JP2001151593A - 石英ボート及びそれを用いたボート法化合物半導体単結晶製造方法 - Google Patents

石英ボート及びそれを用いたボート法化合物半導体単結晶製造方法

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JP2001151593A
JP2001151593A JP33177499A JP33177499A JP2001151593A JP 2001151593 A JP2001151593 A JP 2001151593A JP 33177499 A JP33177499 A JP 33177499A JP 33177499 A JP33177499 A JP 33177499A JP 2001151593 A JP2001151593 A JP 2001151593A
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Japan
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single crystal
boat
compound semiconductor
quartz boat
semiconductor single
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JP33177499A
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Minoru Seki
実 関
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Hitachi Cable Ltd
Original Assignee
Hitachi Cable Ltd
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Publication date
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  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 多結晶の少ない単結晶が得られる石英ボート
及びそれを用いたボート法化合物半導体単結晶製造方法
を提供する。 【解決手段】 原料3及び種結晶4を収納する石英ボー
ト10の肩部10aに位置する外側表面を透明にしたこ
とにより、高温ヒータ6からの輻射熱が不透明部分のよ
うな散乱を受けることなく肩部10aの原料融液へ到達
し、局所加熱効果を得ることができる。この結果、肩部
10aの底部10aaの温度を上げることができ、固液
界面の凹面化を防止することができ、多結晶の少ない単
結晶が得られる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、石英ボート及びそ
れを用いたボート法化合物半導体単結晶製造方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】ボート法を用いたGaAs単結晶の製造
方法、特にGF法について以下説明する。
【0003】図2(a)は従来のボート法化合物半導体
単結晶製造方法を適用した製造装置の概念図であり、図
2(b)は図2(a)の温度分布図である。図2(b)
において横軸が製造装置の長手方向の位置軸であり、縦
軸が温度軸である。
【0004】石英アンプル1内に、原料としてのGa3
及び種結晶4を配置した石英ボート2と、As5とを収
納して真空封止を行う。真空封止した石英アンプル1
を、高温ヒータ6と低温ヒータ7とを有する単結晶製造
炉8内にセットする。セット後高温ヒータ6と低温ヒー
タ7とを昇温させて、Ga3とAs5とを反応させ、G
aAsを合成する。GaAs合成後一定の温度勾配を有
する温度分布9をつくり、GaAsを融液化させ、種付
けを行う。
【0005】種付け後、高温ヒータ6を降温させ、種結
晶4側から結晶成長させることにより化合物半導体単結
晶が得られる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図2
(a)、(b)に示した従来技術では、初期成長段階で
ある石英ボート2の肩部2a付近における固液界面形状
が凹面化してしまい、この凹面部分にリネージが発生
し、結晶が多結晶化してしまうという問題があった。
【0007】この原因として、肩部2aでの結晶成長に
おいて、肩部2aの構造上、肩部2aの底部2aaが高
温ヒータ6から離れた位置にあるため、石英ボート2の
直胴部2bと比較して高温ヒータ6から受ける熱量が少
なく、底部2aaの温度が直胴部2bよりも低くなり、
肩部2aにおいては底部2aaと接する部分での結晶成
長がはやくなり、その結果、固液界面が凹面化してしま
う。
【0008】この問題の解決として、石英ボート2の肩
部2aに局所加熱ヒータを設置した単結晶成長炉を検討
したが、局所加熱ヒータが肩部2a以外の表面にも影響
し、局所加熱の効果を上げることで単結晶製造部全体の
温度制御のバランスがくずれてしまう。また、これとは
逆に単結晶成長炉全体の温度制御を行わない場合、局所
加熱の効果が薄れることとなってしまう。
