JP2001273002A - 制御システム - Google Patents

制御システム

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JP2001273002A
JP2001273002A JP2000085188A JP2000085188A JP2001273002A JP 2001273002 A JP2001273002 A JP 2001273002A JP 2000085188 A JP2000085188 A JP 2000085188A JP 2000085188 A JP2000085188 A JP 2000085188A JP 2001273002 A JP2001273002 A JP 2001273002A
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control
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JP2000085188A
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English (en)
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Hirobumi Hirayama
博文 平山
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Azbil Corp
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Azbil Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 従来のPID制御では、例えば恒温室1の温
度を複数のヒータ5,・・・,5でPID制御しようと
した場合に、複数のヒータ5,・・・,5の加熱能力の
差などに起因して温度勾配が発生し、その温度勾配に起
因するオーバシュートやアンダーシュートを効果的に抑
制することができないなどの課題があった。 【解決手段】 1つのPID演算回路12を目標定常温
度に基づいて制御すると共に、他のPID演算回路17
は上記PID演算回路12に係る検出温度に基づいて制
御するものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は例えば半導体プロ
セスなどにおいてウェハの温度を制御するときなどにお
いて利用されるPID制御(Proportiona
l,Integral and Derivative
control)やIMC(Internal Mo
Del Control)制御などの制御システムに係
り、例えば、複数のヒータを用いて当該ウェハの温度を
その全体に渡って均一に制御する際などにおいて好適に
利用することができる制御システムに関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】図9は従来の基本的なPID制御システ
ムの構成を示すシステム構成図である。図において、2
4は図示外の恒温室内に設置されたウェハ、25はウェ
ハ24の近傍の温度を検出するサーモカップル、26は
このサーモカップル25の検出温度と共に目標定常温度
が入力され、検出温度が目標定常温度に収束するように
操作量を出力するPID演算手段、27はこの操作量に
基づいて制御を行う制御手段、28はウェハ24の近傍
に設置されるヒータ、29は電源、30はヒータ28お
よび電源29を制御手段27に接続する制御ループであ
る。
【0003】次に動作について説明する。PID演算手
段26は、目標定常温度が設定されると、サーモカップ
ル25の検出温度のこの目標定常温度に対する温度差に
基づいてPID制御に基づく操作量を出力し、制御手段
27はこの操作量に基づいてヒータ28への通電時間を
制御する。
【0004】従って、このような従来の基本的なPID
制御システムでは、サーモカップル25の配設位置およ
びその近傍の温度が目標定常温度に安定するように制御
することができる。
【0005】しかしながら、制御対象となる上記ウェハ
24の面積が大きくなったりすると、当該ウェハ24の
温度をその全体に渡って均一に制御することができない
などの問題があった。
