JP2001267512A - スパイラルインダクタ - Google Patents
スパイラルインダクタInfo
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- JP2001267512A JP2001267512A JP2000081227A JP2000081227A JP2001267512A JP 2001267512 A JP2001267512 A JP 2001267512A JP 2000081227 A JP2000081227 A JP 2000081227A JP 2000081227 A JP2000081227 A JP 2000081227A JP 2001267512 A JP2001267512 A JP 2001267512A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 デジタル無線通信装置に使用するシリコンプ
ロセスを適用した集積回路内に形成されるスパイラルイ
ンダクタの構造において、表皮効果に起因する導体損失
を低減し、回路の小型化を実現するスパイラルインダク
タを提供することを目的とする。 【解決手段】 シリコン半導体基板101上に形成され
る3層配線構造において、3層配線107と2層配線1
06、あるいは2層配線106と1層配線105を用い
て、同一形状のスパイラルパターンを形成し、スルーホ
ール108を用いて、2つのスパイラルパターンの両端
を並列接続することにより、等価的に導体厚が向上す
る。
ロセスを適用した集積回路内に形成されるスパイラルイ
ンダクタの構造において、表皮効果に起因する導体損失
を低減し、回路の小型化を実現するスパイラルインダク
タを提供することを目的とする。 【解決手段】 シリコン半導体基板101上に形成され
る3層配線構造において、3層配線107と2層配線1
06、あるいは2層配線106と1層配線105を用い
て、同一形状のスパイラルパターンを形成し、スルーホ
ール108を用いて、2つのスパイラルパターンの両端
を並列接続することにより、等価的に導体厚が向上す
る。
Description
【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、デジタル無線通信
装置に使用するシリコンプロセスを適用した集積回路内
に形成し、集積回路の小型、高性能化を実現するスパイ
ラルインダクタの構造に関するものである。
装置に使用するシリコンプロセスを適用した集積回路内
に形成し、集積回路の小型、高性能化を実現するスパイ
ラルインダクタの構造に関するものである。
【0002】
【従来の技術】デジタル無線通信装置を構成する部品に
おいては、部品点数が増えると、各部品間を結ぶ配線が
複雑になるという問題や、価格の上昇を招くといった問
題が生じるため、能動素子だけでなく、受動素子、特に
インダクタを集積化することが要求される。
おいては、部品点数が増えると、各部品間を結ぶ配線が
複雑になるという問題や、価格の上昇を招くといった問
題が生じるため、能動素子だけでなく、受動素子、特に
インダクタを集積化することが要求される。
【0003】以下、従来のスパイラルインダクタについ
て説明する。図7は、従来のスパイラルインダクタの斜
視図である。
て説明する。図7は、従来のスパイラルインダクタの斜
視図である。
【0004】図7において、1はシリコン半導体基板、
2,3,4は誘電体により構成される第1,第2,第3層間
膜、5は導体により構成される2層配線、6は導体によ
り構成され、スパイラルパターン構成をとる3層配線、
7は2層配線5の一端と、3層配線の一端とを接続する
スルーホール、8,9は入出力端子、10は2層配線
5、3層配線6、スルーホール7より構成されるスパイ
ラルインダクタである。
2,3,4は誘電体により構成される第1,第2,第3層間
膜、5は導体により構成される2層配線、6は導体によ
り構成され、スパイラルパターン構成をとる3層配線、
7は2層配線5の一端と、3層配線の一端とを接続する
スルーホール、8,9は入出力端子、10は2層配線
5、3層配線6、スルーホール7より構成されるスパイ
ラルインダクタである。
【0005】以上のように構成されたスパイラルインダ
クタについて、以下その動作について説明する。
クタについて、以下その動作について説明する。
【0006】マイクロストリップ線路により構成される
伝送線路は、線路長に比例するインダクタタンス値を有
する。
伝送線路は、線路長に比例するインダクタタンス値を有
する。
【0007】また、マイクロストリップ線路上の高周波
電流は、その厚さ方向に一様な電流密度で流れるわけで
はなく、導体の材質、周波数に応じ、導体表面から固有
の深さの範囲に集中して流れる。そのため、高周波にお
ける導体の抵抗値は、直流抵抗よりも大きくなり、ジュ
ール損、すなわち導体損失が増大する。自然対数の底を
eとして、電流密度が導体表面の1/eに低下する厚みを表
皮深さδといい、導体の厚さをδの2倍から3倍程度確
保できれば、高周波における導体損失を、直流抵抗によ
る損失と同等のものにできる。
電流は、その厚さ方向に一様な電流密度で流れるわけで
はなく、導体の材質、周波数に応じ、導体表面から固有
の深さの範囲に集中して流れる。そのため、高周波にお
ける導体の抵抗値は、直流抵抗よりも大きくなり、ジュ
ール損、すなわち導体損失が増大する。自然対数の底を
eとして、電流密度が導体表面の1/eに低下する厚みを表
皮深さδといい、導体の厚さをδの2倍から3倍程度確
保できれば、高周波における導体損失を、直流抵抗によ
る損失と同等のものにできる。
【0008】シリコン半導体基板1の面積は、価格の面
