JP2001325033A - 定電流回路 - Google Patents

定電流回路

Info

Publication number
JP2001325033A
JP2001325033A JP2000146542A JP2000146542A JP2001325033A JP 2001325033 A JP2001325033 A JP 2001325033A JP 2000146542 A JP2000146542 A JP 2000146542A JP 2000146542 A JP2000146542 A JP 2000146542A JP 2001325033 A JP2001325033 A JP 2001325033A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
current
constant current
circuit
transistor
constant
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000146542A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoichi Okamoto
陽一 岡本
Hiroshi Kimura
博 木村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP2000146542A priority Critical patent/JP2001325033A/ja
Publication of JP2001325033A publication Critical patent/JP2001325033A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Control Of Electrical Variables (AREA)
  • Amplifiers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 プロセス変動や温度変動による回路特性の変
動を抑制するように、出力電流を制御可能な定電流回路
を提供する。 【解決手段】 電流I11を定める第1の定電流回路3
00の電流が、プロセス変動によって変動する場合に
は、これを抑制するように第2の定電流回路400の出
力電流I12を制御電圧VcとViudによって制御
し、トランジスタの相互コンダクタンスが負の温度依存
性を有することにより負荷回路500の特性が変動する
場合には、電流I11を所定の電流より大きく設定し
て、その余剰分だけ第2の定電流回路400から減じる
ように制御することにより、電流I13は正の温度特性
を有することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体電子回路な
どで構成され、特にアナログ回路全般に応用される定電
流回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、プロセスの微細化の進展により、
トランジスタの集積度が向上したことにより、従来、複
数のディスクリートLSIの組み合わせによって構成さ
れていたシステムを、1チップで実現することが可能と
なってきており、オペアンプ、フィルタに代表されるア
ナログ回路や、A/Dコンバータ、D/Aコンバータ、
PLLに代表されるアナログ処理機能を有するアナデジ
混載回路が同一チップ内に搭載されるようになってきて
いる。
【0003】従来のディスクリートLSIによってシス
テムを構成する場合は、複数の同じ機能のLSIから最適
なものを選択することが可能であったが、システム全体
を1チップ化する場合は、搭載される機能ブロック全て
が所定の性能を満足することが必要不可欠である。
【0004】デジタル回路は、一般に2値信号を取り扱
うので、外乱の影響を受け難い。一方アナログ回路は、
連続信号を取り扱うので、動作環境やプロセス条件など
の影響を受け易く、設計段階でこれらの条件変動を考慮
することが重要である。
【0005】しかし、近年の著しいプロセス微細化の進
展に対して、従来のプロセス開発完了後に回路設計を行
うという開発フローが困難となっており、プロセス開発
と設計が同時に進行するため、各種プロセスパラメータ
が設計時と異なる確率が高くなっており、特にプロセス
パラメータに敏感なアナログ回路の特性に大きな影響を
及ぼす恐れが増大している。
【0006】一般にアナログ回路では、各機能ブロック
に一定電流を印加しておいて、大体の場合において電圧
である入力信号をトランジスタを介して電流に変換しつ
