JP2001148115A - 磁気記録媒体 - Google Patents
磁気記録媒体Info
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- JP2001148115A JP2001148115A JP33162999A JP33162999A JP2001148115A JP 2001148115 A JP2001148115 A JP 2001148115A JP 33162999 A JP33162999 A JP 33162999A JP 33162999 A JP33162999 A JP 33162999A JP 2001148115 A JP2001148115 A JP 2001148115A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 トラッキングサーボが適正に行える信頼性の
高い磁気記録媒体を提供することにある。 【構成】 非磁性体からなる基体２と、その基体２の一
方の面に形成された磁性層４と、その基体２の他方の面
に形成されたバックコート層５を有し、バックコート層
５の表面に磁気ヘッドトラッキング用光学凹部６が設け
られ、その光学凹部６ならびに光学凹部６を形成してい
ない平坦部に光を照射し、その光学凹部６と平坦部の反
射光に基づき、前記磁性層４の記録トラックに対する磁
気ヘッド２２のトラッキングを行なう磁気記録媒体にお
いて、７００〜９００ｎｍから選択される単一もしくは
複数の波長を有する光を前記バックコート層５の平坦部
に照射したときの平坦部の平均光反射率が５％以上であ
ることを特徴とするものである。
高い磁気記録媒体を提供することにある。 【構成】 非磁性体からなる基体２と、その基体２の一
方の面に形成された磁性層４と、その基体２の他方の面
に形成されたバックコート層５を有し、バックコート層
５の表面に磁気ヘッドトラッキング用光学凹部６が設け
られ、その光学凹部６ならびに光学凹部６を形成してい
ない平坦部に光を照射し、その光学凹部６と平坦部の反
射光に基づき、前記磁性層４の記録トラックに対する磁
気ヘッド２２のトラッキングを行なう磁気記録媒体にお
いて、７００〜９００ｎｍから選択される単一もしくは
複数の波長を有する光を前記バックコート層５の平坦部
に照射したときの平坦部の平均光反射率が５％以上であ
ることを特徴とするものである。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば磁気テープなど
の磁気記録媒体に係り、特に光学的に磁気ヘッドのトラ
ッキング制御ができる磁気ヘッドトラッキング用光学凹
部（以下、光学凹部と略記する）を設けた磁気記録媒体
に関するものである。
の磁気記録媒体に係り、特に光学的に磁気ヘッドのトラ
ッキング制御ができる磁気ヘッドトラッキング用光学凹
部（以下、光学凹部と略記する）を設けた磁気記録媒体
に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】近年、パーソナルコンピュータなどの著
しい普及に伴い、それらに使用する記憶装置やバックア
ップ用装置の小型、大容量化がさらに要求される。これ
らの要求に対応するため、磁気テープにおいて、磁気ヘ
ッドのトラッキングを高精度化して記録密度を高めるた
めに、磁気ディスクや磁気テープなどの磁気記録媒体の
磁性層側に光学凹部を多数形成したものが提案されてい
る（例えば特開平２−３１３８７号公報参照）。
しい普及に伴い、それらに使用する記憶装置やバックア
ップ用装置の小型、大容量化がさらに要求される。これ
らの要求に対応するため、磁気テープにおいて、磁気ヘ
ッドのトラッキングを高精度化して記録密度を高めるた
めに、磁気ディスクや磁気テープなどの磁気記録媒体の
磁性層側に光学凹部を多数形成したものが提案されてい
る（例えば特開平２−３１３８７号公報参照）。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、磁気テープの
磁性層側に光学凹部を形成したものは、トラッキングに
必要な十分な光信号出力が得られず、また光信号強度が
ばらつきやすくなり、適正なトラッキングサーボが行な
われ難いという問題が出てきた。
磁性層側に光学凹部を形成したものは、トラッキングに
必要な十分な光信号出力が得られず、また光信号強度が
ばらつきやすくなり、適正なトラッキングサーボが行な
われ難いという問題が出てきた。
【０００４】この種の磁気記録媒体ではそれの光学的特
性が極めて重要な項目となり、その光学的特性とは具体
的には、 ．光学凹部とその凹部以外の平坦部との光学的コント
ラストが高いこと、 ．光学的ノイズが低いこと、 が挙げられる。
性が極めて重要な項目となり、その光学的特性とは具体
的には、 ．光学凹部とその凹部以外の平坦部との光学的コント
ラストが高いこと、 ．光学的ノイズが低いこと、 が挙げられる。
【０００５】本発明は、バックコート層は磁性層に比べ
てバインダー／無機粉末の比率がかなり高いため、深い
光学凹部を形成するのに好適であり、そのために高い光
出力信号が得られ、しかも光学凹部にバリなどが生じ難
く、精密な光学凹部が形成できること、さらにレーザカ
ット加工により磁性層に光学凹部を形成すると、磁性粉
末が消失して磁気記録容量の減少を招来するが、バック
コート層に光学凹部を形成すれば、磁気記録容量の減少
がないことに着目して、バックコート層に光学凹部を設
けた方が得策であるという観点に立脚してなされたもの
である。
てバインダー／無機粉末の比率がかなり高いため、深い
光学凹部を形成するのに好適であり、そのために高い光
出力信号が得られ、しかも光学凹部にバリなどが生じ難
く、精密な光学凹部が形成できること、さらにレーザカ
ット加工により磁性層に光学凹部を形成すると、磁性粉
末が消失して磁気記録容量の減少を招来するが、バック
コート層に光学凹部を形成すれば、磁気記録容量の減少
がないことに着目して、バックコート層に光学凹部を設
けた方が得策であるという観点に立脚してなされたもの
である。
【０００６】本発明の目的は、前述したような従来技術
の問題点を解消し、トラッキングサーボが適正に行える
信頼性の高い磁気記録媒体を提供することにある。
の問題点を解消し、トラッキングサーボが適正に行える
信頼性の高い磁気記録媒体を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、第１の本発明は、非磁性体からなる基体と、その基
体の一方の面に形成された磁性層と、その基体の他方の
面に形成されたバックコート層を有し、そのバックコー
ト層の表面に磁気ヘッドトラッキング用光学凹部が設け
られ、その光学凹部ならびに光学凹部を形成していない
平坦部に光を照射し、その光学凹部と平坦部の反射光に
基づき、前記磁性層の記録トラックに対する磁気ヘッド
のトラッキングを行なう磁気記録媒体において、７００
〜９００ｎｍから選択される単一もしくは複数の波長を
有する光を前記バックコート層の平坦部に照射したとき
の平坦部の平均光反射率が５％以上であることを特徴と
するものである。
め、第１の本発明は、非磁性体からなる基体と、その基
体の一方の面に形成された磁性層と、その基体の他方の
面に形成されたバックコート層を有し、そのバックコー
ト層の表面に磁気ヘッドトラッキング用光学凹部が設け
られ、その光学凹部ならびに光学凹部を形成していない
平坦部に光を照射し、その光学凹部と平坦部の反射光に
基づき、前記磁性層の記録トラックに対する磁気ヘッド
のトラッキングを行なう磁気記録媒体において、７００
〜９００ｎｍから選択される単一もしくは複数の波長を
有する光を前記バックコート層の平坦部に照射したとき
の平坦部の平均光反射率が５％以上であることを特徴と
