JP2002005785A - 赤外線モジュールの特性測定方法 - Google Patents
赤外線モジュールの特性測定方法Info
- Publication number
- JP2002005785A JP2002005785A JP2000190993A JP2000190993A JP2002005785A JP 2002005785 A JP2002005785 A JP 2002005785A JP 2000190993 A JP2000190993 A JP 2000190993A JP 2000190993 A JP2000190993 A JP 2000190993A JP 2002005785 A JP2002005785 A JP 2002005785A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- infrared
- screen
- light emitting
- infrared module
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 特性測定を低コストで且つ迅速に行う。
【解決手段】 赤外線を発する発光素子２と、該発光素
子２から出力された赤外線を所要の配光パターンとする
レンズ５とからなる赤外線モジュール１の特性を測定す
るにあたり、発光素子２に対して所定位置にセットした
スクリーン１１に赤外線モジュールから出力した赤外線
を投射し、スクリーン１１を赤外線領域に感度を有する
撮像手段１２で撮像する。得られた画像から赤外線モジ
ュールの特性を求める。スクリーン１１への投射と投射
されたスクリーン１１を撮像する撮像手段１２と得られ
た画像の処理とによって、特性測定を行う。
子２から出力された赤外線を所要の配光パターンとする
レンズ５とからなる赤外線モジュール１の特性を測定す
るにあたり、発光素子２に対して所定位置にセットした
スクリーン１１に赤外線モジュールから出力した赤外線
を投射し、スクリーン１１を赤外線領域に感度を有する
撮像手段１２で撮像する。得られた画像から赤外線モジ
ュールの特性を求める。スクリーン１１への投射と投射
されたスクリーン１１を撮像する撮像手段１２と得られ
た画像の処理とによって、特性測定を行う。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は赤外線の受発光を行
う赤外線モジュールの特性測定方法に関するものであ
る。
う赤外線モジュールの特性測定方法に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】赤外線発光素子と赤外線受光素子とを備
えている赤外線伝送用の受発光モジュールがある。図１
０はこの赤外線伝送用の受発光モジュール１の一例を示
しており、回路基板１０の一面に発光素子（発光ダイオ
ード）２と受光素子（フォトダイオード）３とを実装す
るとともに、上記回路基板１０上に信号処理用ＩＣ４も
実装して、これらの素子２，３及びＩＣ４と回路基板１
０上の配線パターンとの接続を行い、その後、樹脂にて
これらの素子を封止するとともに該樹脂にて回路基板１
０上に投光レンズ５と受光レンズ６とを形成している。
えている赤外線伝送用の受発光モジュールがある。図１
０はこの赤外線伝送用の受発光モジュール１の一例を示
しており、回路基板１０の一面に発光素子（発光ダイオ
ード）２と受光素子（フォトダイオード）３とを実装す
るとともに、上記回路基板１０上に信号処理用ＩＣ４も
実装して、これらの素子２，３及びＩＣ４と回路基板１
０上の配線パターンとの接続を行い、その後、樹脂にて
これらの素子を封止するとともに該樹脂にて回路基板１
０上に投光レンズ５と受光レンズ６とを形成している。
【０００３】このような受発光モジュール１の配光特性
などを測定するにあたっては、図１１に示すように、複
数の受光センサー８を椀状曲面に沿って並べて、発光素
子２を作動させた時の各受光センサー８の出力から受発
光モジュールにおける発光部の特性を測定し、上記受光
センサー８に代えて椀状曲面に沿って並べた発光手段
（図示せず）を発光させた際の受光素子３の出力から受
発光モジュール１の受光部の特性を測定している。
などを測定するにあたっては、図１１に示すように、複
数の受光センサー８を椀状曲面に沿って並べて、発光素
子２を作動させた時の各受光センサー８の出力から受発
光モジュールにおける発光部の特性を測定し、上記受光
センサー８に代えて椀状曲面に沿って並べた発光手段
（図示せず）を発光させた際の受光素子３の出力から受
発光モジュール１の受光部の特性を測定している。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記の特性測
定では、多数の受光センサー８あるいは多数の発光手段
が必要であり、測定機材にかかるコストが高く、しかも
距離に応じた特性も得ようとすれば、各受光センサー８
（あるいは発光手段）は受発光モジュール１に対して該
受発光モジュール１を中心とする放射状に移動させて測
定を行うことになり、このような移動を行わせるには、
多くの器材と多くの機構を用いなくてはならず、どうし
てもコストが高くなっている。
定では、多数の受光センサー８あるいは多数の発光手段
が必要であり、測定機材にかかるコストが高く、しかも
距離に応じた特性も得ようとすれば、各受光センサー８
（あるいは発光手段）は受発光モジュール１に対して該
受発光モジュール１を中心とする放射状に移動させて測
定を行うことになり、このような移動を行わせるには、
多くの器材と多くの機構を用いなくてはならず、どうし
てもコストが高くなっている。
【０００５】図１２に示すように、単一の受光センサー
８あるいは単一の発光手段を移動させることによって、
特性を測定する場合、受光センサー８の数こそ少なくて
すむが、移動のための構成にコストがかかる上に、測定
ポイントの数が多い場合、受光センサー８の移動待ちの
時間が多くなり、測定に要する時間が長くなる。
８あるいは単一の発光手段を移動させることによって、