つ、所定の演算を行い、その結果を電流のまま、あるい
は負荷を介して電圧に再変換して出力する機能ブロック
を有していて、この機能ブロックの組み合わせによって
一つのアナログ回路は構成される。従って、前述の一定
電流を印加する定電流回路の特性は、アナログ回路全体
の特性を決定する重要な要素となる。
【0007】従来の定電流回路とそれによって駆動され
る被駆動回路を含めた代表的な構成を図9に示す。
【0008】ソースを電源電圧VDD接続され、ゲート
を共通接続されて一方のPMOSトランジスタのドレイ
ンに接続されたPMOSトランジスタ101と102と
で構成される第1のカレントミラー110と、ソースを
接地電圧VSSに接続され、ゲートを一端が接地電圧V
SSに接続された抵抗105の他端に接続され、ドレイ
ンをPMOSトランジスタ102のドレインに接続され
たNMOSトランジスタ103と、ソースを抵抗105
とNMOSトランジスタのゲートとの接続点に接続さ
れ、ゲートをPMOSトランジスタ102のドレインと
NMOSトランジスタ103のドレインとの接続点に接
続され、ドレインをPMOSトランジスタ101のゲー
トとドレインの共通接続点に接続され、この接続点を出
力端子とする定電流回路114と、前記出力端子にゲー
トを接続され、ソースを電源電圧VDDに接続されて、
PMOSトランジスタ101とで第2のカレントミラー
111を構成するPMOSトランジスタ106のドレイ
ンが、ソースを接地電圧VSSに接続されたNMOSト
ランジスタ107のゲートとドレインの共通接続点に接
続されて構成される副定電流回路115と、NMOSト
ランジスタ107のゲートとドレインの共通接続点にゲ
ートを接続され、ソースを接地電圧VSSに接続され
て、ドレインより被駆動回路113に電流を供給する電
流源となるNMOSトランジスタ108とで構成され
る。
【0009】次に上記回路構成における定電流発生の動
作について図9及び図10を用いて説明する。
【0010】図10の横軸はNMOSトランジスタ10
3のゲート―ソース間電圧Vgsであると同時に、抵抗
105の両端の差電圧でもある。また、縦軸はNMOS
トランジスタ103に流れる電流I1と抵抗105に流
れる電流I2である。
【0011】すなわち、図10はNMOSトランジスタ
103と抵抗105それぞれの電流―電圧特性を示して
いる。電流I1及びI2とゲート―ソース間電圧Vgs
とにはそれぞれ次の関係がある。
【0012】 I1=μ・Cox/2・W/L・(Vgs−Vt)2 (1) I2=Vgs/R (2) ここで、μはキャリア(この場合電子)移動度、Cox
はゲート酸化膜容量、Wはゲート幅、Lはゲート長、V
tはしきい値電圧であり、チャネル長変調効果は無視す
るものとする。また、Rは抵抗値である。
【0013】従来の定電流回路114のカレントミラー
110を構成するPMOSトランジスタ101、102
のゲート幅とゲート長は通常同じに設定される(すなわ
ちミラー比を1とする)。本説明においても同様とす
る。
【0014】ここで、チャネル長変調効果を無視する
と、PMOSトランジスタ101、102のそれぞれに
流れる電流は等しくなる。従って電流I1とI2は等し
くなるので、定電流回路114の動作点としては図10
の電流―電圧特性I1とI2の交点A、Bの何れかにな
る。
【0015】しかし、交点Aは原点であり電流が流れな
いので、この場合交点Bが実質的な動作点となる。すな
わち定電流回路114の電流は交点Bと縦軸との切片I
oとなる。なお、実際の回路においては、動作点が交点
Aで安定するのを回避する回路が別途付加される。
【0016】この定電流回路114は電源電圧VDDの
変動に対して良好な特性を有する構成の代表的な回路で
ある。また、NMOSトランジスタ103の温度に対す
るしきい値電圧の変動を相殺するようにゲート―ソース
間電圧Vgsを設定することで温度に対する変動を抑制
することが可能である。すなわち、電源電圧や周囲温度
の変動に対して良好な特性を達成できる。
【0017】定電流回路114で発生した電流は、副定
電流回路115のPMOSトランジスタ106と定電流
回路114のPMOSトランジスタ101とで構成され
るカレントミラー111によって電流I3に変換され、
NMOSトランジスタペア107、108で構成される
カレントミラー112を介して電流I4に変換されて被
駆動回路113に印加される。
【0018】ここで、カレントミラー112のミラー比
は通常1に設定されるので、被駆動回路113が必要と
する所定の電流I4はカレントミラー111のミラー比
を調整することで設定される。
