JP2001332460A - チップ部品選別装置及びその方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 選別処理能力の向上を図ると共に確実に良品
と不良品を選別できるチップ部品選別装置及びその方法
を提供する。 【構成】 周縁部に隙間の無い状態で測定用トレー１０
の裏面側全体を測定基台４０によって覆い、この状態で
部品収納孔１０ｃ内に配置されたチップ部品を吸引管４
５と吸引ホース５２を介して真空ポンプによって吸引す
る。これにより、トレー１０の傾きや振動等によるチッ
プ部品の脱落を防止する。さらに、部品良否情報に基づ
いて排出対象のチップ部品を排出するときは該当するチ
ップ部品の収納孔１０ｃに向けてノズル４４からエアー
を吹き出してチップ部品を排出する。従って、排出対象
外のチップ部品は真空ポンプによって吸引されているの
で脱落したり誤排出されたりすることがない。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、積層コンデンサ等のチ
ップ部品の良品と不良品を選別するチップ部品選別装置
及びその方法に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、チップ型積層コンデンサの良品、
不良品の選別を行う場合用いられている検査・選別装置
として１ｂｙ１の選別装置が知られている。この形式の
選別装置は、複数の部品収納孔がマトリクス状に配置さ
れたトレーを備え、トレーを用いてチップ部品の測定検
査を行った後に、測定結果に基づいてチップ部品を選別
する。

【０００３】また、測定後の部品の排出はエアーの吹き
出しによって行われることが多い。即ち、トレーの裏面
側から部品収納孔のチップ部品にエアーを吹き付けて吹
き飛ばして回収容器に排出するものである。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
選別装置では、互いに直交する直線上に部品収納孔が形
成されているので、隣り合う部品収納孔間の距離が少な
くとも２種類存在する。即ち、隣り合う４つの部品収納
孔を頂点とする四角形の辺に沿った距離とこの四角形の
対角線に沿った距離の２種類の距離が存在する。このた
め、チップ部品の耐電圧試験を行うときの、隣り合う部
品収納孔間の耐電圧設定が非常に面倒であり処理能力に
限界があった。

【０００５】一方、従来の選別装置では、測定結果に基
づいてチップ部品を吹き飛ばすときに、トレー上に残し
ておくべきチップ部品が吹き出しエアーの回り込みによ
って排出されることがあった。

【０００６】本発明の目的は上記の問題点に鑑み、選別
処理能力の向上を図ると共に確実に良品と不良品を選別
できるチップ部品選別装置及びその方法を提供すること
にある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明は上記の目的を達
成するために請求項１では、チップ部品を１対１対応で
収納する複数の部品収納孔が表面から裏面に貫通して形
成されて整列配置されたトレーを備え、前記部品収納孔
内のチップ部品を部品良否情報に基づいて選別するチッ
プ部品選別装置において、前記部品収納孔は任意の部品
収納孔の周囲に６つの部品収納孔が等距離位置に存在す
るように整列して配置されているチップ部品選別装置を
提案する。

【０００８】該チップ部品選別装置によれば、隣り合う
部品収納孔間の距離が全て同じに設定されているので、
隣り合う部品収納孔間の耐電圧設定を非常に容易に行う
ことができるため処理能力を向上させることができる。

【０００９】また、請求項２では、請求項１に記載のチ
ップ部品選別装置において、前記トレーの裏面側から各
部品収納孔内のチップ部品を吸引する吸引手段と、前記
トレーの裏面側から部品収納孔毎に部品収納孔内のチッ
プ部品をトレーから排出する排出手段と、前記吸引手段
と排出手段のうちの少なくとも前記排出手段を前記部品
良否情報に基づいて駆動制御する制御手段とを備えたチ
ップ部品選別装置を提案する。

【００１０】該チップ部品選別装置によれば、部品収納
孔内に配置されたチップ部品は吸引手段によって吸引さ
れているのでトレーの傾きや振動等によって脱落するこ
とがない。さらに、前記部品良否情報に基づいて所定の
チップ部品を排出するときは制御手段によって排出手段
が駆動制御されてチップ部品が排出される。従って、排
出対象ではないチップ部品は吸引手段によって吸引され
ているので、脱落や誤排出が生ずることがない。

【００１１】また、請求項３では、請求項１に記載のチ
ップ部品選別装置において、前記トレーの裏面側全体を
周縁部に隙間の無い状態で覆う覆い部材と、該覆い部材
とトレー裏面との間の空間に連結された真空ポンプとを
有するエアー吸引手段と、前記トレーの裏面側において
前記部品収納孔毎に設けられたエアー吹き出し用の複数
のノズルと、該ノズル毎に設けられ該ノズルへの選別用
エアーの吹き出し口を開閉する複数のバルブと、該バル
ブに連結されたエアー吹き出し用のコンプレッサとを有
するエアー吹き出し手段と、前記良否情報に基づいて前
記バルブの開閉を制御する制御手段とを備えているチッ
プ部品選別装置を提案する。