から制約を受けるため、大きなインダクタンス値を実現
するのに、伝送線路を直線構造で構成し、長い伝送線路
長を確保することはできない。
から制約を受けるため、大きなインダクタンス値を実現
するのに、伝送線路を直線構造で構成し、長い伝送線路
長を確保することはできない。
【0009】このため、従来のスパイラルインダクタで
は、3層配線6をスパイラルパターン構成とすること
で、伝送線路長を効率的に確保し、所望のインダクタン
ス値を実現していた。
は、3層配線6をスパイラルパターン構成とすること
で、伝送線路長を効率的に確保し、所望のインダクタン
ス値を実現していた。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら前記従来
のスパイラルインダクタの構成では、1配線層のみを使
用するため、表皮深さδ以上の導体厚を確保することは
難しく、高周波における導体損失が多いという欠点を有
していた。
のスパイラルインダクタの構成では、1配線層のみを使
用するため、表皮深さδ以上の導体厚を確保することは
難しく、高周波における導体損失が多いという欠点を有
していた。
【0011】本発明は、前記従来技術の課題を解決する
もので、シリコン半導体基板上に形成される3層配線の
第3層と第2層、あるいは第2層と第1層に同一形状の
スパイラルパターンを形成するとともに、2つのスパイ
ラルパターンの両端をスルーホールを介して並列接続す
ることにより、表皮効果に起因する導体損失を低減し、
回路の小型化を実現するスパイラルインダクタを提供す
ることを目的とする。
もので、シリコン半導体基板上に形成される3層配線の
第3層と第2層、あるいは第2層と第1層に同一形状の
スパイラルパターンを形成するとともに、2つのスパイ
ラルパターンの両端をスルーホールを介して並列接続す
ることにより、表皮効果に起因する導体損失を低減し、
回路の小型化を実現するスパイラルインダクタを提供す
ることを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
本発明は、シリコン半導体基板上に形成される3層配線
の第3層と第2層、あるいは第2層と第1層に同一形状
のスパイラルパターンを形成するとともに、2つのスパ
イラルパターンの両端をスルーホールを介して並列接続
することを特徴とするものである。
本発明は、シリコン半導体基板上に形成される3層配線
の第3層と第2層、あるいは第2層と第1層に同一形状
のスパイラルパターンを形成するとともに、2つのスパ
イラルパターンの両端をスルーホールを介して並列接続
することを特徴とするものである。
【0013】これにより、表皮効果に起因する導体損失
を低減し、回路の小型化を実現するスパイラルインダク
タが得られる。
を低減し、回路の小型化を実現するスパイラルインダク
タが得られる。
【0014】
【発明の実施の形態】本発明の請求項1に記載の発明
は、シリコン半導体基板上に形成される3層配線の第3
層と第2層、あるいは第2層と第1層に同一形状のスパ
イラルパターンを形成するとともに、2つのスパイラル
パターンの両端をスルーホールを介して並列接続するこ
とを特徴とするスパイラルインダクタであり、等価的に
導体厚を厚くし、導体損失を低減できるという作用を有
する。
は、シリコン半導体基板上に形成される3層配線の第3
層と第2層、あるいは第2層と第1層に同一形状のスパ
イラルパターンを形成するとともに、2つのスパイラル
パターンの両端をスルーホールを介して並列接続するこ
とを特徴とするスパイラルインダクタであり、等価的に
導体厚を厚くし、導体損失を低減できるという作用を有
する。
【0015】請求項2に記載の発明は、シリコン半導体
基板上に形成される3層配線の第2層と第1層に同一形
状の第1のスパイラルパターンを形成し、第1のスパイ
ラルパターンの両端をスルーホールを介して並列接続す
るとともに、第3層に第1のスパイラルパターンと高周
波電流が同一方向に流れる形状で第2のスパイラルパタ
ーンを形成し、第1のスパイラルパターンと第2のスパ
イラルパターンを直列に接続することを特徴とするスパ
イラルインダクタであり、シリコン半導体基板上の占有
部分を請求項1に記載の発明よりもさらに小型化でき、
かつ高インダクタンス値を実現できるという作用を有す
る。
基板上に形成される3層配線の第2層と第1層に同一形
状の第1のスパイラルパターンを形成し、第1のスパイ
ラルパターンの両端をスルーホールを介して並列接続す
るとともに、第3層に第1のスパイラルパターンと高周
波電流が同一方向に流れる形状で第2のスパイラルパタ
ーンを形成し、第1のスパイラルパターンと第2のスパ
イラルパターンを直列に接続することを特徴とするスパ
イラルインダクタであり、シリコン半導体基板上の占有
部分を請求項1に記載の発明よりもさらに小型化でき、
かつ高インダクタンス値を実現できるという作用を有す
る。
【0016】請求項3に記載の発明は、第3層に形成さ
れるパターン導体の導体厚を第2層および第1層に形成
されるパターン導体の導体厚よりも厚くしたことを特徴
とする請求項1、2記載の構造のスパイラルインダクタ
であり、請求項1、2に記載の発明よりもさらに導体損
失を低減できるという作用を有する。
れるパターン導体の導体厚を第2層および第1層に形成
されるパターン導体の導体厚よりも厚くしたことを特徴
とする請求項1、2記載の構造のスパイラルインダクタ
であり、請求項1、2に記載の発明よりもさらに導体損
失を低減できるという作用を有する。
【0017】請求項4に記載の発明は、第1〜3層に形
成されるパターン導体に銅配線材料を用いることを特徴
とする請求項3記載の構造のスパイラルインダクタであ
