JP2001196532A - 半導体装置 - Google Patents
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Abstract
ド樹脂の充填性が高い半導体装置を提供する。 【解決手段】 パワーチップ用リードフレーム2aは、
パワーチップ側リード端子2bとはリード段差部2eを
介して集積回路チップ用リードフレーム2cと略平行に
配置され、パワーチップ用リードフレーム2aの裏面
が、集積回路チップ6が搭載された集積回路チップ用リ
ードフレーム2cの裏面よりもモールド樹脂12の外面
に接近している。パワーチップ用リードフレーム2aの
表面側のモールド樹脂12の表面には、テーパ状の穴1
1が形成されている。
Description
特に、モールド樹脂の充填性が改善され、かつ、モール
ド工程の削減が図られる半導体装置に関するものであ
る。
ば、エアコン、洗濯機などのインバータ用のスイッチン
グ素子として用いられる電力半導体装置について説明す
る。電力半導体装置では、大電流をスイッチングするた
めの絶縁ゲート形バイポーラトランジスタ(Insulated
Gate Bipolar Transistor 、以下「IGBT」と記
す。)やフライホイールダイオード(Fly Wheel Diode
、以下「FWD」と記す。)といったパワーチップ
と、そのパワーチップを制御するための低電圧集積回路
(Low Voltage Integrated Circuit、以下「LVIC」
と記す。)や高電圧集積回路(High Voltage Integrate
d Circuit 、以下「HVIC」と記す。)といった集積
回路チップが搭載されている。
よび集積回路チップを、リードフレーム上にダイボンド
して、所定のワイヤボンドおよび樹脂モールド工程等を
経ることによって形成される。そこで、このような電力
半導体装置の従来の製造方法について図を用いて説明す
る。
レーム102上にパワーチップ104および集積回路チ
ップ106をそれぞれダイボンドにより搭載する。次
に、ワイヤボンディングによってパワーチップ104と
リードフレーム102内の所定の内部リードとをアルミ
ニウム線110により電気的に接続する。同様に、集積
回路チップ106と所定の内部リードとを金線108に
より電気的に接続する。なお、アルミニウム線110を
適用するのは、パワーチップ104では大電流を扱うか
らである。
ーチップ104および集積回路チップ106が搭載され
たリードフレーム102の面の側を覆うように、1次モ
ールド樹脂112を形成する。このとき、パワーチップ
104および集積回路チップ106が搭載されている面
と反対側のリードフレーム102の面は露出した状態に
ある。
ド端子のうち、不要なリード端子となるリード部分10
2h(斜線部分)をカットして除去する。次に図18お
よび図19を参照して、1次モールド樹脂112および
リードフレーム102を覆うように、さらに2次モール
ド樹脂114を形成する。また、このとき特にパワーチ
ップ104で発生する熱を放出するためのヒートシンク
116を配設する。
102gをカットして、2次モールド樹脂114より突
出している各リード端子を曲げることにより、図20
(a)、(b)および(c)に示す電力半導体装置が完
成する。同図に示されるように、2次モールド樹脂11
4の一方側には集積回路チップと接続されている集積回
路チップ側リード端子102dが配設され、他方側には
パワーチップと接続されているパワーチップ側リード端
子102bが配設されている。
2dおよびパワーチップ側リード端子102bは、電力
半導体装置がプリント基板などに装着された状態で、ヒ
ートシンク116により熱が効率的に放熱されるよう
に、ヒートシンク116が配設されている側と反対の側
に曲げられている。従来の電力半導体装置は以上のよう
に製造される。
減の観点から、プロセスのスリム化が図られており、上
記の電力半導体装置においても、1次および2次モール
ド樹脂による2回のモールド工程を1回のモールド工程
で対応できるよう開発が進められている。
104にて発生する熱を効率的に放熱させるために、図
19に示すように、パワーチップ104が搭載されたリ
ードフレーム102の面(以下単に「表面」と記す)と
