JP2001244598A - チップ部品実装方法 - Google Patents
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- H01L2924/10251—Elemental semiconductors, i.e. Group IV
- H01L2924/10253—Silicon [Si]
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- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
- Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 表面実装部品とベアチップ部品とを混載する
プリント配線板において、表面実装部品とベアチップ部
品とを狭間隔で隣接させ、封止形状制限をなくし、吸湿
管理を不要とし、なおかつ高品質接続を可能とした高密
度のチップ部品実装方法を提供する。 【解決手段】 チップ部品実装方法は、ステップS2に
より表面実装部品をプリント配線板上に実装した後に、
ステップS8によりベアチップ部品をプリント配線板上
に実装するので、従来のようにベアチップ部品上にCO
Bスクリーンを覆うことにより生じるデッドスペースが
なくなり、表面実装部品とベアチップ部品が狭間隔で隣
接し、小型化を要する高密度ベアチップ実装を達成する
ことができる。
プリント配線板において、表面実装部品とベアチップ部
品とを狭間隔で隣接させ、封止形状制限をなくし、吸湿
管理を不要とし、なおかつ高品質接続を可能とした高密
度のチップ部品実装方法を提供する。 【解決手段】 チップ部品実装方法は、ステップS2に
より表面実装部品をプリント配線板上に実装した後に、
ステップS8によりベアチップ部品をプリント配線板上
に実装するので、従来のようにベアチップ部品上にCO
Bスクリーンを覆うことにより生じるデッドスペースが
なくなり、表面実装部品とベアチップ部品が狭間隔で隣
接し、小型化を要する高密度ベアチップ実装を達成する
ことができる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、表面実装
部品とベアチップ部品とを混載するプリント配線板上に
おける高密度のチップ部品実装方法に関するものであ
る。
部品とベアチップ部品とを混載するプリント配線板上に
おける高密度のチップ部品実装方法に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】従来、電子機器製品の軽薄短小化のため
に、パッケージ化された半導体の実装からパッケージを
取り除いた半導体素子すなわちベアチップ(Bare
Tip)と、表面実装部品とが混在するプリント配線板
が用いられていた。
に、パッケージ化された半導体の実装からパッケージを
取り除いた半導体素子すなわちベアチップ(Bare
Tip)と、表面実装部品とが混在するプリント配線板
が用いられていた。
【0003】このような従来のベアチップと表面実装部
品の実装方法は、図3に示すように、ステップS11に
おいて先にベアチップ部品を実装して、ステップS12
においてその後に表面実装部品を実装するようになされ
ていた。
品の実装方法は、図3に示すように、ステップS11に
おいて先にベアチップ部品を実装して、ステップS12
においてその後に表面実装部品を実装するようになされ
ていた。
【0004】なお、ステップS12における表面実装部
品実装は、詳細には、ステップS13におけるCOB
(Chip On Board)スクリーンによるはん
だ印刷、ステップS14における表面実装部品搭載、ス
テップS15におけるリフロー、の各工程の処理からな
る。ステップS15におけるリフローは、両面の場合に
はステップS13〜S15までを繰り返す。
品実装は、詳細には、ステップS13におけるCOB
(Chip On Board)スクリーンによるはん
だ印刷、ステップS14における表面実装部品搭載、ス
テップS15におけるリフロー、の各工程の処理からな
る。ステップS15におけるリフローは、両面の場合に
はステップS13〜S15までを繰り返す。
【0005】上述した方法を採用する理由は、以下の3
点である。第1は、先に表面実装部品を実装すると、リ
