JP2001197043A - 同符号連続耐力試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】所定の同符号連続耐力テストパターンを含む試
験データで試験を行う同符号連続耐力試験装置に関し、
判定基準が明確であり測定精度の高い同符号連続耐力試
験を複雑な回路を用いずに行う。 【解決手段】送信側の試験装置10が、同符号連続耐力を
試験するための所定のテストパターン及びデータ同期パ
ターン並びに誤り検出パターン好ましくはフレーム同期
パターンを含むフレーム構成の試験データ100を、好ま
しくはスクランブルせずに、所定のクロック101に同期
させて送信し、受信側の被試験装置40が、該試験データ
100に含まれるクロック200を抽出し，この抽出クロック
に同期して該データ同期パターン、該誤り検出パター
ン、又はフレーム同期パターンを検出し、各パターンの
検出の有無により同符号連続耐力試験の判定を行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は同符号連続耐力試験
装置に関し、特に、所定の同符号連続耐力テストパター
ンを含む試験データで試験を行う同符号連続耐力試験装
置に関するものである。

【０００２】近年、LSI技術、光ファイバケーブル技
術、及びディジタル信号処理技術等の進歩に伴いデジタ
ルネットワークが急速に普及している。このデジタルネ
ットワークにおいて非同期状態にある送信装置から受信
装置に信号を伝送する方式として、受信装置が、受信し
た信号に含まれるクロックを抽出し、この抽出クロック
に同期して該信号の受信動作を行う方式がある。

【０００３】この方式では、受信した信号に連続した同
符号が含まれた場合、受信側装置はクロックを抽出する
ことが困難となる。この対策として、送信側装置は、連
続した同符号が含まれないように信号をスクランブルし
て送出し、受信側装置は、受信信号からクロックを抽出
した後、受信信号をデスクランブルしてスクランブル前
の信号を復元する。

【０００４】しかしながら、スクランブルした信号にも
連続した同符号が含まれる可能性はあり、受信装置が、
最大何ビットまで連続した同符号を含む信号からクロッ
クを正確に抽出できるか、すなわち、同符号連続耐力を
有するかは重要である。

【０００５】

【従来の技術】図16は、従来の同符号連続耐力試験装置
10の構成例を示している。試験対象装置40は、試験装置
10に信号100を伝送する伝送路30で接続されている。こ
の構成例では、伝送路30は光ファイバであり、この伝送
路30を経由して、信号100は、フレーム（又はパケッ
ト、セル等）に含まれて伝送される。

【０００６】試験装置10は、伝送路30上に同符号連続耐
力テストパターンを発生させるためのデータ105を挿入
する同符号連続パターン挿入部19、フレームの先頭を示
すフレーム先頭タイミング信号107を生成するフレーム
先頭タイミング生成部29、挿入部19からのデータ105を
スクランブルしタイミング信号107でフレーム先頭パタ
ーン及び同符号連続耐力テストパターンを含むフレーム
データ106を生成するスクランブラ16、及びこのデータ1
06をクロック101に同期（多重）させると共に電気信号
を光信号100に変換して伝送路30に送出するE/O変換部17
で構成されている。

【０００７】試験対象装置40は、伝送路30からの光信号
100を電気信号に変換したデータ201を出力すると共に、
信号100からクロック200を抽出するO/E変換部41、及び
抽出クロック200が断したか否かを検出しその判定結果
信号216を出力するクロック断検出部50、フレームデー
タ201の先頭を検出し、フレーム先頭タイミング信号219
を出力するフレーム先頭検出部51、及びタイミング信号
219のタイミングを開始位相としてデータ201をデスクラ
ンブルして復元するデスクランブラ42で構成されてい
る。

【０００８】上述したように、伝送路30上のデータ100
に“0”又は“1”の同符号が連続した場合、データ100
からクロック成分が失われるため、試験対象装置40でク
ロック200の抽出ができなくなる。そこで、受信側の試
験対象装置40の同符号連続耐力の限界を測定するために
同符号連続耐力試験を実施する。

【０００９】すなわち、伝送路30上に同符号が何ビット
連続した場合に、O/E変換部41のクロック抽出部（図示
せず）でクロックの抽出ができなくなり、データの正常
受信ができなくなるかを試験し、クロック抽出すること
が可能な最大ビット数を試験対象装置40の同符号連続耐
力とする。

【００１０】次に、従来の同符号連続耐力試験装置10及
び試験対象装置40の動作について説明する。試験装置10
は、伝送路30上で同符号連続耐力テストパターンを発生
させるため、同符号連続パターン挿入部19でスクランブ
ルパターンを予測し、スクランブラ16の出力が所定のビ
ット数だけオール“0”又はオール“1”となるようなパ
ターンを挿入する。

【００１１】すなわち、スクランブラ16は、シフトレジ
スタ及びEXOR回路（図示せず）で構成され、フレーム先
頭でオール“1”にリセットし、フレーム単位にスクラ
ンブルを実行する自己リセット型スクランブラである。
従って、スクランブラ16と同一の生成多項式、同一の開
始位相、同一の初期値に基づき、スクランブラ16のスク
ランブルパターンを予測することは可能である。

【００１２】挿入部19は、オール“0”の同符号を伝送
路30に送信するためには、スクランブル時と同一パター
ンを生成すれば良く、スクランブラ16と同一の生成多項
式、同一の開始位相、及び同一の初期値によって生成し
たパターンデータ105をスクランブラ16に与えればよ
い。

【００１３】同様に、挿入部19は、オール“1”を伝送
路30に送信するためには、スクランブルパターンと反転
のパターンデータ105をスクランブラ16に与えればよ
い。なお、フレームの先頭にはフレーム先頭検出用のパ
ターンがマッピングされており、スクランブラ16は、タ
イミング信号107によって、その先頭位置を知り、フレ
ーム先頭検出用パターンを除く全ビットのスクランブル
を実行する。

【００１４】フレーム先頭検出用パターンをスクランブ
ル対象外とした理由は、このパターンで試験対象装置40
がフレーム同期を確立するためである。E/O変換部17
は、データ106をクロック101により同期（多重）し、電
気信号から光信号100へ変換し伝送路30へ出力する。

【００１５】試験対象装置40においては、O/E変換部41
は受信した光信号100を電気信号に変換し、データ201と
クロック200を抽出する。クロック断検出部50は、クロ
ック断を監視することで同符号連続耐力試験の判定を行
う。正常にクロックが抽出できれば、同符号連続耐力テ
ストパターンに耐えられたことになり、逆に、クロック
断が検出された場合は耐えられなかったことになる。

【００１６】また、フレーム先頭検出部51は、フレーム
先頭検出用パターンによりフレーム先頭を検出し、デス
クランブラ42は、フレーム先頭検出用パターンの次のビ
ットよりデスクランブルを開始することで受信データを
復元する。以上のように従来の同符号連続耐力試験装置
は、クロック断検出により同符号連続耐力の判定を行っ
ていた。

【００１７】

【発明が解決しようとする課題】このような従来の同符
号連続耐力試験の判定方式では、クロック断検出部50が
どの程度の抽出クロック200の擾乱でクロック断とする
かの判定基準が、曖昧であり、抽出したクロック200の
擾乱が判定結果に影響を与えるため、同符号連続耐力が
高精度に測定できないという問題がある。

【００１８】また、ITU-T勧告 G.983に準拠したATM-PON
(Asynchronous Transfer Mode Passive Optical Networ
k)システムの同符号連続耐力試験装置においても問題点
があり、これを以下に説明する。ATM-PONシステムの技
術は、高度情報通信サービスを実現するためにFTTH(Fib
er to the Home)に代表されるような光アクセスネット
ワークの構築に必要不可欠な技術である。

【００１９】該勧告は、一般加入者にインタフェースを
提供する加入者側装置(Optical Network Unit：以後、O
NU装置と略称する。）と局側の加入者終端装置(Optical
Line Termination：以後、OLT装置と略称する。）との
間の通信プロトコルを規定するものである。

【００２０】図17(1)及び(2)は、それぞれ、ATM-PONに
おける下りPLOAMセル70とATMデータセル60のフォーマッ
トを示している。PLOAMセル70は、PLOAMセルの同期を検
出する為のオクテット番号“1”〜“4”のPLOAMヘッダ
(HEADER)フィールド71及びオクテット番号“5”のHECフ
ィールド72、フレーム同期を検出する為のオクテット番
号“6”のIDENTフィールド73、1KHzリファレンスを提供
するオクテット番号“7”及び“8”のSYNCフィールド7
4、ONU装置の上り帯域を規定するオクテット番号“9”
〜“15”，“17”〜“23”，“25”〜“31”，及び“3
3”〜“38”のグラント(GRANT)フィールド75_1〜75_4、
グラント情報を保護するオクテット番号“16”，“2
4”，“32”，及び“39”のCRCフィールド76_1〜76_4、
オクテット番号“40”のメッセージPON-IDフィールド7
7、オクテット番号“41”のメッセージIDフィールド7
8、オクテット番号“42”〜“51”のメッセージフィー
ルド79、メッセージ保護用のオクテット番号“52”のCR
Cフィールド80、並びにオクテット番号“53”のBIPフィ
ールド81で構成されている。

【００２１】ATMデータセル60は、オクテット番号“1”
〜“5”のヘッダフィールド61、及びオクテット番号
“5”〜“53”のペイロードフィールド62で構成され、
ヘッダフィールド61は、VPI，VCI，PTI，及びCLPのフィ
ールド61_1及びHECフィールド61_2から成っている。

【００２２】以後、PLOAMセル70及びATMデータセル60の
各フィールドに設定されるデータ及び信号の符号をその
フィールドの符号と同一のものを用いることがある。図
18(1)及び(2)は、それぞれ、155Mbps及び600Mbpsの下り
Tフレーム構成を示している。同図(1)の155Mbps下りフ
レームは、PLOAMセル70_1、ATMデータセル60_1〜60_2
7、PLOAMセル70_2、及びATMデータセル60_28〜60_54の5
6個のセルで構成されている。

【００２３】同図(2)の600Mbps下りフレームは、PLOAM
セル70_1、ATMデータセル60_1〜60_27、PLOAMセル70_
2、ATMデータセル60_28〜60_54、…、PLOAMセル70_8、
及びATMデータセル60_190〜60_216の224個のセルで構成
されている。ITU-T勧告 G.983においては、ATM-PONの同
符号連続耐力試験のテストパターンの生成についての規
定はあるが、その生成手段、及び検出方法についての規
定はない。

【００２４】該勧告が規定するATM-PONの同符号連続耐
力テストパターンは、次の４種類のデータの連続したブ
ロックで構成する。 オール“1” マーク率1/2のPN(擬似ランダム）パターン(以後、PN
信号と称することがある。) オール“0” ATMヘッダからなるデータブロック そして、テストパターンの構成は、、、で構成さ
れるATMセル、、、で構成されるATMセルの繰り返
しと規定されている。

【００２５】このテストパターンは、従来のオール
“0”又はオール“1”の同符号連続耐力テストパターン
と比較して複雑になっている。また、本勧告における下
りTフレームに対するスクランブル規定は、スクランブ
ルの開始位相がフリーで、かつ、連続してスクランブル
を実行する分散型（周期的にリセットをかけない）スク
ランブルであり、下りフレーム全ビットに対してスクラ
ンブルを実行する必要がある。

【００２６】すなわち、従来例の周期的にスクランブル
開始位相とその時の初期値が分かっているリセット型ス
クランブル方式と異なり、同符号連続耐力テストパター
ンを発生させたい位相でのスクランブル回路内のシフト
レジスタの値が不特定であり、同符号連続耐力試験を、
スクランブルして実行するには複雑な回路を必要とす
る。

【００２７】従って、本発明は、所定の同符号連続耐力
テストパターンを含む試験データで試験を行う同符号連
続耐力試験装置において、判定基準が明確であり測定精
度の高い同符号連続耐力試験を複雑な回路を用いずに行
うことを課題とする。

【００２８】

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め、請求項１に係る本発明の同符号連続耐力試験装置
は、試験データに、データ同期パターンを挿入する同期
パターン挿入部と、該試験データに、同符号連続耐力を
試験するための所定のテストパターンを挿入するテスト
パターン挿入部と、該試験データを所定のクロックに同
期させて送信する同期部と、該試験データに誤りを検出
するための誤り検出パターンを付加する誤り検出パター
ン付加部と、を有することを特徴としている。

【００２９】すなわち、図１に示す様に送信側の同符号
連続耐力試験装置(OLT装置)10のデータ同期パターン挿
入部19は、試験データ(ATMデータセル）60にデータ同期
パターンを挿入して、受信側の同符号連続耐力試験装置
(ONU装置)40が、該試験データの同期を確立することを
可能にする。

【００３０】テストパターン挿入部(同符号連続パター
ン挿入部)18は所定のテストパターンを試験データ(セル
103）に挿入し、同期部であるE/O変換部17が、試験デー
タ（セル106)を所定のクロック101に同期させて例えば
下りセル100として伝送路30に送信する。

【００３１】また、送信側の試験装置10の誤り検出パタ
ーン付加部は、該試験データの誤りを検出するための誤
り検出パターンを付加する。この誤り検出パターンによ
り、受信側の試験装置40は、同符号連続耐力試験の判定
を行うことが可能となる。上記の課題を解決するため、
請求項２に係る本発明の同符号連続耐力試験装置は、デ
ータ同期パターン及び同符号連続耐力を試験するための
所定のテストパターンを含む試験データを受信して該試
験データに含まれるクロックを抽出するクロック抽出部
と、該クロックに同期して該データ同期パターンを検出
するデータ同期検出部と、該データ同期パターンの検出
結果に基づき同符号連続耐力試験の判定を行う同符号連
続耐力試験判定部と、を有することを特徴としている。

【００３２】すなわち、同図において、同符号連続耐力
試験装置(ONU装置)40のO/E変換部41に含まれるクロック
抽出部は、該試験データに含まれるクロック200を抽出
する。データ同期検出部43は、クロック200に同期して
例えばセル201（試験データ）に含まれる該データ同期
パターンを検出する。そして、例えば同期検出部43に含
まれる同符号連続耐力試験判定部48は、セル201から同
期パターンを検出できなかったとき、これを示す同期判
定結果信号218を出力し、同期パターンを検出できたと
き、これを示す同期判定結果信号218を出力する。

【００３３】この判定結果信号218に基づいて、ONU装置
40の同符号連続耐力が該テストパターンに耐え得るか否
かの判定を行う。すなわち、クロック断又はクロック擾
乱が発生した場合、下りセル100からクロック200が正常
に抽出できないため、同期外れが発生する。従って、ON
U装置40の同期判定結果を、そのまま同符号連続耐力試
験の判定結果とすることが以下のようにできる。 ・ONU装置40の同期確立→同符号連続耐力試験判定は正
常（耐力あり） ・ONU装置40の同期外れ→同符号連続耐力試験判定は異
常（耐力なし） これにより、同符号連続耐力試験は、クロック断及びク
ロック擾乱を直接監視することなく、下りセルの同期外
れを監視することで、「同期確立の有無」という明確で
測定精度の高い判定基準で、複雑な回路を用いず行うこ
とが可能となる。

【００３４】また、請求項３の本発明は、請求項２の本
発明において、該試験データに、誤りを検出するための
誤り検出パターンが含まれており、該試験データの誤り
の有無を該クロックに同期して演算する誤り演算部をさ
らに有し、該試験判定部は、誤り演算部の演算結果に基
づき同符号連続耐力試験の判定を行うことが可能であ
る。

【００３５】すなわち、該試験データ201には誤り検出
パターンが含まれている。誤り演算部45は、該抽出クロ
ック200に同期して該誤り検出パターンに基づき、該試
験データの誤りの有無を演算する。該試験判定部48は、
誤りがない場合、同符号連続耐力があるとし、誤りがあ
る場合、同符号連続耐力がないとする。

【００３６】すなわち、該クロック200の抽出ができな
い場合、試験データを検出するための同期が保証され
ず、試験データの誤りが検出される。これにより、該ク
ロック200の抽出エラーを、試験データの誤り検出とす
ることが可能となる。また、請求項４の本発明は、請求
項２の本発明において、複数の該試験データがフレーム
同期パターンを含むフレームを構成し、該クロックに同
期して該フレーム同期パターンを検出するフレーム同期
検出部をさらに有し、該試験判定部は、該フレーム同期
パターンの検出結果に基づき該同符号連続耐力試験の判
定を行うことが可能である。

【００３７】すなわち、該下りデータがフレーム同期パ
ターンを含むフレームで構成されており、フレーム同期
検出部が、該抽出クロック200に同期して該フレーム同
期パターンを検出する。請求項１のデータ同期パターン
の場合と同様に、該試験判定部は、フレーム同期パター
ンの検出の有無により、該同符号連続耐力試験の判定を
行うことができる。

【００３８】また、請求項５の本発明としては、送信デ
ータをスクランブルするスクランブラを備えた同符号連
続耐力試験装置において、該送信データに、データ同期
パターンを挿入する同期パターン挿入部と、該送信デー
タに、同符号連続耐力を試験するための所定のテストパ
ターンを挿入するテストパターン挿入部と、該送信デー
タを所定のクロックに同期させて送信する同期部とを備
え、該スクランブラが、該テストパターンをスクランブ
ルしないようにすることができる。

【００３９】すなわち、スクランブラは、該試験データ
が通常のデータであるとき、スクランブルして送信し、
該試験データが、該テストパターンを含むとき、スクラ
ンブルせずに送信する。これにより、該テストパターン
挿入部18は、該スクランブラのスクランブル特性を考慮
する必要がなくなり、所定の該テストパターンそのまま
を試験データに挿入すればよいことになり、その回路構
成が簡単になる。

【００４０】また、請求項６の本発明は、請求項２の本
発明において、該試験データをデスクランブルするデス
クランブラをさらに有し、該デスクランブラは、該試験
時に、該テストパターンをデスクランブルしなくてもよ
い。すなわち、該デスクランブラは、試験時であること
を示されたとき、該試験データをデスクランブルしな
い。

【００４１】これにより、送信側の試験装置10から送ら
れて来たスクランブルされない該テストパターンを含む
試験データを受信することが可能となる。また、請求項
７の本発明は、請求項２の本発明において、該データ同
期パターンが少なくともデータセル及びPLOAMセルの一
方のHECでもよい。

【００４２】また、請求項８の本発明は、請求項２の本
発明において、該データ同期パターンがPLOAMセルのPLO
AMヘッダでもよい。また、請求項９の本発明は、請求項
１の本発明において、該誤り検出パターンがBIPでもよ
い。

【００４３】また、請求項10の本発明は、請求項３の本
発明において、該誤り検出パターンがBIPでもよい。ま
た、請求項11の本発明は、請求項４の本発明において、
該フレーム同期パターンがPLOAMセルのIDENTでもよい。

【００４４】また、請求項12の本発明は、請求項４の本
発明において、該フレーム同期パターンがPLOAMセルのI
DENTでもよい。また、請求項13の本発明は、請求項１の
本発明において、該テストパターンをPLOAMセルのグラ
ントフィールドに挿入してもよい。

【００４５】また、請求項14の本発明は、請求項２の本
発明において、該テストパターンをPLOAMセルのグラン
トフィールドに挿入してもよい。また、請求項15の本発
明は、請求項１の本発明において、該誤り検出パターン
がグラントのCRCでもよい。

【００４６】また、請求項16の本発明は、請求項３の本
発明において、該誤り検出パターンがグラントのCRCで
もよい。また、請求項17の本発明は、請求項１の本発明
において、該テストパターンをPLOAMセルのメッセージ
フィールドに挿入してもよい。

【００４７】また、請求項18の本発明は、請求項２の本
発明において、該テストパターンをPLOAMセルのメッセ
ージフィールドに挿入してもよい。また、請求項19の本
発明は、請求項１の本発明において、該誤り検出パター
ンがメッセージのCRCでもよい。

【００４８】また、請求項20の本発明は、請求項３の本
発明において、該誤り検出パターンがメッセージフィー
ルドのCRCでもよい。また、請求項21の本発明は、請求
項２の本発明において、該テストパターンが、ITU-T勧
告G.983に準拠していればよい。

【００４９】また、請求項22の本発明は、請求項17又は
18の本発明において、該メッセージフィールドにベンダ
ーメッセージを挿入してもよい。

【００５０】

【発明の実施の形態】図２は、本発明に係る同符号連続
耐力試験装置を構成するOLT装置10の実施例を示してい
る。このOLT装置10は、ATMデータセル60及びPLOAMセル7
0を多重化したセル（フレーム、以後、フレームをセル
と称することがある。）102を出力する多重部12、セル1
02にHEC61_2及び72（図17参照）を付加したセル103を出
力するHEC付加部13、セル103に同符号挿入タイミング信
号122のタイミングで同符号連続耐力テストパターン信
号124を挿入したセル104を出力する多重部14、セル104
のBIP演算を行いBIP81（同図参照）を付加したセル105
を出力するBIP付加部15、全セル105の全ビットを分散型
スクランブルしたセル106を出力するスクランブラ16、
セル106とクロック101を同期化（多重）し電気信号から
光信号の下りセル（フレーム）100に変換するE/O変換部
17を含んでいる。

【００５１】試験装置10は、さらに、PLOAMヘッダ71を
生成するPLOAMヘッダ生成部22、PLOAMセルのIDENT信号7
3を生成するIDENT生成部23、PLOAMセルのSYNC信号74を
生成するSYNC生成部24、タイミング信号114及び123を入
力してグラント信号75を生成するグラント生成部25、タ
イミング信号115及び123を入力してメッセージ信号82を
生成するメッセージ生成部26、下りフレームを生成する
ためのタイミング信号110，114，115，120，121，122，
及び123を生成する下りフレームタイミング生成部27、P
LOAMヘッダ71、IDENT信号73、SYNC信号74、グラント信
号75、メッセージ信号82、及びタイミング信号110を入
力してPLOAMセル70を組み立てるPLOAMセル組立部11、並
びにテストパターン信号124を組み立てる同符号連続パ
ターン組立部21を含んでいる。

【００５２】図３は、図２に示した下りフレームタイミ
ング生成部27の実施例を示している。この生成部27は、
クロック126を入力し１セル分のオクテット数を示すカ
ウンタ出力信号128を出力する53進カウンタ27_1と、こ
の53進カウンタ27_1のキャリー信号127及びクロック126
を入力して１フレーム分のセル数を示すカウンタ出力信
号129を出力する56進カウンタ27_2とを含んでいる。

【００５３】さらに、生成部27は、出力信号129をデコ
ードしてフレーム中のPLOAMセルのタイミングを示すPLO
AMタイミング信号120を出力するデコーダ27_3、並びに
出力信号128及び129を入力してタイミング信号110，121
〜123を出力するデコーダ27_4で構成されている。な
お、タイミング信号110は、タイミング信号111〜115の
総称であり、タイミング信号111〜115を含んでいる。

【００５４】図４は、下りフレームタイミング生成部27
の動作タイミング例を示している。同図(3)は、53進カ
ウンタ27_1の出力信号128を示しており、カウンタ27_1
はクロック126をカウントして“0”〜“52（10進）”を
繰り返して出力する。同図(1)は、56進カウンタ27_2の
出力信号129を示しており、カウンタ27_2はキャリー信
号127をカウントして“0”〜“55（10進）”を繰り返し
て出力する。

【００５５】同図(2)は、PLOAMタイミング信号120を示
しており、デコーダ27_3は、出力信号129＝“0”及び
“28（10進）”のとき、タイミング信号120＝“1”を出
力する。同図(4)〜(9)、及び(11)は、それぞれ、タイミ
ング信号111，112，113，114，115，121，及び123を示
しており、各タイミング信号は、それぞれ、図17に示し
た４オクテットのPLOAMヘッダ71、１オクテットのIDENT
信号73、２オクテットのSYNC信号74、各７オクテットの
グラント信号75_1〜75_4＋各１オクテットのCRC76_1〜7
6_4、メッセージ（メッセージPON-ID77、メッセージID7
8、及びメッセージフィールド79＋CRC76_1〜76_4）、並
びにCRC76_1〜76_4及び80が挿入されるタイミングを示
している。

【００５６】図４(10)は、同符号挿入タイミング信号12
2を示しており、この信号122＝“1”のとき、同符号連
続耐力テストパターンが挿入される。なお、同図には、
ATMデータセル60を挿入するタイミング信号は示されて
いないが、このタイミング信号は、PLOAMセルのタイミ
ング信号と同様に生成することが可能である。

【００５７】また、タイミング信号122は、HEC同期のみ
を判定する場合を示しており、このタイミング（HEC以
外のタイミング）には、テストパターンを強制的に挿入
することができる。図５は、図２に示したグラント生成
部25の実施例を示している。

【００５８】この生成部25は、グラントタイミング信号
114及びCRCタイミング信号123を入力してリード信号132
を出力するゲート回路25_1、リード信号132及びクロッ
ク133（図示せず。）を入力してグラント生成出力信号1
16を出力するグラント生成回路25_2、出力信号116及び
クロック133を入力してCRC生成出力信号117を出力するC
RC生成回路25_3、並びに出力信号116及び117をタイミン
グ信号123で選択してグラント信号75を出力する選択回
路25_4で構成されている。

【００５９】また、グラント生成回路25_2は、グラント
値設定部25_5を内蔵している。図６は、図５に示した生
成部25の動作タイミング例を示している。同図(1)は、
生成部25の同期用のクロック133を示し、同図(2)及び
(3)は、それぞれ、図4(7)及び(11)で示したグラントタ
イミング信号114（グラント＋CRCのタイミング）及びCR
Cタイミング信号123である。

【００６０】グラント生成回路25_2は、タイミング信号
114＝“１”且つタイミング信号123＝“0”のタイミン
グでグラント値設定部25_5の設定に従いグラント生成出
力信号116を生成し、CRC生成回路25_3は、生成された出
力信号116のCRC演算を行いCRC生成出力信号117を生成す
る。選択回路25_4は、タイミング信号123＝“0”のタイ
ミングで出力信号116を選択し、タイミング信号123＝
“1”のタイミングで出力信号117を選択してグラント信
号75を出力する。

【００６１】同符号連続耐力試験をグラントフィールド
を用いて行う場合、グラント値設定部25_2に設定するグ
ラント値を同符号連続耐力テストパターンに等しく設定
することにより、CRCを保証したテストパターンとする
ことができる。このときのメッセージフィールドに関し
ては、後述するメッセージ生成部26からの出力がそのま
ま使用してもよい。

【００６２】図７は、メッセージ生成部26の実施例を示
している。この生成部26は、タイミング信号115及び123
を入力してリード信号134を出力するゲート回路26_1、
ベンダーメッセージ信号135及び要求信号131を出力する
ベンダーメッセージ設定部26_3、信号131，134，及び13
5を入力しメッセージ生成出力信号118を生成するメッセ
ージ生成部26_2、同符号連続試験モード信号130で信号1
18及び135の一方を選択した信号136を出力する選択回路
26_5、信号136のCRC演算を行いCRC生成出力信号119を生
成するCRC生成回路26_4、及びタイミング信号123で信号
136及び119の一方を選択したメッセージ信号82を出力す
る選択回路26_6で構成されている。

【００６３】図８は、メッセージ生成部26の動作タイミ
ングを示している。同図(1)は、メッセージ生成部26の
同期クロックを示している。同図(2)及び(3)は、それぞ
れ、図4(8)及び(11)で示したタイミング信号115及び123
である。図8(4)は、出力信号118を示しており、タイミ
ング信号115＝“1”且つタイミング信号＝“0”のタイ
ミングで、順次メッセージPON-ID77、メッセージID78、
及びメッセージフィールド79の信号を生成している。同
図(7)は、ベンダーメッセージ信号135を示している。

【００６４】同図(8)は、同符号連続試験モード信号130
を示している。同図(5)は、CRC生成出力信号119を示し
ており、試験モード信号130＝“0”のとき、出力信号11
8のCRCを生成し、試験モード信号130＝“1”のとき、ベ
ンダーメッセージ信号135のCRCを生成する。

【００６５】同図(6)は、メッセージ信号82を示してお
り、試験モード信号130＝“0”のとき、出力信号118及
びそのCRCが出力され、試験モード信号130＝“1”のと
き、ベンダーメッセージ信号135及びそのCRCが出力され
る。すなわち、試験モード信号130＝“1”とき、ベンダ
ーによりメッセージ内容が設定可能なベンダーメッセー
ジが出力される構成になっている。従って、ベンダーメ
ッセージ信号135の内容を同符号連続耐力テストパター
ンに等しく設定することにより、CRCを保証した同符号
連続耐力試験を行うことが可能である。

【００６６】これにより、ベンダーメッセージ保護用の
CRCを保証したままで、同符号連続耐力試験が可能とな
る。また、この例では、ベンダーメッセージのみにテス
トパターンを挿入したが、メッセージ生成回路にテスト
パターンを挿入してこのテストパターンを含むメッセー
ジ保護用のCRCを保証したままで、同符号連続耐力試験
を行ってもよい。

【００６７】図９は、図２に示したPLOAMセル組立部11
の実施例を示している。この組立部11は、PLOAMヘッダ7
1及びタイミング信号111の論理積を出力するAND回路11_
1、IDENT信号73及びタイミング信号112の論理積を出力
するAND回路11_2、SYNC信号74及びタイミング信号113の
論理積を出力するAND回路11_3、グラント信号75及びタ
イミング信号114の論理積を出力するAND回路11_4、メッ
セージ信号82及びタイミング信号115の論理積を出力す
るAND回路11_5、並びにAND回路11_1〜11_5の出力信号の
論理和であるPLOAMセル70を出力するOR回路11_6で構成
されている。

【００６８】図10は、組立部11の動作タイミングを示し
ており、同図(1)は、上述した図18(1)の150Mモードにお
けるTフレーム90のフォーマットを示し、同図(2)，(4-
1)，(4-2)，(4-3)，(4-4)，(4-5)，及び(5)は、それぞ
れ、図4(2)，(4)，(5)，(6)，(7)，(8)，及び(9)に示し
たタイミング信号120，111，112，113，114，115，及び
121と同じである。

【００６９】図10(3)のPLOAMセル70は、それぞれ、タイ
ミング信号111〜115及び121のタイミングで、挿入され
たPLOAMヘッダ71、IDENT73、SYNC74、グラント75_1〜75
_4及びそのCRC76_1〜76_4、及びメッセージ82、並びにH
EC72、並びにこの後のタイミングで挿入されたBIP81で
組み立てられている。

【００７０】なお、同図(1)の150MモードのTフレーム90
は、図18(2)に示した600MモードのTフレーム91であって
もよい。これは、後述する図13(1)及び図15(1)のTフレ
ーム90についても同様である。図11は、図２に示した同
符号連続耐力テストパターン組立部21の実施例を示して
いる。

【００７１】この組立部21は、図11(2)に示すように、5
3バイトカウンタ21_1、このカウンタ21_1の出力信号141
をデコードしてヘッダタイミング信号142を出力するデ
コーダ21_2、出力信号141及び図11(1)に示すlength設定
例に従ってオール“0”指定信号143、オール“1”指定
信号144、PN指定信号145を出力するデコーダ21_3、それ
ぞれ、信号142〜145のタイミングでヘッダ、オール
“0”、オール“1”、及びPN信号を選択した同符号連続
耐力テストパターン信号124を出力するAND回路21_4〜21
_7及びOR回路21_8から成る選択部21_9で構成されてい
る。

【００７２】図12は、組立部21の動作タイミングを示し
ている。同図(1)は、53バイトカウンタ21_1の出力信号1
41を示し、同図(2)〜(5)は、それぞれ、信号142〜145を
示している。同図(6)のテストパターン信号124には、そ
れぞれ、ヘッダ、オール“0”、オール“1”、及びPN信
号が、出力信号141＝“0”〜“4”，“5”〜“10”，
“11”〜“20”，及び“21”〜“52”のタイミングで順
次挿入されている。

【００７３】なお、図11(1)のlength設定を勧告G.983に
基づいて設定する場合は、１セル内に、オール“0”及
びオール“1”のいずれか一方が挿入される。図13は、
同符号連続耐力テストパターン信号124の挿入タイミン
グを示している。同図(1)は、上述した図18(1)の150Mモ
ードのTフレーム90を示し、同図(2)は、図17(1)及び(2)
のPLOAMセル70及びATMデータセル60を示し、図13(3)
は、図4(10)で示した同符号挿入タイミング信号122を示
している。

【００７４】なお、図13(3)のタイミング信号122は、図
4(10)のタイミング信号122と異なりPLOAMヘッダ71の位
相も“0”に設定されている。これは、HEC同期及びPLOA
M同期を検出する場合を示したものである。図13(2)のPL
OAMセル70及びATMデータセル60には、同図(3)のタイミ
ング信号122＝“1”のときに同符号連続耐力テストパタ
ーン信号124が挿入される（網掛け部）。

【００７５】図14は、同符号連続耐力試験装置（試験対
象装置）を構成するONU装置40の実施例を示している。
このONU装置40は、試験装置10からの下りセル100を光信
号から電気信号に変換すると共にセル201及び抽出クロ
ック200を出力するO/E変換部41と、試験指令信号214が
“0”のとき、セル201をデスクランブルしたセル202を
出力し、試験指令信号214が“1”のとき、デスクランブ
ルしないセル202を出力するデスクランブラ42とを含ん
でいる。

【００７６】さらに、このONU装置40は、セル202のHEC
同期信号210、PLOAM同期信号211、BIPエラー信号212、
及びフレーム同期信号213を、それぞれ出力して同符号
連続耐力試験判定部である試験モード設定部48に与える
HEC検出部43、PLOAM検出部44、BIP演算部45、及びフレ
ーム同期部46、並びにPONレイヤ処理部47を含んでい
る。試験モード設定部48は入力信号210〜213の少なくと
もいずれか1つを外部からの試験モード設定信号215に基
づいて選択することにより、同符号連続耐力判定結果信
号を出力する。

【００７７】また、ONU装置40には、図示されていない
が、グラント75_1〜75_4のCRC76_1〜76_4、及びメッセ
ージ82のCRC80を演算しCRCエラーを検出する回路が含ま
れている。このCRCエラーの有無により、同符号連続耐
圧の判定を行うことが可能である。

【００７８】図15は、ONU装置40における動作タイミン
グを示している。同図(1)，(2)，及び(3)は、それぞ
れ、図10(1)，(2)，及び(3)で示した150MモードのTフレ
ーム90、PLOAMタイミング信号120、PLOAMセル70と同じ
である。同図(4)，(5)，及び(6)は、それぞれ、IDENT検
出、HEC検出、及びPLOAMヘッダ検出のタイミングを示
し、同図(7)，(8)，及び(9)は、それぞれ、HEC同期信号
210、PLOAM同期信号211、及びフレーム同期信号213が、
HEC検出部43、PLOAM検出部44、及びフレーム同期部46か
ら出力されるタイミングを示している。

【００７９】PLOAMヘッダ、HEC検出、及びIDNT検出が、
それぞれ、PLOAMヘッダ71、HEC72、及びIDENT73の位相
より１オクテット後のタイミングで出力され、PLOAMヘ
ッダ検出及びHEC検出によりHEC同期信号210が出力さ
れ、この信号210及びIDENT検出によりPLOAM同期信号211
が出力され、この信号211及びIDENT検出によりフレーム
同期信号213が出力されている。

【００８０】同図(10)及び(11)は、それぞれ、BIP演算
部が、BIP演算を行うタイミングと、BIPエラー信号212
出力するタイミングを示している。同符号連続耐力試験
は、上記のCRCエラーの検出信号、同期信号211〜213、
及びBIPエラー信号212の中からその試験モードに基づい
て少なくとも１つ以上の信号を選択して同符号連続耐力
判定結果を得ることで行われる。

【００８１】ここで、図２及び図14にそれぞれ示した本
発明に係る同符号連続耐力試験装置を構成するOLT装置1
0及びONU装置40の動作を説明する。OLT装置10におい
て、PLOAMヘッダ生成部22は、G.983勧告に規定されるPL
OAMヘッダ71を生成し、IDENT生成部23は下りフレームの
同期検出用のIDENT信号73を生成し、SYNC生成部24は1KH
zリファレンス信号をONU装置40へ送信するSYNC信号74を
生成し、グラント生成部25は上り帯域を制御するグラン
ト75_1〜75_4及びグラント保護用のCRC76_1〜76_4を生
成し、メッセージ生成部26は、ベンダーメッセージ等の
メッセージ82及びメッセージ保護用のCRC80を生成す
る。

【００８２】下りフレームタイミング生成部27は、PLOA
Mセル組立てを行うためのPLOAMバイトタイミング信号11
0をPLOAMセル組立部11等に供給する。多重部12はATMデ
ータセル60及びPLOAMセルを多重化したセル102を出力す
る。HEC付加部13は、HEC演算を行い、HECタイミング信
号121のタイミングでHEC61_2及び72を挿入する。

【００８３】多重部14は、タイミング信号122のタイミ
ングで、セル103に同符号連続耐力テストパターン信号1
24号を挿入したセル104を出力する。BIP付加部15は、PL
OAMセル間のBIP演算を行い、これをBIPフィールド81に
付加したセル104を出力する。スクランブラ16は、試験
指令信号＝“1=ON”あるので、セル105をスクランブル
せずにそのままセル106として出力する。E/O変換部17
は、セル106とクロック101を多重し、これを電気信号か
ら光信号に変換した下りセル100を、伝送路30を経由し
てONU装置40へ送信する。

【００８４】以上の動作により、同符号連続耐力テスト
パターンが挿入された下りセルが送信されたことにな
る。ONU装置40おいては、O/E変換部41は、受信した下り
セル100を光信号から電気信号へ変換すると共にセル210
及びクロック200を抽出する。抽出されたクロック200
は、ONU装置40の各ブロックへ供給される。これによ
り、クロック200が正常に抽出できない場合は、以降の
各ブロックで同期外れ及びエラー信号が発生する。

【００８５】デスクランブラ42は、試験指定信号214＝
“1=ON”であるので、セル201をデスクランブルせずに
セル202として出力する。HEC検出部43は、HEC演算を行
いHEC同期を検出する。HEC同期検出後、PLOAM検出部44
は、PLOAMセルヘッダの検出を行いPLOAMセル同期検出を
行う。

【００８６】PLOAM同期が確立した後、BIP演算部45は、
PLOAMセル間のBIP演算を行い、異常の場合はBIPエラー
を出力する。フレーム同期部46は、PLOAMセルのIDENTバ
イトを検出することでフレーム同期検出を行う。フレー
ム同期が確立した後、PONレイヤ処理部47は、PLOAMセル
内のグラント及びメッセージの抽出を行い、グラント解
析、メッセージ解析等のPONレイヤ処理を行う。

【００８７】以下に、OLT装置10及びONU装置40の動作
を、次の試験モード(1)〜(5)で説明する。 (1)「HEC同期」に基づく同符号連続耐力の判定。 (2)「BIPエラー」且つ「PLOAM同期」に基づく同符号連
続耐力の判定。 (3)「BIPエラー」且つ「フレーム同期」に基づく同符号
連続耐力の判定。 (4) (1)〜(3)のいずれかに加え、ペイロードフィールド
に同符号連続耐力テストパターンを挿入した同符号連続
耐力の判定。 (5) (1)〜(3)のいずれかに加え、グラントフィールドに
同符号連続耐力テストパターンを挿入した同符号連続耐
力の判定。

【００８８】試験モード(1)：HEC付加部13でHECを付加
したセルのHECに相当する位相で、下りフレームタイミ
ング生成部27からの同符号挿入タイミングを無効とする
（図２及び図4(10)参照）。同符号挿入タイミングが無
効である間は、多重部14で同符号連続耐力テストパター
ンが挿入されない。

【００８９】セル自体はHEC同期を保証しているため、O
NU装置でのHEC同期外れの要因は、抽出クロックの異常
となる（図14及び図15(7)参照）。これにより、ONU装置
40側のHEC検出部43でのHEC同期信号210を同符号連続耐
力試験判定結果信号216とすることができる。

【００９０】HEC同期確立→同符号連続耐力試験結果は
正常。 HEC同期外れ→同符号連続耐力試験結果は異常。 なお、この同符号連続耐力試験の判定は、同期外れか否
かで行うため、HEC同期信号210の他にPLOAM同期信号21
1，BIPエラー信号212，及びフレーム同期信号213をその
まま判定結果信号216となる。

【００９１】また、同符号連続耐力試験中、OLT装置10
のスクランブラ16及びONU装置40のデスクランブラ42に
は、それぞれ、試験を行うことを示す試験指令信号125
及び214が入力されるため、スクランブル及びデスクラ
ンブルは行われない。これは、以下の試験モード(2)〜
(5)においても同様である。

【００９２】試験モード(2)：HEC付加部13でHECを付加
したセルのPLOAM HEADERとHECに相当する位相で、下り
フレームタイミング生成部27からの同符号挿入タイミン
グを無効とする（図２及び図13(3)参照）。同符号挿入
タイミングが無効である間は、多重部14で同符号連続耐
力テストパターンが挿入されない。

【００９３】BIPは同符号連続耐力テストパターンが挿
入された後に、BIP付加部15で挿入される為に、不正な
値となることはない（図２参照）。そのため、ONU装置4
0で、PLOAM同期信号211及びBIPエラー信号212の異常と
なる（図14並びに図15(8)及び(11)参照）。

【００９４】これにより、ONU装置40のBIPエラー信号21
2を判定結果信号216とすることができる。 BIPエラー無し、且つPLOAM同期確立 →同符号連続耐力
試験結果は正常。 BIPエラー有り、又は、PLOAM同期外れ→同符号連続耐力
試験結果は異常。

【００９５】試験モード(3)：HEC付加部13でHECを付加
したセルのPLOAM HEADER、HEC、IDENTに相当する位相
で、下りフレームタイミング生成部27からの同符号挿入
タイミングを無効とする。同符号挿入タイミングが無効
である間は、多重部14で同符号連続耐力テストパターン
が挿入されない（図２参照）。

【００９６】BIPは同符号連続耐力テストパターンが挿
入された後に、BIP付加部15で挿入される為に、不正な
値となることはない。そのため、ONU装置40のBIPエラー
信号212及びフレーム同期信号213が異常となる。これに
より、ONU装置40のBIPエラー信号212を判定結果信号216
とすることができる（図14並びに図15(9)及び(11)参
照）。

【００９７】BIPエラー無し、且つフレーム同期確立
→同符号連続耐力試験結果は正常。 ・BIPエラー有り、又は、フレーム同期外れ→同符号連
続耐力試験結果は異常。 試験モード(4)：試験モード(1)〜(3)の何れかに加え、H
EC付加部13でHECを付加したセルのペイロードフィール
ド62に相当する位相で、下りフレームタイミング生成部
27からの同符号挿入タイミングを有効とする。同符号挿
入タイミングが有効である間は、多重部14で同符号連続
耐力テストパターンを挿入する（図２及び図13(3)参
照）。

【００９８】これにより、ONU装置40で、例えば、HEC同
期信号210を同符号連続耐力判定結果信号216てすること
で正確に判定できる（図14参照）。なお、最初のセルの
ペイロードフィールド62にオール“1”及びPN信号を挿
入し、次のセルにオール“0”及びPN信号挿入し、これ
に続くセルに順次、同様なデータを交互に挿入すること
で、ITU-T勧告G.983に準拠したテストパターン送出する
ことが可能になる。

【００９９】試験モード(5)：PLOAMセルに関しては、試
験モード(1)から(3)の何れかに加え、HEC付加部13でHEC
を付加したPLOAMセルのペイロードフィールドに相当す
る位相で、下りフレームタイミング生成部27からの同符
号挿入タイミングを無効とする。同符号挿入タイミング
が無効である間は、多重部14で同符号連続耐力テストパ
ターンが挿入されない。

【０１００】グラント生成部25のグラント値設定部をテ
ストパターンに設定し、PLOAMセルのグラントフィール
ドをテストパターンとし、グラント保護用のCRCを付加
して送出する。多重部12ではATMセル２７セル中１セル
の間隔でPLOAMセルを挿入する。

【０１０１】これにより、ONU装置40は、グラントCRCの
演算結果により、同符号連続耐力の判定を行うことが可
能になる。メッセージフィールド及びベンダーメッセー
ジの場合にして、メッセージCRCのCRCの演算結果によ
り、同符号連続耐力の判定を行うことが可能になる。

【０１０２】

【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る同符
号連続耐力試験装置によれば、送信側の試験装置が、デ
ータ同期パターン及び同符号連続耐力を試験するための
所定のテストパターン並びに誤り検出パターンを含む試
験データを所定のクロックに同期させて送信し、受信側
の被試験装置が、該試験データに含まれるクロックを抽
出し、この抽出クロックに同期して該データ同期パター
ンを検出し、該データ同期パターンの有無により同符号
連続耐力試験の判定を行うように構成したので、判定基
準が明確であり測定精度の高い同符号連続耐力試験を複
雑な回路を用いずに行うことが可能となる。

【０１０３】また、送信側の試験装置が、該試験データ
に誤りを検出するための誤り検出パターンをさらに付加
し、受信側の被試験装置が該試験データの誤りの有無を
該クロックに同期して演算し、その演算結果に基づき同
符号連続耐力試験の判定を行うように構成しても同様の
効果が得られる。

【０１０４】また，送信側の試験装置が、複数の該試験
データでフレームを構成し、このフレームにフレーム同
期パターンを挿入し、このフレームを該所定のクロック
に同期させて送信し、受信側の被試験装置が該抽出クロ
ックに同期して該フレーム同期パターンを検出し、該フ
レーム同期パターンを検出の有無によいり該同符号連続
耐力試験の判定を行うように構成しても同様の効果が得
られる。

【０１０５】また，送信側の試験装置が、試験時に、該
試験データをスクランブルせずに送信し、受信側の被試
験装置が、試験時に、該試験データをデスクランブルせ
ずに受信するように構成すれば、同符号連続耐力試験を
複雑な回路を用いずに行うことが可能となる。

【０１０６】さらに、本発明に係る同符号連続耐力試験
装置をITU-T勧告G.983に準拠したOLT装置及びONU装置で
構成することも可能である。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る同符号連続耐力試験装置の原理を
示したブロック図である。

【図２】本発明に係る同符号連続耐力試験装置を構成す
るOLT装置の実施例を示したブロック図である。

【図３】本発明に係る同符号連続耐力試験装置における
下りフレームタイミング生成部の実施例を示したブロッ
ク図である。

【図４】本発明に係る同符号連続耐力試験装置における
下りフレームタイミング生成部の動作例を示したタイム
チャート図である。

【図５】本発明に係る同符号連続耐力試験装置における
グラント生成部の実施例を示したブロック図である。

【図６】本発明に係る同符号連続耐力試験装置における
グラント生成部の動作例を示したタイムチャート図であ
る。

【図７】本発明に係る同符号連続耐力試験装置における
メッセージ生成部の実施例を示したブロック図である。

【図８】本発明に係る同符号連続耐力試験装置における
メッセージ生成部の動作例を示したタイムチャート図で
ある。

【図９】本発明に係る同符号連続耐力試験装置における
PLOAMセル組立部の実施例を示したブロック図である。

【図10】本発明に係る同符号連続耐力試験装置における
PLOAMセル組立部の動作例を示したタイムチャート図で
ある。

【図11】本発明に係る同符号連続耐力試験装置における
同符号連続パターン組立部の実施例を示したブロック図
である。

【図12】本発明に係る同符号連続耐力試験装置における
同符号連続パターン組立部の動作例を示したタイムチャ
ート図である。

【図13】本発明に係る同符号連続耐力試験装置の多重部
における同符号連続耐力テストパターンの挿入タイミン
グ例を示したタイムチャート図である。

【図14】本発明に係る同符号連続耐力試験装置における
受信側装置を構成するONU装置の実施例を示したブロッ
ク図である。

【図15】本発明に係る同符号連続耐力試験装置における
受信側装置のONU装置の動作例を示したタイムチャート
図である。

【図16】従来の同符号連続耐力試験装置の構成を示した
ブロック図である。

【図17】一般的なセルの構成を示したフォーマット図で
ある。

【図18】一般的な下りフレームの構成を示したフォーマ
ット図である。

【符号の説明】

10 試験装置、OLT装置 11 PLOAMセル
組立部 11_1〜11_5 AND回路 11_6 OR回路 12 多重部 13 HEC付加部 14 多重部 15 BIP付加部 16 スクランブラ 17 E/O変換部 18 同期パターン挿入部 19 同符号連続
パターン挿入部 21 同符号連続パターン組立部 21_1 53バイト
カウンタ 21_2，21_3 デコーダ 21_4〜_7 AND
回路 21_8 OR回路 21_9 選択部 22 PLOAMヘッダ生成部 23 IDENT生成
部 24 SYNC生成部 25 グラント生
成部 25_1 ゲート回路 25_2 グラント
生成回路 25_3 CRC生成回路 25_4 選択回路 25_5 グラント値設定部 26 メッセージ
生成部 26_1 ゲート回路 26_2 メッセー
ジ生成回路 26_3 ベンダーメッセージ設定部 26_4 CRC生成
回路 26_5 選択回路 26_6 選択回路 27 下りフレームタイミング生成部 27_1 53進カウ
ンタ 27_2 56進カウンタ 27_3 デコーダ 27_4 デコーダ 29 フレーム先
頭タイミング生成部 30 伝送路 40 試験対象装
置、ONU装置 41 O/E変換部 42 デスクラン
ブラ 43 HEC検出部、同期検出部 44 PLOAM検出
部 45 誤り演算部、BIP演算部 46 フレーム同
期部 47 PONレイヤ処理部 48 試験モード
設定部 50 クロック断検出部 51 フレーム先
頭検出部 60，60_1〜_216 ATMデータセル 61 ヘッダ、ヘ
ッダフィールド 61_1 VPI，VCI，PTI，CLP 61_2 HEC、HEC
フィールド 62 ペイロード、ペイロードフィールド 70，70_1〜70_9 PLOAMセル 71 PLOAMヘッダ、PLOAMヘッダフィールド 72 HEC、HECフィールド 73 IDENT信
号、IDENTフィールド 74 SYNC信号、SYNCフィールド 75，75_1〜_4 グラント信号、グラントフィールド 76，76_1〜_4 CRC、CRCフィールド 77 メッセージPON-ID、メッセージPON-IDフィールド 78 メッセージID、メッセージIDフィールド 79 メッセージフィールド 80 CRC、CRCフ
ィールド 81 BIP、BIPフィールド 82 メッセージ
信号 90 Tフレーム(150Mモード) 91 Tフレーム
(600Mモード） 100 下りセル、下りフレーム 101 クロック 102〜106 セル、データ 107 フレーム先
頭タイミング信号 110 PLOAMバイトタイミング信号 111 PLOAMヘッ
ダタイミング信号 112 IDENTタイミング信号 113 SYNCタイミ
ング信号 114 グラントタイミング信号 115 メッセージ
タイミング信号 116 グラント生成出力信号 117 CRC生成出
力信号 118 メッセージ生成出力信号 119 CRC生成出
力信号 120 PLOAMタイミング信号 121 HECタイミ
ング信号 122 同符号挿入タイミング信号 123 CRCタイミ
ング信号 124 同符号連続耐力テストパターン信号 125 試験指令信号 126 クロック 127 キャリー信号 128，129 カウ
ンタ出力信号 130 同符号連続試験モード信号 131 ベンダーメ
ッセージ要求信号 132，134 リード信号 133 クロック 135 ベンダーメッセージ信号 136 信号 140 長さ指定信号 141 カウンタ出
力信号 142 ヘッダータイミング信号 143 オール
“0”指定信号 144 オール“1”指定信号 145 PN指定信号 200 クロック、抽出クロック 201〜207 試験データ、データ、セル、フレーム 210 HEC同期信号 211 PLOAM同期
信号 212 BIPエラー信号 213 フレーム同
期信号 214 試験指令信号 215 試験モード
設定信号 216 判定結果信号、同符号連続耐力判定結果信号 217 BIPタイミング信号 218 同期判定結
果信号 219 フレーム先頭タイミング信号

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 内田 和宏 福岡県福岡市博多区博多駅前３丁目22番８ 号 富士通九州ディジタル・テクノロジ株 式会社内 (72)発明者 龍 一也 福岡県福岡市博多区博多駅前３丁目22番８ 号 富士通九州ディジタル・テクノロジ株 式会社内 (72)発明者 平島 勝彦 福岡県福岡市博多区博多駅前３丁目22番８ 号 富士通九州ディジタル・テクノロジ株 式会社内 (72)発明者 小柳 敏則 神奈川県川崎市中原区上小田中４丁目１番 １号 富士通株式会社内 (72)発明者 阿比留 節雄 神奈川県川崎市中原区上小田中４丁目１番 １号 富士通株式会社内 Ｆターム(参考） 5B048 AA05 DD05 DD07 EE02 5K014 AA01 AA05 BA06 EA01 EA07 GA03 HA01 5K035 AA04 CC06 CC08 DD02 EE10 GG02 HH02 JJ04 5K047 AA09 BB02 DD03 GG02 GG06 HH01 HH57 KK04

Claims (22)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】試験データに、データ同期パターンを挿入
   する同期パターン挿入部と、 該試験データに、同符号連続耐力を試験するための所定
   のテストパターンを挿入するテストパターン挿入部と、 該試験データを所定のクロックに同期させて送信する同
   期部と、 該試験データに誤りを検出するための誤り検出パターン
   を付加する誤り検出パターン付加部と、 を有することを特徴とした同符号連続耐力試験装置。
2. 【請求項２】データ同期パターン及び同符号連続耐力を
   試験するための所定のテストパターンを含む試験データ
   を受信して該試験データに含まれるクロックを抽出する
   クロック抽出部と、 該クロックに同期して該データ同期パターンを検出する
   データ同期検出部と、 該データ同期パターンの検出結果に基づき同符号連続耐
   力試験の判定を行う同符号連続耐力試験判定部と、 を有することを特徴とした同符号連続耐力試験装置。
3. 【請求項３】請求項２において、 該試験データに、誤りを検出するための誤り検出パター
   ンが含まれており、 該試験データの誤りの有無を該クロックに同期して演算
   する誤り演算部をさらに有し、 該試験判定部は、誤り演算部の演算結果に基づき同符号
   連続耐力試験の判定を行うことを特徴とした同符号連続
   耐力試験装置。
4. 【請求項４】請求項２において、 複数の該試験データがフレーム同期パターンを含むフレ
   ームを構成し、 該クロックに同期して該フレーム同期パターンを検出す
   るフレーム同期検出部をさらに有し、 該試験判定部は、該フレーム同期パターンの検出結果に
   基づき該同符号連続耐力試験の判定を行うことを特徴と
   した同符号連続耐力試験装置。
5. 【請求項５】送信データをスクランブルするスクランブ
   ラを備えた同符号連続耐力試験装置において、 該送信データにデータ同期パターンを挿入する同期パタ
   ーン挿入部と、 該送信データに同符号連続耐力を試験するための所定の
   テストパターンを挿入するテストパターン挿入部と、 該送信データを所定のクロックに同期させて送信する同
   期部と、を備え、 該スクランブラが、該テストパターンをスクランブルし
   ないことを特徴とした同符号連続耐力試験装置。
6. 【請求項６】請求項２において、 該試験データをデスクランブルするデスクランブラをさ
   らに有し、 該デスクランブラは、該試験時に、該テストパターンを
   デスクランブルしないことを特徴とした同符号連続耐力
   試験装置。
7. 【請求項７】請求項２において、 該データ同期パターンが少なくともデータセル及びPLOA
   Mセルの一方のHECであることを特徴とした同符号連続耐
   力試験装置。
8. 【請求項８】請求項２において、 該データ同期パターンがPLOAMセルのPLOAMヘッダである
   ことを特徴とした同符号連続耐力試験装置。
9. 【請求項９】請求項１において、 該誤り検出パターンがBIPであることを特徴とした同符
   号連続耐力試験装置。
10. 【請求項10】請求項３において、 該誤り検出パターンがBIPであることを特徴とした同符
    号連続耐力試験装置。
11. 【請求項11】請求項４において、 該フレーム同期パターンがPLOAMセルのIDENTであること
    を特徴とした同符号連続耐力試験装置。
12. 【請求項12】請求項４において、 該フレーム同期パターンがPLOAMセルのIDENTであること
    を特徴とした同符号連続耐力試験装置。
13. 【請求項13】請求項１において、 該テストパターンがPLOAMセルのグラントフィールドに
    挿入されることを特徴とした同符号連続耐力試験装置。
14. 【請求項14】請求項２において、 該テストパターンがPLOAMセルのグラントフィールドに
    挿入されることを特徴とした同符号連続耐力試験装置。
15. 【請求項15】請求項１において、 該誤り検出パターンがグラントのCRCであることを特徴
    とする同符号連続耐力試験装置。
16. 【請求項16】請求項３において、 該誤り検出パターンがグラントのCRCであることを特徴
    とする同符号連続耐力試験装置。
17. 【請求項17】請求項１において、 該テストパターンがPLOAMセルのメッセージフィールド
    に挿入されていることを特徴とした同符号連続耐力試験
    装置。
18. 【請求項18】請求項２において、 該テストパターンがPLOAMセルのメッセージフィールド
    に挿入されていることを特徴とした同符号連続耐力試験
    装置。
19. 【請求項19】請求項１において、 該誤り検出パターンがメッセージのCRCであることを特
    徴とする同符号連続耐力試験装置。
20. 【請求項20】請求項３において、 該誤り検出パターンがメッセージフィールドのCRCであ
    ることを特徴とする同符号連続耐力試験装置。
21. 【請求項21】請求項２において、 該テストパターンが、ITU-T勧告G.983に準拠しているこ
    とを特徴とした同符号連続耐力試験装置。
22. 【請求項22】請求項17又は18において、 該メッセージフィールドにベンダーメッセージが挿入さ
    れることを特徴とした同符号連続耐力試験装置。