JP2001215722A - 走査露光方法および走査型露光装置 - Google Patents

走査露光方法および走査型露光装置

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JP2001215722A JP2000026630A JP2000026630A JP2001215722A JP 2001215722 A JP2001215722 A JP 2001215722A JP 2000026630 A JP2000026630 A JP 2000026630A JP 2000026630 A JP2000026630 A JP 2000026630A JP 2001215722 A JP2001215722 A JP 2001215722A
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正紀 加藤
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勝弥 町野
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    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70216Mask projection systems
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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 マスクと基板とを同期移動させて基板上でパ
ターンをつなぎ合わせて画面合成を行う際に、同期移動
方向で隣り合うパターン同士を滑らかにつなぎ合わせ
る。 【解決手段】 第1パターンと第2パターンとを有した
マスクRと基板Pとを同期移動して、第1パターンと第
2パターンとを基板Pに露光する走査露光方法におい
て、基板Pの同期移動方向に沿って第1パターンと第2
パターンとを露光する際に、第1パターンの一部と第2
パターンの一部とを重複して露光し、重複露光するとき
のマスクRと基板Pとの同期移動速度を、重複露光しな
いときのマスクRと基板Pとの同期移動速度とは異なら
せる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、マスクと基板とを
所定方向に同期移動して、マスクに形成されたパターン
を基板に露光する走査露光方法および走査型露光装置に
関し、特に、基板上で隣り合う複数の分割パターンをつ
なぎ合わせて露光する際に用いて好適な走査露光方法お
よび走査型露光装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、パソコンやテレビ等の表示素子と
しては、薄型化を可能とする液晶表示パネルが多用され
るようになっている。この種の液晶表示パネルは、平面
視矩形状の感光基板上に透明薄膜電極をフォトリソグラ
フィの手法で所望の形状にパターニングすることにより
製造されている。そして、このフォトリソグラフィの装
置として、マスク(レチクル)上に形成されたパターン
を投影光学系を介して感光基板上のフォトレジスト層に
露光する露光装置が用いられている。
【0003】上記の液晶表示パネル、例えばパーソナル
コンピュータ用のパネルは、現在307.34mm(1
2.1インチ)タイプから358.14mm(14.1
インチ)タイプの大型のものが主流になっている。これ
らのデバイスを露光する場合、パターン精度の高いレチ
クルは、152.4mm(6インチ)タイプが一般的に
使用されている。また、これ以上のサイズでは、およそ
350mm×450mmもしくは400mm×600m
mの大型マスクが使用される。このような大型マスクで
は、高速なスループットが得られるが、上記レチクルに
比較するとパターン精度が通常低いため、いわゆる高精
細デバイス用の高精度マスクを得るにはコストが膨大と
なり現実的ではない。
【0004】そこで、1つの液晶表示パネルのパターン
を複数の領域に分割して画面合成する技術が必須になっ
ている。ところが、画面合成では、パターン継ぎ部にお
いてレチクルのパターン描画誤差、投影光学系の光学収
差やガラス基板を移動させるステージの位置決め誤差等
に起因して段差が発生し、デバイスの特性が損なわれた
りする。さらに、パターン合成されたものを多層に重ね
合わせた場合、各層の露光領域の重ね誤差やパターンの
線幅差がパターンの継ぎ目部分で不連続に変化し、液晶
表示パネルを点灯したときに継ぎ目部で色ムラが発生す
る等、デバイスの品質が低下するという問題があった。
【0005】この問題を解消しつつ、大型のガラス基板
に露光するための走査型露光装置では、レチクルを保持
するレチクルステージおよびガラス基板を保持する基板
ステージを同期移動して走査露光を行った後に、レチク
ルステージおよび基板ステージを同期移動と直交する非
走査方向にステップ移動して、後の露光領域を先の露光
領域と一部重複させて、且つ重複部の露光量(露光エネ
ルギ量)が非重複部の露光量と同一になるように走査露
光を行う工程を一回または数回繰り返すことにより、複
数の分割パターンを滑らかにつなぎ合わせて大きなガラ
ス基板上に転写することが行われている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たような従来の走査露光方法および走査型露光装置に
は、以下のような問題が存在する。上記のように、露光
領域を一部重複させて高精度デバイスを走査露光する場
合、デバイスパターンの分割パターンを有する複数のレ
チクルを用いて画面合成を行っているが、この場合、レ
チクル製造誤差を含めた様々の誤差を管理する必要があ
り、補正作業が繁雑になったり、補正誤差が残存して良
好な画面合成精度を得ることが困難である。
【0007】そのため、一枚のレチクルを用いてデバイ
スパターンを画面合成することが望ましいが、この場合
でもレチクルに対する露光スポット(照明領域)を調整
して複数の分割パターンを設定し、これらの分割パター
ンをガラス基板上でつなぎ合わせる必要が生じる。とこ
ろが、最近では、液晶表示パネルの大面積化に対する要
求が更に強まり、より大きなガラス基板に露光する必要
が生じている。そのためには、分割パターンを縦横につ
なぎ合わせて画面合成する方法が考えられるが、従来で
は走査方向(同期移動方向)に滑らかに分割パターンを
つなぎ合わせることができず、非走査方向と同様に走査
方向につなぎ合わせても、デバイスの品質を維持できる
画面合成の方法が望まれていた。
【0008】一方、上記のように、一枚のレチクルを使
用してガラス基板上で分割パターンをつなぎ合わせる場
合、デバイスパターンが有する画素パターンのようにパ
