JP2001300638A - パンチ・ダイの形状の計測方法および測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 パンチおよびダイを機械本体に装着した状態
で容易に測定することのできるパンチ・ダイの形状の計
測方法および測定装置を提供する。 【解決手段】 ダイＤの内部において上方に４５度傾い
たミラー１３にレーザ測長器１５からレーザ光ＬＢを当
てて反射させ、パンチＰの下面にレーザ光ＬＢを照射し
てその反射光をミラー１３を介してレーザ測長器１５が
受光してパンチ下面までの距離を測長する。この測長
を、レーザ測長器１５を上下方向へ移動させながら複数
点について行い、金型形状計測部１６が測定された距離
からパンチ下面の形状を計測する。同様にして、パンチ
Ｐの内部において下方に４５度傾いたミラー１３を用い
て、レーザ測長器１５によりダイＤの上面までの距離を
複数点について測長して、金型形状計測部１６がダイＤ
の上面の形状について計測する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、パンチ・ダイの
形状の計測方法および測定装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来より、例えば図５（Ａ）、（Ｂ）に
示されているようなパンチＰ、ダイＤの形状を計測する
場合には、パンチＰ、ダイＤを取り外した状態でＲゲー
ジやマイクロノギス等の器具を用いて計測を行ってい
る。例えば、パンチＰの高さＨ１、先端半径Ｒ１や、ダ
イＤの高さＨ２、Ｖ溝１０１に一定の外径を有するサイ
ンバー１０３をセットしてサインバー１０３の高さＨ
３、肩部１０５のＲ２等を測定することが行われてい
る。

【０００３】あるいは、図６（Ａ）、（Ｂ）に示されて
いるように、３次元測定器により、パンチＰの寸法Ｌ
１、Ｌ２、角度θ１、ダイＤの寸法Ｌ３、Ｌ４、Ｌ５角
度θ２等を測定することが行われている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図５
（Ａ）、（Ｂ）に示したような測定方法では、同一形状
の金型は長さの違いを含めて多数あり、使用する際には
それらの寸法等を組み合わせて作業を行う。このため、
金型個々の測定値を更新データを含めて管理する必要が
あり、面倒である。

【０００５】また、パンチＰの先端半径Ｒ１やダイＤの
肩部１０５のＲ２等の測定は、Ｒゲージでは精密に計測
できないという問題がある。

【０００６】さらに、図６（Ａ）、（Ｂ）に示したよう
な３次元測定器による測定方法では、短時間で手軽に測
定することができず、設備費も高価であるという問題が
ある。

【０００７】この発明の目的は、以上のような従来の技
術の問題点に着目してなされたものであり、パンチおよ
びダイを機械本体に装着した状態で容易に測定すること
のできるパンチ・ダイの形状の計測方法および測定装置
を提供することにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、請求項１による発明のパンチ・ダイの形状の計測
方法は、パンチとダイとの協働により曲げ加工を行う際
のパンチ・ダイの形状の計測方法において、前記ダイま
たは前記パンチの内部に４５度傾けて設けられたミラー
にレーザ測長器からレーザ光を照射して鉛直上方または
鉛直下方へ反射させ、前記ダイまたは前記パンチにおけ
る前記ミラーの上方または下方に設けられているレーザ
光透過部を通って前記パンチの下面または前記ダイの上
面で反射したレーザ光を前記レーザ測長器が受光してパ
ンチ下面またはダイ上面までの距離を測長し、前記レー
ザ測長器を上下方向へ移動させて前記パンチ下面または
前記ダイ上面までの距離を複数点測長してパンチおよび
ダイの形状を計測すること、を特徴とするものである。

【０００９】従って、ダイの内部において上方に４５度
傾いたミラーにレーザ測長器からレーザ光を当てて反射
させ、パンチの下面にレーザ光を照射してその反射光を
ミラーを介してレーザ測長器が受光してパンチ下面まで
の距離を測長する。この測長を、レーザ測長器を上下方
向へ移動させながら複数点について行い、測定された距
離からパンチ下面の形状を計測する。同様にして、パン
チの内部において下方に４５度傾いたミラーを用いて、
レーザ測長器によりダイの上面までの距離を測長してダ
イの上面の形状について計測する。

