JP2001331940A - 光ディスク記録方法および光ディスク記録装置並びに光ディスク - Google Patents
光ディスク記録方法および光ディスク記録装置並びに光ディスクInfo
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- G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
- G11B7/126—Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
- G11B7/1267—Power calibration
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
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- G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
- G11B7/0045—Recording
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】テスト記録で適正な記録パワーを高精度に求め
て本番の記録を高品位に行えるようにする。 【解決手段】光ディスク１０の本番の記録に先立ち、光
ディスク１０のプログラム領域１８よりも外周側の外周
側テスト領域２２ａで、所定の線速度に制御して記録パ
ワーを順次変化させてテスト記録を複数回繰り返し行
う。該外周側テスト領域での複数回のテスト記録の再生
信号に基づき、該線速度における適正な記録パワー値を
求める。光ディスク１０の本番の記録時に、該求められ
た記録パワー値に基づき、線速度に応じて記録パワーを
適正な値に制御して記録を行う。
て本番の記録を高品位に行えるようにする。 【解決手段】光ディスク１０の本番の記録に先立ち、光
ディスク１０のプログラム領域１８よりも外周側の外周
側テスト領域２２ａで、所定の線速度に制御して記録パ
ワーを順次変化させてテスト記録を複数回繰り返し行
う。該外周側テスト領域での複数回のテスト記録の再生
信号に基づき、該線速度における適正な記録パワー値を
求める。光ディスク１０の本番の記録時に、該求められ
た記録パワー値に基づき、線速度に応じて記録パワーを
適正な値に制御して記録を行う。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、ＣＤーＲ（ＣＤ
レコーダブル）ディスク、ＣＤ−ＲＷ（ＣＤリライタブ
ル）ディスク等の記録可能型光ディスクの記録方法およ
び記録装置並びに光ディスクに関し、テスト記録で光ビ
ームの適正な記録パワーを高精度に求めて、本番の記録
を高品位に行えるようにしたものである。
レコーダブル）ディスク、ＣＤ−ＲＷ（ＣＤリライタブ
ル）ディスク等の記録可能型光ディスクの記録方法およ
び記録装置並びに光ディスクに関し、テスト記録で光ビ
ームの適正な記録パワーを高精度に求めて、本番の記録
を高品位に行えるようにしたものである。
【０００２】
【従来の技術】ＣＤ−Ｒ，ＣＤ−ＲＷ等の線速度一定
（ＣＬＶ）記録型光ディスクの記録方法として、標準の
線速度（１倍速）よりも高い線速度で記録する高速記録
が用いられている。
（ＣＬＶ）記録型光ディスクの記録方法として、標準の
線速度（１倍速）よりも高い線速度で記録する高速記録
が用いられている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】線速度一定記録におい
ては、光ディスクの内周側ほどスピンドル回転数が高く
なり、例えば１６倍速では８０００ｒｐｍ以上にもな
る。このため、ドライブの自励振動が大きくなる（特
に、偏重心ディスクの場合）。光ディスクの記録に際し
ては、予めテスト記録によるＯＰＣ(Optimum Power Con
trol：記録ビームの最適記録パワー調整）が行われる
が、従来のテスト記録はディスク最内周のＰＣＡ（Powe
r Calibration Area：パワー較正領域）で行われていた
ため、高速記録の場合、テスト記録時のスピンドル回転
数が非常に高くなる。このため、ドライブの自励振動に
よりテスト記録が不安定になって、ＯＰＣを高精度に行
うことができなくなり、この結果本番の記録を高品位に
行えなくなる。
ては、光ディスクの内周側ほどスピンドル回転数が高く
なり、例えば１６倍速では８０００ｒｐｍ以上にもな
る。このため、ドライブの自励振動が大きくなる（特
に、偏重心ディスクの場合）。光ディスクの記録に際し
ては、予めテスト記録によるＯＰＣ(Optimum Power Con
trol：記録ビームの最適記録パワー調整）が行われる
が、従来のテスト記録はディスク最内周のＰＣＡ（Powe
r Calibration Area：パワー較正領域）で行われていた
ため、高速記録の場合、テスト記録時のスピンドル回転
数が非常に高くなる。このため、ドライブの自励振動に
よりテスト記録が不安定になって、ＯＰＣを高精度に行
うことができなくなり、この結果本番の記録を高品位に
行えなくなる。
【０００４】また、高速記録においては、本番の記録時
に、ディスク内周側ほどスピンドル回転数が高くなり、
自励振動によってピット形成が不安定になる。また、ハ
ードディスクに一旦イメージファイルを作成することな
く別のＣＤ−ＲＯＭドライブからＣＤ−Ｒ（ＲＷ）ドラ
イブに書き込みを行ういわゆるオンザフライ書き込みを
高速で行う場合、ＣＤ−ＲＯＭドライブを回転速度一定
（ＣＡＶ）で高速再生させ、ＣＤ−Ｒ（ＲＷ）ドライブ
を線速度一定で高速記録させて記録を行う方法がある
が、このときＣＡＶ再生されているＣＤ−ＲＯＭドライ
ブの線速度は、外周側では３２倍速位あっても内周側で
は１６倍速位しかなく、内周側の再生時にデータ転送が
間に合わなくなり、いわゆるバッファアンダーランが生
じて書き込みが失敗することがある。
に、ディスク内周側ほどスピンドル回転数が高くなり、
自励振動によってピット形成が不安定になる。また、ハ
ードディスクに一旦イメージファイルを作成することな
く別のＣＤ−ＲＯＭドライブからＣＤ−Ｒ（ＲＷ）ドラ
イブに書き込みを行ういわゆるオンザフライ書き込みを
高速で行う場合、ＣＤ−ＲＯＭドライブを回転速度一定
（ＣＡＶ）で高速再生させ、ＣＤ−Ｒ（ＲＷ）ドライブ
を線速度一定で高速記録させて記録を行う方法がある
が、このときＣＡＶ再生されているＣＤ−ＲＯＭドライ
ブの線速度は、外周側では３２倍速位あっても内周側で
は１６倍速位しかなく、内周側の再生時にデータ転送が
間に合わなくなり、いわゆるバッファアンダーランが生
じて書き込みが失敗することがある。
【０００５】これら本番の記録時の問題を解決する方法
として、ＣＤ−Ｒ（ＲＷ）の記録を、図２に示すよう
に、内周側はＣＡＶで行い、外周側はＣＬＶで行う方法
が考えられている。すなわち、プログラム領域の最内周
位置で線速度が例えば１２倍速に相当する回転数でＣＡ
Ｖ記録を開始し、この回転数で線速度が例えば１６倍速
に達したら、以後１６倍速でＣＬＶ記録を行う。このよ
うにＣＡＶ記録とＣＬＶ記録を切り換えることにより、
最大回転数が抑えれられて自励振動が抑制され、かつオ
ンザフライ書き込みの失敗が防止される。
として、ＣＤ−Ｒ（ＲＷ）の記録を、図２に示すよう
に、内周側はＣＡＶで行い、外周側はＣＬＶで行う方法
が考えられている。すなわち、プログラム領域の最内周
位置で線速度が例えば１２倍速に相当する回転数でＣＡ
Ｖ記録を開始し、この回転数で線速度が例えば１６倍速
に達したら、以後１６倍速でＣＬＶ記録を行う。このよ
うにＣＡＶ記録とＣＬＶ記録を切り換えることにより、
最大回転数が抑えれられて自励振動が抑制され、かつオ
ンザフライ書き込みの失敗が防止される。
【０００６】このようにＣＡＶ記録とＣＬＶ記録を切り
換えて記録を行う方法では、ＣＡＶ記録時に線速度が変
化するため、記録レーザ光の最適記録パワーが順次変化
する。このため、本番の記録に先立ってテスト記録で行
われるＯＰＣを、例えば該ＣＡＶ記録の線速度初期値
（最低線速度）と線速度最終値（最高線速度）について
それぞれ行って、これら両線速度における最適記録パワ
ーを求める。本願の記録時には、ＣＡＶ記録を行う領域
では、各位置の記録パワーを、該各位置の線速度に応じ
て、前記線速度初期値および線速度最終値について求め
られた最適記録パワーを内挿して求めてその値に制御
し、ＣＬＶ記録を行う領域では、ＣＡＶ記録の線速度最
終値における最適記録パワーを維持して記録を行う。こ
のようにＣＡＶ記録とＣＬＶ記録を切り換えて記録を行
う方法では、ＯＰＣをディスク最内周のＰＣＡ領域で行
うと、線速度最終値でのＯＰＣを高い回転数で行わなけ
ればならなくなり、内周側をＣＡＶ記録にして最大回転
数を抑えるようにした意味が失われる。
換えて記録を行う方法では、ＣＡＶ記録時に線速度が変
化するため、記録レーザ光の最適記録パワーが順次変化
する。このため、本番の記録に先立ってテスト記録で行
われるＯＰＣを、例えば該ＣＡＶ記録の線速度初期値
（最低線速度）と線速度最終値（最高線速度）について
それぞれ行って、これら両線速度における最適記録パワ
ーを求める。本願の記録時には、ＣＡＶ記録を行う領域
では、各位置の記録パワーを、該各位置の線速度に応じ
て、前記線速度初期値および線速度最終値について求め
られた最適記録パワーを内挿して求めてその値に制御
し、ＣＬＶ記録を行う領域では、ＣＡＶ記録の線速度最
終値における最適記録パワーを維持して記録を行う。こ
のようにＣＡＶ記録とＣＬＶ記録を切り換えて記録を行
う方法では、ＯＰＣをディスク最内周のＰＣＡ領域で行
うと、線速度最終値でのＯＰＣを高い回転数で行わなけ
