JP2001312829A - 光ピックアップ装置 - Google Patents
光ピックアップ装置Info
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- JP2001312829A JP2001312829A JP2000129634A JP2000129634A JP2001312829A JP 2001312829 A JP2001312829 A JP 2001312829A JP 2000129634 A JP2000129634 A JP 2000129634A JP 2000129634 A JP2000129634 A JP 2000129634A JP 2001312829 A JP2001312829 A JP 2001312829A
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- light receiving
- pickup device
- laser beam
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 安定したフォーカスサーボ制御及びトラッキ
ングサーボ制御を図ることができるコンパクトな光ピッ
クアップ装置を提供する。 【解決手段】 記録媒体によって反射されたレーザビー
ムが照射される光検出手段の出力信号に基づいてビーム
サイズ法によってフォーカスエラー信号が生成されると
共に位相差法によってトラッキングエラー信号が生成さ
れる。光検出手段はトラッキング信号生成のために４分
割受光面を有する第１検出部と、フォーカスエラー信号
生成のために３分割の一対の受光面を有する第２検出部
とを含む光検出手段とを有し、反射光路内には反射され
たレーザビームの０次光を第１検出部の受光面に照射
し、反射されたレーザビームの高次光を第２検出部の一
対の受光面各々に照射する回折手段が備えられている。
ングサーボ制御を図ることができるコンパクトな光ピッ
クアップ装置を提供する。 【解決手段】 記録媒体によって反射されたレーザビー
ムが照射される光検出手段の出力信号に基づいてビーム
サイズ法によってフォーカスエラー信号が生成されると
共に位相差法によってトラッキングエラー信号が生成さ
れる。光検出手段はトラッキング信号生成のために４分
割受光面を有する第１検出部と、フォーカスエラー信号
生成のために３分割の一対の受光面を有する第２検出部
とを含む光検出手段とを有し、反射光路内には反射され
たレーザビームの０次光を第１検出部の受光面に照射
し、反射されたレーザビームの高次光を第２検出部の一
対の受光面各々に照射する回折手段が備えられている。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザビームを発
して記録媒体から情報を読み取る光ピックアップ装置に
関する。
して記録媒体から情報を読み取る光ピックアップ装置に
関する。
【０００２】
【従来技術】光ピックアップ装置は、光学式記録媒体の
記録トラックから情報を正確に読み取るために、レーザ
ビームによる記録媒体の記録面への照射光が記録面上で
合焦するように対物レンズを記録面に対して遠近移動さ
せるフォーカスサーボ制御と、照射光が記録面のトラッ
ク上に位置するように対物レンズをトラックの接線方向
に垂直な方向に平行移動させるトラッキングサーボ制御
とを可能にするように構成されている。
記録トラックから情報を正確に読み取るために、レーザ
ビームによる記録媒体の記録面への照射光が記録面上で
合焦するように対物レンズを記録面に対して遠近移動さ
せるフォーカスサーボ制御と、照射光が記録面のトラッ
ク上に位置するように対物レンズをトラックの接線方向
に垂直な方向に平行移動させるトラッキングサーボ制御
とを可能にするように構成されている。
【０００３】フォーカスサーボ制御においては、記録媒
体からの反射光の受光レベルに基づいてフォーカスずれ
の程度を示すフォーカスエラー信号を生成し、フォーカ
スエラー信号を減少させるようにフォーカシングアクチ
ュエータを介して対物レンズの遠近方向の駆動が行われ
る。また、トラッキングサーボ制御においては、記録媒
体からの反射光の受光レベルに基づいてトラッキングず
れの程度を示すトラッキングエラー信号を生成し、トラ
ッキングエラー信号を減少させるようにトラッキングア
クチュエータを介して対物レンズの平行方向の駆動が行