フロー処理によりプリント配線板に反りが発生して平坦
度がなくなるため、後のベアチップ部品の実装処理の際
にプリント配線板とベアチップとの接続不具合を引き起
こすことがあるためである。
点である。第1は、先に表面実装部品を実装すると、リ
フロー処理によりプリント配線板に反りが発生して平坦
度がなくなるため、後のベアチップ部品の実装処理の際
にプリント配線板とベアチップとの接続不具合を引き起
こすことがあるためである。
【0006】第2は、先に表面実装部品を実装するとリ
フロー処理時の炉内粉塵や、はんだ粒子およびフラック
スの飛び散り、また、油脂その他によるプリント配線板
上のベアチップ接続部の汚れにより、洗浄を行わないと
後のベアチップ部品の実装の際に接続不具合を引き起こ
すことがあるためである。
フロー処理時の炉内粉塵や、はんだ粒子およびフラック
スの飛び散り、また、油脂その他によるプリント配線板
上のベアチップ接続部の汚れにより、洗浄を行わないと
後のベアチップ部品の実装の際に接続不具合を引き起こ
すことがあるためである。
【0007】第3は、先にベアチップ部品を実装する
と、後に行う表面実装部品の実装処理の中において、図
4に示すように、クリームはんだ45をスキージ(Sq
ueeze)46の移動により接続部に塗布するはんだ
印刷を行う際に、プリント配線板43上にスタッドバン
プ47、48およびモールド樹脂によるベアチップ封止
部44を介して搭載されたベアチップ搭載部品42を保
護するように覆うCOBスクリーンを使用するが、その
印刷技術が進歩したためである。
と、後に行う表面実装部品の実装処理の中において、図
4に示すように、クリームはんだ45をスキージ(Sq
ueeze)46の移動により接続部に塗布するはんだ
印刷を行う際に、プリント配線板43上にスタッドバン
プ47、48およびモールド樹脂によるベアチップ封止
部44を介して搭載されたベアチップ搭載部品42を保
護するように覆うCOBスクリーンを使用するが、その
印刷技術が進歩したためである。
【0008】なお、ベアチップ部品のプリント配線板上
への実装の際の接続方式には、図5に示すように、3方
式がある。図5Aは、ワイヤボンディング方式を示して
いて、リードフレーム50上にダイボンド樹脂51を介
して下端面が固定されたシリコン(Si)チップ52の
上端面のアルミ電極53に、接合部54を介して一端が
リードフレーム50上に接続されたワイヤ55の他端を
接続するものである。なお、ワイヤ55は、Auまたは
Al製で、Auワイヤの場合の接合部53はAu・Al
合金、Alワイヤの場合の接合部53はAl・Al圧着
で構成される。
への実装の際の接続方式には、図5に示すように、3方
式がある。図5Aは、ワイヤボンディング方式を示して
いて、リードフレーム50上にダイボンド樹脂51を介
して下端面が固定されたシリコン(Si)チップ52の
上端面のアルミ電極53に、接合部54を介して一端が
リードフレーム50上に接続されたワイヤ55の他端を
接続するものである。なお、ワイヤ55は、Auまたは
Al製で、Auワイヤの場合の接合部53はAu・Al
合金、Alワイヤの場合の接合部53はAl・Al圧着
で構成される。
【0009】図5Bは、TAB(テープ・オートマチッ
ク・ボンディング)方式を示していて、巻回されたフィ
ルムテープ60下面に付着しているめっき材料62が塗
布された銅(Cu)製のリード61上面を図示しない基
板面に接続し、リード61下面に、金(Au)製のスタ
ッドバンプ(突起電極:Stud Bump)63をボ
ンディングにより形成し、バリアメタル64を介してシ
リコン(Si)チップ66の上端面のアルミ電極53に
接続するものである。なお、めっき材料62は、Snま
たはAuで、Snめっきの場合はAuSn共晶合金、A
uめっきの場合はAu・Au圧着で構成される。
ク・ボンディング)方式を示していて、巻回されたフィ
ルムテープ60下面に付着しているめっき材料62が塗
布された銅(Cu)製のリード61上面を図示しない基
板面に接続し、リード61下面に、金(Au)製のスタ
ッドバンプ(突起電極:Stud Bump)63をボ
ンディングにより形成し、バリアメタル64を介してシ
リコン(Si)チップ66の上端面のアルミ電極53に
接続するものである。なお、めっき材料62は、Snま
たはAuで、Snめっきの場合はAuSn共晶合金、A
uめっきの場合はAu・Au圧着で構成される。
