JP2001179987A - ノズルプレート及びその製造方法 - Google Patents

ノズルプレート及びその製造方法

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JP2001179987A JP2000170682A JP2000170682A JP2001179987A JP 2001179987 A JP2001179987 A JP 2001179987A JP 2000170682 A JP2000170682 A JP 2000170682A JP 2000170682 A JP2000170682 A JP 2000170682A JP 2001179987 A JP2001179987 A JP 2001179987A
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相▲けおん▼ 尹
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 シリコンウェーハを材料に使用し、シリコン
プロセスを利用して直管部を有するノズルとクレータが
形成されたノズルプレートを製造する方法及びその方法
によって製造されたノズルプレートを提供する。 【解決手段】 シリコンウェーハを提供する段階と、前
記シリコンウェーハの下部に不純物成分をドーピングし
たり、金属をメッキしたり、ポリシリコン層を形成した
りして直管部層を形成する段階と、前記直管部層の下部
に金属をメッキしてクレータ層を形成する段階と、前記
シリコンウェーハをパターニングした後に異方性エッチ
ングしてノズルの傾斜部を形成する段階と、前記直管部
層を乾式エッチングして、前記直管部層にノズル出口部
位の直管部を形成する段階と、前記クレータ層をパター
ニングした後にエッチングして、前記クレータ層にクレ
ータを形成する段階とを含む。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、インクジェットプ
リンタヘッド用のノズルプレートに関し、より詳しく
は、シリコンプロセスを利用したインクジェットプリン
タヘッド用のノズルプレートを製造する方法及びその方
法によって製造されたノズルプレートに関する。
【0002】
【従来の技術】インクジェットプリンタヘッドでインク
供給装置に含まれていたインクは、インク供給管を介し
て記録装置に供給され、記録装置はインク供給装置から
供給されたインクを被記録材に噴射して印刷を行なう。
このとき、インクは、ノズルプレートに形成されたノズ
ルを介して被記録材に噴射される。
【0003】印刷特性を向上させるためには、噴射され
るインク滴の大きさを小さく、かつ均一にすることが重
要で、インク滴の大きさを小さく、かつ均一にするため
にはノズルの出口部位の直径が小さく、かつ均一に形成
されなければならない。
【0004】また、インクが噴射された後には噴射され
た量ほどのインクを充填するためのインクの慣性流れに
よってノズルの出口部位で大気に露出されるマニスカス
(meniscus)が振動を起こすようになり、マニスカスが
振動する間ではインクが噴射されない。従って、次のイ
ンク噴射までの時間を減らすためには、このマニスカス
の振動を早い時間内に減殺、安定化させることが重要で
ある。マニスカスの振動を早い時間に減殺させることが
できると、プリンタヘッドの噴射周波数を高めることが
できるようになる。
【0005】マニスカスの振動を速く減殺させるための
一方法として、ノズルプレートに形成されたノズルの出
口部位の直径を小さくして減殺機能を強化させる方法が
使われている。
【0006】このようにインクジェットプリンタヘッド
においてノズルプレートに形成されたノズルの出口部位
は、インク滴の噴射性能、インクを噴射した後の安定性
及び印刷特性に影響を及ぼす重要な要因となる。
【0007】ノズルプレートの出口部位の直径を小さく
するために、従来では、ノズルプレートの出口部位の断
面形状が適当な長さの直管部位を有するようにしてい
た。
【0008】ノズルの出口部位に適当な長さの直管部位
を有するノズルプレートは、その部分の直径が他の部分
に比べて相対的に小さくなるため、マニスカスの振動を
速く減殺させることができるようになる。
【0009】出口部位に適当な長さの直管部位を有する
ノズルプレートは、その上に流路、チャンバ、アクチュ
エータ等を組み立ててプリンタヘッドを構成し、インク
を噴射する場合にノズルプレートの出口を介して流れる
インクが直管相当部分で層流を形成するようになるた
め、インクの直進運動性が向上する。従って、インク滴
が被記録材に着地する位置の程度又は散布が向上し、印
刷状態が向上する。
【0010】ノズルプレートの材料としては、金属を使
用することが一般的で、金属を利用してノズルプレート
を製造するため、従来では、エレクトロフォーミングに
よってノズルプレートを形成する方法とマイクロパンチ
ング及び錬磨工程によってノズルプレートを形成する方
法を使用してきた。
【0011】エレクトロフォーミング(Electroformin
g)法では、基板にフォトレジストを薄く塗布した後、
パターニングする。パターンが形成された基板を電解液
に入れて電流を流すと、メッキ物質が成長するようにな
り、使用しようとするノズルの大きさほどメッキ物質が
成長すればメッキを中止する。メッキが完了すると、基
板と基板に形成されたフォトレジストを除去することに
よってノズルが形成されたノズルプレートが完成する。
【0012】エレクトロフォーミングによってノズルプ
レートを形成する方法は、ノズルプレートを製造する工
程が簡単で大量生産が可能という長所がある。しかし、
形成されたノズルの断面形状が自然な円弧形状を有する
ため、ノズルの出口部位に直管部を形成することが難し
く、ノズルプレートをプリンタヘッドに接着するとき、
プリンタヘッドに接着されるノズルプレートの面積が減
少して接着の安定性が低減される問題点がある。
【0013】マイクロパンチング及び錬磨工程によるノ
ズルプレートの形成方法では、ノズルプレートに使用す
る金属シートをマイクロパンチングピンでドローイング
して金属シートの反対面の深さ以上までノズル断面を形
成する。ドローイング後、金属シートの突出された部分
を錬磨工程により除去し、錬磨工程によって金属シート
に発生する粗い表面(burr)は、電解錬磨や化学錬磨に
よって除去する。この方法は、使用するパンチングピン
