JP2001236649A - ディスク装置 - Google Patents

ディスク装置

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JP2001236649A
JP2001236649A JP2000045749A JP2000045749A JP2001236649A JP 2001236649 A JP2001236649 A JP 2001236649A JP 2000045749 A JP2000045749 A JP 2000045749A JP 2000045749 A JP2000045749 A JP 2000045749A JP 2001236649 A JP2001236649 A JP 2001236649A
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laser power
temperature
laser
gain
signal
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JP2000045749A
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Koichi Tada
浩一 多田
Shunei Hamaguchi
俊英 浜口
Shiyuumei Yano
秀盟 矢野
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Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
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    • G11INFORMATION STORAGE
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    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/125Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
    • G11B7/126Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/08Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
    • G11B7/09Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
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  • Optics & Photonics (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【構成】 光ピックアップ12の近傍に配置した温度セ
ンサ24によって、光ピックアップ12の周辺の温度を
検出し、検出された温度に応じたレーザパワーの値およ
びゲインの値をROM36に記録されたテーブル48か
ら取得して、レーザパワーの値をレーザドライブ50に
設定するとともに、トラッキングアクチュエータ信号お
よびフォーカスアクチュエータ信号にゲインを付加す
る。なお、温度が高いときには小さいレーザパワーが設
定され、低いときには大きいレーザパワーが設定され
る。 【効果】 光ピックアップ12の周辺温度が変化して
も、安定した動作を継続することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、光ディスク装置に関
し、特にたとえば、光ディスクの記録面にレーザ光を照
射して信号を記録/再生する、光ディスク装置に関す
る。
【0002】
【背景技術】この種の光ディスク装置では、光磁気ディ
スクへの画像信号の記録に光ピックアップを用いてい
る。光ピックアップの周辺温度が高温になった環境で動
作を続けると、半導体レーザの寿命が短くなる。この短
命化を防止するために、周辺温度が高くなるほど半導体
レーザから出力するレーザ光のレーザパワーを低くして
いる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】レーザパワーが低下す
ると、サーボ系の制御信号の出力も低くなってサーボ系
の動作が不安定になる。その結果、リード/ライト時に
リードエラーおよびライトエラーが頻繁に発生するとい
う問題があった。
【0004】それゆえに、この発明の主たる目的は、光