【0006】そこで、特開平7−96168号公報に
は、温度制御に係る空間をゾーン毎に分割して捉え、そ
のゾーン毎に別々にPID制御を行う技術が開示されて
いる。また、当該公報では、このように1つの制御対象
に対して別々にPID制御を行った場合には、同一の目
標定常温度を用いて制御を行ったとしても実際にはそれ
ぞれのゾーンの環境やゾーン相互の位置関係の違いに起
因して目標定常温度に到達するタイミングがゾーン毎に
異なってしまうので、それぞれのゾーンにおけるPID
制御の開始タイミングおよび終了タイミングを制御する
技術も開示されている。
【0007】図10はこの特開平7−96168号公報
に開示された従来の他のPID制御システムの構成を示
すシステム構成図である。図において、31は所定のプ
ログラムに基づいて設定温度を出力するプロセスコント
ローラ、32はこの設定温度を最終温度とするランプ波
形を出力するランプ信号発生回路、33はこのランプ波
形が目標定常温度として入力されて操作量を演算して出
力するPIDコントローラ、34はこのPIDコントロ
ーラ33により温度制御される炉、35は複数の炉内温
度センサ、36は比較基準温度が設定されるメモリ、3
7は各炉内温度センサ35の検出温度が比較基準温度に
一致したタイミングを計測し、その時間差を出力する時
間差計測回路、38はこの時間差に基づいてランプ信号
発生回路32のランプ信号の発生タイミングを制御する
データを記憶する時間差テーブルメモリである。
【0008】次に動作について説明する。メモリ36に
比較基準温度が設定された状態でプロセスコントローラ
31から設定温度が出力されると、ランプ信号発生回路
32はこの設定温度を最終温度とするランプ波形を出力
し、PIDコントローラ33はこのランプ波形が目標定
常温度として入力されて操作量を演算して出力する。そ
の結果、炉34の温度は設定温度に向かって変化する。
この温度変化の途中において、各炉内温度センサ35の
検出温度が上記比較基準温度に一致すると、時間差計測
回路37はそれれぞれの一致タイミングを計測し、その
時間差を時間差テーブルメモリ38へ出力する。時間差
テーブルメモリ38はこの時間を相殺するテーブルデー
タを選択し、これをランプ信号発生回路32へ出力す
る。
【0009】次にプロセスコントローラ31から設定温
度が出力されると、ランプ信号発生回路32は時間差テ
ーブルメモリ38により設定された時間だけランプ波形
の出力開始タイミングを調整する。そして、そのランプ
波形に基づいて炉34の温度が設定温度まで制御され
る。従って、1つの炉34に対して複数のPID制御を
行ってその温度を制御することができ、しかも、確かに
目標定常温度に到達するタイミングを揃えることが理論
的には可能である。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】従来の他のPID制御
システムは以上のように構成されているので、確かに目
標定常温度に到達するタイミングを揃えることが理論上
では可能ではあるが、単に各PID制御の開始タイミン
グ(終了タイミング)を変更しているだけなので、同図
に示すように別途目標定常温度自体を最終的な目標定常
温度となるまで連続的に変化させるランプ発生回路を追
加しなければ、当該タイミングを揃えることは難しく、
しかも、例え各PID制御における係数がオーバシュー
トやアンダーシュートが発生しないように設定されてい
たとしても、当該目標定常温度の温度に到達した後にお
けるオーバシュートやアンダーシュートが発生してしま
うなどの課題があった。そして、そのようなオーバシュ
ートやアンダーシュートが発生した場合、目的とする定
常温度において検出温度を安定させることができなくな
ってしまう場合がある。
【0011】つまり、上記従来の他のPID制御システ
ムでは、全てのPID制御に対して同じ目標定常温度を
設定した時の昇温期間における任意の比較基準温度に到
達するタイミングの時間差をデータとして保持し、その
時間差を相殺するように上記タイミングを変更してい
る。そして、これは、各PID制御が同じ昇温カーブに
て目標定常温度まで変化することを前提とするものであ
る(そのために上記ランプ信号発生回路が用いられてい
る)。しかしながら、各PID制御におけるヒータの熱
変換効率のばらつき、各ゾーンの環境毎に違う放熱特性