によってノズルの断面形状を自由に製作でき、ノズルの
出口部位における直管部の形成が容易である、という長
所がある。また、ノズルプレートをプリンタヘッドに接
着する場合、接着面積が広くて安定性が高い、という長
所がある。
【0014】しかし、マイクロパンチングをした後に突
出された部分を除去するため、錬磨工程を経る必要があ
る。この錬磨工程で発生する粗い表面を電解錬磨や化学
錬磨等の錬磨工程によって除去しなければならない等、
加工工程が複雑で大規模な設備が必要になる、という問
題がある。また、パンチング時に、マイクロパンチング
ピンの損傷が発生し、ピンの寿命が短いために生産費用
が上昇する、といった問題もある。
【0015】上記のように金属を使用してノズルプレー
トを形成する場合にはインクと接するノズル及びノズル
プレートの表面に撥水処理をしなければならない。
【0016】次に、レーザーを利用してノズルプレート
を形成する方法ではノズルプレートの材料にポリイミド
等の高分子物質を使用する。高分子物質からなるノズル
プレートにホットレーザ(hot laser)を使用して短い
時間の間にレーザを照射して微細なパターンにノズルを
形成する。
【0017】この方法は、高分子物質自体が撥水効果を
有するため、別途の撥水処理をしなくともよいという長
所があるが、収率が低く、大面積に対してレーザを照射
するとき、機構に対する費用が高くなる問題がある。
【0018】バブルジェット(登録商標)や薄膜の熱膨
張を応用したインクジェットヘッド及び連続型インクジ
ェットヘッドでは、金属の代りに単結晶シリコンを利用
してノズルプレートを形成する場合がある。
【0019】単結晶シリコンを材料としてノズルプレー
トを形成する場合にはバルクマイクロマシニング技術の
なかからシリコンの異方性エッチング法を用いている。
【0020】シリコン酸化膜又はシリコン窒化膜にエッ
チングされる部分以外の部分を遮蔽した後、異方性エッ
チング液を使用して(100)結晶方向のシリコン基板に
ピラミッド型ホールを形成して、ノズルを形成してい
る。このとき、ノズルの空間部(cavity)とノズルの終
端の形状は、エッチングに使われるエッチング液、エッ
チング時間、及びシリコンのエッチング率で調節してい
る。
【0021】この方法によって製造されたノズルは、イ
ンクの吐出時、直進性が低くなり、異方性エッチングを
した後、等方性エッチングをしてノズルを形成する場合
には、エッチングが反復されるに従い、各部位のエッチ
ングの程度が変わってしまい形成されるノズルが均一化
されない、という問題がある。
【0022】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記問題点
を解決するためになされたものであって、その目的は、
シリコンウェーハを材料に使用し、シリコンプロセスを
利用して直管部を有するノズルとクレータが形成された
ノズルプレートを製造する方法及びその方法によって製
造されたノズルプレートを提供することにある。
【0023】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決する本発
明は、シリコンウェーハを提供する段階と、前記シリコ
ンウェーハの下部に不純物成分をドーピングしたり、金
属をメッキしたり、ポリシリコン層を形成したりして直
管部層を形成する段階と、前記直管部層の下部に金属を
メッキしてクレータ層を形成する段階と、前記シリコン
ウェーハをパターニングした後に異方性エッチングして
ノズルの傾斜部を形成する段階と、前記直管部層を乾式
エッチングして、前記直管部層にノズル出口部位の直管
部を形成する段階と、前記クレータ層をパターニングし
た後にエッチングして、前記クレータ層にクレータを形
成する段階とを含むことをその要旨とする。
【0024】また、本発明は、シリコンウェーハを提供
する段階と、前記シリコンウェーハの下部に不純物成分
をドーピングしたり、金属をメッキしたり、ポリシリコ
ン層を形成したりしてして直管部層を形成する段階と、
前記シリコンウェーハをパターニングした後に異方性エ
ッチングしてノズルの傾斜部を形成する段階と、前記直
管部層を乾式エッチングして、前記直管部層にノズル出
口部位の直管部を形成する段階と、前記直管部層の下部
にフォトレジスト層を形成する段階と、前記フォトレジ
スト層をパターニングしてクレータ部分にのみフォトレ
ジストを残す段階と、前記直管部層の下部に金属をメッ
キしてクレータ層を形成する段階と、前記フォトレジス
トを除去してクレータを形成する段階とを含むことをそ
の要旨とする。
【0025】また、本発明は、シリコンウェーハと、ド
ービング層、金属、又はポリシリコンからなり、前記シ
リコンウェーハの下部に形成された直管部層と、前記直
管部層の下部に金属をメッキすることによって形成され
たクレータ層と、異方性エッチングによって前記シリコ
ンウェーハに形成されたノズルの傾斜部と、前記直管部
層を乾式エッチングすることで、前記直管部層に形成さ
れたノズル出口部位の直管部と、前記クレータ層をエッ
チングすることで、前記クレータ層に形成されたクレー
タとを含んで構成されたことをその要旨とする。
【0026】
【発明の実施の形態】本発明のノズルプレートの製造方
法は、大きく2つに分けることができる。まず、第1の
方法について説明する。
【0027】ノズルプレートの材料としては、シリコン
ウェーハを使用する。シリコンは与えられた厚さに対し
て剛性が大きく、しなり変形をせず、ウェーハ単位の大
面積の工程を遂行することができる特性がある。
【0028】シリコンウェーハは、5〜500μmの範
囲で厚さを自由に選択できる。シリコンウェーハの厚さ
が薄ければ、ノズル間の間隔を狭めることができて高集
積化が達成され、シリコンウェーハの厚さが厚ければ、
ノズルプレートの剛性が高められるため、所望の特性に
従う厚さを適切に選択して用いることができる。
【0029】シリコンウェーハの下部に直管部層を形成
する。直管部層は、1〜30μmの厚さに形成すること
が望ましく、5〜10μmの厚さに形成することが特に
望ましい。
【0030】直管部層は、次の3種類の方法を用いて形
成することができる。
【0031】第1の方法は、シリコンウェーハの下部を
ドーピング(doping)してドーピング層を形成する。シ
リコンウェーハの下部に不純物成分を添加してドーピン
グすると、ドーピングされた部分は、電気的特性を有す
るようになり、上部のシリコンウェーハとは別の特性を
