JP2001330675A - 放射線検出器 - Google Patents

放射線検出器

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JP2001330675A JP2000148308A JP2000148308A JP2001330675A JP 2001330675 A JP2001330675 A JP 2001330675A JP 2000148308 A JP2000148308 A JP 2000148308A JP 2000148308 A JP2000148308 A JP 2000148308A JP 2001330675 A JP2001330675 A JP 2001330675A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 小型・薄型化と撮像面積の大面積化を両立さ
せ、製作が容易な放射線検出器を提供する。 【解決手段】 基台1上には複数の光電変換素子21を
配置した受光部と、これら光電変換素子21に電気的に
接続されている電極パッド22とを備える固体撮像素子
2が載置されており、その受光部表面上にはシンチレー
タ3が形成されているが、基台1の固体撮像素子2を載
置する載置面10の回りにはこの載置面より側方に突出
して頂面が露出している突起部14、15が対向する側
壁上に設けられている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、放射線画像の撮像
に用いられる放射線検出器に関し、特に、口腔内に挿入
して用いられる歯科用等の小型の放射線検出器に関す
る。
【0002】
【従来の技術】医療用のX線診断装置としてX線感光フ
ィルムに代えてCCDを用いたX線イメージセンサが普
及してきている。このような放射線イメージングシステ
ムにおいては、複数の画素を有する放射線検出素子を用
いて放射線による2次元画像データを電気信号として取
得し、この信号を処理装置により処理して、モニタ上に
表示している。
【0003】歯科用等の口腔内に挿入して用いる放射線
検出器としては、特開平10−282243号公報に開示されて
いる放射線検出器が知られている。この放射線検出器
は、シンチレータ付きのFOP(ファイバ光学プレー
ト)をCCDの受光面上に貼り付けたものであり、入射
する放射線をシンチレータで光に変換して、FOPによ
りCCDへと導いて検出する仕組みになっている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、歯科用等で
口腔内に挿入して用いる放射線検出器においては検出器
全体を小型化、薄型化する一方で、撮像面積はできるだ
け大きくとる必要がある。前述の装置においては、FO
Pが介在するため、薄型化には限界がある。そこで、国
際公開WO98/36291号公報に開示されているように、撮像
素子の受光面上に直接シンチレータを形成することによ
り薄型化する手法が考えられている。しかしながら、受
光部を受光面いっぱいに形成すると、受光部全体にシン
チレータを均一に形成するのが困難であり、端部分の出
力や解像度が悪化するため、大画面化が困難であった。
【0005】そこで本発明は、小型・薄型化と撮像面積
の大面積化を両立させ、製作が容易な放射線検出器を提
供することを課題とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
本発明に係る放射線検出器は、(1)複数の光電変換素子
を配置した固体撮像素子と、(2)この固体撮像素子の受
光部表面上に気相成長により形成されているシンチレー
タと、(3)載置面上に固体撮像素子を載置している基台
であって、載置した固体撮像素子より側方へ突出してお
り、上面は載置面と略平行な平面を有する突起部が少な
くとも対向する側壁に形成されている基台と、を備えて
いることを特徴とする。
【0007】本発明に係る放射線検出器は、まず、固体
撮像素子を基台の載置面上に固定した後で、固体撮像素
子の受光部表面上に蒸着等の気相成長によりシンチレー
タを形成することで製造される。この際に、基台の突起
部の上面を利用して保持しておくことで、シンチレータ
形成時に受光部上で邪魔になる突起物がなく、受光部全
体にシンチレータを均一に形成することが可能となる。
したがって、周辺領域での解像度を確保して有効な受光
部の面積を拡大することができる。さらに、FOPを利
用しない分薄型化が容易となる。
【0008】これらの突起部は、基台側壁に形成された
タブ形状を有していてもよく、あるいは、突起部の上面
は載置面と同一平面上に連続して形成されていてもよ
い。このようにすると、基台の製作と、固体撮像素子の
基台への取り付けが容易になる。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して本発明