われる。
体からの反射光の受光レベルに基づいてフォーカスずれ
の程度を示すフォーカスエラー信号を生成し、フォーカ
スエラー信号を減少させるようにフォーカシングアクチ
ュエータを介して対物レンズの遠近方向の駆動が行われ
る。また、トラッキングサーボ制御においては、記録媒
体からの反射光の受光レベルに基づいてトラッキングず
れの程度を示すトラッキングエラー信号を生成し、トラ
ッキングエラー信号を減少させるようにトラッキングア
クチュエータを介して対物レンズの平行方向の駆動が行
われる。
【０００４】例えば、ＣＤの如き記録媒体の場合には、
フォーカスサーボ制御のフォーカスエラー信号の生成方
法としては非点収差法が主に用いられ、トラッキングサ
ーボ制御のトラッキングエラー信号の生成方法として３
ビーム法が通常用いられていた。
フォーカスサーボ制御のフォーカスエラー信号の生成方
法としては非点収差法が主に用いられ、トラッキングサ
ーボ制御のトラッキングエラー信号の生成方法として３
ビーム法が通常用いられていた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、記録媒
体の記録密度の高密度化が進み、またＤＶＤ−ＲＡＭ等
の書き換え可能な記録媒体の出現によって従来の光ピッ
クアップ装置において採用された非点収差法のフォーカ
スサーボ制御と３ビーム法のトラッキングサーボ制御と
の組み合わせではフォーカス外れやトラッキングずれ等
の不具合が発生し易く、安定したフォーカスサーボ制御
及びトラッキングサーボ制御が難しいという問題点が生
じた。また、光ピックアップ装置は光ディスクプレーヤ
等の記録媒体再生装置においては大きく構成することが
できないので、フォーカスサーボ制御及びトラッキング
サーボ制御に関わる部分はコンパクトに形成されること
が望まれていた。
体の記録密度の高密度化が進み、またＤＶＤ−ＲＡＭ等
の書き換え可能な記録媒体の出現によって従来の光ピッ
クアップ装置において採用された非点収差法のフォーカ
スサーボ制御と３ビーム法のトラッキングサーボ制御と
の組み合わせではフォーカス外れやトラッキングずれ等
の不具合が発生し易く、安定したフォーカスサーボ制御
及びトラッキングサーボ制御が難しいという問題点が生
じた。また、光ピックアップ装置は光ディスクプレーヤ
等の記録媒体再生装置においては大きく構成することが
できないので、フォーカスサーボ制御及びトラッキング
サーボ制御に関わる部分はコンパクトに形成されること
が望まれていた。
【０００６】そこで、本発明の目的は、上記問題点に鑑
みて、安定したフォーカスサーボ制御及びトラッキング
サーボ制御を図ることができるコンパクトな光ピックア
ップ装置を提供することである。
みて、安定したフォーカスサーボ制御及びトラッキング
サーボ制御を図ることができるコンパクトな光ピックア
ップ装置を提供することである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明の光ピックアップ
装置は、光源から発せられたレーザビームを光学式記録
媒体に向けて導く照射光路と、記録媒体によって反射さ
れたレーザビームを光検出手段に向けて導く反射光路と
をを形成した光学系を備え、光検出手段の出力信号に基
づいてビームサイズ法によってフォーカスエラー信号を
生成しかつ位相差法によってトラッキングエラー信号を
生成する光ピックアップ装置であって、光検出手段は、
トラッキング信号生成のために４分割された受光面を有
する第１検出部と、フォーカスエラー信号生成のために
３分割された一対の受光面を有する第２検出部とを含
み、光ピックアップ装置は、反射光路内に配置され反射
されたレーザビームの０次光を第１検出部の受光面に照
射し、反射されたレーザビームの高次光を第２検出部の
一対の受光面各々に照射する回折手段を含むことを特徴
としている。
装置は、光源から発せられたレーザビームを光学式記録
媒体に向けて導く照射光路と、記録媒体によって反射さ
れたレーザビームを光検出手段に向けて導く反射光路と
をを形成した光学系を備え、光検出手段の出力信号に基
づいてビームサイズ法によってフォーカスエラー信号を
生成しかつ位相差法によってトラッキングエラー信号を
生成する光ピックアップ装置であって、光検出手段は、
トラッキング信号生成のために４分割された受光面を有
する第１検出部と、フォーカスエラー信号生成のために
