,b2,b3) mit einem zweiten Potenzial (VIO1), und zwar mittels einer zweiten zuschaltbaren Spannungsquelle (S1H,I1) des Bus-Masters (BM), die einen zweiten Innenwiderstand (R1H) hat, wobei die zweite zuschaltbare Spannungsquelle auch eine Stromquelle (S1H,I1) sein kann, die einen zweiten Innenwiderstand (R1H) und dem Stromwert (I1=VIO1/R1H) hat. Als dritten Schritt umfasst das Verfahren das zeitweise Verbinden des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) oder zumindest des betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitts (b1,b2,b3) mit einem dritten Potenzial (VIO2), das vorzugsweise gleich dem zweiten Potenzial (VIO1) ist, und zwar mittels einer dritten zuschaltbaren Spannungsquelle (S2H,I2) eines Busknotens (BS1,BS2,BS3) (im Folgenden "betrachteter Busknoten" genannt), wobei die dritte zuschaltbare Spannungsquelle (S2H, I2) einen dritten Innenwiderstand (R2H) hat und wobei die dritte zuschaltbare Spannungsquelle auch eine Stromquelle (S2H,I2) sein kann, die einen dritten Innenwiderstand (R2H) und dem Stromwert (I2=VIO2/R2H) hat. Als vierten Schritt umfasst das Verfahren das zeitweise Halten des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) oder zumindest des betrachteten Eindrahtdatenbusabschnitts (b1,b2,b3) durch eine vierte Spannungsquelle, insbesondere einen Pull-Schaltkreis (R0H,R0L) zwischen einem vierten Potenzial (VIO), das vorzugsweise gleich dem zweiten und dem dritten Potenzial (VIO1,VIO2) ist, und dem ersten Potenzial (V0), mit einem vierten Innenwiderstand (R0) auf einem mittleren Potenzial (VM). Dabei liegt der Wert des mittleren Potenzials (VM) zwischen dem Wert des ersten Potenzials (V0) und dem Wert des zweiten Potenzials (VIO1) und/oder zwischen dem Wert des ersten Potenzials (V0) und dem Wert des dritten Potenzials (VIO2). Der erste Innenwiderstand (R1L) ist dabei kleiner als die anderen Innenwiderstände (R1H,R2H,R0). Der vierte Innenwiderstand (R0) ist dabei größer als die anderen Innenwiderstände (R1H,R1L,R2H).
    • Beschreibung der Figuren
  • Die Erfindung wird nachfolgend anhand diverser Ausführungsbeispiele und unter Bezugnahme auf die Zeichnung näher erläutert. Im Einzelnen zeigen dabei:
    • Fig. 1
    das Zustandsdiagramm eines Test-Controllers nach dem Stand der Technik gemäß dem IEEE 1149-Standard,
    Fig. 2
    die grundlegenden Signalformen des Datenprotokolls auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder einem angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3),
    Fig. 3
    einen Realisierungsvorschlag in schematischer Form,
    Fig. 4
    beispielhafte Pegelfolgen für jeweils ein Zeitschlitzpaket aus drei aufeinanderfolgenden Zeitschlitzen,
    Fig. 5
    beispielhaft die Extraktion der Daten im betrachteten Busknoten für drei aufeinanderfolgende Zeitschlitze,
    Fig. 6
    schematisch ein beispielhaftes Eindrahtdatenbussystem,
    Fig. 7
    ein Detail aus dem beispielhaften Eindrahtdatenbussystem: Die Verbindung zweier aufeinanderfolgender Busknoten,
    Fig. 8
    schematisch vereinfacht eine beispielhafte Implementierung einer Bus-Master-Eindrahtdatenbusschnittstelle,
    Fig. 9
    schematisch vereinfacht eine beispielhafte Implementierung einer Busknoten-Eindrahtdatenbusschnittstelle,
    Fig. 10
    vereinfacht eine JTAG-Schnittstelle mit Beleuchtungsregister (ILR),
    Fig.11
    vereinfacht eine JTAG-Schnittstelle mit Beleuchtungsregister (ILR) und separatem zuschaltbaren seriellen Dateneingang für das Beleuchtungsregister,
    Fig. 12
    schematisch ein beispielhaftes Eindrahtdatenbussystem mit separatem seriellen Datenbus für Beleuchtungsdaten und
    Fig. 13
    vereinfacht eine JTAG-Schnittstelle mit Beleuchtungsregister (ILR) und Transfer-Gate-Control-Register (TGCR),
  • Fig. 2 zeigt die grundlegenden Signalformen eines Datenprotokolls auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder einem angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3). Im oberen Teil der Fig. 2 sind die Signalformen für einen Zweidraht-Test-Bus gemäß IEEE 1149-Standard schematisch skizziert, wie sie aus dem Stand der Technik bekannt sind. Das oberste Signal (TDA) zeigt das Datensignal. Das zweite Signal (TCK) zeigt den zugehörigen Takt. Beide Signale sind als Stand der Technik markiert und gehören zum Zweidraht-JTAG-Standard. Darunter ist beispielhaft die digitale Kodierung vermerkt. Hierbei wird noch nicht dargestellt, ob der betrachtete Busknoten oder der Master sendet. Hier ist nur die Signalform skizziert.
  • Darunter ist eine vorteilhafte Signalform auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder einem angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) skizziert, die den Takt und die Daten kombiniert.
  • Ganz unten sind die verschiedenen Spannungspegel skizziert. Das Signal weist beim Senden drei Spannungspegel auf:
    1. 1. Einen ersten Spannungspegel, der typischerweise gleich einer Versorgungsspannung (VIO) ist. Dabei kann diese gleich der Versorgungsspannung (VIO2) auf Busknoten-Seite oder gleich der Versorgungsspannung (VIO1) auf Seiten des Bus-Masters sein. Im Folgenden meint VIO eine dieser beiden Versorgungsspannungen oder eine Kombination der beiden oder eine andere, vergleichbare Versorgungsspannung mit gleicher Wirkung. Vorzugsweise sollten Bus-Master (BM) und Busknoten (BS1,BS2,BS3) die gleiche Versorgungsspannung als Referenz benutzen.
    2. 2. Einen zweiten, mittleren Spannungspegel (VM).
    3. 3. Einen dritten Spannungspegel, der typischerweise gleich einem Bezugspotenzial (V0) ist.
  • Für die Extraktion des Systemtaktes ist eine zweite Schwellspannung (V2L) definiert, die zwischen dem Bezugspotenzial (V0) und dem mittleren Potenzial (VM) liegt.
  • Für die Extraktion der Daten sind seitens des Bus-Maters (BM) eine dritte Schwellspannung (V1H) und seitens der der Busknoten (BS1,BS2,BS3) eine erste Schwellspannung (V2H) definiert, die jeweils zwischen der Versorgungsspannung (VIO) und dem mittleren Potenzial (VM) liegen und in etwa gleich sein sollten.
  • Durch die zweite Schwellspannung (V2L) der Busknoten (BS1,BS2,BS3) und durch das Bezugspotenzial (V0) wird ein erster Spannungsbereich (VB1) definiert und begrenzt.
  • Durch die erste Schwellspannung (V2H) der Busknoten (BS1,BS2,BS3) bzw. die dritte Schwellspannung (V1H) des Bus-Masters (BM) einerseits und die zweite Schwellspannung (V2L) der Busknoten (BS1,BS2,BS3) andererseits wird ein zweiter Spannungsbereich (VB2) definiert und begrenzt.
  • Durch die erste Schwellspannung (V2H) der Busknoten (BS1,BS2,BS3) bzw. die dritte Schwellspannung (V1H) des Bus-Masters (BM) einerseits und die Versorgungsspannung andererseits wird ein dritter Spannungsbereich (VB3) definiert und begrenzt.
  • Das Signal auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder einem angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3)ist zeitlich in Zeitschlitzpakete mit mindestens drei Zeitschlitzen (TIN0,TIN1,TDO) unterteilt. Die Zeitschlitze eines Zeitschlitzpaketes folgen typischerweise aufeinander, wobei jeder Zeitschlitz gleich der Dauer einer Systemtaktperiode (T) ist. Die Reihenfolge der Zeitschlitze innerhalb eines Zeitschlitzpaketes kann für ein System beliebig, aber vorzugsweise für alle Zeitschlitzpakete gleich gewählt werden. Jede Systemtaktperiode (T) gliedert sich in mindestens zwei Halbtaktperioden (T1H,T2H), deren Längen vorzugsweise aber nicht notwendigerweise gleich ist.
  • In einer Halbtaktperiode der mindestens zwei Halbtaktperioden (T1H, T2H) wird der Systemtakt übertragen.
  • Hierbei befindet sich der Pegel auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder dem angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) in einer Halbtaktperiode der mindestens zwei Halbtaktperioden (T1H,T2H) im ersten Spannungsbereich (VB1). Hierdurch wird ein erster logischer Wert des Systemtaktes übertragen. In dem Beispiel reicht es aus, dass sich der Pegel auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder dem angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) unterhalb der zweiten Schwelle (V2L) befindet. Eine Begrenzung nach unten durch das Bezugspotenzial (V0) ist für die Entscheidung, ob sich der Pegel auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder dem angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) im ersten Spannungsbereich (VB1) befindet, nicht relevant und wird daher in der Praxis nicht verwendet. Daher kann der erste Spannungsbereich (VB1) in vielen Anwendungsfällen auch als nach unten offen angesehen werden.
  • In der anderen Halbtaktperiode der mindestens zwei Halbtaktperioden (T1H, T2H) befindet sich der Pegel auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder dem angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) im zweiten Spannungsbereich (VB2) oder dritten Spannungsbereich (VB3). Hierdurch wird ein zweiter logischer Wert des Systemtaktes übertragen, der vom ersten logischen Wert des Systemtaktes verschieden ist. In dem Beispiel reicht es aus, dass sich der Pegel auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder dem angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) sich oberhalb der zweiten Schwelle (V2L) befindet. Eine Begrenzung nach oben durch die Versorgungsspannung (VIO) ist für die Entscheidung, ob sich der Pegel auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder dem angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) im zweiten Spannungsbereich (VB2) oder dritten Spannungsbereich (VB3) befindet, nicht relevant und wird daher in der Praxis nicht verwendet. Daher kann der dritte Spannungsbereich (VB3) in vielen Anwendungsfällen auch als nach oben offen angesehen werden.
  • Da es für die Extraktion des Systemtaktes innerhalb dieser anderen Halbtaktperiode der mindestens zwei Halbtaktperioden (T1H,T2H) nicht relevant ist, ob der Pegel auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder dem angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) sich im dritten Spannungsbereich (VB3) oder zweiten Spannungsbereich (VB2) befindet, können nun durch eine Unterscheidung zwischen dem dritten Spannungsbereich (VB3) und dem zweiten Spannungsbereich (VB2) innerhalb dieser anderen Halbtaktperiode der mindestens zwei Halbtaktperioden (T1H,T2H) Daten übertragen werden.
  • Wenn ein erster logischer Datenwert übertragen wird, so befindet sich in dieser anderen Halbtaktperiode der mindestens zwei Halbtaktperioden (T1H,T2H) der Pegel auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder dem angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) im zweiten Spannungsbereich (VB2), während er sich im dritten Spannungsbereich (VB3) befindet, wenn ein zweiter logischer Datenwert übertragen wird.