り、請求項3に記載の発明よりもさらに導体損失を低減
できるという作用を有する。
成されるパターン導体に銅配線材料を用いることを特徴
とする請求項3記載の構造のスパイラルインダクタであ
り、請求項3に記載の発明よりもさらに導体損失を低減
できるという作用を有する。
【0018】請求項5に記載の発明は、増幅器から出力
電力を取り出す負荷インダクタとして、請求項1あるい
は2記載の構造のスパイラルインダクタを用いたことを
特徴とする増幅器であり、増幅器の利得低下を抑圧しつ
つ、無線通信回路の小型化を実現できるという作用を有
する。
電力を取り出す負荷インダクタとして、請求項1あるい
は2記載の構造のスパイラルインダクタを用いたことを
特徴とする増幅器であり、増幅器の利得低下を抑圧しつ
つ、無線通信回路の小型化を実現できるという作用を有
する。
【0019】請求項6に記載の発明は、増幅器の出力整
合用インダクタとして、請求項1あるいは2記載の構造
のスパイラルインダクタを用いたことを特徴とする増幅
器であり、無線通信回路を請求項5に記載の発明よりも
さらに小型化できるという作用を有する。
合用インダクタとして、請求項1あるいは2記載の構造
のスパイラルインダクタを用いたことを特徴とする増幅
器であり、無線通信回路を請求項5に記載の発明よりも
さらに小型化できるという作用を有する。
【0020】請求項7に記載の発明は、エミッタ接地ト
ランジスタのコレクタ端子と、エミッタ接地トランジス
タにカスケード接続するベース接地トランジスタのエミ
ッタ端子との接続中点に、容量とインダクタにより構成
される直列共振器を対接地間に接続し不要周波数の増幅
を抑圧した増幅器において、インダクタとして請求項1
あるいは2記載の構造のスパイラルインダクタを用いた
ことを特徴とする増幅器であり、無線通信回路の小型化
を実現できるという作用を有する。
ランジスタのコレクタ端子と、エミッタ接地トランジス
タにカスケード接続するベース接地トランジスタのエミ
ッタ端子との接続中点に、容量とインダクタにより構成
される直列共振器を対接地間に接続し不要周波数の増幅
を抑圧した増幅器において、インダクタとして請求項1
あるいは2記載の構造のスパイラルインダクタを用いた
ことを特徴とする増幅器であり、無線通信回路の小型化
を実現できるという作用を有する。
【0021】請求項8に記載の発明は、増幅器から出力
電力を取り出す負荷インダクタとして、請求項1あるい
は2記載の構造のスパイラルインダクタを用いたことを
特徴とする請求項7記載の増幅器であり、無線通信回路
を請求項7に記載の発明よりもさらに小型化できるとい
う作用を有する。
電力を取り出す負荷インダクタとして、請求項1あるい
は2記載の構造のスパイラルインダクタを用いたことを
特徴とする請求項7記載の増幅器であり、無線通信回路
を請求項7に記載の発明よりもさらに小型化できるとい
う作用を有する。
【0022】請求項9に記載の発明は、増幅器の出力整
合用インダクタとして、請求項1あるいは2記載の構造
のスパイラルインダクタを用いたことを特徴とする請求
項7記載の増幅器であり、無線通信回路を請求項8に記
載の発明よりもさらに小型化できるという作用を有す
る。
合用インダクタとして、請求項1あるいは2記載の構造
のスパイラルインダクタを用いたことを特徴とする請求
項7記載の増幅器であり、無線通信回路を請求項8に記
載の発明よりもさらに小型化できるという作用を有す
る。
【0023】以下、本発明の実施の形態について、図1
から図6を用いて説明する。
から図6を用いて説明する。
【0024】(実施の形態1)図1は本発明の実施の形態
1におけるスパイラルインダクタの斜視図である。
1におけるスパイラルインダクタの斜視図である。
【0025】図1において、101はトランジスタを形
成するシリコン半導体基板、102,103,104は誘
電体により構成される第1,第2,第3層間膜、105は
導体により構成される1層配線、106,107は導体
により構成され、同一形状のスパイラルパターン構成を
とる2,3層配線、108は3層配線107及び2層配
線106の両端を接続するスルーホール、109は2層
配線106の一端と、1層配線105の一端とを接続す
るスルーホール、110,111は入出力端子、112
はシリコン半導体基板101、第1,第2,第3層間膜1
02,103,104、1,2,3層配線105,106,1
07、スルーホール108,109より構成されるスパ
イラルインダクタである。
成するシリコン半導体基板、102,103,104は誘
電体により構成される第1,第2,第3層間膜、105は
導体により構成される1層配線、106,107は導体
により構成され、同一形状のスパイラルパターン構成を
とる2,3層配線、108は3層配線107及び2層配
線106の両端を接続するスルーホール、109は2層
配線106の一端と、1層配線105の一端とを接続す
るスルーホール、110,111は入出力端子、112
はシリコン半導体基板101、第1,第2,第3層間膜1
02,103,104、1,2,3層配線105,106,1
07、スルーホール108,109より構成されるスパ
イラルインダクタである。
【0026】以上のように構成されたスパイラルインダ
クタについて、以下、その動作を述べる。3層配線10
7、2層配線106の両端を接続することで、等価的に
導体厚が向上するため、配線の高周波抵抗を低減でき
る。これにより、スパイラルインダクタの無負荷Qを高
めることができる。
クタについて、以下、その動作を述べる。3層配線10
7、2層配線106の両端を接続することで、等価的に
導体厚が向上するため、配線の高周波抵抗を低減でき
る。これにより、スパイラルインダクタの無負荷Qを高
