JP2001110702A - 流体加熱装置 - Google Patents
流体加熱装置Info
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Abstract
定温度まで到達する時間を極力短縮する。 【解決手段】 加熱前の流体の一部を流入管P1よりバ
イパス管P3に分流し、流出管P21から送られてく
る、加熱部10による加熱後の流体と混合し、出力流体
として送出する可変弁50を設ける。制御部60は、温
度センサ40−3で検出される上記出力流体の温度が設
定温度となるべく可変弁50による加熱前流体と加熱後
流体の混合比を可変制御する。具体的には、温度センサ
40−1,40−1、流量計30−1,30−2の検出
結果から把握される、加熱前流体の温度及び流量と、加
熱後流体の温度及び流量とに基づき上記設定温度を満足
する混合比を決定し、該混合比を満足するように可変弁
50の弁の開度を制御する。
Description
ス等で使用される純水や薬液等の流体を設定温度まで加
熱して該当プロセスに供給する流体加熱装置に関する。
半導体ウェーハを薬液を用いて処理するプロセスや、こ
の薬液処理後に半導体ウェーハに付着している薬液を洗
浄するプロセス等がある。
能力を高めるべく、例えば超純水を85℃まで加熱して
温純水を生成し、この温純水を用いて半導体ウェーハの
洗浄を行っている。
を生成するための流体加熱装置の従来一般的な構成を示
す図である。
供給源から供給される超純水(入力流体)を入口弁20
から取り込んで加熱部10に供給する。
加熱容器11a,11b,111cを具備して構成さ
れ、流入する超純水をこれら各加熱容器11a,11
b,11cを順次通過させていきながらそれぞれのヒー
タで加熱することにより例えば85℃の温純水を生成
し、出力流体として上記洗浄プロセスへ供給する。
℃)は予め設定されており、図示しない制御部では、加
熱部10の流体出口近傍に設けた温度センサ40による
検出温度が上記設定温度と一致するように各加熱容器1
1a,11b,11cのヒータを発熱駆動(例えば、P
ID制御)する。その際、制御部は、流量計30により
検出される流入流体の流量を上記PID制御に反映させ
る。
PID制御に限らず、ONN−OFF制御との組み合わ
せも可能である。
後の設定温度と温度センサ40による検出温度とを比較
し、その差が無くなるように、各加熱容器11a,11
b,11cのヒータの発熱駆動の制御を行う。
装置100の構成を示したが、上述した半導体製造プロ
セスにおける薬液を加熱する薬液加熱装置についても基
本的には図4と同様の構成により実現できる。
は、流入する流体を加熱部10の加熱容器内のヒータの
発熱量を制御するだけで設定温度に調整するのが一般的
であった。
体加熱装置では、加熱部の加熱容器内のヒータの発熱量
制御のみによって流体温度を設定温度に調整していたた
め、設定温度変更時には、加熱容器内の流体の温度変化
を待つ必要があり、出力流体が設定温度に到達するまで
に長時間を要するという問題点があった。
の変更時、出力流体が該変更後の設定温度まで到達する
時間を極力短縮できる流体加熱装置を提供することを目
的とする。
に、請求項1の発明は、流入経路から流入する流体をヒ
ータにより加熱し、流出経路に流出する加熱手段と、前
記加熱手段による加熱前の流体の一部を前記流入経路よ
り分流し、前記流出経路中で前記加熱手段による加熱後
の流体に混合して出力流体として送出する流体混合手段
と、前記出力流体の温度が予め設定された設定温度とな
るように前記流体混合手段による前記加熱前の流体と前
記加熱後の流体の混合比を可変制御する混合比可変制御
手段とを具備することを特徴とする。
発明において、前記ヒータを発熱駆動する加熱制御手段
を具備し、該加熱制御手段は、前記加熱手段に流入する
流体が該加熱手段による最大加熱温度となるべく前記ヒ
ータを発熱駆動することを特徴とする。
発明において、前記加熱前の流体の温度を検出する第1
の温度検出手段と、前記加熱手段による加熱後の流体の
温度を検出する第2の温度検出手段と、前記加熱手段へ
流入する流体の流量を検出する第1の流量検出手段と、
前記流入経路より分流される流体の流量を検出する第2
の流量検出手段とを具備し、前記混合比可変制御手段
