JP2001160626A - 半導体加速度センサ - Google Patents
半導体加速度センサInfo
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Abstract
に、重り部の変位を制限する突起を容易に形成して、信
頼性が高く、小型化の図れる半導体加速度センサを提供
すること。 【解決手段】 半導体加速度センサチップ1と接合され
て重り部5の過度の変位を抑制するストッパ2,3とを
有する半導体加速度センサにおいて、主表面に対して略
直交方向、かつ第1主表面と第2主表面に端部が露出す
る1本又は複数本の金属線19を有する金属線入りガラ
ス基板をストッパ2又は3に用いたことを特徴とする。
Description
半導体加速度センサに関するものである。
図7にもとづき説明する。尚、半導体加速度センサとし
て、ピエゾ抵抗による加速度検知方式を例にあげて説明
する。図6は半導体加速度センサの断面図であり、図7
は半導体加速度センサの上面図で、特に半導体加速度セ
ンサの本体部となるチップ部1の上面構造を示すもので
ある。チップ部1には、重り部5と撓み部4が形成され
ている。重り部5は、加速度検出のための質量体であ
り、撓み部4により支持されている。これらは、チップ
部1下面からアルカリ異方性エッチングにより、撓み部
4の肉薄形状の形成するとともに、重り部5周辺を貫通
させてコの字に近いスリット10を形成することで形成
される。重り部5は異方性エッチングで形成されるた
め、その断面形状は台形となる。また、撓み部4上には
ピエゾ抵抗6が形成され、従来例では、撓み部4が2本
互いに平行に形成され、各撓み部4には各々2個、合計
4個のピエゾ抵抗6が形成されている。ピエゾ抵抗6は
配線11により、ブリッジ回路を構成するように配線さ
れている。このブリッジ回路により、加速度を受けた時
のピエゾ抵抗6の抵抗値変化が電気信号として出力され
る。配線11は、コンタクト部12を介して、アルミ配
線13と接続され、アルミ配線13は、ワイヤボンディ
ング用のパッド14に接続される。さらにこのパッド1
4と、電源供給用及び電気信号出力用の外部端子とがワ
イヤ7でボンディング接続される。
2及び下部ガラスストッパ3は、チップ部1上面,下面
に各々陽極接合により接合され、過大な加速度が生じた
とき、重り部5の変位を制限し撓み部4の破壊を防止す
る役目を備えている。
ストッパ3は、重り部5の変位(揺動)空間を確保する
ための凹部がエッチングやサンドブラスト加工等で形成
してある。このように空間(エアギャップ)を形成し
て、エアダンピングを大気圧下で行うようにし、チップ
部1の加速度感知部(ピエゾ抵抗6,撓み部4,重り部
5)を密閉状態にし、過大な加速度を受けた場合でも、
その狭い空間における重り部5の変位を抑制して、チッ
プ部1の破壊を防止している。ここで、重り部5のエア
ダンピング効果を利用して半導体加速度センサの周波数
特性が最適となるように、上部ガラスストッパ2及び下
部ガラスストッパ3の凹部の深さや形状を設定する。ま
た、重り部5の一定以上変位を防止するため、この凹部
に突起8を設けることがある。、次に加速度検出の動作
について説明する。加速度αがチップ部1の垂直方向に
加わると重り部5に力F=mα(m:質量)が発生し、
重り部5が変位する。この力Fにより撓み部4が撓んで
表面に歪みが発生し、この歪みによりピエゾ抵抗6の抵
抗値が変化する。ピエゾ抵抗6は、一対の撓み部4に各
々2個設けられるとともに、ブリッジ回路を構成するよ
うに配線されている。このブリッジ回路により、ピエゾ
抵抗6の抵抗値変化が電気信号として出力される。
半導体加速度センサの構成では、このパッド14を介し
て、電源供給用及び電気信号出力用の外部端子とをワイ
ヤ7でボンディング接続しなければならず、半導体加速
度センサのサイズが大きくなり、また、ワイヤボンディ
ング時の振動により撓み部4が折れたりすることがあ
る。さらに重り部5の変位を制限する突起8も別途形成
しなければならない等の問題がある。
で、その目的とするところは、ワイヤボンディング工程
を不要とするとともに、重り部の変位を制限する突起も
容易に形成して、信頼性が高く、小型化の図れる半導体
加速度センサを提供することにある。
に、請求項1記載の発明は、加速時に変位する重り部
と、該重り部に連結された撓み部と、該撓み部を支持す
る支持部と、該撓み部に前記重り部の変位により加速度
