KR20030056971A - 3차원 형상/표면조도 측정장치 - Google Patents
3차원 형상/표면조도 측정장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20030056971A KR20030056971A KR1020010087333A KR20010087333A KR20030056971A KR 20030056971 A KR20030056971 A KR 20030056971A KR 1020010087333 A KR1020010087333 A KR 1020010087333A KR 20010087333 A KR20010087333 A KR 20010087333A KR 20030056971 A KR20030056971 A KR 20030056971A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- light
- objective lens
- lens
- surface roughness
- reflection filter
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T15/00—3D [Three Dimensional] image rendering
- G06T15/08—Volume rendering
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
Abstract
Description
Claims (1)
- 제1 렌즈(212), 제2 렌즈(213), 제3 렌즈(214)를 통과한 광원(211)의 백색광을 전반사 미러(215)를 통해 광분할기(216)로 인가되게 되고, 상기 광분할기(216)로 인가된 백색광은 대물렌즈(217)와 기준면(218) 및 광분할기(219)를 통해 측정물(P)로 조사되어 간섭을 일으키게 하며, 이 간섭무늬는 결상렌즈(220)를 통해 CCD카메라(221)로 촬상하여 3차원 형상을 측정할 수 있도록 구성됨에 있어서,상기 광분할기(216)와 결상렌즈(220) 사이에 특정 파장대만 반사시키는 제1 반사필터(1)가 경사 설치되고, 상기 대물렌즈(217)의 상부측에는 대물렌즈(217)와 동일 광축을 이루면서 연동되는 특정 파장대의 제2 반사필터(2)가 수평 설치되며, 상기 제1 반사필터(1) 및 제2 반사필터(2)의 광축과 직각을 이루는 광축 상의 제1 반사필터(1) 측방에 레이저 간섭계(3)가 구비되어 상기 레이저 간섭계(3)의 발광 및 제1 반사필터(1) 및 제2 반사필터(2)를 통한 수광에 의해 대물렌즈(217)의 이동량을 감지할 수 있도록 구성한 것을 특징으로 한 3차원 형상/표면조도 측정장치.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2001-0087333A KR100434445B1 (ko) | 2001-12-28 | 2001-12-28 | 3차원 형상/표면조도 측정장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2001-0087333A KR100434445B1 (ko) | 2001-12-28 | 2001-12-28 | 3차원 형상/표면조도 측정장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20030056971A true KR20030056971A (ko) | 2003-07-04 |
KR100434445B1 KR100434445B1 (ko) | 2004-06-04 |
Family
ID=32215116
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR10-2001-0087333A KR100434445B1 (ko) | 2001-12-28 | 2001-12-28 | 3차원 형상/표면조도 측정장치 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100434445B1 (ko) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007046626A1 (en) * | 2005-10-19 | 2007-04-26 | Intekplus Co., Ltd. | Apparatus for and method of measuring image |
KR100726459B1 (ko) * | 2006-01-10 | 2007-06-11 | 삼성전자주식회사 | 3차원 형상측정장치 |
WO2008120882A1 (en) * | 2007-03-30 | 2008-10-09 | Intekplus Co., Ltd | Apparatus for inspection of three-dimensional shape and method for inspection using the same |
KR100916593B1 (ko) * | 2007-06-25 | 2009-09-11 | 주식회사 나노시스템 | 실시간 3차원 형상 측정 시스템 |
KR101006423B1 (ko) * | 2005-01-20 | 2011-01-06 | 지고 코포레이션 | 객체 표면의 특성을 결정하기 위한 간섭계 |
KR101239409B1 (ko) * | 2012-07-12 | 2013-03-05 | 주식회사 엠엠티 | 2d 형상 정보와 3d 형상 정보의 동시 획득이 가능하며 레이저와 백색광을 광원으로 한 위상천이기반 형상측정장치 및 형상측정방법 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100947464B1 (ko) | 2008-02-13 | 2010-03-17 | 에스엔유 프리시젼 주식회사 | 두께 측정장치 |
KR100992784B1 (ko) | 2008-11-26 | 2010-11-05 | 고려대학교 산학협력단 | 횡방향 스캔 백색광 간섭계를 이용한 표면 형상을 측정하는장치 및 그 방법 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05312538A (ja) * | 1992-05-15 | 1993-11-22 | Yokogawa Electric Corp | 3次元形状測定装置 |