ピックアップの周辺温度が高温になっても安定して動作
させることができる、光ディスク装置を提供することで
ある。
【0005】
【課題を解決するための手段】この発明は、半導体レー
ザから出力されたレーザ光を、光学レンズを通して光デ
ィスクの記録面に照射する光ディスク装置において、半
導体レーザの周辺温度を検出する検出手段、検出手段に
よって検出された周辺温度が高くなるにつれて半導体レ
ーザのレーザパワー値を低減させるレーザパワー低減手
段、レーザ光の記録面における反射光に基づいてサーボ
制御信号を生成する生成手段、サーボ制御信号に応答し
て光学レンズを変位させる変位手段、複数の温度値と温
度値が高くなるにつれて大きくなるサーボ制御ゲインと
が互いに関連付けられて格納されたゲインテーブル、検
出手段によって検出された周辺温度に対応するサーボ制
御ゲインをゲインテーブルから読み出すサーボ制御ゲイ
ン読み出し手段、およびサーボ制御ゲイン読み出し手段
によって読み出されたサーボ制御ゲインを生成手段に設
定するサーボ制御ゲイン設定手段を備えることを特徴と
する、ディスク装置である。
【0006】
【作用】この発明においては、半導体レーザの周辺温度
の変化に応じて、半導体レーザから出力するレーザ光の
レーザパワーおよびサーボ制御信号に付加するサーボ制
御ゲインを変更する。まず検出手段が半導体レーザの周
辺温度を検出する。レーザパワー低減手段は、検出手段
によって検出された周辺温度が高ければ半導体レーザの
レーザパワーを低減させて、半導体レーザの温度がさら
に上昇することを防ぐ。ゲインテーブルには、複数の温
度値とこの温度値に対応するサーボ制御ゲインとが関連
付けて格納されており、高い温度値ほど大きいサーボ制
御ゲインが対応する。サーボ制御ゲイン読み出し手段
は、検出手段によって検出された周辺温度に対応するサ
ーボ制御ゲインをゲインテーブルから読み出し、サーボ
ゲイン設定手段は、読み出されたサーボ制御ゲインを生
成手段に設定する。生成手段は、サーボ制御信号を生成
し、さらに設定されたサーボ制御ゲインをサーボ制御信
号に付加して出力する。生成手段が出力するサーボ制御
信号に応答して、変位手段が光学レンズの位置を変位さ
せる。これにより、周辺温度が上昇したときに半導体レ
ーザのレーザパワーを低下させても、その低下されたレ
ーザパワーに最適なサーボ制御信号が生成され、このサ
ーボ制御信号に応答して光学レンズの位置が制御され
る。したがって、半導体レーザの周辺温度が上昇しても
安定して動作させることができる。
【0007】この発明の他の好ましい実施例では、サー
ボゲイン信号は、光学レンズのフォーカス制御を行うた
めのフォーカス制御信号およびトラッキング制御を行う
ためのトラッキング信号を含み、さらに、ゲインテーブ
ルには、複数の温度値と温度値が高くなるにつれて大き
くなるフォーカス制御信号およびトラッキング制御信号
が格納される。したがって、半導体レーザの周辺温度が
高温になるなど変化しても、光学レンズのフォーカス制
御およびトラッキング制御を安定して行うことができ
る。
【0008】この発明の他の好ましい実施例では、半導
体レーザに設定するレーザパワー値を予め設けたテーブ
ルを参照して決定する。つまり、まず複数の温度値とこ
の温度値に対応するレーザパワー値とを関連付けて格納
したレーザパワー値テーブルを準備する。複数の温度値
のそれぞれは、サーボゲインテーブルが有する温度値の
それぞれに等しい。また、レーザパワー値は、対応する
温度値が高くなるにつれて小さくなる。レーザパワー値
読み出し手段が、周辺温度に対応するレーザパワー値を
レーザパワー値テーブルから読み出す。レーザパワー低
減手段が、半導体レーザのレーザパワーをレーザパワー
値読み出し手段によって読み出されたレーザパワー値に
変更する。このように、変更するレーザパワー値を温度
値に対応させてテーブルに保持し、このテーブルに基づ
いてレーザパワー値を決定するので、レーザパワーの温
度特性をシフト補正してレーザパワー値を決定する場合
などと異なり、所定の温度値における最適なレーザパワ
ー値を設定することができる。また、レーザパワー値に
対応する温度の値および数が、サーボ制御ゲインに対応
する温度の数および値と等しいので、レーザパワー値に
対して最適なサーボ制御ゲインを正確かつ迅速に決定す
ることができる。したがって、周辺温度が変化しても適
切にフォーカス制御およびトラッキング制御を行って、
安定してディスク装置を動作させることができる。
【0009】
【発明の効果】この発明によれば、半導体レーザの周辺
温度に応じて半導体レーザが出力するレーザ光のレーザ