【００１０】請求項２による発明のパンチ・ダイの形状
の計測方法は、パンチとダイとの協働により曲げ加工を
行う際のパンチ・ダイの形状の計測方法において、前記
ダイと前記パンチの間に傾けて設けられたミラーにレー
ザ測長器からレーザ光を照射して鉛直上方または鉛直下
方へ反射させ、前記パンチの下面または前記ダイの上面
で反射したレーザ光を前記レーザ測長器が受光してパン
チ下面またはダイ上面までの距離を測長し、前記レーザ
測長器および前記ミラーを前記パンチおよび前記ダイの
断面方向へ水平移動させて前記パンチ下面または前記ダ
イ上面までの距離を複数点測長してパンチおよびダイの
形状を計測すること、を特徴とするものである。

【００１１】従って、パンチとダイの間において傾いて
設けられているミラーにレーザ測長器からレーザ光を当
ててパンチの下面またはダイの上面にレーザ光を当て
て、その反射光をレーザ測長器が受光してパンチの下面
までの距離およびダイの上面までの距離を測長する。こ
の測長を、ミラーおよびレーザ測長器をパンチおよびダ
イの断面方向へ移動させながら複数点について行い、得
られた距離からパンチの下面の形状およびダイの上面の
形状を計測する。

【００１２】請求項３による発明のパンチ・ダイの形状
の計測方法は、請求項２記載のパンチ・ダイの形状の計
測方法において、前記パンチの形状を計測する際には前
記ミラーを上向き４５度に傾け、前記ダイの形状を計測
する際には前記ミラーを下向き４５度に傾けること、を
特徴とするものである。

【００１３】従って、１個のミラーを上下方向へ回転さ
せることにより、レーザ光をパンチの下面に照射した
り、ダイの上面に照射したりする。

【００１４】請求項４による発明のパンチ・ダイの形状
の計測装置は、パンチとダイとの協働により曲げ加工を
行う際のパンチ・ダイの形状の計測装置であって、前記
ダイの内部に４５度上向きに傾けて設けられ、または／
および前記パンチの内部に４５度下向きに傾けて設けら
れたミラーと、前記ミラーおよび前記ミラーに測長用の
レーザ光を照射すると共にパンチ下面またはダイ上面か
らの反射光を受光してパンチ下面またはダイ上面までの
距離を測長するレーザ測長器と、このレーザ測長器を上
下方向へ移動せしめる移動手段と、この移動手段により
レーザ測長器を上下に移動させて複数点について測長し
た距離から前記パンチの下面および前記ダイの上面の形
状を計測する金型形状計測部と、を特徴とするものであ
る。

【００１５】従って、ダイの内部において上方に４５度
傾いたミラーにレーザ測長器からレーザ光を当てて反射
させ、パンチの下面にレーザ光を照射してその反射光を
ミラーを介してレーザ測長器が受光してパンチ下面まで
の距離を測長する。この測長を、レーザ測長器を移動手
段により上下方向へ移動させながら複数点について行
い、金型形状計測部が測定された距離からパンチ下面の
形状を計測する。同様にして、パンチの内部において下
方に４５度傾いたミラーを用いて、レーザ測長器により
ダイの上面までの距離を複数点について測長して、金型
形状計測部がダイの上面の形状について計測する。

【００１６】請求項５による発明のパンチ・ダイの形状
の計測装置は、請求項４記載のパンチ・ダイの形状の計
測装置において、前記移動手段がバックゲージであるこ
とを特徴とするものである。

【００１７】従って、移動手段をバックゲージとするこ
とにより、別の移動手段を設けずに済む。

【００１８】請求項６による発明のパンチ・ダイの形状
の計測装置は、パンチとダイとの協働により曲げ加工を
行う際のパンチ・ダイの形状の計測装置であって、前記
ダイと前記パンチの間において上向きまたは下向きに傾
斜自在に設けられたミラーと、このミラーにレーザ光を
照射して鉛直上方または鉛直下方へ反射させ前記パンチ
の下面または前記ダイの上面で反射したレーザ光を受光
してパンチ下面またはダイ上面までの距離を測長するレ
ーザ測長器と、前記ミラーおよび前記測長器を一体的に
保持してパンチおよびダイの断面方向へ水平に移動自在
の取付けアームと、この取付けアームを前記パンチおよ
び前記ダイの断面方向へ水平移動させて測長した前記パ
ンチ下面または前記ダイ上面における複数点までの距離
から前記パンチおよび前記ダイの形状を計測する金型形
状計測部と、を備えてなること特徴とするものである。