【0010】図5Cは、フリップチップ(FC:Fli
p Chip)方式を示していて、回路基板70上面の
基板電極71上に、はんだ72およびバリアメタル73
を介して、シリコン(Si)チップ74の下端面のアル
ミ電極側を接続するものである。
p Chip)方式を示していて、回路基板70上面の
基板電極71上に、はんだ72およびバリアメタル73
を介して、シリコン(Si)チップ74の下端面のアル
ミ電極側を接続するものである。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】しかし、ベアチップと
表面実装部品とを混載するプリント配線板において、上
述した従来のベアチップと表面実装部品の実装方法で実
装を行う際には、図4に示したように、ベアチップ搭載
部品42(高さ250〜400ミクロン)を保護するよ
うに覆うCOBスクリーン41(厚さ150ミクロン)
を使用してはんだ印刷を行って、はんだ上に表面実装部
品を搭載するため、ベアチップ部品と表面実装部品との
隣接する間隔に5ミリメートル程度のデッドスペースが
発生するという不都合があった。
表面実装部品とを混載するプリント配線板において、上
述した従来のベアチップと表面実装部品の実装方法で実
装を行う際には、図4に示したように、ベアチップ搭載
部品42(高さ250〜400ミクロン)を保護するよ
うに覆うCOBスクリーン41(厚さ150ミクロン)
を使用してはんだ印刷を行って、はんだ上に表面実装部
品を搭載するため、ベアチップ部品と表面実装部品との
隣接する間隔に5ミリメートル程度のデッドスペースが
発生するという不都合があった。
【0012】この問題は、小型化を要する高密度実装に
おけるベアチップ実装の致命的な問題点であり、COB
スクリーン41がベアチップ搭載部品42を覆うための
形状は、ベアチップ搭載部品42をプリント配線板43
上にモールドするベアチップ封止部44の形状に合わせ
る技術が必要となっていた。
おけるベアチップ実装の致命的な問題点であり、COB
スクリーン41がベアチップ搭載部品42を覆うための
形状は、ベアチップ搭載部品42をプリント配線板43
上にモールドするベアチップ封止部44の形状に合わせ
る技術が必要となっていた。
【0013】また、表面実装部品とベアチップ部品とを
混載するプリント配線板において、上述した従来のベア
チップと表面実装部品の実装方法で実装を行う際には、
プリント配線板の両面に表面実装が必要な場合には、2
回のリフロー工程を通過することになる。これにより、
ベアチップ搭載部品が2回までも高温状態になるため、
ベアチップ搭載部品で吸湿した水分がリフロー処理で爆
発してクラックを生じる現象(いわゆるポップコーン現
象)を起こしことがあり、これを防止するために吸湿管
理をする必要が生じるという不都合があった。
混載するプリント配線板において、上述した従来のベア
チップと表面実装部品の実装方法で実装を行う際には、
プリント配線板の両面に表面実装が必要な場合には、2
回のリフロー工程を通過することになる。これにより、
ベアチップ搭載部品が2回までも高温状態になるため、
ベアチップ搭載部品で吸湿した水分がリフロー処理で爆
発してクラックを生じる現象(いわゆるポップコーン現
象)を起こしことがあり、これを防止するために吸湿管
理をする必要が生じるという不都合があった。
【0014】また、2回までもリフロー処理に耐えるベ
アチップ接続方法と長期接続信頼性の評価も必要となっ
ていた。
アチップ接続方法と長期接続信頼性の評価も必要となっ
ていた。
【0015】そこで、本発明は、かかる点に鑑みてなさ
れたものであり、表面実装部品とベアチップ部品とを混
載するプリント配線板において、表面実装部品とベアチ
ップ部品とを狭間隔で隣接させ、封止形状制限をなく
し、吸湿管理を不要とし、なおかつ高品質接続を可能と
した高密度のチップ部品実装方法を提供することを課題
とするものである。
れたものであり、表面実装部品とベアチップ部品とを混
載するプリント配線板において、表面実装部品とベアチ
ップ部品とを狭間隔で隣接させ、封止形状制限をなく
し、吸湿管理を不要とし、なおかつ高品質接続を可能と
した高密度のチップ部品実装方法を提供することを課題
とするものである。
【0016】
【課題を解決するための手段】本発明のチップ部品実装