を検知する半導体加速度センサチップと、該半導体加速
度センサチップと接合されて前記重り部の過度の変位を
抑制するストッパとを有する半導体加速度センサにおい
て、主表面に対して略直交方向、かつ第1主表面と第2
主表面に端部が露出する1本又は複数本の金属線を有す
る金属線入りガラス基板を前記ストッパに用いたことを
特徴とするものである。
導体加速度センサにおいて、前記金属線入りガラス基板
において、金属線の露出部と半導体加速度センサチップ
の電極部と圧接して、前記金属線をリード線としたこと
を特徴とするものである。
導体加速度センサにおいて、前記金属線入りガラス基板
の金属線の端部を所定の長さとなるように除去し、該除
去部に金属メタライズ面を形成し、該金属メタライズ面
と半導体加速度センサチップの電極部と圧接したことを
特徴とするものである。
導体加速度センサにおいて、前記金属線入りガラス基板
の金属線の端部を所定の長さとなるように除去し、該除
去部にスタッドバンプを形成し、該スタッドバンプと半
導体加速度センサチップの電極部と圧接したことを特徴
とするものである。
項4のいずれかに記載の半導体加速度センサにおいて、
前記金属線入りガラス基板の一部において金属線を含む
周辺部のガラスを除去して凹部を形成し、該凹部内に突
出した前記金属線を、重り部の過度の変位を抑制する突
起部としたことを特徴とするものである。
半導体加速度センサについて図1乃至図6にもとづき説
明する。
の半導体加速度センサを示す図で、図1は半導体加速度
センサの断面構造を示す図で、図2は半導体加速度セン
サの本体部となるチップ部1の上面構造を示すものであ
る。基本構成および動作は従来の実施例と同様である
が、構成が次のように異なる。尚、以下に示す構成の関
係で従来例に対して上下を反転した図となる。
ガラスを用いる。この金属線入りガラス基板は、高融点
の金属線を内臓しているとともに陽極接合が可能なよう
に可動金属イオンが含有されている。この金属線入りガ
ラスには例えば、HOYA株式会社製のSD2−WIN
(商標)がある。本発明においては、金属線が主表面に
対して略直交方向、かつ第1主表面と第2主表面に端部
が露出するように金属線入りガラスをスライス加工をし
て、金属線入りガラス基板として用いる。また、金属線
の材料としては、タングステン(融点2610℃)、モ
リブデン(3387℃)等を用いる。以下この金属線入
りガラス基板を単にガラス基板と称することとする。
り外部端子と接続されていたパッド14と、ガラス基板
表面に露出した金属線19の端部とが圧接するように位
置を合せ、チップ部1表面のガラス接合用のアルミ薄膜
9とを陽極接合する。これによりパッド14と金属線1
9とが電気的接続がなされる。また、金属線19のもう
一端(パッケージと接続する側の面)には、外部接続電
極パッド20をスパッタ又はメッキにより形成する。
尚、この外部接続電極パッド20は、突起上のバンプで
もよい。また、上部ガラスストッパ2の別の部位には、
パッケージに接続した時に、傾斜することのないようダ
ミーのパッドを形成しておく。
線入りガラスを用い、内部の金属線19とパッド14を
圧接するようにしたので、金属線19が外部接続用のリ
ード線となり、ワイヤボンドが不要となるとともに、パ
ッケージへの実装面積が削減されるという効果を奏す
る。 図3は本発明の第2の実施の形態の半導体加速度
センサの断面構造を示す図である。ここでは、ガラス基
板の金属線19を含む周辺部のガラスをサンドブラスト
加工等により除去し、凹部を形成し、これを上部ガラス
ストッパ2及び下部ガラスストッパ3として用いる。金
属線19の高硬度であるため、ほとんど削られることな
く凹部の所定の位置に金属線19が突出して残る。この
突出した金属線が、重り部5の変位を制限する従来例の
突起(8)となる。この金属線19の突出部の高さ19
aを微調整するために、サンドブラスト加工でガラス基
板を除去する前に、例えば、塩化第2鉄溶液等で、金属
線19の先端の一部をエッチングしておいてもよい。
尚、凹部の深さは、約数十μmで、金属線19の突出部
の高さ19aはこの凹部の深さより数μm〜10μm弱
程度低くなるように調整する。
周辺部のガラスをサンドブラスト加工等により除去し、
凹部を形成し、これを上部ガラスストッパ2及び下部ガ
ラスストッパ3として用いるようにしたので、容易に重
り部5の変位を制限する従来例の突起(8)を実現し、
