JP2001231775A - X線ct装置 - Google Patents
X線ct装置Info
- Publication number
- JP2001231775A JP2001231775A JP2000048650A JP2000048650A JP2001231775A JP 2001231775 A JP2001231775 A JP 2001231775A JP 2000048650 A JP2000048650 A JP 2000048650A JP 2000048650 A JP2000048650 A JP 2000048650A JP 2001231775 A JP2001231775 A JP 2001231775A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- value
- ray
- time
- ray tube
- parameter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims abstract description 12
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 abstract 4
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 20
- 238000000034 method Methods 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 7
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 6
- 230000006870 function Effects 0.000 description 5
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 4
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 206010017472 Fumbling Diseases 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000002601 radiography Methods 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
Landscapes
- X-Ray Techniques (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
能限界条件を容易に把握できることを課題とする。 【解決手段】 X線CT装置において、X線管の曝射パ
ラメータによる回転陽極の蓄積熱量上昇特性及びその冷
却特性に基づき該X線管の実駆動/停止に同期してその
陽極蓄積熱量値Qtを時々刻々と求める現蓄積熱量演算
手段51と、現蓄積熱量演算手段51により求められた
現時点taにおける陽極蓄積熱量値Qtと次回予定の曝
射パラメータとを使用して現時点taで曝射開始した場
合における仮想の蓄積熱量到達値Qcを求める次回蓄積
熱量予測手段52と、前記仮想の蓄積熱量到達値Qcが
X線管の許容熱量上限値Qlmを超えることにより、次
回の蓄積熱量到達値QcがX線管の許容熱量上限値Ql
mを超えないための代替の曝射パラメータPs/Ts/
Fs/Rsを求める代替パラメータ演算手段53とを備
える。
Description
し、更に詳しくは被検体を挟んで相対向する回転陽極型
のX線管及びX線検出器を備え、該X線検出器から収集
した投影データに基づき被検体のCT断層像を再構成す
るX線CT装置に関する。
X線管が広く用いられているが、X線を連続して曝射す
ると回転陽極に高い熱が蓄積されるため、陽極蓄積熱量
を許容値以下に保つことがX線管の長寿命化の観点から
望ましい。
説明する図で、一部に断面図を示している。図におい
て、11は回転陽極型のX線管、61は管内を真空に保
つ外囲器、62はフィラメント、63は集束電極、64
は陰極スリーブ、65は傘状のタングステン円板等から
なるターゲット、66はX線の発生源である焦点、67
はターゲット65を回転支持する回転陽極子、68は回
転陽極子67を軸支するベアリング、69はX線管の陽
極側を支持する陽極軸である。なお、回転陽極子67は
外囲器61の周囲に設けられた不図示のステータから加
わる磁界(回転磁界等)により高速で回転する。またこ
の様なX線管11の周囲をアルミ製等のハウジング70
で覆い、この中に外部から冷却油を循環させてX線管1
1を強制冷却することが行われる。
した熱電子を高圧にて加速・集束してターゲット65上
の小さな焦点66に衝突させ、X線を発生する。しかる
に、一般にX線への変換効率は数%以下と低く、このた
めエネルギーの大半は熱に変換され、焦点66には高い
熱が発生する。そこで、回転陽極子67(ターゲット6
5)を陽極軸69の回りに高速(130〜160Hz程
度)で回転させ、これにより焦点66の実効面積を拡大
し、所要のX線出力を得ている。しかし、このような回