  • Rechts neben dem unteren Signal sind in Fig. 2 zur besseren Verdeutlichung beispielhafte logische Zustände für die drei Pegel eingezeichnet.
  • Der obere Pegel entspricht in dem Beispiel einem beispielhaften logischen Wert des Systemtakts (TCK) von 1 und einem beispielhaften logischen Wert des Datensignals (TDA) von 1.
  • Der mittlere Pegel entspricht in dem Beispiel einem beispielhaften logischen Wert des Systemtakts (TCK) von 1 und einem beispielhaften logischen Wert des Datensignals (TDA) von 0.
  • Der untere Pegel entspricht in dem Beispiel einem beispielhaften logischen Wert des Systemtakts (TCK) von 0 und einem beispielhaften logischen Wert des Datensignals (TDA) von 0.
  • Die Kombination eines beispielhaften logischen Werts des Systemtakts (TCK) von 1 und eines beispielhaften logischen Wert des Datensignals (TDA) von 0 ist nicht zulässig und deutet ggf. auf einen Systemfehler hin.
  • In Fig. 3 sind die wichtigsten Teile einer Schnittstelle zur Realisierung des zuvor beschriebenen Protokolls auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder auf dem hier beispielhaft angeschlossenen ersten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) zwischen dem Bus-Master und dem betrachteten Busknoten dargestellt. Als Bezugspotenzial für die Signale auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) und dem angeschlossenen ersten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) dient hier beispielhaft die Masse mit der Bezugspotenzialleitung (GND), die auf dem Bezugspotenzial (V0) liegt. Durch den Spannungsteiler aus einem unteren Widerstand (R0L), der zwischen dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3), d.h. zwischen dem angeschlossenen ersten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) und dem Bezugspotenzial (GND) geschaltet ist, und einem oberen Widerstand (R0H), der zwischen dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3), d.h. zwischen den angeschlossenen ersten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) und das vom Bezugspotenzial (V0) verschiedene Versorgungspotenzial (VIO) geschaltet ist, wird der Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) in Form des angeschlossenen ersten Eindrahtdatenbusabschnitts (b1) zunächst auf einem mittleren Potenzial (VM) zwischen diesen beiden Potenzialen (V0,VIO) gehalten. Auf der Masterseite wird nun immer in einer Halbtaktperiode der mindestens zwei Halbtaktperioden (T1H,T2H) einer Systemtaktperiode (T) des Systemtaktes (TCKout1) der dominierende Schalter (S1L) geschlossen, der zwischen dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) in Form des angeschlossenen ersten Eindrahtdatenbusabschnitts (b1) und der Bezugspotenzialleitung (GND) geschaltet ist. Da der Innenwiderstand des dominierenden Schalters (S1L) vorzugsweise kleiner als der Innenwiderstand des Spannungsteiles aus dem oberen Widerstand (R0H) und dem unteren Widerstand (R0L) ist, wird dadurch in der betreffenden Halbtaktperiode der mindestens zwei Halbtaktperioden (T1H,T2H) einer Systemtaktperiode (T) durch das Schließen des dominierenden Schalters (S1L) der Spannungspegel auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) von dem besagten mittleren Potenzial (VM) in einem zweiten Spannungsbereich (VB2) auf das Potenzial des Bezugspotenzials (V0), das sich im ersten Spannungsbereich (VB1) befindet, gezogen. Der dominierende Schalter (S1L) wird dabei durch den Systemtakt auf Masterseite (TCKout1) angesteuert. Ist dieser dominierende Schalter (S1L) nicht geschlossen, so können Daten bidirektional in der anderen Halbtaktperiode der mindestens zwei Halbtaktperioden (T1H,T2H) einer Systemtaktperiode (T) übertragen werden. Auf Seiten des Bus-Masters speist dazu eine geschaltete Stromquelle (S1H,I1) Strom in den Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) ein, wenn die Sendeleitung (TDAout1) aus dem Inneren des Bus-Masters (BM) aktiv ist. Hierzu schließt die Sendeleitung (TDAout1) aus dem Inneren des Bus-Masters (BM) den Schalter (S1H) der steuerbaren Stromquelle (S1H,I1). Hierdurch liefert die steuerbare Stromquelle (S1H, I1) Strom in den Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3). Vorzugsweise ist dieser Strom größer als der Strom, den der Pull-Schaltkreis bestehend aus dem oberen Widerstand (R0H) und dem unteren Widerstand (R0L) abführen kann. Somit wandert das Potenzial des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) oder des angeschlossenen ersten Eindrahtdatenbusabschnitts (b1) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) in diesem Fall von dem in dem zweiten Spannungsbereich (VB2) liegenden mittleren Potenzial (VM) zu einem in dem dritten Spannungsbereich (VB3) liegenden Potenzial nahe der Versorgungsspannung (VIO1) für die schaltbare Stromquelle (S1H,I1) des Bus-Masters (BM). Wird jedoch der dominierende Schalter (S1L) geschlossen, so hebt dieser den Einfluss der schaltbaren Stromquelle (S1H,I1) des Bus-Masters (BM) und des Pull-Schaltkreises bestehend aus dem oberen Widerstand (R0H) und dem unteren Widerstand (R0L) (wieder) auf. Beide sind bei geeigneter Auslegung des dominierenden Schalters (S1L) nicht in der Lage, das Potenzial auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder zumindest auf dem beispielhaft angeschlossenen ersten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) gegen den insoweit "dominierenden" Schalter (S1L) zu bestimmen.
  • In gleicher Weise arbeitet die zweite schaltbare Stromquelle auf der Busknoten-Seite. Auf der Busknoten-Seite speist dazu eine geschaltete Stromquelle (S2H,I2) Strom in den Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) bzw. den angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) ein, wenn die Sendeleitung (TDAout2) aus dem Inneren des Busknotens aktiv ist. Hierzu schließt die Sendeleitung (TDAout2) aus dem Inneren des Busknotens den Schalter (S2H) der steuerbaren Stromquelle (S2H,I2). Hierdurch liefert die Stromquelle (I2) der steuerbaren Stromquelle (S2H,I2) Strom in den Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) bzw. den angeschlossenen ersten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3). Vorzugsweise ist dieser Strom wieder größer als der Strom, den der Pull-Schaltkreis bestehend aus dem oberen Widerstand (R0H) und dem unteren Widerstand (R0L) abführen kann. Somit wandert das Potenzial des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) bzw. des angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitts (b1) in diesem Fall von dem in dem zweiten Spannungsbereich (VB2) liegenden mittleren Potenzial (VM) zu einem in dem dritten Spannungsbereich (VB3) liegenden Potenzial nahe der Versorgungsspannung (VIO2) für die schaltbare Stromquelle (S2H,I2) des Bus-Masters (BM). Wird jedoch der dominierende Schalter (S1L) geschlossen, so hebt dieser wieder den Einfluss der schaltbaren Stromquelle (S2H,I2) des Busknotens und des Pull-Schaltkreises bestehend aus dem oberen Widerstand (R0H) und dem unteren Widerstand (R0L) (wieder) auf. Beide sind bei geeigneter Auslegung des dominierenden Schalters (S1L) (siehe oben) nicht in der Lage, das Potenzial auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder auf dem angeschlossenen ersten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) gegen den dominierenden Schalter (S1L) zu bestimmen. Auch wenn die schaltbare Stromquelle (S1H, I1) des Bus-Masters (BM) ebenfalls hinzugeschaltet wird, wird bei geeigneter Auslegung des dominierenden Schalters (S1L) dieser das Potenzial auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder auf dem angeschlossenen ersten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) weiterhin bestimmen.
  • Auf der Busknoten-Seite vergleicht ein erster Komparator (C2H) das Potenzial auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder dem angeschlossenen ersten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) mit einem ersten Schwellwert (V2H). Gleichzeitig vergleicht ein zweiter Komparator (C2L) das Potenzial auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder dem angeschlossenen ersten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) mit einem zweiten Schwellwert (V2L). Der zweite Schwellwert (V2L) unterscheidet sich vom ersten Schwellwert (V2H) und bestimmt die Grenze zwischen dem ersten Spannungsbereich (VB1) und dem zweiten Spannungsbereich (VB2). Der erste Schwellwert (V2H) bestimmt die Grenze zwischen dem zweiten Spannungsbereich (VB2) und dem dritten Spannungsbereich (VB3). Der zweite Komparator (C2L) gewinnt den Systemtakt aus dem Signal auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder dem angeschlossenen ersten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) zurück. Dieses Signal wird ins Innere des Busknotens als durch den Busknoten empfangenes Taktsignal (TCKin2) weitergegeben. Der erste Komparator (C2H) gewinnt die Dateninformation aus dem Signal auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder dem angeschlossenen ersten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) als durch den Busknoten empfangene Daten (TDAin2) zurück. Dabei enthalten die durch den Busknoten empfangenen Daten auch noch Anteile des Systemtaktes. Dies kann durch einfaches Abtasten beispielsweise in einem FlipFlop mit der Flanke eines leicht verzögerten Systemtakts oder alternativ durch Verzögerung der empfangenen Daten und Abtastung mit einem nicht verzögerten Systemtakt leicht behoben werden. Ggf. müssen die Signale vor der Verwendung noch aufbereitet werden (D2H, D2L).
  • In einer zweckmäßigen Ausprägung der Erfindung könnte das Datenausgangssignal (TDAin2) durch den ersten Komparator (C2H) auf einen ersten logischen Pegel, z.B. auf "1" geschaltet werden, wenn das Potenzial auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder dem angeschlossenen ersten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) kleiner als der erste Schwellwert (V2H) ist und auf z.B. logisch "0", wenn das Potenzial niedriger als dieser Schwellwert ist. In einer vorteilhaften Ausprägung der Erfindung könnte das Systemtaktsignal (TCKin2) durch den zweiten Komparator (C2L) auf "1" geschaltet werden, wenn das Potenzial auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder dem angeschlossenen ersten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) kleiner als der zweite Schwellwert (V2L) ist und umgekehrt, wenn das Potenzial niedriger als dieser Schwellwert ist.
  • In ähnlicher Weise tastet der Bus-Master (BM) mittels eines dritten Komparators (C1H) den Zustand auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder dem angeschlossenen ersten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) ab. Hierzu vergleicht der dritte Komparator (C1H) das Potenzial auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder dem angeschlossenen ersten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) mit einem dritten Schwellwert (V1H) und gewinnt dadurch die auf der Datenleitung befindlichen Daten zurück, die jedoch auch hier noch Anteile des Systemtaktes aufweisen. Auch hier hilft eine geeignete Abtastung. Auf diese Weise werden die durch den Bus-Master (BM) empfangenen Daten (TDAin1) gewonnen. In einer zweckmäßigen Ausprägung der Erfindung könnte das Datenausgangssignal (TDAin1) auf 1 durch den dritten Komparator (C1H) geschaltet werden, wenn das Potenzial auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder dem angeschlossenen ersten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) kleiner als der dritte Schwellwert (V1H) ist und umgekehrt, wenn das Potenzial niedriger als dieser Schwellwert ist. Der dritte Schwellwert (V1H) ist vorzugsweise bis auf einen kleinen Toleranzbereich von vorzugsweise deutlich kleiner 25% dieses Wertes gleich dem ersten Schwellwert (V2H).