の好適な実施の形態について詳細に説明する。説明の理
解を容易にするため、各図面において同一の構成要素に
対しては可能な限り同一の参照番号を附し、重複する説
明は省略する。また、各図面における寸法、形状は実際
のものとは必ずしも同一ではなく、理解を容易にするた
め誇張している部分がある。
【0010】図1は、本発明に係る放射線検出器の一実
施形態を示す斜視図であり、図2はその断面図である。
この実施形態の放射線検出器100は、セラミック製の
基台1上に固体撮像素子2を載置したものである。基台
1は、表面中央部に固体撮像素子2を載置する載置面1
0を有し、載置面10の一辺に沿って複数の電極パッド
11が配列されている。これらの電極パッド11は、基
台1の裏面に配置されている外部接続用の電極端子12
と基台1を貫通している配線13によって電気的に接続
されている。さらに、載置面10をはさんで対向する2
つの側壁1a、1bから側方へ突出する突起部14、1
5が設けられている。これらの突起部14、15は放射
線検出器100の光入射面側からみて基台1側の辺が長
い台形形状を有しており、それらの頂面14a、15a
は、載置面10に連続する同一面として形成されてい
る。
【0011】固体撮像素子2は、CCDイメージセンサ
からなり、光電変換素子21が配列されて受光部を形成
している。各光電変換素子21は図示していない信号ラ
インによって固体撮像素子2の一辺に配置された電極パ
ッド22のうち対応する電極パッド22と電気的に接続
されている。固体撮像素子2は基台1の載置面10上に
それぞれの対応する電極パッド11、22が近接するよ
うに載置されており、対応する電極パッド11、22同
士は配線4によって電気的に接続されている。
【0012】固体撮像素子2の受光部上には、入射した
放射線を光電変換素子21が感度を有する波長帯の光に
変換する柱状構造のシンチレータ3が気相成長により形
成されている。シンチレータ3には、各種の材料を用い
ることができるが、発光効率が良いTlドープのCsI等が
好ましい。
【0013】さらに、固体撮像素子2と基台1の表面を
覆う保護膜5が形成されている。この保護膜5は、X線
透過性で、水蒸気を遮断するものであり、基台1側から
電気絶縁性の第1の有機膜51、金属薄膜52、電気絶
縁性の第2の有機膜53が積層されて構成されている。
【0014】第1の有機膜51と第2の有機膜53に
は、ポリパラキシリレン樹脂(スリーボンド社製、商品
名パリレン)、特にポリパラクロロキシリレン(同社
製、商品名パリレンC)を用いることが好ましい。パリ
レンによるコーティング膜は、水蒸気及びガスの透過が
極めて少なく、撥水性、耐薬品性も高いほか、薄膜でも
優れた電気絶縁性を有し、放射線、可視光線に対して透
明であるなど有機膜51、53にふさわしい優れた特徴
を有している。また、金属薄膜52としては、金、銀、
アルミなどの金属薄膜が使用できる。この金属薄膜52
はシンチレータ3で発せられた光のうち、固体撮像素子
2側でなく、放射線入射面側に向かう光を反射すること
で検出器の検出感度を増大させるミラーの役目を果た
す。
【0015】次に、図3〜図13を用いて本発明に係る
放射線検出器100の製造工程を具体的に説明する。最
初に図3に示されるような基台1を用意する。この基台
1は、前述したように裏面に外部接続用の電極端子1
2、表面に電極パッド11が配列されており、載置面1
0側からみると、矩形の対向する二辺に細長い台形2つ
(突起部14、15部分)を長い側の辺を取り付けた形
状となっている。
【0016】この載置部10上に固体撮像素子2をその
電極パッド22が基台1の電極パッド11側を向くよう
にして、光電変換素子21の受光面を表にして載置する
(図4参照)。このときに、基台1の側壁1a、1bと
固体撮像素子2の対応する側壁とを利用して位置決めす
ると、その固定作業が容易となる。そして、電極パッド
11と電極パッド22とをワイヤボンディングにより配
線4で電気的に接続する(図5、図6参照)。
【0017】次に、こうして固体撮像素子2を載置させ
た基台1を蒸着基板ホルダー200にセットする。図
7、図8はセット後の断面図を示したものである。この
とき、基台1は、図7に示されるようにその対向する突
起部14、15を蒸着基板ホルダー200の200dに
よって支持することにより収容部200c内に収容、支
持される。このとき、図7、図8に示されるように、固
体撮像素子2の入射面2aは、蒸着基板ホルダー200
の蒸着側表面200a付近、好ましくは蒸着側表面20
0aから蒸着室201側へ突出するように配置される。
これは、突起部14、15の頂面14a、15aが載置
面10と同一平面に有り、固体撮像素子2の入射面2a
より低い位置に位置していることによって可能となる。
そして、蒸着基板ホルダー200の電極パッド11側に
