JP2001318110A - デジタルオシロスコープ - Google Patents
デジタルオシロスコープInfo
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- JP2001318110A JP2001318110A JP2000137048A JP2000137048A JP2001318110A JP 2001318110 A JP2001318110 A JP 2001318110A JP 2000137048 A JP2000137048 A JP 2000137048A JP 2000137048 A JP2000137048 A JP 2000137048A JP 2001318110 A JP2001318110 A JP 2001318110A
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- digital oscilloscope
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- statistical
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ロングメモリに格納されている複数周期の波
形パラメータについての統計処理が自動的に実行処理で
きるデジタルオシロスコープを実現すること。 【解決手段】 アナログ測定波形をデジタル信号に変換
して波形データとしてメモリに取り込むように構成され
たデジタルオシロスコープにおいて、メモリに取り込ま
れた波形データを複数の周期に分割する周期分割部と、
分割された周期毎に波形パラメータを測定する波形パラ
メータ測定部と、測定した波形パラメータに基づいて統
計演算処理を行う波形パラメータ統計演算部と、統計演
算処理結果を表示する表示部とで構成されたことを特徴
とするデジタルオシロスコープ。
形パラメータについての統計処理が自動的に実行処理で
きるデジタルオシロスコープを実現すること。 【解決手段】 アナログ測定波形をデジタル信号に変換
して波形データとしてメモリに取り込むように構成され
たデジタルオシロスコープにおいて、メモリに取り込ま
れた波形データを複数の周期に分割する周期分割部と、
分割された周期毎に波形パラメータを測定する波形パラ
メータ測定部と、測定した波形パラメータに基づいて統
計演算処理を行う波形パラメータ統計演算部と、統計演
算処理結果を表示する表示部とで構成されたことを特徴
とするデジタルオシロスコープ。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はデジタルオシロスコ
ープに関し、詳しくは、測定波形データに対する波形パ
ラメータの自動測定機能に関するものである。
ープに関し、詳しくは、測定波形データに対する波形パ
ラメータの自動測定機能に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】デジタルオシロスコープは、アナログ測
定波形をデジタル信号に変換して波形データとしてメモ
リに取り込むとともに、波形データを表示処理部を介し
て表示部に表示するように構成されたものであり、各種
分野の研究開発や品質管理や保守作業における波形測定
表示手段として広く使用されている。
定波形をデジタル信号に変換して波形データとしてメモ
リに取り込むとともに、波形データを表示処理部を介し
て表示部に表示するように構成されたものであり、各種
分野の研究開発や品質管理や保守作業における波形測定
表示手段として広く使用されている。
【０００３】図６は、従来のデジタルオシロスコープの
一例を示すブロック図である。入力端子１に入力される
アナログ測定波形は、AD変換器１でデジタル信号に変換
され、波形データとしてＲＡＭ３に取り込まれる。ＲＡ
Ｍ３に取り込まれた波形データは、ＣＰＵ４の制御の下
に、波形データファイルとしてＨＤ、ＦＤ、ＡＴＡフラ
ッシュなどのストレージ用メディア５に格納されたり、
表示制御部６や波形パラメータ測定部７に入力される。
一例を示すブロック図である。入力端子１に入力される
アナログ測定波形は、AD変換器１でデジタル信号に変換
され、波形データとしてＲＡＭ３に取り込まれる。ＲＡ
Ｍ３に取り込まれた波形データは、ＣＰＵ４の制御の下
に、波形データファイルとしてＨＤ、ＦＤ、ＡＴＡフラ
ッシュなどのストレージ用メディア５に格納されたり、
表示制御部６や波形パラメータ測定部７に入力される。
