JP2001118425A - 導電性ペースト - Google Patents
導電性ペーストInfo
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- JP2001118425A JP2001118425A JP29975399A JP29975399A JP2001118425A JP 2001118425 A JP2001118425 A JP 2001118425A JP 29975399 A JP29975399 A JP 29975399A JP 29975399 A JP29975399 A JP 29975399A JP 2001118425 A JP2001118425 A JP 2001118425A
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- receiving surface
- halide
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- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Landscapes
- Photovoltaic Devices (AREA)
- Conductive Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】本発明の目的は、受光面電極を500〜650
℃で低温焼成する場合において、反射防止膜をファイア
スルーして半導体基板と受光面電極が互いにオーミック
接触し、かつ接着強度を十分に確保することが可能な受
光面電極を形成し得る導電性ペーストを提供することに
ある。 【解決手段】本発明の導電性ペーストは、半導体基板上
に電極を形成するための導電性ペーストであって、A
g,CuおよびNiのうち少なくとも1種からなる導電
性粉末と、ハロゲン化物と、有機ビヒクルと、を含有
し、前記ハロゲン化物の含有量は、前記導電性粉末10
0体積%に対して0.45〜15.38体積%であるこ
とを特徴とする。
℃で低温焼成する場合において、反射防止膜をファイア
スルーして半導体基板と受光面電極が互いにオーミック
接触し、かつ接着強度を十分に確保することが可能な受
光面電極を形成し得る導電性ペーストを提供することに
ある。 【解決手段】本発明の導電性ペーストは、半導体基板上
に電極を形成するための導電性ペーストであって、A
g,CuおよびNiのうち少なくとも1種からなる導電
性粉末と、ハロゲン化物と、有機ビヒクルと、を含有
し、前記ハロゲン化物の含有量は、前記導電性粉末10
0体積%に対して0.45〜15.38体積%であるこ
とを特徴とする。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、厚膜電極の形成に
用いられる導電性ペーストに関するもので、特に多結晶
Si太陽電池のn型半導体層上にオーミック性の受光面
電極を形成するのに適した導電性ペーストに関する。
用いられる導電性ペーストに関するもので、特に多結晶
Si太陽電池のn型半導体層上にオーミック性の受光面
電極を形成するのに適した導電性ペーストに関する。
【0002】
【従来の技術】従来より結晶系Si太陽電池1は、例え
ば図1に示すように、半導体基板2、受光面電極3、反
射防止膜4、裏面電極5とからなり、半導体基板2は、
p型半導体層2a、n型半導体層2bとからなる。低コ
ストの太陽電池における受光面電極3の形成方法として
は、一般的に厚膜形成法が用いられている。この時、受
光面電極3を形成する材料としては、例えば、空気中で
焼成可能なAg粉末、ガラスフリットおよび各種添加材
料を有機ビヒクルに分散させた導電性ペーストを用いて
いる。受光面電極3は、スクリーン印刷法等により、上
記導電性ペーストをTiO2、SiO2やSiN等からな
る絶縁性の反射防止膜4上にグリッド状に塗布し乾燥さ
せた後、近赤外炉によって700〜850℃で焼成して
得られる。この時、導電性ペーストに含有されているガ
ラスフリットの作用により反射防止膜4を溶解・除去し
て、受光面電極3とn型半導体層2bの電気的接触が形
成される。これをファイアスルーという。