ればならなくなり、内周側をＣＡＶ記録にして最大回転
数を抑えるようにした意味が失われる。
【０００７】この発明は上述の点に鑑みてなされたもの
で、テスト記録で光ビームの適正な記録パワーを高精度
に求めて、本番の記録を高品位に行えるようにした光デ
ィスク記録方法および記録装置並びに光ディスクを提供
しようとするものである。
で、テスト記録で光ビームの適正な記録パワーを高精度
に求めて、本番の記録を高品位に行えるようにした光デ
ィスク記録方法および記録装置並びに光ディスクを提供
しようとするものである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】この発明の光ディスク記
録方法は、光ディスクの本番の記録に先立ち、該光ディ
スクのプログラム領域よりも外周側の外周側テスト領域
で、所定の線速度に制御して記録パワーを順次変化させ
て行うテスト記録を複数回繰り返し行い、該外周側テス
ト領域での複数回のテスト記録の再生信号に基づき、該
線速度における適正な記録パワー値を求め、前記光ディ
スクの本番の記録時に、前記所定の線速度で前記適正な
記録パワー値に制御し、または別の線速度で前記適正な
記録パワー値に基づき求められる適正な記録パワー値に
制御して記録を行うものである。
録方法は、光ディスクの本番の記録に先立ち、該光ディ
スクのプログラム領域よりも外周側の外周側テスト領域
で、所定の線速度に制御して記録パワーを順次変化させ
て行うテスト記録を複数回繰り返し行い、該外周側テス
ト領域での複数回のテスト記録の再生信号に基づき、該
線速度における適正な記録パワー値を求め、前記光ディ
スクの本番の記録時に、前記所定の線速度で前記適正な
記録パワー値に制御し、または別の線速度で前記適正な
記録パワー値に基づき求められる適正な記録パワー値に
制御して記録を行うものである。
【０００９】この発明の光ディスク記録方法によれば、
光ディスクのプログラム領域よりも外周側の外周側テス
ト領域でテスト記録を行うようにしたので、線速度が高
い場合でも比較的低い回転数でテスト記録を行うことが
できる。したがって、ドライブの振動を抑制して、テス
ト記録を正確に行って、該線速度での適正記録パワーを
高精度に求めることができる。また、ディスクの外周側
の部分はユーザのハンドリングによって傷や指紋が付き
やすく、その影響で適正記録パワーの測定に誤差が生じ
る可能性がある。そこで、この発明の記録方法では、外
周側テスト領域でのテスト記録を複数回繰り返し行い、
該外周側テスト領域での複数回のテスト記録の再生信号
に基づき、該線速度における適正な記録パワー値を求め
るようにしている。これにより、外周側テスト領域での
適正記録パワーの測定をより高精度化している。
光ディスクのプログラム領域よりも外周側の外周側テス
ト領域でテスト記録を行うようにしたので、線速度が高
い場合でも比較的低い回転数でテスト記録を行うことが
できる。したがって、ドライブの振動を抑制して、テス
ト記録を正確に行って、該線速度での適正記録パワーを
高精度に求めることができる。また、ディスクの外周側
の部分はユーザのハンドリングによって傷や指紋が付き
やすく、その影響で適正記録パワーの測定に誤差が生じ
る可能性がある。そこで、この発明の記録方法では、外
周側テスト領域でのテスト記録を複数回繰り返し行い、
該外周側テスト領域での複数回のテスト記録の再生信号
に基づき、該線速度における適正な記録パワー値を求め
るようにしている。これにより、外周側テスト領域での
適正記録パワーの測定をより高精度化している。
【００１０】この発明の記録方法では、例えば前記外周
側テスト領域での複数回のテスト記録の再生信号に基づ
き、再生信号品位に関する所定のパラメータが適正値と
なる記録パワー値を各回のテスト記録ごとに求め、該各
回のテスト記録ごとに求められた記録パワー値に基づき
前記所定の線速度における適正な記録パワー値を求める
ことができる。その場合、例えば前記外周側テスト領域
での複数回のテスト記録ごとに求められた記録パワー値
のうち異常値を除外して残りの平均値を求めて、該値を
前記所定の線速度における適正な記録パワー値として求
めることができる。
側テスト領域での複数回のテスト記録の再生信号に基づ
き、再生信号品位に関する所定のパラメータが適正値と
なる記録パワー値を各回のテスト記録ごとに求め、該各
回のテスト記録ごとに求められた記録パワー値に基づき
前記所定の線速度における適正な記録パワー値を求める
ことができる。その場合、例えば前記外周側テスト領域
での複数回のテスト記録ごとに求められた記録パワー値
のうち異常値を除外して残りの平均値を求めて、該値を
前記所定の線速度における適正な記録パワー値として求
めることができる。
【００１１】また、傷や指紋がある箇所では、再生信号
品位に関する所定のパラメータが適正値となる記録パワ
ー値は高くなる。また、ディスク外周側は内周側に比べ
て面振れの影響が大きく、該面振れによりディスク面と
光ビーム光軸とのなす角度が直角からずれると、再生信
号品位に関する所定のパラメータが適正値となる記録パ
ワー値は高くなる。そこで、平均値を求めるのに代え
て、前記外周側テスト領域での複数回のテスト記録ごと
に求められた記録パワー値のうち最小値を求めて、該値
を前記所定の線速度における適正な記録パワー値として
求めることもできる。
品位に関する所定のパラメータが適正値となる記録パワ
ー値は高くなる。また、ディスク外周側は内周側に比べ
て面振れの影響が大きく、該面振れによりディスク面と
光ビーム光軸とのなす角度が直角からずれると、再生信
号品位に関する所定のパラメータが適正値となる記録パ
ワー値は高くなる。そこで、平均値を求めるのに代え
て、前記外周側テスト領域での複数回のテスト記録ごと
に求められた記録パワー値のうち最小値を求めて、該値
を前記所定の線速度における適正な記録パワー値として
求めることもできる。
【００１２】また、前記外周側テスト領域での複数回の
テスト記録を、前記光ディスクの周方向に順次ずらした
領域で行うことにより、複数回の測定で毎回同じ傷や指
紋の影響を受けるのを防止することができる。また、前
記外周側テスト領域は、例えばインフォメーション領域
の外周側の部分のうち、プログラム領域の最大可能外周
位置から所定のリードアウト領域分を確保した残りの領
域に設定することができる。
テスト記録を、前記光ディスクの周方向に順次ずらした
領域で行うことにより、複数回の測定で毎回同じ傷や指
紋の影響を受けるのを防止することができる。また、前
記外周側テスト領域は、例えばインフォメーション領域
の外周側の部分のうち、プログラム領域の最大可能外周
位置から所定のリードアウト領域分を確保した残りの領
域に設定することができる。
【００１３】この発明の光ディスク記録方法は、光ディ
スクを、適宜の径方向位置を境に、その内周側で回転速
度一定に制御し、外周側で該回転速度一定制御における
線速度最終値で線速度一定に制御して本番の記録を行う
光ディスク記録方法において、前記光ディスクの本番の
記録に先立ち、該光ディスクのプログラム領域よりも内
周側の内周側テスト領域で、前記回転速度一定制御記録
における線速度初期値で線速度一定に制御し記録パワー
を順次変化させてテスト記録を１回行い、かつ該光ディ
スクの前記プログラム領域よりも外周側の外周側テスト
領域で、前記回転速度一定制御記録における線速度最終
値で線速度一定に制御し記録パワーを順次変化させてテ
スト記録を複数回繰り返し行い、前記内周側テスト領域
での１回のテスト記録の再生信号に基づき、再生信号品
位に関する所定のパラメータが適正値となる記録パワー
値を求めて、該値を前記回転速度一定制御記録の線速度
初期値における記録パワー値として設定し、前記外周側
テスト領域での複数回のテスト記録の再生信号に基づ
き、前記パラメータが適正値となる記録パワー値を各回
のテスト記録ごとに求め、該各回のテスト記録ごとに求
められた記録パワー値に基づき適正な記録パワー値を求
めて、該値を前記回転速度一定制御記録の線速度最終値
および前記線速度一定制御記録における記録パワー値と
して設定し、前記光ディスクの本番の記録時に、前記回
転速度一定制御記録を行う領域では、記録パワー値を、
各位置の線速度に応じて、前記線速度初期値における記
録パワー値として設定された値と前記線速度最終値にお
ける記録パワー値として設定された値を内挿して求めて
その値に制御し、前記線速度一定制御記録を行う領域で
は、記録パワー値を前記線速度一定制御記録における記
録パワー値として設定された値に制御して記録を行うも
のである。
スクを、適宜の径方向位置を境に、その内周側で回転速
度一定に制御し、外周側で該回転速度一定制御における
線速度最終値で線速度一定に制御して本番の記録を行う
光ディスク記録方法において、前記光ディスクの本番の
記録に先立ち、該光ディスクのプログラム領域よりも内
周側の内周側テスト領域で、前記回転速度一定制御記録
における線速度初期値で線速度一定に制御し記録パワー
を順次変化させてテスト記録を１回行い、かつ該光ディ
スクの前記プログラム領域よりも外周側の外周側テスト
領域で、前記回転速度一定制御記録における線速度最終
値で線速度一定に制御し記録パワーを順次変化させてテ
スト記録を複数回繰り返し行い、前記内周側テスト領域
での１回のテスト記録の再生信号に基づき、再生信号品
位に関する所定のパラメータが適正値となる記録パワー
値を求めて、該値を前記回転速度一定制御記録の線速度
初期値における記録パワー値として設定し、前記外周側
テスト領域での複数回のテスト記録の再生信号に基づ
き、前記パラメータが適正値となる記録パワー値を各回
のテスト記録ごとに求め、該各回のテスト記録ごとに求
