JP2001347449A - ウェハー研磨装置 - Google Patents

ウェハー研磨装置

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JP2001347449A
JP2001347449A JP2000168403A JP2000168403A JP2001347449A JP 2001347449 A JP2001347449 A JP 2001347449A JP 2000168403 A JP2000168403 A JP 2000168403A JP 2000168403 A JP2000168403 A JP 2000168403A JP 2001347449 A JP2001347449 A JP 2001347449A
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wafer
fixed abrasive
conditioner
polishing
polishing apparatus
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Noritoshi Akimoto
典利 秋元
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 固定砥粒式のウェハー研磨装置では、固定砥
粒の状態により、コンデンショニングされた領域とそれ
以外の領域との間で、研磨能力に差異が現れ、ウェハー
の平坦度が低下する。 【解決手段】 ウェハーWの半径方向外方を全周にわた
って取り囲むリテーナリング6によって、ウェハーが半
径方向外方に飛び出すことを防止する。この場合、リテ
ーナリング6と固定砥粒2aとの接触面に、固定砥粒2
aを切削する切削部7を具備するコンディショナ8を設
けたウェハー研磨装置1を提供する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、固定砥粒を用い
たウェハー研磨装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】ウェハーの研磨は、液体に砥粒を分散さ
せたスラリーを用いて行う遊離砥粒式の研磨が主流であ
る。かかる遊離砥粒式のウェハー研磨装置においては、
水平回転させられるプラテン上に貼着された研磨パッド
上に、同じく水平回転させられる研磨ヘッドに保持した
ウェハーを押圧状態に接触させ、研磨パッドとウェハー
との間にスラリーを流し込みながら研磨することによ
り、ウェハーの表面が平坦化されるようになっている。
【0003】前記研磨ヘッドには、ウェハーを吸着保持
して搬送するとともに、研磨パッドに対してウェハーを
押圧するように構成されたキャリアヘッドと、該キャリ
アヘッドに保持されたウェハーの半径方向外方を全周に
わたって取り囲み、回転させられるウェハーが遠心力に
よって半径方向外方に飛び出さないように保持するリテ
ーナリングとが設けられている。このリテーナリング
は、ウェハーの研磨中は、研磨パッドに押し付けられ
て、ウェハーの半径方向外方の空間を遮断するととも
に、研磨パッドに対して圧力を加えて、該研磨パッドの
リバウンド効果を利用したウェハーの研磨状態を調整す
る機能をも有している。
【0004】一方、このようなウェハー研磨装置には、
研磨作業の進行とともに研磨能力の低下する研磨パッド
を、定期的に目立てすることによって、研磨能力を回復
させるコンディショナが設けられている。このコンディ
ショナは、研磨パッドに対して、水平面内で揺動させら
れるアームに取り付けられていて、プラテンを回転させ
ながらアームを揺動させることにより、研磨パッド面の
全体をコンディショニングすることができるようになっ
ている。
【0005】しかしながら、近年、上述した遊離砥粒式
のウェハー研磨方法における欠点が指摘されている。す
なわち、遊離砥粒式の研磨方法では、研磨中にプラテン
上に流し込まれるスラリーが、回転するプラテンによっ
て飛散させられるために、作業現場が汚れ易いという欠
点がある。また、飛散したスラリーが乾くと、ダイヤモ
ンドやアルミナ等の砥粒が粉塵となって空中に浮遊する
ため、作業環境を悪化させる虞もある。また、スラリー
を用いる遊離砥粒式のウェハー研磨方法では、スラリー
を連続して供給するための設備の運転およびスラリーに
要するランニングコストの問題もある。
【0006】そこで、このようなスラリーを使用する遊
離砥粒式の研磨方法に代えて、プラテン上に固定した固