は、前記各検出手段の検出結果から把握される、加熱前
流体の温度及び流量と、加熱後流体の温度及び流量とに
基づき前記設定温度を満足する混合比を決定することを
特徴とする。
て添付図面を参照して詳細に説明する。
1の実施形態を示す図である。本実施形態に係わる流体
加熱装置100Aは、例えば、半導体製造時の半導体ウ
ェーハ洗浄プロセスに用いる超純水を加熱する超純水加
熱装置として用いられるものであり、流体(超純水)の
加熱源として従来装置(図4参照)と同様の加熱部10
を具備している。
造としては、加熱部10に流体(超純水)を流入させる
ための流入管P1、加熱部10から加熱後の流体を流出
させるための流出管P2(P21とP22とで構成され
る)、流入管P1を流れる加熱前の流体の一部を流出管
P2にパイバスするバイパス管P3が備わる。
体供給源から加熱部10方向に向けて順に、入口弁2
0、温度センサ40−1、流量計30−1,30−2が
備わる。また、流出管P2に付随する構成要素として、
加熱部10から流体供給先に向けて順に、温度センサ4
0−2、可変弁50、温度センサ40−3が備わる。
(図2参照)を持ち、加熱部10から流出管P21を通
って送られてくる加熱後の流体と、バイパス管P3から
送られてくる加熱前の流体とを混合し、流出管P22を
経て流体供給先方向へ送り出すと共に、上記三方弁の開
度を可変制御することで上記加熱前流体と加熱後流体の
混合比を適宜調整できるように構成されている。
記各流量計30−1,30−2、上記各温度センサ40
−1,40−2,40−3の検出結果に基づき上記加熱
部10の加熱制御及び可変弁50の開度制御を行う制御
部60が設けられる。
ついて説明する。
対象の流体(超純水)は、図示しない供給源から入口弁
20を介して入力流体として流入管P1内に取り込まれ
る。この時、入口弁20の弁の開度は制御部60により
制御されており、該入力弁20の弁開度に応じた量の超
純水が取り込まれる。
は、流入管P1を通って加熱部10に流入される。この
時、流入管P1を通る超純水の一部(可変弁50の弁開
度に応じた量)が流入管P1よりバイパス管P3にバイ
パスされ、残りの超純水が加熱部10に流入する。
配管と該配管の周囲に配置されたハロゲンランプ等の加
熱源(ヒータ)を内部に持つ例えば3つの加熱容器11
a,11b,11cを備えて構成される。
水は、加熱容器11a,11b,11内の配管を順次通
過しながら該当する各ヒータより与えれる熱エネルギー
により段階的に例えば85℃まで加熱される。
流出管P21を通って可変弁50に送られ、該可変弁5
0により、バイパス管P3から流入する加熱前の超純水
と混合された後、流出管P22を経て出力流体として加
熱流体供給先へ送出される。
30−1は本装置100Aに流入する超純水の全流量を
検出し、流量計30−2は上記全流量のうちのバイパス
管P3へバイパスされずに加熱部10に流入される超純
水の流量を検出する。これら流量計30−1,30−2
の検出信号はそれぞれ制御部60に入力される。
水の温度を検出し、この検出信号を制御部60に入力す
る。加熱部10の流体出口近傍では、温度センサ40−
2が加熱後の超純水の温度を検出し、この検出信号を制
御部60に入力する。更に、可変弁50の下流側では、
温度センサ40−3が加熱後の超純水と加熱前の超純水
を混合して得られた超純水の温度を検出し、この検出信
号を制御部60に入力する。
以下の手順に従って、加熱部10の加熱制御及び可変弁
50の開度制御を実施する。
流量計30−2による検出流量を把握すると共に、該流
量の超純水を例えば最大加熱温度(最大設定温度)に加
熱するために必要な加熱エネルギーを算出し、この加熱
エネルギーに相当する制御信号により加熱部10内の各
加熱容器11a,11b,11cのヒータを発熱駆動す
る。
00Aにおいて、加熱部10は、流入管P1より流入す
る超純水を常に最大加熱温度となるように加熱制御す
る。
度まで加熱された超純水は、流出管P21に送出され、
可変弁50に到達する。一方、流入管P1を流れる加熱
前の超純水の一部は、可変弁50の開度に応じて当該流
入管P1からバイパス管P3を通って可変弁50に流入
する。
21を通って流入する加熱後の超純水と、バイパス管P
3を通って流入する加熱前の超純水とが混合される。こ
