JP2001109135A - 大型ペリクル用枠体及び大型ペリクル - Google Patents

大型ペリクル用枠体及び大型ペリクル

Info

Publication number
JP2001109135A
JP2001109135A JP2000225150A JP2000225150A JP2001109135A JP 2001109135 A JP2001109135 A JP 2001109135A JP 2000225150 A JP2000225150 A JP 2000225150A JP 2000225150 A JP2000225150 A JP 2000225150A JP 2001109135 A JP2001109135 A JP 2001109135A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pellicle
frame
film
long side
width
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2000225150A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4007752B2 (ja
Inventor
Yoshimasa Kuriyama
芳真 栗山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Asahi Kasei Electronics Co Ltd
Original Assignee
Asahi Kasei Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=26521214&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=JP2001109135(A) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by Asahi Kasei Electronics Co Ltd filed Critical Asahi Kasei Electronics Co Ltd
Priority to JP2000225150A priority Critical patent/JP4007752B2/ja
Publication of JP2001109135A publication Critical patent/JP2001109135A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4007752B2 publication Critical patent/JP4007752B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F1/00Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
    • G03F1/68Preparation processes not covered by groups G03F1/20 - G03F1/50
    • G03F1/82Auxiliary processes, e.g. cleaning or inspecting
    • G03F1/84Inspecting