  • In der weiteren Verarbeitung können nun Schaltungen aus dem Stand der Technik für einen Datenbus mit separater Datenleitung und Systemtaktleitung verwendet werden, so dass hier auf die Beschreibung verzichtet werden kann. Beispielhaft sei auf die WO-A-2006 102 284 verwiesen.
  • Es ergibt sich nun folgende Tabelle der Spannungspegel und logischen Werte als eine mögliche Implementation der Erfindung. Andere Pegel und korrespondierende logische Werte sind ebenso möglich, wie für den Fachmann klar ist. Man beachte, dass hier in diesem Beispiel TCKout1=0 den dominierenden Schalter (S1L) schließt. Dies kann selbstverständlich auch invertiert implementiert werden.
    Senden betrachtete Eindrahtdaten- Empfangen
    leitung/-leitungsabschnitt
    TCKout1 TDAout1 TDAout2 b1, b2, b3, bn TCKin2 TDAin1 TDAin2
    0 0 0 V0 0 0 0
    0 0 1 V0 0 0 0
    0 1 0 V0 0 0 0
    0 1 1 V0 0 0 0
    1 0 0 VM 1 0 0
    1 0 1 VIO2 1 1 1
    1 1 0 VIO1 1 1 1
    1 1 1 VIO1/2 1 1 1
  • Vorzugsweise stimmen der erste Schwellwert (V2H) und der dritte Schwellwert (V1H) überein, wodurch Bus-Master und Busknoten die gleiche Datensequenz erkennen. Durch entsprechend gesteuerte, zeitliche Abtastung können diese Daten dann geeignet den Zeitschlitzen (TIN0,TIN1,TDO) zugeordnet werden.
  • Im Gegensatz zu den Schriften DE-B-10 2015 004 434 , DE-B-10 2015 004 433 , DE-B-10 2015 004 435 und DE-B-10 2015 004 436 weist der Busknoten typischerweise ein Transfer-Gate (TG) auf, das die Funktion eines Schalters hat und den ersten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1) mit einem nachfolgenden zweiten Eindrahtdatenbusabschnitt (b2) verbinden kann. Ist das Transfer-Gate (TG) geöffnet, so verbindet vorzugsweise ein zweiter Schalter (S3L) den nachfolgenden zweiten Eindrahtdatenbusabschnitt (b2) (dauerhaft) mit dem Bezugspotenzial (GND) oder einem anderen geeigneten Potenzial. Hierdurch liegt der nachfolgende Eindrahtdatenbus (b2,b3) auf einem definierten Potenzial, ohne dass ein Systemtakt und damit Daten übertragen werden.
  • Wenn das Transfer-Gate (TG) geschlossen ist, ist der zweite Schalter (S3L) geöffnet, so dass das Potenzial auf dem zweiten Eindrahtbusabschnitt (b2) gleich demjenigen auf dem ersten Eindrahtbusabschnitt (b1) ist, da diese nun über das Transfer-Gate (TG) miteinander verbunden sind.
  • Fig. 4 zeigt eine beispielhafte Protokollsequenz von drei aufeinanderfolgenden Zeitschlitzen (TIN0,TIN1,TDO). In anderen Implementationen der Erfindung kann ein Zeitschlitzpaket auch mehr als drei Zeitschlitze (TIN0, TIN1, TDO) umfassen. Im ersten Zeitschlitz (TINO) werden typischerweise Kontrolldaten übertragen, die dem TMS-Signal des Standard-Boundary-Scan (IEEE 1149) entsprechen. Dieses Signal steuert typischerweise den Zustand des endlichen Automaten gemäß dem Zustandsdiagram der Fig. 1. Im zweiten Zeitschlitz werden typischerweise die Daten übertragen, die dem TDI-Signal des Standard-Boundary-Scans (IEEE 1149) entsprechen. In diesen beiden Zeitschlitzen überträgt der Bus-Master (BM) Daten auf den Busknoten. Sollte parallel auch der Busknoten senden, so überschreibt der Busknoten den Bus-Master (BM), wenn dessen schaltbare Stromquelle (S1H, I1) ausgeschaltet ist. Umgekehrt kann der Bus-Master (BM) den Busknoten überschreiben, wenn die schaltbare Stromquelle (S2H,I2) des Busknotens ausgeschaltet ist. Ein Überschreiben des Bus-Masters (BM) durch den Busknoten kann der Bus-Master (BM) dadurch detektieren, dass die gesendeten Daten (TDAout1) im Hinblick auf ihren logischen Inhalt darauf durch eine Logik im Bus-Master (BM) überprüft werden, ob diese mit den empfangenen Daten (TDAin1) in der betreffenden Halbtaktperiode übereinstimmen, in der der Systemtakt (TCKout1) den dominierenden Schalter (S1L) nicht schließt. Im Falle einer solchen Asynchronizität kann der Bus-Master durch permanentes Halten des Spannungspegels auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder dem angeschlossenen ersten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) im dritten Spannungsbereich (VB3) bei geeigneter Auslegung der State-Machine des Test-Controllers (TAPC ) der Busknoten diese wieder re-synchronisieren. Hierzu muss die State-Machine des Test-Controllers (TAPC) des Busknotens so ausgelegt sein, dass ein permanentes im dritten Spannungsbereich (VB3) im Kontrollfeld, also hier beispielsweise im ersten Zeitschlitz (TIN0), zu einem Reset in Form der Einnahme eines sogenannten "Idle-States" (TLR) als einem abwartenden Zustand des Test-Controllers (TAPC) führt. Dies ist bei einem Zustandsdiagramm eines JTAG-Controllers gemäß IEEE 1149-Standard der Fall. Dieses permanente Halten des Spannungspegels auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) oder auf dem angeschlossenen ersten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3) im dritten Spannungsbereich (VB3) kann durch ein dauerhaftes Einschalten der schaltbaren Stromquelle (S1H, I1) des Bus-Masters (BM) für die Dauer des Reset-Vorgangs erfolgen.
  • Fig. 5 zeigt eine beispielhafte Abfolge von Signalen. Eingabe sind die mit "2 Draht Daten" bezeichneten Zweidraht basierenden Daten. In dem Beispiel sind drei aufeinanderfolgende Zeitschlitzpakete (n-1,n,n+1) mit beispielhaft je drei Zeitschlitzen (TIN0,TIN1,TDO) gezeigt. Die Verwendung von mehr als drei Zeitschlitzen je Zeitschlitzpakete ist selbstverständlich denkbar. Die Bedeutung der jeweiligen Zeitschlitze innerhalb eines Zeitschlitzpakets hängt nur von der zeitlichen Position ab und ändert sich nicht. Wenn in dieser Beschreibung vom ersten Zeitschlitz (TIN0), zweiten Zeitschlitz (TIN1) und dritten Zeitschlitz (TDO) die Rede ist, so ist das eine reine Bezeichnung und bezieht sich nicht auf die Position innerhalb eines Zeitschlitzpaketes. Vorzugsweise ist die zeitliche Positionierung der einzelnen mindestens drei Zeitschlitze (TIN0, TIN1, TDO) innerhalb der Zeitschlitzpakete immer gleich oder zumindest durch einen Algorithmus vorhersagbar. Auch zeigt die Fig. 5 den zugehörigen Systemtakt (2 Draht Takt). Im Zeitschlitzpaket n-1 liefert der Busknoten im Zeitschlitz TDOn-1 eine logische 1 und im Zeitschlitzpakte n im Zeitschlitz TDOn eine logische 1 und im Zeitschlitzpakte n+1 im Zeitschlitz TDOn+1 eine logische 0. Die vom Bus-Master (BM) gesendeten Daten in den Zeitschlitzen TIN0n-1, TIN1n-1, TIN0n, TIN1n, TIN0n+1, TIN1n+1 sind in ihrem logischen Gehalt nicht festgelegt und darum schraffiert. Das mit "bn" bezeichnete Signal soll den Potenzialverlauf auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3...bn,-..bm) oder einem angeschlossenen n-ten Eindrahtdatenbusabschnitt (bn) des Eindrahtdatenbusses (b1,b2,b3...bn,...bm) schematisch veranschaulichen. Aus diesem Potenzialverlauf auf dem betroffenen Eindrahtdatenbusabschnitt (bn) erzeugt beispielhaft der erste Komparator (C2H) die durch den betroffenen Busknoten empfangenen Daten (TDAin2). Der zweite Komparator (C2L) erzeugt beispielhaft aus dem Potenzialverlauf auf dem betroffenen Eindrahtdatenbusabschnitt (bn) das durch den Busknoten empfangene Taktsignal (TCKin2), das dem rekonstruierten Systemtakt entspricht. Bei geeigneter Synchronisierung von betroffenem Busknoten und Bus-Master erzeugt der betroffene Busknoten einen internen Systembasistakt (TCK), der erst in der zweiten Halbtaktperiode der Systemtaktperiode (T) des dritten Zeitschlitzes (TDOn) einen Puls mit der Dauer einer Halbtaktperiode zeigt. Mit der steigenden Flanke dieses Signals tastet der Busknoten in diesem Beispiel die logischen Werte auf der Leitung (TDAin2) ab. Mit der fallenden Flanke zu Beginn des nächsten Zeitschlitzpaketes wird der in diesem Beispiel zu sendende Wert (TDO) geändert. TDAout2 wird jedoch erst im dritten Zeitschlitz (TDOn+1) des folgenden Zeitschlitzpaketes aktiv, wenn der betroffene Busknoten senden darf. Dem Fachmann ist klar, dass die Steuerung nicht nur mittels der in Fig. 5 dargestellten Steuerung auf Basis der fallenden Flanke des Systemtaktes (TCK) möglich ist sondern auch anhand der steigenden Flanke.
  • Fig. 6 zeigt einen beispielhaften Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) mit drei Busknoten (BS1,BS2,BS3) und drei Eindrahtdatenbusabschnitten (b1,b2,b3) und einem Bus-Master (BM). Der erste Eindrahtdatenbusabschnitt (b1) verbindet den Bus-Master (BM) mit dem ersten Busknoten (BS1).
  • Der zweite Eindrahtdatenbusabschnitt (b2) verbindet den zweiten Busknoten (BS2) mit dem ersten Busknoten (BS1). Der dritte Eindrahtdatenbusabschnitt (b3) verbindet den dritten Busknoten (BS2) mit dem zweiten Busknoten (BS2).
  • Der Eindrahtdatenbus wird durch einen Bus-Master (BM) mittels einer Master-Eindrahtdatenbusschnittstelle (OWM) gesteuert, an die der erste Eindrahtdatenbusabschnitt (b1) angeschlossen ist.