設けられたカバー部200aによって電極パッド11、
22と配線4は覆われている。
【0018】この状態で蒸着基板ホルダー200を蒸着
装置内にセットして、真空蒸着法によって固体撮像素子
2の入射面2aの受光部上にTlをドープしたCsIを厚さ
約200μmの柱状結晶として成長させて、シンチレータ
3層を形成する(図9、図10参照)。蒸着基板ホルダ
ー200に設置された固体撮像素子2の入射面2aの受
光部の周囲には、入射面2aより蒸着室201側に突出
した部分はカバー部200aを除いて存在しないので、
カバー部200a側、つまり、電極パッド22側を除い
て周辺部分までほぼ均一な厚みのシンチレータ3層を形
成することが可能である。
【0019】CsIは、吸湿性が高く、露出したままにし
ておくと空気中の水蒸気を吸湿して溶解してしまうの
で、その保護のため、図11に示されるように、CVD
(化学的蒸着)法によりシンチレータ3が形成された固
体撮像素子2付の基台1全体を厚さ10μmのパリレンで
包み込み、第1の有機膜51を形成する。
【0020】具体的には、金属の真空蒸着と同様に真空
中で蒸着によるコーティングを行うもので、原料となる
ジパラキシリレンモノマーを熱分解して、生成物をトル
エン、ベンゼンなどの有機溶媒中で急冷しダイマーと呼
ばれるジパラキシリレンを得る工程と、このダイマーを
熱分解して、安定したラジカルパラキシリレンガスを生
成させる工程と、発生したガスを素材上に吸着、重合さ
せて分子量約50万のポリパラキシリレン膜を重合形成
させる工程からなる。
【0021】CsIの柱状結晶の間には隙間があるが、パ
リレンはこの狭い隙間にある程度入り込むので、第1の
有機膜51は、シンチレータ3層に密着し、シンチレー
タ3を密封する。また、この第1の有機膜51は、電極
パッド11、22の表面のみならず両者を繋ぐ配線4の
周囲にも形成され、配線4を被覆する。これにより配線
4の接着強度、機械的強度が増すので、その後の工程に
おいて配線4の取り扱いが容易になる。このパリレンコ
ーティングにより、凹凸のあるシンチレータ3層表面に
均一な厚さの精密薄膜コーティングを形成することがで
きる。また、パリレンのCVD形成は、金属蒸着時よりも
真空度が低く、常温で行うことができるため、加工が容
易である。
【0022】続いて、図12に示されるように、第1の
有機膜51の入射面側の表面に0.15μm厚さのAl膜を蒸
着法により積層することで金属薄膜52を形成する。こ
の金属薄膜52を形成する際には、シンチレータ3層の
前に適切なマスク(図示せず)を配置して、シンチレー
タ3層の直上部分の第1の有機膜51上にのみ金属薄膜
52を形成することが望ましい。しかしながら、マスク
を配置しても蒸着時には金属蒸気が僅かながらマスクの
外側へと回り込んでしまうことがある。このため、特
に、受光部と電極パッドとの間隔が狭い場合、金属薄膜
52をシンチレータ3層の直上部分だけに形成するのは
困難であり、配線4や電極パッド11、22上にまで金
属が蒸着されてしまうことがある。本発明によれば、配
線4と電極パッド11、22が第1の有機膜51で被覆
されているので、金属薄膜52が配線4と電極パッド1
1、22上に直接形成されることがなく、金属薄膜52
による配線4、電極パッド11、22の短絡を効果的に
防止できる。
【0023】また、金属薄膜52の蒸着時、マスクを配
置しない場合も、配線4や電極パッド11、22部分に
まで金属薄膜52が形成されることになるが、配線4と
電極パッド11、22は第1の有機膜51で被覆されて
いるので、短絡は防止されている。また、金属薄膜52
を第1の有機膜51を介して配線4と電極パッド11、
22を覆う幅広い領域に形成することで、耐湿性をより
向上させることができる。
【0024】そして、再度CVD法により、パリレンを基
板全体の表面に10μm厚さで被覆して第2の有機膜53
を形成する(図13参照)。この第2の有機膜53は、
金属薄膜52のハンドリング等による汚れやはく離、酸
化による劣化を防止するためのものである。こうして第
1の有機膜51、金属薄膜52、第2の有機膜53を積
層させてなる保護膜5が形成される。
【0025】金属薄膜52を第1の有機膜51を介して
配線4や電極パッド11、22上にも形成した場合、金
属薄膜52、第2の有機膜53は電極パッド11、22
の表面のみならず両者を繋ぐ配線4の周囲にも形成され
ており、第1の有機膜51と合わせて配線4を三重に被
覆していることになり、より配線4の機械的強度、接着
強度を上げることができる。また、上述したようにマス
クを用いて金属薄膜52を形成した場合は、配線4の周
囲や電極パッド11、22上には第1の有機膜51と第
2の有機膜53の二重被覆が形成されることになる。
【0026】この後で形成した保護膜5のうち基台1の
裏面の保護膜5を除去して基台1裏面に設けられている