するものである。
【０００８】第２の本発明は、非磁性体からなる基体
と、その基体の一方の面に形成された磁性層と、その基
体の他方の面に形成されたバックコート層を有し、その
バックコート層の表面に磁気ヘッドトラッキング用光学
凹部が設けられ、その光学凹部ならびに光学凹部を形成
していない平坦部に光を照射し、その光学凹部と平坦部
の反射光に基づき、前記磁性層の記録トラックに対する
磁気ヘッドのトラッキングを行なう磁気記録媒体におい
て、７００〜９００ｎｍから選択される単一もしくは複
数の波長を有する光を前記バックコート層の平坦部に照
射したときの平坦部の平均光透過率が１５％以下である
ことを特徴とするものである。
と、その基体の一方の面に形成された磁性層と、その基
体の他方の面に形成されたバックコート層を有し、その
バックコート層の表面に磁気ヘッドトラッキング用光学
凹部が設けられ、その光学凹部ならびに光学凹部を形成
していない平坦部に光を照射し、その光学凹部と平坦部
の反射光に基づき、前記磁性層の記録トラックに対する
磁気ヘッドのトラッキングを行なう磁気記録媒体におい
て、７００〜９００ｎｍから選択される単一もしくは複
数の波長を有する光を前記バックコート層の平坦部に照
射したときの平坦部の平均光透過率が１５％以下である
ことを特徴とするものである。
【０００９】第３の本発明は、非磁性体からなる基体
と、その基体の一方の面に形成された磁性層と、その基
体の他方の面に形成されたバックコート層を有し、その
バックコート層の表面に磁気ヘッドトラッキング用光学
凹部が設けられ、その光学凹部ならびに光学凹部を形成
していない平坦部に光を照射し、その光学凹部と平坦部
の反射光に基づき、前記磁性層の記録トラックに対する
磁気ヘッドのトラッキングを行なう磁気記録媒体におい
て、７００〜９００ｎｍから選択される単一もしくは複
数の波長を有する光を前記バックコート層の平坦部に照
射したときの平坦部の平均光反射率が５％以上で、かつ
平均光透過率が１５％以下であることを特徴とするもの
である。
と、その基体の一方の面に形成された磁性層と、その基
体の他方の面に形成されたバックコート層を有し、その
バックコート層の表面に磁気ヘッドトラッキング用光学
凹部が設けられ、その光学凹部ならびに光学凹部を形成
していない平坦部に光を照射し、その光学凹部と平坦部
の反射光に基づき、前記磁性層の記録トラックに対する
磁気ヘッドのトラッキングを行なう磁気記録媒体におい
て、７００〜９００ｎｍから選択される単一もしくは複
数の波長を有する光を前記バックコート層の平坦部に照
射したときの平坦部の平均光反射率が５％以上で、かつ
平均光透過率が１５％以下であることを特徴とするもの
である。
【００１０】
【発明の実施の形態】次に本発明の実施形態を図ととも
に説明する。図１は実施形態に係る磁気テープの断面
図、図２はその磁気テープの拡大下面図、図３はその磁
気テープの光学凹部付近の拡大断面図である。
に説明する。図１は実施形態に係る磁気テープの断面
図、図２はその磁気テープの拡大下面図、図３はその磁
気テープの光学凹部付近の拡大断面図である。
【００１１】前記磁気テープ１は、基体となるベースフ
ィルム２と、そのベースフィルム２の一方の面に形成さ
れた下塗り層３と、その下塗り層３の上に形成された磁
性層４と、ベースフィルム２の他方の面に形成されたバ
ックコート層５から基本的に構成されている。
ィルム２と、そのベースフィルム２の一方の面に形成さ
れた下塗り層３と、その下塗り層３の上に形成された磁
性層４と、ベースフィルム２の他方の面に形成されたバ
ックコート層５から基本的に構成されている。
【００１２】前記ベースフィルム２は、非磁性体の例え
ばポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）、ポリエチレ
ンナフタレート（ＰＥＮ）あるいはポリイミドなどの合
成樹脂フィルムから構成されている。
ばポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）、ポリエチレ
ンナフタレート（ＰＥＮ）あるいはポリイミドなどの合
成樹脂フィルムから構成されている。
【００１３】前記下塗り層３は、非磁性粉、強磁性粉、
バインダー、研磨粉、潤滑剤などの混合物から構成され
ている。
バインダー、研磨粉、潤滑剤などの混合物から構成され
ている。
【００１４】前記磁性層４は、強磁性粉、バインダ、研
磨粉、潤滑剤などの混合物から構成されている。
磨粉、潤滑剤などの混合物から構成されている。
【００１５】前記バックコート層５は、カーボンブラッ
ク、バインダー、磁性粉、非磁性粉などの混合物から構
成されている。
ク、バインダー、磁性粉、非磁性粉などの混合物から構
成されている。
【００１６】前記非磁性粉としては、例えばα−Ｆｅ2
Ｏ3 （ベンガラ）、ＴｉＯ2 （ルチル、アナターゼ）、
ゲータイト、α−アルミナ、β−アルミナ、γ−アルミ
ナ、酸化セリウム、酸化スズ、酸化タングステン、Ｚｎ
Ｏ、ＺｎＯ2 、ＳｉＯ2 、Ｃｒ2 Ｏ3 、コランダム、窒
化ケイ素、チタンカーバイト、酸化マグネシウム、窒化
ホウ素、二硫化モリブデン、酸化銅、ＭｇＣＯ3 、Ｃａ
ＣＯ3 、ＢａＣＯ3 、ＳｒＣＯ3 、ＢａＳＯ4 、炭化ケ
イ素、炭化チタンなどが単独または組み合わせて使用さ
れる。
Ｏ3 （ベンガラ）、ＴｉＯ2 （ルチル、アナターゼ）、
ゲータイト、α−アルミナ、β−アルミナ、γ−アルミ
ナ、酸化セリウム、酸化スズ、酸化タングステン、Ｚｎ
Ｏ、ＺｎＯ2 、ＳｉＯ2 、Ｃｒ2 Ｏ3 、コランダム、窒
化ケイ素、チタンカーバイト、酸化マグネシウム、窒化
ホウ素、二硫化モリブデン、酸化銅、ＭｇＣＯ3 、Ｃａ
ＣＯ3 、ＢａＣＯ3 、ＳｒＣＯ3 、ＢａＳＯ4 、炭化ケ
イ素、炭化チタンなどが単独または組み合わせて使用さ
れる。
【００１７】前記強磁性粉としては、例えばα−Ｆｅ、
Ｃｏ−Ｎｉ、Ｃｏ−Ｐ、γ−Ｆｅ2Ｏ3 、Ｆｅ3 Ｏ4 、
Ｃｏ含有γ−Ｆｅ2 Ｏ3 、Ｃｏ含有γ−Ｆｅ3 Ｏ4 、Ｃ
ｒＯ2 、Ｃｏ、Ｆｅ−Ｎｉ、バリウムフェライト、スト
ロンチウムフェライトなどの微粉末が使用される。
Ｃｏ−Ｎｉ、Ｃｏ−Ｐ、γ−Ｆｅ2Ｏ3 、Ｆｅ3 Ｏ4 、
Ｃｏ含有γ−Ｆｅ2 Ｏ3 、Ｃｏ含有γ−Ｆｅ3 Ｏ4 、Ｃ
ｒＯ2 、Ｃｏ、Ｆｅ−Ｎｉ、バリウムフェライト、スト
ロンチウムフェライトなどの微粉末が使用される。
【００１８】前記バインダーとしては、例えば塩化ビニ
ル−酢酸ビニル共重合体、塩化ビニル−酢酸ビニル−ビ
ニルアルコール共重合体、ウレタン樹脂、ポリイソシア
ネート化合物、放射線硬化性樹脂などが使用される。
ル−酢酸ビニル共重合体、塩化ビニル−酢酸ビニル−ビ
ニルアルコール共重合体、ウレタン樹脂、ポリイソシア
ネート化合物、放射線硬化性樹脂などが使用される。
【００１９】前記研磨粉としては、例えば酸化アルミニ
ウム、酸化クロム、炭化ケイ素、窒化ケイ素、硫酸バリ
ウムなどが用いられる。この研磨粉の添加率は、磁性粉
に対して約０．１〜２５重量％が適当である。
ウム、酸化クロム、炭化ケイ素、窒化ケイ素、硫酸バリ
ウムなどが用いられる。この研磨粉の添加率は、磁性粉
に対して約０．１〜２５重量％が適当である。
【００２０】前記潤滑剤としては、例えばステアリン
酸、オレイン酸などの高級脂肪酸、オレイルオレート、
グリセリンオレートなどの高級脂肪酸エステル、流動パ
ラフイン、スクアラン、フツ素樹脂、フツ素オイル、シ
リコンオイルなどが使用可能である。
酸、オレイン酸などの高級脂肪酸、オレイルオレート、
グリセリンオレートなどの高級脂肪酸エステル、流動パ
ラフイン、スクアラン、フツ素樹脂、フツ素オイル、シ
リコンオイルなどが使用可能である。
【００２１】下塗り塗料、磁性塗料、バックコート塗料