特性を測定する場合、受光センサー８の数こそ少なくて
すむが、移動のための構成にコストがかかる上に、測定
ポイントの数が多い場合、受光センサー８の移動待ちの
時間が多くなり、測定に要する時間が長くなる。
【０００６】本発明はこのような点に鑑みなされたもの
であって、その目的とするところは特性測定を低コスト
で且つ迅速に行うことができる赤外線モジュールの特性
測定方法を提供するにある。
であって、その目的とするところは特性測定を低コスト
で且つ迅速に行うことができる赤外線モジュールの特性
測定方法を提供するにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】しかして本発明は、赤外
線を発する発光素子と、該発光素子から出力された赤外
線を所要の配光パターンとするレンズとからなる赤外線
モジュールの特性を測定するにあたり、発光素子に対し
て所定位置にセットしたスクリーンに赤外線モジュール
から出力した赤外線を投射するとともに、上記スクリー
ンを赤外線領域に感度を有する撮像手段で撮像し、得ら
れた画像から赤外線モジュールの特性を求めることに第
１の特徴を有している。スクリーンへの投射と投射され
たスクリーンを撮像する撮像手段と得られた画像の処理
だけで特性測定を行うことができるものである。
線を発する発光素子と、該発光素子から出力された赤外
線を所要の配光パターンとするレンズとからなる赤外線
モジュールの特性を測定するにあたり、発光素子に対し
て所定位置にセットしたスクリーンに赤外線モジュール
から出力した赤外線を投射するとともに、上記スクリー
ンを赤外線領域に感度を有する撮像手段で撮像し、得ら
れた画像から赤外線モジュールの特性を求めることに第
１の特徴を有している。スクリーンへの投射と投射され
たスクリーンを撮像する撮像手段と得られた画像の処理
だけで特性測定を行うことができるものである。
【０００８】また本発明は、赤外線を発する発光素子
と、該発光素子から出力された赤外線を所要の配光パタ
ーンとするレンズとからなる赤外線モジュールの特性を
測定するにあたり、発光素子に対して所定位置にセット
したスクリーンに赤外線モジュールから出力した赤外線
を投射するとともに、赤外線に反応して可視光を出力す
る蛍光スクリーンである上記スクリーンを可視光に感度
を有する撮像手段で撮像し、得られた画像から赤外線モ
ジュールの特性を求めることに第２の特徴を有してい
る。この場合においても、スクリーンへの投射と投射さ
れたスクリーンを撮像する撮像手段と得られた画像の処
理だけで特性測定を行うことができるほか、スクリーン
の目視による観察でおおよその状態を即座に判断するこ
とができる。
と、該発光素子から出力された赤外線を所要の配光パタ
ーンとするレンズとからなる赤外線モジュールの特性を
測定するにあたり、発光素子に対して所定位置にセット
したスクリーンに赤外線モジュールから出力した赤外線
を投射するとともに、赤外線に反応して可視光を出力す
る蛍光スクリーンである上記スクリーンを可視光に感度
を有する撮像手段で撮像し、得られた画像から赤外線モ
ジュールの特性を求めることに第２の特徴を有してい
る。この場合においても、スクリーンへの投射と投射さ
れたスクリーンを撮像する撮像手段と得られた画像の処
理だけで特性測定を行うことができるほか、スクリーン
の目視による観察でおおよその状態を即座に判断するこ
とができる。
【０００９】スクリーンとしては平板状のものを用いて
も椀状曲面型のものを用いてもよく、また、スクリーン
として半透明のものを用いて、撮像手段による撮像をス
クリーンの背後から行うようにしてもよい。
も椀状曲面型のものを用いてもよく、また、スクリーン
として半透明のものを用いて、撮像手段による撮像をス
クリーンの背後から行うようにしてもよい。
【００１０】赤外線モジュールからスクリーンまでの距
離を変化させて測定を行うことでより的確な特性測定を
行うことができる。
離を変化させて測定を行うことでより的確な特性測定を
行うことができる。
【００１１】さらに本発明は、赤外線を受光する受光素
子と、該受光素子に赤外線を集光するレンズとからなる
赤外線モジュールの特性を測定するにあたり、赤外線を
発する発光面に対向する受光素子を発光面に対して所定
位置にセットして受光を行い、受光素子出力から赤外線
モジュールの特性を求めることに第３の特徴を有してい
る。実際上、発光面を用意するだけで特性測定を行うこ
とができる。
子と、該受光素子に赤外線を集光するレンズとからなる
赤外線モジュールの特性を測定するにあたり、赤外線を
発する発光面に対向する受光素子を発光面に対して所定
位置にセットして受光を行い、受光素子出力から赤外線
モジュールの特性を求めることに第３の特徴を有してい
る。実際上、発光面を用意するだけで特性測定を行うこ
とができる。
【００１２】上記発光面としては自己発光型のもののほ
か、投光手段からの投射で発光するスクリーンを用いる
こともできる。
か、投光手段からの投射で発光するスクリーンを用いる
こともできる。
【００１３】スクリーンとして椀状曲面型のものを用い
てもよい。
てもよい。
【００１４】いずれにしても、発光面を複数の明暗パタ
ーンで発光させて、各明暗パターンに対する受光素子出
力から演算によって配光の特性測定を行うことで、配光
特性の左右バランスや上下バランス、ビーム拡がり角と
いった特定パラメータを短時間で測定することができ
る。
ーンで発光させて、各明暗パターンに対する受光素子出
力から演算によって配光の特性測定を行うことで、配光
特性の左右バランスや上下バランス、ビーム拡がり角と
いった特定パラメータを短時間で測定することができ
る。
【００１５】受発光素子が実装された回路基板と検査用
投受光レンズとの組み合わせの赤外線モジュールに対し
て、上記の特性測定を行うようにしてもよい。投受光レ
ンズを回路基板に一体成形してしまうものにおいては、
回路基板上の受発光素子の位置ずれ等を早期に検出する
ことができる。
投受光レンズとの組み合わせの赤外線モジュールに対し
て、上記の特性測定を行うようにしてもよい。投受光レ