外部接続用の電極端子12を露出させることで図1、図
2に示される放射線検出器が得られる。
【0027】続いて、本実施形態の動作を図1、図2に
より、説明する。入射面側から入射したX線(放射線)
は、保護膜5、すなわち、第2の有機膜53、金属薄膜
52、第1の有機膜51の全てを透過してシンチレータ
3に達する。このX線は、シンチレータ3で吸収され、
X線の光量に比例した光が放射される。放射された光の
うち、X線の入射方向に逆行した光は、第1の有機膜5
1を透過して、金属薄膜52で反射される。このため、
シンチレータ3で発生した光はほとんど全てが光電変換
素子2へと入射する。このため、効率の良い高感度の測
定が可能となる。
【0028】また、本発明に係る放射線検出器において
はシンチレータ3層を受光部全体にほぼ均一な高さで形
成することができるので、出力特性がほぼ均一となる有
効な画素面積を最大限に広くとることが可能となり、撮
像素子いっぱいに受光部を形成することができるので、
従来品と同一の受光部のものであれば、その分検出器自
体の大きさを小型化することが可能である。
【0029】各々の光電変換素子2では、光電変換によ
り、入射した光の光量に対応する電気信号が生成されて
一定時間蓄積される。この光量は入射するX線の光量に
対応しているから、各々の光電変換素子2に蓄積されて
いる電気信号は、入射するX線の光量に対応することに
なり、X線画像に対応する画像信号が得られる。光電変
換素子2に蓄積されたこの画像信号を図示していない信
号ラインから電極パッド22、配線4、電極パッド1
1、配線13を介して最終的には電極端子12から順次
出力することにより、外部へと転送し、これを所定の処
理回路で処理することにより、X線像を表示することが
できる。
【0030】このような構成を採用することにより、放
射線検出器の厚みを2.5mm程度と従来良く用いられてき
たFOP(ファイバ光学プレート)付の放射線検出器の厚
み5.0mmの半分程度に薄くすることが可能となった。ま
た、撮像素子いっぱいに受光部を形成した固体撮像素子
の受光部にシンチレータを均一に形成できるので、撮像
素子の受光部を大面積化しかつ全体を小型化した放射線
検出器が実現できる。この結果、従来品(特開平10-282
243号公報)と同程度の受光部の面積を確保しつつ、放
射線検出器の入射面側面積を従来品の90%程度とコン
パクトにすることが可能となった。これは口腔内に挿入
して使用する歯科用の放射線検出器においては大きな利
点である。
【0031】以上の説明では、保護膜5を有する構成に
ついて説明してきたが、防湿構造のケースに入れて使用
するなど他の保護手段を用いる場合やシンチレータとし
て耐湿性材料を使用する場合には、保護膜5のない構成
であってもよい。また、保護膜5を有する場合であって
も、その構成には各種の構成が考えられ、有機膜あるい
は無機膜の1層構造でもこれらを組み合わせた多層構造
を採用してもよい。また、固体撮像素子2はアモルファ
スシリコン製のフォトダイオード(PD)アレイと薄膜
トランジスタ(TFT)で形成したものでもよいし、M
OS型のイメージセンサでもよい。
【0032】続いて、本発明に係る放射線検出器のその
他の実施形態について説明する。以下、理解を容易にす
るため、シンチレータ形成前の状態を示して各実施形態
を説明する。図14、図15に示される実施形態では、
基台1には電極パッド11の形成側を除く3つの側壁1
a〜1c側にそれぞれ2つずつ、計6個の突起部14〜
19が設けられている。各突起部は、放射線入射側から
見て半円形のタブ形状をなしており、それらの頂面位置
はいずれも載置面10と連続して形成されている。
【0033】図16、図17に示される実施形態では、
基台1は矩形板状であって、その上面のほぼ中央に固体
撮像素子2が載置されている。この場合は、固体撮像素
子2を載置する部分の枠外のハッチングで示すコの字状
の部分10xが全て図1、図2に示される実施形態にお
ける突出部14、15に該当することになる。
【0034】図18、図19に示される実施形態では、
突起部14、15を上から見た形状は図1、図2に示さ
れる実施形態と同一であるが、その頂面14a、15a
が載置面10より一段低く形成されている点が異なる。
また、この実施形態においては、固体撮像素子2の電極
パッド22は表面2aの裏面に露出されており、基台1
の載置面10上に配置された電極パッド11上に接触、
固定され、電気的に接続される構造となっている。この
ため、両者をつなぐ配線は不要となり、組立が容易とな
る利点がある。
【0035】また、図20、図21に示される実施形態
は、基台1が矩形板状であって、その上面のほぼ中央に
固体撮像素子2が載置されている点は図16、図17に
示される実施形態と共通するが、固体撮像素子の対向す