  • Die erste Eindrahtdatenbusschnittstelle (OWS1) ist mit dem ersten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1) verbunden. Sie empfängt über diesen ersten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1) Daten vom Bus-Master und sendet solche zu diesem. Intern stellt sie einen ersten rekonstruierten Systemtakt (TCK1) bereit, mit dem die interne JTAG-Schnittstelle des ersten Busknotens betrieben wird. Des Weiteren stellt sie das erste kombinierte TMS-TDI-Signal (TMS_TDI1) bereit, das in diesem Beispiel im Zeitmultiplex das Test-Mode-Signal (TMS) und das Dateneingangssignal (TDI) umfasst. Mit dem Test-Mode-Signal (TMS) wird der endliche Automat (finite state machine) des Test-Controllers (TAPC) der JTAG-Schnittstelle des ersten Busknotens gesteuert. Die Daten des TDI-Signalanteils werden zum Beschicken der Schieberegister der JTAG-Schnittstelle des ersten Busknotens benutzt. Umgekehrt liefert die JTAG-Schnittstelle mit dem seriellen TDO Ausgangssignal Daten aus den Registern der JTAG-Schnittstelle des ersten Busknotens. Durch ein erstes Transfer-Gate (TG1) kann der erste Eindrahtdatenbusabschnitt (b1) mit dem nachfolgenden zweiten Eindrahtdatenbusabschnitt (b2) verbunden werden. Hierzu beschreibt der Bus-Master ein hier nicht gezeichnetes Transfergate-Control-Register (TGCR) (siehe z.B. Fig. 13) über den JTAG-Bus und setzt ein Flag, das die erste Enable-Leitung (en1) setzt oder löscht. In Abhängigkeit von dem Signal auf der ersten Enable-Leitung (en1) wird das erste Transfer-Gate (TG1) des ersten Busknotens geöffnet oder geschlossen. Somit kann mittels eines Befehls vom Bus-Master (BM) der Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) verlängert und verkürzt werden.
  • Die zweite Eindrahtdatenbusschnittstelle (OWS2) ist mit dem zweiten Eindrahtdatenbusabschnitt (b2) verbunden. Sie empfängt über diesen ersten Eindrahtdatenbusabschnitt (b2) Daten vom Bus-Master (BM), wenn der erste Busknoten (BS1) sein Transfer-Gate (TG1) geschlossen hat. Die zweite Eindrahtdatenbusschnittstelle (OWS2) sendet auch Daten zu dem Bus-Master (BM). Intern stellt sie einen zweiten rekonstruierten Systemtakt (TCK2) bereit, mit dem die interne JTAG-Schnittstelle des zweiten Busknotens (BS2) betrieben wird. Des Weiteren stellt sie das zweite kombinierte TMS-TDI-Signal (TMS_TDI2) bereit, das in diesem Beispiel im Zeitmultiplex das Test-Mode-Signal (TMS) und das Dateneingangssignal (TDI) umfasst. Mit dem Test-Mode-Signal (TMS) wird der endliche Automat (finite state machine) des Test-Controllers (TAPC) der JTAG-Schnittstelle des zweiten Busknotens (BS2) gesteuert. Die Daten des TDI-Signalanteils werden zum Beschicken der Schieberegister der JTAG-Schnittstelle des zweiten Busknotens benutzt. Umgekehrt liefert die JTAG-Schnittstelle des zweiten Busknotens mit dem seriellen TDO Ausgangssignal Daten aus den Registern der JTAG-Schnittstelle des zweiten Busknotens. Durch ein zweites Transfer-Gate (TG2) kann der zweite Eindrahtdatenbusabschnitt (b2) mit dem dritten Eindrahtdatenbusabschnitt (b3) verbunden werden. Hierzu beschreibt der Bus-Master ein hier nicht gezeichnetes Transfer-gate-Control-Register (TGCR) (siehe Fig. 13) über den JTAG-Bus und setzt ein Flag, das die zweite Enable-Leitung (en2) setzt oder löscht. In Abhängigkeit von dem Signal auf der zweiten Enable-Leitung (en2) wird das zweite Transfer-Gate (TG2) des zweiten Busknotens geöffnet oder geschlossen. Somit kann mittels eines Befehls vom Bus-Master (BM) der Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) noch weiter verlängert und verkürzt werden.
  • Die dritte Eindrahtdatenbusschnittstelle (OWS3) ist mit dem dritten Eindrahtdatenbusabschnitt (b3) verbunden. Sie empfängt über diesen dritten Eindrahtdatenbusabschnitt (b3) Daten vom Bus-Master (BM), wenn der erste Busknoten (BS1) sein Transfer-Gate (TG1) geschlossen hat und wenn der zweite Busknoten (BS2) ebenfalls sein zweites Transfer-Gate (TG2) geschlossen hat. Die dritte Eindrahtdatenbusschnittstelle (OWS3) sendet auch Daten zu dem Bus-Master (BM). Intern stellt sie einen dritten rekonstruierten Systemtakt (TCK3) bereit, mit dem die interne JTAG-Schnittstelle des dritten Busknotens (BS2) betrieben wird. Des Weiteren stellt sie das dritte kombinierte TMS-TDI-Signal (TMS_TDI3) bereit, das in diesem Beispiel im Zeitmultiplex das Test-Mode-Signal (TMS) und das Dateneingangssignal (TDI) für die JTAG-Schnittstelle des dritten Busknotens (BS3) umfasst. Mit dem Test-Mode-Signal (TMS) wird der endliche Automat (finite state machine) des Test-Controllers (TAPC) der JTAG-Schnittstelle des dritten Busknotens (BS3) gesteuert. Die Daten des TDI-Signalanteils werden zum Beschicken der Schieberegister der JTAG-Schnittstelle des dritten Busknotens (BS3) benutzt. Umgekehrt liefert die JTAG-Schnittstelle des dritten Busknotens (BS3) mit dem seriellen TDO-Ausgangssignal Daten aus den Registern der JTAG-Schnittstelle des dritten Busknotens (BS3). Durch ein drittes Transfer-Gate (TG3) kann der dritte Eindrahtdatenbusabschnitt (b3) mit weiteren Eindrahtdatenbusabschnitten (bn) verbinden. Hier soll der dritte Busknoten aber beispielhaft den Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) abschlie-ßen.
  • Jeder der Busknoten ist mit Gruppen von Leuchtmitteln (LM1,LM2,LM3) verbunden, die durch den jeweiligen Busknoten (BS1,BS2,BS3) gesteuert werden. Andere Verbraucher elektrischer Energie sind ebenso einsetz- und ansteuerbar.
  • Fig. 7 entspricht der Aneinanderreihung zweier Busknotendatenbusschnittstellen in Form von zwei rechten Hälften der Fig. 3. Ein vorausgehender n-ter Eindrahtdatenbusabschnitt (bn) ist mit einem n-ten Busknoten (BSn) verbunden. Dieser n-te Busknoten (BSn) kann mittels seines Transfergates (TG) diesen vorausgehenden n-ten Eindrahtdatenbusabschnitt (bn) mit dem n+1-ten Eindrahtdatenbusabschnitt (b(n+1)) verbinden. Sofern das Transfer-Gate (TG) des n-ten Busknotens (BSn) geöffnet ist, legt ein dritter Schalter (S3L) das Potenzial des n+1-ten Eindrahtdatenbusabschnitts(b(n+1)) und damit aller nachfolgenden Eindrahtdatenbusabschnitte (b(n+2)) auf ein definiertes Potenzial und verhindert damit die versehentliche Datenübertragung.
  • Der n+1-te Busknoten (BS(n+1)) kann mittels seines Transfer-Gates (TG) wieder diesen vorausgehenden n+1-ten Eindrahtdatenbusabschnitt (b(n+1)) mit dem n+2-ten Eindrahtdatenbusabschnitt (b(n+2)) verbinden. Sofern das Transfer-Gate des n+1-ten Busknotens (BS(n+1)) geöffnet ist, legt ein dritter Schalter (S3L) wieder das Potenzial des n+2-ten Eindrahtdatenbusabschnitts (b(n+2)) und damit aller nachfolgenden Eindrahtdatenbusabschnitte (b(n+3)), sofern vorhanden, auf ein definiertes Potenzial und verhindert damit die versehentliche Datenübertragung.
  • Fig. 8 zeigt einen Implementierungsvorschlag für eine Master-Eindrahtdatenbusschnittstelle (OWM) mit z.B. umgekehrten Spannungsvorzeichen. Ein Spannungsregler (PS) erzeugt aus einer externen Versorgungsspannung (Vext1) eine Referenzspannung (VREF). Der einmal pro Busknoten (BS1,BS2,BS3) vorhandene unterer Widerstand (R0L) und der oberer Widerstand (R0H) des Spannungsteilerpaares, das beispielhaft den Pull-Schaltkreis bildet, werden auf Seiten des Bus-Masters (BM) durch den ersten Widerstand (R1) und den zweiten Widerstand (R2) gebildet. Der Pull-Schaltkreis hält den Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) im zweiten Spannungsbereich (VB2) auf einem mittleren Potenzial (VM), wenn keiner der anderen Schalter (S1L,S1H,I1,S2H,I2) aktiv ist. Hier ist beispielhaft der erste Eindrahtdatenbusabschnitt (b1) am Ausgang der Master-Eindrahtdatenbusschnittstelle (OWM) angeschlossen. Der Schalter (S1H) der steuerbaren Stromquelle (S1H,I1) jedes Busknotens (BS1,BS2,BS3) (Sender des Busknotens) wird auf Seiten des Bus-Masters durch den ersten Transistor (T1) gebildet. Der dominierende Schalter (S1L) jedes Busknotens (BS1,BS2,BS3) wird auf Seiten des Bus-Masters (BM) durch den zweiten Transistor (T2) gebildet. Dieser zweite Transistor (T2) ist in diesem Beispiel ein N-Kanal-Transistor. Der erste Transistor (T1) ist in diesem Beispiel ein P-Kanal-Transistor. Über einen z.B. invertierenden Pufferschaltkreis (buf) wird der erste Transistor (T1) mit dem Systemtakt (TCK) angesteuert. Über ein NOR-Gatter (NOR) wird der zweite Transistor (T2) mit dem kombinierten TMS-TDI Signal (TMS_TDI) angesteuert, wenn das Systemtaktsignal (TCK) inaktiv ist. Durch den Spannungsteiler (R3) wird eine Referenzspannung erzeugt, mit der der Komparator (cmp) den Spannungspegel auf dem angeschlossenen ersten Eindrahtdatenbusabschnitt (b1) vergleicht und das Datensignal (TDO) für die weitere Verarbeitung innerhalb des Bus-Masters (BM) erzeugt.