は反対側の面(以下単に「裏面」と記す)に位置するモ
ールド樹脂の厚さを、ヒートシンク116とリードフレ
ーム102との絶縁性が損なわれない程度に極力薄くす
る必要がある。
ドフレーム102の表面と裏面とにモールド樹脂を良好
に充填することが困難となり、特に、リードフレーム1
02の裏面側に充填されるモールド樹脂にボイドが発生
することがあった。
れたものであり、モールド工程の削減が図られ、かつ、
モールド樹脂の充填性が高い半導体装置を提供すること
を目的とする。
ける半導体装置は、電力用チップおよびその電力用チッ
プを制御するための集積回路チップと、リードフレーム
部と、モールド樹脂とを備えている。リードフレーム部
は、電力用チップを搭載するための第1フレーム部、集
積回路チップを搭載するための第2フレーム部および第
1または第2フレーム部に接続されるリード端子を有し
ている。モールド樹脂は、リード端子を突出させて、電
力用チップおよび集積回路チップを含むリードフレーム
部を封止している。第1フレーム部は、リード端子とリ
ード段差部を介して第2フレーム部と略平行に配置され
ている。電力用チップが搭載された第1フレーム部の面
と反対側の面が、集積回路チップが搭載された第2フレ
ーム部の面と反対側の面よりもモールド樹脂の外面に接
近している。電力用チップが搭載された第1フレーム部
の面の側のモールド樹脂の表面には、テーパを有する穴
が形成されている。
れた第1フレーム部の面(表面)と反対側の面(裏面)
が、集積回路チップが搭載された第2フレーム部の面
(表面)と反対側の面(裏面)よりもモールド樹脂の外
面に接近していることによって、モールド樹脂を第1フ
レーム部のリード端子側から注入してリードフレーム部
をモールド樹脂によって封止する際に、リード段差部に
沿って、第1フレーム部の裏面側に積極的にモールド樹
脂が流し込まれる。これにより、第1フレーム部の裏面
側に比較的薄いモールド樹脂を、ボイドを発生させるこ
となく高い充填性でもって形成することができる。しか
も、第1フレーム部の裏面側に積極的にモールド樹脂が
流し込まれるため、1回のモールド工程によりリードフ
レーム部を封止することができ、工程削減を図ることが
可能となる。また、モールド樹脂の表面にテーパを有す
る穴が形成されていることで、モールド樹脂が収縮する
ことに伴って生じる反りの応力を緩和することができ、
特に放熱フィンをモールド樹脂に装着する際にモールド
樹脂が割れるのを抑制することができる。
る方向と交差する方向に複数形成され、モールド樹脂に
形成された穴と穴との間に、第1フレーム部と第2フレ
ーム部とを電気的に接続するワイヤが配設されている。
に、穴に対応した金型の部分(スリーブおよび可動ピ
ン)と隣り合う穴に対応した金型の部分に位置するワイ
ヤとにより、第1フレーム部のリード端子側から注入さ
れるモールド樹脂のうち、第1フレーム部の表面側に注
入されるモールド樹脂の流れが妨げられる。これによ
り、第1フレーム部の表面側へのモールド樹脂の注入が
抑制されて、その分を第1フレーム部の裏面側へ注入す
ることができる。その結果、第1フレーム部の裏面側へ
のモールド樹脂の充填性をより高めることができる。
された第1フレーム部の面の側のモールド樹脂にのみ形
成されている。
脂がリード段差部にあたることで、第1フレーム部には
第1フレーム部の裏面から表面の方に向かう力が作用す
る。この力を受けて第1フレーム部は、金型の支持部材
(ピン)に確実に接触して、第1フレーム部が支持され
ることになる。これにより、第1フレーム部を両側から
ピンで挟むことなく、モールド樹脂を第1フレーム部の
表面側と裏面側とに充填することができるとともに、第
1フレーム部の裏面側には金型のピンがないことで、こ
の領域に流れ込むモールド樹脂の流動抵抗がより下がっ
て、第1フレーム部の裏面側におけるモールド樹脂の充
填性をさらに高めることができる。また、第1フレーム
部を支持する金型のピンとしては、第1フレーム部の表
面側のピンだけでよく、第1フレーム部の裏面側のピン
を省くことができるため、金型の構造を簡略化すること
ができるとともに、メンテナンス性を向上することがで
きる。
明する。まず、電力半導体装置の平面外観を図1に示
