JP2001272353A - 粉粒体検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 調整等の人手かかる作業を極力不要としなが
ら、実際に検査される粉粒体群に適合させて不良判別用
の適正光量範囲を自動的に設定する。 【解決手段】 検査対象物としての粉粒体群が一層状態
で通過する検出箇所が照明され、その検出箇所からの光
を受光する受光手段の受光量が設定時間間隔でサンプリ
ングされて設定個数の受光量データが得られ、その設定
個数の受光量データについて暗側から明側に亘る間を複
数段階に区分けした各光量値に対する度数分布ｈｇが求
められて、その度数分布ｈｇに基づいて適正光量範囲の
上限値Ｔ１及び下限値Ｔ２が設定される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、検査対象物として
の粉粒体群を、検出箇所を一層状態で通過させるように
順次搬送する粉粒体群搬送手段と、前記検出箇所を照明
する照明手段と、前記検出箇所からの光を受光する受光
手段と、前記受光手段の受光方向であって前記検出箇所
の背部側箇所に配置されて、前記粉粒体群における正常
物からの検出光と同一又は略同一の明るさの光を前記受
光手段に向けて投射する投射部材と、前記受光手段の受
光量を設定時間間隔でサンプリングして、そのサンプリ
ングした受光量の光量値が前記粉粒体群における正常物
からの検出光に対する適正光量範囲を外れているか否か
の判別を行う判別手段とが設けられている粉粒体検査装
置に関する。

【０００２】

【従来の技術】上記粉粒体検査装置では、例えば平面式
のシュータ等の粉粒体群搬送手段によって、検査対象の
粉粒体群を横幅方向に広げた状態でその横幅方向に沿っ
て幅広に形成された検出箇所を一層状態で通過させるよ
うに順次搬送しながら、蛍光灯等の照明手段にて照明さ
れた上記検出箇所からの光、即ち、照明光が粉粒体群で
反射された反射光や粉粒体群を透過した透過光、及び、
検出箇所の背部側箇所に設けた反射板や透過板等の投射
部材から投射される粉粒体群における正常物からの検出
光と同一又は略同一の明るさの光を、上記検出箇所の幅
方向に沿って複数個の受光部を並置させたＣＣＤライン
センサ等の受光手段にて受光し、その複数個の受光部の
各受光量の光量値が粉粒体群における正常物からの検出
光に対する適正光量範囲を外れている否かを判別するよ
うにしている。尚、この判別によって、適正光量範囲を
外れているとして存在が検出された不良物は、上記検出
箇所よりも下手側に搬送されて、例えば板ばねにて弾き
飛ばされたり、噴出ノズルからエアーを吹き付けられる
等して、正常物と分離される。

【０００３】そして、従来では、例えば特許第２９２３
４５５号公報に示されるように、前記適正光量範囲（こ
の公報では、閾値という）を設定する場合に、粉粒体群
を検出箇所に搬送しない状態で投射部材（裏面側を蛍光
灯で照明された透過板）及び上記検出箇所の横側部に設
けた基準部材を撮像したＣＣＤラインセンサの受光情報
に基づいて前記適正光量範囲を設定するようにしてい
た。具体的には、ＣＣＤラインセンサの各受光部につい
て上記透過板からの受光量によりシェーディング係数を
求めるとともに、その複数個の受光部の受光量のうちの
最大値と、上記基準部材からの受光量との比較割合を予
め求めておき、実際に上記閾値を設定する場合には、そ
のときの上記基準部材からの受光量と上記比較割合とか
ら上記最大値に対する補正値を求めて、その補正値に所
定の閾値率を掛け、さらに各受光部のシェーディング係
数を掛けることにより、各受光部毎に閾値を設定するよ
うにしている。

【０００４】要するに、従来の粉粒体検査装置では、図
１７に例示するように、明るさの異なる検査対象物を検
査する場合には、新たな検査対象物に合わせて前記適正
光量範囲を適切に設定できるようにするために、上記閾
値率を変更し、さらに、この同じ閾値率を用いて同一の
検査対象物を検査する時点での照明手段の照明光量や受
光手段の受光感度の変動等の影響を除くために、例えば
毎朝の作業開始時及び作業途中時点で前記投射部材から
の受光量と基準部材からの受光量との比較割合を用いて
較正（キャリブレーション）するようにしているのであ
る。尚、図１７に示す検査対象物は、粉粒体群のほとん
どが正常物である樹脂ペレットの例を示すので、光量値
データの大部分は、投射部材からの光量値ｔｂを含んで
暗側から明側に向けて連続する光量値範囲の暗側の下端
値ＬＬと明側の上端値ＵＬとの間に分布し、（イ）の検
査対象物からの光量値の範囲と（ロ）の検査対象物から
の光量値の範囲が明暗方向にずれている状態を示す。

【０００５】因みに、粉粒体検査装置としては、検査対
象の粉粒体群を横幅方向に広げた状態で検出箇所に搬送
する形式の他、検査対象の粉粒体群を一列状態で検出箇
所に搬送する形式のものもある。そして、この形式の粉
粒体検査装置においては、一般に、粉粒体群が一列状態
で搬送される１つの検出箇所について、１つの受光部を
配置させるものであるため、シェーディング係数が不要
になるが、このシェーディング係数が不要になる点を除
いて、上記と同様な手順により閾値を設定することがで
きる。即ち、投射部材からの受光量と基準部材からの受
光量との比較割合を予め求めておき、この比較割合と実
際の基準部材からの受光量とに基づいて投射部材からの
受光量に対する補正値を求め、さらに、この補正値に所
定の閾値率を掛けて閾値を設定する。

【０００６】尚、検査対象物が玄米や精米等の米粒であ
る場合には、正常な米粒が正常物であって、表面の一部
や表面の全周が正常な米粒とは異なる明度となる不良の
米粒や石・ガラス等が不良物として判別される。又、検
査対象物が成形加工用の樹脂ペレットの場合には、表面
の全周がその検査対象物の樹脂の本来の色であるものが
正常物であり、ペレット表面に処理過程で生じた黒色系
の焼けや汚染によるコンタミ等が存在する樹脂ペレット
等が不良物として判別される。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の粉粒体検査装置では、検査対象物が異なる毎に新た
な検査対象物に合わせて閾値率を変更する必要があるの
で、その閾値率の決定に多大な手間を要する。つまり、
具体的には、新たな検査対象物について一応適正と判断
される閾値率を決めて適正光量範囲を設定するととも
に、その適正光量範囲を用いて実際に検査対象物を検出
箇所に搬送して選別検査を行ない、次に、その選別結果
を確認して上記適正光量範囲をより適切な値に調整する
ために閾値率を修正して、再度選別検査を行なうという
作業を、適切な適正光量範囲に調整されるまで、繰り返
すことになる。その結果、新たな検査対象物毎に、適正
光量範囲を設定するための面倒な調整作業が必要にな
り、さらに、調整作業のミス等が生じて適切な適正光量
範囲に設定されないおそれもあった。

【０００８】又、上記従来の粉粒体検査装置では、前述
のように、照明光量や受光感度の変動等の影響を除くた
めの較正を行なうにしても、その較正は、粉粒体群にお
ける正常物の代用物である投射部材と基準部材との受光
量の比較割合に基づくものであって、実際の検査対象物
からの受光量に基づくものではないので、較正後の適正
光量範囲が実際の検査対象物に対して必ずしも適合して
いない場合があり、その場合には、適切な選別処理が行
なわれないおそれがあった。