る2つの側壁が基台1の対向する側壁の延長上に配置さ
れている点が異なり、図1、図2に示される実施形態に
おける突出部14、15に該当することになる固体撮像
素子2を載置する部分の枠外のハッチングで示す部分1
0x’は、対向する2辺にそれぞれ沿った長方形の部分
となる。
【0036】これらの実施形態においても、各突起部の
頂面が載置された固体撮像素子の受光部入射面より低く
なるので、基台1に固体撮像素子を載置し、配線を施し
た後で受光部全体に均一なシンチレータ層を形成するこ
とができる。基台の固体撮像素子から側方に突出する部
分は少なくとも対向する側壁部分、つまり二辺に存在す
れば、シンチレータ形成時に蒸着基板ホルダーへ保持す
る際の受け部として用いることができ、受光面を蒸着室
側へできるだけ近づけて配置することが可能となる。
【0037】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、固
体撮像素子を載置する基台の側方に突出する突起部の頂
面が載置面と同一かそれより低く、載置された固体撮像
素子の入射表面より低くなるよう設定されているので、
載置後に固体撮像素子の受光部全体に均一なシンチレー
タ層を形成することが可能であり、検出器の薄型化・小
型化と同時に大面積化を可能とする。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る放射線検出器の実施形態を示す斜
視図である。
【図2】本発明に係る放射線検出器の実施形態を示す側
面図である。
【図3】図1の装置に用いられる基台の斜視図である。
【図4】図1の装置の製造工程を説明する側面図であ
る。
【図5】図4の工程の次の工程を説明する側面図であ
る。
【図6】図5の工程を説明する斜視図である。
【図7】図5の工程の次の工程で用いる蒸着基板ホルダ
ーの断面図である。
【図8】図7の蒸着基板ホルダーを別の側から見た断面
図である。
【図9】図5の工程の次の工程を説明する側面図であ
る。
【図10】図9の工程を説明する斜視図である。
【図11】図10の工程の次の工程を説明する側面図で
ある。
【図12】図11の工程の次の工程を説明する側面図で
ある。
【図13】図12の工程の次の工程を説明する側面図で
ある。
【図14】本発明に係る放射線検出器の別の実施形態の
シンチレータ層形成前の平面図である。
【図15】図14に対応する斜視図である。
【図16】本発明に係る放射線検出器のさらに別の実施
形態のシンチレータ層形成前の平面図である。
【図17】図16に対応する斜視図である。
【図18】本発明に係る放射線検出器のさらに別の実施
形態のシンチレータ層形成前の平面図である。
【図19】図18に対応する斜視図である。
【図20】本発明に係る放射線検出器のさらに別の実施
形態のシンチレータ層形成前の平面図である。
【図21】図20に対応する斜視図である。
【符号の説明】
1…基台、2…固体撮像素子、3…シンチレータ、4、
13…配線、5…保護膜、6…保護樹脂層、10…載置
面、11、22…電極パッド、14〜19…突起部、2
0…基板、21…光電変換素子、51、53…有機膜、
52…金属薄膜、200…蒸着基板ホルダー。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H04N 5/32 H01L 27/14 K 31/00 A (72)発明者 宮口 和久 静岡県浜松市市野町1126番地の1 浜松ホ トニクス株式会社内 Fターム(参考) 2G088 EE01 EE27 FF02 FF14 GG13 GG19 GG20 JJ05 JJ08 JJ09 JJ10 JJ31 JJ33 JJ37 4M118 AA01 AA08 AA10 AB01 BA10 BA14 CA02 CA32 CB06 CB11 FA06 FB09 FB13 GA10 GD14 HA24 HA30 5C024 AX11 CY47 CY48 EX22 EX24 GX05 GY01 5F088 AA02 AB02 AB05 BA15 BB03 BB07 EA04 EA06 FA09 FA20 HA15 JA03 JA05 JA09 LA07

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の光電変換素子を配置した固体撮像
    素子と、 前記固体撮像素子の受光部表面上に気相成長により形成
    されているシンチレータと、 載置面上に前記固体撮像素子を載置している基台であっ
    て、載置した前記固体撮像素子より側方へ突出してお
    り、上面は前記載置面と略平行な平面を有する突起部が
    少なくとも対向する側壁に形成されている基台と、 を備えている放射線検出器。
  2. 【請求項2】 前記突起部は、基台側壁に形成されたタ
    ブ形状を有している請求項1記載の放射線検出器。