【０００４】表示制御部６は、波形データを、図示しな
い設定手段により設定される表示条件に従って表示部８
に表示する。
い設定手段により設定される表示条件に従って表示部８
に表示する。
【０００５】波形パラメータ測定部７は、電圧軸系統と
時間軸系統の２系統について、以下のような波形パラメ
ータの自動測定を行う。電圧軸系統については、Ｐ−Ｐ
（最大−最小）値、最大電圧値、最小電圧値、実効値、
平均電圧、標準偏差、アンダーシュート量、オーバーシ
ュート量などを測定する。時間軸系統については、立ち
上がり時間、立ち下がり時間、周波数、周期、測定範囲
での平均周波数、測定範囲での平均周期などを測定す
る。
時間軸系統の２系統について、以下のような波形パラメ
ータの自動測定を行う。電圧軸系統については、Ｐ−Ｐ
（最大−最小）値、最大電圧値、最小電圧値、実効値、
平均電圧、標準偏差、アンダーシュート量、オーバーシ
ュート量などを測定する。時間軸系統については、立ち
上がり時間、立ち下がり時間、周波数、周期、測定範囲
での平均周波数、測定範囲での平均周期などを測定す
る。
【０００６】ここで、波形パラメータ測定部７は、電圧
軸パラメータはＲＡＭ３に取り込んだ波形データ全体を
対象とし、時間軸パラメータはＲＡＭ３に取り込んだ波
形データのうち選択した１周期分のみを対象としてい
る。
軸パラメータはＲＡＭ３に取り込んだ波形データ全体を
対象とし、時間軸パラメータはＲＡＭ３に取り込んだ波
形データのうち選択した１周期分のみを対象としてい
る。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】ところで、近年のデジ
タルオシロスコープにおけるＲＡＭ３の大容量化（ロン
グメモリ化）に伴い、一度に大量のデータをＲＡＭ３に
取り込んでから各種の波形解析を行うことが多くなって
きた。
タルオシロスコープにおけるＲＡＭ３の大容量化（ロン
グメモリ化）に伴い、一度に大量のデータをＲＡＭ３に
取り込んでから各種の波形解析を行うことが多くなって
きた。
【０００８】例えばスイッチング電源の評価にあたって
は、スイッチングサイクル毎にデバイスの電流・電圧・
電力などを測定することが重要であり、とりわけ、電源
投入時や電源負荷変動時における各パラメータの過渡的
な現象を確認することは非常に重要であるが、従来のデ
ジタルオシロスコープのように単純に波形パラメータの
解析ができるだけではユーザーの要求に答えられないの
が現状である。
は、スイッチングサイクル毎にデバイスの電流・電圧・
電力などを測定することが重要であり、とりわけ、電源
投入時や電源負荷変動時における各パラメータの過渡的
な現象を確認することは非常に重要であるが、従来のデ
ジタルオシロスコープのように単純に波形パラメータの
解析ができるだけではユーザーの要求に答えられないの
が現状である。
【０００９】この他、例えばインバータ回路におけるＰ
ＷＭ（パルス幅変調）信号の解析にあたっても、周波数
が一定でデューティ比が変化する場合、デューティ比が
一定で周波数が変化する場合、サイクル毎に周波数もデ
ューティ比も変化する場合など、種々の測定パターンが
考えられるが、現状のデジタルオシロスコープでは十分
な対応はできていない。
ＷＭ（パルス幅変調）信号の解析にあたっても、周波数
が一定でデューティ比が変化する場合、デューティ比が
一定で周波数が変化する場合、サイクル毎に周波数もデ
ューティ比も変化する場合など、種々の測定パターンが
考えられるが、現状のデジタルオシロスコープでは十分
な対応はできていない。
【００１０】すなわち、デジタルオシロスコープのロン
グメモリ化されたＲＡＭ３に格納されている何周期もの
波形データを解析するのにあたっては、電圧軸系のパラ
メータについては波形データ全体について横断的に求め
られるものの、時間軸系パラメータは波形のある１周期
の部分のパラメータしか求めることができず、複数の周
期におけるパラメータ値の変化を捉えるためにはオペレ
ータが各周期についてそれぞれ範囲を設定しなければな
らない。また、どの周期位置に自動測定範囲を当てるか
により求めるパラメータの値が違ってくるという問題も
ある。
グメモリ化されたＲＡＭ３に格納されている何周期もの
波形データを解析するのにあたっては、電圧軸系のパラ
メータについては波形データ全体について横断的に求め
られるものの、時間軸系パラメータは波形のある１周期
の部分のパラメータしか求めることができず、複数の周
期におけるパラメータ値の変化を捉えるためにはオペレ