有するようになる。
【0032】第2の方法は、シリコンウェーハの下部に
ポリシリコン(poly−Si)層を形成する。ポリシリコン
層は、スパッタリング、蒸着のような乾式方法(dry pr
ocess)やゾル−ゲル法のような湿式方法(wet proces
s)で形成する。
【0033】第3の方法は、シリコンウェーハの下部で
金属をメッキして金属層を形成する。金属層の材料とし
ては、一般的な金属を用いることができ、そのなかで
も、ニッケル(Ni)、ニッケル−クロム(Ni−Cr)、ニ
ッケル−コバルト−タングステン(Ni−Co−W)等の耐
インク性金属を使用することが望ましい。
【0034】直管部層又はエッチング中止層の下部に金
属をメッキしてクレータ(crater)層を形成する。クレ
ータ層を形成する金属としては、様々な金属を用いるこ
とができ、ニッケル、ニッケル−クロム、ニッケル−コ
バルト−タングステン等の耐インク性金属を用いること
が望ましい。
【0035】直管部層に金属層を形成する場合には、金
属層の下部にエッチング中止層を形成することもでき
る。エッチング中止層は、金(Au)、銀(Ag)、パラジ
ウム(Pd)、プラチナ(Pt)、クロム(Cr)又はこれら
の合金等の金属を使用してエレクトロフォーミング又は
スパッタリングによって形成する。エッチング中止層を
形成しない場合には直管部層の材料になる金属とは異な
る成分の金属でクレータ層を形成することが望ましい。
【0036】クレータ層は、1〜15μmの厚さに形成
するのが望ましく、特に、5〜10μmの厚さに形成す
るのが望ましい。
【0037】クレータ層のメッキが完了すると、シリコ
ンウェーハにフォトレジストを塗布し、露光してパター
ニングした後、湿式又は乾式エッチングして傾斜したノ
ズル部位を形成する。シリコンウェーハは、異方性エッ
チングをしなければならないため、エッチング液に水酸
化カリウム(KOH)、水酸化トリメチルアミン(trimeth
ylamine hydroxide TMAH)等の異方性エッチング液を使
用して、(100)結晶方向のシリコンウェーハに傾斜
した形状のホールを形成する。
【0038】シリコンウェーハをエッチングするとき、
シリコンウェーハにフォトレジストを塗布し、露光して
パターニングした後にエッチングすることで、V字形状
のグルーブを形成する工程を反復してノズルを形成する
こともできる。このような方法によってシリコンウェー
ハをエッチングする場合には、シリコンウェーハの下部
にノズルの傾斜部が形成されつつ、ノズルの傾斜部の上
部には直管部が形成される。ノズル傾斜部の上部に直管
部が形成された場合にはインクジェットプリンタヘッド
の本体と結合する工程で接着工程を減らすことが可能と
なる。シリコンウェーハをエッチングするとき、直管部
層は、シリコンウェーハと物性が異なるため、エッチン
グされないエッチング中止層としても機能する。
【0039】上記の方法によってシリコンウェーハをエ
ッチングして傾斜したノズル部位を形成した後、直管部
層を乾式エッチングしてノズル出口部位の直管部を形成
する。乾式エッチングは、ICP(Inductively Couple
d Plasma)、又はICP−RIE(Inductively Couple
d Plasma−Reaction Ion Etching)等の装備を使用して
行なうことができる。ノズルの出口部位に直管部が形成
されると、マニスカスの振動を減殺させて周波数特性が
向上し、インクジェッティング時の直進性が向上する。
直管部を形成した後にはクレータ層をフォトレジスト等
でパターニングした後、エッチングしてクレータを形成
する。
【0040】上記の方法によって傾斜した部位と出口部
位に直管部を有するノズルと、その下部にクレータが形
成されたノズルプレートが作られる。
【0041】次に本発明のノズルプレートの製造方法に
おける第2の方法について説明する。
【0042】ノズルプレートの材料としては、シリコン
ウェーハを使用し、該シリコンウェーハは、5〜500
μmの範囲で厚さを自由に選択することができる。
【0043】シリコンウェーハの下部に直管部層を形成
する。直管部層は、第1の方法と同様に3種類の方法で
形成することができる。このときにも直管部層は、1〜
30μmの厚さで形成することが望ましく、特に、5〜
10μmの厚さに形成することが望ましい。直管部層を
形成した後、シリコンウェーハにフォトレジストを塗布
し、露光してパターニングした後、湿式又は乾式エッチ
ングしてノズルの傾斜部を形成する。
【0044】シリコンウェーハをエッチングするとき、
シリコンウェーハにフォトレジストを塗布し、露光して
パターニングした後にエッチングすることで、V字形状
のグルーブを形成する工程を反復してノズルを形成する
こともできる。このような方法によってシリコンウェー
ハをエッチングする場合には、シリコンウェーハの下部
にノズルの傾斜部が形成されつつ、ノズルの傾斜部の上
部には直管部が形成される。ノズル傾斜部の上部に直管
部が形成された場合にはインクジェットプリンタヘッド
の本体と結合する工程で接着工程を減らすことが可能と
なる。このときにも、直管部層は、シリコンウェーハと
物性が異なるため、エッチングされないエッチング中止
層としても機能する。
【0045】上記の方法によってシリコンウェーハをエ
ッチングして傾斜したノズル部位を形成した後、直管部
層を乾式エッチングしてノズル出口部位の直管部を形成
する。乾式エッチング法としては、第1の方法と同一の
方法を用いる。
【0046】シリコンウェーハと直管部層をエッチング
した後、直管部層の下部に形成しようとするクレータ層
の厚さほどフォトレジスト層を形成する。従って、フォ
トレジストは、1〜15μmの厚さに形成することが望
ましく、5〜10μmの厚さに形成することが特に望ま
しい。フォトレジストとしては、ドライフィルムを使用
するのが望ましく、ドライフィルムをラミネーティング
してフォトレジスト層を形成する。
【0047】形成したフォトレジスト層をパターニング
した後、クレータが形成される部分にのみフォトレジス
トを残し、他の残り部分のフォトレジストを除去する。
【0048】フォトレジストを除去した後、直管部層の
下部で金属をメッキしてクレータ層を形成する。クレー
タ層を形成する金属としては、様々な金属を使用するこ
とができ、ニッケル、ニッケル−クロム、ニッケル−コ
バルト−タングステン等の耐インク性金属を使用するこ
とが望ましい。.