【００１２】該チップ部品選別装置によれば、前記トレ
ーの裏面側全体が周縁部に隙間の無い状態で覆い部材に
よって覆われる。この状態で部品収納孔内に配置された
チップ部品は真空ポンプによって吸引されているのでト
レーの傾きや振動等によって脱落することがない。さら
に、前記部品良否情報に基づいて排出対象のチップ部品
を排出するときは制御手段によって該当するバルブが開
放されて前記チップ部品が収納されている部品収納孔に
コンプレッサからエアーが吹き出されてチップ部品が排
出される。従って、排出対象ではないチップ部品は前記
真空ポンプによって吸引されているので、脱落や誤排出
が生ずることがない。

【００１３】また、請求項４では、請求項１に記載のチ
ップ部品選別装置において、前記トレーの裏面側で部品
収納孔毎に該部品収納孔の開口部周縁に先端開口部周縁
が密着される複数のノズルと、前記ノズルに連結された
エアー吸引用の真空ポンプと、前記ノズルに連結された
エアー吹き出し用のコンプレッサと、前記ノズル毎に設
けられて前記ノズルと前記コンプレッサとの間に介在さ
れた複数の第１バルブと、前記ノズル毎に設けられて前
記ノズルと前記真空ポンプとの間に介在され複数の第２
バルブと、前記部品良否情報に基づいて前記第１バルブ
と第２バルブの開閉を制御し、トレーから排出するチッ
プ部品が収納されている部品収納孔に対応する第１バル
ブを開いてチップ部品を排出し、排出対象外のチップ部
品が収納されている部品収納孔に対応する第２バルブを
開いてチップ部品を吸引する制御手段とを備えているチ
ップ部品選別装置を提案する。

【００１４】該チップ部品選別装置によれば、トレーの
裏面側から前記部品収納孔のそれぞれがエアー漏れの無
い状態で前記ノズルの先端開口部によって覆われる。部
品の選別時においては、前記制御手段によって前記部品
良否情報に基づいて前記第１バルブと第２バルブの開閉
が制御され、排出対象となるチップ部品が収納されてい
る部品収納孔に対応する第１バルブが開かれて排出対象
となるチップ部品が排出され、排出対象外のチップ部品
が収納されている部品収納孔に対応する第２バルブが開
かれて該排出対象外のチップ部品は吸引されてトレーに
残される。従って、前記排出対象外のチップ部品の脱落
や誤排出が生ずることがない。

【００１５】また、請求項５では、チップ部品を１対１
対応で収納する複数の部品収納孔が表面から裏面に貫通
して形成されて整列配置されたトレーを用い、前記部品
収納孔内のチップ部品を部品良否情報に基づいて選別す
るチップ部品選別方法において、選別対象とするチップ
部品を前記部品収納孔内に配置し、前記トレーの裏面側
から各部品収納孔内のチップ部品をエアー吸引し、該エ
アー吸引している状態で、前記部品良否情報に基づく排
出対象のチップ部品が収納されている部品収納孔に対し
て前記トレーの裏面側からエアーを吹き出して該部品収
納孔内のチップ部品を回収容器に落下させることによ
り、チップ部品の選別を行うチップ部品選別方法を提案
する。

【００１６】該チップ部品選別方法によれば、部品収納
孔内に配置されたチップ部品はエアー吸引されているの
でトレーの傾きや振動等によって脱落することがない。
さらに、前記部品良否情報に基づいて良品のチップ部品
或いは不良品のチップ部品を排出するときは前記エアー
吸引された状態で排出対象となるチップ部品が収納され
ている部品収納孔に対してトレーの裏面側からエアーが
吹き出されて該部品収納孔内の排出対象チップ部品は回
収容器に排出される。従って、排出対象ではないチップ
部品はエアー吸引されているので、脱落や誤排出が生ず
ることがない。

【００１７】また、請求項６では、チップ部品を１対１
対応で収納する複数の部品収納孔が表面から裏面に貫通
して形成されて整列配置されたトレーを用い、前記部品
収納孔内のチップ部品を部品良否情報に基づいて選別す
るチップ部品選別方法において、選別対象とするチップ
部品を前記部品収納孔内に配置し、前記トレーの裏面側
から各部品収納孔内のチップ部品をエアー吸引し、前記
部品良否情報に基づく排出対象のチップ部品が収納され
ている部品収納孔に対するエアー吸引を停止して前記ト
レーの裏面側からエアーを吹き出して、該部品収納孔内
のチップ部品を回収容器に落下させることにより、チッ
プ部品の選別を行うチップ部品選別方法を提案する。