めることができる。
【0027】3層配線107の導体厚自体を厚くするこ
と、あるいは、1〜3層配線105〜107に直流抵抗
の小さい銅配線材料を用いることで、配線の高周波抵抗
をさらに低減でき、スパイラルインダクタの無負荷Qを
さらに高めることができる。
と、あるいは、1〜3層配線105〜107に直流抵抗
の小さい銅配線材料を用いることで、配線の高周波抵抗
をさらに低減でき、スパイラルインダクタの無負荷Qを
さらに高めることができる。
【0028】なお、図1ではスパイラルパターンを矩形
としているが、さらに多角形にしても良いし、円形にし
ても良いこと、またスパイラルパターンの巻き数を増や
しても良いことは言うまでもない。
としているが、さらに多角形にしても良いし、円形にし
ても良いこと、またスパイラルパターンの巻き数を増や
しても良いことは言うまでもない。
【0029】(実施の形態2)図2は本発明の実施の形態
2におけるスパイラルインダクタの斜視図である。図2
において、201はトランジスタを形成するシリコン半
導体基板、202,203,204は誘電体により構成さ
れる第1,第2,第3層間膜、205,206は導体によ
り構成され、同一形状のスパイラルパターン構成をとる
1,2層配線、207は導体により構成され、半導体基
板上方から透視して2層配線206及び1層配線205
と同一方向の高周波電流が流れるようなスパイラルパタ
ーン形状をとる3層配線、208は2層配線206及び
1層配線205の両端を接続するスルーホール、209
は3層配線207の一端と2層配線206の一端とを接
続するスルーホール、210,211は入出力端子、2
12はシリコン半導体基板201、第1,第2,第3層間
膜202,203,204、1,2,3層配線205,20
6,207、スルーホール208,209より構成される
スパイラルインダクタである。
2におけるスパイラルインダクタの斜視図である。図2
において、201はトランジスタを形成するシリコン半
導体基板、202,203,204は誘電体により構成さ
れる第1,第2,第3層間膜、205,206は導体によ
り構成され、同一形状のスパイラルパターン構成をとる
1,2層配線、207は導体により構成され、半導体基
板上方から透視して2層配線206及び1層配線205
と同一方向の高周波電流が流れるようなスパイラルパタ
ーン形状をとる3層配線、208は2層配線206及び
1層配線205の両端を接続するスルーホール、209
は3層配線207の一端と2層配線206の一端とを接
続するスルーホール、210,211は入出力端子、2
12はシリコン半導体基板201、第1,第2,第3層間
膜202,203,204、1,2,3層配線205,20
6,207、スルーホール208,209より構成される
スパイラルインダクタである。
【0030】以上のように構成されたスパイラルインダ
クタについて、以下、その動作を述べる。スパイラルパ
ターン構造をとる、3層配線207と、2層配線206
及び1層配線205とを、高周波電流が同一方向に流れ
るように接続することで、3層配線207と2層配線2
06及び1層配線205とより生成される磁界が強め合
うため、短い線路長で大きなインダクタンス値を実現で
きる。
クタについて、以下、その動作を述べる。スパイラルパ
ターン構造をとる、3層配線207と、2層配線206
及び1層配線205とを、高周波電流が同一方向に流れ
るように接続することで、3層配線207と2層配線2
06及び1層配線205とより生成される磁界が強め合
うため、短い線路長で大きなインダクタンス値を実現で
きる。
【0031】言い換えれば、任意のインダクタンス値を
得るのに、半導体基板201に対するスパイラルインダ
クタの占有面積を削減できる。また、3層配線207
は、2層配線206,1層配線205より導体厚を確保
できるため、無負荷Qの劣化は少ない。
得るのに、半導体基板201に対するスパイラルインダ
クタの占有面積を削減できる。また、3層配線207
は、2層配線206,1層配線205より導体厚を確保
できるため、無負荷Qの劣化は少ない。
【0032】その他の動作、作用は実施の形態1と同様
であり、説明を省略する。なお、図2ではスパイラルパ
ターンを矩形としているが、さらに多角形にしても良い
し、円形にしても良いこと、またスパイラルパターンの
巻き数を増やしても良いことは言うまでもない。
であり、説明を省略する。なお、図2ではスパイラルパ
ターンを矩形としているが、さらに多角形にしても良い
し、円形にしても良いこと、またスパイラルパターンの
巻き数を増やしても良いことは言うまでもない。
【0033】(実施の形態3)図1,2は本発明の実施の
形態3におけるスパイラルインダクタの斜視図、図3は
本発明の実施の形態3における増幅器のブロック図であ
る。図1は実施の形態1において、図2は実施の形態2
において説明したものとそれぞれ同一であり、説明を省
略する。
形態3におけるスパイラルインダクタの斜視図、図3は
本発明の実施の形態3における増幅器のブロック図であ
る。図1は実施の形態1において、図2は実施の形態2
において説明したものとそれぞれ同一であり、説明を省
略する。
【0034】図3において、301は増幅器、302は
増幅器301にバイアスを供給し、出力電力を取り出す
ための負荷インダクタ、303は入力整合回路、304
は出力整合回路、305は信号入力端子、306は信号
出力端子、307、308は増幅器301にバイアスを
供給する電源端子、309は増幅器301、負荷インダ
クタ302を内蔵する集積回路である。
増幅器301にバイアスを供給し、出力電力を取り出す
ための負荷インダクタ、303は入力整合回路、304
は出力整合回路、305は信号入力端子、306は信号