の具体的な組成例を示せば次の通りである。 下塗り塗料組成例 酸化チタン粉末（粒径０．０３５μｍ） ７０重量部 酸化チタン粉末（粒径０．１μｍ） １０重量部 カーボンブラック（粒径０．０７５μｍ） ２０重量部 塩化ビニル共重合体（ＳＯ3 Ｎａ基含有：０．７×１０-4当量／ｇ）１０重量部 ポリエステルポリウレタン樹脂 （ＳＯ3 Ｎａ基含有：１×１０-4当量／ｇ） ５重量部 メチルエチルケトン １３０重量部 トルエン ８０重量部 ミリスチン酸 １．０重量部 ステアリン酸ブチル １．５重量部 シクロヘキサノン ６５重量部 磁性塗料組成例 α−Ｆｅ １００重量部 （Ｈｃ：１４６〔ｍＡ／ｍ〕，飽和磁化量：１７．６〔μＷｂ〕， 長軸長：０．１０〔μｍ〕， Ｃｏ／Ｆｅ：２０重量％， Ｙ／（Ｆｅ＋Ｃｏ）：３重量％， Ａｌ／（Ｆｅ＋Ｃｏ）：５重量％， Ｃａ／Ｆｅ：０重量％） 塩化ビニル−酢酸ビニル−ビニルアルコール共重合体 １４．１重量部 ポリウレタン樹脂 ８．５重量部 三官能性イソシアネート化合物 ５．６重量部 酸化アルミニウム粉末（平均粒径０．４３〔μｍ〕） ２０重量部 カーボンブラック（平均粒径０．３〔μｍ〕） ２重量部 カーボンブラック（平均粒径０．０２〔μｍ〕） ２重量部 オレイルオレイル ６重量部 シクロヘキサノン １５０重量部 トルエン １５０重量部 バックコート塗料組成例 カーボンブラック（粒径２５μｍ） ４０．５重量部 カーボンブラック（粒径３７０ｎｍ） ０．５重量部 硫酸バリウム ４．０５重量部 ニトロセルロース ２８．０重量部 ポリウレタン樹脂（ＳＯ3 Ｎａ基含有） ２０．０重量部 シクロヘキサノン １００重量部 トルエン １００重量部 メチルエチルケトン １００重量部 前記各塗料組成物をボールミル中でよく混合分散してそ
れぞれの塗料を調整し、ポリエチレンテレフタレート
（ＰＥＴ）からなる６μｍ厚のベースフィルム２の一方
の面に、前記下塗り塗料を塗布して乾燥平均厚みが１．
０μｍの下塗り層３を形成し、さらにその上に磁性塗料
を塗布して乾燥平均厚みが０．１６μｍの磁性層４を形
成する。またベースフィルム２の他方の面に、前記バッ
クコート塗料を塗布して乾燥平均厚みが０．５μｍのバ
ックコート層５を形成する。
の具体的な組成例を示せば次の通りである。 下塗り塗料組成例 酸化チタン粉末（粒径０．０３５μｍ） ７０重量部 酸化チタン粉末（粒径０．１μｍ） １０重量部 カーボンブラック（粒径０．０７５μｍ） ２０重量部 塩化ビニル共重合体（ＳＯ3 Ｎａ基含有：０．７×１０-4当量／ｇ）１０重量部 ポリエステルポリウレタン樹脂 （ＳＯ3 Ｎａ基含有：１×１０-4当量／ｇ） ５重量部 メチルエチルケトン １３０重量部 トルエン ８０重量部 ミリスチン酸 １．０重量部 ステアリン酸ブチル １．５重量部 シクロヘキサノン ６５重量部 磁性塗料組成例 α−Ｆｅ １００重量部 （Ｈｃ：１４６〔ｍＡ／ｍ〕，飽和磁化量：１７．６〔μＷｂ〕， 長軸長：０．１０〔μｍ〕， Ｃｏ／Ｆｅ：２０重量％， Ｙ／（Ｆｅ＋Ｃｏ）：３重量％， Ａｌ／（Ｆｅ＋Ｃｏ）：５重量％， Ｃａ／Ｆｅ：０重量％） 塩化ビニル−酢酸ビニル−ビニルアルコール共重合体 １４．１重量部 ポリウレタン樹脂 ８．５重量部 三官能性イソシアネート化合物 ５．６重量部 酸化アルミニウム粉末（平均粒径０．４３〔μｍ〕） ２０重量部 カーボンブラック（平均粒径０．３〔μｍ〕） ２重量部 カーボンブラック（平均粒径０．０２〔μｍ〕） ２重量部 オレイルオレイル ６重量部 シクロヘキサノン １５０重量部 トルエン １５０重量部 バックコート塗料組成例 カーボンブラック（粒径２５μｍ） ４０．５重量部 カーボンブラック（粒径３７０ｎｍ） ０．５重量部 硫酸バリウム ４．０５重量部 ニトロセルロース ２８．０重量部 ポリウレタン樹脂（ＳＯ3 Ｎａ基含有） ２０．０重量部 シクロヘキサノン １００重量部 トルエン １００重量部 メチルエチルケトン １００重量部 前記各塗料組成物をボールミル中でよく混合分散してそ
れぞれの塗料を調整し、ポリエチレンテレフタレート
（ＰＥＴ）からなる６μｍ厚のベースフィルム２の一方
の面に、前記下塗り塗料を塗布して乾燥平均厚みが１．
０μｍの下塗り層３を形成し、さらにその上に磁性塗料
を塗布して乾燥平均厚みが０．１６μｍの磁性層４を形
成する。またベースフィルム２の他方の面に、前記バッ
クコート塗料を塗布して乾燥平均厚みが０．５μｍのバ
ックコート層５を形成する。
【００２２】このようにして構成された磁気テープ１の
バックコート層５の表面に、図１〜３に示すように磁気
テープ１の長手方向と平行に延びるように無数の光学凹
部６がレーザカット加工などによつて形成される。この
光学凹部６は本実施形態のように断続的でも連続的でも
構わないし、本実施形態のように１条であっても複数条
でも構わない。また光学凹部６の形成位置は本実施形態
のようにバックコート層５の中央部でもよいし端縁近く
でもよく、形成位置は任意である。本実施形態の場合は
図２に示すように光学凹部６がレーザカット加工により
断続的に形成され、１つの光学凹部６の長さＬは１００
μｍ、幅Ｗは５μｍである。
バックコート層５の表面に、図１〜３に示すように磁気
テープ１の長手方向と平行に延びるように無数の光学凹
部６がレーザカット加工などによつて形成される。この
光学凹部６は本実施形態のように断続的でも連続的でも
構わないし、本実施形態のように１条であっても複数条
でも構わない。また光学凹部６の形成位置は本実施形態
のようにバックコート層５の中央部でもよいし端縁近く
でもよく、形成位置は任意である。本実施形態の場合は
図２に示すように光学凹部６がレーザカット加工により
断続的に形成され、１つの光学凹部６の長さＬは１００
μｍ、幅Ｗは５μｍである。
【００２３】図４ならびに図５は、この磁気テープ１を
収納した磁気テープカートリッジを示す図である。例え
ばＡＢＳ樹脂などの硬質合成樹脂から射出成形された上
ケース７ａと下ケース７ｂからなるカートリッジケース
７内に１個のリール８が回転可能に収納され、そのリー
ル８に前記磁気テープ１が巻回されている（図５では磁
気テープ１のバックコート層５に形成されている光学凹
部６の図示を省略している）。
収納した磁気テープカートリッジを示す図である。例え
ばＡＢＳ樹脂などの硬質合成樹脂から射出成形された上
ケース７ａと下ケース７ｂからなるカートリッジケース
７内に１個のリール８が回転可能に収納され、そのリー
ル８に前記磁気テープ１が巻回されている（図５では磁
気テープ１のバックコート層５に形成されている光学凹
部６の図示を省略している）。
【００２４】磁気テープ１の繰り出し端にリーダーテー
プ９が接続され、カートリッジケース７の側面に形成さ
れた繰出口１０からリーダーテープ９ならびに磁気テー
プ１が繰り出されるようになっている。１１は繰出口１
０を開閉する蓋部材で、磁気テープカートリッジを記録
再生装置に装着すると蓋部材１１が自動的に回動して繰
出口１０が開くようになっている。
プ９が接続され、カートリッジケース７の側面に形成さ
れた繰出口１０からリーダーテープ９ならびに磁気テー
プ１が繰り出されるようになっている。１１は繰出口１
０を開閉する蓋部材で、磁気テープカートリッジを記録
再生装置に装着すると蓋部材１１が自動的に回動して繰
出口１０が開くようになっている。
【００２５】図６は、磁気テープ１のトラッキングサー
ボを説明するための図である。同図に示すように記録再
生時、磁気テープ１は光ヘッド２１と磁気ヘッド２２に
挟まれた状態で走行し、その磁気テープ１のバックコー
ト層５が光ヘッド２１と対向し、磁性層４が磁気ヘッド
２２と対向する。
ボを説明するための図である。同図に示すように記録再
生時、磁気テープ１は光ヘッド２１と磁気ヘッド２２に
挟まれた状態で走行し、その磁気テープ１のバックコー
ト層５が光ヘッド２１と対向し、磁性層４が磁気ヘッド
２２と対向する。