【００１８】該チップ部品選別方法によれば、部品収納
孔内に配置されたチップ部品はエアー吸引されているの
でトレーの傾きや振動等によって脱落することがない。
さらに、前記部品良否情報に基づいて良品のチップ部品
或いは不良品のチップ部品を排出するときは、排出対象
のチップ部品が収納されている部品収納孔に対するエア
ー吸引が停止されて前記トレーの裏面側からエアーが吹
き出され、該部品収納孔内の排出対象チップ部品が回収
容器に排出される。このとき、排出対象外のチップ部品
はエアー吸引されてトレーに残される。従って、前記排
出対象外のチップ部品の脱落や誤排出が生ずることがな
い。

【００１９】

【発明の実施の形態】以下、図面に基づいて本発明の一
実施形態を説明する。

【００２０】図１は、本発明の第１の実施形態例におけ
るチップ部品選別装置を示す構成図、図２はその要部平
面図である。本実施形態では一例として耐電圧測定試験
を行った結果に基づいて部品を選別する選別装置につい
て説明する。

【００２１】図において、１は選別装置で、測定用トレ
ー１０と、測定ピン支持部３０、測定基台４０、駆動部
５０、制御部６０、電源部７０、測定部８０、演算部９
０、表示部１００等から構成されている。

【００２２】測定用トレー１０は、所定面積の絶縁板１
０ａと絶縁板１０ａの下面に固定された導体板１０ｂと
から構成されている。

【００２３】絶縁板１０ａには、図３に示すように、正
三角形の小領域が形成されるような３種類の複数の直線
の交点上に位置するように複数の部品収納孔１０ｃが形
成されている。この部品収納孔１０ｃは例えば１００個
形成されている。さらに、図４に示すように、部品収納
孔１０ｃの下端には導体板１０ｂが露出され、部品収納
孔１０ｃの直径は収納対象となるチップ状積層コンデン
サやチップ状抵抗器などのチップ部品２の直径よりもや
や大きく形成されている。また、図５に示すように部品
収納孔１０ｃに対応してテーパー状の開口部１１ａが形
成されたロードプレート１１を絶縁板１０ａの上面に重
ねることにより、ロードプレート１１の上面に置かれた
チップ部品２を振動等によって容易に部品収納孔１０ｃ
に落とし込めるようになっている。また、部品収納孔１
０ｃの深さは、チップ部品２の長さよりもやや深く形成
されている。

【００２４】また、導体板１０ｃには部品収納孔１０ｃ
の形成位置に対応して通気孔１０ｄが形成されている。
この通気孔１０ｄの直径はチップ部品２の直径よりも小
さく設定されている。

【００２５】この測定用トレー１０は、前工程の部品投
入装置（図示せず）からコンベア２１によって搬送され
て、測定基台４０上に図示せぬ係止機構によって固定さ
れる。

【００２６】３０は測定ピン支持部で、直方体形状を有
し、図示せぬ移動機構によって、上下方向に移動され
る。また測定ピン支持部３０には、測定用トレー１０の
部品収納孔１０ｃに対応して、上下方向に貫通するよう
に複数の測定ピン３１が固定されている。

【００２７】測定ピン３１は、図６に示すように、測定
ピン支持部３０の上下面に当接したフランジ３１ａ，３
１ｂを有する略円柱形状をなし、その一端が測定ピン支
持部３０の下面から突出し、他端が上面から突出してい
る。さらに、測定ピン３１の一端は鋸刃形状に形成さ
れ、チップ部品２の電極との接触を良好に行えるように
なっている。また、測定ピン３１の他端は、後述する測
定部８０に接続されている。また、測定ピン支持部３０
の下方には測定基台（覆い部材）４０が設けられ、測定
基台４０の両側には良品回収容器２２と不良品回収容器
２３が配置されている。

【００２８】測定基台４０は、図７に示すように、測定
用トレー１０が底面を水平にして挿入できるように上面
が開口された箱形をなし、その上面の開口内縁部には全
周に亘って係止片４１が突出して形成されている。さら
に、測定基台４０の底面中央部には開口部４０ａが形成
されている。図７において、ノズル４４の数や寸法比等
は概略的に描いてある。

