JP2001324413A

JP2001324413A - Ｍｔｆ測定方法およびｍｔｆ測定装置

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Publication number: JP2001324413A
Application number: JP2000142090A
Authority: JP
Inventors: Naruatsu Takizawa; 成温滝澤
Original assignee: Konica Minolta Inc
Current assignee: Konica Minolta Inc
Priority date: 2000-05-15
Filing date: 2000-05-15
Publication date: 2001-11-22
Anticipated expiration: 2020-05-15
Also published as: JP4092853B2

Abstract

(57)【要約】【課題】ノイズによる測定誤差を軽減でき、ＭＴＦ測
定チャート撮影時の階調特性をＭＴＦ測定に反映させる
ことを可能にする。【解決手段】光電変換素子を用いたディジタル撮像系
のＭＴＦ測定装置２０であって、前記ディジタル撮像系
でナイフエッジチャー卜を読み込んだディジタル画像か
ら、複数のエッジ広がり関数（ＥＳＦ）を作成し、それ
ら複数のエッジ広がり関数（ＥＳＦ）の差分から線広が
り関数（ＬＳＦ）を求め、その線広がり関数（ＬＳＦ）
を合成して合成線広がり関数（合成ＬＳＦ）を周波数領
域へ変換し、合成線広がり関数（合成ＬＳＦ）の周波数
特性を補正してＭＴＦを計算するＭＴＦ測定手段を備え
た、ことを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、スキャナやディジ
タルカメラ等のディジタル撮像系のＭＴＦ測定方法およ
びＭＴＦ測定装置に関し、特に、入力画像に重畳したノ
イズによるＭＴＦ測定誤差を軽減する技術と、ＭＴＦ測
定チャート撮影時の階調特性をＭＴＦ測定に反映させる
技術とに関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、光電変換素子を用いたディジタル
撮像系のＭＴＦ（Modulation Transfer Function）測定
法としては、サインチャートの振幅から求める方法や、
ナイフエッジチャートから線広がり関数（Line Spread
Function：ＬＳＦ）を求めた後、フーリエ変換により計
算する方法が知られている。

【０００３】また、電子スチルカメラのＭＴＦ測定法と
して、ＩＳＯ／ＦＤＩＳ１２２３３ “Photography
- Electronics still picture cameras - Resolution m
easurements”において、ナイフエッジチャートを用い
た方法が記載されている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】以上のナイフエッジチ
ャートを用いた方法は、上記文献のDraftの本文とAnnex
Aで２つのアルゴリズムが記載されている。この場合、
以下に列挙するようないくつかの問題が存在している。

【０００５】本文に記載されているＳＦＲアルゴリズ
ムでは、合成するライン数を固定しているため、ナイフ
エッジの角度を正碓に合わせないと、実際のＭＴＦと一
致しないという問題が存在している。

【０００６】また、Annex Aに記載されたＳＦＲアル
ゴリズムでは、複数ラインのエッジ広がり関数（ＥＳ
Ｆ）を合成したあとに、複数のエッジ広がり関数（ＥＳ
Ｆ）の差分により、線広がり関数（ＬＳＦ）を求めるよ
うにしていた。これにより、図１６に示すように、ＬＳ
Ｆ（図１６のａ）の振幅と、ノイズ成分（図１６のａ以
外の部分）の振幅とのレベル差が小さくなり、ＭＴＦの
測定誤差が大きくなる欠点があった。

【０００７】ＭＴＦ計算の際に、合成ＬＳＦの全デー
タサンプルを使っているため、実際のＭＴＦには影響し
ないＬＳＦ両端のデータにノイズが重畳していると、測
定誤差が大きくなる欠点があった。

【０００８】電子スチルカメラでは、被写体ごとに画
像処理によって自動的に階調カーブを変えることがある
ため、階調特性測定チャート撮影時と、ＭＴＦ測定チャ
ート撮影時との階調特性が異なっている場合がある。そ
のため、予め測定した階調特性データからカメラの階調
特性を線形化しても、精度の高い変換ができなかった。