定砥粒によって、スラリーを使用することなく研磨を行
う固定砥粒式のウェハー研磨装置が提案されている。こ
の固定砥粒式のウェハー研磨装置によれば、上述した問
題点を解決することができる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この固
定砥粒式のウェハー研磨装置では、遊離砥粒式の研磨装
置と異なり、コンディショニングによる固定砥粒の状態
の変化が顕著に現れるという不都合がある。すなわち、
遊離砥粒の場合の研磨能力は、研磨パッドの状態とスラ
リーとの組合せにより定まるが、固定砥粒式のウェハー
研磨装置では、固定砥粒の状態のみによって定まるた
め、コンディショニングがなされた領域とそれ以外の領
域との間で、研磨能力に顕著な差異が現れる。
【0008】その結果、この固定砥粒においては、従来
のように、ウェハーの研磨を行いながら、揺動するアー
ムに取り付けたコンディショナによりコンディショニン
グを行う方法では、固定砥粒の表面に、コンディショニ
ングされた領域とそれ以外の領域とが混在し、それらの
領域が同時にウェハーの表面を研磨する状態になるた
め、ウェハーの平坦度が低下してしまうという問題があ
る。これを回避するために、研磨作業とコンディショニ
ング作業とを別々に行うことも考えられるが、この場合
には、コンディショニングを含めたサイクルタイムの短
縮を図ることができないという不都合がある。
【0009】この発明は、上述した課題を解決するため
になされたものであって、短いサイクルタイムを維持し
つつ、ウェハーの平坦度を向上し得る固定砥粒式のウェ
ハー研磨装置を提供することを目的としている。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、プラテン上に固定された固定砥粒により
ウェハーを研磨するウェハー研磨装置において、ウェハ
ーの半径方向外方を全周にわたって取り囲むリテーナリ
ングの前記固定砥粒との接触面に、該固定砥粒を切削す
る切削部を具備するコンディショナが設けられているウ
ェハー研磨装置を提案している。
【0011】また、本発明は、プラテン上に固定された
固定砥粒によりウェハーを研磨するウェハー研磨装置に
おいて、ウェハーの半径方向外方にストッパが配置さ
れ、該ストッパの半径方向外方に、前記ウェハーの半径
方向外方を全周にわたって取り囲み、前記固定砥粒との
接触面に、該固定砥粒を切削する切削部を具備するコン
ディショナが設けられ、該コンディショナが、前記スト
ッパに対して軸方向に相対移動可能に設けられているウ
ェハー研磨装置を提案している。
【0012】さらに、上記ウェハー研磨装置において
は、前記コンディショナを軸方向に駆動する駆動手段を
具備することとすれば、コンディショナによる固定砥粒
の切削量を調節することができるので効果的である。
【0013】
【作用】本発明に係るウェハー研磨装置によれば、プラ
テン上に固定された固定砥粒に対して、ウェハーを接触
させて研磨する際に、ウェハーの半径方向外方を取り囲
むリテーナリングによって、ウェハーが半径方向外方に
飛び出すことが防止される。この場合において、リテー
ナリングの固定砥粒との接触面に、切削部が設けられる
ことによってコンディショナが形成されているので、該
切削部が固定砥粒に接触させられることによって、固定
砥粒が切削されることになる。リテーナリングに設けた
切削部はウェハーを全周にわたって取り囲んでいるの
で、ウェハーは常に切削された状態の固定砥粒のみに接
触させられ、平坦に研磨されることになる。
【0014】また、ウェハー研磨装置の他の態様によれ
ば、プラテン上に固定された固定砥粒に対してウェハー
を接触させて研磨する際に、ウェハーの半径方向外方に
配置されたストッパにより、ウェハーが半径方向外方に
飛び出すことが防止される。また、ストッパの半径方向
外方には、コンディショナが設けられているので、該コ
ンディショナの切削部をプラテン上の固定砥粒に接触さ
せることにより、固定砥粒が切削される。この場合に、
コンディショナは、その切削部によってウェハーを全周
にわたって取り囲んでいるので、ウェハーは常に切削さ
れた状態の固定砥粒のみと接触させられ、平坦に研磨さ
れることになる。
【0015】また、このウェハー研磨装置によれば、コ
ンディショナがストッパに対して軸方向に相対移動可能
に設けられているので、例えば、固定砥粒に代えて、ウ
ェハーをバフィングパッドに接触させる洗浄工程におい
ては、ストッパをウェハーの半径方向外方に配置したま