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、大型ペリクル膜を展張して貼着支
持する長辺と短辺とを有する方形状の大型ペリクル用枠
体であって、長辺の幅を短辺の幅よりも大きくして長辺
の強度を確保して長辺の枠体の内側に向かう撓みを抑制
するものである。 【解決手段】 大型ペリクル膜2を展張する面積が10
00cm2以上であり、且つ枠体1の長辺1aの幅が短辺
1bの幅より大きいことを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、IC(集積回
路)、LSI(大規模集積回路)、TFT型LCD(薄
膜トランジスタ液晶ディスプレイ)等の半導体装置を製
造する際のリソグラフィー工程で使用されるフォトマス
クやレティクルに異物が付着することを防止するために
用いられるペリクル用枠体及びそれを用いたペリクルに
関するものであり、特にTFT型LCDを製造するため
に好適な大型ペリクル用枠体及び大型ペリクルに関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体回路パターン等の製造にお
いては、フォトマスクやレティクルの両面側にペリクル
と称する防塵手段を配置してフォトマスクやレティクル
への異物の付着を防止することが行われている。
【0003】ペリクルの一般的な構造としては、金属、
セラミックス、あるいはポリマー製の枠体の片側に、ポ
リマーあるいはガラス等の透明な薄膜を貼り付け、その
反対側に、マスクに貼り付けるための粘着材を設けたも
のが挙げられる。例えば、ペリクルはフォトマスクやレ
ティクルの形状に合わせた形状を有する厚さ数ミリ程度
の枠体の一方の縁面に厚さ10μm以下のニトロセルロ
ース或いはセルロース誘導体等の透明な高分子膜からな
るペリクル膜を展張して接着し、且つ枠体の他方の縁面
に粘着材を介してフォトマスクやレティクルの表面に貼
着される。
【0004】フォトマスクやレティクルの表面に異物が
付着した場合、その異物が半導体ウエハー上に形成され
たフォトレジスト上に結像して回路パターン欠陥の原因
となるが、フォトマスクやレティクルの少なくともパタ
ーン面にペリクルを配置した場合、ペリクルの表面に付
着した異物はフォーカス位置がずれるために、半導体ウ
エハー上に形成されたフォトレジスト上に結像すること
がなく、回路パターンに欠陥を生じさせることがない。
【0005】従来のペリクル膜を展張して貼着支持する
ための枠体は、直径5インチ(127mm)や6インチ
(152.4mm)の半導体ウエハに応じた大きさで形成
されており、枠体の縦横の辺は同じ断面積の方形状の断
面を有する枠体で構成され、ペリクル膜を貼着する枠体
の縦の辺の幅と横の辺の幅とが等しくなるように構成さ
れているのが一般的である。
【0006】近年では、各種のマルチメディアの普及に
より、高画質、高精細表示が可能な大型のカラーTFT
型LCDのフォトリソグラフィ工程で使用される大型の
フォトマスクに適用出来る大型ペリクルが要望されてい
る。
【0007】特に、コンピュータディスプレイやテレビ
ジョン用に、大きなサイズの液晶パネルの開発が進んで
いる。このような大型液晶パネルを製造する際のフォト
リソグラフィ工程には、LSIと同様のサイズの5イン
チ又は6インチのレティクルを使用する分割露光方式
と、より大きなサイズのマスクを使用する一括露光方式
とがある。近年の液晶パネルの大型化に伴い、生産効率
の点から、一括露光方式が使用されることが多くなって
きている。一括露光方式においてもLSIの製造プロセ
スと同様、マスクへの異物付着を防止するためにペリク
ルが使用され、それに伴いペリクルのサイズも大きくな
ってきている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】一般に、露光プロセス
で使用される光源は、超高圧水銀ランプから放射される
g線、h線、i線、あるいは、波長300nm前後の近紫
外線が使用される。これらの光を吸収せず、十分な耐久
性を持たせるために、マスクの材料には高純度の石英が
使用されることが多いが、これはサイズが大きくなるに
従って、幾何級数的に高価になる。従って、経済的な負
担を軽減するために、マスクのサイズは、目的とする液
晶パネルを製造するための最小限の大きさが求められて
いる。
【0009】マスクの寿命を延ばすために、ペリクルを
貼り付けることは必須となっているが、上記のような状
況から、ペリクル枠体のサイズは大きくなる一方、マス
クサイズを最小限に抑えるために、ペリクルを貼り付け
るために必要な面積も最小限に抑えること、すなわち、
外径寸法は小さく、内径寸法は大きくすることが求めら
れている。
【0010】ところが、このような大きなサイズのペリ
クルには次のような問題点がある。第一の問題点は、ペ
リクル枠体の撓みである。ペリクル膜、特に大きなサイ
ズの膜では、膜が弛んだり、しわが入らないように、あ
る程度の張力が必要である。この膜張力によりペリクル
枠体が内側に撓むが、この撓みによる露光部への干渉が
無視出来なくなってきている。また、前述のように、ペ
リクルの外径寸法とマスクサイズはかなり近く、マスク
へのペリクル貼り付けには高精度が要求されるが、ペリ
クル枠体の撓みは、ペリクル10のマスクへの貼り付け精
度悪化にもつながる。
【0011】第二の問題点は、マスクのアライメントマ
ークに関する問題である。マスクのアライメントマーク
は、ペリクル枠体の外径の外側に設けられている。マス
クにペリクルを貼り付ける際には、ペリクルがアライメ
ントマークの上にかからないように貼り付ける必要があ
る。
【0012】しかし、前述のようにマスクサイズを最小
限に抑えるために、ペリクル枠体の外径とアライメント
マークとの間隔が非常に狭くなり、ペリクルの貼り付け
に要求される精度は、従来のペリクル貼り付け装置の精
度を超えるものになった。そのため、ペリクルの貼り付
け歩留まりが低下するという問題が生じる。
【0013】そこで、上記の課題を解決するために発明
者は鋭意検討の結果、以下の知見に到達した。即ち、大
型ペリクル膜を展張して貼着支持する長辺と短辺とを有
する方形状の大型ペリクル用枠体において、長辺の幅を
短辺の幅よりも大きくし、長辺の強度を確保することに
よって長辺の枠体の内側に向かう撓みを抑制出来るもの
である。また、大型ペリクル膜が貼着される長辺と短辺
の貼着面の幅を略等しくすることで接着剤を均一に塗布
することが出来る。
【0014】更に、ペリクル枠体の外周部のマスクアラ
イメントマークに対応する位置に凹部を設けることによ
り、マスクやレティクルの露光領域を最大限に利用出来
る。
【0015】
【課題を解決するための手段】前述の課題を解決するた
めの本発明に係る大型ペリクル用枠体及び大型ペリクル
は、以下の構成を特徴とする。即ち、本発明の第1の特
徴は、大型ペリクル膜を展張して貼着支持する長辺と短
辺とを有する方形状の大型ペリクル用枠体であって、前
記大型ペリクル膜を展張する面積が1000cm2以上で
且つ枠体の長辺の幅が短辺の幅より大きいことを特徴と
する大型ペリクル用枠体及びそれを用いた大型ペリクル
である。また前記枠体の長辺の幅が該枠体の短辺の幅の
1.3倍以上であることが好ましい。
【0016】第2の特徴としては、少なくとも前記枠体
の長辺のペリクル膜貼着面に傾斜面を形成して前記枠体
の長辺及び短辺の貼着面の幅を略等しくした大型ペリク
ル用枠体及びそれを用いた大型ペリクルである。
【0017】このような構成にすることによって、接着
剤を枠体に均一に塗布することが出来る。また、枠体の
長辺及び短辺の貼着面の幅を略等しくするために少なく
とも長辺の貼着面側に傾斜面を形成することが好まし
い。
【0018】第3の特徴は、大型ペリクル用枠体の外周
部の所定の位置に、マスクのアライメントマークを露出
させるための凹部を設けて構成する大型ペリクル用枠体
及びそれを用いた大型ペリクルである。
【0019】また前記アライメントマーク露出用凹部の
両側の外頂部を曲面に形成することが好ましい。この曲
面Rの大きさは半径1mm以上が好ましく、半径5mm以上
が更に好ましい。
【0020】第4の特徴は、前記アライメントマーク露
出用凹部の両側の内頂部を曲面に形成した大型ペリクル
用枠体及びそれを用いた大型ペリクルである。この曲面
Rの大きさは半径1mm以上が好ましく、半径5mm以上が
更に好ましい。
【0021】
【発明の実施の形態】図により本発明に係る大型ペリク
ル用枠体及びこれを用いた大型ペリクルの一実施形態を
具体的に説明する。図1は本発明に係る大型ペリクル用
枠体及びこれを用いた大型ペリクルの構成を示す斜視
図、図2は本発明に係る大型ペリクル用枠体及びこれを
用いた大型ペリクルの構成を示す平面図、図3(a)は
図2のA−A断面図、図3(b)は図2のB−B断面
図、図4(a)は他の形状を示す断面図、図4(b)は
他の形状を示す断面図である。
【0022】また、図5(a),(b)は枠体の長辺と
短辺の貼着面の幅を略等しくするために各貼着面側に形
成された平面状の傾斜面の他の一例を示す図、図6
(a)〜(c)は大型ペリクル膜が貼着される枠体の貼
着面の幅が大きい場合で接着剤が不均一に塗布された場
合の課題を説明する図である。
【0023】また、図7は図6の他の形状を示す場合の
例を示す図、図8(a)〜(e)は枠体の長辺と短辺の
貼着面の幅を略等しくするために各貼着面側に形成され
た曲面状の傾斜面や段差、或いは片側のみに平面状や曲
面状の傾斜面や段差を形成した一例を示す模式図であ
る。
【0024】また、図9はアライメントマークを設けた
ペリクル枠体を示す平面図、図10は図9の部分拡大図で
ある。
【0025】先ず、本発明に係る大型ペリクル用枠体に
ついて説明する。図1及び図2に示すように、本発明に
用いる大型ペリクル用枠体1(以下、単に「枠体1」と