  • Fig. 9 zeigt eine beispielhafte Implementation der n-ten Eindrahtdatenbusschnittstelle (OWSn) eines n-ten Busknotens (BSn) der Busknoten (BS1,BS2,BS3) mit z.B. umgekehrten Spannungsvorzeichen passend zur Master-Eindrahtdatenbusschnittstelle (OWM) der Fig. 8. Die Eindrahtdatenbusschnittstelle (OWSn) des n-ten Busknotens (BSn) ist beispielhaft an den n-ten Eindrahtdatenbusabschnitt (bn) angeschlossen. Der Schalter der steuerbaren Stromquelle (S2H, I2) für den Sender des Busknotens wird durch den dritten Transistor (T3) gebildet. Dessen Innenwiderstand wird durch den seriell geschalteten siebten Widerstand (R7) bestimmt. Durch den Spannungsteiler aus dem vierten Widerstand (R4), dem fünften Widerstand (R5) und den sechsten Widerstand (R6) werden zwei Referenzspannungen aus der Versorgungsspannung (Vbat) des Busknotens erzeugt. Mit diesen zwei Referenzspannungen vergleichen ein zweiter Komparator (cmp2) und ein dritter Komparator (cmp3) das Potenzial auf dem beispielhaft angeschlossenen n-ten Eindrahtdatenbusabschnitt (bn). Sie erzeugen hieraus den rekonstruierten Systemtakt (TCKn) des n-ten Busknotens (BSn) und das n-te kombinierte TMS-TDI-Signal (TMS_TDIn) innerhalb des n-ten Busknotens (BSn) für die Ansteuerung des Test-Controllers (TAPC) der JTAG-Schnittstelle innerhalb des n-ten Busknotens (BSn). Hierbei werden Takt und Daten durch eine Verzögerungseinheit (Δt) für das kombinierte TMS-TDI-Signal (TMS_TDIn) wieder synchronisiert. Das Ausgangssignal der JTAG-Schnittstelle des n-ten Busknotens (BSn) wird in diesem Beispiel genutzt, um über einen invertierenden zweiten Pufferschaltkreis (buf2) den dritten Transistor (T3) anzusteuern. Dem Fachmann ist es ein Leichtes, die zeitliche Struktur der Signale durch eine geeignete Logik sicherzustellen.
  • Fig. 10 zeigt die innere Struktur einer erfindungsgemäßen JTAG-Schnittstelle. Diese ist zu der in dem IEEE 1149-Standard vorgesehenen Architektur kompatibel, so dass auf dem Markt erhältliche Software genutzt werden kann, was einen erheblichen Vorteil darstellt.
  • In diesem Beispiel wird das kombinierte TMS-TDI-Signal (TMS_TDIn) in einer Testdatenaufbereitung (TB) synchron zum Systemtakt (TCK) in das Test-Mode-Signal (TMS) und die seriellen Eingangsdaten (TDI) zerlegt. Mit dem Test-Mode-Signal (TMS) wird wieder der Test-Controller (TAPC) synchron zum Takt entsprechend dem bereits aus dem Stand der Technik bekannten und im Zusammenhang mit der Fig. 1 beschriebenen Zustandsdiagramm gesteuert. Dieses Zustandsdiagramm eines Test-Controllers (TAPC) kennzeichnet im Sinne der Erfindung eine JTAG-Schnittstelle, da durch Einhaltung dieses Zustandsdiagramms erst Software-Kompatibilität hergestellt wird. Durch das Steuersignal (sir_sdr) für den ersten Multiplexer (MUX1) schaltet der Test-Controller zwischen dem Instruktionsregister (IR) und den Datenregistern (DR) mittels des ersten Multiplexers (MUX1) um. Der serielle Dateneingang (TDI) wird auf alle Datenregister (BR, IDCR, RX, ILR), das Instruktionsregister (IR) und ggf. weitere Datenregister und ggf. weitere Datenregister geleitet. Alle diese Register sind typischerweise zweistufig ausgeführt. Das bedeutet, dass sie über ein Schieberegister einer Bit-Länge m und parallel dazu über ein Schattenregister der gleichen Länge m verfügen. Das Schieberegister dient dem Datentransport, während das Schattenregister die gültigen Daten enthält. Wie oben beschrieben, werden die Daten in Abhängigkeit vom Zustand des Test-Controllers (TAPC) vom Schieberegister in das Schattenregister geladen oder vom Schattenregister in das Schieberegister geladen oder geschoben oder die Daten ruhen. In dem Beispiel der Fig. 10 wird die JTAG-Schnittstelle von einem Instruktionsdekoder (IRDC) in Abhängigkeit vom Inhalt des Instruktionsregisters (IR) gesteuert. Beispielsweise ist es denkbar, dass der betrachtete Busknoten nur dann senden darf, wenn das Schattenregister des Instruktionsregisters (IR) an bestimmten Bit-Positionen bestimmte Werte, also eine bestimmte Sendeadresse enthält. Eine solche Adressierung kann aber auch in einem separaten Senderegister (SR) vorgenommen werden.
  • Besonders bevorzugt verfügt die JTAG-Schnittstelle über ein Busknotenadressregister (BKADR). Dieses gibt die Identifikationsnummer des Busknotens an. Des Weiteren verfügt die JTAG-Schnittstelle bevorzugt über ein Senderegister (SR). Dieses Senderegister (SR) wird durch den Bus-Master (BM) gesetzt und gibt die Nummer des Busknotens an, der senden soll/darf. Nur dann, wenn beide Adressen, die Adresse im Busknotenadressregister (BKADR) und die Adresse im Senderegister (SR) übereinstimmen, darf der betrachtete Busknoten (BSn) zur vorbestimmten Zeit senden. Um die Busknotenadressen in den Busknotenadressregistern (BKADR) der Busknoten bei der Initialisierung des Eindrahtdatenbussystems zu setzen, sind zu Anfang alle Transfer-Gates (TG) aller Busknoten geöffnet. Dies kann vorzugsweise durch einen speziellen Befehl an alle erreichbaren Instruktionsregister (IR) aller an den Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) angeschlossenen erfindungsgemäßen JTAG-Schnittstellen und erreichbaren Busknoten geschehen. Hierfür müssen die Instruktionsregister (IR) dieser JTAG-Schnittstellen in den niederwertigsten Bits, das sind die zuerst beschriebenen Schieberegisterbits, übereinstimmen. Der Bus-Master (BM) vergibt nach einem festgelegten Algorithmus dann die erste Busadresse an den ersten und einzigen Busknoten (BS1), der direkt mit ihm verbunden ist, durch Beschreiben des ersten Busknotenadressregister (BKADR) des ersten Busknotens (BS1). Dann testet der Bus-Master (BM) typischer-, aber nicht notwendiger Weise die Verbindung. Vorzugsweise kann das Busknotenadressregister (BKADR) des betrachteten Busknotens nur beschrieben werden, wenn das Transfer-Gate (TG) des betrachteten Busknotens offen, also nicht geschlossen ist. Hierdurch wird sichergestellt, dass nur der letzte Busknoten, also der erste Busknoten in der Folge von Busknoten vom Bus-Master (BM) aus, der sein Transfer-Gate (TG) nicht geschlossen hat, eine Busknotenadresse in sein Busknotenadressregister (BKADR) übernimmt. Nach einer solchen Übernahme wird das Transfer-Gate (TG) typischerweise automatisch oder per Software-Befehl des Bus-Masters (BM) geschlossen. Damit wird die im Busadressregister gespeicherte Busknotenadresse "eingefroren". Gleichzeitig kann nun die Adressierung des nachfolgenden Busknotens erfolgen. Um ein geordnetes Rücksetzen des Bussystems zu ermöglichen, wird beispielsweise ein für alle Busknoten gleicher Befehl im Instruktionsregister (IR) vorgesehen, der alle Transfer-Gate aller Busknoten öffnet, so dass eine Neuvergabe von Adressen erfolgen kann. Sofern nach einer Adressvergabe der Busknoten unter dieser Busknotenadresse nicht antwortet, ist der Busknoten entweder defekt oder existiert nicht. Im letzteren Fall kennt dann der Bus-Master die Position aller Busknoten und deren Anzahl.
  • Die beispielhafte JTAG-Schnittstelle der Fig. 10 umfasst ein standardgemäßes Bypass-Register (BR), das zum Vorbeileiten von Daten durch die JTAG-Schnittstelle dient. Darüber hinaus umfasst es in diesem Beispiel ein Identifikationsregister (IDCR) zum Auslesen einer Seriennummer des Schaltkreises und weitere Datenregister (RX), die dem JTAG-Standard entsprechen. Diese können beispielsweise Testregister und andere Register sein.
  • Erfindungsgemäß kann nun ein Beleuchtungsregister (ILR) vorgesehen sein. Im Beleuchtungsregister (ILR) legt der Bus-Master (BM) Daten zur Einstellung der Energieversorgungen für die Leuchtmittel (LM) ab. Typischerweise handelt es sich bei den Energieversorgungen um ein oder mehrere (hier drei) PWM-Treiber (PWM1,PWM2,PWM3), die eine PWM-modulierte Ausgangsspannung oder einen entsprechend modulierten Strom erzeugen.
  • Fig. 11 zeigt ein ähnliches Diagramm wie das der Fig. 10 mit dem Unterschied, dass die JTAG-Schnittstelle zusätzlich ein Beleuchtungsinstruktionsregister (ILIR) aufweist. Dieses steuert über den Dekoder (ILRDC) einen dritten Multiplexer (MUX3). Dieser kann die seriellen Eingabedaten für das Beleuchtungsregister (ILR) zwischen einem seriellen Eingang für Beleuchtungsdaten (SILDIn) und dem seriellen Testdateneingang (TDI) mittels eines Beleuchtungsdatenauswahlsignals (ilds) umschalten. Gleichzeitig wird der Ausgang des Beleuchtungsregisters (ILR) auf den seriellen Ausgang für Beleuchtungsdaten (SILDOn) kopiert.
  • Fig. 12 zeigt die mögliche direkte Verbindung mehrerer Schaltkreise mit JTAG-Controllern entsprechend Fig. 11 über eine Verkettung mittels der Eingänge für Beleuchtungsdaten (SILDI1,SILDI2,SILDI3) und entsprechender Ausgänge für Beleuchtungsdaten (SILDO1,SILDO2,SILDO3).
  • Hierdurch ist es möglich, ohne komplizierte Adressierung schnell Daten für ganze Gruppen von Leuchtmitteln zu übertragen, da nur noch ein Baustein adressiert werden muss.
  • Fig. 13 zeigt eine JTAG-Schnittstelle ähnlich derjenigen der Fig. 10 mit dem Unterschied, dass Sie ein separates Transfer-Gate-Control-Register (TGCR) aufweist. Anstatt das Flag für das Öffnen und Schließen des Transfer-Gate (TG) im Instruktionsregister (IR) zu platzieren, kann auch ein separates Transfer-Gate-Control-Register (TGCR) vorgesehen werden, das die entsprechende Enable-Leitung (enn) des entsprechenden Busknotens (BSn) ansteuert.
