JP2003132537A - レーザ光制御方法、テスト記録方法および光ディスク記録装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光ディスクの回転角速度を一定に維持しなが
ら記録を行う装置において、より簡易な制御によって光
ディスクに対してテスト記録を行う。 【解決手段】 この光ディスク記録装置では、光ディス
クに対して記録を行う際に、本番の記録に先立ち、所定
の領域に対してテスト記録を実施する（ステップＳａ
１）。このテスト記録は、光ディスクの回転角速度を一
定に維持しながら記録を行うＣＡＶ方式が用いられる。
そして、該テスト記録の結果に基づいてレーザパワー制
御を行うための情報（パワー関数）を取得し（ステップ
Ｓａ２）、ＣＡＶ方式によって本番の記録を実施する
（ステップＳａ３）。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスクに対し
てレーザ光を照射して情報を記録する光ディスク記録装
置、該記録の際に光ディスクに対して照射するレーザ光
を制御する方法、および本番の記録に先立って行うテス
ト記録方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来より、ＣＤ−Ｒ（Compact Disc Rec
ordable）、ＣＤ−ＲＷ（Compact Disc Rewritable）、
およびＤＶＤ−Ｒ（Digital Versatile Disc-Recordabl
e）等のディスクに対する記録方法として、標準の線速
度（１倍速）よりも高い線速度で記録する高速記録が採
用されている。

【０００３】光ディスクに対してレーザ光を照射して記
録を行う場合、どのような記録速度倍率で記録するかと
いった記録線速度条件によって、良好な記録が可能な記
録レーザパワー値や、記録ストラテジが異なることが知
られている。また、記録速度条件だけではなく、記録時
の光ディスクの周囲の環境や、その光ディスクの特性等
に起因して、良好な記録が行えるレーザパワー値や記録
ストラテジは異なるものとなる。したがって、記録線速
度や記録対象となる光ディスクの特性等に関わらず、常
に同一のレーザパワー値で記録するといったレーザパワ
ー制御を行うと、記録エラーが多発してしまうおそれが
ある。

【０００４】そこで、従来の光ディスク記録装置では、
記録速度倍率などの記録時の条件に応じて最適な記録が
行えるようにレーザパワー値を求める、いわゆるＯＰＣ
（Optimum Power Control：記録レーザ光の最適記録パ
ワー調整）を実施し、該ＯＰＣの結果にしたがってレー
ザパワーを制御する方法が採用されている。

【０００５】従来の光ディスク記録装置において実施さ
れるＯＰＣでは、光ディスクにおける所定のテスト領域
に、ある一定の記録線速度でテスト記録を行う。このテ
スト記録の際、記録レーザパワー値を複数段階（１５段
階）に変化させ、１つの記録レーザパワー値について１
サブコードフレーム分のＥＦＭ信号を記録する。すなわ
ち、光ディスク記録装置は、合計１５フレーム分のＥＦ
Ｍ信号を光ディスクのテスト領域に対して記録し、該テ
スト記録領域の再生結果から最適な記録を行える記録レ
ーザパワー値を求めている。

【０００６】ところで、光ディスクに記録を行う方式と
しては、記録線速度を一定にして記録を行う方式（ＣＬ
Ｖ：Constant Linear Velocity）と、記録時の光ディス
クの回転角速度一定の方式（ＣＡＶ：Constant Angular
Velocity）とが知られている。

【０００７】ＣＬＶ方式で記録を行う場合には、上述し
たＯＰＣにおけるテスト記録は、本番の記録と同じ記録
線速度で実行されることが多い。これは、本番の記録線
速度と同一の記録線速度でテスト記録を行うことによ
り、本番の記録に最適な記録レーザパワー値を、より正
確に求めることができるからである。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、近年で
は記録速度の高速化が著しく、ＣＬＶ方式を採用した場
合に高速記録を実施すると、光ディスクの内周側に記録
する時のスピンドル回転数が大きくなり、例えば１６倍
速で記録を行う場合には最内周で８０００ｒｐｍ（Revo
lutions Per Minute）以上になる。このため、ディスク
内周側の記録時には、高速回転によって発生する振動等
に起因して正確な記録を行えない場合がある。