いう)は方形状で形成され、その大きさは、長辺1aが
400mm〜2000mm、短辺1bが250mm〜1500
mmである。
【0026】この枠体1に展張して貼着支持される大型
ペリクル膜2(以下、単に「ペリクル膜2」という)の
面積は、1000cm2以上が好ましく、1200 cm2
上がより好ましい。
【0027】長辺1aの幅Waは、短辺1bの幅Wbよ
りも大きく、好ましくは、1.05倍〜20倍、より好
ましくは、1.1倍〜10倍、更に好ましくは1.3倍
〜5倍である。例えば、長辺1aの幅Waは4mm〜30
mm、短辺1bの幅Wbは3mm〜23mmである。
【0028】本発明に用いるペリクル枠体1の材質とし
ては、機械構造用炭素鋼(SCシリーズ等)、工具鋼(炭
素工具鋼SKシリーズ、高速度工具鋼SKHシリーズ、合金
工具鋼SKSシリーズ、SKDシリーズ、SKTシリーズ等)、
マルテンサイト系ステンレスシリーズ(SUS403、SUS41
0、SUS410S、SUS420J1、SUS420J2、SUS429J1、SUS440A
等)、アルミニウム合金(5000系、6000系、7000系等)
等の金属、セラミックス(SiC、AlN、Al2O3等)、セラ
ミックスと金属の複合材料(Al-SiC、Al-AlN、Al-Al2O3
等)、樹脂(ポリスルフォン、ポリエーテルエーテルケ
トン等)が挙げられる。
【0029】上記の各鋼材は磁性材料のため磁石で固定
出来、特に大型ペリクル10の枠体1の場合、加工作業が
良くなり好ましく用いられる。ペリクル枠体1の表面
に、黒色クロムメッキ、黒色アルマイト、黒色塗装等の
黒色化処理を施すことも出来る。
【0030】必要に応じてペリクル枠体1の内壁面又は
全面に、異物を補足するための粘着材(アクリル系、酢
酸ビニル系、シリコン系、ゴム系等)やグリース(シリ
コーン系、フッ素系等)を塗布しても良い。
【0031】また、必要に応じてペリクル枠体1の内部
と外部を貫通する微細な穴を開けて、ペリクル10とフォ
トマスク6で形成された空間の内外の気圧差がなくなる
ようにすると、膜の膨らみや凹みを防止出来る。
【0032】また、この時、微細な穴の外側に異物除去
フィルターを取り付けると、気圧調整が可能な上、ペリ
クル10とフォトマスク6で形成された空間の中に異物が
侵入することを防げるので好ましい。
【0033】ペリクル10とフォトマスク6で形成された
空間容積が大きい場合には、これらの穴やフィルターを
複数個設けると、気圧変動による膜の膨らみや凹みの回
復時間が短くなり、好ましい。
【0034】ペリクル膜2は、ポリマー溶液からスピン
コート法で成膜された薄膜が好ましく使用されている。
この薄膜には張力が存在する。一方、この張力は、ペリ
クル膜2が撓んだりしわが入らないようにするために必
要である。
【0035】ペリクル膜2が撓んだりしわが入ると、ペ
リクル膜2に付着した異物をエアブローで除去する時
に、該ペリクル膜2が大きく振動し除去し難い。また、
ペリクル膜2の高さが場所により変わるために、ペリク
ル膜2の異物検査機が正常に機能しない。また、ペリク
ル膜2の光学的高さ測定に誤差を及ぼす等の問題が生じ
る。
【0036】本発明では、ペリクル膜2の張力による撓
み量の大きなペリクル枠体1の長辺1aの幅Waのみを
大きくすることにより長辺1aの撓みを防ぐ。短辺1b
の幅Wbは従来通りとする(図1、図2参照)。このこ
とにより、高価なフォトマスク6の大きさを必要最小限
にすることが出来る。
【0037】また、ペリクル枠体1の長辺1aの撓みが
生じないので、ペリクル枠体1の外径を基準とする従来
のペリクル貼り付け装置により、ペリクル10のフォトマ
スク6への貼付けを精度良く行うことが出来る。
【0038】また、ペリクル枠体1の内側ぎりぎりまで
露光パターンを設けることが出来、この点からも非常に
高価なフォトマスク6の面積を最小限に抑えることが出
来る。前記ペリクル枠体1の長辺1aの幅Waは、短辺
1bの幅Wbの1.3倍以上であると、撓み防止には効
果的である。
【0039】また、本発明は、前記枠体1の長辺1a及
び短辺1bのペリクル膜2の貼着面1a1,1b1の幅Wc,
Wdを略等しくしたことを特徴とする大型ペリクル枠体
1である。ここで述べる長辺1aと短辺1bのペリクル
膜2の貼着面1a1,1b1の幅Wc,Wdが略等しいとは、
長辺1aと短辺1bの膜貼着面1a1,1b1の幅Wc,Wd
の差が長辺1aと短辺1bの幅Wa,Wbの差より小さ
いことを意味する。つまり後述する図3及び図4の断面
図を用いて説明すると、Wa−Wb>Wc−Wdである
ことを意味する。
【0040】前記のようにペリクル枠体1の長辺1aの
幅Wa、短辺1bの幅Wbが異なる場合、ペリクル膜2
の貼着面1a1,1b1の幅Wc,Wdも異なってしまう。一
方、ペリクル膜2とペリクル枠体1の接着剤は、接着剤
塗布装置、例えばX−Yディスペンサーロボット等を用
いて塗布される。
【0041】この場合、通常、長辺1aと短辺1bでの
単位長さ当たりの接着剤塗布量は同じであるため、ペリ
クル膜2をペリクル枠体1に貼り付けた際に、短辺1b
では接着剤量が多くなってしまい、接着剤が枠体1の膜
貼着面1b1をはみ出して枠体1の内周部へ垂れることが
ある。
【0042】また、図7(a)に示すように、長辺1a
では接着剤量が不足して膜貼着面1a1の全面に均一に広
がらず、内側ではペリクル膜2とペリクル枠体1との間
に狭い隙間5が出来、この隙間5に異物が挟まれること
がある。
【0043】また、図7(b)に示すように外側では、
接着後の余膜切断時にペリクル膜2の外縁2aの膜片が
残り、ペリクルハンドリング中の発塵の原因ともなる。
そのため、長辺1aと短辺1bの膜貼着面1a1,1b1の幅
Wc,Wdを略等しくすることで、従来通りの簡単な接
着剤塗布装置を用いても、より好ましいペリクル10が得
られる。
【0044】また、長辺1aと短辺1bの膜貼着面1a
1,1b1の幅Wc,Wdを略等しくする方法として、ペリ
クル枠体1の少なくとも枠体1の長辺1aのペリクル膜
2の貼着面側に傾斜面を形成すれば、段差が無く傾斜面
を形成することが出来、ペリクル枠体1に異物が堆積す
ることを防ぐことが出来る。
【0045】更に本発明では、図9に示すペリクル枠体
1の外周部所定の位置にアライメントマーク露出用凹部
8を設けることも出来る。ペリクル枠体1の長辺1a中
央部にマスクアライメントマーク露出用凹部8を設けた
ので、ペリクル枠体1の長辺1aの外径(幅)を太くし
てもマスクアライメントマーク7と枠体1の外径との間
に隙間9を一定量確保出来る。
【0046】これにより、大型ペリクル10をフォトマス
ク6に貼り付ける際、マスクアライメントマーク7上に
大型ペリクル10を貼り付けてしまうことなく、貼り付け
歩留まりを向上させることが出来る。好ましくは、前記
マスクアライメントマーク露出用凹部8の両側の外頂部
8aを曲面に形成する。更に好ましくは前記外頂部8a
に設けた曲面Rの大きさが半径1mm以上にする。
【0047】マスクアライメントマーク露出用凹部8の
外頂部8aを曲面に形成すると、ペリクル10の輸送、或
いはペリクル10をフォトマスク6に貼り付ける際のフォ
トマスク6のハンドリング等による接触や振動や衝撃等
によってアライメントマーク露出用凹部8の外頂部8a
が他の部材との摩擦で発塵する心配がない。また、より
好ましくは、曲面Rの大きさを半径1mm以上にすれば発
塵防止に効果的である。
【0048】更に、前記マスクアライメントマーク露出
用凹部8の両側の内頂部8bについても、曲面に形成す
ることが好ましい。更に好ましくは、前記マスクアライ
メントマーク露出用凹部8の両側の内頂部8bに設けた
曲面Rの大きさが半径1mm以上である。
【0049】マスクアライメントマーク露出用凹部8の
内頂部8bに曲面を形成すると、ペリクル枠体1に異物
が溜まり難い構造となり、ペリクル10の製造工程におけ
るペリクル枠体1の洗浄によって確実に異物が除去出来
るようになる。
【0050】本発明に係る大型ペリクル10は、前記に述
べたペリクル枠体1を利用し、以下のように作成する。
【0051】ペリクル膜2としては、セルロース誘導体
(ニトロセルロース、セルロースアセテート、セルロー
スアセテートプロピオネート、セルロースアセテートブ
チレート等、あるいはこれら2種以上の混合物)、フッ
素系ポリマー(テトラフルオロエチレン−ビニリデンフ
ルオライド−ヘキサフルオロプロピレンの3元コポリマ
ー、主鎖に環状構造を持つポリマーであるデュ・ポン社
製のテフロンAF(商品名)、旭硝子社製のサイトップ
(商品名)、アウジモント社製のアルゴフロン(商品
名)等)等のポリマー等が用いられる。
【0052】現在用いられている一括露光液晶露光機の
光源である超高圧水銀ランプに対しては、耐光性やコス
トの点から、セルロースアセテートプロピオネートやセ
ルロースアセテートブチレートが好ましく使用される。
【0053】ペリクル膜2の膜厚は、0.5μm〜10
μm程度が好適であり、本発明に係る大型ペリクル10で
は、ペリクル膜2の強度や均一な膜の作り易さから、2
μm〜8μmが好ましい。上記のポリマーは、夫々に適
した溶媒(ケトン系、エステル系、アルコール系、フッ
素系等)により、ポリマー溶液とする。
【0054】上記のセルロースアセテートプロピオネー
トやセルロースアセテートブチレートに対しては、乳酸
エチル等のエステル系が好ましい。ポリマー溶液は必要
に応じてデプスフィルター、メンブレンフィルター等に
より濾過される。
【0055】ポリマー溶液の成膜法には、スピンコート
法、ロールコート法、ナイフコート法、キャスト法等が
あるが、均一性や異物の管理の点から、スピンコート法
が好ましい。スピンコート法により成膜基板上に成膜し
た後、必要に応じてホットプレート、クリーンオーヴ
ン、(遠)赤外線加熱等により溶媒を乾燥することによ
り、均一な膜が形成される。この時の成膜基板として