められた記録パワー値に基づき適正な記録パワー値を求
めて、該値を前記回転速度一定制御記録の線速度最終値
および前記線速度一定制御記録における記録パワー値と
して設定し、前記光ディスクの本番の記録時に、前記回
転速度一定制御記録を行う領域では、記録パワー値を、
各位置の線速度に応じて、前記線速度初期値における記
録パワー値として設定された値と前記線速度最終値にお
ける記録パワー値として設定された値を内挿して求めて
その値に制御し、前記線速度一定制御記録を行う領域で
は、記録パワー値を前記線速度一定制御記録における記
録パワー値として設定された値に制御して記録を行うも
のである。
【００１４】この発明の記録方法によれば、光ディスク
のプログラム領域よりも内周側の内周側テスト領域で、
回転速度一定制御記録における線速度初期値で線速度一
定に制御し記録パワーを順次変化させてテスト記録を行
い、該光ディスクのプログラム領域よりも外周側の外周
側テスト領域で、回転速度一定制御記録における線速度
最終値で線速度一定に制御し記録パワーを順次変化させ
てテスト記録を行うようにしたので、線速度最終値での
テスト記録を比較的低い回転数で行うことができる。し
たがって、線速度最終値でのテスト記録を正確に行っ
て、該線速度最終値での適正記録パワーを高精度に求め
て、本番の記録時に各径方向位置で適正な記録パワーに
制御して記録を行うことができる。また、ディスクの外
周側の部分はユーザのハンドリングによって傷や指紋が
付きやすく、その影響で適正記録パワーの測定に誤差が
生じる可能性がある。そこで、この発明の記録方法で
は、外周側テスト領域でのテスト記録を複数回繰り返し
行い、各回のテスト記録ごとに求められた記録パワー値
に基づき適正な記録パワー値を求めて、該値を回転速度
一定制御記録の線速度最終値および前記線速度一定制御
記録における記録パワー値として設定するようにしてい
る。これにより、外周側テスト領域での適正記録パワー
の測定をより高精度化している。
のプログラム領域よりも内周側の内周側テスト領域で、
回転速度一定制御記録における線速度初期値で線速度一
定に制御し記録パワーを順次変化させてテスト記録を行
い、該光ディスクのプログラム領域よりも外周側の外周
側テスト領域で、回転速度一定制御記録における線速度
最終値で線速度一定に制御し記録パワーを順次変化させ
てテスト記録を行うようにしたので、線速度最終値での
テスト記録を比較的低い回転数で行うことができる。し
たがって、線速度最終値でのテスト記録を正確に行っ
て、該線速度最終値での適正記録パワーを高精度に求め
て、本番の記録時に各径方向位置で適正な記録パワーに
制御して記録を行うことができる。また、ディスクの外
周側の部分はユーザのハンドリングによって傷や指紋が
付きやすく、その影響で適正記録パワーの測定に誤差が
生じる可能性がある。そこで、この発明の記録方法で
は、外周側テスト領域でのテスト記録を複数回繰り返し
行い、各回のテスト記録ごとに求められた記録パワー値
に基づき適正な記録パワー値を求めて、該値を回転速度
一定制御記録の線速度最終値および前記線速度一定制御
記録における記録パワー値として設定するようにしてい
る。これにより、外周側テスト領域での適正記録パワー
の測定をより高精度化している。
【００１５】この発明の記録方法では、例えば前記外周
側テスト領域での複数回のテスト記録ごとに求められた
記録パワー値のうち異常値を除外して残りの平均値を求
めて、該値を前記回転速度一定制御記録の線速度最終値
および前記線速度一定制御記録における記録パワー値と
して設定することができる。また例えば、前記外周側テ
スト領域での複数回のテスト記録ごとに求められた記録
パワー値のうち最小値を求めて、該値を前記回転速度一
定制御記録の線速度最終値および前記線速度一定制御記
録における記録パワー値として設定することもできる。
また、前記外周側テスト領域での複数回のテスト記録
を、前記光ディスクの周方向に順次ずらした領域で行う
ことにより、複数回の測定で毎回同じ傷や指紋の影響を
受けるのを防止することができる。また、外周側テスト
領域は、例えばインフォメーション領域の外周側の部分
のうち、プログラム領域の最大可能外周位置から所定の
リードアウト領域分を確保した残りの領域に設定するこ
とができる。
側テスト領域での複数回のテスト記録ごとに求められた
記録パワー値のうち異常値を除外して残りの平均値を求
めて、該値を前記回転速度一定制御記録の線速度最終値
および前記線速度一定制御記録における記録パワー値と
して設定することができる。また例えば、前記外周側テ
スト領域での複数回のテスト記録ごとに求められた記録
パワー値のうち最小値を求めて、該値を前記回転速度一
定制御記録の線速度最終値および前記線速度一定制御記
録における記録パワー値として設定することもできる。
また、前記外周側テスト領域での複数回のテスト記録
を、前記光ディスクの周方向に順次ずらした領域で行う
ことにより、複数回の測定で毎回同じ傷や指紋の影響を
受けるのを防止することができる。また、外周側テスト
領域は、例えばインフォメーション領域の外周側の部分
のうち、プログラム領域の最大可能外周位置から所定の
リードアウト領域分を確保した残りの領域に設定するこ
とができる。
【００１６】この発明の光ディスク記録装置は、光ディ
スクを、適宜の径方向位置を境に、その内周側で回転速
度一定に制御し、外周側で該回転速度一定制御における
線速度最終値で線速度一定に制御して本番の記録を行う
光ディスク記録装置であって、前記光ディスクを回転駆
動するディスクサーボと、該光ディスクに光ビームを照
射して記録および再生を行う光ピックアップと、該光ピ
ックアップから出射する光ビームのパワーを制御する光
パワー制御部と、該光ピックアップで検出される再生信
号に基づき、再生信号品位に関する所定のパラメータ値
を求める信号品位検出部と、システム制御部とを具備
し、該システム制御部は、前記光ディスクの本番の記録
に先立ち、該光ディスクのプログラム領域よりも内周側
の内周側テスト領域で、前記回転速度一定制御記録にお
ける線速度初期値で線速度一定に制御し記録パワーを順
次変化させてテスト記録を１回行い、かつ該光ディスク
の前記プログラム領域よりも外周側の外周側テスト領域
で、前記回転速度一定制御記録における線速度最終値で
線速度一定に制御し記録パワーを順次変化させてテスト
記録を複数回繰り返し行い、前記内周側テスト領域での
１回のテスト記録の再生信号に基づき、再生信号品位に
関する所定のパラメータが適正値となる記録パワー値を
求めて、該値を前記回転速度一定制御記録の線速度初期
値における記録パワー値として設定し、前記外周側テス
ト領域での複数回のテスト記録の再生信号に基づき、前
記パラメータが適正値となる記録パワー値を各回のテス
ト記録ごとに求め、該各回のテスト記録ごとに求められ
た記録パワー値に基づき適正な記録パワー値を求めて、
該値を前記回転速度一定制御記録の線速度最終値および
前記線速度一定制御記録における記録パワー値として設
定し、前記光ディスクの本番の記録時に、前記回転速度
一定制御記録を行う領域では、記録パワー値を、各位置
の線速度に応じて、前記線速度初期値における記録パワ
ー値として設定された値と前記線速度最終値における記
録パワー値として設定された値を内挿して求めてその値
に制御し、前記線速度一定制御記録を行う領域では、記
録パワー値を前記線速度一定制御記録における記録パワ
ー値として設定された値に制御するものである。
スクを、適宜の径方向位置を境に、その内周側で回転速
度一定に制御し、外周側で該回転速度一定制御における
線速度最終値で線速度一定に制御して本番の記録を行う
光ディスク記録装置であって、前記光ディスクを回転駆
動するディスクサーボと、該光ディスクに光ビームを照
射して記録および再生を行う光ピックアップと、該光ピ
ックアップから出射する光ビームのパワーを制御する光
パワー制御部と、該光ピックアップで検出される再生信
号に基づき、再生信号品位に関する所定のパラメータ値
を求める信号品位検出部と、システム制御部とを具備
し、該システム制御部は、前記光ディスクの本番の記録
に先立ち、該光ディスクのプログラム領域よりも内周側
の内周側テスト領域で、前記回転速度一定制御記録にお
ける線速度初期値で線速度一定に制御し記録パワーを順
次変化させてテスト記録を１回行い、かつ該光ディスク
の前記プログラム領域よりも外周側の外周側テスト領域
で、前記回転速度一定制御記録における線速度最終値で
線速度一定に制御し記録パワーを順次変化させてテスト
記録を複数回繰り返し行い、前記内周側テスト領域での
１回のテスト記録の再生信号に基づき、再生信号品位に
関する所定のパラメータが適正値となる記録パワー値を
求めて、該値を前記回転速度一定制御記録の線速度初期
値における記録パワー値として設定し、前記外周側テス
ト領域での複数回のテスト記録の再生信号に基づき、前
記パラメータが適正値となる記録パワー値を各回のテス
ト記録ごとに求め、該各回のテスト記録ごとに求められ
た記録パワー値に基づき適正な記録パワー値を求めて、
該値を前記回転速度一定制御記録の線速度最終値および
前記線速度一定制御記録における記録パワー値として設
定し、前記光ディスクの本番の記録時に、前記回転速度
一定制御記録を行う領域では、記録パワー値を、各位置
の線速度に応じて、前記線速度初期値における記録パワ
ー値として設定された値と前記線速度最終値における記
録パワー値として設定された値を内挿して求めてその値
に制御し、前記線速度一定制御記録を行う領域では、記
録パワー値を前記線速度一定制御記録における記録パワ
ー値として設定された値に制御するものである。