【0009】ここで、原料3及び種結晶4を収納する石
英ボート2の内側については原料融液とのヌレを防止す
るためサンドブラスト処理を行い、外側については高温
ヒータ6からの輻射熱を散乱させ、均一に石英ボート2
を加熱する目的で内側同様サンドブレスト処理により不
透明化することが一般的である。
【0010】そこで、本発明の目的は、上記課題を解決
し、多結晶の少ない単結晶が得られる石英ボート及びそ
れを用いたボート法化合物半導体単結晶製造方法を提供
することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明の石英ボートは、原料及び種結晶を収納する石
英ボートにおいて、肩部に位置する外側表面を透明にし
たものである。
【0012】本発明の石英ボートを用いたボート法化合
物半導体単結晶製造方法は、ボート法を用いて化合物半
導体単結晶を製造する方法において、肩部に位置する外
側表面を透明にした石英ボートに原料及び種結晶を収納
して化合物半導体単結晶を製造するものである。
【0013】本発明によれば、原料及び種結晶を収納す
る石英ボートの肩部に位置する外側表面を透明にしたこ
とにより、ヒータからの輻射熱が不透明部分のような散
乱を受けることなく肩部原料融液へ到達し、局所加熱効
果を得ることができる。この結果、肩部の底部の温度を
上げることができ、固液界面の凹面化を防止することが
でき、多結晶の少ない単結晶が得られる。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を添付
図面に基づいて詳述する。
【0015】図1(a)は本発明の石英ボートを用いた
ボート法化合物半導体単結晶製造方法を適用した製造装
置の概念図であり、図1(b)は図1(a)の温度分布
図である。図1(b)において横軸が製造装置の長手方
向の位置軸であり、縦軸が温度軸である。
【0016】図2(a)、(b)に示した従来例との相
違点は、肩部10aに位置する外側表面を透明にした石
英ボート10を用いた点である(直胴部10bの外側及
び内側はサンドブラスト処理されている)。以下、Ga
As単結晶の製造について説明する。
【0017】石英アンプル1内に、原料としてのGa3
及び種結晶4を配置した石英ボート10と、As5とを
収納して真空封止する。真空封止した石英アンプル1を
単結晶製造炉8内にセットし、昇温、反応、融液作製
後、種付けを行い、0.4℃/hの温度変化率で降温さ
せ、単結晶成長を行う。
【0018】表1に本発明と従来例との結果を示す。
【0019】
【表1】
【0020】表1に示すように、本発明の石英ボートを
用いた方が単結晶化率の高いことが分かる。
【0021】以上において本発明によれば、結晶の単結
晶化に有効な固液界面形状を形成することが可能とな
り、多結晶化を有効に解消し、再現性よく単結晶を得る
ことができる。
【0022】なお、上述した実施の形態ではGF法によ
るGaAs単結晶製造を行った場合で説明したが、他の
原料(GaP、InAs、InP等)にも適用可能であ
る。また、HB法、VB法、VGF法による全ての化合
物半導体単結晶製造についても適用可能である。
【0023】
【発明の効果】以上要するに本発明によれば、次のよう
な優れた効果を発揮する。
【0024】多結晶の少ない単結晶が得られる石英ボー
ト及びそれを用いたボート法化合物半導体単結晶製造方
法の提供が可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)は本発明の石英ボートを用いたボート法
化合物半導体単結晶製造方法を適用した製造装置の概念
図であり、(b)は(a)の温度分布図である。
【図2】(a)は従来のボート法化合物半導体単結晶製
造方法を適用した製造装置の概念図であり、(b)は
(a)の温度分布図である。
【符号の説明】
1 石英アンプル 3 原料(Ga) 4 種結晶 5 As 6 高温ヒータ(ヒータ) 7 低温ヒータ(ヒータ) 8 単結晶製造炉 9 温度分布 10 石英ボート

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 原料及び種結晶を収納する石英ボートに
    おいて、肩部に位置する外側表面を透明にしたことを特
    徴とする石英ボート。
  2. 【請求項2】 ボート法を用いて化合物半導体単結晶を
    製造する方法において、肩部に位置する外側表面を透明
    にした石英ボートに原料及び種結晶を収納して化合物半
    導体単結晶を製造することを特徴とするボート法化合物
    半導体単結晶製造方法。
JP33177499A 1999-11-22 1999-11-22 石英ボート及びそれを用いたボート法化合物半導体単結晶製造方法 Pending JP2001151593A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107955971A (zh) * 2017-12-27 2018-04-24 有研光电新材料有限责任公司 水平法砷化镓单晶拉制过程中的放肩方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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