  3. 【請求項3】 前記突起部の上面は前記載置面と同一平
    面上に連続して形成されている請求項1記載の放射線検
    出器。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005214800A (ja) * 2004-01-29 2005-08-11 Hamamatsu Photonics Kk 放射線イメージセンサ
EP1566840A1 (en) * 2002-11-28 2005-08-24 Hamamatsu Photonics K. K. Solid-state imaging device and radiation imaging system
JP2008531985A (ja) * 2005-02-10 2008-08-14 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 衝撃吸収機能を有する携帯型x線検出プレート
KR20200137309A (ko) * 2019-05-29 2020-12-09 엘지디스플레이 주식회사 디지털 엑스레이 검출기와 이를 포함하는 디지털 엑스레이 검출 장치 및 이의 제조 방법

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7151263B2 (en) * 2000-05-19 2006-12-19 Hamamatsu Photonics K.K. Radiation detector and method of manufacture thereof
JP4907799B2 (ja) * 2001-08-24 2012-04-04 浜松ホトニクス株式会社 撮像装置
US7942971B2 (en) * 2003-04-04 2011-05-17 Panasonic Corporation Method of manufacturing plasma display panels
FR2888043B1 (fr) * 2005-07-01 2007-11-30 Atmel Grenoble Soc Par Actions Capteur d'image a galette de fibres optiques
US7972659B2 (en) 2008-03-14 2011-07-05 Ecosil Technologies Llc Method of applying silanes to metal in an oil bath containing a controlled amount of water
DE102008033759B4 (de) 2008-07-18 2011-01-20 Siemens Aktiengesellschaft Szintillatorplatte
US8366318B2 (en) 2009-07-17 2013-02-05 Dental Imaging Technologies Corporation Intraoral X-ray sensor with embedded standard computer interface
EP2180343B1 (en) 2008-10-27 2018-07-25 Dental Imaging Technologies Corporation System and method of x-ray detection with a sensor
US9492129B2 (en) * 2008-10-27 2016-11-15 Dental Imaging Technologies Corporation Triggering of intraoral X-ray sensor using pixel array sub-sampling
JP5908668B2 (ja) * 2010-04-12 2016-04-26 富士フイルム株式会社 可搬型放射線撮影装置
JP5475574B2 (ja) 2010-07-02 2014-04-16 富士フイルム株式会社 放射線検出素子、及び放射線画像撮影装置
JP5599681B2 (ja) * 2010-08-31 2014-10-01 富士フイルム株式会社 放射線画像撮影装置
US9018725B2 (en) * 2011-09-02 2015-04-28 Optiz, Inc. Stepped package for image sensor and method of making same
DE102011083420A1 (de) 2011-09-26 2013-03-28 Siemens Aktiengesellschaft Strahlungsdetektor
JP2013246078A (ja) * 2012-05-28 2013-12-09 Fujifilm Corp 放射線画像検出装置