は、合成石英、溶融石英、無アルカリガラス、低アルカ
リガラス、ソーダライムガラス等が利用出来る。
【0056】本発明に係る大型ペリクル成膜用の基板サ
イズは大きいので、乾燥時の温度斑により成膜基板が割
れることがある。これを防ぐために、成膜用基板の熱膨
張係数は小さいほど好ましい。特に、0℃〜300℃に
おける線膨張係数が50×10-7m/℃以下であること
が好ましい。
【0057】また、基板表面には、シリコーン系、フッ
素系等の材料により、あらかじめ離型処理を施しておけ
ば良い。また、上記のペリクル膜2の片側、あるいは両
側に、該ペリクル膜2よりも屈折率の低い層(即ち、反
射防止層)を形成することにより、露光光線に対する透
過率を高めることが出来、好ましい。
【0058】反射防止層の材料としては、フッ素系ポリ
マー(テトラフルオロエチレン−ビニリデンフルオライ
ド−ヘキサフルオロプロピレンの3元コポリマー、主鎖
に環状構造を持つポリマーであるデュ・ポン社製のテフ
ロンAF(商品名)、旭硝子社製のサイトップ(商品
名)、アウジモント社製のアルゴフロン(商品名)、ポ
リフルオロアクリレート等)や、フッ化カルシウム、フ
ッ化マグネシウム、フッ化バリウム等屈折率の低い材料
が使用される。
【0059】反射防止層は、ポリマーの場合、前述と同
様のスピンコート法により、無機物の場合、真空蒸着や
スパッタリング等の薄膜形成法により形成することが出
来る。異物の点からは、ポリマー溶液によるスピンコー
ト法が好ましい。デュ・ポン社製のテフロンAF(商品
名)、アウジモンド社製のアルゴフロン(商品名)は屈
折率が小さいので反射防止効果が高く好ましい。
【0060】上記により基板上に形成されたペリクル膜
2は、アルミニウム合金、ステンレススチール、樹脂等
に粘着材を貼り付けた仮枠により、基板から剥がし取っ
て所望のペリクル枠体1に貼り替えても良い。また基板
上で所望のペリクル枠体1を接着後、基板から剥がし取
っても良い。
【0061】このようにして得られた大型ペリクル膜2
は、ペリクル枠体1に張力を架けて接着剤により貼着さ
れる。得られた大型ペリクル10は、枠体1に展張して貼
着支持された大型ペリクル膜2の張力が好ましくは1×
10-3N/mm〜1N/mmであり、より好ましくは6×1
-3N/mm〜6×10-1N/mmである。
【0062】膜の張力が上記範囲にあると、大型ペリク
ル膜2がその自重や大型ペリクル膜2内外の気圧差によ
り大型ペリクル膜2の膜面の鉛直方向に膨らんだり凹ん
だりするのを抑制して露光不良を防止することが出来
る。
【0063】また、ペリクル膜2に付着した異物をエア
ブローで除去する時に該ペリクル膜2が大きく振動し、
異物を除去し難いという問題を解決出来、更には、ペリ
クル膜2の高さが場所により変わるために該ペリクル膜
2の異物検査機が正常に機能しないという問題を解決出
来、また、ペリクル膜2の光学的高さ測定に誤差を及ぼ
すといった問題を解決出来る。また大型ペリクル10内外
の気圧変動に対する追従性能を確保することが出来る。
【0064】ぺリクル膜2とペリクル枠体1に接着する
ための膜接着剤は、ペリクル膜2の材質とペリクル枠体
1の材質によって適宜選択する。たとえば、エポキシ
系、アクリル系、シリコーン系、フッ素系等の接着剤が
使用される。
【0065】また、硬化方法は夫々の接着剤に適した硬
化方法(熱硬化、光硬化、嫌気性硬化等)が採用され
る。発塵性、コスト、作業性の面から、アクリル系の紫
外線硬化型接着剤が好ましい。
【0066】ペリクル枠体1をフォトマスク6に貼り付
けるためのマスク粘着材には、それ自身に粘着力のある
ホットメルト系(ゴム系、アクリル系)、基材の両面に
粘着材を塗布したテープ系(基材としてアクリル系、PV
C系等のシートあるいはゴム系、ポリオレフィン系、ウ
レタン系等のフォーム等が適用出来、粘着材としてゴム
系、アクリル系、シリコーン系等の粘着材が適用され
る)等が使用される。
【0067】本発明に係る大型ペリクル10では、マスク
粘着材として、ペリクル10をフォトマスク6に低荷重で
均一に貼り付けるために、比較的柔らかいホットメルト
材料やフォームが好適である。フォームの場合は、その
断面にアクリル系や酢酸ビニル系の粘着性材料あるいは
非粘着性材料で覆うことにより、フォームからの発塵を
防ぐことが出来る。
【0068】マスク粘着材の厚さは通常0.2mm以上と
されるが、フォトマスク6への均一な貼付のために、好
ましくは1mm以上とされる。上記マスク粘着材の粘着面
をフォトマスク6に貼り付けるまでの間保護するため
に、シリコーンやフッ素で離型処理されたポリエステル
フィルムが使用される。
【0069】ペリクル10を輸送する際のケースは、アク
リル系、ABS系、PVC系、PET系等の材料を、射出成型や
真空成型することにより作成される。これらの材料は帯
電を防止するために、帯電防止剤を練り込んでも良い
し、帯電防止構造をもったポリマー(クレハ製BAYON
(商標)、旭化成工業製ADION(商標))を利用しても
良い。
【0070】本発明に係る大型ペリクル10用のケース
は、輸送中にケースが歪みケース内のペリクル10のダメ
ージを与えないように、ケースのふた、トレイ、または
その両方にリブ構造を設け、外力に対する抵抗性を高め
ることが好ましい。
【0071】図1及び図2において、1は厚さ10μm
以下のセルロース誘導体等の透明な高分子膜で構成され
る大型ペリクル膜2を展張して貼着支持する構造鋼によ
り構成される大型ペリクル用枠体1である。
【0072】ペリクル枠体1は互いに異なる所定の幅
と、等しい所定の高さと、異なる所定の長さとを夫々有
する長辺1aと短辺1bからなる方形状の枠で構成され
ている。該枠体1の長辺1a及び短辺1bの一方の面
は、枠体1の全体に亘って平坦面で構成されており、そ
れらの面にはペリクル膜2を貼着するための貼着面1a
1,1b1が形成されている。
【0073】枠体1のペリクル膜2を展張する面積は1
000cm2以上で構成され、該枠体1の長辺1aの幅W
aは短辺1bの幅Wbより大きい。このように大型ペリ
クル膜2を展張する面積が1000cm2以上であること
から、かかる大型ペリクル10は大型のTFT型LCDの
フォトリソグラフィ工程で使用される大型のフォトマス
ク6に適用することが出来る。
【0074】また、枠体1の長辺1aの幅Waを短辺1
bの幅Wbよりも大きく(長辺1aの幅Waを短辺1b
の幅Wbの1.3倍以上)して該長辺1aの強度を確保
し、該長辺1aの枠体1の内側に向かう撓みを抑制する
ことが出来る。
【0075】枠体1の長辺1aの幅Waが大きく、該長
辺1aの貼着面1a1の幅Wcが比較的大きい場合、図6
(a)に示すように、長辺1aの貼着面1a1とペリクル
膜2との間に設けられる接着剤3を該貼着面1a1に塗布
する際に気泡4が混入する虞があり、ペリクル10の輸送
中に該気泡4が気圧変動により膨張して破裂し、接着剤
3の破片がペリクル膜2に付着する虞がある。
【0076】また、図6(b),(c)に示すように、
接着剤3が長辺1aの貼着面1a1の全域に亘って均一に
塗布出来ない虞があり、図6(b)に示すように、ペリ
クル膜2の内側に隙間5が出来た場合には、該隙間5に
異物が侵入し、ペリクル10により保護されたはずのフォ
トマスク6やレチィクルに異物が付着する虞がある。
【0077】また、図6(c)に示すように、ペリクル
膜2の外側に隙間が出来た場合には、該ペリクル膜2の
外縁2aに自由端部が形成され、振動や擦れによって発
塵源となる虞がある。
【0078】図3(a),(b)に示す実施形態では、
枠体1の長辺1a及び短辺1bの貼着面1a1,1b1側には
所定の傾斜角度を有する平面状の傾斜面1a2,1b2が形成
されている。
【0079】ここでは、長辺1a及び短辺1bの傾斜面
1a2,1b2を形成した高さ位置は略等しく、且つ長辺1a
の傾斜面1a2の傾斜角度が短辺1bの傾斜1b2の傾斜角度
よりも小さくなるように設定され、これによって長辺1
a及び短辺1bの貼着面1a1,1b1の幅Wc,Wdが夫々
略等しくなっている。
【0080】ペリクル膜2が貼着される長辺1aと短辺
1bの貼着面1a1,1b1の幅Wc,Wdを略等しくしたこ
とにより貼着面1a1,1b1に接着剤を均一に塗布すること
が出来、図6(a)〜(c)に示すような前述の問題が
発生する虞がない。接着剤が均一に塗布出来る貼着面1a
1,1b1の好ましい幅Wc,Wdは2mm〜12mm程度であ
る。
【0081】本実施形態では、ペリクル枠体1の長辺1
aと短辺1bの両方の貼着面1a1,1b1側に平面状の傾斜
面1a2,1b2を形成するという簡単な手法により、長辺1
a及び短辺1bの貼着面1a1,1b1側の幅Wc,Wdを略
等しくしており、好ましい。
【0082】尚、図3では、枠体1の長辺1a及び短辺
1bの傾斜面1a2,1b2を形成した高さ位置が略等しく、
且つ長辺1aの傾斜面1a2の傾斜角度が短辺1bの傾斜
面1b2の傾斜角度よりも小さくなるように設定した一実
施形態について説明した。
【0083】しかし、他の構成として、図5に示すよう
に、枠体1の長辺1a及び短辺1bの傾斜面1a2,1b2の
傾斜角度が等しく、且つ長辺1aの傾斜面1a2を形成し
た高さ位置が短辺1bの傾斜面1b2を形成した高さ位置
よりも低くなるように設定しても良い。
【0084】また、枠体1の短辺1bの幅Wbが比較的
小さい場合には、傾斜面1b2を省略して断面方形(即
ち、ストレート形状)で構成しても良いし、図4及び図
8(a)に示すように枠体1の長辺1a及び短辺1bの
貼着面1a1,1b1側の片側(内側)のみに平面状の傾斜面
1a2,1b2を形成しても良い。
【0085】また、平面状の傾斜面1a2,1b2の代わり
に、図8(b),(c)に示すように曲面状の傾斜面1a
3,1b3であっても良いし、図8(d),(e)に示すよ
うに段差1a4,1b4を形成しても良い。