    • BEZUGSZEICHENLISTE
    • b1
    erster Eindrahtdatenbusabschnitt
    b2
    zweiter Eindrahtdatenbusabschnitt
    b3
    dritter Eindrahtdatenbusabschnitt
    bn
    n-ter Eindrahtdatenbusabschnitt
    BKADR
    Busknotenadressregister
    BM
    Bus-Master
    BR
    Bypass-Register
    BS1
    beispielhafter erster Busknoten
    BS2
    beispielhafter zweiter Busknoten
    BS3
    beispielhafter dritter Busknoten
    BSn
    beispielhafter n-ter Busknoten (Der relevante Busknoten wird an verschiedenen Stellen dieser Offenbarung mit BSn bezeichnet)
    buf
    Pufferschaltkreis
    buf2
    zweiter Pufferschaltkreis
    C2H
    erster Komparator auf Busknoten Seite. Der erste Komparator vergleicht den Spannungspegel auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) bzw. auf dem angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) mit einem ersten Schwellwert (V2H) und gibt über eine erste Aufbereitung (D2H) das durch den Busknoten empfangene Datensignal an das Innere der Schaltung des Busknotens, typischerweise der integrierten Schaltung oder des zu testenden oder zu steuernden Systems weiter. Der erste Komparator detektiert das Wechseln des Spannungspegels auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) bzw. auf dem angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) vom dritten Spannungsbereich (VB3) auf der einen Seite in den ersten Spannungsbereich (VB1)oder zweiten Spannungsbereich (VB2) auf der anderen Seite und umgekehrt
    C2L
    zweiter Komparator auf Busknoten Seite. Der zweite Komparator vergleicht den Spannungspegel auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) bzw. auf dem angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) mit einem zweiten Schwellwert (V2L) und gibt über eine zweite Aufbereitung (D2L) das durch den Busknoten empfangene Taktsignal an das Innere der Schaltung des Busknotens, typischerweise der integrierten Schaltung oder des zu testenden oder zu steuernden Systems weiter. Der zweite Komparator detektiert das Wechseln des Spannungspegels auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) bzw. auf dem angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) vom ersten Spannungsbereich (VB1) auf der einen Seite in den dritten Spannungsbereich (VB3) oder zweiten Spannungsbereich (VB2)auf der anderen Seite und umgekehrt
    C1H
    dritter Komparator auf Master Seite. Der dritte Komparator vergleicht den Spannungspegel auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) bzw. auf dem angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) mit einem dritten Schwellwert (V1H) und gibt das durch den Master empfangene Datensignal an das Innere der Schaltung des Masters, typischerweise der Host-Prozessor, weiter. Der dritte Komparator detektiert das Wechsein des Spannungspegels auf dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) bzw. auf dem angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) vom dritten Spannungsbereich (VB3)auf der einen Seite in den ersten Spannungsbereich (VB1)oder zweiten Spannungsbereich (VB2) auf der anderen Seite und umgekehrt
    CIR
    Zustand "Instruktionsregisterdaten laden" des Test-Controllers
    CDR
    Zustand "Datenregisterdaten laden" des Test-Controllers
    cmp
    Komparator
    cmp2
    zweiter Komparator
    cmp3
    dritter Komparator
    D1H
    erste Aufbereitung
    D2H
    zweite Aufbereitung
    DR
    Datenregister der JTAG-Schnittstelle (Es sind typischerweise mehrere Datenregister parallel geschaltet und werden über den zweiten Multiplexer (MUX2) während der Lesens der Datenregister (DR) ausgewählt.)
    drs
    Auswahlsignal für das Datenregister, das gelesen werden soll.
    Δt
    Verzögerungseinheit für das kombinierte TMS-TDI-Signal (TMS_TDIn)
    EDR1
    Zustand "Datenregister Exit 1" des Test-Controllers (TAPC)
    EDR2
    Zustand "Datenregister Exit 2" des Test-Controllers (TAPC)
    EIR1
    Zustand "Instruktionsregister Exit 1" des Test-Controllers (TAPC)
    EIR2
    Zustand "Instruktionsregister Exit 2" des Test-Controllers (TAPC)
    en1
    erste Enable-Leitung zum Öffnen und Schließen des ersten Transfer-Gates (TG1) des ersten Busknotens (BS1)
    en2
    zweite Enable-Leitung zum Öffnen und Schließen des zweiten Transfer-Gates (TG2) des zweiten Busknotens (BS2)
    en3
    dritte Enable-Leitung zum Öffnen und Schließen des dritten Transfer-Gates (TG3) des dritten Busknotens (BS3)
    enn
    n-tete Enable-Leitung zum Öffnen und Schließen des dritten Transfer-Gates (TG3) des n-ten Busknotens (BSn)
    GND
    Bezugspotenzialleitung. Diese liegt typischerweise aber nicht notwendigerweise auf Masse. Sie besitzt das Bezugspotenzial (V0).
    I1
    Stromquelle der steuerbaren Stromquelle (S1H, I1) für den Sender des Masters, also typischerweise des Host-Prozessors.
    I2
    Stromquelle der steuerbaren Stromquelle (S2H, I2) für den Sender des Busknotens, also der integrierten Schaltung oder des zu testenden oder steuernden Systems.
    IDCR
    Identifikationsregister
    Ilds
    Beleuchtungsdatenauswahlsignal
    ILR
    Beleuchtungsregister
    ILIR
    Beleuchtungsinstruktionsregister
    IR
    Instruktionsregister der JTAG-Schnittstelle
    IRDC
    Instruktionsdekoder
    LED
    Leuchtdiode. Es kann sich im Sinne dieser Erfindung auch um die Parallel- und/oder Serienschaltung mehrerer LEDs handeln.
    LM1
    Leuchtmittelgruppe 1, die durch den ersten Busknoten (BS1) gesteuert wird
    LM2
    Leuchtmittelgruppe 2, die durch den zweiten Busknoten (BS2) gesteuert wird
    LM3
    Leuchtmittelgruppe 3, die durch den dritten Busknoten (BS3) gesteuert wird
    Bus-Master
    Masterschaltkreis. Der Bus-Master ist typischerweise der Host-Prozessor, über den der integrierte Schaltkreis, der Busknoten, gesteuert wird.
    MUX1
    erster Multiplexer innerhalb der JTAG-Schnittstelle zum Umschalten zwischen den Datenregistern (DR) und dem Instruktionsregister (IR)
    MUX2
    zweiter Multiplexer innerhalb der JTAG-Schnittstelle zum Auswählen des aktiven Datenregisters (DR)
    MUX3
    dritter Multiplexer zum Umschalten zwischen einem seriellen Eingang für Beleuchtungsdaten (SILDIn) und den seriellen Eingangsdaten (TDI)
    NOR
    invertierender ODER-Schaltkreis
    OWM
    Master-Eindrahtdatenbusschnittstelle
    OWS1
    erste Eindrahtdatenbusschnittstelle
    OWS2
    zweite Eindrahtdatenbusschnittstelle
    OWS3
    dritte Eindrahtdatenbusschnittstelle
    OWSn
    Eindrahtdatenbusschnittstelle des n-ten Busknotens
    PCM
    Puls-Code-Modulation
    PDM
    Puls-Dichte-Modulation
    PDR
    Zustand "Pause Datenregister" des Test-Controllers (TAPC)
    PFM
    Puls Frequenz Modulation
    PIR
    Zustand "Pause Instruktionsregister" des Test-Controllers (TAPC)
    POM
    Pulse-On-Time Modulation und/oder Pulse-Off-Time-Modulation
    PS
    Spannungsregler
    PWM
    Puls-Weiten-Modulation. (Dieser Begriff umfasst im Sinne dieser Offenbarung alle bekannten Arten der Puls-Modulation wie beispielsweise PFM, PCM, PDM, POM etc.)
    PWM1
    erste PWM-Einheit
    PWM2
    zweite PWM-Einheit
    PWM3
    dritte PWM-Einheit
    R0
    Innenwiderstand des Pull-Schaltkreises (R0H, R0L), der als vierte reale Spannungsquelle den Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) bzw. den angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) auf einem mittleren Potenzial (VM) hält, wenn die anderen Sender (S1L, S1H, I1, S2H, I2) nicht aktiv sind
    R0L
    unterer Widerstand des Spannungsteilerpaares, das beispielhaft den Pull-Schaltkreis bildet. Der Pull-Schaltkreis hält den Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) bzw. den angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) im zweiten Spannungsbereich (VB2) auf einem mittleren Potenzial (VM), wenn keiner der anderen Sender (S1L, S1H, I1, S2H, I2) aktiv ist.
    R0H
    oberer Widerstand des Spannungsteilerpaares, das beispielhaft den Pull-Schaltkreis bildet. Der Pull-Schaltkreis hält den Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) bzw. den angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) im zweiten Spannungsbereich (VB2) auf einem mittleren Potenzial (VM), wenn keiner der anderen Sender (S1L, S1H, I1, S2H, I2) aktiv ist.
    R1
    erster Widerstand
    R1H
    Innenwiderstand der zweiten schaltbaren realen Spannungsquelle, die durch die schaltbare Stromquelle (S1H, I1) des Masters gebildet wird
    R2
    zweiter Widerstand
    R2H
    Innenwiderstand der dritten schaltbaren realen Spannungsquelle, die durch die schaltbare Stromquelle (S1H, I1) des Busknotens gebildet wird
    R3
    Spannungsteiler
    R4
    vierter Widerstand
    R5
    fünfter Widerstand
    R6
    sechster Widerstand
    R7
    siebter Widerstand zur Einstellung des Innenwiderstands des Schalter der steuerbaren Stromquelle (S2H, I2) für den Sender des Busknotens
    RUN
    Zustand "Warten" des Test-Controllers (TAPC)
    RX
    weitere Datenregister (DR), die dem JTAG-Standard entsprechen
    S1L
    dominierender Schalter. Der dominierende Schalter zwingt typischerweise die Datenleitung (TOW) auf das Potenzial des Bezugspotenzials (V0), in dem er im Falle des Einschaltens die Datenleitung (TOW) mit der Bezugspotenzialleitung (GND) verbindet.
    S1H
    Schalter der steuerbaren Stromquelle (S1H, I1) für den Sender des Masters, also typischerweise des Host-Prozessors
    S2H
    Schalter der steuerbaren Stromquelle (S2H, I2) für den Sender des Busknotens
    SDRS
    Zustand "Start des Datenregisterschiebens" im Test-Controller (TAPC)
    SILDIn
    serieller Eingang für Beleuchtungsdaten
    SILDI1
    erster serieller Eingang für Beleuchtungsdaten des ersten Busknotens (BS1)
    SILDI2
    zweiter serieller Eingang für Beleuchtungsdaten des zweiten Busknotens (BS2)
    SILDI3
    dritter serieller Eingang für Beleuchtungsdaten des dritten Busknotens (BS3)
    SILDOn
    serieller Ausgang für Beleuchtungsdaten
    SILDO1
    erster serieller Ausgang für Beleuchtungsdaten des ersten Busknotens (BS1)
    SILDO2
    zweiter serieller Ausgang für Beleuchtungsdaten des zweiten Busknotens (BS2)
    SILDO3
    dritter serieller Ausgang für Beleuchtungsdaten des dritten Busknotens (BS3)
    SIRS
    Zustand "Start des Instruktionsregisterschiebens" im Test-Controller (TAPC)
    SIR
    Zustand "Schieben Instruktionsregister" des Test-Controllers (TAPC)
    sir_sdr
    Steuersignal für den ersten Multiplexer (MUX1) zwischen Instruktionsregister (IR) und Datenregistern (DR)
    SDR
    Zustand "Schieben Datenregister" des Test-Controllers (TAPC)
    SR
    Senderegister
    Busknoten
    Busknoten-Schaltkreis. Der Busknoten ist typischerweise der integrierte Schaltkreis oder ein sonstiges elektrisches System, das durch den Host-Prozessor, den Bus-Master, über die Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) bzw. zumindest einen angeschlossenen Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) gesteuert wird.