US9496247B2 (en) 2013-08-26 2016-11-15 Optiz, Inc. Integrated camera module and method of making same
JP6259382B2 (ja) * 2014-09-22 2018-01-10 富士フイルム株式会社 電子カセッテ
DE102016214482A1 (de) * 2016-08-04 2018-02-08 Berthold Technologies Gmbh & Co. Kg Radiometrisches Messgerät
DE102018115952A1 (de) 2018-07-02 2020-01-02 Ebm-Papst St. Georgen Gmbh & Co. Kg Motoranordnung mit einem Spalttopf

Family Cites Families (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4132539A (en) * 1977-09-23 1979-01-02 Ppg Industries, Inc. Method of welding edges of glass sheets
JPS59122988A (ja) 1982-12-29 1984-07-16 Shimadzu Corp 放射線計測素子
DE3606152A1 (de) * 1986-02-26 1987-08-27 Basf Ag Halterung fuer substratplatten auf traegerplatten
US5153438A (en) * 1990-10-01 1992-10-06 General Electric Company Method of forming an x-ray imaging array and the array
US5187369A (en) * 1990-10-01 1993-02-16 General Electric Company High sensitivity, high resolution, solid state x-ray imaging device with barrier layer
US5179284A (en) * 1991-08-21 1993-01-12 General Electric Company Solid state radiation imager having a reflective and protective coating
US5132539A (en) * 1991-08-29 1992-07-21 General Electric Company Planar X-ray imager having a moisture-resistant sealing structure
JPH0560871A (ja) 1991-09-04 1993-03-12 Hamamatsu Photonics Kk 放射線検出素子
US5208460A (en) * 1991-09-23 1993-05-04 General Electric Company Photodetector scintillator radiation imager having high efficiency light collection
DE69416460D1 (de) * 1993-07-01 1999-03-25 Gen Electric Anschmiegendes Aufbringen von einer dünnen Membrane auf eine unregelmässig geformte Oberfläche
JP2721476B2 (ja) 1993-07-07 1998-03-04 浜松ホトニクス株式会社 放射線検出素子及びその製造方法
EP0903590B1 (en) * 1997-02-14 2002-01-02 Hamamatsu Photonics K.K. Radiation detection device and method of producing the same
US7019301B2 (en) * 1997-02-14 2006-03-28 Hamamatsu Photonics K.K. Radiation detection device and method of making the same
CN101285888B (zh) * 1997-02-14 2012-01-18 浜松光子学株式会社 放射线检测元件及其制造方法
JP3836208B2 (ja) * 1997-04-09 2006-10-25 浜松ホトニクス株式会社 医療用小型x線画像検出装置
JPH11282243A (ja) 1998-03-30 1999-10-15 Brother Ind Ltd 画像形成装置