【0019】なお、本説明においては、副定電流回路1
15及び被駆動回路113は1組としたが、通常アナロ
グ回路は、1つの定電流回路114に複数の副定電流回
路115が接続され、それによってバイアスされる複数
の被駆動回路113とで構成される。
【0020】従って定電流回路114の電流値が変動す
ると、その電流を基準としている副定電流回路115の
電流値も変動することとなるので、定電流回路114の
電流特性は、アナログ回路全体の特性を決定する上で重
要な要素となる。
【0021】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
の構成では、NMOSトランジスタ103の特性や抵抗
105の抵抗値Rが変動すると、発生する電流値Ioが
その影響を受けて変動するため、結果としてアナログ回
路特性が変動し、場合によっては所定の機能を果たせな
くなるという課題を有していた。
【0022】特に、近年のプロセス開発サイクルの短期
化に因る設計との同時進行開発においては、プロセスパ
ラメータの変更が発生する割合が高くなるため、この課
題は従来以上に顕在化している。
【0023】ここで、この変動の様子を図11を用いて
説明する。NMOSトランジスタ103の電流―電圧特
性I1は本来の特性である実線に対して、しきい値が低
くなった場合やキャリア移動度が高くなった場合には左
側の破線方向にシフトし、しきい値が高くなった場合や
キャリア移動度が低くなった場合には右側の破線方向に
シフトする。
【0024】一方、抵抗105の電流―電圧特性I2は
本来の特性である実線に対して、抵抗値が低くなった場
合には上側の破線方向にシフトし、抵抗値が高くなった
場合には下側の破線方向にシフトする。
【0025】結果として定電流回路114の動作点は、
本来の交点P0に対して、該当するI1とI2の交点P
1〜P4を頂点する領域内の何れかとなる。この時、電
流は交点P1で最大値Iomaxとなり、交点P3で最
小値Iominとなる。
【0026】また、先に述べたように、アナログ回路で
は定電流を印加して、入力信号などの処理すべき情報を
電流に変換して演算することが多い。その代表的回路と
して抵抗を出力負荷とする差動増幅器があるが、その特
性としては利得が一定であることが望ましい。
【0027】しかし、一般にトランジスタの相互コンダ
クタンス、すなわち電流利得は負の温度依存性を持つた
めに、印加する電流が条件に依らず一定値であると、増
幅率は負の温度依存性を持つようになる。従って従来の
定電流回路114によってバイアスされる増幅器等のア
ナログ回路においては、周囲温度の変動時にトランジス
タの電流利得が変動することに起因して回路特性が安定
しないという課題を有していた。
【0028】本発明は、かかる点に鑑み、プロセス変動
による電流の変動分を補償することを可能とすると共
に、周囲温度が変動した場合におけるトランジスタの相
互コンダクタンスの変動を抑制することを可能とする定
電流回路を提供することを目的とする。
【0029】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明に係わる定電流回路は、第1の定電流を発生
する第1の定電流回路と、第1の定電流回路にゲートを
接続され、ソースを所定の電圧に接続され、飽和領域で
動作して、第1の電流を所定の比で変換してドレインよ
り第2の定電流として出力する第1の電流源トランジス
タと、制御信号に応じて所定の第3の定電流を発生する
第2の定電流回路とを備え、第2の定電流と前記第3の
定電流の和を出力電流とすることを特徴とする。
【0030】この構成によれば、プロセスパラメータが
設計値に対して変動して、第1の定電流回路の特性が変
動し、第1の定電流が所定の電流と異なって、これを基
準とする第1の電流源トランジスタが出力する第2の定
電流が所定の電流と異なった場合には、第2の定電流回
路が出力する第3の定電流を制御信号によって調整する
ことで、第2の定電流の変動分を補償することを可能と
し、更に、周囲温度の変動によって被駆動回路を構成す
るトランジスタの相互コンダクタンスが変動した場合に
は、第2の定電流回路の温度特性により、この変動を抑
制するを可能とする。
【0031】また、前記第2の定電流回路は、ゲートを
第1の制御電圧に、ソースを第1の電源電圧に接続され
て、ドレインより第1の制御電圧に応じた第1の制御電
流を出力する第1極性の第2の電流源トランジスタと、
共通接続されたソースを第2の電流源トランジスタのド
レインに接続され、第2の制御電圧に基づいて導通/非
導通状態を制御される第1極性の差動トランジスタペア