出力端子、307、308は増幅器301にバイアスを
供給する電源端子、309は増幅器301、負荷インダ
クタ302を内蔵する集積回路である。
【0035】以上のように構成された増幅器について、
以下、その動作を述べる。電源端子307,308より
増幅器301にバイアスを供給し、信号入力端子305
から入力した高周波電圧信号を、増幅器301におい
て、電圧−電流変換するとともに、電流振幅を増幅す
る。負荷インダクタ302において、再度、電流−電圧
変換を行い、信号出力端子306から高周波電圧信号を
出力する。
以下、その動作を述べる。電源端子307,308より
増幅器301にバイアスを供給し、信号入力端子305
から入力した高周波電圧信号を、増幅器301におい
て、電圧−電流変換するとともに、電流振幅を増幅す
る。負荷インダクタ302において、再度、電流−電圧
変換を行い、信号出力端子306から高周波電圧信号を
出力する。
【0036】この電流−電圧変換を行う負荷インダクタ
302は、使用周波数帯域での抵抗成分が大きいと、増
幅器301からの出力電圧振幅の減衰を引き起こす。
302は、使用周波数帯域での抵抗成分が大きいと、増
幅器301からの出力電圧振幅の減衰を引き起こす。
【0037】このため、負荷インダクタ302として、
低損失なスパイラルインダクタ112、あるいは212
を用い、集積回路309に内蔵することで、増幅器30
1の利得低下を抑圧しつつ、無線通信回路の小型化を実
現することができる。
低損失なスパイラルインダクタ112、あるいは212
を用い、集積回路309に内蔵することで、増幅器30
1の利得低下を抑圧しつつ、無線通信回路の小型化を実
現することができる。
【0038】その他の動作、作用は実施の形態1あるい
は実施の形態2と同様であり、説明を省略する。
は実施の形態2と同様であり、説明を省略する。
【0039】(実施の形態4)図1,2は本発明の実施の
形態4におけるスパイラルインダクタの斜視図、図4は
本発明の実施の形態4における増幅器のブロック図であ
る。図1は実施の形態1において、図2は実施の形態2
において説明したものとそれぞれ同一であり、説明を省
略する。
形態4におけるスパイラルインダクタの斜視図、図4は
本発明の実施の形態4における増幅器のブロック図であ
る。図1は実施の形態1において、図2は実施の形態2
において説明したものとそれぞれ同一であり、説明を省
略する。
【0040】図4において、図3と同じ番号を付したも
のは、図3と同じ働きをするものである。401は負荷
インダクタを含み、負荷インダクタも整合回路の一部と
して利用する出力整合回路、402は増幅器301、出
力整合回路401を内蔵する集積回路である。
のは、図3と同じ働きをするものである。401は負荷
インダクタを含み、負荷インダクタも整合回路の一部と
して利用する出力整合回路、402は増幅器301、出
力整合回路401を内蔵する集積回路である。
【0041】出力整合回路401に使用される素子の損
失が大きいと、信号入力端子305に入力され、増幅器
301において増幅された信号が減衰してしまう。この
ため、出力整合回路401に用いるインダクタとして、
低損失なスパイラルインダクタ112、あるいは212
を用い、集積回路402に内蔵することで、増幅器30
1の利得低下を抑圧しつつ、無線通信回路を実施の形態
3よりもさらに小型化することができる。その他の動
作、作用は実施の形態3と同様であり、説明を省略す
る。
失が大きいと、信号入力端子305に入力され、増幅器
301において増幅された信号が減衰してしまう。この
ため、出力整合回路401に用いるインダクタとして、
低損失なスパイラルインダクタ112、あるいは212
を用い、集積回路402に内蔵することで、増幅器30
1の利得低下を抑圧しつつ、無線通信回路を実施の形態
3よりもさらに小型化することができる。その他の動
作、作用は実施の形態3と同様であり、説明を省略す
る。
【0042】(実施の形態5)図1,2は本発明の実施の
形態5におけるスパイラルインダクタの斜視図、図5は
本発明の実施の形態5における増幅器の回路図、図6は
本発明の実施の形態5における直列共振器の通過特性図
である。
形態5におけるスパイラルインダクタの斜視図、図5は
本発明の実施の形態5における増幅器の回路図、図6は
本発明の実施の形態5における直列共振器の通過特性図
である。
【0043】図1は実施の形態1において、図2は実施
の形態2において説明したものとそれぞれ同一であり、
説明を省略する。図5において、501,502はトラ
ンジスタ、503はトランジスタ502のベース端子の
接地容量、504はトランジスタ501,502、接地
容量503により構成される増幅器、505は増幅器5
04にバイアスを供給し、出力電力を取り出すための負
荷インダクタ、506、507はトランジスタ501,
502にベースバイアスを供給する抵抗、508は信号
入力端子、509は信号出力端子、510−512は電
源端子、513はインダクタ、514は容量、515は
インダクタ513、容量514により構成される直列共
振器、516は増幅器504、直列共振器515を内蔵
する集積回路、517は入力整合回路、518は出力整
合回路である。
の形態2において説明したものとそれぞれ同一であり、
説明を省略する。図5において、501,502はトラ
ンジスタ、503はトランジスタ502のベース端子の
接地容量、504はトランジスタ501,502、接地
容量503により構成される増幅器、505は増幅器5
04にバイアスを供給し、出力電力を取り出すための負
荷インダクタ、506、507はトランジスタ501,
502にベースバイアスを供給する抵抗、508は信号