【００２６】光ヘッド２１は、トラッキングサーボ用の
光（本実施の形態では７８０ｎｍの波長を有するレーザ
光）を出力する例えばレーザダイオード（ＬＤ）などか
らなる発光素子群２３と、バックコート層５からの反射
光を受光する受光素子群２４とが一体に取り付けられて
いる。
光（本実施の形態では７８０ｎｍの波長を有するレーザ
光）を出力する例えばレーザダイオード（ＬＤ）などか
らなる発光素子群２３と、バックコート層５からの反射
光を受光する受光素子群２４とが一体に取り付けられて
いる。
【００２７】発光素子群２３からは３本のビームが照射
され、図２に示すように３つの光学凹部６上に光スポッ
ト２５ａ，２５ｂ，２５ｃを形成する。各光スポット２
５ａ〜２５ｃの位置は磁気テープ１の走向方向Ｘに対し
て直交する方向に若干ずれており、光スポット２５ａは
磁気テープ１の走向方向Ｘに向けて左半分が凹部６に掛
かるように、光スポット２５ｂは全体が凹部６に掛かる
ように、光スポット２５ｃは磁気テープ１の走向方向Ｘ
に向けて右半分が凹部６に掛かるように、設定されてい
る。
され、図２に示すように３つの光学凹部６上に光スポッ
ト２５ａ，２５ｂ，２５ｃを形成する。各光スポット２
５ａ〜２５ｃの位置は磁気テープ１の走向方向Ｘに対し
て直交する方向に若干ずれており、光スポット２５ａは
磁気テープ１の走向方向Ｘに向けて左半分が凹部６に掛
かるように、光スポット２５ｂは全体が凹部６に掛かる
ように、光スポット２５ｃは磁気テープ１の走向方向Ｘ
に向けて右半分が凹部６に掛かるように、設定されてい
る。
【００２８】各光スポット２５ａ〜２５ｃからの反射光
は３つの受光素子（図示せず）からなる受光素子群２４
で個別に受光して、各受光素子の出力はサーボ信号演算
部２６に入力される。そしてこのサーボ信号演算部２６
で求められた位置修正信号がヘッド駆動制御部２７に入
力され、それからの制御信号に基づいて磁気ヘッド２２
のトラッキング制御がなされる。
は３つの受光素子（図示せず）からなる受光素子群２４
で個別に受光して、各受光素子の出力はサーボ信号演算
部２６に入力される。そしてこのサーボ信号演算部２６
で求められた位置修正信号がヘッド駆動制御部２７に入
力され、それからの制御信号に基づいて磁気ヘッド２２
のトラッキング制御がなされる。
【００２９】次にこの磁気テープの光学特性について説
明する。図７は、バックコート層中に混入する金属鉄粉
（金属粉）の含有率を種々変えた試料を作り、そのバッ
クコート層中の金属鉄粉の含有率と、バックコート層の
光学凹部を形成していない平坦部の光反射率との関係を
実験で求めた特性図である。
明する。図７は、バックコート層中に混入する金属鉄粉
（金属粉）の含有率を種々変えた試料を作り、そのバッ
クコート層中の金属鉄粉の含有率と、バックコート層の
光学凹部を形成していない平坦部の光反射率との関係を
実験で求めた特性図である。
【００３０】光源として波長７８０ｎｍを有するＬＤを
使用し、バックコート層の表面に対する入射角度θを５
度とし、１０個所の平均値を平均光反射率とした。この
図から明らかなように、金属鉄粉（金属粉）の含有率を
種々変えることにより、バックコート層中の平均光反射
率を調整することができる。この実験例ではＦｅの微粒
子を使用したが、例えばＮｉ，Ｃｏなどの他の金属から
なる微粒子を使用しても同様である。
使用し、バックコート層の表面に対する入射角度θを５
度とし、１０個所の平均値を平均光反射率とした。この
図から明らかなように、金属鉄粉（金属粉）の含有率を
種々変えることにより、バックコート層中の平均光反射
率を調整することができる。この実験例ではＦｅの微粒
子を使用したが、例えばＮｉ，Ｃｏなどの他の金属から
なる微粒子を使用しても同様である。
【００３１】図８は、バックコート層の光学凹部を形成
していない平坦部の平均光反射率とサーボ信号出力との
関係を求めた特性図である。バックコート層の光反射率
の調整は、前述のようにバックコート層中における金属
鉄粉の含有率を種々変えることにより行なった。
していない平坦部の平均光反射率とサーボ信号出力との
関係を求めた特性図である。バックコート層の光反射率
の調整は、前述のようにバックコート層中における金属
鉄粉の含有率を種々変えることにより行なった。
【００３２】光学凹部を設けてトラッキングサーボを行
なう際、光学凹部を形成していない平坦部の反射光量Ｉ
0 に対する光学凹部の反射光量Ｉ1 の比（Ｉ1 ／
Ｉ0 ）、所謂、光学的コントラストが重要である。この
図８から明らかなように、バックコート層の平坦部の平
均光反射率が５％未満であると、反射光量が少なく、光
学的コントラストが不十分なため、安定したサーボ信号
Ｓ／Ｎが得られない。これに対して平坦部の平均光反射
率が５％以上になると安定したサーボ信号Ｓ／Ｎが得ら
れ、特に平均光反射率が６％以上であると十分なサーボ
信号Ｓ／Ｎが得られる。なお、本発明者らの諸種の実験
結果、平均光反射率が１４％を超すと金属粉の量が増え
て、バックコート層の熱伝導率が高くなり、レーザカッ
トによりシャープな光学凹部を形成することが難しくな
り、Ｓ／Ｎが低下する。従って光学的に良好なコントラ
スト（Ｉ1 ／Ｉ0 ）が得られ、しかもシャープな光学凹
部を形成するためには、平均光反射率を５〜１６％の範
囲、好ましくは６〜１２％の範囲に規制するとよい。ま
たこの平均光反射率を得るためには図７から明らかなよ
うに金属鉄粉の含有率を１．５〜１５％の範囲、好まし
くは３〜１３％の範囲に規制するとよい。
なう際、光学凹部を形成していない平坦部の反射光量Ｉ
0 に対する光学凹部の反射光量Ｉ1 の比（Ｉ1 ／
Ｉ0 ）、所謂、光学的コントラストが重要である。この
図８から明らかなように、バックコート層の平坦部の平
均光反射率が５％未満であると、反射光量が少なく、光
学的コントラストが不十分なため、安定したサーボ信号
Ｓ／Ｎが得られない。これに対して平坦部の平均光反射
率が５％以上になると安定したサーボ信号Ｓ／Ｎが得ら
れ、特に平均光反射率が６％以上であると十分なサーボ
信号Ｓ／Ｎが得られる。なお、本発明者らの諸種の実験
結果、平均光反射率が１４％を超すと金属粉の量が増え
て、バックコート層の熱伝導率が高くなり、レーザカッ
トによりシャープな光学凹部を形成することが難しくな
り、Ｓ／Ｎが低下する。従って光学的に良好なコントラ
スト（Ｉ1 ／Ｉ0 ）が得られ、しかもシャープな光学凹
部を形成するためには、平均光反射率を５〜１６％の範
囲、好ましくは６〜１２％の範囲に規制するとよい。ま
たこの平均光反射率を得るためには図７から明らかなよ
うに金属鉄粉の含有率を１．５〜１５％の範囲、好まし
くは３〜１３％の範囲に規制するとよい。
【００３３】バックコート層の膜厚が変動すると、その
膜厚により平均光反射率が高い領域と低い領域とがある
ことが分かった。これはバックコート層の表面の反射光
と、そのバックコート層を透過しバックコート層とベー
スフィルム２との界面で反射して、再びバックコート層
を透過して表面に現れる戻り光との干渉によるものであ
ると考えられる。この光反射率の変動は光学ノイズとし
て観測され、サーボ信号Ｓ／Ｎの低下を招くことが分か
った。
膜厚により平均光反射率が高い領域と低い領域とがある
ことが分かった。これはバックコート層の表面の反射光
と、そのバックコート層を透過しバックコート層とベー
スフィルム２との界面で反射して、再びバックコート層
を透過して表面に現れる戻り光との干渉によるものであ
ると考えられる。この光反射率の変動は光学ノイズとし
て観測され、サーボ信号Ｓ／Ｎの低下を招くことが分か
った。
【００３４】この光反射率の変動を小さくして安定した
サーボ信号出力を得るには、前述の干渉の影響を小さく
することが効果的であることが実験結果から明らかにな
つた。そして光の干渉による影響を小さくする有効な手