まで、コンディショナをストッパに対して軸方向に後退
させることにより、ウェハーの半径方向への突出を防止
しつつ、コンディショナとバフィングパッドとを接触さ
せずに、ウェハーの洗浄を行うことが可能となる。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、この発明の一実施形態に係
るウェハー研磨装置について、図1を参照しながら説明
する。図1は、本実施形態に係るウェハー研磨装置1を
示す縦断面図である。
【0017】このウェハー研磨装置1は、水平回転させ
られるプラテン2上に固定された固定砥粒シート2a
と、ウェハーWを吸着して搬送するとともに、該ウェハ
ーWを水平回転させながら、前記固定砥粒シート2aに
対して上方から押し付ける研磨ヘッド3とを具備してい
る。
【0018】前記研磨ヘッド3は、図示しない駆動機構
によって上下左右に変位させられ、かつ、水平回転させ
られるキャリアヘッド4と、このキャリアヘッド4に取
り付けられ、円盤状のウェハーWを、被研磨面を下向き
にして吸着保持するとともに研磨時にはウェハーWに上
方から圧力を印加するウェハー保持部5と、前記キャリ
アヘッド4に取り付けられ、前記ウェハー保持部5の半
径方向外方に配置された円環状のリテーナリング6とを
具備している。
【0019】このリテーナリング6の下面には、例え
ば、微小ダイヤモンドを固着してなる切削部7が設けら
れ、これによって、ウェハーの周囲を全周にわたって取
り囲むコンディショナ8が構成されている。
【0020】図中、符号9はウェハーを吸着または加圧
するゴム製の膜状部材からなるメンブレン、符号10は
このメンブレンを支持するメンブレンサポート、符号1
1はインナーチューブ、符号12,13は伸縮可能な密
封手段、符号14,15,16は空気圧用配管である。
【0021】このように構成された研磨ヘッド3では、
配管14を通した空気圧供給により、第1の加圧室17
が膨張して、リテーナリング6が固定砥粒シート2aに
押し付けられるようになっている。また、配管15を通
した負圧の供給により、第2の加圧室18が収縮して、
ウェハーWがウェハー保持部5に吸着される一方、正圧
の供給により、第2の加圧室18が膨張して、ウェハー
Wが固定砥粒シート2aに押し付けられるようになって
いる。さらに、配管16への空気圧供給により、インナ
ーチューブ11が膨張して、ウェハーWを含むウェハー
保持部5が押し下げられるようになっている。
【0022】したがって、これらの配管14,15,1
6、加圧室17,18およびインナーチューブ11によ
り、駆動手段19が構成され、配管14,15,16に
供給する空気圧を調節することにより、前記リテーナリ
ング6が、前記ウェハー保持部5とは独立して上下に駆
動できるようになっている。そして、ウェハーWを研磨
するときに、上方から印加される押圧力によって、リテ
ーナリング6の下端の切削部7が、前記固定砥粒シート
2aに押しつけられる。
【0023】すなわち、リテーナリング6は、ウェハー
Wの研磨時に、固定砥粒シート2aに接触させられるこ
とによって、ウェハーWの半径方向外方の空間を閉鎖し
て、ウェハーWが半径方向外方に飛び出すことを防止す
ると同時に、該リテーナリング6の下端の切削部7によ
り構成されたコンディショナ8によって、ウェハーWの
研磨中に、前記固定砥粒シート2aの研磨能力を回復す
るためのコンディショニング作業を行うことができる。
【0024】この場合において、切削部7は、リテーナ
リング6の円環状の下面全体にわたって形成されている
ので、キャリアヘッド4および固定砥粒シート2aの回
転に伴って、ウェハーWの半径方向外方の全周にわたり
コンディショニング作業が行われる。すなわち、固定砥
粒シート2aは、常に、コンディショナ8によって切削
された領域のみがウェハーWと接触し、従来のように、
切削された領域と切削されていない領域とが混在した状
態でウェハーWと接触することが防止される。
【0025】その結果、ウェハーWは、その表面全体を
常に、均質な状態の固定砥粒シート2aと接触させられ
るので、均一に研磨され、高い平坦度を達成することが
できる。また、駆動手段19の作動により、リテーナリ
ング6に加える押圧力を調節することにより、固定砥粒
シート2aの切削量を調節することができ、最適なコン
ディショニング状態を達成することができる。
【0026】また、ウェハーWの半径方向外方への飛び
出しを防止するリテーナリング6とコンディショナ8と
を一体的に構成することにより、従来必要であった、別