【０００９】本発明は、上記実情に鑑みてなされたもの
であって、その目的は、上記従来技術の不具合を解消さ
せるべく、面倒な調整作業を不要としながら、実際に検
査される粉粒体群に適合させて前記適正光量範囲を自動
的に設定することができる粉粒体検査装置を提供するこ
とにある。

【００１０】

【課題を解決するための手段】請求項１では、前記判別
手段が、前記サンプリングにより得られた設定個数の受
光量データについて、暗側から明側に亘る間を複数段階
に区分けした各光量値に対する度数分布を求めて、その
度数分布に基づいて前記適正光量範囲を設定するように
構成されている。つまり、検査対象物としての粉粒体群
が一層状態で検出箇所を通過するように順次搬送され、
その検出箇所が照明手段にて照明されるとともに、その
検出箇所からの光を受光する受光手段の受光方向であっ
て上記検出箇所の背部側箇所に配置された投射部材から
上記受光手段に向けて、粉粒体群における正常物からの
検出光と同一又は略同一の光が投射される。そして、上
記受光手段の受光量が設定時間間隔でサンプリングされ
て設定個数の受光量データが得られ、その設定個数の受
光量データについて暗側から明側に亘る間を複数段階に
区分けした各光量値に対する度数分布が求められ、その
度数分布に基づいて前記適正光量範囲が設定される。説
明を加えると、例えば検査対象物を樹脂ペレットとする
場合には、検査対象の粉粒体群の大部分が正常物であ
り、上記度数分布において正常物が分布する位置と不良
物が分布する位置とに差が生じるので、その正常物と不
良物との分布位置の差を利用して適正光量範囲を設定す
ることにより、正常物は適正光量範囲内に分布し、不良
物は適正光量範囲の外に分布するようにして、正常物と
不良物とを適切に選別することが可能となる。

【００１１】従って、実際の検査対象物である粉粒体群
を所定量試験的に検出箇所に通過させて、そのときの受
光手段の受光量をサンプリングして得られた受光量デー
タから求めた度数分布に基づいて適正光量範囲が設定さ
れるので、例えば、明るさの異なる検査対象物を検査す
る場合に、各検査対象物毎に適正光量範囲を設定するた
めの前記閾値率等のパラメータの調整を行なう必要がな
く、しかも、実際の検査対象物からの受光量に基づいて
適正光量範囲が設定され、さらに、上記度数分布によっ
て判断される粉粒体群の明るさの分布状態に応じて適切
な適正光量範囲を設定できる（例えば、粉粒体群の明る
さのバラツキが大きくて検出光量の分布範囲が広い場合
には適正光量範囲を広くし、逆に、粉粒体群の明るさの
バラツキが小さくて狭い範囲に集中している場合には適
正光量範囲を狭く設定する等）ことになり、もって、面
倒な調整作業を不要としながら、実際に検査される粉粒
体群の状態に適合させて前記適正光量範囲を自動的に設
定することができる粉粒体検査装置が得られる。

【００１２】請求項２では、請求項１において、前記粉
粒体群搬送手段が、前記粉粒体群を横幅方向に広げた状
態でその横幅方向に沿って幅広に形成された前記検出箇
所を通過して搬送させるように構成され、前記受光手段
が、前記検出箇所からの光を受光する複数個の受光部を
前記検出箇所の幅方向に沿って並置させるように構成さ
れ、前記判別手段が、前記サンプリングした受光量の光
量値が前記適正光量範囲を外れているか否かの判別及び
前記度数分布に基づく前記適正光量範囲の設定を前記各
受光部毎に実行するように構成されている。つまり、粉
粒体群が横幅方向に広がった状態でその横幅方向に沿っ
て幅広に形成された前記検出箇所を通過するともに、そ
の幅広の検出箇所からの光が、複数個の受光部を前記検
出箇所の幅方向に沿って並置させた受光手段にて受光さ
れ、その受光手段の各受光部毎に、設定時間間隔でサン
プリングした設定個数の受光量データについて前記度数
分布が求められ、その度数分布に基づいて適正光量範囲
が設定され、各受光部の受光量の光量値が各受光部毎に
設定された適正光量範囲を外れているか否かの判別が実
行される。

【００１３】従って、粉粒体群を横幅方向に広げた状態
で幅広の検出箇所を通過させるように順次搬送して、多
量の粉粒体群を並列的に効率良く検査することができる
とともに、その幅広の検出箇所からの光を受光する複数
個の受光部が受光した受光量データの度数分布に基づい
て各受光部毎に適正光量範囲を設定するので、例えば上
記幅広の検出箇所の幅方向において照明手段の照明光量
が不均一であるような場合でも、その不均一を補正する
ための処理（いわゆるシェーディング補正等）を行わな
くても各受光部について適正光量範囲を適切に設定する
ことが可能となり、もって、請求項１の好適な手段が得
られる。

【００１４】請求項３では、請求項１又は２において、
前記判別手段が、前記度数分布において暗側から明側に
亘って各光量値に対する度数値が連続して存在する連続
領域の上端部もしくはその近傍位置に対応させて上側光
量値を設定するとともに、その上側光量値から明側に設
定光量離れた位置に前記適正光量範囲の上限値を設定
し、且つ、前記連続領域の下端部もしくはその近傍位置
に対応させて下側光量値を設定するとともに、その下側
光量値から暗側に設定光量離れた位置に前記適正光量範
囲の下限値を設定するように構成されている。つまり、
度数分布において暗側から明側に亘って各光量値に対す
る度数値が連続して存在する連続領域の上端部もしくは
その近傍位置に対応させて設定される上側光量値から明
側に設定光量離れた位置に、前記適正光量範囲の上限値
が設定され、前記連続領域の下端部もしくはその近傍位
置に対応させて設定される下側光量値から暗側に設定光
量離れた位置に、前記適正光量範囲の下限値が設定され
る。

【００１５】従って、例えば検査対象の粉粒体群におい
て大部分が正常物であって不良物の存在率が低いような
場合には、上記受光量データの度数分布において、粉粒
体群からの検出光量の大部分が、正常物からの光量値の
付近に暗側から明側に亘って各光量値に対する度数値が
連続して存在する連続領域内に含まれ、不良物からの検
出光量がその連続領域の端部位置から外側に離れた位置
に分布することになるので、上記連続領域の上端部もし
くはその近傍位置に対応させて設定される上側光量値か
ら明側に設定光量離れた位置に適正光量範囲の上限値を
設定し、前記連続領域の下端部もしくはその近傍位置に
対応させて設定される下側光量値から暗側に設定光量離
れた位置に適正光量範囲の下限値を設定するという簡単
な設定処理によって、上記のような不良物の存在率が低
い粉粒体群について、適正光量範囲を極力簡素な処理構
成によって且つ適切に設定することができ、もって、請
求項１又は２の好適な手段が得られる。