ば図1に示すように、半導体基板2、受光面電極3、反
射防止膜4、裏面電極5とからなり、半導体基板2は、
p型半導体層2a、n型半導体層2bとからなる。低コ
ストの太陽電池における受光面電極3の形成方法として
は、一般的に厚膜形成法が用いられている。この時、受
光面電極3を形成する材料としては、例えば、空気中で
焼成可能なAg粉末、ガラスフリットおよび各種添加材
料を有機ビヒクルに分散させた導電性ペーストを用いて
いる。受光面電極3は、スクリーン印刷法等により、上
記導電性ペーストをTiO2、SiO2やSiN等からな
る絶縁性の反射防止膜4上にグリッド状に塗布し乾燥さ
せた後、近赤外炉によって700〜850℃で焼成して
得られる。この時、導電性ペーストに含有されているガ
ラスフリットの作用により反射防止膜4を溶解・除去し
て、受光面電極3とn型半導体層2bの電気的接触が形
成される。これをファイアスルーという。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】多結晶Si基板を用い
た太陽電池では、半導体基板の粒界における活性なSi
未結合手が光エネルギーにより生成した電荷担体を電極
に到達する前にトラップするため、単結晶Si基板を用
いた太陽電池よりも発電特性が劣る。これを改善する目
的で半導体基板の水素処理がなされる場合がある。この
水素処理を行なった場合、粒界に入り込んだ水素がSi
の未結合手と結合し、未結合手が不活性化される。この
ように水素処理した多結晶Si太陽電池に上述のプロセ
スにより700〜850℃で焼成して受光面電極3を形
成すると、半導体基板の結晶粒界の水素が放出されるた
め太陽電池としての発電特性が劣化する。他方700℃
以下の温度で焼成するとガラスフリットによる十分なフ
ァイアスルー性が発揮されず、n型半導体層2bと受光
面電極3との間で電気的接触が得られず、さらに、n型
半導体層2bと受光面電極3の接着強度も弱く、後工程
で電極剥がれ等の不具合が生じる。
た太陽電池では、半導体基板の粒界における活性なSi
未結合手が光エネルギーにより生成した電荷担体を電極
に到達する前にトラップするため、単結晶Si基板を用
いた太陽電池よりも発電特性が劣る。これを改善する目
的で半導体基板の水素処理がなされる場合がある。この
水素処理を行なった場合、粒界に入り込んだ水素がSi
の未結合手と結合し、未結合手が不活性化される。この
ように水素処理した多結晶Si太陽電池に上述のプロセ
スにより700〜850℃で焼成して受光面電極3を形
成すると、半導体基板の結晶粒界の水素が放出されるた
め太陽電池としての発電特性が劣化する。他方700℃
以下の温度で焼成するとガラスフリットによる十分なフ
ァイアスルー性が発揮されず、n型半導体層2bと受光
面電極3との間で電気的接触が得られず、さらに、n型
半導体層2bと受光面電極3の接着強度も弱く、後工程
で電極剥がれ等の不具合が生じる。
【0004】本発明の目的は、上述の問題点を解消すべ
くなされたもので、半導体基板を水素処理したことによ
り粒界に導入された水素の放出を防ぐために、受光面電
極を500〜650℃で低温焼成する場合において、反
射防止膜をファイアスルーして半導体基板と受光面電極
が互いにオーミック接触し、かつ接着強度を十分に確保
することが可能な導電性ペーストを提供することにあ
る。
くなされたもので、半導体基板を水素処理したことによ
り粒界に導入された水素の放出を防ぐために、受光面電
極を500〜650℃で低温焼成する場合において、反
射防止膜をファイアスルーして半導体基板と受光面電極
が互いにオーミック接触し、かつ接着強度を十分に確保
することが可能な導電性ペーストを提供することにあ
る。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の導電性ペーストは、半導体基板上に電極を
形成するための導電性ペーストであって、Ag,Cuお
よびNiのうち少なくとも1種からなる導電性粉末と、
ハロゲン化物と、有機ビヒクルと、を含有し、前記ハロ
ゲン化物の含有量は、前記導電性粉末100体積%に対
して0.45〜15.38体積%であることを特徴とす
る。