入力端子、509は信号出力端子、510−512は電
源端子、513はインダクタ、514は容量、515は
インダクタ513、容量514により構成される直列共
振器、516は増幅器504、直列共振器515を内蔵
する集積回路、517は入力整合回路、518は出力整
合回路である。
【0044】以上のように構成された増幅器について、
以下、その動作を述べる。信号入力端子508には、希
望波のみならず、不要周波数成分も入力される可能性が
あるが、どちらの周波数成分も、増幅器504で増幅さ
れ、出力信号端子509から出力される。
以下、その動作を述べる。信号入力端子508には、希
望波のみならず、不要周波数成分も入力される可能性が
あるが、どちらの周波数成分も、増幅器504で増幅さ
れ、出力信号端子509から出力される。
【0045】直列共振器515の共振周波数と不要周波
数成分の周波数とを近づけることで、直列共振器515
において不要周波数成分を減衰できるため、増幅器50
4での不要周波数成分の増幅を抑制することができる。
しかし、希望波と不要周波数成分が近接する場合に、イ
ンダクタ513の損失が大きい直列共振器515を用い
ると、希望波の減衰という問題が生じてしまう。この様
子を図6に示す。
数成分の周波数とを近づけることで、直列共振器515
において不要周波数成分を減衰できるため、増幅器50
4での不要周波数成分の増幅を抑制することができる。
しかし、希望波と不要周波数成分が近接する場合に、イ
ンダクタ513の損失が大きい直列共振器515を用い
ると、希望波の減衰という問題が生じてしまう。この様
子を図6に示す。
【0046】図6において、横軸は周波数、縦軸は伝送
線路に対接地間に直列共振器515を付加した場合の信
号通過量、601は直列共振器515に固有の共振周波
数、602は希望波の周波数である。
線路に対接地間に直列共振器515を付加した場合の信
号通過量、601は直列共振器515に固有の共振周波
数、602は希望波の周波数である。
【0047】インダクタ513と容量514により構成
される直列共振器515は、インダクタ513のインダ
クタンス値、及び容量514のキャパシタンス値から決
定される共振周波数601において、インピーダンスが
低くなる。インダクタ513の損失によって、直列共振
器515の通過特性が異なり、インダクタ513の損失
が大きい場合には、阻止帯域が増大するとともに、共振
周波数における阻止量が低下し、インダクタ513の損
失が小さい場合には、阻止帯域が狭められるとともに、
共振周波数における阻止量が向上する。
される直列共振器515は、インダクタ513のインダ
クタンス値、及び容量514のキャパシタンス値から決
定される共振周波数601において、インピーダンスが
低くなる。インダクタ513の損失によって、直列共振
器515の通過特性が異なり、インダクタ513の損失
が大きい場合には、阻止帯域が増大するとともに、共振
周波数における阻止量が低下し、インダクタ513の損
失が小さい場合には、阻止帯域が狭められるとともに、
共振周波数における阻止量が向上する。
【0048】以上のように、インダクタ513として、
低損失なスパイラルインダクタ112または212を用
いた直列共振器515を内蔵することで、希望波に対し
ては増幅し、不要周波数成分に対しては増幅を抑圧する
増幅器が得られる。
低損失なスパイラルインダクタ112または212を用
いた直列共振器515を内蔵することで、希望波に対し
ては増幅し、不要周波数成分に対しては増幅を抑圧する
増幅器が得られる。
【0049】これにより、集積回路516の前段に接続
される、集積回路外部の帯域通過型フィルタを削除、も
しくはフィルタの回路規模を縮小することができる。ま
た、負荷インダクタ505あるいは、出力整合回路51
8用のインダクタとして、低損失なスパイラルインダク
タ112または212を用い、集積回路516に内蔵す
ることで、さらなる無線通信回路の小型化を実現でき
る。
される、集積回路外部の帯域通過型フィルタを削除、も
しくはフィルタの回路規模を縮小することができる。ま
た、負荷インダクタ505あるいは、出力整合回路51
8用のインダクタとして、低損失なスパイラルインダク
タ112または212を用い、集積回路516に内蔵す
ることで、さらなる無線通信回路の小型化を実現でき
る。
【0050】その他の動作、作用は実施の形態1または
2と同様であり、説明を省略する。なお、図5ではバイ
ポーラトランジスタを使用しているが、電界効果トラン
ジスタに置き換えても良い事は言うまでもない。
2と同様であり、説明を省略する。なお、図5ではバイ
ポーラトランジスタを使用しているが、電界効果トラン
ジスタに置き換えても良い事は言うまでもない。
【0051】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、シリコン
半導体基板上に形成される3層配線の第3層と第2層、
あるいは第2層と第1層に同一形状のスパイラルパター
ンを形成するとともに、2つのスパイラルパターンの両
端をスルーホールを介して並列接続することにより、表
皮効果に起因する導体損失を低減したスパイラルインダ
クタを集積回路に内蔵化し、回路の小型化を実現できる
という効果が得られる。
半導体基板上に形成される3層配線の第3層と第2層、
あるいは第2層と第1層に同一形状のスパイラルパター
ンを形成するとともに、2つのスパイラルパターンの両
端をスルーホールを介して並列接続することにより、表
皮効果に起因する導体損失を低減したスパイラルインダ
クタを集積回路に内蔵化し、回路の小型化を実現できる
という効果が得られる。
【図1】本発明の実施の形態1,3〜5によるスパイラ