と、第2極性のトランジスタで構成され、ソースを第2
の電源電圧に接続されて、差動トランジスタペアのそれ
ぞれのドレインから出力される電流をミラー出力する第
1および第2のカレントミラーと、第1極性のトランジ
スタで構成され、ソースを第1の電源電圧に接続され
て、第1のカレントミラーの出力電流をミラー出力する
第3のカレントミラーとで構成され、第2のカレントミ
ラーと第3のカレントミラーのドレインの共通接続点よ
り、第3の定電流を出力することを特徴とする。
【0032】この構成によれば、第3の定電流を第1の
制御電圧によってその大きさを制御可能とし、第2の制
御電圧によってその極性を制御可能とするので、第2の
定電流が変動して、定電流回路の出力電流が変動した場
合には、これを補償することを可能とする。
【0033】また、第2の定電流を所定電流より大きな
値に設定して、余剰分だけ第2の定電流を減じるように
第3の電流を制御することを特徴とする。
【0034】この設定によれば、第3の定電流は負の温
度依存性を持つので、結果として出力電流は正の温度依
存性を持つことになるので、被駆動回路を構成するトラ
ンジスタの相互コンダクタンスの周囲温度による変動を
抑制することを可能とする。
【0035】また、前記第2の定電流回路は、第2の電
流源トランジスタと、第2極性のトランジスタで構成さ
れ、ソースを第2の電源電圧に接続されて、第2の電流
源トランジスタが出力する第1の制御電流を第3の定電
流として出力する第4のカレントミラーとで構成され、
第2の定電流を所定の電流より大きな値に設定したこと
を特徴とする。
【0036】この構成によれば、定電流回路の出力電流
は、第2の定電流から第3の定電流を減じた電流とな
り、また、第3の定電流は負の温度依存性を持つので、
結果として出力電流は正の温度依存性を持つことになる
ので、被駆動回路を構成するトランジスタの相互コンダ
クタンスの周囲温度により変動を抑制することを可能と
する。
【0037】更に、本発明に係わる定電流回路は、第1
の定電流回路と、第1の電流源トランジスタと、第2の
電流源トランジスタの相互コンダクタンスが異なる複数
の第2の定電流回路と、そのそれぞれから出力される第
3の定電流の1つを選択出力する電流選択回路とを備
え、第2の定電流と選択出力された第3の定電流の和を
出力電流とすることを特徴とする。
【0038】この構成によれば、被駆動回路を構成する
相互コンダクタンスの温度変動がプロセスパラメータの
変動により設計時の予測と異なった場合においても、複
数の温度特性を持つ第3の定電流から最適なものを選択
することにより、プロセス変動と温度変動の両方による
相互コンダクタンスの変動を抑制することを可能とす
る。
【0039】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面を参照しながら説明する。
【0040】(実施の形態1)図1は本発明の実施の形
態1における定電流回路の構成を示したものである。
【0041】PMOSトランジスタ200のソースは電
源電圧VDDに接続され、ゲートは電源電圧VDDと接
地電圧VSSとに接続された第1の定電流回路300の
出力端に接続され、ドレインは電源電圧VDDと接地電
圧VSSと制御電圧Vc及びViudとに接続された第
2の定電流回路400の出力端子Ioutに接続される
とともに、一端を接地電圧VSSに接続された負荷回路
500に接続されている。
【0042】次に、第2の定電流回路400の構成につ
いて説明する。NMOSトランジスタ1のゲートは制御
電圧Vcに、ソースは接地電圧VSSに、ドレインは差
動トランジスタペア11を構成するNMOSトランジス
タ2、3のソースに共通接続されている。
【0043】NMOSトランジスタ3のゲートは制御電
圧Viudに接続され、NMOSトランジスタ2のゲー
トは制御電圧Viudを入力とするインバータ10の出
力端に接続され、前者のドレインはPMOSトランジス
タ6、7で構成され、ソースを電源電圧VDDに接続さ
れたカレントミラー13の入力端に接続され、後者のド
レインはPMOSトランジスタ4、5で構成され、ソー
スを電源電圧VDDに接続されたカレントミラー12の
入力端に接続されている。
【0044】カレントミラー12の出力端は、NMOS
トランジスタ8、9で構成され、ソースを接地電圧VS
Sに接続されたカレントミラー14の入力端に接続され
ている。カレントミラー13と14の出力端が出力端子
Ioutに接続されている。
【0045】以上のように構成された本実施の形態1の
動作について、図1〜図4を参照しながら説明する。
【0046】第1の定電流回路300によって発生した