の混合された超純水は、可変弁50の下流側の流出管P
22に送り出され、出力流体として流体供給先(洗浄プ
ロセス)へと供給される。
プロセスへと供給される過程で、当該超純水の温度が温
度センサ40−3により検出され、その検出信号が制御
部60に入力される。
検出温度と、予め設定されている目標温度(設定温度)
とを比較し、その差に応じて可変弁50の弁の開度を制
御する。
まず、バイパス管P3に流れる超純水の流量(バイパス
流量)を求める。このバイパス流量は、流量計30−1
により検出される流量(装置100Aに流入する超純水
の全流量)から流量計30−2により検出される流量
(加熱部10に流入される超純水の流量)を減算するこ
とにより算出できる。
3による検出温度と上記設定温度との差を求め、更に、
この差を解消するために必要とされる、加熱後の超純水
に対する加熱前の超純水の混合比を現在の加熱後超純水
と加熱前超純水の流量から求める。そして、この混合比
を満足するような弁制御信号を生成し、該弁制御信号を
用いて可変弁50の弁の開度を制御する。
純水に対して、該可変弁50の弁の開度に応じた量の加
熱前の超純水が混合され、該混合後の超純水(出力流
体)の温度が上記設定温度に追従するように制御され
る。
制御部60では、それまでの設定温度と変更後の設定温
度との差に応じて、再度、上述した手順に従って可変弁
50の弁の開度を可変制御する。
1から流入する加熱前の超純水とバイパス管P3から流
入する加熱後の超純水とが、設定温度変更前とは異なる
新たな混合比で混合され、該混合後の超純水(出力流
体)の温度が上記変更後の設定温度に制御される。
調整により加熱部10の加熱容器11a,11b,11
cに流れる超純水の流量が設定温度の変更前と異なった
値となるが、このような流量の変化に対しても、制御部
60は、加熱容器11a,11b,11c内の超純水を
最大加熱温度になるようにヒータの加熱量を調整する。
少なくするように、可変弁50の弁の開度の調整、加熱
部10のヒータの加熱量の微調整の制御を行う。
る加熱後の流体と加熱部10の手前でバイパスされた加
熱前の流体を混合する可変弁50を設け、この可変弁5
0による混合後の流体温度が設定温度に一致するよう
に、当該可変弁50の弁開度を制御して、加熱後の流体
と加熱前の流体の混合比を調整するようにしている。
場合、可変弁50の弁開度の可変制御によって、加熱前
流体と加熱後流体が変更前と異なる混合比で混合される
結果、上記変更後直ちに、可変弁50の下流側の混合後
の流体(出力流体)に変更後の設定温度に追従した温度
変化がもたらされる。これにより、従来装置のように、
加熱容器内の温度変化を待つ必要が無く、出力流体が変
更後の設定温度に到達する時間を短縮できるようにな
る。
b,11cの内部が冷えている状態からの設定温度への
到達時間は従来装置と同様に時間がかかってしまうた
め、加熱容器内部が最大加熱温度まで暖められたことを
確認してから上記流体混合を行うようにすることが望ま
しい。
いて、流入する流体を最大加熱温度まで加熱するだけで
良く、これによって、加熱制御を単純化でき、併せて加
熱制御手段の構成を簡略化できる。
いて流体を最大加熱温度まで加熱するようにしたが、必
ずしも、最大加熱温度での加熱制御に限るものではな
く、適宜な温度を設定して該設定温度まで加熱するよう
にしても良い。
て述べる。
置100Aにおける可変弁50の一実施例を示す概念断
面構成図である。この可変弁50は、共有内室500を
介して相互につながる内室501,502,503と、
細軸の両端に太軸が形成され、両端の太軸がそれぞれ内
室501と502内を移動可能に上記共有内室500内
に細軸を嵌装して成るロッド504と、ロッド504を
一方向に付勢するスプリング505と、ロッド504を
挟んでスプリング505の反対側に設けられ、エア供給
源52から延びる配管に連結されるダイアフラム506
を内設して構成される。
1におけるバイパス管P3と流出管P21に連結され
る。また、内室503は図1における流出管P22に連
結される。
0から所定の制御指令(上述した弁制御信号に相当)を
与え、エアレギュレータ51のエア供給量を変化させ
る。エアレギュレータ51のエア供給量が変化すると、