【0086】また、これらの形状に限定されることな
く、他の種々の形状で構成してペリクル枠体1の長辺1
a及び短辺1bの貼着面1a1,1b1の幅Wc,Wdを略等
しくすることでも、前述と同様な効果を得ることが出来
る。
【0087】また、図9に示すような他の実施形態につ
いて説明すると、大型ペリクル10は、内径を大きくして
露光有効エリアを拡大することが出来るように構成され
ている。図9及び図10に示すように、ペリクル枠体1の
長辺1aの略中央の両外側にアライメントマーク露出用
凹部8が設けられている。
【0088】また、横断面がコの字形に形成され、アラ
イメントマーク露出用凹部8の外隅の両側の外頂部8a
及び内隅の両側の内頂部8bには彎曲面(R)が設けて
ある。6はマスクであって、その略中央の両側に位置合
わせ用のアライメントマーク7が設けられている。
【0089】従って、ペリクル枠体1をフォトマスク6
に載置した際には、フォトマスク6上に予め記入された
アライメントマーク7がこのアライメントマーク露出用
凹部8内に位置して露出し、上方から容易に見ることが
出来るように構成されている。そのため露光有効エリア
を最大限に利用出来るとともに、フォトマスク6の位置
合わせを正確で且つ容易に行うことが出来る。
【0090】以下、実施例に基づき、本発明を更に詳細
に説明する。
【0091】<実施例1>大型ペリクル用枠体1は、長
辺1aの長さが732mm、短辺1bの長さが436mm、
ペリクル膜2を展張する面積が3191.52cm2のもの
を用いる。ペリクル枠体1の長辺1aの幅Waは9mm、
短辺1bの幅Wbは4mm、長辺1aの接着剤貼着面Wc
は6mm、短辺1bの接着剤貼着面Wdは3mmである。ペ
リクル枠体1の高さは5.2mmである。この時の長辺1
aの幅Waは、短辺1bの幅Wbの2.25倍である。
【0092】ペリクル枠体1の材質としては構造鋼を用
い、枠体1の断面形状は図4に示すように枠体1の内側
面に傾斜面1a2,1b2を設けた形状のものを用いる。ペリ
クル膜2としては、セルロースエステルのポリマー溶液
を低アルカリガラス上に塗布しスピンコートで主膜を形
成する。
【0093】次いで、その膜上にフッ素ポリマー溶液を
スピンコートで塗布して反射防止層を成形した厚み4μ
mのペリクル膜2を用いる。得られたペリクル膜2を上
記ペリクル枠体1に展張して貼着する。この時のペリク
ル膜2の張力は、6×10-2N/mmであった。
【0094】また、ペリクル枠体1をフォトマスク6に
貼り付ける際のマスク粘着材には、基材にフォームを用
いた厚み0.8mmの両面テープを使用する。ペリクル枠
体1のマスク接着面にこの両面テープを貼り、フォトマ
スク6の所定位置に貼り付ける。尚、各部材は使用前に
超音波洗浄を行う。フォトマスク6のサイズは、750
mm×500mmのものを使用する。
【0095】得られた大型ペリクル10は、ペリクル枠体
1の撓みがなく、通常のペリクル貼り付け装置により精
度良くフォトマスク6に貼り付けることが出来、露光領
域への影響もなかった。また、長辺1a、短辺1bとも
枠体1にペリクル膜2が均一に接着されており、枠体1
内側への接着剤のはみ出しがなく、且つ余膜切断時に膜
片が残ることがなかった。
【0096】また、枠体1の膜貼着面側に傾斜面1a2,1
b2を設けており、この箇所を集光灯で観察した結果、挟
まれた異物は見られなかった。
【0097】<実施例2>図9に示すように、アライメ
ントマーク露出用凹部8を設けた以外は前記実施例1と
同様のペリクル枠体1を用いる。この枠体1には、長辺
1aの中央部の外側にアライメントマーク露出用凹部8
を設けている。図10に示すように、アライメントマーク
露出用凹部8の各サイズは、Weが24mm、Wfが37
mm、Wgが1mm、外頂部8aの曲面がR7(半径7m
m)、内頂部8bの曲面がR15(半径15mm)であ
る。
【0098】このペリクル枠体1により、実施例1と同
様にして大型ペリクル10を作成した。フォトマスク6の
サイズは、750mm×498mmのものを用いた。得られ
た大型ペリクル10は、ペリクル枠体1の撓みがなく、通
常のペリクル貼り付け装置により精度良くフォトマスク
6に貼り付けることが出来、露光領域への影響もなかっ
た。
【0099】また、長辺1a、短辺1bとも枠体1にペ
リクル膜2が均一に接着されており、枠体1内側への接
着剤のはみ出しがなく且つ余膜切断時に膜片が残ること
がなかった。
【0100】また、枠体1の膜貼着面側に傾斜面1a2,1
b2を設けており、この箇所を集光灯で観察した結果、挟
まれた異物は見られなかった。更に大型ペリクル10につ
いて集光灯を用いてフレーム外周全周にわたり目視検査
を行ったが、異物の付着がなかった。また、このペリク
ル10をPET製のケースに収納し、輸送を行った後、再
度検査を行ったが、ペリクル膜2にも枠体1にも異物の
付着がなかった。
【0101】<比較例1>ペリクル用枠体1は、撓みを
防ぐために縦横とも同じ断面積でペリクル枠体1の幅を
大きくしたものを用いる。ペリクル枠体1としては、長
辺1aの長さが742mm、短辺1bの長さが436mm、
ペリクル膜2を展張する面積は3235.12cm2のもの
を用いる。
【0102】また、ペリクル枠体1の長辺1aの幅Wa
は9mm、短辺1bの幅Wbは9mm、長辺1aの接着剤貼
着面の幅Wcは6mm、短辺1bの接着剤貼着面の幅Wd
は4mmである。枠体1の高さは5.2mmである。この時
の長辺1aの幅Waは、短辺1bの幅Wbの等倍であ
る。ペリクル枠体1は構造鋼であり、枠体1の断面形状
は矩形のものを用いる。このペリクル枠体1を用いて前
記実施例1と同様に大型ペリクル10を作成する。
【0103】有効露光面積が前記実施例1,2と同様に
し、且つマスクハンドリング用のスペース(ペリクル10
の外周とフォトマスク6の外径との寸法差)を同じ値に
するためには、前記実施例1,2よりも一回り大きな7
60mm×500mmのサイズのフォトマスク6が必要とな
る。
【0104】得られた大型ペリクル10について、集光灯
にて枠体1の膜貼着面を観察すると、短辺1bの接着剤
貼着面1b1では良好に接着されているが、長辺1aの接
着剤貼着面1a1では余膜切断時の膜片が残っており、ま
た、ペリクル膜2と枠体1の膜貼着面間及び枠体1の段
差部に異物が挟まれているのが観察された。
【0105】
【発明の効果】本発明の大型ペリクル用枠体によれば、
次のような効果が得られる。大型ペリクル膜を展張して
貼着支持する長辺と短辺とを有する方形状の大型ペリク
ル枠体において、大型ペリクル膜を展張する面積が10
00cm2以上で且つ枠体の長辺の幅が短辺の幅より大き
くしたことにより、ペリクル膜の張力によるフレームの
撓みも生じないので、ペリクル枠の内側ぎりぎりまで露
光パターンを設けることが出来る。
【0106】これにより、非常に高価なマスクの面積を
最小限に抑えることが出来、経済的な負担を大きく軽減
することが出来る。また、ペリクル膜の張力によるフレ
ームの撓みも生じないので、ペリクル枠の外径を基準と
する従来のペリクル貼り付け装置により、ペリクルのフ
ォトマスクへの貼付けを精度良く行うことが出来る。
【0107】また、本発明の大型ペリクルは、少なくと
も前記枠体の長辺のペリクル膜貼着面に傾斜面を形成し
て前記枠体の長辺及び短辺の貼着面の幅を略等しくした
ことによって、従来通りの簡単な接着剤塗布装置によっ
ても、ペリクル膜のペリクル枠体への接着を、しわや弛
み等を生じることなく均一に行うことが出来る。
【0108】また、本発明の大型ペリクルにおいては、
大型ペリクル用枠体の外周部の所定の位置に、マスクの
アライメントマークを露出させるための凹部を設けるこ
とによって、ペリクル枠体の外形とマスクアライメント
マークの間に余裕が出来、ペリクルのマスクへの貼り付
け歩留まりを向上させることが出来る。
【0109】更に、前記アライメントマーク露出用凹部
の両側の外頂部及び/又は内頂部に曲面状に形成するこ
とにより、ペリクル枠体とペリクル収納ケースとの接触
による発塵を引き起こすことなくペリクルを輸送するこ
とが出来る。またペリクル枠体に異物が溜まり難い構造
であるから、ペリクル製造工程におけるペリクル枠体の
洗浄が容易になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る大型ペリクル用枠体及びこれを用
いた大型ペリクルの構成を示す斜視図である。
【図2】本発明に係る大型ペリクル用枠体及びこれを用
いた大型ペリクルの構成を示す平面図である。
【図3】(a)は図2のA−A断面図、(b)は図2の
B−B断面図である。
【図4】(a)は他の形状を示す断面図、(b)は他の
形状を示す断面図である。
【図5】(a),(b)は枠体の長辺と短辺の貼着面の
幅を略等しくするために各貼着面側に形成された平面状
の傾斜面の他の一例を示す図である。
【図6】(a)〜(c)は大型ペリクル膜が貼着される
枠体の貼着面の幅が大きい場合で接着剤が不均一に塗布
された場合の課題を説明する図である。
【図7】図6の他の形状を示す場合の例を示す図であ
る。
【図8】(a)〜(e)は枠体の長辺と短辺の貼着面の
幅を略等しくするために各貼着面側に形成された曲面状
の傾斜面や段差、或いは片側のみに平面状や曲面状の傾
斜面や段差を形成した一例を示す模式図である。
【図9】アライメントマークを設けたペリクル枠体を示
す平面図である。
【図10】図9の部分拡大図である。
【符号の説明】
1…ペリクル枠体 1a…長辺 1b…短辺 1a1,1b1…貼着面 1a2,1b2…平面状の傾斜面 1a3,1b3…曲面状の傾斜面 1a4,1b4…段差 2…ペリクル膜 2a…外縁 3…接着剤 4…気泡 5…隙間 6…フォトマスク 7…アライメントマーク 8…アライメントマーク露出用凹部 8a…外頂部 8b…内頂部 9…隙間 10…大型ペリクル