ータが各周期についてそれぞれ範囲を設定しなければな
らない。また、どの周期位置に自動測定範囲を当てるか
により求めるパラメータの値が違ってくるという問題も
ある。
【００１１】さらに、これら複数周期の時間軸系パラメ
ータについて統計処理を行うのにあたっては、波形デー
タの各周期位置に合わせて自動測定範囲を設定した上で
その都度各パラメータ値を記録するという手順を所定周
期分繰り返した後、手計算で統計値を算出しなければな
らず、相当の作業工数が必要になる。
ータについて統計処理を行うのにあたっては、波形デー
タの各周期位置に合わせて自動測定範囲を設定した上で
その都度各パラメータ値を記録するという手順を所定周
期分繰り返した後、手計算で統計値を算出しなければな
らず、相当の作業工数が必要になる。
【００１２】本発明はこれらの問題点に着目したもので
あり、その目的は、ロングメモリに格納されている複数
周期の波形パラメータについての統計処理が自動的に実
行処理できるデジタルオシロスコープを実現することに
ある。
あり、その目的は、ロングメモリに格納されている複数
周期の波形パラメータについての統計処理が自動的に実
行処理できるデジタルオシロスコープを実現することに
ある。
【００１３】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
る請求項１の発明は、
る請求項１の発明は、
【請求項５】アナログ測定波形をデジタル信号に変換し
て波形データとしてメモリに取り込むように構成された
デジタルオシロスコープにおいて、 メモリに取り込まれた波形データを複数の周期に分割す
る周期分割部と、 分割された周期毎に波形パラメータを測定する波形パラ
メータ測定部と、 測定した波形パラメータに基づいて統計演算処理を行う
波形パラメータ統計演算部と、 統計演算処理結果を表示する表示部、とで構成されたこ
とを特徴とするデジタルオシロスコープ。
て波形データとしてメモリに取り込むように構成された
デジタルオシロスコープにおいて、 メモリに取り込まれた波形データを複数の周期に分割す
る周期分割部と、 分割された周期毎に波形パラメータを測定する波形パラ
メータ測定部と、 測定した波形パラメータに基づいて統計演算処理を行う
波形パラメータ統計演算部と、 統計演算処理結果を表示する表示部、とで構成されたこ
とを特徴とするデジタルオシロスコープ。
【００１４】請求項２の発明は、請求項１記載のデジタ
ルオシロスコープにおいて、分割周期が測定波形の周期
と等しいことを特徴とする。
ルオシロスコープにおいて、分割周期が測定波形の周期
と等しいことを特徴とする。
【００１５】請求項３の発明は、請求項１記載のデジタ
ルオシロスコープにおいて、分割周期が測定波形の周期
と異なることを特徴とする。
ルオシロスコープにおいて、分割周期が測定波形の周期
と異なることを特徴とする。
【００１６】請求項４の発明は、請求項１記載のデジタ
ルオシロスコープにおいて、統計演算処理にあたり、周
期数分の波形パラメータを用いることを特徴とする。
ルオシロスコープにおいて、統計演算処理にあたり、周
期数分の波形パラメータを用いることを特徴とする。
【００１７】これらにより、メモリに格納されている複
数周期の波形パラメータについての統計処理が、周期毎
の波形パラメータの測定データに基づいて、自動的に実
行処理できるデジタルオシロスコープを実現できる。
数周期の波形パラメータについての統計処理が、周期毎
の波形パラメータの測定データに基づいて、自動的に実
行処理できるデジタルオシロスコープを実現できる。
【００１８】そして、分割周期を測定波形の周期と等し
くしたり異ならせることができるので、測定用途に応じ
て適切な分割周期を設定できる。例えば連続ストロボ発
光回路の各発光周期ごとの波形パラメータを統計処理す
る場合には分割周期を測定波形の周期と等しくして同期
させればよく、周期が一定している基準周期と測定波形
の周期との関係をも測定したい場合には測定周期に対し
て非同期の基準周期で分割すればよい。
くしたり異ならせることができるので、測定用途に応じ
て適切な分割周期を設定できる。例えば連続ストロボ発
光回路の各発光周期ごとの波形パラメータを統計処理す
る場合には分割周期を測定波形の周期と等しくして同期
させればよく、周期が一定している基準周期と測定波形
の周期との関係をも測定したい場合には測定周期に対し
て非同期の基準周期で分割すればよい。
【００１９】
【発明の実施の形態】以下、図面を用いて本発明の実施