【００１７】この発明の記録装置では、例えば前記シス
テム制御部が、前記外周側テスト領域での複数回のテス
ト記録ごとに求められた記録パワー値のうち異常値を除
外して残りの平均値を求めて、該値を前記回転速度一定
制御記録の線速度最終値および前記線速度一定制御記録
における記録パワー値として設定することができる。ま
た例えば、前記システム制御部が、前記外周側テスト領
域での複数回のテスト記録ごとに求められた記録パワー
値のうち最小値を求めて、該値を前記回転速度一定制御
記録の線速度最終値および前記線速度一定制御記録にお
ける記録パワー値として設定することもできる。また、
前記システム制御部が、前記外周側テスト領域での複数
回のテスト記録を、前記光ディスクの周方向に順次ずら
した領域で行うことにより、複数回の測定で毎回同じ傷
や指紋の影響を受けるのを防止することができる。ま
た、前記システム制御部は、前記外周側テスト領域を、
例えばインフォメーション領域の外周側の部分のうち、
プログラム領域の最大可能外周位置から所定のリードア
ウト領域分を確保した残りの領域に設定することができ
る。
テム制御部が、前記外周側テスト領域での複数回のテス
ト記録ごとに求められた記録パワー値のうち異常値を除
外して残りの平均値を求めて、該値を前記回転速度一定
制御記録の線速度最終値および前記線速度一定制御記録
における記録パワー値として設定することができる。ま
た例えば、前記システム制御部が、前記外周側テスト領
域での複数回のテスト記録ごとに求められた記録パワー
値のうち最小値を求めて、該値を前記回転速度一定制御
記録の線速度最終値および前記線速度一定制御記録にお
ける記録パワー値として設定することもできる。また、
前記システム制御部が、前記外周側テスト領域での複数
回のテスト記録を、前記光ディスクの周方向に順次ずら
した領域で行うことにより、複数回の測定で毎回同じ傷
や指紋の影響を受けるのを防止することができる。ま
た、前記システム制御部は、前記外周側テスト領域を、
例えばインフォメーション領域の外周側の部分のうち、
プログラム領域の最大可能外周位置から所定のリードア
ウト領域分を確保した残りの領域に設定することができ
る。
【００１８】この発明の光ディスクは、プログラム領域
よりも内周側に内周側テスト領域を形成し、該プログラ
ム領域よりも外周側に前記内周側テスト領域よりも広い
領域の外周側テスト領域を形成したものである。これに
よれば、内周側テスト領域での１回のテスト記録と外周
側テスト領域での複数回のテスト記録を行う１組のＯＰ
Ｃを所要回数分実行することができる。
よりも内周側に内周側テスト領域を形成し、該プログラ
ム領域よりも外周側に前記内周側テスト領域よりも広い
領域の外周側テスト領域を形成したものである。これに
よれば、内周側テスト領域での１回のテスト記録と外周
側テスト領域での複数回のテスト記録を行う１組のＯＰ
Ｃを所要回数分実行することができる。
【００１９】
【発明の実施の形態】この発明の実施の形態を以下説明
する。はじめに、この発明による線速度一定記録型光デ
ィスクの領域分割例を図３に示す。これは、ＣＤ−Ｒ
（ＲＷ）規格のディスクのインフォメーション領域１６
の外周側の部分にテスト領域を設定したものである。光
ディスク１０の直径４６〜５０ｍｍの区間がリードイン
領域１４として用意され、それよりも内周側に内周側Ｐ
ＣＡ領域１２が用意されている。内周側ＰＣＡ領域１２
は、テスト領域１２ａとカウント領域１２ｂで構成され
ている。テスト領域１２ａにはＯＰＣのテスト記録が行
われる。このテスト記録は、例えば１回のテスト記録を
記録パワーを１５段階に変化させて行い、１つの記録パ
ワーにつき１サブコードフレーム分（これに限らない）
のＥＦＭ信号を記録し、合計１５サブコードフレーム分
のＥＦＭ信号を記録して行われる。テスト領域１２ａに
は、このテスト記録を例えば１００回分（１回のＯＰＣ
でテスト記録を１回行うので、ＯＰＣ１００回分）行う
容量（例えば１５００サブコードフレーム）が割り当て
られている。カウント領域１２ｂにはＯＰＣが行われる
ごとに１サブコードフレーム分のＥＦＭ信号が記録され
る。カウント領域１２ｂには、テスト領域１２ａと同じ
ＯＰＣ回数分の容量（例えばＯＰＣ１００回分であれ
ば、１００サブコードフレーム）が割り当てられてい
る。ＯＰＣを行う際には、予めカウント領域１２ｂのＥ
ＦＭ信号がどこまで記録されているかを検出して、今回
のテスト記録をテスト領域１２ａ内のどこから行うべき
かが判断される。
する。はじめに、この発明による線速度一定記録型光デ
ィスクの領域分割例を図３に示す。これは、ＣＤ−Ｒ
（ＲＷ）規格のディスクのインフォメーション領域１６
の外周側の部分にテスト領域を設定したものである。光
ディスク１０の直径４６〜５０ｍｍの区間がリードイン
領域１４として用意され、それよりも内周側に内周側Ｐ
ＣＡ領域１２が用意されている。内周側ＰＣＡ領域１２
は、テスト領域１２ａとカウント領域１２ｂで構成され
ている。テスト領域１２ａにはＯＰＣのテスト記録が行
われる。このテスト記録は、例えば１回のテスト記録を
記録パワーを１５段階に変化させて行い、１つの記録パ
ワーにつき１サブコードフレーム分（これに限らない）
のＥＦＭ信号を記録し、合計１５サブコードフレーム分
のＥＦＭ信号を記録して行われる。テスト領域１２ａに
は、このテスト記録を例えば１００回分（１回のＯＰＣ
でテスト記録を１回行うので、ＯＰＣ１００回分）行う
容量（例えば１５００サブコードフレーム）が割り当て
られている。カウント領域１２ｂにはＯＰＣが行われる
ごとに１サブコードフレーム分のＥＦＭ信号が記録され
る。カウント領域１２ｂには、テスト領域１２ａと同じ
ＯＰＣ回数分の容量（例えばＯＰＣ１００回分であれ
ば、１００サブコードフレーム）が割り当てられてい
る。ＯＰＣを行う際には、予めカウント領域１２ｂのＥ
ＦＭ信号がどこまで記録されているかを検出して、今回
のテスト記録をテスト領域１２ａ内のどこから行うべき
かが判断される。
【００２０】リードイン領域１４の外周側にはプログラ
ム領域１８が用意され、該プログラム領域１８の最大可
能外周位置１８ｅに隣接してその外周側に残余領域２０
が用意されている。インフォメーション領域１６全体の
トラック（プリグルーブ）のウォブルには、ＡＴＩＰ情
報として、時間情報が記録されている。ＡＴＩＰ時間情
報は、プログラム領域１８の開始位置を基点として、そ
の外周側ではインフォメーション領域１６の外周側端部
まで連続した（単純に増加する）値が記録され、内周側
ではインフォメーション領域１６の内周側端部まで連続
した（単純に減少する）値が記録されている。リードア
ウト領域はプログラム領域１８の終端部（記録を閉じた
位置）の直後に形成される。プログラム領域１８が最大
可能外周位置１８ｅ付近まで形成（記録）された場合に
は、リードアウト領域はその外側の残余領域２０まで入
り込んで形成されることになる。リードアウト領域は最
低１．５分の容量を確保する必要があり、残余領域２０
からこのリードアウト領域分を除いた残りの領域を外周
側ＰＣＡ領域２２として利用する。外周側ＰＣＡ領域２
２は内周側ＰＣＡ領域１２よりも広い領域が確保されて
いる。既存のＣＤ−Ｒ（ＲＷ）ディスクにおいても、残
余領域２０は４〜５分程度存在するので、外周側ＰＣＡ
領域２２を十分広く確保することができる。なお、既存
のＣＤ−Ｒ（ＲＷ）ディスクを用いるほか、内周側ＰＣ
Ａ領域１２および外周側ＰＣＡ領域２２を形成した専用
の光ディスクとして構成したものを用いることもでき
る。
ム領域１８が用意され、該プログラム領域１８の最大可
能外周位置１８ｅに隣接してその外周側に残余領域２０
が用意されている。インフォメーション領域１６全体の
トラック（プリグルーブ）のウォブルには、ＡＴＩＰ情
報として、時間情報が記録されている。ＡＴＩＰ時間情
報は、プログラム領域１８の開始位置を基点として、そ
の外周側ではインフォメーション領域１６の外周側端部
まで連続した（単純に増加する）値が記録され、内周側
ではインフォメーション領域１６の内周側端部まで連続
した（単純に減少する）値が記録されている。リードア
ウト領域はプログラム領域１８の終端部（記録を閉じた
位置）の直後に形成される。プログラム領域１８が最大
可能外周位置１８ｅ付近まで形成（記録）された場合に
は、リードアウト領域はその外側の残余領域２０まで入
り込んで形成されることになる。リードアウト領域は最
低１．５分の容量を確保する必要があり、残余領域２０
からこのリードアウト領域分を除いた残りの領域を外周
側ＰＣＡ領域２２として利用する。外周側ＰＣＡ領域２
２は内周側ＰＣＡ領域１２よりも広い領域が確保されて
いる。既存のＣＤ−Ｒ（ＲＷ）ディスクにおいても、残
余領域２０は４〜５分程度存在するので、外周側ＰＣＡ
領域２２を十分広く確保することができる。なお、既存
のＣＤ−Ｒ（ＲＷ）ディスクを用いるほか、内周側ＰＣ
Ａ領域１２および外周側ＰＣＡ領域２２を形成した専用
の光ディスクとして構成したものを用いることもでき
る。
【００２１】外周側ＰＣＡ領域２２は、テスト領域２２
ａとカウント領域２２ｂで構成されている。図３の例で
は、カウント領域２２ｂが内周側、テスト領域２２ａが
外周側に配置されているが、これとは逆に、カウント領
域２２ｂが外周側、テスト領域２２ａが内周側に配置さ
れていてもよい。テスト領域２２ａではＯＰＣのテスト
記録が行われる。このテスト記録は、例えば１回のテス
ト記録を記録パワーを１５段階に変化させて行い、１つ
の記録パワーにつき１サブコードフレーム分のＥＦＭ信
号を記録し、合計１５サブコードフレーム分のＥＦＭ信
号を記録して行われる。テスト領域２２ａには、ＯＰＣ
を内周側テスト領域１２ａと同じ回数分行える容量が割