転陽極型のX線管11でも連続して曝射するとターゲッ
ト65に高い熱が蓄積され、X線管11の故障や破損に
つながるため、このような状況を回避できる手段が求め
られる。
きX線管11の仮想陽極蓄積熱量上昇値を求めると共
に、これが許容熱量上限値を超えると予測される場合に
は、撮影不許可(ロック)の旨及び撮影許可までの待ち
時間を表示するX線装置が知られている(特開平10−
335092号)。以下に、その内容を概説する。
示す図である。X線管11の陽極蓄積熱量Stは曝射時
間tと共に上昇し、その上昇の程度は入力電力P(管電
圧kV×管電流mA)等に略比例する。また、Qlmは
X線管11の許容最大蓄積熱量値、Ctは許容最大蓄積
熱量値Qlmからの冷却特性を示している。
11に対する曝射パラメータ(管電圧,管電流,焦点サ
イズ,陽極回転速度等)とその冷却特性Ctとに基づき
近似演算可能であり、X線管11の実駆動/停止に同期
して現時点の陽極蓄積熱量値Stを時々刻々と演算す
る。その際には、熱量計算に影響を与える各種パラメー
タにつき補正関数{陽極入力電力Pに依存する補正関数
K(p),曝射継続時間Tに依存する補正関数L
(T),X線焦点サイズfに依存する補正関数M
(f),陽極回転速度値rに依存する補正関数N(r)
等}による補正を行なって演算の正確を期する。
の陽極入力電力値P及びX線曝射継続時間値Tに基づき
次回予定の陽極入力熱量値Qsnを予測演算する。これ
を現時点の陽極蓄積熱量値Qt(=St)に加え、次回
予定の陽極蓄積熱量到達値Qsを求める。そして、Qs
<Qlmか否かに応じて次回予定の撮影を許可/不許可
とすると共に、冷却曲線Ctを利用して次回の撮影が可
能(Qs<Qlm)になるまでの待ち時間を画面に表示
する。以下、一例の動作を具体的に説明する。
を説明する図である。今、時刻taに図のA点の状況に
なったとすると、このときの陽極蓄積熱量値=Qaであ
る。次回予定の曝射パラメータが陽極入力電力P=P
0,X線曝射継続時間T=Tacとすると、次回予定の陽
極入力熱量値Qsnを演算した結果、曝射時間Tacの
経過後にはC1点に到達することが分かる。この時の陽
極蓄積熱量到達値Qs=Qc1となる。この場合は、Q
c1>Qlmであるため、次回のX線曝射は不許可(ロ
ック)とされる。
したB点に移行すれば、その時点の陽極蓄積熱量値Qt
=Qbに減少するため、そこから次回曝射を行った場合
における曝射時間Tbc(=Tac)の経過後のQc2
は丁度Qlmと等しくなり、よってこの時点からであれ
ば次回の曝射が可能となる。そこで、演算により待ち時
間Tabを求め、表示装置に表示する。また、この待ち
時間が0となれば、自動的に次の曝射を開始することも
可能である。
く使用者に単に撮影の許可/不許可やその待ち時間を知
らせる方式であると、例えば次回予定の条件による撮影
は不許可でも、他の撮影条件であれば可能であるとこ
ろ、どのような撮影条件であれば可能であるかを容易に
判断できなかった。例えば、急患の搬入により急いでX
線断層像を取得したい場合に、従来は、その撮影条件
(画像50枚等)が合致しなければ撮影不許可であると
して、撮影不許可の旨及びその待ち時間が表示されるの
みであった。しかし、この場合でも、もし画像を30枚
に減らせば直ちに撮影できるところ、従来の操作者はこ
のような撮影可能限界条件を容易には把握できなかっ
た。
(曝射時間)を変更する方法もあるが、操作者はその時
点における可能限界条件(撮影可能限界画像枚数)を知
らないために、その設定変更は手探りで行わなければな
らず、例えば45枚をセットして不許可、次に40枚を
セットして不許可となっていた。また場合によってはい
きなり20枚をセットして許可となっていた。後者の場
合は撮影可能限界条件より10枚も下回っており、X線
装置の有効利用とは言えない。また上記のような試し操
作を繰り返す作業は非常に煩雑であり、迅速な診断とい
う観点からは問題があった。
の変更は比較的簡単であるが、陽極蓄積熱量に影響を与
える曝射パラメータには他の要素(電力,焦点サイズ,
回転速度等)も存在しており、しかも、このうちの電力
や焦点サイズは画質にも影響があるため、これらの各要
素又はそれらの組み合わせについての可能限界条件を手
探りで探すことは極めて困難であった。
れたもので、その目的とする所は、X線管を曝射可能な
可能限界条件を容易に把握できるX線CT装置を提供す
ることにある。
の構成により解決される。即ち、本発明(1)のX線C
T装置は、被検体を挟んで相対向する回転陽極型のX線
管及びX線検出器を備え、該X線検出器から収集した投
影データに基づき被検体のCT断層像を再構成するX線
CT装置において、X線管の曝射パラメータによる回転
陽極の蓄積熱量上昇特性及びその冷却特性に基づき該X
線管の実駆動/停止に同期してその陽極蓄積熱量値Qt
を時々刻々と求める現蓄積熱量演算手段51と、前記現
蓄積熱量演算手段51により求められた現時点taにお
ける陽極蓄積熱量値Qtと次回予定の曝射パラメータと
を使用して前記現時点taで曝射開始した場合における
仮想の蓄積熱量到達値Qcを求める次回蓄積熱量予測手