方法は、表面実装部品とベアチップ部品とを混載するプ
リント配線板上における高密度のチップ部品実装方法に
おいて、表面実装部品をプリント配線板上に実装した後
に、ベアチップ部品をプリント配線板上に実装するもの
である。
方法は、表面実装部品とベアチップ部品とを混載するプ
リント配線板上における高密度のチップ部品実装方法に
おいて、表面実装部品をプリント配線板上に実装した後
に、ベアチップ部品をプリント配線板上に実装するもの
である。
【0017】従って本発明によれば、以下の作用をす
る。ベアチップ搭載部をカバーし、表面実装部品を先に
実装した後に、カバーを取り外してベアチップ部品を実
装する。これにより、表面実装部品とベアチップ部品と
が狭間隔で隣接し、小型化を要する高密度実装が高品質
で可能となる。
る。ベアチップ搭載部をカバーし、表面実装部品を先に
実装した後に、カバーを取り外してベアチップ部品を実
装する。これにより、表面実装部品とベアチップ部品と
が狭間隔で隣接し、小型化を要する高密度実装が高品質
で可能となる。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て説明する。本実施の形態のチップ部品実装方法は、表
面実装部品とベアチップ部品とを混載するプリント配線
板上における高密度のチップ部品実装方法において、ベ
アチップ搭載部をカバーし、表面実装部品を先に実装し
た後に、カバーを取り外してベアチップ部品を実装する
ことにより、表面実装部品とベアチップ部品とを狭間隔
で隣接させ、小型化を要する高密度実装が高品質で可能
となるものである。
て説明する。本実施の形態のチップ部品実装方法は、表
面実装部品とベアチップ部品とを混載するプリント配線
板上における高密度のチップ部品実装方法において、ベ
アチップ搭載部をカバーし、表面実装部品を先に実装し
た後に、カバーを取り外してベアチップ部品を実装する
ことにより、表面実装部品とベアチップ部品とを狭間隔
で隣接させ、小型化を要する高密度実装が高品質で可能
となるものである。
【0019】図1は、本実施の形態のチップ部品実装方
法の工程を示すフローチャートである。図2は、主要工
程の説明図である。本実施の形態のベアチップと表面実
装部品の実装方法は、図1に示すように、まず、ステッ
プS1において耐熱カバーの取り付けを行い、そして、
ステップS2で先に表面実装部品を実装した後に、ステ
ップS7で耐熱カバーを取り外し、ステップS8でベア
チップ部品を実装するようにした。
法の工程を示すフローチャートである。図2は、主要工
程の説明図である。本実施の形態のベアチップと表面実
装部品の実装方法は、図1に示すように、まず、ステッ
プS1において耐熱カバーの取り付けを行い、そして、
ステップS2で先に表面実装部品を実装した後に、ステ
ップS7で耐熱カバーを取り外し、ステップS8でベア
チップ部品を実装するようにした。
【0020】上述した耐熱カバーは、高分子耐熱構造の
絶縁テープの一例としてポリイミドテープを用いること
ができる。
絶縁テープの一例としてポリイミドテープを用いること
ができる。
【0021】具体的には、図2Aにポリイミドテープ貼
付工程を示すように、プリント基板7上のベアチップ搭
載部8にポリイミドテープ9を貼付する。
付工程を示すように、プリント基板7上のベアチップ搭
載部8にポリイミドテープ9を貼付する。
【0022】また、これに限らず、ポリイミドテープ9
の代わりに耐熱を有する他の材料を用いても良い。
の代わりに耐熱を有する他の材料を用いても良い。
【0023】また、これに限らず、ポリイミドテープ9
の代わりに熱硬化型液状マスク材料を用いても良い。こ
の場合、ステップS1において耐熱硬化型液状マスク材
料を印刷工程と同様に印刷し、またはディスペンサーを
用いて塗布し、ステップS6におけるリフロー工程で耐
熱硬化型液状マスク材料を成膜してカバーを形成する。
の代わりに熱硬化型液状マスク材料を用いても良い。こ
の場合、ステップS1において耐熱硬化型液状マスク材
料を印刷工程と同様に印刷し、またはディスペンサーを
用いて塗布し、ステップS6におけるリフロー工程で耐
熱硬化型液状マスク材料を成膜してカバーを形成する。
【0024】なお、ステップS2における表面実装部品
実装は、詳細には、ステップS3におけるスクリーンに
よるはんだ印刷、ステップS5における表面実装部品搭