ダイアフラム506が変形し、この変形に伴ってロッド
504が図2に矢印で示すように移動(図2では上下
動)する。
ッド504の太軸と共有内室500との間の隙間(最小
値は隙間無し)が増減され、この隙間の大きさに見合っ
た量の非加熱流体(加熱前超純水)と加熱流体(加熱後
純水)がそれぞれ内室501と内室502から流入して
共通内室500内で混合され、混合流体として流出管P
22に流出される。
図2に示す構成に限るものではなく、その配置位置も、
図1に示すように、本体装置内部に限らず、本体装置の
外部であっても良い。
す構成に限るものではなく、上述した主旨を逸脱しない
範囲内で様々な変形及び応用が可能である。
2の実施形態を示すものである。この第2の実施形態に
係わる流体加熱装置100Bは、図1における流体加熱
装置100Aにおいて、加熱前の流体の温度を検出する
ための温度センサ40−1を省いたものである。
センサ40−1による、加熱前の流体の温度を検出する
機能を例えば以下の2つの方法で補うことができる。
時、バイパス管P3側に対して弁を閉じるように可変弁
50の弁を制御しかつ加熱部10を加熱駆動しない状態
で、入力弁20より入力流体を取り込み、その全量を、
流入管P1、加熱部10、流出管P21、可変弁50、
流出管P22を経て出力流体として送り出す。
10の下流側の流体の温度を検出し、この検出温度を加
熱前の流体の温度として制御部60に保持しておく。そ
の後、入力流体を通流させたまま加熱部10の発熱駆動
を開始した時には、温度センサ40−2による検出温度
を本来の加熱後流体温度として扱うようにする。
時、流出管P21側に対して弁を閉じるように可変弁5
0の弁を制御しかつ加熱部10を加熱駆動しない状態
で、入力弁20より入力流体を取り込み、その全量を、
バイパス管P3、可変弁50、流出管P22を経て出力
流体として送り出す。
P22を通流する流体の温度を検出し、この検出温度を
加熱前の流体の温度として制御部60に保持しておく。
その後、入力流体を通流させたまま加熱部10の発熱駆
動を開始した時には、温度センサ40−3による検出温
度を本来の出力流体温度として扱うようにする。
熱装置への適用例を前提としているが、本発明に係わる
流体加熱装置は、半導体製造プロセスで用いる処理薬液
や、半導体製造プロセス以外のプロセスで用いる種々の
流体を加熱する装置全般に適用可能である。
加熱手段による加熱前の流体の一部を加熱手段による加
熱後の流体に混合し出力流体として送出する流体混合手
段を設け、出力流体の温度が予め設定された設定温度と
なるように流体混合手段による加熱前流体と加熱後流体
の混合比を可変制御するようにしたため、設定温度が変
更された場合、その後直ちに、加熱前流体と加熱後流体
が変更前と異なる混合比で混合されて混合後の流体(出
力流体)に変更後の設定温度に追従した温度変化がもた
らされるようになり、従来装置のように、加熱容器内の
温度変化を待つ必要が無く、出力流体が変更後の設定温
度に到達する時間を大幅に短縮できる。
する流体を該加熱手段による最大加熱温度に加熱するよ
うにしたため、加熱制御を単純にでき、これに伴い加熱
制御手段の構成も簡略化できる。
を示す図。
を示す図。
Claims (3)
- 【請求項1】 流入経路から流入する流体をヒータによ
り加熱し、流出経路に流出する加熱手段と、 前記加熱手段による加熱前の流体の一部を前記流入経路
より分流し、前記流出経路中で前記加熱手段による加熱
後の流体に混合して出力流体として送出する流体混合手
段と、 前記出力流体の温度が予め設定された設定温度となるよ
うに前記流体混合手段による前記加熱前の流体と前記加
熱後の流体の混合比を可変制御する混合比可変制御手段
とを具備することを特徴とする流体加熱装置。 - 【請求項2】 前記ヒータを発熱駆動する加熱制御手段
を具備し、該加熱制御手段は、前記加熱手段に流入する
流体が該加熱手段による最大加熱温度となるべく前記ヒ
ータを発熱駆動することを特徴とする請求項1記載の流
体加熱装置。 - 【請求項3】 前記加熱前の流体の温度を検出する第1
の温度検出手段と、 前記加熱手段による加熱後の流体の温度を検出する第2
の温度検出手段と、 前記加熱手段へ流入する流体の流量を検出する第1の流
量検出手段と、 前記流入経路より分流される流体の流量を検出する第2