ンズを回路基板に一体成形してしまうものにおいては、
回路基板上の受発光素子の位置ずれ等を早期に検出する
ことができる。
【００１６】
【発明の実施の形態】以下本発明を実施の形態の一例に
基づいて詳述すると、図１は近赤外線の受発光を行う前
述の受発光モジュール１における発光部の特性を測定す
るためのものを示しており、発光素子と投光用レンズと
からなる発光部に平板状の拡散型スクリーン１１を正対
させて、発光部から所定距離のところにあるスクリーン
１１に発光部から出た赤外線を投射することができるよ
うにしておく。
基づいて詳述すると、図１は近赤外線の受発光を行う前
述の受発光モジュール１における発光部の特性を測定す
るためのものを示しており、発光素子と投光用レンズと
からなる発光部に平板状の拡散型スクリーン１１を正対
させて、発光部から所定距離のところにあるスクリーン
１１に発光部から出た赤外線を投射することができるよ
うにしておく。
【００１７】そして近赤外線領域に感度を有するととも
に上記発光部の光軸近傍に配置した撮像手段１２によっ
て上記スクリーン１１を撮像し、得られた画像について
の画像処理によってスクリーン１１上の各部での輝度を
算出し、さらにスクリーン１１上の位置と輝度とを基
に、光軸からの角度と距離をベースとしている通常の配
光特性を演算にて求める。なお、この演算にあたって
は、発光部からスクリーン１１までの距離、スクリーン
１１から撮像手段１２までの距離、撮像手段１２のレン
ズ特性なども補正要素の一つとして演算を行って、配光
特性を求める。スクリーン１１と撮像手段１２との間隔
を一定に保ったまま、スクリーン１１から発光部２まで
の距離を変更することで、さらに細かい配光特性を求め
ることができる。
に上記発光部の光軸近傍に配置した撮像手段１２によっ
て上記スクリーン１１を撮像し、得られた画像について
の画像処理によってスクリーン１１上の各部での輝度を
算出し、さらにスクリーン１１上の位置と輝度とを基
に、光軸からの角度と距離をベースとしている通常の配
光特性を演算にて求める。なお、この演算にあたって
は、発光部からスクリーン１１までの距離、スクリーン
１１から撮像手段１２までの距離、撮像手段１２のレン
ズ特性なども補正要素の一つとして演算を行って、配光
特性を求める。スクリーン１１と撮像手段１２との間隔
を一定に保ったまま、スクリーン１１から発光部２まで
の距離を変更することで、さらに細かい配光特性を求め
ることができる。
【００１８】スクリーン１１としては平板状のもののほ
か、図２に示すように半球状や放物面状、あるいは楕円
断面等の椀状曲面型のものを用いることができる。発光
部２からスクリーン１１までの距離及びスクリーン１１
から撮像手段１２までの距離がスクリーン１１の各部に
おいてほぼ同一となるようにセットすることができるた
めに、上記補正要素が減ることになり、より的確な特性
測定を行うことができる。
か、図２に示すように半球状や放物面状、あるいは楕円
断面等の椀状曲面型のものを用いることができる。発光
部２からスクリーン１１までの距離及びスクリーン１１
から撮像手段１２までの距離がスクリーン１１の各部に
おいてほぼ同一となるようにセットすることができるた
めに、上記補正要素が減ることになり、より的確な特性
測定を行うことができる。
【００１９】スクリーン１１は上記拡散型のほかに半透
明のものを用いることができるとともに、この時には図
３あるいは図４に示すように、撮像手段１２による撮像
をスクリーン１１の背後から行うことができる。この場
合、発光部の光軸上に撮像手段１２を配置することがで
きるほか、スクリーン１１と発光部との間隔を変える時
にも、発光部と撮像手段１２との位置関係が測定の邪魔
になってしまうことがない。なお、椀状曲面型のスクリ
ーン１１を背後から撮像手段１２で撮像する場合、スク
リーン１１の湾曲を考慮した座標変換を行った後、画像
処理を行う。
明のものを用いることができるとともに、この時には図
３あるいは図４に示すように、撮像手段１２による撮像
をスクリーン１１の背後から行うことができる。この場
合、発光部の光軸上に撮像手段１２を配置することがで
きるほか、スクリーン１１と発光部との間隔を変える時
にも、発光部と撮像手段１２との位置関係が測定の邪魔
になってしまうことがない。なお、椀状曲面型のスクリ
ーン１１を背後から撮像手段１２で撮像する場合、スク
リーン１１の湾曲を考慮した座標変換を行った後、画像
処理を行う。
【００２０】スクリーン１１としては、赤外線に反応し
て可視光を出力する蛍光スクリーンを用いてもよい。こ
の場合、撮像手段１２として可視光に感度を有するもの
を用いることができるほか、スクリーン１１の目視によ
る観察でおおよその状態を判断することもできるものと
なる。
て可視光を出力する蛍光スクリーンを用いてもよい。こ
の場合、撮像手段１２として可視光に感度を有するもの
を用いることができるほか、スクリーン１１の目視によ
る観察でおおよその状態を判断することもできるものと
なる。
【００２１】受発光モジュール１の受光素子と受光用レ
ンズとからなる受光部の特性に関しては、次のようにし
て測定する。すなわち、図５に示すように、赤外線を発
する発光面１３を用意して、この発光面１３から所定距
離のところに受光部をセットし、発光面１３を発光させ
た時の受光部の出力から特性を求めるのである。発光面
としては、ＣＲＴなどの自己発光型のもののほか、バッ
クライト付き液晶パネルなども利用することができ、さ
らには図６に示すように、プロジェクターのような投光
手段１４によって投射されるスクリーン１５を用いても
よい。また、スクリーン１５を用いる場合は、図７に示
すように、椀状曲面型のものを用いることができる。さ
らに投光手段１４を受発光モジュール１側に配置するほ
か、透過型のスクリーン１５の使用により、スクリーン
１５の背後側に投光手段１４を配置することもできる。
ンズとからなる受光部の特性に関しては、次のようにし
て測定する。すなわち、図５に示すように、赤外線を発
する発光面１３を用意して、この発光面１３から所定距
離のところに受光部をセットし、発光面１３を発光させ