【００１９】従って、パンチとダイの間においてパンチ
およびダイの断面方向へ水平に移動自在に設けられてい
る取付けアームに、ミラーおよびレーザ測長器が設けら
れており、レーザ測長器からミラーにレーザ光を当てて
反射させ、パンチの下面またはダイの上面にレーザ光を
当てて、その反射光をレーザ測長器が受光してパンチの
下面までの距離およびダイの上面までの距離を測長す
る。この測長を、取付けアームを移動させてミラーおよ
びレーザ測長器をパンチおよびダイの断面方向へ移動さ
せながら複数点について行い、金型形状計測部が得られ
た距離からパンチの下面の形状およびダイの上面の形状
を計測する。

【００２０】請求項７による発明のパンチ・ダイの形状
の計測装置は、請求項６記載のパンチ・ダイの形状の計
測装置において、前記ミラーが、前記取付けアームにお
いて上向き４５度または下向き４５度に傾斜自在である
こと、を特徴とするものである。

【００２１】従って、１個のミラーを上向き４５度ある
いは下向き４５度となるように回転させることにより、
レーザ光をパンチの下面に照射したり、ダイの上面に照
射したりして測長を行う。

【００２２】請求項８による発明のパンチ・ダイの形状
の計測装置は、請求項６又は７記載のパンチ・ダイの計
測装置において、前記取付けアームがバックゲージの突
当てに設けられると共に突当てに対して旋回可能に設け
られていることを特徴とするものである。

【００２３】従って、取付けアームはバックゲージによ
って水平に移動されるので、別の移動手段を設けずに済
む。取付けアームが突当てに対して旋回して曲げ加工時
に干渉せずに済む。

【００２４】

【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態を図
面に基づいて詳細に説明する。

【００２５】図１（Ａ）、（Ｂ）には、この発明に係る
パンチ・ダイの形状の計測装置１の第一の実施の形態が
示されている。なお、この計測装置１を設けたプレスブ
レーキ３は従来よりよく知られているので、簡単に説明
する。

【００２６】プレスブレーキ３は、下部テーブル５の上
端に取り付けられているダイDと、図示省略のラムに取
り付けられているパンチPとの協働によりワークＷに曲
げ加工を行うものである。パンチPおよびダイDの後方
（図１中右方向）には、ワークＷの位置決めをするため
のバックゲージ装置７が設けられている。

【００２７】従って、ワークＷをバックゲージ装置７の
突当て９に突き当てて位置決めをし、ラムを下降させて
パンチＰとダイＤとの協働によりワークＷの曲げ加工を
行うものである。

【００２８】図１（Ａ）を参照するに、この計測装置１
では、前記ダイＤの左右方向（図１（Ａ）中紙面直交方
向）の適宜位置におけるダイ溝ＤＶに複数のレーザ光透
過部であるスリット１１Ａが形成されている。このスリ
ット１１Ａの代わりに穴であってもかまわない。このス
リット１１Ａ内には、右上がりにほぼ４５度傾斜して反
射面を有するミラーとしての反射ミラー１３Ａが設けら
れている。

【００２９】一方、図１（Ｂ）を参照するに、パンチＰ
の左右方向（図１（Ｂ）中紙面直交方向）の適宜位置に
は複数のレーザ光透過部であるスリット１１Ｂが形成さ
れている。このスリット１１Ｂの代わりに穴であっても
かまわない。このスリット１１Ｂ内には、右下がりにほ
ぼ４５度傾斜して反射面を有する反射ミラー１３Ｂが設
けられている。