の形態を説明する。図１は本発明の実施の形態の一例を
示すブロック図であり、図５と共通する部分には同一符
号を付けている。周期分割部９は、ＲＡＭ３に取り込ま
れた波形データを、時間軸方向に沿って、図２に示すよ
うに波形データと等しい周期で複数の周期に分割した
り、図３に示すように波形データの周期と異なる所定の
基準周期波形で複数の周期に分割する。なお、このよう
な図２と図３の周期分割の使い分けは、測定解析目的に
応じて適宜選択する。
の形態を説明する。図１は本発明の実施の形態の一例を
示すブロック図であり、図５と共通する部分には同一符
号を付けている。周期分割部９は、ＲＡＭ３に取り込ま
れた波形データを、時間軸方向に沿って、図２に示すよ
うに波形データと等しい周期で複数の周期に分割した
り、図３に示すように波形データの周期と異なる所定の
基準周期波形で複数の周期に分割する。なお、このよう
な図２と図３の周期分割の使い分けは、測定解析目的に
応じて適宜選択する。
【００２０】波形パラメータ測定部１０は、ＲＡＭ３に
取り込まれた波形データの波形パラメータを、周期分割
部９の分割出力に基づいて分割された周期毎に測定す
る。
取り込まれた波形データの波形パラメータを、周期分割
部９の分割出力に基づいて分割された周期毎に測定す
る。
【００２１】波形パラメータ統計演算部１１は、波形パ
ラメータ測定部９で測定した波形パラメータに基づいて
各種の統計演算処理を行い、これらの統計演算処理結果
を表示部８に表示する。
ラメータ測定部９で測定した波形パラメータに基づいて
各種の統計演算処理を行い、これらの統計演算処理結果
を表示部８に表示する。
【００２２】図４は図２の測定処理の流れを説明するフ
ローチャートである。ステップＳ１において、ＲＡＭ３
に取り込まれた波形データのヒストグラムを作成すると
ともに、波形データのMax,Min,High,Lowを算出する。続
いて、ステップＳ２において、ステップＳ１で算出した
波形データのヒストグラムおよび波形データのMax,Min,
High,Lowに基づいて、ＲＡＭ３に取り込まれている波形
データについて、各周期の開始点・終了点を検出すると
ともに、周期の数を検出する。なお、これらステップＳ
１およびステップＳ２の処理を、ステップＳ３に示すよ
うに、全波形分について繰り返し実行する。
ローチャートである。ステップＳ１において、ＲＡＭ３
に取り込まれた波形データのヒストグラムを作成すると
ともに、波形データのMax,Min,High,Lowを算出する。続
いて、ステップＳ２において、ステップＳ１で算出した
波形データのヒストグラムおよび波形データのMax,Min,
High,Lowに基づいて、ＲＡＭ３に取り込まれている波形
データについて、各周期の開始点・終了点を検出すると
ともに、周期の数を検出する。なお、これらステップＳ
１およびステップＳ２の処理を、ステップＳ３に示すよ
うに、全波形分について繰り返し実行する。
【００２３】全波形に対する周期検出が終わったら、ス
テップＳ４において、各周期を自動測定範囲としてその
範囲内の波形パラメータを算出する。続いて、ステップ
Ｓ５において、各周期の各波形パラメータの値に基づく
最大値・最小値・平均値・標準偏差値等の統計演算処理
を実行する。なお、これらステップＳ４およびステップ
Ｓ５の処理も、ステップＳ６に示すように、全波形分に
ついて繰り返し実行する。
テップＳ４において、各周期を自動測定範囲としてその
範囲内の波形パラメータを算出する。続いて、ステップ
Ｓ５において、各周期の各波形パラメータの値に基づく
最大値・最小値・平均値・標準偏差値等の統計演算処理
を実行する。なお、これらステップＳ４およびステップ
Ｓ５の処理も、ステップＳ６に示すように、全波形分に
ついて繰り返し実行する。
【００２４】全波形分についての統計演算処理が完了し
たら、ステップＳ７に示すように、各波形パラメータの
最大値・最小値・平均値・標準偏差値等の統計演算処理
結果を表示する。
たら、ステップＳ７に示すように、各波形パラメータの
最大値・最小値・平均値・標準偏差値等の統計演算処理
結果を表示する。
【００２５】図５は図３の測定処理の流れを説明するフ
ローチャートである。ステップＳ１において、基準周期
波形のヒストグラムを作成するとともに、基準周期波形
のMax,Min,High,Lowを算出する。続いて、ステップＳ２
において、ステップＳ１で算出した基準周期波形のヒス
トグラムおよび基準周期波形のMax,Min,High,Lowに基づ