し、その1つの断面を図2に示し、他の断面を図3に示
す。また、モールド樹脂12によって封止されているパ
ワーチップ4および集積回路チップ6を含むリードフレ
ーム2の側面構造を図4に示す。
いて説明したように、大電流をスイッチングするための
IGBTやFWDといったパワーチップと、そのパワー
チップを制御するためのLVICやHVICといった集
積回路チップが搭載されている。これらのパワーチップ
および集積回路チップはモールド樹脂によって封止され
ている。
はパワーチップ用リードフレーム2a上に搭載されてい
る。一方、集積回路チップ6は集積回路チップ用リード
フレーム2c上に搭載されている。
ップ4とはアルミニウム線10のワイヤボンディングに
よって電気的に接続されている。一方、集積回路チップ
側リード端子2dと集積回路チップ6とは金線8のワイ
ヤボンディングによって電気的に接続されている。
とをアルミニウム線10のワイヤボンディングによって
電気的に接続するとともに、その中継リードと集積回路
チップ6とを金線8のワイヤボンディングによって電気
的に接続することによって、パワーチップ4と集積回路
チップ6とが電気的に接続されている。
フレーム2aは、パワーチップ側リード端子2bとはリ
ード段差部2eを介して集積回路チップ用リードフレー
ム2cと略平行に配置され、パワーチップ4が搭載され
たパワーチップ用リードフレーム2aの面(表面)と反
対側の面(裏面)が、集積回路チップ6が搭載された集
積回路チップ用リードフレーム2cの面(表面)と反対
側の面(裏面)よりもモールド樹脂12の外面に接近し
ている。
プ用リードフレーム2aの裏面側のモールド樹脂12の
厚さが、集積回路チップ用リードフレーム2cの裏面側
のモールド樹脂12の厚さよりも薄くなっている。これ
により、パワーチップ4で発生した熱はモールド樹脂1
2の外方へ効率よく放出される。
るように、モールド工程においてパワーチップ側リード
端子2b側からモールド樹脂を注入する際に、リード段
差部2eに沿って、パワーチップ用リードフレーム2a
の裏面側に積極的にモールド樹脂が流し込まれる。
ーム2aの裏面側に比較的薄いモールド樹脂を、ボイド
を発生させることなく高い充填性でもって形成すること
ができる。しかも、パワーチップ用リードフレーム2a
の裏面側に積極的にモールド樹脂が流し込まれるため、
1回のモールド工程によって上述したモールド樹脂12
を形成でき、従来の製造工程と比較するとモールド工程
を1工程分削減することができる。
cの裏面側のモールド樹脂の厚さが、パワーチップ用リ
ードフレーム2aの裏面側のモールド樹脂よりも厚いこ
とによって、集積回路チップ6が電力半導体装置の外部
からのノイズの影響を受けにくくなる。
行なうために、図2または図3に示されるパワーチップ
用リードフレーム2aの裏面側のモールド樹脂12に、
たとえばアルミニウムなどからなる放熱フィン(図示せ
ず)が設けられる。この場合には、その放熱フィンを介
してノイズが電力半導体装置の集積回路チップ6に影響
を及ぼすおそれがある。
ードフレーム2cの裏面側のモールド樹脂の厚さが十分
に厚いことによって、集積回路チップ6がそのようなノ
イズの影響を受けることが抑制される。
の表面側のモールド樹脂の方が裏面側のモールド樹脂の
厚さよりも厚いことによって、モールド樹脂を成型する
際にパワーチップ用リードフレーム2aの表面側におけ
るモールド樹脂が裏面側におけるモールド樹脂よりも収
縮の程度が大きくなる。
プ用リードフレーム2aの裏面が接近しているモールド
樹脂12の外面が凸になるようにモールド樹脂12が反
ってしまう。
全面には、上述したように、放熱フィンが装着される。
この放熱フィンにも、機械加工のばらつきに伴う反りが
ある。そして、モールド樹脂の反りの向きと反対側の向
きに反っている放熱フィンがモールド樹脂12の取付け
穴13に装着される場合には、パワーチップ用リードフ
レーム2aの表面側におけるモールド樹脂12に過度の
応力が作用する結果、モールド樹脂12にクラックが生
じることがある。
脂12の穴11としてテーパ状の穴が形成されているこ
とで、その応力が緩和されてモールド樹脂12にクラッ
クが生じるのを抑制することができる。なお、後述する
ように、この穴11はモールド樹脂12を成型する際