撓み部4の破損を防止することができるという効果を奏
する。
加速度センサとして、第1の実施の形態において、金属
線19をリード線とした場合の電極部の構造を示す図で
ある。ガラス基板の金属線19が所定の長さとなるよう
に、例えば数μmから約10μmのエッチングを行い、
このエッチング部に下層金属メタライズ面21を形成す
る。その材料は例えば、Ti,Cr,Ni等である。次
に上層金属メタライズ面22として、Au又はPt等を
スパッタ又はメッキにより形成する。上層メタライズ面
22の厚さは、例えば、数千オングストローム〜数μm
レベルでよい。この上層メタライズ面23とチップ部1
表面のパッド14を陽極接合により圧接又は、拡散接合
(Au−AL拡散)して、電気的接続を行う。
の長さとなるようにエッチングを行い、除去部に金属メ
タライズ面(21,22)を形成するようにしたので、
金属線19とパッド14の電気的接続の信頼性が向上す
るという効果を奏する。
加速度センサとして、第1の実施の形態において、金属
線19をリード線とした場合の電極部の構造を示す図で
ある。ガラス基板の金属線19が所定の長さとなるよう
に、例えば数μmから約10μmのエッチングを行い、
このエッチング部に下層金属メタライズ面21を形成す
る。その材料は例えば、Ti,Cr,Ni等である。次
にこの上に、Auワイヤボンダーで、Auのスタッドバ
ンプ23を形成する。このスタッドバンプ23の上部と
チップ部1表面のパッド14を陽極接合時に印加される
荷重で、スタッドバンプ23を(金属線19除去部内部
に広がるように)変形し圧着または、拡散結合(Au−
AL拡散)により電気的接続を行う。
の長さとなるようにエッチングを行い、除去部にスタッ
ドバンプ23を形成するようにしたので、容易な構成で
金属線19とパッド14の電気的接続の信頼性が向上す
るという効果を奏する。
加速度検知方式を例にあげたが、この方式に限定するも
のではない。
明によれば、加速時に変位する重り部と、該重り部に連
結された撓み部と、該撓み部を支持する支持部と、該撓
み部に前記重り部の変位により加速度を検知する半導体
加速度センサチップと、該半導体加速度センサチップと
接合されて前記重り部の過度の変位を抑制するストッパ
とを有する半導体加速度センサにおいて、主表面に対し
て略直交方向、かつ第1主表面と第2主表面に端部が露
出する1本又は複数本の金属線を有する金属線入りガラ
ス基板を前記ストッパに用いるようにしたので、ワイヤ
ボンディング工程を不要とするとともに、重り部の変位
を制限する突起も容易に形成して、信頼性が高く、小型
化の図れる半導体加速度センサを提供することができ
た。
線入りガラス基板において、金属線の露出部と半導体加
速度センサチップの電極部と圧接して、前記金属線をリ
ード線としたので、ワイヤボンドが不要となるととも
に、パッケージへの実装面積が削減されるという効果を
奏する。
線入りガラス基板の金属線の端部を所定の長さとなるよ
うに除去し、該除去部に金属メタライズ面を形成し、該
金属メタライズ面と半導体加速度センサチップの電極部
と圧接したので、半導体加速度センサチップと金属線と
電気的接続の信頼性が向上するという効果を奏する。
線入りガラス基板の金属線の端部を所定の長さとなるよ
うに除去し、該除去部にスタッドバンプを形成し、該ス
タッドバンプと半導体加速度センサチップの電極部と圧
接したので、容易に半導体加速度センサチップと金属線
と電気的接続の信頼性が向上するという効果を奏する。
サを示す断面図である。
サを示す上面図である。
サを示す断面図である。
サの電極部を示す断面図である。
サの電極部を示す断面図である。
Claims (5)
- 【請求項1】 加速時に変位する重り部と、該重り部に
連結された撓み部と、該撓み部を支持する支持部と、該
撓み部に前記重り部の変位により加速度を検知する半導
体加速度センサチップと、該半導体加速度センサチップ
と接合されて前記重り部の過度の変位を抑制するストッ
パとを有する半導体加速度センサにおいて、 主表面に対して略直交方向、かつ第1主表面と第2主表
面に端部が露出する1本又は複数本の金属線を有する金
属線入りガラス基板を前記ストッパに用いたことを特徴
とする半導体加速度センサ。 - 【請求項2】 前記金属線入りガラス基板において、金
属線の露出部と半導体加速度センサチップの電極部と圧
接して、前記金属線をリード線としたことを特徴とする