定電流は、PMOSトランジスタ200を介すことによ
り、所定の比率に変換されて電流I11としてドレイン
より出力される。すなわち、PMOSトランジスタは飽
和領域で動作して、電流I11の電流源として機能す
る。
【0047】一方、第2の定電流回路400では、制御
電圧Viudに電源電圧VDDか接地電圧VSSを印加
して、差動トランジスタペア11の導通状態となったト
ランジスタに接続されたカレントミラーを構成するダイ
オード接続トランジスタ4または6を通して、NMOS
トランジスタ1のゲート―ソース間電圧である制御電圧
Vcに応じた電流I14が流れる。NMOSトランジス
タ1が飽和領域で動作する間の電流I14と制御電圧V
cの関係は次のようになる。
【0048】 I14=μ・Cox/2・W/L・(Vc−Vt)2 (3) 但し、制御電圧Vcが電源電圧VDDに近くなるとドレ
イン電圧が低下して(3)式は成立しなくなる。
【0049】ここで、制御電圧Viudが電源電圧VD
Dの場合には、トランジスタ3が導通状態となるので、
電流I14をカレントミラー13を介して出力端子Io
utより電流I12として出力され、電流I11に加算
される。
【0050】逆に制御電圧Viudが接地電圧VSSの
場合には、PMOSトランジスタ4が導通状態となるの
で、電流I14はカレントミラー12、14を介して出
力端子Ioutより電流I12として吸い込み、電流I
11より減じられる。
【0051】従って、出力電流I13は、制御電圧Vc
とViudとによって制御可能となり、その出力特性は
図2に示されるごときものとなるので、第1の定電流回
路の電流が所定の電流値から変動した場合においても、
制御電圧VcとViudとにより、その変動を抑制する
ことを可能とする。
【0052】また、トランジスタの相互コンダクタンス
gmは次のように表される。
【0053】 gm=(2・μ・Cox・W/L・I)1/2 (4) キャリア移動度μは負の温度依存性を持つため、バイア
ス電流I、すなわち定電流回路の出力電流I13が一定
であると、温度に対する特性は図3の破線で示すごとき
ものとなるので、周囲温度が上昇するとトランジスタの
相互コンダクタンスが減少して回路特性が劣化するなど
不安定になる。
【0054】従って、定電流回路の出力電流I13とし
ては同図の実線に示す正の温度特性が望ましく、この場
合、相互コンダクタンスgmの温度特性は実線で示すよ
うになり、変動を抑制することができる。
【0055】本実施の形態1においては、第1の定電流
回路300とPMOSトランジスタ200とで決定され
る電流I11を所定の電流より大きな値に設定し、第2
の定電流回路400の制御電圧Viudを接地電圧VS
Sに、Vcを電流I14が電流I11の所定の電流より
大きくした分と近くなるように設定する。
【0056】このときNMOSトランジスタ1の相互コ
ンダクタンスは負の温度依存性を持つので、電流I11
とI12の温度特性は図4の破線で示されるごときもの
となるので、I11とI12の和である定電流回路の出
力電流I13は正の温度特性を持つことが可能となり、
トランジスタの相互コンダクタンスgmの温度変動を抑
制できる。
【0057】(実施の形態2)図5は本発明の実施の形
態2における定電流回路の第2の定電流回路の構成を示
す図である。
【0058】図中401は第2の定電流回路であって、
PMOSトランジスタ31は、ソースを電源電圧VDD
に、ゲートを制御電圧Vcに、ドレインをNMOSトラ
ンジスタ32、33で構成され、ソースを接地電圧VS
Sに接続されたカレントミラー34の入力端に接続さ
れ、カレントミラー34の出力端を第2の定電流回路4
01の出力端子Ioutに接続されている。
【0059】以上のように構成された第2の定電流回路
の動作について、図5を参照しながら説明する。制御電
圧Vcに応じて(3)式の関係に基づき、カレントミラ
ー34を介して、出力端子Ioutより、引き込む極性
の電流が出力される。
【0060】この第2の定電流回路401は、3つのト
ランジスタで構成可能であり、かつ電源電圧VDDと接
地電圧VSS間に縦続接続されたトランジスタは2段で
あるので、本実施の形態2の定電流回路は、より簡単な
構成で、トランジスタの相互コンダクタンスgmの温度
変動を広範に抑制することを可能とする。
【0061】(実施の形態3)図6は本発明の実施の形
態3における定電流回路の構成を示したものである。こ
こでPMOSトランジスタ200、定電流回路300
は、実施の形態1に示したものと同様であるので、これ
に係わる構成と動作については説明を省略する。
【0062】410〜412は実施の形態1及び2の第