【００３０】また、反射ミラー１３Ａ、１３Ｂを介して
パンチＰまたはダイＤを検出するためのレーザ光ＬＢを
照射するレーザ測長器１５が、例えばバックゲージ装置
７の突当て９の部分に設けられている。あるいはレーザ
測長器１５を独自で上下に移動自在に設けてもよい。こ
のレーザ測長器１５はパンチＰまたはダイＤの形状を求
める金型形状計測部１６に接続されており、測長された
距離を伝達する。

【００３１】また、図２（Ａ）、（Ｂ）には、第二の実
施の形態にかかる計測装置１７が示されている。この計
測装置１７では、パンチＰとダイＤの間にミラーとして
の補助ミラー１９を設け、この補助ミラー１９を介して
パンチＰやダイＤにレーザ光ＬＢを照射するレーザ測長
器１５が設けられている。このレーザ測長器１５および
補助ミラー１９は、水平方向に移動自在に設けられてい
る。なお、パンチＰの形状を計測する場合には図２
（Ａ）に示されているように補助ミラー１９を上向き４
５°に傾け、ダイＤの形状を計測する場合には図２
（Ｂ）に示されているように補助ミラー１９を下向き４
５°に傾ける。ここで補助ミラー１９の回転は、作業者
の手で行ってもよいが、モータにより自動で回転させる
ための回転機構を設けることもできる。

【００３２】図２（Ａ）に示されているように、突当て
９の本体側方に取付けアーム２１が旋回軸２３を中心と
して旋回自在に設けられており、この取付けアーム２１
に補助ミラー１９とレーザ測長器１５が一定の間隔を保
持して図２中左右方向へ一体的に移動自在に設けられて
いる。なお、前記取付けアーム２１は、通常の加工時に
は下方へ旋回して退避している。そのため、曲げ加工時
には干渉せずに済む。

【００３３】次に、この発明に係るパンチ・ダイの形状
の計測方法について説明する。

【００３４】まず、図１（Ａ）、（Ｂ）に示されてい
る、パンチＰまたはダイＤの内部にミラー１３Ａ、１３
Ｂを有する場合には、レーザ測長器１５を上下移動させ
ながらミラー１３Ａまたはミラー１３Ｂにレーザ光ＬＢ
を照射して、パンチＰの下面あるいはダイＤの上面から
の反射光を受光して距離を測定し、金型形状計測部１６
に信号を伝達する。

【００３５】パンチＰの形状を計測する場合には、レー
ザ測長器１５の発光器から発せられたレーザ光ＬＢは水
平に進んで反射ミラー１３Ａ（４５度で傾斜している場
合）により鉛直上方に反射されて真上に進み、パンチＰ
の下面に当たる。パンチＰの下面からの反射光が同じ経
路を反対に辿ってレーザ測長器１５の受光器により受光
され、レーザ光ＬＢの進んだ距離が測長され、金型形状
計測部１６に伝達される。

【００３６】このようにレーザ光ＬＢが進むので、パン
チＰの下面における反射点の座標は、金型形状計測部１
６においてレーザ測長器１５の座標、反射ミラー１３Ａ
の中心の座標、測長された距離から求められる。

【００３７】そして、パンチＰの左側傾斜面について２
点以上の座標、右側の傾斜面について２点以上の座標を
求めて、左右の下面の直線式を求め、各直線の傾きから
パンチ角度θＰを求めることができる。また、パンチＰ
の先端部分までの距離を細かく測定することにより、パ
ンチＰ先端のＲを求めることもできる。

【００３８】図１（Ｂ）を参照するに、同様にして、レ
ーザ測長器１５を上下移動させながらミラー１３Ｂを介
してダイＤの上面にレーザ光ＬＢを照射し、その反射光
を受光することにより測長して金型形状計測部１６に伝
達し、ダイ角度θＤおよび肩部２５のＲを求めることが
できる。

【００３９】次に、図２（Ａ）、（Ｂ）および図３に示
されている、パンチＰとダイＤとの間で補助ミラー１９
とレーザ測長器１５を移動させながらパンチＰの下面ま
での距離を測長する場合について説明する。