ばらつきなどがあるため、実際にはこの各PID制御の
昇温カーブはそれぞれに相違するのが一般的であり(つ
まり、各PID制御の時定数は相違するのが一般的であ
り)、最終的な目標定常温度を各PID制御に直接入力
した場合には、上記比較基準温度への到達タイミングを
一致させるように制御したとしても、昇温期間における
温度変化の仕方が各ゾーン毎に異なり、ゾーン間におい
て温度勾配による熱の行き来が発生してしまうので、そ
れだけ各ゾーンが所望の設定温度となるタイミングは異
なることになり、設定温度到達後においてオーバシュー
トやアンダーシュートが発生してしまうことになる。
【0012】なお、以上の説明においてはPID制御シ
ステムを例に上述した課題を説明したが、他にもIMC
制御システムなどにおいても同様の課題が生じる。
【0013】この発明は上記のような課題を解決するた
めになされたものであり、制御対象を複数のゾーンに分
けてゾーン毎に制御をしつつも、ランプ信号発生回路な
どに頼ることなく本来の制御によって目標定常温度への
到達タイミングを揃え、しかも、目標定常温度に到達し
た後におけるオーバシュートやアンダーシュートの発生
を効果的に抑制することができ、例えばCCDセンサな
どの半導体素子を製造するプロセスにおいてウェハの温
度を好適に制御することができる制御システムを得るこ
とを目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】この発明に係る制御シス
テムは、制御対象の状態を検出した検出値が目標定常値
に収束するように制御を行う制御システムにおいて、上
記目標定常値および検出値が入力され、この検出値が上
記目標定常値に収束するように変化する操作量を生成
し、上記制御対象の制御を行う主演算手段と、上記主演
算手段へ上記検出値を出力する主検出手段と、当該主検
出手段の検出値および他の検出値が入力され、この他の
検出値が当該検出値に収束するように変化する操作量を
生成し、上記制御対象の制御を行う従演算手段と、上記
従演算手段へ上記他の検出値を出力する従検出手段とを
備えるものである。
【0015】この発明に係る制御システムは、目標定常
値および主検出手段の検出値が入力され、これらのうち
の一方を選択して従演算手段へ出力する第一セレクタを
設けたものである。
【0016】この発明に係る制御システムは、従演算手
段が、入力された目標定常値あるいは入力された主検出
手段の検出値に所定のオフセット値を加算し、これに基
づいて制御対象の状態を制御するものである。
【0017】この発明に係る制御システムは、主演算手
段および従演算手段に対して記憶している目標定常値を
出力する目標定常値メモリを設けたものである。
【0018】この発明に係る制御システムは、目標定常
値を出力する目標定常値メモリを主演算手段と従演算手
段とのトータルの数と同数設けるとともに、上記主演算
手段あるいは上記各従演算手段の入力元をこれら複数の
目標定常値メモリの間で切り替える第二セレクタを設け
たものである。
【0019】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の一形態を
説明する。 実施の形態1.図1はこの発明の実施の形態1によるP
ID制御システムを示すシステム構成図である。図にお
いて、1は恒温室、2はこの恒温室1内に設置されたC
CDセンサ用のウェハ、3はそれぞれウェハ2の近傍に
配設され、温度を検出するサーモカップル、4はこの複
数のサーモカップル3,・・・,3の検出温度を用いて
所定の制御を行うPID制御ユニット、5はそれぞれウ
ェハ2の近傍において各サーモカップル3と1対1対応
に設けられたヒータ、6はそれぞれ各ヒータ5毎に設け
られた電源、7はそれぞれヒータ5と電源6とをPID
制御ユニット4に直列に接続する制御ループ、8はそれ
ぞれ恒温室1に開設された通風口、9は通風口8の内側
に設置されたファンである。
【0020】PID制御ユニット4において、10は目
標定常温度が設定される目標定常温度メモリ(目標定常
温度メモリ)、11は1つのサーモカップル3(以下、
主サーモカップル3(主検出手段)とよぶ)の検出温度
からこの目標定常温度を減算して主偏差温度を出力する
主減算器(主PID演算手段)、12はこの主偏差温度
が0に収束するようにPID制御演算に基づく主操作量
を出力する主PID演算回路(主PID演算手段)、1