2の定電流回路400または401であり、それぞれ電
源電圧VDDと接地電圧VSSとに接続され、それぞれ
の出力端子は電流選択回路600の対応する入力端子に
接続され、出力端子をPMOSトランジスタ200のド
レインに接続されている。
【0063】以上のように構成された本実施の形態の動
作について、図6〜図8を参照しながら説明する。
【0064】電流選択回路600は第2の定電流回路4
10〜412の出力電流α、β、γのいずれかを選択出
力して電流I12とする。ここで、それぞれの第2の定
電流回路410〜412の制御電圧Vcによって定まる
電流I41を図7に示すごときものに設定する。
【0065】すなわち、制御電圧Vcの変動分ΔVに対
する電流I41の変動分が異なるように設定する。この
特性は制御電圧Vcに接続されるトランジスタの相互コ
ンダクタンスを決めるゲート幅/ゲート長の比を変える
ことで実現できる。
【0066】同図ではゲート幅/ゲート長の比はα(4
10)>β(411)>γ(412)の関係にある。こ
こで電流α、β、γの極性が引き込み方向であれば、先
に説明したように定電流回路の出力電流I13は正の温
度特性を持つ。
【0067】ところでトランジスタのしきい値Vtは負
の温度依存性を持つので、(3)式においてはキャリア
移動度μとは反対にトランジスタの電流を正の温度依存
性を持たせるように作用する。
【0068】従って、図7のΔVの変動をしきい値Vt
の変動と見た場合、同一電流値からの電流の変動の度合
いはα>β>γの関係になる。この場合の引き込み電流
I41の温度特性は図8の破線で示すα1〜γ1のごと
きものとなるので、本実施の形態3における定電流回路
の温度特性は実線で示すα2〜γ2のいずれかをとり得
る。
【0069】従って、被駆動回路を構成する相互コンダ
クタンスの温度変動がプロセスパラメータの変動により
設計時の予測と異なった場合においても、複数の温度特
性を持つ第2の定電流回路410〜412から最適な出
力電流を選択することによって、プロセス変動と温度変
動の両方による電流利得の変動を抑制することを可能と
する。
【0070】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、第1の
定電流回路と第1の電流源トランジスタと1つあるいは
複数の第2の定電流回路とその出力を選択する電流選択
回路とを備え、プロセスパラメータが設計値に対して変
動して、第1の定電流回路の特性が変動し、第1の定電
流が所定の電流と異なって、これを基準とする第1の電
流源トランジスタが出力する第2の定電流が所定の電流
と異なった場合には、第2の定電流回路が出力する第3
の定電流を制御信号によって調整することで、第2の定
電流の変動分を補償することを可能とする。
【0071】更に、周囲温度の変動によって被駆動回路
を構成するトランジスタの電流利得が変動した場合に
は、第2の定電流回路の温度特性により、この電流利得
の変動を抑制することを可能とする定電流回路を提供す
ることができるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態1における定電流回路の構
成を示す回路図
【図2】図1の電流I13と制御電圧Vcの関係を示す
特性図
【図3】図1の電流I13,相互コンダクタンスgmと
周囲温度の関係を示す特性図
【図4】図1の電流I11,I12,I13と周囲温度
の関係を示す特性図
【図5】本発明の実施の形態2の定電流回路の第2の定
電流回路の構成を示す回路図
【図6】本発明の実施の形態3における定電流回路の構
成を示す図
【図7】図6の電流I41と制御電圧Vcの関係を示す
特性図
【図8】図6の電流I11、I12、I13と周囲温度
の関係を示す特性図
【図9】従来の定電流回路の構成を示す回路図
【図10】図9の電流I1、I2とゲート―ソース間電
圧Vgsの関係を示す特性図
【図11】プロセスパラメータが変動した場合における
電流I1、I2とゲート―ソース間電圧Vgsの関係を
示す特性図
【符号の説明】
200 PMOSトランジスタ 300 第1の定電流回路 400 第2の定電流回路 401 第2の定電流回路 500 負荷回路 600 電流選択回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5H420 NA17 NA36 NB03 NB25 NC02 NE23 5J090 AA01 AA59 CA02 CA14 CN01 CN04 FA08 FA18 HA10 HA17 HA25 KA02 KA05 KA06 KA09 TA01 TA02 TA04