【００４０】図２（Ａ）および図３を参照して、パンチ
Ｐの形状を計測する場合について説明する。突当て９に
取り付けられた取付けアーム２１にレーザ測長器１５お
よび補助ミラー１９が取り付けられているので、レーザ
測長器１５をΔＬだけ移動させると、補助ミラー１９も
同じ方向へΔＬだけ移動する。

【００４１】レーザ測長器１５から発せられたレーザ光
ＬＢは補助ミラー１９により進路を変えられてパンチＰ
の下面に当たり、反射されたレーザ光ＬＢが再び補助ミ
ラー１９を通ってレーザ測長器１５に受光される。これ
により、ＰＡ〜ＰＢ〜ＰＣあるいは、ＰＡ´〜ＰＢ´〜
ＰＣ´の距離が測長され、金型形状計測部１６に信号が
発せられる。

【００４２】従って、レーザ測長器１５をΔＬだけ移動
させることにより、ＰＣ〜ＰＣ´の鉛直距離ΔＨの距離
を測長することができるので、レーザ測長器１５を連続
的に移動させて複数点で測長することにより、金型形状
計測部１６においてパンチＰの下面の形状を計測するこ
とができる。このパンチＰの形状から、パンチ角度θ、
パンチ先端のＲ等を求めることができる。

【００４３】図２（Ｂ）および図４を参照するに、補助
ミラー１９を９０度回転して下向きに４５度に傾けて、
前述のパンチＰの場合と同様に測長することにより、ダ
イＤの形状を測定することができ、ダイＤの肩部のＲ、
ダイ角度等を計測することができる。なお、補助ミラー
１９は、パンチＰで使用したものと別個のものを下向き
４５度に設けて使用することができるのは言うまでもな
い。

【００４４】以上の結果から、パンチＰを装着した状態
でパンチＰの形状を測定してパンチ角度θＰやパンチ先
端のＲ等を計測することができるので、パンチＰの摩耗
状態を実際に使用する段階で知ることができ、ラムスト
ローク量の補正を行うことができる。また、曲げ線方向
に測定することにより、パンチＰと突当て９との誤差を
長手方向について求めることができ、突当て９位置を補
正を行うことができる。

【００４５】また、ダイDを装着した状態でダイＤの形
状を測定してダイ角度θＤやダイ肩部のＲ等を計測する
ことができるので、ダイＤの摩耗状態を実際に使用する
段階で知ることができ、ラムストローク量の補正を行う
ことができる。

【００４６】さらに、計測されたパンチＰとダイＤの形
状から、パンチPとダイDとの組み合わせの間違いを発見
することができ、パンチPおよびダイDの破損を防止する
ことができると共に作業ミスの防止を図ることができ
る。

【００４７】なお、この発明は前述の発明の実施の形態
に限定されることなく、適宜な変更を行うことにより、
その他の態様で実施し得るものである。

【００４８】

【発明の効果】以上説明したように、請求項１の発明に
よるパンチ・ダイの形状の計測方法は、ダイの内部にお
いて上方に４５度傾いたミラーにレーザ測長器からレー
ザ光を当てて反射させ、パンチの下面にレーザ光を照射
してその反射光をミラーを介してレーザ測長器が受光し
てパンチ下面までの距離を測長する。この測長を、レー
ザ測長器を上下方向へ移動させながら複数点について行
い、測定された距離からパンチ下面の形状を計測する。
同様にして、パンチの内部において下方に４５度傾いた
ミラーを用いて、レーザ測長器によりダイの上面までの
距離を測長してダイの上面の形状について計測するの
で、パンチおよびダイを加工機に装着した状態で形状を
計測することができる。

【００４９】請求項２の発明によるパンチ・ダイの形状
の計測方法は、パンチとダイの間において傾いて設けら
れているミラーにレーザ測長器からレーザ光を当ててパ
ンチの下面またはダイの上面にレーザ光を当てて、その
反射光をレーザ測長器が受光してパンチの下面までの距
離およびダイの上面までの距離を測長する。この測長
を、ミラーおよびレーザ測長器をパンチおよびダイの断
面方向へ移動させながら複数点について行い、得られた
距離からパンチの下面の形状およびダイの上面の形状を
計測するので、パンチおよびダイを加工機に装着した状
態で形状を計測することができる。