【０００９】このような記録速度の高速化といった要求
に応えるために、ＣＡＶ方式で記録を行う光ディスク記
録装置も普及している。ＣＡＶ方式での記録時には、光
ディスクを回転させるスピンドルモータの回転角速度は
一定であり、ＣＬＶ方式のように記録位置（径方向）に
応じて回転角速度を調整して記録線速度を一定にすると
いったスピンドルモータ制御は不要である。しかしなが
ら、従来の光ディスク記録装置においては、ＯＰＣにお
けるテスト記録時にはある一定の記録線速度で記録が行
われるよう制御している。したがって、このような光デ
ィスク記録装置では、テスト記録時にのみスピンドルモ
ータをＣＬＶ制御する必要があり、その後に実施される
本番の記録においてはＣＡＶ方式にスピンドルモータの
制御を切り換えるといった煩雑な制御を行わなくてはな
らない。

【００１０】本発明は、上記の事情を考慮してなされた
ものであり、光ディスクの回転角速度を一定に維持しな
がら記録を行う装置において、より簡易な制御によって
光ディスクに対してテスト記録を行うことができるテス
ト記録方法、より簡易な制御によって光ディスクに対し
て記録を行うことができるレーザ光制御方法、および光
ディスク記録装置を提供することを目的とする。

【００１１】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明に係るレーザ光制御方法は、光ディスクに対
してレーザ光を照射して記録を行う際に照射レーザ光を
制御する方法であって、光ディスクに対する本番の記録
に先立ち、当該光ディスクをある一定の角速度で回転さ
せながら、当該光ディスクの所定の領域に対してテスト
記録を行うテスト記録ステップと、該テスト記録の結果
に基づいてレーザ光を制御するための制御情報を取得す
る制御情報取得ステップと、本番の記録時に、前記取得
した制御情報に基づいて当該光ディスクに対して照射す
べきレーザ光を制御する制御ステップとを具備すること
を特徴としている。

【００１２】この方法によれば、本番の記録を行うに先
だってテスト記録が行われ、該テスト記録の結果から取
得した制御情報に応じてレーザパワー制御が行われる。
このようにテスト記録の結果に基づいたレーザパワー制
御を行うことにより、高品位な記録を行うことができ
る。このテスト記録は光ディスクを一定の角速度で回転
駆動させながら実施されているので、光ディスクの回転
制御が簡易である。すなわち、この方法によれば、簡易
な制御を採用しながら、上記のような高精度の記録の実
現を可能としているのである。

【００１３】また、本発明に係るテスト記録方法は、光
ディスクに対する本番の記録に先立ち、当該本番の記録
の際に当該光ディスクに照射すべきレーザ光を制御する
情報を得るために、当該光ディスクに対してテスト記録
を行う方法であって、前記光ディスクをある一定の角速
度で回転駆動させながら、当該光ディスクの所定の領域
に対してテスト記録を行うことを特徴としている。

【００１４】また、本発明に係る光ディスク記録装置
は、光ディスクを回転させる回転駆動手段と、前記回転
駆動手段によって回転させられる前記光ディスクに対し
てレーザ光を照射して情報を記録する記録手段とを備え
た光ディスク記録装置であって、本番の情報記録に先だ
って光ディスクに対してテスト記録を行う際に、前記回
転駆動手段は、当該光ディスクをある一定の角速度で回
転させるとともに、前記記録手段が前記ある一定の角速
度で回転させられる光ディスクの所定の領域に対してレ
ーザ光を照射してテスト記録を実施し、前記記録手段
は、前記テスト記録の結果に基づいて、本番の情報記録
の際に前記光ディスクに対して照射するレーザ光を制御
することを特徴としている。

【００１５】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施形態について説明する。 Ａ．実施形態の構成 まず、図１は本発明の一実施形態に係るレーザパワー制
御方法を実施する光ディスク記録装置の構成を示すブロ
ック図である。同図に示すように、この光ディスク記録
装置１００は、光ピックアップ１０と、スピンドルモー
タ１１と、ＲＦ（Radio Frequency）アンプ１２と、サ
ーボ回路１３と、ＡＴＩＰ検出回路１４と、デコーダ１
５と、制御部１６と、エンコーダ１７と、ストラテジ回
路１８と、レーザドライバ１９と、レーザパワー制御回
路２０と、周波数発生器２１と、エンベロープ検出回路
２２と、β検出回路２４とを備えている。

【００１６】スピンドルモータ１１は、データを記録す
る対象となる光ディスクＤを回転駆動するモータであ
る。光ピックアップ１０は、レーザダイオード、レンズ
やミラー等の光学系、および戻り光受光素子を有してお
り、記録および再生時にはレーザ光を光ディスクＤに対
して照射し、光ディスクＤからの戻り光を受光して受光
信号であるＥＦＭ変調されたＲＦ信号をＲＦアンプ１２
に出力する。また、光ピックアップ１０はモニタダイオ
ードを有しており、光ディスクＤの戻り光によってモニ
タダイオードに電流が生じ、当該電流がレーザパワー制
御回路２０に供給されるようになっている。