に、本発明の導電性ペーストは、半導体基板上に電極を
形成するための導電性ペーストであって、Ag,Cuお
よびNiのうち少なくとも1種からなる導電性粉末と、
ハロゲン化物と、有機ビヒクルと、を含有し、前記ハロ
ゲン化物の含有量は、前記導電性粉末100体積%に対
して0.45〜15.38体積%であることを特徴とす
る。
【0006】また、本発明の導電性ペーストは、半導体
基板上に電極を形成するための導電性ペーストであっ
て、Ag,CuおよびNiのうち少なくとも1種からな
る導電性粉末と、ハロゲン化物と、有機ビヒクルと、を
含有し、前記ハロゲン化物の含有量は、前記導電性ペー
スト100体積%に対して0.1〜3.0体積%である
ことを特徴とする。
基板上に電極を形成するための導電性ペーストであっ
て、Ag,CuおよびNiのうち少なくとも1種からな
る導電性粉末と、ハロゲン化物と、有機ビヒクルと、を
含有し、前記ハロゲン化物の含有量は、前記導電性ペー
スト100体積%に対して0.1〜3.0体積%である
ことを特徴とする。
【0007】また、本発明の導電性ペースト中に含有す
る前記ハロゲン化物は、フッ化物であることを特徴とす
る。
る前記ハロゲン化物は、フッ化物であることを特徴とす
る。
【0008】また、本発明の導電性ペースト中に含有す
る前記ハロゲン化物は、BiF3、PbF2、ZnF2の
うち少なくとも1種からなることを特徴とする。
る前記ハロゲン化物は、BiF3、PbF2、ZnF2の
うち少なくとも1種からなることを特徴とする。
【0009】また、本発明の導電性ペースト中に含有す
る前記ハロゲン化物は、PbCl2であることを特徴と
する。
る前記ハロゲン化物は、PbCl2であることを特徴と
する。
【0010】また、本発明の導電性ペーストは、前記導
電性ペースト100体積%のうち2.0体積%以下のガ
ラスフリットを含有することを特徴とする。
電性ペースト100体積%のうち2.0体積%以下のガ
ラスフリットを含有することを特徴とする。
【0011】
【発明の実施の形態】ハロゲン化物は、ガラスフリット
や酸化物に比べて500〜650℃における活性が高
い。したがって、これを含有した導電性ペーストを焼成
する際の焼成温度を低温化しても十分なファイアスルー
性を発揮し、太陽電池の受光面電極を形成した場合に半
導体基板との間でオーミック接触が得られ、かつ接着強
度も十分に確保することが可能となる。
や酸化物に比べて500〜650℃における活性が高
い。したがって、これを含有した導電性ペーストを焼成
する際の焼成温度を低温化しても十分なファイアスルー
性を発揮し、太陽電池の受光面電極を形成した場合に半
導体基板との間でオーミック接触が得られ、かつ接着強
度も十分に確保することが可能となる。
【0012】また、ハロゲン化合物の含有量は、導電性
粉末100体積%に対して0.45〜15.38体積%
であることが好ましい。ハロゲン化物の含有量が0.4
5体積%未満であると、導電性ペーストを焼成する際に
ハロゲン化物のファイアスルー性が十分に発揮されな
い。また、含有量が15.38体積%を超えると、焼成
して得られる受光面電極の固有抵抗が上昇し好ましくな
い。
粉末100体積%に対して0.45〜15.38体積%
であることが好ましい。ハロゲン化物の含有量が0.4
5体積%未満であると、導電性ペーストを焼成する際に
ハロゲン化物のファイアスルー性が十分に発揮されな
い。また、含有量が15.38体積%を超えると、焼成
して得られる受光面電極の固有抵抗が上昇し好ましくな
い。
【0013】また、ハロゲン化物の含有量は、導電性ペ
ースト100体積%に対して0.1〜3.0体積%であ
ることが好ましい。含有量が0.1体積%未満である
と、含有効果が得られない。含有量が3.0体積%を超
えると、焼成して得られる受光面電極の固有抵抗が上昇
し好ましくない。
ースト100体積%に対して0.1〜3.0体積%であ
ることが好ましい。含有量が0.1体積%未満である
と、含有効果が得られない。含有量が3.0体積%を超
えると、焼成して得られる受光面電極の固有抵抗が上昇
し好ましくない。
【0014】また、ハロゲン化物としては、TiO2、
SiO2、SiN等からなる反射防止膜に対する反応性
が高く、ファイアスルー性に優れる材料、例えばBiF