請求項1記載の半導体加速度センサ。 - 【請求項3】 前記金属線入りガラス基板の金属線の端
部を所定の長さとなるように除去し、該除去部に金属メ
タライズ面を形成し、該金属メタライズ面と半導体加速
度センサチップの電極部と圧接したことを特徴とする請
求項2記載の半導体加速度センサ。 - 【請求項4】 前記金属線入りガラス基板の金属線の端
部を所定の長さとなるように除去し、該除去部にスタッ
ドバンプを形成し、該スタッドバンプと半導体加速度セ
ンサチップの電極部と圧接したことを特徴とする請求項
2記載の半導体加速度センサ。 - 【請求項5】 前記金属線入りガラス基板の一部におい
て金属線を含む周辺部のガラスを除去して凹部を形成
し、該凹部内に突出した前記金属線を、重り部の過度の
変位を抑制する突起部としたことを特徴とする請求項1
乃至請求項4のいずれかに記載の半導体加速度センサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34149199A JP3608455B2 (ja) | 1999-11-30 | 1999-11-30 | 半導体加速度センサ |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2001160626A true JP2001160626A (ja) | 2001-06-12 |
JP3608455B2 JP3608455B2 (ja) | 2005-01-12 |
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JP (1) | JP3608455B2 (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004506203A (ja) * | 2000-08-04 | 2004-02-26 | ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング | マイクロマシニング技術を用いた構成素子 |
JP2005091166A (ja) * | 2003-09-17 | 2005-04-07 | Matsushita Electric Works Ltd | 半導体圧力センサ |
JP2007147408A (ja) * | 2005-11-25 | 2007-06-14 | Matsushita Electric Works Ltd | センサエレメント |
US7482900B2 (en) | 2004-01-27 | 2009-01-27 | Matsushita Electric Works, Ltd. | Micro relay |
US8024973B2 (en) | 2008-03-28 | 2011-09-27 | Oki Semiconductor Co., Ltd. | Semiconductor acceleration sensor |
JP2012042228A (ja) * | 2010-08-12 | 2012-03-01 | Hitachi Ltd | 微小電気機械システムおよびその製造方法 |
-
1999
- 1999-11-30 JP JP34149199A patent/JP3608455B2/ja not_active Expired - Fee Related
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JP2004506203A (ja) * | 2000-08-04 | 2004-02-26 | ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング | マイクロマシニング技術を用いた構成素子 |
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US8024973B2 (en) | 2008-03-28 | 2011-09-27 | Oki Semiconductor Co., Ltd. | Semiconductor acceleration sensor |
JP2012042228A (ja) * | 2010-08-12 | 2012-03-01 | Hitachi Ltd | 微小電気機械システムおよびその製造方法 |
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