【００１７】ＲＦアンプ１２は光ピックアップ１０から
供給されたＥＦＭ変調されたＲＦ信号を増幅し、増幅後
のＲＦ信号をサーボ回路１３、ＡＴＩＰ検出回路１４、
エンベロープ検出回路２２、β検出回路２４およびデコ
ーダ１５にＲＦ信号を出力する。デコーダ１５は、再生
時にはＲＦアンプ１２から供給されるＥＦＭ変調された
ＲＦ信号をＥＦＭ復調して再生データを生成する。

【００１８】この光ディスク記録装置１００では、ユー
ザ等から指定された情報（例えば、音楽データ等）の記
録（以下、本番の記録という）に先立ち、光ディスクＤ
の内周側の所定の領域（図２参照）にテスト記録を行
い、当該テスト記録した領域の再生結果に基づいて、当
該光ディスクＤに対して良好な記録を行える記録速度を
求めるように構成されている。この光ディスク記録装置
１００における１回のテスト記録では、記録レーザパワ
ー値を１５段階に変化させて行い、１つの記録レーザパ
ワー値につき１サブコードフレーム分のＥＦＭ信号を記
録し、合計１５フレーム分のＥＦＭ信号が記録されるよ
うになっている。

【００１９】ここで、図２を参照しながら光ディスクＤ
（ＣＤ−Ｒ）のテスト記録を行う領域について説明す
る。光ディスクＤの直径４６〜５０ｍｍの区間がリード
イン領域１１４として用意され、その外周側にデータ
（音楽データ等）を記録するプログラム領域１１８およ
び残余領域１２０が用意されている。一方、リードイン
領域１１４よりも内周側には、内周側ＰＣＡ（Power Ca
libration Area）領域１１２が用意されている。内周側
ＰＣＡ領域１１２には、テスト領域１１２ａと、カウン
ト領域１１２ｂとが用意されており、このテスト領域１
１２ａに、上述した記録処理の本番に先立つテスト記録
が行われる。

【００２０】ここで、テスト領域１１２ａとしてはテス
ト記録を多数回行える領域が用意されている。また、カ
ウント領域１１２ｂには、テスト記録終了時にテスト領
域１１２ａのどの部分までに記録が終了しているかを示
すＥＦＭ信号が記録される。したがって、次にこの光デ
ィスクＤに対してテスト記録を行う際には、当該カウン
ト領域１１２ｂに記録されているＥＦＭ信号を読み取る
ことによりテスト領域１１２ａのどの位置からテスト記
録を行えばよいかが分かるようになっている。光ディス
ク記録装置１００では、本番の記録を行う前に上述した
テスト領域１１２ａにテスト記録を行っている。

【００２１】図１に戻り、ＡＴＩＰ検出回路１４は、Ｒ
Ｆアンプ１２から供給されたＥＦＭ信号からウォブル信
号成分を抽出し、このウォブル信号成分に含まれるＡＴ
ＩＰ情報を復号し、光ディスクＤ上の位置を示す絶対時
間情報などを取得して制御部１６に出力する。

【００２２】β検出回路２４は、上述したテスト記録領
域を再生している際にＲＦアンプ１２から供給されるＥ
ＦＭ変調されたＲＦ信号から再生信号品位に関するパラ
メータとしてβ（アシンメトリ）値を算出し、算出結果
を制御部１６に出力する。なお、β値は、ＥＦＭ変調さ
れた信号波形のピークレベル（符号は＋）をａ、ボトム
レベル（符号は−）をｂとすると、（ａ＋ｂ）／（ａ−
ｂ）で求まる。

【００２３】エンベロープ検出回路２２は、上述したテ
スト記録を行う前に、光ディスクＤの所定のテスト領域
のどの部分からテスト記録を開始するかを検出するため
に、上述した光ディスクＤのカウント領域１１２ｂのＥ
ＦＭ信号のエンベロープを検出する。

【００２４】サーボ回路１３は、スピンドルモータ１１
の回転制御および光ピックアップ１０のフォーカス制
御、トラッキング制御、送り制御を行う。この光ディス
ク記録装置１００では、記録時のスピンドルモータ１１
の駆動方式として、光ディスクＤを角速度一定で回転駆
動する方式、つまりＣＡＶ方式を採用しており、記録時
において、サーボ回路１３はユーザ等によって指定され
た一定の角速度でスピンドルモータ１１を回転させる。
これにより光ディスクＤが上記一定の角速度で回転させ
られる。