３分割された一対の受光面を有する第２検出部とを含
み、光ピックアップ装置は、反射光路内に配置され反射
されたレーザビームの０次光を第１検出部の受光面に照
射し、反射されたレーザビームの高次光を第２検出部の
一対の受光面各々に照射する回折手段を含むことを特徴
としている。
【０００８】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を図面に基
づいて詳細に説明する。図１は本発明による光ピックア
ップ装置の光学系を示している。この光ピックアップ装
置はレーザビームを発する半導体レーザ素子１１を有す
る。また、光ピックアップ装置においては、半導体レー
ザ素子１１から発せられたレーザビームはビームスプリ
ッタ１３に達するようになっている。ビームスプリッタ
１３はレーザビームの入射に対してほぼ９０度の角度に
て反射する。この反射レーザビームの方向は記録媒体で
ある光ディスク１７方向であり、ビームスプリッタ１３
と光ディスク１７との間にはコリメータレンズ１４と対
物レンズ１５とが配置される。
づいて詳細に説明する。図１は本発明による光ピックア
ップ装置の光学系を示している。この光ピックアップ装
置はレーザビームを発する半導体レーザ素子１１を有す
る。また、光ピックアップ装置においては、半導体レー
ザ素子１１から発せられたレーザビームはビームスプリ
ッタ１３に達するようになっている。ビームスプリッタ
１３はレーザビームの入射に対してほぼ９０度の角度に
て反射する。この反射レーザビームの方向は記録媒体で
ある光ディスク１７方向であり、ビームスプリッタ１３
と光ディスク１７との間にはコリメータレンズ１４と対
物レンズ１５とが配置される。
【０００９】コリメータレンズ１４はビームスプリッタ
１３からのレーザビームを平行光にして対物レンズ１５
に供給する。対物レンズ１５は平行光のレーザビームを
ディスク１７の記録面に収束させる。ディスク１５の記
録面で反射したレーザビームは対物レンズ１５、そして
コリメータレンズ１４で平行レーザビームにされた後、
ビームスプリッタ１３を通過する。ビームスプリッタ１
３の通過後の光軸方向にはホログラム素子１８と光検出
器１６とが順に配置されている。
１３からのレーザビームを平行光にして対物レンズ１５
に供給する。対物レンズ１５は平行光のレーザビームを
ディスク１７の記録面に収束させる。ディスク１５の記
録面で反射したレーザビームは対物レンズ１５、そして
コリメータレンズ１４で平行レーザビームにされた後、
ビームスプリッタ１３を通過する。ビームスプリッタ１
３の通過後の光軸方向にはホログラム素子１８と光検出
器１６とが順に配置されている。
【００１０】ホログラム素子１８のパターンは図２に示
すように、各々スリットパターンの異なる領域Ａと領域
Ｂとが交互に形成されたものとなっており、これによ
り、回折方向の異なる２つの＋１次光（−１次光）が生
成されるようになっている。光検出器１６の受光面は図
３に示すように、２つのフォーカシング用領域Ｆ１，Ｆ
２と１つのトラッキング用領域Ｔ１とからなる。フォー
カシング用領域Ｆ１，Ｆ２の受光面はビームサイズ法の
フォーカスサーボ制御のために形成され、トラッキング
用領域Ｔ１の受光面は位相差法のトラッキングサーボ制
御のために形成されている。それらの領域Ｆ１，Ｆ２，
Ｔ１はほぼ同一の正方形の外形を有し、同一平面内にそ
の順に一列に並んで配置されている。フォーカシング用
領域Ｆ１，Ｆ２の各々は平行に３分割されており、トラ
ッキング用領域Ｔ１は十字に４分割されている。光検出
器１６は受光面の各分割面毎に受光素子を備えている。
すなわち、フォーカシング用領域Ｆ１は受光素子１６ａ
〜１６ｃ、フォーカシング用領域Ｆ２は受光素子１６ｄ
〜１６ｆ、トラッキング用領域Ｔ１は１６ｈ〜１６ｋに
よって形成されている。
すように、各々スリットパターンの異なる領域Ａと領域
Ｂとが交互に形成されたものとなっており、これによ
り、回折方向の異なる２つの＋１次光（−１次光）が生
成されるようになっている。光検出器１６の受光面は図
３に示すように、２つのフォーカシング用領域Ｆ１，Ｆ
２と１つのトラッキング用領域Ｔ１とからなる。フォー
カシング用領域Ｆ１，Ｆ２の受光面はビームサイズ法の
フォーカスサーボ制御のために形成され、トラッキング
用領域Ｔ１の受光面は位相差法のトラッキングサーボ制
御のために形成されている。それらの領域Ｆ１，Ｆ２，
Ｔ１はほぼ同一の正方形の外形を有し、同一平面内にそ