【００２９】係止片４１の上面には導電体４２が設けら
れ、導電体４２は測定基台４０の側面に設けられた接続
端子４２ａに導電接続されている。この接続端子４２ａ
には測定部８０から所定の電圧が印加されるようになっ
ている。また、測定基台４０の内部には高さ方向のほぼ
中央部に仕切板４３が固定して設けられている。

【００３０】仕切板４３には、測定用トレー１０の部品
収納孔１０ｃのそれぞれに対応して６００個のノズル４
４が設けられ、これらのノズル４４は仕切板４３を貫通
して仕切板４３に固定されている。さらに、仕切板４３
には、６つの吸引管４５の一端部がその開口部仕切板４
３の上面側に露出するように固定されている。吸引管４
５の他端部は、仕切板４３の下面側から測定基台４０の
側面を貫通して外部に露出され、吸引ホース５２に連結
されている。

【００３１】また、仕切板４３の下面側に露出したノズ
ル４４の端部にはエアー吹き出し用の管５３の端部が連
結され、これらの管５３は開口部４０ａを介して回動軸
５１の内部を挿通されている。

【００３２】ここで、係止片４１の形成位置は、図８に
示すように、測定用トレー１０の底面が導電体４２の上
面に当接した状態で測定用トレー１０の上部が測定基台
４０の外部に露出するような位置に設定されている。ま
た、ノズル４４の上端が係止片４１上の導電体４２の上
面から所定距離下方に位置するようにノズル４４の長さ
が設定され、測定基台４０に測定用トレー１０が固定さ
れた状態において測定用トレー１０の下面とノズル４４
の上端との間に所定幅の間隙が形成されるようになって
いる。

【００３３】回動軸５１は、その内部が空洞であり、そ
の一端部が測定基台４０の底面に固定されると共に他端
部が駆動部５０のモーターに連結されている。これによ
り、制御部６０の制御信号に基づいて駆動部５０のモー
ターが駆動され、測定基台４０の上面を良品回収容器２
２の側或いは不良品回収容器２３の側に向けることがで
きるようになっている。

【００３４】また、図９に示すように、吸引ホース５２
の他端は制御部６０によって駆動制御される真空ポンプ
５４に連結され、管５３の他端はノズル４４のそれぞれ
に対応して設けられているバルブ５５の一端に連結され
ている。これらのバルブ５５のそれぞれは、制御部６０
によって個別に開閉制御される。また、バルブ５５の他
端はエアー流通管５６によってエアー吹き出し用のコン
プレッサ５７の吹き出し口に連結されている。

【００３５】制御部６０は、周知のＣＰＵを主体として
構成され、予め設定されたプログラムに基づいて各部の
動作制御を行う。

【００３６】電源部７０は、図１０に示すように直流１
００Ｖ〜３５０Ｖを出力する直流電源７１、周波数５０
０Ｈｚ、電圧１５Ｖ_P-P の矩形波を出力する矩形波発生
回路７２、１回路２接点の電子スイッチ７３，７４、及
び抵抗器７５から構成されている。電子スイッチ７３の
第１接点は直流電源７１の正極に接続され、第２接点は
電子スイッチ７３の接片に、また接片は接続端子４２ａ
にそれぞれ接続されている。

【００３７】電子スイッチ７４の第１接点は矩形波発生
回路７２の正極出力端子に接続され、第２接点は抵抗器
７５の一端に接続されている。また、抵抗器７５の他端
及び矩形波発生回路７２の負極出力端子は直流電源７１
の負極に接続されている。電子スイッチ７３，７４は制
御部６０からの制御信号によって切り換えられる。

【００３８】測定部８０は、測定ピン３１に対応した数
の測定回路８１と、スキャナー回路８２から構成されて
いる。測定回路８１は、抵抗器811 〜813 、コンデンサ
814、ダイオード815 及びコンパレータ816 から構成さ
れ、抵抗器811 の一端は対応する測定ピン３１に接続さ
れ、他端は抵抗器812,813 及びコンデンサ813 のそれぞ
れの一端及びダイオード815 のカソードに接続されてい
る。また、抵抗器812とコンデンサ814 の他端及びダイ
オード815 のアノードは直流電源７１の負極に接続さ
れ、抵抗器813 の他端はコンパレータ816 の非反転入力
端子に接続されている。また、コンパレータ816 の反転
入力端子には所定の基準電圧Ｖref が印加されている。
スキャナー回路８２は各コンパレータ816 の出力状態を
走査し、走査結果を演算部９０に送出する。

【００３９】演算部９０は、周知のＣＰＵを主体として
構成され、スキャナー回路８２の走査結果に基づいて各
チップ部品２０の良否を判定し、この判定結果を良否情
報として制御部６０と上位装置に出力すると共に表示器
１００に表示する。