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 大型ペリクル膜を展張して貼着支持する
    長辺と短辺とを有する方形状の大型ペリクル用枠体であ
    って、 前記大型ペリクル膜を展張する面積が1000cm2以上
    であり、且つ枠体の長辺の幅が短辺の幅より大きいこと
    を特徴とする大型ペリクル用枠体。
  2. 【請求項2】 前記枠体の長辺の幅が該枠体の短辺の幅
    の1.3倍以上であることを特徴とする請求項1に記載
    の大型ペリクル用枠体。
  3. 【請求項3】 少なくとも前記枠体の長辺のペリクル膜
    貼着面に傾斜面を形成して前記枠体の長辺及び短辺の貼
    着面の幅を略等しくしたことを特徴とする請求項2に記
    載の大型ペリクル用枠体。
  4. 【請求項4】 大型ペリクル用枠体の外周部の所定の位
    置に、マスクのアライメントマークを露出させるための
    凹部を設けたことを特徴とする請求項1に記載の大型ペ
    リクル用枠体。
  5. 【請求項5】 前記アライメントマーク露出用凹部の両
    側の外頂部を曲面に形成したことを特徴とする請求項4
    に記載の大型ペリクル用枠体。
  6. 【請求項6】 前記アライメントマーク露出用凹部の両
    側の内頂部を曲面に形成したことを特徴とする請求項5
    に記載の大型ペリクル用枠体。
  7. 【請求項7】 請求項1〜6のいずれか1項に記載の大
    型ペリクル用枠体にペリクル膜を貼り付けたことを特徴
    とする大型ペリクル。
JP2000225150A 1999-07-30 2000-07-26 大型ペリクル用枠体及び大型ペリクル Expired - Lifetime JP4007752B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000225150A JP4007752B2 (ja) 1999-07-30 2000-07-26 大型ペリクル用枠体及び大型ペリクル