の順に一列に並んで配置されている。フォーカシング用
領域Ｆ１，Ｆ２の各々は平行に３分割されており、トラ
ッキング用領域Ｔ１は十字に４分割されている。光検出
器１６は受光面の各分割面毎に受光素子を備えている。
すなわち、フォーカシング用領域Ｆ１は受光素子１６ａ
〜１６ｃ、フォーカシング用領域Ｆ２は受光素子１６ｄ
〜１６ｆ、トラッキング用領域Ｔ１は１６ｈ〜１６ｋに
よって形成されている。
【００１１】上記構成において、半導体レーザ素子１１
から発せられたレーザビームＬはビームスプリッタ１３
で反射される。ビームスプリッタ１３で反射されたレー
ザビームは、コリメータレンズ１４で平行ビームとな
り、対物レンズ１５に達する。対物レンズ１５によって
レーザビームは、ディスク１７の記録面上に集光されて
楕円状の光スポットを形成する。
から発せられたレーザビームＬはビームスプリッタ１３
で反射される。ビームスプリッタ１３で反射されたレー
ザビームは、コリメータレンズ１４で平行ビームとな
り、対物レンズ１５に達する。対物レンズ１５によって
レーザビームは、ディスク１７の記録面上に集光されて
楕円状の光スポットを形成する。
【００１２】ディスク１７の記録面で情報ピットにより
変調されて反射されたビームは、対物レンズ１５、そし
てコリメータレンズ１４を通過してビームスプリッタ１
３に戻り、ここで半導体レーザ素子１１からの光路から
分離されて、ホログラム素子１８を介して光検出器１６
の受光面に入射する。レーザビームはホログラム素子１
８を通過する際に０次光のレーザビームＬ０と、領域Ａ
で回折されて生成される＋１次光のレーザビームＬＡ
と、領域Ｂで回折されて生成され＋１次光のレーザビー
ムＬＡとは焦点距離が異なる＋１次光のレーザビームＬ
Ｂとの３つのビームに分割される。
変調されて反射されたビームは、対物レンズ１５、そし
てコリメータレンズ１４を通過してビームスプリッタ１
３に戻り、ここで半導体レーザ素子１１からの光路から
分離されて、ホログラム素子１８を介して光検出器１６
の受光面に入射する。レーザビームはホログラム素子１
８を通過する際に０次光のレーザビームＬ０と、領域Ａ
で回折されて生成される＋１次光のレーザビームＬＡ
と、領域Ｂで回折されて生成され＋１次光のレーザビー
ムＬＡとは焦点距離が異なる＋１次光のレーザビームＬ
Ｂとの３つのビームに分割される。
【００１３】０次光のレーザビームＬ０はホログラム素
子１８をそのまま直進して光検出器１６トラッキング用
領域Ｔ１に達して、そこにスポット光Ｓ１を形成する。
ホログラム素子１８の領域Ａの部分で回折されたレーザ
ビームＬＡは光受光器１６の受光面のフォーカシング用
領域Ｆ１に達して、そこにスポット光Ｓ２を形成する。
また、ホログラム素子１８の領域Ｂの部分で回折された
レーザビームＬＢは光受光器１６の受光面のフォーカシ
ング用領域Ｆ２に達して、そこにスポット光Ｓ３を形成
する。
子１８をそのまま直進して光検出器１６トラッキング用
領域Ｔ１に達して、そこにスポット光Ｓ１を形成する。
ホログラム素子１８の領域Ａの部分で回折されたレーザ
ビームＬＡは光受光器１６の受光面のフォーカシング用
領域Ｆ１に達して、そこにスポット光Ｓ２を形成する。
また、ホログラム素子１８の領域Ｂの部分で回折された
レーザビームＬＢは光受光器１６の受光面のフォーカシ
ング用領域Ｆ２に達して、そこにスポット光Ｓ３を形成
する。
【００１４】なお、ホログラム素子１８で回折された−
１次光及び２次以上の高次光は、本実施例においては、
光検出器１６において受光されることなく、後述する各
種信号の生成には利用されない。しかしながら、＋１次
光の代わりに−１次光を光検出器１６で受光し、これに
基づいて後述する各種信号を生成しても良い。また、２
次以上の高次光を光検出器で受光するようにすることも
可能である。
１次光及び２次以上の高次光は、本実施例においては、
光検出器１６において受光されることなく、後述する各
種信号の生成には利用されない。しかしながら、＋１次
光の代わりに−１次光を光検出器１６で受光し、これに
基づいて後述する各種信号を生成しても良い。また、２
次以上の高次光を光検出器で受光するようにすることも
可能である。
【００１５】受光素子１６ａ〜１６ｆの各出力信号に応
じて読取信号ＲＦ及びフォーカスエラー信号ＦＥが生成
される。また、受光素子１６ｈ〜１６ｋの各出力信号に
応じてトラッキングエラー信号ＴＥが生成される。受光