【００１６】請求項４では、請求項３において、前記判
別手段が、前記サンプリングによって設定時間ごとに得
られる設定個数の受光量データの中に、前記上側光量値
よりも明るい光量値が含まれているときは、前記上側光
量値を明側に設定量移動させる一方、前記設定個数の受
光量データの中に前記上側光量値よりも明るい光量値が
含まれていないときは、前記上側光量値を暗側に設定量
移動させ、且つ、前記設定個数の受光量データの中に前
記下側光量値よりも暗い光量値が含まれているときは、
前記下側光量値を暗側に設定量移動させる一方、前記設
定個数の受光量データの中に前記下側光量値よりも暗い
光量値が含まれていないときは、前記下側光量値を明側
に設定量移動させる補正処理を設定時間ごとに実行する
ように構成されている。つまり、粉粒体群を検出箇所に
順次通過させながら受光手段の光量値をサンプリングし
て、その光量値が上記のように設定された適正光量範囲
を外れているか否かの判別を行うとともに、サンプリン
グによって設定時間ごとに得られる設定個数の受光量デ
ータの中に、前記上側光量値よりも明るい光量値が含ま
れているときは、前記上側光量値が明側に設定量移動さ
れる一方、前記設定個数の受光量データの中に前記上側
光量値よりも明るい光量値が含まれていないときは、前
記上側光量値が暗側に設定量移動され、且つ、前記設定
個数の受光量データの中に前記下側光量値よりも暗い光
量値が含まれているときは、前記下側光量値が暗側に設
定量移動される一方、前記設定個数の受光量データの中
に前記下側光量値よりも暗い光量値が含まれていないと
きは、前記下側光量値が明側に設定量移動される補正処
理が設定時間ごとに実行される。

【００１７】従って、前記連続領域の上端部もしくはそ
の近傍位置に設定される前記上側光量値よりも明るい光
量値が得られたときは、上記補正処理によって上側光量
値が明側に移動して適正光量範囲の上限値が明側に移動
するので、粉粒体群の光量値の分布において明側の光量
値が多くなったような場合において、適正光量範囲の上
限値を明側に移動させることにより、かかる明側の光量
値の粉粒体の増加に対応して適正光量範囲の上限値を適
切に修正することができ、一方、前記上側光量値よりも
明るい光量値が存在しないときは、上側光量値は前記連
続領域の上端部に固定され、適正光量範囲の上限値がそ
の連続領域の上端部から明側に設定光量離れた位置に維
持されるので、上記連続領域の上端部に近い明側の光量
値の粉粒体を不良物と誤って判別することを回避させる
ようにすることができる。又、適正光量範囲の下限値に
ついては、上記適正光量範囲の上限値とは逆に、下側光
量値よりも暗い光量値の粉粒体の増加に対応して適正光
量範囲の下限値を適切に修正することができる一方、前
記下側光量値よりも暗い光量値が存在しないときは、適
正光量範囲の下限値を連続領域の下端部から暗側に設定
光量離れた位置に維持させて、上記連続領域の下端部に
近い暗側の光量値の粉粒体を不良物と誤って判別するこ
とを回避させるようにすることができ、もって、請求項
３の好適な手段が得られる。

【００１８】請求項５では、請求項４において、前記判
別手段が、前記連続領域の上端部に対応する上端光量値
と前記連続領域の下端部に対応する下端光量値との光量
値の差が設定値よりも大きい場合には、前記補正処理を
実行し、前記上端光量値と前記下端光量値との光量値の
差が設定値よりも小さい場合には、前記補正処理を停止
するように構成されている。つまり、前記連続領域の上
端部に対応する上端光量値と前記連続領域の下端部に対
応する下端光量値との光量値の差が設定値よりも大きい
場合には、前記上側光量値及び下側光量値を移動させる
補正処理を実行し、前記上端光量値と前記下端光量値と
の光量値の差が設定値よりも小さい場合には、前記上側
光量値及び下側光量値を移動させる補正処理を停止す
る。

【００１９】従って、上記設定値として、前記投射部材
からの投射光についての度数分布における連続領域の上
端光量値と下端光量値との光量値の差よりも大きく、検
査対象の粉粒体群についての度数分布における連続領域
の上端光量値と下端光量値との光量値の差よりも小さい
値に設定することにより、検査対象の粉粒体群が検出箇
所を通過しているときは前記補正処理を実行して、前記
適正光量範囲を適切な範囲に逐次修正させる一方、粉粒
体群が検出箇所を通過しなくなったときは前記補正処理
を停止するので、粉粒体群が検出箇所を通過しなくなっ
たときに前記補正処理を継続した場合に、前記適正光量
範囲が投射部材からの極端に狭い光量値の範囲に修正さ
れて、次に粉粒体群が検出箇所を通過して前記判別を行
うときに正常物を不良物と誤って判別する不具合が生じ
るのを適切に回避させるようにすることができ、もっ
て、請求項４の好適な手段が得られる。

【００２０】

【発明の実施の形態】〔第１実施形態〕以下、本発明に
係る粉粒体検査装置の第１実施形態を、樹脂ペレットを
検査対象の粉粒体として、そのペレットの群（以下、ペ
レット群という）を搬送させながら、不良物の検出及び
分離処理を行う場合について図面に基づいて説明する。

【００２１】図１〜図３（尚、図３は、不良物検出及び
分離処理の動作説明図である。）に示すように、広幅の
板状のシュータ１が、水平面に対して所定角度（例えば
６０度）に傾斜されて設置され、このシュータ１の上部
側に設けた貯留タンク７から振動フィーダ９によって搬
送・供給されたペレット群ｋが、シュータ１の上面を一
層状態で横方向に広がった状態で流下案内されている。
尚、上記シュータ１は、幅方向全幅に亘って平坦な案内
面に形成された平面シュータであり、又、一層状態で流
下させることを目的としているので、流れ状態により部
分的に粒が重なって２層状態等になっても、一層状態の
概念に含まれる。

【００２２】貯留タンク７には、外部から供給されるペ
レットが貯留され、又、外部からの検査対象物を１次選
別処理して得られた不良物等が再選別のために貯留され
る。貯留タンク７は下端側ほど先細筒状に形成され、タ
ンク７から振動フィーダ９上に落下したペレット群ｋの
シュータ１への供給量は、振動フィーダ９の振動振幅を
変化させてペレット群ｋの搬送速度を変えることにより
調節される。

【００２３】ペレット群ｋがシュータ１の下端部から移
動落下する移動落下経路ＩＫ中に、ペレット群ｋの存在
が予定されている検出箇所Ｊが設定されている。つま
り、ペレット群ｋを、上記検出箇所Ｊを一層状態で通過
させるように順次搬送する粉粒体搬送手段Ｈが上記シュ
ータ１を利用して構成されるとともに、その粉粒体搬送
手段Ｈが、ペレット群ｋを横幅方向に広げた状態でその
横幅方向に沿って幅広に形成された上記検出箇所Ｊを通
過して搬送させるように構成されている。

【００２４】移動落下経路ＩＫの前面側（図２において
左側）を照明する前面側ライン状光源４Ｂと、移動落下
経路ＩＫの後面側（図２において右側）を照明する後面
側ライン状光源４Ａとが設けられ、この両ライン光源４
Ａ，４Ｂにて、上記検出箇所Ｊを照明する照明手段４が
構成されている。