段52と、前記仮想の蓄積熱量到達値QcがX線管の許
容熱量上限値Qlmを超えることにより、次回の蓄積熱
量到達値QcがX線管の許容熱量上限値Qlmを超えな
いための代替の曝射パラメータPs/Ts/Fs/Rs
を求める代替パラメータ演算手段53とを備えるもので
ある。
算手段53は、次回予定の仮想の蓄積熱量到達値Qcが
X線管の許容熱量上限値Qlmを超えることにより、次
回の蓄積熱量到達値QcがX線管の許容熱量上限値Ql
mを超えないための代替の曝射パラメータ(Ps/Ts
/Fs/Rs等)を求める構成により、結果として操作
者は次回の撮影可能限界条件を容易に把握でき、次善策
を簡単に組み立てられる。従って、このようなX線CT
装置を有効(待ち時間なし等)に活用できる。
本発明(1)において、代替パラメータ演算手段53
は、次回予定の曝射パラメータのうちの何れか一つのパ
ラメータを未知数となし、かつその残りの曝射パラメー
タをそのまま採用してX線管の許容熱量上限値Qlmに
至るまでを満足させるための前記未知数を求める。例え
ば、曝射時間パラメータTsを未知数Xとなし、かつそ
の残りの曝射パラメータ(電力Ps,焦点サイズFs,
回転速度Rs)を次回予定のまま採用してX線管の許容
熱量上限値Qlmに至るまでを満足させるための前記未
知数Xを求める。これにより、次回予定の撮影条件下で
は例えば30枚分を撮影可能であることが容易に把握で
きる。
点サイズFs又は回転速度Rs)を未知数Xとできる。
その際には、全ての曝射パラメータを順に未知数X(但
し、各残りのパラメータは次回予定のまま)とおいて前
記全ての未知数パラメータの各限界値を一斉に求め、こ
れらを操作者に提供できる。この場合の操作者は、枚数
で妥協するか、電力で妥協するか等を一挙に判断(選
択)できる。また上記電力Psは管電圧kVと管電流m
Aとに分けて処理できる。
上記本発明(2)において、未知数となる以外の残りの
曝射パラメータを任意設定変更可能なパラメータ設定手
段を備える。
枚数(曝射時間Tsに相当)=30枚が求まった後、該
未知数Xとする対象を電力Psに変更し、かつ前記求ま
った撮影枚数=30枚を40枚に設定変更し、これを満
足させられる電力Psを更に求めることが可能である。
即ち、操作者は、上記求まった30枚に代えて40枚を
撮影するにはその代替として電力Psを幾つにしたら良
いかを容易に知れる。以下同様にして、様々な限界パラ
メータの組み合わせを容易かつ分かり易く探索できる。
好適なる実施の形態を詳細に説明する。なお、全図を通
して同一符号は同一又は相当部分を示すものとする。図
2は実施の形態によるX線CT装置の要部構成図で、図
において、10はX線ファンビームにより被検体100
のAxial/Hericl スキャン・読取を行う走査ガント
リ、19は被検体100を載せて体軸方向に移動させる
撮影テーブル、40はユーザが操作する操作コンソール
である。
極型のX線管、12はX線管11の管電圧kV,管電流
mA,曝射時間Sec等を制御するX線制御部、13は
X線のファン方向及び体軸方向の曝射範囲を制限するコ
リメータ、14はコリメータ制御部、16は多数(10
00個程度)のX線検出器が円弧状に配列されているX
線検出器アレイ、17はX線検出器アレイの検出データ
(投影データ)を収集するデータ収集部(DAS)、1
5は走査ガントリ10を被検体100の体軸の回りに回
転させる回転制御部である。
CT装置の主制御・処理(スキャン制御,CT断層像再
構成処理,本発明に係る代替パラメータ演算処理等)を
行う中央処理装置、41aはそのCPU、41bはCP
U41aが使用する主メモリ(MEM)、42はキーボ
ードやマスス等からなる入力装置、43は撮影計画のた
めの撮像パラメータ(管電圧kV,管電流mA,スキャ
ン時間Sec,被検体体軸方向の検出厚Thic 等)や撮影
結果のCT断層像等を表示するための表示装置(CR
T)、44はCPU41aと走査ガントリ10や撮影テ
ーブル19との間で各種の制御信号Cやモニタ信号SD
のやり取りを行う制御インタフェース、45はデータ収
集部17からの投影データを蓄積するデータ収集バッフ
ァ、46はX線CT装置の運用に必要な各種データやア
プリケーションプログラム等を記憶している二次記憶装
置(ディスク等)、47はCPU41aの共通バスであ
る。
からのファンビームは被検体100を介してX線検出器
アレイ16に一斉に入射する。データ収集部17はX線
検出器アレイ16から被検体100の投影データを走査
・収集してデータ収集バッファ45に格納する。更に、
走査ガントリ10が僅かに回転した位置(ビュー)で上
記同様の撮影を行い、その収集データを蓄積する。以
下、同様にして走査ガントリ10の1回転分の投影デー
タを収集・蓄積すると共に、Axial/Hericl スキャン
方式に従って撮影テーブル19を被検体100の体軸方
向に間欠的/連続的に移動させ、こうして被検体100
の所要撮影領域についての全投影データを収集・蓄積す
る。そして、CPU41aは得られた全投影データに基
づき、被検体100のCT断層像を再構成し、表示装置
43に表示する。
ラム実行により実現される本発明に関連する機能ブロッ