個のコンディショニングユニットを不要として、ウェハ
ー研磨装置全体のコンパクト化を図ることができるとい
う利点もある。
【0027】次に、本発明に係るウェハー研磨装置の第
2の実施形態について、図2および図3を参照して説明
する。これらの図中において、第1の実施形態に係るウ
ェハー研磨装置2と構成を共通とする箇所には同一符号
を付して、説明を簡略化することにする。本実施形態に
係るウェハー研磨装置20は、リテーナリング21とコ
ンディショナ22の構造において、第1の実施形態に係
るウェハー研磨装置2と相違している。
【0028】この実施形態におけるリテーナリング21
は、ウェハーWの半径方向外方の領域を全周にわたって
取り囲むストッパ23と、該ストッパ23の半径方向外
方の領域を全周にわたって取り囲むコンディショナ22
とを具備している。
【0029】前記ストッパ23は、例えば、コンディシ
ョナ22の内周面に設けた凹部に収容された状態で、該
コンディショナ22に対して軸方向に相対移動可能に取
り付けられ、ウェハーWの外周を常に取り囲むように配
置された円環状部材であり、固定砥粒シート2aに対向
させられる表面は平坦面である。このストッパ23とコ
ンディショナ22との間には、該ストッパ23をコンデ
ィショナ22に対して軸方向に付勢するスプリング25
等の弾性部材が設けられている。一方、前記コンディシ
ョナ22は、前記ストッパの外周に、2重管状に配置さ
れた円環状のコンディショニングリング22aと、該コ
ンディショニングリング22aの固定砥粒シート2aに
対向させられる下面に、例えば微小ダイヤモンドを固着
してなる切削部22bとを具備している。このコンディ
ショナ22は、前記キャリアヘッド4に取り付けられて
いる。
【0030】このように構成された本実施形態に係るウ
ェハー研磨装置20の作用について、以下に説明する。
本実施形態に係るウェハー研磨装置20によってウェハ
ーWを研磨する場合には、第1の実施形態における場合
と同様にして、空気圧用配管14,15,16に加える
空気圧を調節することにより、ウェハーWを固定砥粒シ
ート2aに押し付ける。本実施形態では、ストッパ23
がウェハーWの周囲を取り囲むように配置されているの
で、研磨中にウェハーWが半径方向外方に飛び出すこと
が防止される。
【0031】また、空気圧用配管14,15,16に加
える空気圧を調節することにより、ストッパ23の半径
方向外方に配置されたコンディショニングリング22a
が、スプリング25の付勢力に抗して、ストッパ23に
対して軸方向に相対移動させられ、図2に示されるよう
に、その先端の切削部22bが固定砥粒シート2aに押
し付けられる。その結果、第1の実施形態に係るウェハ
ー研磨装置1と同様にして、ウェハーWの半径方向外方
の固定砥粒シート2aが全周にわたって切削された状態
でウェハーWに接触させられるので、ウェハーWが高い
平坦度で研磨されることになる。
【0032】さらに、本実施形態に係るウェハー研磨装
置20では、空気圧用配管14,15,16に加える空
気圧を調節することにより、ストッパ23に対してコン
ディショニングリング22aを軸方向に相対移動させ、
図3に示されるように、切削部22bがストッパ23の
先端よりも上方に配置されるように、コンディショニン
グリング22aを後退させることができる。その結果、
ウェハーWを、バフィングパッド24上に配置して洗浄
工程を行う場合に、ウェハーWの半径方向外方への飛び
出しをストッパ23によって防止しつつ、コンディショ
ナの切削部22bがバフィングパッド24に接触しない
ように保持することができる。
【0033】なお、本実施形態に係るウェハー研磨装置
20においては、ストッパ23をウェハーWの半径方向
全周にわたって配置される円環状部材としたが、ウェハ
ーWの飛び出しを防止することができれば、他の任意の
形状でもよい。すなわち、円環状部材に代えて、周方向
に間隔を開けて複数配置されるピン状または円弧板状の
部材であってもよい。
【0034】
【発明の効果】以上、詳述したように、本発明に係るウ
ェハー研磨装置によれば、ウェハーの半径方向外方を全
周にわたって取り囲む位置に、コンディショナを配置し
たので、切削されて研磨能力を回復した状態の固定砥粒
のみをウェハーに接触させることができ、ウェハーを高
い平坦度で研磨することができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の一実施形態に係るウェハー研磨装