いて、ＲＡＭ３に取り込まれている波形データについ
て、各周期の開始点・終了点を検出するとともに、周期
の数を検出する。
ローチャートである。ステップＳ１において、基準周期
波形のヒストグラムを作成するとともに、基準周期波形
のMax,Min,High,Lowを算出する。続いて、ステップＳ２
において、ステップＳ１で算出した基準周期波形のヒス
トグラムおよび基準周期波形のMax,Min,High,Lowに基づ
いて、ＲＡＭ３に取り込まれている波形データについ
て、各周期の開始点・終了点を検出するとともに、周期
の数を検出する。
【００２６】基準周期波形に対する周期検出が終わった
ら、ステップＳ３において、各周期を自動測定範囲とし
てその範囲内の波形パラメータを算出する。続いて、ス
テップＳ４において、各周期の各波形パラメータの値に
基づく最大値・最小値・平均値・標準偏差値等の統計演
算処理を実行する。なお、これらステップＳ３およびス
テップＳ４の処理を、ステップＳ５に示すように、全波
形分について繰り返し実行する。
ら、ステップＳ３において、各周期を自動測定範囲とし
てその範囲内の波形パラメータを算出する。続いて、ス
テップＳ４において、各周期の各波形パラメータの値に
基づく最大値・最小値・平均値・標準偏差値等の統計演
算処理を実行する。なお、これらステップＳ３およびス
テップＳ４の処理を、ステップＳ５に示すように、全波
形分について繰り返し実行する。
【００２７】全波形分についての統計演算処理が完了し
たら、ステップＳ６に示すように、各波形パラメータの
最大値・最小値・平均値・標準偏差値等の統計演算処理
結果を表示する。
たら、ステップＳ６に示すように、各波形パラメータの
最大値・最小値・平均値・標準偏差値等の統計演算処理
結果を表示する。
【００２８】このように、本発明では、はじめにＲＡＭ
３に取り込まれている波形データの周期数とそれぞれの
周期の開始・終了点を求め、その後にそれぞれの周期内
を自動測定範囲とする波形パラメータの自動算出を周期
数分繰り返し、各パラメータの最大値、最小値、平均
値、標準偏差を算出して表示するまでの一連の処理をデ
ジタルオシロスコープの内部で自動的に実行するので、
従来のように自動測定範囲を手動で選択することにより
その都度各パラメータ値を記録して所定周期分それを繰
り返した後に手計算で統計値を算出する構成に比べて、
測定処理作業時間を大幅に短縮でき、かつ測定結果の正
確性は格段に向上する。
３に取り込まれている波形データの周期数とそれぞれの
周期の開始・終了点を求め、その後にそれぞれの周期内
を自動測定範囲とする波形パラメータの自動算出を周期
数分繰り返し、各パラメータの最大値、最小値、平均
値、標準偏差を算出して表示するまでの一連の処理をデ
ジタルオシロスコープの内部で自動的に実行するので、
従来のように自動測定範囲を手動で選択することにより
その都度各パラメータ値を記録して所定周期分それを繰
り返した後に手計算で統計値を算出する構成に比べて、
測定処理作業時間を大幅に短縮でき、かつ測定結果の正
確性は格段に向上する。
【００２９】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ロングメモリに格納されている複数周期の波形パラメー
タについての統計処理が自動的に実行処理できるデジタ
ルオシロスコープを実現でき、スイッチング電源の電源
投入時や電源負荷変動時におけるスイッチングサイクル
毎のデバイスの電流・電圧・電力などの過渡的な現象の
確認や、インバータ回路におけるＰＷＭ（パルス幅変
調）信号の解析測定などに好適である。
ロングメモリに格納されている複数周期の波形パラメー
タについての統計処理が自動的に実行処理できるデジタ
ルオシロスコープを実現でき、スイッチング電源の電源
投入時や電源負荷変動時におけるスイッチングサイクル
毎のデバイスの電流・電圧・電力などの過渡的な現象の
確認や、インバータ回路におけるＰＷＭ（パルス幅変
調）信号の解析測定などに好適である。
【図１】本発明の実施の形態の一例を示すブロック図で
ある。
ある。
【図２】図１の装置における波形データの周期分割の一
例の説明図である。
例の説明図である。
【図３】図１の装置における波形データの周期分割の他
の例の説明図である。
の例の説明図である。
【図４】図２の測定処理の流れを説明するフローチャー
トである。
トである。
【図５】図３の測定処理の流れを説明するフローチャー
トである。
トである。