JP2000074618A (ja) * | 1998-08-27 | 2000-03-14 | Fuji Xerox Co Ltd | 干渉計測方法および干渉計測装置 |
KR100284080B1 (ko) * | 1998-10-19 | 2001-03-02 | 임쌍근 | 광학식 치수/형상/표면조도 측정장치 |
-
2001
- 2001-12-28 KR KR10-2001-0087333A patent/KR100434445B1/ko active IP Right Grant
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101006423B1 (ko) * | 2005-01-20 | 2011-01-06 | 지고 코포레이션 | 객체 표면의 특성을 결정하기 위한 간섭계 |
WO2007046626A1 (en) * | 2005-10-19 | 2007-04-26 | Intekplus Co., Ltd. | Apparatus for and method of measuring image |
KR100740249B1 (ko) * | 2005-10-19 | 2007-07-18 | (주) 인텍플러스 | 영상 측정 장치 및 그 방법 |
JP2009511932A (ja) * | 2005-10-19 | 2009-03-19 | インテック プラス カンパニー リミテッド | 映像測定装置及びその方法 |
US8155483B2 (en) | 2005-10-19 | 2012-04-10 | Intekplus Co., Ltd. | Apparatus for and method of measuring image |
KR100726459B1 (ko) * | 2006-01-10 | 2007-06-11 | 삼성전자주식회사 | 3차원 형상측정장치 |
WO2008120882A1 (en) * | 2007-03-30 | 2008-10-09 | Intekplus Co., Ltd | Apparatus for inspection of three-dimensional shape and method for inspection using the same |
KR100916593B1 (ko) * | 2007-06-25 | 2009-09-11 | 주식회사 나노시스템 | 실시간 3차원 형상 측정 시스템 |
KR101239409B1 (ko) * | 2012-07-12 | 2013-03-05 | 주식회사 엠엠티 | 2d 형상 정보와 3d 형상 정보의 동시 획득이 가능하며 레이저와 백색광을 광원으로 한 위상천이기반 형상측정장치 및 형상측정방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100434445B1 (ko) | 2004-06-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5226480B2 (ja) | 3次元形状測定装置 | |
JP5871519B2 (ja) | 2光束アッセンブリ及びクロマティックポイントセンサ装置の動作方法 | |
JP4500736B2 (ja) | 形状測定装置 | |
KR20000070669A (ko) | 간섭계 시스템 및 이를 포함하는 전사장치 | |
CA2597891A1 (en) | Multi-beam optical probe and system for dimensional measurement | |
KR100434445B1 (ko) | 3차원 형상/표면조도 측정장치 | |
JP6071042B2 (ja) | 寸法測定装置 | |
CN115371587A (zh) | 表面形貌测量装置及方法、物体表面高度计算方法 | |
KR20090062027A (ko) | 3차원자세측정장치 및 이를 이용한 3차원자세측정방법 | |
JP2001157951A (ja) | 逐次2点法による形状精度測定装置および逐次2点法による形状精度測定用レーザ変位計間隔測定方法 | |
CN104964641A (zh) | 一种磁性微位移平台式级联阶梯角反射镜激光干涉仪及标定方法和测量方法 | |
JP2000258142A (ja) | 非接触表面形状測定方法 | |
CN112857263A (zh) | 一种斜照明式的彩色共聚焦测量系统及检测方法 | |
TWI645158B (zh) | 三維量測裝置 | |
JPS6176902A (ja) | 非接触形プロ−ブ | |
KR100580961B1 (ko) | 비접촉 표면형상 측정장치 및 방법 | |
JP2014002026A (ja) | レンズ形状測定装置およびレンズ形状測定方法 | |
KR20070015267A (ko) | 변위 측정 장치 | |
KR100332035B1 (ko) | 단일 파장 레이저 광의 다중패스를 이용한 거리 측정장치 및 방법 | |
CN213956278U (zh) | 一种斜照明式的彩色共聚焦测量系统 | |
JPH01235807A (ja) | 深さ測定装置 | |
CN112902838B (zh) | 一种零位传感器及检测系统 | |
CN213956279U (zh) | 一种简易的斜照明式彩色共聚焦测量系统 | |
JP4340138B2 (ja) | 非接触式3次元形状測定装置 | |
JP4057874B2 (ja) | 非接触位置検出センサ及びそれを用いた測定装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130515 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140515 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150518 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160513 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180516 Year of fee payment: 15 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190516 Year of fee payment: 16 |