【０００９】以上の〜のような不具合に対し、従来
技術においては何の対処もなされていないのが実情であ
った。本発明はこのような従来の問題点に鑑みてなされ
たものであって、ＭＴＦ測定に際し、ノイズによる測定
誤差を軽減できるＭＴＦ測定方法及び、スリットの光学
像によるＭＴＦの劣化を補正できるＭＴＦ測定方法を有
したＭＴＦ測定装置を提供することを目的とする。

【００１０】本発明はこのような従来の問題点に鑑みて
なされたものであって、ノイズによる測定誤差を軽減で
きるＭＴＦ測定を実現することを目的とする。また、本
発明はこのような従来の問題点に鑑みてなされたもので
あって、ＭＴＦ測定チャート撮影時の階調特性をＭＴＦ
測定に反映させることを目的とする。

【００１１】

【課題を解決するための手段】本発明のＭＴＦ測定方法
は、光電変換素子を用いたディジタル撮像系のＭＴＦ測
定方法であって、前記ディジタル撮像系でナイフエッジ
チャー卜を読み込んだディジタル画像から、複数のエッ
ジ広がり関数（ＥＳＦ）を作成し、それら複数のエッジ
広がり関数（ＥＳＦ）の差分から線広がり関数（ＬＳ
Ｆ）を求め、その線広がり関数（ＬＳＦ）を合成して合
成線広がり関数（合成ＬＳＦ）を周波数領域へ変換し、
合成線広がり関数（合成ＬＳＦ）の周波数特性を補正し
てＭＴＦを計算する、ことを特徴とする。

【００１２】また、本発明のＭＴＦ測定装置は、光電変
換素子を用いたディジタル撮像系のＭＴＦ測定装置であ
って、前記ディジタル撮像系でナイフエッジチャー卜を
読み込んだディジタル画像から、複数のエッジ広がり関
数（ＥＳＦ）を作成し、それら複数のエッジ広がり関数
（ＥＳＦ）の差分から線広がり関数（ＬＳＦ）を求め、
その線広がり関数（ＬＳＦ）を合成して合成線広がり関
数（合成ＬＳＦ）を周波数領域へ変換し、合成線広がり
関数（合成ＬＳＦ）の周波数特性を補正してＭＴＦを計
算するＭＴＦ測定手段を備えた、ことを特徴とする。

【００１３】すなわち、本発明のＭＴＦ測定は、測定す
る方向に対して直交する軸からエッジを傾けたナイフエ
ッジの画像を読み込み、その画像からエッジの傾きを求
め、合成するライン数を決定する。そして、各ラインの
線広がり関数（ＬＳＦ）のピークから合成線広がり関数
（合成ＬＳＦ）の中心位置を検出し、その前後の線広が
り関数（ＬＳＦ）を合成して合成線広がり関数（合成Ｌ
ＳＦ）を作り、周波数領域へ変換する。その周波数デー
タを、１画素幅のｓｉｎｃ関数で除算してＭＴＦを求め
る。

【００１４】このようなＭＴＦ測定によれば、線広がり
関数（ＬＳＦ）を合成することによってＳＮ比が高くな
り、測定誤差を小さくすることができる。また、ｓｉｎ
ｃ関数で除算することで、正確にＭＴＦを測定できるよ
うになる。

【００１５】また、合成線広がり関数（合成ＬＳＦ）を
選択するようにしたことで、ノイズによる測定誤差を小
さくすることができる。また、合成線広がり関数（合成
ＬＳＦ）の表示色を測定対象色に応じて変えるようにす
ることで、測定対象色を容易に判別できる。

【００１６】また、合成線広がり関数（合成ＬＳＦ）の
両端のノイズを含んだデータを削除することで、ノイズ
による測定誤差を小さくすることができる。また、ＭＴ
Ｆと階調特性を同時に測定することで、階調の線形化を
正確に行うことができる。

【００１７】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態例のＭ
ＴＦ測定装置について図面を参照しつつ説明する。