US6172371B1 (en) * 1998-06-15 2001-01-09 General Electric Company Robust cover plate for radiation imager
WO1999066346A1 (fr) 1998-06-18 1999-12-23 Hamamatsu Photonics K.K. Plaque de scintillateurs, capteur d'image radiologique et procede de fabrication
DE69931059T2 (de) * 1998-06-18 2006-12-07 Hamamatsu Photonics K.K., Hamamatsu Szintillatorpanel und strahlungsbildsensor
EP1118880B1 (en) * 1998-06-18 2003-11-26 Hamamatsu Photonics K.K. Method of organic film deposition
US6146489A (en) * 1998-11-19 2000-11-14 General Electric Company Method and apparatus for depositing scintillator material on radiation imager
DE19853605A1 (de) * 1998-11-20 2000-05-25 Philips Corp Intellectual Pty Verfahren und Anordnung zur Herstellung einer Leuchtschicht
JP2001015723A (ja) * 1999-06-30 2001-01-19 Canon Inc 放射線光変換装置、それを備える放射線撮像装置、放射線撮像システム及び放射線光変換装置の製造方法
US6414315B1 (en) * 1999-10-04 2002-07-02 General Electric Company Radiation imaging with continuous polymer layer for scintillator
AU2001225489A1 (en) 2000-01-13 2001-07-24 Hamamatsu Photonics K.K. Radiation image sensor and scintillator panel
WO2001051952A1 (fr) 2000-01-13 2001-07-19 Hamamatsu Photonics K.K. Capteur d'image radiologique et panneau de scintillateurs
US20030221620A1 (en) * 2002-06-03 2003-12-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Vapor deposition device

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1566840A1 (en) * 2002-11-28 2005-08-24 Hamamatsu Photonics K. K. Solid-state imaging device and radiation imaging system
EP1566840A4 (en) * 2002-11-28 2008-03-05 Hamamatsu Photonics Kk TUBE-FREE PICTURE DEVICE AND RADIATION IMAGING SYSTEM
JP2005214800A (ja) * 2004-01-29 2005-08-11 Hamamatsu Photonics Kk 放射線イメージセンサ
JP4563042B2 (ja) * 2004-01-29 2010-10-13 浜松ホトニクス株式会社 放射線イメージセンサ
JP2008531985A (ja) * 2005-02-10 2008-08-14 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 衝撃吸収機能を有する携帯型x線検出プレート
KR20200137309A (ko) * 2019-05-29 2020-12-09 엘지디스플레이 주식회사 디지털 엑스레이 검출기와 이를 포함하는 디지털 엑스레이 검출 장치 및 이의 제조 방법
KR102666048B1 (ko) * 2019-05-29 2024-05-13 엘지디스플레이 주식회사 디지털 엑스레이 검출기와 이를 포함하는 디지털 엑스레이 검출 장치 및 이의 제조 방법

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