【0049】クレータ層を形成した後には残っているフ
ォトレジストを除去してクレータを形成する。上記の方
法によって傾斜した部位と出口部位に直管部を有するノ
ズルとその下部にクレータを設けたノズルプレートが作
られる。
【0050】上記の方法によって製造されたノズルプレ
ートは、別途の親水又は撥水処理なしに使用することも
できるが、ノズル及びノズルプレートとインクが接する
ようになる流路と接する側、及びインクが噴射される部
位に親水又は撥水処理をして親水性又は撥水性を高める
ことができる。このとき、親水処理方法としては、シリ
コンの表面にシリコン酸化膜を形成する方法、シリコン
の表面にシリコン窒化膜を形成する方法、又はシリコン
の表面に金属を蒸着させる方法を使用することが望まし
い。
【0051】また、撥水処理方法としては、シリコンの
表面に硼素(B)をドーピング(doping)する方法、シ
リコンの表面を還元させる方法、シリコンの表面をHF
等で処理する方法、又はシリコンの表面にメタリゼイシ
ョンした後、撥水性有機ポリマーを薄膜コーティングす
る方法等を用いることが望ましい。メタリゼイションの
ためには、導電性金属をシリコン表面に蒸着させ、導電
性金属のなかからニッケル(Ni)、ニッケル−バナジウ
ム(Ni−V)又はニッケル−クロム(Ni−Cr)を使用す
ることが望ましい。撥水性有機ポリマーとしては、PTFE
(polytetrafluoroethylene)又はテフロン(登録商
標)(Teflon)を使用し、有機ポリマーを薄膜コーティ
ングする方法としては、メッキ、スピンコーティング、
蒸着等の方法を用いることが望ましい。
【0052】以下、図面を参照して本発明の実施形態を
説明する。しかし、次の実施形態は本発明を例示するも
ので、本発明の範囲を限定するものではない。
【0053】図1乃至図9は、本発明のノズルプレート
の製造方法における一実施形態を示すものである。ま
ず、シリコンウェーハ10の下部に不純物成分をドーピ
ングして直管部層になるドーピング層12を形成する。
直管部層になるドーピング層12の下部に金属をメッキ
してクレータ層14を形成する。
【0054】クレータ層14を形成し、シリコンウェー
ハ10をパターニングした後、異方性エッチングしてシ
リコンウェーハ10にノズルの傾斜部16を形成する。
このとき、ドーピング層12は、シリコンウェーハ10
と物性が異なるため、エッチング中止層としても機能す
る。
【0055】シリコンウェーハ10をエッチングした
後、ドーピング層12を乾式エッチングして、ドーピン
グ層12にノズル出口部位の直管部18を形成する。ド
ーピング層12に直管部18を形成し、そして、クレー
タ層14をパターニングした後にエッチングしてクレー
タ層14にクレータ20を形成し、ノズルプレートが完
成する。
【0056】図10乃至図18は、本発明のノズルプレ
ートの製造方法における他の実施形態を示すものであ
る。まず、シリコンウェーハ30の下部に直管部層にな
るポリシリコン層32を形成する。直管部層になるポリ
シリコン層32の下部に金属をメッキしてクレータ層3
4を形成する。
【0057】クレータ層34を形成し、シリコンウェー
ハ30をパターニングした後、異方性エッチングしてシ
リコンウェーハ30にノズルの傾斜部36を形成する。
このとき、ポリシリコン層32は、シリコンウェーハ3
0と物性が異なるため、エッチング中止層としても機能
する。
【0058】シリコンウェーハ30をエッチングした
後、ポリシリコン層32を乾式エッチングして、ポリシ
リコン層32にノズル出口部位の直管部38を形成す
る。ポリシリコン層32に直管部38を形成し、そし
て、クレータ層34をパターニングした後にエッチング
してクレータ層34にクレータ40を形成し、ノズルプ
レートが完成する。
【0059】図19乃至図27は、本発明のノズルプレ
ートの製造方法における他の実施形態を示すものであ
る。まず、シリコンウェーハ50の下部に直管部層にな
る金属層52を形成する。直管部層になる金属層52の
下部に金属をメッキしてクレータ層54を形成する。ク
レータ層54を形成し、シリコンウェーハ50をパター
ニングした後、異方性エッチングしてシリコンウェーハ
50にノズルの傾斜部56を形成する。このとき、金属
層52は、シリコンウェーハ50と物性が異なるため、
エッチング中止層としても機能する。
【0060】シリコンウェーハ50をエッチングした
後、金属層52を乾式エッチングして、金属層52にノ
ズル出口部位の直管部58を形成する。金属層52に直
管部58を形成し、そして、クレータ層54をパターニ
ングした後にエッチングしてクレータ層54にクレータ
60を形成し、ノズルプレートが完成する。
【0061】図28乃至図36は、本発明のノズルプレ
ートの製造方法における他の実施形態を示したものであ
る。まず、シリコンウェーハ110の下部に不純物成分
をドーピングして直管部層になるドーピング層112を
形成する。ドーピング層112を形成した後にシリコン
ウェーハ110をパターニングして異方性エッチング
し、シリコンウェーハ110にノズルの傾斜部116を
形成する。このとき、ドーピング層112は、シリコン
ウェーハ110と物性が異なるため、エッチング中止層
としても機能する。
【0062】シリコンウェーハ110をエッチングした
後にドーピング層112を乾式エッチングし、ドーピン
グ層112にノズル出口部位の直管部118を形成す
る。
【0063】直管部118を形成した後にドーピング層
112の下部にフォトレジスト層113を形成し、かか
るフォトレジスト層113をパターニングしてクレータ
が形成される部分にのみフォトレジストを残し、他の部
分のフォトレジストを除去する。
【0064】フォトレジストを除去した後、直管部層に
なるドーピング層112の下部で金属をメッキしてクレ
ータ層114を形成する。クレータ層114を形成した
後に残っているフォトレジスト113を除去し、クレー
タ120を形成することによってノズルプレートが完成
する。
【0065】図37乃至図45は、本発明のノズルプレ
ートの製造方法における他の実施形態を示すものであ
る。
【0066】まず、シリコンウェーハ130の下部に直
管部層になるポリシリコン層132を形成する。ポリシ
リコン層132を形成した後にシリコンウェーハ130
をパターニングして、異方性エッチングし、シリコンウ
ェーハ130にノズルの傾斜部136を形成する。この
とき、ポリシリコン層132は、シリコンウェーハ13
0と物性が異なるため、エッチング中止層としても機能
する。
【0067】シリコンウェーハ130をエッチングした
後にポリシリコン層132を乾式エッチングして、ポリ
シリコン層132にノズル出口部位の直管部138を形
成する。
【0068】直管部138を形成した後にポリシリコン
層132の下部にフォトレジスト層133を形成し、か
かるフォトレジスト層133をパターニングしてクレー
タが形成される部分にのみフォトレジストを残し、残り
部分のフォトレジストを除去する。
【0069】フォトレジストを除去した後、直管部層に
なるポリシリコン層132の下部で金属をメッキしてク
レータ層134を形成する。クレータ層134を形成し
た後に残っているフォトレジスト133を除去し、クレ
ータ140を形成することによってノズルプレートが完
成する。
【0070】図46乃至図54は、本発明のノズルプレ
ートの製造方法における他の実施形態を示すものであ
る。まず、シリコンウェーハ150の下部に直管部層に
なる金属層152を形成する。金属層152を形成した
後にシリコンウェーハ150をパターニングして異方性
エッチングし、シリコンウェーハ150にノズルの傾斜
部156を形成する。このとき、金属層152は、シリ
コンウェーハ150と物性が異なるため、エッチング中
止層としても機能する。
【0071】シリコンウェーハ150をエッチングした
後に金属層152を乾式エッチングし、金属層152に
ノズル出口部位の直管部158を形成する。
【0072】直管部158を形成した後に金属層152
の下部にフォトレジスト層153を形成し、かかるフォ
トレジスト層153をパターニングしてクレータが形成
される部分にのみフォトレジストを残し、残り部分のフ
ォトレジストを除去する。
【0073】フォトレジストを除去した後、直管部層に
なる金属層152の下部で金属をメッキしてクレータ層
154を形成する。クレータ層154を形成した後に残
っているフォトレジスト153を除去し、クレータ16
0を形成することによってノズルプレートが完成する。
【0074】図58乃至図63は、本発明のノズルプレ
ートの製造方法における他の実施形態を示すものであ
る。
【0075】まず、シリコンウェーハ210の下部に不