3はこの主操作量が入力され、その主操作量に応じて上
記主サーモカップル3に対応する制御ループ7(以下、
主制御ループ7とよぶ)の通電制御を行う主制御回路
(主演算手段)である。
【0021】また、14はそれぞれ残りの1つのサーモ
カップル3(以下、従サーモカップル3(従検出手段)
とよぶ)の検出温度から上記主サーモカップル3の検出
温度を減算して従偏差温度を出力する従減算器(従PI
D演算手段)、15はそれぞれこの従偏差温度が0に収
束するようにPID制御演算に基づく従操作量を出力す
る従PID演算回路(従PID演算手段)、16はそれ
ぞれこの従操作量が入力され、その従操作量に応じて上
記従サーモカップル3に対応する制御ループ7(以下、
従制御ループ7とよぶ)の通電制御を行う従制御回路
(従演算手段)である。
【0022】次に動作について説明する。全てのサーモ
カップル3,・・・,3の検出温度が例えば室温におい
て安定した状態において目標定常温度メモリ10に所望
の目標定常温度を設定すると、主減算器11は主サーモ
カップル3の検出温度からこの目標定常温度を減算して
主偏差温度を出力する。主PID演算回路12はこの主
偏差温度が0に収束するようにPID制御演算に基づく
主操作量を出力し、主制御回路13はその主操作量に応
じて主制御ループ7の通電制御を行う。なお、この主制
御回路13は例えば昇温時(主偏差温度がマイナス)に
は主操作量の値が大きければ大きいほど通電時間を長く
するような通電制御を行い、降温時(主偏差温度がプラ
ス)には主操作量の値が大きければ大きいほど通電時間
を短くするような通電制御を行えば良い。
【0023】このような主制御ループ7の制御により主
サーモカップル3の温度が上昇すると、各従減算器14
から出力される従偏差温度の値はマイナス側に大きくな
るように変化する。逆に、主サーモカップル3の温度が
降下すると、各従減算器14から出力される従偏差温度
の値はプラス側に大きくなるように変化する。そして、
各従PID演算回路15はこの従偏差温度が0に収束す
るようにPID制御演算に基づく従操作量を出力し、各
従制御回路16はそれぞれの従制御ループ7の通電制御
を行う。なお、この従制御回路16においても、従偏差
温度がマイナスである場合にはその値が大きければ大き
いほど通電時間を長くするような通電制御を行い、従偏
差温度がプラスである場合にはその値が大きければ大き
いほど通電時間を短くするような通電制御を行えば良
い。
【0024】従って、主サーモカップル3にて検出され
る主制御ループ7の検出温度が上昇すると、これに追従
して全ての従サーモカップル3,・・・,3の検出温度
も上昇し、逆に主サーモカップル3にて検出される主制
御ループ7の検出温度が降下すると、これに追従して全
ての従サーモカップル3,・・・,3の検出温度も降下
し、恒温室1内の温度は一定以下の温度差を維持した状
態で目標定常温度まで制御され、その全体が目標定常温
度に収束するように制御される。
【0025】その結果、主PID演算回路12に対応す
る目標定常温度メモリ10に目標定常温度を設定するだ
けで、恒温室1の全体を例えば同様の昇温カーブにて目
標定常温度まで上昇させることができ、しかも、事前に
何の設定処理などをすることなく温度の差が生じない状
態で目標定常温度に安定させることができるので、目標
定常温度に到達した後におけるオーバシュートやアンダ
ーシュートの発生を効果的に抑制することができる。そ
して、CCDセンサなどの半導体素子を製造するプロセ
スにおいてウェハ2の温度を好適に制御することができ
る。
【0026】次に、どのヒータ5の制御ループ7,・・
・,7を主制御ループとして選択するのか、その選択方
法について説明する。図2はこの発明の実施の形態1に
おいて、主制御ループの選択方法を説明するための説明
図である。図において、(a)は目標制御温度の波形、
(b)は全ての制御ループ7,・・・,7に対してその
目標制御温度を入力した場合の各サーモカップル3,・
・・,3の検出温度波形である。からは各サーモカ
ップル3の検出温度波形である。そして、このように各
制御ループ7の検出温度変化が同図(b)のような結果
となった場合には、最も温度変化が遅い、すなわち時定
数が大きいのサーモカップル3に対応する制御ループ
7を主制御ループとして選択する。同図(c)はこのよ