3、PbF2、ZnF2等のフッ化物、あるいはPbCl2
等の塩化物が好ましく、なかでも、BiF3はオーミッ
ク接触性に優れ特に好ましい。なお、BiCl3やZn
Cl2等の一部の塩化物は潮解性を持つため、導電性ペ
ーストがゲル化し、印刷性を損なうため好ましくない。
SiO2、SiN等からなる反射防止膜に対する反応性
が高く、ファイアスルー性に優れる材料、例えばBiF
3、PbF2、ZnF2等のフッ化物、あるいはPbCl2
等の塩化物が好ましく、なかでも、BiF3はオーミッ
ク接触性に優れ特に好ましい。なお、BiCl3やZn
Cl2等の一部の塩化物は潮解性を持つため、導電性ペ
ーストがゲル化し、印刷性を損なうため好ましくない。
【0015】また、導電性粉末としては、従来より太陽
電池の受光面電極形成に用いられてきた導電性ペースト
を構成する金属粉末、例えばAg、あるいは従来より一
般的な導電性ペーストを構成する金属粉末、例えばC
u,Ni等を適宜選択して用いることができるが、空気
中での焼成が可能であることから、Agを選択すること
が好ましい。
電池の受光面電極形成に用いられてきた導電性ペースト
を構成する金属粉末、例えばAg、あるいは従来より一
般的な導電性ペーストを構成する金属粉末、例えばC
u,Ni等を適宜選択して用いることができるが、空気
中での焼成が可能であることから、Agを選択すること
が好ましい。
【0016】また、有機ビヒクルとしては、一般に導電
性ペーストや抵抗ペーストのビヒクルとして使用されて
いるもの、例えば、α−テルピネオール溶剤にエチルセ
ルロースを溶解させた粘稠性液体等を適宜用いることで
きる。
性ペーストや抵抗ペーストのビヒクルとして使用されて
いるもの、例えば、α−テルピネオール溶剤にエチルセ
ルロースを溶解させた粘稠性液体等を適宜用いることで
きる。
【0017】また、本発明の導電性ペーストには、ガラ
スフリットを適宜添加することが好ましく、導電性ペー
ストに対して2.0体積%以下であることが好ましい。
導電性ペーストにガラスフリットを添加することによ
り、焼成して得られる受光面電極と半導体基板との接着
強度が増すが、含有量が2.0体積%を超えると、焼成
して得られる受光面電極の固有抵抗が上昇し好ましくな
い。ガラスフリットとしては、焼成時に基板との良好な
接着強度を得るために、焼成温度条件の合った低軟化点
ガラス粉末、例えば、B−Pb−O系、B−Si−Pb
−O系、B−Si−Bi−Pb−O系、B−Si−Zn
−O系ガラスフリット等を適宜用いることができる。
スフリットを適宜添加することが好ましく、導電性ペー
ストに対して2.0体積%以下であることが好ましい。
導電性ペーストにガラスフリットを添加することによ
り、焼成して得られる受光面電極と半導体基板との接着
強度が増すが、含有量が2.0体積%を超えると、焼成
して得られる受光面電極の固有抵抗が上昇し好ましくな
い。ガラスフリットとしては、焼成時に基板との良好な
接着強度を得るために、焼成温度条件の合った低軟化点
ガラス粉末、例えば、B−Pb−O系、B−Si−Pb
−O系、B−Si−Bi−Pb−O系、B−Si−Zn
−O系ガラスフリット等を適宜用いることができる。
【0018】
【実施例】まず、粒径1.0〜3.0μmのAg粉から
なる導電性粉末と、粒径1.0〜5.0μmのそれぞれ
BiF3、PbF2、ZnF2,PbCl2からなるハロゲ
ン化物と、αテルピネオールに15.0重量%のエチル
セルロースを溶解させた有機ビヒクルと、Pb−B−S
i−O系、B−Si−Zn−O系のガラスフリットを準
備した。
なる導電性粉末と、粒径1.0〜5.0μmのそれぞれ
BiF3、PbF2、ZnF2,PbCl2からなるハロゲ
ン化物と、αテルピネオールに15.0重量%のエチル
セルロースを溶解させた有機ビヒクルと、Pb−B−S
i−O系、B−Si−Zn−O系のガラスフリットを準
備した。
【0019】次に、導電性粉末、有機ビヒクル、ハロゲ
ン化物、ガラスフリットを表1に示す割合で添加し混合
し、これを3本ロールで分散し混練して、それぞれ試料
1〜36の導電性ペーストを得た。
ン化物、ガラスフリットを表1に示す割合で添加し混合
し、これを3本ロールで分散し混練して、それぞれ試料