段として、バックコート層自体の光透過率を下げる手
段、ベースフィルムの光反射率を下げる手段などがあ
る。
サーボ信号出力を得るには、前述の干渉の影響を小さく
することが効果的であることが実験結果から明らかにな
つた。そして光の干渉による影響を小さくする有効な手
段として、バックコート層自体の光透過率を下げる手
段、ベースフィルムの光反射率を下げる手段などがあ
る。
【００３５】このバックコート層自体の光透過率を下げ
る手段としてバックコート層の厚みを変える方法もある
が、ここではバックコート層の厚みを０．２μｍに設定
して、カーボンブラックの添加について検討した。図９
はカーボンブラックの含有率とバックコート層の光透過
率との関係を調べた特性図で、この図から明らかなよう
にカーボンブラックの含有率を変えることにより、バッ
クコート層の光透過率が調整できる。
る手段としてバックコート層の厚みを変える方法もある
が、ここではバックコート層の厚みを０．２μｍに設定
して、カーボンブラックの添加について検討した。図９
はカーボンブラックの含有率とバックコート層の光透過
率との関係を調べた特性図で、この図から明らかなよう
にカーボンブラックの含有率を変えることにより、バッ
クコート層の光透過率が調整できる。
【００３６】図１０は、バックコート層の光学凹部を形
成していない平坦部の平均光透過率と光学ノイズとの関
係を求めた特性図である。光源として波長７８０ｎｍを
有するＬＤを使用し、１０個所の平均値を平均光透過率
とした。
成していない平坦部の平均光透過率と光学ノイズとの関
係を求めた特性図である。光源として波長７８０ｎｍを
有するＬＤを使用し、１０個所の平均値を平均光透過率
とした。
【００３７】この図から明らかなように、光学凹部を形
成していない平坦部の平均光透過率が１５％を超すと光
学ノイズが高くなり、出力されるサーボ信号のＳ／Ｎ低
下の問題がある。これに対して平坦部の平均光透過率が
１５％以下であると光学ノイズが小さくなり、サーボ信
号Ｓ／Ｎは１５ｄＢ以上で、特に平均光透過率が８％以
下であると光学ノイズがさらに下がるため、サーボ信号
Ｓ／Ｎは２０ｄＢ以上となり、サーボ信号の信頼性が高
い。なお、バックコート層における光の干渉は無いにこ
したことはないのであるから、平坦部の平均光透過率の
下限値は０％である。
成していない平坦部の平均光透過率が１５％を超すと光
学ノイズが高くなり、出力されるサーボ信号のＳ／Ｎ低
下の問題がある。これに対して平坦部の平均光透過率が
１５％以下であると光学ノイズが小さくなり、サーボ信
号Ｓ／Ｎは１５ｄＢ以上で、特に平均光透過率が８％以
下であると光学ノイズがさらに下がるため、サーボ信号
Ｓ／Ｎは２０ｄＢ以上となり、サーボ信号の信頼性が高
い。なお、バックコート層における光の干渉は無いにこ
したことはないのであるから、平坦部の平均光透過率の
下限値は０％である。
【００３８】平坦部の平均光透過率を１５％以下にする
ためには、図９から明らかなようにバックコート層の厚
みを０．２μｍとした場合、バックコート層中のカーボ
ンブラックの含有率を３０重量％以上にする必要があ
る。もちろん、バックコート層の厚みを厚くすればカー
ボンブラックの添加量は少なくできるが、バックコート
層の厚みが厚ければ、バックコート層による引張応力で
磁気テープがバックコート層側に引っ張られ、磁気テー
プの磁性層側が凸状になるように全体が変形したり、ま
たリールに巻き取られたとき嵩張りテープ巻回層の厚み
が厚くなり、不利である。バックコート層の厚みが０．
２μｍ未満のときは、前記特性に関しては有利になる
が、光学凹部の深さが十分にとれなくなるという不都合
がある。
ためには、図９から明らかなようにバックコート層の厚
みを０．２μｍとした場合、バックコート層中のカーボ
ンブラックの含有率を３０重量％以上にする必要があ
る。もちろん、バックコート層の厚みを厚くすればカー
ボンブラックの添加量は少なくできるが、バックコート
層の厚みが厚ければ、バックコート層による引張応力で
磁気テープがバックコート層側に引っ張られ、磁気テー
プの磁性層側が凸状になるように全体が変形したり、ま
たリールに巻き取られたとき嵩張りテープ巻回層の厚み
が厚くなり、不利である。バックコート層の厚みが０．
２μｍ未満のときは、前記特性に関しては有利になる
が、光学凹部の深さが十分にとれなくなるという不都合
がある。
【００３９】一方、カーボンブラックの含有率が高くな
ればそれだけバックコート層の平均光透過率は下がる
が、カーボンブラックの含有率が７０重量％を超すと、
バックコート層中のバインダーや金属粉などの他のバッ
クコート層構成材料の量が制限されて好ましくないた
め、カーボンブラックの含有率は３０〜７０重量％の範
囲が好適である。
ればそれだけバックコート層の平均光透過率は下がる
が、カーボンブラックの含有率が７０重量％を超すと、
バックコート層中のバインダーや金属粉などの他のバッ
クコート層構成材料の量が制限されて好ましくないた
め、カーボンブラックの含有率は３０〜７０重量％の範
囲が好適である。
【００４０】なお、カーボンブラックの含有率を高めて
バックコート層の光透過率を下げると干渉による影響は
小さくなるが、バックコート層の光反射率も必然的に下
がる。そこで、バックコート層の表面性を高めることに
よりバックコート層の光反射率を上げることができ、バ
ックコート層の表面性を向上する手段として表面粗さを
小さくすると有効である。
バックコート層の光透過率を下げると干渉による影響は
小さくなるが、バックコート層の光反射率も必然的に下
がる。そこで、バックコート層の表面性を高めることに
よりバックコート層の光反射率を上げることができ、バ
ックコート層の表面性を向上する手段として表面粗さを
小さくすると有効である。
【００４１】図１１は、カーボンブラックを５０重量％
添加したバックコート層の光学凹部を形成していない平
坦部の中心線平均表面粗さＲａと平均光反射率との関係
を示す図である。光源として波長７８０ｎｍを有するＬ
Ｄを使用し、バックコート層の表面に対する入射角度θ
を５度とし、１０個所の平均値を平均光反射率とした。
中心線平均表面粗さＲａは、原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）
を用い、スキャン速度０．７Ｈｚ、スキャン角度０°の
条件で測定したときの１０μｍ四方で得られた各Ｒａの
平均値である。
添加したバックコート層の光学凹部を形成していない平
坦部の中心線平均表面粗さＲａと平均光反射率との関係
を示す図である。光源として波長７８０ｎｍを有するＬ
Ｄを使用し、バックコート層の表面に対する入射角度θ
を５度とし、１０個所の平均値を平均光反射率とした。
中心線平均表面粗さＲａは、原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）
を用い、スキャン速度０．７Ｈｚ、スキャン角度０°の
条件で測定したときの１０μｍ四方で得られた各Ｒａの
平均値である。
【００４２】この図から明らかなように、バックコート
層の表面粗さＲａが０．０３μｍを超すと光の乱反射の
影響が現れ、所望の光反射率が得られないが、バックコ
ート層の表面粗さＲａを０．０３μｍ以下にするとバッ
クコート層の平均光反射率を５％以上確保することがで
きる。
層の表面粗さＲａが０．０３μｍを超すと光の乱反射の
影響が現れ、所望の光反射率が得られないが、バックコ
ート層の表面粗さＲａを０．０３μｍ以下にするとバッ
クコート層の平均光反射率を５％以上確保することがで
きる。
【００４３】バックコート層の表面粗さＲａを０．００
５μｍ以下にすると、前記平坦部の表面が鏡面化して平
均光反射率はさらに高くなるが、テープ巻取り不良など
のテープ間の摩擦特性の劣化に起因するトラブルが生じ