【００１８】図１は、ＭＴＦ測定を行う画像システムの
概略ブロック図を示したものである。Ｘ線写真等をスキ
ャナ等の画像入力部１０で読み取るような医用画像の分
野では、入力のＸ線写真と出力のハードコピーの鮮鋭性
が一致していなければならず、正確な周波数再現が求め
られるため、精度の高いＭＴＦ補正を行なうことは非常
に重要である。このため、画像入力部１０から入力され
たテストチャートの画像を画像記憶部１１で一旦記憶し
ておいて、ＭＴＦ測定部２０でＭＴＦ測定を行い、その
ＭＴＦ測定値によって画像処理部３０の画像処理におけ
るＭＴＦ補正を行い、画像出力部１２から出力を行うよ
うにしている。

【００１９】図３はＭＴＦ測定装置の画像入力部１０で
ある透過型フラットベットスキャナの概略構成を示す構
成図である。ステージ１上に載置された写真フィルム等
の透過原稿を上部から照明２で露光し、透過した光を下
部に設けられたＣＣＤラインセンサ３で走査しながら受
光した後、光電変換して画像データを生成する。なお、
ＣＣＤラインセンサ３の長手方向（図３の紙面と垂直な
方向）で主走査し、図示しない駆動系によってＣＣＤラ
インセンサ３を主走査とは直角方向（矢線で示す）に副
走査することで二次元の画像データを得ている。なお、
ここでは、フラットベッドスキャナを一例として示した
が、２次元の撮像素子を備えた画像入力部１０を用いる
ことも可能である。

【００２０】そして、光電変換された画像データの電気
信号は図示しないＡ／Ｄ変換回路によってディジタル化
され、後述するＭＴＦ測定装置へ出力される。まず、上
記透過原稿の読み取りに先立って画像入力部１０のＭＴ
Ｆ測定が行なわれる。

【００２１】図１は、画像システム装置の概略構成を示
すブロック図であり、図２は本実施の形態例の動作状態
を示すフローチャートである。これらの図を用いてＭＴ
Ｆ測定装置の説明を行なう。

【００２２】〈第１の実施の形態例〉以上のフラットベ
ッドスキャナにおいて、図４に示すようにエッジを境に
して濃度が異なるナイフエッジチャートを使い、主走査
方向のＭＴＦを測定する例を示す。

【００２３】ナイフチャートを図３のステージ１に置
き、図５のように副走査方向に対してスリットを所定角
度（たとえば、１°〜４°）傾ける。ここで、Ｘは副走
査方向、Ｙは主走査方向を表す。この所定の角度θは、
小さ過ぎると後述する合成線広がり関数（以下、合成Ｌ
ＳＦ）の数が減ってしまい平均回数が少なくなるし、ま
た、逆に角度θが大き過ぎると線広がり関数（以下、Ｌ
ＳＦ）の位相ずれによってＭＴＦ測定値が不均一になっ
てしまうので、１°〜４°の間で設定されることが望ま
しい。

【００２４】このナイフエッジチャートを読み込んで、
１６４×７５４画素程度のＲＧＢ画像データを得る（図
２Ｓ１）。次に、ＭＴＦ測定部２０内のＣＰＵでＭＴＦ
測定プログラムを動作させ、該ＭＴＦ測定プログラムに
てナイフエッジチャートのディジタル画像を開く。そし
て、画面上に表示されたナイフエッジ画像から測定範囲
を選択する。

【００２５】表示画面上に測定範囲を選択した例を図６
として示す。ここで、主走査方向のＭＴＦを測定する際
は、Ｙ方向よりもＸ方向が長くなるように範囲選択を行
う。また、副走査方向の測定では、この逆になるように
する。４５度、１３５度方向のＭＴＦ測定に対しては、
Ｘ方向、Ｙ方向をほほ同じ長さにする。このようにする
ことで、ＭＴＦ測定プログラムが測定する方向を自動的
に判別することができるようになる。また、Ｘ方向・Ｙ
方向の測定の際は、長辺を短辺の２倍以上にするとよ
い。これで４５度、１３５度方向との判別が容易にな
る。