純物成分をドーピングして直管部層になるドーピング層
212を形成する。直管部層になるドーピング層212
の下部に金属をメッキしてクレータ層214を形成す
る。
【0076】クレータ層214を形成し、シリコンウェ
ーハ210をパターニングした後にエッチングし、図5
9に示すように、V字形状のグルーブを形成する。これ
と同様に段階を反復してシリコンウェーハ210にノズ
ル傾斜部216とノズル傾斜部の上部に形成される直管
部217を形成する。
【0077】シリコンウェーハ210にノズル傾斜部2
16と直管部217を形成した後、ドーピング層212
を乾式エッチングして、ドーピング層212にノズル出
口部位の直管部218を形成する。ドーピング層212
に直管部218を形成した後、クレータ層214をパタ
ーニングし、エッチングしてクレータ層214にクレー
タ220を形成することによってノズルプレートが完成
する。
【0078】
【発明の効果】以上のように、本発明ではシリコンウェ
ーハを使用してノズルプレートを形成するため、ノズル
部の材料選択の幅が多様になる。また、ウェーハ単位の
大面積に対する工程を容易に行うことができるようにな
るため、マルチノズルの製作収率が高く、高精密なバッ
チプロセス(Batch Process)が容易で、量産工程に容
易に適用することができる。
【0079】また、簡単な工程によってノズルプレート
のインクと接する面に親水又は撥水処理をすることがで
き、流路及びインク吐出部の表面特性を容易に制御する
ことができる。
【0080】また、ノズルの出口部位に形成されてイン
クの噴射能を向上させて印刷能を向上させる直管部及び
ノズルプレートの下部に形成されてノズルを保護するク
レータをデザインするにおいて自由度が高い。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の製造方法の一実施形態を示す工程図
である。
【図2】 本発明の製造方法の一実施形態を示す工程図
である。
【図3】 本発明の製造方法の一実施形態を示す工程図
である。
【図4】 本発明の製造方法の一実施形態を示す工程図
である。
【図5】 本発明の製造方法の一実施形態を示す工程図
である。
【図6】 本発明の製造方法の一実施形態を示す工程図
である。
【図7】 本発明の製造方法の一実施形態を示す工程図
である。
【図8】 本発明の製造方法の一実施形態を示す工程図
である。
【図9】 本発明の製造方法の一実施形態を示す工程図
である。
【図10】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図11】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図12】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図13】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図14】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図15】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図16】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図17】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図18】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図19】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図20】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図21】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図22】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図23】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図24】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図25】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図26】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図27】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図28】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図29】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図30】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図31】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図32】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図33】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図34】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図35】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図36】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図37】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図38】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図39】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図40】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図41】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図42】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図43】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図44】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図45】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図46】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図47】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図48】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図49】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図50】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図51】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図52】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図53】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図54】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図55】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図56】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図57】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図58】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図59】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図60】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図61】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図62】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【図63】 本発明の製造方法における他の実施形態を