パワー値を変更して半導体レーザの温度上昇を防止し、
さらに変化した周辺温度、つまり変化したレーザパワー
値に最適なサーボ制御ゲインをサーボ制御信号に付加す
る。したがって、半導体レーザの周辺温度が上昇して
も、適切なサーボ制御を行って光ディスク装置を安定し
て動作させることができる。
【0010】この発明の上述の目的、その他の目的、特
徴および利点は、図面を参照して行う以下の実施例の詳
細な説明から一層明らかとなろう。
【0011】
【実施例】図1を参照して、この実施例のディスク装置
10は、光ピックアップ12を含む。光ピックアップ1
2は、スレッドモータ38とラックギアおよびピニオン
ギアで連結され、これらのギヤが駆動されることによっ
て光ディスク60の径方向に移動される。なお、スレッ
ドモータ38は、DSP(Digital Signal Processor)
32からPWM(パルス幅変調)ドライバ42aを通し
て与えられるスレッド制御信号によって制御される。光
ピックアップ12は、光学レンズ(対物レンズ)16を
含み、対物レンズ16はトラッキングアクチュエータ1
4およびフォーカスアクチュエータ18によって支持さ
れる。光学レンズ16の光軸方向における位置は、フォ
ーカスアクチュエータ14によって制御され、光ディス
ク60の径方向における光学レンズ16の位置は、トラ
ッキングアクチュエータによって制御される。なお、ト
ラッキングアクチュエータ14およびフォーカスアクチ
ュエータ18は、DSP32からPWMドライバ42b
およびPWMドライバ42cを通して与えられるトラッ
キングアクチュエータ信号およびフォーカスアクチュエ
ータ信号に応じて動作する。
【0012】光ピックアップ12の内部に設けられたレ
ーザダイオード(半導体レーザ)20から発振されたレ
ーザ光は、対物レンズ14で収束されて光ディスク60
の記録/再生面に照射される。これによって、所望の信
号が光ディスク60に書き込まれ、また所望の信号が光
ディスク60から再生される。
【0013】光ディスクの記録/再生面で反射したレー
ザ光(反射光)は、同じ対物レンズ16を通過して光検
出器22に入射される。光検出器22から出力されるセ
ンサ信号は、サーボアンプ26を通してTE信号検出回
路28およびFE信号検出回路30にそれぞれ入力され
る。TE信号検出回路28ではTE信号(トラッキング
エラー信号)が、FE信号検出回路30ではFE信号
(フォーカスエラー信号)がそれぞれ検出される。TE
信号検出回路28およびFE信号検出回路30でそれぞ
れ検出されたTE信号およびFE信号は、DSP32に
設けられたA/D変換器40aおよびA/D変換器40
bにそれぞれ与えられる。
【0014】光ディスク60は、ターンテーブル44の
上に搭載されており、ターンテーブル44は、シャフト
42を介してスピンドルモータ40に連結される。スピ
ンドルモータ40は、DSP32からPWMドライバ4
2dを通して与えられるモータ制御信号によって回転す
る。スピンドルモータ40が回転すると、その回転がシ
ャフト42を介してターンテーブル44に伝わり、ター
ンテーブル44がつまり光ディスク60が回転する。ま
た、スピンドルモータ40は、回転数に関連するFGパ
ルスを発生し、このFGパルスがDSP32のA/D変
換器40cに与えられる。
【0015】このようにして、A/D変換器40a、4
0b、40cに与えられたTE信号、FE信号およびF
G信号は、ディジタル信号に変換された後に、DSPコ
ア32aに与えられる。DSPコア32aは、TE信号
に基づいてトラッキングサーボ処理を実行し、FE信号
に基づいてフォーカスサーボ処理を実行し、さらにFG
信号に基づいてスピンドルサーボ処理を実行する。
【0016】トラッキングサーボ処理によってスレッド
制御信号およびトラッキングアクチュエータ制御信号が
生成される。スレッド制御信号およびトラッキングアク
チュエータ制御信号は、PWMドライバ42aおよび4
2bによってPWM信号に変換されて、スレッドモータ
38およびトラッキングアクチュエータ14に与えられ
る。また、フォーカスサーボ処理によって生成されたフ
ォーカスアクチュエータ制御信号が、PWMドライバ4
2bでPWM信号に変換され、フォーカスアクチュエー
タ18に与えられる。さらに、スピンドルサーボ処理に
よってスピンドルサーボモータ制御信号が生成され、P
WMドライバ42dでPWM信号に変換されて、スピン
ドルモータ40に与えられる。
【0017】このように、TE信号検出回路28、DS
P32、トラッキングアクチュエータ14およびスレッ
ドモータ38によってトラッキングサーボ系が形成され