載、ステップS6におけるリフロー、の各工程の処理で
片面の実装が終了する。ステップS6におけるリフロー
工程において、両面の実装が必要な場合にはステップS
3へ戻り、ステップS3〜S6までを繰り返す。
実装は、詳細には、ステップS3におけるスクリーンに
よるはんだ印刷、ステップS5における表面実装部品搭
載、ステップS6におけるリフロー、の各工程の処理で
片面の実装が終了する。ステップS6におけるリフロー
工程において、両面の実装が必要な場合にはステップS
3へ戻り、ステップS3〜S6までを繰り返す。
【0025】なお、ステップS2の表面実装部品の実装
の中においては、ステップS3でクリームはんだを印刷
するが、この場合、ポリイミドテープの凸部分に対応し
てスクリーンを凹加工させる。
の中においては、ステップS3でクリームはんだを印刷
するが、この場合、ポリイミドテープの凸部分に対応し
てスクリーンを凹加工させる。
【0026】具体的には、図2Bにはんだ印刷工程を示
すように、プリント配線板7上のベアチップ搭載部8上
に貼付されたポリイミドテープ9の凸部分が生じるの
で、スクリーン11は対応する部分のスクリーン11を
凹加工する。これにより、スキージ6が平坦なスクリー
ン11上を矢印方向に移動して、スクリーン11上のク
リームはんだ12−1〜12−3のようにスクリーン1
1の凹部13−1〜13−2に充填印刷する。
すように、プリント配線板7上のベアチップ搭載部8上
に貼付されたポリイミドテープ9の凸部分が生じるの
で、スクリーン11は対応する部分のスクリーン11を
凹加工する。これにより、スキージ6が平坦なスクリー
ン11上を矢印方向に移動して、スクリーン11上のク
リームはんだ12−1〜12−3のようにスクリーン1
1の凹部13−1〜13−2に充填印刷する。
【0027】また、ステップS3でクリームはんだをプ
リント基板に印刷した後に、ステップS5でチップマウ
ンターを用いて表面実装部品をプリント基板の搭載部に
搭載し、ステップS6でリフローを行い、片面の実装を
終了する。
リント基板に印刷した後に、ステップS5でチップマウ
ンターを用いて表面実装部品をプリント基板の搭載部に
搭載し、ステップS6でリフローを行い、片面の実装を
終了する。
【0028】具体的には、図2Cに表面実装部品搭載・
リフロー工程を示すように、プリント配線板7の4隅の
位置を基準にして、予めインプットされた表面実装部品
の配置位置に基づいて、チップマウンターにより各配置
位置に各表面実装部品14を搭載する。
リフロー工程を示すように、プリント配線板7の4隅の
位置を基準にして、予めインプットされた表面実装部品
の配置位置に基づいて、チップマウンターにより各配置
位置に各表面実装部品14を搭載する。
【0029】また、両面実装の際には、再度ステップS
3でクリームはんだをプリント基板に印刷して、ステッ
プS5の表面実装部品搭載、ステップS6のリフローま
でを繰り返す。
3でクリームはんだをプリント基板に印刷して、ステッ
プS5の表面実装部品搭載、ステップS6のリフローま
でを繰り返す。
【0030】そして、表面実装終了後、ステップS7で
ポリイミドテープを取り外し、ステップS8でベアチッ
プ部品を搭載して、モールド樹脂を用いて封止する。
ポリイミドテープを取り外し、ステップS8でベアチッ
プ部品を搭載して、モールド樹脂を用いて封止する。
【0031】具体的には、図2Dにポリイミドテープ取
り外し工程を示すように、プリント基板7上のベアチッ
プ搭載部8に貼付されたポリイミドテープ9を真空吸着
装置などにより吸着して取り外しをする。
り外し工程を示すように、プリント基板7上のベアチッ
プ搭載部8に貼付されたポリイミドテープ9を真空吸着
装置などにより吸着して取り外しをする。
【0032】また、図2Eにベアチップ実装工程を示す
ように、プリント基板7上のベアチップ搭載部8にチッ
プマウンターによりベアチップ15を搭載する。
ように、プリント基板7上のベアチップ搭載部8にチッ
プマウンターによりベアチップ15を搭載する。
【0033】この場合、表面実装後にベアチップ部品を
搭載するので、ベアチップ部品と表面実装部品との間に
デッドスペースが生じることがなく、間隔を狭くするこ
とにより、高密度実装をすることができる。
搭載するので、ベアチップ部品と表面実装部品との間に
デッドスペースが生じることがなく、間隔を狭くするこ