に、リードフレームを固定するピンを覆うスリーブに対
応する穴である。
について説明する。まず、たとえば図4に示されるよう
に、パワーチップ用リードフレーム2a上にパワーチッ
プ4をダイボンドにより搭載し、集積回路チップ用リー
ドフレーム2c上に集積回路チップ6をダイボンドによ
り搭載する。
ィングによって、パワーチップ4と所定の内部リードと
を電気的に接続する。同様に、金線8のワイヤボンディ
ングにより集積回路チップ6と所定の内部リードとを電
気的に接続する。
リードフレーム2aは、リード段差部2eを介してパワ
ーチップ側リード端子となるリードにつながれ、集積回
路チップ用リードフレーム2cと略平行に配置されてい
る。また、各パワーチップ用リードフレーム2aと集積
回路チップ用リードフレーム2cとはタイバー(図示せ
ず)などによって繋がれている。
ャビティ21と下側キャビティ22とでパワーチップ側
リード端子2bとなるリードと、集積回路チップ側リー
ド端子2dとなるリードを挟み込む。上側キャビティ2
1のスリーブ23に設けられた可動ピン24と、下側キ
ャビティ22のスリーブ25に設けられた可動ピン26
をそれぞれ可動させて、パワーチップ用リードフレーム
2aを挟み込んでこれを固定する。
脂注入ゲート(図示せず)により金型内にモールド樹脂
を注入して、パワーチップ4および集積回路チップ6等
を封止する。その後、可動ピン24、26を元の位置に
戻す。このとき、モールド樹脂12はまだ固まっていな
いので、各可動ピン24、26が各スリーブ23、25
内に戻ると、可動ピン24、26が位置していた部分に
はモールド樹脂が流れ込み、モールド樹脂12には可動
ピンの跡は残らない。
2が固まった段階で上側キャビティ21と下側キャビテ
ィ22とを取外す。このときには、モールド樹脂が固ま
っているため、モールド樹脂12の表面にはスリーブ2
3に対応する穴11とスリーブ25に対応する穴12が
残る。
チップ側リード端子および集積回路チップ側リード端子
となるリード端子を曲げることによって、図1に示す電
力半導体装置が完成する。
に、樹脂注入ゲートから注入されるモールド樹脂がリー
ド段差部2eによって、矢印30に示すように、パワー
チップ用リードフレーム2aの裏面側のモールド樹脂の
厚さが比較的薄く形成されるべき部分へ積極的に流し込
まれる。これにより、パワーチップ用リードフレーム2
aの裏面側のモールド樹脂の充填性が向上し、モールド
樹脂12内にボイドが発生するのを抑制することができ
る。
り所定のモールド樹脂12を形成することができて、従
来の製造工程と比較するとモールド工程を1工程分削減
でき、生産コストの低減を図ることが可能となる。
穴11として、テーパ状の穴11がモールド樹脂12の
表面に残ることになる。これにより、上述したように、
放熱フィンがモールド樹脂12に装着される場合に、パ
ワーチップ用リードフレーム2aの表面側におけるモー
ルド樹脂12に作用する応力が緩和されて、モールド樹
脂12にクラックが生じるのを抑制することができる。
明する。本電力半導体装置では、図8および図9に示す
ように、モールド樹脂12の表面にはモールド樹脂が充
填される方向と略直交する方向に沿って複数の穴11が
形成されている。パワーチップ用リードフレーム2aと
集積回路チップ用フレーム2cとを電気的に接続するア
ルミニウム線10がその穴11と穴11との間に配設さ
れている。
おいて説明した電力半導体装置と同様なので、同一部材
には同一符号を付しその説明を省略する。この電力半導
体装置も、実施の形態1において説明した方法と同様の
方法により形成される。
おいて説明した電力半導体装置によって得られる効果に
加えて、次のような効果を得ることができる。特に、図
6に示されるモールド樹脂を充填する工程では、アルミ
ニウム線10が隣接するスリーブ23の間に位置してい
ることで、樹脂注入ゲート(図示せず)からモールド樹
脂が注入される際に、アルミニウム線10が抵抗となっ
て、パワーチップ用リードフレーム2aの表面側へモー
ルド樹脂が流れ込むのを抑制することができる。
ム2aの裏面側へ積極的にモールド樹脂を流し込むこと
ができて、パワーチップ用リードフレーム2aの裏面側
のモールド樹脂の充填性をさらに高めることができる。
取付け穴13との間に位置させることでも、同様の効果