り当てられている。例えば、ＯＰＣを１００回分とし、
１回のＯＰＣでテスト記録を４回繰り返し行う場合に
は、合計でテスト記録を４００回行う容量（例えば６０
００サブコードフレーム）がテスト領域２２ａに割り当
られる。カウント領域２２ｂにはテスト記録が行われる
ごとに１サブコードフレーム分のＥＦＭ信号が記録され
る。カウント領域２２ｂには、テスト領域２２ａと同じ
ＯＰＣ回数分の容量（例えばＯＰＣ１００回分で、１回
のＯＰＣにつき４回のテスト記録を行う場合には、４０
０サブコードフレーム）が割り当てられている。ＯＰＣ
を行う際には、予めカウント領域２２ｂのＥＦＭ信号が
どこまで記録されているかを検出して、今回のテスト記
録をテスト領域２２ａ内のどこから行うべきかが判断さ
れる。
ａとカウント領域２２ｂで構成されている。図３の例で
は、カウント領域２２ｂが内周側、テスト領域２２ａが
外周側に配置されているが、これとは逆に、カウント領
域２２ｂが外周側、テスト領域２２ａが内周側に配置さ
れていてもよい。テスト領域２２ａではＯＰＣのテスト
記録が行われる。このテスト記録は、例えば１回のテス
ト記録を記録パワーを１５段階に変化させて行い、１つ
の記録パワーにつき１サブコードフレーム分のＥＦＭ信
号を記録し、合計１５サブコードフレーム分のＥＦＭ信
号を記録して行われる。テスト領域２２ａには、ＯＰＣ
を内周側テスト領域１２ａと同じ回数分行える容量が割
り当てられている。例えば、ＯＰＣを１００回分とし、
１回のＯＰＣでテスト記録を４回繰り返し行う場合に
は、合計でテスト記録を４００回行う容量（例えば６０
００サブコードフレーム）がテスト領域２２ａに割り当
られる。カウント領域２２ｂにはテスト記録が行われる
ごとに１サブコードフレーム分のＥＦＭ信号が記録され
る。カウント領域２２ｂには、テスト領域２２ａと同じ
ＯＰＣ回数分の容量（例えばＯＰＣ１００回分で、１回
のＯＰＣにつき４回のテスト記録を行う場合には、４０
０サブコードフレーム）が割り当てられている。ＯＰＣ
を行う際には、予めカウント領域２２ｂのＥＦＭ信号が
どこまで記録されているかを検出して、今回のテスト記
録をテスト領域２２ａ内のどこから行うべきかが判断さ
れる。
【００２２】この発明の光ディスク記録装置の実施の形
態を図４に示す。光ディスク１０はスピンドルモータ２
４で回転駆動される。スピンドルモータ２４の回転数は
周波数発生器２６で検出される。光ピックアップ２８
は、光ディスク１０にレーザ光を照射して、情報の記録
および再生を行う。光ピックアップ２８の戻り光受光信
号（ＥＦＭ信号）は、ＲＦアンプ３０に供給される。ア
ドレス検出回路３２はＥＦＭ信号からウォブル信号成分
を抽出し、さらにこのウォブル信号成分に含まれるＡＴ
ＩＰ情報を復号する。ＡＴＩＰ情報には、各位置の時間
情報（アドレス情報）が含まれている。β検出回路３４
は、ＥＦＭ信号波形から再生信号品位に関するパラメー
タとしてβ（アシンメトリ）値を算出する。エンベロー
プ検出回路３６はＥＦＭ信号のエンベロープを検出す
る。このエンベロープ検出は、ＯＰＣを行う際に、予め
カウント領域１２ｂ、２２ｂ（図３）のどこまでＥＦＭ
信号が記録されているかを検出するのに用いられる。デ
コーダ３８はＥＦＭ信号をＥＦＭ復調して再生データを
得る。
態を図４に示す。光ディスク１０はスピンドルモータ２
４で回転駆動される。スピンドルモータ２４の回転数は
周波数発生器２６で検出される。光ピックアップ２８
は、光ディスク１０にレーザ光を照射して、情報の記録
および再生を行う。光ピックアップ２８の戻り光受光信
号（ＥＦＭ信号）は、ＲＦアンプ３０に供給される。ア
ドレス検出回路３２はＥＦＭ信号からウォブル信号成分
を抽出し、さらにこのウォブル信号成分に含まれるＡＴ
ＩＰ情報を復号する。ＡＴＩＰ情報には、各位置の時間
情報（アドレス情報）が含まれている。β検出回路３４
は、ＥＦＭ信号波形から再生信号品位に関するパラメー
タとしてβ（アシンメトリ）値を算出する。エンベロー
プ検出回路３６はＥＦＭ信号のエンベロープを検出す
る。このエンベロープ検出は、ＯＰＣを行う際に、予め
カウント領域１２ｂ、２２ｂ（図３）のどこまでＥＦＭ
信号が記録されているかを検出するのに用いられる。デ
コーダ３８はＥＦＭ信号をＥＦＭ復調して再生データを
得る。
【００２３】サーボ回路４０はスピンドルモータ２４の
回転制御および光ピックアップ２８のフォーカス、トラ
ッキング、送りの各制御を行う。スピンドルモータ２４
の制御は、径方向位置に応じてＣＡＶ制御とＣＬＶ制御
を切り換えて行う。ＣＡＶ制御は、周波数発生器２６で
検出される回転数が、設定された回転数に一致するよう
にスピンドルモータ２４を制御することにより行われ
る。ＣＬＶ制御は、ＥＦＭ信号から検出されるウォブル
信号が、設定された線速度倍率になるようにスピンドル
モータ２４を制御することにより行われる。レーザドラ
イバ４２は光ピックアップ２８内のレーザ源を駆動す
る。光パワー制御回路４４はレーザドライバ４２を制御
して、記録時（テスト記録時および本番の記録時）およ
び再生時のレーザパワーを制御する。記録データはエン
コーダ４６でＥＦＭ変調され、ストラテジ回路４８で時
間軸が補正処理されて、レーザドライバ４２のレーザ駆
動信号を変調する。この変調されたレーザ駆動信号で光
ピックアップ２８のレーザ源を駆動することにより、情
報の記録が行われる。再生時は、レーザドライバ４２は
光ピックアップ２８のレーザ源を所定の再生パワーで駆
動する。システム制御回路５０（ＣＰＵ）は、この光デ
ィスク記録装置全体を制御する。
回転制御および光ピックアップ２８のフォーカス、トラ
ッキング、送りの各制御を行う。スピンドルモータ２４
の制御は、径方向位置に応じてＣＡＶ制御とＣＬＶ制御
を切り換えて行う。ＣＡＶ制御は、周波数発生器２６で
検出される回転数が、設定された回転数に一致するよう
にスピンドルモータ２４を制御することにより行われ
る。ＣＬＶ制御は、ＥＦＭ信号から検出されるウォブル
信号が、設定された線速度倍率になるようにスピンドル
モータ２４を制御することにより行われる。レーザドラ
イバ４２は光ピックアップ２８内のレーザ源を駆動す
る。光パワー制御回路４４はレーザドライバ４２を制御
して、記録時（テスト記録時および本番の記録時）およ
び再生時のレーザパワーを制御する。記録データはエン
コーダ４６でＥＦＭ変調され、ストラテジ回路４８で時
間軸が補正処理されて、レーザドライバ４２のレーザ駆
動信号を変調する。この変調されたレーザ駆動信号で光
ピックアップ２８のレーザ源を駆動することにより、情
報の記録が行われる。再生時は、レーザドライバ４２は
光ピックアップ２８のレーザ源を所定の再生パワーで駆
動する。システム制御回路５０（ＣＰＵ）は、この光デ
ィスク記録装置全体を制御する。
【００２４】図４の光ディスク記録装置による記録時
（テスト記録時および本番の記録時）の制御について説
明する。図５において、（ａ）は光ディスク１０のプロ
グラム領域１８（図３）に本番の記録をする際の線速度
（倍率）の変化を示し、（ｂ）はその時の記録パワーの
変化を示す。ここでは、ディスクの内周側では、プログ
ラム領域１８の最内周位置での線速度倍率が１２倍速に
相当する回転数でＣＡＶ記録し、その回転数で線速度倍
率が１６倍速に達したら、それ以降リードアウト領域の
最外周位置まで１６倍速でＣＬＶ記録するものとする。
このとき、記録パワーは各線速度における最適記録パワ
ーに制御される。すなわち、ＣＡＶ記録領域では当初の
記録パワー値Ｐ１２ｘから、線速度に応じて記録パワー
は上昇し、ＣＬＶ記録領域ではＣＡＶ記録領域での最終
記録パワー値Ｐ１６ｘに保持される。本番の記録に先立
ち行われるＯＰＣでは、内周側ＰＣＡ領域１２（図３）
で線速度初期値（１２倍速）での最適記録パワー値Ｐ
１２ｘが求められ、次いで外周側ＰＣＡ領域２２で線速
度最終値（１６倍速）での最適記録パワー値Ｐ１６ｘが
求められる（最適記録パワー値Ｐ１２ｘ、Ｐ１６ｘを求
める順序は逆であってもよい。）。
（テスト記録時および本番の記録時）の制御について説
明する。図５において、（ａ）は光ディスク１０のプロ
グラム領域１８（図３）に本番の記録をする際の線速度
（倍率）の変化を示し、（ｂ）はその時の記録パワーの
変化を示す。ここでは、ディスクの内周側では、プログ
ラム領域１８の最内周位置での線速度倍率が１２倍速に
相当する回転数でＣＡＶ記録し、その回転数で線速度倍
率が１６倍速に達したら、それ以降リードアウト領域の
最外周位置まで１６倍速でＣＬＶ記録するものとする。
このとき、記録パワーは各線速度における最適記録パワ
ーに制御される。すなわち、ＣＡＶ記録領域では当初の
記録パワー値Ｐ１２ｘから、線速度に応じて記録パワー
は上昇し、ＣＬＶ記録領域ではＣＡＶ記録領域での最終
記録パワー値Ｐ１６ｘに保持される。本番の記録に先立
ち行われるＯＰＣでは、内周側ＰＣＡ領域１２（図３）
で線速度初期値（１２倍速）での最適記録パワー値Ｐ
１２ｘが求められ、次いで外周側ＰＣＡ領域２２で線速
度最終値（１６倍速）での最適記録パワー値Ｐ１６ｘが
求められる（最適記録パワー値Ｐ１２ｘ、Ｐ１６ｘを求
める順序は逆であってもよい。）。
【００２５】図５のように本番の記録を行う場合の、図
４のシステム制御回路５０によるＯＰＣの制御フローの
一例を図１に示す。線速度倍率初期値として１２倍速、
線速度倍率最終値として１６倍速をそれぞれ設定する
（Ｓ１）。ＯＰＣが開始されると、光ピックアップ２８
は内周側ＰＣＡ領域１２に移動する（Ｓ２）。ここで
は、まずカウント領域１２ｂをトレースし、エンベロー
プ検出回路３６の検出波形に基づきカウント領域１２ｂ
内の記録済み終端部を検出し、ＯＰＣの残り回数をチェ