とにより、高密度実装をすることができる。
【0034】また、ベアチップ封止部の形状は何等制限
がなく最小にすることができるので、高密度実装をする
ことができる。
がなく最小にすることができるので、高密度実装をする
ことができる。
【0035】また、ステップS1における耐熱カバーの
取り付けの工程に替えて、ステップS4において耐熱ダ
ミー部品を搭載しても良い。
取り付けの工程に替えて、ステップS4において耐熱ダ
ミー部品を搭載しても良い。
【0036】この場合、ステップS2における表面実装
部品実装は、詳細には、ステップS3におけるスクリー
ンによるはんだ印刷を行い、次にステップS4における
耐熱ダミー部品の搭載を行い、ステップS5における表
面実装部品搭載を行って、ステップS6におけるリフロ
ーを行って片面の実装を終了する。同様に、両面の場合
にはステップS3〜S6までを繰り返す。
部品実装は、詳細には、ステップS3におけるスクリー
ンによるはんだ印刷を行い、次にステップS4における
耐熱ダミー部品の搭載を行い、ステップS5における表
面実装部品搭載を行って、ステップS6におけるリフロ
ーを行って片面の実装を終了する。同様に、両面の場合
にはステップS3〜S6までを繰り返す。
【0037】表面実装終了後、ステップS7で耐熱ダミ
ー部品を取り外し、ステップS8でベアチップ部品を実
装する。
ー部品を取り外し、ステップS8でベアチップ部品を実
装する。
【0038】このように、上述した実施の形態では、耐
熱カバー(または耐熱ダミー部品)を取り付けた後に、
表面実装を行う例を示したが、耐熱カバー材(または耐
熱ダミー部品)と表面実装部品のチップマウンターによ
る搭載順序はどちらが先でも構わない。
熱カバー(または耐熱ダミー部品)を取り付けた後に、
表面実装を行う例を示したが、耐熱カバー材(または耐
熱ダミー部品)と表面実装部品のチップマウンターによ
る搭載順序はどちらが先でも構わない。
【0039】上述した本実施の形態によれば、表面実装
部品実装後に、ベアチップ部品を実装するので、従来の
ようにベアチップ部品上にCOBスクリーンを覆うこと
により生じるデッドスペースがなくなり、表面実装部品
とベアチップ部品が狭間隔で隣接し、小型化を要する高
密度ベアチップ実装が達成できる。
部品実装後に、ベアチップ部品を実装するので、従来の
ようにベアチップ部品上にCOBスクリーンを覆うこと
により生じるデッドスペースがなくなり、表面実装部品
とベアチップ部品が狭間隔で隣接し、小型化を要する高
密度ベアチップ実装が達成できる。
【0040】また、耐熱カバーを用いることにより、リ
フロー処理時の炉内粉塵やはんだ粒子・フラックスの飛
び散り、また、油脂その他によるプリント配線板上のベ
アチップ接続部の汚れが生じないため、洗浄も行わない
ので工程減となり、後のベアチップ部品の実装の際に接
続不具合を引き起こすことがない。
フロー処理時の炉内粉塵やはんだ粒子・フラックスの飛
び散り、また、油脂その他によるプリント配線板上のベ
アチップ接続部の汚れが生じないため、洗浄も行わない
ので工程減となり、後のベアチップ部品の実装の際に接
続不具合を引き起こすことがない。
【0041】また、ポリイミドテープを用いることによ
り、ポリイミドテープの取り外し時にテープの粘着力で
初期付着のダストを取り除くことができる。
り、ポリイミドテープの取り外し時にテープの粘着力で
初期付着のダストを取り除くことができる。
【0042】また、COBスクリーンを用いないため、
形状にとらわれないベアチップの封止が可能となり、コ
ストダウンを図ることができる。
形状にとらわれないベアチップの封止が可能となり、コ
ストダウンを図ることができる。
【0043】また、ベアチップを搭載した状態でリフロ
ー工程を通過することがなくなるため、従来のようにベ
アチップ部品におけるポップコーン現象も発生せず、吸
湿管理を不要とすることができる。
ー工程を通過することがなくなるため、従来のようにベ
アチップ部品におけるポップコーン現象も発生せず、吸
湿管理を不要とすることができる。
【0044】また、耐熱ベアチップ接続方法と接続材料
の選定、そして熱影響による長期接続の信頼性評価も不
要とすることができ、開発期間の短縮を図ることができ
る。
の選定、そして熱影響による長期接続の信頼性評価も不
要とすることができ、開発期間の短縮を図ることができ
る。
【0045】