【００２５】エンコーダ１７は、供給される記録データ
をＥＦＭ変調し、ストラテジ回路１８に出力する。スト
ラテジ回路１８は、エンコーダ１７から供給されたＥＦ
Ｍ信号に対して時間軸補正処理等を行い、レーザドライ
バ１９に出力する。レーザドライバ１９は、ストラテジ
回路１８から供給される記録データに応じて変調された
信号と、レーザパワー制御回路２０の制御にしたがって
光ピックアップ１０のレーザダイオードを駆動する。

【００２６】レーザパワー制御回路２０は、光ピックア
ップ１０のレーザダイオードから照射されるレーザパワ
ーを制御する。具体的には、レーザパワー制御回路２０
は、光ピックアップ１０のモニタダイオードから供給さ
れる電流値と、制御部１６から供給されるＯＰＣによっ
て求められた最適なレーザパワーの目標値を示す情報と
に基づいて、当該最適なレーザパワーのレーザ光が光ピ
ックアップ１０から照射されるようにレーザドライバ１
９を制御する。

【００２７】制御部１６は、ＣＰＵ（Central Processi
ng Unit）、ＲＯＭ（Read Only Memory）およびＲＡＭ
（Random Access Memory）等から構成されており、ＲＯ
Ｍに格納されたプログラムにしたがって当該光ディスク
記録装置１００の装置各部を制御し、光ディスクＤに対
する記録処理を実行する。

【００２８】Ｂ．実施形態の動作 以上説明したのが光ディスク記録装置１００の構成であ
り、以下上記構成の光ディスク記録装置１００によって
実施される記録時の動作について、図３に示す制御部１
６がＲＯＭに記憶されたプログラムにしたがって実行す
る処理手順のフローチャートを参照しながら説明する。

【００２９】まず、ユーザによって当該光ディスク記録
装置１００に光ディスクＤがセットされ、ある一定の角
速度で光ディスクＤを回転させながら記録を実施するＣ
ＡＶ記録方式による記録開始が指示されると、制御部１
６は、ＯＰＣを実行するためにセットされた光ディスク
Ｄのテスト領域１１２ａ（図２参照）にテスト記録を行
うために装置各部を制御する（ステップＳａ１）。具体
的には、まず上記ある一定の角速度、すなわち本番の記
録時と同じ角速度で光ディスクＤが回転するようにサー
ボ回路１３を介してスピンドルモータ１１を制御する。
このような本番の記録と同一の角速度で光ディスクＤを
回転させながら、エンコーダ１７にテスト記録用の信号
を送出するとともに、レーザパワー制御回路２０を制御
して記録レーザパワー値を１５段階に変化させる。制御
部１６は、このように装置各部を制御することにより、
１つの記録レーザパワー値につき１サブコードフレーム
分のＥＦＭ信号を記録し、合計１５フレーム分のＥＦＭ
信号を記録するテスト記録を実行させる。すなわち、本
実施形態では、テスト領域１１２ａに対するテスト記録
を実施する方式として、本番の記録と同じ角速度のＣＡ
Ｖ記録方式を採用しているのである。

【００３０】ＣＡＶ方式によるテスト記録を実行するよ
うに装置各部を制御すると、制御部１６はテスト記録し
た領域の再生信号から取得されるＯＰＣ結果に基づい
て、本番の記録の際にレーザパワー制御に用いる記録線
速度とレーザパワー値との関係、いわゆるパワー関数を
導出する（ステップＳａ２）。ここで用いられるパワー
関数導出方法の一例について説明すると、次の通りであ
る。

【００３１】まず、上記のようにテスト記録した領域の
再生信号の記録品位に関するパラメータ（例えば、β
値）を取得し、該記録品位に関するパラメータが目標値
と一致したレーザパワー値を最適レーザパワー値Ｐｔと
して決定する。本実施形態における光ディスク記録装置
１００では、ＣＡＶ方式でテスト記録を行っているの
で、１回のテスト記録中にその記録線速度が変動するこ
とになる。しかしながら、上述したようにテスト記録は
１５フレーム分のデータが記録されることになるため、
１５フレーム分のデータの記録を実施した際の記録位置
の径方向の変動は微小であり、テスト記録中の記録線速
度の変動量も微小である。この程度の微小な記録線速度
の変動はＯＰＣの結果にほとんど影響を与えることがな
く、実質上、一定の記録線速度Ｖｔでテスト記録をした
場合とほぼ同様の結果が得られる。したがって、上記の
ようなテスト記録の結果から、図４に示すようにある記
録線速度における最適記録レーザパワー値Ｐｔを取得す
ることができる。このように最適記録レーザパワー値Ｐ
ｔを取得すると、該最適記録レーザパワー値Ｐｔを用い
て予め制御部１６のＲＯＭ等に格納されている関数情報
を用いて、記録線速度と最適記録レーザパワー値との関
係を一次関数で表現したパワー関数を導出する。ここ
で、予め格納される関数情報は、Ｐ＝ａＶ＋ｂ＋ｃ（Ｐ
はパワー値、Ｖは記録線速度、ａ，ｂは実験により予め
求められた定数）であり、Ｐ＝Ｐｔ、Ｖ＝Ｖｔを代入し
た時の上記ｃの値を求めることにより上記のようなパワ
ー関数を導出することができる。