【００２６】図６の測定範囲の選択画面でＯＫボタンを
押すと、ＭＴＦ測定プログラムによって、ダイアログボ
ックスが閉じて別のダイアログボックスが表示される。
この新たなダイアログボックスには、以下の手順で計算
した合成ＬＳＦが表示される。

【００２７】（１）ライン数決定：ディジタル画像から
合成ＬＳＦを作るためのライン数を決定する。合成する
ライン数ｎは、エッジの角度θから決定する。これは、
以下の式で表される。ｎが整数にならない場合は四捨
五入などにより整数にする。ｎ≒1／ｔａｎθ … （２）平均値計算：Ｘ方向の真中の１ラインについて、
両端の数画素で平均値を計算する。

【００２８】（３）ＬＳＦ作成：Ｙ方向の全ラインのＬ
ＳＦを作成する。上記（２）で計算した左端の平均値が
右側の平均値より大きい場合は、式によりＬＳＦを求
める。ただし、Ｆ［］は、階調特性を線形化するための
ルックアップテーブル（ＬＵＴ）を表す。また、Δｘは
１画素の幅を表す。ｇ（ｉΔｘ）＝Ｆ［ｅ（ｉΔｘ）］−Ｆ［ｅ（（ｉ＋１）Δｘ）］ … ここでｉ＝０，１，２，…，１６２なお、左端の平均値
が右側の平均値より小さい場合には、式によりＬＳＦ
を計算する。ｇ（ｉΔｘ）＝Ｆ［ｅ（（ｉ＋１）Δｘ）］−Ｆ［ｅ（ｉΔｘ）］ … ここでｉ＝０，１，２，…，１６２なお、ここでは、ｅ
（ｉΔｘ）とｅ（（ｉ＋１）Δｘ）がＥＳＦを表してお
り、ｇ（ｉΔｘ）がＬＳＦを表している。すなわち、こ
の式と式がＥＳＦの差分からＬＳＦを求めることを
示している。

【００２９】（４）合成ライン数決定：Ｘ方向に対する
エッジの角度θを求め（図２Ｓ２）、合成するライン数
を決定する（図２Ｓ３）。Ｙ方向の各ラインのＬＳＦの
最大値を検出し、ＸＹ座標上にプロットする。そして、
このデータに対して回帰直線を求め、その傾きからスリ
ット角度θを求める。これは図７のようになる。図７中
の式は図示されている回帰直線を表しており、傾きの絶
対値がｔａｎθになる。すなわちｔａｎθ＝０．０３５
となり、式にあてはめて四捨五入するとライン数ｎに
ついて、ｎ＝２８となる。

【００３０】（５）合成ＬＳＦの中心位置検出：ここで
は、合成ＬＳＦの中心位置を検出する（図２Ｓ４）。こ
れは、Ｙ方向の各ラインのＬＳＦの最大値をプロットし
た図８から求める。図８より、波形がピークとなる位置
を検出し、ピークのラインを中心とした前後のラインか
ら合計２８ラインのＬＳＦを合成する。ここで、ＬＳＦ
合成の方法を図９に示す。ここでは、図９（ａ）にある
４ラインの合成の場合の例を、図９（ｂ）に示す。ま
た、図８において、最初と最後のピーク位置ではライン
数が足りないため、２番目から２６番目のピーク位置で
合成ＬＳＦを作る。

【００３１】（６）合成ＬＳＦの中心位置再計算：ここ
で、ＭＴＦ測定プログラムによるダイアログボックスヘ
表示するため、検出した合成ＬＳＦの中心位置を再計算
する。図１０に示す合成ＬＳＦのピーク（振幅最大値）
に対し、例えば１／２の振幅をもつ位置をピーク位置か
ら左右に探索する。そして、その振幅を持つ２つの座標
の真中を、合成ＬＳＦの中心位置として定める。