ターンの繰り返し性という特長を用いて、ガラス基板の
位置を変更することにより、レチクルのパターンのうち
繰り返しパターンで重複させながら複数の露光領域に露
光している。
【0009】ところが、この画素パターンは、デバイス
パターンに対して0°あるいは90°方向(X方向ある
いはY方向)に配列される。そして、ガラス基板上での
分割パターン同士の重複部(画面合成ライン)も、画素
パターンと同様に0°あるいは90°方向に沿って設定
されることが多い。液晶デバイスにおいて、画面合成時
に発生する表示品質上の問題の一つに駆動用トランジス
タ製造時の重ね合わせ精度差がある。これは、画面合成
ラインを挟んで、例えば左右のパターンの重ね合わせ精
度差が引き起こす駆動用トランジスタの制御誤差が、駆
動用トランジスタの性能と使用される液晶材料により決
定される階調の最小分解能とを上回ることが主な原因で
ある。
【0010】しかも、画面合成ラインが延びる方向と、
画素パターンの配列方向とが同じであると、画面合成ラ
インに隣接する駆動用トランジスタは、全て同じゲート
線あるいは信号線に接続されるため同じタイミングで駆
動される。その結果、画面合成により発生する重ね合わ
せ精度差が表示品質に及ぼす影響が直線上に並ぶことに
なる。通常、誤差が大きくても誤差部分が点在する場合
はさほど目立たないが、誤差が小さくても誤差部分が整
然と並ぶと視認性が上がるため、重ね合わせ精度差の影
響が直線上に並ぶことで表示品質が低下するという問題
があった。
【0011】本発明は、以上のような点を考慮してなさ
れたもので、マスクと基板とを同期移動させて基板上で
パターンをつなぎ合わせて画面合成を行う際に、同期移
動方向で隣り合う分割パターン同士を滑らかにつなぎ合
わせることが可能な走査露光方法および走査型露光装置
を提供することを目的とする。また、本発明の別の目的
は、画面合成により発生する重ね合わせ精度差がデバイ
スの表示品質に悪影響を及ぼすことを防止する走査露光
方法および走査型露光装置を提供することである。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明は、実施の形態を示す図1ないし図15に対
応付けした以下の構成を採用している。本発明の走査露
光方法は、第1パターン(P1)と第2パターン(P
2)とを有したマスク(R)と基板(P)とを同期移動
して、第1パターン(P1)と第2パターン(P2)と
を基板(P)に露光する走査露光方法において、基板
(P)の同期移動方向に沿って第1パターン(P1)と
第2パターン(P2)とを露光する際に、第1パターン
(P1)の一部と第2パターン(P2)の一部とを重複
して露光し、重複露光するときのマスク(R)と基板
(P)との同期移動速度を、重複露光しないときのマス
ク(R)と基板(P)との同期移動速度とは異ならせる
ことを特徴とするものである。
【0013】従って、本発明の走査露光方法では、第1
パターン(P1)と第2パターン(P2)との重複部に
おける露光量(露光エネルギ量)を非重複部における露
光量と異なるように設定することができる。そこで、第
1パターン(P1)と第2パターン(P2)を同期移動
方向に沿って露光する際に、各パターン(P1、P2)
同士の重複部(JY1)において露光量(露光エネルギ
量)を境界へ向けて比例的に減少させることによって、
重複して露光した際にこの部分の露光量を非重複部の露
光量と略一致させることができる。そのため、第1パタ
ーン(P1)と第2パターン(P2)とは、マスク
(R)のパターン描画誤差、投影光学系(PL)の光学
収差や基板を移動させるステージ(5、6)の位置決め
誤差等が存在しても、重複部(JX1)で段差が滑らか
に変化し、デバイス特性が低下することを防止できる。
【0014】また、本発明の走査露光方法は、パターン
(P1、P3)を有したマスク(R)と基板(P)とを
露光光の照明領域(S)に対して同期移動して、パター
ンを基板(P)に露光する走査露光方法において、同期
移動方向とは異なる方向の照明領域(S)の大きさを同
期移動中に変更することを特徴とするものである。
【0015】さらに、本発明の走査型露光装置は、パタ
ーン(P1、P3)を有したマスク(R)と基板(P)
とを同期移動して、パターン(P1、P3)を基板
(P)に露光する走査型露光装置(1)において、マス
ク(R)の照明領域(S)を設定する照明領域設定装置
(10)と、同期移動方向とは異なる方向の照明領域
(S)の大きさを同期移動中に変更する変更装置(1
4)とを備えたことを特徴とするものである。
【0016】従って、本発明の走査露光方法および走査
型露光装置では、照明領域(S)の端部の軌跡が同期移
動方向と異なる方向に延びることになる。そこで、基板
(P)上で重複露光されるパターン(P1、P3)を照
明領域(S)の端部で照明することで、基板(P)上で
つなぎ合わされるパターン同士の重複部(JY1)を同
期移動方向と異なる方向に延在させることができる。そ
のため、画素パターン等の単位パターン(22)が同期
移動方向に沿って配列されていても、画面合成ラインに
隣接する駆動用トランジスタは異なる信号線で駆動され
ることになり、同じ重ね合わせ精度であっても表示品質
に及ぼす影響を小さくすることができる。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、本発明の走査露光方法およ
び走査型露光装置の第1の実施の形態を、図1ないし図
11を参照して説明する。ここでは、基板として液晶表
示パネル製造に用いられる角形のガラス基板を用い、レ
チクルに形成された液晶表示デバイスの回路パターンを
ステップ・アンド・スキャン方式の露光装置によりガラ
ス基板に正立等倍で画面合成する場合の例を用いて説明
する。
【0018】図1は、走査型露光装置1の光学系構成を
示す概略図である。走査型露光装置1は、レチクル(マ
スク)Rに形成されたパターン(例えば、液晶表示デバ
イスパターン)をレジスト等が塗布された感光性のガラ
ス基板(基板)P上へ投影転写するものであって、光源
2、照明光学系3、投影光学系PL、レチクルステージ
5および基板ステージ6から概略構成されている。な
お、レチクルRおよびガラス基板PがXY平面に沿って
配置され、XY平面のうち走査方向(同期移動方向)を
X方向(図1中、左右方向)、X方向と直交する非走査
方向をY方向(図1中、紙面に直交する方向)とし、X
Y平面に直交する光軸方向をZ方向として説明する。
【0019】光源2は、露光光としてのビームBを発す
るものであり、超高圧水銀ランプ等で構成されている。
この光源2には、回転楕円面からなる反射面を有し、光
源2が発する露光光を集光する楕円鏡2aが付設されて
いる。そして、光源2は、楕円鏡2aの第1焦点位置に