素子１６ａ〜１６ｆの各出力信号をその順にａ〜ｆと
し、受光素子１６ｈ〜１６ｋの各出力信号をその順にｈ
〜ｋとすると、読取信号ＲＦは、 ＲＦ＝ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ＋ｅ＋ｆ であり、フォーカスエラー信号ＦＥは、 ＦＥ＝(ａ＋ｃ＋ｅ)−(ｄ＋ｆ＋ｂ) であり、トラッキングエラー信号ＴＥは、 ＴＥ＝（ｉ＋ｊ）−（ｈ＋ｋ） 又は、 ＴＥ＝（ｉ'＋ｊ'）−（ｈ'＋ｋ'） である。なお、ｉ'，ｊ'，ｈ'，ｋ'は信号ｉ，ｊ，ｈ，
ｋと読取信号ＲＦとを位相比較して算出された信号であ
る。
じて読取信号ＲＦ及びフォーカスエラー信号ＦＥが生成
される。また、受光素子１６ｈ〜１６ｋの各出力信号に
応じてトラッキングエラー信号ＴＥが生成される。受光
素子１６ａ〜１６ｆの各出力信号をその順にａ〜ｆと
し、受光素子１６ｈ〜１６ｋの各出力信号をその順にｈ
〜ｋとすると、読取信号ＲＦは、 ＲＦ＝ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ＋ｅ＋ｆ であり、フォーカスエラー信号ＦＥは、 ＦＥ＝(ａ＋ｃ＋ｅ)−(ｄ＋ｆ＋ｂ) であり、トラッキングエラー信号ＴＥは、 ＴＥ＝（ｉ＋ｊ）−（ｈ＋ｋ） 又は、 ＴＥ＝（ｉ'＋ｊ'）−（ｈ'＋ｋ'） である。なお、ｉ'，ｊ'，ｈ'，ｋ'は信号ｉ，ｊ，ｈ，
ｋと読取信号ＲＦとを位相比較して算出された信号であ
る。
【００１６】これらの読取信号ＲＦ、フォーカスエラー
信号ＦＥ及びトラッキングエラー信号ＴＥは図示しない
演算回路で生成される。なお、上記した実施例において
は、ホログラム素子１８では±１次光が得られるが、＋
１次光の方しか光検出器１６では受光されない。しかし
ながら、±１次光の両方を光検出器１６では受光してフ
ォーカスエラー信号生成のために用いることができる。
図４は±１次光の両方をフォーカスエラー信号生成のた
めに用いる場合の光路を示している。この場合にホログ
ラム素子１８は図５に示すように全面一様のパターンを
有し、光検出器１６の受光面のパターンは図６に示すよ
うに形成されている。光検出器１６の受光面は上記の図
３のフォーカシング用領域Ｆ１，Ｆ２及びトラッキング
用領域Ｔ１がＦ１，Ｔ１，Ｆ２の順に形成されている。
０次光のレーザビームＬ０はホログラム素子１８をその
まま直進して光検出器１６トラッキング用領域Ｔ１に達
して、そこにスポット光Ｓ１を形成する。＋１次光のレ
ーザビームＬ＋１はホログラム素子１８から光受光器１
６の受光面のフォーカシング用領域Ｆ２に達して、そこ
にスポット光Ｓ３を形成し、また、−１次光のレーザビ
ームＬ−１はホログラム素子１８から光受光器１６の受
光面のフォーカシング用領域Ｆ１に達して、そこにスポ
ット光Ｓ２を形成する。
信号ＦＥ及びトラッキングエラー信号ＴＥは図示しない
演算回路で生成される。なお、上記した実施例において
は、ホログラム素子１８では±１次光が得られるが、＋
１次光の方しか光検出器１６では受光されない。しかし
ながら、±１次光の両方を光検出器１６では受光してフ
ォーカスエラー信号生成のために用いることができる。
図４は±１次光の両方をフォーカスエラー信号生成のた
めに用いる場合の光路を示している。この場合にホログ
ラム素子１８は図５に示すように全面一様のパターンを
有し、光検出器１６の受光面のパターンは図６に示すよ
うに形成されている。光検出器１６の受光面は上記の図
３のフォーカシング用領域Ｆ１，Ｆ２及びトラッキング
用領域Ｔ１がＦ１，Ｔ１，Ｆ２の順に形成されている。
０次光のレーザビームＬ０はホログラム素子１８をその
まま直進して光検出器１６トラッキング用領域Ｔ１に達
して、そこにスポット光Ｓ１を形成する。＋１次光のレ
ーザビームＬ＋１はホログラム素子１８から光受光器１
６の受光面のフォーカシング用領域Ｆ２に達して、そこ
にスポット光Ｓ３を形成し、また、−１次光のレーザビ
ームＬ−１はホログラム素子１８から光受光器１６の受
光面のフォーカシング用領域Ｆ１に達して、そこにスポ
ット光Ｓ２を形成する。
【００１７】また、図４に示すように、光検出器１６で
は、トラッキング用領域Ｔ１の受光面とフォーカシング
用領域Ｆ１，Ｆ２の受光面とが、光軸方向における高さ
位置が異なっており、互いに異なる平面内に形成されて
いる。これは０次光レーザビームＬ０の焦点距離が＋１
次光レーザビームＬ＋１の焦点距離と−１次光レーザビ
ームＬ−１の焦点距離との中間の距離であることによ
る。すなわち、領域Ｔ１，Ｆ１，Ｆ２の各受光面を同一
高さ面にすると、フォーカスエラーが０のとき（Ｌ＋１
とＬ−１との受光スポット径が同一のとき）に、０次光
レーザビームＬ０はトラッキング用領域Ｔ１の受光面上
で合焦し、トラッキングエラー信号の検出が難しくなる
ことから、トラッキング用領域Ｔ１の受光面の高さ位置
をフォーカシング用領域Ｆ１，Ｆ２の受光面とは異なら
せることによって、トラッキング用領域Ｔ１にある程度
の大きさのスポットが受光されるようにして、トラッキ
ングエラー信号を確実に検出することができるようにし
ている。
は、トラッキング用領域Ｔ１の受光面とフォーカシング
用領域Ｆ１，Ｆ２の受光面とが、光軸方向における高さ
位置が異なっており、互いに異なる平面内に形成されて
いる。これは０次光レーザビームＬ０の焦点距離が＋１
次光レーザビームＬ＋１の焦点距離と−１次光レーザビ
ームＬ−１の焦点距離との中間の距離であることによ
る。すなわち、領域Ｔ１，Ｆ１，Ｆ２の各受光面を同一
高さ面にすると、フォーカスエラーが０のとき（Ｌ＋１
とＬ−１との受光スポット径が同一のとき）に、０次光
レーザビームＬ０はトラッキング用領域Ｔ１の受光面上
で合焦し、トラッキングエラー信号の検出が難しくなる
ことから、トラッキング用領域Ｔ１の受光面の高さ位置
をフォーカシング用領域Ｆ１，Ｆ２の受光面とは異なら
せることによって、トラッキング用領域Ｔ１にある程度
の大きさのスポットが受光されるようにして、トラッキ
ングエラー信号を確実に検出することができるようにし
ている。
【００１８】更に、上記した実施例においては、トラッ
キングエラー信号の生成方法として位相差法を適用した
が、位相差法だけでなく３ビーム法をも用いることがで
きるようにしても良い。例えば、ディスク１７がＤＶＤ
の場合であり位相差法を用い、ＣＤの場合には３ビーム
法を用いるのである。この場合には、３ビーム生成用の
グレーティングを照射光路中における半導体レーザ素子
１１とビームスプリッタとの間に設置すると共に、光検
出器１６の受光面はパターンは図７に示すように構成す
る。すなわち、図３に示したフォーカシング用領域Ｆ
１，Ｆ２及びトラッキング用領域Ｔ１の他に、トラッキ
ング用領域Ｔ２，Ｔ３が領域Ｆ１，Ｆ２，Ｔ１の両側に
同一形状で設けられている。また、トラッキング用領域
Ｔ２，Ｔ３にはスポット光Ｓ４，Ｓ５が図７にで示すよ
うに形成される。トラッキング用領域Ｔ２は受光素子１
６ｍ、領域Ｔ３が受光素子１６ｎによって形成され、受
光素子１６ｍの出力信号をｍ、受光素子１６ｎの出力信
号をｎとすると、トラッキングエラー信号ＴＥは、 ＴＥ＝ｍ−ｎ である。
キングエラー信号の生成方法として位相差法を適用した
が、位相差法だけでなく３ビーム法をも用いることがで
きるようにしても良い。例えば、ディスク１７がＤＶＤ
の場合であり位相差法を用い、ＣＤの場合には３ビーム
法を用いるのである。この場合には、３ビーム生成用の
グレーティングを照射光路中における半導体レーザ素子
１１とビームスプリッタとの間に設置すると共に、光検
出器１６の受光面はパターンは図７に示すように構成す
る。すなわち、図３に示したフォーカシング用領域Ｆ
１，Ｆ２及びトラッキング用領域Ｔ１の他に、トラッキ
ング用領域Ｔ２，Ｔ３が領域Ｆ１，Ｆ２，Ｔ１の両側に
同一形状で設けられている。また、トラッキング用領域
Ｔ２，Ｔ３にはスポット光Ｓ４，Ｓ５が図７にで示すよ
うに形成される。トラッキング用領域Ｔ２は受光素子１
６ｍ、領域Ｔ３が受光素子１６ｎによって形成され、受
光素子１６ｍの出力信号をｍ、受光素子１６ｎの出力信
号をｎとすると、トラッキングエラー信号ＴＥは、 ＴＥ＝ｍ−ｎ である。
【００１９】また、上記した実施例においては、フォー
カスエラー信号を±１次光によって生成するようにした
が、これに限ることなく、２次以上の高次光からフォー
カスエラー信号を生成するようにしても良い。また、本
発明は記録密度が異なる複数の記録媒体から情報を読み
とるために互いに異なる波長の複数のレーザビームを発
する光源を備えた光ピックアップ装置にも適用すること
ができる。ＣＤ用とＤＶＤ用の２つのレーザビーム（波
長７８０ｎｍ及び６５０ｎｍ）を発生する光源の場合に
おける光検出器１６の受光面はパターンは図８に示すよ
うに形成することができる。この受光面のパターンは図
７のパターンと同様であるが、各領域Ｆ１〜Ｆ２及びＴ
１〜Ｔ３が光源の２つの発光点の距離に応じてディスク
半径方向に対応する方向に広くなっている。トラッキン
グ用領域Ｔ１は６分割になっている。なお、図７におい
て実線の円がＤＶＤ用のレーザビームによるスポット光
であり、破線の円がＣＤ用のレーザビームによるスポッ
ト光である。
カスエラー信号を±１次光によって生成するようにした
が、これに限ることなく、２次以上の高次光からフォー
カスエラー信号を生成するようにしても良い。また、本
発明は記録密度が異なる複数の記録媒体から情報を読み
とるために互いに異なる波長の複数のレーザビームを発
する光源を備えた光ピックアップ装置にも適用すること
ができる。ＣＤ用とＤＶＤ用の２つのレーザビーム（波
長７８０ｎｍ及び６５０ｎｍ）を発生する光源の場合に
おける光検出器１６の受光面はパターンは図８に示すよ
うに形成することができる。この受光面のパターンは図
７のパターンと同様であるが、各領域Ｆ１〜Ｆ２及びＴ
１〜Ｔ３が光源の２つの発光点の距離に応じてディスク
半径方向に対応する方向に広くなっている。トラッキン
グ用領域Ｔ１は６分割になっている。なお、図７におい
て実線の円がＤＶＤ用のレーザビームによるスポット光
であり、破線の円がＣＤ用のレーザビームによるスポッ
ト光である。
【００２０】
【発明の効果】以上の如く、本発明によれば、コンパク
トに光ピックアップ装置を形成することができると共
に、安定したフォーカスサーボ制御及びトラッキングサ
ーボ制御を図ることができる。
トに光ピックアップ装置を形成することができると共
に、安定したフォーカスサーボ制御及びトラッキングサ
ーボ制御を図ることができる。
【図１】本発明の実施例として光ピックアップ装置の光
学系を示す図である。
学系を示す図である。
【図２】図１の装置中のホログラム素子のパターンを示
す図である。
す図である。
【図３】図１の装置中の光検出器の受光面のパターンを
示す図である。
示す図である。
【図４】本発明の他の実施例として光ピックアップ装置
の光学系を示す図である。
の光学系を示す図である。
【図５】図４の装置中のホログラム素子のパターンを示
す図である。
す図である。
【図６】図４の装置中の光検出器の受光面のパターンを
示す図である。
示す図である。
【図７】本発明の他の実施例として光検出器の受光面の
パターンを示す図である。
パターンを示す図である。
【図８】本発明の他の実施例として光検出器の受光面の
パターンを示す図である。
パターンを示す図である。
１１ 半導体レーザ素子 １３ ビームスプリッタ １４ コリメータレンズ １５ 対物レンズ １６ 光検出器 １７ 光ディスク
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ１１Ｂ 7/135 Ｇ１１Ｂ 7/135 Ｚ Ｆターム(参考） 2H049 AA02 AA12 AA25 AA34 AA57 AA66 CA05 CA08 CA15 CA20 5D118 AA14 BA01 BB02 BF02 BF03 CC12 CC16 CC17 CD02 CD03 CD08 CF04 CF05 DA20 DC03 5D119 AA28 BA01 DA01 DA05 EA02 EA03 JA24 KA02 KA07 KA08 KA18 KA19 KA24 KA41 LB01
Claims (5)
- 【請求項１】 光源から発せられたレーザビームを光学
式記録媒体に向けて導く照射光路と、前記記録媒体によ
って反射されたレーザビームを光検出手段に向けて導く
反射光路とを形成した光学系を備え、前記光検出手段の
出力信号に基づいてビームサイズ法によってフォーカス
エラー信号を生成しかつ位相差法によってトラッキング
エラー信号を生成する光ピックアップ装置であって、 前記光検出手段は、トラッキング信号生成のために４分
割された受光面を有する第１検出部と、フォーカスエラ
ー信号生成のために３分割された一対の受光面を有する
第２検出部とを含み、 光ピックアップ装置は、前記反射光路内に配置され前記
反射されたレーザビームの０次光を前記第１検出部の受
光面に照射し、前記反射されたレーザビームの高次光を
前記第２検出部の一対の受光面各々に照射する回折手段
を含むことを特徴とする光ピックアップ装置。 - 【請求項２】 前記回折手段は、異なる２つのパターン
を有するホログラム素子であり、前記２つのパターンで
回折された高次光の各々は前記第２検出部の一対の受光
面の各々によって受光されることを特徴とする請求項１
記載の光ピックアップ装置。 - 【請求項３】 前記第１及び第２検出部の受光面は略同
一平面内に形成されることを特徴とする請求項１又は２
記載の光ピックアップ装置。 - 【請求項４】 前記回折手段は単一のパターンからなる
ホログラム素子であり、前記ホログラム素子によって回
折された互いに極性が異なる一対の高次光は前記第２検
出部の一対の受光面の各々によって受光されることを特
徴とする請求項１記載の光ピックアップ装置。 - 【請求項５】 前記第１検出部の受光面と前記第２検出
部の一対の受光面とは、互いに異なる平面内に形成され
ることを特徴とする請求項１又は４記載の光ピックアッ
プ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000129634A JP2001312829A (ja) | 2000-04-28 | 2000-04-28 | 光ピックアップ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000129634A JP2001312829A (ja) | 2000-04-28 | 2000-04-28 | 光ピックアップ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001312829A true JP2001312829A (ja) | 2001-11-09 |
Family
ID=18638876
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000129634A Pending JP2001312829A (ja) | 2000-04-28 | 2000-04-28 | 光ピックアップ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001312829A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007023650A1 (ja) * | 2005-08-22 | 2007-03-01 | Nec Corporation | 光ヘッド装置及び光学式情報記録又は再生装置 |
| JP2007066486A (ja) * | 2005-09-02 | 2007-03-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ピックアップ、光ピックアップの製造方法および光ディスク装置 |
-
2000
- 2000-04-28 JP JP2000129634A patent/JP2001312829A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007023650A1 (ja) * | 2005-08-22 | 2007-03-01 | Nec Corporation | 光ヘッド装置及び光学式情報記録又は再生装置 |
| JP2007066486A (ja) * | 2005-09-02 | 2007-03-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ピックアップ、光ピックアップの製造方法および光ディスク装置 |
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Legal Events
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| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20041004 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060407 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060412 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060612 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060821 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20061213 |