【００４０】次に、前述の構成よりなる選別装置１の動
作を説明する。

【００４１】複数のチップ部品２の検査を行う際には、
前工程の部品投入装置によって予め測定用トレー１０の
部品収納孔１０ｃに測定対象のチップ部品２が投入さ
れ、コンベア２１によって本装置に搬送される。搬送さ
れた測定用トレー１０は測定基台４０上に載置されて固
定される。これにより、測定用トレー１０の導体板１０
ｂは測定基台４０の導電体４２と導電接触する。

【００４２】次に、測定ピン支持部４０の各測定ピン４
１が測定用トレー１０の部品収納孔１０ｃ上に位置する
ように測定ピン支持部３０が平行移動され、この後、測
定ピン支持部３０が下降されて、図１１に示すように各
測定ピン３１は対応する部品収納孔１０ｃ内のチップ部
品２の上端面に導電接触される。

【００４３】次いで、各チップ部品２０と導体板１０ｂ
及び測定ピン３１との導電接触状態の良否検査が行われ
る。この際、電子スイッチ７３の接片は第２の接点に接
続されると共に、電子スイッチ７４の接片は第１の接点
に接続され、導体板１０ｂには導電体４２を介して矩形
波発生回路７２から出力される１５Ｖ_P-P の矩形波電圧
が印加される。このとき、コンパレータ816 の基準電圧
Ｖref は０．４Ｖとされ、スキャナー回路８２を介して
演算部９０により各コンパレータ816 の出力状態が読み
取られる。ここで、チップ部品（本実施形態ではコンデ
ンサ）２が導体板１０ｂ及び測定ピン３１と良好な導電
接触状態にあるならば、コンパレータ816 の出力はハイ
レベルとなり、非導通状態にあるならばローレベルとな
る。

【００４４】次に、耐圧試験が行われる。この際、電子
スイッチ７３の接片は第１の接点に接続されると共に、
電子スイッチ７４の接片は第２の接点に接続され、導体
板１０ｂには導電体４２を介して直流電源７１から出力
される直流電圧１００〜３５０Ｖの電圧が印加される。
このとき、コンパレータ816 の基準電圧Ｖref は１．０
Ｖとされ、スキャナー回路８２を介して演算部９０によ
り各コンパレータ816の出力状態が読み取られる。ここ
で、チップ部品（コンデンサ）２が所望の耐圧を有して
いるならば、コンパレータ816 の出力はハイレベルとな
り、耐圧不良状態にあるならばローレベルとなる。

【００４５】ここで、本実施形態では測定用トレー１０
における部品収納孔１０ｃを前述したように隣り合う部
品収納孔１０ｃ間の距離が全て等しくなるように配置し
たので、任意の隣り合う３つの部品収納孔１０ｃが正三
角形の頂点に位置するように整列させて配置したので、
隣り合う部品収納孔１０ｃ間の耐電圧の設定を効率よく
容易に行うことができた。さらに、部品収納孔１０ｃを
このように配置することによって、従来のマトリクス状
に配置した場合に比べてスペースを削減することができ
た。

【００４６】この後、演算部９０は、読み取った耐圧試
験結果を表示器１００に表示すると共に、各チップ部品
２の良否情報を制御部６０と上位装置（図示せず）に出
力する。次いで、演算部９０は、試験終了信号を制御部
６０に出力する。

【００４７】この後、制御部６０は、測定ピン支持部３
０を上昇させ、真空ポンプ５４を駆動する。これによ
り、測定基台４０の仕切板４３と測定トレー１０との間
の空間の空気が吸引管４５と吸引ホース５２を介して排
出されるので、部品収納孔１０ｃの通気孔１０ｄを介し
て外部の空気が仕切板４３と測定トレー１０との間の空
間に流れ込むため、このエアー吸引によって部品収納孔
１０ｃ内のチップ部品２は測定用トレー１０に吸着した
状態を維持する。

【００４８】次いで、制御部６０は、図１２に示すよう
に、駆動部５０を介して回動軸５１を回動させ、測定用
トレー１０の上面を良品回収容器２２の側に向ける。さ
らに、制御部６０は、コンプレッサ５７を駆動すると共
に部品良否情報に基づいて良品と判定されたチップ部品
２が収納されている部品収納孔１０ｃに対応するバルブ
５５を所定時間開いてノズル４４からエアーを吹き出さ
せる。これにより、良品と判定されたチップ部品２は、
ノズル４４から吹き出すエアーに押されて部品収納孔１
０ｃから外部に飛び出し、良品回収用に２２に回収され
る。このとき、不良品と判定されたチップ部品２は真空
ポンプ５４のエアー吸引によって吸着されているので測
定用トレー１０から脱落することがない。