うな主制御ループの選択に基づいて上記温度制御を行っ
た場合の全てのサーモカップル3,・・・,3の検出温
度波形である。そして、全てのサーモカップル3,・・
・,3の検出温度を一定以下の温度差に抑えたまま、目
標定常温度に安定させることができる。なお、これらの
各波形図において横軸は経過時間、(a)の縦軸は目標
制御温度の値、(b),(c)の縦軸は検出温度であ
る。
【0027】実施の形態2.図3はこの発明の実施の形
態2によるPID制御システムを示すシステム構成図で
ある。図において、17はそれぞれ各従減算器14に対
する目標定常温度が設定される目標定常温度メモリ(目
標定常温度メモリ)、18はそれぞれ主サーモカップル
3の検出温度とこの目標定常温度メモリ17の目標定常
温度とのうちの一方を選択して各従減算器14の減算値
入力へ出力する基準値セレクタ(第一セレクタ)であ
る。これ以外の構成は実施の形態1と同様であり説明を
省略する。
【0028】次に動作について説明する。各基準値セレ
クタ18が主サーモカップル3の検出温度を選択する
と、各従減算器14は従サーモカップル3の検出温度か
らこの検出温度を減算し、それを従偏差温度として出力
する。また、各基準値セレクタ18が各目標定常温度メ
モリ17の目標定常温度を選択すると、各従減算器14
は従サーモカップル3の検出温度から目標定常温度を減
算し、それを従偏差温度として出力する。これ以外の動
作は実施の形態1と同様であり説明を省略する。
【0029】そして、このように各従制御ループ7を別
々の目標定常温度に基づいて動作をさせることもできる
ので、各従制御ループ7を主サーモカップル3の検出温
度に基づいて同じように制御することも、目標定常温度
メモリ17の目標定常温度に基づいて別々に制御するこ
とも可能となり、これらを組み合わせて利用することで
別途新たな制御回路などを設けることなく全体を均一な
温度で制御したり、一部のみの温度を独立に制御したり
することができる効果がある。
【0030】その結果、例えば以下に示す効果を得るこ
とができる。図4はこの発明の実施の形態2による温度
制御の一例を示す説明図である。図において、(a)は
目標制御温度の波形、(b)は全てのサーモカップル
3,・・・,3の検出温度波形である。からは各サ
ーモカップル3の検出温度波形である。そして、このよ
うに温度制御サイクルの途中において各基準値セレクタ
18の選択を主サーモカップル3の検出温度から目標定
常温度メモリ17の目標定常温度に切り替えることで、
各従サーモカップル3の配設されたゾーン毎の温度を任
意に変更させることができる効果がある。
【0031】図5はこの発明の実施の形態2による温度
制御の他の一例を示す説明図である。図において、
(a)は目標制御温度の波形、(b),(c)は全ての
サーモカップル3,・・・,3の検出温度波形である。
からは各サーモカップル3の検出温度波形である。
同図(b)に示すように常に主サーモカップル3の検出
温度を基準として各従制御ループ7を制御させた場合に
は、この主サーモカップル3の検出温度が目標定常温度
到達後に振動しつづけてしまった場合には、それに遅れ
た状態で各従サーモカップル3の検出温度も振動してし
まうことになり、場合によっては発振してしまうことも
有りえる。そして、同図(c)に示すように各サーモカ
ップル3の検出温度が目標定常温度に到達した後におい
ては基準値セレクタ18の選択を主サーモカップル3の
検出温度から目標定常温度メモリ17の目標定常温度に
切り替えることで、各従サーモカップルの配設されたゾ
ーン毎の温度を目標定常温度に安定させることができ、
応答遅れなどによる発振を防止することができる効果が
ある。
【0032】また、逆に、当初は各従制御ループ7をそ
れぞれの目標定常温度に基づいて動作させて当該目標定
常温度に早期に到達させると共に、目標定常温度の近傍
の温度になったら各従制御ループ7を主サーモカップル
3の検出温度基準に切り替えることで、当該目標定常温
度に早期に安定させることができる効果がある。
【0033】実施の形態3.図6はこの発明の実施の形
態3によるPID制御システムを示すシステム構成図で
ある。図において、19はそれぞれオフセット値が設定
されるオフセット温度メモリ、20はそれぞれ基準値セ
レクタ18の出力値にこのオフセット値を加算する加算
器、21はそれぞれこの加算器20の加算値と基準値セ