【００３２】（７）各色で処理実行：以上の（１）〜
（６）のそれぞれの処理ををＲＧＢの３色についてそれ
ぞれ実行する。

【００３３】合成ＬＳＦは、ＭＴＦ測定プログラムによ
って、図１１のダイアログボックスに表示される。合成
ＬＳＦの中心位置が軸上にくるように表示を行う。ダイ
アログボックスに表示された合成ＬＳＦは、ＬＳＦナン
バーを選択するためのスライドバーを動かすことによ
り、順次表示される。ここで、ＭＴＦ計算に使用する合
成ＬＳＦを選択する（図２Ｓ５）。ここでは、ノイズが
なく、波形のきれいなものを選択することが望ましい。
“Ｓｅｌｅｃｔ”ボタンを押すと、ＬＳＦナンバーのボ
ックスに色が付く、図１１中ではナンバー４の合成ＬＳ
Ｆが選択されたことを示している。そして、Ｓｅｌｅｃ
ｔｅｄＣｏｕｎｔの数が１増加する。再度“Ｓｅｌｅ
ｃｔ”ボタンを押すと、ＬＳＦナンバーのボックスの色
が消えて、ＳｅｌｅｃｔｅｄＣｏｕｎｔの数が１減少
する。ＳｅｌｅｃｔｅｄＣｏｕｎｔに０を入力すると
全ての合成ＬＳＦが選択される。

【００３４】また、ＣｏｕｎｔｏｆＳａｍｐｌｅｓ
を書き換えて、“Ｒｅｔｒｙ”ボタンを押すとＭＴＦ計
算で使用するデータ数が変化する。図１１では、合成Ｌ
ＳＦの中心位置の前後８００個のデータサンプルから、
ＭＴＦを計算する例を示している。これにあわせて表示
されるデータ数も変化する。

【００３５】Ｃｏｌｏｒのいずれか（Ｒ（赤）、Ｇ
（緑）、Ｂ（青）、Ｙ（輝度））にチェックを入れるこ
とで選択をかえて、“Ｒｅｔｒｙ”ボタンを押すと、測
定対象の色が切り替わる。このときに、合成ＬＳＦの表
示色は、選択した測定色に応じて変化することが望まし
い。例えばＲが選択されたときは赤を、Ｇ，Ｂでは緑、
青で表示をする。また、輝度Ｙのときはグレーで表示す
る。

【００３６】最初の表示では、輝度Ｙの合成ＬＳＦが表
示される。ＲＧＢ画像に対しては、以下の式からＹを
計算する。ａ0、ａ1、ａ3は、ダイアログボックスに設
定されているパラメータを用いる。図１１の例では、ａ
0＝０．２１２５、ａ1＝０．７１５４、ａ2＝０．０７
２１となっている。この係数は書き換えが可能である
が、グレースケール画像に対しては、この数値は無視さ
れる。Ｙ＝ａ0・Ｒ＋ａ1・Ｇ＋ａ2・Ｂ … Ｔｏｎｅでは、画像の階調特性を線形化するためのデー
タを選択する。スキャナの階調特性がリニアのときは、
“Ｌｉｎｅａｒ”を選択し、予めフォーマットが決めら
れている階調特性測定用チャートを使用するときは“Ｔ
ｅｓｔＣｈａｒｔ”を選択する。このとき、画像ファ
イルを開くためのウィンドウが表示される。階調特性が
予め測定されているときは、“Ｔｅｘｔ”を選択し、テ
キスト形式のデータファイルを読み込む。読み込んだフ
ァイル名は、“ＦｉｌｅＮａｍｅ”に表示される。こ
こで、“Ｒｅｔｒｙ”ボタンを押すと、階調特性が変換
された合成ＬＳＦが表示される。最初の表示では、“Ｌ
ｉｎｅａｒ”が設定される。

【００３７】“ＯＫ”ボタンを押すと、選択された合成
ＬＳＦ（図２Ｓ７）からＭＴＦ計算を行う。これは以下
の手順となる。（８）離散フーリエ変換：合成ＬＳＦの中心８００個の
データを抽出し、そのデータを離散フーリエ変換する
（図２Ｓ８）。