【００４９】良品のチップ部品２を排出した後、制御部
６０は、図１３に示すように、駆動部５０を介して回動
軸５１を回動させ、測定用トレー１０の上面を不良品回
収容器２３の側に向ける。さらに、制御部６０は、不良
品と判定されたチップ部品２が収納されている部品収納
孔１０ｃに対応するバルブ５５を所定時間開いてノズル
４４からエアーを吹き出して不良品のチップ部品２を不
良品回収容器２３に排出し、測定用トレー１０を水平に
戻して真空ポンプ５４を停止する。

【００５０】これらの測定試験及び部品の選別が終了し
た測定用トレー１０はコンベア２１によって次工程に搬
送され、これに代えて次の試験・選別対象となるチップ
部品２を収納した測定用トレー１０がコンベア２１によ
って搬送されてくる。

【００５１】前述したように、本実施形態によれば、隣
り合う部品収納孔１０ｃ間の耐電圧設定が非常に容易で
あるので従来よりも処理能力を向上させることができ
る。さらに、測定結果（部品良否情報）に基づいてチッ
プ部品２を吹き飛ばすときに、測定トレー１０上に残し
ておくべきチップ部品２を誤って排出することがない。

【００５２】次に、本発明の第２の実施形態を説明す
る。

【００５３】図１４は第２の実施形態における測定基台
４０Ａを側断面図、図１５は測定基台に測定用トレー１
０を載置した状態を示す側断面図、図１６はエアーの吸
引・吹き出し係の回路を示す構成図である。これらの図
のそれぞれは、第１の実施形態における図７・図８・図
９のそれぞれに相当する。図において、第１の実施形態
と同一構成部分は同一符号をもって表しその説明を省略
する。また、第２の実施形態と第１の実施形態との相違
点は、第１の実施形態のノズル４４に代えてノズル４６
を備えると共に各ノズル４６にバルブ５８，５５を介し
て真空ポンプ５４とコンプレッサ５７を連結したことで
ある。これらのバルブ５８，５５は部品良否情報に基づ
いて制御部６０Ａによって開閉制御される。

【００５４】ノズル４６は、測定用トレー１０における
通気孔１０ｄの開口部を囲めるようにノズル４４に比べ
て広い上端開口部を有すると共にこの上端開口部の周縁
上部には弾性を有するパッキン部材としてゴムパッキン
４６ａが設けられている。さらに、ノズル４６の高さ
は、図１５に示すように測定基台４０Ａ上に測定用トレ
ー１０を固定したときにノズル４６の上端部のゴムパッ
キン４６ａが導体板１０ｂに密着する高さに設定されて
いる。また、ノズル４６の下端部は仕切板４３を貫通し
て仕切板４３に固定されると共に管５３に連結されてい
る。

【００５５】本実施形態の動作と前述した第１の実施形
態の動作との違いはチップ部品２の排出時におけるエア
ーの吸引と吹き出しの制御である。即ち、本実施形態で
は、測定試験が終了して演算部７０から部制御部６０Ａ
が試験終了信号を受けとった後、制御部６０Ａは、測定
ピン支持部３０を上昇させ、真空ポンプ５４とコンプレ
ッサ５７を駆動すると共に真空ポンプ５４に連結された
バルブ５８を開く。これにより、導体板１０ｂに密着し
たノズル４６の内部空間の空気が吸引管４５と吸引ホー
ス５２を介して排出されるので、部品収納孔１０ｃの通
気孔１０ｄを介して外部の空気がノズル４６の内部空間
に流れ込むため、このエアー吸引によって部品収納孔１
０ｃ内のチップ部品２は測定用トレー１０に吸着した状
態を維持する。

【００５６】次いで、制御部６０Ａは、駆動部５０を介
して回動軸５１を回動させ、測定用トレー１０の上面を
良品回収容器２２の側に向ける。さらに、制御部６０Ａ
は、部品良否情報に基づいて良品と判定されたチップ部
品２が収納されている部品収納孔１０ｃに対応するバル
ブ５８を閉鎖すると共にバルブ５５を所定時間開いてノ
ズル４６からエアーを吹き出させる。これにより、良品
と判定されたチップ部品２は、ノズル４６から吹き出す
エアーに押されて部品収納孔１０ｃから外部に飛び出
し、良品回収用に２２に回収される。このとき、不良品
と判定されたチップ部品２は真空ポンプ５４のエアー吸
引によって吸着されているので測定用トレー１０から脱
落することがない。