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1の定電流を発生する第1の定電流回
    路と、 前記第1の定電流回路にゲートを接続され、ソースを所
    定の電源電圧に接続され、飽和領域で動作して、前記第
    1の定電流を所定の比で変換してドレインより第2の電
    流として出力する第1の電流源トランジスタと、 制御信号に応じて所定の第3の定電流を出力する第2の
    定電流回路を備え、 前記第2の定電流と前記第3の定電流の和を出力電流と
    することを特徴とする定電流回路。
  2. 【請求項2】 前記第2の定電流回路は、 ゲートを第1の制御電圧に、ソースを第1の電源電圧に
    接続されて、ドレインより前記第1の制御電圧に応じた
    第1の制御電流を出力する第1極性の第2の電流源トラ
    ンジスタと、 共通接続されたソースを前記第2の電流源トランジスタ
    のドレインに接続され、第2の制御電圧に基づいて導通
    /非導通状態を制御される第1極性の差動トランジスタ
    ペアと、 第2極性のトランジスタで構成され、ソースを第2の電
    源電圧に接続されて、前記差動トランジスタペアのそれ
    ぞれのドレインから出力される電流をミラー出力する第
    1および第2のカレントミラーと、 第1極性のトランジスタで構成され、ソースを前記第1
    の電源電圧に接続されて、前記第1のカレントミラーの
    出力電流をミラー出力する第3のカレントミラーを備
    え、 前記第2のカレントミラーと前記第3のカレントミラー
    のドレインの共通接続点より、前記第3の定電流を出力
    することを特徴とする請求項1記載の定電流回路。
  3. 【請求項3】 前記第2の定電流を所定電流より余剰に
    設定し、前記余剰分だけ前記第2の定電流を減じるよう
    に前記第3の電流を制御したことを特徴とする請求項2
    記載の定電流回路。
  4. 【請求項4】 前記第2の定電流回路は、 前記第2の電流源トランジスタと、 第2極性のトランジスタで構成され、ソースを第2の電
    源電圧に接続されて、前記第2の電流源トランジスタの
    出力する前記第1の制御電流を前記第3の定電流として
    ミラー出力する第4のカレントミラーを備え、 前記第2の定電流を所定の電流より大きな値に設定した
    ことを特徴とする請求項1記載の定電流回路。
  5. 【請求項5】 第1の定電流を発生する第1の定電流回
    路と、 前記第1の定電流回路にゲートを接続され、ソースを所
    定の電源電圧に接続され、飽和領域で動作して、前記第
    1の定電流を所定の比で変換してドレインより第2の電
    流として出力する第1の電流源トランジスタと、 制御信号に応じて所定の第3の定電流を出力するととも
    に、第2の電流源トランジスタの相互コンダクタンスが
    異なる複数の第2の定電流回路と、 前記複数の第2の定電流回路のそれぞれから出力される
    前記第3の定電流の1つを選択出力する電流選択回路と
    を備え、 前記第2の定電流と選択出力された前記第3の定電流の
    和を出力電流とすることを特徴とする定電流回路。
JP2000146542A 2000-05-18 2000-05-18 定電流回路 Pending JP2001325033A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000146542A JP2001325033A (ja) 2000-05-18 2000-05-18 定電流回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000146542A JP2001325033A (ja) 2000-05-18 2000-05-18 定電流回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001325033A true JP2001325033A (ja) 2001-11-22

Family

ID=18652880

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000146542A Pending JP2001325033A (ja) 2000-05-18 2000-05-18 定電流回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2001325033A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007097056A (ja) * 2005-09-30 2007-04-12 Sanyo Electric Co Ltd 温度補償回路