ルインダクタの斜視図
ルインダクタの斜視図
【図2】本発明の実施の形態1〜5によるスパイラルイ
ンダクタの斜視図
ンダクタの斜視図
【図3】本発明の実施の形態3による増幅器のブロック
図
図
【図4】本発明の実施の形態4による増幅器のブロック
図
図
【図5】本発明の実施の形態5による増幅器の回路図
【図6】本発明の実施の形態5による直列共振器の通過
特性図
特性図
【図7】従来のスパイラルインダクタの斜視図
1 シリコン半導体基板 2 第1層間膜 3 第2層間膜 4 第3層間膜 5 2層配線 6 3層配線 7 スルーホール 8 入出力端子 9 入出力端子 10 スパイラルインダクタ 101 シリコン半導体基板 102 第1層間膜 103 第2層間膜 104 第3層間膜 105 1層配線 106 2層配線 107 3層配線 108 スルーホール 109 スルーホール 110 入出力端子 111 入出力端子 112 スパイラルインダクタ 201 シリコン半導体基板 202 第1層間膜 203 第2層間膜 204 第3層間膜 205 1層配線 206 2層配線 207 3層配線 208 スルーホール 209 スルーホール 210 入出力端子 211 入出力端子 212 スパイラルインダクタ 301 増幅器 302 負荷インダクタ 303 入力整合回路 304 出力整合回路 305 信号入力端子 306 信号出力端子 307 電源端子 308 電源端子 309 集積回路 401 出力整合回路 402 集積回路 501 トランジスタ 502 トランジスタ 503 接地容量 504 増幅器 505 負荷インダクタ 506 抵抗 507 抵抗 508 信号入力端子 509 信号出力端子 510 電源端子 511 電源端子 512 電源端子 513 インダクタ 514 容量 515 直列共振器 516 集積回路 517 入力整合回路 518 出力整合回路 601 共振周波数 602 希望波周波数
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 矢吹 博幸 神奈川県川崎市多摩区東三田3丁目10番1 号 松下技研株式会社内 Fターム(参考) 5E070 AA01 AB03 AB10 CB13 CB17 CB20 5F033 HH11 KK11 QQ37 UU05 VV08 XX00 5F038 AZ05 CD01 CD20
Claims (11)
- 【請求項1】 シリコン半導体基板上に形成される3
層配線の第3層と第2層、あるいは第2層と第1層に同
一形状のスパイラルパターンを形成するとともに、前記
2つのスパイラルパターンの両端をスルーホールを介し
て並列接続することを特徴とするスパイラルインダク
タ。 - 【請求項2】 シリコン半導体基板上に形成される3層
配線の第2層と第1層に同一形状の第1のスパイラルパ
ターンを形成し、前記第1のスパイラルパターンの両端
をスルーホールを介して並列接続するとともに、第3層
に前記第1のスパイラルパターンと高周波電流が同一方
向に流れる形状で第2のスパイラルパターンを形成し、
前記第1のスパイラルパターンと第2のスパイラルパタ
ーンを直列に接続することを特徴とするスパイラルイン
ダクタ。 - 【請求項3】 第3層に形成されるパターン導体の導体
厚を第2層および第1層に形成されるパターン導体の導
体厚よりも厚くしたことを特徴とする請求項1、2記載
の構造のスパイラルインダクタ。 - 【請求項4】 第1〜3層に形成されるパターン導体に
銅配線材料を用いることを特徴とする請求項3記載の構
造のスパイラルインダクタ。 - 【請求項5】 増幅器から出力電力を取り出す負荷イン
ダクタとして、請求項1あるいは2記載の構造のスパイ
ラルインダクタを用いたことを特徴とする増幅器。 - 【請求項6】 増幅器の出力整合用インダクタとして、
請求項1あるいは2記載の構造のスパイラルインダクタ
を用いたことを特徴とする増幅器。 - 【請求項7】 エミッタ接地トランジスタのコレクタ端
子と、前記エミッタ接地トランジスタにカスケード接続
するベース接地トランジスタのエミッタ端子との接続中
点に、容量とインダクタにより構成される直列共振器を
対接地間に接続し不要周波数の増幅を抑圧した増幅器に
おいて、前記インダクタとして請求項1あるいは2記載
の構造のスパイラルインダクタを用いたことを特徴とす
る増幅器。 - 【請求項8】 増幅器から出力電力を取り出す負荷イン
ダクタとして、請求項1あるいは2記載の構造のスパイ
ラルインダクタを用いたことを特徴とする請求項7記載
の増幅器。 - 【請求項9】 増幅器の出力整合用インダクタとして、
請求項1あるいは2記載の構造のスパイラルインダクタ
を用いたことを特徴とする請求項7記載の増幅器。 - 【請求項10】 請求項1〜4に記載の構造のスパイラ
ルインダクタを利用した高周波集積回路。 - 【請求項11】 請求項5〜9に記載の増幅器、あるい
は請求項10に記載の高周波集積回路を利用した無線通
信装置及び無線通信システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000081227A JP2001267512A (ja) | 2000-03-23 | 2000-03-23 | スパイラルインダクタ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000081227A JP2001267512A (ja) | 2000-03-23 | 2000-03-23 | スパイラルインダクタ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001267512A true JP2001267512A (ja) | 2001-09-28 |