【００２５】上記前面側ライン状光源４Ｂからの照明光
が上記検出箇所Ｊの前面側で反射した反射光を受光する
前面側ラインセンサ５Ｂと、後面側ライン状光源４Ａか
らの照明光が上記検出箇所Ｊの後面側で反射した反射光
を受光する後面側ラインセンサ５Ａとが設けられ、この
両ラインセンサ５Ａ，５Ｂにて、上記検出箇所Ｊからの
光を受光する受光手段５が構成されている。尚、各ライ
ン状光源４Ａ，４Ｂは、各ラインセンサ５Ａ，５Ｂの受
光方向に対して傾いた複数の方向からペレット群ｋを照
明するように、検出箇所Ｊを斜め下方から照明する下側
光源と、検出箇所Ｊを斜め上方から照明する上側光源と
を備えている。そして、このように検出箇所Ｊを照明光
の照明角度を変えて異なる方向から照明して、ペレット
ｋが正常な検出箇所Ｊから横方向にずれた場合でも、極
力均一な状態で良好に照明できるようにしている。

【００２６】図５に示すように、前記両ラインセンサ５
Ａ，５Ｂは、前記幅広の検出箇所Ｊからの光を受光する
複数個の受光部としての複数個の受光素子５ａを検出箇
所Ｊの幅方向に沿って並置させるように構成されてい
る。つまり、前記ペレット群の各ペレットｋの大きさよ
りも小さい範囲ｐ（例えばペレットｋの大きさの１０分
の１程度）を夫々の受光対象範囲とする複数個の受光素
子５ａを前記幅広の検出箇所Ｊに対応させてライン状に
並ぶ状態で備えている。そして、各ラインセンサ５Ａ，
５Ｂは、受光素子５ａが直線状に並置されたモノクロタ
イプのＣＣＤセンサ部５０と、検出箇所Ｊでのペレット
群ｋの像を上記ＣＣＤセンサの各受光素子５ａ上に結像
させる光学系５１とから構成され、例えば図３において
検出箇所Ｊの右端側から左端側に向けて、各受光素子５
ａから各受光情報が順次取り出されるように構成されて
いる。

【００２７】前記両ラインセンサ５Ａ，５Ｂの受光方向
であって前記検出箇所Ｊの背部側箇所に配置されて、前
記ペレット群における正常物からの検出光と同一又は略
同一の明るさの光を前記両ラインセンサ５Ａ，５Ｂに向
けて投射する投射部材８が設けられている。具体的に
は、前面側ラインセンサ５Ｂの受光方向であって前記検
出箇所Ｊの背部側箇所に、前面側ライン光源４Ｂにて照
明されたペレット群ｋのうちの正常物からの反射光と同
一又は略同一の明るさの光を前面側ラインセンサ５Ｂに
向けて反射するように、前面側ライン光源４Ｂにて照明
される長尺帯状の前面側反射面ｈｂを備えた前面側反射
板８Ｂが設置され、また、後面側ラインセンサ５Ａの受
光方向であって前記検出箇所Ｊの背部側箇所に、後面側
ライン光源４Ａにて照明されたペレット群ｋのうちの正
常物からの反射光と同一又は略同一の明るさの光を後面
側ラインセンサ５Ａに向けて反射するように、後面側ラ
イン光源４Ａにて照明される長尺帯状の後面側反射面ｈ
ａを備えた後面側反射板８Ａが設置され、この両反射板
８Ａ，８Ｂにて上記投射部材８が構成されている。

【００２８】上記前面側反射板８Ｂ及び後面側反射板８
Ａは、断面Ｌ字型で長尺状に形成され、同様な構造によ
って光源支持用のフレーム２２に取付けられている。即
ち、断面コの字状で長尺状に形成されたブラケット２２
ａが光源支持用のフレーム２２にネジ止め固定されると
ともに、そのブラケット２２ａにおけるフレーム２２へ
の固定部とは反対側の角部に上記各反射板８Ａ，８Ｂの
角部を当て付けた状態で，各反射板８Ａ，８Ｂがブラケ
ット２２ａにネジ止めされている。

【００２９】前面側ライン状光源４Ｂ、前面側ラインセ
ンサ５Ｂ及び後面側反射板８Ａが一方の収納部１３Ｂに
収納され、後面側ライン状光源４Ａ、後面側ラインセン
サ５Ａ及び前面側反射板８Ｂが他方の収納部１３Ａに収
納されている。尚、両収納部１３Ａ，１３Ｂは側板が共
通の一体の箱体に形成され、両収納部１３Ａ，１３Ｂ夫
々は、検出箇所Ｊに面する側に板状の透明なガラスから
なる光透過用の窓部１４Ａ，１４Ｂを備えている。そし
て、図示しないが、両窓部１４Ａ，１４Ｂの表面に長手
方向（図２の紙面垂直方向）に沿ってエアを吹き付け
て、窓表面に付着した塵等を除くための清掃ノズル２６
が設けられている（図４参照）。

【００３０】前記検出箇所Ｊから移動落下経路ＩＫの落
下方向下手側に、検出箇所Ｊでの受光情報に基づいて判
別された不良物ｇ（例えば、樹脂処理過程で焼けて着色
したペレットや、色の違うペレット等）に対してエアー
を吹き付けて正常なペレットｋの移動方向から分離させ
るためのエアー吹き付け装置６が設けられ、このエアー
吹き付け装置６は、噴射ノズル６ａの複数個を、上記移
動落下経路ＩＫの全幅を所定幅で複数個の区画に分割形
成した各区画に対応する状態で並置させ、不良物ｇが存
在する区画の噴射ノズル６ａが作動されるように構成さ
れている。

【００３１】そして、噴射ノズル６ａからのエアーの吹
き付けを受けずにそのまま進行してくる正常なペレット
ｋを回収する良品用の受口部２Ｂと、エアーの吹き付け
を受けて正常なペレットｋの流れから横方向に分離した
不良物ｇを回収する不良物用の受口部３Ｂとが設けら
れ、良品用の受口部２Ｂが横幅方向に細長い筒状に形成
され、その良品の受口部２Ｂの周囲を囲むように、不良
物用の受口部３Ｂが形成されている。尚、良品用の受口
部２Ｂにて回収されたペレットｋ、及び、不良物用の受
口部３Ｂにて回収された不良物は、再選別等のために、
本検査装置の貯留タンク７又は他の検査装置に搬送され
る。

【００３２】次に、粉粒体検査装置の装置構成について
説明する。図１に示すように、ジャッキボルト式の脚部
Ｆ０を備えた底板Ｆ１上に立設された縦枠Ｆ２，Ｆ３，
Ｆ４が、横枠Ｆ５，Ｆ６，Ｆ７によって連結されて機枠
が構成されている。表側の縦枠Ｆ４の上部斜め部分に、
情報の表示及び入力用の操作卓２１が設置され、前記振
動フィーダ９に対する振動発生器９Ａが横枠Ｆ５上に設
置され、底板Ｆ１上には、電源ボックス１７と、前記エ
アー吹き付け装置６及び前記清掃ノズル２６に対してエ
アを供給するためのエアタンク１５とが設置されてい
る。又、箱状の前記収納部１３Ａ，１３Ｂが前部側で縦
枠Ｆ４に、後部側で縦枠Ｆ３に夫々支持され、シュート
１が上部側で横枠Ｆ６に下部側で収納部１３Ｂに支持さ
れ、制御ボックス１６が、横枠Ｆ７上に設置されてい
る。機枠には、装置外面を覆うカバー１２が取り付けら
れている。尚、前面側のカバー１２のカバー上部１２Ａ
は、上下方向に開閉式に構成され、そのカバー上部１２
Ａを持ち上げた状態で装置内部の点検等を行う。