クを示す。図において、51はX線管11の曝射パラメ
ータによる回転陽極の蓄積熱量上昇特性St及びその冷
却特性Ctに基づき該X線管11の実駆動/停止に同期
してその陽極蓄積熱量値Qtを時々刻々と求める現蓄積
熱量演算部、52は前記現蓄積熱量演算部51が求めた
現時点の陽極蓄積熱量値Qtと次回予定の曝射パラメー
タとを使用して現時点で曝射開始した場合における仮想
の蓄積熱量到達値Qeを求める次回蓄積熱量予測部、5
3は仮想の蓄積熱量到達値QeがX線管11の許容熱量
上限値Qlmを超えることにより、次回の蓄積熱量到達
値QeがX線管11の許容熱量上限値Qlmを超えない
ための代替の曝射パラメータを求める代替パラメータ演
算部である。なお、X線管11の曝射パラメータによる
回転陽極の蓄積熱量上昇特性St及びその冷却特性Ct
に関する演算は公知の演算式又は使用するX線管11に
ついて予め実測により得た特性曲線を近似するような演
算式を利用できる。
代替パラメータ設定処理を詳細に説明する。図3は実施
の形態による表示装置43の操作画面を説明する図であ
る。但し、図はX線管11の曝射パラメータに関係する
部分を主に示している。X線CT装置に電源投入する
と、所要の初期化処理を終了後、表示装置43の画面に
は所定の操作パネル欄61が表示される。操作者が撮影
モードの選択ボタン(アイコン)を押す(クリックす
る)と、対応する撮影(曝射)パラメータが一括表示さ
れる。図はボタン[3]を押した場合の曝射パラメータ
を示している。最初はX線管11が十分に冷えているの
でこの曝射パラメータに従う撮影が可能であり、「RE
ADY」ランプが点灯する。
当該撮影プロトコルに従う撮影が開始される。やがて、
所要の撮影(曝射)時間が経過すると、撮影を終了し、
「START」ボタンが消灯し、代わりに「STOP」
ボタンが点灯する。一方、この曝射によりX線管11の
陽極蓄積熱量値Qtが上昇し、その後は冷却曲線Ctに
沿って徐々に冷却される。現蓄積熱量演算部51は現時
点の陽極蓄積熱量値Qtを時々刻々と求め、こうして実
際の陽極蓄積熱量値Qtを追跡している。
を設定(前回と同様でも良い)すると、次回蓄積熱量予
測部52は前記現蓄積熱量演算部51により求められた
現時点(例えばta)における陽極蓄積熱量値Qaと次
回予定の曝射パラメータとを使用して、この状態(現時
点ta)から曝射開始した場合に到達すると思われる仮
想の蓄積熱量到達値Qe(=Qc1)を求める。そし
て、該求めた蓄積熱量到達値QeがX線管11の許容熱
量上限値Qlmを超える場合は、上記従来と同様にして
「WAIT」を点灯すると共に、蓄積熱量到達値Qeが
許容熱量上限値Qlmを超えなくなるまでの待ち時間T
abを時々刻々と表示する。
ン又は[START]ボタンを押すと、操作は代替探索
モードに移行し、画面には代替パラメータ欄62及び、
好ましくは、陽極蓄積熱量推移グラフ欄63が併せて表
示される。一方、代替パラメータ演算部53は上記次回
の蓄積熱量到達値QeがX線管11の許容熱量上限値Q
lmを超えないための代替の曝射パラメータを求める。
この処理の詳細は図4に従って後述する。
射パラメータの内容をそのままコピーしたものである。
但し、未知数パラメータ(最初はデフォルト設定により
曝射時間T)の欄には代替パラメータ演算部53により
求められた代替の曝射(可能)時間Ts(=1.0秒)
が表示される。これは、上記次回予定の曝射パラメータ
を採用する場合は1.0秒の撮影なら許可することを意
味する。これは、陽極蓄積熱量推移グラフ欄63を参照
すると、撮像開始時点ta(A点)における蓄積熱量Q
aから開始した蓄積熱量Qtが許容上限値Qlmに至る
までの曝射可能時間Ts=1.0秒であることを表す。
こうして、操作者は次回予定の撮影状況をグラフィック
表示により分かり易く把握できる。
Ts(=1.0秒)が常に満足できるものである分けで
はない。被検体の撮像領域が広い場合は、多少画質を犠
牲にしてでも、もっと長い曝射時間が欲しい。これを可
能とするためには、陽極蓄積熱量Qtの上昇カーブをよ
り緩やかにする必要があり、これに関連するパラメータ
として電力(管電圧×管電流)Ps,焦点サイズFs又
は回転速Rsを変更することが考えられる。この場合の
カーブの変更イメージを陽極蓄積熱量推移グラフ63に
示す。
すると、もし管電流を30mAから20mAに下げれ
ば、単位時間当りの陽極発熱量が減少することにより、
グラフの上昇カーブは図のC1からC3に変化すること
が考えられる。そこで、操作者は代替パラメータ欄62
の管電流=30mAを20mAに設定変更する。図示し
ないが、これにより代替の曝射時間Ts=2.0秒に自
動変更され、この曝射時間は満足すべきものである。他
のパラメータを変更した場合も同様である。またこのと
き、各設定変更後の上昇カーブをグラフ表示することで
操作者は自己の変更操作の妥当性を容易に認識できる。
0秒とするには、例えば管電流を幾つにすればよいかと
言う求め方もある。この場合の操作者は、代替パラメー
タの未知数とする欄を曝射時間Tから管電流mAの欄に
変更し、かつ曝射時間Ts=2.0秒に設定変更する。