1〜36の導電性ペーストを得た。
【0020】次に、導電性粉末、有機ビヒクル、ガラス
フリット、添加物を表1に示す割合で添加し混合し、こ
れを3本ロールで分散し混練して、本発明と比較する従
来技術である試料37〜42の導電性ペーストを得た。
フリット、添加物を表1に示す割合で添加し混合し、こ
れを3本ロールで分散し混練して、本発明と比較する従
来技術である試料37〜42の導電性ペーストを得た。
【0021】次に、n型半導体層上に反射防止膜を形成
したSiウエハを準備し、試料1〜42の導電性ペース
トをSiウエハの反射防止膜上にスクリーン印刷して、
それぞれ試料1〜42の塗布膜を形成した。
したSiウエハを準備し、試料1〜42の導電性ペース
トをSiウエハの反射防止膜上にスクリーン印刷して、
それぞれ試料1〜42の塗布膜を形成した。
【0022】次に、塗布膜を形成したSiウエハを15
0℃で5分間乾燥した後、近赤外焼成炉で550℃で焼
成し、試料1〜42の電極を形成した。なお、接触抵
抗、発電特性、接着強度の測定に際して、それぞれ別の
試料1〜42の電極を作成した。
0℃で5分間乾燥した後、近赤外焼成炉で550℃で焼
成し、試料1〜42の電極を形成した。なお、接触抵
抗、発電特性、接着強度の測定に際して、それぞれ別の
試料1〜42の電極を作成した。
【0023】接触抵抗は、長さ10mm×巾7mmのS
iウエハの受光面に、6mm×200μmの電極を6本
を形成し、TLM法によって測定した。
iウエハの受光面に、6mm×200μmの電極を6本
を形成し、TLM法によって測定した。
【0024】発電特性は、14mm角のSiウエハの受
光面に巾200μmで片側の櫛数が7本からなる櫛形電
極を形成し、Siウエハの裏面に全面電極を形成して太
陽電池を作製し、ソーラーシュミレーターを用いて、2
5℃、Am−1.5の条件でFF値を測定した。なお、
FF値とは、I−V特性曲線から求められる曲線因子を
指し、電極の接触抵抗や配線抵抗が高い場合に小さい値
となる。最大値は1.00で、最小値は0となる。
光面に巾200μmで片側の櫛数が7本からなる櫛形電
極を形成し、Siウエハの裏面に全面電極を形成して太
陽電池を作製し、ソーラーシュミレーターを用いて、2
5℃、Am−1.5の条件でFF値を測定した。なお、
FF値とは、I−V特性曲線から求められる曲線因子を
指し、電極の接触抵抗や配線抵抗が高い場合に小さい値
となる。最大値は1.00で、最小値は0となる。
【0025】接着強度は、Siウエハの受光面に2mm
角の電極を形成して、この電極に導線を半田付けした後
に、導線をSiウエハの受光面に対して垂直方向に引張
り、基板から電極を引き剥がすのに要する力を測定し
た。
角の電極を形成して、この電極に導線を半田付けした後
に、導線をSiウエハの受光面に対して垂直方向に引張
り、基板から電極を引き剥がすのに要する力を測定し
た。
【0026】
【表1】
【0027】表1から明らかであるように、フッ化物で
あるBiF3、PbF2、ZnF2をそれぞれ0.1〜
3.0体積%含有した実施例2〜6,9〜13,16〜
20、ならびに塩化物であるPbCl2を0.1〜3.
0体積%含有した実施例23〜27、さらにガラスフリ
ットを0.5〜3.0体積%含有した実施例29〜3
1,33〜35、塩化物とフッ化物の両ハロゲン化物を
組み合わせた36は、接触抵抗が0.01〜0.15Ω
/cmで低く優れ、発電特性のFF値が0.66〜0.
80で高く優れ、接着強度が2.5〜7.0kgfで実
用的な強度を示した。
あるBiF3、PbF2、ZnF2をそれぞれ0.1〜
3.0体積%含有した実施例2〜6,9〜13,16〜
20、ならびに塩化物であるPbCl2を0.1〜3.
0体積%含有した実施例23〜27、さらにガラスフリ
ットを0.5〜3.0体積%含有した実施例29〜3
1,33〜35、塩化物とフッ化物の両ハロゲン化物を
組み合わせた36は、接触抵抗が0.01〜0.15Ω
/cmで低く優れ、発電特性のFF値が0.66〜0.
80で高く優れ、接着強度が2.5〜7.0kgfで実
用的な強度を示した。
【0028】ハロゲン化物を0.05体積%含有した実
施例1,8,15,22は、接触抵抗が0.71〜1.