【００３３】前記操作卓２１には、図６に示すように、
タッチパネルに構成した表示画面２１ａと、装置の電源
を入り切りする主電源スイッチ２１ｂと、フィーダスイ
ッチ２１ｃと、排除スイッチ２１ｄとが設けられてい
る。尚、フィーダスイッチ２１ｃを入り操作すると、前
記振動フィーダ９が搬送作動し、排除スイッチ２１ｄを
入り操作すると、前記エアー吹き付け装置６が排除作動
する。

【００３４】制御構成を説明すると、図４に示すよう
に、マイクロコンピュータ利用の制御装置１０が設けら
れ、この制御装置１０に、両ラインセンサ５Ａ，５Ｂか
らの各画像信号と、前記操作卓２１からの操作情報とが
入力されている。一方、制御装置１０からは、前記操作
卓２１に対する表示用の駆動信号と、前記各ライン状光
源４Ａ，４Ｂを点灯させる点灯回路１９に対する駆動信
号と、各噴射ノズル６ａへのエアー供給をオンオフする
複数個の電磁弁１１に対する駆動信号と、前記フィーダ
用の振動発生器９Ａに対する駆動信号と、前記清掃ノズ
ル２６に対するエアー供給をオンオフする電磁弁２６Ａ
に対する駆動信号とが出力されている。

【００３５】そして、上記制御装置１０を利用して、前
記各ラインセンサ５Ａ，５Ｂの受光量を設定時間間隔で
サンプリングして、そのサンプリングした受光量の光量
値がペレット群における正常物からの検出光に対する適
正光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２を外れているか否かの判別を
行う判別手段１００が構成されている。具体的には、こ
の判別手段１００は、前面側ラインセンサ５Ｂの各受光
素子５ａの受光量を１／５０００秒間隔でサンプリング
して、そのサンプリングした光量値が前面側の反射光に
ついて各受光素子５ａ毎に設定された適正光量範囲ΔＥ
２を外れているか否かの判別を各受光素子５ａ毎に行う
とともに、後面側ラインセンサ５Ａの各受光素子５ａの
受光量を１／５０００秒間隔でサンプリングして、その
サンプリングした光量値が後面側の反射光について各受
光素子５ａ毎に設定された適正光量範囲ΔＥ１を外れて
いるか否かの判別を各受光素子５ａ毎に行い、上記両判
別においていずれかの受光素子５ａの受光量が適正光量
範囲ΔＥ１，ΔＥ２を外れている場合に不良物の存在を
検出する。

【００３６】上記不良物について説明すると、例えば樹
脂ペレットｋの外周の一部箇所に正常物と濃度が異なる
不良箇所、具体的には、樹脂ペレットｋの表面に樹脂処
理の過程において生じた焼けによる黒色箇所やコンタミ
による汚染箇所があるような場合に、その不良箇所から
の反射光を受光した受光素子５ａの受光量が、上記適正
光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２を外れて不良物の存在が検出さ
れる。

【００３７】又、上記判別手段１００は、各ラインセン
サ５Ａ，５Ｂの各受光素子５ａ毎に、前記サンプリング
により得られた設定個数の受光量データについて、暗側
から明側に亘る間を複数段階に区分けした各光量値に対
する度数分布（ヒストグラムともいう）を求めて、その
度数分布に基づいて前記適正光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２を
設定するように構成されている。具体的には、照明光源
５Ａ，５Ｂからの照明光量が十分に安定した状態で、先
ず、ペレット群ｋを流さずに、前記各反射板８Ａ，８Ｂ
からの反射光を受光して、その各反射光の受光量が検査
を行なうのに十分な光量であることを確認する。次に、
ペレット群ｋを流しながら、各ラインセンサ５Ａ，５Ｂ
の各受光素子５ａについて設定個数（例えば２５６個）
の受光量データをサンプリングし、その受光量データを
２５６段階のデジタル値に変換する。尚、この場合にお
いて、前記エアー吹き付け装置６は作動させない。因み
に、前述のように、各ラインセンサ５Ａ，５Ｂの各受光
素子５ａの受光量が１／５０００秒間隔でサンプリング
されるので、上記設定個数（２５６個）のデータを得る
のに要する時間は約０．０５秒程度になるが、ペレット
群ｋの流速を３ｍ／秒とすれば、０．０５秒はペレット
群の搬送方向での長さで１５０ｍｍに相当し、前記度数
分布（ヒストグラム）を求めるのに十分な受光量データ
が得られることになる。

【００３８】そして、図８（イ）に示すように、判別手
段１００は、前記度数分布ｈｇにおいて暗側から明側に
亘って各光量値に対する度数値が連続して存在する連続
領域（図において斜線で示す）の上端部の近傍位置に対
応させて上側光量値ＴＨ１を設定するとともに、その上
側光量値ＴＨ１から明側に設定光量Ｋ１離れた位置に前
記適正光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２の上限値Ｔ１を設定し、
且つ、前記連続領域の下端部の近傍位置に対応させて下
側光量値ＴＨ２を設定するとともに、その下側光量値Ｔ
Ｈ２から暗側に設定光量Ｋ２離れた位置に前記適正光量
範囲ΔＥ１，ΔＥ２の下限値Ｔ２を設定するように構成
されている。尚、上記上側光量値ＴＨ１及び下側光量値
ＴＨ２の設定については後述する。又、上記各設定光量
Ｋ１，Ｋ２は制御定数として予め設定されている。

【００３９】さらに、図８（イ）〜（ハ）に示すよう
に、上記判別手段１００は、前記サンプリングによって
設定時間ごとに得られる設定個数の受光量データの中
に、前記上側光量値ＴＨ１よりも明るい光量値が含まれ
ているときは、前記上側光量値ＴＨ１を明側に設定量移
動させる一方、前記設定個数の受光量データの中に前記
上側光量値ＴＨ１よりも明るい光量値が含まれていない
ときは、前記上側光量値ＴＨ１を暗側に設定量移動さ
せ、且つ、前記設定個数の受光量データの中に前記下側
光量値ＴＨ２よりも暗い光量値が含まれているときは、
前記下側光量値ＴＨ２を暗側に設定量移動させる一方、
前記設定個数の受光量データの中に前記下側光量値ＴＨ
２よりも暗い光量値が含まれていないときは、前記下側
光量値ＴＨ２を明側に設定量移動させる補正処理を設定
時間ごとに実行する。