ックする。そして、検出された残り回数に基づき、テス
ト領域１２ａにおける今回のテスト記録の開始位置を指
定し、その位置に光ビームを位置決めする。その位置で
ウォブル信号に基づき、線速度倍率を初期値（１２倍
速）に制御し、記録パワーを例えば図６に示すように１
サブコードフレームごと１５段階に変化させて（図６の
例では記録パワーを最高値から徐々に低下させている
が、逆に最低値から徐々に増大させることもできる。）
ＥＦＭ信号のテスト記録を１回行う（Ｓ３）。テスト記
録後これを再生して、β検出回路３４で各記録パワーに
おけるアシンメトリ値βを算出する。アシンメトリ値β
は再生ＥＦＭ信号波形のピークレベル（符号は＋）を
ａ、ボトムレベルをｂ（符号は−）とすると（ａ＋ｂ）
／（ａ−ｂ）で求まる。そして、最適とされるアシンメ
トリ値に最も近いアシンメトリ値が得られる記録パワー
を選択して（または、各段階の記録パワーにおけるアシ
ンメトリ値から、最適とされるアシンメトリ値における
記録パワーを補間により求めて）、それを線速度倍率初
期値における最適記録パワー値Ｐ１２ｘとする（Ｓ
４）。最適記録パワー値Ｐ１２ｘが求まったら、カウン
ト領域１２ｂの指定のアドレスに、ＥＦＭ信号を該パワ
ー値Ｐ１２ｘで１サブコードフレーム分１２倍速記録し
て、テスト領域１２ａを１回分使用したことをマーキン
グする。
４のシステム制御回路５０によるＯＰＣの制御フローの
一例を図１に示す。線速度倍率初期値として１２倍速、
線速度倍率最終値として１６倍速をそれぞれ設定する
（Ｓ１）。ＯＰＣが開始されると、光ピックアップ２８
は内周側ＰＣＡ領域１２に移動する（Ｓ２）。ここで
は、まずカウント領域１２ｂをトレースし、エンベロー
プ検出回路３６の検出波形に基づきカウント領域１２ｂ
内の記録済み終端部を検出し、ＯＰＣの残り回数をチェ
ックする。そして、検出された残り回数に基づき、テス
ト領域１２ａにおける今回のテスト記録の開始位置を指
定し、その位置に光ビームを位置決めする。その位置で
ウォブル信号に基づき、線速度倍率を初期値（１２倍
速）に制御し、記録パワーを例えば図６に示すように１
サブコードフレームごと１５段階に変化させて（図６の
例では記録パワーを最高値から徐々に低下させている
が、逆に最低値から徐々に増大させることもできる。）
ＥＦＭ信号のテスト記録を１回行う（Ｓ３）。テスト記
録後これを再生して、β検出回路３４で各記録パワーに
おけるアシンメトリ値βを算出する。アシンメトリ値β
は再生ＥＦＭ信号波形のピークレベル（符号は＋）を
ａ、ボトムレベルをｂ（符号は−）とすると（ａ＋ｂ）
／（ａ−ｂ）で求まる。そして、最適とされるアシンメ
トリ値に最も近いアシンメトリ値が得られる記録パワー
を選択して（または、各段階の記録パワーにおけるアシ
ンメトリ値から、最適とされるアシンメトリ値における
記録パワーを補間により求めて）、それを線速度倍率初
期値における最適記録パワー値Ｐ１２ｘとする（Ｓ
４）。最適記録パワー値Ｐ１２ｘが求まったら、カウン
ト領域１２ｂの指定のアドレスに、ＥＦＭ信号を該パワ
ー値Ｐ１２ｘで１サブコードフレーム分１２倍速記録し
て、テスト領域１２ａを１回分使用したことをマーキン
グする。
【００２６】次いで、光ピックアップ２８は外周側ＰＣ
Ａ領域２２に移動する（Ｓ５）。ここでは、まずカウン
ト領域２２ｂをトレースし、エンベロープ検出回路３６
の検出波形に基づきカウント領域２２ｂ内の記録済み終
端部を検出し、ＯＰＣの残り回数をチェックする。そし
て、検出された残り回数に基づき、テスト領域２２ａに
おける今回のテスト記録の開始位置を指定し、その位置
に光ビームを位置決めする。その位置でウォブル信号に
基づき、線速度倍率を最終値（１６倍速）に制御し、記
録パワーを例えば図６に示すように１サブコードフレー
ムごと１５段階に変化させてＥＦＭ信号のテスト記録を
行う（Ｓ６）。このテスト記録は４回繰り返し行われる
（つまり、図６の動作が４回繰り返される。）。テスト
記録が、ディスク固有の線速度がｖ０の光ディスクにつ
いて、直径ｒの位置で、各回につき１５サブコードフレ
ームずつ行われるとすると、１回のテスト記録当たりの
記録角度θは、次式で与えられる。 θ＝（１５ｖ０／７５・２πｒ）・３６０ これによれば、例えば直径５９mmの位置でテスト記録が
行われたとすると、記録角度θは光ディスクの固有の線
速度ｖ０に応じて、次表のようになる。 光ディスク固有の線速度（ｖ０） 記録角度（θ） １．２ｍ／秒 ２３３度 １．３ｍ／秒 ２５２度 １．４ｍ／秒 ２７２度 図７は、固有の線速度が１．３ｍ／秒の光ディスクにつ
いてテスト記録したときの各回のテスト記録の光ディス
ク周方向の記録範囲（１回当たり２５２度）を示したも
のである。これによれば、記録範囲が順次周方向にずれ
ていくので、４回の測定で毎回同じ傷や指紋の影響を受
けるのが防止される。１．２ｍ／秒の光ディスクや１．
４ｍ／秒の光ディスクでも同様である。
Ａ領域２２に移動する（Ｓ５）。ここでは、まずカウン
ト領域２２ｂをトレースし、エンベロープ検出回路３６
の検出波形に基づきカウント領域２２ｂ内の記録済み終
端部を検出し、ＯＰＣの残り回数をチェックする。そし
て、検出された残り回数に基づき、テスト領域２２ａに
おける今回のテスト記録の開始位置を指定し、その位置
に光ビームを位置決めする。その位置でウォブル信号に
基づき、線速度倍率を最終値（１６倍速）に制御し、記
録パワーを例えば図６に示すように１サブコードフレー
ムごと１５段階に変化させてＥＦＭ信号のテスト記録を
行う（Ｓ６）。このテスト記録は４回繰り返し行われる
（つまり、図６の動作が４回繰り返される。）。テスト
記録が、ディスク固有の線速度がｖ０の光ディスクにつ
いて、直径ｒの位置で、各回につき１５サブコードフレ
ームずつ行われるとすると、１回のテスト記録当たりの
記録角度θは、次式で与えられる。 θ＝（１５ｖ０／７５・２πｒ）・３６０ これによれば、例えば直径５９mmの位置でテスト記録が
行われたとすると、記録角度θは光ディスクの固有の線
速度ｖ０に応じて、次表のようになる。 光ディスク固有の線速度（ｖ０） 記録角度（θ） １．２ｍ／秒 ２３３度 １．３ｍ／秒 ２５２度 １．４ｍ／秒 ２７２度 図７は、固有の線速度が１．３ｍ／秒の光ディスクにつ
いてテスト記録したときの各回のテスト記録の光ディス
ク周方向の記録範囲（１回当たり２５２度）を示したも
のである。これによれば、記録範囲が順次周方向にずれ
ていくので、４回の測定で毎回同じ傷や指紋の影響を受
けるのが防止される。１．２ｍ／秒の光ディスクや１．
４ｍ／秒の光ディスクでも同様である。
【００２７】４回のテスト記録が終了したらこれを再生
して、β検出回路３４で各回ごとに各記録パワーにおけ
るアシンメトリ値βを算出する。そして、４回のテスト
記録ごとに、最適とされるアシンメトリ値に最も近いア
シンメトリ値が得られる記録パワーを選択して求め（ま
たは、各段階の記録パワーにおけるアシンメトリ値か
ら、最適とされるアシンメトリ値における記録パワーを
補間して求め）、これら４回のテスト記録ごとに求めら
れた記録パワー値に基づき、傷や指紋等の影響を排除し
て、線速度倍率最終値における最適記録パワー値Ｐ
１６ｘを求める（Ｓ７）。その方法としては、例えばこ
れら４つの記録パワー値のうち異常値（例えば期待値を
大きく外れる値）を除外し残りを平均した値を最適記録
パワー値Ｐ１６ ｘとしたり、あるいは４つの記録パワー
値のうち異常値を除外したうちの最小値を最適記録パワ
ー値Ｐ１６ｘとすることができる。最適記録パワー値Ｐ
１６ｘが求まったら、カウント領域２２ｂの指定のアド
レスに、ＥＦＭ信号を該パワー値Ｐ１６ｘで４サブコー
ドフレーム分１６倍速記録して、テスト領域２２ａを４
回分使用したことをマーキングする。これで、ＯＰＣの
全工程は終了し（Ｓ８）、本番の記録が可能となる。
して、β検出回路３４で各回ごとに各記録パワーにおけ
るアシンメトリ値βを算出する。そして、４回のテスト
記録ごとに、最適とされるアシンメトリ値に最も近いア
シンメトリ値が得られる記録パワーを選択して求め（ま
たは、各段階の記録パワーにおけるアシンメトリ値か
ら、最適とされるアシンメトリ値における記録パワーを
補間して求め）、これら４回のテスト記録ごとに求めら
れた記録パワー値に基づき、傷や指紋等の影響を排除し
て、線速度倍率最終値における最適記録パワー値Ｐ
１６ｘを求める（Ｓ７）。その方法としては、例えばこ
れら４つの記録パワー値のうち異常値（例えば期待値を
大きく外れる値）を除外し残りを平均した値を最適記録
パワー値Ｐ１６ ｘとしたり、あるいは４つの記録パワー
値のうち異常値を除外したうちの最小値を最適記録パワ
ー値Ｐ１６ｘとすることができる。最適記録パワー値Ｐ
１６ｘが求まったら、カウント領域２２ｂの指定のアド
レスに、ＥＦＭ信号を該パワー値Ｐ１６ｘで４サブコー
ドフレーム分１６倍速記録して、テスト領域２２ａを４
回分使用したことをマーキングする。これで、ＯＰＣの
全工程は終了し（Ｓ８）、本番の記録が可能となる。
【００２８】本番の記録では、以上のようにして求めら
れた線速度倍率初期値における最適記録パワー値Ｐ
１２ｘと、線速度倍率最終値における最適記録パワー値
Ｐ１６ｘに基づき、ＣＡＶ記録領域における適宜の最適
記録パワー特性として、図５（ｂ）の両最適記録パワー
値Ｐ１２ｘ、Ｐ１６ｘ間を内挿する特性 Ｐ（ｒ）＝ａ・ｒ＋ｂ （ここでは一次関数を用いたが、これに限るものではな
い。）が予め求められ、該特性に基づき記録パワーが制
御され、またディスク回転が制御される。すなわち、記
録位置がＣＡＶ記録領域内にある時は、ディスク回転を
固定の回転数（プログラム領域１８の最内周位置での線
速度倍率が１２倍速に相当する回転数）にＣＡＶ制御