の流量検出手段とを具備し、前記混合比可変制御手段
は、前記各検出手段の検出結果から把握される、加熱前
流体の温度及び流量と、加熱後流体の温度及び流量とに
基づき前記設定温度を満足する混合比を決定することを
特徴とする請求項1記載の流体加熱装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28568599A JP2001110702A (ja) | 1999-10-06 | 1999-10-06 | 流体加熱装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28568599A JP2001110702A (ja) | 1999-10-06 | 1999-10-06 | 流体加熱装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001110702A true JP2001110702A (ja) | 2001-04-20 |
JP2001110702A5 JP2001110702A5 (ja) | 2005-09-02 |
Family
ID=17694729
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28568599A Pending JP2001110702A (ja) | 1999-10-06 | 1999-10-06 | 流体加熱装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001110702A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006183863A (ja) * | 2004-11-30 | 2006-07-13 | Japan Air Gases Ltd | 特殊材料ガス用供給システムおよび供給方法 |
CN103377972A (zh) * | 2012-04-30 | 2013-10-30 | 细美事有限公司 | 基板处理装置和供给处理溶液的方法 |
KR101430750B1 (ko) * | 2012-04-30 | 2014-08-14 | 세메스 주식회사 | 기판 처리 장치 및 이의 처리 유체 공급 방법 |
-
1999
- 1999-10-06 JP JP28568599A patent/JP2001110702A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006183863A (ja) * | 2004-11-30 | 2006-07-13 | Japan Air Gases Ltd | 特殊材料ガス用供給システムおよび供給方法 |
CN103377972A (zh) * | 2012-04-30 | 2013-10-30 | 细美事有限公司 | 基板处理装置和供给处理溶液的方法 |
JP2013232649A (ja) * | 2012-04-30 | 2013-11-14 | Semes Co Ltd | 基板処理装置及びその処理流体供給方法 |
KR101430750B1 (ko) * | 2012-04-30 | 2014-08-14 | 세메스 주식회사 | 기판 처리 장치 및 이의 처리 유체 공급 방법 |
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A521 | Written amendment |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050302 |
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A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20061116 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070118 |
|
A02 | Decision of refusal |
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