Family
ID=18598191
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000081227A Pending JP2001267512A (ja) | 2000-03-23 | 2000-03-23 | スパイラルインダクタ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001267512A (ja) |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006013849A (ja) * | 2004-06-25 | 2006-01-12 | Hitachi Metals Ltd | バンドパスフィルタ、高周波回路、高周波回路部品、およびこれらを用いたマルチバンド通信装置 |
WO2008123082A1 (ja) * | 2007-03-29 | 2008-10-16 | Nec Corporation | インダクタ、配線基板、および半導体装置 |
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JP2013539924A (ja) * | 2010-10-15 | 2013-10-28 | ザイリンクス インコーポレイテッド | 複数ループ対称インダクタ |
JP2015119007A (ja) * | 2013-12-17 | 2015-06-25 | 三菱電機株式会社 | インダクタ、mmic |
US10009011B1 (en) | 2016-12-26 | 2018-06-26 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Impedance matching circuit of power amplifier |
US10438731B2 (en) | 2017-07-03 | 2019-10-08 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Inductor and power amplifier module |
CN113053667A (zh) * | 2019-12-26 | 2021-06-29 | Tdk株式会社 | 电子部件 |
-
2000
- 2000-03-23 JP JP2000081227A patent/JP2001267512A/ja active Pending
Cited By (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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US8487734B2 (en) | 2007-01-24 | 2013-07-16 | Renesas Electronics Corporation | Inductor |
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JP2010021384A (ja) * | 2008-07-11 | 2010-01-28 | Murata Mfg Co Ltd | インダクタおよびフィルタ |
JP4656196B2 (ja) * | 2008-07-11 | 2011-03-23 | 株式会社村田製作所 | インダクタおよびフィルタ |
US8134221B2 (en) | 2008-07-11 | 2012-03-13 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Inductor and filter |
JP2013539924A (ja) * | 2010-10-15 | 2013-10-28 | ザイリンクス インコーポレイテッド | 複数ループ対称インダクタ |
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CN108242919A (zh) * | 2016-12-26 | 2018-07-03 | 三星电机株式会社 | 功率放大器的阻抗匹配电路 |
KR20180075320A (ko) * | 2016-12-26 | 2018-07-04 | 삼성전기주식회사 | 파워 증폭기의 임피던스 매칭 회로 |
KR101883082B1 (ko) * | 2016-12-26 | 2018-07-27 | 삼성전기주식회사 | 파워 증폭기의 임피던스 매칭 회로 |
US10438731B2 (en) | 2017-07-03 | 2019-10-08 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Inductor and power amplifier module |
CN113053667A (zh) * | 2019-12-26 | 2021-06-29 | Tdk株式会社 | 电子部件 |
JP2021106223A (ja) * | 2019-12-26 | 2021-07-26 | Tdk株式会社 | 電子部品 |
US11357110B2 (en) | 2019-12-26 | 2022-06-07 | Tdk Corporation | Electronic component |
JP7092106B2 (ja) | 2019-12-26 | 2022-06-28 | Tdk株式会社 | 電子部品 |
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