30Ω/cmと高く劣った。
施例1,8,15,22は、接触抵抗が0.71〜1.
30Ω/cmと高く劣った。
【0029】また、ハロゲン化物を5.0体積%含有し
た実施例7,14,21,28は、接着強度は高く優れ
るものの発電特性のFF値が0.47〜0.53で何れ
も0.6未満と低く劣った。
た実施例7,14,21,28は、接着強度は高く優れ
るものの発電特性のFF値が0.47〜0.53で何れ
も0.6未満と低く劣った。
【0030】また、ハロゲン化物を含有せずにガラスフ
リットやBi2O3,Pb3O4,ZnOといった酸化物を
0.5体積%含有した実施例37〜42は、接触抵抗が
0.65〜1.13Ω/cmで高く劣り、発電特性のF
F値も0.6を下回り低く劣った。
リットやBi2O3,Pb3O4,ZnOといった酸化物を
0.5体積%含有した実施例37〜42は、接触抵抗が
0.65〜1.13Ω/cmで高く劣り、発電特性のF
F値も0.6を下回り低く劣った。
【0031】また、ハロゲン化物を0.5体積%、ガラ
スフリットを3.0体積%含有した実施例32は、接触
抵抗0.48Ω/cmで高く劣り、FF値は0.6を下
回り低く劣った。
スフリットを3.0体積%含有した実施例32は、接触
抵抗0.48Ω/cmで高く劣り、FF値は0.6を下
回り低く劣った。
【0032】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、受光面電
極を500〜650℃で低温焼成する場合においても、
反射防止膜をファイアスルーして半導体基板と受光面電
極が互いにオーミック接触し、かつ接着強度を十分に確
保することが可能な受光面電極を形成することができ
る。
極を500〜650℃で低温焼成する場合においても、
反射防止膜をファイアスルーして半導体基板と受光面電
極が互いにオーミック接触し、かつ接着強度を十分に確
保することが可能な受光面電極を形成することができ
る。
【図1】本発明に係る一つの実施の形態の導電性ペース
トを用いて受光面電極を形成した多結晶Si太陽電池の
断面図である。
トを用いて受光面電極を形成した多結晶Si太陽電池の
断面図である。
2 半導体基板 3 受光面電極
Claims (6)
- 【請求項1】 半導体基板上に電極を形成するための導
電性ペーストであって、Ag,CuおよびNiのうち少
なくとも1種からなる導電性粉末と、ハロゲン化物と、
有機ビヒクルと、を含有し、 前記ハロゲン化物の含有量は、前記導電性粉末100体
積%に対して0.45〜15.38体積%であることを
特徴とする導電性ペースト。 - 【請求項2】 半導体基板上に電極を形成するための導
電性ペーストであって、Ag,CuおよびNiのうち少
なくとも1種からなる導電性粉末と、ハロゲン化物と、
有機ビヒクルと、を含有し、 前記ハロゲン化物の含有量は、前記導電性ペースト10
0体積%のうち0.1〜3.0体積%であることを特徴
とする導電性ペースト。 - 【請求項3】 前記ハロゲン化物は、フッ化物であるこ
とを特徴とする請求項1または請求項2に記載の導電性
ペースト。 - 【請求項4】 前記ハロゲン化物は、BiF3、Pb
F2、ZnF2のうち少なくとも1種からなることを特徴
とする請求項3に記載の導電性ペースト。 - 【請求項5】 前記ハロゲン化物は、PbCl2である
ことを特徴とする請求項1または請求項2に記載の導電
性ペースト。 - 【請求項6】 前記導電性ペースト100体積%のうち
2.0体積%以下のガラスフリットを含有することを特
徴とする請求項1〜請求項5の何れかに記載の導電性ペ
ースト。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29975399A JP2001118425A (ja) | 1999-10-21 | 1999-10-21 | 導電性ペースト |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29975399A JP2001118425A (ja) | 1999-10-21 | 1999-10-21 | 導電性ペースト |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001118425A true JP2001118425A (ja) | 2001-04-27 |
Family
ID=17876569
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP29975399A Pending JP2001118425A (ja) | 1999-10-21 | 1999-10-21 | 導電性ペースト |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2001118425A (ja) |
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