【発明の効果】この発明のチップ部品実装方法は、表面
実装部品とベアチップ部品とを混載するプリント配線板
上における高密度のチップ部品実装方法において、表面
実装部品をプリント配線板上に実装した後に、ベアチッ
プ部品をプリント配線板上に実装するので、従来のよう
にベアチップ部品上にCOBスクリーンを覆うことによ
り生じるデッドスペースがなくなり、表面実装部品とベ
アチップ部品が狭間隔で隣接し、小型化を要する高密度
ベアチップ実装を達成することができるという効果を奏
する。
実装部品とベアチップ部品とを混載するプリント配線板
上における高密度のチップ部品実装方法において、表面
実装部品をプリント配線板上に実装した後に、ベアチッ
プ部品をプリント配線板上に実装するので、従来のよう
にベアチップ部品上にCOBスクリーンを覆うことによ
り生じるデッドスペースがなくなり、表面実装部品とベ
アチップ部品が狭間隔で隣接し、小型化を要する高密度
ベアチップ実装を達成することができるという効果を奏
する。
【0046】また、この発明のチップ部品実装方法は、
上述において、表面実装部品をプリント配線板上に実装
する際に、プリント配線板上のベアチップ部品の搭載部
に所定のカバーを付すので、リフロー処理時の油脂その
他によるプリント配線板上のベアチップ接続部の汚れが
生じないため、洗浄も行わないので工程減となり、後の
ベアチップ部品の実装の際に接続不具合を引き起こさな
いようにすることができるという効果を奏する。
上述において、表面実装部品をプリント配線板上に実装
する際に、プリント配線板上のベアチップ部品の搭載部
に所定のカバーを付すので、リフロー処理時の油脂その
他によるプリント配線板上のベアチップ接続部の汚れが
生じないため、洗浄も行わないので工程減となり、後の
ベアチップ部品の実装の際に接続不具合を引き起こさな
いようにすることができるという効果を奏する。
【0047】また、この発明のチップ部品実装方法は、
上述において、カバーは耐熱材料であるので、リフロー
処理時の高温の炉内粉塵や高温のはんだ粒子・フラック
スの飛び散りよるプリント配線板上のベアチップ接続部
の汚れが生じないため、洗浄も行わないので工程減とな
り、後のベアチップ部品の実装の際に接続不具合を引き
起こさないようにすることができるという効果を奏す
る。
上述において、カバーは耐熱材料であるので、リフロー
処理時の高温の炉内粉塵や高温のはんだ粒子・フラック
スの飛び散りよるプリント配線板上のベアチップ接続部
の汚れが生じないため、洗浄も行わないので工程減とな
り、後のベアチップ部品の実装の際に接続不具合を引き
起こさないようにすることができるという効果を奏す
る。
【0048】また、この発明のチップ部品実装方法は、
上述において、カバーは熱硬化型材料であるので、耐熱
硬化型液状マスク材料を印刷工程と同様に印刷し、また
はディスペンサーを用いて塗布し、リフロー工程で耐熱
硬化型液状マスク材料を成膜してカバーを形成すること
ができるという効果を奏する。
上述において、カバーは熱硬化型材料であるので、耐熱
硬化型液状マスク材料を印刷工程と同様に印刷し、また
はディスペンサーを用いて塗布し、リフロー工程で耐熱
硬化型液状マスク材料を成膜してカバーを形成すること
ができるという効果を奏する。
【0049】また、この発明のチップ部品実装方法は、
上述において、カバーは耐熱ダミー部品であるので、表
面実装部品搭載と同様の工程で耐熱ダミー部品の搭載を
行い、カバー工程を簡略化することができるという効果
を奏する。
上述において、カバーは耐熱ダミー部品であるので、表
面実装部品搭載と同様の工程で耐熱ダミー部品の搭載を
行い、カバー工程を簡略化することができるという効果
を奏する。
【図1】本実施の形態のチップ部品実装方法の工程を示
すフローチャートである。
すフローチャートである。
【図2】本実施の形態の主要工程の説明図であり、図2
Aはポリイミドテープ貼付工程、図2Bははんだ印刷工
程、図2Cは表面実装部品搭載・リフロー工程、図2D
はポリイミドテープ取り外し工程、図2Eはベアチップ
実装工程である。
Aはポリイミドテープ貼付工程、図2Bははんだ印刷工
程、図2Cは表面実装部品搭載・リフロー工程、図2D
はポリイミドテープ取り外し工程、図2Eはベアチップ
実装工程である。
【図3】従来のチップ部品実装方法の工程を示すフロー
チャートである。