位置決めされている。したがって、光源2から射出され
た照明ビームBは、反射ミラー7を介して楕円鏡2aの
第2焦点位置に光源像を形成する。この第2焦点位置の
近傍には、シャッタ(不図示)が設けられており、ビー
ムBに対するシャッタの開閉により露光状態と非露光状
態との切り換えを行う構成になている。
【0020】照明光学系3は、反射ミラー7、8、波長
選択フィルタ(不図示)、フライアイレンズ等のオプテ
ィカルインテグレータ9、レチクルブラインド(照明領
域設定装置)10およびレンズ系11から概略構成され
ている。そして、第2焦点位置に収れんした後に発散し
たビームBは、ほぼ平行な光束に変換された後、所望の
波長域の光束のみを透過させる波長選択フィルタに入射
する。波長選択フィルタを介して選択された露光波長の
ビームB(例えば、g線またはi線等)は、オプティカ
ルインテグレータ9に入射する。
【0021】オプティカルインテグレータ9は、多数の
正レンズエレメントをその中心軸線が光軸に沿って延び
るように縦横に配列することにより構成されている。し
たがって、フライアイインテグレータ9に入射したビー
ムBは、多数のレンズエレメントにより波面分割され、
フライインテグレータ9の射出面近傍にレンズエレメン
トの数と同数の光源像からなる二次光源を形成する。す
なわち、フライアイインテグレータ9の射出側には、実
質的な面光源が形成される。
【0022】二次光源からのビームBは、レチクルブラ
インド10を照明する。レチクルブラインド10は、光
源2とレチクルRとの間に配設されレチクルRの露光ス
ポット(照明領域)を設定するものであって、レチクル
Rと光学的にほぼ共役な位置に配置されている。なお、
レチクルブラインド10の構成および作用については後
述する。
【0023】レチクルステージ5は、レチクルRを保持
するものであって、一次元の走査露光を行うべくX方向
に長いストロークと、走査方向と直交するY方向に数m
m程度の微小量のストロークとを有している。レチクル
ステージ5上には、不図示の移動鏡が設けられており、
レーザ干渉計(不図示)から射出されたレーザ光が移動
鏡で反射し、その反射光と入射光との干渉に基づいて移
動鏡とレーザ干渉計との間の距離、すなわちレチクルス
テージ5の位置(ひいてはレチクルRの位置)が検出さ
れる構成になっている。このレチクルステージ5の駆動
は、ステージ制御部12によって制御される。
【0024】投影光学系PLは、露光スポットに存在す
るレチクルRのパターンの像をガラス基板P上に等倍正
立で結像させるものである。
【0025】基板ステージ6は、ガラス基板Pを保持す
るものであって、レチクルステージ5と同様に、一次元
の走査露光を行うべくX方向に長いストロークと、走査
方向と直交するY方向にステップ移動するための長いス
トロークとを有している。基板ステージ6上にも、移動
鏡(不図示)が設けられており、レーザ干渉計(不図
示)によって移動鏡とレーザ干渉計との間の距離、すな
わち基板ステージ6の位置(ひいてはガラス基板Pの位
置)が検出される構成になっている。この基板ステージ
6の駆動も、ステージ制御部12によって制御される。
【0026】従って、レチクルRを透過したビームB
は、投影光学系PLを介してガラス基板Pに結像する。
そして、ガラス基板P上の露光領域には、レチクルRの
露光スポットにあるパターン像が形成される。そして、
レチクルステージ5および基板ステージ6の位置を検出
しつつ、ビームBに対してレチクルステージ5および基
板ステージ6を介してレチクルRとガラス基板PとをX
方向に同期移動させることにより、露光スポットに位置
するレチクルRのパターンをガラス基板P上に逐次転写
することができる。
【0027】図2に示すように、レチクルブラインド1
0は、一対のブラインド板10a、10bと一対の端部
遮光ブラインド板10c、10dとから構成されてい
る。ブラインド板10a、10bは、レチクルRの共役
面を挟んで、且つこの共役面とほぼ平行に配置されてお
り、図3に示すように、Y方向の幅がW1に設定された
等辺の三角形状の端部13a、13bと幅がW2に設定
された矩形部14a、14bとからなる開口をそれぞれ
有する左右対称になっている。また、各ブラインド板1
0a、10bは、それぞれ独立してY方向に移動自在な
構成になっており、各ブラインド板10a、10bの位
置をX方向で一致させることで、それぞれの開口が重な
る領域によって、レチクルRに対する六角形の露光スポ
ットSが幅W2をもって設定される。
【0028】従って、各ブラインド板10a、10bの
Y方向の位置を制御することで、非走査方向(Y方向)
の露光スポットの長さが任意に変更可能になっている。
また、非走査方向の端部13a、13bが三角形状を呈
していることで、この部分で走査露光された領域の照度
傾斜が境界へ向けて100〜0%に比例的に減少する。
(なお、図2および図3で示した座標系は、便宜上レチ
クルR上の露光スポットに対応するように設定してい
る)。
【0029】端部遮光ブラインド板10c、10dはY
方向にそれぞれ独立して移動自在な構成になっており、
各端部ブラインド板10c、10dの移動により、端部
13a、13bを通過するビームBを開放・遮光自在に
なっている。また、図1に示すように、これらブライン
ド板10a、10bおよび端部遮光ブラインド板10
c、10dの駆動は、ブラインド制御部(変更装置)1
4によって制御される。ブラインド制御部14には、該
ブラインド制御部14および上記ステージ制御部12を
統括的に制御する主制御部15が接続されている。この
主制御部15には、露光量、レチクルステージ5および
基板ステージ6の同期移動速度、レチクルブラインド1
0で形成する露光スポットの位置・形状等の露光用JO
Bデータが予め入力されている。
【0030】続いて、本実施の形態の走査露光方法およ
び走査型露光装置で用いられるレチクルRおよびガラス
基板Pについて説明する。ガラス基板Pには、図4に示
すように、略矩形状のTFT/LCDパターンLPが転
写される。このLCDパターンLPは、画素部16と、
例えばこの画素部16の+X方向および−Y方向の側縁
に沿って所定ピッチで配置された複数の周辺回路部17
とから構成されている。図5に示すように、画素部16
には、ゲート線18、信号線19、ドレイン20、およ
び画素電極21からなる画素パターン22が単位パター
ンとして、X方向およびY方向に沿ってそれぞれ所定の
ピッチで繰り返し配列される。周辺回路部17には、画
素パターン22の電極を駆動するためのドライバ回路等
が繰り返し配列される。
【0031】また、このようなLCDパターンLPは、
図4に示すように、18個の分割パターンで画面を合成
するように設定される。Y方向に隣接する分割パターン