し、記録パワーを各時点の半径位置ｒに応じて上記最適
記録パワー特性Ｐ（ｒ）から求めて制御して、記録を行
う。また、記録位置がＣＬＶ記録領域内にある時は、デ
ィスク回転を１６倍速にＣＬＶ制御し、記録パワーを線
速度倍率最終値における最適記録パワー値Ｐ１６ｘに固
定して記録を行う。
れた線速度倍率初期値における最適記録パワー値Ｐ
１２ｘと、線速度倍率最終値における最適記録パワー値
Ｐ１６ｘに基づき、ＣＡＶ記録領域における適宜の最適
記録パワー特性として、図５（ｂ）の両最適記録パワー
値Ｐ１２ｘ、Ｐ１６ｘ間を内挿する特性 Ｐ（ｒ）＝ａ・ｒ＋ｂ （ここでは一次関数を用いたが、これに限るものではな
い。）が予め求められ、該特性に基づき記録パワーが制
御され、またディスク回転が制御される。すなわち、記
録位置がＣＡＶ記録領域内にある時は、ディスク回転を
固定の回転数（プログラム領域１８の最内周位置での線
速度倍率が１２倍速に相当する回転数）にＣＡＶ制御
し、記録パワーを各時点の半径位置ｒに応じて上記最適
記録パワー特性Ｐ（ｒ）から求めて制御して、記録を行
う。また、記録位置がＣＬＶ記録領域内にある時は、デ
ィスク回転を１６倍速にＣＬＶ制御し、記録パワーを線
速度倍率最終値における最適記録パワー値Ｐ１６ｘに固
定して記録を行う。
【００２９】なお、回転速度一定制御における線速度初
期値および線速度最終値の設定方法としては、例えばユ
ーザが、該ドライブが接続されているコンピュータの画
面上で、これら線速度初期値および線速度最終値を線速
度倍率で入力する（例えば線速度初期値を「１２倍速」
に設定し、線速度最終値を「１６倍速」に設定する等）
方法がある。あるいは、ドライブ側に最大回転数（例え
ば６０００ｒｐｍ等）を予め設定しておき、ユーザが、
該ドライブが接続されているコンピュータの画面上で記
録速度倍率（例えば「１６倍速」等）を入力すると、コ
ンピュータあるいはドライブが、該設定された記録速度
倍率で記録した場合に丁度設定された最大回転数となる
径方向位置を演算で求め、該求められた径方向位置を境
に、その内周側では該設定された最大回転数でＣＡＶ記
録し、外周側では該設定された線速度倍率でＣＬＶ記録
するように制御する場合には、コンピュータあるいはド
ライブが自動で該ＣＡＶ記録による最内周位置での線速
度を線速度初期値として設定し、該ＣＡＶ記録による最
外周位置での線速度を線速度最終値として設定すること
ができる。
期値および線速度最終値の設定方法としては、例えばユ
ーザが、該ドライブが接続されているコンピュータの画
面上で、これら線速度初期値および線速度最終値を線速
度倍率で入力する（例えば線速度初期値を「１２倍速」
に設定し、線速度最終値を「１６倍速」に設定する等）
方法がある。あるいは、ドライブ側に最大回転数（例え
ば６０００ｒｐｍ等）を予め設定しておき、ユーザが、
該ドライブが接続されているコンピュータの画面上で記
録速度倍率（例えば「１６倍速」等）を入力すると、コ
ンピュータあるいはドライブが、該設定された記録速度
倍率で記録した場合に丁度設定された最大回転数となる
径方向位置を演算で求め、該求められた径方向位置を境
に、その内周側では該設定された最大回転数でＣＡＶ記
録し、外周側では該設定された線速度倍率でＣＬＶ記録
するように制御する場合には、コンピュータあるいはド
ライブが自動で該ＣＡＶ記録による最内周位置での線速
度を線速度初期値として設定し、該ＣＡＶ記録による最
外周位置での線速度を線速度最終値として設定すること
ができる。
【００３０】また、上記実施の形態では外周側テスト領
域でのテスト記録の繰り返し回数を４回としたが、これ
に限るものではなく、２回以上であれば何回に設定して
もよい。また、上記実施の形態ではインフォメーション
領域のうちプログラム領域の記録にこの発明の記録方法
を適用した場合について説明したが、リードイン領域、
プログラム領域、リードアウト領域の全体の記録｛さら
に、リードイン領域と内周側ＰＣＡ領域との間のＰＭＡ
領域（Program Memory Area）の記録を含ませることも
できる。｝にこの発明の記録方法を適用することができ
る。この場合、線速度初期値をリードイン領域の開始位
置（または、ＰＭＡ領域の開始位置）での線速度とする
ことができる。また、この発明はＣＤ−Ｒ（ＲＷ）ディ
スクの記録に限らず、ＤＶＤ−Ｒその他の規格の光ディ
スクの記録にも適用することができる。また、信号品位
に関するパラメータは、アシンメトリβに限るものでな
く、エラーレート、ジッタその他のパラメータを用いる
こともできる。また、この発明の方法は、ＣＡＶ記録と
ＣＬＶ記録を切り換える場合のみならず、ＣＡＶ記録の
みあるいはＣＬＶ記録のみ行う場合にも適用することが
できる。
域でのテスト記録の繰り返し回数を４回としたが、これ
に限るものではなく、２回以上であれば何回に設定して
もよい。また、上記実施の形態ではインフォメーション
領域のうちプログラム領域の記録にこの発明の記録方法
を適用した場合について説明したが、リードイン領域、
プログラム領域、リードアウト領域の全体の記録｛さら
に、リードイン領域と内周側ＰＣＡ領域との間のＰＭＡ
領域（Program Memory Area）の記録を含ませることも
できる。｝にこの発明の記録方法を適用することができ
る。この場合、線速度初期値をリードイン領域の開始位
置（または、ＰＭＡ領域の開始位置）での線速度とする
ことができる。また、この発明はＣＤ−Ｒ（ＲＷ）ディ
スクの記録に限らず、ＤＶＤ−Ｒその他の規格の光ディ
スクの記録にも適用することができる。また、信号品位
に関するパラメータは、アシンメトリβに限るものでな
く、エラーレート、ジッタその他のパラメータを用いる
こともできる。また、この発明の方法は、ＣＡＶ記録と
ＣＬＶ記録を切り換える場合のみならず、ＣＡＶ記録の
みあるいはＣＬＶ記録のみ行う場合にも適用することが
できる。
【図１】 この発明の記録方法の実施の形態を示す図
で、図５のように本番の記録を行う場合の、図４のシス
テム制御回路５０によるＯＰＣの制御フローの一例を示
す図である。
で、図５のように本番の記録を行う場合の、図４のシス
テム制御回路５０によるＯＰＣの制御フローの一例を示
す図である。
【図２】 光ディスクの記録を内周側はＣＡＶで行い、
外周側はＣＬＶで行う方法における線速度および回転数
の特性図である。
外周側はＣＬＶで行う方法における線速度および回転数
の特性図である。
【図３】 この発明による線速度一定記録型光ディスク
の領域分割例を示すディスク径方向の断面図である。
の領域分割例を示すディスク径方向の断面図である。
【図４】 この発明の光ディスク記録装置の実施の形態
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図５】 （ａ）はプログラム領域に本番の記録をする
際の線速度（倍率）の変化を示す特性図、（ｂ）はその
時の記録パワーの変化を示す特性図である。
際の線速度（倍率）の変化を示す特性図、（ｂ）はその
時の記録パワーの変化を示す特性図である。
【図６】 ＯＰＣのテスト記録における記録パワーの段
階的変化を示す図である。
階的変化を示す図である。
【図７】 固有の線速度が１．３ｍ／秒の光ディスクに
ついてテスト記録したときの各回のテスト記録の光ディ
スク周方向の記録範囲を示した図である。
ついてテスト記録したときの各回のテスト記録の光ディ
スク周方向の記録範囲を示した図である。
１０…光ディスク、１２ａ…内周側テスト領域、１６…
インフォメーション領域、１８…プログラム領域、２２
ａ…外周側テスト領域、２８…光ピックアップ、３４…
β検出回路（信号品位検出部）、４４…光パワー制御回
路（光パワー制御部）、５０…システム制御回路（シス
テム制御部）。
インフォメーション領域、１８…プログラム領域、２２
ａ…外周側テスト領域、２８…光ピックアップ、３４…
β検出回路（信号品位検出部）、４４…光パワー制御回
路（光パワー制御部）、５０…システム制御回路（シス
テム制御部）。
Claims (17)
- 【請求項１】光ディスクの本番の記録に先立ち、該光デ
ィスクのプログラム領域よりも外周側の外周側テスト領
域で、所定の線速度に制御して記録パワーを順次変化さ
せて行うテスト記録を複数回繰り返し行い、 該外周側テスト領域での複数回のテスト記録の再生信号
に基づき、該線速度における適正な記録パワー値を求
め、 前記光ディスクの本番の記録時に、前記所定の線速度で
前記適正な記録パワー値に制御し、または別の線速度で
前記適正な記録パワー値に基づき求められる適正な記録
パワー値に制御して記録を行う光ディスク記録方法。 - 【請求項２】前記外周側テスト領域での複数回のテスト
記録の再生信号に基づき、再生信号品位に関する所定の
パラメータが適正値となる記録パワー値を各回のテスト
記録ごとに求め、該各回のテスト記録ごとに求められた
記録パワー値に基づき前記所定の線速度における適正な
記録パワー値を求める請求項１記載の光ディスク記録方
法。 - 【請求項３】前記外周側テスト領域での複数回のテスト
記録ごとに求められた記録パワー値のうち異常値を除外
して残りの平均値を求めて、該値を前記所定の線速度に
おける適正な記録パワー値として求める請求項２記載の
光ディスク記録方法。 - 【請求項４】前記外周側テスト領域での複数回のテスト
記録ごとに求められた記録パワー値のうち最小値を求め
て、該値を前記所定の線速度における適正な記録パワー
値として求める請求項２記載の光ディスク記録方法。 - 【請求項５】前記外周側テスト領域での複数回のテスト
記録を、前記光ディスクの周方向に順次ずらした領域で
行う請求項１から４のいずれかに記載の光ディスク記録