レクタ18の出力値とのうちの一方を選択して従減算器
14へ減算値として出力するオフセットセレクタであ
る。これ以外の構成は実施の形態2と同様であり説明を
省略する。
【0034】次に動作について説明する。加算器20は
基準値セレクタ18の出力値にオフセット温度メモリ1
9に設定されたオフセット値を加算する。オフセットセ
レクタ21はこの加算器20の加算値と基準値セレクタ
18の出力値とのうちの一方を選択して従減算器14へ
減算値として出力し、従減算器14は、従サーモカップ
ル3の検出温度からこの減算値を減算した従偏差温度を
出力する。従って、従減算器14には、主サーモカップ
ル3の検出温度、主サーモカップル3の検出温度に所定
のオフセット値を加算した温度、目標定常温度、目標定
常温度に所定のオフセット値を加算した温度のうちのい
ずれか1つを選択して入力することができる。これ以外
の動作は実施の形態2と同様であり説明を省略する。
【0035】そして、このように各従制御ループ7をオ
フセット値を考慮した状態で動作をさせることもできる
ので、各従制御ループ7を主サーモカップル3の検出温
度に基づいて同じように制御することも、オフセット温
度メモリ19のオフセット値に基づいて一定の温度差を
維持した状態で制御することも、ひいては従制御系の応
答遅れなどをこのオフセット値として設定することで実
際に発生する遅れを相殺して従制御系の発振を効果的に
抑制することも可能となる。
【0036】図7はこの発明の実施の形態3による温度
制御の一例を示す説明図である。図において、(a)は
目標制御温度の波形、(b)は全てのサーモカップル
3,・・・,3の検出温度波形である。からは各サ
ーモカップル3の検出温度波形である。そして、同図に
示すように温度制御サイクルの途中においてオフセット
セレクタ21の選択を基準値セレクタ18の出力値から
加算器20の加算値へ切り替えることで、一定の温度差
を維持した状態で制御することができる。
【0037】実施の形態4.図8はこの発明の実施の形
態4によるPID制御ユニット4の構成を示すブロック
図である。図において、22はそれぞれサーモカップル
3などからの検出温度が入力される入力端子、23は全
ての目標定常温度メモリ10,17,・・・,17およ
び全ての入力端子22,・・・,22に接続され、プロ
グラムなどによる設定に応じて各減算器11の減算入力
元および各加算器20の入力元をこれらの間で任意に切
り替える基準値セレクタ(第二セレクタ)である。これ
以外の構成は実施の形態3と同様であり説明を省略す
る。
【0038】次に動作について説明する。基準値セレク
タ23は、制御プログラムなどによる設定に応じて全て
の目標定常温度メモリ10,17,・・・,17および
全ての入力端子22,・・・,22のうちから1つずつ
を選択し、各減算器10(14)などへその減算値とし
て出力する。そして、各加算器20はそれぞに対応する
オフセット温度メモリ19の値をこの出力に加算し、各
減算器11(14)はそれぞれに対応する入力端子22
から入力されたサーモカップル3の検出温度などからこ
の減算値を減算してそれぞれのPID制御回路へ出力す
る。これ以外の動作は実施の形態3と同様であり説明を
省略する。
【0039】そして、このように減算器14に入力され
る減算値を、これら複数の目標定常温度メモリ10,1
7,・・・,17および複数の入力端子22,・・・,
22の中から適宜選択し、これに基づいて各PID演算
回路12を動作させることができるので、それぞれのP
ID演算回路12,15を相互に関連付けて制御した
り、それぞれ別個に制御することができ、これらを適宜
組み合わせて動作させることで別途新たな構成を追加す
ることなく非常に利便性に富んだシステムとすることが
できる効果がある。例えば、従PID制御回路15の目
標定常温度として、その従PID制御回路15に対応付
けられた目標定常温度メモリ17の設定温度、もしくは
任意に指定可能な他のPID制御回路の検出値を選択し
て利用することが可能である。
【0040】その結果、例えば、目標定常温度メモリ1
0に目標定常温度を設定した後、当初は主制御ループ7
をこれに基づいて制御するとともに、他の従制御ループ
7はこの主制御ループ7に対応する主サーモカップル3
の検出温度に基づいて制御し、安定状態になったら、全