【００５０】請求項３の発明によるパンチ・ダイの形状
の計測方法は、１個のミラーを上下方向へ回転させるこ
とにより、レーザ光をパンチの下面に照射したり、ダイ
の上面に照射したりして、パンチおよびダイの形状を計
測することができる。

【００５１】請求項４の発明によるパンチ・ダイの形状
の計測装置は、ダイの内部において上方に４５度傾いた
ミラーにレーザ測長器からレーザ光を当てて反射させ、
パンチの下面にレーザ光を照射してその反射光をミラー
を介してレーザ測長器が受光してパンチ下面までの距離
を測長する。この測長を、レーザ測長器を上下方向へ移
動させながら複数点について行い、金型形状計測部が測
定された距離からパンチ下面の形状を計測する。同様に
して、パンチの内部において下方に４５度傾いたミラー
を用いて、レーザ測長器によりダイの上面までの距離を
複数点について測長して、金型形状計測部がダイの上面
の形状について計測するので、パンチおよびダイを加工
機に装着した状態で形状を計測することができる。

【００５２】請求項５の発明によるパンチ・ダイの形状
の計測装置は、移動手段をバックゲージとすることによ
り、別の移動手段を設ける必要がない。

【００５３】請求項６の発明によるパンチ・ダイの形状
の計測装置は、パンチとダイの間においてパンチおよび
ダイの断面方向へ水平に移動自在に設けられている取付
けアームに、ミラーおよびレーザ測長器が設けられてお
り、レーザ測長器からミラーにレーザ光を当てて反射さ
せ、パンチの下面またはダイの上面にレーザ光を当て
て、その反射光をレーザ測長器が受光してパンチの下面
までの距離およびダイの上面までの距離を測長する。こ
の測長を、取付けアームを移動させてミラーおよびレー
ザ測長器をパンチおよびダイの断面方向へ移動させなが
ら複数点について行い、金型形状計測部が得られた距離
からパンチの下面の形状およびダイの上面の形状を計測
するので、パンチおよびダイを加工機に装着した状態で
形状を計測することができる。

【００５４】請求項７の発明によるパンチ・ダイの形状
の計測装置は、取付けアームに取り付けられている１個
のミラーを上向き４５度あるいは下向き４５度となるよ
うに回転させることにより、レーザ光をパンチの下面に
照射したり、ダイの上面に照射したりして測長を行うこ
とができる。

【００５５】請求項８の発明によるパンチ・ダイの形状
の計測装置は、取付けアームはバックゲージにより水平
に移動されるので、別の移動手段を設ける必要がない。
また取付けアームが突当てに対して旋回して曲げ加工時
に干渉せず、邪魔にならない。

【図面の簡単な説明】

【図１】（Ａ）、（Ｂ）は、この発明に係るパンチ・ダ
イの形状の計測装置の一実施の形態を示す側面図であ
る。

【図２】（Ａ）、（Ｂ）は、この発明に係るパンチ・ダ
イの形状の計測装置の別の実施の形態を示す構成図であ
る。

【図３】図２の計測装置によるパンチの形状の計測方法
を示す説明図である。

【図４】図２の計測装置によるダイの形状の計測方法を
示す説明図である。

【図５】従来におけるパンチ・ダイの形状の計測方法を
示す説明図である。

【図６】従来におけるパンチ・ダイの形状の計測方法を
示す説明図である。

【符号の説明】

１、１７ 形状の計測装置 １３Ａ、１３Ｂ ミラー １５ レーザ測長器 １６ 金型形状計測部 １９ 補助ミラー（ミラー） ２１ 取付けアーム Ｐ パンチ Ｄ ダイ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2F065 AA03 AA06 AA52 BB05 BB24 BB25 CC00 DD00 DD06 FF00 LL12 MM07 PP02 PP22 UU03 UU05 4E063 AA01 BA07 FA05 FA10 GA04 LA08 LA09 LA17 LA20