方法。 - 【請求項６】前記外周側テスト領域を、インフォメーシ
ョン領域の外周側の部分のうち、プログラム領域の最大
可能外周位置から所定のリードアウト領域分を確保した
残りの領域に設定してなる請求項１から５のいずれかに
記載の光ディスク記録方法。 - 【請求項７】光ディスクを、適宜の径方向位置を境に、
その内周側で回転速度一定に制御し、外周側で該回転速
度一定制御における線速度最終値で線速度一定に制御し
て本番の記録を行う光ディスク記録方法において、 前記光ディスクの本番の記録に先立ち、該光ディスクの
プログラム領域よりも内周側の内周側テスト領域で、前
記回転速度一定制御記録における線速度初期値で線速度
一定に制御し記録パワーを順次変化させてテスト記録を
１回行い、かつ該光ディスクの前記プログラム領域より
も外周側の外周側テスト領域で、前記回転速度一定制御
記録における線速度最終値で線速度一定に制御し記録パ
ワーを順次変化させてテスト記録を複数回繰り返し行
い、 前記内周側テスト領域での１回のテスト記録の再生信号
に基づき、再生信号品位に関する所定のパラメータが適
正値となる記録パワー値を求めて、該値を前記回転速度
一定制御記録の線速度初期値における記録パワー値とし
て設定し、 前記外周側テスト領域での複数回のテスト記録の再生信
号に基づき、前記パラメータが適正値となる記録パワー
値を各回のテスト記録ごとに求め、該各回のテスト記録
ごとに求められた記録パワー値に基づき適正な記録パワ
ー値を求めて、該値を前記回転速度一定制御記録の線速
度最終値および前記線速度一定制御記録における記録パ
ワー値として設定し、 前記光ディスクの本番の記録時に、前記回転速度一定制
御記録を行う領域では、記録パワー値を、各位置の線速
度に応じて、前記線速度初期値における記録パワー値と
して設定された値と前記線速度最終値における記録パワ
ー値として設定された値を内挿して求めてその値に制御
し、前記線速度一定制御記録を行う領域では、記録パワ
ー値を前記線速度一定制御記録における記録パワー値と
して設定された値に制御して記録を行う光ディスク記録
方法。 - 【請求項８】前記外周側テスト領域での複数回のテスト
記録ごとに求められた記録パワー値のうち異常値を除外
して残りの平均値を求めて、該値を前記回転速度一定制
御記録の線速度最終値および前記線速度一定制御記録に
おける記録パワー値として設定する請求項７記載の光デ
ィスク記録方法。 - 【請求項９】前記外周側テスト領域での複数回のテスト
記録ごとに求められた記録パワー値のうち最小値を求め
て、該値を前記回転速度一定制御記録の線速度最終値お
よび前記線速度一定制御記録における記録パワー値とし
て設定する請求項７記載の光ディスク記録方法。 - 【請求項１０】前記外周側テスト領域での複数回のテス
ト記録を、前記光ディスクの周方向に順次ずらした領域
で行う請求項７から９のいずれかに記載の光ディスク記
録方法。 - 【請求項１１】前記外周側テスト領域を、インフォメー
ション領域の外周側の部分のうち、プログラム領域の最
大可能外周位置から所定のリードアウト領域分を確保し
た残りの領域に設定してなる請求項７から１０のいずれ
かに記載の光ディスク記録方法。 - 【請求項１２】光ディスクを、適宜の径方向位置を境
に、その内周側で回転速度一定に制御し、外周側で該回
転速度一定制御における線速度最終値で線速度一定に制
御して本番の記録を行う光ディスク記録装置であって、 前記光ディスクを回転駆動するディスクサーボと、 該光ディスクに光ビームを照射して記録および再生を行
う光ピックアップと、 該光ピックアップから出射する光ビームのパワーを制御
する光パワー制御部と、 該光ピックアップで検出される再生信号に基づき、再生
信号品位に関する所定のパラメータ値を求める信号品位
検出部と、 システム制御部とを具備し、 該システム制御部は、前記光ディスクの本番の記録に先
立ち、該光ディスクのプログラム領域よりも内周側の内
周側テスト領域で、前記回転速度一定制御記録における
線速度初期値で線速度一定に制御し記録パワーを順次変
化させてテスト記録を１回行い、かつ該光ディスクの前
記プログラム領域よりも外周側の外周側テスト領域で、
前記回転速度一定制御記録における線速度最終値で線速
度一定に制御し記録パワーを順次変化させてテスト記録
を複数回繰り返し行い、前記内周側テスト領域での１回
のテスト記録の再生信号に基づき、再生信号品位に関す
る所定のパラメータが適正値となる記録パワー値を求め
て、該値を前記回転速度一定制御記録の線速度初期値に
おける記録パワー値として設定し、前記外周側テスト領
域での複数回のテスト記録の再生信号に基づき、前記パ
ラメータが適正値となる記録パワー値を各回のテスト記
録ごとに求め、該各回のテスト記録ごとに求められた記
録パワー値に基づき適正な記録パワー値を求めて、該値
を前記回転速度一定制御記録の線速度最終値および前記
線速度一定制御記録における記録パワー値として設定
し、前記光ディスクの本番の記録時に、前記回転速度一
定制御記録を行う領域では、記録パワー値を、各位置の
線速度に応じて、前記線速度初期値における記録パワー
値として設定された値と前記線速度最終値における記録
パワー値として設定された値を内挿して求めてその値に
制御し、前記線速度一定制御記録を行う領域では、記録
パワー値を前記線速度一定制御記録における記録パワー
値として設定された値に制御する光ディスク記録装置。 - 【請求項１３】前記システム制御部が、前記外周側テス
ト領域での複数回のテスト記録ごとに求められた記録パ
ワー値のうち異常値を除外して残りの平均値を求めて、
該値を前記回転速度一定制御記録の線速度最終値および
前記線速度一定制御記録における記録パワー値として設
定する請求項１２記載の光ディスク記録装置。 - 【請求項１４】前記システム制御部が、前記外周側テス
ト領域での複数回のテスト記録ごとに求められた記録パ
ワー値のうち最小値を求めて、該値を前記回転速度一定
制御記録の線速度最終値および前記線速度一定制御記録
における記録パワー値として設定する請求項１２記載の
光ディスク記録装置。 - 【請求項１５】前記システム制御部が、前記外周側テス
ト領域での複数回のテスト記録を、前記光ディスクの周
方向に順次ずらした領域で行う請求項１２から１４のい
ずれかに記載の光ディスク記録装置。 - 【請求項１６】前記システム制御部が、前記外周側テス
ト領域を、インフォメーション領域の外周側の部分のう
ち、プログラム領域の最大可能外周位置から所定のリー
ドアウト領域分を確保した残りの領域に設定してなる請
求項１２から１５のいずれかに記載の光ディスク記録装
置。 - 【請求項１７】プログラム領域よりも内周側に内周側テ
スト領域を形成し、該プログラム領域よりも外周側に前
記内周側テスト領域よりも広い領域の外周側テスト領域
を形成してなる光ディスク。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000151248A JP3765223B2 (ja) | 2000-05-23 | 2000-05-23 | 光ディスク記録方法および光ディスク記録装置 |
| CNB011182296A CN1208764C (zh) | 2000-05-23 | 2001-05-23 | 光盘记录方法、光盘记录装置及光盘 |
| US09/863,479 US6963525B2 (en) | 2000-05-23 | 2001-05-23 | Optical disc recording method, optical disc recording device, and optical disc |
| MYPI20012442A MY128293A (en) | 2000-05-23 | 2001-05-23 | Optical disc recording method, optical disc recording device, and optical disc |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000151248A JP3765223B2 (ja) | 2000-05-23 | 2000-05-23 | 光ディスク記録方法および光ディスク記録装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001331940A true JP2001331940A (ja) | 2001-11-30 |
| JP3765223B2 JP3765223B2 (ja) | 2006-04-12 |
Family
ID=18656839
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000151248A Expired - Lifetime JP3765223B2 (ja) | 2000-05-23 | 2000-05-23 | 光ディスク記録方法および光ディスク記録装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6963525B2 (ja) |
| JP (1) | JP3765223B2 (ja) |
| CN (1) | CN1208764C (ja) |
| MY (1) | MY128293A (ja) |
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| KR100468361B1 (ko) * | 2001-08-23 | 2005-01-27 | 티아크 가부시키가이샤 | 광 디스크장치 |
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