チャートである。
【図4】COBスクリーンの断面を示す図である。
【図5】ベアチップ接続方式を示す図であり、図5Aは
ワイヤボンディング方式、図5BはTAB方式、図5C
はFC方式である。
ワイヤボンディング方式、図5BはTAB方式、図5C
はFC方式である。
7……プリント配線板、8……ベアチップ搭載部、9…
…ポリイミドテープ、15……ベアチップ、
…ポリイミドテープ、15……ベアチップ、
フロントページの続き (72)発明者 佐々木 大 埼玉県坂戸市塚越1300番地 ソニーボンソ ン株式会社内 (72)発明者 川野 陽介 埼玉県坂戸市塚越1300番地 ソニーボンソ ン株式会社内 (72)発明者 大津 伸一 埼玉県坂戸市塚越1300番地 ソニーボンソ ン株式会社内 (72)発明者 奥冨 一弥 埼玉県坂戸市塚越1300番地 ソニーボンソ ン株式会社内 (72)発明者 栗田 守 埼玉県坂戸市塚越1300番地 ソニーボンソ ン株式会社内 Fターム(参考) 5E319 AB05 BB05 CD29 5E336 AA04 BB01 CC55 EE03 5F044 LL00
Claims (5)
- 【請求項1】 表面実装部品とベアチップ部品とを混載
するプリント配線板上における高密度のチップ部品実装
方法において、 上記表面実装部品を上記プリント配線板上に実装した後
に、上記ベアチップ部品を上記プリント配線板上に実装
することを特徴とするチップ部品実装方法。 - 【請求項2】 請求項1記載のチップ部品実装方法にお
いて、 上記表面実装部品を上記プリント配線板上に実装する際
に、上記プリント配線板上の上記ベアチップ部品の搭載
部に所定のカバーを付すことを特徴とするチップ部品実
装方法。 - 【請求項3】 請求項2記載のチップ部品実装方法にお
いて、 上記カバーは耐熱材料であることを特徴とするチップ部
品実装方法。 - 【請求項4】 請求項2記載のチップ部品実装方法にお
いて、 上記カバーは熱硬化型材料であることを特徴とするチッ
プ部品実装方法。 - 【請求項5】 請求項2記載のチップ部品実装方法にお
いて、 上記カバーは耐熱ダミー部品であることを特徴とするチ
ップ部品実装方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000049654A JP2001244598A (ja) | 2000-02-25 | 2000-02-25 | チップ部品実装方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000049654A JP2001244598A (ja) | 2000-02-25 | 2000-02-25 | チップ部品実装方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001244598A true JP2001244598A (ja) | 2001-09-07 |
Family
ID=18571559
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000049654A Pending JP2001244598A (ja) | 2000-02-25 | 2000-02-25 | チップ部品実装方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001244598A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007081881A (ja) * | 2005-09-14 | 2007-03-29 | Nitto Denko Corp | 通音膜、通音膜付き電子部品及びその電子部品を実装した回路基板の製造方法 |
-
2000
- 2000-02-25 JP JP2000049654A patent/JP2001244598A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007081881A (ja) * | 2005-09-14 | 2007-03-29 | Nitto Denko Corp | 通音膜、通音膜付き電子部品及びその電子部品を実装した回路基板の製造方法 |
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