る。このトラッキングサーボ系が、TE信号に基づいて
光学レンズ16のトラッキングを適切に制御する。ま
た、FE信号検出回路30、DSP32、フォーカスア
クチュエータ18によってフォーカスサーボ系が形成さ
れる。このフォーカスサーボ系が、FE信号に基づいて
光学レンズ16のフォーカスを適切に制御する。さら
に、スピンドルモータ40およびDSP28によってス
ピンドルサーボ系が形成され、FG信号に基づいてスピ
ンドルモータ40つまり光ディスク38の回転が適切に
制御される。この結果、レーザダイオード20から発振
されたレーザ光が光ディスク60の記録/再生面の所望
の位置に照射され、このことにより、所望の信号が光デ
ィスク60に適切に記録され、また再生される。
【0018】光ディスク60に対する情報の記録/再生
が適切に行われるのは、トラッキングサーボ系、フォー
カスサーボ系およびスピンドルサーボ系の働きによる。
しかし、トラッキングサーボ系およびフォーカスサーボ
系は、レーザ光の反射光から得られるTE信号およびF
E信号に基づいて制御を行う。したがって、光ディスク
装置10の動作の安定性は、レーザダイオード20から
発振されるレーザ光の安定性にかかっている。
【0019】レーザダイオード20は、高温状態でレー
ザ光の発振を継続すると寿命が短くなる。そのため、レ
ーザダイオード20の周辺温度が高温になると、発振す
るレーザ光のレーザパワー値を低くして、さらに温度が
上昇することを防ぐ必要がある。しかし、上述のよう
に、レーザ光が周辺温度によって変化したのではトラッ
キングサーボ処理およびフォーカスサーボ処理が不安定
になり、光ディスク装置10の動作が安定しない。
【0020】そこで、この実施例では、変化するレーザ
ダイオード20の周辺温度に応じて、発振するレーザ光
のレーザパワー値を変更し、さらに変化した周辺温度に
おいて、すなわち変更したレーザパワー値において適切
にフォーカスサーボ処理およびトラッキングサーボ処理
を行うことができるゲイン(Gain)をフォーカス制御信
号およびトラッキング制御信号に付加する。
【0021】図1に示すように、光ピックアップ12の
周辺に温度センサ24を配置する。温度センサ24は、
検知した温度に応じた温度信号を発生させてマイコン3
4に与える。図示の便宜上、図1では光ピックアップ1
2の外側に温度センサ24を示しているが、実際には、
温度センサ24は、ローディング機構、ピックアップの
送り機構、ピックアップ機構および回転機構などのドラ
イブメカ系(図示せず)とともに、所定の部材によって
密封されている。したがって、温度センサ24は、ドラ
イブメカ系が密封されている室内の温度に応じた温度信
号を発生させてマイコン34に与える。マイコン34で
は、温度信号に基づいて温度を検出する。一方、マイコ
ン34から読み取り可能なROM36には、マイコン3
4で検出される温度と、レーザパワー値、フォーカスサ
ーボ系のゲインおよびトラッキングサーボ系のゲインの
それぞれとを対応付けたテーブル48が格納されてい
る。このテーブル48の詳細については後述する。マイ
コン34は、検出した温度の値をキーとしてテーブル4
8を参照し、当該温度に対応するレーザパワー値、フォ
ーカスサーボ系のゲインおよびトラッキングサーボ系の
ゲインのそれぞれを決定して、これらの値をDSP32
に与える。
【0022】レーザダイオード20から発振されるレー
ザ光は、情報の記録時と再生時とで大きく異なる。その
ため、温度に応じたレーザパワーの値が、再生レーザ用
と記録レーザ用とのそれぞれ必要になる。また、レーザ
ダイオード20の温度は、レーザパワーが大きくなるほ
ど、高くなる。したがって、レーザダイオード20の温
度上昇を抑制するために、温度が高くなるに連れてレー
ザパワーを小さくする。温度と再生レーザパワーおよび
記録レーザパワーとの関係の1例として、図2(A)お
よび(B)に示すような関係が採用できる。再生レーザ
パワーと記録レーザパワーとでは、パワーの範囲が異な
るが、どちらも温度が上昇するにしたがって、レーザパ
ワーが徐々に小さくなっている。これらのグラフから、
温度に対するレーザパワーの値をサンプリングしたもの
が、図3に示すテーブル48の再生レーザパワーリスト
48bおよび記録レーザパワーリスト48cである。こ
の実施例では、サンプリングの数を5としているが、こ
の数は必要に応じて変更してもよい。
【0023】通常温度(たとえば22度)において、つ
まり標準の記録/再生レーザパワーに対しては、フォー
カスサーボ系およびトラッキングサーボ系は図4に実線
Aで示す応答特性を有している。
【0024】図2(A)および(B)に示したように、
温度が高くなると、レーザパワーを低くする。レーザパ
ワーが低くなると、TE信号検出回路28およびFE信
号検出回路30から出力されるTE信号およびFE信号
の出力も低くなる。したがって、標準の記録/再生レー
ザパワーにおけるのと同じトラッキングアクチュエータ
信号およびフォーカスアクチュエータ信号の出力を確保
するために、トラッキングサーボ系およびフォーカスサ
ーボ系のゲインを上げる。ゲインを上げると、図4に実
線Bで示すように応答特性は高周波帯域に広がる。一
方、温度が低くなると、レーザパワーを高くするのでT
E信号およびFE信号の出力も高くなる。したがって、
今度は、トラッキングアクチュエータ信号およびフォー
カスアクチュエータ信号の出力を抑えるために、トラッ
キングサーボ系およびフォーカスサーボ系のゲインを下
げる。ゲインを下げると、図4に実線Cで示すように応
答特性は低周波帯域に狭まる。このような考えに基づい
て、変化する温度に対応させたゲインの値を、記録/再
生レーザパワーの変更値の数だけ用意したものが、テー
ブル48のゲインリスト48dである。
【0025】この実施例における、マイコン34の処理
動作を、図5のフロー図を用いて説明する。マイコン3
4は、その処理動作の中で、図5のフロー図の処理を定
期的に繰り返し実行する。まず、ステップS1におい
て、マイコン34は、温度センサ24が発信する温度信
号を取り込み、光ピックアップ12周辺の温度を検出す
る。つぎに、ステップS3においてマイコン34は、検
出した温度をテーブル48の温度リスト48aの各温度
と値が小さい順に比較し、検出した温度より高くて最も
低い温度を求め、これを光ピックアップ12周辺の温度
に決定する。
【0026】基準となる周辺温度が決定すると、マイコ
ン34は、ステップS5において、テーブル48の決定
した周辺温度に対応する再生レーザパワーの値を再生レ
ーザパワーリストから取得する。また、ステップS7に
おいて、周辺温度に対応する記録レーザパワーの値を記
録レーザパワーリストから取得し、さらに、ステップS
9において、ゲインリストから周辺温度に対応するゲイ
ンの値を取得する。ステップS11では、マイコン34
が、取得した再生レーザパワーの値、記録レーザパワー
の値およびゲインの値をDSP32に出力する。
【0027】つぎに、この実施例における、DSP32
の処理動作を、図6のフロー図を用いて説明する。ま
ず、ステップS21において、DSP32は、マイコン
34から再生レーザパワーの値、記録レーザパワーの値
およびゲインの値を取得する。マイコン34からのデー
タを取得すると、DSP32はステップS23におい
て、光ディスク装置10が再生モードであるか否かを判
断する。再生モードであると判断すると、ステップS2
5で、マイコン34から取得した再生レーザパワーの値
をレーザドライブ50に設定し、再生モードでないと判
断するとステップS27で記録レーザパワーの値をレー
ザドライブ50に設定する。レーザパワーの設定を終え
ると、DSP32はステップS29において、マイコン
34から得たゲインをフォーカスアクチュエータ信号に
付与し、フォーカスアクチュエータ18に出力する。ま
た、ステップS31において、ゲインをトラッキングア
クチュエータ信号に付与し、フォーカスアクチュエータ
14に出力する。
【0028】レーザドライブ50は、レーザダイオード
20を駆動して設定されたパワーのレーザ光を発信させ
る。また、光ピックアップ12の光学レンズ16は、ゲ
インが付与されたトラッキングアクチュエータ信号およ
びフォーカスアクチュエータ信号に基づいて、トラッキ
ング位置およびフォーカス位置が調整される。
【0029】このように、この実施例の光ディスク装置
では、変化するレーザダイオード20の周辺温度に応じ
て発振するレーザ光のレーザパワー値を変更する。さら
に、変更したレーザパワー値において適切にフォーカス
サーボ制御およびトラッキングサーボ制御を行うことが
できる最適なゲインを決定し、このゲインをフォーカス
制御信号およびトラッキング制御信号に付加する。した
がって、レーザダイオード20の周辺温度の温度変化に
かかわらず、適切に光学レンズ16のフォーカス制御お
よびトラッキング制御を行って、安定した動作をさせる
ことができる。
【0030】なお、この実施例は、上述の例に限るもの
ではなく、種々に変更して実施してもよい。たとえば、
上述の例ではアクチュエータ系をDSPで実現したが、
これに代えて、フィルタおよびドライバによって構成し
てもよい。
【0031】また、テーブル48には、5度、10度、
22度、40度、60度の5つの温度に対応する再生レ