た時の受光部の出力から特性を求めるのである。発光面
としては、ＣＲＴなどの自己発光型のもののほか、バッ
クライト付き液晶パネルなども利用することができ、さ
らには図６に示すように、プロジェクターのような投光
手段１４によって投射されるスクリーン１５を用いても
よい。また、スクリーン１５を用いる場合は、図７に示
すように、椀状曲面型のものを用いることができる。さ
らに投光手段１４を受発光モジュール１側に配置するほ
か、透過型のスクリーン１５の使用により、スクリーン
１５の背後側に投光手段１４を配置することもできる。
【００２２】いずれにしても、受光部の特性測定にあた
っては、発光面１３の全面を一様に発光させるのではな
く、輝点が移動するように発光させるとともに、これに
同期して受光部の出力を処理することで特性を求める。
っては、発光面１３の全面を一様に発光させるのではな
く、輝点が移動するように発光させるとともに、これに
同期して受光部の出力を処理することで特性を求める。
【００２３】このほか、図８に示すような複数の明暗パ
ターンで発光させ、各明暗パターンに対する受光部の出
力から演算によって配光の特性測定を行うことができ
る。たとえば、図８(a)に示す明暗パターンにより左右
バランスを、図８(b)に示す明暗パターンで上下バラン
スを、さらに図８(c)に示す明暗パターンでビーム拡が
り角（受光エリア）を求めることができる。
ターンで発光させ、各明暗パターンに対する受光部の出
力から演算によって配光の特性測定を行うことができ
る。たとえば、図８(a)に示す明暗パターンにより左右
バランスを、図８(b)に示す明暗パターンで上下バラン
スを、さらに図８(c)に示す明暗パターンでビーム拡が
り角（受光エリア）を求めることができる。
【００２４】なお、受光部から得られたデータに基づい
て受光部の配光特性などを算出することができるのであ
れば、発光面１３をどのように発光させてもよい。全面
が発光している発光面１３に対してマスクを動かすよう
にしてもよいものである。
て受光部の配光特性などを算出することができるのであ
れば、発光面１３をどのように発光させてもよい。全面
が発光している発光面１３に対してマスクを動かすよう
にしてもよいものである。
【００２５】そして、受光部の特性測定に際しても、発
光面１３と受光部との間隔を可変としておくことで、さ
らに細かい特性を求めることができる。
光面１３と受光部との間隔を可変としておくことで、さ
らに細かい特性を求めることができる。
【００２６】このような受発光モジュール１に対する特
性測定は、完成品に対してだけでなく、受発光モジュー
ル１の製造過程における検査に適用することができるの
はもちろんであり、更には受発光モジュール１の完成
前、たとえば前記回路基板１への受発光素子２，３の実
装直後で且つ投受光レンズ５，６の形成前の段階におけ
る検査にも適用することができる。すなわち、投受光レ
ンズ５，６は受発光素子２，３を基準に成形するのでは
なく、回路基板１を基準に成形することから、回路基板
１への受発光素子２，３の実装位置にずれがあると、本
来の性能を得ることができないものとなる。このため
に、回路基板１への受発光素子２，３の実装直後に、該
回路基板１に検査用レンズ９を組み合わせて、前述の特
性測定を行うのである。この時、検査用レンズ９は回路
基板１を基準にその位置をセットすることで、投受光レ
ンズ５，６を成形した後の測定と同等の結果が得られる
ようにする。
性測定は、完成品に対してだけでなく、受発光モジュー
ル１の製造過程における検査に適用することができるの
はもちろんであり、更には受発光モジュール１の完成
前、たとえば前記回路基板１への受発光素子２，３の実
装直後で且つ投受光レンズ５，６の形成前の段階におけ
る検査にも適用することができる。すなわち、投受光レ
ンズ５，６は受発光素子２，３を基準に成形するのでは
なく、回路基板１を基準に成形することから、回路基板
１への受発光素子２，３の実装位置にずれがあると、本
来の性能を得ることができないものとなる。このため
に、回路基板１への受発光素子２，３の実装直後に、該
回路基板１に検査用レンズ９を組み合わせて、前述の特
性測定を行うのである。この時、検査用レンズ９は回路
基板１を基準にその位置をセットすることで、投受光レ
ンズ５，６を成形した後の測定と同等の結果が得られる
ようにする。
【００２７】回路基板１に対する受発光素子２，３の実
装位置にずれがあった場合、このずれは特性の変化とし
て現れることから、検査結果を実装工程に直ちにフィー
ドバックすることで、実装位置ずれに起因する不良品の
発生を抑えることができるとともに、特性ばらつきを抑
えることができるものである。
装位置にずれがあった場合、このずれは特性の変化とし
て現れることから、検査結果を実装工程に直ちにフィー
ドバックすることで、実装位置ずれに起因する不良品の
発生を抑えることができるとともに、特性ばらつきを抑
えることができるものである。
【００２８】この場合の特性検査にあたっては、図９に
示すように、予め受発光素子２，３のｘ，ｙ，ｚ方向の
位置ずれ量と光分布や面積との関係データを求めてお
き、検査で得られたデータを上記関係データと照合する
ことにより、位置ずれ量を求めて実装工程にフィードバ
ックすることで、実装位置ずれについての補正を早期に
行うことができる。
示すように、予め受発光素子２，３のｘ，ｙ，ｚ方向の
位置ずれ量と光分布や面積との関係データを求めてお
き、検査で得られたデータを上記関係データと照合する
ことにより、位置ずれ量を求めて実装工程にフィードバ
ックすることで、実装位置ずれについての補正を早期に
行うことができる。
【００２９】
【発明の効果】以上のように本発明においては、赤外線
を発する発光素子と、該発光素子から出力された赤外線
を所要の配光パターンとするレンズとからなる赤外線モ
ジュールの特性を測定するにあたり、発光素子に対して
所定位置にセットしたスクリーンに赤外線モジュールか
ら出力した赤外線を投射するとともに、上記スクリーン
を赤外線領域に感度を有する撮像手段で撮像し、得られ