【００４０】尚、上記設定量としては、前記２５６段階
の受光量データにおける１段階とし、前記各設定光量Ｋ
１，Ｋ２の値はこの設定値よりも大きな値に設定されて
いる。そして、図の（イ）では、サンプリングにより得
られた設定個数の受光量データの中に上側光量値ＴＨ１
よりも明るい光量値が含まれているので、上側光量値Ｔ
Ｈ１を明側に１段階移動させ、一方、下側光量値ＴＨ２
よりも暗い光量値は含まれていないので、下側光量値Ｔ
Ｈ２を明側に１段階移動させて、下側光量値ＴＨ２がち
ょうど連続領域の下端部に位置した状態を示す。（ロ）
では、（イ）の後に、サンプリングにより得られた設定
個数の受光量データの中に、上側光量値ＴＨ１よりも明
るい光量値及び下側光量値ＴＨ２よりも暗い光量値が共
に含まれていないので、上側光量値ＴＨ１を暗側に１段
階移動させ、下側光量値ＴＨ２を明側に１段階移動させ
ている。（ハ）では、（ロ）の後に、サンプリングによ
り得られた設定個数の受光量データの中に、上側光量値
ＴＨ１よりも明るい光量値が含まれていないので、上側
光量値ＴＨ１を暗側に１段階移動させる一方、下側光量
値ＴＨ２よりも暗い光量値が含まれているので、下側光
量値ＴＨ２を暗側に１段階移動させている。以下、同様
な補正処理を行なうことにより、上側光量値ＴＨ１は上
記連続領域の上端部もしくはその付近に固定され、下側
光量値ＴＨ２は上記連続領域の下端部もしくはその付近
に固定されることになる。

【００４１】さらに、図９に示すように、上記判別手段
１００は、前記連続領域の上端部に対応する上端光量値
Ｕ１と前記連続領域の下端部に対応する下端光量値Ｄ１
との光量値の差Ｕ１−Ｄ１が設定値ＨＫよりも大きい場
合には、前記補正処理を実行し、上端光量値Ｕ１と下端
光量値Ｄ１との光量値の差Ｕ１−Ｄ１が設定値ＨＫより
も小さい場合には、前記補正処理を停止するように構成
されている。つまり、上記設定値ＨＫは、ペレット群が
検出箇所Ｊを通過しているときは、図９に破線で示すよ
うに上記光量値の差Ｕ１−Ｄ１が設定値ＨＫより大きく
なるように設定され、ペレット群が検出箇所Ｊを通過し
ていないときは、図９に実線で示すように、前記反射板
８Ａ，８Ｂからの反射光のみを受光するために、その受
光量データの度数分布ｈｇの連続領域の幅が狭くなるの
に対応させて、その上端光量値ＵＨと下端光量値ＤＨと
の光量値の差ＵＨ−ＤＨが設定値ＨＫよりも小さくなる
ように設定されている。従って、ペレット群が検出箇所
Ｊを通過しているときは、前記補正処理が実行されて適
正光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２の上限値Ｔ１及び下限値Ｔ２
が逐次修正されるが、ペレット群が検出箇所Ｊを通過し
ていないときは、前記補正処理の実行が停止されて、直
前にペレット群が検出箇所Ｊを通過していたときの適正
光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２の上限値Ｔ１及び下限値Ｔ２の
値が保持されることになる。

【００４２】そして、上記のように各ラインセンサ５
Ａ，５Ｂの各受光素子５ａ毎に、設定及び補正される前
面側及び後面側の適正光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２の上限値
Ｔ１及び下限値Ｔ２の値は、図１０に示すように、前記
制御装置１０内のメモリＬＵＴ（前面側用及び後面側用
のＬＵＴ）に、不良検出処理用のルックアップテーブル
として記憶される。即ち、位置データｉ（ｉ＝０〜〔受
光素子の数−１〕）で表した各受光素子５ａ毎に、セン
サ出力電圧をとり得る全ての光量値ｊ（前記２５６段階
の光量値）の範囲で変化させながら、その各値ｊが前記
適正光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２内であれば、メモリＬＵＴ
の該当番地（ｉ，ｊ）に判定出力として「０」を記憶さ
せ、適正光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２を外れていれば、メモ
リＬＵＴの該当番地（ｉ，ｊ）に判定出力として「１」
を記憶させる。そして、前記判別を行うときは、上記作
成したメモリＬＵＴに対して、各ラインセンサ５Ａ，５
Ｂの受光素子５ａの位置データｉ（ｉ＝０〜〔受光素子
の数−１〕）と、その位置ｉでの各受光素子５ａの光量
値ｊとを入力すると、その各受光素子５ａについて、正
常物のときは判定出力「０」が、不良物のときは判定出
力「１」が夫々出力されるので、それに基づいて前記判
別を行う。

【００４３】尚、上記設定した上限値Ｔ１及び下限値Ｔ
２については、図７に示すように、実際に判別処理を行
っているときに、各ラインセンサ５Ａ，５Ｂの受光出力
電圧の検出波形とともに前記表示画面２１ａに表示され
る。又、図示はしないが、各受光素子５ａ毎に、上記度
数分布ｈｇと共に前記表示画面２１ａに表示させること
もできる。各ラインセンサ５Ａ，５Ｂの受光出力におけ
る不良物の判別について図１１に例示する。尚、図１１
は、図７の表示画面２１ａに表示された受光出力電圧の
波形の一部を拡大したものであり、説明を判り易くする
ために、実際よりも不良が多く発生している状態が示さ
れている。図１１において、ｅ０は、正常なペレット粒
からの標準的な反射光に対する出力電圧レベルであり、
受光素子５ａの出力電圧が適正光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２
よりも小さい場合ｅ１，ｅ２では、正常なペレット粒よ
りも反射率が小さい不良のペレット粒（例えば、焼け部
分）や異なる色の樹脂ペレット等の存在を判別し、適正
光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２よりも大きい場合ｅ３では、正
常なペレット粒ｋよりも反射率が大きい異なる色の樹脂
ペレット（例えば、明度が大きい白色の樹脂ペレット）
等の異物の存在を判別する。

【００４４】そして、前記制御装置１０は、前記検出箇
所Ｊを通過したペレット群ｋのうちで、不良物の存在が
判別された場合には、前記検出箇所Ｊから前記噴射ノズ
ル６ａの噴射位置にペレット群ｋが搬送されるのに要す
る時間間隔が経過するに伴って、不良物に対してその位
置に対応する区画の各噴射ノズル６ａからエアーを吹き
付けて正常なペレットの経路から分離させる。