    T
    Systemtaktperiode
    T1
    erster Transistor
    T1H
    erste Halbtaktperiode von mindestens zwei Halbtaktperioden (T1H, T2H) der Systemtaktperiode (T)
    T2
    zweiter Transistor
    T2H
    zweite Halbtaktperiode von mindestens zwei Halbtaktperioden (T1H, T2H) der Systemtaktperiode (T)
    T3
    dritter Transistor
    TAPC
    Test-Controller
    TB
    Datenaufbereitung
    TCK
    Takteingang (Testtakteingang) und Systemtakt
    TCK1
    erster rekonstruierter Systemtakt innerhalb des ersten Busknotens (BS1)
    TCK2
    zweiter rekonstruierter Systemtakt innerhalb des zweiten Busknotens (BS2)
    TCK3
    dritter rekonstruierter Systemtakt innerhalb des dritten Busknotens (BS3)
    TCKn
    n-ter rekonstruierter Systemtakt innerhalb des n-ten Busknotens (BSn)
    TCKin2
    durch den betrachteten Busknoten empfangenes Taktsignal (rekonstruierter Systemtakt).
    TCKout1
    durch den Bus-Master zu sendendes Taktsignal (Systemtakt).
    TDAin1
    durch den Bus-Master (BM) empfangene Daten.
    TDAin2
    durch den Busknoten (BS1, B, BS3) empfangene Daten.
    TDAout1
    Sendedaten aus dem Inneren des Bus-Masters (BM).
    TDAout2
    Sendedaten aus dem Inneren des Busknotens (BS1,BS2,BS3).
    TDI
    serieller Dateneingang (Testdateneingang)
    TDO
    dritter Zeitschlitz. Der dritte Zeitschlitz wird typischerweise zur Übertragung des TDO-Signals des JTAG-Test-Ports nach IEEE-Standard 1149 vom Busknoten zum Bus-Master verwendet. Es ist aber nicht zwingend notwendig, dass dieser Zeitschlitz auch an der ersten zeitlichen Position platziert wird. Andere zeitliche Reihenfolgen sind möglich.
    TDo
    serieller Datenausgang (Testdatenausgang)
    TIN0
    erster Zeitschlitz. Der erste Zeitschlitz wird typischerweise zur Übertragung des TMS-Signals des JTAG-Test-Ports nach IEEE 1149-Standard vom Bus-Master (BM) zum jeweiligen Bus-Knoten (BS1,BS2,BS3) verwendet. Es ist aber nicht zwingend notwendig, dass dieser Zeitschlitz auch an der ersten zeitlichen Position platziert wird. Andere zeitliche Reihenfolgen sind möglich.
    TIN1
    zweiter Zeitschlitz. Der zweite Zeitschlitz wird typischerweise zur Übertragung des TDI-Signals des JTAG-Test-Ports nach IEEE 1149-Standard vom Bus-Master zum Busknoten (BS1,BS2,BS3) verwendet. Es ist aber nicht zwingend notwendig, dass dieser Zeitschlitz auch an der ersten zeitlichen Position platziert wird. Andere zeitliche Reihenfolgen sind möglich.
    TLR
    Zustand "Testlogik zurücksetzen".
    TMS
    Mode-Eingang (Testmode-Eingang) bzw. Test-Mode-Signal
    TMS_TDI1
    erstes kombiniertes TMS-TDI-Signal innerhalb des ersten Busknotens (BS1)
    TMS_TDI2
    zweites kombiniertes TMS-TDI-Signal innerhalb des zweiten Busknotens (BS2)
    TMS_TDI3
    drittes kombiniertes TMS-TDI-Signal innerhalb des dritten Busknotens (BS3)
    TMS_TDIn
    n-tes kombiniertes TMS-TDI-Signal innerhalb des n-ten Busknotens (BSn)
    TRST
    optionaler Rücksetzeingang (Testrücksetzeingang)
    TG1
    erstes Transfer-Gate des beispielhaft ersten Busknotens (BS1)
    TG2
    zweites Transfer-Gate des beispielhaft zweiten Busknotens (BS2)
    TG3
    drittes Transfer-Gate des beispielhaft dritten Busknotens (BS3)
    TGCR
    Transfer-Gate-Control-Register
    UDR2
    Zustand "Datenregister schreiben" des Test-Mode-Controllers
    UIR2
    Zustand "Instruktionsregister schreiben" des Test-Mode-Controllers
    V0
    Bezugspotenzial im ersten Spannungsbereich (VB1), das sich zumindest annähernd auf einem Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) oder dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3) einstellt, wenn der dominierende Schalter (S1L) geschlossen ist. Die Bezugspotenzialleitung (GND) liegt auf dem Bezugspotenzial.
    Vbat
    Versorgungsspannung des Busknotens
    VM
    Potenzial im zweiten Spannungsbereich (VB2), dass sich einstellt, wenn kein anderer Sender (S1L, S1H, I1, S2H, I2) aktiv ist und sich somit der Pull-Schaltkreis (R0H, R0L) durchsetzt
    V1H
    dritter Schwellwert. Der dritte Schwellwert separiert den dritten Spannungsbereich (VB3) vom ersten Spannungsbereich (VB1) und zweiten Spannungsbereich (VB2) auf Bus-Master-Seite. Der dritte Schwellwert ist vorzugsweise gleich oder ähnlich dem ersten Schwellwert (V2H).
    V2H
    erster Schwellwert. Der erste Schwellwert separiert den dritten Spannungsbereich (VB3) vom ersten Spannungsbereich (VB1) und zweiten Spannungsbereich (VB2) auf Busknoten-Seite. Der erste Schwellwert ist vorzugsweise gleich oder ähnlich dem dritten Schwellwert (V1H).
    V2L
    zweiter Schwellwert. Der zweite Schwellwert separiert den ersten Spannungsbereich (VB1) vom dritten Spannungsbereich (VB3) und zweiten Spannungsbereich (VB2) auf der Busknoten-Seite.
    VB1
    erster Spannungsbereich, der zum zweiten Spannungsbereich (VB2) hin durch den zweiten Schwellwert (V2L) begrenzt wird
    VB2
    zweiter Spannungsbereich zwischen dem ersten Spannungsbereich (VB1) und dem dritten Spannungsbereich (VB3), der zum ersten Spannungsbereich (VB1) hin durch den zweiten Schwellwert (V2L) begrenzt wird und der zum dritten Spannungsbereich (VB1) hin durch den ersten Schwellwert (V2H) des Busknotens und/oder durch den dritten Schwellwert (V1H) des Masters begrenzt wird
    VB3
    dritter Spannungsbereich, der zum zweiten Spannungsbereich (VB2) hin durch den ersten Schwellwert (V2H) des Busknotens und/oder durch den dritten Schwellwert (V1H) des Bus-Masters begrenzt wird
    Vext1
    externe Versorgungsspannung
    VIO
    Versorgungsspannung für den Pull-Schaltkreis, hier dem Spannungsteiler (R0H, R0L)
    VIO1
    Versorgungsspannung der schaltbaren Stromquelle (S1H, I1) des Bus-Masters, also des Host-Prozessors. Der Spannungspegel liegt im dritten Spannungsbereich (VB3)
    VIO2
    Versorgungsspannung der schaltbaren Stromquelle (S2H, I2) des Busknotens, also der integrierten Schaltung oder des zu testenden oder steuernden Systems. Der Spannungspegel liegt im dritten Spannungsbereich (VB3)
    VREF
    Referenzspannung
    Z0
    Zenerdiode zur Spannungsbegrenzung auf einem Eindrahtdatenbusabschnitt (b1,b2,b3) oder dem Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3)

Claims (7)

  1. Verfahren zur Initialisierung eines Datenbusses zwischen einer ersten Teilvorrichtung, dem Bus-Master (BM), und mindestens zwei weiteren Teilvorrichtungen, den Busknoten (BS1,BS2,BS3), wobei der Datenbus eine Bezugspotenzialleitung (GND) mit einem Bezugspotenzial (V0) und einen Eindrahtdatenbus (b1,b2,b3), der durch die mindestens zwei Busknoten in mindestens zwei Eindrahtdatenbusabschnitte (b1,b2,b3) unterteilt wird und durch mindestens einen Busknoten (BS3) der Busknoten (BS1,BS2,BS3), den abschließenden Busknoten (BS3), abgeschlossen wird, aufweist,
    umfassend die Schritte,
    - Ermitteln einer neuen Busknotenadresse durch den Bus-Master;
    - Ablegen dieser Busknotenadresse in einem Busknotenadressregister (BKADR) eines Busknotens (BS1,BS2,BS3), des betrachteten Busknotens, durch den Bus-Master (BM), wobei Bus-Master (BM) und der betrachtete Busknoten durch einen oder mehrere Eindrahtdatenbusabschnitte (b1,b2,b3) miteinander verbunden sind und es sich bei dem Busknotenadressregister (BKADR) um ein Datenregister (DR) einer JTAG-Schnittstelle oder einen Teil eines Datenregisters (DR) einer JTAG-Schnittstelle des betrachteten Busknotens oder einen Teil eines Instruktionsregisters (IR) einer JTAG-Schnittstelle des betrachteten Busknotens handelt, wobei eine JATG-Schnittstelle einen Test-Controller mit einem Zustandsdiagram entsprechend dem IEEE 1149-Standard oder eines seiner Unterstandards aufweist;
    das Verfahren ist gekennzeichnet durch den folgenden Schritt:
    - Verbinden eines oder mehrerer Eindrahtdatenbusabschnitte (b1,b2,b3) mit einem oder mehreren weiteren Eindrahtdatenbusabschnitten (b1,b2,b3) durch Schließen eines Transfer-Gates (TG) des betrachteten Busknotens, wobei eine Ablage einer Busknotenadresse in einem Busknotenadressregister (BKADR) des betrachteten Busknotens (BS1,BS2,BS3) durch den Bus-Master (BM) solange durch den Busknoten verhindert wird, wie das Transfer-Gate (TG) geschlossen ist.
  2. Verfahren zur Initialisierung eines Datenbusses nach Anspruch 1, umfassend den Schritt des Ablegens eines Befehls zum Öffnen eines Transfer-Gates (TG) in dem Instruktionsregister (IR) oder einem Transfer-Gate-Control-Register (TGCR) der JTAG-Schnittstelle des betrachteten Busknotens.
  3. Verfahren zur Initialisierung eines Datenbusses nach Anspruch 1, umfassend den Schritt des Überprüfens der korrekten Adressierung zumindest eines Busknotens durch zyklisches Schreiben und Lesen, insbesondere eines Bypass-Registers.
  4. Verfahren zur Initialisierung eines Datenbusses nach Anspruch 3, umfassend die Schritte des Ermittelns der Anzahl korrekt adressierbarer Busknoten durch den Bus-Master (BM) und des Vergleichens der Anzahl korrekt adressierbarer Busknoten mit einer Sollanzahl und Auslösung mindestens eines Signals oder einer Maßnahme in Abhängigkeit von der Anzahl durch den Bus-Master oder ein angeschlossenes System.