ることが分かった。そのためバックコート層の表面粗さ
Ｒａは０．００５〜０．０３μｍの範囲に規制する必要
があり、好ましくは０．０１〜０．０２５μｍの範囲に
規制するとよい。
５μｍ以下にすると、前記平坦部の表面が鏡面化して平
均光反射率はさらに高くなるが、テープ巻取り不良など
のテープ間の摩擦特性の劣化に起因するトラブルが生じ
ることが分かった。そのためバックコート層の表面粗さ
Ｒａは０．００５〜０．０３μｍの範囲に規制する必要
があり、好ましくは０．０１〜０．０２５μｍの範囲に
規制するとよい。
【００４４】前述のベースフィルムの光反射率を下げる
手段として、表面に例えばパラジウムやアルミニウム酸
化物などの無機化合物の不連続な乱反射膜、あるいは色
素や染料の如き有機化合物の光吸収性膜を付与したベー
スフィルムを使用する手段、表面を例えばマツト加工な
どを施して乱反射を起こさせるようにしたベースフィル
ムを使用する手段、カーボンブラックなどの光吸収剤を
混入したベースフィルムを使用する手段などがある。
手段として、表面に例えばパラジウムやアルミニウム酸
化物などの無機化合物の不連続な乱反射膜、あるいは色
素や染料の如き有機化合物の光吸収性膜を付与したベー
スフィルムを使用する手段、表面を例えばマツト加工な
どを施して乱反射を起こさせるようにしたベースフィル
ムを使用する手段、カーボンブラックなどの光吸収剤を
混入したベースフィルムを使用する手段などがある。
【００４５】次に光学凹部の平均深さならびにバックコ
ート層の平均厚さについて説明する。図３に示すように
バックコート層５には平均深さｈ２の光学凹部６が形成
される訳であるが、この光学凹部６の平均深さｈ２につ
いて種々検討した結果、平均深さｈ２は０．２〜０．５
μｍの範囲が適当であることが判明した。平均深さｈ２
が０．２μｍより浅いと、光学凹部６を形成していない
平坦部との光学的コントラストが低く、十分なサーボ出
力が得られない。一方、平均深さｈ２が０．５μｍより
深いと、平坦部との光学的コントラストは十分に得られ
るが、加工性に問題があり、シャープな光学凹部６を形
成し難い。このような理由から光学凹部６の平均深さｈ
２は０．２〜０．５μｍの範囲が適当であり、これに対
してバックコート層５の平均厚さｈ１が選定される。
ート層の平均厚さについて説明する。図３に示すように
バックコート層５には平均深さｈ２の光学凹部６が形成
される訳であるが、この光学凹部６の平均深さｈ２につ
いて種々検討した結果、平均深さｈ２は０．２〜０．５
μｍの範囲が適当であることが判明した。平均深さｈ２
が０．２μｍより浅いと、光学凹部６を形成していない
平坦部との光学的コントラストが低く、十分なサーボ出
力が得られない。一方、平均深さｈ２が０．５μｍより
深いと、平坦部との光学的コントラストは十分に得られ
るが、加工性に問題があり、シャープな光学凹部６を形
成し難い。このような理由から光学凹部６の平均深さｈ
２は０．２〜０．５μｍの範囲が適当であり、これに対
してバックコート層５の平均厚さｈ１が選定される。
【００４６】バックコート層５の平均厚さｈ１と光学凹
部６の平均深さｈ２が等しい（ｈ１／ｈ２＝１）場合、
光学凹部６を形成した部分ではベースフィルムが露呈す
る。ベースフィルムは通常、光反射率が高いため、光学
凹部６を形成していない平坦部との光学的コントラスト
が低く、十分なサーボ出力が得られない。
部６の平均深さｈ２が等しい（ｈ１／ｈ２＝１）場合、
光学凹部６を形成した部分ではベースフィルムが露呈す
る。ベースフィルムは通常、光反射率が高いため、光学
凹部６を形成していない平坦部との光学的コントラスト
が低く、十分なサーボ出力が得られない。
【００４７】一方、ｈ１／ｈ２が４を超すと、実質的に
バックコート層５の平均厚さｈ１が厚くなり、バックコ
ート層５に引張応力が生じ、そのために磁気テープはバ
ックコート層５側が凹に、磁性層４側が凸になるように
湾曲し、磁性層４と磁気ヘッドとのコンタクトが悪くな
る。
バックコート層５の平均厚さｈ１が厚くなり、バックコ
ート層５に引張応力が生じ、そのために磁気テープはバ
ックコート層５側が凹に、磁性層４側が凸になるように
湾曲し、磁性層４と磁気ヘッドとのコンタクトが悪くな
る。
【００４８】従って光学凹部の平均深さｈ２に対するバ
ックコート層の平均厚さｈ１の比率（ｈ１／ｈ２）を４
≧（ｈ１／ｈ２）＞１の範囲に規制することにより、十
分な出力を有するサーボ信号が得られ、しかも磁性層４
と磁気ヘッドとのコンタクトが良好な磁気記録媒体を得
ることができる。
ックコート層の平均厚さｈ１の比率（ｈ１／ｈ２）を４
≧（ｈ１／ｈ２）＞１の範囲に規制することにより、十
分な出力を有するサーボ信号が得られ、しかも磁性層４
と磁気ヘッドとのコンタクトが良好な磁気記録媒体を得
ることができる。
【００４９】バックコート層の具体的な平均厚さｈ１
は、前述したバックコート層の平均光反射率、平均光透
過率、中心線平均表面粗さＲａなどを考慮すると、０．
２〜２．０μｍの範囲が好適であり、この範囲内で前記
４≧（ｈ１／ｈ２）＞１の関係が成立するように、バッ
クコート層の平均厚さｈ１が選定されるとよい。
は、前述したバックコート層の平均光反射率、平均光透
過率、中心線平均表面粗さＲａなどを考慮すると、０．
２〜２．０μｍの範囲が好適であり、この範囲内で前記
４≧（ｈ１／ｈ２）＞１の関係が成立するように、バッ
クコート層の平均厚さｈ１が選定されるとよい。
【００５０】レーザーカット加工による光学凹部の形成
を容易にかつシャープにするため、使用するレーザー光
の波長に相当する最大吸収波長領域を有する有機色素、
例えばシアニン系色素、アゾ系色素、キノン系色素、イ
ンジコ系色素などをバックコート層に所定量混入するこ
ともできる。なお、これらの有機溶剤としては、例えば
エチルセロソルブ、メチルセロソルブ、メタノール、テ
トラフルオロプロパノール、ジアセトンアルコールなど
がある。
を容易にかつシャープにするため、使用するレーザー光
の波長に相当する最大吸収波長領域を有する有機色素、
例えばシアニン系色素、アゾ系色素、キノン系色素、イ
ンジコ系色素などをバックコート層に所定量混入するこ
ともできる。なお、これらの有機溶剤としては、例えば
エチルセロソルブ、メチルセロソルブ、メタノール、テ
トラフルオロプロパノール、ジアセトンアルコールなど
がある。
【００５１】前記実施の形態では磁気テープの場合につ
いて説明したが、本発明はこれに限定されるものではな
く、例えば片面記録の磁気ディスクや磁気カードなどに
も適用可能である。
いて説明したが、本発明はこれに限定されるものではな
く、例えば片面記録の磁気ディスクや磁気カードなどに
も適用可能である。
【００５２】
【発明の効果】本発明は前述のように、バックコート層
は磁性層に比べてバインダーー／無機粉末の比率がかな
り高いため、深い光学凹部を形成するのに好適であり、
そのために高いサーボ出力信号が得られ、しかも光学凹
部にバリなどが生じ難く、精密な光学凹部が形成できる
こと、さらに磁性層にレーザカット加工により光学凹部
を形成すると、磁性粉末が消失して磁気記録容量の減少
を招来するが、バックコート層に光学凹部を形成すれ
ば、磁気記録容量の減少がないことに着目して、バック
コート層に光学凹部を設けた方が得策であるという観点
に立脚してなされたものである。そして、第１の本発明
は前述のように、非磁性体からなる基体と、その基体の
一方の面に形成された磁性層と、その基体の他方の面に
形成されたバックコート層を有し、そのバックコート層
の表面に磁気ヘッドトラッキング用光学凹部が設けら
れ、その光学凹部ならびに光学凹部を形成していない平
坦部に光を照射し、その光学凹部と平坦部の反射光に基
づき、前記磁性層の記録トラックに対する磁気ヘッドの
トラッキングを行なう磁気記録媒体において、７００〜