【００３２】このようにテスト記録の結果に基づいてパ
ワー関数を求めると、制御部１６は、本番の情報を記録
するために装置各部を制御する（ステップＳａ３）。具
体的には、制御部１６は、上述したテスト記録と同じ角
速度で光ディスクＤが回転するようにサーボ回路１３を
介してスピンドルモータ１１を制御する。また、制御部
１６は、上記のように光ディスクＤの回転制御を行うと
ともに、上記パワー関数に応じたパワー値のレーザ光が
光ピックアップ１０から光ディスクＤに対して照射され
るようレーザパワー制御回路２０を制御する。このよう
にして本番の情報記録が実施される。本番の記録時にお
いては光ディスクＤの回転角速度が一定であるため、そ
の記録位置が外周側に移動するにつれて記録線速度は増
加することになるが、上記のようなパワー関数にしたが
ったレーザパワー制御を行うことにより記録線速度の変
動した場合にも常に最適なパワー値のレーザ光が光ディ
スクＤに対して照射されることになる。

【００３３】以上説明したように本実施形態では、本番
の記録に先立ち、テスト記録を行い、当該テスト記録の
再生信号から最適な記録が行えるようなパワー関数を導
出している。そして、このように最適な記録を行うため
の情報（本実施形態では、パワー関数）を導出するため
のテスト記録をＣＡＶ方式で実施することとしている。
ＣＡＶ方式は、光ディスクＤを一定の角速度で回転させ
ながら記録を行うものであり、スピンドルモータ１１は
常に一定の角速度で回転させればよく、その回転制御は
ＣＬＶに比して簡易となる。また、上述したようにテス
ト記録の際にＣＡＶ方式を採用した場合にも、良好なテ
スト記録結果が得られなくなるといったこともなく、こ
の結果を利用したパワー制御に不具合が生じることもな
い。すなわち、本実施形態のようにＣＡＶ方式でテスト
記録を行うことにより、より簡易な制御を採用しつつ、
従来と同様の精度を維持したレーザパワー制御が可能と
なる。

【００３４】また、本実施形態のようなＣＡＶ方式によ
るテスト記録方法を用いることにより、本番の情報記録
方式としてＣＡＶ方式のみを採用する光ディスク記録装
置の場合には、ＣＬＶ制御を行うためのサーボ回路を有
する必要がなく、構成を簡易化することも可能である。

【００３５】また、本実施形態では、ＣＡＶ方式を採用
したテスト記録を、本番の情報を記録する時と同じ角速
度で光ディスクＤを回転させながら実施するようにして
いる。このように本番の記録時と同じ角速度でテスト記
録を実施することにより、テスト記録から本番の記録に
移行する際にスピンドルモータ１１の回転角速度を変化
させる必要がなく、テスト記録から本番の記録への移行
をより滑らかに実施することができ、また、より短時間
での移行が可能となる。

【００３６】Ｃ．変形例 なお、本発明は、上述した実施形態に限定されるもので
はなく、以下に例示するような種々の変形が可能であ
る。

【００３７】（変形例１）上述した実施形態において
は、本番の記録開始前に１回のテスト記録を実施し、該
テスト記録の結果からパワー関数を求めるようにしてい
たが、本番の記録開始前に複数回のテスト記録を実施
し、これらのテスト記録の結果に基づいてレーザパワー
制御を行うようにしてもよい。この場合、制御部１６
は、図５に示すような手順にしたがって記録処理を実行
するようにすればよい。

【００３８】同図に示すように、制御部１６は、１回目
のテスト記録を行うために装置各部を制御する（ステッ
プＳｂ１）。この１回目のテスト記録も上記実施形態と
同様、ＣＡＶ方式が採用される。ここで制御部１６は、
当該１回目のテスト記録の際には本番の記録を行う時と
異なる、例えば本番の記録時の角速度よりも大きい角速
度Ｋｍａｘで光ディスクＤが回転するようにサーボ回路
１３を制御する。