た画像から赤外線モジュールの特性を求めるものであ
り、スクリーンへの投射と投射されたスクリーンを撮像
する撮像手段と得られた画像の処理だけで特性測定を行
うことができるものであり、多数のセンサーや複雑な機
構は不要であり、必要とする特性測定を低コストで且つ
迅速に行うことができるものである。
を発する発光素子と、該発光素子から出力された赤外線
を所要の配光パターンとするレンズとからなる赤外線モ
ジュールの特性を測定するにあたり、発光素子に対して
所定位置にセットしたスクリーンに赤外線モジュールか
ら出力した赤外線を投射するとともに、上記スクリーン
を赤外線領域に感度を有する撮像手段で撮像し、得られ
た画像から赤外線モジュールの特性を求めるものであ
り、スクリーンへの投射と投射されたスクリーンを撮像
する撮像手段と得られた画像の処理だけで特性測定を行
うことができるものであり、多数のセンサーや複雑な機
構は不要であり、必要とする特性測定を低コストで且つ
迅速に行うことができるものである。
【００３０】また、赤外線を発する発光素子と、該発光
素子から出力された赤外線を所要の配光パターンとする
レンズとからなる赤外線モジュールの特性を測定するに
あたり、発光素子に対して所定位置にセットしたスクリ
ーンに赤外線モジュールから出力した赤外線を投射する
とともに、赤外線に反応して可視光を出力する蛍光スク
リーンである上記スクリーンを可視光に感度を有する撮
像手段で撮像し、得られた画像から赤外線モジュールの
特性を求めるものにおいては、スクリーンへの投射と投
射されたスクリーンを撮像する撮像手段と得られた画像
の処理だけで特性測定を行うことができるほか、スクリ
ーンの目視による観察でおおよその状態を即座に判断す
ることができる。
素子から出力された赤外線を所要の配光パターンとする
レンズとからなる赤外線モジュールの特性を測定するに
あたり、発光素子に対して所定位置にセットしたスクリ
ーンに赤外線モジュールから出力した赤外線を投射する
とともに、赤外線に反応して可視光を出力する蛍光スク
リーンである上記スクリーンを可視光に感度を有する撮
像手段で撮像し、得られた画像から赤外線モジュールの
特性を求めるものにおいては、スクリーンへの投射と投
射されたスクリーンを撮像する撮像手段と得られた画像
の処理だけで特性測定を行うことができるほか、スクリ
ーンの目視による観察でおおよその状態を即座に判断す
ることができる。
【００３１】スクリーンとしては平板状のものが手軽で
良いが、椀状曲面型のものを用いれば、より精度の高い
特性測定を行うことができる。
良いが、椀状曲面型のものを用いれば、より精度の高い
特性測定を行うことができる。
【００３２】また、スクリーンとして半透明のものを用
いて、撮像手段による撮像をスクリーンの背後から行う
場合、発光モジュールと撮像手段とを同軸上に配置する
ことができるために、正確な測定を行うことができる。
いて、撮像手段による撮像をスクリーンの背後から行う
場合、発光モジュールと撮像手段とを同軸上に配置する
ことができるために、正確な測定を行うことができる。
【００３３】そして赤外線モジュールからスクリーンま
での距離を変化させて測定を行うことでより的確な特性
測定を行うことができる。
での距離を変化させて測定を行うことでより的確な特性
測定を行うことができる。
【００３４】さらに、赤外線を受光する受光素子と、該
受光素子に赤外線を集光するレンズとからなる赤外線モ
ジュールの特性を測定するにあたり、赤外線を発する発
光面に対向する受光素子を発光面に対して所定位置にセ
ットして受光を行い、受光素子出力から赤外線モジュー
ルの特性を求めることで、実際上、発光面を用意するだ
けで特性測定を行うことができる。
受光素子に赤外線を集光するレンズとからなる赤外線モ
ジュールの特性を測定するにあたり、赤外線を発する発
光面に対向する受光素子を発光面に対して所定位置にセ
ットして受光を行い、受光素子出力から赤外線モジュー
ルの特性を求めることで、実際上、発光面を用意するだ
けで特性測定を行うことができる。
【００３５】上記発光面としては自己発光型のものや、
投光手段からの投射で発光するスクリーンを好適に用い
ることができる。スクリーンとして椀状曲面型のものを
用いてもよく、この時には測定精度を向上させることが
できる。
投光手段からの投射で発光するスクリーンを好適に用い
ることができる。スクリーンとして椀状曲面型のものを
用いてもよく、この時には測定精度を向上させることが
できる。
【００３６】そして、発光面を複数の明暗パターンで発
光させて、各明暗パターンに対する受光素子出力から演
算によって配光の特性測定を行うことで、配光特性の左
右バランスや上下バランス、ビーム拡がり角といった特
定パラメータを効率的に求めることができる。
光させて、各明暗パターンに対する受光素子出力から演
算によって配光の特性測定を行うことで、配光特性の左
右バランスや上下バランス、ビーム拡がり角といった特
定パラメータを効率的に求めることができる。
【００３７】受発光素子が実装された回路基板と検査用
投受光レンズとの組み合わせの赤外線モジュールに対し
て、上記の特性測定を行う時には、投受光レンズを回路
基板に一体成形してしまうものにおいて、回路基板上の
受発光素子の位置ずれ等を等受光レズの一体成形前に検
出することができ、実装工程への補正指令を早期に出力
することができて歩留まり向上に寄与させることができ
る。
投受光レンズとの組み合わせの赤外線モジュールに対し
て、上記の特性測定を行う時には、投受光レンズを回路
基板に一体成形してしまうものにおいて、回路基板上の
受発光素子の位置ずれ等を等受光レズの一体成形前に検
出することができ、実装工程への補正指令を早期に出力
することができて歩留まり向上に寄与させることができ
る。
【図１】本発明の実施の形態の一例を示す概略斜視図で
ある。
ある。
【図２】同上の他例の概略斜視図である。
【図３】同上のさらに他例の概略斜視図である。
【図４】同上の別の例の概略斜視図である。
【図５】他の実施の形態の一例の概略斜視図である。
【図６】同上の他例の概略斜視図である。
【図７】同上のさらに他例の概略斜視図である。
【図８】(a)(b)(c)は同上の別の例における明暗パター
ンの例を示す説明図である。
ンの例を示す説明図である。
【図９】他の実施の形態の一例を示すもので、(a)は概
略断面図、(b)(c)(d)(e)は夫々特性とずれとの関係を示
すグラフである。
略断面図、(b)(c)(d)(e)は夫々特性とずれとの関係を示
すグラフである。
【図１０】赤外線モジュールの一例を示すもので、(a)
は斜視図、(b)は断面図である。
は斜視図、(b)は断面図である。
【図１１】従来例の概略説明図である。
【図１２】他の従来例の概略説明図である。
１ 赤外線モジュール ２ 発光素子 １１ スクリーン １２ 撮像手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G065 AA11 AB02 AB11 AB28 BA06 BA09 BA14 BA30 BB06 BD03 DA05 DA15 2G086 EE03 EE04
Claims (12)
- 【請求項１】 赤外線を発する発光素子と、該発光素子
から出力された赤外線を所要の配光パターンとするレン
ズとからなる赤外線モジュールの特性を測定するにあた
り、発光素子に対して所定位置にセットしたスクリーン
に赤外線モジュールから出力した赤外線を投射するとと
もに、上記スクリーンを赤外線領域に感度を有する撮像
手段で撮像し、得られた画像から赤外線モジュールの特
性を求めることを特徴とする赤外線モジュールの特性測
定方法。 - 【請求項２】 赤外線を発する発光素子と、該発光素子
から出力された赤外線を所要の配光パターンとするレン
ズとからなる赤外線モジュールの特性を測定するにあた
り、発光素子に対して所定位置にセットしたスクリーン
に赤外線モジュールから出力した赤外線を投射するとと
もに、赤外線に反応して可視光を出力する蛍光スクリー
ンである上記スクリーンを可視光に感度を有する撮像手
段で撮像し、得られた画像から赤外線モジュールの特性
を求めることを特徴とする赤外線モジュールの特性測定
方法。 - 【請求項３】 スクリーンとして平板状のものを用いる
ことを特徴とする請求項１または２記載の赤外線モジュ
ールの特性測定方法。 - 【請求項４】 スクリーンとして椀状曲面型のものを用
いることを特徴とする請求項１または２記載の赤外線モ
ジュールの特性測定方法。 - 【請求項５】 スクリーンとして半透明のものを用い
て、撮像手段による撮像をスクリーンの背後から行うこ
とを特徴とする請求項１〜４のいずれかの項に記載の赤
外線モジュールの特性測定方法。 - 【請求項６】 赤外線モジュールからスクリーンまでの
距離を変化させて測定を行うことを特徴とする請求項１
〜５のいずれかの項に記載の記載の赤外線モジュールの
特性測定方法。 - 【請求項７】 赤外線を受光する受光素子と、該受光素
子に赤外線を集光するレンズとからなる赤外線モジュー
ルの特性を測定するにあたり、赤外線を発する発光面に
対向する受光素子を発光面に対して所定位置にセットし
て受光を行い、受光素子出力から赤外線モジュールの特
性を求めることを特徴とする赤外線モジュールの特性測
定方法。 - 【請求項８】 発光面として自己発光型のものを用いる
ことを特徴とする請求項７記載の赤外線モジュールの特
性測定方法。 - 【請求項９】 発光面として投光手段からの投射で発光
するスクリーンを用いることを特徴とする請求項７記載
の赤外線モジュールの特性測定方法。 - 【請求項１０】 スクリーンとして椀状曲面型のものを
用いることを特徴とする請求項９記載の赤外線モジュー
ルの特性測定方法。 - 【請求項１１】 発光面を複数の明暗パターンで発光さ
せて、各明暗パターンに対する受光素子出力から演算に
よって配光の特性測定を行うことを特徴とする請求項７
〜１０のいずれかの項に記載の赤外線モジュールの特性
測定方法。 - 【請求項１２】 受発光素子が実装された回路基板と検
査用投受光レンズとの組み合わせの赤外線モジュールに
対して、特性測定を行うことを特徴とする請求項１〜１
１のいずれかの項に記載の赤外線モジュールの特性測定
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000190993A JP4061822B2 (ja) | 2000-06-26 | 2000-06-26 | 赤外線モジュールの特性測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000190993A JP4061822B2 (ja) | 2000-06-26 | 2000-06-26 | 赤外線モジュールの特性測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002005785A true JP2002005785A (ja) | 2002-01-09 |
| JP4061822B2 JP4061822B2 (ja) | 2008-03-19 |
Family
ID=18690368
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000190993A Expired - Fee Related JP4061822B2 (ja) | 2000-06-26 | 2000-06-26 | 赤外線モジュールの特性測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4061822B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012103107A (ja) * | 2010-11-10 | 2012-05-31 | Sony Corp | 配光計測装置、配光計測方法および配光計測プログラム |
| WO2013140556A1 (ja) * | 2012-03-21 | 2013-09-26 | パイオニア株式会社 | 半導体発光素子用の発光量推定装置及び発光量推定方法 |
| WO2013145132A1 (ja) * | 2012-03-27 | 2013-10-03 | パイオニア株式会社 | 半導体発光素子用の測定装置 |
| WO2015086704A1 (en) * | 2013-12-11 | 2015-06-18 | Infiniled Limited | Apparatus and method for profiling a beam of a light emitting semiconductor device |
| JP2015215300A (ja) * | 2014-05-13 | 2015-12-03 | 凸版印刷株式会社 | 光源の配光分布および物体の双方向反射率分布関数測定のための装置、方法、及びプログラム |
| CN114235147A (zh) * | 2021-12-21 | 2022-03-25 | 深圳汝原福永智造科技有限公司 | 测试装置 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5897213B2 (ja) * | 2013-05-31 | 2016-03-30 | 本田技研工業株式会社 | 光センサの検査システムおよび光センサの検査方法 |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61277075A (ja) * | 1985-06-03 | 1986-12-08 | Furukawa Electric Co Ltd:The | フライトシユミレ−タ |
| JPS6291833A (ja) * | 1985-10-18 | 1987-04-27 | Hamamatsu Photonics Kk | 光源の２次元配光分布測定装置 |
| JPS6435343A (en) * | 1987-07-31 | 1989-02-06 | Toshiba Electric Equip | Light distribution pattern measuring instrument |
| JPS6438617A (en) * | 1987-08-04 | 1989-02-08 | Yaskawa Denki Seisakusho Kk | Measuring apparatus of light distribution |
| JPH0268828A (ja) * | 1988-09-01 | 1990-03-08 | Fuji Electric Co Ltd | 難視光線の可視化装置 |
| JPH08320252A (ja) * | 1995-05-26 | 1996-12-03 | Matsushita Electric Works Ltd | 赤外線センサの動作試験装置 |
-
2000
- 2000-06-26 JP JP2000190993A patent/JP4061822B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61277075A (ja) * | 1985-06-03 | 1986-12-08 | Furukawa Electric Co Ltd:The | フライトシユミレ−タ |
| JPS6291833A (ja) * | 1985-10-18 | 1987-04-27 | Hamamatsu Photonics Kk | 光源の２次元配光分布測定装置 |
| JPS6435343A (en) * | 1987-07-31 | 1989-02-06 | Toshiba Electric Equip | Light distribution pattern measuring instrument |
| JPS6438617A (en) * | 1987-08-04 | 1989-02-08 | Yaskawa Denki Seisakusho Kk | Measuring apparatus of light distribution |
| JPH0268828A (ja) * | 1988-09-01 | 1990-03-08 | Fuji Electric Co Ltd | 難視光線の可視化装置 |
| JPH08320252A (ja) * | 1995-05-26 | 1996-12-03 | Matsushita Electric Works Ltd | 赤外線センサの動作試験装置 |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012103107A (ja) * | 2010-11-10 | 2012-05-31 | Sony Corp | 配光計測装置、配光計測方法および配光計測プログラム |
| WO2013140556A1 (ja) * | 2012-03-21 | 2013-09-26 | パイオニア株式会社 | 半導体発光素子用の発光量推定装置及び発光量推定方法 |
| WO2013145132A1 (ja) * | 2012-03-27 | 2013-10-03 | パイオニア株式会社 | 半導体発光素子用の測定装置 |
| WO2015086704A1 (en) * | 2013-12-11 | 2015-06-18 | Infiniled Limited | Apparatus and method for profiling a beam of a light emitting semiconductor device |
| US11099063B2 (en) | 2013-12-11 | 2021-08-24 | Facebook Technologies, Llc | Apparatus and method for profiling a beam of a light emitting semiconductor device |
| JP2015215300A (ja) * | 2014-05-13 | 2015-12-03 | 凸版印刷株式会社 | 光源の配光分布および物体の双方向反射率分布関数測定のための装置、方法、及びプログラム |
| CN114235147A (zh) * | 2021-12-21 | 2022-03-25 | 深圳汝原福永智造科技有限公司 | 测试装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4061822B2 (ja) | 2008-03-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN101943571B (zh) | 电路板检查装置及检查方法 | |
| US20200363341A1 (en) | Image detection scanning method for object surface defects and image detection scanning system thereof | |
| US8363929B2 (en) | Shape measurement apparatus and calibration method | |
| US7095002B2 (en) | Adaptive lighting control for vision-based occupant sensing | |
| US5889582A (en) | Image-directed active range finding system | |
| KR20000075764A (ko) | 검사시스템 | |
| JPWO2007037227A1 (ja) | 位置情報検出装置、位置情報検出方法及び位置情報検出プログラム | |
| JP2002005785A (ja) | 赤外線モジュールの特性測定方法 | |
| KR20060101253A (ko) | 계측 영역의 자동 설정 수단을 구비한 변위 센서 | |
| US7456941B2 (en) | Measuring device for measuring the refraction properties of optical lenses | |
| US7453558B2 (en) | Measuring device for measuring the refraction properties of optical lenses | |
| JP2000009655A (ja) | 外観検査装置 | |
| US20070070338A1 (en) | Method and device for examination of nonuniformity defects of patterns | |
| JPH06167460A (ja) | 検査装置 | |
| JP4641873B2 (ja) | 発光状態測定装置 | |
| JP2003279446A (ja) | 撮像用レンズ検査装置、および撮像用レンズ検査方法 | |
| JP2004139155A (ja) | 指定位置特定装置、その方法およびそのプログラム | |
| JP2008227301A (ja) | 電子回路部品装着検査方法および装置 | |
| JP5205224B2 (ja) | 部品実装状態検査装置 | |
| EP0606770B1 (en) | A measuring-point member for optical measurement | |
| CN113884509A (zh) | 检测装置及检测方法 | |
| JPH051950A (ja) | 車輌用ライトの照度測定方法 | |
| JP2000232242A (ja) | 発光素子測定装置 | |
| JP2021063700A (ja) | 三次元計測装置、コンピュータプログラム、制御システム及び物品の製造方法 | |
| TWI761936B (zh) | 三維感測裝置、發光模組及其控制方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20050214 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050308 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050509 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060704 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060904 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070327 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070528 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20071204 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20071217 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110111 Year of fee payment: 3 |
|
| S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110111 Year of fee payment: 3 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120111 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120111 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130111 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130111 Year of fee payment: 5 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |