JP2015032993A - 半導体集積回路およびそのテスト方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】半導体集積回路は、復調部と、復調信号処理部と、ヘッダ解析部と、ペイロード処理部と、制御部と、を備える。復調部は、変調された、同期パターンとヘッダとペイロードとを含む無線信号を復調して復調信号を生成する。復調信号処理部は、復調信号から同期パターンを検出し、同期パターンに同期した同期検出信号を生成するとともに復調信号を受信ビット系列に変換する。ヘッダ解析部は、受信ビット系列からヘッダを抽出して解析し、ペイロードのビット数を取得する。ペイロード処理部は、ペイロードを処理する。制御部は、通常モードでは取得されたビット数のペイロードの処理が完了すると復調部を停止し、テストモードではテスト終了を示す信号に同期して復調部を停止する。
【選択図】図2
Description
21 復調部
22 パケット処理部
31 復調信号処理部
32 ヘッダ解析部
33 ペイロード処理部
34 制御部
41 同期パターン
42 ヘッダ
43 ペイロード
44 誤り検出符号
200 無線通信装置
201 半導体集積回路
Claims (7)
- 所定の無線通信標準規格に準拠しており、通常の無線通信を行う通常モードと、所定のテストを行うテストモードとを切り替えて動作可能な半導体集積回路であって、
変調された、同期パターンとヘッダとペイロードとを含む無線信号を復調して復調信号を生成する復調部と、
前記復調信号から前記同期パターンを検出し、前記同期パターンに同期した同期検出信号を生成するとともに前記復調信号を受信ビット系列に変換する復調信号処理部と、
前記受信ビット系列から前記ヘッダを抽出して解析し、前記ペイロードのビット数を取得するヘッダ解析部と、
前記ペイロードを処理するペイロード処理部と、
前記通常モードでは前記取得されたビット数の前記ペイロードの処理が完了すると前記復調部を停止し、前記テストモードではテスト終了を示す信号を受信するまで前記復調部を停止せず、前記テスト終了を示す信号に同期して前記復調部を停止する制御部と、を備え、
前記テストモードでは、同期パターンと、ヘッダと、前記無線通信標準規格が規定する前記ペイロードの最大ビット長より長いペイロードと、を含む無線信号を受信可能であることを特徴とする半導体集積回路。 - 通常の無線通信を行う通常モードと、所定のテストを行うテストモードとを切り替えて動作可能な半導体集積回路であって、
変調された、同期パターンとヘッダとペイロードとを含む無線信号を復調して復調信号を生成する復調部と、
前記復調信号から前記同期パターンを検出し、前記同期パターンに同期した同期検出信号を生成するとともに前記復調信号を受信ビット系列に変換する復調信号処理部と、
前記受信ビット系列から前記ヘッダを抽出して解析し、前記ペイロードのビット数を取得するヘッダ解析部と、
前記ペイロードを処理するペイロード処理部と、
前記通常モードでは前記取得されたビット数の前記ペイロードの処理が完了すると前記復調部を停止し、前記テストモードではテスト終了を示す信号に同期して前記復調部を停止する制御部と、を備えることを特徴とする半導体集積回路。 - 前記制御部は、前記テストモードでは、前記テスト終了を示す信号を受信するまで、前記復調部を停止しないことを特徴とする請求項2に記載の半導体集積回路。
- 当該半導体集積回路は、所定の無線通信標準規格に準拠した無線通信装置用であり、
前記テストモードでは、前記無線通信標準規格が規定する前記ペイロードの最大ビット長より長いペイロードを含む無線信号を受信可能であることを特徴とする請求項2または3に記載の半導体集積回路。 - 前記テストモードでは、同期パターンと、ヘッダと、前記無線通信標準規格が規定する前記ペイロードの最大ビット長より長いペイロードと、を含む無線信号を受信可能であることを特徴とする請求項4に記載の半導体集積回路。
- 変調された、同期パターンとヘッダとペイロードとを含む、テスト用の無線信号を半導体集積回路に送信するステップと、
前記半導体集積回路が、テスト終了を示す信号を受信するまで、前記無線信号を復調して復調信号を生成するステップと、
前記半導体集積回路が、前記復調信号から前記同期パターンを検出し、同期検出信号を生成するとともに前記復調信号を受信ビット系列に変換するステップと、
前記半導体集積回路が、前記同期検出信号および前記受信ビット系列を出力するステップと、
前記同期検出信号に同期して、前記半導体集積回路から出力された前記受信ビット系列における前記ペイロードと、前記テスト用の無線信号の元になるデータのペイロード部と、を比較するステップと、を備えることを特徴とする半導体集積回路のテスト方法。 - 前記比較するステップでは、前記テスト用の無線信号の元になるデータのペイロード部と、前記半導体集積回路から出力された前記受信ビット系列における前記ペイロードと、を比較してBER(Bit Error Rate)を算出することを特徴とする請求項6に記載の半導体集積回路のテスト方法。
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