【００３９】制御部１６は、上記のような本番の記録時
よりも大きい角速度Ｋｍａｘで光ディスクＤを回転駆動
させ、当該光ディスクＤのテスト領域１１２ａに対して
テスト記録を行うと、制御部１６は２回目のテスト記録
を行うために装置各部を制御する（ステップＳｂ２）。
この２回目のテスト記録も上記実施形態と同様、ＣＡＶ
方式が採用され、２回目のテスト記録では、本番の記録
時と同じ角速度Ｋｈで光ディスクＤを回転駆動させてテ
スト領域１１２ａに対してテスト記録を行う。

【００４０】ＣＡＶ方式による２回のテスト記録を実行
するように装置各部を制御すると、制御部１６はテスト
記録した領域の再生信号から取得されるＯＰＣ結果に基
づいて、本番の記録の際にレーザパワー制御に用いる記
録線速度とレーザパワー値との関係、いわゆるパワー関
数を導出する（ステップＳｂ３）。ここで用いられる２
回のテスト記録結果を利用したパワー関数導出方法の一
例について説明すると、次の通りである。

【００４１】まず、制御部１６は、１回目のテスト記録
（角速度Ｋｍａｘ）を実施した領域の再生信号の記録品
位に関するパラメータ（例えば、β値）を取得し、該記
録品位に関するパラメータが目標値と一致したレーザパ
ワー値を最適レーザパワー値Ｐｍａｘとして決定する。
次に、制御部１６は、２回目のテスト記録（角速度Ｋ
ｈ）を実施した領域の再生信号の記録品位に関するパラ
メータ（例えば、β値）を取得し、該記録品位に関する
パラメータが目標値と一致したレーザパワー値を最適レ
ーザパワー値Ｐｈとして決定する。

【００４２】２回のテスト記録結果から最適レーザパワ
ー値Ｐｍａｘおよび最適レーザパワー値Ｐｈを求める
と、制御部１６は、図６に示すように角速度Ｋｍａｘで
のテスト記録の結果から求めた最適レーザパワー値Ｐｍ
と、角速度Ｋｈでのテスト記録の結果から求めた最適レ
ーザパワー値Ｐｈとを用い、パワー関数を導出する。よ
り具体的には、まず２つの角速度での最適レーザパワー
値Ｐｍａｘ、Ｐｈとの間を補間する（図示の例では直線
補間）ことにより、記録線速度と最適なレーザパワーと
の関係であるパワー関数を求める。上記のように２回の
ＯＰＣにおける記録位置はほぼ同じであるが、両者の記
録時における角速度が異なっており、両者の記録線速度
は異なる。ここでは、最適レーザパワー値Ｐｍａｘを求
めた時のテスト記録の記録線速度をＶｍ、最適レーザパ
ワー値Ｐｈを求めた時のテスト記憶の記録線速度をＶｈ
とする。

【００４３】このように２回のテスト記録結果に基づい
てパワー関数を求めると、制御部１６は、本番の情報を
記録するために装置各部を制御する（ステップＳｂ
４）。具体的には、制御部１６は、上述した２回目のテ
スト記録と同じ角速度ｋｈで光ディスクＤが回転させら
れるようにサーボ回路１３を介してスピンドルモータ１
１を制御する。また、制御部１６は、上記のように光デ
ィスクＤの回転制御を行うとともに、上記パワー関数に
応じたパワー値のレーザ光が光ピックアップ１０から光
ディスクＤに対して照射されるようレーザパワー制御回
路２０を制御する。このようにして本番の情報記録が実
施される。

【００４４】以上説明したように異なる記録線速度で実
施したテスト記録結果からパワー関数を導出することに
より、より正確なパワー関数を得ることができる。

【００４５】なお、上記例では、２回のテスト記録を実
施するようにしていたが、テスト記録の実施回数は３回
以上であってもよい。また、レーザパワー制御により高
い精度が要求される状況においては、複数回テスト記録
を実施するようにする一方で、あまり精度が要求されな
い状況においてはテスト記録を１回行うといったように
記録する時の状況（例えば、要求されるパワー制御の精
度など）に応じて回数を適宜設定するようにしてもよ
い。

【００４６】（変形例２）なお、上記変形例２で説明し
たようにテスト領域１１２ａに対して異なる角速度で光
ディスクＤを回転駆動することにより異なる記録線速度
でテスト記録を実施し、これらのテスト記録の結果から
記録線速度とパワーとの関係を求めるようにしてもよい
が、次のような方法によって記録線速度とパワーとの関
係を求めるようにしてもよい。