ての制御ループ7,・・・,7を上記目標定常温度メモ
リ10の目標定常温度に基づいて制御させるようにする
ことで、実施の形態2と同様に外乱や応答遅れなどによ
るチャンネル間干渉による発振を効果的に防止すること
ができるとともに、上位で動作する制御プログラムにお
いては複数の目標定常温度メモリを意識することなくこ
れらの処理をすることが可能となる。その結果、実施の
形態2よりも制御プログラムを簡便で判り易いものとす
ることができる効果がある。なお、以上の説明において
はPID演算回路12,15を備えるPID制御システ
ムを例にとって本願発明の実施の形態を説明したが、例
えばこのPID演算回路12,15をIMC制御回路に
置きかえるだけでIMC制御システムとすることができ
る。そして、このIMC制御システムであっても、検出
温度を目標定常温度に収束するように制御を行うことが
できることはいうまでもない。また、以上の説明ではC
CDセンサなどの半導体素子を製造するプロセスにおい
てウェハの温度を好適に制御する場合を例に説明した
が、本願発明は制御対象の状態を検出した検出値が目標
定常値に収束するように制御を行うものであればいずれ
にも適用可能であることもいうまでもない。
【0041】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、制御
対象の状態を検出した検出値が目標定常値に収束するよ
うに制御を行う制御システムにおいて、上記目標定常値
および検出値が入力され、この検出値が上記目標定常値
に収束するように変化する操作量を生成し、上記制御対
象を制御する主演算手段と、上記主演算手段へ上記検出
値を出力する主検出手段と、当該主検出手段の検出値お
よび他の検出値が入力され、この他の検出値が当該検出
値に収束するように変化する操作量を生成し、上記制御
対象を制御する従演算手段と、上記従演算手段へ上記他
の検出値を出力する従検出手段とを備えるので、主演算
手段および各従演算手段はそれぞれの受け持ちゾーンに
おける放熱特性ばらつきなどがあったとしても非常に小
さい一定以下の温度差にて温度を制御することができ
る。
【0042】従って、主演算手段に目標定常温度を設定
するだけで、各ゾーンの温度を例えば同様の昇温カーブ
にて目標定常温度まで上昇させることができ、しかも、
何の設定処理などをすることなくゾーン毎の温度の差が
生じない状態で目標定常温度に安定させることができる
ので、目標定常温度に到達した後におけるオーバシュー
トやアンダーシュートの発生を効果的に抑制することが
できる。その結果、例えば、CCDセンサなどの半導体
素子を製造するプロセスにおいてウェハの温度を好適に
制御することができる効果がある。
【0043】この発明によれば、目標定常値および主検
出手段の検出値が入力され、これらのうちの一方を選択
して従演算手段へ出力する第一セレクタを設けたので、
各ゾーンを同じように制御することも、別々に制御する
ことも可能となり、これらを組み合わせて利用すること
で別途新たな制御手段などを設けることなく全体を均一
な温度で制御したり、一部のみの温度を独立に制御した
りすることができる効果がある。
【0044】この発明によれば、従演算手段が、入力さ
れた目標定常値あるいは入力された主検出手段の検出値
に所定のオフセット値を加算し、これに基づいて制御対
象の状態を制御するので、ゾーン毎の温度差をこのオフ
セット値として設定することで一定の温度差を維持した
状態で全てのゾーンを制御したり、従制御系の応答遅れ
などをこのオフセット値として設定することで実際に発
生する遅れを相殺して従制御系の発振を効果的に抑制す
ることができる効果がある。
【0045】なお、このような発明において、主演算手
段および従演算手段に対して記憶している目標定常値を
出力する目標定常値メモリを設けても、あるいは、目標
定常値を出力する目標定常値メモリを主演算手段と従演
算手段とのトータルの数と同数設けるとともに、主演算
手段あるいは各従演算手段の入力元をこれら複数の目標
定常温度メモリの間で切り替える第二セレクタを設けて
もよい。前者の場合には、各ゾーンを単一の目標定常値
メモリにて制御することができ、後者の場合には前者と
同様な動作に加えて各従演算手段を主演算手段とは別個
に制御することもでき、非常に利便性に富んだシステム
とすることができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の実施の形態1によるPID制御シ
ステムを示すシステム構成図である。
【図2】 この発明の実施の形態1において、主制御ル
ープの選択方法を説明するための説明図である。
【図3】 この発明の実施の形態2によるPID制御シ
ステムを示すシステム構成図である。
【図4】 この発明の実施の形態2による温度制御の一
例を示す説明図である。
【図5】 この発明の実施の形態2による温度制御の他
の一例を示す説明図である。
【図6】 この発明の実施の形態3によるPID制御シ
ステムを示すシステム構成図である。
【図7】 この発明の実施の形態3による温度制御の一
例を示す説明図である。
【図8】 この発明の実施の形態4によるPID制御ユ
ニットの構成を示すブロック図である。
【図9】 従来の基本的なPID制御システムの構成を
示すシステム構成図である。
【図10】 従来の他のPID制御システムの構成を示
すシステム構成図である。
【符号の説明】
1 恒温室 2 ウェハ 3 サーモカップル(主検出手段、従検出手段) 4 PID制御ユニット 5 ヒータ 6 電源 7 制御ループ 8 通風口 9 ファン 10 目標定常温度メモリ(目標定常値メモリ) 11 主減算器(主演算手段) 12 主PID演算回路(主演算手段) 13 主制御回路(主演算手段) 14 従減算器(従演算手段) 15 従PID演算回路(従演算手段) 16 従制御回路(従演算手段) 17 目標定常温度メモリ(目標定常値メモリ) 18 基準値セレクタ(第一セレクタ) 19 オフセット温度メモリ 20 加算器 21 オフセットセレクタ 22 入力端子 23 基準値セレクタ(第二セレクタ)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5H004 GA03 GA35 GB15 HA01 HB01 JA04 JA13 JA22 JB08 KA71 KB02 KB04 KB06 LA15 LA18 5H323 AA27 AA40 BB05 CA06 CB02 CB42 DA01 EE05 EE06 FF01 FF10 GG02 KK05 LL01 LL02 LL07 MM06

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 制御対象の状態を検出した検出値が目標
    定常値に収束するように制御を行う制御システムにおい
    て、 上記目標定常値および検出値が入力され、この検出値が
    上記目標定常値に収束するように変化する操作量を生成
    し、上記制御対象の制御を行う主演算手段と、上記主演
    算手段へ上記検出値を出力する主検出手段と、 当該主検出手段の検出値および他の検出値が入力され、
    この他の検出値が当該検出値に収束するように変化する
    操作量を生成し、上記制御対象の制御を行う従演算手段
    と、 上記従演算手段へ上記他の検出値を出力する従検出手段
    とを備える制御システム。
  2. 【請求項2】 目標定常値および主検出手段の検出値が
    入力され、これらのうちの一方を選択して従演算手段へ
    出力する第一セレクタを設けたことを特徴とする請求項
    1記載の制御システム。
  3. 【請求項3】 従演算手段は、入力された目標定常値あ
    るいは入力された主検出手段の検出値に所定のオフセッ
    ト値を加算し、これに基づいて制御対象の状態を制御す
    ることを特徴とする請求項1または請求項2記載の制御
    システム。
  4. 【請求項4】 主演算手段および従演算手段に対して記
    憶している目標定常値を出力する目標定常値メモリを設
    けたことを特徴とする請求項1から請求項3のうちのい
    ずれか1項記載の制御システム。
  5. 【請求項5】 目標定常値を出力する目標定常値メモリ
    を主演算手段と従演算手段とのトータルの数と同数設け
    るとともに、上記主演算手段あるいは上記各従演算手段
    の入力元をこれら複数の目標定常値メモリの間で切り替
    える第二セレクタを設けたことを特徴とする請求項1か
    ら請求項3のうちのいずれか1項記載の制御システム。
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