同士は、露光スポットの端部13a、13bに対応する
X方向に延びる幅W1の重複部JY1〜JY5において
互いに重複し、X方向に隣接する分割パターン同士は、
露光スポットのX方向の幅に対応するY方向に延びる幅
W2の重複部JX1、JX2において互いに重複するよ
うに設定される。
【0032】一方、ガラス基板P上に上記のLCDパタ
ーンLPを転写する際に用いられるレチクルRを図6に
示す。レチクルRには、LCDパターンLPの画素部1
6、周辺回路部17に対応する画素部23、周辺回路部
24がそれぞれ形成されている。そして、画素部23及
び周辺部24の繰り返し性を生かして、レチクルRに対
する露光スポットを調整してレチクルR上のパターンを
適宜選択することで、LCDパターンLPを構成する上
記各分割パターンをそれぞれ設定可能になっている。な
お、これら画素部23、周辺回路部24の周辺には、遮
光帯(不図示)が形成されている。
【0033】続いて、上記の構成の走査型露光装置1に
よりガラス基板P上に分割パターンをつなぎ合わせ露光
してLCDパターンLPを画面合成する手順を説明す
る。ここでは、18個の分割パターンの中、重複部JX
1を挟んでX方向に隣接する分割パターン(第1パター
ン)P1、分割パターン(第2パターン)P2と、これ
ら分割パターンP1、P2と重複部JY1を挟んでY方
向に隣接し、且つ重複部JX1を挟んでX方向に互いに
隣接する分割パターン(第3パターン)P3、分割パタ
ーンP4をつなぎ合わせる手順を代表的に説明する。
【0034】また、ここでは、重複部JX1、JX2が
レチクルブラインド10で設定される露光スポットの幅
W2で重複露光され、重複部JY1〜JY5が露光スポ
ットの端部の幅W1で重複露光されるものとする。な
お、以下において、レチクルステージ5、基板ステージ
6の駆動は、ステージ制御部12を介して主制御部15
に制御されるものとし、レチクルブラインド10(ブラ
インド板10a、10b、端部遮光ブラインド板10
c、10d)の駆動は主制御部15の指示に基づいてブ
ラインド制御部14によって制御されるものとして説明
する。
【0035】まず、レチクルRとガラス基板Pとをアラ
イメントして位置決めした後に、露光用JOBデータに
基づいて、レチクルステージ5および基板ステージ6を
駆動して、分割パターンP1の走査開始位置にレチクル
Rおよびガラス基板Pを移動させる。このとき、レチク
ルブラインド10においては、端部遮光ブラインド板1
0cが開口の端部13aを遮光し、端部遮光ブラインド
板10dが端部13bを開放することで、図6に示す五
角形の露光スポット(照明領域)Sが形成される。
【0036】また、レチクルR上の露光スポットSは、
X方向の位置がガラス基板Pにおける重複部JX1に対
応する幅W2の仮想領域RX1上に設定される。また、
露光スポットSのY方向の位置は、−Y側については周
辺回路部24の側縁にほぼ沿うように、+Y側について
は端部13bがガラス基板Pにおける重複部JY1に対
応する幅W1の仮想領域RY1上に位置するように設定
される。このときの、ガラス基板P上での露光スポット
を図4において符号S1で示す。なお、レチクルブライ
ンド10により露光スポットSは形成されるものの、シ
ャッタによりビームBの光路は遮光されている。
【0037】そして、シャッタを開放すると同時に、レ
チクルRとガラス基板Pとを−X方向に同期移動させ
る。ここで、本発明の走査型露光装置1では投影光学系
PLが等倍正立系であるので、レチクルRとガラス基板
Pとを互いに同じ方向に、且つ同じ速度で移動させる。
このとき、走査露光開始から長さW2を走査する間に、
適正露光量(エネルギ量)となる走査速度(同期移動速
度)に到達するようにレチクルRとガラス基板Pの駆動
(加速度)を制御する。この結果、図7中のグラフ左側
に示されるように、ガラス基板P上では、長さW2の範
囲において0から適正値に向けて比例的に増加する照度
傾斜の露光エネルギ量で露光される。
【0038】一方、走査露光が進み、露光スポットSが
レチクルRの+X側の周辺回路部24を経て遮光帯まで
達するとシャッタを閉じる。このように、非重複部では
パターンの最外周まで適正露光量で露光される。この結
果、ガラス基板P上に分割パターンP1が露光される。
【0039】続いて、分割パターンP2を露光する際に
は、再度レチクルR上の仮想領域RX1に露光スポット
Sが位置するようにレチクルRをX方向に移動させる。
この場合、レチクルRの仮想領域RX1は、ガラス基板
P上の重複部JX2に対応する。同時に、ガラス基板P
上の露光スポットS1が重複部JX2に位置するように
ガラス基板PもX方向に移動させる。このとき、露光ス
ポットSの端部13bは、分割パターンP1を露光した
際と同様に、レチクルR上では仮想領域RY1に、ガラ
ス基板P上では重複部JY1上に位置しているため、レ
チクルRおよびガラス基板PのY方向への移動、レチク
ルブラインド10の駆動は実行しない。
【0040】そして、シャッタを開放すると同時に、レ
チクルRとガラス基板Pとを−X方向に同期移動させ
る。ここでも、上記分割パターンP1を露光するときと
同様に、走査露光開始から長さW2を走査する間に、適
正露光量となる走査速度に到達するようにレチクルRと
ガラス基板Pとの駆動を制御する。この結果、ガラス基
板P上の重複部JX2も0から適正値に向けて比例的に
増加する照度傾斜の露光エネルギ量で露光される。
【0041】そして、分割パターンP2の露光終了時に
は、重複部JX1において長さW2を走査する間に露光
エネルギ量が適正値から比例的に0になるように走査速
度を制御するとともに、重複部JX1と露光スポットS
1とが一致したところでシャッタを閉じてビームBを遮
光する。この走査露光により、重複部JX1では、図7
中のグラフ右側に示されるように、長さW2の範囲にお
いて+X方向に適正値から0に向けて比例的に減少する
照度傾斜の露光エネルギ量で露光される。従って、ガラ
ス基板P上の重複部JX1においては、分割パターンP
1、P2を走査露光した際に二回重複して露光される結
果、合計の露光量が非重複部と同じ適正露光量となる。
【0042】なお、このとき、走査開始位置として、重
複部JX2ではなく重複部JX1を選択し(露光スポッ
トSはレチクルR上では、仮想領域RX2上に設定され
る)、レチクルRとガラス基板Pとを露光スポットSに
対して+X方向に同期移動させてもよい。この場合も、
ガラス基板P上の重複部JX1は、図7中のグラフ右側
に示されるように、+X方向に適正値から0に向けて比
例的に減少する照度傾斜の露光エネルギ量で露光され、
上記と同じ結果になる。
【0043】続いて、分割パターンP3を露光する際に
は、まず、レチクルブラインド10において、端部遮光
ブラインド板10cを移動させ、端部13aの光路も開