９００ｎｍから選択される単一もしくは複数の波長を有
する光を前記バックコート層の平坦部に照射したときの
平坦部の平均光反射率が５％以上であることを特徴とす
るものである。
は磁性層に比べてバインダーー／無機粉末の比率がかな
り高いため、深い光学凹部を形成するのに好適であり、
そのために高いサーボ出力信号が得られ、しかも光学凹
部にバリなどが生じ難く、精密な光学凹部が形成できる
こと、さらに磁性層にレーザカット加工により光学凹部
を形成すると、磁性粉末が消失して磁気記録容量の減少
を招来するが、バックコート層に光学凹部を形成すれ
ば、磁気記録容量の減少がないことに着目して、バック
コート層に光学凹部を設けた方が得策であるという観点
に立脚してなされたものである。そして、第１の本発明
は前述のように、非磁性体からなる基体と、その基体の
一方の面に形成された磁性層と、その基体の他方の面に
形成されたバックコート層を有し、そのバックコート層
の表面に磁気ヘッドトラッキング用光学凹部が設けら
れ、その光学凹部ならびに光学凹部を形成していない平
坦部に光を照射し、その光学凹部と平坦部の反射光に基
づき、前記磁性層の記録トラックに対する磁気ヘッドの
トラッキングを行なう磁気記録媒体において、７００〜
９００ｎｍから選択される単一もしくは複数の波長を有
する光を前記バックコート層の平坦部に照射したときの
平坦部の平均光反射率が５％以上であることを特徴とす
るものである。
【００５３】第２の本発明は前述のように、非磁性体か
らなる基体と、その基体の一方の面に形成された磁性層
と、その基体の他方の面に形成されたバックコート層を
有し、そのバックコート層の表面に磁気ヘッドトラッキ
ング用光学凹部が設けられ、その光学凹部ならびに光学
凹部を形成していない平坦部に光を照射し、その光学凹
部と平坦部の反射光に基づき、前記磁性層の記録トラッ
クに対する磁気ヘッドのトラッキングを行なう磁気記録
媒体において、７００〜９００ｎｍから選択される単一
もしくは複数の波長を有する光を前記バックコート層の
平坦部に照射したときの平坦部の平均光透過率が１５％
以下であることを特徴とするものである。
らなる基体と、その基体の一方の面に形成された磁性層
と、その基体の他方の面に形成されたバックコート層を
有し、そのバックコート層の表面に磁気ヘッドトラッキ
ング用光学凹部が設けられ、その光学凹部ならびに光学
凹部を形成していない平坦部に光を照射し、その光学凹
部と平坦部の反射光に基づき、前記磁性層の記録トラッ
クに対する磁気ヘッドのトラッキングを行なう磁気記録
媒体において、７００〜９００ｎｍから選択される単一
もしくは複数の波長を有する光を前記バックコート層の
平坦部に照射したときの平坦部の平均光透過率が１５％
以下であることを特徴とするものである。
【００５４】第３の本発明は前述のように、非磁性体か
らなる基体と、その基体の一方の面に形成された磁性層
と、その基体の他方の面に形成されたバックコート層を
有し、そのバックコート層の表面に磁気ヘッドトラッキ
ング用光学凹部が設けられ、その光学凹部ならびに光学
凹部を形成していない平坦部に光を照射し、その光学凹
部と平坦部の反射光に基づき、前記磁性層の記録トラッ
クに対する磁気ヘッドのトラッキングを行なう磁気記録
媒体において、７００〜９００ｎｍから選択される単一
もしくは複数の波長を有する光を前記バックコート層の
平坦部に照射したときの平坦部の平均光反射率が５％以
上で、かつ平均光透過率が１５％以下であることを特徴
とするものである。
らなる基体と、その基体の一方の面に形成された磁性層
と、その基体の他方の面に形成されたバックコート層を
有し、そのバックコート層の表面に磁気ヘッドトラッキ
ング用光学凹部が設けられ、その光学凹部ならびに光学
凹部を形成していない平坦部に光を照射し、その光学凹
部と平坦部の反射光に基づき、前記磁性層の記録トラッ
クに対する磁気ヘッドのトラッキングを行なう磁気記録
媒体において、７００〜９００ｎｍから選択される単一
もしくは複数の波長を有する光を前記バックコート層の
平坦部に照射したときの平坦部の平均光反射率が５％以
上で、かつ平均光透過率が１５％以下であることを特徴
とするものである。
【００５５】このような構成にすることにより、安定し
かつ十分なサーボ信号が得られ、そのためにトラッキン
グ用光学凹部による磁気ヘッドのトラッキングサーボが
適正に行なわれる磁気記録媒体を提供することができ
る。
かつ十分なサーボ信号が得られ、そのためにトラッキン
グ用光学凹部による磁気ヘッドのトラッキングサーボが
適正に行なわれる磁気記録媒体を提供することができ
る。
【図１】本発明の実施形態に係る磁気テープの断面図で
ある。
ある。
【図２】その磁気テープの拡大下面図である。
【図３】その磁気テープの光学凹部付近の拡大断面図で
ある。
ある。
【図４】その磁気テープを装着した磁気テープカートリ
ッジの斜視図である。
ッジの斜視図である。
【図５】その磁気テープカートリッジから磁気テープの
一部を繰り出した状態を示す正面図である。
一部を繰り出した状態を示す正面図である。
【図６】その磁気テープに対する磁気ヘッドのトラッキ
ング制御を説明するための図である。
ング制御を説明するための図である。
【図７】バックコート層中の金属鉄粉の含有率と平坦部
の平均光反射率との関係を示す特性図である。
の平均光反射率との関係を示す特性図である。
【図８】バックコート層の平坦部の平均光反射率とサー
ボ信号Ｓ／Ｎとの関係を示す特性図である。
ボ信号Ｓ／Ｎとの関係を示す特性図である。
【図９】バックコート層中のカーボンブラックの含有率
と平坦部の平均光透過率との関係を示す特性図である。
と平坦部の平均光透過率との関係を示す特性図である。
【図１０】バックコート層の平坦部の平均光透過率とサ
ーボ信号Ｓ／Ｎとの関係を示す特性図である。
ーボ信号Ｓ／Ｎとの関係を示す特性図である。
【図１１】バックコート層の平坦部の表面粗さＲａと平
均光反射率との関係を示す特性図である。
均光反射率との関係を示す特性図である。
１ 磁気テープ ２ ベースフィルム ３ 下塗り層 ４ 磁性層 ５ バックコート層 ６ 磁気ヘッドトラッキング用光学凹部 ２１ 光ヘッド ２２ 磁気ヘッド ２３ 発光素子群 ２４ 受光素子群 ２５ａ，２５ｂ，２５ｃ 光スポット ２６ サーボ信号演算部 ２７ ヘッド駆動制御部 ｈ１ バックコート層の厚み ｈ２ 光学凹部の深さ
Claims (14)
- 【請求項１】 非磁性体からなる基体と、その基体の一
方の面に形成された磁性層と、その基体の他方の面に形
成されたバックコート層を有し、 そのバックコート層の表面に磁気ヘッドトラッキング用
光学凹部が設けられ、その光学凹部ならびに光学凹部を
形成していない平坦部に光を照射し、その光学凹部と平
坦部の反射光に基づき、前記磁性層の記録トラックに対
する磁気ヘッドのトラッキングを行なう磁気記録媒体に
おいて、 ７００〜９００ｎｍから選択される単一もしくは複数の
波長を有する光を前記バックコート層の平坦部に照射し
たときの平坦部の平均光反射率が５％以上であることを
特徴とする磁気記録媒体。 - 【請求項２】 非磁性体からなる基体と、その基体の一
方の面に形成された磁性層と、その基体の他方の面に形
成されたバックコート層を有し、 そのバックコート層の表面に磁気ヘッドトラッキング用
光学凹部が設けられ、その光学凹部ならびに光学凹部を
形成していない平坦部に光を照射し、その光学凹部と平
坦部の反射光に基づき、前記磁性層の記録トラックに対
する磁気ヘッドのトラッキングを行なう磁気記録媒体に
おいて、 ７００〜９００ｎｍから選択される単一もしくは複数の
波長を有する光を前記バックコート層の平坦部に照射し
たときの平坦部の平均光透過率が１５％以下であること