【００３８】（９）実部・虚部の平均：合成ＬＳＦの選
択数が２以上であるときは、実数部Ｈｒ（ｆ）、虚数部
Ｈｉ（ｆ）で平均をとる（図２Ｓ１０）。

【００３９】（１０）除算：実数部Ｈｒ（ｆ）、虚数部
Ｈｉ（ｆ）を、以下の式（のｓｉｎｃ関数で除算する
（図２Ｓ１１）。これは、式、となる。ただし、こ
こでＮは偶数でサンプリング周波数に対する分割数を表
す。Ｓ（ｆ）＝ｓｉｎ（πΔｘｆ）／（πΔｘｆ） … Ｈｒ’（ｆ）＝Ｈｒ（ｆ）／Ｓ（ｆ） … Ｈｉ’（ｆ）＝Ｈｉ（ｆ）／Ｓ（ｆ） … ここで、ｆ＝ｋ／ＮΔｘであり、ｋ＝０，１，…，Ｎ／
２（１１）ＭＴＦ計算：以下の式により、ＭＴＦの計算
を行う（図２Ｓ１２）。ＭＴＦ（ｆ）＝√〔（Ｈｒ’（ｆ））²＋（Ｈｉ’（ｆ））²〕… 以上、（１）〜（１１）に示した手順によりＭＴＦ測定
を行う。従来手法では図１６に示したようにＬＳＦ（図
１６のａ）の振幅と、ノイズ成分（図１６のａ以外の部
分）の振幅とのレベル差が小さくなりＭＴＦの測定誤差
が大きくなる欠点があったが、本実施の形態例によれば
図１２に示すようにＬＳＦ（図１２のａ）の振幅とノイ
ズ成分（図１２のａ以外の部分）の振幅とのレベル差が
極めて大きくなりＭＴＦの測定誤差を小さくできる。
また、ＭＴＦ測定値を比較した図１３に示すように、従
来測定結果（太線）はノイズの影響などで特性が滑らか
でないのに対し、本実施の形態例の測定結果（細線）で
は滑らかで誤差の小さい測定結果が得られる。

【００４０】〈第２の実施の形態例〉以上の第１の実施
の形態例に加え、階調特性とＭＴＦを同時に測定するこ
とにより、撮影時の階調特性を正確に線形化することが
できる。

【００４１】図１４に示すＭＴＦ測定に使用するナイフ
エッジチャートは、濃度の異なる複数のグレーパッチが
垂直方向または水平方向に対し所定の角度だけ傾けられ
た状態で、全体として円環形に配置されたテストチャー
トである。なお、図１４では各グレーパッチの濃度をハ
ッチングによって模式的に示している。

【００４２】このテストチャートをスキャナで読み込ん
で得た画像データをＭＴＦ測定プログラムで読み込み、
ＭＴＦ測定範囲として全画面を選択する。選択範囲に対
し、グレーパッチの位置を自動検出し、各パッチの画像
データの平均値を求める。この平均値と予め測定されて
いる反射率のデータより、図１５のような階調補正カー
ブが求まる。Ｒ，Ｇ，Ｂの補正カーブは以下の式(a),
(b),(c)で表される。この式より式、のＬＵＴを作
成する。なお、このテストチャートを読み込んだ際は、
ダイアログボックスのＴｏｎｅが“ＴｅｓｔＣｈａｒ
ｔ”に設定される。ｙ＝１．４１９ｅ−５ｘ²−４．５０６ｅ−４ｘ＋４．６８３ｅ−２ …(a) ｙ＝１．３５９ｅ−５ｘ²−１．４６９ｅ−４ｘ＋４．０４８ｅ−２ …(b) ｙ＝１．３７０ｅ−５ｘ²−３．６８４ｅ−４ｘ＋４．１５５ｅ−２ …(c) ＭＴＦ測定は傾いたグレーパッチのエッジ部分を用いて
行う。エッジ部が自動的に抽出され、合成ＬＳＦが作ら
れる。これを、全てのパッチの縦横方向について行う。
このように濃度の異なるグレーバッチからＭＴＦを測定
することで、複数の各コントラストにおけるＭＴＦが測
定できる。