【００５７】良品のチップ部品２を排出した後、制御部
６０Ａは、駆動部５０を介して回動軸５１を回動させ、
測定用トレー１０の上面を不良品回収容器２３の側に向
ける。さらに、制御部６０Ａは、不良品と判定されたチ
ップ部品２が収納されている部品収納孔１０ｃに対応す
るバルブ５８を閉鎖すると共にバルブ５５を所定時間開
いてノズル４６からエアーを吹き出して不良品のチップ
部品２を不良品回収容器２３に排出し、測定用トレー１
０を水平に戻して真空ポンプ５４及びコンプレッサ５７
を停止する。

【００５８】これにより、第２の実施形態によっても第
１の実施形態と同様の効果が得られる。

【００５９】尚、第１及び第２の実施形態の構成は本願
発明の一具体例であり、本願発明がこれらのみに限定さ
れることはない。例えば、上記実施形態ではロードプレ
ート１１を用いて部品収納孔１０ｃに落とし込むように
したが、部品収納孔１０ｃの上端部を口広のテーパー状
に形成しても良い。

【００６０】

【発明の効果】以上説明したように本発明の請求項１に
記載のチップ部品選別装置によれば、隣り合う部品収納
孔間の距離が全て同じに設定されているので、隣り合う
部品収納孔間の耐電圧設定を非常に容易に行うことがで
きるため処理能力を向上させることができる。

【００６１】また、請求項２乃至請求項４に記載のチッ
プ部品選別装置によれば、上記の効果に加えて、部品収
納孔内に配置されたチップ部品は吸引されているのでト
レーの傾きや振動等によって脱落することがない。さら
に、部品良否情報に基づいて所定のチップ部品を排出す
るときは排出対象ではないチップ部品が吸引された状態
で排出対象となるチップ部品が排出されるので、排出対
象外のチップ部品が脱落したり誤排出されたりすること
ない。

【００６２】また、請求項５及び請求項６に記載のチッ
プ部品選別方法によれば、部品収納孔内に配置されたチ
ップ部品はエアー吸引されているのでトレーの傾きや振
動等によって脱落することがない。さらに、部品良否情
報に基づいて良品のチップ部品或いは不良品のチップ部
品を排出するときは排出対象外のチップ部品がエアー吸
引された状態で排出対象となるチップ部品が収納されて
いる部品収納孔に対してトレーの裏面側からエアーが吹
き出されて該部品収納孔内の排出対象チップ部品が回収
容器に排出されるので、排出対象外のチップ部品が脱落
したり誤排出されたりすることがない。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施形態におけるチップ部品選
別装置を示す構成図

【図２】本発明の第１の実施形態におけるチップ部品選
別装置を示す要部平面図

【図３】本発明の第１の実施形態における絶縁板の部品
収納孔の配置を示す構成図

【図４】本発明の第１の実施形態における部品収納孔の
形状を示す側断面図

【図５】本発明の第１の実施形態における部品収納孔へ
の部品収納過程を示す側断面図

【図６】本発明の第１の実施形態における測定ピンの構
成を示す側断面図

【図７】本発明の第１の実施形態における測定基台の構
成を示す側断面図

【図８】本発明の第１の実施形態における測定基台への
測定用トレーの固定状態を示す側断面図

【図９】本発明の第１の実施形態におけるエアー流通回
路を示す構成図

【図１０】本発明の第１の実施形態における測定部を示
す回路図

【図１１】本発明の第１の実施形態における部品測定状
態を示す側断面図

【図１２】本発明の第１の実施形態における良品排出時
の動作を説明する図

【図１３】本発明の第１の実施形態における不良品排出
時の動作を説明する図

【図１４】本発明の第２の実施形態における測定基台の
構成を示す側断面図

【図１５】本発明の第２の実施形態における測定基台へ
の測定用トレーの固定状態を示す側断面図

【図１６】本発明の第２の実施形態におけるエアー流通
回路を示す構成図

【符号の説明】

１…チップ部品選別装置、２…チップ部品、１０…測定
用トレー、１０ａ…絶縁板、１０ｂ…導体板、１０ｃ…
部品収納孔、１１…ロードプレート、２１…コンベア、
２２…良品回収容器、２３…不良品回収容器、３０…測
定ピン支持部、３１…測定ピン、４０…測定基台、４０
ａ…開口部、４１…係止片、４２…導電体、４２ａ…接
続端子、４３…仕切板、４４…ノズル、４５…吸引管、
４６…ノズル、４６ａ…ゴムパッキン、５１…回動軸、
５２…吸引ホース、５３…エアー吹き出し用管、５４…
真空ポンプ、５５…バルブ、５６…エアー流通管、５７
…コンプレッサ、５８…バルブ、６０，６０Ａ…制御
部、７０…電源部、７１…直流電源、７２…矩形波発生
回路、７３，７４…電子スイッチ、７５…抵抗器、８０
…測定部、８１…測定回路、811 〜813 …抵抗器、814
…コンデンサ、815 …ダイオード、816 …コンパレー
タ、８２…スキャナ回路、９０…演算部、１００…表示
器。