【００４７】すなわち、複数回のテスト記録の各々を行
う際に光ディスクＤを回転させる角速度は一定（例え
ば、本番の記録と同じ角速度）とし、各々のテスト記録
をテスト領域１１２ａ、およびプログラム領域１１８の
外周側の残余領域１２０（図２参照）に対して行う。図
７に示すように、ある一定の角速度で光ディスクＤを回
転駆動して記録を行った場合には、光ディスクＤにおけ
る径方向の記録位置と記録線速度との関係は、径方向位
置が外周側にいくにつれて記録線速度が大きくなるとい
った比例関係となる。このため、上記のように同一の角
速度で光ディスクＤを回転させた状態でテスト領域１１
２ａと残余領域１２０（第２の領域）といった２つの領
域に対してテスト記録を行うと、両者の記録線速度は異
なるものとなる。このようにテスト領域１１２ａと残余
領域１２０といった２つの径方向の位置が大きく異なる
領域に対してテスト記録を行うことによって得られる、
異なる記録線速度で実施されたテスト記録の結果を用い
て上記変形例２と同様にパワー関数を求めるようにして
もよい。

【００４８】なお、上記のようにテスト領域１１２ａと
残余領域１２０に対してテスト記録を実施する場合に
は、本番の記録を開始する位置（径方向の位置）に近い
領域に対するテストを後に実施するようにすれば、その
テスト記録から本番の記録に移行する際の光ピックアッ
プ１０の移動距離を小さくすることができ、移行時間を
短縮させることができる。

【００４９】（変形例３）また、上述した実施形態にお
いては、ＣＡＶ方式で実施したテスト記録の結果から導
出したパワー関数を用いてレーザパワー制御を行うよう
にしていたが、前記テスト記録の結果から本番の記録開
始時に照射するレーザパワー値、つまりレーザパワー値
の初期値のみを決定するようにし、その後のレーザパワ
ー制御方法としてＲＯＰＣ（Running Optimum Power Co
ntrol）を用いるようにしてもよい。周知の通り、ＲＯ
ＰＣによるレーザパワー制御方法は、本番の情報を記録
している時に光ディスクからの反射光のレベル（ＲＦア
ンプ１２の出力信号レベル）を検出し、この出力信号の
レベル値もしくは該レベル値によって一意に特定される
値が予め決められた目標値と一致するように光ピックア
ップ１０から照射されるレーザパワー値を制御する、と
いうものである。

【００５０】（変形例４）また、ある設定記録線速度に
達するまでは光ディスクの回転角速度が一定の記録方式
であるＣＡＶ記録を実行し、記録位置が外周側に移動す
ることにより記録線速度が上記設定記録線速度に達した
時点以降はその記録線速度でのＣＬＶ記録を行う、いわ
ゆるパーシャルＣＡＶ記録を行う光ディスク記録装置に
本発明を適用することもできる。

【００５１】（変形例５）また、上述した実施形態で
は、ＣＡＶ方式によるテスト記録の結果からレーザパワ
ー制御に用いるパワー関数を求めるようにしていたが、
これ以外にも、当該テスト記録の結果からレーザ光を制
御するための制御情報（例えばストラテジを制御するた
めの情報）等を取得し、該制御情報に基づいて本番の記
録時においてレーザ光を制御するようにしてもよい。

【００５２】（変形例６）上述した実施形態において
は、光ディスクＤとしてＣＤ−Ｒを想定しているが、こ
れ以外の光ディスク、例えば、ＣＤ−ＲＷディスク、Ｄ
ＶＤ−ＲＷディスク、ＤＶＤ−ＲＡＭディスク等にデー
タ記録を行う光ディスク記録装置に適用することとして
もよい。

【００５３】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
光ディスクの回転角速度を一定に維持しながら記録を行
う装置において、より簡易な制御によって光ディスクに
対してテスト記録を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の一実施形態に係る光ディスク記録装
置の構成を示すブロック図である。