放するとともに、端部13a、13bがガラス基板P上
の重複部JY1、JY2にそれぞれ位置するように、ブ
ラインド板10a、10bを駆動する。これにより、図
8に示す六角形の露光スポット(照明領域)S’が形成
される。
【0044】このレチクルブラインド10の駆動と並行
してレチクルステージ5および基板ステージ6をY方向
にステップ移動して、分割パターンP3の走査開始位置
にレチクルRおよびガラス基板Pを移動させる。このと
き、レチクルR上の露光スポットS’は、X方向の位置
が重複部JX1に対応する上記仮想領域RX1上に設定
される。また、露光スポットS’のY方向の位置は、端
部13a、13bがガラス基板Pにおける重複部JY
1、JY2にそれぞれ対応する幅W1の仮想領域RY
1、RY2上に位置するように設定される。このとき
の、ガラス基板P上での露光スポットを図4において符
号S2で示す。
【0045】そして、分割パターンP1に対する走査露
光と同様に、シャッタを開く同時に、レチクルRとガラ
ス基板Pとを加速しながら−X方向に同期移動させた後
に、非重複部では等速移動させることで、ガラス基板P
上に分割パターンP3を走査露光する。この後、レチク
ルRとガラス基板PとをX方向に移動させ、分割パター
ンP2と同様の手順で分割パターンP4を走査露光す
る。
【0046】上記分割パターンP1〜P4の走査露光の
中、分割パターンP1、P2の露光により、ガラス基板
P上の重複部JY1は、端部13bによって+Y方向へ
向けて100〜0%に比例的に減少する、図9中、符号
mで示す照度傾斜で露光される。一方、この重複部JY
1は、端部13aによって+Y方向に向けて0〜100
%に比例的に増加する、図9中、符号nで示す照度傾斜
で露光される。従って、ガラス基板P上の重複部JX1
においては、分割パターンP1〜P4を走査露光した際
に二回重複して露光される結果、合計の露光量が非重複
部と同じ適正露光量となる。
【0047】ここで、上記のように分割パターンP1〜
P4が露光された結果、重複部JX1、JY1の矩形状
の交叉部が四回重複して露光されるため、この部分の露
光量分布について簡単に検証する。ここでは、図10お
よび図11に示すように、交叉部の左下端部をx=y=
0とし、また交叉部が0≦x≦1、0≦y≦1の範囲に
なるように正規化するものとする。また、この範囲にお
ける露光量をzで示し、非重複部における露光量をz=
1とする。
【0048】まず、分割パターンP1、P2は、図10
に示すように、交叉部が端部13bで露光されるが、分
割パターンP1の露光時には下式の関数で示される露光
量分布で露光される。 x<0.5×yのとき、 z=0 x≧0.5×y、かつx≦−0.5y+1のとき、 z=x−0.5×y x>−0.5y+1のとき、 z=1−y …(1)
【0049】また、分割パターンP2の露光時には、交
叉部が下式の関数で示される露光量分布で露光される。 x<0.5×yのとき、 z=1−y x≧0.5×y、かつx≦−0.5y+1のとき、 z=1−x−0.5×y x>−0.5y+1のとき、 z=0 …(2)
【0050】一方、分割パターンP3、P4は、図11
に示すように、交叉部が端部13aで露光されるが、分
割パターンP3の露光時には下式の関数で示される露光
量分布で露光される。 x<−0.5×y+0.5のとき、 z=0 x≧−0.5×y+0.5、かつx≦−0.5y+0.5のとき、 z=x+0.5×y−0.5 x>−0.5y+0.5のとき、 z=y …(3)
【0051】また、分割パターンP4の露光時には、交
叉部が下式の関数で示される露光量分布で露光される。 x<−0.5×y+0.5のとき、 z=y x≧−0.5×y+0.5、かつx≦−0.5y+0.5のとき、 z=−x+0.5×y+0.5 x>−0.5y+0.5のとき、 z=0 …(4)
【0052】従って、分割パターンP1、P2の露光時
に、端部13bで露光された交叉部の露光量分布は、上
記関数(1)、(2)の総和であるz=1−yの関数で
示される滑らかな傾斜になる。また、分割パターンP
3、P4の露光時に、端部13aで露光された交叉部の
露光量分布は、上記関数(3)、(4)の総和であるz
=yの関数で示される滑らかな傾斜になる。以上のこと
から、分割パターンP1〜P4を露光することにより、
重複部JX1、JY1の交叉部における総露光量は関数
(1)〜(4)の総和であるz=1となり、非重複部と
同一になる。
【0053】そして、上記と同様の手順で、レチクルR
上の露光スポットを適宜選択しながらガラス基板P上の
分割パターンを順次露光することにより、LCDパター
ンLPが同一の露光量分布で画面合成される。なお、分
割パターンの中、図4中、+Y側の端部に位置する分割
パターンを露光する際には、分割パターンP1、P2の
場合と逆に、端部遮光ブラインド板10dが開口の端部
13bを遮光し、端部遮光ブラインド板10cが端部1
3aを開放することで、左右対称の五角形の露光スポッ
トが形成される。なお、各分割パターンの露光順序は、
レチクルステージ5および基板ステージ6の移動距離
(移動時間)が最短になる経路に基づいて設定すること
が好ましい。
【0054】本実施の形態の走査露光方法および走査型
露光装置では、レチクルRとガラス基板Pとの同期移動
方向でも分割パターン同士を滑らかな露光量分布をもっ
て一部重複させているので、これら分割パターンを滑ら
かにつなぎ合わせることが可能になり、品質を低下させ
ることなく液晶表示デバイスの高精細大面積化に容易に
対応することができる。特に、本実施の形態では、重複
部と非重複部との露光量を、分割パターン同士の重複部
を露光する際の走査速度と非重複部を露光する際の走査
速度とを異ならせるという簡単な動作で制御しているの
で、装置の大型化および高価格化も防ぐことができる。
【0055】また、本実施の形態の走査露光方法および
走査型露光装置では、一枚のレチクルRの照明領域を調
整することで、一層のLCDパターンLPを画面合成で
きるので、小型のレチクルRを使用することができ、レ
チクルR自体の誤差を低く抑えることができる。さら
に、複数枚のレチクルRを使用する際に生じるレチクル
交換作業の削減、レチクル間の補正作業および誤差の積
み重ねの低減等を実現することが可能になり、より高精
度のつなぎ合わせ露光を実施することができる。
【0056】図12および図13は、本発明の走査露光
方法および走査型露光装置の第2の実施の形態を示す図
である。これらの図において、図1ないし図11に示す
第1の実施の形態の構成要素と同一の要素については同
一符号を付し、その説明を省略する。第2の実施の形態
と上記の第1の実施の形態とが異なる点は、走査露光中
に露光スポットSの大きさを変更することである。
【0057】すなわち、本実施の形態では、分割パター
ンP1を露光する際に、上記第1の実施の形態と同様
に、レチクルR上の仮想領域RX1上に露光スポットS
を設定した後、レチクルRとガラス基板Pとを−X方向
に同期移動して走査露光を開始すると同時にレチクルブ
ラインド10のブラインド板10bを一定速度Vで+Y
方向に移動させる。このとき、端部遮光ブラインド板1
0dをブラインド板10bと同期移動させてもよいし、
端部遮光ブラインド板10dが端部13bを遮光しない
位置にある場合は移動させなくてもよい。なお、ブライ
ンド板10aおよび端部遮光ブラインド板10cは、X
方向に沿った周辺回路部24を照明するため、Y方向へ
の移動は行わない。
【0058】この結果、露光スポットSは走査露光中に
+Y方向に拡大され、端部13bの移動軌跡として形成
されるレチクルR上の仮想領域RY1は、走査速度およ
びブラインド板10bの移動速度が合成されることによ
って、X方向に対して傾きを有することになる。従っ
て、ガラス基板P上に露光される分割パターンP1は、
図13に示すように、分割パターンP3との重複部JY
1がX方向とは異なる方向に沿って形成される。
【0059】そして、分割パターンP2を露光する際に
は、走査露光開始時に露光スポットSの端部13bを重
複部JY1の延長上で且つ重複部JX2上に位置させ
て、上記分割パターンP1と同一の移動速度Vでブライ
ンド板10bを+Y方向に移動させる(このとき、レチ
クルRとガラス基板Pとの走査速度も分割パターンP1
を露光するときと同一にする)。
【0060】さらに、分割パターンP3を露光する際に
は、ガラス基板P上において、露光スポットの端部13
aを重複部JX1、JY1の交叉部に、端部13bを重
複部JX1、JY2の交叉部にそれぞれ位置させておい
て、走査露光開始と同時にブラインド板10a、10b
の双方を+Y方向に速度Vで移動させる。また、分割パ
ターンP4を露光する際には、露光スポットの端部13
aを重複部JX2、JY1の交叉部に、端部13bを重
複部JX2、JY2の交叉部に位置させておいて、走査
露光開始と同時にブラインド板10a、10bの双方を
+Y方向に速度Vで移動させる。
【0061】他の分割パターンも同様の手順でブライン
ド板を+Y方向に移動させながら走査露光を行うが、図
13中、+Y側の端部に位置する分割パターンを露光す
る際には、分割パターンP1、P2の場合と逆に、端部
遮光ブラインド板10dが開口の端部13bを遮光し、
端部遮光ブラインド板10cが端部13aを開放する状
態で、ブラインド板10aのみを露光中に+Y方向に移
動させる。なお、重複部JX1、JX2における走査速
度の制御は、第1の実施の形態と同様である。これによ
り、図13に示すように、ガラス基板P上には、X方向
に対して傾きを有する重複部JY1〜JY4で分割パタ
ーンが重複するように画面合成されたLCDパターンL
Pが形成される。
【0062】本実施の形態の走査露光方法および走査型
露光装置では、上記第1の実施の形態と同様の作用・効
果が得られることに加えて、画素パターン22の配列方
向と重複部JY1〜JY4の延在する方向とが異なるた
め、完成した液晶表示デバイスでは、重複部JY1〜J
Y4に隣接する画素パターン22内の駆動用トランジス
タが異なる信号線で駆動されることになり、同じ重ね合
わせ精度であっても誤差部分が整然と並ぶことがなく、
表示品質に及ぼす影響を小さくすることができる。
【0063】なお、上記第2の実施の形態において、ブ
ラインド板10a、10bを露光中に同じ速度で移動さ
せる構成としたが、これに限定されるものではなく、各
重複部JY1〜JY5において、露光時の移動速度が同
一であれば、互いに異なる移動速度で移動させてもよ
い。また、各重複部JY1〜JY4を露光する際に、ブ
ラインド板10a、10bの移動速度を複数回に亙って
変更してもよい。例えば、図14に示すように、分割パ
ターンP1を走査露光中に、ブラインド板10aの移動
方向を+Y方向から−Y方向へ変更してもよい。同様
に、分割パターンP3を走査露光中には、ブラインド板
10a、10bの移動方向を+Y方向から−Y方向へ変
更する(+Y側の端部に位置する分割パターンを露光す
る際には、端部遮光ブラインド板10dが端部13bを
遮光した状態で、ブラインド板10aの移動方向のみを
露光中に+Y方向から−Y方向に変更する)ことで、図
15に示すように、ガラス基板P上には、ジグザグ状に
屈曲する重複部JY1〜JY4を形成することができ、
駆動用トランジスタを駆動するための信号線が一層分散
され、表示品質に及ぼす影響をより小さくすることがで
きる。この場合、ブラインド板10a、10bの移動方
向を変更せずに移動速度Vのみを変更したり、移動方向
および移動速度の双方を変更してもよい。
【0064】また、上記実施の形態では、重複部JX
1、JX2の幅を露光スポットSと同一の幅Wとする構
成としたが、二重露光することで重複部と非重複部との
露光量が同一になれば、重複部の幅はこれに限定される
ものではない。露光スポットの形状も、六角形に限定さ
れるものではなく、台形状や平行四辺形の四角形であっ
てもよい。
【0065】また、上記実施の形態では、分割パターン
P3、P4を露光する際にブラインド板10a、10b
を移動させることで重複部JY1、JY2の延在する方
向をX方向に対して傾きをもたせたが、これに限られる
ものではなく、露光スポットの大きさが変わらない場合
にはレチクルRおよびガラス基板PをX方向から傾く方
向に同期移動させてもよい。
【0066】なお、レチクルRとガラス基板Pとの同期
移動速度を重複部と非重複部とで異ならせることで、同
期移動方向で隣接する重複部の露光量を非重複部の露光
量を一致させる場合、投影光学系PLが複数の投影系モ
ジュールから構成され、隣り合う投影系モジュールの投
影領域の端部同士がY方向で重複するように並列配置さ
れ、X方向に走査露光したときの露光量が等しくなるよ
うに設定された、いわゆるマルチレンズ構成であっても
適用可能である。
【0067】なお、本実施の形態の基板としては、液晶
表示デバイス用のガラス基板Pのみならず、半導体デバ
イス用の半導体ウエハや、薄膜磁気ヘッド用のセラミッ
クウエハ、あるいは露光装置で用いられるマスクまたは
レチクルの原版(合成石英、シリコンウエハ)等が適用
される。
【0068】走査型露光装置1の種類としては、ガラス
基板Pに液晶表示デバイスパターンを露光する液晶表示
デバイス製造用の露光装置に限られず、ウエハに半導体
デバイスパターンを露光する半導体デバイス製造用の露
光装置や、薄膜磁気ヘッド、撮像素子(CCD)あるい
はレチクルなどを製造するための露光装置などにも広く
適用できる。
【0069】また、光源2として、超高圧水銀ランプか
ら発生する輝線(g線(436nm)、h線(404.
7nm)、i線(365nm))、KrFエキシマレー
ザ(248nm)、ArFエキシマレーザ(193n
m)、F2レーザ(157nm)のみならず、X線や電
子線などの荷電粒子線を用いることができる。例えば、
電子線を用いる場合には電子銃として、熱電子放射型の
ランタンヘキサボライト(LaB6)、タンタル(T
a)を用いることができる。また、YAGレーザや半導
体レーザ等の高周波などを用いてもよい。
【0070】投影光学系PLの倍率は、等倍系のみなら
ず縮小系および拡大系のいずれでもよい。また、投影光
学系PLとしては、エキシマレーザなどの遠紫外線を用
いる場合は硝材として石英や蛍石などの遠紫外線を透過
する材料を用い、F2レーザやX線を用いる場合は反射
屈折系または屈折系の光学系にし(レチクルRも反射型
タイプのものを用いる)、また電子線を用いる場合には
光学系として電子レンズおよび偏向器からなる電子光学
系を用いればよい。なお、電子線が通過する光路は、真
空状態にすることはいうまでもない。また、投影光学系
PLを用いることなく、レチクルRとガラス基板Pとを
密接させてレチクルRのパターンを露光するプロキシミ
ティ露光装置にも適用可能である。
【0071】基板ステージ6やレチクルステージ5にリ
ニアモータ(USP5,623,853またはUSP5,528,118参照)を
用いる場合は、エアベアリングを用いたエア浮上型およ
びローレンツ力またはリアクタンス力を用いた磁気浮上
型のどちらを用いてもよい。また、各ステージ5、6
は、ガイドに沿って移動するタイプでもよく、ガイドを
設けないガイドレスタイプであってもよい。
【0072】各ステージ5、6の駆動機構としては、二
次元に磁石を配置した磁石ユニット(永久磁石)と、二
次元にコイルを配置した電機子ユニットとを対向させ電
磁力により各ステージ5、6を駆動する平面モータを用
いてもよい。この場合、磁石ユニットと電機子ユニット
とのいずれか一方をステージ5、6に接続し、磁石ユニ
ットと電機子ユニットとの他方を各ステージ5、6の移
動面側(ベース)に設ければよい。
【0073】基板ステージ6の移動により発生する反力
は、投影光学系PLに伝わらないように、特開平8−1
66475号公報(USP5,528,118)に記載されているよ
うに、フレーム部材を用いて機械的に床(大地)に逃が
してもよい。本発明はこのような構造を備えた露光装置
においても適用可能である。レチクルステージ5の移動
により発生する反力は、投影光学系PLに伝わらないよ
うに、特開平8−330224号公報(US S/N 08/416,
558)に記載されているように、フレーム部材を用いて
機械的に床(大地)に逃がしてもよい。本発明はこのよ
うな構造を備えた露光装置においても適用可能である。
【0074】以上のように、本願実施形態の基板処理装
置である走査型露光装置1は、本願特許請求の範囲に挙
げられた各構成要素を含む各種サブシステムを、所定の
機械的精度、電気的精度、光学的精度を保つように、組
み立てることで製造される。これら各種精度を確保する
ために、この組み立ての前後には、各種光学系について
は光学的精度を達成するための調整、各種機械系につい
ては機械的精度を達成するための調整、各種電気系につ
いては電気的精度を達成するための調整が行われる。各
種サブシステムから露光装置への組み立て工程は、各種
サブシステム相互の、機械的接続、電気回路の配線接
続、気圧回路の配管接続等が含まれる。この各種サブシ
ステムから露光装置への組み立て工程の前に、各サブシ
ステム個々の組み立て工程があることはいうまでもな
い。各種サブシステムの露光装置への組み立て工程が終
了したら、総合調整が行われ、露光装置全体としての各
種精度が確保される。なお、露光装置の製造は温度およ
びクリーン度等が管理されたクリーンルームで行うこと
が望ましい。
【0075】液晶表示デバイスや半導体デバイス等のデ
バイスは、図16に示すように、液晶表示デバイス等の
機能・性能設計を行うステップ201、この設計ステッ
プに基づいたマスク(レチクルR)を製作するステップ
202、石英等からガラス基板P、またはシリコン材料
からウエハを製作するステップ203、前述した実施の
形態の走査型露光装置1によりレチクルRのパターンを
ガラス基板P(またはウエハ)に露光するステップ20
4、液晶表示デバイス等を組み立てるステップ(ウエハ
の場合、ダイシング工程、ボンディング工程、パッケー
ジ工程を含む)205、検査ステップ206等を経て製
造される。
【0076】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1に係る走
査露光方法は、同期移動方向に沿って第1パターンの一
部と第2パターンの一部とを重複して露光し、重複露光
するときのマスクと基板との同期移動速度を重複しない
ときの同期移動速度とは異ならせる手順となっている。
これにより、この走査露光方法では、これら第1パター
ンおよび第2パターンを滑らかにつなぎ合わせることが
可能になり、品質を低下させることなくデバイスの高精
細大面積化に容易に対応することができるとともに、第
1、第2パターン同士の重複部を露光する際の同期移動
速度と非重複部を露光する際の同期移動速度とを異なら
せるという簡単な動作で各部の露光量を制御しているの
で、装置の大型化および高価格化も防ぐことができると
いう効果が得られる。
【0077】請求項2に係る走査露光方法は、同期移動
方向と直交する方向に隣接する第1パターンと第3パタ
ーンとを露光する際に、単位パターンの配列方向とは異
なる方向に沿って重複させる手順となっている。これに
より、この走査露光方法では、完成したデバイスの単位
パターンが異なる信号線で駆動されることになり、同じ
重ね合わせ精度であっても誤差部分が整然と並ぶことが
なく、表示品質に及ぼす影響を小さくできるという効果
が得られる。
【0078】請求項3に係る走査露光方法は、同期移動
方向とは異なる方向の照明領域の大きさを同期移動中に
変更する手順となっている。これにより、この走査露光
方法では、完成したデバイスの単位パターンが異なる信
号線で駆動されることになり、同じ重ね合わせ精度であ
っても誤差部分が整然と並ぶことがなく、表示品質に及
ぼす影響を小さくできるという効果が得られる。
【0079】請求項4に係る走査露光方法は、照明領域
の大きさを同期移動中に複数回に亙って変更する手順と
なっている。これにより、この走査露光方法では、表示
品質に及ぼす影響をより小さくできるという効果が得ら
れる。
【0080】請求項5に係る走査型露光装置は、照明領
域設定装置がマスクの照明領域を設定し、変更装置が同
期移動方向とは異なる方向の照明領域の大きさを同期移
動中に変更する構成となっている。これにより、この走
査型露光装置では、完成したデバイスの単位パターンが
異なる信号線で駆動されることになり、同じ重ね合わせ
精度であっても誤差部分が整然と並ぶことがなく、表示
品質に及ぼす影響を小さくできるという効果が得られ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1の実施の形態を示す図であっ
て、走査型露光装置の光学系構成を示す概略図である。
【図2】 同走査型露光装置を構成するレチクルブラ
インドの外観斜視図である。
【図3】 レチクルブラインドを構成するブラインド
板の平面図である。
【図4】 本発明の走査露光方法により画面合成され
るLCDパターンの平面図である。
【図5】 ガラス基板上に構成されるTFT/LCD
の表示画素の概略構成図である。
【図6】 LCDパターンの画面合成に用いられるレ
チクルの平面図である。
【図7】 ガラス基板上の位置とエネルギ量との関係
を示す関係図である。
【図8】 分割パターンP2の走査露光開始位置に露
光スポットが設定されたレチクルの平面図である。
【図9】 ガラス基板上の位置とエネルギ量との関係
を示す関係図である。
【図10】 重複部JX1、JY1の交叉部の露光量
分布を説明するための説明図である。
【図11】 重複部JX1、JY1の交叉部の露光量
分布を説明するための説明図である。
【図12】 本発明の第2の実施の形態を示す図であ
って、レチクル上の露光スポットが同期移動方向と直交
する方向に移動する平面図である。
【図13】 図12に示すレチクルを用いて画面合成
されるLCDパターンの平面図である。
【図14】 本発明の第3の実施の形態を示す図であ
って、レチクル上の露光スポットが同期移動方向と直交
する方向に複数回移動する平面図である。
【図15】 図14に示すレチクルを用いて画面合成
されるLCDパターンの平面図である。
【図16】 液晶表示デバイスの製造工程の一例を示
すフローチャート図である。
【符号の説明】
B ビーム(露光光) P ガラス基板(基板) P1 分割パターン(第1パターン) P2 分割パターン(第2パターン) P3 分割パターン(第3パターン) R レチクル(マスク) S、S’ 露光スポット(照明領域) 1 走査型露光装置 10 レチクルブラインド(照明領域設定装置) 14 ブラインド制御部(変更装置) 22 画素パターン(単位パターン)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 町野 勝弥 東京都千代田区丸の内3丁目2番3号 株 式会社ニコン内 (72)発明者 戸口 学 東京都千代田区丸の内3丁目2番3号 株 式会社ニコン内 Fターム(参考) 2H097 AA05 AA11 AB09 BB01 GB02 LA10 LA12 5F046 AA05 AA11 BA03 CC04 DA02

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1パターンと第2パターンとを有し
    たマスクと基板とを同期移動して、前記第1パターンと
    前記第2パターンとを前記基板に露光する走査露光方法
    において、 前記基板の前記同期移動方向に沿って前記第1パターン
    と前記第2パターンとを露光する際に、前記第1パター
    ンの一部と前記第2パターンの一部とを重複して露光
    し、 前記重複露光するときの前記マスクと前記基板との同期
    移動速度を、前記重複露光しないときの前記マスクと前
    記基板との同期移動速度とは異ならせることを特徴とす
    る走査露光方法。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の走査露光方法におい
    て、 前記第1パターンと前記基板上で前記同期移動方向と直
    交する方向に隣接する前記第3パターンとは所定方向に
    沿って配列された複数の単位パターンを有し、 前記第1パターンと前記第3パターンとを露光する際
    に、前記単位パターンの配列方向とは異なる方向に沿っ
    て重複させることを特徴とする走査露光方法。
  3. 【請求項3】 パターンを有したマスクと基板とを露
    光光の照明領域に対して同期移動して、前記パターンを
    前記基板に露光する走査露光方法において、 前記同期移動方向とは異なる方向の前記照明領域の大き
    さを前記同期移動中に変更することを特徴とする走査露
    光方法。
  4. 【請求項4】 請求項3記載の走査露光方法におい
    て、 前記照明領域の大きさを前記同期移動中に複数回に亙っ
    て変更することを特徴とする走査露光方法。
  5. 【請求項5】 パターンを有したマスクと基板とを同
    期移動して、前記パターンを前記基板に露光する走査型
    露光装置において、 前記マスクの照明領域を設定する照明領域設定装置と、 前記同期移動方向とは異なる方向の前記照明領域の大き
    さを前記同期移動中に変更する変更装置とを備えたこと
    を特徴とする走査型露光装置。
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