これにより条件を満足する代替の管電流As=20mA
に自動変更され、要求を満足できる。こうして、許容上
限値Qlmを満足できる様々な曝射パラメータ及びこれ
らの組み合わせを容易に試すことが可能となる。
算処理のフローチャートである。操作パネル61の「代
替」ボタンが押された場合、又は「WAIT」の点灯中
に「START」ボタンが押された場合はこの処理に入
力する。ステップS1では次回予定の撮影パラメータの
内容を代替パラメータの欄にコピーする。この例の次回
撮影パラメータは、管電圧Vn=120kV,管電流A
n=30mA,曝射時間Tn=4.0秒,焦点サイズF
n=3mm,回転速度Rn=140Hzである。ステッ
プS2では開始温度記憶レジスタQbに現時点の陽極蓄
積熱量値Qtをセットする。ステップS3では終了温度
記憶レジスタQeにX線管11の許容熱量上限値Qlm
をセットし、現在の未知パラメータXを求める。なお、
最初の未知パラメータXはデフォルト設定により曝射時
間Tsとなっている。
(最初は曝射時間Ts)を代替パラメータにセットす
る。残りは上記次回予定の曝射パラメータをそのまま使
用する。ステップS5では代替パラメータを表示する。
ステップS6では「START」ボタンが押されたか否
かを判別し、押されていない場合は、更にステップS7
でパラメータ設定変更されたか否かを判別する。操作者
はこの区間に未知数となる項目を変更することも、又は
未知数項目以外のパラメータ設定値を任意変更すること
も可能である。ステップS7の判別でパラメータ設定変
更でない場合はステップS2に戻る。またパラメータ設
定変更の場合はステップS8で変更パラメータの内容を
代替パラメータの対応欄にセットし、ステップS2に戻
る。
メータ設定値を任意変更することにより、その時点で撮
像開始してもX線管11の許容熱量上限値Qlmを満足
可能な未知パラメータが自動的に求まる。そして、やが
て上記ステップS6の判別で「START」が押された
と判別すると、この処理を抜ける。その後はこの代替パ
ラメータによる撮影が開始される。
る代替パラメータを操作に応じて一つづつ求めたが、こ
れに限らない。例えば最初の段階で、各一つのパラメー
タを順に未知数として全ての代替パラメータを求め、こ
れらを画面に一斉に表示してもよい。この場合は、上記
曝射時間を未知数としたときの代替パラメータTs=
1.0秒、また管電流を未知数(但し、曝射時間は元の
次回パラメータTn=4.0秒を採用)としたときの代
替パラメータAs=15mA等が一斉に表示される。従
って、この場合の操作者は複数種の代替提案から何れか
一つを迅速に選択できる。
の適用例を主に述べたが、本発明はX線管を使用した他
の様々なX線装置(X線透過写真撮影装置,X線テレビ
装置等)にも適用可能である。
への適用例を述べたが、本発明は他の方式のX線管にも
適用可能である。
述べたが、本発明思想を逸脱しない範囲内で各部の構
成、制御、及びこれらの組合せの様々な変更が行えるこ
とは言うまでも無い。
は陽極蓄積熱量値Qtが時々刻々と変化するX線管の現
時点からの曝射可能限界条件を具体的かつ容易に把握で
きるため、次回予定の撮影をいたずらに待たずとも、次
回四手撮影の次善策又は他の目的の撮影を容易に採用で
き、よってX線CT装置を安全かつフルに活用できる。
ある。
る。
ローチャートである。
ある。
る。
図である。
Claims (3)
- 【請求項1】 被検体を挟んで相対向する回転陽極型の
X線管及びX線検出器を備え、該X線検出器から収集し
た投影データに基づき被検体のCT断層像を再構成する
X線CT装置において、 X線管の曝射パラメータによる回転陽極の蓄積熱量上昇
特性及びその冷却特性に基づき該X線管の実駆動/停止
に同期してその陽極蓄積熱量値を時々刻々と求める現蓄
積熱量演算手段と、 前記現蓄積熱量演算手段により求められた現時点におけ
る陽極蓄積熱量値と次回予定の曝射パラメータとを使用
して前記現時点で曝射開始した場合における仮想の蓄積
熱量到達値を求める次回蓄積熱量予測手段と、 前記仮想の蓄積熱量到達値がX線管の許容熱量上限値を
超えることにより、次回の蓄積熱量到達値がX線管の許
容熱量上限値を超えないための代替の曝射パラメータを
求める代替パラメータ演算手段とを備えることを特徴と
するX線CT装置。 - 【請求項2】 代替パラメータ演算手段は、次回予定の
曝射パラメータのうちの何れか一つのパラメータを未知
数となし、かつその残りの曝射パラメータをそのまま採
用してX線管の許容熱量上限値に至るまでを満足させる
ための前記未知数を求めることを特徴とする請求項1に
記載のX線CT装置。 - 【請求項3】 未知数となる以外の残りの曝射パラメー
タを任意設定変更可能なパラメータ設定手段を備えるこ
とを特徴とする請求項2に記載のX線CT装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000048650A JP4699585B2 (ja) | 2000-02-25 | 2000-02-25 | X線ct装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000048650A JP4699585B2 (ja) | 2000-02-25 | 2000-02-25 | X線ct装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001231775A true JP2001231775A (ja) | 2001-08-28 |
JP4699585B2 JP4699585B2 (ja) | 2011-06-15 |
Family
ID=18570706
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000048650A Expired - Lifetime JP4699585B2 (ja) | 2000-02-25 | 2000-02-25 | X線ct装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4699585B2 (ja) |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003102716A (ja) * | 2001-09-21 | 2003-04-08 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | X線ct装置 |
JP2004135860A (ja) * | 2002-10-17 | 2004-05-13 | Shimadzu Corp | X線ct装置 |
EP1523227A2 (en) * | 2003-10-09 | 2005-04-13 | GE Medical Systems Global Technology Company LLC | Thermal generator assembly, X-ray imaging system, and X-ray apparatus overheat preventing method |
US7072437B2 (en) | 2003-12-26 | 2006-07-04 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | Radiation tomography system and tomography method |
JP2008119094A (ja) * | 2006-11-09 | 2008-05-29 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | X線管の駆動方法及びx線ct装置 |
JP2013220124A (ja) * | 2012-04-13 | 2013-10-28 | Hitachi Medical Corp | X線透視撮影装置 |
WO2015016117A1 (ja) * | 2013-07-31 | 2015-02-05 | 株式会社 日立メディコ | X線ct装置、x線高電圧装置、および、x線撮影装置 |
CN109009204A (zh) * | 2017-06-10 | 2018-12-18 | 上海联影医疗科技有限公司 | 用于调节焦点位置的方法和系统 |
CN113347770A (zh) * | 2020-02-18 | 2021-09-03 | 苏州博思得电气有限公司 | 一种球管保护方法、装置及电子设备 |
CN115005849A (zh) * | 2022-05-27 | 2022-09-06 | 明峰医疗系统股份有限公司 | Ct机的球管保护方法、系统及计算机可读存储介质 |
JP7481555B2 (ja) | 2016-12-28 | 2024-05-10 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | X線コンピュータ断層撮影装置 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6215800A (ja) * | 1985-07-12 | 1987-01-24 | Toshiba Corp | X線診断装置 |
JPH07194588A (ja) * | 1993-11-26 | 1995-08-01 | Toshiba Medical Eng Co Ltd | X線コンピュータ断層撮影装置 |
JPH09140698A (ja) * | 1995-11-28 | 1997-06-03 | Shimadzu Corp | X線ct装置 |
JPH10335092A (ja) * | 1997-04-01 | 1998-12-18 | Toshiba Corp | X線装置 |
JP2001170043A (ja) * | 1999-12-21 | 2001-06-26 | Shimadzu Corp | X線ct装置 |
-
2000
- 2000-02-25 JP JP2000048650A patent/JP4699585B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6215800A (ja) * | 1985-07-12 | 1987-01-24 | Toshiba Corp | X線診断装置 |
JPH07194588A (ja) * | 1993-11-26 | 1995-08-01 | Toshiba Medical Eng Co Ltd | X線コンピュータ断層撮影装置 |
JPH09140698A (ja) * | 1995-11-28 | 1997-06-03 | Shimadzu Corp | X線ct装置 |
JPH10335092A (ja) * | 1997-04-01 | 1998-12-18 | Toshiba Corp | X線装置 |
JP2001170043A (ja) * | 1999-12-21 | 2001-06-26 | Shimadzu Corp | X線ct装置 |
Cited By (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003102716A (ja) * | 2001-09-21 | 2003-04-08 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | X線ct装置 |
JP2004135860A (ja) * | 2002-10-17 | 2004-05-13 | Shimadzu Corp | X線ct装置 |
EP1523227A2 (en) * | 2003-10-09 | 2005-04-13 | GE Medical Systems Global Technology Company LLC | Thermal generator assembly, X-ray imaging system, and X-ray apparatus overheat preventing method |
US7062016B2 (en) | 2003-10-09 | 2006-06-13 | Ge Medical Systems Global Technology Company | Thermal generator assembly, X-ray imaging system, and X-ray apparatus overheat preventing method |
EP1523227A3 (en) * | 2003-10-09 | 2007-10-03 | GE Medical Systems Global Technology Company LLC | Thermal generator assembly, X-ray imaging system, and X-ray apparatus overheat preventing method |
CN100418479C (zh) * | 2003-10-09 | 2008-09-17 | Ge医疗系统环球技术有限公司 | 热发生器组件、x射线成像系统及防x射线设备过热的方法 |
US7072437B2 (en) | 2003-12-26 | 2006-07-04 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | Radiation tomography system and tomography method |
JP2008119094A (ja) * | 2006-11-09 | 2008-05-29 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | X線管の駆動方法及びx線ct装置 |
JP2013220124A (ja) * | 2012-04-13 | 2013-10-28 | Hitachi Medical Corp | X線透視撮影装置 |
WO2015016117A1 (ja) * | 2013-07-31 | 2015-02-05 | 株式会社 日立メディコ | X線ct装置、x線高電圧装置、および、x線撮影装置 |
JPWO2015016117A1 (ja) * | 2013-07-31 | 2017-03-02 | 株式会社日立製作所 | X線ct装置、x線高電圧装置、および、x線撮影装置 |
US9900971B2 (en) | 2013-07-31 | 2018-02-20 | Hitachi, Ltd. | X-ray CT apparatus, X-ray high-voltage device, and X-ray scanning device |
JP7481555B2 (ja) | 2016-12-28 | 2024-05-10 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | X線コンピュータ断層撮影装置 |
CN109009204A (zh) * | 2017-06-10 | 2018-12-18 | 上海联影医疗科技有限公司 | 用于调节焦点位置的方法和系统 |
CN109009204B (zh) * | 2017-06-10 | 2022-07-05 | 上海联影医疗科技股份有限公司 | 用于调节焦点位置的方法和系统 |
CN113347770A (zh) * | 2020-02-18 | 2021-09-03 | 苏州博思得电气有限公司 | 一种球管保护方法、装置及电子设备 |
CN113347770B (zh) * | 2020-02-18 | 2024-01-09 | 苏州博思得电气有限公司 | 一种球管保护方法、装置及电子设备 |
CN115005849A (zh) * | 2022-05-27 | 2022-09-06 | 明峰医疗系统股份有限公司 | Ct机的球管保护方法、系统及计算机可读存储介质 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4699585B2 (ja) | 2011-06-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2001231775A (ja) | X線ct装置 | |
JP2009172397A (ja) | X線コンピュータ断層撮影装置 | |
JP4868806B2 (ja) | X線装置 | |
JP2001170037A (ja) | 断層撮影用スキャン条件決定方法、断層撮影方法およびx線ct装置 | |
JP2007236766A (ja) | X線撮影装置 | |
JP6437201B2 (ja) | 医用画像処理装置およびx線ct装置 | |
JP2011072346A (ja) | X線画像撮影装置、撮影方法および撮影プログラム | |
JP2005116396A (ja) | 熱発生装置、x線撮像装置およびx線装置過熱防止方法 | |
CN106618621A (zh) | 球管免预热扫描的控制方法、装置及医疗设备 | |
JP2010172558A (ja) | X線撮影装置及びx線画像処理方法 | |
JP5222582B2 (ja) | 断層撮影装置 | |
JP2006230843A (ja) | X線回転撮影装置 | |
JP4849170B2 (ja) | X線制御装置 | |
JP3562414B2 (ja) | X線ct装置 | |
JP7009089B2 (ja) | X線診断装置及び医用情報処理装置 | |
JP2011147806A (ja) | X線装置 | |
JP2011182974A (ja) | 放射線源の制御装置、放射線撮影システム及び曝射条件の更新方法 | |
JPH10260486A (ja) | 放射線画像撮影システム | |
US7636414B2 (en) | X-ray CT apparatus and image selection method thereof | |
JP2000225114A (ja) | X線ct装置 | |
JP2003217896A (ja) | X線管装置及びこれを用いたx線発生装置並びにx線画像診断装置 | |
JPH05154142A (ja) | X線ct装置 | |
JPH0620488Y2 (ja) | X線ct装置 | |
JP2011087619A (ja) | X線ct装置 | |
JPH08196532A (ja) | X線コンピュータ断層撮影装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20061129 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090811 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091007 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091021 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100323 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100521 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20100727 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20101027 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20101104 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101207 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20101216 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110201 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110303 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4699585 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140311 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |