JP2001202638A - 光ピックアップ装置、およびそれを用いた光ディスク装置 - Google Patents
光ピックアップ装置、およびそれを用いた光ディスク装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 光ピックアップの構成部品間距離、構成部品
の設置状態、およびレーザ光の波長等が経時変化により
変化した場合でも正確にフォーカスエラー信号を検出で
きる光ピックアップ装置およびそれを用いた光ディスク
装置を提供する。 【解決手段】 光ピックアップ装置は、回折により生成
されたメインビームＭＬＢと第１および第２のサブビー
ムＳＬＢ１、ＳＬＢ２のＤＶＤ−ＲＡＭでの反射光を、
それぞれ、第１検出部７１、第２検出部７２、第３検出
部７３で検出する光検出器７を備える。第１検出部７１
は４分割され、第２および第３検出部７２、７３は９分
割されている。そして、第２および第３検出部７２、７
３において４分割領域を変化させてフォーカスエラー信
号を演算し、ピークが最大となるフォーカスエラー信号
ＦＥ（２）、ＦＥ（３）を選択する。そして、第１検出
部７１におけるフォーカスエラー信号ＦＥ（１）も用
い、３つのレーザ光に用いた非点収差法によるフォーカ
スエラー信号ＦＥ＝ＦＥ（１）＋α｛ＦＥ（２）＋ＦＥ
（３）｝を生成する。
の設置状態、およびレーザ光の波長等が経時変化により
変化した場合でも正確にフォーカスエラー信号を検出で
きる光ピックアップ装置およびそれを用いた光ディスク
装置を提供する。 【解決手段】 光ピックアップ装置は、回折により生成
されたメインビームＭＬＢと第１および第２のサブビー
ムＳＬＢ１、ＳＬＢ２のＤＶＤ−ＲＡＭでの反射光を、
それぞれ、第１検出部７１、第２検出部７２、第３検出
部７３で検出する光検出器７を備える。第１検出部７１
は４分割され、第２および第３検出部７２、７３は９分
割されている。そして、第２および第３検出部７２、７
３において４分割領域を変化させてフォーカスエラー信
号を演算し、ピークが最大となるフォーカスエラー信号
ＦＥ（２）、ＦＥ（３）を選択する。そして、第１検出
部７１におけるフォーカスエラー信号ＦＥ（１）も用
い、３つのレーザ光に用いた非点収差法によるフォーカ
スエラー信号ＦＥ＝ＦＥ（１）＋α｛ＦＥ（２）＋ＦＥ
（３）｝を生成する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、非点収差法により
正確にフォーカスエラー信号を演算可能な光ピックアッ
プ装置およびそれを用いた光ディスク装置に関するもの
である。
正確にフォーカスエラー信号を演算可能な光ピックアッ
プ装置およびそれを用いた光ディスク装置に関するもの
である。
【０００２】
【従来の技術】ＣＤ−ＲＯＭのように半導体レーザを用
いて情報を読み出す約１．２ｍｍの厚さの光ディスクが
提供されている。この種の光ディスクではピックアップ
用対物レンズにフォーカスサーボ及びトラッキングサー
ボを行うことにより、信号記録面のピット列にレーザビ
ームを照射させ、信号を再生している。
いて情報を読み出す約１．２ｍｍの厚さの光ディスクが
提供されている。この種の光ディスクではピックアップ
用対物レンズにフォーカスサーボ及びトラッキングサー
ボを行うことにより、信号記録面のピット列にレーザビ
ームを照射させ、信号を再生している。
【０００３】また、最近では長時間の動画を記録するた
めの高密度が進んでいる。例えば、ＣＤ−ＲＯＭと同じ
直径１２ｃｍの光ディスクに、片面で４．７Ｇｂｙｔｅ
ｓの情報を記録可能な再生専用のＤＶＤ−ＲＯＭが発売
されている。そして、ＤＶＤ−ＲＯＭにレーザ光を照射
するための対物レンズのフォーカスサーボは１つのレー
ザ光を用いた非点収差法により行っている。
めの高密度が進んでいる。例えば、ＣＤ−ＲＯＭと同じ
直径１２ｃｍの光ディスクに、片面で４．７Ｇｂｙｔｅ
ｓの情報を記録可能な再生専用のＤＶＤ−ＲＯＭが発売
されている。そして、ＤＶＤ−ＲＯＭにレーザ光を照射
するための対物レンズのフォーカスサーボは１つのレー
ザ光を用いた非点収差法により行っている。
【０００４】更に、ＤＶＤと同じ容量を有し、書き換え
可能な光ディスクとしてＤＶＤ−ＲＡＭも発売されてい
る。そして、このＤＶＤ−ＲＡＭは、径方向にランドと
グルーブとを交互に配置したランド／グルーブ方式から
成り、ランドとグルーブとに信号を記録することができ
る。
可能な光ディスクとしてＤＶＤ−ＲＡＭも発売されてい
る。そして、このＤＶＤ−ＲＡＭは、径方向にランドと
グルーブとを交互に配置したランド／グルーブ方式から
成り、ランドとグルーブとに信号を記録することができ
る。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかし、ＤＶＤ−ＲＯ
Ｍドライブで用いられている１つのレーザ光を用いた非
点収差法によるフォーカスサーボを行うと、フォーカス
エラー信号に漏れ込みが発生し、不安定なフォーカスサ
ーボになるという問題がある。つまり、ＤＶＤ−ＲＡＭ
は、径方向にランドとグルーブとを交互に配置したトラ
ック構造を有し、ランドとグルーブとでは、レーザ光の
入射面から信号記録面までの距離が異なるので、ランド
に対して焦点が合っていてもグルーブに対しては焦点が
合わない。また、その逆の場合も考えられる。その結
果、ＤＶＤ−ＲＡＭにおいて、１つのレーザ光を用いて
非点収差法によるフォーカスサーボを行うと不安定にな
る。
Ｍドライブで用いられている１つのレーザ光を用いた非
点収差法によるフォーカスサーボを行うと、フォーカス
エラー信号に漏れ込みが発生し、不安定なフォーカスサ
ーボになるという問題がある。つまり、ＤＶＤ−ＲＡＭ
は、径方向にランドとグルーブとを交互に配置したトラ
ック構造を有し、ランドとグルーブとでは、レーザ光の
入射面から信号記録面までの距離が異なるので、ランド
に対して焦点が合っていてもグルーブに対しては焦点が
合わない。また、その逆の場合も考えられる。その結
果、ＤＶＤ−ＲＡＭにおいて、１つのレーザ光を用いて
非点収差法によるフォーカスサーボを行うと不安定にな
る。
【０００６】また、図１２を参照して、フォーカスサー
ボがＯＮされた状態で光ピックアップをＤＶＤ−ＲＡＭ
の径方向にシークする場合の問題点について説明する。
フォーカスエラー信号に漏れ込みがない場合、フォーカ
スエラー信号は図１２の（ａ）に示すような信号にな
り、この状態で光ピックアップをＤＶＤ−ＲＡＭの径方
向にシークすると図１２の（ｂ）に示すような信号が検
出される。これは、レーザ光がランドとグルーブとから
成るトラックを横切ることにより検出される信号であ
り、信号（ｂ）のピークの個数を計測することによりレ
ーザ光が横切ったトラック本数が分かるものである。し
かし、フォーカスエラー信号に漏れ込みがあると、フォ
ーカスエラー信号は図１２の（ｃ）に示すように信号
（ａ）に比べると振幅が大きい信号になり、この状態で
光ピックアップがＤＶＤ−ＲＡＭの径方向にシークする
と図１２の（ｄ）に示すようにフォーカスエラー信号
（ｃ）が影響してピークが明確に分からない信号とな
る。その結果、レーザ光が横切ったトラック本数を正確
に計測できないという問題がある。
ボがＯＮされた状態で光ピックアップをＤＶＤ−ＲＡＭ
の径方向にシークする場合の問題点について説明する。
フォーカスエラー信号に漏れ込みがない場合、フォーカ
スエラー信号は図１２の（ａ）に示すような信号にな
り、この状態で光ピックアップをＤＶＤ−ＲＡＭの径方
向にシークすると図１２の（ｂ）に示すような信号が検
出される。これは、レーザ光がランドとグルーブとから
成るトラックを横切ることにより検出される信号であ
り、信号（ｂ）のピークの個数を計測することによりレ
ーザ光が横切ったトラック本数が分かるものである。し
かし、フォーカスエラー信号に漏れ込みがあると、フォ
ーカスエラー信号は図１２の（ｃ）に示すように信号
（ａ）に比べると振幅が大きい信号になり、この状態で
光ピックアップがＤＶＤ−ＲＡＭの径方向にシークする
と図１２の（ｄ）に示すようにフォーカスエラー信号
（ｃ）が影響してピークが明確に分からない信号とな
る。その結果、レーザ光が横切ったトラック本数を正確
に計測できないという問題がある。
【０００７】そこで、図１１に示すように、レーザ光を
メインビームＭＬＢと２つのサブビームＳＬＢ１、ＳＬ
Ｂ２とに回折し、これら３つのレーザ光のＤＶＤ−ＲＡ
Ｍでの反射光を４分割されたセンサー５０１、５０２、
５０３から成る光検出器５０で検出し、各センサー５０
１、５０２、５０３で検出されるレーザ光の強度を非点
収差法により演算して、 ＦＥ（５０１）＝（５０１Ａ＋５０１Ｃ）−（５０１Ｂ
＋５０１Ｄ） ＦＥ（５０２）＝（５０２Ａ＋５０２Ｃ）−（５０２Ｂ
＋５０２Ｄ） ＦＥ（５０３）＝（５０３Ａ＋５０３Ｃ）−（５０３Ｂ
＋５０３Ｄ） ここで、ＦＥ（５０１）：センサー５０１において非点
収差法により計算したフォーカスエラー信号 ＦＥ（５０２）：センサー５０２において非点収差法に
より計算したフォーカスエラー信号 ＦＥ（５０３）：センサー５０３において非点収差法に
より計算したフォーカスエラー信号 を得、フォーカスエラー信号ＦＥとして、 ＦＥ＝ＦＥ（５０１）＋α｛ＦＥ（５０２）＋ＦＥ（５
０３）｝ を用いる３ビームを用いた非点収差法が提案されている
（第６０回応用物理学会学術講演会 講演予稿集Ｎｏ．
３ ３ａ ＺＣ−１１）。
メインビームＭＬＢと２つのサブビームＳＬＢ１、ＳＬ
Ｂ２とに回折し、これら３つのレーザ光のＤＶＤ−ＲＡ
Ｍでの反射光を４分割されたセンサー５０１、５０２、
５０３から成る光検出器５０で検出し、各センサー５０
１、５０２、５０３で検出されるレーザ光の強度を非点
収差法により演算して、 ＦＥ（５０１）＝（５０１Ａ＋５０１Ｃ）−（５０１Ｂ
＋５０１Ｄ） ＦＥ（５０２）＝（５０２Ａ＋５０２Ｃ）−（５０２Ｂ
＋５０２Ｄ） ＦＥ（５０３）＝（５０３Ａ＋５０３Ｃ）−（５０３Ｂ
＋５０３Ｄ） ここで、ＦＥ（５０１）：センサー５０１において非点
収差法により計算したフォーカスエラー信号 ＦＥ（５０２）：センサー５０２において非点収差法に
より計算したフォーカスエラー信号 ＦＥ（５０３）：センサー５０３において非点収差法に
より計算したフォーカスエラー信号 を得、フォーカスエラー信号ＦＥとして、 ＦＥ＝ＦＥ（５０１）＋α｛ＦＥ（５０２）＋ＦＥ（５
０３）｝ を用いる３ビームを用いた非点収差法が提案されている
（第６０回応用物理学会学術講演会 講演予稿集Ｎｏ．
３ ３ａ ＺＣ−１１）。
【０００８】この方法においては、メインビームＭＬＢ
と２つのサブビームＳＬＢ１、ＳＬＢ２とを４分割され
たセンサー５０１、５０２、５０３の中心に正確に照射
する必要があるが、半導体レーザから生成されたレーザ
光をメインビームＭＬＢと２つのサブビームＳＬＢ１、
ＳＬＢ２とに回折する回折格子と半導体レーザとの距離
が経時変化により光ピックアップ組立時と異なった場
合、回折格子の格子が形成された方向とレーザ光の偏光
面との角度が光ピックアップ組立時と異なった場合、お
よび半導体レーザから生成されたレーザ光の波長が変化
した場合等には、サブビームＳＬＢ１、ＳＬＢ２がセン
サー５０２、５０３に照射される位置は、センサー５０
２、５０３の中心からＤＶＤ−ＲＡＭのタンジェンシャ
ル方向ＤＲ１、またはトラッキング方向ＤＲ２にずれ、
センサー５０２、５０３において正確にＦＥ（５０
２）、ＦＥ（５０３）を検出できない結果、フォーカス
エラー信号ＦＥも不正確になるという問題がある。
と２つのサブビームＳＬＢ１、ＳＬＢ２とを４分割され
たセンサー５０１、５０２、５０３の中心に正確に照射
する必要があるが、半導体レーザから生成されたレーザ
光をメインビームＭＬＢと２つのサブビームＳＬＢ１、
ＳＬＢ２とに回折する回折格子と半導体レーザとの距離
が経時変化により光ピックアップ組立時と異なった場
合、回折格子の格子が形成された方向とレーザ光の偏光
面との角度が光ピックアップ組立時と異なった場合、お
よび半導体レーザから生成されたレーザ光の波長が変化
した場合等には、サブビームＳＬＢ１、ＳＬＢ２がセン
サー５０２、５０３に照射される位置は、センサー５０
２、５０３の中心からＤＶＤ−ＲＡＭのタンジェンシャ
ル方向ＤＲ１、またはトラッキング方向ＤＲ２にずれ、
センサー５０２、５０３において正確にＦＥ（５０
２）、ＦＥ（５０３）を検出できない結果、フォーカス
エラー信号ＦＥも不正確になるという問題がある。
【０００９】そこで、本願発明は、かかる問題を解決
し、光ピックアップの構成部品間距離、構成部品の設置
状態、およびレーザ光の波長等が経時変化により変化し
た場合でも正確にフォーカスエラー信号を検出できる光
ピックアップ装置およびそれを用いた光ディスク装置を
提供することを目的とする。
し、光ピックアップの構成部品間距離、構成部品の設置
状態、およびレーザ光の波長等が経時変化により変化し
た場合でも正確にフォーカスエラー信号を検出できる光
ピックアップ装置およびそれを用いた光ディスク装置を
提供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段および発明の効果】請求項
１に係る発明は、対物レンズによりレーザ光を光記録媒
体に集光照射して光記録媒体に信号を記録および／また
は再生する光ピックアップ装置であって、レーザ光を生
成するレーザ光源と、レーザ光源から生成されたレーザ
光をメインビームと第１および第２のサブビームとに回
折して対物レンズに導く回折格子と、メインビームと第
１および第２のサブビームの光記録媒体での反射光を検
出する光検出器とを備え、光検出器は、メインビームの
光記録媒体での反射光を検出する第１検出部と、第１の
サブビームの光記録媒体での反射光を検出する第２検出
部と、第２のサブビームの光記録媒体での反射光を検出
する第３検出部とから成り、第１検出部は、Ｓ字カーブ
を演算可能に領域分割され、第２および第３検出部は、
照射されるレーザ光の光軸がずれた場合にもＳ字カーブ
のピークが最大となるように、Ｓ字カーブを演算するた
めの４つの領域を変更可能に領域分割されている光ピッ
クアップ装置である。
１に係る発明は、対物レンズによりレーザ光を光記録媒
体に集光照射して光記録媒体に信号を記録および／また
は再生する光ピックアップ装置であって、レーザ光を生
成するレーザ光源と、レーザ光源から生成されたレーザ
光をメインビームと第１および第２のサブビームとに回
折して対物レンズに導く回折格子と、メインビームと第
１および第２のサブビームの光記録媒体での反射光を検
出する光検出器とを備え、光検出器は、メインビームの
光記録媒体での反射光を検出する第１検出部と、第１の
サブビームの光記録媒体での反射光を検出する第２検出
部と、第２のサブビームの光記録媒体での反射光を検出
する第３検出部とから成り、第１検出部は、Ｓ字カーブ
を演算可能に領域分割され、第２および第３検出部は、
照射されるレーザ光の光軸がずれた場合にもＳ字カーブ
のピークが最大となるように、Ｓ字カーブを演算するた
めの４つの領域を変更可能に領域分割されている光ピッ
クアップ装置である。
【００１１】請求項１に記載された光ピックアップ装置
においては、レーザ光源から生成されたレーザ光は回折
格子によりメインビームと第１および第２のサブビーム
とに回折されて対物レンズにより光記録媒体に集光照射
される。そして、光記録媒体で反射されたメインビー
ム、第１のサブビーム、および第２のサブビームは、そ
れぞれ、光検出器の第１検出部、第２検出部、および第
３検出部で検出される。そして、メインビームは、第１
検出部のＳ字カーブを演算可能に分割された領域で検出
され、第１のサブビームは、第２検出部のＳ字カーブを
演算するための４つの領域を変更可能に分割された領域
で検出され、第２のサブビームは、第３検出部のＳ字カ
ーブを演算するための４つの領域を変更可能に分割され
た領域で検出される。
においては、レーザ光源から生成されたレーザ光は回折
格子によりメインビームと第１および第２のサブビーム
とに回折されて対物レンズにより光記録媒体に集光照射
される。そして、光記録媒体で反射されたメインビー
ム、第１のサブビーム、および第２のサブビームは、そ
れぞれ、光検出器の第１検出部、第２検出部、および第
３検出部で検出される。そして、メインビームは、第１
検出部のＳ字カーブを演算可能に分割された領域で検出
され、第１のサブビームは、第２検出部のＳ字カーブを
演算するための４つの領域を変更可能に分割された領域
で検出され、第２のサブビームは、第３検出部のＳ字カ
ーブを演算するための４つの領域を変更可能に分割され
た領域で検出される。
【００１２】従って、請求項１に記載された発明によれ
ば、第１および第２のサブビームの光記録媒体での反射
光が、それぞれ、第２検出部、第３検出部に照射される
位置がずれた場合にも、第２検出部、第３検出部で検出
されたレーザ光の強度を用いてピークが最大となるＳ字
カーブを得ることができ、その結果、３つのレーザ光を
用いた非点収差法によるフォーカスサーボにおいて正確
なフォーカスエラー信号を生成できる。
ば、第１および第２のサブビームの光記録媒体での反射
光が、それぞれ、第２検出部、第３検出部に照射される
位置がずれた場合にも、第２検出部、第３検出部で検出
されたレーザ光の強度を用いてピークが最大となるＳ字
カーブを得ることができ、その結果、３つのレーザ光を
用いた非点収差法によるフォーカスサーボにおいて正確
なフォーカスエラー信号を生成できる。
【００１３】また、請求項２に係る発明は、請求項１記
載の光ピックアップ装置と、光検出器の第１検出部から
の光信号を入力し、第１のＳ字カーブを演算出力する第
１演算回路と、光検出器の第２検出部の各領域からの光
信号を入力し、４つの領域を変更してＳ字カーブを演算
し、ピークが最大となる第２のＳ字カーブを選択出力す
る第２演算回路と、光検出器の第３検出部の各領域から
の光信号を入力し、４つの領域を変更してＳ字カーブを
演算し、ピークが最大となる第３のＳ字カーブを選択出
力する第３演算回路と、第１演算回路からの第１のＳ字
カーブと、第２演算回路からの第２のＳ字カーブと、第
３演算回路からの第３のＳ字カーブとに基づいてフォー
カスエラー信号を演算する第４演算回路とを含む光ディ
スク装置である。
載の光ピックアップ装置と、光検出器の第１検出部から
の光信号を入力し、第１のＳ字カーブを演算出力する第
１演算回路と、光検出器の第２検出部の各領域からの光
信号を入力し、４つの領域を変更してＳ字カーブを演算
し、ピークが最大となる第２のＳ字カーブを選択出力す
る第２演算回路と、光検出器の第３検出部の各領域から
の光信号を入力し、４つの領域を変更してＳ字カーブを
演算し、ピークが最大となる第３のＳ字カーブを選択出
力する第３演算回路と、第１演算回路からの第１のＳ字
カーブと、第２演算回路からの第２のＳ字カーブと、第
３演算回路からの第３のＳ字カーブとに基づいてフォー
カスエラー信号を演算する第４演算回路とを含む光ディ
スク装置である。
【００１４】請求項２に記載された光ディスク装置にお
いては、光ピックアップ装置の光検出器を構成する第
１、第２、および第３検出部で検出されたレーザ光の強
度を用いて、第１、第２、および第３演算回路により第
１のＳ字カーブ、ピークが最大となる第２および第３の
Ｓ字カーブが演算され、第１、第２、および第３のＳ字
カーブを用いて第４演算回路によりフォーカスエラー信
号が演算される。そして、演算されたフォーカスエラー
信号に基づいて対物レンズのフォーカスサーボが行われ
る。
いては、光ピックアップ装置の光検出器を構成する第
１、第２、および第３検出部で検出されたレーザ光の強
度を用いて、第１、第２、および第３演算回路により第
１のＳ字カーブ、ピークが最大となる第２および第３の
Ｓ字カーブが演算され、第１、第２、および第３のＳ字
カーブを用いて第４演算回路によりフォーカスエラー信
号が演算される。そして、演算されたフォーカスエラー
信号に基づいて対物レンズのフォーカスサーボが行われ
る。
【００１５】従って、請求項２に記載された発明によれ
ば、第１および第２のサブビームの光記録媒体での反射
光が第２検出部、第３検出部へ照射される位置がずれた
場合でも、ピークが最大のＳ字カーブを得ることがで
き、正確なフォーカスエラー信号を生成できる。その結
果、安定したフォーカスサーボが可能である。
ば、第１および第２のサブビームの光記録媒体での反射
光が第２検出部、第３検出部へ照射される位置がずれた
場合でも、ピークが最大のＳ字カーブを得ることがで
き、正確なフォーカスエラー信号を生成できる。その結
果、安定したフォーカスサーボが可能である。
【００１６】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図を参照し
つつ説明する。図１を参照して、本願発明に係る光ピッ
クアップ装置１０は、半導体レーザ１と、回折格子２
と、ハーフミラー３と、コリメータレンズ４と、対物レ
ンズ５と、光検出器７とを備える。半導体レーザ１は、
波長６５０ｎｍのレーザ光を生成する。回折格子２は、
半導体レーザ１から生成されたレーザ光をメインビーム
と２つのサブビームに回折する。ハーフミラー３は、回
折格子からのレーザ光を半分透過させ、半分をコリメー
タレンズ４の方向へ反射する。コリメータレンズ４は、
ハーフミラー３からのレーザ光を平行光にする。対物レ
ンズ５は、コリメータレンズ４からのレーザ光を集光
し、ＤＶＤ−ＲＡＭ６の信号記録面６ａにメインビーム
と２つのサブビームを照射する。光検出器７は、ＤＶＤ
−ＲＡＭ６の信号記録面６ａで反射されたメインビーム
と２つのサブビームを検出する。
つつ説明する。図１を参照して、本願発明に係る光ピッ
クアップ装置１０は、半導体レーザ１と、回折格子２
と、ハーフミラー３と、コリメータレンズ４と、対物レ
ンズ５と、光検出器７とを備える。半導体レーザ１は、
波長６５０ｎｍのレーザ光を生成する。回折格子２は、
半導体レーザ１から生成されたレーザ光をメインビーム
と２つのサブビームに回折する。ハーフミラー３は、回
折格子からのレーザ光を半分透過させ、半分をコリメー
タレンズ４の方向へ反射する。コリメータレンズ４は、
ハーフミラー３からのレーザ光を平行光にする。対物レ
ンズ５は、コリメータレンズ４からのレーザ光を集光
し、ＤＶＤ−ＲＡＭ６の信号記録面６ａにメインビーム
と２つのサブビームを照射する。光検出器７は、ＤＶＤ
−ＲＡＭ６の信号記録面６ａで反射されたメインビーム
と２つのサブビームを検出する。
【００１７】従って、半導体レーザ１から生成された波
長６５０ｎｍのレーザ光は、回折格子２でメインビーム
と２つのサブビームとに回折され、ハーフミラー３で半
分がコリメータレンズ４の方向ヘ反射され、コリメータ
レンズ４により平行光にされる。そして、対物レンズ５
により集光され、ＤＶＤ−ＲＡＭ６の信号記録面６ａに
照射される。信号記録面６ａで反射されたレーザ光は、
対物レンズ５、およびコリメータレンズ４を介してハー
フミラー３まで戻り、ハーフミラー３を透過して光検出
器７で検出される。
長６５０ｎｍのレーザ光は、回折格子２でメインビーム
と２つのサブビームとに回折され、ハーフミラー３で半
分がコリメータレンズ４の方向ヘ反射され、コリメータ
レンズ４により平行光にされる。そして、対物レンズ５
により集光され、ＤＶＤ−ＲＡＭ６の信号記録面６ａに
照射される。信号記録面６ａで反射されたレーザ光は、
対物レンズ５、およびコリメータレンズ４を介してハー
フミラー３まで戻り、ハーフミラー３を透過して光検出
器７で検出される。
【００１８】図２を参照して、ＤＶＤ−ＲＡＭ６は、グ
ルーブ６０と、グルーブ６０の両側にランド６１、６２
が配置された平面構造を有し、レーザ光の入射面６３か
らグルーブ６０までの距離は、レーザ光の入射面６３か
らランド６１、６２までの距離より短い断面構造を有す
る。グルーブ６０とランド６１、６２の幅、即ち、径方
向（トラッキング方向とも言う。）ＤＲ２の距離は０．
６１５μｍであり、グルーブ６０とランド６１、６２と
の段差は６０ｎｍ（これでよろしいですか？）である。
そして、回折格子２で回折されたメインビームＭＬＢと
２つのサブビームＳＬＢ１、ＳＬＢ２は、メインビーム
ＭＬＢの光軸がグルーブ６０の中心に一致する場合、サ
ブビームＳＬＢ１の光軸がグルーブ６０に隣接する一方
のランド６１の中心に一致し、サブビームＳＬＢ２の光
軸はグルーブ６０に隣接する他方のランド６２の中心に
一致するように照射される。
ルーブ６０と、グルーブ６０の両側にランド６１、６２
が配置された平面構造を有し、レーザ光の入射面６３か
らグルーブ６０までの距離は、レーザ光の入射面６３か
らランド６１、６２までの距離より短い断面構造を有す
る。グルーブ６０とランド６１、６２の幅、即ち、径方
向（トラッキング方向とも言う。）ＤＲ２の距離は０．
６１５μｍであり、グルーブ６０とランド６１、６２と
の段差は６０ｎｍ（これでよろしいですか？）である。
そして、回折格子２で回折されたメインビームＭＬＢと
２つのサブビームＳＬＢ１、ＳＬＢ２は、メインビーム
ＭＬＢの光軸がグルーブ６０の中心に一致する場合、サ
ブビームＳＬＢ１の光軸がグルーブ６０に隣接する一方
のランド６１の中心に一致し、サブビームＳＬＢ２の光
軸はグルーブ６０に隣接する他方のランド６２の中心に
一致するように照射される。
【００１９】図３を参照して、光ピックアップ装置１０
の光検出器７は、第１検出部７１、第２検出部７２、お
よび第３検出部７３を備える。第２検出部７２、第１検
出部７１、第３検出部７３の配置がＤＶＤ−ＲＡＭ６の
トラック方向ＤＲ１になるように第１、第２、および第
３検出部７１、７２、７３が設置される。第１検出部７
１、４分割されており、領域Ｂ１（７１１）、Ｂ２（７
１２）、Ｂ３（７１３）、およびＢ４（７１４）から成
る。また、第２検出部７２は、９分割されており、領域
Ａ１（７２１）、Ａ２（７２２）、Ａ３（７２３）、Ａ
４（７２４）、Ａ５（７２５）、Ａ６（７２６）、Ａ７
（７２７）、Ａ８（７２８）、およびＡ９（７２９）か
ら成る。更に、第３検出部７３も、９分割されており、
領域Ｃ１（７３１）、Ｃ２（７３２）、Ｃ３（７３
３）、Ｃ４（７３４）、Ｃ５（７３５）、Ｃ６（７３
６）、Ｃ７（７３７）、Ｃ８（７３８）、およびＣ９
（７３９）から成る。
の光検出器７は、第１検出部７１、第２検出部７２、お
よび第３検出部７３を備える。第２検出部７２、第１検
出部７１、第３検出部７３の配置がＤＶＤ−ＲＡＭ６の
トラック方向ＤＲ１になるように第１、第２、および第
３検出部７１、７２、７３が設置される。第１検出部７
１、４分割されており、領域Ｂ１（７１１）、Ｂ２（７
１２）、Ｂ３（７１３）、およびＢ４（７１４）から成
る。また、第２検出部７２は、９分割されており、領域
Ａ１（７２１）、Ａ２（７２２）、Ａ３（７２３）、Ａ
４（７２４）、Ａ５（７２５）、Ａ６（７２６）、Ａ７
（７２７）、Ａ８（７２８）、およびＡ９（７２９）か
ら成る。更に、第３検出部７３も、９分割されており、
領域Ｃ１（７３１）、Ｃ２（７３２）、Ｃ３（７３
３）、Ｃ４（７３４）、Ｃ５（７３５）、Ｃ６（７３
６）、Ｃ７（７３７）、Ｃ８（７３８）、およびＣ９
（７３９）から成る。
【００２０】メインビームＭＬＢの光軸と第１のサブビ
ームＳＬＢ１の光軸との距離と、メインビームＭＬＢの
光軸と第２のサブビームＳＬＢ２の光軸との距離とは等
しく、約２００μｍである。そして、第１検出部７１、
第２検出部７２、第３検出部７３は、一辺１００μｍの
正方形の形状を有する。第１検出部７１は４分割されて
いるので、各領域Ｂ１、Ｂ２、Ｂ３、Ｂ４（７１１、７
１２、７１３、７１４）は、一辺５０μｍの正方形の形
状を有する。また、第２検出部７２の領域Ａ１（７２
１）、Ａ３（７２３）、Ａ７（７２７）、およびＡ９
（７２９）は、一辺４０μｍの正方形の形状を有し、領
域Ａ２（７２２）およびＡ８（７２８）はタンジェンシ
ャル方向ＤＲ１に２０μｍ、トラッキング方向ＤＲ２に
４０μｍの長方形の形状を有し、領域Ａ４（７２４）お
よびＡ６（７２６）は、タンジェンシャル方向ＤＲ１に
４０μｍ、トラッキング方向ＤＲ２に２０μｍの長方形
の形状を有し、領域Ａ５（７２５）は、一辺２０μｍの
正方形の形状を有する。第３検出部７３の各領域Ｃ１
（７３１）、Ｃ２（７３２）、Ｃ３（７３３）、Ｃ４
（７３４）、Ｃ５（７３５）、Ｃ６（７３６）、Ｃ７
（７３７）、Ｃ８（７３８）、およびＣ９（７３９）
は、第２検出部７２の対応する各領域Ａ１（７２１）、
Ａ２（７２２）、Ａ３（７２３）、Ａ４（７２４）、Ａ
５（７２５）、Ａ６（７２６）、Ａ７（７２７）、Ａ８
（７２８）、およびＡ９（７２９）と同じ寸法、同じ形
状を有する。
ームＳＬＢ１の光軸との距離と、メインビームＭＬＢの
光軸と第２のサブビームＳＬＢ２の光軸との距離とは等
しく、約２００μｍである。そして、第１検出部７１、
第２検出部７２、第３検出部７３は、一辺１００μｍの
正方形の形状を有する。第１検出部７１は４分割されて
いるので、各領域Ｂ１、Ｂ２、Ｂ３、Ｂ４（７１１、７
１２、７１３、７１４）は、一辺５０μｍの正方形の形
状を有する。また、第２検出部７２の領域Ａ１（７２
１）、Ａ３（７２３）、Ａ７（７２７）、およびＡ９
（７２９）は、一辺４０μｍの正方形の形状を有し、領
域Ａ２（７２２）およびＡ８（７２８）はタンジェンシ
ャル方向ＤＲ１に２０μｍ、トラッキング方向ＤＲ２に
４０μｍの長方形の形状を有し、領域Ａ４（７２４）お
よびＡ６（７２６）は、タンジェンシャル方向ＤＲ１に
４０μｍ、トラッキング方向ＤＲ２に２０μｍの長方形
の形状を有し、領域Ａ５（７２５）は、一辺２０μｍの
正方形の形状を有する。第３検出部７３の各領域Ｃ１
（７３１）、Ｃ２（７３２）、Ｃ３（７３３）、Ｃ４
（７３４）、Ｃ５（７３５）、Ｃ６（７３６）、Ｃ７
（７３７）、Ｃ８（７３８）、およびＣ９（７３９）
は、第２検出部７２の対応する各領域Ａ１（７２１）、
Ａ２（７２２）、Ａ３（７２３）、Ａ４（７２４）、Ａ
５（７２５）、Ａ６（７２６）、Ａ７（７２７）、Ａ８
（７２８）、およびＡ９（７２９）と同じ寸法、同じ形
状を有する。
【００２１】経時変化により第１のサブビームＳＬＢ１
の光軸が第２検出部７２の中心から点３０へずれ、第２
のサブビームＳＬＢ２の光軸が第３検出部７３の中心か
ら点４０へずれた場合、第２検出部７２で検出された第
１のサブビームＳＬＢ１の強度を用いてＳ字カーブを演
算する際の４分割は、領域Ａ１（７２１）＋Ａ４（７２
４）、領域Ａ２（７２２）＋Ａ３（７２３）＋Ａ５（７
２５）＋Ａ６（７２６）、Ａ７（７２７）、Ａ８（７２
８）＋Ａ９（７２９）である。従って、各領域Ａ１（７
２１）、Ａ２（７２２）、Ａ３（７２３）、Ａ４（７２
４）、Ａ５（７２５）、Ａ６（７２６）、Ａ７（７２
７）、Ａ８（７２８）、およびＡ９（７２９）で検出さ
れる第１のサブビームＳＬＢ１の強度を、それぞれ、
［ＩＡ１］、［ＩＡ２］、［ＩＡ３］、［ＩＡ４］、
［ＩＡ５］、［ＩＡ６］、［ＩＡ７］、［ＩＡ８］、お
よび［ＩＡ９］とすると、第２検出部７２で検出される
非点収差法によるフォーカスエラー信号ＦＥ（２）
（「Ｓ字カーブ」とも言う。）は、 ＦＥ（２）＝［ＩＡ７＋ＩＡ２＋ＩＡ３＋ＩＡ５＋ＩＡ６］−［ＩＡ１＋ＩＡ ４＋ＩＡ８＋ＩＡ９］・・・・・・・（１） により演算される。
の光軸が第２検出部７２の中心から点３０へずれ、第２
のサブビームＳＬＢ２の光軸が第３検出部７３の中心か
ら点４０へずれた場合、第２検出部７２で検出された第
１のサブビームＳＬＢ１の強度を用いてＳ字カーブを演
算する際の４分割は、領域Ａ１（７２１）＋Ａ４（７２
４）、領域Ａ２（７２２）＋Ａ３（７２３）＋Ａ５（７
２５）＋Ａ６（７２６）、Ａ７（７２７）、Ａ８（７２
８）＋Ａ９（７２９）である。従って、各領域Ａ１（７
２１）、Ａ２（７２２）、Ａ３（７２３）、Ａ４（７２
４）、Ａ５（７２５）、Ａ６（７２６）、Ａ７（７２
７）、Ａ８（７２８）、およびＡ９（７２９）で検出さ
れる第１のサブビームＳＬＢ１の強度を、それぞれ、
［ＩＡ１］、［ＩＡ２］、［ＩＡ３］、［ＩＡ４］、
［ＩＡ５］、［ＩＡ６］、［ＩＡ７］、［ＩＡ８］、お
よび［ＩＡ９］とすると、第２検出部７２で検出される
非点収差法によるフォーカスエラー信号ＦＥ（２）
（「Ｓ字カーブ」とも言う。）は、 ＦＥ（２）＝［ＩＡ７＋ＩＡ２＋ＩＡ３＋ＩＡ５＋ＩＡ６］−［ＩＡ１＋ＩＡ ４＋ＩＡ８＋ＩＡ９］・・・・・・・（１） により演算される。
【００２２】また、同様に第３検出部７３で検出される
非点収差法によるフォーカスエラー信号ＦＥ（３）は、 ＦＥ（３）＝［ＩＣ３＋ＩＣ４＋ＩＣ５＋ＩＣ７＋ＩＣ８］−［ＩＣ１＋ＩＣ ２＋ＩＣ６＋ＩＣ９］・・・・・・・（２） により演算される。
非点収差法によるフォーカスエラー信号ＦＥ（３）は、 ＦＥ（３）＝［ＩＣ３＋ＩＣ４＋ＩＣ５＋ＩＣ７＋ＩＣ８］−［ＩＣ１＋ＩＣ ２＋ＩＣ６＋ＩＣ９］・・・・・・・（２） により演算される。
【００２３】また、第１検出部７１で検出される非点収
差法によるフォーカスエラー信号ＦＥ（１）は、 ＦＥ（１）＝［ＩＢ１＋ＩＢ４］−［ＩＢ２＋ＩＢ３］・・・・・・・（３） により演算される。そして、最終的にフォーカスエラー
信号ＦＥは、 ＦＥ＝ＦＥ（１）＋α｛ＦＥ（２）＋ＦＥ（３）｝・・・・（４） ただし、α：所定の値により演算される。
差法によるフォーカスエラー信号ＦＥ（１）は、 ＦＥ（１）＝［ＩＢ１＋ＩＢ４］−［ＩＢ２＋ＩＢ３］・・・・・・・（３） により演算される。そして、最終的にフォーカスエラー
信号ＦＥは、 ＦＥ＝ＦＥ（１）＋α｛ＦＥ（２）＋ＦＥ（３）｝・・・・（４） ただし、α：所定の値により演算される。
【００２４】この場合、メインビームＭＬＢが第１検出
部７１へ照射される位置は経時変化により変化しないの
で、第１検出部７１が４分割されていれば、常に正確に
ＦＥ（１）を演算できる。上記説明したように第１のサ
ブビームＳＬＢ１の光軸が第２検出部７２の中心から点
３０にずれ、第２のサブビームＳＬＢ２の光軸が第３検
出部７３の中心から点４０にずれた場合にも、３つのレ
ーザ光を用いて正確にフォーカスエラー信号ＦＥを生成
できる。
部７１へ照射される位置は経時変化により変化しないの
で、第１検出部７１が４分割されていれば、常に正確に
ＦＥ（１）を演算できる。上記説明したように第１のサ
ブビームＳＬＢ１の光軸が第２検出部７２の中心から点
３０にずれ、第２のサブビームＳＬＢ２の光軸が第３検
出部７３の中心から点４０にずれた場合にも、３つのレ
ーザ光を用いて正確にフォーカスエラー信号ＦＥを生成
できる。
【００２５】図３においては、第１のサブビームＳＬＢ
１の光軸、および第２のサブビームＳＬＢ２の光軸がず
れる位置が明確に分かっていることを前提に説明した
が、実際には、第１および第２のサブビームＳＬＢ１、
ＳＬＢ２の光軸がずれる位置は明確になっていない。そ
こで、図４、５、６を参照して、第１および第２のサブ
ビームＳＬＢ１、ＳＬＢ２がいずれの方向にずれてもピ
ークが最大となるフォーカスエラー信号ＦＥ（２）、Ｆ
Ｅ（３）（Ｓ字カーブ）を生成する方法について説明す
る。本願発明においては、第１のサブビームＳＬＢ１の
強度を第２検出部７２で検出し、第２検出部７２の点３
０、点３１、点３２、点３３を中心に第２検出部７２を
４つの領域に分割した場合についてフォーカスエラー信
号ＦＥ（２）30、ＦＥ（２）31、ＦＥ（２）32、ＦＥ
（２）33、（Ｓ字カーブ）を演算し、その演算して得ら
れた信号ＦＥ（２）30、ＦＥ（２）31、ＦＥ（２）32、
ＦＥ（２）33の中からピークが最大となる信号を第２検
出部７２におけるフォーカスエラー信号ＦＥ（２）とし
て抽出する。
１の光軸、および第２のサブビームＳＬＢ２の光軸がず
れる位置が明確に分かっていることを前提に説明した
が、実際には、第１および第２のサブビームＳＬＢ１、
ＳＬＢ２の光軸がずれる位置は明確になっていない。そ
こで、図４、５、６を参照して、第１および第２のサブ
ビームＳＬＢ１、ＳＬＢ２がいずれの方向にずれてもピ
ークが最大となるフォーカスエラー信号ＦＥ（２）、Ｆ
Ｅ（３）（Ｓ字カーブ）を生成する方法について説明す
る。本願発明においては、第１のサブビームＳＬＢ１の
強度を第２検出部７２で検出し、第２検出部７２の点３
０、点３１、点３２、点３３を中心に第２検出部７２を
４つの領域に分割した場合についてフォーカスエラー信
号ＦＥ（２）30、ＦＥ（２）31、ＦＥ（２）32、ＦＥ
（２）33、（Ｓ字カーブ）を演算し、その演算して得ら
れた信号ＦＥ（２）30、ＦＥ（２）31、ＦＥ（２）32、
ＦＥ（２）33の中からピークが最大となる信号を第２検
出部７２におけるフォーカスエラー信号ＦＥ（２）とし
て抽出する。
【００２６】即ち、点３０を中心にして４分割される場
合は、上記（１）式と同じ式で演算され、 ＦＥ（２）30＝［ＩＡ７＋ＩＡ２＋ＩＡ３＋ＩＡ５＋ＩＡ６］−［ＩＡ１＋Ｉ Ａ４＋ＩＡ８＋ＩＡ９］・・・・・・・（５） となり、点３１を中心として４分割される場合は、 ＦＥ（２）31＝［ＩＡ１＋ＩＡ５＋ＩＡ６＋ＩＡ８＋ＩＡ９］−［ＩＡ２＋Ｉ Ａ３＋ＩＡ４＋ＩＡ７］・・・・・・・（６） となり、点３２を中心として４分割される場合は、 ＦＥ（２）32＝［ＩＡ３＋ＩＡ４＋ＩＡ５＋ＩＡ７＋ＩＡ８］−［ＩＡ１＋Ｉ Ａ２＋ＩＡ６＋ＩＡ９］・・・・・・・（７） となり、点３３を中心として４分割される場合は、 ＦＥ（２）33＝［ＩＡ１＋ＩＡ２＋ＩＡ４＋ＩＡ５＋ＩＡ９］−［ＩＡ３＋Ｉ Ａ６＋ＩＡ７＋ＩＡ８］・・・・・・・（８） となる。
合は、上記（１）式と同じ式で演算され、 ＦＥ（２）30＝［ＩＡ７＋ＩＡ２＋ＩＡ３＋ＩＡ５＋ＩＡ６］−［ＩＡ１＋Ｉ Ａ４＋ＩＡ８＋ＩＡ９］・・・・・・・（５） となり、点３１を中心として４分割される場合は、 ＦＥ（２）31＝［ＩＡ１＋ＩＡ５＋ＩＡ６＋ＩＡ８＋ＩＡ９］−［ＩＡ２＋Ｉ Ａ３＋ＩＡ４＋ＩＡ７］・・・・・・・（６） となり、点３２を中心として４分割される場合は、 ＦＥ（２）32＝［ＩＡ３＋ＩＡ４＋ＩＡ５＋ＩＡ７＋ＩＡ８］−［ＩＡ１＋Ｉ Ａ２＋ＩＡ６＋ＩＡ９］・・・・・・・（７） となり、点３３を中心として４分割される場合は、 ＦＥ（２）33＝［ＩＡ１＋ＩＡ２＋ＩＡ４＋ＩＡ５＋ＩＡ９］−［ＩＡ３＋Ｉ Ａ６＋ＩＡ７＋ＩＡ８］・・・・・・・（８） となる。
【００２７】そして、演算されたＦＥ（２）30、ＦＥ
（２）31、ＦＥ（２）32、およびＦＥ（２）33の中か
ら、ピークが最大のフォーカスエラー信号を選択し、フ
ォーカスエラー信号ＦＥ（２）として出力する。図５を
参照して、第２検出部７２で検出された第１のサブビー
ムＳＬＢ１の強度を用いて、第２検出部７２を４分割す
る領域を変化させてフォーカスエラー信号を演算し、ピ
ークが最大となるフォーカスエラー信号を選択出力する
第２演算回路１２０は、回路１２００と、回路１２１０
と、回路１２２０と、回路１２３０と、最大ピーク検出
回路１２４０と、Ｓ字カーブ出力回路１２５０と、端子
１２５１、１２５２、１２５３、１２５４と、スイッチ
１２５５とを備える。回路１２００は、加算器１２０１
と、加算器１２０２と、加算器１２０３と、減算器１２
０４とを備え、回路１２１０は、加算器１２１１と、加
算器１２１２と、加算器１２１３と、減算器１２１４と
を備え、回路１２２０は、加算器１２２１と、加算器１
２２２と、加算器１２２３と、減算器１２２４とを備
え、回路１２３０は、加算器１２３１と、加算器１２３
２と、加算器１２３３と、減算器１２３４とを備える。
（２）31、ＦＥ（２）32、およびＦＥ（２）33の中か
ら、ピークが最大のフォーカスエラー信号を選択し、フ
ォーカスエラー信号ＦＥ（２）として出力する。図５を
参照して、第２検出部７２で検出された第１のサブビー
ムＳＬＢ１の強度を用いて、第２検出部７２を４分割す
る領域を変化させてフォーカスエラー信号を演算し、ピ
ークが最大となるフォーカスエラー信号を選択出力する
第２演算回路１２０は、回路１２００と、回路１２１０
と、回路１２２０と、回路１２３０と、最大ピーク検出
回路１２４０と、Ｓ字カーブ出力回路１２５０と、端子
１２５１、１２５２、１２５３、１２５４と、スイッチ
１２５５とを備える。回路１２００は、加算器１２０１
と、加算器１２０２と、加算器１２０３と、減算器１２
０４とを備え、回路１２１０は、加算器１２１１と、加
算器１２１２と、加算器１２１３と、減算器１２１４と
を備え、回路１２２０は、加算器１２２１と、加算器１
２２２と、加算器１２２３と、減算器１２２４とを備
え、回路１２３０は、加算器１２３１と、加算器１２３
２と、加算器１２３３と、減算器１２３４とを備える。
【００２８】回路１２００は、第２検出部７２を点３０
を中心として４分割した場合のフォーカスエラー信号Ｆ
Ｅ（２）30を演算する回路、即ち、上記（５）式の演算
を行う回路であり、加算器１２０１は、［ＩＡ１＋ＩＡ
４＋ＩＡ８＋ＩＡ９］の演算を行い、加算器１２０２は
［ＩＡ２＋ＩＡ３＋ＩＡ５＋ＩＡ６］の演算を行い、加
算器１２０３は、［［ＩＡ２＋ＩＡ３＋ＩＡ５＋ＩＡ
６］＋［ＩＡ７］］の演算を行い、減算器１２０４は、
［ＩＡ２＋ＩＡ３＋ＩＡ５＋ＩＡ６＋ＩＡ７］−［ＩＡ
１＋ＩＡ４＋ＩＡ８＋ＩＡ９］の演算を行い、ＦＥ
（２）30として最大ピーク検出回路１２４０と、端子１
２５１へ出力する。
を中心として４分割した場合のフォーカスエラー信号Ｆ
Ｅ（２）30を演算する回路、即ち、上記（５）式の演算
を行う回路であり、加算器１２０１は、［ＩＡ１＋ＩＡ
４＋ＩＡ８＋ＩＡ９］の演算を行い、加算器１２０２は
［ＩＡ２＋ＩＡ３＋ＩＡ５＋ＩＡ６］の演算を行い、加
算器１２０３は、［［ＩＡ２＋ＩＡ３＋ＩＡ５＋ＩＡ
６］＋［ＩＡ７］］の演算を行い、減算器１２０４は、
［ＩＡ２＋ＩＡ３＋ＩＡ５＋ＩＡ６＋ＩＡ７］−［ＩＡ
１＋ＩＡ４＋ＩＡ８＋ＩＡ９］の演算を行い、ＦＥ
（２）30として最大ピーク検出回路１２４０と、端子１
２５１へ出力する。
【００２９】また、回路１２１０は、第２検出部７２を
点３１を中心として４分割した場合のフォーカスエラー
信号ＦＥ（２）31を演算する回路、即ち、上記（６）式
の演算を行う回路であり、加算器１２１１は、［ＩＡ２
＋ＩＡ３＋ＩＡ４＋ＩＡ７］の演算を行い、加算器１２
１２は［ＩＡ５＋ＩＡ６＋ＩＡ８＋ＩＡ９］の演算を行
い、加算器１２１３は、［［ＩＡ５＋ＩＡ６＋ＩＡ８＋
ＩＡ９］＋［ＩＡ１］］の演算を行い、減算器１２０４
は、［ＩＡ１＋ＩＡ５＋ＩＡ６＋ＩＡ８＋ＩＡ９］−
［ＩＡ２＋ＩＡ３＋ＩＡ４＋ＩＡ７］の演算を行い、Ｆ
Ｅ（２）31として最大ピーク検出回路１２４０と、端子
１２５２へ出力する。
点３１を中心として４分割した場合のフォーカスエラー
信号ＦＥ（２）31を演算する回路、即ち、上記（６）式
の演算を行う回路であり、加算器１２１１は、［ＩＡ２
＋ＩＡ３＋ＩＡ４＋ＩＡ７］の演算を行い、加算器１２
１２は［ＩＡ５＋ＩＡ６＋ＩＡ８＋ＩＡ９］の演算を行
い、加算器１２１３は、［［ＩＡ５＋ＩＡ６＋ＩＡ８＋
ＩＡ９］＋［ＩＡ１］］の演算を行い、減算器１２０４
は、［ＩＡ１＋ＩＡ５＋ＩＡ６＋ＩＡ８＋ＩＡ９］−
［ＩＡ２＋ＩＡ３＋ＩＡ４＋ＩＡ７］の演算を行い、Ｆ
Ｅ（２）31として最大ピーク検出回路１２４０と、端子
１２５２へ出力する。
【００３０】また、回路１２２０は、第２検出部７２を
点３２を中心として４分割した場合のフォーカスエラー
信号ＦＥ（２）32を演算する回路、即ち、上記（７）式
の演算を行う回路であり、加算器１２２１は、［ＩＡ１
＋ＩＡ２＋ＩＡ６＋ＩＡ９］の演算を行い、加算器１２
２２は［ＩＡ４＋ＩＡ５＋ＩＡ７＋ＩＡ８］の演算を行
い、加算器１２２３は、［［ＩＡ４＋ＩＡ５＋ＩＡ７＋
ＩＡ８］＋［ＩＡ３］］の演算を行い、減算器１２２４
は、［ＩＡ３＋ＩＡ４＋ＩＡ５＋ＩＡ７＋ＩＡ８］−
［ＩＡ１＋ＩＡ２＋ＩＡ６＋ＩＡ９］の演算を行い、Ｆ
Ｅ（２）32として最大ピーク検出回路１２４０と、端子
１２５３へ出力する。
点３２を中心として４分割した場合のフォーカスエラー
信号ＦＥ（２）32を演算する回路、即ち、上記（７）式
の演算を行う回路であり、加算器１２２１は、［ＩＡ１
＋ＩＡ２＋ＩＡ６＋ＩＡ９］の演算を行い、加算器１２
２２は［ＩＡ４＋ＩＡ５＋ＩＡ７＋ＩＡ８］の演算を行
い、加算器１２２３は、［［ＩＡ４＋ＩＡ５＋ＩＡ７＋
ＩＡ８］＋［ＩＡ３］］の演算を行い、減算器１２２４
は、［ＩＡ３＋ＩＡ４＋ＩＡ５＋ＩＡ７＋ＩＡ８］−
［ＩＡ１＋ＩＡ２＋ＩＡ６＋ＩＡ９］の演算を行い、Ｆ
Ｅ（２）32として最大ピーク検出回路１２４０と、端子
１２５３へ出力する。
【００３１】また、回路１２３０は、第２検出部７２を
点３３を中心として４分割した場合のフォーカスエラー
信号ＦＥ（２）33を演算する回路、即ち、上記（８）式
の演算を行う回路であり、加算器１２３１は、［ＩＡ３
＋ＩＡ６＋ＩＡ７＋ＩＡ８］の演算を行い、加算器１２
３２は［ＩＡ１＋ＩＡ２＋ＩＡ４＋ＩＡ５］の演算を行
い、加算器１２３３は、［［ＩＡ１＋ＩＡ２＋ＩＡ４＋
ＩＡ５］＋［ＩＡ９］］の演算を行い、減算器１２３４
は、［ＩＡ１＋ＩＡ２＋ＩＡ４＋ＩＡ５＋ＩＡ９］−
［ＩＡ３＋ＩＡ６＋ＩＡ７＋ＩＡ８］の演算を行い、Ｆ
Ｅ（２）33として最大ピーク検出回路１２４０と、端子
１２５４へ出力する。
点３３を中心として４分割した場合のフォーカスエラー
信号ＦＥ（２）33を演算する回路、即ち、上記（８）式
の演算を行う回路であり、加算器１２３１は、［ＩＡ３
＋ＩＡ６＋ＩＡ７＋ＩＡ８］の演算を行い、加算器１２
３２は［ＩＡ１＋ＩＡ２＋ＩＡ４＋ＩＡ５］の演算を行
い、加算器１２３３は、［［ＩＡ１＋ＩＡ２＋ＩＡ４＋
ＩＡ５］＋［ＩＡ９］］の演算を行い、減算器１２３４
は、［ＩＡ１＋ＩＡ２＋ＩＡ４＋ＩＡ５＋ＩＡ９］−
［ＩＡ３＋ＩＡ６＋ＩＡ７＋ＩＡ８］の演算を行い、Ｆ
Ｅ（２）33として最大ピーク検出回路１２４０と、端子
１２５４へ出力する。
【００３２】そうすると、最大ピーク検出回路１２４０
は、入力したＦＥ（２）30、ＦＥ（２）31、ＦＥ（２）
32、およびＦＥ（２）33の中からピークが最大のフォー
カスエラー信号を選択し、その結果をＳ字カーブ出力回
路１２５０へ出力する。第１のサブビームＳＬＢ１の光
軸が第２検出部７２の点３０の位置に一致して第２検出
部７２へ照射された場合には、ＦＥ（２）30、ＦＥ
（２）31またはＦＥ（２） 33（ピークは同じ。）、ＦＥ
（２）32の順にピークが小さくなる。即ち、図６の
（ａ）に示すＳ字カーブがＦＥ（２）30になり、図６の
（ｂ）に示すＳ字カーブがＦＥ（２）31になり、図６の
（ｃ）に示すＳ字カーブがＦＥ（２）33になり、図６の
（ｄ）に示すＳ字カーブがＦＥ（２）32になる。従っ
て、最大ピーク検出回路１２４０は、フォーカスエラー
信号ＦＥ（２）30を選択し、その結果をＳ字カーブ出力
回路１２５０へ出力する。そうすると、Ｓ字カーブ出力
回路１２５０は、スイッチ１２５５を端子１２５１へ接
続し、フォーカスエラー信号ＦＥ（２）30を端子１２５
６から出力する。
は、入力したＦＥ（２）30、ＦＥ（２）31、ＦＥ（２）
32、およびＦＥ（２）33の中からピークが最大のフォー
カスエラー信号を選択し、その結果をＳ字カーブ出力回
路１２５０へ出力する。第１のサブビームＳＬＢ１の光
軸が第２検出部７２の点３０の位置に一致して第２検出
部７２へ照射された場合には、ＦＥ（２）30、ＦＥ
（２）31またはＦＥ（２） 33（ピークは同じ。）、ＦＥ
（２）32の順にピークが小さくなる。即ち、図６の
（ａ）に示すＳ字カーブがＦＥ（２）30になり、図６の
（ｂ）に示すＳ字カーブがＦＥ（２）31になり、図６の
（ｃ）に示すＳ字カーブがＦＥ（２）33になり、図６の
（ｄ）に示すＳ字カーブがＦＥ（２）32になる。従っ
て、最大ピーク検出回路１２４０は、フォーカスエラー
信号ＦＥ（２）30を選択し、その結果をＳ字カーブ出力
回路１２５０へ出力する。そうすると、Ｓ字カーブ出力
回路１２５０は、スイッチ１２５５を端子１２５１へ接
続し、フォーカスエラー信号ＦＥ（２）30を端子１２５
６から出力する。
【００３３】以上の動作により、第２検出部７２で検出
された第１のサブビームＳＬＢ１の強度を用いて、ピー
クが最大となるフォーカスエラー信号（Ｓ字カーブ）が
第２演算回路１２０から出力される。再び、図４を参照
して、第３検出部７３も第２検出部７２と同じように領
域分割されているので、上記図４、５、６を参照して説
明したのと同じ方法により第２演算回路１２０と同じ構
成を有する第３演算回路１２０を用いてピークが最大と
なるフォーカスエラー信号（Ｓ字カーブ）ＦＥ（３）が
出力される。
された第１のサブビームＳＬＢ１の強度を用いて、ピー
クが最大となるフォーカスエラー信号（Ｓ字カーブ）が
第２演算回路１２０から出力される。再び、図４を参照
して、第３検出部７３も第２検出部７２と同じように領
域分割されているので、上記図４、５、６を参照して説
明したのと同じ方法により第２演算回路１２０と同じ構
成を有する第３演算回路１２０を用いてピークが最大と
なるフォーカスエラー信号（Ｓ字カーブ）ＦＥ（３）が
出力される。
【００３４】図７を参照して、第１検出部７１で検出さ
れたメインビームＭＬＢの強度は第１演算回路１１０へ
入力され、フォーカスエラー信号ＦＥ（１）とＤＶＤ−
ＲＡＭ６からの再生信号ＲＦとが演算され、フォーカス
エラー信号ＦＥ（１）は端子１１０７から出力され、再
生信号ＲＦは端子１１０８から出力される。第１演算回
路１１０は、加算器１１０１と、加算器１１０２と、加
算器１１０４と、加算器１１０５と、加算器１１０６
と、減算器１１０３とを備える。そして、加算器１１０
１と、加算器１１０２と、減算器１１０３とを用いてフ
ォーカスエラー信号ＦＥ（１）が演算され、加算器１１
０４と、加算器１１０５と、加算器１１０６とを用いて
再生信号ＲＦが演算される。
れたメインビームＭＬＢの強度は第１演算回路１１０へ
入力され、フォーカスエラー信号ＦＥ（１）とＤＶＤ−
ＲＡＭ６からの再生信号ＲＦとが演算され、フォーカス
エラー信号ＦＥ（１）は端子１１０７から出力され、再
生信号ＲＦは端子１１０８から出力される。第１演算回
路１１０は、加算器１１０１と、加算器１１０２と、加
算器１１０４と、加算器１１０５と、加算器１１０６
と、減算器１１０３とを備える。そして、加算器１１０
１と、加算器１１０２と、減算器１１０３とを用いてフ
ォーカスエラー信号ＦＥ（１）が演算され、加算器１１
０４と、加算器１１０５と、加算器１１０６とを用いて
再生信号ＲＦが演算される。
【００３５】即ち、加算器１１０１は、第１検出部７１
の領域Ｂ１（７１１）で検出されたメインビームＭＬＢ
の強度［ＩＢ１］と領域Ｂ４（７１４）で検出されたメ
インビームＭＬＢの強度［ＩＢ４］との和［ＩＢ１＋Ｉ
Ｂ４］を演算し、加算器１１０２は、第１検出部７１の
領域Ｂ２（７１２）で検出されたメインビームＭＬＢの
強度［ＩＢ２］と領域Ｂ３（７１３）で検出されたメイ
ンビームＭＬＢの強度［ＩＢ３］との和［ＩＢ２＋ＩＢ
３］を演算し、減算器１１０３は、加算器１１０１の出
力［ＩＢ１＋ＩＢ４］と加算器１１０２の出力［ＩＢ２
＋ＩＢ３］との差分を演算してフォーカスエラー信号Ｆ
Ｅ（１）として［ＩＢ１＋ＩＢ４］−［ＩＢ２＋ＩＢ
３］を端子１１０７から出力する。
の領域Ｂ１（７１１）で検出されたメインビームＭＬＢ
の強度［ＩＢ１］と領域Ｂ４（７１４）で検出されたメ
インビームＭＬＢの強度［ＩＢ４］との和［ＩＢ１＋Ｉ
Ｂ４］を演算し、加算器１１０２は、第１検出部７１の
領域Ｂ２（７１２）で検出されたメインビームＭＬＢの
強度［ＩＢ２］と領域Ｂ３（７１３）で検出されたメイ
ンビームＭＬＢの強度［ＩＢ３］との和［ＩＢ２＋ＩＢ
３］を演算し、減算器１１０３は、加算器１１０１の出
力［ＩＢ１＋ＩＢ４］と加算器１１０２の出力［ＩＢ２
＋ＩＢ３］との差分を演算してフォーカスエラー信号Ｆ
Ｅ（１）として［ＩＢ１＋ＩＢ４］−［ＩＢ２＋ＩＢ
３］を端子１１０７から出力する。
【００３６】また、加算器１１０４は、第１検出部７１
の領域Ｂ１（７１１）で検出されたメインビームＭＬＢ
の強度［ＩＢ１］と領域Ｂ２（７１２）で検出されたメ
インビームＭＬＢの強度［ＩＢ２］との和［ＩＢ１＋Ｉ
Ｂ２］を演算し、加算器１１０５は、第１検出部７１の
領域Ｂ３（７１３）で検出されたメインビームＭＬＢの
強度［ＩＢ３］と領域Ｂ４（７１４）で検出されたメイ
ンビームＭＬＢの強度［ＩＢ４］との和［ＩＢ３＋ＩＢ
４］を演算し、加算器１１０６は、加算器１１０４の出
力［ＩＢ１＋ＩＢ２］と加算器１１０５の出力［ＩＢ３
＋ＩＢ４］との和を演算して再生信号ＲＦとして［ＩＢ
１＋ＩＢ２＋ＩＢ３＋ＩＢ４］を端子１１０８から出力
する。
の領域Ｂ１（７１１）で検出されたメインビームＭＬＢ
の強度［ＩＢ１］と領域Ｂ２（７１２）で検出されたメ
インビームＭＬＢの強度［ＩＢ２］との和［ＩＢ１＋Ｉ
Ｂ２］を演算し、加算器１１０５は、第１検出部７１の
領域Ｂ３（７１３）で検出されたメインビームＭＬＢの
強度［ＩＢ３］と領域Ｂ４（７１４）で検出されたメイ
ンビームＭＬＢの強度［ＩＢ４］との和［ＩＢ３＋ＩＢ
４］を演算し、加算器１１０６は、加算器１１０４の出
力［ＩＢ１＋ＩＢ２］と加算器１１０５の出力［ＩＢ３
＋ＩＢ４］との和を演算して再生信号ＲＦとして［ＩＢ
１＋ＩＢ２＋ＩＢ３＋ＩＢ４］を端子１１０８から出力
する。
【００３７】図８を参照して、第１演算回路１１０で演
算されたフォーカスエラー信号ＦＥ（１）、第１のサブ
ビームＳＬＢ１の強度に基づいて第２演算回路１２０で
演算されたピークが最大となるフォーカスエラー信号Ｆ
Ｅ（２）、および第２のサブビームＳＬＢ２の強度に基
づいて第３演算回路１３０で演算されたピークが最大と
なるフォーカスエラー信号ＦＥ（３）は、第４演算回路
１４０へ入力され、第４演算回路１４０で、上記（４）
式に示したＦＥ＝ＦＥ（１）＋α｛ＦＥ（２）＋ＦＥ
（３）｝の演算が行われ、３つのレーザ光を用いた非点
収差法によるフォーカスエラー信号ＦＥとして出力され
る。
算されたフォーカスエラー信号ＦＥ（１）、第１のサブ
ビームＳＬＢ１の強度に基づいて第２演算回路１２０で
演算されたピークが最大となるフォーカスエラー信号Ｆ
Ｅ（２）、および第２のサブビームＳＬＢ２の強度に基
づいて第３演算回路１３０で演算されたピークが最大と
なるフォーカスエラー信号ＦＥ（３）は、第４演算回路
１４０へ入力され、第４演算回路１４０で、上記（４）
式に示したＦＥ＝ＦＥ（１）＋α｛ＦＥ（２）＋ＦＥ
（３）｝の演算が行われ、３つのレーザ光を用いた非点
収差法によるフォーカスエラー信号ＦＥとして出力され
る。
【００３８】これにより、第１および第２のサブビーム
ＳＬＢ１、ＳＬＢ２が経時変化により、第２検出部７２
または第３検出部７３の中心からずれて第２検出部７２
または第３検出部７３へ照射されても、第１のサブビー
ムＳＬＢ１の強度に基づいてピークが最大となるフォー
カスエラー信号ＦＥ（２）と、第２のサブビームＳＬＢ
２の強度に基づいてピークが最大となるフォーカスエラ
ー信号ＦＥ（３）を生成できるので、正確にフォーカス
エラー信号ＦＥを生成できる。
ＳＬＢ１、ＳＬＢ２が経時変化により、第２検出部７２
または第３検出部７３の中心からずれて第２検出部７２
または第３検出部７３へ照射されても、第１のサブビー
ムＳＬＢ１の強度に基づいてピークが最大となるフォー
カスエラー信号ＦＥ（２）と、第２のサブビームＳＬＢ
２の強度に基づいてピークが最大となるフォーカスエラ
ー信号ＦＥ（３）を生成できるので、正確にフォーカス
エラー信号ＦＥを生成できる。
【００３９】なお、上記図４、５、６を参照して説明し
たように、本願発明においては、第２検出部７２の各領
域または第３検出部７３の各領域で検出されるレーザ光
の強度を用いて、４分割される領域を変化させ、全ての
４分割パターンについてフォーカスエラー信号を演算
し、演算したフォーカスエラー信号の中からピークが最
大となるフォーカスエラー信号を選択する構成を採用し
たが、本願発明は、これに限らず、第１のサブビームＳ
ＬＢ１または第２のサブビームＳＬＢ２が照射されてい
る中心を検出し、その検出結果に基づいて４分割パター
ンを決定してフォーカスエラー信号を演算する構成を採
用しても良い。
たように、本願発明においては、第２検出部７２の各領
域または第３検出部７３の各領域で検出されるレーザ光
の強度を用いて、４分割される領域を変化させ、全ての
４分割パターンについてフォーカスエラー信号を演算
し、演算したフォーカスエラー信号の中からピークが最
大となるフォーカスエラー信号を選択する構成を採用し
たが、本願発明は、これに限らず、第１のサブビームＳ
ＬＢ１または第２のサブビームＳＬＢ２が照射されてい
る中心を検出し、その検出結果に基づいて４分割パター
ンを決定してフォーカスエラー信号を演算する構成を採
用しても良い。
【００４０】再び、図４を参照して、第１のサブビーム
ＳＬＢ１の光軸が点３０と一致して第２検出部７２に照
射されている場合には、領域Ａ７（７２７）で検出され
るレーザ光の強度［ＩＡ７］、領域Ａ１（７２１）で検
出されるレーザ光の強度［ＩＡ７］または領域Ａ９（７
２９）で検出されるレーザ光の強度［ＩＡ９］、領域Ａ
３（７２３）で検出されるレーザ光の強度［ＩＡ３］の
順でレーザ光の強度は弱くなるため、４つの領域Ａ１
（７２１）、Ａ３（７２３）、Ａ７（７２７）、Ａ９
（７２９）で検出される強度［ＩＡ１］、［ＩＡ３］、
［ＩＡ７］、［ＩＡ９］を検出し、その中から最大の強
度を有する領域Ａ７（７２７）を抽出する。領域Ａ７
（７２７）で検出されるレーザ光の強度が最大であると
いうことは、第１のサブビームＳＬＢ１の光軸は点３０
に一致して第２検出部７２へ照射されていることになる
ので、点３０を中心として４分割してフォーカスエラー
信号ＦＥ（２）を演算し、出力すれば良い。以下、同様
に領域Ａ１（７２１）で検出されるレーザ光の強度が最
大であれば点３１を中心として４分割し、領域Ａ３（７
２３）で検出されるレーザ光の強度が最大であれば点３
２を中心として４分割し、領域Ａ９（７２９）で検出さ
れるレーザ光の強度が最大であれば点３３を中心として
４分割してフォーカスエラー信号ＦＥ（２）を演算し、
出力する。また、第１のサブビームＳＬＢ１のずれ方に
よっては、２つの領域、例えば、領域Ａ１（７２１）で
検出されるレーザ光の強度と領域Ａ７（７２７）で検出
されるレーザ光の強度とが同じである場合も考えられる
が、その場合は、点３０または点３１を中心として４分
割し、フォーカスエラー信号ＦＥ（２）を演算すれば、
ピークが大きいフォーカスエラー信号を生成できる。
ＳＬＢ１の光軸が点３０と一致して第２検出部７２に照
射されている場合には、領域Ａ７（７２７）で検出され
るレーザ光の強度［ＩＡ７］、領域Ａ１（７２１）で検
出されるレーザ光の強度［ＩＡ７］または領域Ａ９（７
２９）で検出されるレーザ光の強度［ＩＡ９］、領域Ａ
３（７２３）で検出されるレーザ光の強度［ＩＡ３］の
順でレーザ光の強度は弱くなるため、４つの領域Ａ１
（７２１）、Ａ３（７２３）、Ａ７（７２７）、Ａ９
（７２９）で検出される強度［ＩＡ１］、［ＩＡ３］、
［ＩＡ７］、［ＩＡ９］を検出し、その中から最大の強
度を有する領域Ａ７（７２７）を抽出する。領域Ａ７
（７２７）で検出されるレーザ光の強度が最大であると
いうことは、第１のサブビームＳＬＢ１の光軸は点３０
に一致して第２検出部７２へ照射されていることになる
ので、点３０を中心として４分割してフォーカスエラー
信号ＦＥ（２）を演算し、出力すれば良い。以下、同様
に領域Ａ１（７２１）で検出されるレーザ光の強度が最
大であれば点３１を中心として４分割し、領域Ａ３（７
２３）で検出されるレーザ光の強度が最大であれば点３
２を中心として４分割し、領域Ａ９（７２９）で検出さ
れるレーザ光の強度が最大であれば点３３を中心として
４分割してフォーカスエラー信号ＦＥ（２）を演算し、
出力する。また、第１のサブビームＳＬＢ１のずれ方に
よっては、２つの領域、例えば、領域Ａ１（７２１）で
検出されるレーザ光の強度と領域Ａ７（７２７）で検出
されるレーザ光の強度とが同じである場合も考えられる
が、その場合は、点３０または点３１を中心として４分
割し、フォーカスエラー信号ＦＥ（２）を演算すれば、
ピークが大きいフォーカスエラー信号を生成できる。
【００４１】第３検出部７３で検出された第２のサブビ
ームＳＬＢ２に基づいてフォーカスエラー信号ＦＥ
（３）を生成する場合にも、上記説明したのと同じ構成
を用いる。これによりフォーカスエラー信号ＦＥ（２）
を生成する第２演算回路１２０、およびフォーカスエラ
ー信号ＦＥ（３）を生成する第３演算回路１３０の構成
を簡単にすることができる。
ームＳＬＢ２に基づいてフォーカスエラー信号ＦＥ
（３）を生成する場合にも、上記説明したのと同じ構成
を用いる。これによりフォーカスエラー信号ＦＥ（２）
を生成する第２演算回路１２０、およびフォーカスエラ
ー信号ＦＥ（３）を生成する第３演算回路１３０の構成
を簡単にすることができる。
【００４２】図９を参照して、光ピックアップ装置１０
を用いた光ディスク装置について説明する。光ディスク
装置１００は、光ピックアップ装置１０と、第１演算回
路１１０と、第２演算回路１２０と、第３演算回路１３
０と、第４演算回路１４０と、再生信号増幅回路１５０
と、サーボ回路１６０と、サーボ機構１７０と、スピン
ドルモータ１８０と、復号処理回路１９０と、制御回路
２００と、変調回路２１０と、駆動信号生成回路２２０
と、レーザ駆動回路２３０とを備える。
を用いた光ディスク装置について説明する。光ディスク
装置１００は、光ピックアップ装置１０と、第１演算回
路１１０と、第２演算回路１２０と、第３演算回路１３
０と、第４演算回路１４０と、再生信号増幅回路１５０
と、サーボ回路１６０と、サーボ機構１７０と、スピン
ドルモータ１８０と、復号処理回路１９０と、制御回路
２００と、変調回路２１０と、駆動信号生成回路２２０
と、レーザ駆動回路２３０とを備える。
【００４３】光ピックアップ装置１０はレーザ光をＤＶ
Ｄ−ＲＡＭ６に照射し、その反射光を検出する。第１演
算回路１１０、第２演算回路１２０、第３演算回路１３
０および第４演算回路１４０は、上記説明した演算を行
う。再生信号増幅回路１５０は、第４演算回路１４０か
ら入力したフォーカスエラー信号ＦＥ、および第１演算
回路１１０から入力した再生信号ＲＦを所定のレベルに
増幅した後、フォーカスエラー信号ＦＥをサーボ回路１
６０へ出力し、再生信号ＲＦを復号処理回路１９０へ出
力する。
Ｄ−ＲＡＭ６に照射し、その反射光を検出する。第１演
算回路１１０、第２演算回路１２０、第３演算回路１３
０および第４演算回路１４０は、上記説明した演算を行
う。再生信号増幅回路１５０は、第４演算回路１４０か
ら入力したフォーカスエラー信号ＦＥ、および第１演算
回路１１０から入力した再生信号ＲＦを所定のレベルに
増幅した後、フォーカスエラー信号ＦＥをサーボ回路１
６０へ出力し、再生信号ＲＦを復号処理回路１９０へ出
力する。
【００４４】サーボ回路１６０は、再生信号増幅回路１
５０から入力したフォーカスエラー信号ＦＥおに基づい
て光ピックアップ装置１０中の対物レンズ５のフォーカ
スサーボを行うようにサーボ機構１７０を制御するとと
もに、スピンドルモータ１８０を所定の回転数で回転す
る。サーボ機構１７０は、サーボ回路１６０からの制御
に基づいて光ピックアップ装置１０中の対物レンズ５の
フォーカスサーボを行う。スピンドルモータ１８０はサ
ーボ回路１６０からの制御に基づいてＤＶＤ−ＲＡＭ６
を所定の回転数で回転させる。
５０から入力したフォーカスエラー信号ＦＥおに基づい
て光ピックアップ装置１０中の対物レンズ５のフォーカ
スサーボを行うようにサーボ機構１７０を制御するとと
もに、スピンドルモータ１８０を所定の回転数で回転す
る。サーボ機構１７０は、サーボ回路１６０からの制御
に基づいて光ピックアップ装置１０中の対物レンズ５の
フォーカスサーボを行う。スピンドルモータ１８０はサ
ーボ回路１６０からの制御に基づいてＤＶＤ−ＲＡＭ６
を所定の回転数で回転させる。
【００４５】復号処理回路１９０は、再生信号増幅回路
１９０から入力した再生信号ＲＦをアナログ信号からデ
ィジタル信号に変換し、ノイズをカットし、復号して再
生データとして外部出力装置（図示省略）へ出力する。
制御回路２００は、駆動信号生成回路２２０を制御す
る。変調回路２１０は、信号をＤＶＤ−ＲＡＭ６へ記録
する際には、記録データを所定の方式に変調し、駆動信
号生成回路２２０へ出力する。駆動信号生成回路２２０
は、制御回路２００からの制御に基づいて、ＤＶＤ−Ｒ
ＡＭ６から信号を再生する際には、１ｍＷの強度を有す
るレーザ光を生成するための駆動信号を生成し、レーザ
駆動回路２３０へ出力する。また、ＤＶＤ−ＲＡＭ６へ
信号を記録する際には、変調回路２１０から入力された
記録信号に基づいてレーザ光を強度を変調する駆動信号
を生成し、レーザ駆動回路２３０へ出力する。レーザ駆
動回路２３０は、駆動信号生成回路２２０からの駆動信
号に基づいて光ピックアップ装置１０中の半導体レーザ
１を駆動する。光ピックアップ装置１０は所定強度のレ
ーザ光をＤＶＤ−ＲＡＭ６に照射する。
１９０から入力した再生信号ＲＦをアナログ信号からデ
ィジタル信号に変換し、ノイズをカットし、復号して再
生データとして外部出力装置（図示省略）へ出力する。
制御回路２００は、駆動信号生成回路２２０を制御す
る。変調回路２１０は、信号をＤＶＤ−ＲＡＭ６へ記録
する際には、記録データを所定の方式に変調し、駆動信
号生成回路２２０へ出力する。駆動信号生成回路２２０
は、制御回路２００からの制御に基づいて、ＤＶＤ−Ｒ
ＡＭ６から信号を再生する際には、１ｍＷの強度を有す
るレーザ光を生成するための駆動信号を生成し、レーザ
駆動回路２３０へ出力する。また、ＤＶＤ−ＲＡＭ６へ
信号を記録する際には、変調回路２１０から入力された
記録信号に基づいてレーザ光を強度を変調する駆動信号
を生成し、レーザ駆動回路２３０へ出力する。レーザ駆
動回路２３０は、駆動信号生成回路２２０からの駆動信
号に基づいて光ピックアップ装置１０中の半導体レーザ
１を駆動する。光ピックアップ装置１０は所定強度のレ
ーザ光をＤＶＤ−ＲＡＭ６に照射する。
【００４６】光ディスク装置１００におけるＤＶＤ−Ｒ
ＡＭ６からの再生動作について説明する。光ディスク装
置１００にＤＶＤ−ＲＡＭ６が装着されると、制御回路
２００はスピンドルモータ１８０を所定の回転数で回転
するようにサーボ回路１６０を制御し、サーボ回路１６
０はスピンドルモータ１８０を所定の回転数で回転す
る。また、制御回路２００は、所定の強度を有するレー
ザ光を生成するための駆動信号を生成するように駆動信
号生成回路２２０を制御し、駆動信号生成回路２２０
は、駆動信号を生成し、レーザ駆動回路２３０へ出力す
る。レーザ駆動回路２３０は、駆動信号生成回路２２０
からの駆動信号に基づいて光ピックアップ装置１０中の
半導体レーザ１を駆動し、光ピックアップ装置１０は所
定の強度を有するメインビームＭＬＢと第１および第２
のサブビームＳＬＢ１、ＳＬＢ２とから成るレーザ光を
ＤＶＤ−ＲＡＭ６に照射し、その反射光を光検出器７の
第１検出部７１、第２検出部７２、第３検出部７３で検
出する。第１検出部７１で検出されたメインビームＭＬ
Ｂの強度は第１演算回路１１０へ入力され、第１演算回
路１１０で上記説明したようにフォーカスエラー信号Ｆ
Ｅ（１）が演算される。また、第２検出部７２で検出さ
れた第１のサブビームＳＬＢ１の強度は第２演算回路１
２０へ入力され、第２演算回路１２０で上記説明したよ
うにフォーカスエラー信号ＦＥ（２）が演算される。更
に、第３検出部７３で検出された第２のサブビームＳＬ
Ｂ２の強度は第３演算回路１３０へ入力され、第３演算
回路１３０で上記説明したようにフォーカスエラー信号
ＦＥ（３）が演算される。そして、フォーカスエラー信
号ＦＥ（１）、ＦＥ（２）、ＦＥ（３）は第４演算回路
１４０へ入力され、フォーカスエラー信号ＦＥが演算さ
れ、再生信号増幅回路１５０を介してサーボ回路１６０
へ入力される。そして、フォーカスエラー信号ＦＥに基
づいて光ピックアップ装置１００中の対物レンズ５のフ
ォーカスサーボが行われる。
ＡＭ６からの再生動作について説明する。光ディスク装
置１００にＤＶＤ−ＲＡＭ６が装着されると、制御回路
２００はスピンドルモータ１８０を所定の回転数で回転
するようにサーボ回路１６０を制御し、サーボ回路１６
０はスピンドルモータ１８０を所定の回転数で回転す
る。また、制御回路２００は、所定の強度を有するレー
ザ光を生成するための駆動信号を生成するように駆動信
号生成回路２２０を制御し、駆動信号生成回路２２０
は、駆動信号を生成し、レーザ駆動回路２３０へ出力す
る。レーザ駆動回路２３０は、駆動信号生成回路２２０
からの駆動信号に基づいて光ピックアップ装置１０中の
半導体レーザ１を駆動し、光ピックアップ装置１０は所
定の強度を有するメインビームＭＬＢと第１および第２
のサブビームＳＬＢ１、ＳＬＢ２とから成るレーザ光を
ＤＶＤ−ＲＡＭ６に照射し、その反射光を光検出器７の
第１検出部７１、第２検出部７２、第３検出部７３で検
出する。第１検出部７１で検出されたメインビームＭＬ
Ｂの強度は第１演算回路１１０へ入力され、第１演算回
路１１０で上記説明したようにフォーカスエラー信号Ｆ
Ｅ（１）が演算される。また、第２検出部７２で検出さ
れた第１のサブビームＳＬＢ１の強度は第２演算回路１
２０へ入力され、第２演算回路１２０で上記説明したよ
うにフォーカスエラー信号ＦＥ（２）が演算される。更
に、第３検出部７３で検出された第２のサブビームＳＬ
Ｂ２の強度は第３演算回路１３０へ入力され、第３演算
回路１３０で上記説明したようにフォーカスエラー信号
ＦＥ（３）が演算される。そして、フォーカスエラー信
号ＦＥ（１）、ＦＥ（２）、ＦＥ（３）は第４演算回路
１４０へ入力され、フォーカスエラー信号ＦＥが演算さ
れ、再生信号増幅回路１５０を介してサーボ回路１６０
へ入力される。そして、フォーカスエラー信号ＦＥに基
づいて光ピックアップ装置１００中の対物レンズ５のフ
ォーカスサーボが行われる。
【００４７】その後、レーザ光はＤＶＤ−ＲＡＭ６のデ
ータ領域へ移動させられ、ピット列に基づくメインビー
ムＭＬＢの強度変化を光検出器７の第１検出部７１で検
出し、その検出したレーザ光の強度を第１演算回路１１
０へ入力する。そして、第１演算回路１１０で上記説明
したように再生信号ＲＦを演算し、再生信号増幅回路１
５０を介して復号処理回路１９０へ入力される。復号処
理回路１９０で上記説明した復号処理を行い再生データ
として外部出力装置（図示省略）へ出力される。これに
よりＤＶＤ−ＲＡＭ６からの再生動作は終了する。
ータ領域へ移動させられ、ピット列に基づくメインビー
ムＭＬＢの強度変化を光検出器７の第１検出部７１で検
出し、その検出したレーザ光の強度を第１演算回路１１
０へ入力する。そして、第１演算回路１１０で上記説明
したように再生信号ＲＦを演算し、再生信号増幅回路１
５０を介して復号処理回路１９０へ入力される。復号処
理回路１９０で上記説明した復号処理を行い再生データ
として外部出力装置（図示省略）へ出力される。これに
よりＤＶＤ−ＲＡＭ６からの再生動作は終了する。
【００４８】なお、上記説明においては、対物レンズ５
のトラッキングサーボについては言及しなかったが、光
検出器７の第１、第２、および第３検出部７１、７２、
７３で検出されるレーザ光の強度を用いて周知のＤＰＰ
（ＤｉｆｆｅｒｅｎｔｉａｌＰｕｓｈ Ｐｕｌｌ）法に
より図示省略した演算回路によりトラッキングエラー信
号を生成し、そのトラッキングエラー信号に基づいてサ
ーボ回路１６０がサーボ機構１７０を制御して対物レン
ズ５のトラッキングサーボを行う。
のトラッキングサーボについては言及しなかったが、光
検出器７の第１、第２、および第３検出部７１、７２、
７３で検出されるレーザ光の強度を用いて周知のＤＰＰ
（ＤｉｆｆｅｒｅｎｔｉａｌＰｕｓｈ Ｐｕｌｌ）法に
より図示省略した演算回路によりトラッキングエラー信
号を生成し、そのトラッキングエラー信号に基づいてサ
ーボ回路１６０がサーボ機構１７０を制御して対物レン
ズ５のトラッキングサーボを行う。
【００４９】次に、光ディスク装置１００におけるＤＶ
Ｄ−ＲＡＭ６への信号の記録動作について説明する。光
ピックアップ装置１０中の半導体レーザ１を駆動し、対
物レンズ５のフォーカスサーボがＯＮされるまでの動作
は、再生動作の場合と同じである。その後、変調回路２
１０は記録データを所定の方式に変調し、駆動信号生成
回路２２０は、入力した記録信号に基づいて強度が変化
するレーザ光を生成するための駆動信号を生成し、レー
ザ駆動回路２３０へ出力する。そして、レーザ駆動回路
２３０は、駆動信号生成回路２２０からの駆動信号に基
づいて光ピックアップ装置１０中の半導体レーザ１が駆
動され、上記図１を参照して説明した動作を経て記録信
号に基づいて変調された強度を有するレーザ光がＤＶＤ
−ＲＡＭ６の信号記録面６ａに照射されて、ＤＶＤ−Ｒ
ＡＭ６に信号が記録される。これによりＤＶＤ−ＲＡＭ
６からの再生動作は終了する。
Ｄ−ＲＡＭ６への信号の記録動作について説明する。光
ピックアップ装置１０中の半導体レーザ１を駆動し、対
物レンズ５のフォーカスサーボがＯＮされるまでの動作
は、再生動作の場合と同じである。その後、変調回路２
１０は記録データを所定の方式に変調し、駆動信号生成
回路２２０は、入力した記録信号に基づいて強度が変化
するレーザ光を生成するための駆動信号を生成し、レー
ザ駆動回路２３０へ出力する。そして、レーザ駆動回路
２３０は、駆動信号生成回路２２０からの駆動信号に基
づいて光ピックアップ装置１０中の半導体レーザ１が駆
動され、上記図１を参照して説明した動作を経て記録信
号に基づいて変調された強度を有するレーザ光がＤＶＤ
−ＲＡＭ６の信号記録面６ａに照射されて、ＤＶＤ−Ｒ
ＡＭ６に信号が記録される。これによりＤＶＤ−ＲＡＭ
６からの再生動作は終了する。
【００５０】本願発明に係る光ピックアップ装置１０に
用いる光検出器は、図３に示す光検出器７に限らず、図
１０に示す光検出器７７であってもよい。光検出器７７
は、４分割された第１検出部７７１と、１６分割された
第２検出部７７２と、１６分割された第３検出部７７３
を備える。メインビームＭＬＢのＤＶＤ−ＲＡＭ６での
反射光は第１検出部７７１で検出され、第１のサブビー
ムＳＬＢ１のＤＶＤ−ＲＡＭ６での反射光は第２検出部
７７２で検出され、第２のサブビームＳＬＢ２のＤＶＤ
−ＲＡＭ６での反射光は第３検出部７７３で検出され
る。第２検出部７７２、第３検出部７７３は、図３に示
す光検出器７の第２検出部７２、第３検出部７３より多
数の領域に分割されているため、第１または第２のサブ
ビームＳＬＢ１、ＳＬＢ２の光軸ずれをさらに精度よく
反映したフォーカスエラー信号ＦＥ（２）またはＦＥ
（３）を生成できる。ピークが最大となるフォーカスエ
ラー信号ＦＥ（２）またはＦＥ（３）の生成方法につい
ては、光検出器７の第２検出部７２、第３検出部７３の
場合と同じである。
用いる光検出器は、図３に示す光検出器７に限らず、図
１０に示す光検出器７７であってもよい。光検出器７７
は、４分割された第１検出部７７１と、１６分割された
第２検出部７７２と、１６分割された第３検出部７７３
を備える。メインビームＭＬＢのＤＶＤ−ＲＡＭ６での
反射光は第１検出部７７１で検出され、第１のサブビー
ムＳＬＢ１のＤＶＤ−ＲＡＭ６での反射光は第２検出部
７７２で検出され、第２のサブビームＳＬＢ２のＤＶＤ
−ＲＡＭ６での反射光は第３検出部７７３で検出され
る。第２検出部７７２、第３検出部７７３は、図３に示
す光検出器７の第２検出部７２、第３検出部７３より多
数の領域に分割されているため、第１または第２のサブ
ビームＳＬＢ１、ＳＬＢ２の光軸ずれをさらに精度よく
反映したフォーカスエラー信号ＦＥ（２）またはＦＥ
（３）を生成できる。ピークが最大となるフォーカスエ
ラー信号ＦＥ（２）またはＦＥ（３）の生成方法につい
ては、光検出器７の第２検出部７２、第３検出部７３の
場合と同じである。
【００５１】本願発明は、上記実施の形態に限定される
ものではなく、本願発明は、特許請求の範囲により特定
される範囲に及ぶ。
ものではなく、本願発明は、特許請求の範囲により特定
される範囲に及ぶ。
【図１】本願発明に係る光ピックアップ装置の構成図で
ある。
ある。
【図２】ＤＶＤ−ＲＡＭの平面構造図と断面構造図であ
る。
る。
【図３】図１の光検出器の平面構造図である。
【図４】レーザ光の光軸が光検出部の中心からずれた場
合に、ピークが最大となるフォーカスエラー信号を生成
する方法を説明する図である。
合に、ピークが最大となるフォーカスエラー信号を生成
する方法を説明する図である。
【図５】レーザ光の光軸が光検出部の中心からずれた場
合に、ピークが最大となるフォーカスエラー信号を生成
する演算回路を説明する図である。
合に、ピークが最大となるフォーカスエラー信号を生成
する演算回路を説明する図である。
【図６】非点収差法により演算したフォーカスエラー信
号を示す図である。
号を示す図である。
【図７】第１演算回路の構成図である。
【図８】３つのレーザ光を用いた非点収差法によるフォ
ーカスエラー信号を生成する回路構成図である。
ーカスエラー信号を生成する回路構成図である。
【図９】本願発明に係る光ディスク装置のブロック図で
ある。
ある。
【図１０】図１の光検出器の他の平面構造図である。
【図１１】従来の問題点を説明する図である。
【図１２】従来の問題点を説明する図である。
１ 半導体レーザ、２ 回折格子、 ３ ハーフミラ
ー、４ コリメータレンズ、５ 対物レンズ、６ ＤＶ
Ｄ−ＲＡＭ、６ａ 信号記録面、７ 光演出器、１０
光ピックアップ装置、６０ グルーブ、６１、６２ ラ
ンド、７１ 第１検出部、７２ 第２検出部、７３ 第
３検出部、７７光検出器、１１０ 第演算回路、１２０
第２演算回路、１３０ 第３演算回路、１４０ 第４
演算回路、１５０ 再生信号増幅回路、１６０ サーボ
回路、１７０ サーボ機構、１８０スピンドルモータ、
１９０ 復号処理回路、２００ 変調回路、２１０ 変
調回路、２２０ 駆動信号生成回路、２３０ レーザ駆
動回路、１２００、１２１０、１２２０、１２３０ 回
路、１２４０ 最大ピーク検出回路、１２５０ Ｓ字カ
ーブ出力回路、１２５１、１２５２、１２５３、１２５
４ 端子、１２５５スイッチ
ー、４ コリメータレンズ、５ 対物レンズ、６ ＤＶ
Ｄ−ＲＡＭ、６ａ 信号記録面、７ 光演出器、１０
光ピックアップ装置、６０ グルーブ、６１、６２ ラ
ンド、７１ 第１検出部、７２ 第２検出部、７３ 第
３検出部、７７光検出器、１１０ 第演算回路、１２０
第２演算回路、１３０ 第３演算回路、１４０ 第４
演算回路、１５０ 再生信号増幅回路、１６０ サーボ
回路、１７０ サーボ機構、１８０スピンドルモータ、
１９０ 復号処理回路、２００ 変調回路、２１０ 変
調回路、２２０ 駆動信号生成回路、２３０ レーザ駆
動回路、１２００、１２１０、１２２０、１２３０ 回
路、１２４０ 最大ピーク検出回路、１２５０ Ｓ字カ
ーブ出力回路、１２５１、１２５２、１２５３、１２５
４ 端子、１２５５スイッチ
フロントページの続き Ｆターム(参考） 5D118 AA07 AA20 CA02 CA22 CB03 CB06 CD01 CF16 CG04 CG24 CG36 CG44 5D119 AA23 AA39 BA01 EC15 EC41 FA05 JA22 KA10 KA20
Claims (2)
- 【請求項１】 対物レンズによりレーザ光を光記録媒体
に集光照射して光記録媒体に信号を記録および／または
再生する光ピックアップ装置であって、 レーザ光を生成するレーザ光源と、 前記レーザ光源から生成されたレーザ光をメインビーム
と第１および第２のサブビームとに回折して前記対物レ
ンズに導く回折格子と、 前記メインビームと前記第１および第２のサブビームの
前記光記録媒体での反射光を検出する光検出器とを備
え、 前記光検出器は、前記メインビームの前記光記録媒体で
の反射光を検出する第１検出部と、 前記第１のサブビームの前記光記録媒体での反射光を検
出する第２検出部と、 前記第２のサブビームの前記光記録媒体での反射光を検
出する第３検出部とから成り、 前記第１検出部は、Ｓ字カーブを演算可能に領域分割さ
れ、 前記第２および第３検出部は、照射されるレーザ光の光
軸がずれた場合にもＳ字カーブのピークが最大となるよ
うに、Ｓ字カーブを演算するための４つの領域を変更可
能に領域分割されている光ピックアップ装置。 - 【請求項２】 請求項１記載の光ピックアップ装置と、 前記光検出器の前記第１検出部からの光信号を入力し、
第１のＳ字カーブを演算出力する第１演算回路と、 前記光検出器の前記第２検出部の各領域からの光信号を
入力し、４つの領域を変更してＳ字カーブを演算し、ピ
ークが最大となる第２のＳ字カーブを選択出力する第２
演算回路と、 前記光検出器の前記第３検出部の各領域からの光信号を
入力し、４つの領域を変更してＳ字カーブを演算し、ピ
ークが最大となる第３のＳ字カーブを選択出力する第３
演算回路と、 前記第１演算回路からの前記第１のＳ字カーブと、前記
第２演算回路からの前記第２のＳ字カーブと、前記第３
演算回路からの前記第３のＳ字カーブとに基づいてフォ
ーカスエラー信号を演算する第４演算回路とを含む光デ
ィスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000011013A JP2001202638A (ja) | 2000-01-19 | 2000-01-19 | 光ピックアップ装置、およびそれを用いた光ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000011013A JP2001202638A (ja) | 2000-01-19 | 2000-01-19 | 光ピックアップ装置、およびそれを用いた光ディスク装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001202638A true JP2001202638A (ja) | 2001-07-27 |
Family
ID=18538945
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000011013A Pending JP2001202638A (ja) | 2000-01-19 | 2000-01-19 | 光ピックアップ装置、およびそれを用いた光ディスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001202638A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006054383A1 (ja) * | 2004-11-16 | 2006-05-26 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 光ピックアップ装置 |
| JP2009070557A (ja) * | 2008-11-17 | 2009-04-02 | Panasonic Corp | 光ピックアップヘッド装置及び光情報装置 |
-
2000
- 2000-01-19 JP JP2000011013A patent/JP2001202638A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006054383A1 (ja) * | 2004-11-16 | 2006-05-26 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 光ピックアップ装置 |
| JPWO2006054383A1 (ja) * | 2004-11-16 | 2008-05-29 | 松下電器産業株式会社 | 光ピックアップ装置 |
| US7830773B2 (en) | 2004-11-16 | 2010-11-09 | Panasonic Corporation | Optical pickup for recording and reproducing information with a plurality of types of optical information recording mediums |
| JP2009070557A (ja) * | 2008-11-17 | 2009-04-02 | Panasonic Corp | 光ピックアップヘッド装置及び光情報装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040302 |