置を示す縦断面図である。
【図2】 この発明の第2の実施形態に係るウェハー研
磨装置を示す縦断面図である。
【図3】 図2のウェハー研磨装置において、ストッパ
に対して切削部を後退させた状態を示す縦断面図であ
る。
【符号の説明】
W ウェハー 1,20 ウェハー研磨装置 2 プラテン 2a 固定砥粒シート(固定砥粒) 6 22 リテーナリング 7,22b 切削部 8,21 コンディショナ 19 駆動手段 23 ストッパ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 秋元 典利 千葉県成田市新泉14−3 野毛平工業団地 内 アプライド マテリアルズ ジャパン 株式会社内 Fターム(参考) 3C047 BB01 3C058 AA07 AA19 CB01 CB03 DA17

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 プラテン上に固定された固定砥粒により
    ウェハーを研磨するウェハー研磨装置において、 ウェハーの半径方向外方を全周にわたって取り囲むリテ
    ーナリングの前記固定砥粒との接触面に、該固定砥粒を
    切削する切削部を具備するコンディショナが設けられて
    いることを特徴とするウェハー研磨装置。
  2. 【請求項2】 プラテン上に固定された固定砥粒により
    ウェハーを研磨するウェハー研磨装置において、 ウェハーの半径方向外方にストッパが配置され、 該ストッパの半径方向外方に、前記ウェハーの半径方向
    外方を全周にわたって取り囲み、前記固定砥粒との接触
    面に、該固定砥粒を切削する切削部を具備するコンディ
    ショナが設けられ、 該コンディショナが、前記ストッパに対して軸方向に相
    対移動可能に設けられていることを特徴とするウェハー
    研磨装置。
  3. 【請求項3】 前記コンディショナを軸方向に駆動する
    駆動手段を具備することを特徴とする請求項1または請
    求項2記載のウェハー研磨装置。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005313313A (ja) * 2004-03-31 2005-11-10 Fujikoshi Mach Corp 研磨装置
JP2009061568A (ja) * 2007-09-10 2009-03-26 Disco Abrasive Syst Ltd 板状物加工用トレイおよび加工装置
JP2009095952A (ja) * 2007-10-18 2009-05-07 Denso Corp ウェハの製造方法
JP2009248282A (ja) * 2008-04-10 2009-10-29 Showa Denko Kk 研磨装置及び研磨補助装置、ならびに、研磨方法
JP2015500151A (ja) * 2011-12-16 2015-01-05 エルジー シルトロン インコーポレイテッド ウェハーの研磨装置及びウェハーの研磨方法
CN110549242A (zh) * 2018-05-31 2019-12-10 许栋梁 全向整合式调节装置

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005313313A (ja) * 2004-03-31 2005-11-10 Fujikoshi Mach Corp 研磨装置
JP4583207B2 (ja) * 2004-03-31 2010-11-17 不二越機械工業株式会社 研磨装置
JP2009061568A (ja) * 2007-09-10 2009-03-26 Disco Abrasive Syst Ltd 板状物加工用トレイおよび加工装置
JP2009095952A (ja) * 2007-10-18 2009-05-07 Denso Corp ウェハの製造方法
JP2009248282A (ja) * 2008-04-10 2009-10-29 Showa Denko Kk 研磨装置及び研磨補助装置、ならびに、研磨方法
JP2015500151A (ja) * 2011-12-16 2015-01-05 エルジー シルトロン インコーポレイテッド ウェハーの研磨装置及びウェハーの研磨方法
CN110549242A (zh) * 2018-05-31 2019-12-10 许栋梁 全向整合式调节装置

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