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 パンチとダイとの協働により曲げ加工を
   行う際のパンチ・ダイの形状の計測方法において、前記
   ダイまたは前記パンチの内部に４５度傾けて設けられた
   ミラーにレーザ測長器からレーザ光を照射して鉛直上方
   または鉛直下方へ反射させ、前記ダイまたは前記パンチ
   における前記ミラーの上方または下方に設けられている
   レーザ光透過部を通って前記パンチの下面または前記ダ
   イの上面で反射したレーザ光を前記レーザ測長器が受光
   してパンチ下面またはダイ上面までの距離を測長し、前
   記レーザ測長器を上下方向へ移動させて前記パンチ下面
   または前記ダイ上面までの距離を複数点測長してパンチ
   およびダイの形状を計測すること、を特徴とするパンチ
   ・ダイの形状の計測方法。
2. 【請求項２】 パンチとダイとの協働により曲げ加工を
   行う際のパンチ・ダイの形状の計測方法において、前記
   ダイと前記パンチの間に傾けて設けられたミラーにレー
   ザ測長器からレーザ光を照射して鉛直上方または鉛直下
   方へ反射させ、前記パンチの下面または前記ダイの上面
   で反射したレーザ光を前記レーザ測長器が受光してパン
   チ下面またはダイ上面までの距離を測長し、前記レーザ
   測長器および前記ミラーを前記パンチおよび前記ダイの
   断面方向へ水平移動させて前記パンチ下面または前記ダ
   イ上面までの距離を複数点測長してパンチおよびダイの
   形状を計測すること、を特徴とするパンチ・ダイの形状
   の計測方法。
3. 【請求項３】 前記パンチの形状を計測する際には前記
   ミラーを上向き４５度に傾け、前記ダイの形状を計測す
   る際には前記ミラーを下向き４５度に傾けること、を特
   徴とする請求項２記載のパンチ・ダイの形状の計測方
   法。
4. 【請求項４】 パンチとダイとの協働により曲げ加工を
   行う際のパンチ・ダイの形状の計測装置であって、前記
   ダイの内部に４５度上向きに傾けて設けられ、または／
   および前記パンチの内部に４５度下向きに傾けて設けら
   れたミラーと、前記ミラーおよび前記ミラーに測長用の
   レーザ光を照射すると共にパンチ下面またはダイ上面か
   らの反射光を受光してパンチ下面またはダイ上面までの
   距離を測長するレーザ測長器と、このレーザ測長器を上
   下方向へ移動せしめる移動手段と、この移動手段によ
   り、レーザ測長器を上下に移動させて複数点について測
   長した距離から前記パンチの下面および前記ダイの上面
   の形状を計測する金型形状計測部と、を特徴とするパン
   チ・ダイの形状の計測装置。
5. 【請求項５】 前記移動手段がバックゲージであること
   を特徴とする請求項４記載のパンチ・ダイの形状の計測
   装置。
6. 【請求項６】 パンチとダイとの協働により曲げ加工を
   行う際のパンチ・ダイの形状の計測装置であって、前記
   ダイと前記パンチの間において上向きまたは下向きに傾
   斜自在に設けられたミラーと、このミラーにレーザ光を
   照射して鉛直上方または鉛直下方へ反射させ前記パンチ
   の下面または前記ダイの上面で反射したレーザ光を受光
   してパンチ下面またはダイ上面までの距離を測長するレ
   ーザ測長器と、前記ミラーおよび前記測長器を一体的に
   保持してパンチおよびダイの断面方向へ水平に移動自在
   の取付けアームと、この取付けアームを前記パンチおよ
   び前記ダイの断面方向へ水平移動させて測長した前記パ
   ンチ下面または前記ダイ上面における複数点までの距離
   から前記パンチおよび前記ダイの形状を計測する金型形
   状計測部と、を備えてなること特徴とするパンチ・ダイ
   の形状の計測装置。
7. 【請求項７】 前記ミラーが、前記取付けアームにおい
   て上向き４５度または下向き４５度に傾斜自在であるこ
   と、を特徴とする請求項６記載のパンチ・ダイの形状の
   計測装置。
8. 【請求項８】 前記取付けアームがバックゲージの突当
   てに設けられると共に突当てに対して旋回可能に設けら
   れていることを特徴とする請求項６又は７記載のパンチ
   ・ダイの形状の計測装置。