【図６】従来のデジタルオシロスコープの一例を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
１ 入力端子 ２ ＡＤ変換器 ３ ＲＡＭ ４ ＣＰＵ ５ ストレージ用メディア ６ 表示制御部 ７ 条件判定部 ８ 表示部 ９ 周期分割部 １０ 波形パラメータ測定部 １１ 波形パラメータ統計演算部
Claims (4)
- 【請求項１】アナログ測定波形をデジタル信号に変換し
て波形データとしてメモリに取り込むように構成された
デジタルオシロスコープにおいて、 メモリに取り込まれた波形データを複数の周期に分割す
る周期分割部と、 分割された周期毎に波形パラメータを測定する波形パラ
メータ測定部と、 測定した波形パラメータに基づいて統計演算処理を行う
波形パラメータ統計演算部と、 統計演算処理結果を表示する表示部、とで構成されたこ
とを特徴とするデジタルオシロスコープ。 - 【請求項２】分割周期が測定波形の周期と等しいことを
特徴とする請求項１記載のデジタルオシロスコープ。 - 【請求項３】分割周期が測定波形の周期と異なることを
特徴とする請求項１記載のデジタルオシロスコープ。 - 【請求項４】統計演算処理にあたり、周期数分の波形パ
ラメータを用いることを特徴とする請求項１記載のデジ
タルオシロスコープ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000137048A JP3731441B2 (ja) | 2000-05-10 | 2000-05-10 | デジタルオシロスコープ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000137048A JP3731441B2 (ja) | 2000-05-10 | 2000-05-10 | デジタルオシロスコープ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001318110A true JP2001318110A (ja) | 2001-11-16 |
| JP3731441B2 JP3731441B2 (ja) | 2006-01-05 |
Family
ID=18644891
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000137048A Expired - Lifetime JP3731441B2 (ja) | 2000-05-10 | 2000-05-10 | デジタルオシロスコープ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3731441B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003344454A (ja) * | 2002-05-24 | 2003-12-03 | Tektronix Japan Ltd | デジタル・ストレージ・オシロスコープ及びその取込み装置 |
| JP2007127640A (ja) * | 2005-11-04 | 2007-05-24 | Tektronix Inc | 測定機器及びパワー統計を求める方法 |
| JP2013003054A (ja) * | 2011-06-20 | 2013-01-07 | Yokogawa Electric Corp | 波形測定装置 |
| JP2016050830A (ja) * | 2014-08-29 | 2016-04-11 | 日置電機株式会社 | 波形記録装置 |
| CN109765411A (zh) * | 2018-12-06 | 2019-05-17 | 广州致远电子有限公司 | 波形显示装置及历史波形统计方法 |
| CN109815260A (zh) * | 2018-12-06 | 2019-05-28 | 广州致远电子有限公司 | 波形显示装置、波形参数统计方法、终端设备及存储介质 |
-
2000
- 2000-05-10 JP JP2000137048A patent/JP3731441B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP4532848B2 (ja) * | 2002-05-24 | 2010-08-25 | テクトロニクス・インコーポレイテッド | デジタル・ストレージ・オシロスコープ用取込み装置 |
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