【図２】 前記光ディスク記録装置によって記録が行わ
れる光ディスクの領域構成を示す図である。

【図３】 前記光ディスク記録装置によって実行される
記録処理の手順を示すフローチャートである。

【図４】 前記光ディスク記録装置による記録時のレー
ザパワー制御に用いられるパワー関数を示す図である。

【図５】 前記光ディスク記録装置の変形例によって実
行される記録処理の手順を示すフローチャートである。

【図６】 前記光ディスク記録装置の変形例による記録
時のレーザパワー制御に用いられるパワー関数を示す図
である。

【図７】 ＣＡＶ記録時における記録位置（径方向）と
記録線速度との関係を示す図である。

【符号の説明】

１０……光ピックアップ（記録手段）、１１……スピン
ドルモータ（回転駆動手段）、１２……ＲＦアンプ、１
３……サーボ回路（回転駆動手段）、１４……ＡＴＩＰ
検出回路、１６……制御部（記録手段、回転駆動手
段）、１９……レーザドライバ、（記録手段）……レー
ザパワー制御回路（記録手段）、２４……β検出回路、
１００……光ディスク記録装置、１１２ａ……テスト領
域、１１８……プログラム領域、１２０……残余領域、
Ｄ……光ディスク

【手続補正書】

【提出日】平成１４年８月９日（２００２．８．９）

【手続補正１】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】特許請求の範囲

【補正方法】変更

【補正内容】

【特許請求の範囲】

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 5D090 AA01 BB04 CC01 CC05 CC14 CC16 EE01 HH01 HH03 JJ12 KK03 LL08 5D119 AA24 BA01 DA01 EC09 HA19 HA45 5D789 AA24 BA01 DA01 EC09 HA19 HA45

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光ディスクに対してレーザ光を照射して
   記録を行う際に照射レーザ光を制御する方法であって、 光ディスクに対する本番の記録に先立ち、当該光ディス
   クをある一定の角速度で回転させながら、当該光ディス
   クの所定の領域に対してテスト記録を行うテスト記録ス
   テップと、 該テスト記録の結果に基づいてレーザ光を制御するため
   の制御情報を取得する制御情報取得ステップと、 本番の記録時に、前記取得した制御情報に基づいて当該
   光ディスクに対して照射すべきレーザ光を制御する制御
   ステップとを具備することを特徴とするレーザ光制御方
   法。
2. 【請求項２】 前記テスト記録ステップでは、前記ある
   一定の角速度で前記光ディスクを回転させながらテスト
   記録を行うとともに、前記ある一定の角速度と異なる角
   速度で前記光ディスクを回転させながら、当該光ディス
   クの前記所定の領域に対してテスト記録を行うことを特
   徴とする請求項１に記載のレーザ光制御方法。
3. 【請求項３】 前記ある一定の角速度は、前記本番の記
   録を行う際に当該光ディスクを回転させる角速度と同一
   であることを特徴とする請求項１または２に記載のレー
   ザ光制御方法。
4. 【請求項４】 前記ある一定の角速度と異なる角速度
   は、前記本番の記録を行う際に当該光ディスクを回転さ
   せる角速度と同一であることを特徴とする請求項２に記
   載のレーザ光制御方法。
5. 【請求項５】 前記テスト記録ステップで行われるテス
   ト記録のうち、最後に実施するテスト記録の際に前記光
   ディスクを回転させる角速度が、本番の記録の際の前記
   光ディスクを回転させる角速度と一致することを特徴と
   する請求項２に記載のレーザ光制御方法。
6. 【請求項６】 前記テスト記録ステップでは、前記ある
   一定の角速度で前記光ディスクを回転させながら、前記
   光ディスクにおける本番の記録を行う本番記録領域より
   も内周側にある前記所定の領域に対してテスト記録を行
   うとともに、前記本番記録領域よりも外周側にある第２
   の領域に対してテスト記録を行うことを特徴とする請求
   項１に記載のレーザ光制御方法。
7. 【請求項７】 光ディスクに対する本番の記録に先立
   ち、当該本番の記録の際に当該光ディスクに照射すべき
   レーザ光を制御する情報を得るために、当該光ディスク
   に対してテスト記録を行う方法であって、 前記光ディスクをある一定の角速度で回転駆動させなが
   ら、当該光ディスクの所定の領域に対してテスト記録を
   行うことを特徴とするテスト記録方法。
8. 【請求項８】 光ディスクを回転させる回転駆動手段
   と、前記回転駆動手段によって回転させられる前記光デ
   ィスクに対してレーザ光を照射して情報を記録する記録
   手段とを備えた光ディスク記録装置であって、 本番の情報記録に先だって光ディスクに対してテスト記
   録を行う際に、前記回転駆動手段は、当該光ディスクを
   ある一定の角速度で回転させるとともに、前記記録手段
   が前記ある一定の角速度で回転させられる光ディスクの
   所定の領域に対してレーザ光を照射してテスト記録を実
   施し、 前記記録手段は、前記テスト記録の結果に基づいて、本
   番の情報記録の際に前記光ディスクに対して照射するレ
   ーザ光を制御することを特徴とする光ディスク記録装
   置。