を特徴とする磁気記録媒体。 - 【請求項３】 非磁性体からなる基体と、その基体の一
方の面に形成された磁性層と、その基体の他方の面に形
成されたバックコート層を有し、 そのバックコート層の表面に磁気ヘッドトラッキング用
光学凹部が設けられ、その光学凹部ならびに光学凹部を
形成していない平坦部に光を照射し、その光学凹部と平
坦部の反射光に基づき、前記磁性層の記録トラックに対
する磁気ヘッドのトラッキングを行なう磁気記録媒体に
おいて、 ７００〜９００ｎｍから選択される単一もしくは複数の
波長を有する光を前記バックコート層の平坦部に照射し
たときの平坦部の平均光反射率が５％以上で、かつ平均
光透過率が１５％以下であることを特徴とする磁気記録
媒体。 - 【請求項４】 請求項１または３記載の磁気記録媒体に
おいて、前記平均光反射率の上限値が１６％であること
を特徴とする磁気記録媒体。 - 【請求項５】 請求項１または３記載の磁気記録媒体に
おいて、前記平均光反射率が６〜１２％の範囲に規制さ
れていることを特徴とする磁気記録媒体。 - 【請求項６】 請求項２または３記載の磁気記録媒体に
おいて、前記平均光透過率が１０％以下であることを特
徴とする磁気記録媒体。 - 【請求項７】 請求項３記載の磁気記録媒体において、
７００〜９００ｎｍから選択される単一もしくは複数の
波長を有する光を前記バックコート層の平坦部に照射し
たときの平坦部の平均光反射率が６〜１２％で、かつ平
均光透過率が１０％以下であることを特徴とする磁気記
録媒体。 - 【請求項８】 請求項１ないし７記載の磁気記録媒体の
いずれかにおいて、前記バックコート層中にカーボンブ
ラックが混入されており、そのカーボンブラック含有率
が３０〜７０重量％の範囲に規制されていることを特徴
とする磁気記録媒体。 - 【請求項９】 請求項１ないし８記載の磁気記録媒体の
いずれかにおいて、前記バックコート層中に金属粉が混
入していることを特徴とする磁気記録媒体。 - 【請求項１０】 請求項１ないし９記載の磁気記録媒体
のいずれかにおいて、前記バックコート層中に有機色素
が混入していることを特徴とする磁気記録媒体。 - 【請求項１１】 請求項１ないし１０記載の磁気記録媒
体のいずれかにおいて、前記バックコート層の光学凹部
を形成していない平坦部の中心線平均表面粗さＲａが
０．００５〜０．０３μｍの範囲に規制されていること
を特徴とする磁気記録媒体。 - 【請求項１２】 請求項１ないし１１記載の磁気記録媒
体のいずれかにおいて、前記バックコート層の平均厚さ
が０．２〜２．０μｍの範囲に規制されていることを特
徴とする磁気記録媒体。 - 【請求項１３】 請求項１２記載の磁気記録媒体におい
て、前記バックコート層の平均厚さをｈ１、前記光学凹
部の平均深さをｈ２としたとき、光学凹部の平均深さｈ
２に対するバックコート層の平均厚さｈ１の比率（ｈ１
／ｈ２）が、 ４≧（ｈ１／ｈ２）＞１ の範囲に規制されていることを特徴とする磁気記録媒
体。 - 【請求項１４】 請求項１ないし１３記載の磁気記録媒
体のいずれかにおいて、その磁気記録媒体が磁気テープ
であることを特徴とする磁気記録媒体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33162999A JP2001148115A (ja) | 1999-11-22 | 1999-11-22 | 磁気記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33162999A JP2001148115A (ja) | 1999-11-22 | 1999-11-22 | 磁気記録媒体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001148115A true JP2001148115A (ja) | 2001-05-29 |
Family
ID=18245803
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33162999A Pending JP2001148115A (ja) | 1999-11-22 | 1999-11-22 | 磁気記録媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001148115A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003079332A1 (en) * | 2002-03-18 | 2003-09-25 | Hitachi Maxell, Ltd. | Magnetic recording medium and magnetic recording cartridge |
| US7238439B2 (en) | 2003-02-19 | 2007-07-03 | Hitachi Maxell, Ltd. | Magnetic recording medium containing particles with a core containing a Fe16N2 phase |
| US7510790B2 (en) | 2002-09-20 | 2009-03-31 | Hitachi Maxell, Ltd. | Magnetic powder, method for producing the same and magnetic recording medium comprising the same |
Citations (3)
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| JP2000293836A (ja) * | 1999-04-07 | 2000-10-20 | Fuji Photo Film Co Ltd | 磁気記録テープ |
| JP2001067652A (ja) * | 1999-08-17 | 2001-03-16 | Quantum Corp | 磁気テープおよび記録テープを製造するための方法 |
-
1999
- 1999-11-22 JP JP33162999A patent/JP2001148115A/ja active Pending
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| US7445858B2 (en) | 2002-03-18 | 2008-11-04 | Hitachi Maxell, Ltd. | Magnetic recording medium using magnetic powder having a core portion and an outer layer portion including a rare earth element and magnetic recording cassette |
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| US7238439B2 (en) | 2003-02-19 | 2007-07-03 | Hitachi Maxell, Ltd. | Magnetic recording medium containing particles with a core containing a Fe16N2 phase |
| US7700204B2 (en) | 2003-02-19 | 2010-04-20 | Hitachi Maxell, Ltd. | Magnetic recording medium containing particles with a core containing a FE16N2 phase |
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