【００４５】次に、図１２及び図１３に示すフローチャ
ートに基づいて、前記適正光量範囲の設定及び補正処理
について説明する。前記適正光量範囲の設定処理では、
装置の電源をオンした後、先ず、前記検出箇所Ｊにペレ
ットを供給しない状態で、各受光素子５ａ毎に、前記各
反射板８Ａ，８Ｂからの反射光について設定個数の受光
量データをサンプリングして、その受光量データの平均
値Ｔａを各受光素子５ａ毎に求める。尚、このときに、
各受光素子５ａ毎の受光量データの平均値Ｔａに基づい
て、各反射板８Ａ，８Ｂからの反射光の受光量が検査を
行なうのに十分な光量であることを確認する。次に、前
記検出箇所Ｊへのペレットの供給を開始した状態で、上
記と同様に、各受光素子５ａ毎に、前記検出箇所Ｊから
の光について設定個数の受光量データをサンプリング
し、サンプリングが終了すると、検出箇所Ｊへのペレッ
トの供給を停止する。そして、各受光素子５ａ毎に、上
記受光量データの最大光量値Ｔｍａｘと最小光量値Ｔｍ
ｉｎを求めるとともに、前記平均値Ｔａとの上側偏差Δ
Ｔ１（Ｔｍａｘ−Ｔａ）及び下側偏差ΔＴ２（Ｔａ−Ｔ
ｍｉｎ）を求め、それら受光素子の個数（例えば１０２
４個）分の上側偏差ΔＴ１及び下側偏差ΔＴ２のうち
で、極端に大きい値のものを除去するために、上側偏差
ΔＴ１及び下側偏差ΔＴ２の夫々において、大きい方か
らｎ番目（例えば１０番目）のものを選ぶ。次に、上記
選んだ上側偏差ΔＴ１を前記平均値Ｔａに加算して上側
設定値ＴＨ１を求め、さらに、その上側設定値ＴＨ１に
設定値Ｋ１を加算して前記適正光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２
の上限値Ｔ１を求める処理、及び、上記選んだ下側偏差
ΔＴ２を前記平均値Ｔａから引算して下側設定値ＴＨ２
を求め、さらに、その下側設定値ＴＨ２から設定値Ｋ２
を引算して前記適正光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２の下限値Ｔ
２を求める処理を、各受光素子５ａ毎に行い、最後に、
設定された上限値Ｔ１及び下限値Ｔ２のデータに基づい
て、前記メモリＬＵＴを作成する。

【００４６】前記適正光量範囲の補正処理では、前記検
出箇所Ｊにペレットを供給して、各受光素子５ａの受光
量が適正光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２を外れているか否かの
判別を行っている状態で、各受光素子５ａ毎に、設定時
間（例えば、数秒から数１０秒）ごとに設定個数の受光
量データをサンプリングして、そのサンプリングした受
光量データについて前記度数分布を作成する。次に、そ
の度数分布における連続領域の上端光量値Ｕ１と下端光
量値Ｄ１との光量値の差Ｕ１−Ｄ１が設定値ＨＫよりも
大きいか否を判断して、その光量値の差Ｕ１−Ｄ１が設
定値ＨＫよりも大きくない場合には以下の処理は行わな
い。上記光量値の差Ｕ１−Ｄ１が設定値ＨＫよりも大き
い場合には、先ず、上記度数分布において、現在の上側
設定値ＴＨ１よりも明るい光量値データが存在する場合
には、その上側設定値ＴＨ１の値を１増加させ、現在の
上側設定値ＴＨ１よりも明るい光量値データが存在しな
い場合には、その上側設定値ＴＨ１の値を１減少させ
る。次に、上記度数分布において、現在の下側設定値Ｔ
Ｈ２よりも暗い光量値データが存在する場合には、その
下側設定値ＴＨ２の値を１減少させ、現在の下側設定値
ＴＨ２よりも暗い光量値データが存在しない場合には、
その下側設定値ＴＨ２の値を１増加させる。最後に、上
側設定値ＴＨ１及び下側設定値ＴＨ２の変更に応じて適
正光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２の上限値Ｔ１及び下限値Ｔ２
を変更し、この変更された上限値Ｔ１及び下限値Ｔ２の
データに基づいて、前記メモリＬＵＴの内容を修正す
る。

【００４７】〔第２実施形態〕次に、粉粒体検査装置の
第２実施形態について説明する。この第２実施形態で
は、前記判別手段１００の構成が異なる点を除いて、第
１実施形態と同様に構成されている。以下、第１実施形
態との相違点について図面に基づいて説明する。即ち、
第１実施形態では、図１２にて説明したように、判別手
段１００が、前記度数分布ｈｇにおける連続領域の上端
部の近傍位置に対応させて上側光量値ＴＨ１を設定し、
前記連続領域の下端部の近傍位置に対応させて下側光量
値ＴＨ２を設定したが、この第２実施形態では、図１４
に示すように、各受光素子５ａ毎に、前記度数分布ｈｇ
における連続領域の上端部に対応させて上側光量値ＴＨ
１を設定するとともに、その上側光量値ＴＨ１から明側
に設定光量Ｋ１離れた位置に前記適正光量範囲ΔＥ１，
ΔＥ２の上限値Ｔ１を設定し、且つ、前記連続領域の下
端部に対応させて下側光量値ＴＨ２を設定するととも
に、その下側光量値ＴＨ２から暗側に設定光量Ｋ２離れ
た位置に前記適正光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２の下限値Ｔ２
を設定するように構成されている。

【００４８】以下、第２実施形態における前記適正光量
範囲の設定処理について図１５に基づいて説明する。
尚、この処理は第１実施形態における図１２に対応する
ものである。先ず、前記検出箇所Ｊへのペレットの供給
を開始した状態で、各受光素子５ａ毎に、前記検出箇所
Ｊからの光について設定個数の受光量データをサンプリ
ングし、サンプリングが終了すると、検出箇所Ｊへのペ
レットの供給を停止する。そして、各受光素子５ａ毎
に、上記受光量データの度数分布を求め、その度数分布
の連続領域の上端部に対応する上側光量値ＴＨ１と、下
端部に対応する下側光量値ＴＨ２とを求め、さらに、そ
の上側設定値ＴＨ１に設定値Ｋ１を加算して前記適正光
量範囲ΔＥ１，ΔＥ２の上限値Ｔ１を求めるとともに、
上記求めた下側設定値ＴＨ２から設定値Ｋ２を引算して
前記適正光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２の下限値Ｔ２を求める
処理を行い、最後に、設定された上限値Ｔ１及び下限値
Ｔ２のデータに基づいて、前記メモリＬＵＴを作成す
る。尚、この第２実施形態においても、第１実施形態と
同様に、上記設定された上側設定値ＴＨ１及び下側設定
値ＴＨ２について、前述の補正処理を行う。

【００４９】〔第３実施形態〕次に、粉粒体検査装置の
第３実施形態について説明する。この第３実施形態で
は、前記判別手段１００の構成が異なる点を除いて、第
１実施形態と同様に構成されている。以下、第１実施形
態との相違点について図面に基づいて説明する。即ち、
この第３実施形態では、判別手段１００が、前記度数分
布ｈｇに基づいて前記適正光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２を設
定する場合に、図１６に示すように、検査対象の粉粒体
群について大体の不良混入率が判っているとして、その
不良混入率に対応して不良物の存在が予測される度数分
布ｈｇの両側裾部分（図のベタ塗り部分）を区切るよう
に、適正光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２の上限値Ｔ１’及び下
限値Ｔ２’を設定するものである。例えば、不良混入率
を３パーセントとした場合には、上記度数分布ｈｇの両
側裾部分が夫々度数分布の全体の面積の１．５パーセン
トになるように、上記上限値Ｔ１’及び下限値Ｔ２’を
設定する。

【００５０】〔別実施形態〕上記第１及び第２実施形態
では、粉粒体群の検査を行なう場合には、先ず、その検
査対象物について適正光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２の設定処
理を行ない、次に、その適正光量範囲を検査中において
逐次補正する適正光量範囲の補正処理を行うようにした
が、最初に必ず適正光量範囲の設定処理を行なわなけれ
ばならないというものではなく、例えば、同一の検査対
象物について前回の検査の終了時点でデータとして記憶
されている適正光量範囲をそのまま今回の最初の適正光
量範囲として、上記補正処理から直ちに検査を開始する
ようにしてもよい。また、前記上側光量値ＴＨ１及び下
側光量値ＴＨ２を任意の値（例えば０）にしてから前記
補正処理を行なうこともできる。