示す工程図である。
【符号の説明】
10,30,50,110,130,150,210
シリコンウェーハ 12,112,212 ドービング層 14,34,54,114,134,214 クレ
ータ層 16,36,56,116,136,156,216
傾斜部 18,38,58,118,138,158,218
直管部 20,40,60,120,140,160,220
クレータ 32,132 ポリシリコン層 52,152 金属層 113,133,153 フォトレジスト層 217 直管部

Claims (84)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 シリコンウェーハを提供する段階と、 前記シリコンウェーハの下部に不純物成分をドーピング
    して直管部層を形成する段階と、 前記直管部層の下部に金属をメッキしてクレータ層を形
    成する段階と、 前記シリコンウェーハをパターニングした後に異方性エ
    ッチングしてノズルの傾斜部を形成する段階と、 前記直管部層を乾式エッチングして、前記直管部層にノ
    ズル出口部位の直管部を形成する段階と、前記クレータ
    層をパターニングした後にエッチングして、前記クレー
    タ層にクレータを形成する段階とを含むノズルプレート
    の製造方法。
  2. 【請求項2】 前記直管部層は、1〜30μmの厚さに
    形成することを特徴とする請求項1に記載のノズルプレ
    ートの製造方法。
  3. 【請求項3】 前記クレータ層を形成する金属として
    は、ニッケル、ニッケル−クロム又はニッケル−コバル
    ト−タングステンを使用することを特徴とする請求項1
    に記載のノズルプレートの製造方法。
  4. 【請求項4】 前記クレータ層は、1〜15μmの厚さ
    に形成することを特徴とする請求項1に記載のノズルプ
    レートの製造方法。
  5. 【請求項5】 前記ノズルの傾斜部を形成するためのシ
    リコンウェーハのエッチングは、シリコンウェーハをパ
    ターニングした後にエッチングしてV字形状のグルーブ
    を形成する段階を反復して行なうことを特徴とする請求
    項1に記載のノズルプレートの製造方法。
  6. 【請求項6】 完成されたノズルプレートのインクと接
    する部位に親水処理をする段階をさらに含むことを特徴
    とする請求項1に記載のノズルプレートの製造方法。
  7. 【請求項7】 前記親水処理としては、前記シリコンの
    表面にシリコン酸化膜を形成する方法、シリコンの表面
    にシリコン窒化膜を形成する方法、及びシリコンの表面
    に金属を蒸着させる方法のなかから選択して使用するこ
    とを特徴とする請求項6に記載のノズルプレートの製造
    方法。
  8. 【請求項8】 完成されたノズルプレートのインクと接
    する部位に撥水処理をする段階をさらに含むことを特徴
    とする請求項1に記載のノズルプレートの製造方法。
  9. 【請求項9】 前記撥水処理としては、シリコンの表面
    に硼素をドーピングする方法、シリコンの表面を還元さ
    せる方法、シリコンの表面をHFで処理する方法、及び
    シリコンの表面にメタリゼイションした後に撥水性有機
    ポリマーを薄膜コーティングする方法のなかから選択し
    て使用することを特徴とする請求項8に記載のノズルプ
    レートの製造方法。
  10. 【請求項10】 シリコンウェーハを提供する段階と、
    前記シリコンウェーハの下部にポリシリコンからなる直
    管部層を形成する段階と、前記直管部層の下部に金属を
    メッキしてクレータ層を形成する段階と、 前記シリコンウェーハをパターニングした後に異方性エ
    ッチングしてノズルの傾斜部を形成する段階と、 前記直管部層を乾式エッチングして、前記直管部層にノ
    ズル出口部位の直管部を形成する段階と、前記クレータ
    層をパターニングした後にエッチングして、前記クレー
    タ層にクレータを形成する段階とを含むノズルプレート
    の製造方法。
  11. 【請求項11】 前記直管部層は、1〜30μmの厚さ
    に形成することを特徴とする請求項10に記載のノズル
    プレートの製造方法。
  12. 【請求項12】 前記クレータ層を形成する金属として
    は、ニッケル、ニッケル−クロム又はニッケル−コバル
    ト−タングステンを使用することを特徴とする請求項1
    0に記載のノズルプレートの製造方法。
  13. 【請求項13】 前記クレータ層は、1〜15μmの厚
    さに形成することを特徴とする請求項10に記載のノズ
    ルプレートの製造方法。
  14. 【請求項14】 前記ノズルの傾斜部を形成するための
    シリコンウェーハのエッチングは、シリコンウェーハを
    パターニングした後にエッチングしてV字形状のグルー
    ブを形成する段階を反復して行なうことを特徴とする請
    求項10に記載のノズルプレートの製造方法。
  15. 【請求項15】 完成されたノズルプレートのインクと
    接する部位に親水処理をする段階をさらに含むことを特
    徴とする請求項10に記載のノズルプレートの製造方
    法。
  16. 【請求項16】 前記親水処理としては、前記シリコン
    の表面にシリコン酸化膜を形成する方法、シリコンの表
    面にシリコン窒化膜を形成する方法、及びシリコンの表
    面に金属を蒸着させる方法のなかから選択して使用する
    ことを特徴とする請求項15に記載のノズルプレートの
    製造方法。
  17. 【請求項17】 完成されたノズルプレートのインクと
    接する部位に撥水処理をする段階をさらに含むことを特
    徴とする請求項10に記載のノズルプレートの製造方
    法。
  18. 【請求項18】 前記撥水処理としては、シリコンの表
    面に硼素をドーピングする方法、シリコンの表面を還元
    させる方法、シリコンの表面をHFで処理する方法、及
    びシリコンの表面にメタリゼイションした後に撥水性有
    機ポリマーを薄膜コーティングする方法のなかから選択
    して使用することを特徴とする請求項17に記載のノズ
    ルプレートの製造方法。
  19. 【請求項19】 シリコンウェーハを提供する段階と、 前記シリコンウェーハの下部に金属をメッキして直管部
    層を形成する段階と、 前記直管部層の下部に金属をメッキしてクレータ層を形
    成する段階と、 前記シリコンウェーハをパターニングした後に異方性エ
    ッチングしてノズルの傾斜部を形成する段階と、 前記直管部層を乾式エッチングして、前記直管部層にノ
    ズル出口部位の直管部を形成する段階と、前記クレータ
    層をパターニングした後にエッチングして、前記クレー
    タ層にクレータを形成する段階とを含むノズルプレート
    の製造方法。
  20. 【請求項20】 前記直管部層を形成する段階とクレー
    タ層を形成する段階の間にエッチング中止層を形成する
    段階をさらに含むことを特徴とする請求項19に記載の
    ノズルプレートの製造方法。
  21. 【請求項21】 前記エッチング中止層としては、金、
    銀、パラジウム、プラチナ、クロム又はそれらの合金を
    使用することを特徴とする請求項20に記載のノズルプ
    レートの製造方法。
  22. 【請求項22】 前記直管部層を形成する金属として
    は、ニッケル、ニッケル−クロム又はニッケル−コバル
    ト−タングステンを使用することを特徴とする請求項1
    9に記載のノズルプレートの製造方法。
  23. 【請求項23】 前記直管部層は、1〜30μmの厚さ
    に形成することを特徴とする請求項19に記載のノズル
    プレートの製造方法。
  24. 【請求項24】 前記クレータ層を形成する金属として