JP2009074973A (ja) * 2007-09-21 2009-04-09 Toshiba Corp 負電圧検知回路及び負電圧検知回路を備えた半導体集積回路
KR101352410B1 (ko) 2006-02-17 2014-01-17 세미컨덕터 콤포넨츠 인더스트리즈 엘엘씨 온도 의존성을 무효화하기 위한 방법 및 그 회로

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007097056A (ja) * 2005-09-30 2007-04-12 Sanyo Electric Co Ltd 温度補償回路
KR101352410B1 (ko) 2006-02-17 2014-01-17 세미컨덕터 콤포넨츠 인더스트리즈 엘엘씨 온도 의존성을 무효화하기 위한 방법 및 그 회로
JP2009074973A (ja) * 2007-09-21 2009-04-09 Toshiba Corp 負電圧検知回路及び負電圧検知回路を備えた半導体集積回路
US7733730B2 (en) 2007-09-21 2010-06-08 Kabushiki Kaisha Toshiba Negative voltage detection circuit and semiconductor integrated circuit
JP4660526B2 (ja) * 2007-09-21 2011-03-30 株式会社東芝 負電圧検知回路を備えた半導体集積回路

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2882163B2 (ja) 比較器
US5726597A (en) Method and circuit for reducing offset voltages for a differential input stage
JP2525346B2 (ja) 定電流源回路を有する差動増幅回路
JP3575453B2 (ja) 基準電圧発生回路
US6573779B2 (en) Duty cycle integrator with tracking common mode feedback control
US7262662B2 (en) Operational amplifier
US5446396A (en) Voltage comparator with hysteresis
JPH10116129A (ja) 基準電圧発生回路
US6388507B1 (en) Voltage to current converter with variation-free MOS resistor
JPH11272346A (ja) 電流ソース
US7068090B2 (en) Amplifier circuit
JP2000114891A (ja) 電流源回路
US20050134364A1 (en) Reference compensation circuit
US20060267568A1 (en) Voltage regulating circuit and method thereof
JP2001325033A (ja) 定電流回路
US8143877B2 (en) Semiconductor circuits capable of mitigating unwanted effects caused by input signal variations
US6556070B2 (en) Current source that has a high output impedance and that can be used with low operating voltages
JP3354538B2 (ja) Cmos集積回路におけるプロセス及び動作パラメータの変動を補償するための装置
JP2005130020A (ja) アナログレベルシフタ
JP2550871B2 (ja) Cmos定電流源回路
US6177827B1 (en) Current mirror circuit and charge pump circuit
JPH10112614A (ja) バイアス電流供給方法およびその回路
JP4238106B2 (ja) 論理回路
JP2000201032A (ja) 広範囲の出力負荷インピ―ダンスに対して定電流を供給するカレントミラ―
JPH08316798A (ja) コンパレータ