【００４３】この結果、電子スチルカメラ等で、被写体
ごとに画像処理によって自動的に階調カーブを変えるよ
うな場合でも、階調特性とＭＴＦを同時に測定すること
により、撮影時の階調特性を正確に線形化することがで
きる。

【００４４】また、グレーパッチの画像データの標準偏
差を計算し、ＲＭＳノイズも同時に測定可能である。こ
れにより、ＭＴＦとＳＮ比との関係を調べることが可能
になる。

【００４５】〈その他の実施の形態例〉以上の各実施の
形態例の説明において使用した具体的数値や表示画面は
あくまでも一例であって、種々の変更が可能である。

【００４６】

【発明の効果】本発明によれば、以下のような効果が得
られる。（１）ＬＳＦを合成することによりＳＮ比が高くなり、
測定誤差を小さくすることができる。また、ｓｉｎｃ関
数で除算することで、正確にＭＴＦを測定できる。

【００４７】（２）合成ＬＳＦを選択することで、ノイ
ズによる測定誤差を小さくすることができる。（３）合成ＬＳＦの表示色を変えることで、測定対象色
を容易に判別できる。

【００４８】（４）ノイズを含んだデータを削除するこ
とで、ノイズによる測定誤差を小さくすることができ
る。（５）ＭＴＦと階調特性を同時に測定することで、階調
の線形化を正確に行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態例の構成を示す構成図であ
る。