    は、ニッケル、ニッケル−クロム又はニッケル−コバル
    ト−タングステンを使用することを特徴とする請求項1
    9に記載のノズルプレートの製造方法。
  25. 【請求項25】 前記クレータ層は、1〜15μmの厚
    さに形成することを特徴とする請求項19に記載のノズ
    ルプレートの製造方法。
  26. 【請求項26】 前記直管部層と前記クレータ層は、異
    なる成分の金属から形成することを特徴とする請求項1
    9に記載のノズルプレートの製造方法。
  27. 【請求項27】 前記ノズルの傾斜部を形成するための
    シリコンウェーハのエッチングは、シリコンウェーハを
    パターニングした後にエッチングしてV字形状のグルー
    ブを形成する段階を反復して行なうことを特徴とする請
    求項19に記載のノズルプレートの製造方法。
  28. 【請求項28】 完成されたノズルプレートのインクと
    接する部位に親水処理をする段階をさらに含むことを特
    徴とする請求項19に記載のノズルプレートの製造方
    法。
  29. 【請求項29】 前記親水処理としては、前記シリコン
    の表面にシリコン酸化膜を形成する方法、シリコンの表
    面にシリコン窒化膜を形成する方法、及びシリコンの表
    面に金属を蒸着させる方法のなかから選択して使用する
    ことを特徴とする請求項28に記載のノズルプレートの
    製造方法。
  30. 【請求項30】 完成されたノズルプレートのインクと
    接する部位に撥水処理をする段階をさらに含むことを特
    徴とする請求項19に記載のノズルプレートの製造方
    法。
  31. 【請求項31】 前記撥水処理としては、シリコンの表
    面に硼素をドーピングする方法、シリコンの表面を還元
    させる方法、シリコンの表面をHFで処理する方法、及
    びシリコンの表面にメタリゼイションした後に撥水性有
    機ポリマーを薄膜コーティングする方法のなかから選択
    して使用することを特徴とする請求項30に記載のノズ
    ルプレートの製造方法。
  32. 【請求項32】 シリコンウェーハを提供する段階と、 前記シリコンウェーハの下部に不純物成分をドーピング
    して直管部層を形成する段階と、 前記シリコンウェーハをパターニングした後に異方性エ
    ッチングしてノズルの傾斜部を形成する段階と、 前記直管部層を乾式エッチングして、前記直管部層にノ
    ズル出口部位の直管部を形成する段階と、 前記直管部層の下部にフォトレジスト層を形成する段階
    と、 前記フォトレジスト層をパターニングしてクレータ部分
    にのみフォトレジストを残す段階と、 前記直管部層の下部に金属をメッキしてクレータ層を形
    成する段階と、 前記フォトレジストを除去してクレータを形成する段階
    とを含むノズルプレートの製造方法。
  33. 【請求項33】 前記直管部層は、1〜30μmの厚さ
    に形成することを特徴とする請求項32に記載のノズル
    プレートの製造方法。
  34. 【請求項34】 前記クレータ層を形成する金属として
    は、ニッケル、ニッケル−クロム又はニッケル−コバル
    ト−タングステンを使用することを特徴とする請求項3
    2に記載のノズルプレートの製造方法。
  35. 【請求項35】 前記クレータ層は、1〜15μmの厚
    さに形成することを特徴とする請求項32に記載のノズ
    ルプレートの製造方法。
  36. 【請求項36】 前記ノズルの傾斜部を形成するための
    シリコンウェーハのエッチングは、シリコンウェーハを
    パターニングした後にエッチングしてV字形状のグルー
    ブを形成する段階を反復して行なうことを特徴とする請
    求項32に記載のノズルプレートの製造方法。
  37. 【請求項37】 完成されたノズルプレートのインクと
    接する部位に親水処理をする段階をさらに含むことを特
    徴とする請求項32に記載のノズルプレートの製造方
    法。
  38. 【請求項38】 前記親水処理としては、前記シリコン
    の表面にシリコン酸化膜を形成する方法、シリコンの表
    面にシリコン窒化膜を形成する方法、及びシリコンの表
    面に金属を蒸着させる方法のなかから選択して使用する
    ことを特徴とする請求項37に記載のノズルプレートの
    製造方法。
  39. 【請求項39】 完成されたノズルプレートのインクと
    接する部位に撥水処理をする段階をさらに含むことを特
    徴とする請求項32に記載のノズルプレートの製造方
    法。
  40. 【請求項40】 前記撥水処理としては、シリコンの表
    面に硼素をドーピングする方法、シリコンの表面を還元
    させる方法、シリコンの表面をHFで処理する方法、及
    びシリコンの表面にメタリゼイションした後に撥水性有
    機ポリマーを薄膜コーティングする方法のなかから選択
    して使用することを特徴とする請求項39に記載のノズ
    ルプレートの製造方法。
  41. 【請求項41】 シリコンウェーハを提供する段階と、 前記シリコンウェーハの下部にポリシリコンからなる直
    管部層を形成する段階と、 前記シリコンウェーハをパターニングした後に異方性エ
    ッチングしてノズルの傾斜部を形成する段階と、 前記直管部層を乾式エッチングして、前記直管部層にノ
    ズル出口部位の直管部を形成する段階と、 前記直管部層の下部にフォトレジスト層を形成する段階
    と、 前記フォトレジスト層をパターニングしてクレータ部分
    にのみフォトレジストを残す段階と、 前記直管部層の下部に金属をメッキしてクレータ層を形
    成する段階と、 前記フォトレジストを除去してクレータを形成する段階
    とを含むノズルプレートの製造方法。
  42. 【請求項42】 前記直管部層は、1〜30μmの厚さ
    に形成することを特徴とする請求項41に記載のノズル
    プレートの製造方法。
  43. 【請求項43】 前記クレータ層を形成する金属として
    は、ニッケル、ニッケル−クロム又はニッケル−コバル
    ト−タングステンを使用することを特徴とする請求項4
    1に記載のノズルプレートの製造方法。
  44. 【請求項44】 前記クレータ層は、1〜15μmの厚
    さに形成することを特徴とする請求項41に記載のノズ
    ルプレートの製造方法。
  45. 【請求項45】 前記ノズルの傾斜部を形成するための
    シリコンウェーハのエッチングは、シリコンウェーハを
    パターニングした後にエッチングしてV字形状のグルー
    ブを形成する段階を反復して行なうことを特徴とする請
    求項41に記載のノズルプレートの製造方法。
  46. 【請求項46】 完成されたノズルプレートのインクと
    接する部位に親水処理をする段階をさらに含むことを特
    徴とする請求項41に記載のノズルプレートの製造方
    法。
  47. 【請求項47】 前記親水処理としては、前記シリコン
    の表面にシリコン酸化膜を形成する方法、シリコンの表
    面にシリコン窒化膜を形成する方法、及びシリコンの表
    面に金属を蒸着させる方法のなかから選択して使用する
    ことを特徴とする請求項46に記載のノズルプレートの
    製造方法。
  48. 【請求項48】 完成されたノズルプレートのインクと
    接する部位に撥水処理をする段階をさらに含むことを特
    徴とする請求項41に記載のノズルプレートの製造方
    法。
  49. 【請求項49】 前記撥水処理としては、シリコンの表
    面に硼素をドーピングする方法、シリコンの表面を還元
    させる方法、シリコンの表面をHFで処理する方法、及
    びシリコンの表面にメタリゼイションした後に撥水性有
    機ポリマーを薄膜コーティングする方法のなかから選択
    して使用することを特徴とする請求項48に記載のノズ
    ルプレートの製造方法。
  50. 【請求項50】 シリコンウェーハを提供する段階と、 前記シリコンウェーハの下部に金属をメッキして直管部
    層を形成する段階と、 前記シリコンウェーハをパターニングした後に異方性エ
    ッチングしてノズルの傾斜部を形成する段階と、 前記直管部層を乾式エッチングして、前記直管部層にノ
    ズル出口部位の直管部を形成する段階と、 前記直管部層の下部にフォトレジスト層を形成する段階
    と、 前記フォトレジスト層をパターニングしてクレータ部分
    にのみフォトレジストを残す段階と、 前記直管部層の下部に金属をメッキしてクレータ層を形