ーザパワーの値、記録レーザパワーの値およびゲインの
値を格納したが、設定する温度の数および値はこれらに
限らず、実施例に応じて変更することができる。
【0032】さらに、上述の実施例では、テーブルを1
つとしたが、再生レーザパワーの値、記録レーザパワー
の値およびゲインの値ごとにテーブルを用意し、それぞ
れのテーブルごとに格納する要素の数を変えることもで
きる。
【0033】また、トラッキングアクチュエータ信号に
付加するゲインの値とフォーカスアクチュエータ信号に
付加するゲインの値とを共通としたが、それぞれ異なる
値のゲインを付加するようにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例を示すブロック図である。
【図2】温度変化に対するレーザパワーの変化を示す図
解図で、(A)は再生レーザパワーの変化を示すグラフ
で、(B)は記録レーザパワーの変化を示すグラフであ
る。
【図3】温度と再生レーザパワー、記録レーザパワーお
よびゲインを対応づけたテーブルを示す図解図である。
【図4】温度変化に対するトラッキングサーボ系および
フォーカスサーボ系の応答特性の変更を示す図解図であ
る。
【図5】図1実施例の動作の一部を示す図解図である。
【図6】図1実施例の動作の他の一部を示す図解図であ
る。
【符号の説明】 10 …光ディスク装置 24 …温度センサ 14 …トラッキングアクチュエータ 16 …光学レンズ 18 …フォーカスアクチュエータ 20 …レーザダイオード 32 …DSP(Digital Signal Processor) 34 …マイコン 36 …ROM 48 …テーブル 50 …レーザドライブ 60 …光磁気ディスク
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 矢野 秀盟 大阪府守口市京阪本通2丁目5番5号 三 洋電機株式会社内 Fターム(参考) 5D090 AA01 CC16 DD03 DD05 FF02 FF05 FF10 HH01 JJ03 KK03 LL08 5D118 AA13 BA01 CA02 CA11 CA13 CB01 CC12 CD02 CD03 5D119 AA33 AA43 BA01 DA01 DA05 FA05 FA31 HA36

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】半導体レーザから出力されたレーザ光を、
    光学レンズを通して光ディスクの記録面に照射する光デ
    ィスク装置において、 前記半導体レーザの周辺温度を検出する検出手段、 前記検出手段によって検出された前記周辺温度が高くな
    るにつれて前記半導体レーザのレーザパワー値を低減さ
    せるレーザパワー低減手段、 前記レーザ光の前記記録面における反射光に基づいてサ
    ーボ制御信号を生成する生成手段、 前記サーボ制御信号に応答して前記光学レンズを変位さ
    せる変位手段、 複数の温度値と前記温度値が高くなるにつれて大きくな
    るサーボ制御ゲインとが互いに関連付けられて格納され
    たゲインテーブル、 前記検出手段によって検出された前記周辺温度に対応す
    るサーボ制御ゲインを前記ゲインテーブルから読み出す
    サーボ制御ゲイン読み出し手段、および前記サーボ制御
    ゲイン読み出し手段によって読み出された前記サーボ制
    御ゲインを前記生成手段に設定するサーボ制御ゲイン設
    定手段を備えることを特徴とする、ディスク装置。
  2. 【請求項2】前記サーボ制御信号は、フォーカス制御信
    号およびトラッキング制御信号を含み、および前記ゲイ
    ンテーブルに格納される前記サーボ制御ゲインは、フォ
    ーカス制御ゲインおよびトラッキング制御ゲインを含
    む、請求項1記載のディスク装置。
  3. 【請求項3】前記複数の温度値と前記温度値が高くなる
    につれて減少する複数のレーザパワー値とが互いに関連
    付けられたレーザパワー値テーブル、および前記検出手
    段によって検出された前記周辺温度に対応するレーザパ
    ワー値を前記レーザパワー値テーブルから読み出すレー
    ザパワー値読み出し手段をさらに備え、 前記レーザパワー低減手段は、前記レーザパワー値読み
    出し手段によって読み出された前記レーザパワー値を前
    記半導体レーザのレーザパワー値とする、請求項1また
    は2記載のディスク装置。
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