  5. Verfahren zur Übermittlung von Daten nach Initialisierung eines Datenbusses nach Anspruch 4, umfassend die folgenden Schritte:
    - Gleichzeitiges Übermitteln einer Sendeadresse an alle erreichbaren Busknoten durch beschreiben von Senderegistern (SR) aller Busknoten durch den Bus-Master (BM) mit dieser Sendeadresse, wobei das jeweilige Senderegister (SR) eines jeweiligen Busknotens ein Datenregister oder ein Teil eines Datenregisters oder ein Teil des Instruktionsregisters (IR) der JTAG-Schnittstelle dieses Busknotens ist, und wobei das Busknotenadressregister (BKADR) kein Teil des betreffenden Registers ist;
    - Vergleich der Sendeadresse im Senderegister (SR) mit der Busknotenadresse im Busknotenadressregister (BKADR) durch jeden Busknoten mittels eines vorbestimmten Vergleichsalgorithmus;
    - Aktivierung der Sendefähigkeit für den jeweiligen Busknoten zu den dafür vorgesehenen Zeitpunkten, wenn der Vergleichsalgorithmus des zuvor durch diesen jeweiligen Busknoten ausgeführten Vergleiches eine ausreichende Übereinstimmung mit der für die Sendeerlaubnis erwarteten Kombination aus der in seinem Busknotenadressregister (BKADR) abgelegten Busknotenadresse und der in seinem Senderegister (SR) abgelegten Sendeadresse ergibt;
    - Deaktivierung der Sendefähigkeit für den jeweiligen Busknoten, wenn der Vergleichsalgorithmus des zuvor durch diesen jeweiligen Busknoten ausgeführten Vergleiches keine ausreichende Übereinstimmung mit der für die Sendeerlaubnis erwarteten Kombination aus der in seinem Busknotenadressregister (BKADR) abgelegten Busknotenadresse und der in seinem Senderegister (SR) abgelegten Sendeadresse ergibt.
  6. Verfahren zur Übermittlung von Daten nach Initialisierung eines Datenbusses nach Anspruch 1, umfassend die folgenden Schritte:
    - Gleichzeitiges Übermitteln einer Sendeadresse an alle erreichbaren Busknoten durch beschreiben von Senderegistern (SR) aller Busknoten durch den Bus-Master (BM) mit dieser Sendeadresse, wobei das jeweilige Senderegister (SR) eines jeweiligen Busknotens ein Datenregister oder ein Teil eines Datenregisters oder ein Teil des Instruktionsregisters (IR) der JTAG-Schnittstelle dieses Busknotens ist, und wobei das Busknotenadressregister (BKADR) kein Teil des betreffenden Registers ist;
    - Vergleich der Sendeadresse im Senderegister (SR) mit der Busknotenadresse im Busknotenadressregister (BKADR) durch jeden Busknoten mittels eines vorbestimmten Vergleichsalgorithmus;
    - Aktivierung der Empfangsfähigkeit des jeweiligen Busknotens für den Inhalt vorbestimmter Datenregister des jeweiligen Busknotens, wenn der Vergleichsalgorithmus des zuvor durch diesen jeweiligen Busknoten ausgeführten Vergleiches eine ausreichende Übereinstimmung mit der für die Sendeerlaubnis erwarteten Kombination aus der in seinem Busknotenadressregister (BKADR) abgelegten Busknotenadresse und der in seinem Senderegister (SR) abgelegten Sendeadresse ergibt;
    - Deaktivierung der Empfangsfähigkeit des jeweiligen Busknotens für den Inhalt vorbestimmter Datenregister des jeweiligen Busknotens der Sendefähigkeit für den jeweiligen Busknoten, wenn der Vergleichsalgorithmus des zuvor durch diesen jeweiligen Busknoten ausgeführten Vergleiches keine ausreichende Übereinstimmung mit der für die Sendeerlaubnis erwarteten Kombination aus der in seinem Busknotenadressregister (BKADR) abgelegten Busknotenadresse und der in seinem Senderegister (SR) abgelegten Sendeadresse ergibt.
  7. Verfahren zur Übermittlung von Daten nach Initialisierung eines Datenbusses nach Anspruch 1, umfassend die folgenden Schritte:
    - Gleichzeitiges Übermitteln einer Sendeadresse an alle erreichbaren Busknoten durch beschreiben von Senderegistern (SR) aller Busknoten durch den Bus-Master (BM) mit dieser Sendeadresse, wobei das jeweilige Senderegister (SR) eines jeweiligen Busknotens ein Datenregister oder ein Teil eines Datenregisters oder ein Teil des Instruktionsregisters (IR) der JTAG-Schnittstelle dieses Busknotens ist, und wobei das Busknotenadressregister (BKADR) kein Teil des betreffenden Registers ist;
    - Vergleich der Sendeadresse im Senderegister (SR) mit der Busknotenadresse im Busknotenadressregister (BKADR) durch jeden Busknoten mittels eines vorbestimmten Vergleichsalgorithmus;
    - Aktivierung der Empfangsfähigkeit des jeweiligen Busknotens für den Inhalt vorbestimmter Inhalte des Instruktionsregisters (IR) des jeweiligen Busknotens zur Zulassung vorbestimmter Befehle für einen Instruktionsdecoder (IRDC) der JTAG-Schnittstelle des jeweiligen Busknotens, wenn der Vergleichsalgorithmus des zuvor durch diesen jeweiligen Busknoten ausgeführten Vergleichs eine ausreichende Übereinstimmung mit der für die Sendeerlaubnis erwarteten Kombination aus der in seinem Busknotenadressregister (BKADR) abgelegten Busknotenadresse und der in seinem Senderegister (SR) abgelegten Sendeadresse ergibt;
    - Deaktivierung der Empfangsfähigkeit des jeweiligen Busknotens für den Inhalt vorbestimmter Inhalte des Instruktionsregisters (IR) des jeweiligen Busknotens zur Unterdrückung vorbestimmter Befehle für einen Instruktionsdecoder (IRDC) der JTAG-Schnittstelle des jeweiligen Busknotens, wenn der Vergleichsalgorithmus des zuvor durch diesen jeweiligen Busknoten ausgeführten Vergleiches keine ausreichende Übereinstimmung mit der für die Sendeerlaubnis erwarteten Kombination aus der in seinem Busknotenadressregister (BKADR) abgelegten Busknotenadresse und der in seinem Senderegister (SR) abgelegten Sendeadresse ergibt.
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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022144345A1 (de) 2020-12-29 2022-07-07 Elmos Semiconductor Se Teilnehmer für ein kommunikationsbussystem
EP4024773A1 (de) 2020-12-29 2022-07-06 Elmos Semiconductor SE Teilnehmer für ein kommunikationsbussystem
EP4054128A1 (de) 2021-03-01 2022-09-07 Elmos Semiconductor SE Verfahren zur initialisierung eines seriellen kommunikationsbussystems
TWI837980B (zh) * 2022-12-01 2024-04-01 英業達股份有限公司 具擴展性的傳輸線檢測系統及其方法

Family Cites Families (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7421633B2 (en) 2005-03-21 2008-09-02 Texas Instruments Incorporated Controller receiving combined TMS/TDI and suppyling separate TMS and TDI
US7328387B2 (en) * 2004-12-10 2008-02-05 Texas Instruments Incorporated Addressable tap domain selection circuit with selectable ⅗ pin interface
DE59105872D1 (de) 1991-03-13 1995-08-03 Siemens Ag Prozessorschaltung.
GB9510509D0 (en) * 1995-05-24 1995-07-19 Thomson Consumer Electronics A digital data bus system including arbitration
DE19643013C1 (de) 1996-10-18 1998-02-12 Telefunken Microelectron Datenübertragungssystem
EP0854609A3 (de) 1997-01-21 1999-12-22 Nittan Company, Limited Übertragungssystem
US6643812B1 (en) * 2000-04-29 2003-11-04 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Manipulation of hardware control status registers via boundary scan
DE10215720A1 (de) 2002-04-10 2003-10-30 Philips Intellectual Property Datenbus-Netzwerk
WO2003096036A1 (en) 2002-05-08 2003-11-20 Semtech Corporation Single-wire communication bus for miniature low-power systems
US6930514B2 (en) * 2002-09-30 2005-08-16 Lsi Logic Corporation Method and apparatus for transferring data between data buses
DE10256631B4 (de) 2002-12-03 2005-07-14 Elmos Semiconductor Ag Verfarhen zur Adressierung der Teilnehmer eines Bussystems
DE10261174B3 (de) 2002-12-20 2004-06-17 Daimlerchrysler Ag Automatische Adressierung auf Bussystemen
US20070033465A1 (en) 2005-07-15 2007-02-08 Greenberg Craig B Apparatus and method for a single wire interface between a intergated circuit and JTAG test and emulation apparatus
DE102006022985A1 (de) 2006-05-15 2007-11-22 Micronas Gmbh Schaltungsanordnung mit einer seriellen Testschnittstelle bzw. serielles Testbetriebsverfahren
US7818641B2 (en) 2006-10-18 2010-10-19 Texas Instruments Incorporated Interface to full and reduce pin JTAG devices
DE202008012029U1 (de) * 2007-09-20 2008-12-24 Insta Elektro Gmbh Bussystem
DE102007060441B3 (de) 2007-12-14 2009-04-16 Insta Elektro Gmbh Verfahren zum Ermitteln von Daten innerhalb eines Bussystems sowie Bussystem
US8046650B2 (en) * 2008-03-14 2011-10-25 Texas Instruments Incorporated TAP with control circuitry connected to device address port
DE502008002380D1 (de) 2008-03-28 2011-03-03 Micronas Gmbh Schaltungsanordnung, Vorrichtung bzw. Verfahren zum seriellen Senden von Daten über einen Anschlusskontakt
FR2934390B1 (fr) 2008-07-22 2010-08-13 St Microelectronics Rousset Transmission multicanaux sur un bus unifilaire
DE102009054371A1 (de) * 2009-11-17 2011-06-22 Automotive Lighting Reutlingen GmbH, 72762 Steuergerät zur Ansteuerung einer Beleuchtungseinrichtung eines Kraftfahrzeugs, sowie Beleuchtungseinrichtung für ein Kraftfahrzeug mit einem solchen Steuergerät
US8589714B2 (en) * 2009-12-18 2013-11-19 Texas Instruments Incorporated Falling clock edge JTAG bus routers
JP2013535076A (ja) * 2010-06-18 2013-09-09 ビーイー・エアロスペース・インコーポレーテッド 乗り物照明用モジュール式発光ダイオードシステム
DE102010042311B4 (de) 2010-10-12 2018-07-05 Mahle International Gmbh Verfahren zur Adresszuweisung von Nebenstationen in einem Bussystem
US8775707B2 (en) 2010-12-02 2014-07-08 Blackberry Limited Single wire bus system
US8935450B2 (en) 2011-09-16 2015-01-13 Nxp B.V. Network communications circuit, system and method
KR101732295B1 (ko) 2013-03-15 2017-05-02 애플 인크. 멀티드롭 디지털 버스를 위한 방법 및 장치
DE102015004436B3 (de) 2015-04-01 2016-06-09 Elmos Semiconductor Ag Verfahren zum Betreiben eines Ein-Draht-Testdatenbusses
DE102015004433B3 (de) 2015-04-01 2016-05-25 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Ein-Draht-Testdatenbus
DE102015004434B3 (de) 2015-04-01 2016-05-25 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Ein-Draht-Testdatenbus
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