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21607199 1999-07-30
JP11-216071 1999-07-30
JP2000225150A JP4007752B2 (ja) 1999-07-30 2000-07-26 大型ペリクル用枠体及び大型ペリクル

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001109135A true JP2001109135A (ja) 2001-04-20
JP4007752B2 JP4007752B2 (ja) 2007-11-14

Family

ID=26521214

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000225150A Expired - Lifetime JP4007752B2 (ja) 1999-07-30 2000-07-26 大型ペリクル用枠体及び大型ペリクル

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4007752B2 (ja)

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005124836A1 (en) * 2004-06-19 2005-12-29 Han-Yong Cho Pellicle frame assembly
JP2006039257A (ja) * 2004-07-28 2006-02-09 Asahi Kasei Electronics Co Ltd 大型ペリクル
JP2006178434A (ja) * 2004-11-25 2006-07-06 Asahi Kasei Electronics Co Ltd 大型ペリクル
JP2006184704A (ja) * 2004-12-28 2006-07-13 Asahi Kasei Electronics Co Ltd 液晶用大型ペリクル
JP2006323178A (ja) * 2005-05-19 2006-11-30 Shin Etsu Chem Co Ltd リソグラフィ用ペリクル及びその製造方法
JP2007003747A (ja) * 2005-06-23 2007-01-11 Hoya Corp ペリクル付きフォトマスク及びペリクル
CN100378577C (zh) * 2003-09-29 2008-04-02 旭化成电子材料元件株式会社 薄片和薄片用框
WO2010029997A1 (ja) * 2008-09-12 2010-03-18 旭化成イーマテリアルズ株式会社 ペリクル枠体、ペリクル及びペリクル枠体の使用方法
CN103901716A (zh) * 2012-12-25 2014-07-02 信越化学工业株式会社 光刻技术用防尘薄膜组件
TWI457699B (zh) * 2012-05-11 2014-10-21 Shinetsu Chemical Co 防塵薄膜組件框架
KR20140130172A (ko) 2012-03-21 2014-11-07 아사히 가세이 이-매터리얼즈 가부시키가이샤 펠리클 및 펠리클 프레임 및 펠리클의 제조 방법
JP2015081968A (ja) * 2013-10-22 2015-04-27 信越化学工業株式会社 ペリクル
TWI641904B (zh) * 2007-07-06 2018-11-21 旭化成電子材料元件股份有限公司 大型薄膜之框體之取持方法
JP2019066848A (ja) * 2017-09-29 2019-04-25 旭化成株式会社 ペリクル
WO2021149615A1 (ja) * 2020-01-21 2021-07-29 信越化学工業株式会社 ペリクルフレーム、ペリクル、ペリクル付露光原版及び露光方法、並びに半導体又は液晶ディスプレイの製造方法