    成する段階と、 前記フォトレジストを除去してクレータを形成する段階
    とを含むノズルプレートの製造方法。
  51. 【請求項51】 前記直管部層を形成する金属として
    は、ニッケル、ニッケル−クロム又はニッケル−コバル
    ト−タングステンを使用することを特徴とする請求項5
    0に記載のノズルプレートの製造方法。
  52. 【請求項52】 前記直管部層は、1〜30μmの厚さ
    に形成することを特徴とする請求項50に記載のノズル
    プレートの製造方法。
  53. 【請求項53】 前記クレータ層の材料となる金属とし
    ては、ニッケル、ニッケル−クロム又はニッケル−コバ
    ルト−タングステンを使用することを特徴とする請求項
    50に記載のノズルプレートの製造方法。
  54. 【請求項54】 前記クレータ層は、1〜15μmの厚
    さに形成することを特徴とする請求項50に記載のノズ
    ルプレートの製造方法。
  55. 【請求項55】 前記ノズルの傾斜部を形成するための
    シリコンウェーハのエッチングは、シリコンウェーハを
    パターニングした後にエッチングしてV字形状のグルー
    ブを形成する段階を反復して行なうことを特徴とする請
    求項50に記載のノズルプレートの製造方法。
  56. 【請求項56】 完成されたノズルプレートのインクと
    接する部位に親水処理をする段階をさらに含むことを特
    徴とする請求項50に記載のノズルプレートの製造方
    法。
  57. 【請求項57】 前記親水処理としては、前記シリコン
    の表面にシリコン酸化膜を形成する方法、シリコンの表
    面にシリコン窒化膜を形成する方法、及びシリコンの表
    面に金属を蒸着させる方法のなかから選択して使用する
    ことを特徴とする請求項56に記載のノズルプレートの
    製造方法。
  58. 【請求項58】 完成されたノズルプレートのインクと
    接する部位に撥水処理をする段階をさらに含むことを特
    徴とする請求項50に記載のノズルプレートの製造方
    法。
  59. 【請求項59】 前記撥水処理としては、シリコンの表
    面に硼素をドーピングする方法、シリコンの表面を還元
    させる方法、シリコンの表面をHFで処理する方法、及
    びシリコンの表面にメタリゼイションした後に撥水性有
    機ポリマーを薄膜コーティングする方法のなかから選択
    して使用することを特徴とする請求項58に記載のノズ
    ルプレートの製造方法。
  60. 【請求項60】 シリコンウェーハと、 前記シリコンウェーハの下部面に不純物成分をドーピン
    グして形成された直管部層と、 前記直管部層の下部に金属をメッキすることによって形
    成されたクレータ層と、 異方性エッチングによって前記シリコンウェーハに形成
    されたノズルの傾斜部と、 前記直管部層を乾式エッチングすることで、前記直管部
    層に形成されたノズル出口部位の直管部と、前記クレー
    タ層をエッチングすることで、前記クレータ層に形成さ
    れたクレータとを含んで構成されたノズルプレート。
  61. 【請求項61】 前記直管部層の厚さは、1〜30μm
    であることを特徴とする請求項60に記載のノズルプレ
    ート。
  62. 【請求項62】 前記クレータ層は、ニッケル、ニッケ
    ル−クロム、又はニッケル−コバルト−タングステンか
    らなることを特徴とする請求項60に記載のノズルプレ
    ート
  63. 【請求項63】 前記クレータ層の厚さは、1〜15μ
    mであることを特徴とする請求項60に記載のノズルプ
    レート。
  64. 【請求項64】 前記シリコンウェーハで前記ノズル傾
    斜部の上部に形成された直管部をさらに含むことを特徴
    とする請求項60に記載のノズルプレート。
  65. 【請求項65】 前記ノズルプレートのインクと接する
    部位に親水処理が施されたことを特徴とする請求項60
    に記載のノズルプレート。
  66. 【請求項66】 完成されたノズルプレートのインクと
    接する部位に撥水処理が施されたことを特徴とする請求
    項60に記載のノズルプレート。
  67. 【請求項67】 シリコンウェーハと、 ポリシリコンからなり、前記シリコンウェーハの下部に
    形成された直管部層と、 前記直管部層の下部に金属をメッキすることによって形
    成されたクレータ層と、 異方性エッチングによって前記シリコンウェーハに形成
    されたノズルの傾斜部と、 前記直管部層を乾式エッチングすることで、前記直管部
    層に形成されたノズル出口部位の直管部と、前記クレー
    タ層をエッチングすることで、前記クレータ層に形成さ
    れたクレータとを含んで構成されたノズルプレート。
  68. 【請求項68】 前記直管部層の厚さは、1〜30μm
    であることを特徴とする請求項67に記載のノズルプレ
    ート。
  69. 【請求項69】 前記クレータ層は、ニッケル、ニッケ
    ル−クロム、又はニッケル−コバルト−タングステンか
    らなることを特徴とする請求項67に記載のノズルプレ
    ート
  70. 【請求項70】 前記クレータ層の厚さは、1〜15μ
    mであることを特徴とする請求項67に記載のノズルプ
    レート。
  71. 【請求項71】 前記シリコンウェーハで前記ノズル傾
    斜部の上部に形成された直管部をさらに含むことを特徴
    とする請求項67に記載のノズルプレート。
  72. 【請求項72】 前記ノズルプレートのインクと接する
    部位に親水処理が施されたことを特徴とする請求項67
    に記載のノズルプレート。
  73. 【請求項73】 完成されたノズルプレートのインクと
    接する部位に撥水処理が施されたことを特徴とする請求
    項67に記載のノズルプレート。
  74. 【請求項74】 シリコンウェーハと、 前記シリコンウェーハの下部に金属をメッキすることに
    よって形成された直管部層と、 前記直管部層の下部に金属をメッキすることによって形
    成されたクレータ層と、 異方性エッチングによって前記シリコンウェーハに形成
    されたノズルの傾斜部と、 前記直管部層を乾式エッチングすることで、前記直管部
    層に形成されたノズル出口部位の直管部と、前記クレー
    タ層をエッチングすることで、前記クレータ層に形成さ
    れたクレータとを含んで構成されたノズルプレート。
  75. 【請求項75】 前記直管部層とクレータ層の間にエッ
    チング中止層をさらに含むことを特徴とする請求項74
    に記載のノズルプレート。
  76. 【請求項76】 前記エッチング中止層は、金、銀、パ
    ラジウム、プラチナ、クロム、又はそれらの合金からな
    ることを特徴とする請求項75に記載のノズルプレー
    ト。
  77. 【請求項77】 前記直管部層は、ニッケル、ニッケル
    −クロム、又はニッケル−コバルト−タングステンから
    なることを特徴とする請求項74に記載のノズルプレー
    ト。
  78. 【請求項78】 前記直管部層の厚さは、1〜30μm
    であることを特徴とする請求項74に記載のノズルプレ
    ート。
  79. 【請求項79】 前記クレータ層は、ニッケル、ニッケ
    ル−クロム、又はニッケル−コバルト−タングステンか
    らなることを特徴とする請求項74に記載のノズルプレ
    ート。
  80. 【請求項80】 前記クレータ層の厚さは、1〜15μ
    mであることを特徴とする請求項74に記載のノズルプ
    レート。
  81. 【請求項81】 前記直管部層と前記クレータ層は、異
    なる成分の金属からなることを特徴とする請求項74に
    記載のノズルプレート。
  82. 【請求項82】 前記シリコンウェーハで前記ノズル傾
    斜部の上部に形成された直管部をさらに含むことを特徴
    とする請求項74に記載のノズルプレート。
  83. 【請求項83】 前記ノズルプレートのインクと接する
    部位に親水処理が施されたことを特徴とする請求項74
    に記載のノズルプレート。
  84. 【請求項84】 前記ノズルプレートのインクと接する
    部位に撥水処理が施されたことを特徴とする請求項74
    に記載のノズルプレート。
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