【００５１】上記第１〜第３実施形態では、粉粒体群搬
送手段Ｈを、傾斜させたシュータ１にて構成したが、シ
ュータの外に、粉粒体群をベルトにて搬送しそのベルト
の端部から落下させて、その落下経路の途中に設けた検
出箇所に搬送するように構成したベルト式の搬送手段で
もよい。

【００５２】上記第１〜第３実施形態では、受光手段
を、検出箇所Ｊからの反射光を受光する反射式の受光手
段５にて構成したが、検出箇所Ｊからの透過光を受光す
る透過式の受光手段で構成したり、反射式と透過式の両
方の受光手段にて構成するようにしてもよい。又、上記
第１〜第３実施形態では、受光手段を、複数個の受光素
子５ａを備えたモノクロタイプのＣＣＤラインセンサを
利用して構成したが、ＣＣＤラインセンサ以外に、モノ
クロタイプの撮像管式のテレビカメラで構成してもよ
い。

【００５３】上記第１〜第３実施形態では、粉粒体群搬
送手段Ｈが、粉粒体群を横幅方向に広げた状態でその横
幅方向に沿って幅広に形成された検出箇所Ｊを通過する
ように搬送させたが、かかる幅広の状態ではなく、例え
ば複数の樋を並べて、各樋毎に１列状に搬送させてその
搬送方向の下手側の検出箇所Ｊを通過させるようにして
もよい。

【００５４】上記第１〜第３実施形態では、投射部材
を、照明手段４からの照明光を受光手段５に向けて反射
する反射板８にて構成したが、かかる反射板ではなく、
裏面側から照明された照明光を透過させる透過式の投射
部材で構成してもよい。

【００５５】上記第１〜第３実施形態では、検査対象物
としての粉粒体が樹脂ペレットである場合について例示
したが、粉粒体はこれに限るものではなく、例えば、精
米や玄米等の米粒を検査する場合にも適用できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】粉粒体検査装置の全体側面図

【図２】同要部側面図

【図３】同要部斜視図

【図４】制御構成のブロック図

【図５】ラインセンサの受光状態を示す図

【図６】操作卓の正面図

【図７】表示画面の表示例を示す正面図

【図８】第１実施形態における適正光量範囲の設定及び
補正処理を説明するグラフ

【図９】第１実施形態における適正光量範囲の補正処理
を説明するグラフ

【図１０】不良判別用のメモリのブロック図

【図１１】ラインセンサの受光出力電圧の波形図

【図１２】制御作動のフローチャート

【図１３】制御作動のフローチャート

【図１４】第２実施形態における適正光量範囲の設定を
説明するグラフ

【図１５】第２実施形態における制御作動のフローチャ
ート

【図１６】第３実施形態における適正光量範囲の設定を
説明するグラフ

【図１７】本願発明の課題を説明するためのグラフ

【符号の説明】

４ 照明手段 ５ 受光手段 ５ａ 受光部 ８ 投射部材 １００ 判別手段 Ｈ 粉粒体群搬送手段 ｈｇ 度数分布 Ｊ 検出箇所

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G051 AA01 AA04 AB02 BA01 CA03 CA07 DA01 DA05 DA13 EA11 EB01 EB02 EC02 EC03 3F079 AD00 BA06 CA31 CA41 CA44 CB25 CB32 CB35 CB36 CB38 CC03 DA06 DA23

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 検査対象物としての粉粒体群を、検出箇
   所を一層状態で通過させるように順次搬送する粉粒体群
   搬送手段と、 前記検出箇所を照明する照明手段と、 前記検出箇所からの光を受光する受光手段と、 前記受光手段の受光方向であって前記検出箇所の背部側
   箇所に配置されて、前記粉粒体群における正常物からの
   検出光と同一又は略同一の明るさの光を前記受光手段に
   向けて投射する投射部材と、 前記受光手段の受光量を設定時間間隔でサンプリングし
   て、そのサンプリングした受光量の光量値が前記粉粒体
   群における正常物からの検出光に対する適正光量範囲を
   外れているか否かの判別を行う判別手段とが設けられて
   いる粉粒体検査装置であって、 前記判別手段が、前記サンプリングにより得られた設定
   個数の受光量データについて、暗側から明側に亘る間を
   複数段階に区分けした各光量値に対する度数分布を求め
   て、その度数分布に基づいて前記適正光量範囲を設定す
   るように構成されている粉粒体検査装置。
2. 【請求項２】 前記粉粒体群搬送手段が、前記粉粒体群
   を横幅方向に広げた状態でその横幅方向に沿って幅広に
   形成された前記検出箇所を通過して搬送させるように構
   成され、 前記受光手段が、前記検出箇所からの光を受光する複数
   個の受光部を前記検出箇所の幅方向に沿って並置させる
   ように構成され、 前記判別手段が、前記サンプリングした受光量の光量値
   が前記適正光量範囲を外れているか否かの判別及び前記
   度数分布に基づく前記適正光量範囲の設定を前記各受光
   部毎に実行するように構成されている請求項１記載の粉
   粒体検査装置。
3. 【請求項３】 前記判別手段が、前記度数分布において
   暗側から明側に亘って各光量値に対する度数値が連続し
   て存在する連続領域の上端部もしくはその近傍位置に対
   応させて上側光量値を設定するとともに、その上側光量
   値から明側に設定光量離れた位置に前記適正光量範囲の
   上限値を設定し、且つ、前記連続領域の下端部もしくは
   その近傍位置に対応させて下側光量値を設定するととも
   に、その下側光量値から暗側に設定光量離れた位置に前
   記適正光量範囲の下限値を設定するように構成されてい
   る請求項１又は２記載の粉粒体検査装置。
4. 【請求項４】 前記判別手段が、前記サンプリングによ
   って設定時間ごとに得られる設定個数の受光量データの
   中に、前記上側光量値よりも明るい光量値が含まれてい
   るときは、前記上側光量値を明側に設定量移動させる一
   方、前記設定個数の受光量データの中に前記上側光量値
   よりも明るい光量値が含まれていないときは、前記上側
   光量値を暗側に設定量移動させ、且つ、前記設定個数の
   受光量データの中に前記下側光量値よりも暗い光量値が
   含まれているときは、前記下側光量値を暗側に設定量移
   動させる一方、前記設定個数の受光量データの中に前記
   下側光量値よりも暗い光量値が含まれていないときは、
   前記下側光量値を明側に設定量移動させる補正処理を設
   定時間ごとに実行するように構成されている請求項３記
   載の粉粒体検査装置。
5. 【請求項５】 前記判別手段が、前記連続領域の上端部
   に対応する上端光量値と前記連続領域の下端部に対応す
   る下端光量値との光量値の差が設定値よりも大きい場合
   には、前記補正処理を実行し、前記上端光量値と前記下
   端光量値との光量値の差が設定値よりも小さい場合に
   は、前記補正処理を停止するように構成されている請求
   項４記載の粉粒体検査装置。