Cited By (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100378577C (zh) * 2003-09-29 2008-04-02 旭化成电子材料元件株式会社 薄片和薄片用框
WO2005124836A1 (en) * 2004-06-19 2005-12-29 Han-Yong Cho Pellicle frame assembly
JP2006039257A (ja) * 2004-07-28 2006-02-09 Asahi Kasei Electronics Co Ltd 大型ペリクル
JP2006178434A (ja) * 2004-11-25 2006-07-06 Asahi Kasei Electronics Co Ltd 大型ペリクル
JP2006184704A (ja) * 2004-12-28 2006-07-13 Asahi Kasei Electronics Co Ltd 液晶用大型ペリクル
KR101244727B1 (ko) * 2005-05-19 2013-03-18 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 리소그래피용 펠리클의 제조방법
JP2006323178A (ja) * 2005-05-19 2006-11-30 Shin Etsu Chem Co Ltd リソグラフィ用ペリクル及びその製造方法
JP2007003747A (ja) * 2005-06-23 2007-01-11 Hoya Corp ペリクル付きフォトマスク及びペリクル
TWI641904B (zh) * 2007-07-06 2018-11-21 旭化成電子材料元件股份有限公司 大型薄膜之框體之取持方法
KR101390007B1 (ko) * 2008-09-12 2014-04-29 아사히 가세이 이-매터리얼즈 가부시키가이샤 펠리클 프레임, 펠리클 및 펠리클 프레임의 사용 방법
JP2012068667A (ja) * 2008-09-12 2012-04-05 Asahi Kasei E-Materials Corp ペリクル枠体、ペリクル及びペリクル枠体の使用方法
CN102944973A (zh) * 2008-09-12 2013-02-27 旭化成电子材料株式会社 表膜构件框体、表膜构件和表膜构件框体的使用方法
JP4886070B2 (ja) * 2008-09-12 2012-02-29 旭化成イーマテリアルズ株式会社 ペリクル枠体、ペリクル及びペリクル枠体の使用方法
KR101287700B1 (ko) * 2008-09-12 2013-07-24 아사히 가세이 이-매터리얼즈 가부시키가이샤 펠리클 프레임, 펠리클 및 펠리클 프레임의 사용 방법
CN102132210A (zh) * 2008-09-12 2011-07-20 旭化成电子材料株式会社 表膜构件框体、表膜构件和表膜构件框体的使用方法
WO2010029997A1 (ja) * 2008-09-12 2010-03-18 旭化成イーマテリアルズ株式会社 ペリクル枠体、ペリクル及びペリクル枠体の使用方法
TWI497197B (zh) * 2008-09-12 2015-08-21 Asahi Kasei E Materials Corp Mask mask film, mask mask and mask mask the use of the box
KR20140130172A (ko) 2012-03-21 2014-11-07 아사히 가세이 이-매터리얼즈 가부시키가이샤 펠리클 및 펠리클 프레임 및 펠리클의 제조 방법
KR20160087927A (ko) 2012-03-21 2016-07-22 아사히 가세이 이-매터리얼즈 가부시키가이샤 펠리클
TWI457699B (zh) * 2012-05-11 2014-10-21 Shinetsu Chemical Co 防塵薄膜組件框架
JP2014126569A (ja) * 2012-12-25 2014-07-07 Shin Etsu Chem Co Ltd リソグラフィ用ペリクル
EP2749945A3 (en) * 2012-12-25 2017-12-27 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. A pellicle for lithography
CN103901716A (zh) * 2012-12-25 2014-07-02 信越化学工业株式会社 光刻技术用防尘薄膜组件
JP2015081968A (ja) * 2013-10-22 2015-04-27 信越化学工業株式会社 ペリクル
JP2019066848A (ja) * 2017-09-29 2019-04-25 旭化成株式会社 ペリクル
WO2021149615A1 (ja) * 2020-01-21 2021-07-29 信越化学工業株式会社 ペリクルフレーム、ペリクル、ペリクル付露光原版及び露光方法、並びに半導体又は液晶ディスプレイの製造方法
JPWO2021149615A1 (ja) * 2020-01-21 2021-07-29
JP7331955B2 (ja) 2020-01-21 2023-08-23 信越化学工業株式会社 ペリクルフレーム、ペリクル、ペリクル付露光原版及び露光方法、並びに半導体又は液晶ディスプレイの製造方法
EP4095600A4 (en) * 2020-01-21 2024-03-13 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. FILM FRAME, FILM, ORIGINAL FILM EXPOSURE PLATE, EXPOSURE METHOD, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR OR LIQUID CRYSTAL DISPLAY SCREEN

Also Published As

Publication number Publication date
JP4007752B2 (ja) 2007-11-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4886070B2 (ja) ペリクル枠体、ペリクル及びペリクル枠体の使用方法
JP4007752B2 (ja) 大型ペリクル用枠体及び大型ペリクル
JP5411200B2 (ja) リソグラフィ用ペリクル
TWI785826B (zh) 防塵薄膜組件框架及其應用方法
JP5189614B2 (ja) ペリクル及びその取り付け方法、並びにペリクル付マスク及びマスク
TWI431415B (zh) 具有光罩及遮蓋光罩之防塵薄膜組件的光罩單元與其製造方法。
US20090023082A1 (en) Pellicle frame
JP7456526B2 (ja) ペリクルの製造方法、ペリクル付フォトマスクの製造方法、露光方法、半導体デバイスの製造方法、液晶ディスプレイの製造方法及び有機elディスプレイの製造方法
JP2008256925A (ja) ペリクル
CN109656095A (zh) 护层框架和护层
KR20170134225A (ko) 펠리클
JP6389353B2 (ja) ペリクル枠体及びペリクル
JP2019066848A (ja) ペリクル
TWI585517B (zh) Dustproof film module containers for microfilm for incorporating dustproof film modules
JP2022010209A (ja) ペリクル
JP4345882B2 (ja) 大型ペリクル
JP2011059446A (ja) ペリクル枠体、ペリクル及びペリクル枠体の使用方法
KR100385759B1 (ko) 대형 페리클
JP3449180B2 (ja) ペリクル
JP7125835B2 (ja) ペリクル
CN217821249U (zh) 防护薄膜框架、防护薄膜及包括其的光掩模及系统
JP7331955B2 (ja) ペリクルフレーム、ペリクル、ペリクル付露光原版及び露光方法、並びに半導体又は液晶ディスプレイの製造方法
CN118556210A (zh) 防护膜组件

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20041126

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20050617

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070606

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070612

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070806

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070828

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070828

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100907

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4007752

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100907

Year of fee payment: 3

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100907

Year of fee payment: 3

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100907

Year of fee payment: 3

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110907

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110907

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120907

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130907

Year of fee payment: 6

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

EXPY Cancellation because of completion of term