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 チップ部品を１対１対応で収納する複数
   の部品収納孔が表面から裏面に貫通して形成されて整列
   配置されたトレーを備え、前記部品収納孔内のチップ部
   品を部品良否情報に基づいて選別するチップ部品選別装
   置において、 前記部品収納孔は任意の部品収納孔の周囲に６つの部品
   収納孔が等距離位置に存在するように整列して配置され
   ていることを特徴とするチップ部品選別装置。
2. 【請求項２】 前記トレーの裏面側から各部品収納孔内
   のチップ部品を吸引する吸引手段と、 前記トレーの裏面側から部品収納孔毎に部品収納孔内の
   チップ部品をトレーから排出する排出手段と、 前記吸引手段と排出手段のうちの少なくとも前記排出手
   段を前記部品良否情報に基づいて駆動制御する制御手段
   とを備えたことを特徴とする請求項１に記載のチップ部
   品選別装置。
3. 【請求項３】 前記トレーの裏面側全体を周縁部に隙間
   の無い状態で覆う覆い部材と、該覆い部材とトレー裏面
   との間の空間に連結された真空ポンプとを有するエアー
   吸引手段と、 前記トレーの裏面側において前記部品収納孔毎に設けら
   れたエアー吹き出し用の複数のノズルと、該ノズル毎に
   設けられ該ノズルへの選別用エアーの吹き出し口を開閉
   する複数のバルブと、該バルブに連結されたエアー吹き
   出し用のコンプレッサとを有するエアー吹き出し手段
   と、 前記良否情報に基づいて前記バルブの開閉を制御する制
   御手段とを備えていることを特徴とする請求項１記載の
   チップ部品選別装置。
4. 【請求項４】 前記トレーの裏面側で部品収納孔毎に該
   部品収納孔の開口部周縁に先端開口部周縁が密着される
   複数のノズルと、 前記ノズルに連結されたエアー吸引用の真空ポンプと、 前記ノズルに連結されたエアー吹き出し用のコンプレッ
   サと、 前記ノズル毎に設けられて前記ノズルと前記コンプレッ
   サとの間に介在された複数の第１バルブと、 前記ノズル毎に設けられて前記ノズルと前記真空ポンプ
   との間に介在され複数の第２バルブと、 前記部品良否情報に基づいて前記第１バルブと第２バル
   ブの開閉を制御し、トレーから排出するチップ部品が収
   納されている部品収納孔に対応する第１バルブを開いて
   チップ部品を排出し、排出対象外のチップ部品が収納さ
   れている部品収納孔に対応する第２バルブを開いてチッ
   プ部品を吸引する制御手段とを備えていることを特徴と
   する請求項１記載のチップ部品選別装置。
5. 【請求項５】 チップ部品を１対１対応で収納する複数
   の部品収納孔が表面から裏面に貫通して形成されて整列
   配置されたトレーを用い、前記部品収納孔内のチップ部
   品を部品良否情報に基づいて選別するチップ部品選別方
   法において、 選別対象とするチップ部品を前記部品収納孔内に配置
   し、 前記トレーの裏面側から各部品収納孔内のチップ部品を
   エアー吸引し、 該エアー吸引している状態で、前記部品良否情報に基づ
   く排出対象のチップ部品が収納されている部品収納孔に
   対して前記トレーの裏面側からエアーを吹き出して該部
   品収納孔内のチップ部品を回収容器に落下させることに
   よりチップ部品の選別を行うことを特徴とするチップ部
   品選別方法。
6. 【請求項６】 チップ部品を１対１対応で収納する複数
   の部品収納孔が表面から裏面に貫通して形成されて整列
   配置されたトレーを用い、前記部品収納孔内のチップ部
   品を部品良否情報に基づいて選別するチップ部品選別方
   法において、 選別対象とするチップ部品を前記部品収納孔内に配置
   し、 前記トレーの裏面側から各部品収納孔内のチップ部品を
   エアー吸引し、 前記部品良否情報に基づく排出対象のチップ部品が収納
   されている部品収納孔に対するエアー吸引を停止して前
   記トレーの裏面側からエアーを吹き出して、該部品収納
   孔内のチップ部品を回収容器に落下させることによりチ
   ップ部品の選別を行うことを特徴とするチップ部品選別
   方法。