を得ることができる。
明する。本電力半導体装置は、図10に示すように、パ
ワーチップ用リードフレーム2aの表面側のモールド樹
脂12の表面に穴11が形成され、パワーチップ用リー
ドフレーム2aの裏面側のモールド樹脂12の表面には
穴は形成されていない。これ以外の構成について、実施
の形態1において説明した電力半導体装置と同様なの
で、同一部材には同一符号を付しその説明を省略する。
ついて説明する。まず、実施の形態1において説明した
ように、ダイボンド工程において、パワーチップ用リー
ドフレーム2a上にパワーチップ4を、集積回路チップ
用リードフレーム2c上に集積回路チップ6をそれぞれ
搭載する。そして、アルミニウム線10のワイヤボンデ
ィングによって、パワーチップ4と所定の内部リードと
を電気的に接続する。同様に、金線8のワイヤボンディ
ングにより集積回路チップ6と所定の内部リードとを電
気的に接続する。
キャビティ21と下側キャビティ22とでパワーチップ
側リード端子2bとなるリードと、集積回路チップ側リ
ード端子2dとなるリードを挟み込む。可動ピン24お
よびスリーブ23は上側キャビティ21にのみ設けら、
下側キャビティ22には設けられていない。そのスリー
ブ23に設けられた可動ピン24を可動させて、パワー
チップ用リードフレーム2aの表面に接触させる。
脂注入ゲート27により金型内にモールド樹脂を注入し
て、パワーチップ4および集積回路チップ6等を封止す
る。その後、可動ピン24を元の位置に戻す。
上側キャビティ21と下側キャビティ22とを取外す。
このときにはモールド樹脂が固まっているため、モール
ド樹脂12の表面にはスリーブ23に対応する穴11の
みが残る。
集積回路チップ側リード端子となるリード端子を曲げる
ことによって、図10に示す電力半導体装置が完成す
る。
おいて説明した電力半導体装置によって得られる効果に
加えて、次のような効果を得ることができる。特に、図
11に示されるモールド樹脂を充填する工程では、樹脂
注入ゲート27から注入されるモールド樹脂がリード段
差部2eにあたることで、パワーチップ用リードフレー
ム2aには、矢印31の向きの力が作用する。これによ
り、パワーチップ用リードフレーム2aが可動ピン24
に押付けられることになる。
2aを両側から可動ピンで挟むことなく、モールド樹脂
をパワーチップ用リードフレーム2aの表面側と裏面側
とに充填することができる。
aの裏面側には可動ピンとスリーブがないことで、この
領域に流れ込むモールド樹脂の流動抵抗が、実施の形態
1の電力半導体装置の場合よりも下がって、パワーチッ
プ用リードフレーム2aの裏面側におけるモールド樹脂
の充填性をさらに高めることができる。
のキャビティ(金型)のうち、一方のキャビティにのみ
可動ピンを設け、他方のキャビティには可動ピンを設け
る必要がないため、金型の構造を簡略にすることができ
て、メンテナンスをより容易に行うことができる。
例示であって制限的なものではないと考えられるべきで
ある。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求
の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味お
よび範囲内でのすべての変更が含まれることが意図され
る。
によれば、電力用チップが搭載された第1フレーム部の
面(表面)と反対側の面(裏面)が、集積回路チップが
搭載された第2フレーム部の面(表面)と反対側の面
(裏面)よりもモールド樹脂の外面に接近していること
によって、モールド樹脂を第1フレーム部のリード端子
側から注入してリードフレーム部をモールド樹脂によっ
て封止する際に、リード段差部に沿って、第1フレーム
部の裏面側に積極的にモールド樹脂が流し込まれる。こ
れにより、第1フレーム部の裏面側に比較的薄いモール
ド樹脂を、ボイドを発生させることなく高い充填性でも
って形成することができる。しかも、第1フレーム部の
裏面側に積極的にモールド樹脂が流し込まれるため、1
回のモールド工程によりリードフレーム部を封止するこ
とができ、工程削減を図ることが可能となる。また、モ
ールド樹脂の表面にテーパを有する穴が形成されている
ことで、モールド樹脂が収縮することに伴って生じる反