【図２】本発明の実施の形態例の動作を示すフローチャ
ートである。

【図３】本発明の実施の形態例の主要部の構成を示す構
成図である。

【図４】本発明の実施の形態例で使用するナイフエッジ
チャートの一例を示す説明図である。

【図５】本発明の実施の形態例で使用するナイフエッジ
チャートを傾けた様子の一例を示す説明図である。

【図６】本発明の実施の形態例におけるＭＴＦ測定範囲
を指定する様子を示す説明図である。

【図７】本発明の実施の形態例において読み込んだテス
トチャートからエッジの角度を求める様子を示す説明図
である。

【図８】本発明の実施の形態例においてＬＳＦの測定位
置を検出する様子を示す説明図である。

【図９】本発明の実施の形態例においてＬＳＦ合成の様
子を示す説明図である。

【図１０】本発明の実施の形態例においてＬＳＦの中心
位置を求める様子を示す説明図である。

【図１１】本発明の実施の形態例においてＬＳＦの指定
の様子を示す説明図である。

【図１２】本発明の実施の形態例のＬＳＦの振幅とノイ
ズとの比較の様子を示す説明図である。

【図１３】本発明の実施の形態例のＭＴＦ測定値の特性
を従来と比較して示す説明図である。

【図１４】本発明の実施の形態例における円環状のテス
トチャートの構成を示す構成図である。

【図１５】本実施の形態例における階調補正カーブの様
子を示す特性図である。

【図１６】従来におけるＬＳＦの振幅とノイズとの比較
の様子を示す説明図である。

【符号の説明】

１０画像入力部１１画像記憶部１２画像出力部２０ＭＴＦ測定部３０画像処理部

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光電変換素子を用いたディジタル撮像系
のＭＴＦ測定方法であって、前記ディジタル撮像系でナイフエッジチャー卜を読み込
んだディジタル画像から、複数のエッジ広がり関数（Ｅ
ＳＦ）を作成し、それら複数のエッジ広がり関数（ＥＳＦ）の差分から線
広がり関数（ＬＳＦ）を求め、その線広がり関数（ＬＳＦ）を合成して合成線広がり関
数（合成ＬＳＦ）を周波数領域へ変換し、合成線広がり関数（合成ＬＳＦ）の周波数特性を補正し
てＭＴＦを計算する、ことを特徴とするＭＴＦ測定方
法。
【請求項２】複数の合成線広がり関数（合成ＬＳＦ）
を表示し、ＭＴＦの計算に使用する合成線広がり関数（合成ＬＳ
Ｆ）を選択し、選択された合成線広がり関数（合成ＬＳＦ）が複数であ
る場合には、選択された合成線広がり関数（合成ＬＳ
Ｆ）を平均する、ことを特徴とする請求項１記載のＭＴ
Ｆ測定方法。
【請求項３】前記表示された複数の合成線広がり関数
（合成ＬＳＦ）は、測定対象の色に応じて表示色を変化
させる、ことを特徴とする請求項２記載のＭＴＦ測定方
法。
【請求項４】ＭＴＦの計算に使用する合成線広がり関
数（合成ＬＳＦ）のデータサンプル数を入力し、入力されたサンプル数に応じて合成線広がり関数（合成
ＬＳＦ）の両端のデータを削除する、ことを特徴とする
請求項１乃至請求項３のいずれかに記載のＭＴＦ測定方
法。
【請求項５】ＭＴＦ測定に使用するナイフエッジチャ
ートは、濃度の異なる複数のグレーパッチが垂直方向ま
たは水平方向に対し所定の角度だけ傾けられた状態で、
全体として円環形に配置されたテストチャートである、
ことを特徴とする請求項１乃至請求項４のいずれかに記
載のＭＴＦ測定方法。
【請求項６】前記テストチャートを用いたＭＴＦ測定
において、複数のグレーパッチから階調特性を求め、階
調特性を線形化するように変換を行う、ことを特徴とす
る請求項５記載のＭＴＦ測定方法。
【請求項７】光電変換素子を用いたディジタル撮像系
のＭＴＦ測定装置であって、前記ディジタル撮像系でナイフエッジチャー卜を読み込
んだディジタル画像から、複数のエッジ広がり関数（Ｅ
ＳＦ）を作成し、それら複数のエッジ広がり関数（ＥＳ
Ｆ）の差分から線広がり関数（ＬＳＦ）を求め、その線
広がり関数（ＬＳＦ）を合成して合成線広がり関数（合
成ＬＳＦ）を周波数領域へ変換し、合成線広がり関数
（合成ＬＳＦ）の周波数特性を補正してＭＴＦを計算す
るＭＴＦ測定手段を備えた、ことを特徴とするＭＴＦ測
定装置。
【請求項８】複数の合成線広がり関数（合成ＬＳＦ）
を表示する表示手段と、ＭＴＦの計算に使用する合成線広がり関数（合成ＬＳ
Ｆ）の選択を受け付ける入力手段と、を備え、前記ＭＴＦ測定手段は、前記入力手段で選択された合成
線広がり関数（合成ＬＳＦ）が複数である場合には、選
択された合成線広がり関数（合成ＬＳＦ）を平均する、
ことを特徴とする請求項７記載のＭＴＦ測定装置。
【請求項９】前記表示手段で表示された複数の合成線
広がり関数（合成ＬＳＦ）は、測定対象の色に応じて表
示色を変化させる、ことを特徴とする請求項８記載のＭ
ＴＦ測定装置。
【請求項１０】前記入力手段でＭＴＦの計算に使用す
る合成線広がり関数（合成ＬＳＦ）のデータサンプル数
の入力を受付け、前記ＭＴＦ測定手段では入力されたサンプル数に応じて
合成線広がり関数（合成ＬＳＦ）の両端のデータを削除
する、ことを特徴とする請求項７乃至請求項９のいずれ
かに記載のＭＴＦ測定装置。
【請求項１１】ＭＴＦ測定に使用するナイフエッジチ
ャートは、濃度の異なる複数のグレーパッチが垂直方向
または水平方向に対し所定の角度だけ傾けられた状態
で、全体として円環形に配置されたテストチャートであ
る、ことを特徴とする請求項７乃至請求項１０のいずれ
かに記載のＭＴＦ測定装置。
【請求項１２】前記テストチャートを用いたＭＴＦ測
定において、前記ＭＴＦ測定手段は、複数のグレーパッ
チから階調特性を求め、階調特性を線形化するように変
換を行う、ことを特徴とする請求項１１記載のＭＴＦ測
定装置。