りの応力を緩和することができ、特に放熱フィンをモー
ルド樹脂に装着する際にモールド樹脂が割れるのを抑制
することができる。
る方向と交差する方向に複数形成され、モールド樹脂に
形成された穴と穴との間に、第1フレーム部と第2フレ
ーム部とを電気的に接続するワイヤが配設されているこ
とで、モールド樹脂を注入する際に、ワイヤによって第
1フレーム部の表面側に注入されるモールド樹脂の流れ
が妨げられ、第1フレーム部の表面側へのモールド樹脂
の注入が抑制されて、その分を第1フレーム部の裏面側
へ注入することができる。その結果、第1フレーム部の
裏面側へのモールド樹脂の充填性をより高めることがで
きる。
された第1フレーム部の面の側のモールド樹脂にのみ形
成されていることで、モールド樹脂を注入する際に、第
1フレーム部には第1フレーム部の裏面から表面の方に
向かう力が作用する。この力を受けて第1フレーム部
は、金型の支持部材(ピン)に確実に接触して、第1フ
レーム部が支持されることになる。これにより、第1フ
レーム部を両側からピンで挟むことなく、モールド樹脂
を第1フレーム部の表面側と裏面側とに充填することが
できるとともに、第1フレーム部の裏面側には金型のピ
ンがないことで、この領域に流れ込むモールド樹脂の流
動抵抗がより下がって、第1フレーム部の裏面側におけ
るモールド樹脂の充填性をさらに高めることができる。
また、第1フレーム部を支持する金型のピンとしては、
第1フレーム部の表面側のピンだけでよく、第1フレー
ム部の裏面側のピンを省くことができるため、金型の構
造を簡略化することができるとともに、メンテナンス性
を向上することができる。
の平面外観図である。
Iにおける断面図である。
IIIにおける断面図である。
図である。
図である。
造方法の一工程を示す断面図である。
に行われる工程を示す断面図である。
の断面図である。
平面透視図である。
置の断面図である。
製造方法の一工程を示す断面図である。
を示す平面図である。
示す平面図である。
示す平面図である。
示す平面図である。
り、(a)は平面外観図を示し、(b)は1つの側面外
観図であり、(c)は他の側面外観図である。
ム、2b パワーチップ側リード端子、2c 集積回路
チップ用リードフレーム、2d 集積回路チップ側リー
ド端子、2e リード段差部、4 パワーチップ、6
集積回路チップ、8 金線、10 アルミニウム線、1
1、12 穴、13 取付け穴、21上側キャビティ、
22 下側キャビティ、23、25 スリーブ、24、
26可動ピン、27 樹脂ゲート。
Claims (3)
- 【請求項1】 電力用チップおよび該電力用チップを制
御するための集積回路チップと、 前記電力用チップを搭載するための第1フレーム部、前
記集積回路チップを搭載するための第2フレーム部およ
び前記第1または第2フレーム部に接続されるリード端
子を有するリードフレーム部と、 前記リード端子を突出させて、前記電力用チップおよび
前記集積回路チップを含む前記リードフレーム部を封止
するモールド樹脂と、を備え、 前記第1フレーム部は、前記リード端子とリード段差部
を介して前記第2フレーム部と略平行に配置され、 前記電力用チップが搭載された前記第1フレーム部の面
と反対側の面が、前記集積回路チップが搭載された前記
第2フレーム部の面と反対側の面よりも前記モールド樹
脂の外面に接近し、 前記電力用チップが搭載された前記第1フレーム部の面
の側の前記モールド樹脂の表面には、テーパを有する穴
が形成されている、半導体装置。 - 【請求項2】 前記穴は前記モールド樹脂が充填される
方向と交差する方向に複数形成され、 前記モールド樹脂に形成された前記穴と前記穴との間
に、前記第1フレーム部と前記第2フレーム部とを電気
的に接続するワイヤが配設されている、請求項1記載の
半導体装置。 - 【請求項3】 前記穴は、前記電力用チップが搭載され
た前記第1フレーム部の面の側の前記モールド樹脂の表
面にのみ形成されている、請求項1または2に記載の半
導体装置。
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-
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